JP2020125998A

JP2020125998A - 受光装置及び測距システム

Info

Publication number: JP2020125998A
Application number: JP2019018987A
Authority: JP
Inventors: 甲太檜山; Kouta Hiyama; 克行米沢; Katsuyuki Yonezawa
Original assignee: Sony Semiconductor Solutions Corp
Current assignee: Sony Semiconductor Solutions Corp
Priority date: 2019-02-05
Filing date: 2019-02-05
Publication date: 2020-08-20
Also published as: EP3923026A1; TWI759681B; WO2020162223A1; EP3923026A4; TW202100952A; US20220107420A1

Abstract

【課題】製造組立時等における受光部の光学的な位置ずれを補正することができる受光装置を提供する。【解決手段】画素アレイを有する受光部と、画素アレイに含まれる複数の画素に対して、アクティブ画素と非アクティブ画素を設定し、アクティブ画素として設定された画素から出力される信号を受光部から出力させる制御部とを備える。【選択図】図１

Description

本開示に係る技術（本技術）は、受光装置及びこの受光装置を備えた測距システムに関する。

直接光飛行時間（Direct Time of Flight: Direct ＴｏＦ）法を用いて計測する光飛行時間（ＴｏＦ）方式の測距システムが知られている（特許文献１参照。）。

特開２０１６−２１１８８１号公報

測距システムにおいては、製造組立時において受光部に光学的な位置ずれが発生した場合、位置ずれを補正することが求められる。特許文献１には、製造組立時における光学的な位置ずれを補正する対策や、複数の画素と時間計測部との間の具体的な回路構成については記載されていない。

本技術は、製造組立時等における受光部の光学的な位置ずれを補正することができる受光装置及びこの受光装置を備えた測距システムを提供することを目的とする。

本技術の一態様に係る受光装置は、画素アレイを有する受光部と、画素アレイに含まれる複数の画素に対して、アクティブ画素と非アクティブ画素を設定し、アクティブ画素として設定された画素から出力される信号を受光部から出力させる制御部とを備えることを要旨とする。

本技術の一態様に係る測距システムは、光を発する発光部と、光を反射した対象物からの反射光を受光する画素アレイを有する受光部と、画素アレイに含まれる複数の画素に対して、アクティブ画素と非アクティブ画素を設定し、アクティブ画素として設定された画素から出力される信号を受光部から出力させる制御部と、アクティブ画素から出力される信号に基づき、光源が光を発してから受光部で反射光を受光するまでの時間に応じた対象物までの距離を算出する測距処理部とを備えることを要旨とする。

図１は、本技術の第１実施形態に係る測距システムの一例を示すブロック図である。図２は、本技術の第１実施形態に係る測距システムの一例を示す概略図である。図３は、本技術の第１実施形態に係る受光装置の一部を示す概略図である。図４は、アクティブ画素を設定した画素アレイの一例を示す概略図である。図５Ａは、アクティブ画素の設定処理の一例を示す概略図である。図５Ｂは、図５Ａに引き続く、アクティブ画素の設定処理の一例を示す概略図である。図５Ｃは、図５Ｂに引き続く、アクティブ画素の設定処理の一例を示す概略図である。図５Ｄは、図５Ｃに引き続く、アクティブ画素の設定処理の一例を示す概略図である。図６Ａは、アクティブ画素を設定した画素アレイの他の一例を示す概略図である。図６Ｂは、アクティブ画素を設定した画素アレイの更に他の一例を示す概略図である。図７は、本技術の第１実施形態の比較例に係る選択部を示す概略図である。図８Ａは、本技術の第１実施形態に係る選択部の一例を示す概略図である。図８Ｂは、図８Ａに示した選択部の動作の一例を示す概略図である。図９Ａは、本技術の第１実施形態の第１変形例に係る選択部の一例を示す概略図である。図９Ｂは、本技術の第１実施形態の第２変形例に係る選択部の一例を示す概略図である。図１０は、本技術の第２実施形態に係るアクティブ画素の設定処理の一例を示す概略図である。図１１は、本技術の第２実施形態の比較例に係る選択部を示す概略図である。図１２Ａは、本技術の第２実施形態に係る選択部の一例を示す概略図である。図１２Ｂは、図１２Ａに示した選択部の動作の一例を示す概略図である。図１３は、本技術の第３実施形態に係るアクティブ画素の設定処理の一例を示す概略図である。図１４は、本技術の第３実施形態の比較例に係る選択部を示す概略図である。図１５Ａは、本技術の第３実施形態に係る選択部の一例を示す概略図である。図１５Ｂは、図１５Ａに示した選択部の動作の一例を示す概略図である。

以下において、図面を参照して本技術の第１〜第３実施形態を説明する。以下の説明で参照する。図面の記載において、同一又は類似の部分には同一又は類似の符号を付している。ただし、図面は模式的なものであり、厚みと平面寸法との関係、各層の厚みの比率等は現実のものとは異なることに留意すべきである。したがって、具体的な厚みや寸法は以下の説明を参酌して判断すべきものである。また、図面相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれていることは勿論である。なお、本明細書中に記載された効果はあくまで例示であって限定されるものでは無く、また他の効果があってもよい。

（第１実施形態）
本技術の第１実施形態に係る測距システムは、図１に示すように、測距用の光Ｌ１を出射する発光部１と、測距用の光Ｌ２を受光する受光部２と、測距システムを統括的に制御する制御部３と、測距に必要な処理を実行する測距処理部４と、測距処理部４からの出力信号を外部回路に伝送する通信インターフェース（ＩＦ）部８とを備える直接ＴｏＦ方式の測距センサである。本技術の第１実施形態に係る測距システムのうち、少なくとも受光部２及び制御部３を含んで第１実施形態に係る受光装置１０が構成される。第１実施形態に係る受光装置１０は、測距処理部４及び通信ＩＦ部８を更に含んでいてもよい。

発光部１と、受光部２と、制御部３と、測距処理部４と、通信ＩＦ部８とは、例えば、相補型金属酸化膜半導体（Complementary Metal Oxide Semiconductor：ＣＭＯＳ）、大規模集積回路（Large Scale Integration：ＬＳＩ）等のシステム・オン・チップ（System on a Chip：ＳｏＣ）の構成でモノリシックに一体的に構成してもよい。或いは、発光部１や受光部２等をそれぞれ別体のチップのＬＳＩとして構成してもよく、例えば発光部１を１チップ、受光部２を有する受光装置１０を１チップで構成してもよい。

発光部１は、図２に示すように、測距用の光Ｌ１を発する光源１１を有する。光Ｌ１としては、例えば、レーザ光を用いることができる。光源１１としては、例えば、端面発光型半導体レーザであってよく、面発光型半導体レーザであってよい。光源１１は、制御部３からのトリガパルスによって駆動される。トリガパルスは、所定の繰返周波数とパルス幅を有する矩形パルス信号等が使用可能である。発光部１は、光Ｌ１をラスタスキャンするためのスキャン機構を有する。図２では、スキャン機構として、エミッタレンズ１２、投光ミラー１３、及びマイクロミラー１４を含むミラースキャン型のスキャン機構を例示している。

マイクロミラー１４は、制御部３からの制御信号に応じて、光Ｌ１を反射する反射面の向きを変更する。光源１１が発した光Ｌ１は、エミッタレンズ１２、投光ミラー１３及びマイクロミラー１４を介して、マイクロミラー１４の反射面の向きに応じた方向に出射される。出射された光Ｌ１は対象物２０で反射し、反射した光（反射光）Ｌ２がマイクロミラー１４及び投光ミラー１３を介して、受光部２に入射される。対象物２０としては特に限定されず、例えば測距システムがモバイル機器用であれば、測距システムの周囲に存在する物体であってよい。また、測距システムが車載用であれば、測距システムを搭載した車両の周囲に存在する歩行者、自転車、車両等であってよい。また、発光部１は、メカニカルなスキャン機構を有さずに、対象物２０に向けて複数のドットパターンを照射するドットプロジェクタであってもよい。

受光部２は、レシーバレンズ１５及び画素アレイ１６を有する。画素アレイ１６は、２次元のマトリクス状に配列された複数の画素を有する。画素としては、例えば、受光した光に反応して電気信号を出力するシングル・フォトン・アバランシェ・ダイオード（single photon avalanche diode：ＳＰＡＤ）が使用可能である。受光部２は、マイクロミラー１４及び投光ミラー１３を介して入射された反射光Ｌ２を、レシーバレンズ１５で集光して、光Ｌ１のスキャン方向に応じた画素に受光させる。画素からの電気信号は測距処理部４に出力される。

図１に示した制御部３は、測距システムの動作を統括的に制御する。制御部３は、マイクロプロセッサにより構成される。制御部３は、所定の発光周期が経過するたびに、トリガパルスを光源１１及び時間計測部５に出力する。

測距処理部４は、光源１１が光Ｌ１を発したタイミングと、受光部２が反射光Ｌ２を受光したタイミングとに基づき、対象物２０までの距離を算出する。測距処理部４は、信号処理プロセッサにより構成することができる。測距処理部４は、時間計測部５と、ヒストグラム作成部６と、距離算出部７とを備える。

時間計測部５としては、例えば時間測定回路（Time-to-Digital Converter：ＴＤＣ）が使用可能である。時間計測部５は、制御部３からの光源１１の駆動用のトリガパルス及び受光部２からの電気パルス信号に基づき、光源１１が光Ｌ１を発してから画素が反射光Ｌ２を受光するまでの時間（到来時間）をデジタル値に変換する。デジタル値としては、例えば０〜２５５の範囲の数値を使用し得る。時間計測部５は、変換したデジタル値をヒストグラム作成部６に出力する。

ヒストグラム作成部６は、時間計測部５で変換された２進数（bin）ごとに累積してヒストグラムを作成する。ヒストグラムは、例えば、図示しないメモリ上に、ある種のデータ構造やテーブルとして保持される。ヒストグラムは画素ごとに作成される。ヒストグラム作成部６は、時間計測部５から出力されるデジタル値を受けるごとに、対応する２進数の値を増分して、ヒストグラムを更新する。ヒストグラム作成部６は、作成したヒストグラムを距離算出部７に出力する。

距離算出部７は、ヒストグラム作成部６で作成された各ヒストグラムを参照して、ヒストグラム中のピーク値（デジタル値）を検出し、検出したピーク値（デジタル値）に対応する到来時間から、対象物２０までの距離を算出する。すなわち、出射された光Ｌ１が対象物２０で反射したときの反射光Ｌ２が受光されたとすれば、到来時間は、対象物２０までの往復時間であるから、到来時間にｃ／２（ｃは光速）を乗算することにより、画素ごとに、対象物２０までの距離を算出することができる。そして、画素アレイ１６それぞれに対して算出された距離により、距離画像を得ることができる。距離画像に係るデータ（測距データ）は、通信ＩＦ部８に出力される。

通信ＩＦ部８は、測距処理部４で算出された測距データを外部に出力する。図示されていないが、本技術の第１実施形態に係る測距システムは、通信ＩＦ部８を介して、外部のホストＩＣと通信可能に構成されている。通信ＩＦ部８としては、例えば、モバイル・インダストリー・プロセッサー・インターフェイス（Mobile Industry Processor Interface：ＭＩＰＩ）に準拠したインタフェース回路であってもよく、シリアル・ペリフェラル・インターフェイス（Serial Peripheral Interface：ＳＰＩ）や集積回路間通信（Inter-Integrated Circuit：Ｉ^２Ｃ）であってもよく、これらのインタフェース回路のうちの幾つかを実装したものであってもよい。

