JP2020187339A - 光フィルタ構造 - Google Patents

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Abstract

【課題】 誘電体スタック層を含む光フィルタ構造を提供する。【解決手段】 光フィルタ構造は、複数の光電変換素子を有する基板、前記基板の上に配置された誘電体スタック層、および前記誘電体スタック層の上に配置された平坦化層を含み、前記誘電体スタック層は、くさび形状部、および前記くさび形状部に隣接する平坦化部を有し、前記くさび形状部は、連続的または非連続的に変化する厚さを有し、前記平坦化部は実質的に一定の厚さを有する。【選択図】 図1

Description

本発明は、光フィルタ構造に関するものであり、特に、誘電体スタック層(dielectric−stacking layer)を含む光フィルタ構造に関するものである。
光フィルタは、スペクトルメータ、周囲光センサ、カラーセンサ、画像センサ、スペクトル検査装置などの様々な装置において広く用いられてきた。しかしながら、従来の光フィルタ構造は、全ての面において要求を満たすわけではない。例えば、従来の光フィルタ構造から得られるスペクトルは、斜め入射光による予期しない変形を有する可能性がある。また、要求を満たすために、従来の光フィルタ構造のサイズを、例えば数マイクロメートルに縮小することは困難である。
誘電体スタック層を含む光フィルタ構造を提供する。
本開示のいくつかの実施形態による、光フィルタ構造が提供される。
光フィルタ構造は、複数の光電変換素子を有する基板を含む。光フィルタ構造は、基板の上に配置された誘電体スタック層も含む。光フィルタ構造は、誘電体スタック層の上に配置された平坦化層を更に含む。誘電体スタック層は、くさび形状部、およびくさび形状部に隣接する平坦化部を有し、くさび形状部は、連続的または非連続的に変化する厚さを有し、平坦化部は実質的に一定の厚さを有する。
本開示の態様は、添付の図面を参照することで、以下の詳細な説明からより理解され得る。工業における標準的な慣行に従って、種々の特徴は縮尺通りに描かれていないことに留意されたい。実際、種々の特徴の寸法は、議論を明確化するために、任意に増加または減少されている。
本開示の一実施形態による光フィルタ構造を示す部分断面図である。 本開示の一実施形態による光フィルタ構造を示す部分拡大図である。 本開示のもう一つの実施形態による光フィルタ構造を示す部分断面図である。 本開示の一実施形態による光フィルタ構造を示す部分拡大図である。 本開示の一実施形態による光フィルタ構造を示す部分断面図である。 本開示のもう一つの実施形態による光フィルタ構造を示す部分断面図である。 本開示の一実施形態による第1の遮光層の第1の開口を示す部分上面図である。
次の開示では、異なる特徴を実施するために、多くの異なる実施の形態または実施例を提供する。本開示を簡潔に説明するために、複数の要素および複数の配列の特定の実施形態が以下に述べられる。これらはもちろん単に例示するためであり、それに限定するという意図はない。例えば、下記の開示の第2の特徴の上方、または上への第1の特徴の形成は、第1と第2の特徴が直接接触で形成される複数の実施形態を含むことができ、且つ第1と第2の特徴が直接接触でないように、付加的な特徴が第1と第2の特徴間に形成された複数の実施形態を含むこともできる。
追加のステップが述べられた方法の前、間、または後に実施されることができ、いくつかの工程が、例示した方法の他の実施形態では、置き換えまたは省略されることができることを理解されたい。
また、更に(以下の詳細な説明において)、「の下」、「下方」、「下部」、「の上」、「上方」、「上部」およびこれらに類する語のような、空間的に相対的な用語は、図において1つの要素または特徴の関係を別の(複数の)要素と(複数の)特徴で記述するための説明を簡潔にするために用いられる。空間的に相対的な用語は、図に記載された方向に加えて、使用または操作する装置の異なる方向を包含することを意図している。装置は、他に方向づけされてもよく(45度回転、または他の方向に)、ここで用いられる空間的に相対的な記述は、同様にそれに応じて解釈され得る。
本開示では、用語「約」および「大抵」は、一般的に、所定値の+/−20%を意味し、より一般的に、所定値の+/−10%を意味し、より一般的に、所定値の+/−5%を意味し、より一般的に、所定値の+/−3%を意味し、より一般的に、所定値の+/−2%を意味し、より一般的に、所定値の+/−1%を意味し、さらにより一般的に、所定値の+/−0.5%を意味する。本開示の所定値は、近似値である。即ち、用語「約」および「大抵」の特定の説明がないとき、所定値は、「約」または「大抵」の意味を含む。
「第1」、「第2」、「第3」などの用語は、ここでは各種の素子、構成要素、領域、層、および/または部分を説明するのに用いられることができ、これらの素子、構成要素、領域、層、および/または部分は、これらの用語によって制限されてはならない。これらの用語は単に一素子、構成要素、領域、層、および/または部分を識別するのに用いられることは理解される。従って、第1の素子、構成要素、領域、層、および/または部分は、例示的な実施形態の技術から逸脱しない限りにおいては、第2の素子、構成要素、領域、層、および/または部分と呼ばれてもよい。
