|
US4982096A
(en)
*
|
1988-01-06 |
1991-01-01 |
Hitachi Medical Corporation |
Multi-element radiation detector
|
|
US5187369A
(en)
*
|
1990-10-01 |
1993-02-16 |
General Electric Company |
High sensitivity, high resolution, solid state x-ray imaging device with barrier layer
|
|
US5116461A
(en)
|
1991-04-22 |
1992-05-26 |
Motorola, Inc. |
Method for fabricating an angled diffraction grating
|
|
US5812629A
(en)
*
|
1997-04-30 |
1998-09-22 |
Clauser; John F. |
Ultrahigh resolution interferometric x-ray imaging
|
|
US5956382A
(en)
*
|
1997-09-25 |
1999-09-21 |
Eliezer Wiener-Avnear, Doing Business As Laser Electro Optic Application Technology Comp. |
X-ray imaging array detector and laser micro-milling method for fabricating array
|
|
US5952665A
(en)
*
|
1997-11-28 |
1999-09-14 |
Nanocrystals Technology L.P. |
Composite nanophosphor screen for detecting radiation
|
|
US6177236B1
(en)
*
|
1997-12-05 |
2001-01-23 |
Xerox Corporation |
Method of making a pixelized scintillation layer and structures incorporating same
|
|
SE513536C2
(sv)
*
|
1999-01-21 |
2000-09-25 |
Christer Froejdh |
Arrangemang för en röntgenbildpunktsdetektoranordning samt anordning vid ett röntgenavbildningsarrangemang
|
|
DE19934768A1
(de)
*
|
1999-07-23 |
2001-01-25 |
Philips Corp Intellectual Pty |
Detektor zur Detektion von elektromagnetischer Strahlung
|
|
WO2002065480A1
(en)
*
|
2001-02-01 |
2002-08-22 |
Creatv Microtech, Inc. |
tNTI-SCATTER GRIDS AND COLLIMATOR DESIGNS, AND THEIR MOTION, FABRICATION AND ASSEMBLY
|
|
US7922923B2
(en)
*
|
2001-02-01 |
2011-04-12 |
Creatv Microtech, Inc. |
Anti-scatter grid and collimator designs, and their motion, fabrication and assembly
|
|
US6921909B2
(en)
*
|
2002-08-27 |
2005-07-26 |
Radiation Monitoring Devices, Inc. |
Pixellated micro-columnar films scintillator
|
|
CN101253419B
(zh)
*
|
2005-09-01 |
2011-07-27 |
上海丽恒光微电子科技有限公司 |
X射线探测器和x射线探测器制造方法
|
|
ATE473685T1
(de)
*
|
2005-12-27 |
2010-07-15 |
Siemens Ag |
Fokus-detektor-anordnung zur erzeugung von phasenkontrast-röntgenaufnahmen und verfahren hierzu
|
|
DE102006015358B4
(de)
*
|
2006-02-01 |
2019-08-22 |
Paul Scherer Institut |
Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen, zugehöriges Röntgen-System sowie Speichermedium und Verfahren zur Erzeugung tomographischer Aufnahmen
|
|
DE102006037282B4
(de)
*
|
2006-02-01 |
2017-08-17 |
Siemens Healthcare Gmbh |
Fokus-Detektor-Anordnung mit röntgenoptischem Gitter zur Phasenkontrastmessung
|
|
DE102006015356B4
(de)
*
|
2006-02-01 |
2016-09-22 |
Siemens Healthcare Gmbh |
Verfahren zur Erzeugung projektiver und tomographischer Phasenkontrastaufnahmen mit einem Röntgen-System
|
|
DE102006063048B3
(de)
*
|
2006-02-01 |
2018-03-29 |
Siemens Healthcare Gmbh |
Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen
|
|
DE102006037256B4
(de)
*
|
2006-02-01 |
2017-03-30 |
Paul Scherer Institut |
