JP2020088374A - Conveyance system, conveyance method, device manufacturing apparatus, and device manufacturing method - Google Patents

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孝雄 星野
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裕介 阪上
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Noburo Shioiri
信朗 塩入
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Abstract

To prevent a positional deviation of a processing body at the time of movement of a conveyance robot.SOLUTION: A device manufacturing apparatus includes a conveyance system including: a conveyance robot 14 for conveying a processing body (mask M) loaded on a robot hand part 24; a control unit for controlling a conveyance motion of the conveyance robot; and detection means 30 for detecting the existence of a positional deviation of the processing body on the robot hand part on a conveyance path for the processing body. The conveyance motion includes: a first motion of moving the robot hand part to a position facing a carrying-in opening part 11a of a carrying-in destination chamber in a state in which the processing body is loaded on the robot hand part; and a second motion of straightly advancing robot hand part from the position facing the carrying-in opening part toward the carrying-in opening part to advance the robot hand part into the carrying-in destination chamber. The control unit controls the conveyance robot so as to perform the second motion when it is determined by the detection means that no positional deviation of the processing body on the robot hand part exists at the position facing the carrying-in opening part of the carrying-in destination chamber.SELECTED DRAWING: Figure 6A

Description

本発明は、搬送システム、搬送方法、デバイス製造装置、及びデバイス製造方法に関する。 The present invention relates to a transfer system, a transfer method, a device manufacturing apparatus, and a device manufacturing method.

最近、フラットパネル表示装置としての有機EL表示装置が脚光を浴びている。有機EL表示装置は自発光ディスプレイであり、応答速度、視野角、薄型化などの特性が液晶パネルディスプレイより優れており、モニタ、テレビ、スマートフォンに代表される各種携帯端末などで既存の液晶パネルディスプレイを速いスピードで代替している。また、自動車用ディスプレイ等にも、その応用分野を広げている。 Recently, an organic EL display device as a flat panel display device has been in the spotlight. The organic EL display device is a self-luminous display, and has characteristics such as response speed, viewing angle, and thinness that are superior to liquid crystal panel displays. Existing liquid crystal panel displays for monitors, televisions, various types of mobile terminals represented by smartphones, etc. Is replaced with a fast speed. The field of application is also expanding to automobile displays.

有機EL表示装置を構成する有機発光素子(有機EL素子;OLED)は、2つの向かい合う電極(カソード電極、アノード電極)の間に発光を起こす有機物層である発光層を含む機能層が形成された基本構造を持つ。有機発光素子の機能層と電極層は、例えば、真空チャンバー内で、画素パターンが形成されたマスクを介して基板に蒸着材料を蒸着することで製造される。 In an organic light emitting element (organic EL element; OLED) that constitutes an organic EL display device, a functional layer including a light emitting layer that is an organic material layer that emits light is formed between two facing electrodes (cathode electrode, anode electrode). Has a basic structure. The functional layer and the electrode layer of the organic light emitting device are manufactured by, for example, depositing a deposition material on a substrate through a mask in which a pixel pattern is formed in a vacuum chamber.

このような有機EL表示装置の製造ラインでは、リンク構造の多関節アームにハンドが連結されている搬送ロボットを使用し基板及び/又はマスクを成膜室、パス室、バッファ室、マスクストックチャンバーなどに順次搬送しつつ、基板の処理面上に前述の電極及び各種の機能層を順次に形成する。 In a manufacturing line of such an organic EL display device, a transfer robot in which a hand is connected to an articulated arm having a link structure is used to deposit a substrate and/or a mask into a film forming chamber, a pass chamber, a buffer chamber, a mask stock chamber, etc. The above-mentioned electrodes and various functional layers are sequentially formed on the processed surface of the substrate while being sequentially transported.

基板やマスクなどの処理体を搬送ロボットに載置した状態での搬送ロボットによる搬送動作は、前述した各種のチャンバー間の移動のための前進/後退動作、横方向の移動動作、旋回動作など、様々な移動動作を含むことができ、この移動の際に、ロボットハンド上における基板やマスクなどの処理体の位置ずれが発生する可能性がある。 The transfer operation by the transfer robot with the processing object such as the substrate and the mask placed on the transfer robot includes the forward/backward movement for moving between the various chambers described above, the lateral movement operation, and the swiveling operation. Various movement operations can be included, and during this movement, positional displacement of a processing object such as a substrate or a mask on the robot hand may occur.

このような位置ずれが発生したにもかかわらず、これを認識できず、搬送ロボットによる搬送動作を続けると、例えば、基板やマスクなどの処理体がずれた状態で載せられているロボットハンドを成膜室内に入れようとすると、チャンバーの搬入開口部で処理体が衝突し成膜室への搬入が正常に行われなくなる。 Even if such a position shift occurs, it cannot be recognized and if the transfer operation by the transfer robot is continued, for example, a robot hand on which a processing object such as a substrate or a mask is placed in a displaced state is formed. If an attempt is made to enter the film chamber, the processing objects collide with each other at the carry-in opening portion of the chamber, and the film cannot be normally carried into the film forming chamber.

本発明は、このような問題を解決するためのものであり、搬送ロボットによる処理体の搬送の際に、ロボットハンド上での処理体の位置ずれを検知し、搬入開口部での処理体の衝突を防止することができる、搬送システム、搬送方法、デバイス製造装置、及びデバイス製造方法を提供することを目的とする。 The present invention is to solve such a problem, and detects the positional deviation of the processing object on the robot hand during the transportation of the processing object by the transfer robot to detect the processing object at the loading opening. An object of the present invention is to provide a transfer system, a transfer method, a device manufacturing apparatus, and a device manufacturing method capable of preventing collision.

本発明の一実施形態による搬送システムは、搬出元チャンバーから処理体を搬出して搬入先チャンバーに搬入する搬送システムであって、ロボットハンド部上に前記処理体を載置して搬送する搬送ロボットと、前記搬送ロボットの搬送動作を制御する制御部と、前記処理体の搬送経路において、前記ロボットハンド部上での前記処理体の位置ずれの有無を検知する検知手段とを有し、前記搬送動作は、前記ロボットハンド部上に前記処理体を載置した状態で前記ロボットハンド部を前記搬入先チャンバーの搬入開口部に対向する位置まで移動させる第1動作と、前記ロボットハンド部を前記搬入開口部に対向する位置から
前記搬入開口部に向かって直進移動させ前記搬入先チャンバー内に進入させる第2動作を含み、前記制御部は、前記搬入先チャンバーの搬入開口部に対向する位置において、前記検知手段により前記ロボットハンド部上での前記処理体の位置ずれがないと判定されたときに前記第2動作を行うように、前記搬送ロボットを制御することを特徴とする。
A transfer system according to an embodiment of the present invention is a transfer system that carries out a process body from a carry-out source chamber and carries it into a carry-in destination chamber, and a carry robot that places and carries the process body on a robot hand unit. A transfer unit for controlling the transfer operation of the transfer robot; and a detection unit for detecting the presence or absence of positional displacement of the process object on the robot hand unit in the transfer path of the process object. The operation includes a first operation of moving the robot hand portion to a position facing the loading opening of the loading destination chamber with the processing object placed on the robot hand portion, and the loading of the robot hand portion. Including a second operation of linearly moving toward the carry-in opening from a position facing the opening to enter the carry-in destination chamber, wherein the controller is located at a position facing the carry-in opening of the carry-in destination chamber, The transfer robot is controlled so as to perform the second operation when the detection unit determines that there is no positional deviation of the processing object on the robot hand unit.

本発明の一実施形態による搬送方法は、ロボットハンド部上に処理体を載置して搬送する搬送ロボットと、前記搬送ロボットの搬送動作を制御する制御部と、前記処理体の搬送経路において、前記ロボットハンド部上での前記処理体の位置ずれの有無を検知する検知手段とを有する搬送システムを使用し、搬出元チャンバーから処理体を搬出して搬入先チャンバーに搬入する搬送方法であって、前記ロボットハンド部上に前記処理体を載置した状態で前記ロボットハンド部を前記搬入先チャンバーの搬入開口部に対向する位置まで移動させる第1工程と、前記ロボットハンド部を前記搬入開口部に対向する位置から前記搬入開口部に向かって直進移動させ前記搬入先チャンバー内に進入させる第2工程とを含み、前記第2工程は、前記搬入先チャンバーの搬入開口部に対向する位置において、前記検知手段により前記ロボットハンド部上での前記処理体の位置ずれがないと判定されたときに行われるように、前記搬送ロボットを制御することを特徴とする。 A transfer method according to an embodiment of the present invention is a transfer robot that places and transfers a processing object on a robot hand section, a control unit that controls a transfer operation of the transfer robot, and a transfer path of the processing object, A transfer method that uses a transfer system having a detection unit that detects the presence or absence of positional displacement of the processing object on the robot hand part, and transfers the processing object from the transfer source chamber to the transfer destination chamber. A first step of moving the robot hand part to a position facing the carry-in opening part of the carry-in destination chamber in a state where the processing object is placed on the robot hand part; and the robot hand part, the carry-in opening part. And a second step of advancing into the carry-in destination chamber by linearly moving toward the carry-in opening from a position facing the carry-in opening, wherein the second step is a position facing the carry-in opening of the carry-in destination chamber, The transfer robot is controlled so as to be performed when the detection unit determines that there is no positional displacement of the processing object on the robot hand unit.

本発明によれば、搬送ロボットによる処理体の搬送の際に、ロボットハンド上での処理体の位置ずれを検知し、搬入開口部での処理体の衝突を防止することができる。 According to the present invention, it is possible to detect the positional deviation of the processing body on the robot hand during the transportation of the processing body by the transfer robot and prevent the collision of the processing body at the carry-in opening.

図1は、有機EL表示装置の製造ラインの一部の模式図である。FIG. 1 is a schematic view of a part of a manufacturing line of an organic EL display device. 図2は、成膜室の構成を概略的に示す図である。FIG. 2 is a diagram schematically showing the configuration of the film forming chamber. 図3は、搬送ロボットの構成を示す模式図である。FIG. 3 is a schematic diagram showing the configuration of the transfer robot. 図4Aは、搬送ロボットによってマスクストックチャンバーからマスクを搬出し成膜室に搬入する一連の搬送動作を説明する図である。FIG. 4A is a diagram illustrating a series of transfer operations of transferring a mask from the mask stock chamber to the film forming chamber by the transfer robot. 図4Bは、搬送ロボットによってマスクストックチャンバーからマスクを搬出し成膜室に搬入する一連の搬送動作を説明する図である。FIG. 4B is a diagram illustrating a series of transfer operations in which the transfer robot takes out the mask from the mask stock chamber and transfers the mask into the film forming chamber. 図4Cは、搬送ロボットによってマスクストックチャンバーからマスクを搬出し成膜室に搬入する一連の搬送動作を説明する図である。FIG. 4C is a diagram illustrating a series of transfer operations in which the transfer robot takes out the mask from the mask stock chamber and transfers the mask into the film forming chamber. 図5Aは、搬送ロボットによってマスクストックチャンバーからマスクを搬出し成膜室に搬入する一連の搬送動作を説明する図である。FIG. 5A is a diagram illustrating a series of transfer operations in which the transfer robot takes out the mask from the mask stock chamber and transfers the mask into the film forming chamber. 図5Bは、搬送ロボットによってマスクストックチャンバーからマスクを搬出し成膜室に搬入する一連の搬送動作を説明する図である。FIG. 5B is a diagram illustrating a series of transfer operations in which the transfer robot takes out the mask from the mask stock chamber and transfers the mask into the film forming chamber. 図5Cは、搬送ロボットによってマスクストックチャンバーからマスクを搬出し成膜室に搬入する一連の搬送動作を説明する図である。FIG. 5C is a diagram illustrating a series of transfer operations in which the transfer robot takes out the mask from the mask stock chamber and transfers the mask into the film forming chamber. 図6Aは、本発明の一実施形態による位置ずれ検知手段の検知位置の設置例を示す図である。FIG. 6A is a diagram showing an example of installation of detection positions of the positional deviation detection means according to the embodiment of the present invention. 図6Bは、本発明の一実施形態による位置ずれ検知手段の検知位置の設置例を示す図である。FIG. 6B is a diagram showing an example of installation of detection positions of the positional deviation detection means according to the embodiment of the present invention. 図7Aは、本発明の一実施形態による位置調整手段の一例を示す模式図である。FIG. 7A is a schematic view showing an example of the position adjusting means according to the embodiment of the present invention. 図7Bは、本発明の一実施形態による位置調整手段の一例を示す模式図である。FIG. 7B is a schematic view showing an example of the position adjusting means according to the embodiment of the present invention. 図7Cは、本発明の一実施形態による位置調整手段の一例を示す模式図である。FIG. 7C is a schematic view showing an example of the position adjusting means according to the embodiment of the present invention. 図8は、デュアルステージタイプの成膜室へのマスクの搬送動作に本発明を適用した実施形態を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing an embodiment in which the present invention is applied to the operation of transferring a mask to a dual stage type film forming chamber. 図9は、電子デバイスを示す模式図である。FIG. 9 is a schematic diagram showing an electronic device.

以下、図面を参照して、本発明の好ましい実施形態及び実施例を説明する。ただし、以下の実施形態及び実施例は、本発明の好ましい構成を例示的に表すものであり、本発明の範囲は、これらの構成に限定されない。また、以下の説明において、装置のハードウェア構成及びソフトウェア構成、処理の流れ、製造条件、大きさ、材質、形状等は、特に特定的な記載がない限り、本発明の範囲をこれに限定しようとする趣旨ではない。 Hereinafter, preferred embodiments and examples of the present invention will be described with reference to the drawings. However, the following embodiments and examples exemplify preferable configurations of the present invention, and the scope of the present invention is not limited to these configurations. In the following description, the hardware configuration and software configuration of the device, the flow of processing, the manufacturing conditions, the size, the material, the shape, etc. will limit the scope of the present invention to this unless otherwise specified. It does not mean that.

本発明は、複数の成膜室に基板を順次搬送しながら、基板の表面に各種の材料を堆積させて成膜を行う装置に適用することができ、真空蒸着によって所望のパターンの薄膜(材料層)を形成する装置に好適に適用することができる。基板の材料としては、ガラス、樹脂、金属などの任意の材料を選ぶことができ、また、蒸着材料としても有機材料、無機材料(金属、金属酸化物など)などの任意の材料を選ぶことができる。本発明の技術は、具体的には、有機電子デバイス(例えば、有機発光素子、薄膜太陽電池)、光学部材などの製造装置に適用可能である。その中でも、蒸着材料を蒸発させてマスクを介して基板に蒸着させることによって有機発光素子を形成する有機発光素子の製造装置は、本発明の好適な適用例である。 INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can be applied to an apparatus that deposits various materials on the surface of a substrate to form a film while sequentially transporting the substrate to a plurality of film forming chambers, and forms a thin film (material It can be suitably applied to a device for forming a layer). Any material such as glass, resin or metal can be selected as the material of the substrate, and any material such as organic material or inorganic material (metal, metal oxide, etc.) can be selected as the vapor deposition material. it can. Specifically, the technique of the present invention can be applied to an apparatus for manufacturing an organic electronic device (for example, an organic light emitting element, a thin film solar cell), an optical member, or the like. Among them, an apparatus for manufacturing an organic light emitting element that forms an organic light emitting element by evaporating a vapor deposition material and depositing it on a substrate through a mask is a preferable application example of the present invention.

<電子デバイス製造ライン>
図1は、電子デバイスの製造ラインの構成の一部を模式的に図示した平面図である。図1の製造ラインは、例えば、スマートフォン用の有機EL表示装置の表示パネルの製造に用いられる。スマートフォン用の表示パネルの場合、例えば、第6世代基板フルサイズ(約1500mm×約1850mm)又は第6世代基板ハーフカットサイズ(約1500mm×約925mm)の基板に有機ELの成膜を行った後、該基板をカットして複数の小さなサイズのパネルを製作する。
<Electronic device manufacturing line>
FIG. 1 is a plan view schematically showing a part of the configuration of an electronic device manufacturing line. The manufacturing line of FIG. 1 is used for manufacturing a display panel of an organic EL display device for a smartphone, for example. In the case of a display panel for a smartphone, for example, after the organic EL film is formed on the substrate of the sixth generation substrate full size (about 1500 mm x about 1850 mm) or the sixth generation substrate half cut size (about 1500 mm x about 925 mm). Then, the substrate is cut to manufacture a plurality of small-sized panels.

有機EL表示装置の製造ラインの成膜クラスタ1は、一般的に図1に示すように、基板Sに対する処理(例えば、成膜)が行われる複数の成膜室11と、使用前後のマスクが収納されるマスクストックチャンバー12と、その中央に配置される搬送室13を具備する。 Generally, as shown in FIG. 1, a film forming cluster 1 in a manufacturing line of an organic EL display device includes a plurality of film forming chambers 11 in which a process (for example, film forming) is performed on a substrate S and a mask before and after use. A mask stock chamber 12 to be stored and a transfer chamber 13 arranged in the center thereof are provided.

搬送室13内には、複数の成膜室11の間で基板Sを搬送し、成膜室11とマスクストックチャンバー12との間でマスクを搬送するための搬送ロボット14が設置される。搬送ロボット14は、例えば、多関節アームに、基板S又はマスクを保持するロボットハンドが取り付けられた構造を有するロボットである。搬送ロボット14の構造の詳細については、後述する。 In the transfer chamber 13, a transfer robot 14 is installed to transfer the substrate S between the film forming chambers 11 and transfer the mask between the film forming chamber 11 and the mask stock chamber 12. The transfer robot 14 is, for example, a robot having a structure in which a robot hand holding the substrate S or the mask is attached to an articulated arm. Details of the structure of the transfer robot 14 will be described later.

成膜クラスタ1には、基板Sの搬送方向において上流側からの基板Sを成膜クラスタ1に搬送するパス室15と、該成膜クラスタ1で成膜処理が完了した基板Sを下流側の他の成膜クラスタに搬送するためのバッファ室16が連結される。搬送室13の搬送ロボット14は、上流側のパス室15から基板Sを受け取って、当該成膜クラスタ1内の成膜室11の一つに搬送する。また、搬送ロボット14は、当該成膜クラスタ1での成膜処理が完了した基板Sを複数の成膜室11の一つから受け取って、下流側に連結されたバッファ室16に搬送する。バッファ室16とさらに下流側のパス室15との間には、基板Sの方向を変える旋回室17が設けられている。これにより、上流側成膜クラスタと下流側成膜クラスタで基板の方向が同一となるため、基板処理が容易になる。 The film forming cluster 1 includes a path chamber 15 for transferring the substrate S from the upstream side to the film forming cluster 1 in the conveying direction of the substrate S, and a substrate S for which the film forming process is completed in the film forming cluster 1 on the downstream side. A buffer chamber 16 for transferring to another film forming cluster is connected. The transfer robot 14 in the transfer chamber 13 receives the substrate S from the upstream pass chamber 15 and transfers it to one of the film forming chambers 11 in the film forming cluster 1. Further, the transfer robot 14 receives the substrate S on which the film forming process is completed in the film forming cluster 1 from one of the plurality of film forming chambers 11 and transfers it to the buffer chamber 16 connected to the downstream side. A swirl chamber 17 that changes the direction of the substrate S is provided between the buffer chamber 16 and the pass chamber 15 on the further downstream side. Accordingly, the substrate direction is the same in the upstream film formation cluster and the downstream film formation cluster, which facilitates the substrate processing.

マスクストックチャンバー12には、成膜室11での成膜工程に使われるマスク及び使用後のマスクが複数のカセットに分けて収納される。搬送ロボット14は、使用後のマスクを成膜室11からマスクストックチャンバー12のカセットに搬送し、マスクストック
チャンバー12の他のカセットに収納されている新しいマスクを成膜室11に搬送する。
In the mask stock chamber 12, masks used in the film forming process in the film forming chamber 11 and used masks are separately stored in a plurality of cassettes. The transfer robot 14 transfers the used mask from the film forming chamber 11 to the cassette of the mask stock chamber 12, and transfers a new mask stored in another cassette of the mask stock chamber 12 to the film forming chamber 11.

成膜室11、マスクストックチャンバー12、搬送室13、バッファ室16、旋回室17などの各チャンバーは、有機EL表示パネルの製造過程で、高真空状態に維持される。 Each chamber such as the film forming chamber 11, the mask stock chamber 12, the transfer chamber 13, the buffer chamber 16 and the swirl chamber 17 is maintained in a high vacuum state during the manufacturing process of the organic EL display panel.

図2を参照して、成膜室11の構成と成膜室11で行われる蒸着工程について説明する。図2(a)に示すように、成膜室11は、基板Sに対して蒸着材料を蒸発させて放出する蒸発源ユニット100を含む。蒸発源ユニット100は、蒸着材料を収容する収容部と、蒸着材料を加熱して蒸発させるための加熱部などで構成された蒸発源110を含む。 The structure of the film forming chamber 11 and the vapor deposition process performed in the film forming chamber 11 will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 2A, the film forming chamber 11 includes an evaporation source unit 100 that evaporates and discharges the vapor deposition material with respect to the substrate S. The evaporation source unit 100 includes an evaporation source 110 configured by a storage unit that stores an evaporation material and a heating unit that heats and evaporates the evaporation material.

蒸発源110は、基板Sの蒸着面に向かって蒸着材料を放出する放出孔或いはノズルを複数備える構造を持つが、これに限らず、基板S、マスクMのパターン、蒸着材料の種類等に合わせて、適宜選定すればよく、例えば、点(point)蒸発源や線形(linear)蒸発源、蒸着材料を収容する小型の収容部に、蒸着材料を放出する複数の放出孔を持つ拡散室を接続した構造の蒸発源などを用いてもよい。また、成膜室11は、図2(b)に示すように、膜厚モニタ114、膜厚計113、電源116、基板ホルダー111、マスクホルダー112などの他の構成部品を更に含むことができる。 The evaporation source 110 has a structure including a plurality of discharge holes or nozzles for discharging the vapor deposition material toward the vapor deposition surface of the substrate S, but is not limited to this, and is adapted to the substrate S, the pattern of the mask M, the type of vapor deposition material, and the like. It may be appropriately selected. For example, a diffusion chamber having a plurality of emission holes for discharging the vapor deposition material is connected to a point evaporation source, a linear evaporation source, or a small accommodating portion for accommodating the vapor deposition material. An evaporation source having the above structure may be used. The film forming chamber 11 can further include other components such as a film thickness monitor 114, a film thickness meter 113, a power supply 116, a substrate holder 111, and a mask holder 112, as shown in FIG. 2B. ..

膜厚モニタ114は、蒸発源110から放出された蒸着材料の蒸発レート(rate)をモニタする。膜厚計113は、膜厚モニタ114からの入力信号を受けて膜厚を計測する。電源116は、蒸発源110に設けられた加熱装置に供給される電力を制御する。基板ホルダー111は、基板Sを保持する。不図示の移動機構により基板ホルダー111に保持された基板SをマスクMや蒸発源に対して相対的に移動させることができる。マスクホルダー112は、マスクMを保持する。不図示の移動機構によりマスクホルダー112に保持されたマスクMを基板Sや蒸発源110に対して相対的に移動させることができる。図示した成膜室11は、一つのチャンバー内に2つの基板Sが搬入され、その中の一つの基板Sに対して蒸着が行われている間(例えば、A側ステージ)に、他の基板Sに対しては(例えば、B側ステージ)、マスクMと基板S間の整列(アライメント)が行われる、いわゆる「デュアルステージ」構成の成膜室を示したものである。 The film thickness monitor 114 monitors the evaporation rate of the vapor deposition material emitted from the evaporation source 110. The film thickness meter 113 receives the input signal from the film thickness monitor 114 and measures the film thickness. The power supply 116 controls the electric power supplied to the heating device provided in the evaporation source 110. The substrate holder 111 holds the substrate S. The substrate S held by the substrate holder 111 can be moved relative to the mask M and the evaporation source by a moving mechanism (not shown). The mask holder 112 holds the mask M. The mask M held by the mask holder 112 can be moved relatively to the substrate S or the evaporation source 110 by a moving mechanism (not shown). In the illustrated film forming chamber 11, two substrates S are loaded into one chamber, and while one substrate S therein is being vapor-deposited (for example, an A-side stage), another substrate S For S (for example, the B-side stage), the so-called "dual stage" configuration film formation chamber in which the alignment between the mask M and the substrate S is performed is shown.

成膜室11内での蒸着工程は以下のような過程を介して行われる。蒸着対象である基板Sと蒸着パターンが形成されているマスクMをそれぞれ前述の搬送ロボット14によって成膜室11内に搬入して、基板ホルダー111及びマスクホルダー112上にそれぞれ配置する。続いて、マスクMに形成されたアライメントマークと基板Sに形成されたアライメントマークを利用し、マスクMと基板Sとのアライメントを行う。マスクMと基板Sとのアライメントは、基板ホルダー111を移動制御し、基板Sを移動させて行ってもよいし、マスクホルダー112を移動制御し、マスクMを移動させて行ってもよい。アライメント終了後、蒸発源110のシャッターを開けて、蒸発源110に接続された回転移動部115を動かしながら、マスクMのパターンに沿って基板Sに蒸着材料を蒸着する。この時、水晶振動子などの膜厚モニタ114は、蒸発レートを計測し、膜厚計113で膜厚に換算する。膜厚計113で換算された膜厚が目標膜厚になるまで蒸着を続ける。膜厚計113で換算した膜厚が目標膜厚に達すると、蒸発源110のシャッターを閉じて蒸着を終了する。 The vapor deposition process in the film forming chamber 11 is performed through the following processes. The substrate S to be vapor-deposited and the mask M on which the vapor-deposition pattern is formed are carried into the film forming chamber 11 by the above-mentioned transfer robot 14 and placed on the substrate holder 111 and the mask holder 112, respectively. Then, using the alignment mark formed on the mask M and the alignment mark formed on the substrate S, the mask M and the substrate S are aligned. The alignment between the mask M and the substrate S may be performed by moving the substrate holder 111 and moving the substrate S, or by moving the mask holder 112 and moving the mask M. After the alignment is completed, the shutter of the evaporation source 110 is opened, and the evaporation material is deposited on the substrate S along the pattern of the mask M while moving the rotary moving unit 115 connected to the evaporation source 110. At this time, the film thickness monitor 114 such as a crystal oscillator measures the evaporation rate, and the film thickness meter 113 converts it into a film thickness. Vapor deposition is continued until the film thickness converted by the film thickness meter 113 reaches the target film thickness. When the film thickness converted by the film thickness meter 113 reaches the target film thickness, the shutter of the evaporation source 110 is closed to end the vapor deposition.

本発明の成膜クラスタは、上記のような成膜クラスタ1に限定されず、他の種類のチャンバーを有してもよく、チャンバー間の配置が異なってもよい。 The film forming cluster of the present invention is not limited to the film forming cluster 1 as described above, and may have other types of chambers, and the arrangement between the chambers may be different.

以下、搬送室13の周囲に配置された各種のチャンバー(成膜室11、パス室15、バッファ室16、マスクストックチャンバー12)の間で処理体(基板又はマスク)を搬送する搬送ロボット14の構造、及び搬送ロボット14による搬送動作の詳細について説明
する。
Hereinafter, a transfer robot 14 that transfers a processing object (substrate or mask) between various chambers (film forming chamber 11, pass chamber 15, buffer chamber 16, mask stock chamber 12) arranged around the transfer chamber 13 will be described. Details of the structure and the transport operation by the transport robot 14 will be described.

<搬送ロボット14の構造>
図3は、搬送室13内の搬送ロボット14の構成を示す模式図である。以下の説明においては、搬送ロボット14のロボットアーム部とロボットハンド部との接続部の回転軸に平行な方向をZ軸としたXYZ座標系を使用する。
<Structure of the transfer robot 14>
FIG. 3 is a schematic diagram showing the configuration of the transfer robot 14 in the transfer chamber 13. In the following description, an XYZ coordinate system is used in which the direction parallel to the rotation axis of the connecting portion between the robot arm portion and the robot hand portion of the transfer robot 14 is the Z axis.

搬送ロボット14は、搬送室13の底面に設置されるベース部21と、ベース部21からZ軸方向(本実施形態では鉛直方向)に延伸し、Z軸方向に移動可能なシャフト部22と、シャフト部22に回転可能に連結されるロボットアーム部23とを含む。 The transfer robot 14 includes a base part 21 installed on the bottom surface of the transfer chamber 13, a shaft part 22 extending from the base part 21 in the Z-axis direction (vertical direction in this embodiment) and movable in the Z-axis direction. The robot arm 23 is rotatably connected to the shaft 22.

ロボットアーム部23は、複数のアームが関節部を介して互いに回動可能に連結された構造を有することができる。例えば、ロボットアーム部23は、一端がシャフト部22に回転可能に連結される第1アーム231と、一端が第1アーム231の他端と回転可能に連結される第2アーム232とを含むことができる。図3では、2つのアームが関節部を介して互いに回動可能に連結された構造を図示したが、本発明はこれに限定されず、2つのアームがアームの長手方向に相対的に摺動変位し、伸縮可能な構造を有することもできる。また、第1アーム231がシャフト部22に回転可能に連結されると説明したが、これに限定されず、第1アーム231がシャフト部22に固定的に連結され、その代わりにシャフト部22自体が回転することもできる。 The robot arm unit 23 may have a structure in which a plurality of arms are rotatably connected to each other via joints. For example, the robot arm unit 23 includes a first arm 231 whose one end is rotatably connected to the shaft unit 22, and a second arm 232 whose one end is rotatably connected to the other end of the first arm 231. You can Although FIG. 3 illustrates the structure in which the two arms are rotatably connected to each other through the joints, the present invention is not limited to this, and the two arms relatively slide in the longitudinal direction of the arms. It can also have a structure that can be displaced and expanded and contracted. Further, although the first arm 231 is described as being rotatably connected to the shaft portion 22, the present invention is not limited to this, and the first arm 231 is fixedly connected to the shaft portion 22 and instead of the shaft portion 22 itself. Can also rotate.

第2アーム232の他端(先端)には、ロボットハンド部24が回転可能に設置される。ロボットハンド部24は、基板やマスクなどの処理体がその上に載置され得る構造を有する。ロボットハンド部24は、処理体を安定的に載置するため、ロボットアーム部23との接続部からロボットハンド部24の自由端の先端に向かう方向に延伸する複数のフィンガーを有することができる。ロボットハンド部24のフィンガーの処理体載置面には、処理体の損傷を防止するため、フッ素コーティングなどが行われてもよい。 The robot hand unit 24 is rotatably installed at the other end (tip) of the second arm 232. The robot hand unit 24 has a structure on which a processing object such as a substrate or a mask can be placed. The robot hand unit 24 may have a plurality of fingers extending in a direction from the connection portion with the robot arm unit 23 toward the tip of the free end of the robot hand unit 24 in order to stably mount the processing object. Fluorine coating or the like may be applied to the processing object mounting surface of the fingers of the robot hand unit 24 in order to prevent damage to the processing object.

このような構造を持つ本発明の搬送ロボット14は、シャフト部22を中心とした第1アーム231の回転角度、第1アーム231と第2アーム232との間の角度、第2アーム232とロボットハンド部24との間の角度、シャフト部22の高さを調節することにより、ロボットハンド部24上に載置された基板又はマスクなどの処理体の直線移動、回転移動、及びこれらの複合移動を行うことができ、基板又はマスクなどの処理体をXYZ座標系上の任意の所望の位置に移動させることができる。 The transfer robot 14 of the present invention having such a structure has the rotation angle of the first arm 231 about the shaft portion 22, the angle between the first arm 231 and the second arm 232, the second arm 232 and the robot. By adjusting the angle with the hand unit 24 and the height of the shaft unit 22, the linear movement, the rotational movement, and the combined movement of the processing object such as the substrate or the mask placed on the robot hand section 24. The processing body such as the substrate or the mask can be moved to any desired position on the XYZ coordinate system.

制御部25は、搬送ロボット14の動作を制御する。制御部25は、プロセッサー、メモリー、ストレージ、I/Oなどを有するコンピューターによって実現することができる。例えば、制御部25は、搬送ロボット14の搬送動作を制御するためのプログラムが格納されたメモリー部251と、このメモリー部251に格納されたプログラムを実行して搬送ロボット14を制御するように構成されたプロセッサー252を含む。コンピューターとしては、汎用のパーソナルコンピュータを使用してもよく、組込み型のコンピューター又はPLC(programmable logic controller)を使用してもよい。又は、制御部25の機能の一部又は全部をASICやFPGAのような回路で構成してもよい。本実施形態では、制御部25が搬送ロボット14とは別途に設けられている構成を説明するが、本発明はこれに限定されず、搬送ロボット14が制御部25を有することもできる。 The control unit 25 controls the operation of the transfer robot 14. The control unit 25 can be realized by a computer having a processor, memory, storage, I/O, and the like. For example, the control unit 25 is configured to control the transfer robot 14 by executing a memory unit 251 storing a program for controlling the transfer operation of the transfer robot 14 and a program stored in the memory unit 251. Included processor 252. As the computer, a general-purpose personal computer may be used, or a built-in computer or PLC (programmable logic controller) may be used. Alternatively, some or all of the functions of the control unit 25 may be configured by a circuit such as ASIC or FPGA. In the present embodiment, the configuration in which the control unit 25 is provided separately from the transfer robot 14 will be described, but the present invention is not limited to this, and the transfer robot 14 may include the control unit 25.

<搬送動作の詳細>
以下、搬送ロボット14による搬送動作の詳細について、マスクMの搬送を例として説明する。
<Details of transport operation>
Hereinafter, the details of the transfer operation by the transfer robot 14 will be described by taking the transfer of the mask M as an example.

図4A〜図4C及び5A〜図5Cは、搬送ロボット14によってマスクストックチャンバー12から使用前のマスクMを搬出して成膜室11に搬入する場合の一連の過程を示している。本実施形態では、成膜室11内に一つの基板Sと1つのマスクMがそれぞれ搬入され、蒸着が行われる場合を示しているが、本発明はこれに限定されず、例えば、前述したように、成膜室内に2つの基板Sと2つのマスクMがそれぞれ搬入され、一つの基板Sに対して蒸着が行われている間に、他の基板Sに対して基板SとマスクMとのアライメントが行われる、いわゆる「デュアルステージ」タイプの成膜室への処理体(基板S又はマスクM)の搬送にも適用可能であることは言うまでもない。 4A to 4C and 5A to 5C show a series of processes in which the mask M before use is carried out from the mask stock chamber 12 by the transfer robot 14 and carried into the film forming chamber 11. In the present embodiment, one substrate S and one mask M are carried into the film forming chamber 11 and vapor deposition is performed, but the present invention is not limited to this and, for example, as described above. The two substrates S and the two masks M are respectively loaded into the film forming chamber, and while one substrate S is being vapor-deposited, the other substrates S and the mask M are It is needless to say that the present invention can be applied to the transfer of the processed body (substrate S or mask M) to the so-called "dual stage" type film forming chamber in which alignment is performed.

まず、搬送ロボット14は、ロボットハンド部24が使用前のマスクMの搬出のために、マスクストックチャンバー12内に進入する前の第1待機位置に位置する(図4A)。第1待機位置は、搬送ロボット14のロボットアーム部23が収縮され(第1アーム231と第2アーム232との間の角度が小さくなるようにロボットアーム部23の関節が折り畳まれて)、ロボットハンド部24の自由端の先端(自由先端)がマスクストックチャンバー12の開口部12aを指向する状態である。より具体的に、本実施形態での第1待機位置は、ロボットハンド部24の自由端の先端が搬送室13の中央に位置する搬送ロボット14の回転軸(シャフト部22)に最も近づくようにロボットアーム部23が収縮される位置である。 First, the transfer robot 14 is located at the first standby position before entering the mask stock chamber 12 for the robot hand unit 24 to carry out the mask M before use (FIG. 4A). At the first standby position, the robot arm unit 23 of the transfer robot 14 is contracted (the joints of the robot arm unit 23 are folded so that the angle between the first arm 231 and the second arm 232 is small), and the robot is The tip (free tip) of the free end of the hand portion 24 is in a state of pointing toward the opening 12 a of the mask stock chamber 12. More specifically, in the first standby position in the present embodiment, the tip of the free end of the robot hand unit 24 is closest to the rotation axis (shaft unit 22) of the transfer robot 14 located in the center of the transfer chamber 13. This is the position where the robot arm 23 is contracted.

続いて、この第1待機位置から、ロボットアーム部23を伸長させて(つまり、第1アーム231と第2アーム232との間の角度が大きくなるようにロボットアーム部23の関節を広げて)開口部12aを通じてマスクストックチャンバー12内のマスク搬出位置までロボットハンド部24を進入させた後、マスクMをロボットハンド部24で受け取る(図4B)。 Subsequently, the robot arm unit 23 is extended from the first standby position (that is, the joint of the robot arm unit 23 is widened so that the angle between the first arm 231 and the second arm 232 is increased). After the robot hand unit 24 is advanced to the mask carry-out position in the mask stock chamber 12 through the opening 12a, the mask M is received by the robot hand unit 24 (FIG. 4B).

続いて、マスクMを受け取ったロボットハンド部24は、ロボットアーム部23の収縮動作により、開口部12aを通じてマスクストックチャンバー12の外に後退(退避)し、第1待機位置に戻る(図4C)。 Subsequently, the robot hand unit 24 having received the mask M retracts (retracts) to the outside of the mask stock chamber 12 through the opening 12a by the contraction operation of the robot arm unit 23, and returns to the first standby position (FIG. 4C). ..

続いて、ロボットアーム部23が収縮状態を維持したまま搬送ロボット14の回転軸(シャフト部22)を中心に旋回し、マスクMを載置したロボットハンド部24の自由端の先端が成膜室11の搬入開口部11aを指向する第2待機位置に移動する(図5A)。 Then, the robot arm 23 is swung around the rotation axis (shaft 22) of the transfer robot 14 while maintaining the contracted state, and the free end of the robot hand 24 on which the mask M is placed is the deposition chamber. 11 is moved to the second standby position that is directed to the carry-in opening 11a (FIG. 5A).

続いて、ロボットアーム部23を再び伸長させることによって、マスクMを載置したロボットハンド部24を直進動作にて搬入開口部11aを通じて成膜室11内のマスク搬入位置まで進入させる(図5B)。その後、成膜室11内のマスクホルダー112にマスクMを受け渡した後、ロボットハンド部24は、ロボットアーム部23の収縮動作によって搬入開口部11aを通じて成膜室11の外に後退し、第2待機位置に戻る(図5C)。以上の一連の搬送ロボット14の動作は、前述した制御部25による制御の下で行われる。 Then, the robot arm unit 23 is extended again to move the robot hand unit 24 on which the mask M is placed into the mask carrying-in position in the film forming chamber 11 through the carry-in opening 11a in a straight-forward operation (FIG. 5B). .. Then, after passing the mask M to the mask holder 112 in the film forming chamber 11, the robot hand unit 24 retracts to the outside of the film forming chamber 11 through the carry-in opening 11a by the contraction operation of the robot arm unit 23, and the second Return to the standby position (Fig. 5C). The above series of operations of the transfer robot 14 are performed under the control of the control unit 25 described above.

以上の一連の搬送過程において、マスクMは、ロボットハンド部24上で位置がずれる可能性がある。前述したように、マスクストックチャンバー12内でマスクMがロボットハンド部24上に載置された後、マスクMがマスクストックチャンバー12から搬出されて搬入先である成膜室11に搬入されるまでの過程は、大別して、ロボットハンド部24が第1待機位置に後退する動作と、第1待機位置から第2待機位置に旋回する動作と、第2待機位置から成膜室11内に直進して進入する動作とに、区分される。ここで、搬入先である成膜室11内に直進して進入する動作を「第2動作」と称し、第2動作以前に行われる第2動作以外の一連の動作(ロボットアーム部23の収縮による搬送室13内の待機位置への後退動作、及び成膜室11の搬入開口部11aに対向する位置への旋回動作など
)を「第1動作」と称することとする。
The mask M may be displaced on the robot hand unit 24 in the above-described series of transportation processes. As described above, after the mask M is placed on the robot hand unit 24 in the mask stock chamber 12, the mask M is carried out of the mask stock chamber 12 and carried into the film forming chamber 11 which is a carry-in destination. The process is roughly divided into an operation in which the robot hand portion 24 retracts to the first standby position, an operation in which the robot hand portion 24 swings from the first standby position to the second standby position, and a straight movement from the second standby position into the film forming chamber 11. It is divided into a motion to enter by entering. Here, the operation of going straight into the film forming chamber 11 which is the loading destination is referred to as “second operation”, and is a series of operations other than the second operation performed before the second operation (contraction of the robot arm unit 23). The retreating operation to the standby position in the transfer chamber 13 and the swiveling operation to the position facing the carry-in opening 11a of the film forming chamber 11) will be referred to as “first operation”.

ロボットハンド部24上でのマスクMの位置ずれは、このような搬送動作のうち、第1動作、特にその中でも成膜室11の搬入開口部11aに対向する位置に旋回する動作中に発生する可能性が高い。つまり、旋回動作が行われるときに発生する遠心力によってロボットハンド部24上でのマスクMの位置ずれが生じる可能性がある。特に、有機EL表示装置の大型化に従って基板S及びマスクMも大型化・高重量化し、このような旋回動作の際に位置ずれが発生する可能性がさらに高まっている。 The misalignment of the mask M on the robot hand unit 24 occurs during the first operation, particularly the operation of turning to a position facing the carry-in opening 11a of the film forming chamber 11, among the above-described transfer operations. Probability is high. That is, the mask M on the robot hand unit 24 may be displaced due to the centrifugal force generated when the turning operation is performed. In particular, as the size of the organic EL display device becomes larger, the substrate S and the mask M also become larger and heavier, and the possibility of positional deviation occurring during such a turning operation is further increasing.

このようなロボットハンド部24上でのマスクMの位置ずれを認識できないまま、前述した第2動作(ロボットアーム部23を伸長して成膜室11内にロボットハンド部24を直進して進入させる動作)に移行すると、ずれたマスクMが成膜室11の搬入開口部11aの外壁に衝突し、マスクMを成膜室11内に正常に搬入できなくなる。 Without being able to recognize the positional deviation of the mask M on the robot hand unit 24, the above-mentioned second operation (the robot arm unit 23 is extended to advance the robot hand unit 24 straight into the film forming chamber 11). When the operation shifts to (Operation), the shifted mask M collides with the outer wall of the carry-in opening 11a of the film forming chamber 11, and the mask M cannot be carried into the film forming chamber 11 normally.

ここで、本発明では、マスクMを載置したロボットハンド部24を成膜室11の搬入開口部11aに直進移動(第2動作)させる前に、ロボットハンド部24上でのマスクMの位置ずれ有無を確認するための検知手段(位置ずれ検知手段)30を搬送室13に設置している。検知手段30は、マスクMの搬送経路において、ロボットハンド部24上でのマスクMの位置ずれの有無を検知する。 Here, in the present invention, the position of the mask M on the robot hand unit 24 is moved before the robot hand unit 24 on which the mask M is placed is moved straight to the carry-in opening 11a of the film forming chamber 11 (second operation). A detection means (positional deviation detection means) 30 for confirming the presence or absence of deviation is installed in the transfer chamber 13. The detection unit 30 detects whether or not there is a positional deviation of the mask M on the robot hand unit 24 in the transport path of the mask M.

<位置ずれ検知手段>
図6は、本発明の一実施形態による検知手段30の検知位置の設置例を示す模式図である。図6Aは、マスクストックチャンバー12からマスクMを搬出した後、前述した第2動作(ロボットアーム部23を伸長させて、成膜室11内にロボットハンド部24を直進して進入させる動作)を行う直前の状態を示す上面図である。図6Bは、図6Aの状態を成膜室11の搬入開口部11a側から見た正面図である。検知手段30の検知位置は、ロボットハンド部24上でのマスクMの位置ずれの有無が検知される位置である。
<Position detection means>
FIG. 6 is a schematic diagram showing an example of installation of the detection position of the detection means 30 according to the embodiment of the present invention. FIG. 6A shows the above-described second operation (the operation of extending the robot arm portion 23 and causing the robot hand portion 24 to go straight into the film forming chamber 11) after carrying out the mask M from the mask stock chamber 12. It is a top view which shows the state just before performing. FIG. 6B is a front view of the state of FIG. 6A viewed from the carry-in opening 11a side of the film forming chamber 11. The detection position of the detection means 30 is a position where presence/absence of displacement of the mask M on the robot hand unit 24 is detected.

図6Aに示すように、本発明の一実施形態において、検知手段30の検知位置は、搬送室13を鉛直方向(Z方向)に見たとき、成膜室11の搬入開口部11aに対向する位置であって、搬送ロボット14がマスクMを載置した状態で、ロボットアーム部23が旋回動作する回転半径(R)の範囲内で搬入開口部11a側に近接した2カ所に設置される。具体的には、検知手段30の検知位置は、ロボットハンド部24に載置されたマスクMの幅(W1)(搬入/搬出方向から見たときの幅)より若干広い間隔(W2)でマスクMの両側の2つの位置で対向するように設けられる。また、検知手段30の検知位置を、搬送室13を鉛直方向に見たとき、成膜室11の搬入開口部11aに対向する位置であって、ロボットアーム部23が旋回動作したときのロボットハンド部24上に載置されたマスクMの先端部の回転半径の範囲内で搬入開口部11a側に近接した2カ所に設置してもよい。 As shown in FIG. 6A, in one embodiment of the present invention, the detection position of the detection unit 30 faces the carry-in opening 11a of the film forming chamber 11 when the transfer chamber 13 is viewed in the vertical direction (Z direction). The robot arm 23 is installed at two positions close to the carry-in opening 11a side within the range of the radius of gyration (R) in which the robot arm 23 swings while the transfer robot 14 mounts the mask M. Specifically, the detection position of the detection unit 30 is a mask (W2) slightly wider than the width (W1) of the mask M placed on the robot hand unit 24 (width when viewed from the loading/unloading direction). It is provided so as to face each other at two positions on both sides of M. In addition, the detection position of the detection unit 30 is a position facing the carry-in opening 11a of the film forming chamber 11 when the transfer chamber 13 is viewed in the vertical direction, and the robot hand when the robot arm unit 23 pivots. It may be installed at two locations close to the carry-in opening 11a side within the range of the radius of gyration of the tip of the mask M placed on the section 24.

言い換えれば、前述した第2動作(搬入先の成膜室11に直進移動して進入する動作)が開始されるときに、成膜室11の搬入開口部11aに向けられているマスクMの先端部の両側の位置に検知手段30の検知位置が設けられる。検知手段30の検知位置をこの位置に設けることによって、搬入先である成膜室11に向かって直進移動する第2動作を控えた時点で、ロボットハンド部24上に置かれたマスクMの載置状態(位置ずれの有無)を確認することができる。つまり、直進移動である第2動作の前に行われた(旋回動作などを含む)第1動作の際にロボットハンド部24上でマスクMの位置ずれがあったかどうかを、第2動作が開始されるときのマスクMの先端部の両側に対応する位置に設けられた検知手段30によって最終確認する。マスクMの先端部の両側に対応する位置は、マスクMの先端部の両側においてマスクMよりも鉛直方向上方又は鉛直方向下方の所定位置であ
ってもよいし、マスクMの先端部の両側においてマスクMよりも鉛直方向上方及び鉛直方向下方の所定位置であってもよい。
In other words, the tip of the mask M directed to the carry-in opening 11a of the film forming chamber 11 when the above-described second operation (the operation of moving straight into the film forming chamber 11 of the carry-in destination) is started. Detection positions of the detection means 30 are provided at positions on both sides of the section. By providing the detection position of the detection unit 30 at this position, the mask M placed on the robot hand unit 24 is placed at the time when the second operation of moving straight toward the deposition chamber 11 which is the loading destination is withheld. It is possible to confirm the placement state (presence/absence of displacement). That is, the second operation is started to determine whether or not the mask M is displaced on the robot hand unit 24 during the first operation (including the turning operation) performed before the second operation that is the straight movement. The final confirmation is performed by the detection means 30 provided at the positions corresponding to both sides of the tip of the mask M when the mask M is moved. The positions corresponding to both sides of the tip of the mask M may be predetermined positions vertically above or below the mask M on both sides of the tip of the mask M, or on both sides of the tip of the mask M. It may be a predetermined position vertically above and below the mask M.

鉛直方向(Z方向)に見たとき、2つの検知手段30のそれぞれの検知位置の間の間隔(W2)は、位置ずれ検知対象であるマスクMの幅(W1)よりも大きい範囲内で適切に選択することができる。位置ずれが許容される範囲に応じて検知手段30の検知位置の間の間隔(W2)を広くすることもできる。しかし、成膜室11の搬入開口部11aの幅(W3)よりも広い間隔で検知手段30の検知位置を設けると、搬入開口部11aの外壁と衝突する程度の大きい位置ずれが発生したにもかかわらず、このような大きい位置ずれを検知できなくなる問題があり得る。そのため、検知手段30の検知位置の間の間隔(W2)は成膜室11の搬入開口部11aの幅(W3)よりも狭くする。つまり、効果的なずれ検知のため、第2動作が開始されるときのマスクMの先端部の両側の位置に設けられた検知手段30の検知位置の間の間隔(W2)は、ロボットハンド部24に載置される処理体(マスクM)の幅(W1)よりも大きく、搬入先(成膜室11)の搬入開口部11aの幅(W3)よりも小さく設定する。また、処理体の搬送経路上に成膜室11の搬入開口部11aの幅(W3)よりも狭い所定幅が有る場合は、検知手段30の検知位置の間の間隔(W2)を所定幅よりも狭くすることが好ましい。 When viewed in the vertical direction (Z direction), the interval (W2) between the respective detection positions of the two detection means 30 is appropriate within a range larger than the width (W1) of the mask M, which is the displacement detection target. Can be selected. It is also possible to widen the interval (W2) between the detection positions of the detection means 30 according to the range in which the positional deviation is allowed. However, if the detection positions of the detection means 30 are provided at intervals wider than the width (W3) of the carry-in opening 11a of the film forming chamber 11, even if a large positional displacement occurs such that the detection means 30 collides with the outer wall of the carry-in opening 11a. Nevertheless, there may be a problem that such a large displacement cannot be detected. Therefore, the interval (W2) between the detection positions of the detection means 30 is made narrower than the width (W3) of the carry-in opening 11a of the film forming chamber 11. That is, for effective deviation detection, the interval (W2) between the detection positions of the detection means 30 provided at the positions on both sides of the tip of the mask M when the second operation is started is determined by the robot hand unit. The width is set to be larger than the width (W1) of the processing object (mask M) placed on 24 and smaller than the width (W3) of the loading opening 11a of the loading destination (film forming chamber 11). Further, when there is a predetermined width narrower than the width (W3) of the carry-in opening 11a of the film forming chamber 11 on the transport path of the processing body, the interval (W2) between the detection positions of the detection means 30 is set to be smaller than the predetermined width. Is also preferably narrow.

検知手段30の具体的な構成例としては、本実施形態では、図6Bに示すように、レーザー光源部31とレーザー受光部32を含むレーザーセンサーを用いる。例えば、検知手段30は、レーザー光源部31及びレーザー受光部32を有してもよい。レーザー光源部31は、搬送室13を形成する真空容器13aの鉛直方向上面の外側に、前述した第2動作が開始されるときのマスクMの先端部の両側に対応する2か所の位置に前述の間隔(W2)を持って配置される。レーザー受光部32は、これらのレーザー光源部31に対向しており、真空容器13aの鉛直方向下面の外側に同じ間隔(W2)を持って配置される。なお、検知手段30の検知位置が、第2動作が開始されるときのマスクMの先端部の両側の位置に設けられていれば、レーザー光源部31及びレーザー受光部32の配置位置は上記の例に限定されない。例えば、2つのレーザー光源部31の間の間隔が前述の間隔(W2)よりも狭く、2つのレーザー受光部32の間の間隔が前述の間隔(W2)よりも広くてもよい。この場合、2つのレーザー光源部31から出射されるレーザーがマスクMの外側に向かって傾くようにし、2つのレーザー受光部32の受光面がマスクMの内側に向かって傾くようにする(2つのレーザー受光部32の受光面がマスクMの内側に向いている)。また、例えば、2つのレーザー光源部31の間の間隔が前述の間隔(W2)よりも広く、2つのレーザー受光部32の間の間隔が前述の間隔(W2)よりも狭くてもよい。この場合、2つのレーザー光源部31から出射されるレーザーがマスクMの内側に向かって傾くようにし、2つのレーザー受光部32の受光面がマスクMの外側に向かって傾くようにする(2つのレーザー受光部32の受光面がマスクMの外側に向いている)。 As a specific configuration example of the detecting unit 30, in the present embodiment, as shown in FIG. 6B, a laser sensor including a laser light source unit 31 and a laser light receiving unit 32 is used. For example, the detection unit 30 may include a laser light source unit 31 and a laser light receiving unit 32. The laser light source unit 31 is provided outside the vertical upper surface of the vacuum container 13a forming the transfer chamber 13 at two positions corresponding to both sides of the front end of the mask M when the second operation is started. They are arranged with the aforementioned interval (W2). The laser light receiving unit 32 faces the laser light source units 31 and is arranged outside the vertical lower surface of the vacuum container 13a with the same interval (W2). If the detection positions of the detection means 30 are provided on both sides of the tip portion of the mask M when the second operation is started, the laser light source unit 31 and the laser light receiving unit 32 are arranged at the above-described positions. It is not limited to the example. For example, the space between the two laser light source units 31 may be narrower than the space (W2) described above, and the space between the two laser light receiving units 32 may be wider than the space (W2) described above. In this case, the lasers emitted from the two laser light source units 31 are inclined toward the outside of the mask M, and the light receiving surfaces of the two laser light receiving units 32 are inclined toward the inside of the mask M (two The light receiving surface of the laser light receiving portion 32 faces the inside of the mask M). Further, for example, the interval between the two laser light source units 31 may be wider than the above interval (W2), and the interval between the two laser light receiving units 32 may be smaller than the above interval (W2). In this case, the lasers emitted from the two laser light source units 31 are inclined toward the inside of the mask M, and the light receiving surfaces of the two laser light receiving units 32 are inclined toward the outside of the mask M (two The light receiving surface of the laser light receiving portion 32 faces the outside of the mask M).

本実施形態においては、レーザー光源部31から真空容器13aの鉛直方向上面に設置された窓を介してレーザー光が照射され、この照射されたレーザー光を真空容器13aの鉛直方向下面に設置された窓を介してレーザー受光部32で受光することにより、レーザー光の経路がマスクMによって遮断されるかを確認し、これによって、マスクMの位置ずれ有無を検知する構成である。 In the present embodiment, laser light is emitted from the laser light source unit 31 through a window installed on the upper surface of the vacuum container 13a in the vertical direction, and the irradiated laser light is installed on the lower surface of the vacuum container 13a in the vertical direction. The laser light receiving unit 32 receives the light through the window to check whether the path of the laser light is blocked by the mask M, and thereby detects whether the mask M is displaced.

レーザー光源部31とレーザー受光部32の配置は、これに限定されず、反対の配置、つまり、真空容器13aの鉛直方向下面の外側にレーザー光源部31を、真空容器13aの鉛直方向上面の外側にレーザー受光部32をそれぞれ設置してもよい。また、レーザー受光部32をレーザー光源部31と同じ側に(例えば、両方を真空容器13aの鉛直方向上面の外側に)設置し、マスクMが光経路中に位置する場合、マスクMからの反射光の有無を検知することによってマスクMの位置ずれを確認する構成にしてもよい。 The arrangement of the laser light source unit 31 and the laser light receiving unit 32 is not limited to this, that is, the opposite arrangement, that is, the laser light source unit 31 is provided on the outer side of the vertical lower surface of the vacuum container 13a and the outer side of the vertical upper surface of the vacuum container 13a. You may install the laser light receiving part 32 in each. Further, when the laser light receiving unit 32 is installed on the same side as the laser light source unit 31 (for example, both are located outside the vertical upper surface of the vacuum container 13a) and the mask M is located in the optical path, reflection from the mask M is reflected. The configuration may be such that the displacement of the mask M is confirmed by detecting the presence or absence of light.

以上のように、本発明では、搬送動作中に位置ずれが発生したマスクMが成膜室11の搬入開口部11aに衝突する問題を防止するために、マスクMを載置したロボットハンド部24を搬入先である成膜室11に最終的に直進移動させる第2動作の開始位置で、検知手段30によって、ロボットハンド部24上でのマスクMの位置ずれの有無を最終確認するようにしている。 As described above, in the present invention, in order to prevent the problem that the mask M, which has been misaligned during the carrying operation, collides with the carry-in opening 11a of the film forming chamber 11, the robot hand part 24 on which the mask M is placed is prevented. At the starting position of the second operation for finally moving the film M to the film forming chamber 11 which is the loading destination, the detection unit 30 finally confirms whether or not the mask M is displaced on the robot hand unit 24. There is.

検知手段30によって位置ずれが検知された場合には、制御部25は、ロボットハンド部24を成膜室11内に直進移動させる第2動作を保留するように搬送ロボット14を制御する。 When the positional deviation is detected by the detection unit 30, the control unit 25 controls the transfer robot 14 so as to suspend the second operation of moving the robot hand unit 24 straight into the film forming chamber 11.

同時に、制御部25は、このような位置ずれの検知、及び第2動作が保留されていることを、別途設けられたランプなどの視覚的な通知手段及び/又はアラームなどの聴覚的な通知手段などで作業者に通知するように制御してもよい。作業者への通知は、作業者に対する警告を含んでもよい。 At the same time, the control unit 25 detects the displacement and detects that the second operation is suspended by a visual notification means such as a lamp and/or an audible notification means such as an alarm. It may be controlled so as to notify the worker. The notification to the worker may include a warning to the worker.

また、搬送室13内の所定領域に位置調整手段を設け、ロボットハンド部24上でのマスクMの位置ずれが検知される場合、前述したように成膜室11内への直進移動である第2動作を一時保留し、ロボットハンド部24を前記位置調整手段の方に移動させてロボットハンド部24上でのマスクMの位置を調整するようにしてもよい。 Further, when the position adjusting means is provided in a predetermined area in the transfer chamber 13 and the positional deviation of the mask M on the robot hand unit 24 is detected, it is the linear movement into the film forming chamber 11 as described above. It is also possible to temporarily suspend the two operations and move the robot hand unit 24 toward the position adjusting means to adjust the position of the mask M on the robot hand unit 24.

図7A〜図7Cは、このような位置調整手段の一例を示した模式図である。図7Aは、位置調整手段の配置領域を説明するための上面図であり、図7B及び図7Cは、位置調整手段の動作を説明するための正面図である。 7A to 7C are schematic views showing an example of such position adjusting means. FIG. 7A is a top view for explaining the arrangement region of the position adjusting means, and FIGS. 7B and 7C are front views for explaining the operation of the position adjusting means.

位置調整手段40は、マスクMを挟んで両側からマスクMの対向辺の端面との接触によってマスクMの位置を調整する一対のマスク接触部41a、41bを含む。一対のマスク接触部41a、41bは、搬送室13を形成する真空容器13aの鉛直方向上面の外側に設置されたそれぞれの駆動部42a、42bによって移動可能である。具体的には、マスク接触部41a、41bは、マスクMの載置面に垂直な鉛直方向への上下移動(Z方向移動)、マスクMを挟んで対向するマスク接触部41a、41bに向かう方向への前後移動(Y方向移動)、及び上記二つの方向に垂直な方向であってマスクMの対向辺に沿う方向への移動(X方向移動)が可能なように、それぞれの駆動部42a、42bによって駆動制御される。 The position adjusting means 40 includes a pair of mask contact portions 41a and 41b for adjusting the position of the mask M by contacting the end faces of the opposite sides of the mask M from both sides with the mask M interposed therebetween. The pair of mask contact portions 41a and 41b can be moved by respective drive portions 42a and 42b provided outside the vertical upper surface of the vacuum container 13a forming the transfer chamber 13. Specifically, the mask contact portions 41a and 41b move vertically (in the Z direction) in the vertical direction perpendicular to the placement surface of the mask M, and the mask contact portions 41a and 41b face each other across the mask M. So as to be movable back and forth (movement in the Y direction) and in a direction perpendicular to the above two directions along the opposite side of the mask M (movement in the X direction). The drive is controlled by 42b.

マスク接触部41a、41bは、通常の状態では、図7Cに示すように、搬送室13の真空容器13aの鉛直方向上部近くに上昇した状態にある。検知手段30によってロボットハンド部24上でのマスクMの位置ずれが検知され、マスクMを載置したロボットハンド部24が位置調整手段40側に移動してくると、位置調整手段40のマスク接触部41a、41bは、それぞれの駆動部42a、42bによって駆動され、マスクMを挟む位置までZ方向に下降移動する。この状態で、図7Bに矢印で示すように、マスク接触部41a、41bは、それぞれの駆動部42a、42bの制御によって、マスクMの対向する辺に向かう方向(Y方向)への前後移動と、マスクMの辺に沿う方向(X方向)への移動を繰り返しながら、マスクMの端面に対する接触を通じてロボットハンド部24上でのマスクの位置ずれを修正する。マスクMの位置ずれの修正が終わると、マスク接触部41a、41bは、再び搬送室13の真空容器13aの鉛直方向上部近くに上昇し退避位置に移動する(図7C)。 In a normal state, the mask contact portions 41a and 41b are in a state of being raised near the vertically upper portion of the vacuum container 13a of the transfer chamber 13 as shown in FIG. 7C. When the position shift of the mask M on the robot hand unit 24 is detected by the detection unit 30 and the robot hand unit 24 on which the mask M is placed moves to the position adjustment unit 40 side, the position adjustment unit 40 contacts the mask. The portions 41a and 41b are driven by the respective driving portions 42a and 42b, and move down in the Z direction to positions where the mask M is sandwiched. In this state, as shown by the arrow in FIG. 7B, the mask contact portions 41a and 41b are moved back and forth in the direction toward the opposite side of the mask M (Y direction) by the control of the drive portions 42a and 42b. , The position shift of the mask on the robot hand unit 24 is corrected through the contact with the end face of the mask M while repeatedly moving in the direction along the side of the mask M (X direction). When the correction of the positional deviation of the mask M is completed, the mask contact portions 41a and 41b again rise to the vicinity of the vertically upper part of the vacuum container 13a of the transfer chamber 13 and move to the retracted position (FIG. 7C).

こうして、ロボットハンド部24上でのマスクMの位置ずれの修正が完了すると、ロボットハンド部24は、マスクMの搬入先である成膜室11の搬入開口部11aに対向する
位置に復帰し、前述した位置ずれ検知動作をもう一度行ってマスクMの位置ずれが無いと判定されれば、保留しておいた成膜室11への直進動作である第2動作を行い、成膜室11内にマスクMを搬入する。
In this way, when the correction of the positional deviation of the mask M on the robot hand unit 24 is completed, the robot hand unit 24 returns to the position facing the carry-in opening 11a of the film forming chamber 11 into which the mask M is carried in. If it is determined that there is no positional deviation of the mask M by performing the above-described positional deviation detection operation once again, the second operation, which is the linear movement operation to the film forming chamber 11 that has been held, is performed and The mask M is carried in.

以上、本発明の一実施形態を説明したが、本発明は、この例の構成に限定されない。例えば、前述した実施形態では、検知手段30としてレーザーセンサーを使用する例を説明したが、位置ずれ検知手段は、光電センサーや、カメラ(光電変換素子を含む)のような他の光学手段であってもよい。例えば、カメラで撮影した画像内で位置ずれに起因するマスクMのエッジが検出されるかを画像解析し、位置ずれの有無を検知することにしてもよい。光電変換素子はCCDセンサー、CMOSセンサーであってもよい。 Although one embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the configuration of this example. For example, in the above-described embodiment, the example in which the laser sensor is used as the detection unit 30 has been described, but the positional deviation detection unit is a photoelectric sensor or another optical unit such as a camera (including a photoelectric conversion element). May be. For example, the presence or absence of the positional deviation may be detected by performing image analysis on whether the edge of the mask M caused by the positional deviation is detected in the image captured by the camera. The photoelectric conversion element may be a CCD sensor or a CMOS sensor.

また、前述した実施形態では、搬送ロボット14のロボットアーム部23が最小回転半径(R)で旋回する回転範囲、すなわち、マスクMを載置したロボットハンド部24の自由端の先端が搬送ロボット14の回転軸(シャフト部22)に最も近づいた状態で、ロボットアーム部23が回転する際の回転半径範囲に検知手段30の検知位置を設置する例(図6A参照)を説明した。これに限定されず、ロボットハンド部24の自由端の先端が搬送ロボット14の回転軸からより離れた距離で搬送ロボット14のロボットアーム部23が旋回するように構成し、該回転半径範囲に検知手段30の検知位置を設置してもよい。ただし、搬送ロボット14にマスクMなどの処理体を載置して、ロボットアーム部23が旋回する回転半径が小さいほど旋回動作時に作用する遠心力の大きさも小さく、その分ロボットハンド部24上で処理体が位置ずれる可能性も小さくなるので、搬送ロボット14のロボットアーム部23が旋回する回転半径、及び検知手段30の検知位置は、前述した実施形態のように最小回転半径範囲に設定することがより好ましい。 Further, in the above-described embodiment, the rotation range in which the robot arm unit 23 of the transfer robot 14 turns at the minimum rotation radius (R), that is, the free end of the robot hand unit 24 on which the mask M is placed is the transfer robot 14. An example (see FIG. 6A) in which the detection position of the detection means 30 is set in the rotation radius range when the robot arm unit 23 rotates in the state of being closest to the rotation axis (shaft portion 22) of FIG. The present invention is not limited to this, and the robot arm section 23 of the transfer robot 14 is configured to rotate at a distance from the rotation axis of the transfer robot 14 at the free end of the robot hand section 24, and detection is performed within the rotation radius range. You may install the detection position of the means 30. However, when a processing object such as the mask M is placed on the transfer robot 14, the smaller the radius of rotation of the robot arm 23 is, the smaller the centrifugal force acting during the turning operation is. Since the possibility that the processing object will be displaced is reduced, the rotation radius of the robot arm 23 of the transfer robot 14 and the detection position of the detection means 30 should be set within the minimum rotation radius range as in the above-described embodiment. Is more preferable.

また、検知手段30の検知位置の設置数も、前述した実施形態のように成膜室11の搬入開口部11a側に近接した2カ所の位置(成膜室への直進移動である第2動作が開始されるときのマスクMの先端部の両側の位置)だけではなく、マスクMの先端部の反対側の後端部(搬送ロボット14の回転軸に近い端部)の位置にも1か所又は2か所さらに設け、合計3か所以上に検知手段30の検知位置を設置してもよい。この場合、第2動作が開始されるときのマスクMの後端部に対応する位置に、検知手段30を更に配置する。このように、マスクMの後端部の位置にも追加で検知手段30の検知位置を設置する場合には、ロボットハンド部24上でのマスクMの位置ずれの有無をより確実に検知することができ、成膜室11への搬入動作時に搬入開口部11aでの衝突可能性もより減らすことができる。マスクMの後端部に対応する位置は、マスクMの後端部においてマスクMよりも鉛直方向上方又は鉛直方向下方の所定位置であってもよいし、マスクMの後端部においてマスクMよりも鉛直方向上方の所定位置及び鉛直方向下方の所定位置であってもよい。 Further, the number of detection positions of the detection means 30 is also two positions close to the carry-in opening 11a side of the film forming chamber 11 as in the above-described embodiment (the second operation which is a straight movement to the film forming chamber). Not only at the positions on both sides of the front end of the mask M when the start is started, but also at the position at the rear end (the end near the rotation axis of the transfer robot 14) opposite to the front end of the mask M. Alternatively, two or more locations may be provided, and the detection positions of the detection means 30 may be provided at a total of three or more locations. In this case, the detection means 30 is further arranged at a position corresponding to the rear end of the mask M when the second operation is started. As described above, when the detection position of the detection unit 30 is additionally provided at the position of the rear end of the mask M, the presence or absence of the position shift of the mask M on the robot hand unit 24 should be detected more reliably. Therefore, it is possible to further reduce the possibility of collision at the carry-in opening 11a during the carry-in operation to the film forming chamber 11. The position corresponding to the rear end of the mask M may be a predetermined position vertically above or below the mask M at the rear end of the mask M, or at a rear end of the mask M from the mask M. May be a predetermined position above the vertical direction and a predetermined position below the vertical direction.

また、以上で説明した実施形態では、主にマスクストックチャンバー12からマスクMを搬出し成膜室11に搬入する動作を中心に説明したが、基板Sを処理体として搬送する場合、つまり、パス室15から基板Sを搬出し成膜室11に搬入する動作、又は、成膜処理後の基板Sを成膜室11から搬出しバッファ室16に搬入するなどの搬送動作にも、本発明は適用可能である。 Further, in the embodiment described above, mainly the operation of unloading the mask M from the mask stock chamber 12 and loading it into the film forming chamber 11 has been mainly described. However, when the substrate S is transported as a processing object, that is, a pass The present invention is also applicable to an operation of carrying out the substrate S from the chamber 15 to the film forming chamber 11 or a carrying operation such as carrying out the substrate S after the film forming process from the film forming chamber 11 to the buffer chamber 16. Applicable.

また、図8のように、処理体の搬入用の開口部が2つある場合(例えば、一つの成膜室11内に2つの基板Sと2つのマスクMが搬入される「デュアルステージ」タイプの場合など)における処理体(基板S又はマスクM)の搬送にも本発明を適用できることは言うまでもない。この場合、マスクストックチャンバー12から成膜室11へのマスクMの搬送動作は、マスクストックチャンバー12からマスクMを受け取った搬送ロボット14のロボットハンド部24が搬送室13に後退する動作と、マスクMを載置したロボットハンド部24が成膜室11の正面中央部まで旋回する動作と、成膜室11の正面中央部から成
膜室11の2つの搬入開口部11a、11bのうちの1つ(例えば搬入開口部11a)に対向する位置に平行移動する動作と、搬入開口部11aに向かって直進移動して成膜室11内にマスクMを最終搬入する動作とを含み、前述した実施形態と同様に、最後に搬入開口部11aに向かって直進移動する動作を第2動作とし、この第2動作が開始される直前の位置でロボットハンド部24上でのマスクMの位置ずれを検知・確認することができる。
Further, as shown in FIG. 8, when there are two openings for carrying in the processing body (for example, a “dual stage” type in which two substrates S and two masks M are carried into one film forming chamber 11). Needless to say, the present invention can be applied to the conveyance of the processing body (the substrate S or the mask M) in the case (1). In this case, the transfer operation of the mask M from the mask stock chamber 12 to the film formation chamber 11 is performed by the operation of the robot hand unit 24 of the transfer robot 14 that receives the mask M from the mask stock chamber 12 retracting to the transfer chamber 13, The operation of the robot hand portion 24 on which the M is placed is swung to the central portion of the front surface of the film forming chamber 11, and one of the two carry-in openings 11a and 11b from the central portion of the front surface of the film forming chamber 11 The operation described above includes an operation of moving in parallel to a position facing one (for example, the loading opening 11a) and an operation of moving straight toward the loading opening 11a and finally loading the mask M into the film forming chamber 11. Similar to the form, the operation of moving straight toward the carry-in opening 11a at the end is referred to as a second operation, and the displacement of the mask M on the robot hand unit 24 is detected at the position immediately before the second operation is started.・You can check.

<電子デバイスの製造方法>
次に、本実施形態の成膜装置を用いた電子デバイスの製造方法の一例を説明する。以下、電子デバイスの例として有機EL表示装置の構成及び製造方法を例示する。まず、製造する有機EL表示装置について説明する。図9(a)は有機EL表示装置60の全体図、図9(b)は1画素の断面構造を示している。
<Electronic device manufacturing method>
Next, an example of a method for manufacturing an electronic device using the film forming apparatus of this embodiment will be described. Hereinafter, a configuration and a manufacturing method of an organic EL display device will be illustrated as an example of an electronic device. First, the organic EL display device to be manufactured will be described. FIG. 9A shows an overall view of the organic EL display device 60, and FIG. 9B shows a sectional structure of one pixel.

図9(a)に示すように、有機EL表示装置60の表示領域61には、発光素子を複数備える画素62がマトリクス状に複数配置されている。詳細は後で説明するが、発光素子のそれぞれは、一対の電極に挟まれた有機層を備えた構造を有している。なお、ここでいう画素とは、表示領域61において所望の色の表示を可能とする最小単位を指している。本実施形態にかかる有機EL表示装置60の場合、互いに異なる発光を示す第1発光素子62R、第2発光素子62G、第3発光素子62Bの組合せにより画素62が構成されている。画素62は、赤色発光素子と緑色発光素子と青色発光素子の組合せで構成されることが多いが、黄色発光素子とシアン発光素子と白色発光素子の組み合わせでもよく、少なくとも1色以上であれば特に制限されるものではない。 As shown in FIG. 9A, in the display area 61 of the organic EL display device 60, a plurality of pixels 62 including a plurality of light emitting elements are arranged in a matrix. Although details will be described later, each of the light emitting elements has a structure including an organic layer sandwiched between a pair of electrodes. It should be noted that the pixel here refers to a minimum unit that enables display of a desired color in the display area 61. In the case of the organic EL display device 60 according to the present embodiment, the pixel 62 is configured by a combination of the first light emitting element 62R, the second light emitting element 62G, and the third light emitting element 62B that emit different lights. The pixel 62 is often composed of a combination of a red light emitting element, a green light emitting element, and a blue light emitting element, but may be a combination of a yellow light emitting element, a cyan light emitting element, and a white light emitting element. It is not limited.

図9(b)は、図9(a)のA−B線における部分断面模式図である。画素62は、基板63上に、陽極64と、正孔輸送層65と、発光層66R、66G、66Bのいずれかと、電子輸送層67と、陰極68と、を備える有機EL素子を有している。これらのうち、正孔輸送層65、発光層66R、66G、66B、電子輸送層67が有機層に相当する。また、本実施形態では、発光層66Rは赤色を発する有機EL層、発光層66Gは緑色を発する有機EL層、発光層66Bは青色を発する有機EL層である。発光層66R、66G、66Bは、それぞれ赤色、緑色、青色を発する発光素子(有機EL素子と記述する場合もある)に対応するパターンに形成されている。また、陽極64は、発光素子毎に分離して形成されている。正孔輸送層65と電子輸送層67と陰極68は、複数の発光素子62R、62G、62Bと共通で形成されていてもよいし、発光素子毎に形成されていてもよい。なお、陽極64と陰極68とが異物によってショートするのを防ぐために、陽極64間に絶縁層69が設けられている。さらに、有機EL層は水分や酸素によって劣化するため、水分や酸素から有機EL素子を保護するための保護層70が設けられている。 FIG. 9B is a schematic partial sectional view taken along the line AB of FIG. 9A. The pixel 62 has an organic EL device including an anode 64, a hole transport layer 65, any one of the light emitting layers 66R, 66G, and 66B, an electron transport layer 67, and a cathode 68 on a substrate 63. There is. Among these, the hole transport layer 65, the light emitting layers 66R, 66G, 66B, and the electron transport layer 67 correspond to organic layers. In the present embodiment, the light emitting layer 66R is an organic EL layer that emits red, the light emitting layer 66G is an organic EL layer that emits green, and the light emitting layer 66B is an organic EL layer that emits blue. The light-emitting layers 66R, 66G, and 66B are formed in patterns corresponding to light-emitting elements that emit red, green, and blue (sometimes described as organic EL elements). Further, the anode 64 is formed separately for each light emitting element. The hole transport layer 65, the electron transport layer 67, and the cathode 68 may be formed commonly to the plurality of light emitting elements 62R, 62G, and 62B, or may be formed for each light emitting element. An insulating layer 69 is provided between the anodes 64 to prevent the anodes 64 and the cathodes 68 from being short-circuited by foreign matter. Furthermore, since the organic EL layer is deteriorated by water and oxygen, a protective layer 70 is provided to protect the organic EL element from water and oxygen.

図9(b)では正孔輸送層65や電子輸送層67が一つの層で示されているが、有機EL表示素子の構造によって、正孔ブロック層や電子ブロック層を含む複数の層で形成されてもよい。また、陽極64と正孔輸送層65との間には陽極64から正孔輸送層65への正孔の注入が円滑に行われるようにすることのできるエネルギーバンド構造を有する正孔注入層を形成することもできる。同様に、陰極68と電子輸送層67の間にも電子注入層を形成することができる。 In FIG. 9B, the hole transport layer 65 and the electron transport layer 67 are shown as a single layer, but depending on the structure of the organic EL display element, they may be formed as a plurality of layers including a hole block layer and an electron block layer. May be done. Further, between the anode 64 and the hole transport layer 65, a hole injection layer having an energy band structure capable of smoothly injecting holes from the anode 64 to the hole transport layer 65 is provided. It can also be formed. Similarly, an electron injection layer can be formed between the cathode 68 and the electron transport layer 67.

次に、有機EL表示装置の製造方法の例について具体的に説明する。まず、有機EL表示装置を駆動するための回路(不図示)及び陽極64が形成された基板63を準備する。 Next, an example of the method for manufacturing the organic EL display device will be specifically described. First, a substrate 63 on which a circuit (not shown) for driving the organic EL display device and the anode 64 are formed is prepared.

陽極64が形成された基板63の上にアクリル樹脂をスピンコートで形成し、アクリル樹脂をリソグラフィ法により、陽極64が形成された部分に開口部が形成されるようにパターニングして絶縁層69を形成する。この開口部が、発光素子が実際に発光する発光領
域に相当する。
An acrylic resin is spin-coated on the substrate 63 on which the anode 64 is formed, and the acrylic resin is patterned by a lithographic method so that an opening is formed in a portion where the anode 64 is formed to form an insulating layer 69. Form. This opening corresponds to a light emitting region where the light emitting element actually emits light.

絶縁層69がパターニングされた基板63を第1の有機材料成膜装置に搬入し、基板保持ユニット及び静電チャックにて基板63を保持し、正孔輸送層65を、表示領域の陽極64の上に共通する層として成膜する。正孔輸送層65は真空蒸着により成膜される。実際には正孔輸送層65は表示領域61よりも大きなサイズに形成されるため、高精細なマスクは不要である。 The substrate 63 on which the insulating layer 69 is patterned is loaded into the first organic material film forming apparatus, the substrate 63 is held by the substrate holding unit and the electrostatic chuck, and the hole transport layer 65 is attached to the anode 64 in the display area. It is formed as a common layer on the above. The hole transport layer 65 is formed by vacuum vapor deposition. Since the hole transport layer 65 is actually formed to have a size larger than that of the display region 61, a high-definition mask is unnecessary.

次に、正孔輸送層65までが形成された基板63を第2の有機材料成膜装置に搬入し、基板保持ユニット及び静電チャックにて保持する。基板63とマスクMとのアライメントを行い、基板63をマスクM上に載置して、基板63の赤色を発する素子を配置する部分に、赤色を発する発光層66Rを成膜する。 Next, the substrate 63 on which the hole transport layer 65 has been formed is carried into the second organic material film forming apparatus and held by the substrate holding unit and the electrostatic chuck. The substrate 63 and the mask M are aligned, the substrate 63 is placed on the mask M, and a light emitting layer 66R emitting red light is formed on a portion of the substrate 63 where an element emitting red light is arranged.

発光層66Rの成膜と同様に、第3の有機材料成膜装置により緑色を発する発光層66Gを成膜し、さらに第4の有機材料成膜装置により青色を発する発光層66Bを成膜する。発光層66R、66G、66Bの成膜が完了した後、第5の成膜装置により表示領域61の全体に電子輸送層67を成膜する。電子輸送層67は、3色の発光層66R、66G、66Bに共通の層として形成される。 Similar to the film formation of the light emitting layer 66R, the light emitting layer 66G emitting green is formed by the third organic material film forming apparatus, and the light emitting layer 66B emitting blue is formed by the fourth organic material film forming apparatus. .. After the film formation of the light emitting layers 66R, 66G, 66B is completed, the electron transport layer 67 is formed over the entire display region 61 by the fifth film forming apparatus. The electron transport layer 67 is formed as a layer common to the three color light emitting layers 66R, 66G, and 66B.

電子輸送層67まで形成された基板63を金属性蒸着材料成膜装置で移動させて陰極68を成膜する。その後プラズマCVD装置に移動して保護層70を成膜して、有機EL表示装置60が完成する。 The substrate 63 on which the electron transport layer 67 has been formed is moved by a metal vapor deposition material film forming apparatus to form the cathode 68. After that, the organic EL display device 60 is completed by moving to a plasma CVD device to form a protective layer 70.

絶縁層69がパターニングされた基板63を成膜装置に搬入してから保護層70の成膜が完了するまでは、水分や酸素を含む雰囲気にさらしてしまうと、有機EL材料からなる発光層が水分や酸素によって劣化してしまうおそれがある。従って、本実施形態において、成膜装置間の基板の搬入搬出は、真空雰囲気又は不活性ガス雰囲気の下で行われる。上記実施形態は本発明の一例であり、本発明は上記実施形態の構成に限定されず、その技術思想の範囲内で適切に変形してもよい。 If the substrate 63 on which the insulating layer 69 is patterned is carried into the film forming apparatus until the film formation of the protective layer 70 is completed, if the substrate 63 is exposed to an atmosphere containing water and oxygen, the light emitting layer made of an organic EL material will be formed. It may be deteriorated by water or oxygen. Therefore, in this embodiment, the loading and unloading of the substrate between the film forming apparatuses is performed in a vacuum atmosphere or an inert gas atmosphere. The above embodiment is an example of the present invention, and the present invention is not limited to the configuration of the above embodiment, and may be appropriately modified within the scope of the technical idea thereof.

1:成膜クラスタ
11:成膜室
11a、11b:成膜室の開口部
12:マスクストックチャンバー
13:搬送室
14:搬送ロボット
23:ロボットアーム部
24:ロボットハンド部
25:制御部
30:位置ずれ検知手段
31:レーザー光源部
32:レーザー受光部
40:位置調整手段
41a、41b:マスク接触部
1: Deposition cluster 11: Deposition chambers 11a and 11b: Deposition chamber opening 12: Mask stock chamber 13: Transfer chamber 14: Transfer robot 23: Robot arm unit 24: Robot hand unit 25: Control unit 30: Position Deviation detection means 31: laser light source section 32: laser light receiving section 40: position adjusting means 41a, 41b: mask contact section

Claims (32)

搬出元チャンバーから処理体を搬出して搬入先チャンバーに搬入する搬送システムであって、
ロボットハンド部上に前記処理体を載置して搬送する搬送ロボットと、
前記搬送ロボットの搬送動作を制御する制御部と、
前記処理体の搬送経路において、前記ロボットハンド部上での前記処理体の位置ずれの有無を検知する検知手段とを有し、
前記搬送動作は、前記ロボットハンド部上に前記処理体を載置した状態で前記ロボットハンド部を前記搬入先チャンバーの搬入開口部に対向する位置まで移動させる第1動作と、前記ロボットハンド部を前記搬入開口部に対向する位置から前記搬入開口部に向かって直進移動させ前記搬入先チャンバー内に進入させる第2動作を含み、
前記制御部は、前記搬入先チャンバーの搬入開口部に対向する位置において、前記検知手段により前記ロボットハンド部上での前記処理体の位置ずれがないと判定されたときに前記第2動作を行うように、前記搬送ロボットを制御することを特徴とする搬送システム。
A transport system for unloading a treatment object from an unloading source chamber and loading it into a loading destination chamber,
A transfer robot that places and transfers the processing body on the robot hand unit,
A control unit for controlling the transfer operation of the transfer robot;
In the transport path of the processing body, it has a detection means for detecting the presence or absence of positional displacement of the processing body on the robot hand unit,
The carrying operation includes a first operation of moving the robot hand portion to a position facing the carry-in opening portion of the carry-in destination chamber with the processing object placed on the robot hand portion, and the robot hand portion. A second operation of linearly moving from a position facing the carry-in opening toward the carry-in opening and entering the carry-in destination chamber;
The control unit performs the second operation when the detection unit determines that there is no displacement of the processing object on the robot hand unit at a position facing the loading opening of the loading destination chamber. And a transfer system for controlling the transfer robot.
前記搬送ロボットは、回転軸に連結されたロボットアーム部と、前記ロボットアーム部の先端に連結された前記ロボットハンド部とを含むことを特徴とする請求項1に記載の搬送システム。 The transfer system according to claim 1, wherein the transfer robot includes a robot arm unit connected to a rotation shaft, and the robot hand unit connected to a tip of the robot arm unit. 前記第1動作は、前記ロボットハンド部上に前記処理体を載置した前記ロボットハンド部を前記搬出元チャンバーから退避させる動作と、退避させた前記ロボットハンド部を前記搬入先チャンバーの搬入開口部に対向する位置まで移動させる動作とを含み、
前記搬入先チャンバーの搬入開口部に対向する位置まで移動させる前記動作は、少なくとも前記回転軸を中心に前記ロボットアーム部を回転させる旋回動作を含むことを特徴とする請求項2に記載の搬送システム。
The first operation is an operation of retracting the robot hand part on which the processing object is placed on the robot hand part from the carry-out source chamber, and a carry-in opening part of the carry-in destination chamber of the retracted robot hand part. Including an operation of moving to a position facing
The transport system according to claim 2, wherein the operation of moving the robot to a position facing the carry-in opening of the carry-in destination chamber includes a turning operation of rotating the robot arm unit around at least the rotation axis. ..
前記検知手段の検知位置は、前記搬入先チャンバーの搬入開口部に対向する位置に設けられることを特徴とする請求項3に記載の搬送システム。 The transfer system according to claim 3, wherein the detection position of the detection unit is provided at a position facing the carry-in opening of the carry-in destination chamber. 前記検知手段の検知位置は、前記搬入先チャンバーの搬入開口部に対向する位置であって、かつ、前記ロボットアーム部が旋回動作する回転半径の範囲内で前記搬入先チャンバーの搬入開口部側に近接した位置に設けられることを特徴とする請求項3又は4に記載の搬送システム。 The detection position of the detection means is a position facing the carry-in opening portion of the carry-in destination chamber, and is on the carry-in opening portion side of the carry-in destination chamber within a range of a radius of gyration in which the robot arm unit swivels. The transport system according to claim 3 or 4, wherein the transport system is provided at positions close to each other. 前記ロボットアーム部が旋回動作する回転半径は、前記処理体を載置した前記ロボットハンド部の自由端の先端が前記搬送ロボットの前記回転軸に最も近づいて回転するときの回転半径であることを特徴とする請求項5に記載の搬送システム。 The radius of gyration in which the robot arm unit swivels is the radius of gyration when the tip of the free end of the robot hand unit on which the processing body is placed rotates closest to the rotation axis of the transfer robot. The transport system according to claim 5, wherein the transport system is a transport system. 前記検知手段の検知位置は、前記第2動作が開始されるときの前記処理体の先端部の両側の位置のそれぞれに設けられ、
前記処理体の前記先端部が前記搬入先チャンバーの搬入開口部に向けられていることを特徴とする請求項1から6の何れか一項に記載の搬送システム。
The detection positions of the detection means are provided at positions on both sides of the tip of the processing body when the second operation is started,
7. The transfer system according to claim 1, wherein the front end portion of the processing body is directed to a carry-in opening portion of the carry-in destination chamber.
前記検知手段の検知位置間の間隔は、前記搬入先チャンバーの前記搬入開口部の幅よりも小さく、前記処理体の幅よりも大きいことを特徴とする請求項7に記載の搬送システム。 8. The transfer system according to claim 7, wherein the interval between the detection positions of the detection means is smaller than the width of the carry-in opening of the carry-in destination chamber and larger than the width of the processing body. 前記検知手段の検知位置は、更に、前記第2動作が開始されるときの前記処理体の前記
先端部の反対側の後端部の位置に1か所以上設けられることを特徴とする請求項7又は8に記載の搬送システム。
The detection position of the detection means is further provided at one or more positions at a position of a rear end portion on the opposite side of the front end portion of the processing body when the second operation is started. The transportation system according to 7 or 8.
前記検知手段は、レーザーセンサーであることを特徴とする請求項1から9の何れか一項に記載の搬送システム。 The transport system according to claim 1, wherein the detection unit is a laser sensor. 前記検知手段は、カメラであることを特徴とする請求項1から9の何れか一項に記載の搬送システム。 The transport system according to claim 1, wherein the detection unit is a camera. 前記制御部は、前記搬入先チャンバーの搬入開口部に対向する位置において、前記検知手段による検知の結果、前記ロボットハンド部上での前記処理体の位置ずれがあると判定されたときには、前記第2動作を保留し、通知手段を通じて通知を行うように制御することを特徴とする請求項1から11の何れか一項に記載の搬送システム。 When the control unit determines that there is a positional displacement of the processing body on the robot hand unit as a result of detection by the detection unit at a position facing the carry-in opening of the carry-in destination chamber, The transport system according to claim 1, wherein the two operations are suspended, and control is performed such that notification is performed through a notification unit. 前記制御部は、前記搬入先チャンバーの搬入開口部に対向する位置において、前記検知手段による検知の結果、前記ロボットハンド部上での前記処理体の位置ずれがあると判定されたときには、前記第2動作を保留し、前記ロボットハンド部を位置調整手段に移動させるように制御し、
前記位置調整手段は、前記ロボットハンド部上での前記処理体の位置ずれを修正することを特徴とする請求項1から11の何れか一項に記載の搬送システム。
When the control unit determines that there is a positional deviation of the processing object on the robot hand unit as a result of the detection by the detection unit at a position facing the carry-in opening of the carry-in destination chamber, 2 operations are suspended, and the robot hand unit is controlled to move to the position adjusting means,
The transfer system according to any one of claims 1 to 11, wherein the position adjusting unit corrects a position shift of the processing body on the robot hand unit.
前記処理体は、マスクであることを特徴とする請求項1から13の何れか一項に記載の搬送システム。 The transport system according to any one of claims 1 to 13, wherein the processing body is a mask. 前記処理体は、基板であることを特徴とする請求項1から13の何れか一項に記載の搬送システム。 The transport system according to claim 1, wherein the processing body is a substrate. 複数のチャンバーと、
処理体を前記複数のチャンバー間に搬送するための搬送システムとして請求項1から15の何れか一項に記載の搬送システムとを、含むことを特徴とするデバイス製造装置。
Multiple chambers,
A device manufacturing apparatus, comprising: the transfer system according to any one of claims 1 to 15 as a transfer system for transferring a processing body between the plurality of chambers.
ロボットハンド部上に処理体を載置して搬送する搬送ロボットと、前記搬送ロボットの搬送動作を制御する制御部と、前記処理体の搬送経路において、前記ロボットハンド部上での前記処理体の位置ずれの有無を検知する検知手段とを有する搬送システムを使用し、搬出元チャンバーから処理体を搬出して搬入先チャンバーに搬入する搬送方法であって、
前記ロボットハンド部上に前記処理体を載置した状態で前記ロボットハンド部を前記搬入先チャンバーの搬入開口部に対向する位置まで移動させる第1工程と、
前記ロボットハンド部を前記搬入開口部に対向する位置から前記搬入開口部に向かって直進移動させ前記搬入先チャンバー内に進入させる第2工程とを含み、
前記第2工程は、前記搬入先チャンバーの搬入開口部に対向する位置において、前記検知手段により前記ロボットハンド部上での前記処理体の位置ずれがないと判定されたときに行われるように、前記搬送ロボットを制御することを特徴とする搬送方法。
A transfer robot that places and transfers the processing object on the robot hand section, a control section that controls the transfer operation of the transfer robot, and a transfer path of the processing object, in which the processing object of the processing object on the robot hand section is transferred. A transfer method that uses a transfer system having a detection unit that detects the presence or absence of positional deviation, and transfers the processing body from the transfer source chamber to the transfer destination chamber.
A first step of moving the robot hand part to a position facing the carry-in opening of the carry-in destination chamber in a state where the processing object is placed on the robot hand part;
A second step of moving the robot hand portion straight from a position facing the loading opening toward the loading opening to enter the loading destination chamber;
The second step is performed when the detection unit determines that there is no displacement of the processing object on the robot hand unit at a position facing the loading opening of the loading destination chamber, A transportation method comprising controlling the transportation robot.
前記搬送ロボットは、回転軸に連結されたロボットアーム部と、前記ロボットアーム部の先端に連結された前記ロボットハンド部とを含むことを特徴とする請求項17に記載の搬送方法。 18. The transfer method according to claim 17, wherein the transfer robot includes a robot arm unit connected to a rotation shaft, and the robot hand unit connected to a tip of the robot arm unit. 前記第1工程は、前記ロボットハンド部上に前記処理体を載置した前記ロボットハンド部を前記搬出元チャンバーから退避させる動作と、退避させた前記ロボットハンド部を前記搬入先チャンバーの搬入開口部に対向する位置まで移動させる動作とを含み、
前記搬入先チャンバーの搬入開口部に対向する位置まで移動させる前記動作は、少なくとも前記回転軸を中心に前記ロボットアーム部を回転させる旋回動作を含むことを特徴とする請求項18に記載の搬送方法。
In the first step, an operation of retracting the robot hand part on which the processing body is placed on the robot hand part from the carry-out source chamber and a carry-in opening part of the carry-in destination chamber of the retracted robot hand part Including an operation of moving to a position facing
19. The transfer method according to claim 18, wherein the operation of moving to a position facing the carry-in opening of the carry-in destination chamber includes at least a rotating operation of rotating the robot arm unit about the rotation axis. ..
前記検知手段の検知位置は、前記搬入先チャンバーの搬入開口部に対向する位置に設けられることを特徴とする請求項19に記載の搬送方法。 20. The transfer method according to claim 19, wherein the detection position of the detection unit is provided at a position facing the carry-in opening of the carry-in destination chamber. 前記検知手段の検知位置は、前記搬入先チャンバーの搬入開口部に対向する位置であって、かつ、前記ロボットアーム部が旋回動作する回転半径の範囲内で前記搬入先チャンバーの搬入開口部側に近接した位置に設けられることを特徴とする請求項19又は20に記載の搬送方法。 The detection position of the detection means is a position facing the carry-in opening portion of the carry-in destination chamber, and is on the carry-in opening portion side of the carry-in destination chamber within a range of a radius of gyration in which the robot arm unit swivels. The transport method according to claim 19 or 20, wherein the transport method is provided at positions close to each other. 前記ロボットアーム部が旋回動作する回転半径は、前記処理体を載置した前記ロボットハンド部の自由端の先端が前記搬送ロボットの前記回転軸に最も近づいて回転するときの回転半径であることを特徴とする請求項21に記載の搬送方法。 The radius of gyration in which the robot arm unit swivels is the radius of gyration when the tip of the free end of the robot hand unit on which the processing body is placed rotates closest to the rotation axis of the transfer robot. The transport method according to claim 21, wherein the transport method is characterized in that: 前記検知手段の検知位置は、前記第2工程が開始されるときの前記処理体の先端部の両側の位置のそれぞれに設けられ、
前記処理体の前記先端部が前記搬入先チャンバーの搬入開口部に向けられていることを特徴とする請求項17から22の何れか一項に記載の搬送方法。
The detection positions of the detection means are provided at positions on both sides of the tip of the processing body when the second step is started,
The transport method according to any one of claims 17 to 22, wherein the leading end portion of the processing body is directed toward a carry-in opening portion of the carry-in destination chamber.
前記検知手段の検知位置間の間隔は、前記搬入先チャンバーの前記搬入開口部の幅よりも小さく、前記処理体の幅よりも大きいことを特徴とする請求項23に記載の搬送方法。 24. The transfer method according to claim 23, wherein the interval between the detection positions of the detection means is smaller than the width of the carry-in opening of the carry-in destination chamber and larger than the width of the processing body. 前記検知手段の検知位置は、更に、前記第2工程が開始されるときの前記処理体の前記先端部の反対側の後端部の位置に1か所以上設けられることを特徴とする請求項23又は24に記載の搬送方法。 The detection position of the detection means is further provided at one or more positions at a rear end portion opposite to the front end portion of the processing body when the second step is started. 23. The transportation method according to 23 or 24. 前記検知手段は、レーザーセンサーであることを特徴とする請求項17から25の何れか一項に記載の搬送方法。 26. The transport method according to claim 17, wherein the detection unit is a laser sensor. 前記検知手段は、カメラであることを特徴とする請求項17から25の何れか一項に記載の搬送方法。 26. The transport method according to claim 17, wherein the detection unit is a camera. 前記搬入先チャンバーの搬入開口部に対向する位置において、前記検知手段による検知の結果、前記ロボットハンド部上での前記処理体の位置ずれがあると判定されたときには、前記第2工程を保留し、通知手段を通じて通知を行うことを特徴とする請求項17から27の何れか一項に記載の搬送方法。 At the position facing the carry-in opening of the carry-in destination chamber, when it is determined as a result of the detection by the detection means that the processing body is displaced on the robot hand unit, the second step is suspended. The conveying method according to any one of claims 17 to 27, wherein the notification is performed through a notification unit. 前記搬入先チャンバーの搬入開口部に対向する位置において、前記検知手段による検知の結果、前記ロボットハンド部での前記処理体の位置ずれがあると判定されたときには、前記第2工程を保留し、前記ロボットハンド部を位置調整手段に移動させた後、前記位置調整手段により前記ロボットハンド部上での前記処理体の位置ずれを修正することを特徴とする請求項17から27の何れか一項に記載の搬送方法。 At the position facing the carry-in opening of the carry-in destination chamber, as a result of the detection by the detecting means, when it is determined that there is a positional displacement of the processing body in the robot hand unit, the second step is suspended, 28. The position deviation of the processing object on the robot hand unit is corrected by the position adjustment unit after the robot hand unit is moved to the position adjustment unit. The transportation method described in. 前記処理体は、マスクであることを特徴とする請求項17から29の何れか一項に記載の搬送方法。 30. The transport method according to claim 17, wherein the processing body is a mask. 前記処理体は、基板であることを特徴とする請求項17から29の何れか一項に記載の搬送方法。 30. The transport method according to claim 17, wherein the processing body is a substrate. 請求項17から31の何れか一項に記載の搬送方法を用いて、処理体を複数のチャンバー間で搬送しつつデバイスを製造することを特徴とするデバイス製造方法。 A device manufacturing method, wherein the device is manufactured while the processing body is transferred between a plurality of chambers by using the transfer method according to any one of claims 17 to 31.
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