特に定義されない限り、本明細書で使用される全ての用語(技術的及び科学的用語を含む)は、当業者によって一般的に理解されるのと同じ意味を有する。さらに、一般的に使用される辞書に定義されているような用語は、関連技術の文脈における意味と一致する意味を有するものと解釈されるべきであり、本明細書で明示的に定義されていない限り、理想化された又は過度に形式的な意味で解釈されない。
図1は、本開示の一実施形態による光フィルタ構造100を示す部分断面図である。図2は、本開示の一実施形態による光フィルタ構造100を示す部分拡大図である。簡潔にするために、光フィルタ構造100の全ての構成要素が図1および図2に示されているわけではないことに留意されたい。
図1に示すように、光フィルタ構造100は基板10を含む。いくつかの実施形態では、基板10の材料は、元素半導体(例えば、シリコン、ゲルマニウム)、化合物半導体(例えば、炭化タンタル(TaC)、ガリウム砒素(GaAs)、インジウム砒素(InAs)、またはリン化インジウム(InP))、合金半導体(例えば、シリコンゲルマニウム(SiGe)、シリコンゲルマニウムカーボン(SiGeC)、ガリウムヒ素リン化物(GaAsP)、またはガリウムインジウムリン化物(GaInP))、任意の他の適用可能な半導体、またはそれらの組み合わせを含むことができるが本開示は、これを限定するものではない。
いくつかの実施形態では、基板10は、半導体オンインシュレータ(SOI)基板であることができる。半導体オンインシュレータ基板は、底部基板と、底部基板上に配置された埋め込み酸化物層と、埋め込み酸化物層上に配置された半導体層とを含むことができる。いくつかの実施形態では、いくつかの実施形態では、基板10は半導体ウエハ(例えば、シリコンウエハ、または任意の他の適用可能な半導体ウエハ)であることができる。いくつかの実施形態では、基板10の材料は、セラミック、ガラス、ポリイミド(PI)、液晶ポリマー(LCP)、ポリカーボネート(PC)、ポリプロピレン(PP)、ポリエチレンテレフタレート(PET)(および他のプラスチック)、ポリマー材料、またはそれらの組み合わせのうちの少なくとも1つを含むことができるが、これらに限定されない。
いくつかの実施形態では、基板10は、様々な導電性フィーチャ(例えば、導電線またはビア)を含むことができる。例えば、導電性フィーチャは、アルミニウム(Al)、銅(Cu)、タングステン(W)、それらの合金、任意の他の適用可能な導電性材料、またはそれらの組み合わせから作製されることができるが、本開示はこれらに限定されない。
図1に示すように、基板10は、複数の光電変換素子12を有することができる。いくつかの実施形態では、光電変換素子12は、イオン注入プロセスおよび/または拡散プロセスなどのプロセスによって形成されることができる。例えば、光電変換素子12は、トランジスタ、フォトダイオード、PINダイオードおよび/または発光ダイオードを形成するように構成されることができるが、本開示はこれらに限定されない。
図1および図2に示されるように、光フィルタ構造100は、基板10の上に配置された誘電体スタック層20を含む。この実施形態では、図1に示されるように、誘電体スタック層20は、くさび形状部20−1と、くさび形状部20−1に隣接する平坦化部20−3とを含むことができる。いくつかの実施形態では、くさび形状部20−1は連続的に変化する厚さを有することができ、平坦化部は実質的に一定の厚さを有することができるが、本開示はこれらに限定されない。ここでは、連続的に変化する厚さは、厚さが連続的に変化することを意味する。いくつかの実施形態では、くさび形状部20−1は、非連続的に変化する厚さを有することができる。ここでは、非連続的に変化する厚さは、厚さが非連続的に変化することを意味する。
いくつかの実施形態では、図1および図2に示されるように、誘電体スタック層20は、交互に積層された複数の第1の誘電体層21および複数の第2の誘電体層23を含むことができ、各第1の誘電体層21の屈折率は、各第2の誘電体層21の屈折率と異なることができる。例えば、第1の誘電体層21の屈折率は、第2の誘電体層23の屈折率より大きくてもよいが、本開示はこれを限定するものではない。他の実施形態では、第1の誘電体層21の屈折率は、第2の誘電体層23の屈折率より小さくてもよい。
いくつかの実施形態では、第1の誘電体層21の屈折率は、約2から約2.5の間であることができ、第1の誘電体層21の材料は、二酸化ジルコニウム(ZrO)、五酸化タンタル(Ta)、五酸化ニオブ(Nb)、硫化亜鉛(ZnS)、二酸化チタン(TiO)、酸化インジウム錫(ITO)、酸化錫(SnO)、酸化亜鉛(ZnO)、または任意の他の適用可能な材料を含むことができるが、本開示はこれらを限定するものではない。いくつかの実施形態では、第2の誘電体層23の屈折率は約1.2から約1.8の間であることができ、第2の誘電体層23の材料はフッ化カルシウム(CaF)、フッ化マグネシウム(MgF)、三フッ化ランタン(LaF)、二酸化ケイ素(SiO)、酸化アルミニウム(Al)、二酸化ハフニウム(HfO)、または任意の他の適用可能な材料を含むことができるが本開示はこれらを限定するものではない。
図1および図2では、誘電体スタック層20は、基板10の上に配置された4つの第1の誘電体層21および4つの第2の誘電体層23を含むが、第1の誘電体層21の数および第2の誘電体層23の数はこれらに限定されない。いくつかの実施形態では、第1の誘電体層21および第2の誘電体層23は、化学気相成長法、原子層堆積法、物理気相成長法、または他の適切な方法によって形成されることができるが、本開示はこれらに限定されない。例えば、化学気相成長法は、低圧化学気相成長法(LPCVD)、低温化学気相成長法(LTCVD)、急速熱化学気相成長法(RTCVD)、またはプラズマ化学気相成長法(PECVD)であることができる。
