JP2020167250A - Electromagnetic wave shield sheet, electromagnetic wave shield wiring circuit board, and electronic device - Google Patents

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Abstract

To provide an electromagnetic wave shield sheet, an electromagnetic wave shielded wiring circuit board, and an electronic device having high electromagnetic wave shielding property and good folding resistance, and reducing transmission loss.SOLUTION: An electromagnetic wave shield sheet 10 according to the present invention includes an adhesive layer 1, an insulating layer 3, and a metal layer 2 arranged between the adhesive layer 1 and the insulating layer 3, and the film thickness of the metal layer 2 is 0.2 to 10 [μm], the development length ratio RLr of the interface on the adhesive layer 1 side in the metal layer 2 is 1 to 1.4, and the development length ratio RLr of the interface on the insulating layer 3 side in the metal layer 2 is 1 to 1.5. Further, the development length ratio RLr of the interface on the adhesive layer 1 side is smaller than the development length ratio RLr of the interface on the insulating layer 3 side.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、電磁波シールドシート、電磁波シールド性配線回路基板および電子機器に関し、例えば、電磁波を放出する部品の一部に接合して利用するのに好適な電磁波シールドシート、並びに、電磁波シールドシートを用いた電磁波シールド性配線回路基板及び電子機器に関する。 The present invention relates to an electromagnetic wave shield sheet, an electromagnetic wave shield wiring circuit board, and an electronic device, and uses, for example, an electromagnetic wave shield sheet suitable for joining and using a part of a component that emits an electromagnetic wave, and an electromagnetic wave shield sheet. Regarding electromagnetic wave shielded wiring circuit boards and electronic devices.

携帯端末、PC、サーバー等をはじめとする各種電子機器には、プリント配線板等の配線回路基板が内蔵されている。これらの配線回路基板には、外部からの磁場や電波による誤動作を防止するために、また、電気信号からの不要輻射を低減するために、電磁波シールド構造が設けられている。 Various electronic devices such as mobile terminals, PCs, and servers have built-in wiring circuit boards such as printed wiring boards. These wiring circuit boards are provided with an electromagnetic wave shield structure in order to prevent malfunction due to an external magnetic field or radio wave, and to reduce unnecessary radiation from an electric signal.

特許文献1においては、シールドフィルムの一方面側から他方面側に進行する電界波、磁界波および電磁波を良好に遮蔽し、良好な伝送特性を有するシールドフィルム及びシールドプリント配線板の提供を課題として、以下の構成を開示する。即ち、層厚が0.5〜12[μm]の金属層と、異方導電性接着剤層とを積層状態で備えた構成を開示する。そして、当該構成により、シールドフィルムの一方面側から他方面側に進行する電界波、磁界波、および電磁波を良好に遮蔽することが記載されている。 In Patent Document 1, it is an object of the present invention to provide a shield film and a shield printed wiring board which satisfactorily shield electric field waves, magnetic field waves and electromagnetic waves traveling from one side to the other side of the shield film and have good transmission characteristics. , The following configuration is disclosed. That is, a configuration is disclosed in which a metal layer having a layer thickness of 0.5 to 12 [μm] and an anisotropic conductive adhesive layer are provided in a laminated state. It is described that the configuration satisfactorily shields electric field waves, magnetic field waves, and electromagnetic waves traveling from one side to the other side of the shield film.

国際公開第2013/077108号International Publication No. 2013/077108

伝送信号の高速伝送化に伴い、電磁波シールドシートも高周波用の高いシールド性及び伝送損失の低減が求められている。このため、電磁波シールドシートの金属層には、特許文献1で記載されるように、金属層を用いるのが好適とされてきた。 With the increase in high-speed transmission of transmission signals, electromagnetic wave shield sheets are also required to have high shielding properties for high frequencies and reduction of transmission loss. Therefore, as described in Patent Document 1, it has been preferable to use a metal layer for the metal layer of the electromagnetic wave shield sheet.

しかし、電磁波シールドシートの金属層は、厚いほどより高いシールド性を発現する一方、反発力が高くなる。よって、電磁波シールドシートをプリント配線板に張り付けたシールドプリント配線板は、筐体に組み込む際に、折曲げ部分へのクラックの発生、外観不良、絶縁不良、およびノイズ漏れの発生等が問題となっていた。 However, the thicker the metal layer of the electromagnetic wave shield sheet, the higher the shielding property, while the higher the repulsive force. Therefore, the shield printed wiring board in which the electromagnetic wave shield sheet is attached to the printed wiring board has problems such as cracks in the bent portion, poor appearance, poor insulation, and noise leakage when incorporated into the housing. Was there.

また、近年では、第4世代の携帯電話に続く、第5世代の携帯電話のための技術検討が進められている。そこでは、第4世代の10倍以上の伝送容量を実現させるため、さらなる伝送損失の低減が求められている。よって、単に、電磁波シールドシートに金属層を用いるだけでは、十分な伝送損失の低減は困難となっている。さらには、シールドされた配線回路基板では、配線回路基板の厚みを厚くすることで、信号回路と電磁波シールドシートとの距離を離し、伝送損失を低減できる。しかしながら、今まで以上に折曲げ部分にクラックが発生しやすくなる問題があった。 Further, in recent years, technical studies for the fifth generation mobile phone following the fourth generation mobile phone have been promoted. There, further reduction of transmission loss is required in order to realize a transmission capacity 10 times or more that of the 4th generation. Therefore, it is difficult to sufficiently reduce the transmission loss simply by using the metal layer for the electromagnetic wave shield sheet. Further, in the shielded wiring circuit board, by increasing the thickness of the wiring circuit board, the distance between the signal circuit and the electromagnetic wave shield sheet can be increased, and the transmission loss can be reduced. However, there is a problem that cracks are more likely to occur in the bent portion than ever before.

高い電磁波シールド性を発現し、かつ、耐折性の向上、伝送損失についての改善ができれば、更なる高性能化が期待できる。また、内部電子回路等の設計マージンを大きくすることも可能となる。近年の信号の高速化や高周波化に伴い、伝送損失の改善は性能特性を維持し、向上させていくために重要となっている。 Further improvement in performance can be expected if high electromagnetic wave shielding properties can be exhibited, folding resistance can be improved, and transmission loss can be improved. It is also possible to increase the design margin of the internal electronic circuit or the like. With the recent increase in signal speed and frequency, improvement of transmission loss has become important for maintaining and improving performance characteristics.

本発明は、上記背景に鑑みて成されたものであり、その目的とするところは、高周波伝送回路に用いた場合においても、高い電磁波シールド性を有しつつ、良好な耐折性を有し、伝送損失を低減させることができる電磁波シールドシート、電磁波シールド性配線回路基板及び電子機器を提供することである。 The present invention has been made in view of the above background, and an object of the present invention is to have good folding resistance while having high electromagnetic wave shielding property even when used in a high frequency transmission circuit. The present invention is to provide an electromagnetic wave shield sheet, an electromagnetic wave shielded wiring circuit board, and an electronic device capable of reducing transmission loss.

本発明に係る電磁波シールドシートは、接着剤層と、絶縁層と、前記接着剤層及び前記絶縁層の間に配置された金属層と、を備え、前記金属層の膜厚は、0.2〜10[μm]であり、前記金属層における前記接着剤層側の界面の展開長さ比RLrは、1〜1.4であり、前記金属層における前記絶縁層側の界面の展開長さ比RLrは、1〜1.5である、ことを特徴とする。 The electromagnetic wave shield sheet according to the present invention includes an adhesive layer, an insulating layer, and a metal layer arranged between the adhesive layer and the insulating layer, and the thickness of the metal layer is 0.2. It is 10 [μm], and the developed length ratio RLr of the interface on the adhesive layer side in the metal layer is 1 to 1.4, and the developed length ratio of the interface on the insulating layer side in the metal layer. The RLr is 1 to 1.5.

本発明に係る電磁波シールド性配線回路基板は、配線回路基板の少なくとも一方の面上に、上記記載の電磁波シールドシートが接合されたことを特徴とする。 The electromagnetic wave shielding property wiring circuit board according to the present invention is characterized in that the electromagnetic wave shielding sheet described above is bonded to at least one surface of the wiring circuit board.

本発明に係る電子機器は、上記電磁波シールド性配線回路基板が接続されたことを特徴とする。 The electronic device according to the present invention is characterized in that the electromagnetic wave shielding wiring circuit board is connected.

本発明によれば、高周波伝送回路に用いた場合においても高い電磁波シールド性を有しつつ、良好な耐折性を有し、伝送損失を低減させる電磁波シールドシート、電磁波シールド性配線回路基板及び電子機器を提供することができるという優れた効果を奏する。 According to the present invention, an electromagnetic wave shield sheet, an electromagnetic wave shielded wiring circuit board, and an electronic device which have good folding resistance and reduce transmission loss while having high electromagnetic wave shielding property even when used in a high frequency transmission circuit. It has the excellent effect of being able to provide equipment.

実施形態1に係る電磁波シールドシートを例示した断面図である。It is sectional drawing which illustrates the electromagnetic wave shield sheet which concerns on Embodiment 1. FIG. (a)は、実施形態1に係る電磁波シールドシートの断面のSEM像を例示した図であり、(b)は、実施形態1に係る電磁波シールドシートの金属層の界面を含む周囲長を説明する図であり、(c)は、実施形態1に係る電磁波シールドシートの金属層における界面以外の周囲長を説明する図である。(A) is a diagram illustrating an SEM image of a cross section of the electromagnetic wave shield sheet according to the first embodiment, and (b) explains the peripheral length including the interface of the metal layer of the electromagnetic wave shield sheet according to the first embodiment. It is a figure, (c) is a figure explaining the peripheral length other than the interface in the metal layer of the electromagnetic wave shield sheet which concerns on Embodiment 1. (a)及び(b)は、実施形態1に係る金属層の界面を例示した図であり、(c)は、半円状の界面を並べた場合を例示した図である。(A) and (b) are diagrams exemplifying the interface of the metal layer according to the first embodiment, and (c) is a diagram exemplifying the case where the semicircular interfaces are arranged. 実施形態1に係る電磁波シールドシートの製造方法を例示した工程断面図であり、第1工程を示す。It is a process sectional view which illustrates the manufacturing method of the electromagnetic wave shield sheet which concerns on Embodiment 1, and shows the 1st process. 実施形態1に係る電磁波シールドシートの製造方法を例示した工程断面図であり、第2工程を示す。It is a process sectional view which illustrates the manufacturing method of the electromagnetic wave shield sheet which concerns on Embodiment 1, and shows the 2nd process. 実施形態2に係る電磁波シールド性配線回路基板を例示した断面図である。It is sectional drawing which illustrates the electromagnetic wave shielded wiring circuit board which concerns on Embodiment 2. 実施形態2に係る電磁波シールド性配線回路基板の製造方法を例示したフローチャート図である。It is a flowchart which illustrates the manufacturing method of the electromagnetic wave shielded wiring circuit board which concerns on Embodiment 2. 実施形態2の別の例に係る電磁波シールド性配線回路基板を例示した断面図である。It is sectional drawing which illustrates the electromagnetic wave shielded wiring circuit board which concerns on another example of Embodiment 2. 実施形態に係る電磁波シールドシートを用いた電磁波シールド性配線回路基板の各実施例を例示した図である。It is a figure which illustrated each Example of the electromagnetic wave shielding property wiring circuit board using the electromagnetic wave shielding sheet which concerns on embodiment. 実施形態に係る電磁波シールドシートを用いた電磁波シールド性配線回路基板の各実施例を例示した図である。It is a figure which illustrated each Example of the electromagnetic wave shielding property wiring circuit board using the electromagnetic wave shielding sheet which concerns on embodiment. 実施形態に係る電磁波シールドシートを用いた電磁波シールド性配線回路基板の各実施例を例示した図である。It is a figure which illustrated each Example of the electromagnetic wave shielding property wiring circuit board using the electromagnetic wave shielding sheet which concerns on embodiment. 実施形態に係る電磁波シールドシートを用いた電磁波シールド性配線回路基板の各比較例を例示した図である。It is a figure which illustrated each comparative example of the electromagnetic wave shielding property wiring circuit board using the electromagnetic wave shielding sheet which concerns on embodiment. 実施形態に係る電磁波シールドシートを用いた電磁波シールド性配線回路基板の各実施例を例示した図である。It is a figure which illustrated each Example of the electromagnetic wave shielding property wiring circuit board using the electromagnetic wave shielding sheet which concerns on embodiment. 実施形態に係る電磁波シールドシートを用いた電磁波シールド性配線回路基板の各実施例を例示した図である。It is a figure which illustrated each Example of the electromagnetic wave shielding property wiring circuit board using the electromagnetic wave shielding sheet which concerns on embodiment. 実施形態に係る電磁波シールドシートを用いた電磁波シールド性配線回路基板の比較例を例示した図である。It is a figure which illustrated the comparative example of the electromagnetic wave shielding property wiring circuit board using the electromagnetic wave shielding sheet which concerns on embodiment. (a)は、実施形態に係る接着剤層1側の展開長さ比RLrと、評価結果との相関を例示したグラフであり、横軸は、展開長さ比RLrを示し、縦軸は、4段階評価を示す。(b)は、接着剤層1側の表面粗さRaと、評価結果との相関を例示したグラフであり、横軸は、表面粗さRaを示し、縦軸は、4段階評価を示す。(c)は、接着剤層1側の表面粗さRzと、評価結果との相関を例示したグラフであり、横軸は、表面粗さRzを示し、縦軸は、4段階評価を示す。(A) is a graph illustrating the correlation between the unfolded length ratio RLr on the adhesive layer 1 side according to the embodiment and the evaluation result, the horizontal axis represents the unfolded length ratio RLr, and the vertical axis represents. A four-level evaluation is shown. (B) is a graph exemplifying the correlation between the surface roughness Ra on the adhesive layer 1 side and the evaluation result, the horizontal axis shows the surface roughness Ra, and the vertical axis shows the four-step evaluation. (C) is a graph exemplifying the correlation between the surface roughness Rz on the adhesive layer 1 side and the evaluation result, the horizontal axis shows the surface roughness Rz, and the vertical axis shows the four-step evaluation.

以下、本発明を適用した実施形態の一例について説明する。尚、以降の図における各部材のサイズや比率は、説明の便宜上のものであり、これに限定されるものではない。また、本明細書において「任意の数A〜任意の数B」なる記載は、当該範囲に数Aが下限値として、数Bが上限値として含まれる。また、本明細書における「シート」とは、JISにおいて定義される「シート」のみならず、「フィルム」も含むものとする。また、本明細書において特定する数値は、実施形態または実施例に開示した方法により求められる値である。 Hereinafter, an example of an embodiment to which the present invention is applied will be described. The sizes and ratios of the members in the following figures are for convenience of explanation and are not limited thereto. Further, in the present specification, the description "arbitrary number A to arbitrary number B" includes the number A as the lower limit value and the number B as the upper limit value in the range. Further, the term "sheet" in the present specification includes not only "sheet" defined in JIS but also "film". In addition, the numerical value specified in the present specification is a value obtained by the method disclosed in the embodiment or the embodiment.

(実施形態1)
実施形態1に係る電磁波シールドシートを説明する。まず、電磁波シールドシートの概要を説明する。その後、電磁波シールドシートを構成する各層を詳細に説明し、次いで、電磁波シールドシートの製造方法を説明する。
(Embodiment 1)
The electromagnetic wave shield sheet according to the first embodiment will be described. First, the outline of the electromagnetic wave shield sheet will be described. After that, each layer constituting the electromagnetic wave shield sheet will be described in detail, and then a method for manufacturing the electromagnetic wave shield sheet will be described.

<電磁波シールドシートの概要>
図1は、実施形態1に係る電磁波シールドシート10を例示した断面図である。図1に示すように、電磁波シールドシート10は、接着剤層1、金属層2及び絶縁層3を備えている。電磁波シールドシート10は、接着剤層1、金属層2及び絶縁層3を、この順で積層された積層体を含んでいる。金属層2は、接着剤層1及び絶縁層3の間に配置されている。
<Overview of electromagnetic wave shield sheet>
FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating the electromagnetic wave shield sheet 10 according to the first embodiment. As shown in FIG. 1, the electromagnetic wave shield sheet 10 includes an adhesive layer 1, a metal layer 2, and an insulating layer 3. The electromagnetic wave shield sheet 10 includes a laminate in which an adhesive layer 1, a metal layer 2, and an insulating layer 3 are laminated in this order. The metal layer 2 is arranged between the adhesive layer 1 and the insulating layer 3.

電磁波シールドシート10は、例えば、配線回路基板等の部品(不図示)と接合して用いられる。電磁波シールドシート10を、部品と接合する場合には、電磁波シールドシート10の接着剤層1側を部品上に配置させる。そして、電磁波シールドシート10と部品との間の接合処理により、電磁波シールドシート10を当該部品に接合させる。接合処理方法は、例えば、熱処理または熱圧着処理が好適であるが、電磁波シールドシート10及び部品を接合できれば、接合処理方法はこだわらない。 The electromagnetic wave shield sheet 10 is used, for example, by joining to a component (not shown) such as a wiring circuit board. When the electromagnetic wave shield sheet 10 is joined to the component, the adhesive layer 1 side of the electromagnetic wave shield sheet 10 is arranged on the component. Then, the electromagnetic wave shield sheet 10 is joined to the component by the bonding process between the electromagnetic wave shield sheet 10 and the component. As the joining treatment method, for example, heat treatment or thermocompression bonding treatment is preferable, but the joining treatment method is not particular as long as the electromagnetic wave shield sheet 10 and the parts can be joined.

