JP2020162341A - 分離器内蔵spd - Google Patents

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淳一 鈴木
健介 垣内
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健介 垣内
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Abstract

【課題】分離器として定格電流が小さい電流ヒューズを用いつつSPD故障時の短絡電流を安全に遮断することができ、しかも、回路構成の簡略化、装置全体の小型化を可能にした分離器内蔵SPDを提供する。【解決手段】雷サージ電流が流れる単一の電源線10に接続された電源側端子41と接地側端子42との間に、分離器として定格電流が小さい電流ヒューズ21とSPD本体との直列回路からなるSPDユニット331,332,……,33nを並列に接続してその全体を単一のケーシング3に収納する。ここで、SPD本体は、ギャップ31または金属酸化物バリスタ32により、あるいは、ギャップ31と金属酸化物バリスタ32との並列回路により構成する。【選択図】図1

Description

本発明は、電流ヒューズ等の分離器を内蔵した分離器内蔵SPD(サージ防護素子)に関するものである。
図2は、例えば、交流電源引込口の電源線と接地との間に接続される従来の分離器付きSPDの回路図であり、直撃雷電流に対応可能な、いわゆるクラスIのSPDを示している。
図2(a),(b)にそれぞれ示すSPD 3A,3Bは、ギャップ(ガス入り放電管またはアレスタ)31Aまたは金属酸化物バリスタ32Aのみから構成されており、図2(c),(d)にそれぞれ示す複合型のSPD 3C,3Dは、ギャップ31Aと金属酸化物バリスタ32Aとを並列または直列に接続して構成されている。なお、エネルギーの大きい直撃雷電流に対応できるように、ギャップ31Aには特殊構造を有するものが使用され、金属酸化物バリスタ32Aには面積が非常に大きい素子が使用されている。
この種のSPDの試験規格JIS C 5381−11(低圧配電システムに接続する低圧サージ防護デバイスの要求性能及び試験方法)によれば、短絡故障したSPD 3A〜3Dを電源線10から確実に切り離すため、SPD 3A〜3Dと電源線10との間にSPD製造業者が指定する分離器としての電流ヒューズ20を直列に接続して各種試験を実施する必要がある。
この場合の電流ヒューズは、クラスIのSPDが流せる最大の直撃雷電流として規定されたインパルス電流Iimpの通電時にも溶断しないことが要求されており、例えばIimpが25[kA]であるクラスIのSPDでは、通常、定格電流が350[A]程度の電流ヒューズ20が必要になる。
しかし、クラスIのSPDが接続される日本の低圧受電系統において、350[A]の電流ヒューズは定格電流が大き過ぎるため、ギャップ31Aや金属酸化物バリスタ32AからなるSPDの故障時に短絡電流が流れても溶断しない恐れがある。そこで、我が国においては、Iimpが25[kA]であるクラスIのSPDに直列接続される分離器として、一般に定格電流が125[A]の電流ヒューズを用いている。
しかしながら、定格電流が125[A]の電流ヒューズはIimpが10[kA]未満の性能しか持っていないため、SPDが25[kA]のIimpに対応可能であっても、電流ヒューズは10[kA]未満のIimpにしか対応できないことになる。
このため、10[kA]以上のIimpをSPDが流せるにも関わらず電流ヒューズが先に溶断してしまい、ギャップ31Aや金属酸化物バリスタ32AからなるSPDが回路から遮断されてしまう不都合があった。
ここで、図3は特許文献1に記載された分離器付きSPDの回路図である。
図3において、100は分離器付きSPD、106は電源側端子101と負荷側端子102との間に接続されたインダクタンス、104,105は熱容量が異なるバリスタ、107は、半田の溶融時にねじの復元力により導体板を開離させて電気的接続を遮断する分離器、103は接地側端子である。
この従来技術は、バリスタ104,105の何れかの異常発熱時に単一の分離器107を接地端子103から切り離してバリスタ104,105を保護するものであり、構造が簡単で小型の分離器付きSPDを実現可能としている。
また、図4は特許文献2に記載されたSPD切り離し装置の回路図である。
図4において、110は三相の電源線、111は負荷、121〜123はサージ専用の電流ヒューズ、124は遮断検知部、130はケースに収容されたSPD切り離し部、131は整流回路、132はコンデンサ、133は切り離しコイル部、134は接点機構、135はコイル駆動部、136は接点機構134の各相間に流れる事故電流やSPDの故障による漏洩電流を検出する電流センサ、150はSPD151〜153からなるSPD収納部である。
この従来技術では、比較的小さい事故電流や漏洩電流に対しては切り離しコイル部133及び接点機構134の動作によりSPD151〜153を電源線110から切り離し、過大サージ電流に対しては電流ヒューズ121〜123を溶断させてSPD151〜153を電源線110から切り離すようにして、電流の大きさに応じてSPD151〜153の切り離し機能を分担している。これにより、SPD151〜153の正常時における接点機構134の誤動作や電流ヒューズ121〜123が誤って溶断する恐れがなく、装置全体の信頼性を高めている。
更に、図5は特許文献3に記載されたサージ防護システムの回路図である。
図5において、161は、半田部材からなる切り離し機構162とバリスタ163との直列回路からなるサージ防護デバイス、160は接続線、164は検出部165及び表示部166を備え、接続線160と接地との間に接続されたサージ検出部、167は各部品を実装したサージ防護ユニット、200は負荷である。
この従来技術において、バリスタ163の正常時には、電源線110から侵入したサージ電流が切り離し機構162と短絡状態のバリスタ163とを介して接地側に流れる。また、バリスタ163が劣化して所定温度以上になると、切り離し機構162の半田部材が溶融することによってバリスタ163を回路から切り離すように動作している。
特許第6083570号公報(図1) 特許第5188853号公報(図1) 特許第6474230号公報(図1)
図2に示した従来技術において、前述したごとく、定格電流が350[A]の電流ヒューズでは定格電流が大き過ぎてSPDの短絡故障時に必要な短絡電流を流すことができず、電流ヒューズが溶断しない恐れがある。これに対し、定格電流が125[A]の電流ヒューズでは、インパルス電流Iimpに対するSPDの性能に比べて電流ヒューズの性能が低過ぎるため、必要な雷電流を流せないという問題がある。
また、図3に示した従来技術では、バリスタ104,105の温度が所定値以上になった場合に分離器107を溶融させる原理であるため、バリスタ104,105や分離器107の特性にばらつきがあると動作が安定しない。
更に、図4や図5に示した従来技術では、SPD切り離し部130やサージ防護ユニット167の構造が複雑であり、装置全体が大型化する等の問題がある。
そこで、本発明の解決課題は、分離器として定格電流が小さい電流ヒューズを用いつつSPD故障時の短絡電流を安全に遮断することができ、しかも、回路構成の簡略化、装置全体の小型化を可能にした分離器内蔵SPDを提供することにある。
上記課題を解決するため、請求項1に係る発明は、雷サージ電流が流れる単一の電源線に接続された電源側端子と接地側端子との間に、分離器としての電流ヒューズとSPD本体との直列回路を複数並列に接続してその全体を単一のケーシングに収納したことを特徴とする。
請求項2に係る発明は、請求項1に記載した分離器内蔵SPDにおいて、前記SPD本体をギャップによって構成したことを特徴とする。
請求項3に係る発明は、請求項1に記載した分離器内蔵SPDにおいて、前記SPD本体を金属酸化物バリスタによって構成したことを特徴とする。
請求項4に係る発明は、請求項1に記載した分離器内蔵SPDにおいて、前記SPD本体を、ギャップと金属酸化物バリスタとの並列回路によって構成したことを特徴とする。
請求項5に係る発明は、請求項1〜4の何れか1項における前記SPD本体と前記接地側端子との間に、ギャップを接続したことを特徴とする。
本発明によれば、分離器とSPD本体との直列回路からなるSPDユニットを複数、並列接続し、大きいインパルス電流をSPDユニットの並列接続回路に分流させて保護動作を行う。これにより、例えばクラスIのSPD本体が流せる最大の直撃雷電流として規定されたインパルス電流の通過時にも、例えば分離器として定格電流の小さい電流ヒューズが溶断しない分離器内蔵SPDを提供することができる。
また、図2の従来技術と比べて定格電流が小さい電流ヒューズを使用することにより、SPD本体の短絡故障時に電流ヒューズを溶断させてSPD本体を電源線から分離することができる。このため、SPD本体の短絡故障時に流れる短絡電流を早期に遮断することが可能であり、短絡電流が比較的小さい箇所においても早期かつ安全に短絡電流を遮断することができる。
更に、従来技術に比べて回路構成の簡略化、装置全体の小型化を実現することができ、取り扱いも容易である等の効果がある。
図1(a)は第1実施形態を示す回路図、図1(b)は第2実施形態を示す回路図である。 従来の分離器付きSPDの回路図である。 特許文献1に記載された分離器付きSPDの回路図である。 特許文献2に記載されたSPD切り離し装置の回路図である。 特許文献3に記載されたサージ防護システムの回路図である。
以下、図に沿って本発明の実施形態を説明する。
図1(a)は、第1実施形態に係る分離器内蔵SPDの回路図である。図示するように、この分離器内蔵SPDは、単一の電源線10に接続された電源側端子41と接地側端子42との間に接続されており、以下に述べる構成素子が単一のケーシング3に内蔵されている。なお、図示されていないが、電源線10には負荷が接続されている。
図1(a)において、電源側端子41と接地側端子42との間には、n個(nは複数)のSPDユニット33,33,……,33が並列接続されている。各SPDユニットの構成は同一であるため、ここでは、SPDユニット33を例に挙げてその構成を説明する。
SPDユニット33は、(A)電流ヒューズ21とギャップ31とを直列に接続した回路、(B)電流ヒューズ21と金属酸化物バリスタ32とを直列に接続した回路、(C)電流ヒューズ21と、ギャップ31及び金属酸化物バリスタ32の並列回路とを直列に接続した回路、によって構成されている。つまり、単一のSPDユニット33について見れば、回路構成上は、図2(a)または(b)または(c)と同一である。
ここで、ギャップ31、金属酸化物バリスタ32、またはギャップ31と金属酸化物バリスタ32との並列回路は、何れもSPD本体を構成している。
なお、電流ヒューズ21は、所定の大きさ以上の雷サージ電流が電源線10に流れた場合やギャップ31または金属酸化物バリスタ32の短絡故障時に、電源側端子41と接地側端子42との間に流れる電流により溶断し、ギャップ31または金属酸化物バリスタ32を電源線10から分離する分離器として動作する。
ギャップ31及び金属酸化物バリスタ32には、インパルス電流Iimpが例えば5[kA]程度の素子が用いられ、電流ヒューズ21にも、インパルス電流Iimpが例えば5[kA]程度であって、定格電流が25[A]または50[A]程度の素子が用いられる。
そして、個々のSPD本体の耐インパルス電流よりも更に大きいインパルス電流Iimpに耐えるために、定格電流が50[A]の電流ヒューズ21を使用した場合には、SPDユニット33,33,……,33を3個並列に接続し、定格電流が25[A]の電流ヒューズ21を使用した場合には、SPDユニット33,33,……,33を6個並列に接続して使用する。
この場合、各SPDユニット33,33,……,33は、例えば電流ヒューズ21とギャップ31の直列回路というように全ての回路構成を同一にし、各ユニット33,33,……,33における電流ヒューズ21の特性、ギャップ31の特性は揃っているものとする。なお、各SPDユニット33,33,……,33は、電流ヒューズ21と金属酸化物バリスタ32とを直列に接続しても良いし、電流ヒューズ21と、ギャップ31及び金属酸化物バリスタ32の並列回路とを直列に接続しても良いが、何れの場合も、全てのSPDユニット33,33,……,33における同一種類の素子の特性は揃っているものとする。
上記のように構成した本実施形態の分離器内蔵SPDによれば、大きいインパルス電流Iimpに対しては並列接続されたSPDユニット33,33,……,33に分流させて保護動作を行う。
また、ギャップ31または金属酸化物バリスタ32の短絡故障は負担の大きい一つのSPDユニットによって発生するため、当該ユニットの電流ヒューズ21を溶断させてギャップ31または金属酸化物バリスタ32を電源線10から分離する。本実施形態では、複数のSPDユニット33,33,……,33を並列に接続したことにより、従来のように定格電流が大きい(例えば125[A])電流ヒューズと比べて定格電流が小さい(例えば25[A])電流ヒューズ21を使用することが可能である。
これにより、ギャップ31または金属酸化物バリスタ32の短絡故障時に流れる短絡電流を早期に遮断することが可能であり、短絡電流が比較的小さい箇所においても早期かつ安全に短絡電流を遮断することができる。
更に、各SPDユニット33,33,……,33にそれぞれ電流ヒューズ21が内蔵されているため、交換や点検、保管に当たって取り扱いも容易である。
次に、図1(b)は本発明の第2実施形態に係る分離器内蔵SPDの回路図である。
この分離器内蔵SPDは、図2(d)に示した複合型のSPD 3Dに相当しており、SPDユニット33,33,……,33に直列にギャップ34が接続されている。
この第2実施形態のSPDユニット33,33,……,33も、第1実施形態における(A)〜(C)の何れかによって構成すれば良い。
3:ケーシング
10:電源線
21:電流ヒューズ(分離器)
31:ギャップ
32:金属酸化物バリスタ
33,33,……,33:SPDユニット
34:ギャップ
41:電源側端子
42:接地側端子

Claims (5)

  1. 雷サージ電流が流れる単一の電源線に接続された電源側端子と接地側端子との間に、分離器としての電流ヒューズとSPD本体との直列回路からなるSPDユニットを複数並列に接続してその全体を単一のケーシングに収納したことを特徴とする分離器内蔵SPD。
  2. 請求項1に記載した分離器内蔵SPDにおいて、
    前記SPD本体を、ギャップによって構成したことを特徴とする分離器内蔵SPD。
  3. 請求項1に記載した分離器内蔵SPDにおいて、
    前記SPD本体を、金属酸化物バリスタによって構成したことを特徴とする分離器内蔵SPD。
  4. 請求項1に記載した分離器内蔵SPDにおいて、
    前記SPD本体を、ギャップと金属酸化物バリスタとの並列回路によって構成したことを特徴とする分離器内蔵SPD。
  5. 請求項1〜4の何れか1項における前記SPD本体と前記接地側端子との間に、ギャップを接続したことを特徴とする分離器内蔵SPD。
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