また、誘電体スタック層20は、特定のマスクを用いることによって基板10の上に積層され、くさび形状部20−1(および平坦化部20−3)を形成することができ、くさび形状部20−1は、連続的に変化する厚さを有することができるが、本開示はこれに限定されない。また、図1および図2に示されるように、いくつかの実施形態では、くさび形状部20−1内の各第1の誘電体層21は、対応して連続的に変化する厚さを有することができ、くさび形状部20−1内の各第2の誘電体層23は、対応して連続的に変化する厚さを有することができるが、本開示はこれを限定するものではない。
いくつかの実施形態では、図1および図2に示されるように、誘電体スタック層20のくさび形状部20−1は、平坦化部20−3に近い側から平坦化部20−3から遠い側に徐々に薄くなることができる。即ち、平坦化部20−3に近い側のくさび形状部20−1の厚さは、平坦化部20−3から遠い側のくさび形状部20−1の厚さよりも大きいことができる。しかしながら、本開示はこれに限定するものではない。
これに対応して、図1および図2に示されるように、くさび形状部20−1内の各第1の誘電体層21は、平坦化部20−3に近い側から平坦化部20−3から遠い側に徐々に薄くなることができ、くさび形状部20−1内の各第2の誘電体層23は、平坦化部20−3に近い側から平坦化部20−3から遠い側に徐々に薄くなることができる。即ち、くさび形状部20−1では、平坦化部20−3に近い側の第1の誘電体層21の厚さは、平坦化部20−3から遠い側の第1の誘電体層21の厚さよりも大きいことができ、平坦化部20−3に近い第2の誘電体層23の厚さは、平坦化部20−3から遠い側の第2の誘電体層23の厚さより大きいことができる。しかしながら、本開示はこれに限定するものではない。
この実施形態では、誘電体スタック層20は、平坦化部20−3に隣接するもう一つのくさび形状部20−2を更に含んでもよい。即ち、図1に示されるように、くさび形状部20−1は、平坦化部20−3の一方の側に配置され、くさび形状部20−2は、平坦化部20−3の他方の側に配置されることができる。いくつかの実施形態では、くさび形状部20−2はくさび形状部20−1と同様であることができる。例えば、くさび形状部20−2は、連続的に変化する厚さを有することができ、くさび形状部20−2は、くさび形状部20−1と対称的であることができるが、本開示はこれを限定するものではない。もう一つの実施形態では、くさび形状部20−2は非連続的に変化する厚さを有してもよく、またはくさび形状部20−2はくさび形状部20−1に対して非対称であってもよい(例えば、くさび形状部20−2の幅は、くさび形状部20−1の幅より大きくても小さくてもよい)。
図1および図2に示すように、光フィルタ構造100は、誘電体スタック層20上に配置された平坦化層30を含む。この実施形態では、平坦化層30は透明層であることができ、平坦化層30の材料は透明フォトレジスト、ポリイミド、エポキシ樹脂、任意の他の適用可能な材料、またはそれらの組み合わせを含むことができるが、本開示はそれらに限定されない。
いくつかの実施形態では、平坦化層30の材料は、光硬化性材料、熱硬化性材料、またはそれらの組み合わせを含むことができる。例えば、スピンオンコーティングプロセスが行なわれて透明材料を誘電体スタック層20の上にコーティングし、次いで、平坦化プロセスが行われて平坦化層30を形成することができるが、本開示はこれらを限定するものではない。例えば、平坦化プロセスは、化学機械研磨(CMP)プロセス、研削プロセス、エッチバックプロセス、任意の他の適用可能なプロセス、またはそれらの組み合わせを含むことができる。
図1および図2に示すように、いくつかの実施形態では、光フィルタ構造100は、平坦化層30の上に配置された第1の遮光層41を更に含むことができる。図1および図2に示されるように、第1の遮光層41は、複数の第1の開口41aを含むことができる。いくつかの実施形態では、各第1の開口41aは、光電変換素子12の中の1つに対応することができるが、本開示はこれに限定されない。
いくつかの実施形態では、第1の遮光層41の材料は、フォトレジスト(例えば、黒色フォトレジスト、または透明でない他の適用可能なフォトレジスト)、インク(例えば、黒インク、または透明でない他の適用可能なインク)、成形材料(molding compound)(例えば、黒色成形材料、または透明でない他の適用可能な成形材料)、はんだマスク(例えば、黒色はんだマスク、または透明でない他の適用可能なはんだマスク)、(黒色)エポキシポリマー、任意の他の適用可能な材料、またはそれらの組み合わせを含むことができる。いくつかの実施形態では、第1の遮光層41の材料は、光硬化性材料、熱硬化性材料、またはそれらの組み合わせを含むことができるが、本開示はこれらに限定されない。
いくつかの実施形態では、第1の遮光層41は、コーティングプロセスまたはパターニングプロセスによって平坦化層30の上に形成されることができる。いくつかの実施形態では、パターニングプロセスは、ソフトベーキング、マスク位置合わせ、露光、露光後ベーキング、現像、リンス、乾燥、任意の他の適用可能なプロセス、またはそれらの組み合わせを含むことができるが、本開示はこれらに限定されない。
