JP2020187852A - テストリード - Google Patents
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Abstract
【課題】テストリード接続端子の端子ねじに対する取り付け、取り外しの操作性の向上を図ると共に、テストリード接続端子の端子ねじに対する取り付けの安定性の向上を図る。【解決手段】コード12の両端に設けられたテストリード接続端子14が、導電線1202に電気的に接続された細長状の導電性を有する磁石20で構成されている。コード12の両端のテストリード接続端子14の先端面2002を対象となる端子ねじ28の頭部2802に近づけることで磁石20からなるテストリード接続端子14の先端面2002が端子ねじ28の頭部2802に磁力によって吸着され、テストリード接続端子14と端子ねじ28とが電気的に接続される。【選択図】図2
Description
本発明は、テストリードに関する。
アクチュエータやセンサなどの周辺装置との間で信号を入出力して様々な制御を行う制御装置としてプログラマブルロジックコントローラが知られている。
プログラマブルロジックコントローラと周辺装置との間は信号伝送用のコードを介して電気的に接続されている。
プログラマブルロジックコントローラおよび周辺装置には、それぞれねじ端子台が設けられ、コードの両端にはコード接続端子が設けられている。
そして、コード接続端子の一方は、プログラマブルロジックコントローラのねじ端子台に端子ねじを介して締結され、他方は周辺装置のねじ端子台に端子ねじを介して締結されている。
ところで、プログラマブルロジックコントローラや周辺装置の動作確認、あるいは、故障箇所の特定を行う際には、信号の入出力が正しく行なわれているか否かのチェックを行う必要がある。
このようなチェックを行なうため、信号伝送用のコードを各ねじ端子台から取り外し、テストリードを各ねじ端子に電気的に接続して信号をチェックする場合がある。
テストリードは、導電線を絶縁被覆したコードと、導電線の長手方向の両端に設けられたテストリード接続端子とを備えている(特許文献1参照)。
従来、このテストリード接続端子としてワニ口クリップが用いられており、ワニ口クリップを開いてねじ端子の頭部を挟持することでテストリードとねじ端子とを電気的に接続し、ワニ口クリップを開いてねじ端子の頭部から取り外すことで電気的接続を切断している。
プログラマブルロジックコントローラと周辺装置との間は信号伝送用のコードを介して電気的に接続されている。
プログラマブルロジックコントローラおよび周辺装置には、それぞれねじ端子台が設けられ、コードの両端にはコード接続端子が設けられている。
そして、コード接続端子の一方は、プログラマブルロジックコントローラのねじ端子台に端子ねじを介して締結され、他方は周辺装置のねじ端子台に端子ねじを介して締結されている。
ところで、プログラマブルロジックコントローラや周辺装置の動作確認、あるいは、故障箇所の特定を行う際には、信号の入出力が正しく行なわれているか否かのチェックを行う必要がある。
このようなチェックを行なうため、信号伝送用のコードを各ねじ端子台から取り外し、テストリードを各ねじ端子に電気的に接続して信号をチェックする場合がある。
テストリードは、導電線を絶縁被覆したコードと、導電線の長手方向の両端に設けられたテストリード接続端子とを備えている(特許文献1参照)。
従来、このテストリード接続端子としてワニ口クリップが用いられており、ワニ口クリップを開いてねじ端子の頭部を挟持することでテストリードとねじ端子とを電気的に接続し、ワニ口クリップを開いてねじ端子の頭部から取り外すことで電気的接続を切断している。
しかしながら、テストリード接続端子としてワニ口クリップを用いた場合、以下のような不具合がある。
1)ワニ口クリップを開いてねじ端子の頭部を挟持する操作は手間がかかる。
2)ねじ端子の頭部の大きさによってはワニ口クリップで挟持しにくく、頭部を挟持したワニ口クリップが頭部から外れることがあり、操作のやり直しが生じる。