絶縁層3は、電磁波シールドシート10を保護する役割を担う。絶縁層3は、金属層2より表層側に配置される。具体的には、部品に電磁波シールドシート10を接合させた場合に、絶縁層3は、金属層2よりも表層側に配置される。金属層2は、絶縁層3と接着剤層1との間に挟持された層である。金属層2は、主として、電磁波をシールドする役割を担う。 The insulating layer 3 plays a role of protecting the electromagnetic wave shield sheet 10. The insulating layer 3 is arranged on the surface layer side of the metal layer 2. Specifically, when the electromagnetic wave shield sheet 10 is bonded to the component, the insulating layer 3 is arranged on the surface layer side of the metal layer 2. The metal layer 2 is a layer sandwiched between the insulating layer 3 and the adhesive layer 1. The metal layer 2 mainly plays a role of shielding electromagnetic waves.

電磁波シールドシート10を接合させる部品がプリント配線板等の配線回路基板の場合には、電磁波シールドシート10、特に、金属層2は、部品内部の信号配線等から発生する電磁ノイズをシールドする。また、電磁波シールドシート10、特に、金属層2は、外部からの信号を遮蔽する役割を担う。 When the component to which the electromagnetic wave shield sheet 10 is bonded is a wiring circuit board such as a printed wiring board, the electromagnetic wave shield sheet 10, particularly the metal layer 2, shields electromagnetic noise generated from signal wiring or the like inside the component. Further, the electromagnetic wave shielding sheet 10, particularly the metal layer 2, plays a role of shielding signals from the outside.

金属層2の膜厚は、0.2〜10[μm]である。また、金属層2における接着剤層1側の界面の展開長さ比RLrは、1〜1.4である。金属層2における絶縁層3側の界面の展開長さ比RLrは、1〜1.5である。これにより、電磁波シールドシート10は、良好な耐折性と、伝送損失の低減とを両立させることができる。展開長さ比RLrについては、後述する。 The film thickness of the metal layer 2 is 0.2 to 10 [μm]. The development length ratio RLr of the interface on the adhesive layer 1 side of the metal layer 2 is 1 to 1.4. The development length ratio RLr of the interface on the insulating layer 3 side in the metal layer 2 is 1 to 1.5. As a result, the electromagnetic wave shield sheet 10 can achieve both good folding resistance and reduction of transmission loss. The unfolded length ratio RLr will be described later.

電磁波シールドシート10は、更に他の層を備えていてもよい。例えば、絶縁層3の表層に耐擦傷性、意匠性、印字適性、難燃性の各機能を有するフィルム等の他の層や、接着層1と金属層2の間や、金属層2と絶縁層3の間に磁界カットを強化するフィルム等を積層させてもよい。 The electromagnetic wave shield sheet 10 may further include another layer. For example, the surface layer of the insulating layer 3 is insulated from other layers such as a film having scratch resistance, designability, printability, and flame retardancy, between the adhesive layer 1 and the metal layer 2, and from the metal layer 2. A film or the like for strengthening the magnetic field cut may be laminated between the layers 3.

本実施形態の電磁波シールドシート10は、電磁波(電界波および磁界波)を放出する部品の輻射電磁波防止および外部からの磁場や電波による誤動作防止に好適なものである。部品としては、パーソナルコンピュータ、モバイル機器或いはデジタルカメラ等に内蔵されるハードディスク、ケーブルおよびプリント配線板が例示できる。また、カードリーダ等にも好適である。以下、電磁波シールドシートを構成する各層について説明する。 The electromagnetic wave shield sheet 10 of the present embodiment is suitable for preventing radiated electromagnetic waves of parts that emit electromagnetic waves (electric field waves and magnetic field waves) and for preventing malfunctions due to an external magnetic field or radio waves. Examples of the parts include hard disks, cables, and printed wiring boards built in personal computers, mobile devices, digital cameras, and the like. It is also suitable for card readers and the like. Hereinafter, each layer constituting the electromagnetic wave shield sheet will be described.

<金属層:展開長さ比RLr>
金属層2は、電磁波および電界波を遮蔽する役割を担う。金属層2は、接着剤層1側の展開長さ比RLrが、例えば、1〜1.4であり、絶縁層3側の展開長さ比RLrが1〜1.5である。展開長さ比RLrは、下記数式(1)から求められる。
<Metal layer: Expanded length ratio RLr>
The metal layer 2 plays a role of shielding electromagnetic waves and electric field waves. In the metal layer 2, the unfolded length ratio RLr on the adhesive layer 1 side is, for example, 1 to 1.4, and the unfolded length ratio RLr on the insulating layer 3 side is 1 to 1.5. The unfolded length ratio RLr can be obtained from the following mathematical formula (1).

[数1]
(展開長さ比RLr)=(金属層界面の展開長さ)/(金属層界面の直線距離)
・・・(1)
[Number 1]
(Expanded length ratio RLr) = (Expanded length of metal layer interface) / (Linear distance of metal layer interface)
... (1)

ここで、金属層界面の展開長さは、下記数式(2)に示すように、金属層2の界面を含む周囲長から界面以外の周囲長を減算することで求められる。また、金属層界面の直線距離は、展開長さの両末端の距離から求めることができる。
[数2]
(金属層界面の展開長さ)=(金属層の界面を含む周囲長)−(界面以外の周囲長)
・・・(2)
Here, the developed length of the metal layer interface is obtained by subtracting the peripheral length other than the interface from the peripheral length including the interface of the metal layer 2 as shown in the following mathematical formula (2). Further, the linear distance of the metal layer interface can be obtained from the distance between both ends of the developed length.
[Number 2]
(Expanded length of metal layer interface) = (peripheral length including metal layer interface)-(peripheral length other than interface)
... (2)

図2(a)は、実施形態1に係る電磁波シールドシート10の断面のSEM像を例示した図である。図2(a)には、金属層2の界面の展開長さ及び直線距離を説明する図も示す。図2(a)に示すように、金属層2の界面を含む周囲長は、電磁波シールドシート10の断面を垂直方向からSEMで観察した電子顕微鏡画像(1万倍程度)から得られる。具体的には、例えば、電子顕微鏡画像を読み込み、金属層2の界面の周囲長を測定することで得られる。なお、電子顕微鏡画像の倍率は、1万倍に限らない。金属層2の界面の周囲長は、倍率を多少変えても周囲長が変化しない倍率で測定する。 FIG. 2A is a diagram illustrating an SEM image of a cross section of the electromagnetic wave shield sheet 10 according to the first embodiment. FIG. 2A also shows a diagram for explaining the developed length and the linear distance of the interface of the metal layer 2. As shown in FIG. 2A, the peripheral length including the interface of the metal layer 2 is obtained from an electron microscope image (about 10,000 times) obtained by observing the cross section of the electromagnetic wave shield sheet 10 from the vertical direction by SEM. Specifically, for example, it can be obtained by reading an electron microscope image and measuring the peripheral length of the interface of the metal layer 2. The magnification of the electron microscope image is not limited to 10,000 times. The peripheral length of the interface of the metal layer 2 is measured at a magnification at which the peripheral length does not change even if the magnification is slightly changed.

図2(b)は、実施形態1に係る電磁波シールドシート10の金属層2の界面を含む周囲長を説明する図であり、(c)は、実施形態1に係る電磁波シールドシート10の金属層2における界面以外の周囲長を説明する図である。図2(b)に示すように、画像の解析ソフトの関係上、金属層4の界面を含む周囲長を測定することができる。金属層4の界面を含む周囲長とは、直線と曲線を有する周囲長であり、金属層4の場合には、界面以外の周囲長と、展開長さと、を含んでいる。展開長さは、界面を構成する界面に沿った長さである。図2(c)に示すように、界面以外の周囲長は、直線部分で構成されている。したがって、(2)式より、展開長さを測定することができる。 FIG. 2B is a diagram for explaining the peripheral length including the interface of the metal layer 2 of the electromagnetic wave shield sheet 10 according to the first embodiment, and FIG. 2C is a diagram for explaining the peripheral length including the interface of the metal layer 2 of the electromagnetic wave shield sheet 10 according to the first embodiment. It is a figure explaining the peripheral length other than the interface in 2. As shown in FIG. 2B, the peripheral length including the interface of the metal layer 4 can be measured due to the image analysis software. The peripheral length including the interface of the metal layer 4 is a peripheral length having a straight line and a curved line, and in the case of the metal layer 4, the peripheral length other than the interface and the developed length are included. The unfolded length is the length along the interface constituting the interface. As shown in FIG. 2C, the peripheral length other than the interface is composed of a straight line portion. Therefore, the unfolded length can be measured from the equation (2).

金属層界面の展開長さは、例えば、所定の解析ソフトを用いて電子顕微鏡画像を読み込み、手動で金属層2の界面を含む周囲長を測定することで得られる。所定の解析ソフトは、例えば、Mac-View Ver.4(マウンテック社)である。 The developed length of the metal layer interface can be obtained, for example, by reading an electron microscope image using a predetermined analysis software and manually measuring the peripheral length including the interface of the metal layer 2. The predetermined analysis software is, for example, Mac-View Ver.4 (Mount Tech).

数式(1)に示すように、展開長さ比RLrにより、金属層2の界面の凹凸度合(起伏度合)を把握することができる。真に平滑な金属層2は、断面形状が直線であり、展開長さ比RLrが1となる。金属層2の表面の凹凸形状の増大に従って、展開長さ比RLrも増大する。凹凸の高低差が小さい、凹凸の数が少ないほど、展開長さ比RLrは小さくなる。逆に、凹凸の高低差が大きい、凹凸の数が多いほど、展開長さ比RLrは大きい。一方、一般的な表面形状の指標であるRaやRzは、凹凸の数による影響をほとんど受けない。 As shown in the mathematical formula (1), the degree of unevenness (degree of undulation) of the interface of the metal layer 2 can be grasped by the developed length ratio RLr. The truly smooth metal layer 2 has a straight cross-sectional shape and has a developed length ratio of RLr of 1. As the uneven shape of the surface of the metal layer 2 increases, the unfolded length ratio RLr also increases. The smaller the height difference of the unevenness and the smaller the number of the unevenness, the smaller the developed length ratio RLr. On the contrary, the larger the height difference of the unevenness and the larger the number of the unevenness, the larger the developed length ratio RLr. On the other hand, Ra and Rz, which are general indicators of surface shape, are hardly affected by the number of irregularities.

図3(a)及び(b)は、実施形態1に係る金属層2の界面を例示した図であり、(c)は、半円状の界面を並べた場合を例示した図である。図3(a)及び(b)に示す界面の形状を、表面粗さRa1及びRa2で規定した場合には、両者はほぼ等しく、表面粗さRa1≒Ra2である。しかしながら、距離と道のりとの比を示すような展開長さ比RLrで規定すると、図3(a)及び(b)の場合は異なり,RLr1<RLr2である。展開長さ比RLrを用いることにより、金属層2の界面の状態を明確に区別することができる。 3A and 3B are diagrams illustrating the interface of the metal layer 2 according to the first embodiment, and FIG. 3C is a diagram illustrating the case where the semicircular interfaces are arranged side by side. When the shape of the interface shown in FIGS. 3A and 3B is defined by the surface roughness Ra1 and Ra2, both are substantially equal, and the surface roughness Ra1≈Ra2. However, when defined by the development length ratio RLr that indicates the ratio of the distance to the distance, RLr1 <RLr2, which is different from the cases of FIGS. 3A and 3B. By using the developed length ratio RLr, the state of the interface of the metal layer 2 can be clearly distinguished.

電磁波シールドシート10の金属層2において、電流の性質上、電流は、高周波になると、金属層2の表面を流れるようになる。そうすると、表面、すなわち、界面の形状が電流に影響を及ぼすようになる。接着剤層1側の界面は、直下に、配線回路基板等の部品が配置されているので、伝送特性に大きな影響を及ぼす。よって、接着剤層1側の展開長さ比RLrは、小さい方が好ましい。 In the metal layer 2 of the electromagnetic wave shield sheet 10, due to the nature of the electric current, the electric current flows on the surface of the metal layer 2 at high frequencies. Then, the shape of the surface, that is, the interface, affects the current. Since components such as a wiring circuit board are arranged directly below the interface on the adhesive layer 1 side, the transmission characteristics are greatly affected. Therefore, it is preferable that the unfolded length ratio RLr on the adhesive layer 1 side is small.

例えば、接着剤層1側の展開長さ比RLrは、1.12以下が好ましく、1.04以下がより好ましい。展開長さ比RLrが、1.5以下であると、導体としての機能を有する金属層2の平滑性が高くなる。これにより、電磁波シールドシート10を用いた配線回路基板において、高周波領域での伝送損失を低減することができる。例えば、高周波(100[MHz]から50[GHz])の信号を伝送する配線回路基板での伝送損失をより抑制することができる。密着性や耐薬品性を考慮した場合には、展開長さ比RLrは、1.0005以上が好ましい。 For example, the unfolded length ratio RLr on the adhesive layer 1 side is preferably 1.12 or less, more preferably 1.04 or less. When the developed length ratio RLr is 1.5 or less, the smoothness of the metal layer 2 having a function as a conductor becomes high. As a result, in the wiring circuit board using the electromagnetic wave shield sheet 10, the transmission loss in the high frequency region can be reduced. For example, it is possible to further suppress transmission loss in a wiring circuit board that transmits a high frequency (100 [MHz] to 50 [GHz]) signal. When the adhesion and chemical resistance are taken into consideration, the developed length ratio RLr is preferably 1.0005 or more.

一方、絶縁層3側の界面は、接着剤層1側の界面ほどに伝送特性に影響を及ぼさない。よって、接着剤層1側の界面の展開長さ比RLrは、絶縁層3側の界面の展開長さ比RLrよりも小さいことが好ましい。しかしながら、電磁波シールドシート10における接着剤層1、金属層2及び絶縁層3の密着性という観点からは、絶縁層3側の界面の展開長さ比RLrは大きい方がよい。ただし、あまり大きくなると、折り曲げた際に応力がかかって折れやすくなる。よって、金属層2における絶縁層3側の界面の展開長さ比RLrは、1〜1.5であることが好ましい。 On the other hand, the interface on the insulating layer 3 side does not affect the transmission characteristics as much as the interface on the adhesive layer 1 side. Therefore, the unfolded length ratio RLr of the interface on the adhesive layer 1 side is preferably smaller than the unfolded length ratio RLr of the interface on the insulating layer 3 side. However, from the viewpoint of the adhesion between the adhesive layer 1, the metal layer 2 and the insulating layer 3 in the electromagnetic wave shielding sheet 10, it is preferable that the developed length ratio RLr of the interface on the insulating layer 3 side is large. However, if it becomes too large, stress will be applied when it is bent and it will be easy to break. Therefore, the development length ratio RLr of the interface on the insulating layer 3 side of the metal layer 2 is preferably 1 to 1.5.

図3(c)に示すように、半円状の界面を並べた場合には、円周が直径のπ倍であることから、展開長さ比RLrは1.5よりも大きくなる。金属層2における接着剤層1側の展開長さが、このように、1.5よりも大きくなると、伝送特性を向上させることができない。 As shown in FIG. 3C, when the semicircular interfaces are arranged, the circumference is π times the diameter, so that the unfolded length ratio RLr is larger than 1.5. If the unfolded length of the metal layer 2 on the adhesive layer 1 side is larger than 1.5 in this way, the transmission characteristics cannot be improved.

展開長さ比RLrの測定に用いられる電磁波シールドシート10の断面を観察する方法を説明する。まず、電磁波シールドシート10を切断し、断面を露出させる。断面を露出させる方法は、割断法、機械研磨法、ミクロトーム法、FIB(集束イオンビーム)法等の公知の方法がある。しかし、電磁波シールドシート10のように、硬さが異なる異種材料を含む場合には、断面作製の際に、異種界面の剥離や空隙の変形などの構造変形、いわゆるアーティファクトが生じてしまう。よって、真の断面構造が得られないことがある。CP(クロスセクションポリッシャ)法は、ブロードなAr(アルゴン)イオンビームを用いた断面作製方法であり、金属、半導体、セラミックス、及びそれらの複合材料でも、平滑で歪みのない試料断面を作成することができる。したがって、本実施形態では、金属層2を切断する方法は、CP法が好ましい。 A method of observing the cross section of the electromagnetic wave shield sheet 10 used for measuring the unfolded length ratio RLr will be described. First, the electromagnetic wave shield sheet 10 is cut to expose the cross section. As a method for exposing the cross section, there are known methods such as a cutting method, a mechanical polishing method, a microtome method, and a FIB (focused ion beam) method. However, when different materials having different hardness are included, such as the electromagnetic wave shield sheet 10, structural deformation such as peeling of different interfaces and deformation of voids, so-called artifacts, occurs when the cross section is prepared. Therefore, a true cross-sectional structure may not be obtained. The CP (Cross Section Polisher) method is a method for preparing a cross section using a broad Ar (argon) ion beam, and prepares a smooth and strain-free sample cross section even for metals, semiconductors, ceramics, and their composite materials. Can be done. Therefore, in the present embodiment, the CP method is preferable as the method for cutting the metal layer 2.

<金属層:厚さ>
金属層2の厚さは、0.2〜5[μm]であることが好ましい。金属層2の厚さは、0.2〜4[μm]がより好ましく、0.5〜3[μm]がさらに好ましい。金属層2の厚さが0.2〜5[μm]の範囲にあることで、高い電磁波シールド性能と耐折性とのバランスを取ることが可能となる。
<Metal layer: thickness>
The thickness of the metal layer 2 is preferably 0.2 to 5 [μm]. The thickness of the metal layer 2 is more preferably 0.2 to 4 [μm], and even more preferably 0.5 to 3 [μm]. When the thickness of the metal layer 2 is in the range of 0.2 to 5 [μm], it is possible to balance high electromagnetic wave shielding performance and folding resistance.

