JP2020108145A - 接地構造物を有する多層圧電基板 - Google Patents
接地構造物を有する多層圧電基板 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2020108145A JP2020108145A JP2019231526A JP2019231526A JP2020108145A JP 2020108145 A JP2020108145 A JP 2020108145A JP 2019231526 A JP2019231526 A JP 2019231526A JP 2019231526 A JP2019231526 A JP 2019231526A JP 2020108145 A JP2020108145 A JP 2020108145A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- acoustic wave
- layer
- conductive layer
- ground structure
- wave device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 228
- 238000010897 surface acoustic wave method Methods 0.000 claims abstract description 184
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 96
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 47
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims abstract description 19
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 claims description 48
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 39
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 claims description 21
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 19
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 claims description 18
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 17
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 abstract description 17
- 238000002955 isolation Methods 0.000 abstract description 14
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract description 13
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 527
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 42
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 31
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 25
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 21
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 20
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 15
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 15
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- 230000008569 process Effects 0.000 description 14
- WSMQKESQZFQMFW-UHFFFAOYSA-N 5-methyl-pyrazole-3-carboxylic acid Chemical compound CC1=CC(C(O)=O)=NN1 WSMQKESQZFQMFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 11
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 10
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 9
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 8
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N Ruthenium Chemical compound [Ru] KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N lithium niobate Chemical compound [Li+].[O-][Nb](=O)=O GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 7
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 7
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 7
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 7
- 239000011133 lead Substances 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 235000019687 Lamb Nutrition 0.000 description 4
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 4
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 4
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 4
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 4
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 3
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000002161 passivation Methods 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 3
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 3
- 239000011029 spinel Substances 0.000 description 3
- 229910052596 spinel Inorganic materials 0.000 description 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 2
- BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N Tetraethyl orthosilicate Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)OCC BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 238000000231 atomic layer deposition Methods 0.000 description 2