3)ねじ端子台の構造によってはねじ端子の周囲のスペースが狭いため、ワニ口クリップを開いてねじ端子の頭部を挟持する操作がやりにくい場合がある。
4)ワニ口クリップの耐久性がそれほど高くないため、ワニ口クリップが変形しやすく、ねじ端子の頭部を安定して挟持することができない場合がある。
本発明は前記事情に鑑み案出されたものであって、本発明の目的は、テストリード接続端子の端子ねじに対する取り付け、取り外しの操作性の向上を図ると共に、テストリード接続端子の端子ねじに対する取り付けの安定性の向上を図る上で有利なテストリードを提供することにある。
1)ワニ口クリップを開いてねじ端子の頭部を挟持する操作は手間がかかる。
2)ねじ端子の頭部の大きさによってはワニ口クリップで挟持しにくく、頭部を挟持したワニ口クリップが頭部から外れることがあり、操作のやり直しが生じる。
3)ねじ端子台の構造によってはねじ端子の周囲のスペースが狭いため、ワニ口クリップを開いてねじ端子の頭部を挟持する操作がやりにくい場合がある。
4)ワニ口クリップの耐久性がそれほど高くないため、ワニ口クリップが変形しやすく、ねじ端子の頭部を安定して挟持することができない場合がある。
本発明は前記事情に鑑み案出されたものであって、本発明の目的は、テストリード接続端子の端子ねじに対する取り付け、取り外しの操作性の向上を図ると共に、テストリード接続端子の端子ねじに対する取り付けの安定性の向上を図る上で有利なテストリードを提供することにある。
上述の目的を達成するため、本発明は、導電線を絶縁被覆したコードと、前記導電線の長手方向の両端に設けられたテストリード接続端子とを備えるテストリードであって、前記両端に設けられたテストリード接続端子の少なくとも一方が、前記導電線に電気的に接続された細長状の導電性を有する磁石で構成されていることを特徴とする。
本発明によれば、テストリード接続端子が細長状の導電性を有する磁石で構成されているので、テストリード接続端子のねじ端子への取り付け、取り外しをワンタッチで簡単に行なえ、操作性の向上を図る上で有利となる。
また、ねじ端子の頭部の大きさに拘わらず、テストリード接続端子のねじ端子への取り付け、取り外しを簡単に行なえ、また、ねじ端子に取り付けたテストリード接続端子がねじ端子から簡単に外れることがなく、操作性の向上を図る上で有利となる。
また、ねじ端子の周囲に狭いスペースしかない場合であっても、テストリード接続端子の外形が小さいため、テストリード接続端子のねじ端子への取り付け、取り外しを簡単に行なうことができ、操作性の向上を図る上で有利となる。
また、テストリード接続端子を構成する磁石は耐久性が高くワニ口クリップのように変形することがないため、テストリード接続端子のねじ端子への取り付けの安定性の向上を図る上で有利となる。
また、ねじ端子の頭部の大きさに拘わらず、テストリード接続端子のねじ端子への取り付け、取り外しを簡単に行なえ、また、ねじ端子に取り付けたテストリード接続端子がねじ端子から簡単に外れることがなく、操作性の向上を図る上で有利となる。
また、ねじ端子の周囲に狭いスペースしかない場合であっても、テストリード接続端子の外形が小さいため、テストリード接続端子のねじ端子への取り付け、取り外しを簡単に行なうことができ、操作性の向上を図る上で有利となる。
また、テストリード接続端子を構成する磁石は耐久性が高くワニ口クリップのように変形することがないため、テストリード接続端子のねじ端子への取り付けの安定性の向上を図る上で有利となる。
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
図1、図2(C)に示すように、テストリード10は、コード12と、テストリード接続端子14と、圧着スリーブ16と、絶縁カバー18とを含んで構成されている。
コード12は、導電線1202と、導電線1202の外周を絶縁被覆する被覆(シース)1204とを備えている。
コード12の長手方向の両端部分は被覆1204が剥かれることで導電線1202が露出されている。
図1、図2(C)に示すように、テストリード10は、コード12と、テストリード接続端子14と、圧着スリーブ16と、絶縁カバー18とを含んで構成されている。
コード12は、導電線1202と、導電線1202の外周を絶縁被覆する被覆(シース)1204とを備えている。
コード12の長手方向の両端部分は被覆1204が剥かれることで導電線1202が露出されている。
テストリード接続端子14は、導電線1202の長手方向の両端に設けられ、導電線1202の両端に電気的に接続されている。
本実施の形態では、両端のテストリード接続端子14は共に、細長状の導電性を有する磁石20で構成され、磁石20は円柱状を呈している。
導電性を有する磁石20として、ネオジム磁石などの希土類磁石や従来公知の様々な磁石が使用可能である。
磁石20の長手方向で導電線1202に接続された箇所と反対側の磁石20の先端面2002は平坦面で形成されている。
本実施の形態では、両端のテストリード接続端子14は共に、細長状の導電性を有する磁石20で構成され、磁石20は円柱状を呈している。
導電性を有する磁石20として、ネオジム磁石などの希土類磁石や従来公知の様々な磁石が使用可能である。
磁石20の長手方向で導電線1202に接続された箇所と反対側の磁石20の先端面2002は平坦面で形成されている。
テストリード接続端子14と導電線1202との電気的な接続は、本実施の形態では、圧着スリーブ16を用いてなされている。
圧着スリーブ16は、テストリード接続端子14およびコード12が挿入可能な内径の導電性を有する金属材料で円筒状に形成されている。このような金属材料としてアルミニウムなど従来公知の様々な金属材料が使用可能である。
圧着スリーブ16は、テストリード接続端子14およびコード12が挿入可能な内径の導電性を有する金属材料で円筒状に形成されている。このような金属材料としてアルミニウムなど従来公知の様々な金属材料が使用可能である。
絶縁カバー18は、テストリード接続端子14の長手方向で導電線1202に接続された箇所と反対側のテストリード接続端子14の平坦な先端面2002を除くテストリード接続端子14の箇所を覆うものであり、絶縁材料で構成されている。
本実施の形態では、絶縁カバー18は、テストリード接続端子14と導電線1202を圧着した圧着スリーブ16が挿入可能な内径の円筒状を呈しており、絶縁カバー18は、圧着スリーブ16を介してテストリード接続端子14の箇所を覆っている。
また、テストリード接続端子14の長手方向に沿った絶縁カバー18の先端1802とテストリード接続端子14の先端面2002との位置は同一であってもよいし、絶縁カバー18の先端1802からテストリード接続端子14の先端面2002が1〜2mm程度突出していてもよい。
本実施の形態では、絶縁カバー18は、テストリード接続端子14と導電線1202を圧着した圧着スリーブ16が挿入可能な内径の円筒状を呈しており、絶縁カバー18は、圧着スリーブ16を介してテストリード接続端子14の箇所を覆っている。
また、テストリード接続端子14の長手方向に沿った絶縁カバー18の先端1802とテストリード接続端子14の先端面2002との位置は同一であってもよいし、絶縁カバー18の先端1802からテストリード接続端子14の先端面2002が1〜2mm程度突出していてもよい。
次にテストリード10の組み立てについて説明する。
予め、円柱状の磁石20からなるテストリード接続端子14、圧着スリーブ16、コード12、絶縁カバー18を用意し、図2(A)に示すように、コード12の一端の被覆1204を剥き導電線1202を露出させる。
図2(B)に示すように、圧着スリーブ16の長手方向の一端の開口からテストリード接続端子14の平坦な先端面2002を除く長手方向の大部分を挿入すると共に、長手方向の他端の開口から導電線1202が露出したコード12の一端を挿入する。
次いで、図2(C)に示すように、圧着工具により圧着スリーブ16をその長手方向の中間部で半径方向内側に圧縮することで、テストリード接続端子14とコード12とを一体化する。
これにより、圧着スリーブ16がテストリード接続端子14の導電線1202側の端部と、導電線1202と、コード12の端部とを圧着し、テストリード接続端子14と導電線1202とが圧着スリーブ16を介して電気的に接続される。
予め、円柱状の磁石20からなるテストリード接続端子14、圧着スリーブ16、コード12、絶縁カバー18を用意し、図2(A)に示すように、コード12の一端の被覆1204を剥き導電線1202を露出させる。
図2(B)に示すように、圧着スリーブ16の長手方向の一端の開口からテストリード接続端子14の平坦な先端面2002を除く長手方向の大部分を挿入すると共に、長手方向の他端の開口から導電線1202が露出したコード12の一端を挿入する。
次いで、図2(C)に示すように、圧着工具により圧着スリーブ16をその長手方向の中間部で半径方向内側に圧縮することで、テストリード接続端子14とコード12とを一体化する。
これにより、圧着スリーブ16がテストリード接続端子14の導電線1202側の端部と、導電線1202と、コード12の端部とを圧着し、テストリード接続端子14と導電線1202とが圧着スリーブ16を介して電気的に接続される。
次いで、図2(D)に示すように、圧着スリーブ16が圧着されたテストリード接続端子14およびコード12を絶縁カバー18の内部に挿入して固定することで、図3に示すように、テストリード接続端子14の長手方向で導電線1202に接続された箇所と反対側のテストリード接続端子14の先端面2002を除くテストリード接続端子14の箇所が絶縁カバー18で覆われる。
絶縁カバー18は、例えば、接着剤を用いて圧着スリーブ16に接着され、絶縁カバー18がテストリード接続端子14から脱落しないように図られる。あるいは、絶縁カバー18をゴム材料のように伸縮性を有する材料で構成した場合は、絶縁カバー18の伸縮性を利用して圧着スリーブ16に取りけても良い。
コード12に他端についても同様の手順でテストリード接続端子14、圧着スリーブ16、絶縁カバー18を取り付ける。
これによりテストリード10が完成する。
絶縁カバー18は、例えば、接着剤を用いて圧着スリーブ16に接着され、絶縁カバー18がテストリード接続端子14から脱落しないように図られる。あるいは、絶縁カバー18をゴム材料のように伸縮性を有する材料で構成した場合は、絶縁カバー18の伸縮性を利用して圧着スリーブ16に取りけても良い。
コード12に他端についても同様の手順でテストリード接続端子14、圧着スリーブ16、絶縁カバー18を取り付ける。
これによりテストリード10が完成する。
次に、テストリード10の使用方法について説明する。
まず、図4(A)、(B)を参照してねじ端子台22について説明する。
ねじ端子台22は、例えば、プログラマブルロジックコントローラ、あるいは、センサやアクチュエータなどの周辺装置に設けられ、信号伝送用のコードのコード接続端子が接続され、それら信号伝送用のコードを介して信号の入出力を行う箇所である。
ねじ端子台22は、端子台本体24と、複数の端子金具26と、複数の端子ねじ28とを含んで構成されている。
端子台本体24は、絶縁材料で構成され、上下方向の高さHと、高さH方向と直交する前後方向の幅Wと、高さHおよび幅Wよりも大きい寸法の長さLとを有し、細長状に形成されている。
端子台本体24の上面2402には、端子台本体24の長手方向に等間隔をおいて設けられた複数の端子金具26が設けられ、各端子金具26には端子ねじ28が螺合する雌ねじが形成されている。
また、端子台本体24の上面2402には、長さL方向において各端子金具26の両側を仕切る複数の仕切壁30と、各仕切壁30の後縁を接続する後壁32とが端子台本体24と一体的に設けられている。
複数の端子ねじ28は、角型ワッシャ34を介して各端子金具26の雌ねじに螺合されている。
また、端子ねじ28は、磁石20が吸着する鋼などの金属材料で構成されている。
そして、コード接続端子を挿通した端子ねじ28が角型ワッシャ34を介して雌ねじに螺合されることで、コード接続端子が端子台に電気的に接続される。
なお、端子ねじ28が端子金具26の雌ねじに螺合された状態で端子ねじ28の頭部2802の高さに対して仕切壁30および後壁32の上端の高さは大きいものとなっている。
このように各端子ねじ28の頭部2802が仕切壁30と後壁32とによって囲まれることで、各端子ねじ28に締結されたコード接続端子同士が干渉しないように図られている。
したがって、各端子ねじ28の頭部2802は、仕切壁30と後壁32とによって囲まれた狭いスペースに位置している。
まず、図4(A)、(B)を参照してねじ端子台22について説明する。
ねじ端子台22は、例えば、プログラマブルロジックコントローラ、あるいは、センサやアクチュエータなどの周辺装置に設けられ、信号伝送用のコードのコード接続端子が接続され、それら信号伝送用のコードを介して信号の入出力を行う箇所である。
ねじ端子台22は、端子台本体24と、複数の端子金具26と、複数の端子ねじ28とを含んで構成されている。
端子台本体24は、絶縁材料で構成され、上下方向の高さHと、高さH方向と直交する前後方向の幅Wと、高さHおよび幅Wよりも大きい寸法の長さLとを有し、細長状に形成されている。
端子台本体24の上面2402には、端子台本体24の長手方向に等間隔をおいて設けられた複数の端子金具26が設けられ、各端子金具26には端子ねじ28が螺合する雌ねじが形成されている。
また、端子台本体24の上面2402には、長さL方向において各端子金具26の両側を仕切る複数の仕切壁30と、各仕切壁30の後縁を接続する後壁32とが端子台本体24と一体的に設けられている。
複数の端子ねじ28は、角型ワッシャ34を介して各端子金具26の雌ねじに螺合されている。
また、端子ねじ28は、磁石20が吸着する鋼などの金属材料で構成されている。
そして、コード接続端子を挿通した端子ねじ28が角型ワッシャ34を介して雌ねじに螺合されることで、コード接続端子が端子台に電気的に接続される。
なお、端子ねじ28が端子金具26の雌ねじに螺合された状態で端子ねじ28の頭部2802の高さに対して仕切壁30および後壁32の上端の高さは大きいものとなっている。
このように各端子ねじ28の頭部2802が仕切壁30と後壁32とによって囲まれることで、各端子ねじ28に締結されたコード接続端子同士が干渉しないように図られている。
したがって、各端子ねじ28の頭部2802は、仕切壁30と後壁32とによって囲まれた狭いスペースに位置している。
次にテストリード10の使用方法について説明する。
プログラマブルロジックコントローラあるいは周辺装置の動作確認、あるいは、故障箇所の特定を行うため、信号伝送用のコードを各ねじ端子台22から取り外し、テストリード10を介してねじ端子との電気的な接続とその切断を行なう場合について説明する。
図4(C)に示すように、コード12の両端のテストリード接続端子14の先端面2002を対象となる端子ねじ28の頭部2802に近づけることで磁石20からなるテストリード接続端子14の先端面2002が端子ねじ28の頭部2802に磁力によって吸着され、テストリード接続端子14と端子ねじ28とが電気的に接続され、電気的に接続された状態が保持される。
これにより、端子ねじ28とテストリード10が電気的に接続され、テストリード10を介した信号の伝送が可能となる。
テストリード10と端子ねじ28との電気的な接続を切断する場合には、テストリード接続端子14の吸引力に抗してテストリード接続端子14を端子ねじ28の頭部2802から引き離す。
これにより、端子ねじ28とテストリード10の電気的な接続が切断され、テストリード10を介した信号の伝送が解除される。
このような動作をチェックが必要な端子ねじ28に対して行うことでプログラマブルロジックコントローラあるいは周辺装置の動作確認、あるいは、故障箇所の特定を行うことができる。
プログラマブルロジックコントローラあるいは周辺装置の動作確認、あるいは、故障箇所の特定を行うため、信号伝送用のコードを各ねじ端子台22から取り外し、テストリード10を介してねじ端子との電気的な接続とその切断を行なう場合について説明する。
図4(C)に示すように、コード12の両端のテストリード接続端子14の先端面2002を対象となる端子ねじ28の頭部2802に近づけることで磁石20からなるテストリード接続端子14の先端面2002が端子ねじ28の頭部2802に磁力によって吸着され、テストリード接続端子14と端子ねじ28とが電気的に接続され、電気的に接続された状態が保持される。
これにより、端子ねじ28とテストリード10が電気的に接続され、テストリード10を介した信号の伝送が可能となる。
テストリード10と端子ねじ28との電気的な接続を切断する場合には、テストリード接続端子14の吸引力に抗してテストリード接続端子14を端子ねじ28の頭部2802から引き離す。
これにより、端子ねじ28とテストリード10の電気的な接続が切断され、テストリード10を介した信号の伝送が解除される。
このような動作をチェックが必要な端子ねじ28に対して行うことでプログラマブルロジックコントローラあるいは周辺装置の動作確認、あるいは、故障箇所の特定を行うことができる。
本実施の形態では、コード12の両端に設けられたテストリード接続端子14が、導電線1202に電気的に接続された細長状の導電性を有する磁石20で構成されているので、以下の効果が奏される。
1)テストリード接続端子14の端子ねじ28への取り付け、取り外しをワンタッチで簡単に行なえ、従来のようにワニ口クリップを開いて端子ねじ28の頭部2802を挟持する操作が不要となるため、操作性の向上を図る上で有利となる。
特に、チェックの対象となる端子ねじ28が多数存在する場合、1つの端子ねじ28当たりに要するテストリード接続端子14の取り付け、取り外しに要する時間が短縮できるため、全体の操作時間を大幅に短縮する上で有利となる。
2)テストリード接続端子14が磁力により端子ねじ28に吸着され電気的に接続されるため、端子ねじ28の頭部2802の大きさに拘わらず、テストリード接続端子14の端子ねじ28への取り付け、取り外しを簡単に行なえ、また、端子ねじ28に取り付けたテストリード接続端子14が端子ねじ28から簡単に外れることがなく、操作性の向上を図る上で有利となる。
3)端子ねじ28の周囲に狭いスペースしかない場合であっても、ワニ口クリップと比較してテストリード接続端子14の外形が小さいため、テストリード接続端子14の端子ねじ28への取り付け、取り外しを簡単に行なうことができ、操作性の向上を図る上で有利となる。
4)テストリード接続端子14を構成する磁石20は耐久性が高くワニ口クリップのように変形することがないため、テストリード接続端子14の端子ねじ28への取り付けの安定性の向上を図る上で有利となる。
1)テストリード接続端子14の端子ねじ28への取り付け、取り外しをワンタッチで簡単に行なえ、従来のようにワニ口クリップを開いて端子ねじ28の頭部2802を挟持する操作が不要となるため、操作性の向上を図る上で有利となる。
特に、チェックの対象となる端子ねじ28が多数存在する場合、1つの端子ねじ28当たりに要するテストリード接続端子14の取り付け、取り外しに要する時間が短縮できるため、全体の操作時間を大幅に短縮する上で有利となる。
2)テストリード接続端子14が磁力により端子ねじ28に吸着され電気的に接続されるため、端子ねじ28の頭部2802の大きさに拘わらず、テストリード接続端子14の端子ねじ28への取り付け、取り外しを簡単に行なえ、また、端子ねじ28に取り付けたテストリード接続端子14が端子ねじ28から簡単に外れることがなく、操作性の向上を図る上で有利となる。
3)端子ねじ28の周囲に狭いスペースしかない場合であっても、ワニ口クリップと比較してテストリード接続端子14の外形が小さいため、テストリード接続端子14の端子ねじ28への取り付け、取り外しを簡単に行なうことができ、操作性の向上を図る上で有利となる。
4)テストリード接続端子14を構成する磁石20は耐久性が高くワニ口クリップのように変形することがないため、テストリード接続端子14の端子ねじ28への取り付けの安定性の向上を図る上で有利となる。
また、本実施の形態では、テストリード接続端子14は、導電線1202の延長上に沿って細長状を呈し、テストリード接続端子14の長手方向の一端が導電線1202に電気的に接続されているので、テストリード接続端子14およびコード12がかさばらず、テストリード接続端子14の取り回しがしやすく、操作性の向上を図る上で有利となる。