<金属層:製造方法>
金属層の製造方法は、金属箔を用いる方法の他、真空蒸着、スパッタリング、CVD法、MO(メタルオーガニック)、メッキ等で形成することができる。これらの中でも量産性を考慮すれば、金属箔、真空蒸着またはメッキが好ましい。
<Metal layer: Manufacturing method>
The method for producing the metal layer can be formed by vacuum deposition, sputtering, CVD method, MO (metal organic), plating, or the like, in addition to the method using metal foil. Among these, metal foil, vacuum vapor deposition or plating is preferable in consideration of mass productivity.

金属箔の好適な例として、アルミニウム、銅、銀、金等を例示することができる。シールド性、およびコストの面から銅、銀、アルミニウムがより好ましく、銅がさらに好ましい。銅は、例えば、圧延銅箔または電解銅箔を使用することが好ましい。金属箔の厚みの下限は0.2[μm]以上が好ましく、0.5[μm]以上がより好ましい。一方、金属箔の厚みの上限は、耐折性の観点から、10[μm]以下が好ましく、5[μm]以下がより好ましい。 As a preferable example of the metal foil, aluminum, copper, silver, gold and the like can be exemplified. Copper, silver, and aluminum are more preferable, and copper is even more preferable, in terms of shielding properties and cost. As copper, for example, it is preferable to use rolled copper foil or electrolytic copper foil. The lower limit of the thickness of the metal foil is preferably 0.2 [μm] or more, and more preferably 0.5 [μm] or more. On the other hand, the upper limit of the thickness of the metal foil is preferably 10 [μm] or less, and more preferably 5 [μm] or less from the viewpoint of folding resistance.

真空蒸着により得られる金属層2の好適な例として、アルミニウム、銅、銀、金を例示することができる。これらのうち、銅、銀がより好ましい。また、スパッタにより得られる金属層の好適な例として、アルミニウム、銅、銀、クロム、金、鉄、パラジウム、ニッケル、白金、銀、亜鉛、酸化インジウム、アンチモンドープ酸化錫が例示できる。これらのうち、銅、銀がより好ましい。真空蒸着およびスパッタにより得られる金属層の厚みの下限は、0.2[μm]以上が好ましく、0.5[μm]以上がより好ましい。上限は、4[μm]以下が好ましい。 Aluminum, copper, silver, and gold can be exemplified as suitable examples of the metal layer 2 obtained by vacuum deposition. Of these, copper and silver are more preferable. Further, as a preferable example of the metal layer obtained by sputtering, aluminum, copper, silver, chromium, gold, iron, palladium, nickel, platinum, silver, zinc, indium oxide and antimony-doped tin oxide can be exemplified. Of these, copper and silver are more preferable. The lower limit of the thickness of the metal layer obtained by vacuum deposition and sputtering is preferably 0.2 [μm] or more, and more preferably 0.5 [μm] or more. The upper limit is preferably 4 [μm] or less.

得られた金属層2の表面について、平滑面を有するキャリアに積層することで平滑面を転写する工程や、エッチングや機械的研磨などの金属層2の凸部の除去を主とする平滑面形成処理工程や、めっきや蒸着などによる、平滑な金属層2の微細な凹部を埋めることを主とする平滑面形成処理工程などにより、所定の形状及び所定の展開長さ比RLrを得ることができる。これらの中でも機械的研磨が、金属層2の表面を所定の形状及び所定の展開長さ比RLrを精密に制御できるため好ましい。但し、その他の方法でも、金属層2の表面の形状及び展開長さ比RLrを制御することができればよく、機械的研磨に限定されるものではない。 The surface of the obtained metal layer 2 is formed by laminating it on a carrier having a smooth surface to transfer the smooth surface, and forming a smooth surface mainly by removing the convex portion of the metal layer 2 by etching or mechanical polishing. A predetermined shape and a predetermined developed length ratio RLr can be obtained by a treatment step, a smooth surface forming treatment step mainly for filling fine recesses of the smooth metal layer 2 by plating, vapor deposition, or the like. .. Among these, mechanical polishing is preferable because the surface of the metal layer 2 can be precisely controlled in a predetermined shape and a predetermined development length ratio RLr. However, other methods are not limited to mechanical polishing as long as the shape of the surface of the metal layer 2 and the developed length ratio RLr can be controlled.

<金属層:開口部>
本実施形態の金属層2は、全面に複数の開口部4を有することが好ましい。開口部4は、接着剤層1側の界面から絶縁層3側の界面まで貫通している。金属層2の展開長さ比RLrが小さいほど、積層した際の接着力が低下しやすい。しかしながら、開口部4を有することで、接着剤層1に含まれた樹脂が開口部4に流入する。これにより、絶縁層3と接着剤層1とが接着される。よって、絶縁層3/金属層2、および金属層2/接着剤層1の界面の接着力が向上する。したがって、金属層2に対して、良好な密着性を得るための粗化処理を行わずにすむ。このため、金属層2の表面を所定の形状にしやすくなる。
<Metal layer: opening>
The metal layer 2 of the present embodiment preferably has a plurality of openings 4 on the entire surface. The opening 4 penetrates from the interface on the adhesive layer 1 side to the interface on the insulating layer 3 side. The smaller the unfolded length ratio RLr of the metal layer 2, the more likely it is that the adhesive force when laminated is reduced. However, by having the opening 4, the resin contained in the adhesive layer 1 flows into the opening 4. As a result, the insulating layer 3 and the adhesive layer 1 are adhered to each other. Therefore, the adhesive force at the interface between the insulating layer 3 / the metal layer 2 and the metal layer 2 / the adhesive layer 1 is improved. Therefore, it is not necessary to perform a roughening treatment on the metal layer 2 in order to obtain good adhesion. Therefore, the surface of the metal layer 2 can be easily formed into a predetermined shape.

さらに、開口部4を有することで、ハンダリフロー処理した際に、プリント配線板のポリイミドフィルムやカバーレイ接着剤に含まれる揮発成分を外部に逃がし、カバーレイ接着剤および電磁波シールドシート10の界面剥離による外観不良及び接続信頼性の低下を抑制する役割を担う。 Further, by having the opening 4, when the solder reflow treatment is performed, the volatile components contained in the polyimide film of the printed wiring board and the coverlay adhesive are released to the outside, and the interface peeling of the coverlay adhesive and the electromagnetic wave shield sheet 10 is performed. It plays a role in suppressing poor appearance and deterioration of connection reliability due to.

開口部4を面方向から見た形状は例えば、円、楕円、四角、多角形、星形、台形等、必要に応じて各形状を形成することができる。製造コスト及び膜の強靭性の観点から、円および、楕円が好ましい。なお、展開長さ比RLrを測定する際には、開口部4は除く。 The shape of the opening 4 viewed from the plane direction can be formed as needed, such as a circle, an ellipse, a square, a polygon, a star, or a trapezoid. From the viewpoint of manufacturing cost and film toughness, circles and ellipses are preferable. When measuring the unfolded length ratio RLr, the opening 4 is excluded.

開口部4の1個あたりの面積は、0.7〜5000[μm]が好ましく、10〜4000[μm]がより好ましく、20〜2000[μm]がさらに好ましい。開口部4の面積を0.7[μm]以上とすることで、絶縁層3と接着剤層1の接着が良好となり、吸湿性及が優れたものとなる。開口部4の面積を5000[μm]以下とすることで、電磁波シールド性に優れたものとすることができる。 Area per one opening 4 is preferably 0.7~5000 [μm 2], and more preferably from 10 to 4000 [[mu] m 2], more preferably 20~2000 [μm 2]. By setting the area of the opening 4 to 0.7 [μm 2 ] or more, the adhesion between the insulating layer 3 and the adhesive layer 1 becomes good, and the hygroscopicity becomes excellent. By setting the area of the opening 4 to 5000 [μm 2 ] or less, the electromagnetic wave shielding property can be made excellent.

開口部4の個数は、100〜200000[個/cm]が好ましく、1000〜150000[個/cm]がより好ましい。開口部4の個数を100[個/cm]以上とすることで揮発成分を効率的に外部に出しやすくすることができる。このため、吸湿性を向上させることができる。加えて、反発力を低下させることができる。開口部4の数を200000[個/cm]以下にすることで、高い電磁波シールド性を確保することができる。 Number of the opening portion 4, preferably from 100 to 200,000 [pieces / cm 2], and more preferably 1000-150000 [pieces / cm 2]. By setting the number of openings 4 to 100 [pieces / cm 2 ] or more, it is possible to efficiently release volatile components to the outside. Therefore, hygroscopicity can be improved. In addition, the repulsive force can be reduced. By reducing the number of openings 4 to 200,000 [pieces / cm 2 ] or less, high electromagnetic wave shielding properties can be ensured.

<金属層:開口率>
本実施形態における金属層2の開口率は、0.05〜40[%]であることが好ましい。開口率は、開口部4の面積と個数から調整することができる。開口率を0.05[%]以上とすることで揮発成分を効率的に外部に出しやすくすることができる。このため、吸湿性を向上させることができる。開口率を40[%]以下にすることで、高い電磁波シールド性を確保することができる。また、伝送損失を低減することができる。なお、開口率は下記式(3)から求められる。
[数3]
開口率[%]=(単位面積あたりの開口部の面積)/(単位面積あたりの開口部面積+単位面積あたりの非開口部面積)×100
・・・(3)
<Metal layer: aperture ratio>
The aperture ratio of the metal layer 2 in the present embodiment is preferably 0.05 to 40 [%]. The aperture ratio can be adjusted from the area and number of openings 4. By setting the aperture ratio to 0.05 [%] or more, it is possible to efficiently release volatile components to the outside. Therefore, hygroscopicity can be improved. By setting the aperture ratio to 40 [%] or less, high electromagnetic wave shielding properties can be ensured. Moreover, the transmission loss can be reduced. The aperture ratio is calculated from the following formula (3).
[Number 3]
Aperture ratio [%] = (area of opening per unit area) / (area of opening per unit area + area of non-opening per unit area) x 100
... (3)

開口率の下限は、0.05[%]が好ましく、0.1[%]がより好ましい。開口率の上限は、40[%]が好ましく、30[%]がより好ましく、10[%]がさらに好ましい。開口率を0.1〜30[%]の範囲にすることで、吸湿性及び高湿処理後の伝送損失と、高い電磁波シールド性能を保持し、反発力を低下させることができる。 The lower limit of the aperture ratio is preferably 0.05 [%], more preferably 0.1 [%]. The upper limit of the aperture ratio is preferably 40 [%], more preferably 30 [%], and even more preferably 10 [%]. By setting the aperture ratio in the range of 0.1 to 30 [%], it is possible to maintain hygroscopicity, transmission loss after high humidity treatment, high electromagnetic wave shielding performance, and reduce repulsive force.

開口率の測定は、例えば、金属層2を面方向から垂直にレーザー顕微鏡及び走査型電子顕微鏡(SEM)で500〜2000倍に拡大した画像を用いて、開口部4と非開口部を2値化し、単位面積当たりの2値化した色のピクセル数をそれぞれの面積とすることで求めることができる。 The aperture ratio is measured, for example, by binarizing the opening 4 and the non-opening using an image obtained by magnifying the metal layer 2 vertically from the plane direction with a laser microscope and a scanning electron microscope (SEM) at a magnification of 500 to 2000 times. It can be obtained by setting the number of pixels of the binarized color per unit area as each area.

<金属層:開口部の形成方法>
開口部4を有する金属層2の製造方法は、例えば、金属箔を機械的に打ち抜きをするパンチング方法、針状の突起を全面に突き刺し金属箔に開口部4を形成する方法、金属箔上にパターンレジスト層を形成し金属箔をエッチングして開口部4を形成する方法、スクリーン印刷によって所定のパターンに導電性ペーストを印刷する方法、所定のパターンでアンカー剤をスクリーン印刷しアンカー剤印刷面のみに金属メッキする方法、および特開2015‐63730号公報に記載されている製造方法等が適用できる。すなわち、支持体に水溶性、又は溶剤可溶性インクをパターン印刷し、その表面に金属蒸着膜を形成しパターンを除去する。その表面に離形層を形成し電解メッキすることでキャリア付開口部4を有する金属層2を得ることができる。
<Metal layer: Method of forming openings>
The method of manufacturing the metal layer 2 having the opening 4 is, for example, a punching method of mechanically punching a metal foil, a method of piercing a needle-shaped protrusion on the entire surface to form an opening 4 in the metal foil, or a method of forming an opening 4 on the metal foil. A method of forming a pattern resist layer and etching a metal foil to form an opening 4, a method of printing a conductive paste on a predetermined pattern by screen printing, screen printing an anchor agent with a predetermined pattern, and only the anchor agent printing surface. The method of metal plating, the manufacturing method described in JP-A-2015-63730, and the like can be applied. That is, a water-soluble or solvent-soluble ink is pattern-printed on the support, and a metal vapor-deposited film is formed on the surface of the support to remove the pattern. A metal layer 2 having an opening 4 with a carrier can be obtained by forming a release layer on the surface and electroplating.

<接着剤層>
接着剤層1は、例えば、熱可塑性樹脂または硬化性樹脂を含んでもよい。硬化性樹脂は、熱硬化性樹脂または光硬化性樹脂が好ましい。また、接着剤層1は、導電性接着剤を含んでもよい。
<Adhesive layer>
The adhesive layer 1 may contain, for example, a thermoplastic resin or a curable resin. The curable resin is preferably a thermosetting resin or a photocurable resin. Further, the adhesive layer 1 may contain a conductive adhesive.

熱可塑性樹脂としては、ポリオレフィン系樹脂、ビニル系樹脂、スチレン・アクリル系樹脂、ジエン系樹脂、テルペン樹脂、石油樹脂、セルロース系樹脂、ポリアミド樹脂、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリイミド系樹脂、液晶ポリマー、フッ素樹脂などが挙げられる。特に限定するものではないが、伝送損失の観点から低誘電率、低誘電正接の材料が、特性インピーダンスの観点から低誘電率の材料が好ましく、液晶ポリマーやフッ素含有樹脂などが挙げられる。 The thermoplastic resins include polyolefin resins, vinyl resins, styrene / acrylic resins, diene resins, terpene resins, petroleum resins, cellulose resins, polyamide resins, polyurethane resins, polyester resins, polycarbonate resins, and polyimide resins. Examples include liquid crystal polymers and fluororesins. Although not particularly limited, a material having a low dielectric constant and a low dielectric loss tangent is preferable from the viewpoint of transmission loss, and a material having a low dielectric constant is preferable from the viewpoint of characteristic impedance, such as a liquid crystal polymer and a fluorine-containing resin.

熱硬化性樹脂は、加熱による架橋反応に利用できる官能基、例えば、水酸基、フェノール性水酸基、メトキシメチル基、カルボキシル基、アミノ基、エポキシ基、オキセタニル基、オキサゾリン基、オキサジン基、アジリジン基、チオール基、イソシアネート基、ブロック化イソシアネート基、ブロック化カルボキシル基、シラノール基などを1分子中に1つ以上有する樹脂であればよく、例えば、アクリル樹脂、マレイン酸樹脂、ポリブタジエン系樹脂、ポリエステル樹脂、ポリウレタン樹脂、エポキシ樹脂、オキセタン樹脂、フェノキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミド樹脂、フェノール系樹脂、アルキド樹脂、アミノ樹脂、ポリ乳酸樹脂、オキサゾリン樹脂、ベンゾオキサジン樹脂、シリコーン樹脂、フッ素樹脂などが挙げられる。また、本実施形態における熱硬化性樹脂は、上記の樹脂に加え、必要に応じて上記の官能基と反応し化学的架橋を形成する樹脂または低分子化合物などの所謂「硬化剤」を含むことが好ましい。 The thermosetting resin contains functional groups that can be used for cross-linking reaction by heating, such as hydroxyl groups, phenolic hydroxyl groups, methoxymethyl groups, carboxyl groups, amino groups, epoxy groups, oxetanyl groups, oxazoline groups, oxazine groups, aziridine groups and thiols. Any resin having one or more groups, isocyanate groups, blocked isocyanate groups, blocked carboxyl groups, silanol groups, etc. in one molecule may be used, for example, acrylic resin, maleic acid resin, polybutadiene resin, polyester resin, polyurethane. Examples thereof include resins, epoxy resins, oxetane resins, phenoxy resins, polyimide resins, polyamide resins, phenolic resins, alkyd resins, amino resins, polylactic acid resins, oxazoline resins, benzoxazine resins, silicone resins and fluororesins. Further, the thermosetting resin in the present embodiment contains, if necessary, a so-called "curing agent" such as a resin or a low molecular weight compound that reacts with the above functional groups to form a chemical crosslink in addition to the above resin. Is preferable.

光硬化性樹脂は、光により架橋反応を起こす不飽和結合を1分子中に1つ以上有する樹脂であればよく、例えば、アクリル樹脂、マレイン酸樹脂、ポリブタジエン系樹脂、ポリエステル樹脂、ポリウレタン樹脂、エポキシ樹脂、オキセタン樹脂、フェノキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミド樹脂、フェノール系樹脂、アルキド樹脂、アミノ樹脂、ポリ乳酸樹脂、オキサゾリン樹脂、ベンゾオキサジン樹脂、シリコーン樹脂、フッ素樹脂などが挙げられる。 The photocurable resin may be a resin having at least one unsaturated bond in one molecule that causes a cross-linking reaction by light. For example, acrylic resin, maleic acid resin, polybutadiene resin, polyester resin, polyurethane resin, epoxy. Examples thereof include resins, oxetane resins, phenoxy resins, polyimide resins, polyamide resins, phenolic resins, alkyd resins, amino resins, polylactic acid resins, oxazoline resins, benzoxazine resins, silicone resins and fluororesins.