本技術の第１実施形態に係る測距システムでは、制御部３が、受光部２の画素アレイ１６を構成する複数の画素に対して、アクティブ画素及び非アクティブ画素を設定する。制御部３は、画素アレイ１６上に複数の画素設定範囲を設定し、複数の画素設定範囲内でアクティブ画素をそれぞれ設定してもよい。この際、制御部３は、アクティブ画素の配置に自由度を持たせるため、複数の画素設定範囲の互いの一部が重複するように複数の画素設定範囲を設定してもよい。

例えば、製造組立時における光学的な位置ずれの補正等のために、制御部３が、受光部２の画素アレイ１６を構成する複数の画素に対して、反射光Ｌ２を適切に受光可能な画素をアクティブ画素を設定すると共に、アクティブ画素以外の画素を非アクティブ画素として設定する。製造組立時における光学的な位置ずれを補正するためのデータ（補正データ）は、例えば予め測定されて図示を省略したメモリに予め記憶されていてよい。制御部３は、メモリから補正データを読み出し、読み出した補正データに基づきアクティブ画素及び非アクティブ画素を設定してよい。

そして、制御部３が、アクティブ画素として設定された画素から出力される信号を受光部２から時間計測部５に出力させる。例えば、制御部３が、非アクティブ画素として設定された画素から出力させる信号は受光部２から時間計測部５に出力させずに、アクティブ画素として設定された画素から出力される信号のみを受光部２から時間計測部５に出力させてよい。

例えば図３に示すように、受光部２の画素アレイ１６が１２×１２の画素を有しており、この１２×１２の画素に対して５×５のアクティブ画素を設定する場合を考える。受光部２は選択部１７を有し、選択部１７の入力側は画素アレイ１６の各画素にそれぞれ接続され、且つ選択部１７のの出力側は時間計測部５に接続されている。選択部１７は、例えば、アクティブ画素として設定された５×５＝２５個の画素から出力された信号を、時間計測部５を構成する２５個の時間測定回路（ＴＤＣ）にそれぞれ出力することが可能である。

例えば、制御部３は、選択部１７に制御信号を出力することにより、アクティブ画素として設定された画素から出力される信号のみを選択させて、時間計測部５へ出力させる。なお、制御部３は、画素アレイ１６を構成する複数の画素に対しても制御信号を出力することにより、非アクティブ画素として設定された画素のみからは信号を出力させずに、アクティブ画素として設定された画素のみから信号を出力させるように制御してもよい。

制御部３は、例えば図４にドット状のハッチングで示すように、画素アレイ１６上のアドレス（Ｘ，Ｙ）＝（２，２），（２，４），（２，６），（２，８），（２，１０），（４，２），（４，４），（４，６），（４，８），（４，１０），（６，２），（６，４），（６，６），（６，８），（６，１０），（８，２），（８，４），（８，６），（８，８），（８，１０），（１０，２），（１０，４），（１０，６），（１０，８），（１０，１０）に互いに等間隔に位置する５×５＝２５個の画素をアクティブ画素Ｐａとして設定する。この結果、複数のアクティブ画素Ｐａ以外の画素が非アクティブ画素Ｐｂとして設定される。

ここで、図５Ａ〜図５Ｄを参照して、アクティブ画素Ｐａの設定処理の一例を説明する。まず、図５Ａに示すように、制御部３は、左上の８×８の画素領域を画素設定範囲Ａ１として設定すると共に、画素設定範囲Ａ１内のアドレス（２，２）の画素をアクティブ画素Ｐａに設定する。更に、図５Ｂに示すように、制御部３は、画素設定範囲Ａ１を水平方向（行方向）の右側に１画素シフトした８×８の画素領域を画素設定範囲Ａ２として設定すると共に、画素設定範囲Ａ２内のアドレス（２，４）の画素をアクティブ画素Ｐａとして設定する。ここで、アクティブ画素Ｐａの配置に自由度を持たせるために、画素設定範囲Ａ１，Ａ２の互いの一部が重複するように画素設定範囲Ａ１，Ａ２が設定されている。その後、図示を省略するが制御部３は更に、画素設定範囲Ａ２を右側に１画素ずつシフトした画素設定範囲を順次設定し、各画素設定範囲内のアドレス（２，６），（２，８），（２，１０）の画素をアクティブ画素Ｐａとしてそれぞれ順次設定する。

更に、図５Ｃに示すように、制御部３は、図５Ａに示した画素設定範囲Ａ１を垂直方向（列方向）の下側に１画素シフトした８×８の画素領域を画素設定範囲Ａ３として設定すると共に、画素設定範囲Ａ３内のアドレス（４，２）の画素をアクティブ画素Ｐａに設定する。図示を省略するが、同様に制御部３は、画素設定範囲Ａ３を右側に１画素ずつシフトした画素設定範囲を順次設定すると共に、各画素設定範囲内のアドレス（４，４），（４，６），（４，８），（４，１０）の画素をアクティブ画素Ｐａとして設定する。同様にして、画素設定範囲を水平方向及び垂直方向に順次シフトさせていき、画素設定範囲内のアドレス（６，２），（６，４），（６，６），（６，８），（６，１０），（８，２），（８，４），（８，６），（８，８），（８，１０），（１０，２），（１０，４），（１０，６），（１０，８）の画素をアクティブ画素Ｐａとして順次設定する。順次シフトした最後に、図５Ｄに示すように、制御部３は、右下の８×８の画素領域を画素設定範囲Ａ４として設定すると共に、画素設定範囲Ａ４内のアドレス（１０，１０）の画素をアクティブ画素Ｐａとして設定する。

なお、画素アレイ１６上の画素設定範囲として設定される範囲、画素設定範囲の数は図５Ａ〜図５Ｄの例示等に限定されない。また、画素設定範囲内で設定されるアクティブ画素Ｐａの位置も図５Ａ〜図５Ｄの例示等に限定されない。

例えば、制御部３は、図５Ａ〜図５Ｄで例示した、８×８の画素領域を１画素ずつシフトした画素設定範囲を用いて、図６Ａに示すように、図４ｂに示したアクティブ画素Ｐａを水平方向の右側に１画素ずつシフトさせたアクティブ画素Ｐａ（ドット状のハッチングで図示）を設定すると共に、アクティブ画素Ｐａ以外の画素を非アクティブ画素Ｐｂとして設定してもよい。また、制御部３は、図５Ａ〜図５Ｄで例示した、８×８の画素領域を１画素ずつシフトした画素設定範囲を用いて、図６Ｂに示すように、左上の５×５の画素を密にアクティブ画素Ｐａ（ドット状のハッチングで図示）として設定すると共に、アクティブ画素Ｐａ以外の画素を非アクティブ画素Ｐｂとして設定してもよい。

制御部３は、画素アレイ１６を構成する複数の画素に対して、アクティブ画素Ｐａ及び非アクティブ画素Ｐｂを一旦設定した後に、選択部１７に制御信号を出力することにより、アクティブ画素Ｐａ及び非アクティブ画素Ｐｂを切り替えてもよい。例えば、制御部３は、図４に示したアクティブ画素Ｐａ及び非アクティブ画素Ｐｂに設定した後、図６Ａに示したアクティブ画素Ｐａ及び非アクティブ画素Ｐｂに切り替えてもよい。

＜第１実施形態の比較例に係る選択部＞
次に、図３に示した第１実施形態に係る選択部１７の詳細な説明に先立ち、図７を参照して、第１実施形態の比較例に係る選択部１７ｘを説明する。図７では説明の便宜上、比較例に係る選択部１７ｘが、受光部２の画素アレイ１６中に定義される１３個の画素Ｐ０〜Ｐ１２と、６個の時間測定回路（ＴＤＣ）５０〜５５とを接続する場合を例示するが、画素Ｐ０〜Ｐ１２の数や時間測定回路５０〜５５の数はこれに限定されない。比較例に係る選択部１７ｘは、６個の時間測定回路（ＴＤＣ）５０〜５５に出力側がそれぞれ接続される６個の選択回路Ｍ０〜Ｍ５を有する。

選択回路Ｍ０は、８個の画素Ｐ０〜Ｐ７から出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して、時間測定回路５０に出力する。即ち、８個の画素Ｐ０〜Ｐ７が画素設定範囲として設定され、この画素設定範囲内の画素Ｐ０〜Ｐ７からアクティブ画素が設定されて、アクティブ画素から出力される信号が選択回路Ｍ０により選択される。選択回路Ｍ０は、１段目多重化装置（マルチプレクサ）Ｍ１０，Ｍ１１，Ｍ１２，Ｍ１３と、２段目多重化装置Ｍ２０，Ｍ２１と、３段目多重化装置Ｍ３０とを有する。１段目多重化装置Ｍ１０の入力側は画素Ｐ０，Ｐ１に接続され、１段目多重化装置Ｍ１０の出力側は２段目多重化装置Ｍ２０の入力側に接続されている。１段目多重化装置Ｍ１０は、画素Ｐ０から出力される信号と画素Ｐ１から出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して２段目多重化装置Ｍ２０へ出力する多重化処理を行う。

１段目多重化装置Ｍ１１の入力側は画素Ｐ２，Ｐ３に接続され、１段目多重化装置Ｍ１１の出力側は２段目多重化装置Ｍ２０の入力側に接続されている。１段目多重化装置Ｍ１１は、画素Ｐ２から出力される信号と画素Ｐ３から出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して２段目多重化装置Ｍ２０へ出力する多重化処理を行う。

また、１段目多重化装置Ｍ１２の入力側は画素Ｐ４，Ｐ５に接続され、１段目多重化装置Ｍ１２の出力側は２段目多重化装置Ｍ２１の入力側に接続されている。１段目多重化装置Ｍ１２は、画素Ｐ４から出力される信号と画素Ｐ５から出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して２段目多重化装置Ｍ２１へ出力する多重化処理を行う。

また、１段目多重化装置Ｍ１３の入力側は画素Ｐ６，Ｐ７に接続され、１段目多重化装置Ｍ１３の出力側は２段目多重化装置Ｍ２１の入力側に接続されている。１段目多重化装置Ｍ１３は、画素Ｐ６から出力される信号と画素Ｐ７から出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して２段目多重化装置Ｍ２１へ出力する多重化処理を行う。

また、２段目多重化装置Ｍ２０の入力側は１段目多重化装置Ｍ１０，Ｍ１１の出力側に接続され、２段目多重化装置Ｍ２０の出力側は３段目多重化装置Ｍ３０の入力側に接続されている。２段目多重化装置Ｍ２０は、１段目多重化装置Ｍ１０により１つ選択されて出力される信号と、１段目多重化装置Ｍ１１により１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して３段目多重化装置Ｍ３０へ出力する多重化処理を行う。

また、２段目多重化装置Ｍ２１の入力側は１段目多重化装置Ｍ１２，Ｍ１３の出力側に接続され、２段目多重化装置Ｍ２１の出力側は３段目多重化装置Ｍ３０の入力側に接続されている。２段目多重化装置Ｍ２１は、１段目多重化装置Ｍ１２により１つ選択されて出力される信号と、１段目多重化装置Ｍ１３により１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して３段目多重化装置Ｍ３０へ出力する多重化処理を行う。

また、３段目多重化装置Ｍ３０の入力側は２段目多重化装置Ｍ２０，Ｍ２１の出力側に接続され、３段目多重化装置Ｍ３０の出力側は時間測定回路５０に接続されている。３段目多重化装置Ｍ３０は、２段目多重化装置Ｍ２０により１つ選択されて出力される信号と、２段目多重化装置Ｍ２１により１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して時間測定回路５０へ出力する多重化処理を行う。