また、本実施の形態では、テストリード接続端子14の長手方向で導電線1202に接続された箇所と反対側のテストリード接続端子14の先端面2002を除くテストリード接続端子14の箇所を覆う絶縁カバー18が設けられているので、テストリード接続端子14が不用意に他の箇所に電気的に接続されることがなく、誤操作の防止を図る上で有利となる。
また、本実施の形態では、テストリード接続端子14の長手方向で導電線1202に接続された箇所と反対側のテストリード接続端子14の先端面2002は平坦面で形成されているので、端子ねじ28の頭部2802の形状がどのようなものであっても確実にテストリード接続端子14の先端面2002を端子ねじ28の頭部2802に取り付けることができ、テストリード接続端子14の端子ねじ28への取り付けの安定性の向上を図る上で有利となる
また、本実施の形態では、テストリード接続端子14と導電線1202との電気的な接続は、テストリード接続端子14および導電線1202が挿入された圧着スリーブ16が圧着されることでなされているので、テストリード10を簡単な工程によって製造する上で有利となる。
また、本実施の形態では、テストリード接続端子14は、円柱状を呈しているので、テストリード接続端子14の取り回しが簡単となり、操作性の向上を図る上で有利となる。
また、本実施の形態では、テストリード接続端子14は、円柱状を呈しているので、テストリード接続端子14の取り回しが簡単となり、操作性の向上を図る上で有利となる。
なお、本実施の形態では、テストリード接続端子と導電線1202との電気的な接続を圧着スリーブ16を用いて行なう場合について説明したが、図5に示すように、テストリード接続端子14と導電線1202との電気的な接続をはんだ36を用いたはんだ付け等、テストリード接続端子14と導電線1202を直接繋ぐ方法で行なうようにしてもよい。
その場合は、圧着スリーブ16を用いないため、テストリード接続端子14を直接絶縁カバー18で被覆すればよく、テストリード10の小型化を図れ、狭いスペースしかない場合の操作性の向上を図る上でより有利となる。
その場合は、圧着スリーブ16を用いないため、テストリード接続端子14を直接絶縁カバー18で被覆すればよく、テストリード10の小型化を図れ、狭いスペースしかない場合の操作性の向上を図る上でより有利となる。
また、本実施の形態では導電線1202の延長上に沿って細長状を呈するテストリード接続端子14の長手方向の一端を導電線1202に電気的に接続する場合について説明したが、テストリード10の用途によっては、細長状を呈するテストリード接続端子14と導電線1202の延長線とが直交してL字状を呈するように構成するなど任意である。
また、本実施の形態では、テストリード接続端子14の箇所を覆う絶縁カバー18が設けられている場合について説明したが、絶縁カバー18を省略してもよい。
また、本実施の形態では、テストリード接続端子14の箇所を覆う絶縁カバー18が設けられている場合について説明したが、絶縁カバー18を省略してもよい。
また、本実施の形態では、導電線1202の長手方向の両端に磁石20からなるテストリード接続端子14を設けた場合について説明したが、用途に応じて、導電線1202の長手方向の一端に磁石20からなるテストリード接続端子14を設けると共に、他端にワニ口クリップなど従来公知のテストリード接続端子を設けても良い。
また、本実施の形態では、テストリード10がプログラマブルロジックコントローラおよび周辺装置の動作確認、あるいは、故障箇所の特定を行うために用いられる場合について説明したが、テストリード10の用途は任意であり、様々な制御装置の動作確認、故障箇所の特定、信号の計測などを行なうためにテストリード10を使用できることは無論である。
また、本実施の形態では、テストリード接続端子14が端子ねじ28の頭部2802に取り付けられる場合について説明したが、テストリード接続端子14が取り付けられ電気的に接続する対象箇所は、磁石20が吸着できる箇所であればよく、端子ねじ28の頭部2802以外の箇所であってもよい。
また、本実施の形態では、テストリード接続端子14が端子ねじ28の頭部2802に取り付けられる場合について説明したが、テストリード接続端子14が取り付けられ電気的に接続する対象箇所は、磁石20が吸着できる箇所であればよく、端子ねじ28の頭部2802以外の箇所であってもよい。
また、本実施の形態のテストリード10において、コード12(導電線1202)の中間部に市販品のヒューズボックスを設け過大電流が流れたときにヒューズボックスに装着されたヒューズが溶断することで、テストリード10の損傷およびテストリード10が接続されている装置の損傷を防止するようにするなど任意である。
10 テストリード
12 コード
1202 導電線
1204 被覆
14 テストリード接続端子
16 圧着スリーブ
18 絶縁カバー
20 磁石
2002 先端面
36 はんだ
12 コード
1202 導電線
1204 被覆
14 テストリード接続端子
16 圧着スリーブ
18 絶縁カバー
20 磁石
2002 先端面
36 はんだ
Claims (7)
- 導電線を絶縁被覆したコードと、前記導電線の長手方向の両端に設けられたテストリード接続端子とを備えるテストリードであって、
前記両端に設けられたテストリード接続端子の少なくとも一方が、前記導電線に電気的に接続された細長状の導電性を有する磁石で構成されている、
ことを特徴とするテストリード。 - 前記磁石は、前記導電線の延長上に沿って細長状を呈し、
前記磁石の長手方向の一端が前記導電線に電気的に接続されている、
ことを特徴とする請求項1記載のテストリード。 - 前記磁石の長手方向で前記導電線に接続された箇所と反対側の磁石の先端面を除く前記磁石の箇所を覆う絶縁カバーが設けられている、
ことを特徴とする請求項2記載のテストリード。 - 前記磁石の長手方向で前記導電線に接続された箇所と反対側の磁石の先端面は平坦面で形成されている、
ことを特徴とする請求項2または3記載のテストリード。 - 前記磁石と前記導電線との電気的な接続は、前記磁石および前記導電線が挿入された圧着スリーブが圧着されることでなされている、
ことを特徴とする請求項1から4の何れか1項記載のテストリード。 - 前記磁石と前記導電線との電気的な接続は、はんだ付けによりなされている、
ことを特徴とする請求項1から4の何れか1項記載のテストリード。 - 前記磁石は、円柱状を呈している、
ことを特徴とする請求項1から6の何れか1項記載のテストリード。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019089874A JP2020187852A (ja) | 2019-05-10 | 2019-05-10 | テストリード |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
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---|---|
JP2020187852A true JP2020187852A (ja) | 2020-11-19 |
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ID=73221022
Family Applications (1)
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JP2019089874A Pending JP2020187852A (ja) | 2019-05-10 | 2019-05-10 | テストリード |
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Country | Link |
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-
2019
- 2019-05-10 JP JP2019089874A patent/JP2020187852A/ja active Pending
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