接着剤層1は、他に任意成分としてシランカップリング剤、防錆剤、還元剤、酸化防止剤、顔料、染料、粘着付与樹脂、可塑剤、紫外線吸収剤、消泡剤、レベリング調整剤、充填剤、難燃剤などを配合できる。 The adhesive layer 1 has other optional components such as a silane coupling agent, a rust preventive, a reducing agent, an antioxidant, a pigment, a dye, a tackifier resin, a plasticizer, an ultraviolet absorber, a defoaming agent, and a leveling adjuster. Fillers, flame retardants, etc. can be blended.

<接着剤層:導電性または絶縁性>
接着剤層1は、電磁波シールドシート10の一方の面に位置し、後述する配線回路基板との貼着を担う。接着剤層1は、厚み方向のみに導電性を発現する異方導電性接着剤層であるか、または絶縁性接着剤であることが好ましい。接着剤層1として異方導電性接着剤層を用い、異方導電性接着剤層と金属層2とを接するようにすれば、配線回路基板のグランド回路と金属層2とを特別な部材を用いることなく電気的に接合できる。接着剤層1として、異方導電性接着剤層を用いることによって、より効率的に電気的に接合を達成できる。
<Adhesive layer: Conductive or insulating>
The adhesive layer 1 is located on one surface of the electromagnetic wave shield sheet 10 and is responsible for sticking to a wiring circuit board described later. The adhesive layer 1 is preferably an anisotropic conductive adhesive layer that exhibits conductivity only in the thickness direction, or is preferably an insulating adhesive. If an anisotropic conductive adhesive layer is used as the adhesive layer 1 and the anisotropic conductive adhesive layer and the metal layer 2 are in contact with each other, a special member can be formed between the ground circuit of the wiring circuit board and the metal layer 2. Can be electrically bonded without use. By using an anisotropic conductive adhesive layer as the adhesive layer 1, bonding can be achieved more efficiently and electrically.

異方導電性接着剤層は、樹脂と導電性フィラーを含有するものであり、導電性フィラーを60[質量%]以下含有することが好ましい。一方、経時後抵抗値の上昇の抑制の観点から、20wt%を超えて配合することが好ましく、39wt%を超えて配合することがより好ましく、45wt%を超えて配合することが更に好ましい。 The anisotropic conductive adhesive layer contains a resin and a conductive filler, and preferably contains 60 [mass%] or less of the conductive filler. On the other hand, from the viewpoint of suppressing an increase in the resistance value after aging, it is preferable to add more than 20 wt%, more preferably more than 39 wt%, and further preferably more than 45 wt%.

形成されるプレス後の接着剤層1の厚みを基準(100)とした場合に、導電性フィラーの平均粒子径の大きさは、100〜1000程度であることが好ましい。このような大きさの導電性フィラーを60[質量%]以下含有することより、経時後抵抗値の上昇を抑制することができる。 When the thickness of the adhesive layer 1 after pressing is used as a reference (100), the average particle size of the conductive filler is preferably about 100 to 1000. By containing 60 [mass%] or less of the conductive filler having such a size, it is possible to suppress an increase in the resistance value after aging.

導電性フィラーの平均粒子径は、D95平均粒子径であり、経時後抵抗値の上昇を抑制する観点から、プレス後の接着剤層1の厚みの2倍以上が好ましく、3倍以上がより好ましく、4倍以上とすることが更に好ましい。一方、外観不良の観点からは、10倍以下が好ましく、8倍以下がより好ましく、7倍以下とすることが更に好ましい。D95平均粒子径は、レーザー回折・散乱法粒度分布測定装置等により求めることができる。 The average particle size of the conductive filler is the average particle size of D95, and is preferably twice or more, more preferably three times or more, the thickness of the adhesive layer 1 after pressing from the viewpoint of suppressing an increase in resistance value after aging. It is more preferable to make it 4 times or more. On the other hand, from the viewpoint of poor appearance, 10 times or less is preferable, 8 times or less is more preferable, and 7 times or less is further preferable. The D95 average particle size can be determined by a laser diffraction / scattering method particle size distribution measuring device or the like.

用いられる導電性フィラーとしては、金、銀、銅、ニッケル等の金属粉、合金粉、ハンダ等の低融点金属粉、銀メッキされた銅粉、金属メッキされたガラス繊維やカーボンフィラーなどが挙げられる。なかでも、導電率の高い銀粉、銀メッキされた銅粉や、ハンダ等の低融点金属粉が好ましい。 Examples of the conductive filler used include metal powders such as gold, silver, copper and nickel, alloy powders, low melting point metal powders such as solder, silver-plated copper powders, metal-plated glass fibers and carbon fillers. Be done. Of these, silver powder having high conductivity, silver-plated copper powder, and low-melting-point metal powder such as solder are preferable.

また、導電性フィラーの形状としては、球状、フレーク状、樹枝状、繊維状などが挙げられ、特に異方導電性を得やすい球状、樹枝状が特に好ましい。また、これらの異なる形状の導電性フィラーを2種類混合しても良い。導電性フィラーは、単独または2種類以上併用できる。 The shape of the conductive filler includes a spherical shape, a flake shape, a dendritic shape, a fibrous shape, and the like, and a spherical shape and a dendritic shape in which anisotropic conductivity is easily obtained are particularly preferable. Further, two kinds of conductive fillers having different shapes may be mixed. The conductive filler can be used alone or in combination of two or more.

<接着剤層:製造方法>
接着剤層1は、これまで説明した材料を混合し攪拌して得ることができる。攪拌は、例えばディスパーマット、ホモジナイザー等に公知の攪拌装置を使用できる。
<Adhesive layer: Manufacturing method>
The adhesive layer 1 can be obtained by mixing and stirring the materials described above. For stirring, for example, a stirring device known for a dispermat, a homogenizer, or the like can be used.

接着剤層1の作製は、公知の方法を使用できる。例えば、接着性樹脂組成物を剥離性シート上に塗工して乾燥することで接着剤層を形成する方法、または、Tダイのような押出成形機を使用して接着性樹脂組成物をシート状に押し出すことで形成することもできる。 A known method can be used for producing the adhesive layer 1. For example, a method of forming an adhesive layer by applying an adhesive resin composition on a peelable sheet and drying it, or using an extrusion molding machine such as a T-die to sheet the adhesive resin composition. It can also be formed by extruding into a shape.

塗工方法は、例えば、グラビアコート方式、キスコート方式、ダイコート方式、リップコート方式、コンマコート方式、ブレード方式、ロールコート方式、ナイフコート方式、スプレーコート方式、バーコート方式、スピンコート方式、ディップコート方式等の公知の塗工方法を使用できる。塗工に際して、乾燥工程を行うことが好ましい。乾燥工程は、例えば、熱風乾燥機、赤外線ヒーター等の公知の乾燥装置を使用できる。 The coating methods include, for example, gravure coating method, kiss coating method, die coating method, lip coating method, comma coating method, blade method, roll coating method, knife coating method, spray coating method, bar coating method, spin coating method, and dip coating method. A known coating method such as a method can be used. It is preferable to carry out a drying step at the time of coating. For the drying step, for example, a known drying device such as a hot air dryer or an infrared heater can be used.

<接着剤層:厚さ>
接着剤層1の厚さは、用途に応じて適宜設計可能であるが、0.5〜25[μm]の範囲であることが好ましく、より好ましくは、2〜10[μm]である。接着剤層1の厚さを、0.5[μm]以上とすることにより、配線回路基板等の部品への接着力を大きくすることができる。また、25[μm]とすることにより電磁波シールド性配線回路基板の屈曲性が良好になる。
<Adhesive layer: Thickness>
The thickness of the adhesive layer 1 can be appropriately designed according to the intended use, but is preferably in the range of 0.5 to 25 [μm], more preferably 2 to 10 [μm]. By setting the thickness of the adhesive layer 1 to 0.5 [μm] or more, the adhesive force to parts such as wiring circuit boards can be increased. Further, by setting it to 25 [μm], the flexibility of the electromagnetic wave shielding wiring circuit board is improved.

<絶縁層>
絶縁層3は、絶縁性樹脂組成物を成形した絶縁性シートであり、金属層2を保護する役割および表層の絶縁性を確保する役割を担う。絶縁性樹脂組成物は、熱可塑性樹脂または熱硬化性樹脂を使用することが好ましい。熱可塑性樹脂および熱硬化性樹脂としては、特に限定されないが、接着剤層1で説明した熱可塑性樹脂または硬化性樹脂を使用できる。なお、絶縁層3および接着剤層1に使用する熱可塑性樹脂、硬化性樹脂は、同一、または異なっていてもよい。
<Insulation layer>
The insulating layer 3 is an insulating sheet formed by molding an insulating resin composition, and plays a role of protecting the metal layer 2 and a role of ensuring the insulating property of the surface layer. As the insulating resin composition, it is preferable to use a thermoplastic resin or a thermosetting resin. The thermoplastic resin and the thermosetting resin are not particularly limited, but the thermoplastic resin or the curable resin described in the adhesive layer 1 can be used. The thermoplastic resin and the curable resin used for the insulating layer 3 and the adhesive layer 1 may be the same or different.

絶縁性樹脂組成物は、接着性樹脂組成物と同様の方法で形成することが出来る。 The insulating resin composition can be formed in the same manner as the adhesive resin composition.

また、絶縁層3は、ポリエステル、ポリカーボネート、ポリイミド、ポリフェニレンサルファイド等の絶縁性樹脂を成形したフィルムを使用することもできる。 Further, as the insulating layer 3, a film formed of an insulating resin such as polyester, polycarbonate, polyimide, or polyphenylene sulfide can also be used.

<絶縁層:厚さ>
絶縁層3の厚さは用途により変動し得るが、2〜15[μm]が好ましい。このような厚みとすることにより、電磁波シールドシート10の諸物性のバランスを取りやすくすることができる。
<Insulation layer: thickness>
The thickness of the insulating layer 3 may vary depending on the application, but is preferably 2 to 15 [μm]. With such a thickness, it is possible to easily balance various physical properties of the electromagnetic wave shield sheet 10.

<電磁波シールドシートの製造方法>
電磁波シールドシート10の製造方法は、特に限定されないが、一例として、前述の方法により製造された接着剤層1、金属層2及び絶縁層3とを貼り合わせる方法が例示できる。
<Manufacturing method of electromagnetic wave shield sheet>
The method for manufacturing the electromagnetic wave shield sheet 10 is not particularly limited, but as an example, a method of bonding the adhesive layer 1, the metal layer 2, and the insulating layer 3 manufactured by the above method can be exemplified.

図4及び図5は、実施形態1に係る電磁波シールドシート10の製造方法を例示した工程断面図であり、図4は、第1工程を示し、図5は、第2工程を示す。図4に示すように、基材5に絶縁層3を塗工する。絶縁層3としては、予め成形した絶縁性フィルムを用いてもよいし、剥離性シート等の基材5に絶縁性樹脂組成物を塗工することで絶縁層3を形成してもよい。次に、キャリア6付き金属層2を準備する。金属層2は、例えば、銅箔である。金属層2の表面の凹凸を所定のパラメータに加工する。例えば、金属層2の表面における展開長さ比RLrが、1〜1.5となるように加工する。 4 and 5 are process cross-sectional views illustrating the method for manufacturing the electromagnetic wave shield sheet 10 according to the first embodiment, FIG. 4 shows a first step, and FIG. 5 shows a second step. As shown in FIG. 4, the insulating layer 3 is applied to the base material 5. As the insulating layer 3, a preformed insulating film may be used, or the insulating layer 3 may be formed by applying an insulating resin composition to a base material 5 such as a peelable sheet. Next, the metal layer 2 with the carrier 6 is prepared. The metal layer 2 is, for example, a copper foil. The unevenness of the surface of the metal layer 2 is processed to a predetermined parameter. For example, the metal layer 2 is processed so that the developed length ratio RLr on the surface is 1 to 1.5.

次に、基材5に塗工された絶縁層3に、キャリア6付き金属層2の金属層2側を貼りつける。そして、基材5、絶縁層3及び金属層2の積層体からキャリア6を剥離する。なお、金属層2上に直接絶縁性樹脂組成物を塗工して絶縁層3を形成してもよい。 Next, the metal layer 2 side of the metal layer 2 with the carrier 6 is attached to the insulating layer 3 coated on the base material 5. Then, the carrier 6 is peeled off from the laminated body of the base material 5, the insulating layer 3, and the metal layer 2. The insulating layer 3 may be formed by directly coating the insulating resin composition on the metal layer 2.

次に、金属層2におけるキャリア6が剥離された方の表面の凹凸を所定のパラメータに加工する。例えば、金属層2の他方の表面における展開長さ比RLrを、1〜1.4となるように加工する。なお、平滑面を有するキャリア6を用い、金属層2をキャリア6に積層することで、所定の展開長さ比RLrを有する平滑面を金属層2に転写してもよい。 Next, the unevenness of the surface of the metal layer 2 on which the carrier 6 has been peeled off is processed to a predetermined parameter. For example, the unfolded length ratio RLr on the other surface of the metal layer 2 is processed to be 1 to 1.4. A carrier 6 having a smooth surface may be used, and the metal layer 2 may be laminated on the carrier 6 to transfer the smooth surface having a predetermined development length ratio RLr to the metal layer 2.

次に、図5に示すように、基材7に接着剤層1を塗工する。次に、基材7に塗工された接着剤層1に、基材5、絶縁層3及び金属層2の積層体の金属層2側を貼りつける。このようにして、金属層2の界面が所定の展開長さ比RLrを有する電磁波シールドシート10を製造することができる。電磁波シールドシート10を配線回路基板等の部品に使用する場合には、絶縁層3、金属層2及び接着剤層1の積層体から、基材7を剥離して、配線回路基板等のシールド対象部品に接着剤層1側を被着させる。被着後、基材5を剥離する。このようにして、電磁波シールドシート10を配線回路基板に用いることができる。 Next, as shown in FIG. 5, the adhesive layer 1 is applied to the base material 7. Next, the metal layer 2 side of the laminate of the base material 5, the insulating layer 3 and the metal layer 2 is attached to the adhesive layer 1 coated on the base material 7. In this way, the electromagnetic wave shield sheet 10 in which the interface of the metal layer 2 has a predetermined development length ratio RLr can be manufactured. When the electromagnetic wave shield sheet 10 is used for a component such as a wiring circuit board, the base material 7 is peeled off from the laminate of the insulating layer 3, the metal layer 2, and the adhesive layer 1 to be a shield target for the wiring circuit board or the like. The adhesive layer 1 side is adhered to the component. After adhesion, the base material 5 is peeled off. In this way, the electromagnetic wave shield sheet 10 can be used for the wiring circuit board.

上記のようにして製造された電磁波シールドシート10は、フレキシブルプリント配線板をはじめとする各種の配線回路基板に貼着せしめられて利用することができる。また、本実施形態に係る電磁波シールドシート10は、配線回路基板の他、各種電子機器、装置、器具等において広範に適用可能である。 The electromagnetic wave shield sheet 10 manufactured as described above can be used by being attached to various wiring circuit boards such as a flexible printed wiring board. Further, the electromagnetic wave shield sheet 10 according to the present embodiment can be widely applied to various electronic devices, devices, appliances and the like in addition to the wiring circuit board.

次に、本実施形態の効果を説明する。本実施形態の電磁波シールドシート10は、金属層2を備えている。そして、金属層2の膜厚を0.2〜10μmとすることにより、高い電磁波シールド性を有しつつ、良好な耐折性を有することができる。 Next, the effect of this embodiment will be described. The electromagnetic wave shield sheet 10 of the present embodiment includes a metal layer 2. By setting the film thickness of the metal layer 2 to 0.2 to 10 μm, it is possible to have good folding resistance while having high electromagnetic wave shielding properties.

また、金属層2における接着剤層1側の界面の展開長さ比RLrは、界面を流れる電流に影響を及ぼす。そして、接着剤層1側の界面の展開長さ比RLrを、1〜1.4とすることにより、接着剤層1側の界面直下に配置された配線回路基板の伝送特性を向上させることができる。 Further, the developed length ratio RLr of the interface on the adhesive layer 1 side of the metal layer 2 affects the current flowing through the interface. Then, by setting the developed length ratio RLr of the interface on the adhesive layer 1 side to 1 to 1.4, it is possible to improve the transmission characteristics of the wiring circuit board arranged immediately below the interface on the adhesive layer 1 side. it can.

さらに、金属層2における絶縁層3側の界面の展開長さ比RLrは、金属層2と絶縁層3との密着性及び耐折性に影響を及ぼす。例えば、絶縁層3側の界面の展開長さ比RLrが大きいと密着性が向上し、小さいと耐折性が向上する。絶縁層3側の界面の展開長さ比RLrを、1〜1.5とすることにより、密着性及び耐折性のバランスをとることができる。 Further, the developed length ratio RLr of the interface on the insulating layer 3 side of the metal layer 2 affects the adhesion and folding resistance between the metal layer 2 and the insulating layer 3. For example, when the developed length ratio RLr of the interface on the insulating layer 3 side is large, the adhesion is improved, and when it is small, the folding resistance is improved. By setting the developed length ratio RLr of the interface on the insulating layer 3 side to 1 to 1.5, it is possible to balance the adhesiveness and the folding resistance.

(実施形態2)
次に、実施形態2に係る電磁波シールド性配線回路基板を説明する。本実施形態の電磁波シールド性配線回路基板は、配線回路基板の少なくとも一方の面上に電磁波シールドシート10が接合されたものである。本実施形態の電磁波シールド性配線回路基板は、例えば、周波数が1[MHz]から20[GHz]の範囲の信号を伝送する電子機器、例えば、デジタルカメラや携帯電話等の電子機器に好適に使用できる。
(Embodiment 2)
Next, the electromagnetic wave shielded wiring circuit board according to the second embodiment will be described. The electromagnetic wave shielded wiring circuit board of the present embodiment is one in which the electromagnetic wave shield sheet 10 is bonded on at least one surface of the wiring circuit board. The electromagnetic wave shielded wiring circuit board of this embodiment is suitably used for, for example, an electronic device that transmits a signal having a frequency in the range of 1 [MHz] to 20 [GHz], for example, an electronic device such as a digital camera or a mobile phone. it can.

図6は、実施形態2に係る電磁波シールド性配線回路基板110を例示した断面図である。図6に示すように、電磁波シールド性配線回路基板110は、配線回路基板100、電磁波シールドシート10、カバー層301、カバー層302を備えている。電磁波シールド性配線回路基板110は、フィルム状の部材、厚さが薄い部材、可撓性の部材等を含むため、フレキシブル性を有する。電磁波シールド性配線回路基板110は、平らにした状態で一方向に延びている。 FIG. 6 is a cross-sectional view illustrating the electromagnetic wave shielded wiring circuit board 110 according to the second embodiment. As shown in FIG. 6, the electromagnetic wave shielding property wiring circuit board 110 includes a wiring circuit board 100, an electromagnetic wave shielding sheet 10, a cover layer 301, and a cover layer 302. The electromagnetic wave shielding wiring circuit board 110 has flexibility because it includes a film-like member, a thin member, a flexible member, and the like. The electromagnetic wave shielding wiring circuit board 110 extends in one direction in a flat state.

ここで、電磁波シールド性配線回路基板110の説明の便宜上、XYZ直交座標系を導入する。電磁波シールド性配線回路基板110を平らにした状態で、電磁波シールド性配線回路基板110が延びる方向をX軸方向とする。電磁波シールド性配線回路基板110の上面に直交する方向をZ軸方向とする。よって、電磁波シールド性配線回路基板110の厚さ方向はZ軸方向である。Y軸方向には、電磁波シールド性配線回路基板110の両端面が向いている。 Here, for convenience of explanation of the electromagnetic wave shielded wiring circuit board 110, an XYZ Cartesian coordinate system is introduced. With the electromagnetic wave shielding wiring circuit board 110 flattened, the direction in which the electromagnetic wave shielding wiring circuit board 110 extends is defined as the X-axis direction. The direction orthogonal to the upper surface of the electromagnetic wave shielding wiring circuit board 110 is defined as the Z-axis direction. Therefore, the thickness direction of the electromagnetic wave shielding wiring circuit board 110 is the Z-axis direction. Both end faces of the electromagnetic wave shielding wiring circuit board 110 face in the Y-axis direction.

配線回路基板100は、一方向、すなわち、X軸方向に延びている。配線回路基板100は、例えば、フレキシブル性を有する配線板である。配線回路基板100は、導電層11、導電層12、絶縁層21、絶縁層22、絶縁層23、信号回路30及びグランド回路40を含んでいる。配線回路基板100は、下方から、導電層11、絶縁層21、絶縁層22、絶縁層23及び導電層12の順で積層されている。絶縁層21と絶縁層22との間に、信号回路30及びグランド回路40が設けられている。なお、配線回路基板100において、各層の間に他の導電層または絶縁層が挿入されてもよい。配線回路基板100の上面102に平行な面内における一方向に直交する他方向、すなわち、Y軸方向において、両端面は対向している。 The wiring circuit board 100 extends in one direction, that is, in the X-axis direction. The wiring circuit board 100 is, for example, a flexible wiring board. The wiring circuit board 100 includes a conductive layer 11, a conductive layer 12, an insulating layer 21, an insulating layer 22, an insulating layer 23, a signal circuit 30, and a ground circuit 40. The wiring circuit board 100 is laminated in the order of the conductive layer 11, the insulating layer 21, the insulating layer 22, the insulating layer 23, and the conductive layer 12 from the bottom. A signal circuit 30 and a ground circuit 40 are provided between the insulating layer 21 and the insulating layer 22. In the wiring circuit board 100, another conductive layer or an insulating layer may be inserted between the layers. Both end faces face each other in the other direction orthogonal to one direction in the plane parallel to the upper surface 102 of the wiring circuit board 100, that is, in the Y-axis direction.

導電層11は、例えば、配線回路基板100の下面101に渡って形成されている。絶縁層21は、導電層11上に設けられている。信号回路30は、絶縁層21上に設けられている。信号回路30は、絶縁層21上において、X軸方向に延びた部分を有している。信号回路30は、複数本設けられてもよい。信号回路30は、例えば、信号回路31及び信号回路32を有してもよい。例えば、信号回路31は、信号回路32の−Y軸方向側に配置されている。 The conductive layer 11 is formed, for example, over the lower surface 101 of the wiring circuit board 100. The insulating layer 21 is provided on the conductive layer 11. The signal circuit 30 is provided on the insulating layer 21. The signal circuit 30 has a portion extending in the X-axis direction on the insulating layer 21. A plurality of signal circuits 30 may be provided. The signal circuit 30 may include, for example, a signal circuit 31 and a signal circuit 32. For example, the signal circuit 31 is arranged on the −Y axis direction side of the signal circuit 32.

グランド回路40は、絶縁層21上に設けられている。グランド回路40は、絶縁層21上において、X軸方向に延びた部分を有している。グランド回路40は、信号回路30と距離を空けて設けられている。グランド回路40は、信号回路30に沿ってX軸方向に延びた部分を有している。グランド回路40は、複数本設けられてもよい。グランド回路40は、例えば、グランド回路41及びグランド回路42を有してもよい。例えば、グランド回路41は、信号回路31の−Y軸方向側に配置されている。グランド回路42は、信号回路32の+Y軸方向側に配置されている。グランド回路41及びグランド回路42は、信号回路31及び32を+Y軸方向側及び−Y軸方向側の両側から挟むように設けられている。よって、信号回路30は、グランド回路41とグランド回路42との間に配置されている。 The ground circuit 40 is provided on the insulating layer 21. The ground circuit 40 has a portion extending in the X-axis direction on the insulating layer 21. The ground circuit 40 is provided at a distance from the signal circuit 30. The ground circuit 40 has a portion extending in the X-axis direction along the signal circuit 30. A plurality of ground circuits 40 may be provided. The ground circuit 40 may include, for example, a ground circuit 41 and a ground circuit 42. For example, the ground circuit 41 is arranged on the −Y axis direction side of the signal circuit 31. The ground circuit 42 is arranged on the + Y-axis direction side of the signal circuit 32. The ground circuit 41 and the ground circuit 42 are provided so as to sandwich the signal circuits 31 and 32 from both the + Y axis direction side and the −Y axis direction side. Therefore, the signal circuit 30 is arranged between the ground circuit 41 and the ground circuit 42.

絶縁層22は、絶縁層21、信号回路30及びグランド回路40上に設けられている。絶縁層22は、信号回路30及びグランド回路40を上方から覆うように、絶縁層21上に設けられている。絶縁層23は、絶縁層22上に設けられている。導電層12は、絶縁層23上に設けられている。 The insulating layer 22 is provided on the insulating layer 21, the signal circuit 30, and the ground circuit 40. The insulating layer 22 is provided on the insulating layer 21 so as to cover the signal circuit 30 and the ground circuit 40 from above. The insulating layer 23 is provided on the insulating layer 22. The conductive layer 12 is provided on the insulating layer 23.

配線回路基板100は、例えば、両面フレキシブル銅張積層板(以下、両面FCCLという。)及び片面フレキシブル銅張積層板(以下、片面FCCLという。)を用いて形成されてもよい。両面FCCLは、フィルム状の絶縁性基材層の両面に銅箔が形成されたものでる。片面FCCLは、フィルム状の絶縁性基材層の片面に銅箔が形成されたものでる。 The wiring circuit board 100 may be formed by using, for example, a double-sided flexible copper-clad laminate (hereinafter referred to as double-sided FCCL) and a single-sided flexible copper-clad laminate (hereinafter referred to as single-sided FCCL). The double-sided FCCL has copper foils formed on both sides of a film-like insulating base material layer. The single-sided FCCL has a copper foil formed on one side of a film-like insulating base material layer.

両面FCCLの一方の面の銅箔は、導電層11として用いられ、絶縁性基材層は、絶縁層21として用いられる。他方の面の銅箔は、パターニングされて、信号回路30及びグランド回路40として用いられる。また、片面FCCLの一方の面の銅箔は、導電層12として用いられ、絶縁性基材層は、絶縁層23として用いられる。両面FCCL及び片面FCCLを用いる場合には、以下のようにして、配線回路基板100を形成する。すなわち、両面FCCLにおける他方の面をパターニングすることにより、信号回路30及びグランド回路40を形成する。次に、両面FCCLのパターニングされた面に、片面FCCLの絶縁性基材層側を接着する。これにより、配線回路基板100が形成される。接着の際に用いられる絶縁性接着剤は、絶縁層22となる。 The copper foil on one side of the double-sided FCCL is used as the conductive layer 11, and the insulating base material layer is used as the insulating layer 21. The copper foil on the other side is patterned and used as the signal circuit 30 and the ground circuit 40. Further, the copper foil on one side of the one-sided FCCL is used as the conductive layer 12, and the insulating base material layer is used as the insulating layer 23. When double-sided FCCL and single-sided FCCL are used, the wiring circuit board 100 is formed as follows. That is, the signal circuit 30 and the ground circuit 40 are formed by patterning the other surface of the double-sided FCCL. Next, the insulating base material layer side of the single-sided FCCL is adhered to the patterned surface of the double-sided FCCL. As a result, the wiring circuit board 100 is formed. The insulating adhesive used for bonding is the insulating layer 22.

両面及び片面FCCLの絶縁性基材層は、ポリエステル、ポリカーボネート、ポリイミド、ポリフェニレンサルファイド、液晶ポリマーが好ましく、液晶ポリマーおよびポリイミドがより好ましい。これらの中でも高周波の信号を伝送するフレキシブルプリント配線板の用途を考慮すると、比誘電率および誘電正接が低い液晶ポリマーがさらに好ましい。これらのような絶縁性基材を備えることで、電磁波シールド性配線回路基板110は、高い耐熱性が得られる。 The insulating base layer of the double-sided and single-sided FCCL is preferably polyester, polycarbonate, polyimide, polyphenylene sulfide, or liquid crystal polymer, and more preferably liquid crystal polymer or polyimide. Among these, a liquid crystal polymer having a low relative permittivity and a low dielectric loss tangent is more preferable in consideration of the use of a flexible printed wiring board for transmitting a high frequency signal. By providing an insulating base material such as these, the electromagnetic wave shielding wiring circuit board 110 can obtain high heat resistance.

信号回路30は、電磁波シールド性配線回路基板110を介して接続された電子部材に電気信号を送る。グランド回路40は、アースを取るための接地電位に設定される。導電層11、導電層12、信号回路30及びグランド回路40に用いられる材料は、導電性であれば、銅箔に限らない。また、配線回路基板100は、両面FCCL及び片面FCCLを用いて形成されたものに限らない。例えば、導電層11、絶縁層21、信号回路30及びグランド回路40、絶縁層22、絶縁層23、並びに、導電層12を順に積層することにより形成してもよい。 The signal circuit 30 sends an electric signal to an electronic member connected via the electromagnetic wave shielding wiring circuit board 110. The ground circuit 40 is set to a ground potential for grounding. The material used for the conductive layer 11, the conductive layer 12, the signal circuit 30, and the ground circuit 40 is not limited to copper foil as long as it is conductive. Further, the wiring circuit board 100 is not limited to the one formed by using the double-sided FCCL and the single-sided FCCL. For example, the conductive layer 11, the insulating layer 21, the signal circuit 30, the ground circuit 40, the insulating layer 22, the insulating layer 23, and the conductive layer 12 may be laminated in this order.

導電層11、導電層12、信号回路30及びグランド回路40の厚さは、例えば、18[μm]である。絶縁層21及び絶縁層23の厚さは、例えば、50[μm]である。絶縁層22の厚さは、例えば、35[μm]である。なお、配線回路基板100に含まれた各層の厚さは、配線回路基板100がフレキシブルであれば、上述の厚さに限らず、1〜200[μm]程度でもよい。 The thickness of the conductive layer 11, the conductive layer 12, the signal circuit 30, and the ground circuit 40 is, for example, 18 [μm]. The thickness of the insulating layer 21 and the insulating layer 23 is, for example, 50 [μm]. The thickness of the insulating layer 22 is, for example, 35 [μm]. The thickness of each layer included in the wiring circuit board 100 is not limited to the above-mentioned thickness as long as the wiring circuit board 100 is flexible, and may be about 1 to 200 [μm].

絶縁性のカバー層301は、配線回路基板100の下方に設けられている。絶縁性のカバー層302は、配線回路基板100の上方に設けられている。カバー層301及び302は、配線回路基板100を覆い、外部環境から保護する絶縁材料である。導電層11及び12は、配線回路基板100の下面101及び上面102に渡って露出されているので、カバー層301及び302は、導電層11及び12を覆う。カバー層301及び302は、例えば、カバーレイ61及び絶縁性接着剤層62を含んでいる。カバーレイ61は、例えば、材料として、ポリイミド等の樹脂を含んでいる。絶縁性接着剤層62は、例えば、絶縁性の接着剤である。なお、カバー層301及び302は、カバーレイ61及び絶縁性接着剤層62を含む構成に限らず、熱硬化型もしくは紫外線硬化型のソルダーレジスト、微細加工に適した感光性カバーレイフィルム等でもよく、熱硬化性接着剤等でもよい。カバー層301及び302の厚さは、例えば、10〜100[μm]であり、好ましくは、例えば、60[μm]である。カバーレイ61の厚さは、例えば、25[μm]であり、絶縁性接着剤層62の厚さは、例えば、35[μm]である。 The insulating cover layer 301 is provided below the wiring circuit board 100. The insulating cover layer 302 is provided above the wiring circuit board 100. The cover layers 301 and 302 are insulating materials that cover the wiring circuit board 100 and protect it from the external environment. Since the conductive layers 11 and 12 are exposed over the lower surface 101 and the upper surface 102 of the wiring circuit board 100, the cover layers 301 and 302 cover the conductive layers 11 and 12. The cover layers 301 and 302 include, for example, a coverlay 61 and an insulating adhesive layer 62. The coverlay 61 contains, for example, a resin such as polyimide as a material. The insulating adhesive layer 62 is, for example, an insulating adhesive. The cover layers 301 and 302 are not limited to the configuration including the coverlay 61 and the insulating adhesive layer 62, and may be a thermosetting type or ultraviolet curable type solder resist, a photosensitive coverlay film suitable for fine processing, or the like. , Thermosetting adhesive or the like may be used. The thickness of the cover layers 301 and 302 is, for example, 10 to 100 [μm], preferably 60 [μm]. The thickness of the coverlay 61 is, for example, 25 [μm], and the thickness of the insulating adhesive layer 62 is, for example, 35 [μm].

カバー層301及び302は、絶縁性接着剤層62側を配線回路基板100に接着させている。カバー層301及び302には、貫通孔63が形成されている。貫通孔63は、カバーレイ61及び絶縁性接着剤層62を貫通している。貫通孔63の内部には、アースビア64が形成されている。よって、アースビア64は、カバー層301及び302を貫通する。 In the cover layers 301 and 302, the insulating adhesive layer 62 side is adhered to the wiring circuit board 100. Through holes 63 are formed in the cover layers 301 and 302. The through hole 63 penetrates the coverlay 61 and the insulating adhesive layer 62. An earth via 64 is formed inside the through hole 63. Therefore, the earth via 64 penetrates the cover layers 301 and 302.

電磁波シールドシート10a及び10bは、前述したように接着剤層1、金属層2及び絶縁層3を含んでいる。電磁波シールドシート10a及び10bをまとめて、電磁波シールドシート10ともいう。よって、電磁波シールドシート10は、配線回路基板100の下面101を覆う電磁波シールドシート10aと、上面102を覆う電磁波シールドシート10bと、を含んでいる。電磁波シールドシート10は、配線回路基板100をシールドする。 The electromagnetic wave shield sheets 10a and 10b include an adhesive layer 1, a metal layer 2, and an insulating layer 3 as described above. The electromagnetic wave shield sheets 10a and 10b are collectively referred to as an electromagnetic wave shield sheet 10. Therefore, the electromagnetic wave shield sheet 10 includes an electromagnetic wave shield sheet 10a that covers the lower surface 101 of the wiring circuit board 100, and an electromagnetic wave shield sheet 10b that covers the upper surface 102. The electromagnetic wave shield sheet 10 shields the wiring circuit board 100.