選択回路Ｍ１は、８個の画素Ｐ１〜Ｐ８から出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して、時間測定回路５１に出力する。即ち、８個の画素Ｐ１〜Ｐ８が画素設定範囲として設定され、この画素設定範囲内の画素Ｐ１〜Ｐ８からアクティブ画素が設定されて、アクティブ画素から出力される信号が選択回路Ｍ１により選択される。選択回路Ｍ１は、１段目多重化装置Ｍ１４，Ｍ１５，Ｍ１６，Ｍ１７と、２段目多重化装置Ｍ２２，Ｍ２３と、３段目多重化装置Ｍ３１とを有する。選択回路Ｍ１の回路構成は選択回路Ｍ０と同様であるので、重複した説明を省略する。

選択回路Ｍ２は、８個の画素Ｐ２〜Ｐ９から出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して、時間測定回路５２に出力する。即ち、８個の画素Ｐ２〜Ｐ９が画素設定範囲として設定され、この画素設定範囲内の画素Ｐ２〜Ｐ９からアクティブ画素が設定されて、アクティブ画素から出力される信号が選択回路Ｍ２により選択される。選択回路Ｍ２は、１段目多重化装置Ｍ１８，Ｍ１９，Ｍ１１０，Ｍ１１１と、２段目多重化装置Ｍ２４，Ｍ２５と、３段目多重化装置Ｍ３１とを有する。選択回路Ｍ２の回路構成は選択回路Ｍ０と同様であるので、重複した説明を省略する。

選択回路Ｍ３は、８個の画素Ｐ３〜Ｐ１０から出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して、時間測定回路５３に出力する。即ち、８個の画素Ｐ３〜Ｐ１０が画素設定範囲として設定され、この画素設定範囲内の画素Ｐ３〜Ｐ１０からアクティブ画素が設定されて、アクティブ画素から出力される信号が選択回路Ｍ３により選択される。選択回路Ｍ３は、１段目多重化装置Ｍ１１２，Ｍ１１３，Ｍ１１４，Ｍ１１５と、２段目多重化装置Ｍ２６，Ｍ２７と、３段目多重化装置Ｍ３３とを有する。選択回路Ｍ３の回路構成は選択回路Ｍ０と同様であるので、重複した説明を省略する。

選択回路Ｍ４は、８個の画素Ｐ４〜Ｐ１１から出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して、時間測定回路５４に出力する。即ち、８個の画素Ｐ４〜Ｐ１１が画素設定範囲として設定され、この画素設定範囲内の画素Ｐ４〜Ｐ１１からアクティブ画素が設定されて、アクティブ画素から出力される信号が選択回路Ｍ４により選択される。選択回路Ｍ４は、１段目多重化装置Ｍ１１６，Ｍ１１７，Ｍ１１８，Ｍ１１９と、２段目多重化装置Ｍ２８，Ｍ２９と、３段目多重化装置Ｍ３４とを有する。選択回路Ｍ４の回路構成は選択回路Ｍ０と同様であるので、重複した説明を省略する。

選択回路Ｍ５は、８個の画素Ｐ５〜Ｐ１２から出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して、時間測定回路５５に出力する。即ち、８個の画素Ｐ５〜Ｐ１２が画素設定範囲として設定され、この画素設定範囲内の画素Ｐ５〜Ｐ１２からアクティブ画素が設定されて、アクティブ画素から出力される信号が選択回路Ｍ５により選択される。選択回路Ｍ５は、１段目多重化装置Ｍ１２０，Ｍ１２１，Ｍ１２２，Ｍ１２３と、２段目多重化装置Ｍ２１０，Ｍ２１１と、３段目多重化装置Ｍ３５とを有する。選択回路Ｍ５の回路構成は選択回路Ｍ０と同様であるので、重複した説明を省略する。

図７に示した比較例に係る選択部１７ｘによれば、選択回路Ｍ０〜Ｍ５が、画素Ｐ０〜Ｐ１２のうち、アクティブ画素として設定された画素から出力される信号をそれぞれ選択して、時間測定回路５０〜５５にそれぞれ出力することができる。しかし、比較例に係る選択部１７ｘでは、アクティブ画素の配置に自由度を持たせるために、アクティブ画素の画素設定範囲を互いに重複するように、選択回路Ｍ０〜Ｍ５をそれぞれ７個の多重化装置で構成し、全体で４２個の多重化装置が必要となる。このため、回路規模が増大し、信号経路の延長に伴い画素間のタイミングスキューが増加し易くなる。

＜第１実施形態に係る選択部＞
これに対して、図８Ａに本技術の第１実施形態に係る選択部１７を例示する。図８Ａでは、図７に示した比較例に係る選択部１７ｘと同様に、第１実施形態に係る選択部１７が、受光部２の画素アレイ１６中に定義される１３個の画素Ｐ０〜Ｐ１２と、６個の時間測定回路（ＴＤＣ）５０〜５５とを接続する場合を例示する。

本技術の第１実施形態に係る選択部１７は、１段目多重化装置Ｍ１０，Ｍ１１，Ｍ１２，Ｍ１３，Ｍ１４，Ｍ１５，Ｍ１６，Ｍ１７，Ｍ１８，Ｍ１９，Ｍ１１０，Ｍ１１１と、２段目多重化装置Ｍ２０，Ｍ２１，Ｍ２２，Ｍ２３，Ｍ２４，Ｍ２５，Ｍ２６，Ｍ２７，Ｍ２８，Ｍ２９と、３段目多重化装置Ｍ３０，Ｍ３１，Ｍ３２，Ｍ３３，Ｍ３４，Ｍ３５とを備える。１段目多重化装置Ｍ１０〜Ｍ１１１、２段目多重化装置Ｍ２０〜Ｍ２９、３段目多重化装置Ｍ３０〜Ｍ３５のそれぞれは図１に示した制御部３に接続され、制御部３からの制御信号に応じて動作する。

１段目多重化装置Ｍ１０の入力側は画素Ｐ０，Ｐ１に接続され、１段目多重化装置Ｍ１０の出力側は２段目多重化装置Ｍ２０に接続されている。１段目多重化装置Ｍ１０は、画素Ｐ０から出力される信号と画素Ｐ１から出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して２段目多重化装置Ｍ２０へ出力する多重化処理を行う。

また、１段目多重化装置Ｍ１１の入力側は画素Ｐ１，Ｐ２に接続され、１段目多重化装置Ｍ１１の出力側は２段目多重化装置Ｍ２１に接続されている。１段目多重化装置Ｍ１１は、画素Ｐ１から出力される信号と画素Ｐ２から出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して２段目多重化装置Ｍ２１へ出力する多重化処理を行う。

また、１段目多重化装置Ｍ１２の入力側は画素Ｐ２，Ｐ３に接続され、１段目多重化装置Ｍ１２の出力側は２段目多重化装置Ｍ２０，Ｍ２２に共通に接続されている。１段目多重化装置Ｍ１２は、画素Ｐ２から出力される信号と画素Ｐ３から出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して２段目多重化装置Ｍ２０，Ｍ２２へ出力する多重化処理を行う。

また、１段目多重化装置Ｍ１３の入力側は画素Ｐ３，Ｐ４に接続され、１段目多重化装置Ｍ１３の出力側は２段目多重化装置Ｍ２１，Ｍ２３に共通に接続されている。１段目多重化装置Ｍ１３は、画素Ｐ３から出力される信号と画素Ｐ４から出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して２段目多重化装置Ｍ２１，Ｍ２３へ出力する多重化処理を行う。

また、１段目多重化装置Ｍ１４の入力側は画素Ｐ４，Ｐ５に接続され、１段目多重化装置Ｍ１４の出力側は２段目多重化装置Ｍ２２，Ｍ２４に共通に接続されている。１段目多重化装置Ｍ１４は、画素Ｐ４から出力される信号と画素Ｐ５から出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して２段目多重化装置Ｍ２２，Ｍ２４へ出力する多重化処理を行う。１段目多重化装置Ｍ１５〜Ｍ１１１の回路構成は、１段目多重化装置Ｍ１０〜Ｍ１４と同様であるので、重複した説明を省略する。

２段目多重化装置Ｍ２０の入力側は１段目多重化装置Ｍ１０，Ｍ１２に接続され、２段目多重化装置Ｍ２０の出力側は３段目多重化装置Ｍ３０に接続されている。２段目多重化装置Ｍ２０は、１段目多重化装置Ｍ１０により１つ選択されて出力される信号と、１段目多重化装置Ｍ１２により１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して３段目多重化装置Ｍ３０へ出力する多重化処理を行う。

また、２段目多重化装置Ｍ２１の入力側は１段目多重化装置Ｍ１１，Ｍ１３に接続され、２段目多重化装置Ｍ２１の出力側は３段目多重化装置Ｍ３１に接続されている。２段目多重化装置Ｍ２１は、１段目多重化装置Ｍ１１により１つ選択されて出力される信号と、１段目多重化装置Ｍ１３により１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して３段目多重化装置Ｍ３１へ出力する多重化処理を行う。

また、２段目多重化装置Ｍ２２の入力側は１段目多重化装置Ｍ１２，Ｍ１４に接続され、２段目多重化装置Ｍ２２の出力側は３段目多重化装置Ｍ３２に接続されている。２段目多重化装置Ｍ２２は、１段目多重化装置Ｍ１２により１つ選択されて出力される信号と、１段目多重化装置Ｍ１４により１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して３段目多重化装置Ｍ３２へ出力する多重化処理を行う。

また、２段目多重化装置Ｍ２３の入力側は１段目多重化装置Ｍ１３，Ｍ１５に接続され、２段目多重化装置Ｍ２３の出力側は３段目多重化装置Ｍ３３に接続されている。２段目多重化装置Ｍ２２は、１段目多重化装置Ｍ１３により１つ選択されて出力される信号と、１段目多重化装置Ｍ１５により１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して３段目多重化装置Ｍ３３へ出力する多重化処理を行う。

また、２段目多重化装置Ｍ２４の入力側は１段目多重化装置Ｍ１４，Ｍ１６に接続され、２段目多重化装置Ｍ２４の出力側は３段目多重化装置Ｍ３０，Ｍ３４に共通に接続されている。２段目多重化装置Ｍ２４は、１段目多重化装置Ｍ１４により１つ選択されて出力される信号と、１段目多重化装置Ｍ１６により１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して３段目多重化装置Ｍ３０，３４へ出力する多重化処理を行う。２段目多重化装置Ｍ２５〜Ｍ２９の回路構成は、２段目多重化装置Ｍ２０〜Ｍ２４と同様であるので、重複した説明を省略する。

３段目多重化装置Ｍ３０の入力側は２段目多重化装置Ｍ２０，Ｍ２４に接続され、３段目多重化装置Ｍ３０の出力側は時間測定回路５０に接続されている。３段目多重化装置Ｍ３０は、２段目多重化装置Ｍ２０により１つ選択されて出力される信号と、２段目多重化装置Ｍ２４により１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して時間測定回路５０へ出力する多重化処理を行う。

また、３段目多重化装置Ｍ３１の入力側は２段目多重化装置Ｍ２１，Ｍ２５に接続され、３段目多重化装置Ｍ３１の出力側は時間測定回路５１に接続されている。３段目多重化装置Ｍ３１は、２段目多重化装置Ｍ２１により１つ選択されて出力される信号と、２段目多重化装置Ｍ２５により１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して時間測定回路５１へ出力する多重化処理を行う。

また、３段目多重化装置Ｍ３２の入力側は２段目多重化装置Ｍ２２，Ｍ２６に接続され、３段目多重化装置Ｍ３２の出力側は時間測定回路５２に接続されている。３段目多重化装置Ｍ３２は、２段目多重化装置Ｍ２２により１つ選択されて出力される信号と、２段目多重化装置Ｍ２６により１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して時間測定回路５２へ出力する多重化処理を行う。３段目多重化装置Ｍ３３〜Ｍ３５の回路構成は、３段目多重化装置Ｍ３０〜Ｍ３２と同様であるので、重複した説明を省略する。

本技術の第１実施形態に係る選択部１７では、図７に示した比較例に係る選択部１７ｘが対象とする画素設定範囲が重複する多重化装置を共有化している。即ち、図７に示した比較例に係る選択部１７ｘの２つの１段目多重化装置Ｍ１１，Ｍ１８を共有化して、図８Ａに示した第１実施形態に係る選択部１７の単一の１段目多重化装置Ｍ１２としている。また、図７に示した比較例に係る選択部１７ｘの２つの１段目多重化装置Ｍ１５，Ｍ１１２を共有化して、図８Ａに示した第１実施形態に係る選択部１７の単一の１段目多重化装置Ｍ１３としている。

また、図７に示した比較例に係る選択部１７ｘの３つの１段目多重化装置Ｍ１２，Ｍ１９，Ｍ１１６を共有化して、図８Ａに示した第１実施形態に係る選択部１７の単一の１段目多重化装置Ｍ１４としている。また、図７に示した比較例に係る選択部１７ｘの３つの１段目多重化装置Ｍ１６，Ｍ１１３，Ｍ１２０を共有化して、図８Ａに示した第１実施形態に係る選択部１７の単一の１段目多重化装置Ｍ１５としている。また、図７に示した比較例に係る選択部１７ｘの３つの１段目多重化装置Ｍ１３，Ｍ１１０，Ｍ１１７を共有化して、図８Ａに示した第１実施形態に係る選択部１７の単一の１段目多重化装置Ｍ１６としている。また、図７に示した比較例に係る選択部１７ｘの３つの１段目多重化装置Ｍ１７，Ｍ１１４，Ｍ１２１を共有化して、図８Ａに示した第１実施形態に係る選択部１７の単一の１段目多重化装置Ｍ１７としている。

また、図７に示した比較例に係る選択部１７ｘの２つの１段目多重化装置Ｍ１１１，Ｍ１１８を共有化して、図８Ａに示した第１実施形態に係る選択部１７の単一の１段目多重化装置Ｍ１８としている。また、図７に示した比較例に係る選択部１７ｘの２つの１段目多重化装置Ｍ１１５，Ｍ１２２を共有化して、図８Ａに示した第１実施形態に係る選択部１７の単一の１段目多重化装置Ｍ１９としている。

また、図７に示した比較例に係る選択部１７ｘの２つの２段目多重化装置Ｍ２１，Ｍ２８を共有化して、図８Ａに示した第１実施形態に係る選択部１７の単一の２段目多重化装置Ｍ２４としている。また、図７に示した比較例に係る選択部１７ｘの２つの２段目多重化装置Ｍ２３，Ｍ２１０を共有化して、図８Ａに示した第１実施形態に係る選択部１７の単一の２段目多重化装置Ｍ２５としている。

このため、図８Ａに示した第１実施形態に係る選択部１７は、全体として２８個の多重化装置で構成することができる。したがって、図７に示した比較例に係る選択部１７ｘに比較して、回路規模を削減することができ、タイミングスキューを改善することができる。

また、図８Ａに示した第１実施形態に係る選択部１７では、多重化装置を共有化する制約として、共有化した多重化装置の２つの入力を同時に使用することができなくなる。しかし、適切な時間測定回路５０〜５５を接続することにより、すべてのアクティブ画素の配置を実現できるため、機能的な自由度は同等になる。

例えば図８Ｂに示すように、第１実施形態に係る選択部１７を用いて、画素Ｐ２，Ｐ３をアクティブ画素として設定する場合を考える。図８Ｂでは、画素Ｐ２，Ｐ３から時間測定回路５１，５２までの選択される経路が太線で強調表示されている。画素Ｐ２から出力される信号は、１段目多重化装置Ｍ１１、２段目多重化装置Ｍ２１及び３段目多重化装置Ｍ３１により選択されて、時間測定回路５１に出力される。画素Ｐ３から出力される信号は、１段目多重化装置Ｍ１２、２段目多重化装置Ｍ２２及び３段目多重化装置Ｍ３２により選択されて、時間測定回路５２に出力される。このように、画素Ｐ２，Ｐ３をアクティブ画素として設定する場合には、画素Ｐ２，Ｐ３を時間測定回路５０，５２には接続することはできないものの、時間測定回路５１，５２に接続することができる。

＜第１実施形態の効果＞
以上説明したように、第１実施形態に係る測距システム及び受光装置１０によれば、制御部３が、受光部２の画素アレイ１６中の複数の画素に対して、アクティブ画素及び非アクティブ画素を設定する。そして、アクティブ画素に設定された画素から出力された信号を受光部２から出力する。したがって、製造組立時等における光スポットの倍率や収差等の光学的な位置ずれを補正することができる。

更に、図８Ａに示した第１実施形態に係る選択部１７を有することにより、アクティブ画素及び非アクティブ画素を適切に切り替えることができる。また、図７に示した比較例に係る選択部１７ｘに比較して、回路規模を削減することができ、タイミングスキューを改善することができる。なお、図８Ａでは、１２個の画素Ｐ０〜Ｐ１２と６個の時間測定回路５０〜５５を有する場合を例示したが、画素Ｐ０〜Ｐ１２の数や時間測定回路５０〜５５の数はこれに限定されず、画素Ｐ０〜Ｐ１２の数や時間測定回路５０〜５５の数の増減に応じて、図８Ａに示した第１実施形態に係る選択部１７の回路規模を増減させてよい。

＜第１実施形態の第１変形例＞
本技術の第１実施形態の第１変形例に係る選択部１７ａは、図９Ａに示すように、１段目多重化装置Ｍ１０，Ｍ１１，Ｍ１２，Ｍ１３，Ｍ１４，Ｍ１５，Ｍ１６，Ｍ１７，Ｍ１８，Ｍ１９，Ｍ１１０，Ｍ１１１と、２段目多重化装置Ｍ２０，Ｍ２１，Ｍ２２，Ｍ２３，Ｍ２４，Ｍ２５，Ｍ２６，Ｍ２７，Ｍ２８，Ｍ２９とを備える点は、図８Ａに示した第１実施形態に係る選択部１７の構成と共通する。しかし、第１変形例に係る選択部１７ａは、３段目多重化装置が無い点が、図８Ａに示した第１実施形態に係る選択部１７の構成と異なる。

図９Ａに示すように、選択部１７ａの２段目多重化装置Ｍ２０〜Ｍ２９が、１０個の時間測定回路（ＴＤＣ）５０〜５９にそれぞれ接続されている。第１変形例に係る選択部１７ａは、全体で２２個の多重化装置で構成することができる。本技術の第１実施形態の第１変形例によれば、選択部１７ａが２段構成であってもよく、時間測定回路５０〜５９の数も適宜選択可能である。なお、選択部を４段以上の多重化装置で構成してもよい。

＜第１実施形態の第２変形例＞
本技術の第１実施形態の第２変形例に係る選択部１７ｂは、図９Ｂに示すように、１段目多重化装置Ｍ１２，Ｍ１３，Ｍ１４，Ｍ１５，Ｍ１６，Ｍ１７，Ｍ１８，Ｍ１９が共有化されている点は、図８Ａに示した第１実施形態に係る選択部１７の構成と共通する。しかし、第２変形例に係る選択部１７ｂは、２段目多重化装置Ｍ２４，Ｍ２５が共有化されていない点が、図８Ａに示した第１実施形態に係る選択部１７の構成と異なる。

図９Ｂに示すように、第２変形例に係る選択部１７ｂの３段目多重化装置Ｍ３０の入力側が２段目多重化装置Ｍ２０，２１に接続されている。３段目多重化装置Ｍ３１の入力側が２段目多重化装置Ｍ２２，２３に接続されている。３段目多重化装置Ｍ３２の入力側が２段目多重化装置Ｍ２４，２５に接続されている。３段目多重化装置Ｍ３３の入力側が２段目多重化装置Ｍ２６，２７に接続されている。３段目多重化装置Ｍ３４の入力側が２段目多重化装置Ｍ２８，２９に接続されている。３段目多重化装置Ｍ３０〜Ｍ３４の出力側が、５個の時間測定回路（ＴＤＣ）５０〜５４にそれぞれ接続されている。第２変形例に係る選択部１７ｂは、全体で２７個の多重化装置で構成することができる。本技術の第１実施形態の第１変形例によれば、選択部１７ｂの少なくとも１段目の多重化装置を共有化することにより、選択部１７ｂの回路規模を削減することができる。

（第２実施形態）
本技術の第２実施形態に係る測距システムは、図１に示した第１実施形態に係る測距システムと同様の構成を備える。第２実施形態では、図１０に示すように、図３に示した受光部２の画素アレイ１６を構成する１２×１２の画素に対して、５つの画素設定範囲Ａ１〜Ａ５内で画素Ｐ１〜Ｐ５を設定する場合を例示する。画素設定範囲Ａ１〜Ａ５は８×８画素に設定され、それぞれ１画素ずつ水平方向にシフトしている。

＜第２実施形態の比較例に係る選択部＞
ここで、第２実施形態に係る選択部の説明に先立ち、図１１を参照して、第２実施形態の比較例に係る選択部１７ｙを説明する。比較例に係る選択部１７ｙは、垂直方向の選択回路Ｍ００，Ｍ０１，Ｍ０２，Ｍ０３，Ｍ０４，Ｍ０５，Ｍ０６，Ｍ０７，Ｍ０８，Ｍ０９，Ｍ１０，Ｍ０１１と、水平方向の選択回路Ｍ０，Ｍ１，Ｍ２，Ｍ３，Ｍ４とを備える。選択回路Ｍ００の入力側は、アドレス（Ｘ，Ｙ）＝（１，１），（１，２），（１，３），（１，４），…，（１，８）の８個の画素に接続され、選択回路Ｍ００の出力側は、選択回路Ｍ０に接続されている。選択回路Ｍ００は、アドレス（１，１），（１，２），（１，３），（１，４），…，（１，８）の８個の画素から出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して、選択回路Ｍ０に出力する。

選択回路Ｍ０１の入力側は、アドレス（２，１），（２，２），（２，３），（２，４），…，（２，８）の８個の画素に接続され、選択回路Ｍ０１の出力側は、選択回路Ｍ０，Ｍ１に接続されている。選択回路Ｍ０１は、アドレス（２，１），（２，２），（２，３），（２，４），…，（２，８）の８個の画素から出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して、選択回路Ｍ０，Ｍ１に出力する。選択回路Ｍ０２〜Ｍ０１１の回路構成は、選択回路Ｍ００，Ｍ０１と同様であるので、重複した説明を省略する。

水平方向の選択回路Ｍ０〜Ｍ４は、５個の時間測定回路（ＴＤＣ）５０〜５４に出力側が接続されている。選択回路Ｍ０〜Ｍ４は、図１０に示した画素設定範囲Ａ１〜Ａ５内に設定されるアクティブ画素Ｐ１〜Ｐ５により出力される信号をそれぞれ選択して、時間測定回路５０〜５４に出力する。

選択回路Ｍ０は、選択回路Ｍ００，Ｍ０１のそれぞれにより１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して、時間測定回路５０に出力する。選択回路Ｍ０は、１段目多重化装置Ｍ１０，Ｍ１１，Ｍ１２，Ｍ１３と、２段目多重化装置Ｍ２０，Ｍ２１と、３段目多重化装置Ｍ３０とを有する。

１段目多重化装置Ｍ１０の入力側は選択回路Ｍ００，Ｍ０１に接続され、１段目多重化装置Ｍ１０の出力側は２段目多重化装置Ｍ２０の入力側に接続されている。１段目多重化装置Ｍ１０は、選択回路Ｍ００，Ｍ０１のそれぞれにより１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して２段目多重化装置Ｍ２０へ出力する多重化処理を行う。

また、１段目多重化装置Ｍ１１の入力側は選択回路Ｍ０２，Ｍ０３に接続され、１段目多重化装置Ｍ１１の出力側は２段目多重化装置Ｍ２０の入力側に接続されている。１段目多重化装置Ｍ１１は、選択回路Ｍ０２，Ｍ０３のそれぞれにより１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して２段目多重化装置Ｍ２０へ出力する多重化処理を行う。

また、１段目多重化装置Ｍ１２の入力側は選択回路Ｍ０４，Ｍ０５に接続され、１段目多重化装置Ｍ１２の出力側は２段目多重化装置Ｍ２１の入力側に接続されている。１段目多重化装置Ｍ１２は、選択回路Ｍ０４，Ｍ０５のそれぞれにより１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して２段目多重化装置Ｍ２１へ出力する多重化処理を行う。

また、１段目多重化装置Ｍ１３の入力側は選択回路Ｍ０６，Ｍ０７に接続され、１段目多重化装置Ｍ１３の出力側は２段目多重化装置Ｍ２１の入力側に接続されている。１段目多重化装置Ｍ１３は、選択回路Ｍ０６，Ｍ０７のそれぞれにより１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して２段目多重化装置Ｍ２１へ出力する多重化処理を行う。

選択回路Ｍ０は、選択回路Ｍ００，Ｍ０１のそれぞれにより１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して、時間測定回路５０に出力する。選択回路Ｍ１は、選択回路Ｍ０１〜Ｍ０８のそれぞれにより１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して、時間測定回路５１に出力する。選択回路Ｍ１は、１段目多重化装置Ｍ１４，Ｍ１５，Ｍ１６，Ｍ１７と、２段目多重化装置Ｍ２２，Ｍ２３と、３段目多重化装置Ｍ３１とを有する。選択回路Ｍ１の回路構成は選択回路Ｍ０と同様であるので、重複した説明を省略する。

選択回路Ｍ２は、選択回路Ｍ０２〜Ｍ０９のそれぞれにより１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して、時間測定回路５２に出力する。選択回路Ｍ２は、１段目多重化装置Ｍ１８，Ｍ１９，Ｍ１１０，Ｍ１１１と、２段目多重化装置Ｍ２４，Ｍ２５と、３段目多重化装置Ｍ３１とを有する。選択回路Ｍ２の回路構成は選択回路Ｍ０と同様であるので、重複した説明を省略する。

選択回路Ｍ３は、選択回路Ｍ０３〜Ｍ０１０のそれぞれにより１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して、時間測定回路５３に出力する。選択回路Ｍ３は、１段目多重化装置Ｍ１１２，Ｍ１１３，Ｍ１１４，Ｍ１１５と、２段目多重化装置Ｍ２６，Ｍ２７と、３段目多重化装置Ｍ３３とを有する。選択回路Ｍ３の回路構成は選択回路Ｍ０と同様であるので、重複した説明を省略する。

選択回路Ｍ４は、選択回路Ｍ０４〜Ｍ０１１のそれぞれにより１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して、時間測定回路５４に出力する。選択回路Ｍ４は、１段目多重化装置Ｍ１１６，Ｍ１１７，Ｍ１１８，Ｍ１１９と、２段目多重化装置Ｍ２８，Ｍ２９と、３段目多重化装置Ｍ３４とを有する。選択回路Ｍ４の回路構成は選択回路Ｍ０と同様であるので、重複した説明を省略する。

図１１に示した第２実施形態の比較例に係る選択部１７ｙによれば、図１０に示した画素アレイ１６上の画素設定範囲Ａ１〜Ａ５内でアクティブ画素として設定された画素から出力される信号を選択して、時間測定回路５０〜５４に出力することができる。しかし、第２実施形態の比較例に係る選択部１７ｙでは、選択回路Ｍ０〜Ｍ４がそれぞれ７個の多重化装置で構成されており、全体で３５個の多重化装置が必要となる。このため、回路規模が増大し、信号経路の延長に伴い画素間のタイミングスキューが増加し易くなる。

＜第２実施形態に係る選択部＞
これに対して、図１２Ａを参照して、本技術の第２実施形態に係る選択部１７ｃを説明する。第２実施形態に係る選択部１７ｃは、図１１に示した比較例に係る選択部１７ｙと同様に、図１０に示した画素設定範囲Ａ１〜Ａ５内に設定されるアクティブ画素Ｐ１〜Ｐ５により出力される信号をそれぞれ選択して、時間測定回路５０〜５４に出力する。第２実施形態に係る選択部１７ｃの垂直方向の選択回路Ｍ００〜Ｍ０１１の構成は、図１１に示した比較例に係る選択部１７ｙの選択回路Ｍ００〜Ｍ０１１と共通する。しかし、第２実施形態に係る選択部１７ｃの水平方向の選択回路Ｍ０１２の構成が、図１１に示した比較例に係る選択部１７ｙの選択回路Ｍ０〜Ｍ４と異なる。

水平方向の選択回路Ｍ０１２は、１段目多重化装置Ｍ１０，Ｍ１１，Ｍ１２，Ｍ１３，Ｍ１４，Ｍ１５，Ｍ１６，Ｍ１７，Ｍ１８，Ｍ１９，Ｍ１１０と、２段目多重化装置Ｍ２０，Ｍ２１，Ｍ２２，Ｍ２３，Ｍ２４，Ｍ２５，Ｍ２６，Ｍ２７，Ｍ２８と、３段目多重化装置Ｍ３０，Ｍ３１，Ｍ３２，Ｍ３３，Ｍ３４とを備える。１段目多重化装置Ｍ１０〜Ｍ１１０、２段目多重化装置Ｍ２０〜Ｍ２８、３段目多重化装置Ｍ３０〜Ｍ３４のそれぞれは図１に示した制御部３に接続され、制御部３からの制御信号に応じて動作する。

１段目多重化装置Ｍ１０の入力側は選択回路Ｍ００，Ｍ０１に接続され、１段目多重化装置Ｍ１０の出力側は２段目多重化装置Ｍ２０に接続されている。１段目多重化装置Ｍ１０は、選択回路Ｍ００，Ｍ０１のそれぞれにより１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して２段目多重化装置Ｍ２０へ出力する多重化処理を行う。

また、１段目多重化装置Ｍ１１の入力側は選択回路Ｍ０１，Ｍ０２に接続され、１段目多重化装置Ｍ１１の出力側は２段目多重化装置Ｍ２１に接続されている。１段目多重化装置Ｍ１１は、選択回路Ｍ０１，Ｍ０２のそれぞれにより１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して２段目多重化装置Ｍ２１へ出力する多重化処理を行う。

また、１段目多重化装置Ｍ１２の入力側は選択回路Ｍ０２，Ｍ０３に接続され、１段目多重化装置Ｍ１２の出力側は２段目多重化装置Ｍ２０，Ｍ２２に共通に接続されている。１段目多重化装置Ｍ１２は、選択回路Ｍ０２，Ｍ０３のそれぞれにより１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して２段目多重化装置Ｍ２０，Ｍ２２へ出力する多重化処理を行う。

また、１段目多重化装置Ｍ１３の入力側は選択回路Ｍ０３，Ｍ０４に接続され、１段目多重化装置Ｍ１３の出力側は２段目多重化装置Ｍ２１，Ｍ２３に共通に接続されている。１段目多重化装置Ｍ１３は、選択回路Ｍ０３，Ｍ０４により１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して２段目多重化装置Ｍ２１，Ｍ２３へ出力する多重化処理を行う。

また、１段目多重化装置Ｍ１４の入力側は選択回路Ｍ０４，Ｍ０５に接続され、１段目多重化装置Ｍ１４の出力側は２段目多重化装置Ｍ２２，Ｍ２４に共通に接続されている。１段目多重化装置Ｍ１４は、選択回路Ｍ０４，Ｍ０５により１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して２段目多重化装置Ｍ２２，Ｍ２４へ出力する多重化処理を行う。１段目多重化装置Ｍ１５〜Ｍ１１０の回路構成は、１段目多重化装置Ｍ１０〜Ｍ１４と同様であるので、重複した説明を省略する。

また、２段目多重化装置Ｍ２３の入力側は１段目多重化装置Ｍ１３，Ｍ１５に接続され、２段目多重化装置Ｍ２３の出力側は３段目多重化装置Ｍ３３に接続されている。２段目多重化装置Ｍ２３は、１段目多重化装置Ｍ１３により１つ選択されて出力される信号と、１段目多重化装置Ｍ１５により１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して３段目多重化装置Ｍ３３へ出力する多重化処理を行う。

また、２段目多重化装置Ｍ２４の入力側は１段目多重化装置Ｍ１４，Ｍ１６に接続され、２段目多重化装置Ｍ２２の出力側は３段目多重化装置Ｍ３０，Ｍ３４に共通に接続されている。２段目多重化装置Ｍ２４は、１段目多重化装置Ｍ１４により１つ選択されて出力される信号と、１段目多重化装置Ｍ１６により１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して３段目多重化装置Ｍ３０，Ｍ３４へ出力する多重化処理を行う。２段目多重化装置Ｍ２５〜Ｍ２８の回路構成は、２段目多重化装置Ｍ２０〜Ｍ２４と同様であるので、重複した説明を省略する。

また、３段目多重化装置Ｍ３２の入力側は２段目多重化装置Ｍ２２，Ｍ２６に接続され、３段目多重化装置Ｍ３２の出力側は時間測定回路５２に接続されている。３段目多重化装置Ｍ３２は、２段目多重化装置Ｍ２２により１つ選択されて出力される信号と、２段目多重化装置Ｍ２６により１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して時間測定回路５２へ出力する多重化処理を行う。３段目多重化装置Ｍ３３，Ｍ３４の回路構成は、３段目多重化装置Ｍ３０〜Ｍ３２と同様であるので、重複した説明を省略する。

本技術の第２実施形態に係る選択部１７ｃでは、図１１に示した比較例に係る選択部１７ｙの画素設定範囲が重複する多重化装置を共有化している。即ち、図１１に示した比較例に係る選択部１７ｙの２つの１段目多重化装置Ｍ１１，Ｍ１８を共有化して、図１２Ａに示した第２実施形態に係る選択部１７ｃの単一の１段目多重化装置Ｍ１２としている。
また、図１１に示した比較例に係る選択部１７ｙの２つの１段目多重化装置Ｍ１５，Ｍ１１２を共有化して、図１２Ａに示した第２実施形態に係る選択部１７ｃの単一の１段目多重化装置Ｍ１３としている。

また、図１１に示した比較例に係る選択部１７ｙの３つの１段目多重化装置Ｍ１２，Ｍ１９，Ｍ１１６を共有化して、図１２Ａに示した第２実施形態に係る選択部１７ｃの単一の１段目多重化装置Ｍ１４としている。また、図１１に示した比較例に係る選択部１７ｙの２つの１段目多重化装置Ｍ１６，Ｍ１１３を共有化して、図１２Ａに示した第２実施形態に係る選択部１７ｃの単一の１段目多重化装置Ｍ１５としている。

また、図１１に示した比較例に係る選択部１７ｙの３つの１段目多重化装置Ｍ１３，Ｍ１１０，Ｍ１１７を共有化して、図１２Ａに示した第２実施形態に係る選択部１７ｃの単一の１段目多重化装置Ｍ１６としている。また、図１１に示した比較例に係る選択部１７ｙの２つの１段目多重化装置Ｍ１７，Ｍ１１４を共有化して、図１２Ａに示した第２実施形態に係る選択部１７ｃの単一の１段目多重化装置Ｍ１７としている。また、図１１に示した比較例に係る選択部１７ｙの２つの１段目多重化装置Ｍ１１１，Ｍ１１８を共有化して、図１２Ａに示した第２実施形態に係る選択部１７ｃの単一の１段目多重化装置Ｍ１８としている。

また、図１１に示した比較例に係る選択部１７ｙの２つの２段目多重化装置Ｍ２１，Ｍ２８を共有化して、図１２Ａに示した第２実施形態に係る選択部１７ｃの単一の２段目多重化装置Ｍ２４としている。このため、本技術の第２実施形態に係る選択部１７ｃは、全体として２８個の多重化装置で構成することができる。したがって、図１１に示した比較例に係る選択部１７ｙに比較して、回路規模を削減することができ、タイミングスキューを改善することができる。

また、図１２Ａに示した第２実施形態に係る選択部１７ｃでは、多重化装置を共有化する制約として、共有化した多重化装置の２つの入力を同時に使用することができなくなる。しかし、適切な時間測定回路５０〜５４を接続することにより、すべてのアクティブ画素の配置を実現できるため、機能的な自由度は同等になる。

例えば図１０に示すように、アドレス（Ｘ，Ｙ）＝（２，２），（４，２），（６，２），（８，２），（１０，２）にアクティブ画素Ｐ１〜Ｐ５を設定する場合を考える。この場合、図１２Ｂに太線で強調して示すように、アドレス（２，２），（４，２），（６，２），（８，２），（１０，２）の５つの画素から時間測定回路５０〜５４までの経路が選択される。

具体的には、アドレス（２，２）の画素から出力される信号は、垂直方向の選択回路Ｍ０１により選択され、更に水平方向の選択回路Ｍ０１２の１段目多重化装置Ｍ１０、２段目多重化装置Ｍ２０及び３段目多重化装置Ｍ３０により選択されて、時間測定回路５１に出力される。アドレス（４，２）の画素から出力される信号は、垂直方向の選択回路Ｍ０３により選択され、更に水平方向の選択回路Ｍ０１２の１段目多重化装置Ｍ１３、２段目多重化装置Ｍ２１及び３段目多重化装置Ｍ３１により選択されて、時間測定回路５１に出力される。

アドレス（６，２）の画素から出力される信号は、垂直方向の選択回路Ｍ０５により選択され、更に水平方向の選択回路Ｍ０１２の１段目多重化装置Ｍ１４、２段目多重化装置Ｍ２２及び３段目多重化装置Ｍ３２により選択されて、時間測定回路５２に出力される。アドレス（８，２）の画素から出力される信号は、垂直方向の選択回路Ｍ０７により選択され、更に水平方向の選択回路Ｍ０１２の１段目多重化装置Ｍ１７、２段目多重化装置Ｍ２７及び３段目多重化装置Ｍ３３により選択されて、時間測定回路５３に出力される。アドレス（１０，２）の画素から出力される信号は、垂直方向の選択回路Ｍ０９により選択され、更に水平方向の選択回路Ｍ０１２の１段目多重化装置Ｍ１８、２段目多重化装置Ｍ２８及び３段目多重化装置Ｍ３４により選択されて、時間測定回路５４に出力される。

＜第２実施形態の効果＞
以上説明したように、第２実施形態に係る測距システムによれば、制御部３が、受光部２の画素アレイ１６中の複数の画素に対して、アクティブ画素及び非アクティブ画素を設定する。そして、アクティブ画素に設定された画素から出力される信号を、受光部２から測距処理部４へ出力する。したがって、適切なアクティブ画素を設定すれば、製造組立時等における光スポットの倍率や収差等の光学的な位置ずれを補正することができる。

更に、第２実施形態に係る測距システムによれば、図１２Ａに示した第２実施形態に係る選択部１７ｃを有することにより、アクティブ画素及び非アクティブ画素を適切に切り替えることができる。更に、図１１に示した比較例に係る選択部１７ｙに比較して、多重化装置を共有化しているため、回路規模を削減することができ、タイミングスキューを改善することができる。

なお、図１２Ａに示した第２実施形態に係る選択部１７ｃは例示であって、これに限定されない。例えば、図１２Ａに示した第２実施形態に係る選択部１７ｃの選択回路Ｍ０１２は３段構成であるが、図９Ａに示した選択部１７ａと同様に２段構成であってよく、図９Ｂに示した選択部１７ｂと同様に１段目の多重化装置のみが共有化されていてもよい。

（第３実施形態）
本技術の第３実施形態に係る測距システムは、図１に示した第１実施形態に係る測距システムと同様の構成を備える。第３実施形態では、図１３に示すように、受光部２の１２×１２ピクセルの画素アレイ１６に対して、６つの画素設定範囲Ａ１〜Ａ６内で画素Ｐ１〜Ｐ６を設定する場合を例示する。画素設定範囲Ａ１〜Ａ６は、互いの一部が重複するように設定されている。画素設定範囲Ａ１〜Ａ３は８×８の画素領域に設定され、互いに水平方向に２画素ずつシフトしている。画素設定範囲Ａ４〜Ａ６は８×８の画素領域に設定され、画素設定範囲Ａ１〜Ａ３に対して垂直方向に４画素シフトすると共に、互いに水平方向に２画素ずつシフトしている。

＜第３実施形態の比較例に係る選択部＞
ここで、第３実施形態に係る選択部の説明に先立ち、図１４を参照して、第３実施形態の比較例に係る選択部１７ｚを説明する。比較例に係る選択部１７ｚは、垂直方向及び水平方向の選択回路Ｍ００，Ｍ０１，Ｍ０２，Ｍ０３，Ｍ０４，Ｍ０５，Ｍ０６，Ｍ０７，Ｍ０８，Ｍ０９，Ｍ１０，Ｍ０１１，Ｍ０１２，Ｍ０１３，Ｍ０１４，Ｍ０１５，Ｍ０１６，Ｍ０１７と、垂直方向及び水平方向の選択回路Ｍ０，Ｍ１，Ｍ２，Ｍ３，Ｍ４，Ｍ５とを備える。

選択回路Ｍ００の入力側は、アドレス（Ｘ，Ｙ）＝（１，１），（１，２），（１，３），（１，４），（２，１），（２，２），（２，３），（２，４）の８個の画素に接続され、選択回路Ｍ００の出力側は、選択回路Ｍ０に接続されている。選択回路Ｍ００は、アドレス（１，１），（１，２），（１，３），（１，４），（２，１），（２，２），（２，３），（２，４）の８個の画素から出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して、選択回路Ｍ０に出力する。

選択回路Ｍ０１の入力側は、アドレス（１，５），（１，６），（１，７），（１，８），（２，５），（２，６），（２，７），（２，８）の８個の画素に接続され、選択回路Ｍ０１の出力側は、選択回路Ｍ０，Ｍ３に接続されている。選択回路Ｍ０１は、アドレス（１，５），（１，６），（１，７），（１，８），（２，５），（２，６），（２，７），（２，８）の８個の画素から出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して、選択回路Ｍ０，Ｍ３に出力する。選択回路Ｍ０２〜Ｍ０１７の回路構成は、選択回路Ｍ００，Ｍ０１と同様であるので、重複した説明を省略する。

６個の選択回路Ｍ０〜Ｍ５は、６個の時間測定回路（ＴＤＣ）５０〜５５に出力側がそれぞれ接続される。選択回路Ｍ０は、選択回路Ｍ００，Ｍ０１，Ｍ０３，Ｍ０４，Ｍ０６，Ｍ０７，Ｍ０９，Ｍ０１０のそれぞれにより１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して、時間測定回路５０に出力する。選択回路Ｍ０は、１段目多重化装置Ｍ１０，Ｍ１１，Ｍ１２，Ｍ１３と、２段目多重化装置Ｍ２０，Ｍ２１と、３段目多重化装置Ｍ３０とを有する。

また、１段目多重化装置Ｍ１１の入力側は選択回路Ｍ０３，Ｍ０４に接続され、１段目多重化装置Ｍ１１の出力側は２段目多重化装置Ｍ２０の入力側に接続されている。１段目多重化装置Ｍ１１は、選択回路Ｍ０３，Ｍ０４のそれぞれにより１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して２段目多重化装置Ｍ２０へ出力する多重化処理を行う。

また、１段目多重化装置Ｍ１２の入力側は選択回路Ｍ０６，Ｍ０７に接続され、１段目多重化装置Ｍ１２の出力側は２段目多重化装置Ｍ２１の入力側に接続されている。１段目多重化装置Ｍ１２は、選択回路Ｍ０６，Ｍ０７のそれぞれにより１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して２段目多重化装置Ｍ２１へ出力する多重化処理を行う。

また、１段目多重化装置Ｍ１３の入力側は選択回路Ｍ０９，Ｍ０１０に接続され、１段目多重化装置Ｍ１３の出力側は２段目多重化装置Ｍ２１の入力側に接続されている。１段目多重化装置Ｍ１３は、選択回路Ｍ０９，Ｍ０１０のそれぞれにより１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して２段目多重化装置Ｍ２１へ出力する多重化処理を行う。

また、３段目多重化装置Ｍ３０の入力側は２段目多重化装置Ｍ２０，Ｍ２１の出力側に接続され、３段目多重化装置Ｍ３０の出力側は時間測定回路（ＴＤＣ）５０に接続されている。３段目多重化装置Ｍ３０は、２段目多重化装置Ｍ２０により１つ選択されて出力される信号と、２段目多重化装置Ｍ２１により１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して時間測定回路５０へ出力する多重化処理を行う。

選択回路Ｍ１は、選択回路Ｍ０３，Ｍ０４，Ｍ０６，Ｍ０７，Ｍ０９，Ｍ０１０，Ｍ０１２，Ｍ０１３のそれぞれにより１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して、時間測定回路５１に出力する。選択回路Ｍ１は、１段目多重化装置Ｍ１４，Ｍ１５，Ｍ１６，Ｍ１７と、２段目多重化装置Ｍ２２，Ｍ２３と、３段目多重化装置Ｍ３１とを有する。選択回路Ｍ１の回路構成は選択回路Ｍ０と同様であるので、重複した説明を省略する。

選択回路Ｍ２は、選択回路Ｍ０６，Ｍ０７，Ｍ０９，Ｍ０１０，Ｍ０１２，Ｍ０１３，Ｍ０１５，Ｍ０１６のそれぞれにより１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して、時間測定回路５２に出力する。選択回路Ｍ２は、１段目多重化装置Ｍ１８，Ｍ１９，Ｍ１１０，Ｍ１１１と、２段目多重化装置Ｍ２４，Ｍ２５と、３段目多重化装置Ｍ３１とを有する。選択回路Ｍ２の回路構成は選択回路Ｍ０と同様であるので、重複した説明を省略する。

選択回路Ｍ３は、選択回路Ｍ０１，Ｍ０２，Ｍ０４，Ｍ０５，Ｍ０７，Ｍ０８，Ｍ０１０，Ｍ０１１のそれぞれにより１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して、時間測定回路５３に出力する。選択回路Ｍ３は、１段目多重化装置Ｍ１１２，Ｍ１１３，Ｍ１１４，Ｍ１１５と、２段目多重化装置Ｍ２６，Ｍ２７と、３段目多重化装置Ｍ３３とを有する。選択回路Ｍ３の回路構成は選択回路Ｍ０と同様であるので、重複した説明を省略する。

選択回路Ｍ４は、選択回路Ｍ０４，Ｍ０５，Ｍ０７，Ｍ０８，Ｍ０１０，Ｍ０１１，Ｍ０１３，Ｍ０１４のそれぞれにより１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して、時間測定回路５４に出力する。選択回路Ｍ４は、１段目多重化装置Ｍ１１６，Ｍ１１７，Ｍ１１８，Ｍ１１９と、２段目多重化装置Ｍ２８，Ｍ２９と、３段目多重化装置Ｍ３４とを有する。選択回路Ｍ４の回路構成は選択回路Ｍ０と同様であるので、重複した説明を省略する。

選択回路Ｍ５は、選択回路Ｍ０７，Ｍ０８，Ｍ０１０，Ｍ０１１，Ｍ０１３，Ｍ０１４，Ｍ０１６，Ｍ０１７のそれぞれにより１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して、時間測定回路５５に出力する。選択回路Ｍ５は、１段目多重化装置Ｍ１２０，Ｍ１２１，Ｍ１２２，Ｍ１２３と、２段目多重化装置Ｍ２１０，Ｍ２１１と、３段目多重化装置Ｍ３５とを有する。選択回路Ｍ５の回路構成は選択回路Ｍ０と同様であるので、重複した説明を省略する。

図１４に示した比較例に係る選択部１７ｚによれば、図１３に示した画素設定範囲Ａ１〜Ａ６内に設定されたアクティブ画素Ｐ１〜Ｐ６から出力される信号を選択して、時間測定回路５０〜５５に出力することができる。しかし、図１４に示した比較例に係る選択部１７ｙでは、選択回路Ｍ０〜Ｍ５がそれぞれ７個の多重化装置で構成されており、全体で４８個の多重化装置が必要となる。このため、回路規模が増大し、信号経路の延長に伴い画素間のタイミングスキューが増加し易くなる。

＜第３実施形態に係る選択部＞
これに対して、図１５Ａを参照して、第３実施形態に係る選択部１７ｄを説明する。第３実施形態に係る選択部１７ｄの垂直方向及び水平方向の選択回路Ｍ００〜Ｍ０１７の構成は、図１４に示した比較例に係る選択部１７ｚの選択回路Ｍ００〜Ｍ０１７と共通する。しかし、第３実施形態に係る選択部１７ｄの選択回路Ｍ０１８の構成が、図１４に示した比較例に係る選択部１７ｚの選択回路Ｍ０〜Ｍ５と異なる。

選択回路Ｍ０１８は、１段目多重化装置Ｍ１０，Ｍ１１，Ｍ１２，Ｍ１３，Ｍ１４，Ｍ１５，Ｍ１６，Ｍ１７，Ｍ１８，Ｍ１９，Ｍ１１０，Ｍ１１１、２段目多重化装置Ｍ２０，Ｍ２１，Ｍ２２，Ｍ２３，Ｍ２４，Ｍ２５，Ｍ２６，Ｍ２７，Ｍ２８，Ｍ２９、３段目多重化装置Ｍ３０，Ｍ３１，Ｍ３２，Ｍ３３，Ｍ３４，Ｍ３５を備える。１段目多重化装置Ｍ１０〜Ｍ１１１、２段目多重化装置Ｍ２０〜Ｍ２９、３段目多重化装置Ｍ３０〜Ｍ３５のそれぞれは図１に示した制御部３に接続され、制御部３からの制御信号に応じて動作する。

１段目多重化装置Ｍ１１の入力側は選択回路Ｍ０３，Ｍ０４に接続され、１段目多重化装置Ｍ１１の出力側は２段目多重化装置Ｍ２０，Ｍ２１に共通に接続されている。１段目多重化装置Ｍ１１は、選択回路Ｍ０３，Ｍ０４のそれぞれにより１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して２段目多重化装置Ｍ２０，Ｍ２１へ出力する多重化処理を行う。

１段目多重化装置Ｍ１２の入力側は選択回路Ｍ０６，Ｍ０７に接続され、１段目多重化装置Ｍ１２の出力側は２段目多重化装置Ｍ２１，Ｍ２２に接続されている。１段目多重化装置Ｍ１２は、選択回路Ｍ０６，Ｍ０７のそれぞれにより１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して２段目多重化装置Ｍ２１，Ｍ２２へ出力する多重化処理を行う。

１段目多重化装置Ｍ１３の入力側は選択回路Ｍ０９，Ｍ０１０に接続され、１段目多重化装置Ｍ１３の出力側は２段目多重化装置Ｍ２２，Ｍ２３に共通に接続されている。１段目多重化装置Ｍ１３は、選択回路Ｍ０９，Ｍ０１０のそれぞれにより１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して２段目多重化装置Ｍ２２，Ｍ２３へ出力する多重化処理を行う。１段目多重化装置Ｍ１４〜Ｍ１１１の回路構成は、１段目多重化装置Ｍ１０〜Ｍ１３と同様であるので、重複した説明を省略する。

２段目多重化装置Ｍ２０の入力側は１段目多重化装置Ｍ１０，Ｍ１１に接続され、２段目多重化装置Ｍ２０の出力側は３段目多重化装置Ｍ３０に接続されている。２段目多重化装置Ｍ２０は、１段目多重化装置Ｍ１０により１つ選択されて出力される信号と、１段目多重化装置Ｍ１１により１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して３段目多重化装置Ｍ３０へ出力する多重化処理を行う。

２段目多重化装置Ｍ２１の入力側は１段目多重化装置Ｍ１１，Ｍ１２に接続され、２段目多重化装置Ｍ２１の出力側は３段目多重化装置Ｍ３１に接続されている。２段目多重化装置Ｍ２１は、１段目多重化装置Ｍ１１により１つ選択されて出力される信号と、１段目多重化装置Ｍ１２により１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して３段目多重化装置Ｍ３１へ出力する多重化処理を行う。

２段目多重化装置Ｍ２２の入力側は１段目多重化装置Ｍ１２，Ｍ１３に接続され、２段目多重化装置Ｍ２２の出力側は３段目多重化装置Ｍ３０，Ｍ３２に共通に接続されている。２段目多重化装置Ｍ２２は、１段目多重化装置Ｍ１２により１つ選択されて出力される信号と、１段目多重化装置Ｍ１３により１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して３段目多重化装置Ｍ３０，Ｍ３２へ出力する多重化処理を行う。２段目多重化装置Ｍ２３〜Ｍ２９の回路構成は、２段目多重化装置Ｍ２０〜Ｍ２２と同様であるので、重複した説明を省略する。

３段目多重化装置Ｍ３０の入力側は２段目多重化装置Ｍ２０，Ｍ２４に接続され、３段目多重化装置Ｍ３０の出力側は時間測定回路５０に接続されている。３段目多重化装置Ｍ３０は、２段目多重化装置Ｍ２０により１つ選択されて出力される信号と、２段目多重化装置Ｍ２４により１つ選択されて出力される信号の内からいずれか１つの信号を選択して時間測定回路５０へ出力する多重化処理を行う。３段目多重化装置Ｍ３１〜Ｍ３５の回路構成は、３段目多重化装置Ｍ３０と同様であるので、重複した説明を省略する。

本技術の第３実施形態に係る選択部１７ｄでは、図１４に示した比較例に係る選択部１７ｚの画素設定範囲が重複する多重化装置を共有化している。即ち、図１４に示した比較例に係る選択部１７ｚの２つの１段目多重化装置Ｍ１１，Ｍ１４を共有化して、図１５Ａに示した第３実施形態に係る選択部１７ｄの単一の１段目多重化装置Ｍ１１としている。

また、図１４に示した比較例に係る選択部１７ｚの３つの１段目多重化装置Ｍ１２，Ｍ１５，Ｍ１８を共有化して、図１５Ａに示した第３実施形態に係る選択部１７ｄの単一の１段目多重化装置Ｍ１２としている。また、図１４に示した比較例に係る選択部１７ｚの３つの１段目多重化装置Ｍ１３，Ｍ１６，Ｍ１９を共有化して、図１５Ａに示した第３実施形態に係る選択部１７ｄの単一の１段目多重化装置Ｍ１３としている。

また、図１４に示した比較例に係る選択部１７ｚの２つの１段目多重化装置Ｍ１７，Ｍ１１０を共有化して、図１５Ａに示した第３実施形態に係る選択部１７ｄの単一の１段目多重化装置Ｍ１４としている。また、図１４に示した比較例に係る選択部１７ｚの２つの１段目多重化装置Ｍ１１３，Ｍ１１６を共有化して、図１５Ａに示した第３実施形態に係る選択部１７ｄの単一の１段目多重化装置Ｍ１７としている。

また、図１４に示した比較例に係る選択部１７ｚの３つの１段目多重化装置Ｍ１１４，Ｍ１１７，Ｍ１２０を共有化して、図１５Ａに示した第３実施形態に係る選択部１７ｄの単一の１段目多重化装置Ｍ１８としている。また、図１４に示した比較例に係る選択部１７ｚの３つの１段目多重化装置Ｍ１１５，Ｍ１１８，Ｍ１２１を共有化して、図１５Ａに示した第３実施形態に係る選択部１７ｄの単一の１段目多重化装置Ｍ１９としている。また、図１４に示した比較例に係る選択部１７ｚの２つの１段目多重化装置Ｍ１１９，Ｍ１２２を共有化して、図１５Ａに示した第３実施形態に係る選択部１７ｄの単一の１段目多重化装置Ｍ１１０としている。

また、図１４に示した比較例に係る選択部１７ｚの２つの２段目多重化装置Ｍ２１，Ｍ２４を共有化して、図１５Ａに示した第３実施形態に係る選択部１７ｄの単一の２段目多重化装置Ｍ２２としている。また、図１４に示した比較例に係る選択部１７ｚの２つの２段目多重化装置Ｍ２７，Ｍ２１０を共有化して、図１５Ａに示した第３実施形態に係る選択部１７ｄの単一の２段目多重化装置Ｍ２７としている。

このため、本技術の第３実施形態に係る選択部１７ｄは、全体として２８個の多重化装置で構成することができる。したがって、図１４に示した比較例に係る選択部１７ｚに比較して、回路規模を削減することができ、タイミングスキューを改善することができる。

また、第３実施形態に係る選択部１７ｄでは、多重化装置を共有化する制約として、共有化した多重化装置の２つの入力を同時に使用することができなくなる。しかし、適切な時間測定回路５０〜５５を接続することにより、すべてのアクティブ画素の配置を実現できるため、機能的な自由度は同等になる。

例えば図１３に示すように、アドレス（Ｘ，Ｙ）＝（２，２），（２，１０），（６，２），（６，１０），（１０，２），（１０，１０）の６つの画素をアクティブ画素として設定する場合を考える。この場合、図１５Ｂに太線で強調して示すように、アドレス（２，２），（２，１０），（６，２），（６，１０），（１０，２），（１０，１０）の６つの画素から時間測定回路５１〜５５までの経路が選択される。

具体的には、アドレス（２，２）の画素から出力される信号は、選択回路Ｍ００により選択され、更に選択回路Ｍ０１８の１段目多重化装置Ｍ１０、２段目多重化装置Ｍ２０及び３段目多重化装置Ｍ３０により選択されて、時間測定回路５０に出力される。アドレス（２，１０）の画素から出力される信号は、選択回路Ｍ０２により選択され、更に選択回路Ｍ０１８の１段目多重化装置Ｍ１６、２段目多重化装置Ｍ２５及び３段目多重化装置Ｍ３３により選択されて、時間測定回路５１に出力される。アドレス（６，２）の画素から出力される信号は、選択回路Ｍ０６により選択され、更に選択回路Ｍ０１８の１段目多重化装置Ｍ１２、２段目多重化装置Ｍ２１及び３段目多重化装置Ｍ３１により選択されて、時間測定回路５２に出力される。

アドレス（６，１０）の画素から出力される信号は、選択回路Ｍ０８により選択され、更に選択回路Ｍ０１８の１段目多重化装置Ｍ１８、２段目多重化装置Ｍ２６及び３段目多重化装置Ｍ３４により選択されて、時間測定回路５３に出力される。アドレス（１０，２）の画素から出力される信号は、選択回路Ｍ０１２により選択され、更に選択回路Ｍ０１８の１段目多重化装置Ｍ１４、２段目多重化装置Ｍ２４及び３段目多重化装置Ｍ３２により選択されて、時間測定回路５４に出力される。アドレス（１０，１０）の画素から出力される信号は、選択回路Ｍ０１４により選択され、更に選択回路Ｍ０１８の１段目多重化装置Ｍ１１０、２段目多重化装置Ｍ２９及び３段目多重化装置Ｍ３５により選択されて、時間測定回路５５に出力される。

＜第３実施形態の効果＞
以上説明したように、第３実施形態に係る測距システムによれば、制御部３が、受光部２の画素アレイ１６中の複数の画素に対して、アクティブ画素及び非アクティブ画素を設定する。そして、アクティブ画素に設定された画素から出力される信号を、受光部２から測距処理部４へ出力する。したがって、製造組立時等における光スポットの倍率や収差等の光学的な位置ずれを補正することができる。

更に、第３実施形態に係る測距システムによれば、図１５Ａに示した第３実施形態に係る選択部１７ｄを有することにより、アクティブ画素及び非アクティブ画素を適切に切り替えることができる。更に、図１４に示した比較例に係る選択部１７ｚに比較して、多重化装置を共有化することで、回路規模を削減することができ、タイミングスキューを改善することができる。

（その他の実施形態）
上記のように、本技術は第１〜第３実施形態及び各変形例によって記載したが、この開示の一部をなす論述及び図面は本技術を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施形態、実施例及び運用技術が明らかとなろう。

例えば、第１実施形態に係る選択部１７、第１実施形態の第１変形例に係る選択部１７ａ、第１実施形態の第２変形例に係る選択部１７ｂ、第２実施形態に係る選択部１７ｃ、第３実施形態に係る選択部１７ｄを例示したが、これらの選択部に限定されない。即ち、本技術に係る選択部は少なくとも、画素アレイ１６中の第１画素から出力された信号と、画素アレイ１６中の第２画素から出力された信号の内からいずれか１つの信号を選択する第１多重化装置（マルチプレクサ）と、画素アレイ１６中の第３画素から出力された信号と、画素アレイ１６中の第４画素から出力された信号の内からいずれか１つの信号を選択する第２多重化装置と、画素アレイ１６中の第５画素から出力された信号と、画素アレイ１６中の第６画素から出力された信号の内からいずれか１つの信号を選択する第３多重化装置と、第１多重化装置により選択された信号と、第２多重化装置により選択された信号の内からいずれか１つの信号を選択する第４多重化装置と、第２多重化装置により選択された信号と、第３多重化装置により選択された信号の内からいずれか１つの信号を選択する第５多重化装置を備えていればよい。そして、第４多重化装置の出力側に第１時間計測部（ＴＤＣ）が接続され、第５多重化装置の出力側に第２時間計測部（ＴＤＣ）が接続されていればよい。

また、第１〜第３実施形態に係る測距システムは、モバイル機器用の測距センサであってもよく、ＬｉＤＡＲ等の車載用の測距センサであってもよい。

このように、上記の実施形態が開示する技術内容の趣旨を理解すれば、当業者には様々な代替実施形態、実施例及び運用技術が本技術に含まれ得ることが明らかとなろう。また、上記の実施形態及び各変形例において説明される各構成を任意に応用した構成等、本技術はここでは記載していない様々な実施形態等を含むことは勿論である。したがって、本技術の技術的範囲は上記の例示的説明から妥当な、特許請求の範囲に係る発明特定事項によってのみ定められるものである。

なお、本技術は、以下のような構成を取ることができる。
（１）
画素アレイを有する受光部と、
前記画素アレイに含まれる複数の画素に対して、アクティブ画素と非アクティブ画素を設定し、前記アクティブ画素として設定された画素から出力される信号を前記受光部から出力させる制御部と、
を備える、受光装置。
（２）
前記制御部は、前記画素アレイ上に複数の画素設定範囲を設定し、前記複数の画素設定範囲内で前記アクティブ画素をそれぞれ設定する、前記（１）に記載の受光装置。
（３）
前記制御部は、前記複数の画素設定範囲の互いの一部が重複するように前記複数の画素設定範囲を設定する、前記（２）に記載の受光装置。
（４）
前記制御部が、前記アクティブ画素と前記非アクティブ画素を切り替える、前記（１）〜（３）のいずれかに記載の受光装置。
（５）
前記受光部が、前記複数の画素のそれぞれから出力される信号を選択して出力する選択部を備え、
前記制御部が、前記選択部を制御することで、前記アクティブ画素と前記非アクティブ画素を切り替える、前記（４）に記載の受光装置。
（６）
前記選択部が、
前記画素アレイ中の第１画素から出力された信号と、前記画素アレイ中の第２画素から出力された信号の内からいずれか１つの信号を選択する第１多重化装置と、
前記画素アレイ中の第３画素から出力された信号と、前記画素アレイ中の第４画素から出力された信号の内からいずれか１つの信号を選択する第２多重化装置と、
前記画素アレイ中の第５画素から出力された信号と、前記画素アレイ中の第６画素から出力された信号の内からいずれか１つの信号を選択する第３多重化装置と、
前記第１多重化装置により選択された信号と、前記第２多重化装置により選択された信号の内からいずれか１つの信号を選択する第４多重化装置と、
前記第２多重化装置により選択された信号と、前記第３多重化装置により選択された信号の内からいずれか１つの信号を選択する第５多重化装置と、
を備える、前記（５）に記載の受光装置。
（７）
前記第４多重化装置の出力側に接続された第１時間計測部と、
前記第５多重化装置の出力側に接続された第２時間計測部と、
を更に備える、前記（６）に記載の受光装置。
（８）
前記選択部が、
前記第２画素から出力された信号と、前記第３画素から出力された信号の内からいずれか１つの信号を選択する第６多重化装置と、
前記第４画素から出力された信号と、前記第５画素から出力された信号の内からいずれか１つの信号を選択する第７多重化装置と、
前記第６多重化装置により選択された信号と、前記第７多重化装置により選択された信号の内からいずれか１つの信号を選択する第８多重化装置と、
を更に備える、前記（７）に記載の受光装置。
（９）
前記第８多重化装置の出力側に接続された第３時間計測部を更に備える、前記（８）に記載の受光装置。
（１０）
光を発する発光部と、
前記光を反射した対象物からの反射光を受光する画素アレイを有する受光部と、
前記画素アレイに含まれる複数の画素に対して、アクティブ画素と非アクティブ画素を設定し、前記アクティブ画素として設定された画素から出力される信号を前記受光部から出力させる制御部と、
前記アクティブ画素から出力される信号に基づき、前記光源が光を発してから前記受光部で前記反射光を受光するまでの時間に応じた前記対象物までの距離を算出する測距処理部と、
を備える、測距システム。

１…発光部、２…受光部、３…制御部、４…測距処理部、５…時間計測部、６…ヒストグラム作成部、７…距離算出部、８…通信インターフェース（ＩＦ）部、１０…受光装置、１１…光源、１２…エミッタレンズ、１３…投光ミラー、１４…マイクロミラー、１５…レシーバレンズ、１６…画素アレイ、１７，１７ａ，１７ｂ，１７ｃ，１７ｄ…選択部、２０…対象物、５０〜５９…時間測定回路（ＴＤＣ）、Ａ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４，Ａ５，Ａ６…画素設定範囲、Ｍ００，Ｍ０１，Ｍ０２，Ｍ０３，Ｍ０４，Ｍ０５，Ｍ０６，Ｍ０７，Ｍ０８，Ｍ０９，Ｍ１０，Ｍ０１１，Ｍ０１２，Ｍ０１３，Ｍ０１４，Ｍ０１５，Ｍ０１６，Ｍ０１７，Ｍ０１８…選択回路、Ｍ１０，Ｍ１１，Ｍ１２，Ｍ１３，Ｍ１４，Ｍ１５，Ｍ１６，Ｍ１７，Ｍ１８，Ｍ１９，Ｍ１１０，Ｍ１１１，Ｍ２０，Ｍ２１，Ｍ２２，Ｍ２３，Ｍ２４，Ｍ２５，Ｍ２６，Ｍ２７，Ｍ２８，Ｍ２９，Ｍ３０，Ｍ３１，Ｍ３２，Ｍ３３，Ｍ３４，Ｍ３５…多重化装置（マルチプレクサ）、Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４，Ｐ５，Ｐ６，Ｐａ…アクティブ画素、Ｐｂ…非アクティブ画素

Claims

画素アレイを有する受光部と、
前記画素アレイに含まれる複数の画素に対して、アクティブ画素と非アクティブ画素を設定し、前記アクティブ画素として設定された画素から出力される信号を前記受光部から出力させる制御部と、
を備える、受光装置。
前記制御部は、前記画素アレイ上に複数の画素設定範囲を設定し、前記複数の画素設定範囲内で前記アクティブ画素をそれぞれ設定する、請求項１に記載の受光装置。
前記制御部は、前記複数の画素設定範囲の互いの一部が重複するように前記複数の画素設定範囲を設定する、請求項２に記載の受光装置。
前記制御部が、前記アクティブ画素と前記非アクティブ画素を切り替える、請求項１に記載の受光装置。
前記受光部が、前記複数の画素のそれぞれから出力される信号を選択して出力する選択部を備え、
前記制御部が、前記選択部を制御することで、前記アクティブ画素と前記非アクティブ画素を切り替える、請求項４に記載の受光装置。
前記選択部が、
前記画素アレイ中の第１画素から出力された信号と、前記画素アレイ中の第２画素から出力された信号の内からいずれか１つの信号を選択する第１多重化装置と、
前記画素アレイ中の第３画素から出力された信号と、前記画素アレイ中の第４画素から出力された信号の内からいずれか１つの信号を選択する第２多重化装置と、
前記画素アレイ中の第５画素から出力された信号と、前記画素アレイ中の第６画素から出力された信号の内からいずれか１つの信号を選択する第３多重化装置と、
前記第１多重化装置により選択された信号と、前記第２多重化装置により選択された信号の内からいずれか１つの信号を選択する第４多重化装置と、
前記第２多重化装置により選択された信号と、前記第３多重化装置により選択された信号の内からいずれか１つの信号を選択する第５多重化装置と、
を備える、請求項５に記載の受光装置。
前記第４多重化装置の出力側に接続された第１時間計測部と、
前記第５多重化装置の出力側に接続された第２時間計測部と、
を更に備える、請求項６に記載の受光装置。
前記選択部が、
前記第２画素から出力された信号と、前記第３画素から出力された信号の内からいずれか１つの信号を選択する第６多重化装置と、
前記第４画素から出力された信号と、前記第５画素から出力された信号の内からいずれか１つの信号を選択する第７多重化装置と、
前記第６多重化装置により選択された信号と、前記第７多重化装置により選択された信号の内からいずれか１つの信号を選択する第８多重化装置と、
を更に備える、請求項７に記載の受光装置。
前記第８多重化装置の出力側に接続された第３時間計測部を更に備える、請求項８に記載の受光装置。
光を発する発光部と、
前記光を反射した対象物からの反射光を受光する画素アレイを有する受光部と、
前記画素アレイに含まれる複数の画素に対して、アクティブ画素と非アクティブ画素を設定し、前記アクティブ画素として設定された画素から出力される信号を前記受光部から出力させる制御部と、
前記アクティブ画素から出力される信号に基づき、前記光源が光を発してから前記受光部で前記反射光を受光するまでの時間に応じた前記対象物までの距離を算出する測距処理部と、
を備える、測距システム。