- 230000001413 cellular effect Effects 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 229910052745 lead Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 2
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 1
- 238000004220 aggregation Methods 0.000 description 1
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 1
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- 239000012777 electrically insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 description 1
- 239000002360 explosive Substances 0.000 description 1
- OJCDKHXKHLJDOT-UHFFFAOYSA-N fluoro hypofluorite;silicon Chemical compound [Si].FOF OJCDKHXKHLJDOT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000010295 mobile communication Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000001451 molecular beam epitaxy Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ta+5].[Ta+5] BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- -1 silicon nitride compound Chemical class 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 239000010421 standard material Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
- LAJZODKXOMJMPK-UHFFFAOYSA-N tellurium dioxide Chemical compound O=[Te]=O LAJZODKXOMJMPK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/02535—Details of surface acoustic wave devices
- H03H9/02818—Means for compensation or elimination of undesirable effects
- H03H9/02913—Measures for shielding against electromagnetic fields
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators
- H03H3/007—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks
- H03H3/08—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of resonators or networks using surface acoustic waves
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/02535—Details of surface acoustic wave devices
- H03H9/02543—Characteristics of substrate, e.g. cutting angles
- H03H9/02559—Characteristics of substrate, e.g. cutting angles of lithium niobate or lithium-tantalate substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/02535—Details of surface acoustic wave devices
- H03H9/02543—Characteristics of substrate, e.g. cutting angles
- H03H9/02574—Characteristics of substrate, e.g. cutting angles of combined substrates, multilayered substrates, piezoelectrical layers on not-piezoelectrical substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/02535—Details of surface acoustic wave devices
- H03H9/02818—Means for compensation or elimination of undesirable effects
- H03H9/02834—Means for compensation or elimination of undesirable effects of temperature influence
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/05—Holders or supports
- H03H9/0538—Constructional combinations of supports or holders with electromechanical or other electronic elements
- H03H9/0542—Constructional combinations of supports or holders with electromechanical or other electronic elements consisting of a lateral arrangement
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/05—Holders or supports
- H03H9/058—Holders or supports for surface acoustic wave devices
- H03H9/059—Holders or supports for surface acoustic wave devices consisting of mounting pads or bumps
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/125—Driving means, e.g. electrodes, coils
- H03H9/13—Driving means, e.g. electrodes, coils for networks consisting of piezoelectric or electrostrictive materials
- H03H9/131—Driving means, e.g. electrodes, coils for networks consisting of piezoelectric or electrostrictive materials consisting of a multilayered structure
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
- H03H9/46—Filters
- H03H9/54—Filters comprising resonators of piezoelectric or electrostrictive material
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
- H03H9/46—Filters
- H03H9/64—Filters using surface acoustic waves
- H03H9/6406—Filters characterised by a particular frequency characteristic
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
- H03H9/70—Multiple-port networks for connecting several sources or loads, working on different frequencies or frequency bands, to a common load or source
- H03H9/72—Networks using surface acoustic waves
- H03H9/725—Duplexers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N30/00—Piezoelectric or electrostrictive devices
- H10N30/01—Manufacture or treatment
- H10N30/05—Manufacture of multilayered piezoelectric or electrostrictive devices, or parts thereof, e.g. by stacking piezoelectric bodies and electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N30/00—Piezoelectric or electrostrictive devices
- H10N30/50—Piezoelectric or electrostrictive devices having a stacked or multilayer structure
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N30/00—Piezoelectric or electrostrictive devices
- H10N30/80—Constructional details
- H10N30/87—Electrodes or interconnections, e.g. leads or terminals
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)
- Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
Abstract
Description
本願は、「多層圧電基板」との名称の2018年12月26日に出願された米国仮特許出願第62/785,011号の優先権の利益を主張し、その開示は全体がここに参照により組み入れられる。
Claims (40)
- 弾性波デバイスであって、
基板の上の圧電層と、
前記圧電層の上のインターディジタルトランスデューサ電極と、
前記圧電層の上の接地構造物と、
前記圧電層と前記基板との間に配置された導電層と
を含み、
前記導電層は前記接地構造物に電気的に接続される、弾性波デバイス。 - 前記圧電層の少なくとも一部分を通って延びるビアが、前記導電層と前記接地構造物との間の電気経路に含まれる、請求項1の弾性波デバイス。
- 前記ビアは、導電材料が充填された充填ビアである、請求項2の弾性波デバイス。
- 前記ビアはコンフォーマルビアである、請求項2の弾性波デバイス。
- 前記圧電層の側壁に沿って延びる導電材料が、前記導電層と前記接地構造物との間の電気経路に含まれる、請求項1の弾性波デバイス。
- 前記接地構造物は、互いから離間した複数の接地構造部分を含む、請求項1の弾性波デバイス。
- 前記インターディジタルトランスデューサ電極の上に配置された温度補償層をさらに含む、請求項1の弾性波デバイス。
- 前記圧電層と前記導電層との間に配置された分散調整層をさらに含む、請求項1の弾性波デバイス。
- 前記分散調整層は二酸化ケイ素を含む、請求項8の弾性波デバイス。
- 前記導電層はアルミニウムを含む、請求項1の弾性波デバイス。
- 前記導電層は、近似的に10ナノメートルと近似的に10ミクロンとの間の厚さを有する、請求項1の弾性波デバイス。
- 前記接地構造物は導電プレートを含む、請求項1の弾性波デバイス。
- 前記接地構造物は導電ピラーを含む、請求項1の弾性波デバイス。
- 弾性波フィルタであって、
弾性波デバイスと、
複数の他の弾性波デバイスと
を含み、
前記弾性波デバイスは、基板の上の圧電層と、前記圧電層の上のインターディジタルトランスデューサ電極と、前記圧電層の上の接地構造物と、前記圧電層と前記基板との間に配置された導電層とを含み、
前記導電層は前記接地構造物に電気的に接続され、
前記弾性波デバイスと前記複数の他の弾性波デバイスとは、無線周波数信号をフィルタリングするべく一緒に配列される、弾性波フィルタ。 - 弾性波デバイスを製造する方法であって、
弾性波デバイス構造物を与えることであって、前記弾性波デバイス構造物は、基板と、前記基板の上の導電層と、前記導電層の上の圧電層と、前記圧電層の上のインターディジタルトランスデューサ電極とを含み、前記導電層は、前記基板と圧電層との間に配置されることと、
前記導電層を、前記圧電層の上の接地構造物に電気的に接続することにより、前記導電層を接地することと
を含む、方法。 - 前記導電層を露出させるべく前記圧電層の少なくとも一部分を通る開口を形成することと、
前記開口に導電材料を与えることと
をさらに含み、
前記電気的に接続することは、前記導電層が前記導電材料を経由して前記接地構造物に電気的に接続されることを引き起こす、請求項15の方法。 - 前記開口における導電材料は充填ビアである、請求項16の方法。
- 前記圧電層の一部分をエッチングすることと、
前記圧電層のエッチング済み部分に導電材料を与えることと
をさらに含み、
前記電気的に接続することは、前記導電層が前記導電材料を経由して前記接地構造物に電気的に接続されることを引き起こす、請求項15の方法。 - 前記インターディジタルトランスデューサ電極の上に温度補償層を形成することをさらに含む、請求項15の方法。
- 前記与えることは、前記弾性波デバイス構造物に、前記圧電層と前記導電層との間に配置される分散調整層を与えることを含む、請求項15の方法。
- 弾性波デバイスであって、
基板の上の圧電層と、
前記圧電層の上のインターディジタルトランスデューサ電極と、
前記圧電層と前記基板との間に配置された導電層と、
前記基板の下に配置された接地構造物と
を含み、
前記基板は、前記導電層と前記接地構造物との間に配置され、
前記導電層は、前記接地構造物に電気的に接続される、弾性波デバイス。 - 前記基板の少なくとも一部分を通って延びるビアが、前記導電層と前記接地構造物との間の電気経路に含まれる、請求項21の弾性波デバイス。
- 前記ビアは充填ビアである、請求項22の弾性波デバイス。
- 前記ビアはコンフォーマルビアである、請求項22の弾性波デバイス。
- 前記基板の側壁に沿って延びる導電材料が、前記導電層と前記接地構造物との間の電気経路に含まれる、請求項21の弾性波デバイス。
- 前記接地構造物は、互いから離間した複数の接地構造部分を含む、請求項21の弾性波デバイス。
- 前記インターディジタルトランスデューサ電極の上に配置された温度補償層をさらに含む、請求項21の弾性波デバイス。
- 前記圧電層と前記導電層との間に配置された絶縁層をさらに含む、請求項21の弾性波デバイス。
- 前記インターディジタルトランスデューサ電極は、前記接地構造物に電気的に接続される、請求項21の弾性波デバイス。
- 前記導電層は、近似的に10ナノメートルと近似的に10ミクロンとの間の厚さを有する、請求項21の弾性波デバイス。
- 第1ビアが、前記接地構造物から前記導電構造物まで延び、第2ビアが、前記導電層を通って前記接地構造物から前記インターディジタルトランスデューサ電極まで延びる、請求項21の弾性波デバイス。
- 前記弾性波デバイスは、弾性表面波を生成するべく配列される、請求項21の弾性波デバイス。
- 弾性波フィルタであって、
弾性波デバイスと、
複数の他の弾性波デバイスと
を含み、
前記弾性波デバイスは、基板の上の圧電層と、前記圧電層の上のインターディジタルトランスデューサ電極と、前記圧電層と前記基板との間に配置された導電層と、前記基板の下に配置された接地構造物とを含み、
前記基板は、前記導電層と前記接地構造物との間に配置され、
前記導電層は、前記接地構造物に電気的に接続され、
前記弾性波デバイスと前記複数の他の弾性波デバイスとは、無線周波数信号をフィルタリングするべく一緒に配列される、弾性波フィルタ。 - 弾性波デバイスを製造する方法であって、
弾性波デバイス構造物を与えることであって、前記弾性波デバイス構造物は、基板と、前記基板の上の導電層と、前記導電層の上の圧電層と、前記圧電層の上のインターディジタルトランスデューサ電極とを含み、前記導電層は、前記基板と圧電層との間に配置されることと、
前記導電層を前記基板の下の接地構造物に電気的に接続することと
を含み、
前記基板は、前記導電層と前記接地構造物との間に配置される、方法。 - 前記基板の少なくとも一部分を通る開口を形成することと、
前記開口に導電材料を与えることと
をさらに含み、
前記電気的に接続することは、前記導電層が前記導電材料を経由して前記接地構造物に電気的に接続されることを引き起こす、請求項34の方法。 - 前記導電材料は、前記基板を貫通するビアを形成する、請求項35の方法。
- 前記インターディジタルトランスデューサ電極の上に温度補償層を形成することをさらに含む、請求項34の方法。
- 前記与えることは、前記弾性波デバイス構造物に、前記圧電層と前記導電層との間に配置される分散調整層を与えることを含む、請求項34の方法。
- 前記電気的に接続することはまた、前記接地構造物と前記インターディジタルトランスデューサ電極とを電気的に接続する、請求項34の方法。
- 前記電気的に接続することの後、第1ビアが前記接地構造物から前記導電構造物まで延び、第2ビアが、前記導電層を通って前記接地構造物から前記インターディジタルトランスデューサ電極まで延びる、請求項34の方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2024118327A JP2024164011A (ja) | 2018-12-26 | 2024-07-24 | 接地構造物を有する多層圧電基板 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201862785011P | 2018-12-26 | 2018-12-26 | |
US62/785,011 | 2018-12-26 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2024118327A Division JP2024164011A (ja) | 2018-12-26 | 2024-07-24 | 接地構造物を有する多層圧電基板 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020108145A true JP2020108145A (ja) | 2020-07-09 |
JP2020108145A5 JP2020108145A5 (ja) | 2022-12-27 |
JP7527779B2 JP7527779B2 (ja) | 2024-08-05 |
Family
ID=71122170
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019231526A Active JP7527779B2 (ja) | 2018-12-26 | 2019-12-23 | 弾性波デバイス、弾性波フィルタ、及び弾性波デバイスを製造する方法 |
JP2024118327A Pending JP2024164011A (ja) | 2018-12-26 | 2024-07-24 | 接地構造物を有する多層圧電基板 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2024118327A Pending JP2024164011A (ja) | 2018-12-26 | 2024-07-24 | 接地構造物を有する多層圧電基板 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US11677377B2 (ja) |
JP (2) | JP7527779B2 (ja) |
SG (1) | SG10201913392TA (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20220052669A1 (en) * | 2018-10-15 | 2022-02-17 | RF360 Europe GmbH | Electro acoustic rf filter with impedance element having improved performance and multiplexer component comprising the filter |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11677377B2 (en) | 2018-12-26 | 2023-06-13 | Skyworks Solutions, Inc. | Multi-layer piezoelectric substrate with grounding structure |
US12081189B2 (en) | 2019-11-21 | 2024-09-03 | Skyworks Solutions, Inc. | Packaged bulk acoustic wave resonator on acoustic wave device |
US20230016884A1 (en) * | 2021-07-15 | 2023-01-19 | Skyworks Solutions, Inc. | Multilayer piezoelectric substrate device with partially recessed passivation layer |
US20230062981A1 (en) * | 2021-08-27 | 2023-03-02 | Skyworks Solutions, Inc. | Packaged multilayer piezoelectric surface acoustic wave device with conductive pillar |
CN118157618B (zh) * | 2024-05-09 | 2024-08-23 | 苏州科阳半导体有限公司 | 晶圆封装结构及其方法、滤波器封装方法和滤波器结构 |
CN118157617B (zh) * | 2024-05-09 | 2024-08-20 | 苏州科阳半导体有限公司 | 晶圆封装结构及其方法、滤波器封装方法和滤波器结构 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3163606B2 (ja) | 1993-01-29 | 2001-05-08 | 住友電気工業株式会社 | 表面弾性波素子 |
JPH07226607A (ja) | 1994-02-10 | 1995-08-22 | Hitachi Ltd | 分波器、分波器モジュールおよび無線通信装置 |
JP3306272B2 (ja) | 1995-10-20 | 2002-07-24 | 富士通株式会社 | 弾性表面波装置 |
JP2000049564A (ja) | 1998-05-29 | 2000-02-18 | Kyocera Corp | 弾性表面波装置 |
JP4601415B2 (ja) * | 2004-12-24 | 2010-12-22 | 京セラ株式会社 | 弾性表面波装置および通信装置 |
JP2006211613A (ja) | 2005-01-31 | 2006-08-10 | Sony Corp | Sawデバイス、通信モジュール及びsawデバイスの製造方法 |
DE102005032058B4 (de) | 2005-07-08 | 2016-12-29 | Epcos Ag | HF-Filter mit verbesserter Gegenbandunterdrückung |
EP2056456B1 (en) * | 2006-10-12 | 2013-03-13 | Murata Manufacturing Co. Ltd. | Elastic boundary-wave device |
JP4781969B2 (ja) | 2006-10-31 | 2011-09-28 | 京セラ株式会社 | 分波器デバイス用回路基板、分波器、及び通信装置 |
FI124732B (en) | 2011-11-11 | 2014-12-31 | Teknologian Tutkimuskeskus Vtt | Laterally connected bulk wave filter with improved passband characteristics |
US9093979B2 (en) | 2012-06-05 | 2015-07-28 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Laterally-coupled acoustic resonators |
JP6427075B2 (ja) | 2015-07-08 | 2018-11-21 | 太陽誘電株式会社 | 弾性波デバイス、分波器、及びモジュール |
US10812038B2 (en) | 2015-08-25 | 2020-10-20 | Avago Technologies International Sales Pte. Limited | Acoustic wave resonator |
US10938367B2 (en) | 2016-03-31 | 2021-03-02 | Qorvo Us, Inc. | Solidly mounted layer thin film device with grounding layer |
JP6748010B2 (ja) | 2017-03-21 | 2020-08-26 | 太陽誘電株式会社 | 弾性波デバイスの製造方法 |
CN110771035B (zh) | 2017-06-21 | 2023-08-08 | 株式会社村田制作所 | 弹性波装置 |
US11677377B2 (en) | 2018-12-26 | 2023-06-13 | Skyworks Solutions, Inc. | Multi-layer piezoelectric substrate with grounding structure |
-
2019
- 2019-12-20 US US16/723,714 patent/US11677377B2/en active Active
- 2019-12-20 US US16/723,819 patent/US11671072B2/en active Active
- 2019-12-23 JP JP2019231526A patent/JP7527779B2/ja active Active
- 2019-12-26 SG SG10201913392TA patent/SG10201913392TA/en unknown
-
2023
- 2023-04-19 US US18/303,012 patent/US20230370044A1/en active Pending
-
2024
- 2024-07-24 JP JP2024118327A patent/JP2024164011A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20220052669A1 (en) * | 2018-10-15 | 2022-02-17 | RF360 Europe GmbH | Electro acoustic rf filter with impedance element having improved performance and multiplexer component comprising the filter |
US11894836B2 (en) * | 2018-10-15 | 2024-02-06 | Rf360 Singapore Pte. Ltd. | Electro acoustic RF filter with impedance element having improved performance and multiplexer component comprising the filter |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20230370044A1 (en) | 2023-11-16 |
SG10201913392TA (en) | 2020-07-29 |
US20200212883A1 (en) | 2020-07-02 |
US11677377B2 (en) | 2023-06-13 |
JP7527779B2 (ja) | 2024-08-05 |
JP2024164011A (ja) | 2024-11-26 |
US11671072B2 (en) | 2023-06-06 |
US20200212875A1 (en) | 2020-07-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7527779B2 (ja) | 弾性波デバイス、弾性波フィルタ、及び弾性波デバイスを製造する方法 | |
US11368137B2 (en) | Acoustic wave device with transverse mode suppression | |
US11349454B2 (en) | Acoustic wave devices with common glass substrate | |
US20230308081A1 (en) | Surface acoustic wave device | |
US20240348231A1 (en) | Acoustic wave device with transverse spurious mode suppression | |
US11848658B2 (en) | Acoustic wave resonator with mass loading strip for suppression of hyperbolic mode | |
JP2005536958A (ja) | 気密のカプセル化部材を備えた共振器および素子 | |
US12149224B2 (en) | Bulk acoustic wave resonator on multi-layer piezoelectric substrate acoustic wave device | |
US20250030401A1 (en) | Acoustic wave resonator with patterned conductive layer for transverse mode suppression | |
US20220321088A1 (en) | Acoustic wave device with double side acoustic mirror | |
US20230344406A1 (en) | Acoustic wave device having mass loading strip with thermal expansion compensation buffer layer | |
JP2020088856A (ja) | セラミック基板を有する弾性波デバイス | |
US20230110477A1 (en) | Packaged acoustic wave devices with multilayer piezoelectric substrate | |
US20230336145A1 (en) | Packaged acoustic wave devices with multilayer piezoelectric substrate | |
US20220209738A1 (en) | Acoustic wave device with mass loading strip having tapered sidewall |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20221219 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20221219 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20240109 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20240116 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20240416 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20240625 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20240724 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7527779 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |