JP2021001768A - 化学分析装置の校正方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】簡単に検出器の補正係数を得ることで、化学分析装置の使用開始にあたって、測定現場に測定対象の標準物質が無くても、簡単に校正が可能である。【解決手段】液体に含まれる測定対象物質の濃度を測定する化学分析装置１０は、測定対象物質の濃度を測定する検出器２０が交換可能であり、検出器のゼロ校正及びスパン校正を行う変換器３０を備え、変換器に、新規な検出器を取り付けて、ゼロ校正を行い、ゼロ校正を行った後、新規な検出器の出荷試験時に求めた補正係数を入力してスパン校正を行う、補正係数は、新規な検出器による測定対象物質の検出値を、生成した測定対象物質の飽和理論値、または基準対象物質の飽和理論値により除算して得る構成である。【選択図】図１
Description
この発明は、液体に含まれる測定対象物質の濃度を検出する化学分析装置の校正方法に関する。
従来、化学分析装置において、検出部によって測定対象物質の濃度の測定が行われているが、濃度を測定する検出部は取り付けた化学分析装置毎に測定精度にばらつきがあるために、装置の校正を行う必要がある。
このような化学分析装置において装置の校正を行う場合には、実際に濃度の判明している測定対象物質を使用して濃度を測定して校正するか、または別の分析方法で測定対象物質の濃度を確認し装置の表示をその値に合わせるというのが一般的である。また、例えば、模擬電流を印加し等価入力で校正する残留塩素計が知られている（特許文献１）。
しかしながら、実際に濃度を測定して校正する方法では、測定対象物質の種類によっては不安定で、高圧容器詰めのガスが無かったり、また別の分析方法で濃度確認をするにしても、測定機材を現場に搬入するのは困難な場合が多い。また、模擬電流を印加し等価入力で校正するものでは、回路構成が複雑である。
この発明は、かかる点に鑑みてなされたもので、簡単に検出器の補正係数を得ることで、使用開始にあたって、測定現場に測定対象の標準物質が無くても、簡単に校正が可能な化学分析装置の校正方法を提供することを目的とする。
前記課題を解決し、かつ目的を達成するために、この発明は、以下のように構成した。
請求項１に記載の発明は、液体に含まれる測定対象物質の濃度を測定する化学分析装置は、測定対象物質の濃度を測定する検出器が交換可能であり、
前記検出器のゼロ校正及びスパン校正を行う変換器を備え、
前記変換器に、新規な検出器を取り付けて、
前記ゼロ校正を行い、
前記ゼロ校正を行った後、新規な検出器の出荷試験時に求めた補正係数を入力して前記スパン校正を行う、
前記補正係数は、
前記新規な検出器による測定対象物質の検出値を、
生成した測定対象物質の飽和理論値、または基準対象物質の飽和理論値により除算して得る構成であることを特徴とする化学分析装置の校正方法である。
前記検出器のゼロ校正及びスパン校正を行う変換器を備え、
前記変換器に、新規な検出器を取り付けて、
前記ゼロ校正を行い、
前記ゼロ校正を行った後、新規な検出器の出荷試験時に求めた補正係数を入力して前記スパン校正を行う、
前記補正係数は、
前記新規な検出器による測定対象物質の検出値を、
生成した測定対象物質の飽和理論値、または基準対象物質の飽和理論値により除算して得る構成であることを特徴とする化学分析装置の校正方法である。
請求項２に記載の発明は、前記測定対象物質が、少なくとも酸素、水素、オゾン、硫化水素、アルシン、ホスフィンのいずれかであることを特徴とする請求項１に記載の化学分析装置の校正方法である。
前記構成により、この発明は、以下のような効果を有する。
請求項１及び請求項２に記載の発明では、液体に含まれる測定対象物質の濃度を測定する化学分析装置は、測定対象物質の濃度を測定する検出器が交換可能であり、検出器のゼロ校正及びスパン校正を行う変換器を備え、変換器に、新規な検出器を取り付けて、ゼロ校正を行い、ゼロ校正を行った後、新規な検出器の出荷試験時に求めた補正係数を入力してスパン校正を行い、補正係数は、新規な検出器による測定対象物質の検出値を、生成した測定対象物質の飽和理論値、または基準対象物質の飽和理論値により除算して得る構成であることで、測定対象物質の種類に関係なく安定で、測定機材を測定現場に搬入することなく、簡単に校正が可能である。
以下、この発明の化学分析装置の校正方法の実施の形態について説明する。この発明の実施の形態は、発明の最も好ましい形態を示すものであり、この発明はこれに限定されない。
この実施の形態の化学分析装置の校正方法を、図１乃至図５に基づいて説明する。図１は化学分析装置の校正方法を説明する概略図、図２は変換器の概略構成図、図３は化学分析装置の校正方法を説明する工程図、図４は補正係数を算出する方法を示す図である。
この実施の形態の化学分析装置１０は、液体に含まれる測定対象物質の濃度を測定する構成であり、この化学分析装置１０には、測定対象物質の濃度を測定する検出器２０が交換可能である。
この化学分析装置１０は、検出器２０のゼロ校正及びスパン校正を行う変換器３０を備え、変換器３０は、新規な検出器２０を取り付けて、ゼロ校正を行い、ゼロ校正を行った後、新規な検出器２０の出荷試験時に求めた補正係数を入力してスパン校正を行う。
（メーカー側：出荷試験）
メーカー側において、検出器の出荷試験を行う（Ｓ１）。この出荷試験は、ゼロ校正を行い、その後に社内設備で測定対象物質でスパン校正を行う（Ｓ２）。
メーカー側において、検出器の出荷試験を行う（Ｓ１）。この出荷試験は、ゼロ校正を行い、その後に社内設備で測定対象物質でスパン校正を行う（Ｓ２）。
ゼロ校正は、大気中および測定対象物のない流体（液体）で行う。例えば、水素計は大気で良いが、酸素計は窒素ガスをバブリングした液体などを使用する。
スパン校正を行う補正係数Ｆは、新規な検出器による測定対象物質の検出値を、生成した測定対象物質の飽和理論値、または基準対象物質の飽和理論値により除算して得る構成である。
生成した測定対象物質の飽和理論値は、例えば、生成装置５０において水素を飽和までバブリングした理論飽和水として用いるが、基準対象物質の飽和理論値として、基準器６０による飽和理論値を用いてもよい。
スパン校正を行う補正係数Ｆは、次のようにして求める（Ｓ３）。例えば、液体に含まれる測定対象物質として水素水を用いると、測定対象物質（水素水）の飽和理論値は、水素水濃度１．６０ｍｇ１Ｌ ２１℃であり、補正係数Ｆは、検出値を飽和理論値により除算して得る。
この補正係数を算出する方法を、図４に基づいて説明する。この実施の形態では、図４において、センサである検出器を用い、横軸は水素濃度、縦軸は検出器の検出値（出力値）を示す。
例えば、検出器１〜検出器３を用いる場合、
検出器１は、検出値（出力０．２Ｖ）であると、補正係数Ｆは、Ｆ（８）＝１．６０／０．２で、
検出器２は、検出値（出力０．３Ｖ）であると、補正係数Ｆは、Ｆ（５．３３）＝１．６０／０．３で、
検出器３は、検出値（出力０．４Ｖ）であると、補正係数Ｆは、Ｆ（４）＝１．６０／０．４であり、
補正係数Ｆは、検出値を測定対象物質の飽和理論値により除算して得る。
検出器１は、検出値（出力０．２Ｖ）であると、補正係数Ｆは、Ｆ（８）＝１．６０／０．２で、
検出器２は、検出値（出力０．３Ｖ）であると、補正係数Ｆは、Ｆ（５．３３）＝１．６０／０．３で、
検出器３は、検出値（出力０．４Ｖ）であると、補正係数Ｆは、Ｆ（４）＝１．６０／０．４であり、
補正係数Ｆは、検出値を測定対象物質の飽和理論値により除算して得る。
したがって、検出器の検出値に、補正係数Ｆを乗算することにより、水素水の濃度値を表示すると、
ｙ＝Ｆｘの一次関数で表すことができる。
ｙ：濃度値 Ｆ：Ｆ値 ｘ：検出器の検出値
ｙ＝Ｆｘの一次関数で表すことができる。
ｙ：濃度値 Ｆ：Ｆ値 ｘ：検出器の検出値
このように、
検出器１：検出値（出力０．２Ｖ）×補正係数Ｆ（８）≒飽和理論値（１．６０）
検出器２：検出値（出力０．３Ｖ）×補正係数Ｆ（５．３３）≒飽和理論値（１．６０）
検出器３：検出値（出力０．４Ｖ）×補正係数Ｆ（４）≒飽和理論値（１．６０）
であるから、検出値を測定対象物質の飽和理論値により除算して補正係数を得、この得た補正係数を検出器に記録する。
検出器１：検出値（出力０．２Ｖ）×補正係数Ｆ（８）≒飽和理論値（１．６０）
検出器２：検出値（出力０．３Ｖ）×補正係数Ｆ（５．３３）≒飽和理論値（１．６０）
検出器３：検出値（出力０．４Ｖ）×補正係数Ｆ（４）≒飽和理論値（１．６０）
であるから、検出値を測定対象物質の飽和理論値により除算して補正係数を得、この得た補正係数を検出器に記録する。
この検出器２０への記録方法としては、次の方法がある。例えば、シール２０ａに補正係数を記載し、このシール２０ａを検出器２０に貼り付ける。また、検出器２０に補正係数を直接印字する、または刻印するなどがある。また、検出器２０の取扱書に記載する方法でもよい。
（ユーザー側：使用現場）
ユーザー側において、使用現場では、補正係数が記録された検出器２０は、メーカー側からユーザー側へ出荷され、ユーザー側では補正係数が記録された検出器２０を化学分析装置３０に接続する（Ｓ４）。
ユーザー側において、使用現場では、補正係数が記録された検出器２０は、メーカー側からユーザー側へ出荷され、ユーザー側では補正係数が記録された検出器２０を化学分析装置３０に接続する（Ｓ４）。
化学分析装置１０による測定開始に当たっては、気体又は液体の測定対象物質を含まない大気中にてゼロ校正を行い（Ｓ５）、このゼロ校正を行った後、新規な検出器２０の出荷試験時に求めた補正係数を入力してスパン校正を行う（Ｓ６）。
このように、化学分析装置３０には、新規な検出器２０に記録されている補正係数を入力することで、測定場所に、濃度の判明したスパン校正物質がなくても、装置校正が可能である。
この実施の形態の化学分析装置３０は、測定対象物質が、少なくとも酸素、水素、オゾン、硫化水素、アルシン、ホスフィンのいずれかである。
オソンガスは、例えば食品工場での室内殺菌に使用されており、その濃度管理にオソンガスモニタが使用されるが、通常のオソンガスモニタであれば、校正時標準ガスを使用することとなるが、オゾンは不安定で濃度の安定なガスを長時間供給するのが難しく問題があったが、この発明では、スタートアップ時での校正にオソンガスを必要とせず、操作も簡単であることから特別に化学知識のある者でなくても容易に操作が可能である。
この発明は、流体として気体または液体の測定対象物質の濃度を検出する化学分析装置の校正方法に適用可能であり、簡単に検出器の補正係数を得ることで、使用開始にあたって、測定現場に測定対象の標準物質が無くても、簡単に校正が可能である。
１０ 化学分析装置
２０ 検出器
３０ 変換器
２０ 検出器
３０ 変換器
Claims (2)
- 液体に含まれる測定対象物質の濃度を測定する化学分析装置は、測定対象物質の濃度を測定する検出器が交換可能であり、
前記検出器のゼロ校正及びスパン校正を行う変換器を備え、
前記変換器に、新規な検出器を取り付けて、
前記ゼロ校正を行い、
前記ゼロ校正を行った後、新規な検出器の出荷試験時に求めた補正係数を入力して前記スパン校正を行う、
前記補正係数は、
前記新規な検出器による測定対象物質の検出値を、
生成した測定対象物質の飽和理論値、または基準対象物質の飽和理論値により除算して得る構成であることを特徴とする化学分析装置の校正方法。 - 前記測定対象物質が、
少なくとも酸素、水素、オゾン、硫化水素、アルシン、ホスフィンのいずれかであることを特徴とする請求項１に記載の化学分析装置の校正方法。
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| JP2019114646A JP2021001768A (ja) | 2019-06-20 | 2019-06-20 | 化学分析装置の校正方法 |
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| JP2019114646A JP2021001768A (ja) | 2019-06-20 | 2019-06-20 | 化学分析装置の校正方法 |
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| JPS5793858U (ja) * | 1980-11-28 | 1982-06-09 | ||
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2019
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