電磁波シールドシート10aは、配線回路基板100の下面101を接着剤層1側で覆う。したがって、接着剤層1側の面が配線回路基板100側の下面101に向いている。電磁波シールドシート10aは、配線回路基板100を覆い、カバー層301に接触している。よって、カバー層301は、配線回路基板100の下面101と、下面101を覆う電磁波シールドシート10aとの間に設けられている。電磁波シールドシート10aは、配線回路基板100の下面101を接着剤層1側で覆うとともに、配線回路基板100の、Y軸方向の両端面の少なくとも一部を、接着剤層1側で覆う。例えば、電磁波シールドシート10aは、配線回路基板100の導電層11、絶縁層21及び絶縁層22の両端面を覆う。したがって、電磁波シールドシート10aは、導電層11の両端面と接触する。また、電磁波シールドシート10aは、カバー層301の両端面を覆う。 The electromagnetic wave shield sheet 10a covers the lower surface 101 of the wiring circuit board 100 with the adhesive layer 1 side. Therefore, the surface on the adhesive layer 1 side faces the lower surface 101 on the wiring circuit board 100 side. The electromagnetic wave shield sheet 10a covers the wiring circuit board 100 and is in contact with the cover layer 301. Therefore, the cover layer 301 is provided between the lower surface 101 of the wiring circuit board 100 and the electromagnetic wave shield sheet 10a that covers the lower surface 101. The electromagnetic wave shield sheet 10a covers the lower surface 101 of the wiring circuit board 100 with the adhesive layer 1 side, and covers at least a part of both end faces of the wiring circuit board 100 in the Y-axis direction with the adhesive layer 1 side. For example, the electromagnetic wave shield sheet 10a covers both end faces of the conductive layer 11, the insulating layer 21, and the insulating layer 22 of the wiring circuit board 100. Therefore, the electromagnetic wave shield sheet 10a comes into contact with both end faces of the conductive layer 11. Further, the electromagnetic wave shield sheet 10a covers both end faces of the cover layer 301.

電磁波シールドシート10bは、配線回路基板100の上面102を接着剤層1側で覆う。したがって、接着剤層1側の面が配線回路基板100側の上面102に向いている。電磁波シールドシート10bは、配線回路基板100を覆い、カバー層302に接触している。よって、カバー層302は、配線回路基板100の上面102と、上面102を覆う電磁波シールドシート10bとの間に設けられている。電磁波シールドシート10bは、配線回路基板100の上面102を接着剤層1側で覆うとともに、配線回路基板100の、Y軸方向の両端面の少なくとも一部を、接着剤層1側で覆う。例えば、電磁波シールドシート10bは、配線回路基板100の導電層12、絶縁層23及び絶縁層22の両端面を覆う。したがって、電磁波シールドシート10bは、導電層12の両端面と接触する。また、電磁波シールドシート10bは、カバー層302の両端面を覆う。 The electromagnetic wave shield sheet 10b covers the upper surface 102 of the wiring circuit board 100 with the adhesive layer 1 side. Therefore, the surface on the adhesive layer 1 side faces the upper surface 102 on the wiring circuit board 100 side. The electromagnetic wave shield sheet 10b covers the wiring circuit board 100 and is in contact with the cover layer 302. Therefore, the cover layer 302 is provided between the upper surface 102 of the wiring circuit board 100 and the electromagnetic wave shield sheet 10b that covers the upper surface 102. The electromagnetic wave shield sheet 10b covers the upper surface 102 of the wiring circuit board 100 with the adhesive layer 1 side, and covers at least a part of both end faces of the wiring circuit board 100 in the Y-axis direction with the adhesive layer 1 side. For example, the electromagnetic wave shield sheet 10b covers both end faces of the conductive layer 12, the insulating layer 23, and the insulating layer 22 of the wiring circuit board 100. Therefore, the electromagnetic wave shield sheet 10b comes into contact with both end faces of the conductive layer 12. Further, the electromagnetic wave shield sheet 10b covers both end faces of the cover layer 302.

配線回路基板100の両端面、すなわち、端面103及び104は、導電層11から導電層12に渡って、接着剤層1に覆われている。配線回路基板100の両端面は、全面に渡って、電磁波シールドシート10a及び電磁波シールドシート10bの接着剤層1に覆われている。 Both end faces of the wiring circuit board 100, that is, the end faces 103 and 104 are covered with the adhesive layer 1 from the conductive layer 11 to the conductive layer 12. Both end faces of the wiring circuit board 100 are covered with the adhesive layer 1 of the electromagnetic wave shield sheet 10a and the electromagnetic wave shield sheet 10b over the entire surface.

なお、電磁波シールドシート10a及び10bが、配線回路基板100のY軸方向における両端面を覆う境界は、絶縁層22の両端面に限らない。例えば、電磁波シールドシート10aは、カバー層301及び導電層11の両端面を覆い、電磁波シールドシート10bは、カバー層302、導電層12、絶縁層23、絶縁層22、及び、絶縁層21の両端面を覆うというように、電磁波シールドシート10a及び10bの両端面における境界は、両端面のどこでもよい。 The boundary where the electromagnetic wave shield sheets 10a and 10b cover both end faces of the wiring circuit board 100 in the Y-axis direction is not limited to both end faces of the insulating layer 22. For example, the electromagnetic wave shield sheet 10a covers both ends of the cover layer 301 and the conductive layer 11, and the electromagnetic wave shield sheet 10b covers both ends of the cover layer 302, the conductive layer 12, the insulating layer 23, the insulating layer 22, and the insulating layer 21. The boundary between both end faces of the electromagnetic wave shield sheets 10a and 10b may be anywhere on both end faces, such as covering the faces.

電磁波シールドシート10a及び10bの接着剤層1は、信号回路30に沿ってX軸方向に延びるように両端面を覆ってもよい。また、接着剤層1は、信号回路30に沿って両端面の全面を覆ってもよい。電磁波シールドシート10a及び10bの接着剤層1は、配線回路基板100の両端面から外側のY軸方向に延びる部分を有してもよい。接着剤層1は、−Y軸方向側の端面103から−Y軸方向に延びる部分と、+Y軸方向側の端面104から+Y軸方向に延びる部分と、を有してもよい。 The adhesive layers 1 of the electromagnetic wave shield sheets 10a and 10b may cover both end faces so as to extend in the X-axis direction along the signal circuit 30. Further, the adhesive layer 1 may cover the entire surface of both end surfaces along the signal circuit 30. The adhesive layer 1 of the electromagnetic wave shield sheets 10a and 10b may have a portion extending from both end faces of the wiring circuit board 100 in the outer Y-axis direction. The adhesive layer 1 may have a portion extending in the −Y axis direction from the end surface 103 on the −Y axis direction side and a portion extending in the + Y axis direction from the end surface 104 on the + Y axis direction side.

カバー層301及び302を貫通するアースビア64は、接着剤層1と同じ材料を含んでいる。接着剤層1が導電性材料を含む場合には、接着剤層1の一部が、貫通孔63の内部に充填されることにより、アースビア64は、接着剤層1に含まれた導電性材料と同じ材料を含んでもよい。接着剤層1は、アースビア64を介して導電層11及び導電層12と接続されている。カバー層301及び302を貫通するアースビア64は、グランド回路40の直上に配置されてもよい。 The earth via 64 penetrating the cover layers 301 and 302 contains the same material as the adhesive layer 1. When the adhesive layer 1 contains a conductive material, a part of the adhesive layer 1 is filled inside the through hole 63, so that the earth via 64 is the conductive material contained in the adhesive layer 1. May contain the same material as. The adhesive layer 1 is connected to the conductive layer 11 and the conductive layer 12 via the earth via 64. The earth via 64 penetrating the cover layers 301 and 302 may be arranged directly above the ground circuit 40.

次に、実施形態2に係る電磁波シールド性配線回路基板110の製造方法を説明する。図7は、実施形態2に係る電磁波シールド性配線回路基板110の製造方法を例示したフローチャート図である。 Next, a method of manufacturing the electromagnetic wave shielding wiring circuit board 110 according to the second embodiment will be described. FIG. 7 is a flowchart illustrating a method of manufacturing the electromagnetic wave shielded wiring circuit board 110 according to the second embodiment.

図7のステップS11に示すように、まず、配線回路基板100を準備する。配線回路基板100は、導電層11と、導電層11上に設けられた絶縁層21と、絶縁層21上に設けられ、X軸方向に延びた部分を有する信号回路30と、絶縁層21及び信号回路30上に設けられた絶縁層22及び23と、絶縁層23上に設けられた導電層12と、を含んでいる。 As shown in step S11 of FIG. 7, first, the wiring circuit board 100 is prepared. The wiring circuit board 100 includes a conductive layer 11, an insulating layer 21 provided on the conductive layer 11, a signal circuit 30 provided on the insulating layer 21 and having a portion extending in the X-axis direction, an insulating layer 21 and the insulating layer 21. The insulating layers 22 and 23 provided on the signal circuit 30 and the conductive layer 12 provided on the insulating layer 23 are included.

次に、ステップS12に示すように、電磁波シールドシート10を準備する。なお、ステップS11とステップS12は順序が逆になってもよいし、同時でもよい。 Next, as shown in step S12, the electromagnetic wave shield sheet 10 is prepared. The order of steps S11 and S12 may be reversed or may be simultaneous.

次に、ステップS13に示すように、電磁波シールドシート10で配線回路基板100を覆う。具体的には、配線回路基板100の下面101を、絶縁性のカバー層301を介して、電磁波シールドシート10aの接着剤層1側で覆い、配線回路基板100の上面102を、絶縁性のカバー層302を介して、電磁波シールドシート10bの接着剤層1側で覆う。また、それとともに、配線回路基板100のY軸方向の両端面の少なくとも一部を、電磁波シールドシート10a及び10bの接着剤層1側で覆う。なお、カバー層302には、貫通孔63が設けられている。また、カバー層301にも、貫通孔63が設けられていることが望ましい。 Next, as shown in step S13, the wiring circuit board 100 is covered with the electromagnetic wave shield sheet 10. Specifically, the lower surface 101 of the wiring circuit board 100 is covered with the adhesive layer 1 side of the electromagnetic wave shield sheet 10a via the insulating cover layer 301, and the upper surface 102 of the wiring circuit board 100 is covered with the insulating cover. It is covered with the adhesive layer 1 side of the electromagnetic wave shielding sheet 10b via the layer 302. At the same time, at least a part of both end faces of the wiring circuit board 100 in the Y-axis direction is covered with the adhesive layer 1 side of the electromagnetic wave shield sheets 10a and 10b. The cover layer 302 is provided with a through hole 63. Further, it is desirable that the cover layer 301 is also provided with the through hole 63.

次に、ステップS14に示すように、プレスする。例えば、熱を加えて熱プレスする。具体的には、配線回路基板100及び配線回路基板100を覆う電磁波シールドシート10a及び10bを上下方向にプレスする。例えば、熱プレスは、温度150〜190[℃]程度、圧力1〜3[MPa]程度、時間1〜60[min]程度が好ましい。これにより、配線回路基板100、カバー層301及び302、並びに、電磁波シールドシート10a及び10bを圧着させる。この際に、貫通孔63に接着剤層1の一部を充填させる。なお、プレス時間が30min未満の場合、熱プレス後に30分以上、150〜190℃程度のオーブンキュアを行う事が好ましい。このようにして、電磁波シールド性配線回路基板110を製造することができる。 Next, as shown in step S14, pressing is performed. For example, heat is applied and heat pressed. Specifically, the electromagnetic wave shield sheets 10a and 10b covering the wiring circuit board 100 and the wiring circuit board 100 are pressed in the vertical direction. For example, the heat press preferably has a temperature of about 150 to 190 [° C.], a pressure of about 1 to 3 [MPa], and a time of about 1 to 60 [min]. As a result, the wiring circuit board 100, the cover layers 301 and 302, and the electromagnetic wave shield sheets 10a and 10b are crimped. At this time, the through hole 63 is filled with a part of the adhesive layer 1. When the pressing time is less than 30 minutes, it is preferable to perform oven curing at about 150 to 190 ° C. for 30 minutes or more after hot pressing. In this way, the electromagnetic wave shielded wiring circuit board 110 can be manufactured.

<別の実施形態>
次に、電磁波シールド性配線回路基板の別の例を説明する。図8は、実施形態2の別の例に係る電磁波シールド性配線回路基板210を例示した断面図である。図8に示すように、電磁波シールド性配線回路基板210は、配線回路基板200、電磁波シールドシート10、カバー層301、カバー層302を備えている。電磁波シールド性配線回路基板210は、前述の電磁波シールド性配線回路基板110と比べて、配線回路基板200の構成及び電磁波シールドシート10が一方側を覆っていることが異なっている。電磁波シールド性配線回路基板210も、フレキシブル性を有する。
<Another Embodiment>
Next, another example of the electromagnetic wave shielded wiring circuit board will be described. FIG. 8 is a cross-sectional view illustrating the electromagnetic wave shielded wiring circuit board 210 according to another example of the second embodiment. As shown in FIG. 8, the electromagnetic wave shielding property wiring circuit board 210 includes a wiring circuit board 200, an electromagnetic wave shielding sheet 10, a cover layer 301, and a cover layer 302. The electromagnetic wave shielded wiring circuit board 210 is different from the above-mentioned electromagnetic wave shielded wiring circuit board 110 in that the configuration of the wiring circuit board 200 and the electromagnetic wave shield sheet 10 cover one side. The electromagnetic wave shielded wiring circuit board 210 also has flexibility.

配線回路基板200は、導電層11、絶縁層21、配線50を含んでいる。導電層11は、例えば、配線回路基板100の下面101に渡って形成されている。絶縁層21は、導電層11上に設けられている。配線50は、絶縁層21上に設けられている。配線50は、絶縁層21上において、X軸方向に延びた部分を有している。配線50は、複数本設けられてもよい。複数本の配線50及び51は、Y軸方向に間隔を空けて配置されている。 The wiring circuit board 200 includes a conductive layer 11, an insulating layer 21, and wiring 50. The conductive layer 11 is formed, for example, over the lower surface 101 of the wiring circuit board 100. The insulating layer 21 is provided on the conductive layer 11. The wiring 50 is provided on the insulating layer 21. The wiring 50 has a portion extending in the X-axis direction on the insulating layer 21. A plurality of wirings 50 may be provided. The plurality of wires 50 and 51 are arranged at intervals in the Y-axis direction.

配線回路基板200は、例えば、両面FCCLを用いて形成されている。両面FCCLは、フィルム状の絶縁性基材層の両面に銅箔が形成されたものである。両面FCCLの一方の面の銅箔は、導電層11として用いられ、絶縁性基材層は、絶縁層21として用いられる。他方の面の銅箔は、パターニングされて、信号回路30及びグランド回路40となる配線50として用いられる。 The wiring circuit board 200 is formed by using, for example, double-sided FCCL. The double-sided FCCL has copper foils formed on both sides of a film-like insulating base material layer. The copper foil on one side of the double-sided FCCL is used as the conductive layer 11, and the insulating base material layer is used as the insulating layer 21. The copper foil on the other side is patterned and used as the wiring 50 which becomes the signal circuit 30 and the ground circuit 40.

絶縁性のカバー層301は、配線回路基板200の下方に設けられている。絶縁性のカバー層302は、配線回路基板200の上方に設けられている。カバー層301及び302は、配線回路基板200を覆い、外部環境から保護する絶縁材料である。カバー層301は、下方から配線回路基板200の導電層11を覆う。カバー層302は、上方から配線50を覆う。 The insulating cover layer 301 is provided below the wiring circuit board 200. The insulating cover layer 302 is provided above the wiring circuit board 200. The cover layers 301 and 302 are insulating materials that cover the wiring circuit board 200 and protect it from the external environment. The cover layer 301 covers the conductive layer 11 of the wiring circuit board 200 from below. The cover layer 302 covers the wiring 50 from above.

電磁波シールドシート10は、前述したように接着剤層1、金属層2及び絶縁層3を含んでいる。電磁波シールドシート10は、例えば、配線回路基板200の上面201側を覆う。電磁波シールドシート10は、配線回路基板200を覆い、カバー層302に接触している。よって、カバー層302は、配線回路基板200の上面201と、上面201を覆う電磁波シールドシート10との間に設けられている。 As described above, the electromagnetic wave shield sheet 10 includes the adhesive layer 1, the metal layer 2, and the insulating layer 3. The electromagnetic wave shield sheet 10 covers, for example, the upper surface 201 side of the wiring circuit board 200. The electromagnetic wave shield sheet 10 covers the wiring circuit board 200 and is in contact with the cover layer 302. Therefore, the cover layer 302 is provided between the upper surface 201 of the wiring circuit board 200 and the electromagnetic wave shield sheet 10 that covers the upper surface 201.

<実施例及び比較例>
次に、実施例及び比較例を説明する。
<Examples and Comparative Examples>
Next, Examples and Comparative Examples will be described.

(接着剤層の膜厚)
接着剤層1の膜厚は、電磁波シールドシート10を部品に加熱圧着した後の接着剤層1の厚みであり、以下の方法により測定した。まず、電磁波シールドシート10の接着剤層1の剥離性シートを剥がし、露出した接着剤層とポリイミドフィルム(東レ・デュポン社製「カプトン200EN」)を貼り合わせ、2MPa、150℃の条件で30分加熱圧着した。これを幅5mm・長さ5mm程度の大きさに切断した後、エポキシ樹脂(ペトロポキシ154、マルトー社製)をスライドガラス上に0.05g滴下し、電磁波シールドシート10を接着させ、スライドガラス/電磁波シールドシート10/ポリイミドフィルムの構成の積層体を得た。得られた積層体をクロスセクションポリッシャー(日本電子社製、SM−09010)を用いてポリイミドフィルム側からイオンビーム照射により切断加工して、加熱圧着後の電磁波シールドシート10の測定試料を得た。
(Film thickness of adhesive layer)
The film thickness of the adhesive layer 1 is the thickness of the adhesive layer 1 after the electromagnetic wave shield sheet 10 is heat-bonded to the parts, and was measured by the following method. First, the peelable sheet of the adhesive layer 1 of the electromagnetic wave shield sheet 10 is peeled off, and the exposed adhesive layer and the polyimide film (“Kapton 200EN” manufactured by Toray DuPont) are bonded together for 30 minutes at 2 MPa and 150 ° C. Heat crimped. After cutting this into a size of about 5 mm in width and 5 mm in length, 0.05 g of epoxy resin (Petropoxy 154, manufactured by Maruto) is dropped on a slide glass, and an electromagnetic wave shield sheet 10 is adhered to the slide glass / electromagnetic wave. A laminate having the structure of the shield sheet 10 / polyimide film was obtained. The obtained laminate was cut by ion beam irradiation from the polyimide film side using a cross section polisher (SM-09010 manufactured by JEOL Ltd.) to obtain a measurement sample of the electromagnetic wave shield sheet 10 after heat crimping.

得られた測定試料の断面をレーザーマイクロスコープ(キーエンス社製、VK−X100)を使用し、観察した拡大画像から接着層の厚みを測定した。倍率は、500〜2000倍とした。 The cross section of the obtained measurement sample was measured with a laser microscope (VK-X100 manufactured by KEYENCE CORPORATION), and the thickness of the adhesive layer was measured from the observed enlarged image. The magnification was 500 to 2000 times.

(伝送特性)
伝送特性について、両面に電磁波シールドシートを積層した、コプレーナ構造のフレキシブルプリント配線板を用いて評価した。コプレーナ構造のフレキシブルプリント配線板は、ポリイミドフィルム(厚さ12.5μm)と絶縁性接着剤層(厚さ15μm)とで構成されるカバーレイ「CISV1215(ニッカン工業社製)」と、厚さ25μmのポリイミドフィルムの両面に、厚さ12μmの圧延銅箔を積層した両面CCLからなる。そして、両面CCLの一方の銅箔面に、長さが10cmの2本の信号配線、およびグランド配線を形成し、もう一方の面の銅箔は、信号配線と重ならない箇所に、シールドフィルム、およびグランド配線と導通させる部位を形成し、それ以外をエッチングにより除去した。
尚、実施例1〜15および比較例1〜5においてグランド配線の幅は80μm、グランド配線の幅は1mm、グランド配線と信号配線の間の距離は1mmとした。
(Transmission characteristics)
The transmission characteristics were evaluated using a flexible printed wiring board having a coplanar structure in which electromagnetic wave shield sheets were laminated on both sides. The flexible printed wiring board with a copper structure has a coverlay "CISV1215 (manufactured by Nikkan Kogyo Co., Ltd.)" composed of a polyimide film (thickness 12.5 μm) and an insulating adhesive layer (thickness 15 μm), and a thickness of 25 μm. It is composed of a double-sided CCL in which a rolled copper foil having a thickness of 12 μm is laminated on both sides of the polyimide film of. Then, two signal wirings having a length of 10 cm and a ground wiring are formed on one copper foil surface of the double-sided CCL, and the copper foil on the other surface is a shield film at a place where it does not overlap with the signal wiring. A part to be electrically connected to the ground wiring was formed, and the other part was removed by etching.
In Examples 1 to 15 and Comparative Examples 1 to 5, the width of the ground wiring was 80 μm, the width of the ground wiring was 1 mm, and the distance between the ground wiring and the signal wiring was 1 mm.

2枚の電磁波シールドシートを用意し、電磁波シールドシートの接着層側の剥離性シートを剥離して露出した接着層を、コプレーナ構造のフレキシブルプリント配線板のカバーレイ側、および両面CCLのエッチング面に対して、150℃、30分間、2.0MPaの条件で圧着し、熱硬化させて積層体を得た。
伝送特性は、20GHzの高周波信号の伝送損失を測定することで評価した。
評価基準は以下の通りである。
優(Excellent:◎):14dB未満
良(Good、△):14dB以上、15dB未満
不適(Poor、×):15dB以上
Two electromagnetic wave shield sheets are prepared, and the adhesive layer exposed by peeling off the peelable sheet on the adhesive layer side of the electromagnetic wave shield sheet is applied to the coverlay side of the flexible printed wiring board of the coplanar structure and the etching surface of the double-sided CCL. On the other hand, it was pressure-bonded at 150 ° C. for 30 minutes at 2.0 MPa and heat-cured to obtain a laminate.
The transmission characteristics were evaluated by measuring the transmission loss of a high frequency signal of 20 GHz.
The evaluation criteria are as follows.
Excellent (◎): Less than 14 dB Good (Good, △): 14 dB or more, less than 15 dB Unsuitable (Poor, ×): 15 dB or more

(耐熱性)
耐熱性は、電磁波シールド性配線回路基板210の熱に対する影響から評価した。耐熱性は、電磁波シールドシートを被着した積層体を小型リフロー機(SOLSYS−62501RTP アントム社製)を使用してピーク温度を260℃にしてリフロー処理を行なった後の、外観変化の有無により評価した。耐熱性が高い電磁波シールドシートは、外観が変化しないが、耐熱性が低い電磁波シールドシートは、発泡や剥がれが発生する。
(Heat-resistant)
The heat resistance was evaluated from the influence on the heat of the electromagnetic wave shielding wiring circuit board 210. The heat resistance is evaluated by the presence or absence of a change in appearance after the laminate coated with the electromagnetic wave shield sheet is reflowed using a small reflow machine (manufactured by SOLSYS-62501RTP Antom) at a peak temperature of 260 ° C. did. The appearance of the electromagnetic wave shield sheet having high heat resistance does not change, but the electromagnetic wave shield sheet having low heat resistance causes foaming and peeling.

まず、電磁波シールドシートを幅15mm、長さ120mmの大きさに準備した。別途、電磁波シールドシートを貼り付ける被着体として、ポリイミドフィルム(厚さ12.5μm「カプトン50EN」 東レ・デュポン社製)とその両面に銅箔(厚さ12μm)を積層した両面2層CCLを元に、一方の銅箔にJIS C6471に基づく形状の配線を形成し、厚さ12.5μmのポリイミドフィルムと厚さ25μmの熱硬化性接着剤とで構成されるカバーレイ「CISV1225(ニッカン工業社製)」を両面に貼り合わせて両面プリント配線板を形成した。更に、電磁波シールドシートの接着層側の剥離性シートを剥離して露出した接着層を両面プリント配線板の配線を形成した側のカバーレイに対して、150℃、30分間、2.0MPaの条件で圧着し、熱硬化させて積層体を得た。得られた積層体を40℃、90%RHの雰囲気下で72時間放置した。その後、リフロー処理を行い、その外観を目視で観察し、発泡、浮き、剥がれ等の異常の有無を次の基準で評価した。
優(Excellent、◎):優れている。
良(Good、△):良い。
不適(Poor、×):不適である。
First, the electromagnetic wave shield sheet was prepared to have a width of 15 mm and a length of 120 mm. Separately, as an adherend to which the electromagnetic wave shield sheet is attached, a polyimide film (thickness 12.5 μm “Kapton 50EN” manufactured by Toray DuPont) and a double-sided two-layer CCL in which copper foil (thickness 12 μm) is laminated on both sides thereof. Originally, a coverlay "CISV1225 (Nikkan Kogyo Co., Ltd.)" composed of a polyimide film with a thickness of 12.5 μm and a thermosetting adhesive with a thickness of 25 μm is formed on one of the copper foils in a shape based on JIS C6471. ”Was formed on both sides to form a double-sided printed wiring board. Further, the adhesive layer exposed by peeling the peelable sheet on the adhesive layer side of the electromagnetic wave shield sheet is placed at 150 ° C. for 30 minutes at 2.0 MPa with respect to the coverlay on the side where the wiring of the double-sided printed wiring board is formed. It was crimped with and heat-cured to obtain a laminate. The obtained laminate was left at 40 ° C. and 90% RH for 72 hours. After that, a reflow treatment was performed, the appearance was visually observed, and the presence or absence of abnormalities such as foaming, floating, and peeling was evaluated according to the following criteria.
Excellent (◎): Excellent.
Good (△): Good.
Inappropriate (Poor, ×): Inappropriate.

(薬液耐性)
幅40mm・長さ40mmの電磁波シールドシートの接着層の剥離性シートを剥がし、露出した接着層と、幅50mm・長さ50mmカプトン500Hを150℃、2.0MPa、30分の条件で圧着し、熱硬化させて積層体を得た。得られた積層体の電磁波シールドシートの絶縁層側に、JISK5400に準じてクロスカットガイドを使用し、間隔が1mmの碁盤目を100個作成した。その後、溶剤型洗浄液「Zestoron FA+」(Zestoron社製)に20分浸漬させ、超音波洗浄機「UT−205HS」(SHARP社製)を用い出力100%に設定して、2分間超音波処理を行った後に、試料を取り出し蒸留水で洗浄した後乾燥させた。碁盤目部に粘着テープを強く圧着させ、テープの端を45°の角度で一気に引き剥がし、碁盤目の状態を下記の基準で判断した。
◎:どの格子の目も剥がれない。
〇:カットの交差点における塗膜の小さな剥がれ。明確に5%を上回らない。
△:塗膜がカットの線に沿って部分的、全面的に剥がれている。15%以上35%未満。×:塗膜がカットの線に沿って部分的、全面的に剥がれている。35%以上。
(Chemical resistance)
The peelable sheet of the adhesive layer of the electromagnetic wave shield sheet having a width of 40 mm and a length of 40 mm is peeled off, and the exposed adhesive layer and Kapton 500H having a width of 50 mm and a length of 50 mm are crimped under the conditions of 150 ° C., 2.0 MPa and 30 minutes. The laminate was obtained by thermosetting. On the insulating layer side of the electromagnetic wave shield sheet of the obtained laminate, a cross-cut guide was used according to JIS K5400, and 100 grids with an interval of 1 mm were prepared. After that, it is immersed in the solvent-based cleaning liquid "Zestron FA +" (manufactured by Zestron) for 20 minutes, and the output is set to 100% using the ultrasonic cleaner "UT-205HS" (manufactured by SHARP), and the ultrasonic treatment is performed for 2 minutes. After that, the sample was taken out, washed with distilled water, and then dried. The adhesive tape was strongly pressure-bonded to the grid portion, and the end of the tape was peeled off at a stretch at an angle of 45 °, and the state of the grid was judged according to the following criteria.
⊚: The eyes of any grid do not come off.
〇: Small peeling of the coating film at the intersection of cuts. Clearly not above 5%.
Δ: The coating film is partially or completely peeled off along the cut line. 15% or more and less than 35%. X: The coating film is partially or completely peeled off along the cut line. 35% or more.

(耐折性)
幅20mm・長さ100mmの電磁波シールドシートの接着層の剥離性シートを剥がし、露出した接着層と、幅20mm・長さ100mmカプトン500Hを150℃、2.0MPa、30分の条件で圧着し、熱硬化させて積層体を得た。得られた積層体の電磁波シールドシートが外側になるように180度折り曲げて、折り曲げ部位に1000gの錘を10秒間載せた後、折り曲げた箇所を元の平面状態に戻して、再び1000gの錘を10秒間載せ、これを折り曲げ回数を1回とした。電磁波シールドシートにクラックが発生したかどうかを(株)キーエンス製マイクロスコープ「VHX−900」で観察し、クラックが発生しないで折り曲げられた回数を評価した。
1000g荷重を掛けた折り曲げ部にクラックが発生までの折り曲げ回数をカウントした。評価基準は以下の通りである。
◎:10回以上。 極めて良好。
○:7回以上、10回未満。 良好
△:2回以上、7回未満。
×:2回未満。 実用不可。
(Fold resistance)
The peelable sheet of the adhesive layer of the electromagnetic wave shield sheet having a width of 20 mm and a length of 100 mm is peeled off, and the exposed adhesive layer and Kapton 500H having a width of 20 mm and a length of 100 mm are crimped under the conditions of 150 ° C., 2.0 MPa and 30 minutes. The laminate was obtained by thermosetting. The electromagnetic wave shield sheet of the obtained laminated body is bent 180 degrees so that it is on the outside, a weight of 1000 g is placed on the bent portion for 10 seconds, the bent portion is returned to the original flat state, and the weight of 1000 g is put back again. It was placed for 10 seconds, and the number of times of bending was set to 1. Whether or not cracks were generated in the electromagnetic wave shield sheet was observed with a KEYENCE microscope "VHX-900", and the number of times the electromagnetic wave was bent without cracks was evaluated.
The number of times of bending until a crack was generated in the bent portion to which a load of 1000 g was applied was counted. The evaluation criteria are as follows.
⊚: 10 times or more. Very good.
◯: 7 times or more and less than 10 times. Good Δ: 2 times or more, less than 7 times.
X: Less than 2 times. Not practical.

(経時後抵抗値)
幅20mm・長さ50mmの大きさの電磁波シールドシート10の接着剤層1の剥離性シートを剥がし、露出した接着剤層1を、別に作製したフレキシブルプリント配線板(厚み12.5μm)のポリイミドフィルム1上に、積層させる。フレキシブルプリント配線板は、厚み18μmの銅箔からなる、電気的に接続されていない配線50、および配線51が形成されており、回路50上に、面積20mm以下のスルーホールを有する厚み37.5μmの接着剤付きのポリイミドカバーフィルムが積層されている。両者を、150℃、2MPaの条件で30分間圧着処理を行い、測定試料を作製した。この測定試料の回路50と回路51間の抵抗値を三菱化学製「ロレスターGP」の4探針プローブを用いて測定し、以下の基準で初期値を評価した。()内の値は、スルーホールの断面積である。
(Resistance value after aging)
The peelable sheet of the adhesive layer 1 of the electromagnetic wave shield sheet 10 having a width of 20 mm and a length of 50 mm was peeled off, and the exposed adhesive layer 1 was separately prepared as a polyimide film of a flexible printed wiring board (thickness 12.5 μm). 1 Laminate on top. The flexible printed wiring board is formed of an electrically unconnected wiring 50 and a wiring 51 made of copper foil having a thickness of 18 μm, and has a through hole having an area of 20 mm 2 or less on the circuit 50. A polyimide cover film with a 5 μm adhesive is laminated. Both were pressure-bonded for 30 minutes at 150 ° C. and 2 MPa to prepare a measurement sample. The resistance value between the circuit 50 and the circuit 51 of this measurement sample was measured using a 4-probe probe of "Lorester GP" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, and the initial value was evaluated according to the following criteria. The value in parentheses is the cross-sectional area of the through hole.

前記の初期値の評価が終わった後の測定試料を、85℃相対湿度85%の雰囲気下で500時間静置した後、回路50と回路51間の抵抗値を三菱化学製「ロレスターGP」の4探針プローブを用いて測定し、経時後抵抗値とし、以下の基準で評価した。
◎:(500H後の抵抗値)/(初期値)≦2
○:2<(500H後の抵抗値)/(初期値)≦5
△:5<(500H後の抵抗値)/(初期値)≦10
×:(500H後の抵抗値)/(初期値)>10
After the evaluation of the initial value is completed, the measurement sample is allowed to stand for 500 hours in an atmosphere of 85 ° C. and 85% relative humidity, and then the resistance value between the circuit 50 and the circuit 51 is set to that of Mitsubishi Chemical's "Lorester GP". 4 Measured using a probe probe, the resistance value after aging was used, and the evaluation was made according to the following criteria.
⊚: (resistance value after 500H) / (initial value) ≦ 2
◯: 2 <(resistance value after 500H) / (initial value) ≤ 5
Δ: 5 <(resistance value after 500H) / (initial value) ≦ 10
X: (resistance value after 500H) / (initial value)> 10

図9〜図15は、実施形態に係る電磁波シールドシート10を用いた電磁波シールド性配線回路基板110、210の各実施例及び各比較例を例示した図である。図13〜15は、図9〜図12における実施例11〜15並びに比較例5を別の観点から示したものも含んでいる。図9〜図15に示すように、金属層2の接着剤層1側の展開長さ比RLrが1〜1.4であり、かつ、金属層2の絶縁層3側の展開長さ比RLrが1〜1.5の場合に、伝送特性は優れている。一方、接着剤層1側の展開長さ比RLrが1.6以上の場合には、伝送特性、耐折性は不適である。また、金属層2の絶縁層3側の展開長さ比RLrが1.5を超える場合には、耐折性は不適である。なお、比較例3〜5の金属層2で使用している銅箔は、電解銅箔(「MT18SD−H」(三井金属社製))である。 9 to 15 are diagrams illustrating each embodiment and each comparative example of the electromagnetic wave shielded wiring circuit boards 110 and 210 using the electromagnetic wave shield sheet 10 according to the embodiment. 13 to 15 also include those showing Examples 11 to 15 and Comparative Example 5 in FIGS. 9 to 12 from another viewpoint. As shown in FIGS. 9 to 15, the unfolded length ratio RLr of the metal layer 2 on the adhesive layer 1 side is 1 to 1.4, and the unfolded length ratio RLr of the metal layer 2 on the insulating layer 3 side. When is 1 to 1.5, the transmission characteristics are excellent. On the other hand, when the unfolded length ratio RLr on the adhesive layer 1 side is 1.6 or more, the transmission characteristics and the folding resistance are unsuitable. Further, when the unfolded length ratio RLr on the insulating layer 3 side of the metal layer 2 exceeds 1.5, the folding resistance is unsuitable. The copper foil used in the metal layers 2 of Comparative Examples 3 to 5 is an electrolytic copper foil (“MT18SD-H” (manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.)).

実施例1、2、4、5、7、11〜15に示すように、接着剤層1側の展開長さ比RLrが1.001〜1.11であり、かつ、絶縁層3側の展開長さ比RLrが1.03〜1.28の場合には、伝送特性、薬液耐性、耐折性に優れている。 As shown in Examples 1, 2, 4, 5, 7, 11 to 15, the unfolded length ratio RLr on the adhesive layer 1 side is 1.001 to 1.11 and the unfolded on the insulating layer 3 side. When the length ratio RLr is 1.03 to 1.28, the transmission characteristics, the chemical resistance, and the folding resistance are excellent.

開口部4に関しては、開口率0.1〜30[%]が好ましく、0.2〜16.0[%]である場合には、伝送特性、薬液耐性、耐折性、耐熱性に優れている。 Regarding the opening 4, the opening ratio is preferably 0.1 to 30 [%], and when the opening ratio is 0.2 to 16.0 [%], the transmission characteristics, chemical resistance, folding resistance, and heat resistance are excellent. There is.

図16(a)は、接着剤層1側の展開長さ比RLrと、評価結果との相関を例示したグラフであり、横軸は、展開長さ比RLrを示し、縦軸は、伝送特性の評価を示す。(b)は、接着剤層1側の表面粗さRaと、評価結果との相関を例示したグラフであり、横軸は、表面粗さRaを示し、縦軸は、伝送特性の評価を示す。(c)は、接着剤層1側の表面粗さRzと、評価結果との相関を例示したグラフであり、横軸は、表面粗さRzを示し、縦軸は、伝送特性の評価を示す。(b)及び(c)の表面粗さRa及びRzにおいて、実施例4〜7等の表面粗さRa及びRzが0.1より小さいものを、0.05と置き換えて示している。 FIG. 16A is a graph illustrating the correlation between the unfolded length ratio RLr on the adhesive layer 1 side and the evaluation result. The horizontal axis represents the unfolded length ratio RLr, and the vertical axis represents the transmission characteristic. The evaluation of is shown. (B) is a graph illustrating the correlation between the surface roughness Ra on the adhesive layer 1 side and the evaluation result, the horizontal axis represents the surface roughness Ra, and the vertical axis represents the evaluation of the transmission characteristics. .. (C) is a graph illustrating the correlation between the surface roughness Rz on the adhesive layer 1 side and the evaluation result, the horizontal axis represents the surface roughness Rz, and the vertical axis represents the evaluation of the transmission characteristics. .. In the surface roughness Ra and Rz of (b) and (c), those having surface roughness Ra and Rz smaller than 0.1 in Examples 4 to 7 and the like are shown by replacing with 0.05.

図16(a)に示すように、接着剤層1側の展開長さ比RLrは、評価結果と相関があり、1から小さくなるほど、評価が低下する。一方、図16(b)及び(c)に示すように、接着剤層1側の展開長さ比RLrは、評価結果と相関がない。よって、表面粗さRa及びRzは、伝送特性等との特性とは無関係であるものと考えられる。 As shown in FIG. 16A, the unfolded length ratio RLr on the adhesive layer 1 side has a correlation with the evaluation result, and the smaller the value from 1, the lower the evaluation. On the other hand, as shown in FIGS. 16B and 16C, the unfolded length ratio RLr on the adhesive layer 1 side has no correlation with the evaluation result. Therefore, it is considered that the surface roughness Ra and Rz have nothing to do with the characteristics such as the transmission characteristics.

次に、本実施形態の効果を、比較例と対比させながら説明する。本実施形態の電磁波シールド性配線回路基板110において、金属層2の接着剤層1側の界面の展開長さ比RLrは、1〜1.4である。これにより、伝送特性を向上させることができる。一方、比較例においては、金属層2の接着剤層1側の界面の展開長さ比RLrは、1.6以上である。その場合には、伝送特性を向上させることができない。 Next, the effect of this embodiment will be described in comparison with a comparative example. In the electromagnetic wave shielding wiring circuit board 110 of the present embodiment, the developed length ratio RLr of the interface on the adhesive layer 1 side of the metal layer 2 is 1 to 1.4. Thereby, the transmission characteristic can be improved. On the other hand, in the comparative example, the developed length ratio RLr of the interface of the metal layer 2 on the adhesive layer 1 side is 1.6 or more. In that case, the transmission characteristics cannot be improved.

本実施形態において、絶縁層3側の界面の展開長さ比RLrは、1〜1.5である。これにより、伝送特性を向上させることができる。また、絶縁層3側の界面の展開長さ比RLrを、1〜1.5とすることにより、密着性及び耐折性のバランスをとることができる。 In the present embodiment, the developed length ratio RLr of the interface on the insulating layer 3 side is 1 to 1.5. Thereby, the transmission characteristic can be improved. Further, by setting the developed length ratio RLr of the interface on the insulating layer 3 side to 1 to 1.5, it is possible to balance the adhesion and the folding resistance.

本実施形態では、金属層2の接着剤層1側の界面の展開長さ比RLrを、1〜1.4とし、絶縁層3側の展開長さ比RLrを、1〜1.5としているので、耐折性を向上させることができる。一方、比較例においては、耐折性を向上させることができない。例えば、比較例3乃至5の結果が示すように、金属層2の絶縁層3側の展開長さ比RLrが、2よりも大きい場合には、耐折性を向上させることができない。 In the present embodiment, the unfolded length ratio RLr of the interface on the adhesive layer 1 side of the metal layer 2 is 1 to 1.4, and the unfolded length ratio RLr on the insulating layer 3 side is 1 to 1.5. Therefore, the folding resistance can be improved. On the other hand, in the comparative example, the folding resistance cannot be improved. For example, as the results of Comparative Examples 3 to 5 show, when the development length ratio RLr of the metal layer 2 on the insulating layer 3 side is larger than 2, the folding resistance cannot be improved.

本実施形態では、金属層2の接着剤層1側の界面の展開長さ比RLrを、1〜1.4とし、絶縁層3側の展開長さ比RLrを、1〜1.5としているので、耐熱性及び耐酸性を向上させることができる。特に、金属層2に開口部4が設けられている場合には、耐熱性及び耐酸性は優れている。実施例1のように、開口部4がない場合に、耐熱性の評価結果が『良(Good、△)』にとどまるのは、金属層2に開口部がないことで、被着体であるFPCや接着剤層1より生じた水分・ガスが金属層2に遮蔽され、それが原因で膨張することが考えられる。 In the present embodiment, the unfolded length ratio RLr of the interface on the adhesive layer 1 side of the metal layer 2 is 1 to 1.4, and the unfolded length ratio RLr on the insulating layer 3 side is 1 to 1.5. Therefore, heat resistance and acid resistance can be improved. In particular, when the metal layer 2 is provided with the opening 4, the heat resistance and acid resistance are excellent. When there is no opening 4 as in the first embodiment, the heat resistance evaluation result remains “Good (Δ)” because the metal layer 2 has no opening, which is an adherend. It is conceivable that the water / gas generated from the FPC or the adhesive layer 1 is shielded by the metal layer 2 and expands due to this.

本実施形態では、経時後抵抗値の上昇を抑制することができる。経時後抵抗値の上昇を抑制する因子としては、金属層2による因子、接着剤層1による因子、配線回路基板100の構造による因子があげられる。 In the present embodiment, the increase in resistance value after aging can be suppressed. Factors that suppress the increase in resistance value after aging include factors due to the metal layer 2, factors due to the adhesive layer 1, and factors due to the structure of the wiring circuit board 100.

金属層2による因子は、開口率を、0.1%〜30%と小さくしている点である。開口率が大きいと経時後抵抗値が上昇するが、上記の範囲にしているので、経時後抵抗値の上昇を抑制することができる。また、接着剤層1側の界面の展開長さ比RLrを、1〜1.4としている点である。 The factor due to the metal layer 2 is that the aperture ratio is reduced to 0.1% to 30%. If the aperture ratio is large, the resistance value after aging increases, but since it is within the above range, the increase in resistance value after aging can be suppressed. Further, the development length ratio RLr of the interface on the adhesive layer 1 side is set to 1 to 1.4.

接着剤層1による因子は、接着剤層1の膜厚、フィラーの量、形状及び粒径を制御している点である。接着剤層1の膜厚を薄くすること、フィラーの量を多くすること、形状を球状にすること、粒径を大きくすることは、電磁波シールドシート10の積層方向の導通を向上させるので、これらを制御することにより、経時後抵抗値の上昇を抑制することができる。 The factor due to the adhesive layer 1 is that it controls the film thickness, the amount of the filler, the shape and the particle size of the adhesive layer 1. Reducing the film thickness of the adhesive layer 1, increasing the amount of filler, making the shape spherical, and increasing the particle size improve the continuity of the electromagnetic wave shield sheet 10 in the stacking direction. By controlling the above, it is possible to suppress an increase in the resistance value after a lapse of time.

配線回路基板100の構造による因子は、アースビア64である。アースビア64により、導電層11または12と、金属層2とを電気的に接続することができるので、経時後抵抗値の上昇を抑制することができる。本実施形態では、金属層2の接着剤層1側の界面の展開長さ比RLrを、1〜1.4とし、絶縁層3側の展開長さ比RLrを、1〜1.5としているので、アースビア64の径が小さい場合でも、経時後抵抗値の上昇を抑制することができる。一方、比較例5においては、アースビア64が形成されたとしても経時後抵抗値の上昇を抑制することができず、アースビア64の径が小さい場合には、経時後抵抗値は、不適(×)である。 The factor due to the structure of the wiring circuit board 100 is the earth via 64. Since the conductive layer 11 or 12 and the metal layer 2 can be electrically connected by the earth via 64, an increase in the resistance value after a lapse of time can be suppressed. In the present embodiment, the unfolded length ratio RLr of the interface on the adhesive layer 1 side of the metal layer 2 is 1 to 1.4, and the unfolded length ratio RLr on the insulating layer 3 side is 1 to 1.5. Therefore, even when the diameter of the earth via 64 is small, it is possible to suppress an increase in the resistance value after a lapse of time. On the other hand, in Comparative Example 5, even if the earth via 64 is formed, the increase in the resistance value after aging cannot be suppressed, and when the diameter of the earth via 64 is small, the resistance value after aging is inappropriate (×). Is.

また、実施例13のように、実施例14〜20に比べて、開口率が大きいと、伝送特性に影響はないが、アースビアの径のサイズによっては、経時後抵抗値の上昇を抑制しにくい傾向にある。 Further, as in Example 13, if the aperture ratio is larger than in Examples 14 to 20, the transmission characteristics are not affected, but it is difficult to suppress the increase in resistance value after aging depending on the diameter of the earth via. There is a tendency.

接着剤層1における導電フィラーに関しては、D95が接着剤層1の膜厚の2倍以上が好ましく、3倍以上がより好ましい。また、導電フィラーの添加量は、26PHR以上が好ましく、64PHR以上がより好ましい。導電フィラーの添加率は25%より大きいことが好ましく、39%より大きいことがより好ましい。 Regarding the conductive filler in the adhesive layer 1, D95 is preferably twice or more, more preferably three times or more the film thickness of the adhesive layer 1. The amount of the conductive filler added is preferably 26 PHR or more, more preferably 64 PHR or more. The addition rate of the conductive filler is preferably greater than 25%, more preferably greater than 39%.

以上、本発明の実施形態1〜2及び各実施例を説明したが、本発明は、その目的と利点を損なうことのない適宜の変形を含み、更に、上記の実施形態による限定は受けない。また、実施形態1〜2及び各実施例における構成は、適宜、組み合わせてもよい。 Although the first and second embodiments of the present invention and the respective embodiments have been described above, the present invention includes appropriate modifications that do not impair the purpose and advantages thereof, and is not limited by the above embodiments. Moreover, the configurations in Embodiments 1 and 2 and each Example may be combined as appropriate.

1 接着剤層
2 金属層
3 絶縁層
4 開口部
5 基材
6 キャリア
7 基材
10、10a、10b 電磁波シールドシート
11、12 導電層
21、22、23 絶縁層
30、31、32 信号回路
40、41、42 グランド回路
50、51 配線
61 カバーレイ
62 絶縁性接着剤層
63 貫通孔
64 アースビア
100、200 配線回路基板
101、201 下面
102 上面
103、104 端面
110、210 電磁波シールド性配線回路基板
301、302 カバー層
RLr 展開長さ比
1 Adhesive layer 2 Metal layer 3 Insulation layer 4 Opening 5 Base material 6 Carrier 7 Base material 10, 10a, 10b Electromagnetic wave shield sheet 11, 12 Conductive layers 21, 22, 23 Insulation layers 30, 31, 32 Signal circuit 40, 41, 42 Ground circuit 50, 51 Wiring 61 Coverlay 62 Insulating adhesive layer 63 Through hole 64 Earth via 100, 200 Wiring circuit board 101, 201 Bottom surface 102 Top surface 103, 104 End face 110, 210 Electromagnetic wave shielded wiring circuit board 301, 302 Cover layer RLr unfolded length ratio

Claims (8)

接着剤層と、
絶縁層と、
前記接着剤層及び前記絶縁層の間に配置された金属層と、
を備え、
前記金属層の膜厚は、0.2〜10[μm]であり、
前記金属層における前記接着剤層側の界面の展開長さ比RLrは、1〜1.4であり、
前記金属層における前記絶縁層側の界面の展開長さ比RLrは、1〜1.5である、
ことを特徴とする電磁波シールドシート。
With the adhesive layer,
Insulation layer and
A metal layer arranged between the adhesive layer and the insulating layer,
With
The film thickness of the metal layer is 0.2 to 10 [μm].
The development length ratio RLr of the interface on the adhesive layer side of the metal layer is 1 to 1.4.
The development length ratio RLr of the interface on the insulating layer side of the metal layer is 1 to 1.5.
An electromagnetic wave shield sheet characterized by this.
前記接着剤層側の界面の前記展開長さ比RLrは、前記絶縁層側の界面の前記展開長さ比RLrよりも小さい、
ことを特徴とする請求項1に記載の電磁波シールドシート。
The unfolded length ratio RLr of the interface on the adhesive layer side is smaller than the unfolded length ratio RLr of the interface on the insulating layer side.
The electromagnetic wave shield sheet according to claim 1.
前記金属層は、前記接着剤層側の界面から前記絶縁層側の界面まで貫通する複数の開口部を有し、開口率は、0.1〜30[%]である、
ことを特徴とする請求項1または2に記載の電磁波シールドシート。
The metal layer has a plurality of openings penetrating from the interface on the adhesive layer side to the interface on the insulating layer side, and the aperture ratio is 0.1 to 30 [%].
The electromagnetic wave shield sheet according to claim 1 or 2.
配線回路基板の少なくとも一方の面上に、請求項1〜3のいずれか1項に記載の電磁波シールドシートが接合された、
ことを特徴とする電磁波シールド性配線回路基板。
The electromagnetic wave shield sheet according to any one of claims 1 to 3 is bonded to at least one surface of the wiring circuit board.
An electromagnetic wave shielded wiring circuit board characterized by this.
一方向に延びた配線回路基板と、
前記配線回路基板の上面及び下面を、前記接着剤層側で覆うとともに、前記配線回路基板の、前記上面に平行な面内における前記一方向に直交する他方向の両端面の少なくとも一部を、前記接着剤層側で覆う請求項1〜3のいずれか一項に記載の電磁波シールドシートと、
前記下面と、前記下面を覆う前記接着剤層と、の間に設けられた絶縁性の第1カバー層と、
前記上面と、前記上面を覆う前記接着剤層と、の間に設けられた絶縁性の第2カバー層と、
を備え、
前記配線回路基板は、
第1導電層と、
前記第1導電層上に設けられた第1絶縁層と、
前記第1絶縁層上に設けられ、前記一方向に延びた部分を有する信号回路と、
前記第1絶縁層及び前記信号回路上に設けられた第2絶縁層と、
前記第2絶縁層上に設けられた第2導電層と、
を含み、
前記接着剤層は、導電性材料を含み、前記第2カバー層を貫通するアースビアを介して前記第2導電層と接続された、
ことを特徴とする電磁波シールド性配線回路基板。
A wiring circuit board that extends in one direction,
The upper surface and the lower surface of the wiring circuit board are covered with the adhesive layer side, and at least a part of both end faces of the wiring circuit board in the plane parallel to the upper surface in the other direction orthogonal to the upper surface is covered. The electromagnetic wave shield sheet according to any one of claims 1 to 3 covered with the adhesive layer side.
An insulating first cover layer provided between the lower surface and the adhesive layer covering the lower surface.
An insulating second cover layer provided between the upper surface and the adhesive layer covering the upper surface,
With
The wiring circuit board
With the first conductive layer
The first insulating layer provided on the first conductive layer and
A signal circuit provided on the first insulating layer and having a portion extending in one direction,
The first insulating layer and the second insulating layer provided on the signal circuit,
The second conductive layer provided on the second insulating layer and
Including
The adhesive layer contains a conductive material and is connected to the second conductive layer via an earth via that penetrates the second cover layer.
An electromagnetic wave shielded wiring circuit board characterized by this.
前記接着剤層は、前記第1カバー層を貫通するアースビアを介して前記第1導電層と接続された、
ことを特徴とする請求項5に記載の電磁波シールド性配線回路基板。
The adhesive layer was connected to the first conductive layer via an earth via penetrating the first cover layer.
The electromagnetic wave shielded wiring circuit board according to claim 5.
前記両端面は、前記第1導電層から前記第2導電層に渡って、前記接着剤層に覆われたことを特徴とする請求項5または6に記載の電磁波シールド性配線回路基板。 The electromagnetic wave shielding wiring circuit board according to claim 5 or 6, wherein both end faces are covered with the adhesive layer from the first conductive layer to the second conductive layer. 請求項4〜7のいずれか1項に記載の電磁波シールド性配線回路基板が接続された、
ことを特徴とする電子機器。
The electromagnetic wave shielding wiring circuit board according to any one of claims 4 to 7 is connected.
An electronic device characterized by that.
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