Fokus-Detektor-Anordnung einer Röntgenapparatur zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen sowie Röntgensystem, Röntgen-C-Bogen-System und Röntgen-CT-System
|
|
DE102006017290B4
(de)
*
|
2006-02-01 |
2017-06-22 |
Siemens Healthcare Gmbh |
Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur, Röntgen-System und Verfahren zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen
|
|
DE102006037281A1
(de)
*
|
2006-02-01 |
2007-08-09 |
Siemens Ag |
Röntgenoptisches Durchstrahlungsgitter einer Fokus-Detektor-Anordnung einer Röntgenapparatur zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen von einem Untersuchungsobjekt
|
|
DE102006037254B4
(de)
*
|
2006-02-01 |
2017-08-03 |
Paul Scherer Institut |
Fokus-Detektor-Anordnung zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen mit röntgenoptischen Gittern, sowie Röntgen-System, Röntgen-C-Bogen-System und Röntgen-Computer-Tomographie-System
|
|
DE102006017291B4
(de)
*
|
2006-02-01 |
2017-05-24 |
Paul Scherer Institut |
Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen, Röntgensystem mit einem solchen Fokus/Detektor-System sowie zugehöriges Speichermedium und Verfahren
|
|
DE102006037255A1
(de)
*
|
2006-02-01 |
2007-08-02 |
Siemens Ag |
Fokus-Detektor-Anordnung einer Röntgenapparatur zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen
|
|
DE102006046034A1
(de)
*
|
2006-02-01 |
2007-08-16 |
Siemens Ag |
Röntgen-CT-System zur Erzeugung projektiver und tomographischer Phasenkontrastaufnahmen
|
|
US7692156B1
(en)
|
2006-08-23 |
2010-04-06 |
Radiation Monitoring Devices, Inc. |
Beam-oriented pixellated scintillators for radiation imaging
|
|
EP2128222B1
(en)
*
|
2007-02-02 |
2014-08-20 |
Hitachi Metals, Ltd. |
Fluorescent material, scintillator using the fluorescent material, and radiation detector
|
|
EP2073040A2
(en)
*
|
2007-10-31 |
2009-06-24 |
FUJIFILM Corporation |
Radiation image detector and phase contrast radiation imaging apparatus
|
|
EP2060909B1
(en)
*
|
2007-11-15 |
2011-09-07 |
CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement |
Interferometer device and method
|
|
JP5521412B2
(ja)
*
|
2008-07-31 |
2014-06-11 |
日立金属株式会社 |
蛍光材料およびそれを用いたシンチレータ並びに放射線検出器
|
|
DE102008048683A1
(de)
*
|
2008-09-24 |
2010-04-08 |
Siemens Aktiengesellschaft |
Verfahren zur Bestimmung von Phase und/oder Amplitude zwischen interferierenden benachbarten Röntgenstrahlen in einem Detektorpixel bei einem Talbot-Interferometer
|
|
DE102008048688B4
(de)
*
|
2008-09-24 |
2011-08-25 |
Paul Scherrer Institut |
Röntgen-CT-System zur Erzeugung tomographischer Phasenkontrast- oder Dunkelfeldaufnahmen
|
|
DE102008049200B4
(de)
*
|
2008-09-26 |
2010-11-11 |
Paul Scherrer Institut |
Verfahren zur Herstellung von röntgenoptischen Gittern, röntgenoptisches Gitter und Röntgen-System
|
|
EP2168488B1
(de)
*
|
2008-09-30 |
2013-02-13 |
Siemens Aktiengesellschaft |
Röntgen-CT-System zur Röntgen-Phasenkontrast-und/oder Röntgen-Dunkelfeld-Bildgebung
|
|
CN101413905B
(zh)
*
|
2008-10-10 |
2011-03-16 |
深圳大学 |
X射线微分干涉相衬成像系统
|
|
US7949095B2
(en)
*
|
2009-03-02 |
2011-05-24 |
University Of Rochester |
Methods and apparatus for differential phase-contrast fan beam CT, cone-beam CT and hybrid cone-beam CT
|
|
CN101833105A
(zh)
*
|
2009-03-13 |
2010-09-15 |
中国科学院福建物质结构研究所 |
一种平板式高时空分辨率射线转换屏
|
|
EP2443491B1
(en)
*
|
2009-06-16 |
2020-03-04 |
Koninklijke Philips N.V. |
Tilted gratings and method for production of tilted gratings
|
|
JP5702586B2
(ja)
*
|
2010-02-04 |
2015-04-15 |
富士フイルム株式会社 |
放射線撮影システム
|
|
JP5438649B2
(ja)
*
|
2010-03-26 |
2014-03-12 |
富士フイルム株式会社 |
放射線撮影システム及び位置ずれ判定方法
|
|
JP5378335B2
(ja)
*
|
2010-03-26 |
2013-12-25 |
富士フイルム株式会社 |
放射線撮影システム
|
|
JP5660910B2
(ja)
*
|
2010-03-30 |
2015-01-28 |
富士フイルム株式会社 |
放射線画像撮影用グリッドの製造方法
|
|
JP5548085B2
(ja)
*
|
2010-03-30 |
2014-07-16 |
富士フイルム株式会社 |
回折格子の調整方法
|
|
JP5731214B2
(ja)
*
|
2010-08-19 |
2015-06-10 |
富士フイルム株式会社 |
放射線撮影システム及びその画像処理方法
|
|
EP2633813B1
(en)
*
|
2010-10-29 |
2015-02-25 |
FUJIFILM Corporation |
Phase contrast radiation imaging device
|
|
JP2012150144A
(ja)
*
|
2011-01-17 |
2012-08-09 |
Fujifilm Corp |
放射線画像撮影用グリッド、放射線画像検出器、放射線画像撮影システム及び放射線画像撮影用グリッドの製造方法。
|
|
JP5475925B2
(ja)
*
|
2011-04-20 |
2014-04-16 |
富士フイルム株式会社 |
放射線撮影装置及び画像処理方法
|
|
US20140241493A1
(en)
*
|
2011-07-27 |
2014-08-28 |
Mitsuru Yokoyama |
Metal Lattice Production Method, Metal Lattice, X-Ray Imaging Device, and Intermediate Product for Metal Lattice
|
|
JP5475737B2
(ja)
*
|
2011-10-04 |
2014-04-16 |
富士フイルム株式会社 |
放射線撮影装置及び画像処理方法
|
|
US20150117599A1
(en)
*
|
2013-10-31 |
2015-04-30 |
Sigray, Inc. |
X-ray interferometric imaging system
|
|
US9899113B2
(en)
*
|
2012-03-30 |
2018-02-20 |
Hitachi Metals, Ltd. |
Production method of scintillator dual array
|
|
JP6071041B2
(ja)
*
|
2012-03-30 |
2017-02-01 |
日立金属株式会社 |
シンチレータアレイの製造方法及び放射線検出器の製造方法
|
|
US9874531B2
(en)
*
|
2013-10-31 |
2018-01-23 |
Sigray, Inc. |
X-ray method for the measurement, characterization, and analysis of periodic structures
|
|
US9719947B2
(en)
*
|
2013-10-31 |
2017-08-01 |
Sigray, Inc. |
X-ray interferometric imaging system
|
|
JP2015096823A
(ja)
*
|
2013-11-15 |
2015-05-21 |
浜松ホトニクス株式会社 |
放射線検出器、及び放射線検出器の製造方法
|
|
TW201543061A
(zh)
*
|
2014-05-13 |
2015-11-16 |
Architek Material Co Ltd |
閃光體面板、輻射顯像裝置及其製作方法
|
|
WO2017111681A1
(en)
*
|
2015-12-22 |
2017-06-29 |
Scint-X Ab |
A scintillator, scintillator assembly, x-ray detector and x-ray imaging system and a method for manufacturing a scintillator
|
|
EP3428927A4
(en)
*
|
2016-03-07 |
2019-05-08 |
Konica Minolta, Inc. |
METHOD FOR PRODUCING A STENCILED SCINTILLATOR PLATE
|
|
CN109478440A
(zh)
*
|
2016-06-08 |
2019-03-15 |
皇家飞利浦有限公司 |
用于相位衬度成像和/或暗场成像的分析格栅
|
|
JP6763205B2
(ja)
*
|
2016-06-16 |
2020-09-30 |
コニカミノルタ株式会社 |
積層型シンチレータパネル
|
|
JP6638571B2
(ja)
*
|
2016-06-22 |
2020-01-29 |
コニカミノルタ株式会社 |
積層型シンチレータパネル
|