JP2020181582A - テンプレートマッチングを用いた検査装置および検査方法 - Google Patents
テンプレートマッチングを用いた検査装置および検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2020181582A JP2020181582A JP2020090450A JP2020090450A JP2020181582A JP 2020181582 A JP2020181582 A JP 2020181582A JP 2020090450 A JP2020090450 A JP 2020090450A JP 2020090450 A JP2020090450 A JP 2020090450A JP 2020181582 A JP2020181582 A JP 2020181582A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- template
- matching
- likelihood
- matching candidate
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
Description
半導体デバイスの設計データを利用してウェーハ上に形成されたパターンの画像を被探索画像として取得し、その被探索画像に対してテンプレートマッチングを施す検査装置であって、
複数のテンプレートを指定するユーザーインターフェースと、
演算処理装置と、を備え、前記演算処理装置は、
前記被探索画像と前記複数のテンプレートとのマッチング処理を行って、第1のテンプレートに対する第1のマッチング候補群と、第2のテンプレートに対する第2のマッチング候補群を選出し、
前記第1のテンプレートと前記第1のマッチング候補群の相関値についての第1の統計量に基づいて、第1の単一テンプレート尤度群を算出し、
前記第2のテンプレートと前記第2のマッチング候補群の相関値についての第2の統計量に基づいて、第2の単一テンプレート尤度群を算出し、
前記第1及び第2の単一テンプレート尤度群を用いて、前記第1及び第2のマッチング候補群に対する複数テンプレート統合尤度群を算出し、
当該算出した複数テンプレート統合尤度群を用いて、少なくとも前記第1及び第2のマッチング候補群を含む第3のマッチング候補群の中から複数テンプレート統合尤度が最大又は閾値以上となるマッチング候補を選出する、或いは、
前記算出した複数テンプレート統合尤度群と閾値との比較結果に基づいて、少なくとも前記第1及び第2のマッチング候補群を含む第3のマッチング候補群の中から特定のマッチング候補を選出する、又は少なくとも前記第1及び第2のマッチング候補群を含む第3のマッチング候補群内の適切なマッチング候補の有無を示唆する情報を前記ユーザーインターフェースに出力することを特徴とする。
以下、図面を用いて、本発明におけるテンプレートマッチングを用いた検査装置および検査方法について説明する。なお、図中で説明番号が同じものは、特に断わりがない限り同一部材を示していることとする。
図8は、検査或いは計測装置によって撮像された対象物の取得画像と、アライメント用パターンとして設計データより生成した画像から切り出したテンプレートとを対応付ける本発明のテンプレートマッチング処理の第2の実施例であり、演算処理装置の流れを示したブロック図である。図3で説明した第1の実施例との主な相違は、マッチング候補選出部D、E、Fに対して夫々異なる複数種類の被探索画像A、B、Cを入力可能な点、及びマッチング候補選出部D、E、Fでは夫々異なる種類のマッチング手法による探索処理を行うことが可能な点である。なお、これらの異なる機能は同時に備えることも可能であるが、いずれか一方の機能のみを備えることも可能である。その他については、図3での説明と同様である。
101 電子銃
102 ステージ
103 半導体ウェーハ
104 偏向器
105 対物レンズ
106 2次電子検出器
107、109、110、112 A/D変換器
108 反射電子検出器
111 光学式カメラ
114 演算処理装置
115 メモリ
116 演算処理部
141 電子線
142 コンデンサレンズ
201 テンプレート
210、220、230 被探索画像
305 マッチング処理選出部A
306 マッチング処理選出部B
307 マッチング処理選出部C
311、312、313 単一テンプレート尤度算出処理部
317 複数テンプレート統合尤度算出処理部
319 最大統合尤度マッチング候補処理選出部
400、430 被探索画像
504 単一テンプレート尤度算出処理部
505 統計量算出処理部
506 尤度算出処理部
600 半導体パターンの設計データ
610 被探索画像
704 基準候補の選出部
705 ポート候補となり得るマッチング候補の選出部
706 設計データでの基準候補に対する配置ベクトルとマッチング結果での基準候補に対する配置ベクトルとのずれ量算出処理部
707 基準候補における複数テンプレート統合尤度算出部
804 マッチング処理選出部D
814 マッチング処理選出部E
824 マッチング処理選出部F
901 SEM本体
902 制御装置
903 検出器
904 演算処理装置
905 設計データ記憶媒体
907 演算処理部
908 メモリ
911 レシピ作成部
921 マッチング処理部
931 パターン測定部
1001 テンプレート登録部
1050 マッチング結果表示部
Claims (16)
- 半導体デバイスの設計データを利用してウェーハ上に形成されたパターンの画像を被探索画像として取得し、その被探索画像に対してテンプレートマッチングを施す検査装置であって、
複数のテンプレートを指定するユーザーインターフェースと、
演算処理装置と、を備え、前記演算処理装置は、
前記被探索画像と前記複数のテンプレートとのマッチング処理を行って、第1のテンプレートに対する第1のマッチング候補群と、第2のテンプレートに対する第2のマッチング候補群を選出し、
前記第1のテンプレートと前記第1のマッチング候補群の相関値についての第1の統計量に基づいて、第1の単一テンプレート尤度群を算出し、
前記第2のテンプレートと前記第2のマッチング候補群の相関値についての第2の統計量に基づいて、第2の単一テンプレート尤度群を算出し、
前記第1及び第2の単一テンプレート尤度群を用いて、前記第1及び第2のマッチング候補群に対する複数テンプレート統合尤度群を算出し、
当該算出した複数テンプレート統合尤度群を用いて、少なくとも前記第1及び第2のマッチング候補群を含む第3のマッチング候補群の中から複数テンプレート統合尤度が最大又は閾値以上となるマッチング候補を選出する、或いは、
前記算出した複数テンプレート統合尤度群と閾値との比較結果に基づいて、少なくとも前記第1及び第2のマッチング候補群を含む第3のマッチング候補群の中から特定のマッチング候補を選出する、又は少なくとも前記第1及び第2のマッチング候補群を含む第3のマッチング候補群内の適切なマッチング候補の有無を示唆する情報を前記ユーザーインターフェースに出力することを特徴とする検査装置。 - 請求項1記載の検査装置において、
前記演算処理装置は、前記選出したマッチング候補のマッチング位置または前記複数テンプレート統合尤度の最大値を前記ユーザーインターフェースに出力することを特徴とする検査装置。 - 請求項1記載の検査装置において、
前記被探索画像は複数であることを特徴とする検査装置。 - 請求項1記載の検査装置において、
前記第1及び第2の統計量は、相関値の分布を示す情報であることを特徴とする検査装置。 - 請求項4記載の検査装置において、
前記演算処理装置は、最も高い相関値を示した唯一のマッチング候補の相関値が、前記相関値の分布での母集団から離れた値である場合に、当該唯一のマッチング候補の単一テンプレート尤度が、他のマッチング候補の単一テンプレート尤度に比べて高い値となるように、前記第1及び第2の単一テンプレート尤度群をそれぞれ設定することを特徴とする検査装置。 - 請求項1記載の検査装置において、
前記ウェーハを搭載するステージ移動機構を備え、
前記パターンは、座標システムをアライメントするためのアライメント用パターンであって、
前記演算処理装置は、前記選出したマッチング候補に基づいて、前記ウェーハまたは前記ステージ移動機構の座標システムをアライメントすることを特徴とする検査装置。 - 請求項1記載の検査装置において、
前記演算処理装置は、前記設計データに基づく画像上に前記複数のテンプレートをオーバレイ表示した画像を、前記ユーザーインターフェースに出力することを特徴とする検査装置。 - 請求項3記載の検査装置において、
前記複数の被探索画像は、前記ユーザーインターフェースからの設定情報に基づいて、前記検査装置の異なる光学条件または異なる検出器で取得した画像であることを特徴とする検査装置。 - 半導体デバイスの設計データを利用してウェーハ上に形成されたパターンの画像を被探索画像として取得し、その被探索画像に対してテンプレートマッチングを施す検査方法であって、
前記検査方法は、
前記被探索画像と複数のテンプレートとのマッチング処理を行って、第1のテンプレートに対する第1のマッチング候補群と、第2のテンプレートに対する第2のマッチング候補群を選出するステップと、
前記第1のテンプレートと前記第1のマッチング候補群の相関値についての第1の統計量に基づいて、第1の単一テンプレート尤度群を算出するステップと、
前記第2のテンプレートと前記第2のマッチング候補群の相関値についての第2の統計量に基づいて、第2の単一テンプレート尤度群を算出するステップと、
前記第1及び第2の単一テンプレート尤度群を用いて、前記第1及び第2のマッチング候補群に対する複数テンプレート統合尤度群を算出するステップと、
当該算出した複数テンプレート統合尤度群を用いて、少なくとも前記第1及び第2のマッチング候補群を含む第3のマッチング候補群の中から複数テンプレート統合尤度が最大又は閾値以上となるマッチング候補を選出するステップ、或いは、
前記算出した複数テンプレート統合尤度群と閾値との比較結果に基づいて、少なくとも前記第1及び第2のマッチング候補群を含む第3のマッチング候補群の中から特定のマッチング候補を選出する、又は少なくとも前記第1及び第2のマッチング候補群を含む第3のマッチング候補群内の適切なマッチング候補の有無を示唆する情報をユーザーインターフェースに出力するステップ、
を備えることを特徴とする検査方法。 - 請求項9記載の検査方法において、
前記選出したマッチング候補のマッチング位置または前記複数テンプレート統合尤度の最大値を前記ユーザーインターフェースに出力するステップを備えることを特徴とする検査方法。 - 請求項9記載の検査方法において、
前記被探索画像は複数であることを特徴とする検査方法。 - 請求項9記載の検査方法において、
前記第1及び第2の統計量は、相関値の分布を示す情報であることを特徴とする検査方法。 - 請求項12記載の検査方法において、
最も高い相関値を示した唯一のマッチング候補の相関値が、前記相関値の分布での母集団から離れた値である場合に、当該唯一のマッチング候補の単一テンプレート尤度が、他のマッチング候補の単一テンプレート尤度に比べて高い値となるように、前記第1及び第2の単一テンプレート尤度群をそれぞれ設定するステップを備えることを特徴とする検査方法。 - 請求項9記載の検査方法において、
前記パターンは、座標システムをアライメントするためのアライメント用パターンであって、
前記検査方法は、前記選出したマッチング候補に基づいて、前記ウェーハまたはステージ移動機構の座標システムをアライメントするステップを備えることを特徴とする検査方法。 - 請求項9記載の検査方法において、
前記設計データに基づく画像上に前記複数のテンプレートをオーバレイ表示した画像を、前記ユーザーインターフェースに出力するステップを備えることを特徴とする検査方法。 - 請求項11記載の検査方法において、
前記複数の被探索画像は、前記ユーザーインターフェースからの設定情報に基づいて、検査装置の異なる光学条件または異なる検出器で取得した画像であることを特徴とする検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020090450A JP7138137B2 (ja) | 2020-05-25 | 2020-05-25 | テンプレートマッチングを用いた検査装置および検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020090450A JP7138137B2 (ja) | 2020-05-25 | 2020-05-25 | テンプレートマッチングを用いた検査装置および検査方法 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015203338A Division JP6713185B2 (ja) | 2015-10-15 | 2015-10-15 | テンプレートマッチングを用いた検査装置および検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020181582A true JP2020181582A (ja) | 2020-11-05 |
JP7138137B2 JP7138137B2 (ja) | 2022-09-15 |
Family
ID=73024344
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020090450A Active JP7138137B2 (ja) | 2020-05-25 | 2020-05-25 | テンプレートマッチングを用いた検査装置および検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7138137B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2022105284A (ja) * | 2020-12-31 | 2022-07-13 | パーク システムズ コーポレーション | 原子顕微鏡で試料位置を認識するための方法及び装置 |
WO2023199572A1 (ja) * | 2022-04-11 | 2023-10-19 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | テンプレート登録装置、テンプレート登録方法およびテンプレート登録システム |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004045272A (ja) * | 2002-07-12 | 2004-02-12 | Asahi Breweries Ltd | 容器検査装置及び容器検査方法 |
JP2007047930A (ja) * | 2005-08-08 | 2007-02-22 | Hitachi High-Technologies Corp | 画像処理装置及び検査装置 |
JP2008152555A (ja) * | 2006-12-18 | 2008-07-03 | Olympus Corp | 画像認識方法及び画像認識装置 |
WO2011048758A1 (ja) * | 2009-10-22 | 2011-04-28 | 株式会社 日立ハイテクノロジーズ | パターンマッチング方法、及びパターンマッチング装置 |
JP2015203338A (ja) * | 2014-04-14 | 2015-11-16 | 株式会社日立産機システム | 圧縮機 |
JP2017076248A (ja) * | 2015-10-15 | 2017-04-20 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | テンプレートマッチングを用いた検査装置および検査方法 |
-
2020
- 2020-05-25 JP JP2020090450A patent/JP7138137B2/ja active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004045272A (ja) * | 2002-07-12 | 2004-02-12 | Asahi Breweries Ltd | 容器検査装置及び容器検査方法 |
JP2007047930A (ja) * | 2005-08-08 | 2007-02-22 | Hitachi High-Technologies Corp | 画像処理装置及び検査装置 |
JP2008152555A (ja) * | 2006-12-18 | 2008-07-03 | Olympus Corp | 画像認識方法及び画像認識装置 |
WO2011048758A1 (ja) * | 2009-10-22 | 2011-04-28 | 株式会社 日立ハイテクノロジーズ | パターンマッチング方法、及びパターンマッチング装置 |
JP2015203338A (ja) * | 2014-04-14 | 2015-11-16 | 株式会社日立産機システム | 圧縮機 |
JP2017076248A (ja) * | 2015-10-15 | 2017-04-20 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | テンプレートマッチングを用いた検査装置および検査方法 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2022105284A (ja) * | 2020-12-31 | 2022-07-13 | パーク システムズ コーポレーション | 原子顕微鏡で試料位置を認識するための方法及び装置 |
US11761981B2 (en) | 2020-12-31 | 2023-09-19 | Park Systems Corp. | Method and apparatus for identifying sample position in atomic force microscope |
JP7355982B2 (ja) | 2020-12-31 | 2023-10-04 | パーク システムズ コーポレーション | 原子顕微鏡で試料位置を認識するための方法及び装置 |
WO2023199572A1 (ja) * | 2022-04-11 | 2023-10-19 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | テンプレート登録装置、テンプレート登録方法およびテンプレート登録システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP7138137B2 (ja) | 2022-09-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10937146B2 (en) | Image evaluation method and image evaluation device | |
US9619727B2 (en) | Matching process device, matching process method, and inspection device employing same | |
JP5568277B2 (ja) | パターンマッチング方法、及びパターンマッチング装置 | |
JP6713185B2 (ja) | テンプレートマッチングを用いた検査装置および検査方法 | |