また、いくつかの実施形態では、光フィルタ構造100は、平坦化層30内、および誘電体スタック層20の上に配置された少なくとも1つの第2の遮光層43を更に含むことができる。図1および図2に示されるように、第2の遮光層43は、複数の第2の開口43aを含むことができる。いくつかの実施形態では、各第2の開口43aは、光電変換素子12の中の1つに対応することができるが、本開示はこれに限定されない。
同様に、第2の遮光層43の材料は、フォトレジスト(例えば、黒色フォトレジスト、または透明でない他の適用可能なフォトレジスト)、インク(例えば、黒インク、または透明でない他の適用可能なインク)、成形材料(molding compound)(例えば、黒色成形材料、または透明でない他の適用可能な成形材料)、はんだマスク(例えば、黒色はんだマスク、または透明でない他の適用可能なはんだマスク)、(黒色)エポキシポリマー、任意の他の適用可能な材料、またはそれらの組み合わせを含むことができる。いくつかの実施形態では、第2の遮光層43の材料は、光硬化性材料、熱硬化性材料、またはそれらの組み合わせを含むことができるが、本開示はこれらに限定されない。
いくつかの実施形態では、第2の遮光層43は、コーティングプロセスまたはパターニングプロセスによって形成されることができる。いくつかの実施形態では、パターニングプロセスは、ソフトベーキング、マスク位置合わせ、露光、露光後ベーキング、現像、リンス、乾燥、任意の他の適用可能なプロセス、またはそれらの組み合わせを含むことができるが、本開示はこれらに限定されない。例えば、透明材料(例えば、透明フォトレジスト、ポリイミド、またはエポキシ樹脂)は、誘電体スタック層20の上に形成されることができ、次いで、不透明材料(例えば、フォトレジスト、インク、成形材料、ソルダーマスク、または(黒色)エポキシポリマー)が透明材料上にコーティングされることができ、次に、不透明材料がパターニングされ、第2の開口43aを有する第2の遮光層43を形成することができ、次いで、透明材料が第2の開口43a内に充填され、第2の遮光層43の上に配置されることができ、次に、不透明材料が透明材料の上に再度コーティングされることができ、次いで、不透明材料がパターニングされ、第1の開口41aを有する第1の遮光層41を形成することができるが、本開示は、これらに限定されない。
いくつかの実施形態では、図1および図2に示されるように、第1の遮光層41の第1の開口41aは、第2の遮光層43の第2の開口43aに対応することができる。
いくつかの実施形態では、図2に示されるように、基板10の上面10Tと平行な方向D1にある各第1の開口41aの幅W1は、1μmより大きく150μmより小さく、基板10の上面10Tと平行な方向D1にある各第2の開口43aの幅W2は、1μmより大きく150μmより小さいが、本開示は、これに限定されない。この実施形態では、図1および図2に示されるように、各第1の開口41aの幅W1は、各第2の開口43aの幅W2と同じように示されるが、本開示はこれに限定されない。いくつかの実施形態では、各第1の開口41aの幅W1は、各第2の開口43aの幅W2と異なるように示されることができる。例えば、各第1の開口41aの幅W1は、必要に応じて各第2の開口43aの幅W2より大きいことができる。
遮光層(40)の数は、図1および図2に示される例に限定されるものではないことに留意されたい。いくつかの実施形態では、第2の遮光層43の数は、例えば、2つ以上であることができる。2つ以上の遮光層(40)は、各入射光の入射角度を制限することができる。例えば、各入射光の入射角は、10°以下に制限されることができる。即ち、図2に示されるように、第1の遮光層41の第1の開口41aおよび第2の遮光層43の第2の開口43aは、光Lの入射角αを0〜10°に制限することができるが、本開示は、これに限定されない。従って、光フィルタ構造100は、低角度依存性であることができる。即ち、光フィルタ構造100に伝送される斜め入射光によるスペクトル変形を低減することができる。
また、光フィルタ構造100がスペクトル検査装置に用いられるとき、スペクトル分解は、第1の遮光層41の第1の開口41aおよび第2の遮光層43の第2の開口43aの大きさによって決定されることができる。即ち、スペクトル分解は、第1の遮光層41の第1の開口41aおよび第2の遮光層43の第2の開口43aの大きさを調整することによって向上されることができる。
いくつかの実施形態では、光電変換素子12に伝送される光の波長は、誘電体スタック層20の厚さによって決まる。例えば、図1および図2に示された実施形態では、くさび形状部20−1に対応する光電変換素子12のうち、光電変換素子12が平坦化部20−3に近いほど、光電変換素子12に伝送される光の波長は長く、平坦化部20−3に対応する光電変換素子12に伝送される光の波長は、くさび形状部20−1に対応する光電変換素子12に伝送される光の波長よりも大きい。従って、図1に示されるように、赤色光は光電変換素子12Cに伝送され、青色光は光電変換素子12Pに伝送されることができるが、本発明はこれに限定されない。
図3は、本開示のもう一つの実施形態による光フィルタ構造102を示す部分断面図である。図4は、本開示の一実施形態による光フィルタ構造102を示す部分拡大図である。簡潔にするために、光フィルタ構造102の全ての構成要素が図3および図4に示されているわけではないことに留意されたい。
図3および図4に示すように、光フィルタ構造102は基板10を含む。同様に、基板10は、複数の光電変換素子12を有することができる。光フィルタ構造102は、基板10の上に配置された誘電体スタック層22を含む。図3に示されるように、この実施形態では、誘電体スタック層22は、くさび形状部22−1、およびくさび形状部22−1に隣接する平坦化部22−3を含むことができる。光フィルタ構造102は、誘電体スタック層22の上に配置された平坦化層30を更に含む。
図1および図2に示される光フィルタ構造100との違いは、図3および図4に示される誘電体スタック層22のくさび形状部22−1が、非連続的に変化する厚さを有することができることを含むことができることである。ここでは、非連続的に変化する厚さは、厚さが非連続的に変化することを意味する。例えば、誘電体スタック層22のくさび形状部22−1は、階段形状を有することができるが、本開示はこれに限定されない。
同様に、図3および図4に示されるように、誘電体スタック層22は、交互に積層された複数の第1の誘電体層21および複数の第2の誘電体層23を含むことができ、各第1の誘電体層21の屈折率は、各第2の誘電体層21の屈折率と異なることができる。例えば、第1の誘電体層21の屈折率は、第2の誘電体層23の屈折率より大きくてもよいが、本開示はこれを限定するものではない。他の実施形態では、第1の誘電体層21の屈折率は、第2の誘電体層23の屈折率より小さくてもよい。
図3および図4では、誘電体スタック層22は、基板10の上に配置された3つの第1の誘電体層21および3つの第2の誘電体層23を含むが、第1の誘電体層21の数および第2の誘電体層23の数はこれらに限定されない。いくつかの実施形態では、第1の誘電体層21の数および第2の誘電体層23の数は、必要に応じて調整することができる。
いくつかの実施形態では、図3および図4に示されるように、誘電体スタック層22のくさび形状部22−1は、平坦化部22−3に近い側から平坦化部22−3から遠い側に徐々に(しかしながら非連続的に)薄くなることができる。即ち、平坦化部22−3に近い側のくさび形状部22−1の厚さは、平坦化部22−3から遠い側のくさび形状部22−1の厚さよりも大きいことができる。しかしながら、本開示はこれに限定するものではない。
これに対応して、図3および図4に示されるように、くさび形状部22−1内の各第1の誘電体層21は、平坦化部22−3に近い側から平坦化部22−3から遠い側に徐々に(しかしながら非連続的に)薄くなることができ、くさび形状部22−1内の各第2の誘電体層23は、平坦化部22−3に近い側から平坦化部22−3から遠い側に徐々に(しかしながら非連続的に)薄くなることができる。即ち、くさび形状部22−1では、平坦化部22−3に近い側の第1の誘電体層21の厚さは、平坦化部22−3から遠い側の第1の誘電体層21の厚さよりも大きいことができ、平坦化部22−3に近い第2の誘電体層23の厚さは、平坦化部22−3から遠い側の第2の誘電体層23の厚さより大きいことができる。しかしながら、本開示はこれに限定するものではない。
同様に、誘電体スタック層22は、平坦化部22−3に隣接するもう一つのくさび形状部22−2を更に含んでもよい。即ち、図3に示されるように、くさび形状部22−1は、平坦化部22−3の一方の側に配置され、くさび形状部22−2は、平坦化部22−3の他方の側に配置されることができる。いくつかの実施形態では、くさび形状部22−2はくさび形状部22−1と同様であることができる。例えば、くさび形状部22−2は、非連続的に変化する厚さを有することができ、くさび形状部22−2は、くさび形状部22−1と対称的であることができるが、本開示はこれを限定するものではない。もう一つの実施形態では、くさび形状部22−2は、図1に示されるように、くさび形状部20−2(連続的に変化する厚さを有する)と同じでもよく、またはくさび形状部22−2はくさび形状部22−1に対して非対称であってもよい(例えば、くさび形状部22−2の幅は、くさび形状部22−1の幅より大きくても小さくてもよい)。
図3および図4に示すように、いくつかの実施形態では、光フィルタ構造102は、平坦化層30上に配置された第1の遮光層41と、平坦化層30内、且つ誘電体スタック層22の上に配置された少なくとも1つの第2の遮光層43とを更に含むことができる。
図3および図4に示されるように、第1の遮光層41は複数の第1の開口41aを含み、第2の遮光層43は複数の第2の開口43aを含む。いくつかの実施形態では、各第1の開口41aおよび各第2の開口43aは、光電変換素子12の中の1つに対応することができるが、これに限定されない。図3および図4に示されるように、いくつかの実施形態では、第1の遮光層41の第1の開口41aは、第2の遮光層43の第2の開口43aに対応することができるが、これに限定されない。
同様に、光フィルタ構造102がスペクトル検査装置に用いられるとき、スペクトル分解は、第1の遮光層41の第1の開口41aおよび第2の遮光層43の第2の開口43aの大きさによって決定されることができる。即ち、スペクトル分解は、第1の遮光層41の第1の開口41aおよび第2の遮光層43の第2の開口43aの大きさを調整することによって向上されることができる。
いくつかの実施形態では、光電変換素子12に伝送される光の波長は、誘電体スタック層22の厚さによって決まる。例えば、図3および図4に示された実施形態では、くさび形状部22−1に対応する光電変換素子12のうち、光電変換素子12が平坦化部22−3に近いほど、光電変換素子12に伝送される光の波長は長く、平坦化部22−3に対応する光電変換素子12に伝送される光の波長は、くさび形状部22−1に対応する光電変換素子12に伝送される光の波長よりも大きい。従って、図3に示されるように、赤色光は光電変換素子12Cに伝送され、青色光は光電変換素子12Pに伝送されることができるが、本発明はこれに限定されない。
図5は、本開示の一実施形態による光フィルタ構造104を示す部分断面図である。図6は、本開示のもう一つの実施形態による光フィルタ構造106を示す部分断面図である。簡潔にするために、光フィルタ構造104および光フィルタ構造106の全ての構成要素が図5および図6に示されているわけではないことに留意されたい。
図5に示すように、光フィルタ構造104は基板10を含む。同様に、基板10は、複数の光電変換素子12を有することができる。光フィルタ構造104は、基板10の上に配置された誘電体スタック層24を含む。図5に示されるように、この実施形態では、誘電体スタック層24は、くさび形状部24−1、およびくさび形状部24−1に隣接する平坦化部24−3を含むことができる。光フィルタ構造104は、誘電体スタック層24の上に配置された平坦化層30を更に含む。いくつかの実施形態では、光フィルタ構造104は、平坦化層30上に配置された第1の遮光層41と、平坦化層30内、且つ誘電体スタック層24の上に配置された少なくとも1つの第2の遮光層43とを更に含むことができる。
図5に示される誘電体スタック層24のくさび形状部24−1は、図1および図2に示される誘電体スタック層20のくさび形状部20−1と異なることができる。例えば、図5に示されるように、誘電体スタック層24のくさび形状部24−1は、連続的に変化する厚さを有することができるが、誘電体スタック層24のくさび形状部24−1は、平坦化部24−3に近い側から平坦化部24−3から遠い側に徐々に厚くなることができる。即ち、平坦化部24−3に近いくさび形状部24−1の厚さは、平坦化部24−3から遠い側のくさび形状部24−1の厚さよりも小さいことができる。しかしながら、本開示はこれに限定するものではない。
同様に、図5に示されるように、誘電体スタック層24は、交互に積層された複数の第1の誘電体層21および複数の第2の誘電体層23を含むことができ、各第1の誘電体層21の屈折率は、各第2の誘電体層21の屈折率と異なることができる。例えば、第1の誘電体層21の屈折率は、第2の誘電体層23の屈折率より大きくてもよいが、本開示はこれを限定するものではない。他の実施形態では、第1の誘電体層21の屈折率は、第2の誘電体層23の屈折率より小さくてもよい。
図5では、誘電体スタック層24は、基板10の上に配置された4つの第1の誘電体層21および4つの第2の誘電体層23を含むが、第1の誘電体層21の数および第2の誘電体層23の数はこれらに限定されない。いくつかの実施形態では、第1の誘電体層21の数および第2の誘電体層23の数は、必要に応じて調整することができる。
これに対応して、図5に示されるように、くさび形状部24−1内の各第1の誘電体層21は、平坦化部24−3に近い側から平坦化部24−3から遠い側に徐々に厚くなることができ、くさび形状部24−1内の各第2の誘電体層23は、平坦化部24−3に近い側から平坦化部24−3から遠い側に徐々に厚くなることができる。即ち、くさび形状部24−1では、平坦化部24−3に近い側の第1の誘電体層21の厚さは、平坦化部24−3から遠い側の第1の誘電体層21の厚さよりも小さいことができ、平坦化部24−3に近い第2の誘電体層23の厚さは、平坦化部24−3から遠い側の第2の誘電体層23の厚さより小さいことができる。しかしながら、本開示はこれに限定するものではない。
同様に、誘電体スタック層24は、平坦化部24−3に隣接するもう一つのくさび形状部24−2を更に含んでもよい。即ち、図5に示されるように、くさび形状部24−1は、平坦化部24−3の一方の側に配置され、くさび形状部24−2は、平坦化部24−3の他方の側に配置されることができる。いくつかの実施形態では、くさび形状部24−2はくさび形状部24−1と同様であることができる。例えば、くさび形状部24−2は、連続的に変化する厚さを有することができ、くさび形状部24−2は、くさび形状部24−1と対称的であることができるが、本開示はこれを限定するものではない。もう一つの実施形態では、くさび形状部24−2は、図3に示されるように、くさび形状部22−2(非連続的に変化する厚さを有する)と同じでもよく、またはくさび形状部24−2はくさび形状部24−1に対して非対称であってもよい(例えば、くさび形状部24−2の幅は、くさび形状部24−1の幅より大きくても小さくてもよい)。
いくつかの実施形態では、光電変換素子12に伝送される光の波長は、誘電体スタック層24の厚さによって決まる。例えば、図5に示された実施形態では、くさび形状部24−1に対応する光電変換素子12のうち、光電変換素子12が平坦化部24−3に近いほど、光電変換素子12に伝送される光の波長は短く、平坦化部24−3に対応する光電変換素子12に伝送される光の波長は、くさび形状部24−1に対応する光電変換素子12に伝送される光の波長よりも大きい。従って、図5に示されるように、赤色光は光電変換素子12Cまたは12Pに伝送され、青色光は光電変換素子12Fに伝送されることができるが、本発明はこれに限定されない。
図6に示すように、光フィルタ構造106は基板10を含む。同様に、基板10は、複数の光電変換素子12を有することができる。光フィルタ構造106は、基板10の上に配置された誘電体スタック層26を含む。図6に示されるように、この実施形態では、誘電体スタック層26は、くさび形状部26−1、およびくさび形状部26−1に隣接する平坦化部26−3を含むことができる。光フィルタ構造106は、誘電体スタック層26の上に配置された平坦化層30を更に含む。いくつかの実施形態では、光フィルタ構造106は、平坦化層30上に配置された第1の遮光層41と、平坦化層30内、且つ誘電体スタック層26の上に配置された少なくとも1つの第2の遮光層43とを更に含むことができる。
図5に示される光フィルタ構造104との違いは、図6に示される誘電体スタック層26のくさび形状部26−1が、非連続的に変化する厚さを有することができることを含むことができることである。例えば、誘電体スタック層26のくさび形状部26−1は、階段形状を有することができるが、本開示はこれに限定されない。
同様に、図6に示されるように、誘電体スタック層26は、交互に積層された複数の第1の誘電体層21および複数の第2の誘電体層23を含むことができ、各第1の誘電体層21の屈折率は、各第2の誘電体層21の屈折率と異なることができる。例えば、第1の誘電体層21の屈折率は、第2の誘電体層23の屈折率より大きくてもよいが、本開示はこれを限定するものではない。他の実施形態では、第1の誘電体層21の屈折率は、第2の誘電体層23の屈折率より小さくてもよい。
図6では、誘電体スタック層26は、基板10の上に配置された3つの第1の誘電体層21および3つの第2の誘電体層23を含むが、第1の誘電体層21の数および第2の誘電体層23の数はこれらに限定されない。いくつかの実施形態では、第1の誘電体層21の数および第2の誘電体層23の数は、必要に応じて調整することができる。
いくつかの実施形態では、図6に示されるように、誘電体スタック層26のくさび形状部26−1は、平坦化部26−3に近い側から平坦化部26−3から遠い側に徐々に(しかしながら非連続的に)厚くなることができる。即ち、平坦化部26−3に近い側のくさび形状部26−1の厚さは、平坦化部26−3から遠い側のくさび形状部26−1の厚さよりも小さいことができる。しかしながら、本開示はこれに限定するものではない。
これに対応して、図6に示されるように、くさび形状部26−1内の各第1の誘電体層21は、平坦化部26−3に近い側から平坦化部26−3から遠い側に徐々に(しかしながら非連続的に)厚くなることができ、くさび形状部26−1内の各第2の誘電体層23は、平坦化部26−3に近い側から平坦化部26−3から遠い側に徐々に(しかしながら非連続的に)厚くなることができる。即ち、くさび形状部26−1では、平坦化部26−3に近い側の第1の誘電体層21の厚さは、平坦化部26−3から遠い側の第1の誘電体層21の厚さよりも小さいことができ、平坦化部26−3に近い第2の誘電体層23の厚さは、平坦化部26−3から遠い側の第2の誘電体層23の厚さより小さいことができる。しかしながら、本開示はこれに限定するものではない。
同様に、誘電体スタック層26は、平坦化部26−3に隣接するもう一つのくさび形状部26−2を更に含んでもよい。即ち、図6に示されるように、くさび形状部26−1は、平坦化部26−3の一方の側に配置され、くさび形状部26−2は、平坦化部26−3の他方の側に配置されることができる。いくつかの実施形態では、くさび形状部26−2はくさび形状部26−1と同様であることができる。例えば、くさび形状部26−2は、非連続的に変化する厚さを有することができ、くさび形状部26−2は、くさび形状部26−1と対称的であることができるが、本開示はこれを限定するものではない。もう一つの実施形態では、くさび形状部26−2は、図5に示されるように、くさび形状部24−2(非連続的に変化する厚さを有する)と同じでもよく、またはくさび形状部26−2はくさび形状部26−1に対して非対称であってもよい(例えば、くさび形状部26−2の幅は、くさび形状部26−1の幅より大きくても小さくてもよい)。
いくつかの実施形態では、光電変換素子12に伝送される光の波長は、誘電体スタック層26の厚さによって決まる。例えば、図6に示された実施形態では、くさび形状部26−1に対応する光電変換素子12のうち、光電変換素子12が平坦化部26−3に近いほど、光電変換素子12に伝送される光の波長は短く、平坦化部26−3に対応する光電変換素子12に伝送される光の波長は、くさび形状部26−1に対応する光電変換素子12に伝送される光の波長よりも大きい。従って、図6に示されるように、赤色光は光電変換素子12Cまたは12Pに伝送され、青色光は光電変換素子12Fに伝送されることができるが、本発明はこれに限定されない。
図7は、本開示の一実施形態による第1の遮光層41の第1の開口41aを示す部分上面図である。本開示の一実施形態による第2の遮光層43の第2の開口43aを示す部分上面図は、図7と同様であることができることに留意されたい。
いくつかの実施形態では、第1の遮光層41の第1の開口41aは対称的なパターンを形成することができる。例えば、第1の遮光層41の第1の開口41aは、図7に示されるように同心円状に配置されることができるが、本開示はこれに限定されない。
要約すると、本開示による実施形態の光フィルタ構造が狭帯域バンドパスフィルタ(例えば、スペクトル検査装置)として用いられるとき、(スペクトル)解像度は、遮光層の開口のサイズを調整することによって向上されることができる。従って、本開示による実施形態の光フィルタ構造に伝送される斜め入射光によるスペクトル変形は低減することができる。
以上、当業者が本開示の態様をより理解できるように幾つかの実施の形態の特徴を概説した。上記実施の形態は、他のプロセスおよび構造を設計又は改変するための基礎となり得る。本開示の精神及び範囲を逸脱しない限りにおいては、等価な構成を含み、本開示の精神および範囲を逸脱せずに、ここで種々の変更、代替、および改変も含む。従って、保護範囲は特許請求の範囲によって決定されるべきである。また、本開示のいくつかの実施形態が上記に開示されているが、それらは本開示の範囲を限定するものではない。
本明細書全体を通して、特徴、利点、または類似の用語の説明は、本開示によって実現され得る全ての特徴および利点が、本開示の任意の単一の実施形態であるべきか、またはその中にあることを意味するものではない。むしろ、特徴および利点を指す言葉は、実施形態に関連して説明された特定の特徴、利点、または特性が本開示の少なくとも1つの実施形態に含まれることを意味するものと理解されるべきである。従って、本明細書全体を通して、特徴および利点、ならびに類似の用語の説明は、必ずしも同じ実施形態を指すものではない。
更に、本開示に説明された特徴、利点、および特徴は、1つまたは複数の実施形態において任意の適切な形で組み合わせることができる。本明細書の説明に鑑みて、当業者は、本開示が特定の実施形態の1つまたは複数の特定の特徴または利点なしに実施され得ることを認識するであろう。他の例では、特定の実施形態において本開示の全ての実施形態に存在しない可能性がある追加の特徴および利点が認識されることがある。
100、102、104、106 光フィルタ構造
10 基板
10T 上面
12、12C、12P、12F 光電変換素子
20、22、24、26 誘電体スタック層
20−1、22−1、24−1、26−1 くさび形状部
20−2、22−2、24−2、26−2 くさび形状部
20−3、22−3、24−3、26−3 平坦化部
21 第1の誘電体層
23 第2の誘電体層
30 平坦化層
40 遮光層
41 第1の遮光層
41a 第1の開口
43 第2の遮光層
43a 第2の開口
D1 方向
L 光
W1 幅
W2 幅
α 入射角

Claims (11)

  1. 複数の光電変換素子を有する基板、
    前記基板の上に配置された誘電体スタック層、および
    前記誘電体スタック層の上に配置された平坦化層を含み、
    前記誘電体スタック層は、くさび形状部、および前記くさび形状部に隣接する平坦化部を有し、前記くさび形状部は、連続的または非連続的に変化する厚さを有し、前記平坦化部は実質的に一定の厚さを有する光フィルタ構造。
  2. 前記誘電体スタック層は、交互に積層された複数の第1の誘電体層および複数の第2の誘電体層を含み、各前記第1の誘電体層の屈折率は、各前記第2の誘電体層の屈折率と異なり、前記くさび形状部の各前記第1の誘電体層は、連続的または非連続的に変化する厚さを有し、前記くさび形状部の各前記第2の誘電体層は、連続的または非連続的に変化する厚さを有する請求項1に記載の光フィルタ構造。
  3. 各前記第1の誘電体層の屈折率は、2から2.5の間であり、各前記第1の誘電体層の材料は、二酸化ジルコニウム(ZrO)、五酸化タンタル(Ta)、五酸化ニオブ(Nb)、硫化亜鉛(ZnS)、二酸化チタン(TiO)、酸化インジウム錫(ITO)、酸化錫(SnO)、または酸化亜鉛(ZnO)を含む請求項2に記載の光フィルタ構造。
  4. 各前記第2の誘電体層の屈折率は1.2から1.8の間であり、各前記第2の誘電体層の材料はフッ化カルシウム(CaF)、フッ化マグネシウム(MgF)、三フッ化ランタン(LaF)、二酸化ケイ素(SiO)、酸化アルミニウム(Al)、または二酸化ハフニウム(HfO)を含む請求項2に記載の光フィルタ構造。
  5. 前記くさび形状部は前記平坦化部を囲み、前記くさび形状部は、前記平坦化部に近い側から前記平坦化部から遠い側に徐々に薄くなる請求項2に記載の光フィルタ構造。
  6. 前記くさび形状部は前記平坦化部を囲み、前記くさび形状部は、前記平坦化部に近い側から前記平坦化部から遠い側に徐々に厚くなる請求項2に記載の光フィルタ構造。
  7. 前記平坦化層の上に配置された第1の遮光層、および
    平坦化層内、および誘電体スタック層の上に配置された少なくとも1つの第2の遮光層を更に含む請求項1に記載の光フィルタ構造。
  8. 前記第1の遮光層は、複数の第1の開口を含み、前記少なくとも1つの第2の遮光層は、前記複数の第1の開口に対応する複数の第2の開口を含み、各前記複数の第1の開口は、前記複数の光電変換素子の中の1つに対応し、各前記複数の第2の開口は、前記複数の光電変換素子の中の1つに対応する請求項7に記載の光フィルタ構造。
  9. 前記基板の上面と平行な方向にある各前記複数の第1の開口の幅は、1μmより大きく150μmより小さく、前記基板の上面と平行な方向にある各前記複数の第2の開口の幅は、1μmより大きく150μmより小さく、各前記複数の第1の開口の幅は、各前記複数の第2の開口の幅と異なり、前記複数の第1の開口および前記複数の第2の開口は、光の入射角を0〜10°に制限する請求項8に記載の光フィルタ構造。
  10. 前記複数の第1の開口は対称的なパターンを形成する請求項9に記載の光フィルタ構造。
  11. 前記複数の第1の開口は、同心円状に配置される請求項10に記載の光フィルタ構造。

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