TWI521475B (zh) | Pattern inspection and testing devices and programs | |
JP5639797B2 (ja) | パターンマッチング方法,画像処理装置、及びコンピュータプログラム | |
US9811897B2 (en) | Defect observation method and defect observation device | |
US10354376B2 (en) | Technique for measuring overlay between layers of a multilayer structure | |
KR101523159B1 (ko) | 패턴 매칭 장치 및 컴퓨터 프로그램을 기록한 기록 매체 | |
KR101764658B1 (ko) | 결함 해석 지원 장치, 결함 해석 지원 장치에 의해 실행되는 프로그램 및 결함 해석 시스템 | |
JP5164598B2 (ja) | レビュー方法、およびレビュー装置 | |
JP7138137B2 (ja) | テンプレートマッチングを用いた検査装置および検査方法 | |
EP1501114A2 (en) | Electron beam system and electron beam measuring and observing methods | |
WO2017130365A1 (ja) | オーバーレイ誤差計測装置、及びコンピュータープログラム | |
JP5094033B2 (ja) | パターンマッチング方法、及びパターンマッチングを行うためのコンピュータープログラム | |
JP2004184240A (ja) | 画像測定装置、画像測定方法、画像処理装置 | |
US6532310B1 (en) | Removing noise caused by artifacts from a digital image signal | |
JP2004294100A (ja) | パターン計測装置、パターン計測方法および半導体装置の製造方法 | |
JP7273748B2 (ja) | 検査装置、検査方法、及びプログラム | |
JP2002245454A (ja) | 画像マッチング方法、画像マッチング装置及びウェハ処理装置 | |
JP4409850B2 (ja) | 三次元座標測定装置及び方法 | |
JP2002288661A (ja) | 画像検出方法、画像検出装置及びウェハ処理装置 | |
JP2009258187A (ja) | 光学顕微鏡装置及び光学顕微鏡用データ処理装置 | |
JP4409861B2 (ja) | 三次元座標測定装置及び方法 | |
TW201541497A (zh) | 帶電粒子束裝置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200525 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210618 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210629 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20211012 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20211221 |
|
C60 | Trial request (containing other claim documents, opposition documents) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C60 Effective date: 20211221 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20220104 |
|
C21 | Notice of transfer of a case for reconsideration by examiners before appeal proceedings |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C21 Effective date: 20220111 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20220204 |
|
C211 | Notice of termination of reconsideration by examiners before appeal proceedings |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C211 Effective date: 20220208 |
|
C22 | Notice of designation (change) of administrative judge |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C22 Effective date: 20220614 |
|
C23 | Notice of termination of proceedings |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C23 Effective date: 20220719 |
|
C03 | Trial/appeal decision taken |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C03 Effective date: 20220816 |
|
C30A | Notification sent |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C3012 Effective date: 20220816 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20220905 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7138137 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |