JP2020088302A - Method for manufacturing light-emitting device - Google Patents

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Abstract

To provide a method for manufacturing a light-emitting device in which a resist film is formed in a desired location and reduction in adhesiveness between a lead frame (lead part) and a resin portion is suppressed.SOLUTION: The method for manufacturing a light-emitting device includes a step of preparing a first structure described below. The first structure has: a lead frame comprising a metal plate that has a plurality of pairs of metal parts, an upper surface, a lower surface and end faces where the pair of metal parts oppose to each other, and a first plating layer comprising gold or a gold alloy formed in a region other than a first region including the upper surface of the metal part by using a resist film as a mask that is formed by an electrodeposition method in the first region including the end face of the metal part, in which the resist film is removed; and a resin molded body integrally molded with the lead frame so as to cover the first region and expose a part of the lower surface of the lead frame. The first structure has a plurality of recesses on the upper surface side, in which the first plating layer present on the upper surface of the metal part is located at the bottom face of the recess. The method for manufacturing the light-emitting device further includes: a step of forming a second structure by disposing a light-emitting element on the bottom face in the recess and disposing an encapsulation member to cover the light-emitting element; and a step of dividing the second structure into individual pieces to obtain a plurality of light-emitting devices.SELECTED DRAWING: Figure 2G

Description

本開示は、発光装置の製造方法に関する。 The present disclosure relates to a method for manufacturing a light emitting device.

特許文献1には、リードフレームの最表面の全面に金めっきを施し、その後リードフレーム上に反射用樹脂部を形成して、発光装置を得る製造方法が開示されている。
特許文献2には、金属基板の表裏に感光性レジストを塗布し、めっき部材を部分的に形成して、発光装置を得る製造方法が開示されている。
Patent Document 1 discloses a manufacturing method for obtaining a light emitting device by performing gold plating on the entire outermost surface of a lead frame and then forming a reflection resin portion on the lead frame.
Patent Document 2 discloses a manufacturing method for obtaining a light emitting device by coating a photosensitive resist on the front and back surfaces of a metal substrate and partially forming a plated member.

特開2017−076809号公報JP, 2017-076809, A 特開2011−129687号公報JP, 2011-129687, A

しかしながら、特許文献1の発光装置の製造方法では、酸化等の耐性が高い金と反射用樹脂部との密着性が低いことに起因して、リードフレームと反射用樹脂部との密着性が低くなる可能性がある。
また、特許文献2の発光装置の製造方法では、感光性レジストを金属基板の角部または側面に確実に塗布することが難しく、例えば、感光性レジストが金属基板の角部近傍等に形成されない可能性がある。
However, in the method for manufacturing the light-emitting device of Patent Document 1, the adhesion between the lead frame and the reflection resin portion is low due to the low adhesion between the gold and the reflection resin portion, which have high resistance to oxidation and the like. Could be.
Further, in the method for manufacturing a light emitting device of Patent Document 2, it is difficult to reliably apply the photosensitive resist to the corners or side surfaces of the metal substrate, and for example, the photosensitive resist may not be formed near the corners of the metal substrate. There is a nature.

そこで、本発明の一実施形態では、レジスト膜を所望の部位に形成し、リードフレーム(リード部)と樹脂部との密着性の低下を抑制した発光装置の製造方法を提供することを目的とする。 Therefore, it is an object of one embodiment of the present invention to provide a method for manufacturing a light-emitting device in which a resist film is formed at a desired portion to prevent a decrease in adhesion between a lead frame (lead portion) and a resin portion. To do.

本発明の一実施形態の発光装置の製造方法は、一対の金属部を複数備え、上面、下面および一対の金属部それぞれが対向する端面を有する金属板と、金属部の端面を含む第1領域に電着法により形成されたレジスト膜をマスクとし金属部の上面上を含む第1領域以外の領域に形成された金または金合金を含む第1めっき層と、を含み、レジスト膜が除去されてなるリードフレームと、第1領域を被覆し、かつリードフレームの下面の一部を露出させてリードフレームと一体成型された樹脂成形体と、を有し、上面側に複数の凹部を有し、凹部の底面において金属部の上面上にある第1めっき層が位置する第1構造体を準備する工程と、凹部内において、底面に発光素子を配置し、発光素子を被覆する封止部材を配置して第2構造体を形成する工程と、第2構造体を個片化し、複数の発光装置を得る工程と、を備える。 A method for manufacturing a light-emitting device according to an embodiment of the present invention includes a metal plate having a plurality of pairs of metal parts, an upper surface, a lower surface, and a metal plate having end faces facing each other, and a first region including end faces of the metal parts. And a first plating layer containing gold or a gold alloy formed in a region other than the first region including on the upper surface of the metal part using the resist film formed by the electrodeposition method as a mask, and the resist film is removed. And a resin molded body that covers the first region and exposes a part of the lower surface of the lead frame and is integrally molded with the lead frame, and has a plurality of recesses on the upper surface side. A step of preparing a first structure in which the first plating layer on the upper surface of the metal portion is located on the bottom surface of the recess, and a sealing member for disposing the light emitting element on the bottom surface and covering the light emitting element in the recess. The method includes the steps of arranging and forming the second structure, and dividing the second structure into pieces to obtain a plurality of light emitting devices.

本発明の一実施形態により、レジスト膜を所望の部位に形成し、リードフレーム(リード部)と樹脂部との密着性の低下を抑制した発光装置の製造方法を提供することが可能となる。 According to one embodiment of the present invention, it is possible to provide a method for manufacturing a light-emitting device in which a resist film is formed at a desired portion and a decrease in adhesion between a lead frame (lead portion) and a resin portion is suppressed.

一の実施形態に係る金属板を上面側から見たときの模式的上面図である。It is a typical top view when the metal plate concerning one embodiment is seen from the upper surface side. 図1A中の破線部を拡大した部分拡大図である。It is the elements on larger scale which expanded the broken line part in FIG. 1A. 図1B中の1C−1C線における模式的端面図である。FIG. 1C is a schematic end view taken along line 1C-1C in FIG. 1B. 第1領域にレジスト膜が形成された後の金属部を示す模式的端面図である。FIG. 6 is a schematic end view showing the metal portion after the resist film is formed on the first region. 表面にレジスト膜が形成された金属部を示す模式的端面図である。FIG. 3 is a schematic end view showing a metal part having a resist film formed on its surface. 露光工程の一例を示す模式的端面図である。It is a typical end view which shows an example of an exposure process. 露光工程の一例を示す模式的端面図である。It is a typical end view which shows an example of an exposure process. 第1めっき層を形成する工程を示す模式的端面図である。FIG. 6 is a schematic end view showing a step of forming a first plating layer. レジスト膜を除去する工程を示す模式的端面図である。FIG. 6 is a schematic end view showing a step of removing a resist film. リード部の一例を示す模式的端面図である。It is a typical end view showing an example of a lead portion. 一の実施形態に係る第1構造体の模式的端面図である。It is a typical end view of the 1st structure concerning one embodiment. 図3A中の破線部を拡大した部分拡大図である。It is the elements on larger scale which expanded the broken line part in FIG. 3A. 一の実施形態に係る第2構造体の模式的端面図である。It is a typical end view of the 2nd structure concerning one embodiment. 第1めっき層の配置の一例を示す模式的端面図である。It is a typical end view showing an example of arrangement of the 1st plating layer. 一の実施形態に係る発光装置の模式的端面図である。FIG. 3 is a schematic end view of a light emitting device according to one embodiment. 一の実施形態に係る発光装置の模式的斜視図である。FIG. 3 is a schematic perspective view of a light emitting device according to one embodiment. 図5B中の破線部を拡大した部分拡大図である。It is the elements on larger scale which expanded the broken line part in FIG. 5B. 一対のリードを上から見たときの模式的上面図である。It is a schematic top view when a pair of leads is seen from above. 第1めっき層の配置の一例を示す模式的上面図である。It is a schematic top view which shows an example of arrangement|positioning of a 1st plating layer. 第1めっき層の配置の一例を示す模式的上面図である。It is a schematic top view which shows an example of arrangement|positioning of a 1st plating layer. 第1めっき層の配置の一例を示す模式的上面図である。It is a schematic top view which shows an example of arrangement|positioning of a 1st plating layer. 第1めっき層の配置の一例を示す模式的上面図である。It is a schematic top view which shows an example of arrangement|positioning of a 1st plating layer. 実施例1〜7、比較例1および比較例2の評価結果および測定結果を示す図である。It is a figure which shows the evaluation result and measurement result of Examples 1-7, the comparative example 1, and the comparative example 2.

以下、図面を参照しながら、本開示の実施形態を詳細に説明する。以下の実施形態は、例示であり、本開示による発光装置の製造方法は、以下の実施形態に限られない。例えば、以下の実施形態で示される数値、形状、材料などは、あくまでも一例であり、技術的に矛盾が生じない限りにおいて種々の改変が可能である。 Hereinafter, embodiments of the present disclosure will be described in detail with reference to the drawings. The following embodiments are examples, and the method for manufacturing the light emitting device according to the present disclosure is not limited to the following embodiments. For example, the numerical values, shapes, materials, etc. shown in the following embodiments are merely examples, and various modifications are possible as long as there is no technical contradiction.

図面が示す構成要素の寸法、形状等は、わかり易さのために誇張されている場合があり、実際のリードフレームや発光装置等における、寸法、形状および構成要素間の大小関係を反映していない場合がある。また、図面が過度に複雑になることを避けるために、一部の要素の図示を省略することがある。 The dimensions, shapes, etc. of the components shown in the drawings may be exaggerated for the sake of clarity, and do not reflect the dimensions, shapes, and size relationships between the components in actual lead frames, light-emitting devices, etc. There are cases. Further, in order to avoid making the drawings excessively complicated, some of the elements may not be shown.

以下の説明において、実質的に同じ機能を有する構成要素は共通の参照符号で示し、説明を省略することがある。以下の説明では、特定の方向または位置を示す用語(例えば、「上」、「下」およびそれらの用語を含む別の用語)を用いる場合がある。しかしながら、それらの用語は、参照した図面における相対的な方向または位置をわかり易さのために用いているに過ぎない。参照した図面における「上」、「下」等の用語による相対的な方向または位置の関係が同一であれば、本開示以外の図面、実際の製品、製造装置等において、参照した図面と同一の配置でなくてもよい。 In the following description, components having substantially the same function are designated by common reference numerals, and description thereof may be omitted. In the following description, a term indicating a specific direction or position (for example, “upper”, “lower” and another term including those terms) may be used. However, those terms are only used for the sake of clarity in terms of relative orientation or position in the referenced figures. In the drawings other than the present disclosure, the actual product, the manufacturing apparatus, etc., the same as the referenced drawings, as long as the relative directions or positions in terms of “upper”, “lower”, etc. in the referenced drawings are the same. It does not have to be arranged.

本明細書において、金属部およびリード部等の用語は、個片化する前と後で同じ用語を用いることがある。 In the present specification, the terms such as the metal portion and the lead portion may be the same as those used before and after being divided into individual pieces.

本開示の実施形態に係る発光装置100の製造方法は、第1構造体50を準備する工程と、第2構造体60を形成する工程と、第2構造体60を個片化し、複数の発光装置100を得る工程とを備える。第1構造体50を準備する工程は、(A)金属板30を準備する工程と、(B)所望の領域に金または金合金を含む第1めっき層5が形成されたリードフレーム40を形成する工程と、(C)リードフレーム40に樹脂成形体8を形成する工程と、を含む。
図1A〜図5Dを参照して、各工程について詳細に説明する。
The method for manufacturing the light emitting device 100 according to the embodiment of the present disclosure includes a step of preparing the first structure body 50, a step of forming the second structure body 60, and the second structure body 60 being separated into a plurality of light emitting elements. Obtaining the device 100. The step of preparing the first structure 50 includes (A) the step of preparing the metal plate 30, and (B) the lead frame 40 in which the first plating layer 5 containing gold or a gold alloy is formed in a desired region. And the step of forming the resin molded body 8 on the lead frame 40 (C).
Each step will be described in detail with reference to FIGS. 1A to 5D.

[(A)金属板30を準備する工程]
まず、一対の金属部35を複数備え、上面30a、下面30bおよび一対の金属部35それぞれが対向する端面35cを有する金属板30を準備する。金属板30は、予め製造された金属板30を購入して準備してもよく、銅、銅合金又はニッケル合金からなる平板状の板材にエッチング加工またはプレス加工等を施すことにより製造して準備してもよい。図1Aは金属板30を上面側から見たときの模式的上面図であり、図1Bは図1A中の破線部を拡大した部分拡大図(二対の金属部35を示す)であり、図1Cは図1B中の1C−1C線における模式的端面図である。本明細書において、端面35cとは、一対の金属部35それぞれが対向する面であって、上面35aと下面35bとの間にある面をいう。
[(A) Step of Preparing Metal Plate 30]
First, a metal plate 30 including a plurality of pairs of metal portions 35 and having an upper surface 30a, a lower surface 30b, and an end surface 35c facing the pair of metal portions 35 is prepared. The metal plate 30 may be prepared by purchasing a metal plate 30 manufactured in advance, and is prepared by performing etching or pressing on a flat plate material made of copper, a copper alloy, or a nickel alloy. You may. 1A is a schematic top view when the metal plate 30 is viewed from the top side, and FIG. 1B is a partially enlarged view (showing two pairs of metal portions 35) in which a broken line portion in FIG. 1A is enlarged. 1C is a schematic end view taken along the line 1C-1C in FIG. 1B. In the present specification, the end surface 35c refers to a surface between the pair of metal portions 35, which is between the upper surface 35a and the lower surface 35b.

図1Cで示す金属部35は、金属部35の上面35aと端面35cとを接続する第1角部C1と、金属部35の下面35bと端面35cとを接続する第2角部C2とを有する。本明細書において、角部は角の一部に曲面を有していても良い。一対の金属部35のうち一方の金属部35において、第1角部C1は第2角部C2よりも他方の金属部35に近い位置にある。また、金属部35の端面35cは、第1角部C1および第2角部C2よりも他方の金属部35に近い位置にある凸部Pを有している。端面35cが凸部Pを備えることで、端面35cが上面35aに対して垂直である場合に比べて、端面35cの表面積を容易に増加させることができ、後述する樹脂成形体8との密着強度を向上させることができる。 The metal portion 35 shown in FIG. 1C has a first corner portion C1 connecting the upper surface 35a and the end surface 35c of the metal portion 35, and a second corner portion C2 connecting the lower surface 35b of the metal portion 35 and the end surface 35c. .. In the present specification, the corner portion may have a curved surface in a part of the corner. In one metal portion 35 of the pair of metal portions 35, the first corner portion C1 is closer to the other metal portion 35 than the second corner portion C2. Further, the end surface 35c of the metal portion 35 has a convex portion P located closer to the other metal portion 35 than the first corner portion C1 and the second corner portion C2. Since the end surface 35c includes the convex portion P, the surface area of the end surface 35c can be easily increased as compared with the case where the end surface 35c is perpendicular to the upper surface 35a, and the adhesion strength with the resin molded body 8 described later. Can be improved.

また、図1Bで示すように、金属部35は上面35aに溝13または貫通孔を有することができる。これにより、溝13または貫通孔内に樹脂成形体8を入り込ませることで、一対の金属部35(一対のリード部36となる部分)と樹脂成形体8とを強固に固定することができる。溝13や貫通孔を形成する工程は、一対の金属部35を形成する工程と同じ工程で行ってもよく、別の工程で行ってもよい。 Further, as shown in FIG. 1B, the metal portion 35 may have the groove 13 or the through hole on the upper surface 35a. Accordingly, by inserting the resin molded body 8 into the groove 13 or the through hole, the pair of metal portions 35 (portions to be the pair of lead portions 36) and the resin molded body 8 can be firmly fixed. The step of forming the groove 13 and the through hole may be performed in the same step as the step of forming the pair of metal portions 35, or may be performed in another step.

[(B)リードフレーム40を形成する工程]
次に、電着法により金属部35の端面35cを含む第1領域Xにレジスト膜7を形成する。図2Aは、図1B中の2A−2A線における模式的端面図であり、第1領域Xにレジスト膜7が形成された後の金属部35を示す。図2Aでは、レジスト膜7は、端面35cの上側に位置する領域とその領域と連続する上面35aの一部とを連続して被覆している。また、端面35cの反対側に位置する端面35dの上側に位置する領域と、上面35aの一部とを被覆している。レジスト膜7は、端面35cの一部を被覆してもよく、端面35cの全面を被覆してもよい。また、レジスト膜7は、金属部35の端面35cに加え、金属部35の上面35aと端面35cとを接続する第1角部C1と、金属部35の下面35bと端面35cとを接続する第2角部C2との少なくとも一方を連続して被覆することが好ましい。これにより、レジスト膜7を除去した後において、該領域には金または金合金を含む第1めっき層5が形成されないため、後述する樹脂成形体8との密着強度を向上させることができる。
[(B) Step of forming lead frame 40]
Next, the resist film 7 is formed in the first region X including the end surface 35c of the metal portion 35 by the electrodeposition method. FIG. 2A is a schematic end view taken along line 2A-2A in FIG. 1B, and shows the metal portion 35 after the resist film 7 is formed in the first region X. In FIG. 2A, the resist film 7 continuously covers a region located above the end surface 35c and a part of the upper surface 35a continuous with the region. Further, it covers a region located on the upper side of the end surface 35d located on the opposite side of the end surface 35c and a part of the upper surface 35a. The resist film 7 may cover a part of the end surface 35c or the entire surface of the end surface 35c. In addition to the end surface 35c of the metal part 35, the resist film 7 connects the first corner C1 connecting the upper surface 35a and the end surface 35c of the metal part 35, and the lower surface 35b connecting the end surface 35c of the metal part 35. It is preferable to continuously coat at least one of the two corners C2. As a result, after the resist film 7 is removed, the first plating layer 5 containing gold or a gold alloy is not formed in the region, so that the adhesion strength with the resin molded body 8 described later can be improved.

金属部35の第1領域Xにレジスト膜7を形成する工程は、例えば、以下の工程を含む。 The step of forming the resist film 7 in the first region X of the metal part 35 includes, for example, the following steps.

[(B-1)電着法によるレジスト膜7の形成工程]
まず、荷電粒子となる物質(例えば、アクリル)およびレジスト膜7となる物質を含む水溶液中に金属板30を浸漬し、電気を印加する。この浸漬工程は、例えば、電圧100V〜250Vで浸漬時間10秒〜30秒の条件で行われ、好適には電圧150V〜200Vで浸漬時間10秒〜20秒の条件で行われる。これにより、図2Bで示すように、金属部35の上面35a、下面35b、端面35cおよび角部を含む表面にレジスト膜7が形成される。図2Bでは、分かりやすさのためレジスト膜7のハッチングは省略している。レジスト膜7となる物質は、好適には感光性のフォトレジスト材料が用いられる。レジスト膜7としてフォトレジスト材料を用いることで、所望の領域に光を当て、不要な部分を現像液により除去することにより、レジスト膜7を精度良く加工することができる。
[(B-1) Step of forming resist film 7 by electrodeposition method]
First, the metal plate 30 is dipped in an aqueous solution containing a substance that becomes charged particles (for example, acrylic) and a substance that becomes the resist film 7, and electricity is applied. This immersion step is performed, for example, under conditions of a voltage of 100 V to 250 V and an immersion time of 10 seconds to 30 seconds, and preferably at a voltage of 150 V to 200 V and an immersion time of 10 seconds to 20 seconds. As a result, as shown in FIG. 2B, the resist film 7 is formed on the upper surface 35a, the lower surface 35b, the end surface 35c, and the surface including the corners of the metal portion 35. In FIG. 2B, the hatching of the resist film 7 is omitted for clarity. A photosensitive photoresist material is preferably used as the substance forming the resist film 7. By using a photoresist material as the resist film 7, it is possible to precisely process the resist film 7 by irradiating a desired area with light and removing an unnecessary portion with a developing solution.

[(B-2)レジスト膜7の乾燥工程]
次に、水溶液から金属板30を取り出した後、レジスト膜7に熱を加える乾燥工程を行う。レジスト膜7が形成された金属板30に対して、例えば、60℃〜100℃で45秒〜90秒、好適には60℃〜80℃で60秒〜90秒間熱を加える。これにより、金属板30の表面において、厚みのばらつきが少ないレジスト膜7を形成することができる。また、乾燥工程を行うことで、レジスト膜7となる成分が金属部35の角部近傍にも効果的に付着し、レジスト膜7が金属部35の角部を被覆しやすくなる。
[(B-2) Drying Step of Resist Film 7]
Next, after taking out the metal plate 30 from the aqueous solution, a drying step of applying heat to the resist film 7 is performed. The metal plate 30 on which the resist film 7 is formed is heated at 60° C. to 100° C. for 45 seconds to 90 seconds, preferably at 60° C. to 80° C. for 60 seconds to 90 seconds. As a result, the resist film 7 having a small thickness variation can be formed on the surface of the metal plate 30. Further, by performing the drying step, the component that becomes the resist film 7 effectively adheres to the vicinity of the corner of the metal portion 35, and the resist film 7 easily covers the corner of the metal portion 35.

レジスト膜7を塗布により形成する従来の方法では、レジスト膜7が金属部35の角部および/または端面を確実に被覆することは難しい。しかし、本開示の発光装置の製造方法においては、電着法によりレジスト膜7を形成することで、角部および端面35cを含む金属部35の所望の領域にレジスト膜7を容易に形成することができる。 With the conventional method of forming the resist film 7 by coating, it is difficult for the resist film 7 to reliably cover the corners and/or end faces of the metal part 35. However, in the method for manufacturing a light emitting device of the present disclosure, the resist film 7 is formed by the electrodeposition method, so that the resist film 7 can be easily formed in a desired region of the metal portion 35 including the corner portion and the end surface 35c. You can

また、従来の塗布による形成方法では、金属部35の角部に形成されるレジスト膜7の厚みは、金属部35の上面35aおよび下面35bに形成されるレジスト膜の厚みに比べて薄くなる傾向がある。しかし、本開示の発光装置の製造方法では、電着法によりレジスト膜7を形成することで、金属部35の角部に形成されるレジスト膜7の厚みと、金属部35の上面35aおよび下面35bに形成されるレジスト膜の厚みとのばらつきを低減することができる。これにより、金または金合金を含む第1めっき層が金属部35の角部に意図せず形成されることを抑制することができる。金属部35の上面35aに形成されるレジスト膜の厚みh1と、金属部35の第1角部C1または第2角部C2に形成されるレジスト膜7の厚みh2との差は、例えば0μm〜30μmであり、0μm〜5μmであることが好ましい。これにより、後述する露光工程において、レジスト膜7が十分に硬化しない可能性を低減することができる。また、後述するレジスト膜7を除去または剥離する工程において、除去または剥離を容易に行うことができる。なお、金属部35の第1角部C1または第2角部C2に形成されるレジスト膜7の厚みh2は、金属部35の第1角部C1または第2角部C2とレジスト膜7の角部RCとの間の距離を指す。 In the conventional coating method, the thickness of the resist film 7 formed at the corners of the metal portion 35 tends to be smaller than the thickness of the resist film formed on the upper surface 35a and the lower surface 35b of the metal portion 35. There is. However, in the method for manufacturing the light emitting device of the present disclosure, the thickness of the resist film 7 formed at the corners of the metal part 35 and the upper surface 35 a and the lower surface of the metal part 35 are formed by forming the resist film 7 by the electrodeposition method. The variation with the thickness of the resist film formed on 35b can be reduced. As a result, it is possible to prevent the first plating layer containing gold or a gold alloy from being unintentionally formed at the corner of the metal portion 35. The difference between the thickness h1 of the resist film formed on the upper surface 35a of the metal portion 35 and the thickness h2 of the resist film 7 formed at the first corner C1 or the second corner C2 of the metal portion 35 is, for example, 0 μm to It is 30 μm, and preferably 0 μm to 5 μm. This can reduce the possibility that the resist film 7 will not be sufficiently cured in the exposure step described later. In addition, in the step of removing or peeling the resist film 7 described later, the removal or peeling can be easily performed. The thickness h2 of the resist film 7 formed at the first corner C1 or the second corner C2 of the metal part 35 is determined by the angle between the first corner C1 or the second corner C2 of the metal part 35 and the resist film 7. Refers to the distance to the section RC.

金属板30の表面に形成されるレジスト膜7の厚みは、例えば20μm以下であり、10μm以下であることが好ましい。レジスト膜7の厚みを20μm以下にすることで、レジスト膜7の膜厚のばらつきを効果的に抑制することができる。また、レジスト膜7の厚みを20μm以下にすることで、レジスト膜7を除去または剥離する工程において、除去または剥離を容易に行うことができる。なお、レジスト膜7の厚みは、20μmよりも大きくてもよい。 The resist film 7 formed on the surface of the metal plate 30 has a thickness of, for example, 20 μm or less, and preferably 10 μm or less. By setting the thickness of the resist film 7 to 20 μm or less, variations in the film thickness of the resist film 7 can be effectively suppressed. Further, by setting the thickness of the resist film 7 to 20 μm or less, removal or peeling can be easily performed in the step of removing or peeling the resist film 7. The thickness of the resist film 7 may be larger than 20 μm.

[(B-3)第1領域X以外のレジスト膜7を除去する工程]
次に、第1領域Xに形成されたレジスト膜7以外のレジスト膜7を除去する。この工程は、例えば、金属部35の表面のうち所望の領域に光を当てる露光工程と、不要な部分を現像液により除去する工程(現像工程)とを含む。
[(B-3) Step of removing the resist film 7 other than the first region X]
Next, the resist film 7 other than the resist film 7 formed in the first region X is removed. This step includes, for example, an exposure step of irradiating a desired region on the surface of the metal portion 35 with light and a step of removing an unnecessary portion with a developing solution (developing step).

レジスト膜7としてネガ型のフォトレジスト材料を用いる場合は、金属板30の上方、下方または上方及び下方から第1領域Xに位置するレジスト膜7に光を当て、第1領域Xに位置するレジスト膜7を現像液に対して不溶性にする露光工程を行う。次に、金属板30を現像液に浸漬または現像液を金属板30の表面にスプレー等で噴射する。これにより、金属部35の表面に位置するレジスト膜7のうち、第1領域X以外の第2領域Yに位置するレジスト膜7が現像液により除去される。なお、レジスト膜7と金属部35との密着力を向上させるため、現像工程の後に加熱処理を行ってもよい。これらの工程を経ることにより、図2Aで示すように、金属部35の表面のうち第1領域Xにのみレジスト膜7が形成された金属板30を形成することができる。 When a negative photoresist material is used as the resist film 7, the resist film 7 located in the first region X is exposed to light from above, below, or above and below the metal plate 30 to expose the resist film located in the first region X. An exposure step is performed to make the film 7 insoluble in the developer. Next, the metal plate 30 is immersed in a developing solution or the developing solution is sprayed onto the surface of the metal plate 30 by spraying or the like. As a result, of the resist film 7 located on the surface of the metal portion 35, the resist film 7 located in the second region Y other than the first region X is removed by the developing solution. In addition, in order to improve the adhesion between the resist film 7 and the metal portion 35, heat treatment may be performed after the developing process. Through these steps, as shown in FIG. 2A, it is possible to form the metal plate 30 on which the resist film 7 is formed only in the first region X on the surface of the metal portion 35.

また、レジスト膜7としてポジ型のフォトレジスト材料を用いる場合は、金属板30の上方、下方または上方及び下方から第1領域X以外の第2領域Yに位置するレジスト膜7に光を当て、第2領域Yに位置するレジスト膜7を現像液に対して可溶性にする露光工程を行う。次に、金属板30を現像液に浸漬または現像液を金属板30の表面に噴射等する。これにより、金属部35の表面に位置するレジスト膜7のうち、第2領域Yに位置するレジスト膜7が現像液により除去される。なお、レジスト膜7と金属部35との密着力を向上させるため、現像工程の後に加熱処理を行ってもよい。これらの工程を経ることにより、図2Aで示すように、金属部35の表面のうち第1領域Xにのみレジスト膜7が形成された金属板30を形成することができる。 When a positive photoresist material is used as the resist film 7, light is applied to the resist film 7 located in the second region Y other than the first region X from above, below, or above and below the metal plate 30, An exposure step is performed to make the resist film 7 located in the second region Y soluble in the developing solution. Next, the metal plate 30 is immersed in a developing solution or the developing solution is sprayed onto the surface of the metal plate 30. As a result, of the resist film 7 located on the surface of the metal portion 35, the resist film 7 located in the second region Y is removed by the developing solution. In addition, in order to improve the adhesion between the resist film 7 and the metal portion 35, heat treatment may be performed after the developing process. Through these steps, as shown in FIG. 2A, it is possible to form the metal plate 30 on which the resist film 7 is formed only in the first region X on the surface of the metal portion 35.

露光工程は、例えば遮光用マスクを配置して光を当てることにより行うことができる。図2Cにおいて、ネガ型のフォトレジスト材料を用い、遮光用マスクMSを用いた場合の露光工程を示す。図2Cは、金属部35の上面に対して垂直な方向における模式的端面図である。図2Cでは、第1角部C1は第2角部C2よりも外側にある。遮光用マスクは洗浄することにより、繰り返し使用することができる。なお、露光工程は、その他に所定のパターニング光を照射する照射装置を用いることにより行うことができる。照射装置としては、例えば、マスクレス露光装置、ダイレクトイメージング装置または直描露光装置を用いることができる。 The exposure step can be performed, for example, by disposing a light-shielding mask and applying light. FIG. 2C shows an exposure process when a negative photoresist material is used and a light shielding mask MS is used. FIG. 2C is a schematic end view in a direction perpendicular to the upper surface of the metal portion 35. In FIG. 2C, the first corner C1 is outside the second corner C2. The light-shielding mask can be reused by washing. The exposure step can be performed by using an irradiation device that irradiates a predetermined patterning light. As the irradiation device, for example, a maskless exposure device, a direct imaging device or a direct drawing exposure device can be used.

露光工程を含むレジスト膜7を除去する工程(B-3)では、金属部35の下面全面に位置するレジスト膜7を除去することが好ましい。これにより、後述する第1めっき層5を形成する工程(B-4)において、金属部35の下面全面に第1めっき層5を形成することができる。その結果、個片化後の発光装置100の下面において、酸化または硫化が起きにくい第1めっき層5が配置することになる。その結果、例えば、発光装置100を半田等の接合部材を介して実装基板に実装する際に、発光装置100と接合部材との接合強度が経時的に低下していくことを抑制することができる。 In the step (B-3) of removing the resist film 7 including the exposure step, it is preferable to remove the resist film 7 located on the entire lower surface of the metal portion 35. Thereby, in the step (B-4) of forming the first plating layer 5 described later, the first plating layer 5 can be formed on the entire lower surface of the metal portion 35. As a result, the first plating layer 5 in which oxidation or sulfidation does not easily occur is arranged on the lower surface of the light emitting device 100 after being separated into individual pieces. As a result, for example, when the light emitting device 100 is mounted on a mounting substrate via a joining member such as solder, it is possible to prevent the joining strength between the light emitting device 100 and the joining member from decreasing with time. ..

金属部35の下面全面に位置するレジスト膜7を除去する方法として、例えば図2Cで示す露光工程を行う。具体的には、金属板30の下方からレジスト膜7に光を当てる際に、金属部35の下面を覆うように遮光用マスクMSを配置し、さらに遮光用マスクMSの端部Eを金属部35の第1角部C1と第2角部C2との間に位置させて露光を行う。これにより、金属部35の下面35bおよび下面35bと連続する端面35cの一部に光が当たることが抑制され、その領域に位置するレジスト膜が現像液に対して不溶性になることを抑制することができる。その結果、金属部35の下面35bおよび下面35bと連続する端面35cの一部に位置するレジスト膜7は現像液により容易に除去される。また、端面35cの反対側に位置する金属部35の端面35dにおいても、同様にすることができる。また、露光工程において、所定のパターニング光を照射する照射装置を用いる場合は、パターニング光の端部を金属部35の第1角部C1と第2角部C2との間に位置させ、その端部から外側(第1角部C1側)を照射するように露光を行う As a method of removing the resist film 7 located on the entire lower surface of the metal part 35, for example, the exposure step shown in FIG. 2C is performed. Specifically, when the resist film 7 is irradiated with light from below the metal plate 30, the light shielding mask MS is arranged so as to cover the lower surface of the metal portion 35, and the end portion E of the light shielding mask MS is placed on the metal portion. The exposure is performed by arranging it between the first corner C1 and the second corner C2 of 35. Thereby, it is possible to prevent the lower surface 35b of the metal portion 35 and a part of the end surface 35c continuous with the lower surface 35b from being exposed to light, and to prevent the resist film located in that area from becoming insoluble in the developing solution. You can As a result, the lower surface 35b of the metal portion 35 and the resist film 7 located on a part of the end surface 35c continuous with the lower surface 35b are easily removed by the developing solution. The same can be applied to the end surface 35d of the metal portion 35 located on the opposite side of the end surface 35c. Further, in the exposure step, when using an irradiation device that irradiates a predetermined patterning light, the end portion of the patterning light is positioned between the first corner C1 and the second corner C2 of the metal portion 35, and the end thereof is positioned. Exposure is performed so as to irradiate the outside (the first corner C1 side) from the part

また、ポジ型のフォトレジスト材料を用いた場合は、図2Dで示すように、金属部35の下面35bおよび下面35bと連続する端面35cの一部に光が当たるように、遮光用マスクMSの端部Eまたは照射装置のパターニング光の端部を金属部35の第1角部C1と第2角部C2との間に位置させて行う。これにより、金属部35の下面35bおよび下面35bと連続する端面35cの一部に位置するレジスト膜7は現像液に対して可溶性になる。その結果、その領域に位置するレジスト膜7は現像液により容易に除去される。 Further, when a positive photoresist material is used, as shown in FIG. 2D, the lower surface 35b of the metal portion 35 and a part of the end surface 35c continuous with the lower surface 35b are exposed to light so that the light shielding mask MS is formed. The end E or the end of the patterning light of the irradiation device is positioned between the first corner C1 and the second corner C2 of the metal part 35. As a result, the resist film 7 located on the lower surface 35b of the metal portion 35 and a part of the end surface 35c continuous with the lower surface 35b becomes soluble in the developing solution. As a result, the resist film 7 located in that region is easily removed by the developing solution.

なお、金属部35の下面35bにおいて、レジスト膜7を除去しない、または、レジスト膜7の一部のみを除去してもよい。レジスト膜7の一部のみを除去する場合、例えば、下面35bの幾何中心を含む中央領域に位置するレジスト膜7を除去し、下面35bの縁部に位置するレジスト膜7を残すことができる。また、下面35bの縁部に位置するレジスト膜7を除去し、下面35bの幾何中心を含む中央領域に位置するレジスト膜7を残すこともできる。これにより、金属部35の下面において、金属部35の表面が位置する、または、後述する第2めっき層6が位置することになり、第1めっき層5が位置する場合に比べてコストを低減することができる。 The resist film 7 may not be removed on the lower surface 35b of the metal portion 35, or only a part of the resist film 7 may be removed. When only a part of the resist film 7 is removed, for example, the resist film 7 located in the central region including the geometric center of the lower surface 35b can be removed and the resist film 7 located at the edge of the lower surface 35b can be left. It is also possible to remove the resist film 7 located at the edge of the lower surface 35b and leave the resist film 7 located in the central region including the geometric center of the lower surface 35b. As a result, the surface of the metal part 35 is located on the lower surface of the metal part 35, or the second plating layer 6 described later is located, which reduces the cost as compared with the case where the first plating layer 5 is located. can do.

[(B-4)第1めっき層5を形成する工程]
次に、第1領域Xにレジスト膜7が形成された金属板30に、めっき法により金または金合金を含む第1めっき層5を形成する。第1めっき層5は、部分めっき層である。めっき法は、電解めっき法または無電解めっき法を用いることができる。図2Eで示すように、第1めっき層5は、少なくとも金属部35の上面35a上に形成される。この場合の上面または上面上に形成されるとは、上面に直接形成される場合と、他のめっき層を介して上方に間接的に形成される場合の双方を含む。換言すると、第1めっき層5は、金属部35の上面35aと直接接していてもよく、金属部35の上方に位置し金属部35の上面35aと直接接していなくてもよい。第1めっき層5と金属部35の上面35aとの間には第2めっき層6が位置する場合、第1めっき層5は第2めっき層6を介して金属部35の上方に位置する。
[(B-4) Step of forming first plating layer 5]
Next, the first plating layer 5 containing gold or a gold alloy is formed on the metal plate 30 having the resist film 7 formed in the first region X by a plating method. The first plating layer 5 is a partial plating layer. As the plating method, an electrolytic plating method or an electroless plating method can be used. As shown in FIG. 2E, the first plating layer 5 is formed on at least the upper surface 35 a of the metal portion 35. In this case, the upper surface or formed on the upper surface includes both a case of being directly formed on the upper surface and a case of being indirectly formed above through another plating layer. In other words, the first plating layer 5 may be in direct contact with the upper surface 35a of the metal portion 35, or may be located above the metal portion 35 and not in direct contact with the upper surface 35a of the metal portion 35. When the second plating layer 6 is located between the first plating layer 5 and the upper surface 35 a of the metal part 35, the first plating layer 5 is located above the metal part 35 with the second plating layer 6 interposed therebetween.

図2Eで示す第1めっき層5は、金属部35の上面35a側、下面35b側、端面35c側および端面35cの反対側に位置する端面35d側に形成されている。金属部35の表面に金または金合金を含む第1めっき層5が形成されることで、第1めっき層5が形成された金属部35の表面が酸化または硫化することを抑制することができる。第1めっき層5の厚みは、例えば、10nm以上であり、20nm以上であることが好ましく、25nm以上であることがより好ましい。これにより、例えば、第1めっき層5上に発光素子10を実装する工程やワイヤの一端を接続する工程を容易に行うことができる。 The first plating layer 5 shown in FIG. 2E is formed on the upper surface 35a side, the lower surface 35b side, the end surface 35c side, and the end surface 35d side opposite to the end surface 35c of the metal portion 35. By forming the first plating layer 5 containing gold or a gold alloy on the surface of the metal portion 35, it is possible to prevent the surface of the metal portion 35 on which the first plating layer 5 is formed from being oxidized or sulfided. .. The thickness of the first plating layer 5 is, for example, 10 nm or more, preferably 20 nm or more, and more preferably 25 nm or more. Thereby, for example, the step of mounting the light emitting element 10 on the first plating layer 5 and the step of connecting one end of the wire can be easily performed.

第1めっき層5の金または金合金の含有率は、例えば、85質量%以上であり、90質量%以上が好ましい。これにより、例えば、第1めっき層5上に発光素子10を実装する工程やワイヤの一端を接続する工程を容易に行うことができる。また、第1めっき層5が金合金である場合、金合金は、金銀合金、金インジウム合金、金パラジウム合金、金コバルト合金、金ニッケル合金または金銅合金を用いることができる。 The gold or gold alloy content of the first plating layer 5 is, for example, 85 mass% or more, preferably 90 mass% or more. Thereby, for example, the step of mounting the light emitting element 10 on the first plating layer 5 and the step of connecting one end of the wire can be easily performed. When the first plating layer 5 is a gold alloy, the gold alloy can be a gold-silver alloy, a gold indium alloy, a gold palladium alloy, a gold cobalt alloy, a gold nickel alloy, or a gold copper alloy.

[(B-5)第1領域Xに位置するレジスト膜7を除去する工程]
次に、第1領域Xに位置するレジスト膜7を剥離液により除去する。レジスト膜7の表面に第1めっき層5が形成されている場合は、レジスト膜7と、レジスト膜7の表面に形成されている第1めっき層5とは同時に除去されうる。以上の工程を経ることにより、図2Fで示すように、第1めっき層5が形成されていない第1領域Xと、第1めっき層5が形成されている第2領域Yとを備えるリード部36を有するリードフレーム40を形成することができる。以降の説明では、第1めっき層5を備える金属板30をリードフレーム40とし、第1めっき層5を備える金属部35をリード部36として説明する。
[(B-5) Step of removing resist film 7 located in first region X]
Next, the resist film 7 located in the first region X is removed with a stripping solution. When the first plating layer 5 is formed on the surface of the resist film 7, the resist film 7 and the first plating layer 5 formed on the surface of the resist film 7 can be simultaneously removed. Through the above steps, as shown in FIG. 2F, a lead portion including a first region X where the first plating layer 5 is not formed and a second region Y where the first plating layer 5 is formed. A lead frame 40 having 36 can be formed. In the following description, the metal plate 30 including the first plating layer 5 will be described as the lead frame 40, and the metal portion 35 including the first plating layer 5 will be described as the lead portion 36.

[(B-6)第2めっき層6を形成する工程]
リードフレーム40を形成する工程は、第1めっき層5を形成する工程(B-4)の前に、金属部35の表面に第2めっき層6を形成する工程を含むことが好ましい。第2めっき層6は、電解めっき法または無電解めっき法により形成することができる。第2めっき層6は、第1領域Xを被覆する、又は、第1領域Xおよび第2領域Yの双方を被覆することができる。第2めっき層6が金属部35の表面に位置することで、銅合金等からなる金属板30の表面が外部に露出し、その表面が酸化等することを抑制することができる。また、金属板30の銅等の成分が最表層となる第1めっき層5の表面に析出する可能性を低減することができる。その結果、例えば、発光素子10の電極と第1めっき層5とをワイヤ等(ワイヤまたは接合部材を含む)で接続する際に、第1めっき層5とワイヤ等との接続強度が低下することを抑制することができる。なお、第2めっき層6は、金属部35の全面に形成してもよく、金属部35の表面のうち一部のみに形成してもよい。リードフレーム40が第1めっき層5および第2めっき層6を有する場合、第1めっき層5は最表層となり、第2めっき層6は中間層または下地層とすることができる。
[(B-6) Step of forming second plating layer 6]
The step of forming the lead frame 40 preferably includes the step of forming the second plating layer 6 on the surface of the metal portion 35 before the step (B-4) of forming the first plating layer 5. The second plating layer 6 can be formed by an electrolytic plating method or an electroless plating method. The second plating layer 6 can cover the first region X, or can cover both the first region X and the second region Y. By locating the second plating layer 6 on the surface of the metal portion 35, it is possible to prevent the surface of the metal plate 30 made of a copper alloy or the like from being exposed to the outside and oxidizing the surface. Further, it is possible to reduce the possibility that a component such as copper of the metal plate 30 will be deposited on the surface of the first plating layer 5, which is the outermost layer. As a result, for example, when connecting the electrode of the light emitting element 10 and the first plating layer 5 with a wire or the like (including a wire or a bonding member), the connection strength between the first plating layer 5 and the wire or the like decreases. Can be suppressed. The second plating layer 6 may be formed on the entire surface of the metal portion 35, or may be formed on only a part of the surface of the metal portion 35. When the lead frame 40 has the first plating layer 5 and the second plating layer 6, the first plating layer 5 may be the outermost layer and the second plating layer 6 may be the intermediate layer or the base layer.

第2めっき層6は、例えば、銅、銅合金、ニッケル、ニッケル合金、パラジウム、パラジウム合金、ロジウムまたはロジウム合金を含む金属層を1層または複数層備える。第2めっき層6は、金または金合金を実質的に含まない。金または金合金を実質的に含まないとは、金または金合金が不可避的に混入することを排除しないことを意味し、金または金合金の含有率は例えば0.05質量%以下である。第2めっき層6が複数層である場合、第2めっき層6は、例えば、金属部35側から順に、ニッケルまたはニッケル合金を含む金属層と、パラジウム、パラジウム合金、ロジウムまたはロジウム合金を含む金属層とを備える構成とすることができる。なお、めっき法により形成される第2めっき層6の代わりに、スパッタ、導電性ペーストまたは蒸着等により形成される金属層を用いることができる。金属層は、第2めっき層6で挙げた材料を用いることができる。 The second plating layer 6 includes, for example, one or more metal layers including copper, copper alloy, nickel, nickel alloy, palladium, palladium alloy, rhodium, or rhodium alloy. The second plating layer 6 does not substantially contain gold or gold alloy. The term "substantially free of gold or gold alloy" means that gold or gold alloy is inevitably mixed, and the content of gold or gold alloy is, for example, 0.05% by mass or less. When the second plating layer 6 is a plurality of layers, the second plating layer 6 includes, for example, a metal layer containing nickel or a nickel alloy and a metal containing palladium, a palladium alloy, rhodium or a rhodium alloy in order from the metal part 35 side. And a layer. A metal layer formed by sputtering, a conductive paste, vapor deposition, or the like can be used instead of the second plating layer 6 formed by the plating method. The materials mentioned for the second plating layer 6 can be used for the metal layer.

第2めっき層6を形成する工程(B-6)は、例えば、金属板30を準備する工程(A)の後であってリードフレーム40を形成する工程(B)の前、または、第1領域X以外のレジスト膜7を除去する工程(B-3)の後であって第1めっき層5を形成する工程(B-4)の前に行うことができる。第2めっき層6が複数層である場合、各層を形成する工程のタイミングは、上記の2つの工程間のうち一方の工程間に全て行ってもよく、2つの工程間に分けて別々に行ってもよい。例えば、第2めっき層6がニッケル等を含む金属層とパラジウム等を含む金属層を備える場合は、工程(A)と工程(B)の間にニッケル等を含む金属層とパラジウム等を含む金属層とを形成してもよく、工程(B−3)と工程(B−4)の間にニッケル等を含む金属層とパラジウム等を含む金属層とを形成してもよく、工程(A)と工程(B)の間にニッケル等を含む金属層を形成し、工程(B−3)と工程(B−4)の間にパラジウム等を含む金属層を形成してもよい。 The step (B-6) of forming the second plating layer 6 is, for example, after the step (A) of preparing the metal plate 30 and before the step (B) of forming the lead frame 40, or the first step. It can be performed after the step (B-3) of removing the resist film 7 other than the region X and before the step (B-4) of forming the first plating layer 5. When the second plating layer 6 is a plurality of layers, the timing of the step of forming each layer may be all performed between one of the above two steps, or may be performed separately between the two steps. May be. For example, when the second plating layer 6 includes a metal layer containing nickel or the like and a metal layer containing palladium or the like, a metal layer containing nickel or the like and a metal containing palladium or the like are provided between step (A) and step (B). A layer may be formed, a metal layer containing nickel or the like and a metal layer containing palladium or the like may be formed between the step (B-3) and the step (B-4), and the step (A) A metal layer containing nickel or the like may be formed between the step (B) and the step (B), and a metal layer containing palladium or the like may be formed between the step (B-3) and the step (B-4).

図2Gにおいて、第1めっき層5および第2めっき層6を備えたリード部36の一例を示す。図2Gで示す第2めっき層6は、下層金属層6aと上層金属層6bとを含んでいる。第2めっき層6のうち下層金属層6aは、例えば工程(A)と工程(B)の間に形成され、第1領域Xおよび第2領域Yの双方を被覆する。また、上層金属層6bは、例えば工程(B−3)と工程(B−4)の間に形成され、第2領域Yを被覆する。下層金属層6aが金属部35の第1領域Xおよび第2領域Yの双方を被覆することで、金属部35の表面が外部に露出することを抑制することができ、その表面が酸化等することを抑制することができる。また、上層金属層6bが金属部35の第2領域Yを被覆することで、金属部35の銅等の成分が最表層となる第1めっき層5の表面に析出する可能性を低減することができる。 FIG. 2G shows an example of the lead portion 36 including the first plating layer 5 and the second plating layer 6. The second plating layer 6 shown in FIG. 2G includes a lower metal layer 6a and an upper metal layer 6b. The lower metal layer 6a of the second plating layer 6 is formed, for example, between step (A) and step (B), and covers both the first region X and the second region Y. Further, the upper metal layer 6b is formed, for example, between the step (B-3) and the step (B-4), and covers the second region Y. Since the lower metal layer 6a covers both the first region X and the second region Y of the metal portion 35, the surface of the metal portion 35 can be prevented from being exposed to the outside, and the surface is oxidized or the like. Can be suppressed. Further, by covering the second region Y of the metal portion 35 with the upper metal layer 6b, it is possible to reduce the possibility that components such as copper of the metal portion 35 will be deposited on the surface of the first plating layer 5 that is the outermost layer. You can

第1めっき層5の厚みは、金属板30の上面30a側と下面30b側とで同じ厚みでもよく、金属板30の上面30a側の厚みが金属板30の下面30b側の厚みよりも厚くてもよく、金属板30の上面30a側の厚みが金属板30の下面30b側の厚みよりも薄くてもよい。例えば、電解めっき法において、金属板30の上面30a側と下面30b側とで、それぞれの陰極電流密度分布を異ならせるように陽極と陰極との間に異なる大きさの遮蔽板を配置することによって、上面30a側と下面30b側とで厚みが異なる第1めっき層5を容易にかつ同時に形成することができる。金属板30の上面30a側に位置する第1めっき層5の厚みが下面30b側に位置する第1めっき層5の厚みよりも厚い場合は、上面30a側に位置する第1めっき層5の平坦度が向上するため、発光素子10から出射される光を効率的に上側に反射させることができる。また、金属板30の上面30a側に位置する第1めっき層5の厚みが下面30b側に位置する第1めっき層5の厚みよりも薄い場合は、接合部材を介して発光装置100を実装基板に実装する際に、発光装置100と接合部材との接合強度を向上させることができる。 The thickness of the first plating layer 5 may be the same on the upper surface 30a side and the lower surface 30b side of the metal plate 30, and the thickness of the upper surface 30a side of the metal plate 30 is thicker than the lower surface 30b side of the metal plate 30. Alternatively, the thickness of the metal plate 30 on the upper surface 30a side may be thinner than the thickness of the metal plate 30 on the lower surface 30b side. For example, in the electroplating method, by disposing a shielding plate having different sizes between the anode and the cathode so that the cathode current density distributions on the upper surface 30a side and the lower surface 30b side of the metal plate 30 are different. The first plating layer 5 having different thicknesses on the upper surface 30a side and the lower surface 30b side can be easily and simultaneously formed. When the thickness of the first plating layer 5 located on the upper surface 30a side of the metal plate 30 is thicker than the thickness of the first plating layer 5 located on the lower surface 30b side, the flatness of the first plating layer 5 located on the upper surface 30a side Since the degree is improved, the light emitted from the light emitting element 10 can be efficiently reflected to the upper side. When the thickness of the first plating layer 5 located on the upper surface 30a side of the metal plate 30 is smaller than the thickness of the first plating layer 5 located on the lower surface 30b side, the light emitting device 100 is mounted on the mounting substrate via the joining member. When mounted on, the bonding strength between the light emitting device 100 and the bonding member can be improved.

また、第2めっき層6の厚みは、金属板30の上面30a側と下面30b側とで同じ厚みでもよく、金属板30の上面30a側の厚みが金属板30の下面30b側の厚みよりも厚くてもよく、金属板30の上面30a側の厚みが金属板30の下面30b側の厚みよりも薄くてもよい。例えば、電解めっき法において、金属板30の上面30a側と下面30b側とで電流密度を異ならせることで、上面30a側と下面30b側とで厚みが異なる第2めっき層6を容易にかつ同時に形成することができる。金属板30の上面30a側に位置する第2めっき層6の厚みが下面30b側に位置する第2めっき層6の厚みよりも厚い場合は、上面30a側に位置する第1めっき層5および第2めっき層6の平坦度が向上するため、発光素子10から出射される光を効率的に上側に反射させることができる。。金属板30の上面30a側に位置する第2めっき層6の厚みが下面30b側に位置する第2めっき層6の厚みよりも薄い場合は、接合部材を介して発光装置100を実装基板に実装する際に、発光装置100と接合部材との接合強度を向上させることができる。なお、第2めっき層6が複数層である場合、上記の第2めっき層6の厚みは、各層の厚みとしてもよく、複数層の合計の厚みとしてもよい。 The second plating layer 6 may have the same thickness on the upper surface 30a side and the lower surface 30b side of the metal plate 30, and the thickness on the upper surface 30a side of the metal plate 30 is larger than the thickness on the lower surface 30b side of the metal plate 30. The thickness of the metal plate 30 on the upper surface 30a side may be smaller than the thickness of the metal plate 30 on the lower surface 30b side. For example, in the electroplating method, the second plating layer 6 having different thicknesses on the upper surface 30a side and the lower surface 30b side can be easily and simultaneously formed by making the current density different between the upper surface 30a side and the lower surface 30b side of the metal plate 30. Can be formed. When the thickness of the second plating layer 6 located on the upper surface 30a side of the metal plate 30 is thicker than the thickness of the second plating layer 6 located on the lower surface 30b side, the first plating layer 5 and the first plating layer 5 located on the upper surface 30a side Since the flatness of the 2 plating layer 6 is improved, the light emitted from the light emitting element 10 can be efficiently reflected to the upper side. .. When the thickness of the second plating layer 6 located on the upper surface 30a side of the metal plate 30 is smaller than the thickness of the second plating layer 6 located on the lower surface 30b side, the light emitting device 100 is mounted on a mounting substrate via a joining member. In doing so, the bonding strength between the light emitting device 100 and the bonding member can be improved. When the second plating layer 6 is a plurality of layers, the thickness of the second plating layer 6 may be the thickness of each layer or the total thickness of the plurality of layers.

[(C)樹脂成形体8を形成する工程]
次に、リードフレーム40に樹脂成形体8を一体成型する。この工程を経ることにより、リードフレーム40と樹脂成形体8とを備え、上面側に複数の凹部2を有する第1構造体50(樹脂成形体付リードフレーム)を準備することができる。図3Aは図2Gで説明したリード部36を有するリードフレーム40を用いた場合の第1構造体50の模式的端面図である。また、図3Bは図3A中の破線部を拡大した部分拡大図である。第1構造体50は、複数のパッケージ領域1を備え、凹部2は各パッケージ領域1に形成されている。第1構造体50は、例えば、リードフレーム40を、樹脂成型金型のキャビティー内に一対のリード部36を所定の位置に支持した状態で、樹脂成型金型内に配置する。そして、キャビティー内に樹脂成形体8となる樹脂材料を注入して固体化させる。以上のようにして、各パッケージ領域1の樹脂部8aが一体に形成された樹脂成形体8を含む第1構造体50を準備することができる。樹脂成形体8の形成は、例えば、トランスファモールド法や射出成形法などによって行うことができる。
[(C) Step of forming resin molded body 8]
Next, the resin molded body 8 is integrally molded with the lead frame 40. Through this step, the first structure 50 (lead frame with resin molded body) including the lead frame 40 and the resin molded body 8 and having the plurality of recesses 2 on the upper surface side can be prepared. FIG. 3A is a schematic end view of the first structure 50 when the lead frame 40 having the lead portion 36 described in FIG. 2G is used. Further, FIG. 3B is a partially enlarged view in which a broken line portion in FIG. 3A is enlarged. The first structure 50 includes a plurality of package regions 1, and the recesses 2 are formed in each package region 1. The first structure 50 is arranged, for example, in the resin molding die with the lead frame 40 being supported in a cavity of the resin molding die with the pair of lead portions 36 being in predetermined positions. Then, the resin material to be the resin molded body 8 is injected into the cavity to be solidified. As described above, it is possible to prepare the first structure 50 including the resin molded body 8 integrally formed with the resin portion 8a of each package region 1. The resin molded body 8 can be formed by, for example, a transfer molding method or an injection molding method.

凹部2の底面において、一対のリード部36の上面が位置し、金属部35の上面上にある第1めっき層5が位置する。第1めっき層5は酸化や硫化等が起きにくい金属層であるため、第1めっき層5が形成された金属部35の表面が酸化または硫化することを抑制することができる。また、例えば、発光素子10の電極と接続するワイヤ等の一端を第1めっき層5に接続する場合に、第1めっき層5は酸化や硫化等が起きにくいため、第1めっき層5とワイヤ等との接続強度の低下を抑制することができる。また、ワイヤ等を金または金合金を含む材料にすることで、第1めっき層5とワイヤ等との接続強度をさらに向上させることができる。 On the bottom surface of the recessed portion 2, the top surfaces of the pair of lead portions 36 are located, and the first plating layer 5 on the top surface of the metal portion 35 is located. Since the first plating layer 5 is a metal layer that is unlikely to oxidize or sulfide, it is possible to prevent the surface of the metal portion 35 on which the first plating layer 5 is formed from being oxidized or sulfided. Further, for example, when one end of a wire or the like connected to the electrode of the light emitting element 10 is connected to the first plating layer 5, the first plating layer 5 is unlikely to oxidize or sulfurize, so the first plating layer 5 and the wire It is possible to suppress a decrease in connection strength with the like. Further, by using a material containing gold or a gold alloy for the wire or the like, the connection strength between the first plating layer 5 and the wire or the like can be further improved.

樹脂成形体8は、リード部36の第1領域Xを被覆する。図3Bで示すリード部36は、第1領域Xに下層金属層6aが位置するため、樹脂成形体8は第1領域Xに位置する下層金属層6aと接している。第1領域Xには第1めっき層5が形成されていないため、樹脂成形体8と第1領域Xに位置する一対のリード部36との密着強度が良好となる。これにより、樹脂成形体8と一対のリード部36との密着強度の低下を効果的に抑制することができる。その結果、例えば、後述する凹部2内に配置される封止部材9が、リード部36の端面35cと樹脂成形体8との界面を通って、リード部36の上面側から下面側に向かって漏れ出る可能性を低減することができる。また、個片化後の発光装置100を半田等の接合部材を介して実装基板に実装する場合に、半田等の接合部材が、リード部36の端面35cと樹脂成形体8との界面を通って、凹部2内に入り込む可能性を低減することができる。 The resin molded body 8 covers the first region X of the lead portion 36. In the lead portion 36 shown in FIG. 3B, since the lower metal layer 6a is located in the first region X, the resin molded body 8 is in contact with the lower metal layer 6a located in the first region X. Since the first plating layer 5 is not formed in the first region X, the adhesion strength between the resin molded body 8 and the pair of lead portions 36 located in the first region X becomes good. As a result, it is possible to effectively suppress a decrease in adhesion strength between the resin molded body 8 and the pair of lead portions 36. As a result, for example, the sealing member 9 arranged in the recess 2 described later passes from the upper surface side of the lead portion 36 toward the lower surface side through the interface between the end surface 35c of the lead portion 36 and the resin molded body 8. The possibility of leakage can be reduced. Further, when the light emitting device 100 after being divided into individual pieces is mounted on the mounting substrate via a joining member such as solder, the joining member such as solder passes through the interface between the end surface 35 c of the lead portion 36 and the resin molded body 8. Therefore, it is possible to reduce the possibility of entering the recess 2.

樹脂成形体8は、リードフレーム40の下面の一部を露出させる。これにより、個片化後の発光装置100において、凹部2の底面に配置される発光素子10から発生する熱を、下面側から効率的に放出することができる。一方で、リードフレーム40の下面が樹脂成形体8から露出することで、個片化後の発光装置100において、凹部2内に配置される封止部材9が下面側に漏れ出たり、半田等の接合部材が凹部2内に入り込む可能性がある。しかし、本開示の発光装置の製造方法では、第1めっき層5が形成されない第1領域Xを設け、第1領域Xを樹脂成形体8で被覆することで、樹脂成形体8と一対のリード部36との密着強度が良好となる。その結果、個片化後の発光装置100において、封止部材9が下面側に漏れ出たりする等の問題が起きる可能性を低減することができる。また、図3Aでは、第1構造体50の下面において、リードフレーム40の下面と樹脂成形体8の下面とは略同一面に形成されている。高さ方向において、リードフレーム40の下面と、樹脂成形体8の下面との高低差は、例えば±10μm以下である。 The resin molded body 8 exposes a part of the lower surface of the lead frame 40. Thereby, in the light emitting device 100 after being divided into pieces, the heat generated from the light emitting element 10 arranged on the bottom surface of the recess 2 can be efficiently radiated from the lower surface side. On the other hand, since the lower surface of the lead frame 40 is exposed from the resin molded body 8, in the light emitting device 100 after being divided into individual pieces, the sealing member 9 arranged in the recess 2 leaks to the lower surface side, solder or the like. There is a possibility that the joining member of 2 will get into the recess 2. However, in the method for manufacturing a light-emitting device of the present disclosure, the first region X in which the first plating layer 5 is not formed is provided, and the first region X is covered with the resin molded body 8, whereby the resin molded body 8 and the pair of leads are formed. The adhesion strength with the portion 36 is improved. As a result, it is possible to reduce the possibility that the sealing member 9 may leak to the lower surface side of the light emitting device 100 after being separated into individual pieces. Further, in FIG. 3A, on the lower surface of the first structure 50, the lower surface of the lead frame 40 and the lower surface of the resin molded body 8 are formed on substantially the same surface. The height difference between the lower surface of the lead frame 40 and the lower surface of the resin molded body 8 in the height direction is, for example, ±10 μm or less.

なお、第1構造体50を準備するとは、第1構造体50を製造して準備する場合と、予め製造された第1構造体50を購入して準備する場合の双方を含む。 In addition, preparing the 1st structure 50 includes both the case of manufacturing and preparing the 1st structure 50, and the case of purchasing and preparing the 1st structure 50 manufactured beforehand.

[(D)第2構造体60を形成する工程]
次に、第1構造体50の凹部2の底面に発光素子10を配置する。図4Aで示すように、発光素子10は、例えば、一の面に正負の電極(図示せず)を有し、凹部2の底面に露出した一対のリード部36の上面に配置される。そして、発光素子10の正負の電極と一対のリード部36とはワイヤ4により接続される。なお、発光素子10は、一の面に正負の電極を有し、正負の電極と一対のリード部36の上面とを対向させて、導電性の接合部材を介して一対のリード部36の上面上に配置することもできる。
[(D) Step of Forming Second Structure 60]
Next, the light emitting element 10 is disposed on the bottom surface of the recess 2 of the first structure 50. As shown in FIG. 4A, the light emitting element 10 has, for example, positive and negative electrodes (not shown) on one surface, and is arranged on the upper surfaces of the pair of lead portions 36 exposed on the bottom surface of the recess 2. The positive and negative electrodes of the light emitting element 10 and the pair of lead portions 36 are connected by the wire 4. Note that the light emitting element 10 has positive and negative electrodes on one surface, the positive and negative electrodes are opposed to the upper surfaces of the pair of lead portions 36, and the upper surfaces of the pair of lead portions 36 are connected via a conductive bonding member. It can also be placed on top.

第1めっき層5は、リード部36の上面のうちワイヤ4または接合部材が配置される配置領域Dを少なくとも被覆することが好ましい。第1めっき層5は酸化または硫化が起きにくい金属層であるため、ワイヤ4または接合部材の接続強度または接合強度が向上する。また、第1めっき層5は、図4Bで示すように、リード部36の上面のうちワイヤ4または接合部材が配置される配置領域Dのみを被覆していてもよい。これにより、使用する第1めっき層5の体積が減るため、発光装置100のコストを抑えつつ、ワイヤ4または接合部材の接続強度または接合強度を向上させることができる。なお、ワイヤ4を用いる場合の配置領域Dとは、ワイヤ4の断面積(ワイヤ径に対する断面積)に対して80倍〜400倍の領域であり、150倍〜200倍の領域であることが好ましい。また、接合部材を用いる場合の配置領域Dとは、例えば、接合部材の平面積に対して、10倍〜50倍の領域であり、20倍〜25倍の領域であることが好ましい。 The first plating layer 5 preferably covers at least the placement region D where the wire 4 or the bonding member is placed on the upper surface of the lead portion 36. Since the first plating layer 5 is a metal layer that does not easily oxidize or sulfurize, the connection strength or the bonding strength of the wire 4 or the bonding member is improved. Further, as shown in FIG. 4B, the first plating layer 5 may cover only the arrangement region D in which the wire 4 or the bonding member is arranged on the upper surface of the lead portion 36. Thereby, the volume of the first plating layer 5 used is reduced, so that the connection strength or the bonding strength of the wire 4 or the bonding member can be improved while suppressing the cost of the light emitting device 100. In addition, the arrangement|positioning area|region D in the case of using the wire 4 is a 80-400 times area|region with respect to the cross-sectional area (cross-sectional area with respect to a wire diameter) of the wire 4, 150-200 times area|region. preferable. Further, the arrangement region D in the case of using the joining member is, for example, a region that is 10 to 50 times, and preferably 20 to 25 times the plane area of the joining member.

次に、発光素子10を被覆するように凹部2内に封止部材9を配置する。封止部材9は、蛍光体および/または光拡散材を含有することができる。封止部材9は、例えば、母材となる樹脂材料に蛍光体および/または光拡散材を含有させた混合材料を、ディスペンサー等により凹部2内に吐出することにより配置することができる。その後、硬化工程を経ることにより封止部材9を形成することができる。なお、混合材料を凹部2内に配置した後であって硬化工程を行う前に、沈降工程を行ってもよい。沈降工程を行うことで、蛍光体等を凹部2の底面側に偏在させることができるため、個片化後の発光装置100の色むらを効果的に低減させることができる。 Next, the sealing member 9 is arranged in the recess 2 so as to cover the light emitting element 10. The sealing member 9 can contain a phosphor and/or a light diffusing material. The sealing member 9 can be arranged, for example, by discharging a mixed material in which a resin material as a base material contains a phosphor and/or a light diffusing material into the recess 2 by a dispenser or the like. After that, the sealing member 9 can be formed by going through a curing step. The sedimentation step may be performed after the mixed material is placed in the recess 2 and before the curing step. By performing the sedimentation step, the phosphors and the like can be unevenly distributed on the bottom surface side of the recesses 2, so that the color unevenness of the light emitting device 100 after individualization can be effectively reduced.

[(E)複数の発光装置100を得る工程]
最後に、第2構造体60を個片化し、複数の発光装置100を得る。個片化の方法としては、例えば、リードカット金型、ダイシングソー又はレーザー光を用いて個片化することができる。これにより、図5A、図5Bおよび図5Cで示す発光装置100を得ることができる。図5Aは一の実施形態に係る発光装置100の模式的端面図であり、図5Bは一の実施形態に係る発光装置100の模式的斜視図であり、図5Cは図5B中の破線部を拡大した部分拡大図である。また、図5Dは、一対のリード部36のみを上から見たときの模式的上面図であり、第1めっき層5が形成されている領域にハッチングを施している。
[(E) Step of obtaining a plurality of light emitting devices 100]
Finally, the second structure 60 is divided into individual pieces to obtain a plurality of light emitting devices 100. As a method for individualizing, for example, a lead-cut mold, a dicing saw, or laser light can be used for individualizing. Thereby, the light emitting device 100 shown in FIGS. 5A, 5B and 5C can be obtained. 5A is a schematic end view of the light emitting device 100 according to one embodiment, FIG. 5B is a schematic perspective view of the light emitting device 100 according to one embodiment, and FIG. 5C shows a broken line portion in FIG. 5B. FIG. Further, FIG. 5D is a schematic top view when only the pair of lead portions 36 are viewed from above, and the region where the first plating layer 5 is formed is hatched.

図5Aで示すように、発光装置100は、外側面においてリード部36と樹脂部8aとが同一面になることが好ましい。発光装置100の外側面において、リード部36が樹脂部8aよりも外側に延出しないことで、占有面積の小さい小型の発光装置100を提供することができる。なお、リード部36は、発光装置100の外側面において、樹脂部8aよりも外側に延出していてもよい。これにより、発光素子10が発する熱を効率的に外側に放出することができる。 As shown in FIG. 5A, in the light emitting device 100, the lead portion 36 and the resin portion 8a are preferably flush with each other on the outer surface. Since the lead portion 36 does not extend outside the resin portion 8a on the outer side surface of the light emitting device 100, it is possible to provide a small light emitting device 100 having a small occupied area. The lead portion 36 may extend outside the resin portion 8a on the outer surface of the light emitting device 100. Thereby, the heat generated by the light emitting element 10 can be efficiently radiated to the outside.

また、図5Aおよび図5Cで示すように、発光装置100の外側面において、リード部36と樹脂部8aとの間に第1めっき層5が位置しないことが好ましい。これにより、発光装置100の外側面において、樹脂部8aとリード部36との密着性が良好となり、外側面にある樹脂部8aとリード部36との界面から水分等が入り込むことを効果的に抑制することができる。図5Cでは、発光装置100の外側面において、金属部35と金属部35を被覆する下層金属層6a(例えば、ニッケルまたはニッケル合金を含む金属層)とが樹脂部8aから露出している。 Further, as shown in FIGS. 5A and 5C, it is preferable that the first plating layer 5 is not located between the lead portion 36 and the resin portion 8a on the outer surface of the light emitting device 100. As a result, the adhesiveness between the resin portion 8a and the lead portion 36 is improved on the outer side surface of the light emitting device 100, and it is possible to effectively prevent water and the like from entering from the interface between the resin portion 8a and the lead portion 36 on the outer side surface. Can be suppressed. In FIG. 5C, on the outer surface of the light emitting device 100, the metal portion 35 and the lower metal layer 6a (for example, a metal layer containing nickel or nickel alloy) that covers the metal portion 35 are exposed from the resin portion 8a.

また、発光装置100は、図5Aで示すように、リード部36の他のリード部36と対向する端面36cに第1めっき層5が形成されない領域を有する。これにより、凹部2内に配置された封止部材9が、リード部36の端面36cと樹脂部8aとの界面を通り、リード部36の下面側に漏れ出る可能性を低減することができる。図5Aで示す発光装置100では、第1めっき層5は端面36cの上面側に形成されていない。これにより、リード部36の端面36cと樹脂部8aとの界面のうち、封止部材9と接する部分に第1めっき層5が形成されていないため、封止部材9が凹部2から外側に漏れ出る可能性を低減することができる。端面36cのうち第1めっき層5が形成されない領域は、全面でもよく、一部でもよい。 Further, as shown in FIG. 5A, the light emitting device 100 has a region where the first plating layer 5 is not formed on the end surface 36c of the lead portion 36 that faces the other lead portion 36. As a result, it is possible to reduce the possibility that the sealing member 9 arranged in the recess 2 passes through the interface between the end surface 36c of the lead portion 36 and the resin portion 8a and leaks to the lower surface side of the lead portion 36. In the light emitting device 100 shown in FIG. 5A, the first plating layer 5 is not formed on the upper surface side of the end surface 36c. As a result, the first plating layer 5 is not formed at the portion of the interface between the end surface 36c of the lead portion 36 and the resin portion 8a, which is in contact with the sealing member 9, so that the sealing member 9 leaks from the recess 2 to the outside. The possibility of getting out can be reduced. The region of the end surface 36c where the first plating layer 5 is not formed may be the entire surface or a part thereof.

発光装置100は、図5Aで示すように、リード部36の端面36cと端面36cと連続する上面とを含む連続領域Sに第1めっき層5が形成されないことが好ましい。これにより、連続領域Sのうち上面側の領域は封止部材9と良好に密着し、連続領域Sのうち端面側の領域は樹脂部8aと良好に密着する。その結果、封止部材9が凹部2から外側に漏れ出る可能性を効果的に低減することができる。なお、第1めっき層5が形成されない連続領域Sは、一方のリード部36から他方のリード部36に向かう方向と垂直な方向において、リード部36の端面側の全ての領域に位置していてもよく、図5Dで示すようにリード部36の端面側の一部の領域にのみ位置していてもよい。 In the light emitting device 100, as shown in FIG. 5A, it is preferable that the first plating layer 5 is not formed in the continuous region S including the end surface 36c of the lead portion 36 and the upper surface continuous with the end surface 36c. As a result, the upper surface side region of the continuous region S is in good contact with the sealing member 9, and the end surface side region of the continuous region S is in good contact with the resin portion 8a. As a result, it is possible to effectively reduce the possibility that the sealing member 9 leaks out from the recess 2. The continuous region S where the first plating layer 5 is not formed is located in all regions on the end face side of the lead portion 36 in the direction perpendicular to the direction from the one lead portion 36 to the other lead portion 36. Alternatively, as shown in FIG. 5D, it may be located only in a part of the end face side of the lead portion 36.

以下、本発明の発光装置100の製造方法に用いられる各部材について説明する。 Hereinafter, each member used in the method for manufacturing the light emitting device 100 of the present invention will be described.

(金属板30、一対の金属部35)
金属板30および一対の金属部35の材料は、例えば、銅、アルミニウム、銀、鉄、ニッケル、又はこれらの合金を用いることができる。金属板30および一対の金属部35は、金または金合金を実質的に含まない。金または金合金を実質的に含まないとは、金または金合金が不可避的に混入することを排除しないことを意味し、金または金合金の含有率は例えば0.05質量%以下である。これらは単層であってもよいし、積層構造(例えば、クラッド材)であってもよい。特に、金属板30および一対の金属部35の材料として、安価で放熱性が高い銅または銅合金を好適に用いることができる。金属板30の厚みや形状は、発光装置100の厚みや形状等に応じて種々選択することができる。金属板30は、平板状でもよく、一部が折れ曲がった形状でもよく、一部が厚いまたは一部が薄い形状であってもよい。
(Metal plate 30, pair of metal parts 35)
As a material of the metal plate 30 and the pair of metal parts 35, for example, copper, aluminum, silver, iron, nickel, or an alloy thereof can be used. The metal plate 30 and the pair of metal parts 35 do not substantially contain gold or a gold alloy. The term "substantially free of gold or gold alloy" means that gold or gold alloy is inevitably mixed, and the content of gold or gold alloy is, for example, 0.05% by mass or less. These may have a single layer or a laminated structure (for example, a clad material). In particular, as the material of the metal plate 30 and the pair of metal parts 35, inexpensive or highly heat-dissipating copper or copper alloy can be preferably used. The thickness and shape of the metal plate 30 can be variously selected according to the thickness and shape of the light emitting device 100. The metal plate 30 may have a flat plate shape, a partially bent shape, or a partially thick or partially thin shape.

金属板30は、一対の金属部35を複数備える。金属板30は、一つのパッケージ領域1において、一対の金属部35以外に他の金属部を備えることができる。他の金属部は、放熱部材として機能してもよく、一対の金属部35と同様に電極として機能してもよい。 The metal plate 30 includes a plurality of pairs of metal parts 35. The metal plate 30 may include other metal parts in addition to the pair of metal parts 35 in one package region 1. The other metal part may function as a heat dissipation member, or may function as an electrode similarly to the pair of metal parts 35.

(樹脂成形体8、樹脂部8a)
樹脂成形体8および樹脂部8aは、母材となる樹脂材料として、熱硬化性樹脂や熱可塑性樹脂などを用いることができる。具体的には、エポキシ樹脂組成物、シリコーン樹脂組成物、シリコーン変性エポキシ樹脂などの変性エポキシ樹脂組成物、エポキシ変性シリコーン樹脂などの変性シリコーン樹脂組成物、変成シリコーン樹脂組成物、不飽和ポリエステル樹脂、飽和ポリエステル樹脂、ポリイミド樹脂組成物、変性ポリイミド樹脂組成物、ポリフタルアミド(PPA)、ポリカーボネート樹脂、ポリフェニレンサルファイド(PPS)、液晶ポリマー(LCP)、ABS樹脂、フェノール樹脂、アクリル樹脂、PBT樹脂等の樹脂を用いることができる。特に、樹脂成形体8および樹脂部8aの樹脂材料として、耐熱性および耐光性に優れたエポキシ樹脂組成物やシリコーン樹脂組成物を用いることが好ましい。
(Resin molded body 8, resin portion 8a)
For the resin molded body 8 and the resin portion 8a, a thermosetting resin, a thermoplastic resin, or the like can be used as a resin material that is a base material. Specifically, epoxy resin composition, silicone resin composition, modified epoxy resin composition such as silicone modified epoxy resin, modified silicone resin composition such as epoxy modified silicone resin, modified silicone resin composition, unsaturated polyester resin, Saturated polyester resin, polyimide resin composition, modified polyimide resin composition, polyphthalamide (PPA), polycarbonate resin, polyphenylene sulfide (PPS), liquid crystal polymer (LCP), ABS resin, phenol resin, acrylic resin, PBT resin, etc. A resin can be used. In particular, it is preferable to use an epoxy resin composition or a silicone resin composition having excellent heat resistance and light resistance as the resin material of the resin molded body 8 and the resin portion 8a.

樹脂成形体8および樹脂部8aは、上記の母材となる樹脂材料に、光反射性物質を含有することが好ましい。光反射性物質としては、発光素子10からの光を吸収しにくく、且つ、母材となる樹脂材料に対して屈折率差の大きい部材を用いることが好ましい。このような光反射性物質は、例えば、酸化チタン、酸化亜鉛、酸化ケイ素、酸化ジルコニウム、酸化アルミニウム、窒化アルミニウム等である。 It is preferable that the resin molded body 8 and the resin portion 8a contain a light-reflecting substance in the resin material as the base material. As the light-reflecting substance, it is preferable to use a member that hardly absorbs light from the light emitting element 10 and has a large difference in refractive index with respect to the resin material as the base material. Such a light-reflecting substance is, for example, titanium oxide, zinc oxide, silicon oxide, zirconium oxide, aluminum oxide, aluminum nitride or the like.

また、樹脂成形体8および樹脂部8aは、発光装置100のコントラストを向上させるために、発光装置100の外光(多くの場合、太陽光)に対して光反射率が低い充填剤を含有してもよい。この場合、樹脂成形体8および樹脂部8aは、例えば、黒色ないしそれに近似した色である。充填剤としては、アセチレンブラック、活性炭、黒鉛などのカーボンや、酸化鉄、二酸化マンガン、酸化コバルト、酸化モリブデンなどの遷移金属酸化物、もしくは有色有機顔料などを目的に応じて利用することができる。 Further, the resin molded body 8 and the resin portion 8a contain a filler having a low light reflectance with respect to the external light (in many cases, sunlight) of the light emitting device 100 in order to improve the contrast of the light emitting device 100. May be. In this case, the resin molded body 8 and the resin portion 8a are, for example, black or a color similar thereto. As the filler, carbon such as acetylene black, activated carbon or graphite, transition metal oxide such as iron oxide, manganese dioxide, cobalt oxide or molybdenum oxide, or a colored organic pigment can be used depending on the purpose.

(発光素子10)
発光素子10は、発光装置100の光源として機能し、さらに蛍光体の励起源となる。発光素子10には、発光ダイオード素子などを用いることができ、可視域の発光が可能な窒化物半導体(InAlGa1−x−yN、0≦x、0≦y、x+y≦1)を好適に用いることができる。図5Aで示す発光装置100は、1つの発光素子10を備えているが、本実施形態の発光装置はこれに限られない。発光装置100は、少なくとも1つの発光素子を備えていればよく、発光素子の個数は目的や用途に応じて変更可能である。
(Light emitting element 10)
The light emitting element 10 functions as a light source of the light emitting device 100, and also serves as an excitation source for the phosphor. The light emitting element 10, light emitting diode or the like can be used an element, light emission can be a nitride semiconductor in the visible range (In x Al y Ga 1- x-y N, 0 ≦ x, 0 ≦ y, x + y ≦ 1 ) Can be preferably used. The light emitting device 100 shown in FIG. 5A includes one light emitting element 10, but the light emitting device of the present embodiment is not limited to this. The light emitting device 100 only needs to include at least one light emitting element, and the number of light emitting elements can be changed according to the purpose or application.

発光装置100が複数の発光素子10を備える場合、複数の発光素子10は、例えば、青色光を出射する複数の青色発光素子、青色光、緑色光および赤色光をそれぞれ出射する3つの発光素子、または、青色光を出射する発光素子と緑色光を出射する発光素子とを組み合わせたものを含むことができる。発光装置100を液晶表示装置等の光源として用いる場合、発光素子として、青色光を出射する発光素子、または、青色光を出射する発光素子と緑色光を出射する発光素子との組み合わせを用いることが好ましい。青色光を出射する発光素子と緑色光を出射する発光素子は、いずれも半値幅が40nm以下の発光素子を用いることが好ましく、半値幅が30nm以下の発光素子を用いることがより好ましい。これにより、青色光や緑色光が容易に鋭いピークを持つことができる。その結果、例えば、発光装置100を液晶表示装置等の光源として用いる場合、液晶表示装置は高い色再現性を達成することができる。また、複数の発光素子10は、直列、並列、または直列と並列を組み合わせて接続される。 When the light emitting device 100 includes a plurality of light emitting elements 10, the plurality of light emitting elements 10 are, for example, a plurality of blue light emitting elements that emit blue light, three light emitting elements that emit blue light, green light, and red light, respectively. Alternatively, it may include a combination of a light emitting element that emits blue light and a light emitting element that emits green light. When the light emitting device 100 is used as a light source of a liquid crystal display device or the like, a light emitting element that emits blue light or a combination of a light emitting element that emits blue light and a light emitting element that emits green light is used as a light emitting element. preferable. For the light emitting element that emits blue light and the light emitting element that emits green light, it is preferable to use a light emitting element having a half-value width of 40 nm or less, and it is more preferable to use a light emitting element having a half value width of 30 nm or less. Thereby, blue light or green light can easily have a sharp peak. As a result, for example, when the light emitting device 100 is used as a light source of a liquid crystal display device or the like, the liquid crystal display device can achieve high color reproducibility. The plurality of light emitting elements 10 are connected in series, in parallel, or in combination of series and parallel.

(封止部材9)
発光装置100は、発光素子10を被覆する封止部材9を備える。封止部材9は、発光素子等を外力や埃、水分などから保護する。封止部材9は、発光素子10から出射される光の60%以上を透過するもの、さらに90%以上を透過するものが好ましい。封止部材9の母材としては、樹脂成形体8で用いられる樹脂材料を用いることができる。封止部材9は単一層であってもよく、複数層であってもよい。また、封止部材9には、酸化チタン、酸化ケイ素、酸化ジルコニウム、酸化アルミニウムなどの光拡散材を分散させることができる。
(Sealing member 9)
The light emitting device 100 includes a sealing member 9 that covers the light emitting element 10. The sealing member 9 protects the light emitting element and the like from external force, dust, water and the like. The sealing member 9 preferably transmits 60% or more of the light emitted from the light emitting element 10, and more preferably 90% or more. As the base material of the sealing member 9, the resin material used in the resin molded body 8 can be used. The sealing member 9 may be a single layer or a plurality of layers. In addition, a light diffusing material such as titanium oxide, silicon oxide, zirconium oxide, or aluminum oxide can be dispersed in the sealing member 9.

封止部材9は、発光素子10からの光の波長を変換する1種または複数種の蛍光体を含むことができる。蛍光体は、発光素子10の光で励起する蛍光体であればよく、例えば、(Ca,Sr,Ba)(PO(Cl,Br):Eu、(Sr,Ca,Ba)Al1425:Eu、(Ca,Sr,Ba)MgSi16(F,Cl,Br):Eu、(Y,Lu,Gd)(Al,Ga)12:Ce、(Sr,Ca)AlSiN:Eu、3.5MgO・0.5MgF・GeO:Mn、(x-s)MgO・(s/2)Sc・yMgF・uCaF・(1-t)GeO・(t/2)M :zMn、CaScSi12:Ce、CaSc:Ce、(La,Y)Si11:Ce、(Ca,Sr,Ba)Si:Eu、(Ca,Sr,Ba)Si12:Eu、(Ba,Sr,Ca)Si:Eu、(Ca,Sr,Ba)Si:Eu、(Ca,Sr,Ba)S:Eu、(Ba,Sr,Ca)Ga:Eu、K(Si,Ti,Ge)F:Mn、Si6−zAl8−z:Eu(0<z<4.2)、の蛍光体を用いることができる。 The sealing member 9 may include one or more kinds of phosphors that convert the wavelength of light from the light emitting element 10. The phosphor may be any phosphor that is excited by the light of the light emitting element 10, and may be, for example, (Ca,Sr,Ba) 5 (PO 4 ) 3 (Cl,Br):Eu, (Sr,Ca,Ba) 4 Al 14 O 25 :Eu, (Ca,Sr,Ba) 8 MgSi 4 O 16 (F,Cl,Br) 2 :Eu, (Y,Lu,Gd) 3 (Al,Ga) 5 O 12 :Ce,( sr, Ca) AlSiN 3: Eu , 3.5MgO · 0.5MgF 2 · GeO 2: Mn, (x-s) MgO · (s / 2) Sc 2 O 3 · yMgF 2 · uCaF 2 · (1-t ) GeO 2 · (t / 2 ) M t 2 O 3: zMn, Ca 3 Sc 2 Si 3 O 12: Ce, CaSc 2 O 4: Ce, (La, Y) 3 Si 6 N 11: Ce, (Ca ,Sr,Ba) 3 Si 6 O 9 N 4 :Eu, (Ca,Sr,Ba) 3 Si 6 O 12 N 2 :Eu, (Ba,Sr,Ca)Si 2 O 2 N 2 :Eu, (Ca , Sr,Ba) 2 Si 5 N 8 :Eu, (Ca,Sr,Ba)S:Eu, (Ba,Sr,Ca)Ga 2 S 4 :Eu,K 2 (Si,Ti,Ge)F 6 : A phosphor of Mn, Si 6-z Al z O z N 8-z :Eu (0<z<4.2) can be used.

光拡散材および/又は蛍光体の含有量は、例えば、封止部材9の全重量に対して10〜150重量%程度であることが好ましい。 The content of the light diffusion material and/or the phosphor is preferably, for example, about 10 to 150% by weight based on the total weight of the sealing member 9.

(ワイヤ4、接合部材)
ワイヤ4および接合部材は、発光素子10の電極とリード部36とを接続する部材である。ワイヤ4の材料として、例えば、金、銅、銀、白金、アルミニウム、パラジウム等の金属またはこれらの1種以上を含む合金を用いることができる。また、導電性の接合部材として、銀、金、パラジウムなどの導電性ペーストや、金−錫、錫−銀−銅などの共晶はんだ材料、低融点金属等のろう材、銀または金などを含むバンプ等を用いることができる。絶縁性の接合部材として、エポキシ樹脂組成物、シリコーン樹脂組成物、ポリイミド樹脂組成物やその変性樹脂、ハイブリッド樹脂等を用いることができる。これらの樹脂を用いる場合は、発光素子10からの光や熱による劣化を考慮して、発光素子10の実装面にアルミニウム膜や銀膜などの反射率の高い金属層や誘電体反射膜を設けることができる。
(Wire 4, joining member)
The wire 4 and the joining member are members that connect the electrode of the light emitting element 10 and the lead portion 36. As the material of the wire 4, for example, a metal such as gold, copper, silver, platinum, aluminum, or palladium, or an alloy containing one or more of these can be used. Further, as a conductive joining member, a conductive paste such as silver, gold or palladium, a eutectic solder material such as gold-tin or tin-silver-copper, a brazing material such as a low melting point metal, silver or gold, etc. Bumps and the like containing the same can be used. As the insulating joining member, an epoxy resin composition, a silicone resin composition, a polyimide resin composition or a modified resin thereof, a hybrid resin or the like can be used. When using these resins, a metal layer having a high reflectance such as an aluminum film or a silver film or a dielectric reflection film is provided on the mounting surface of the light emitting element 10 in consideration of deterioration due to light or heat from the light emitting element 10. be able to.

ワイヤ4および接合部材は、金または金合金を含む材料であることが好ましい。これにより、ワイヤ4等を第1めっき層5と接続する場合に、ワイヤ4等と第1めっき層5との接続強度が向上する。また、ワイヤ4等が軟らかくなり、例えば、封止部材9からの応力により、ワイヤ等が破断する可能性を低減することができる。 The wire 4 and the joining member are preferably made of a material containing gold or a gold alloy. Thereby, when connecting the wire 4 and the like to the first plating layer 5, the connection strength between the wire 4 and the first plating layer 5 is improved. Further, the wires 4 and the like become soft, and the possibility that the wires and the like break due to stress from the sealing member 9 can be reduced.

(変形例)
リードフレーム40を形成する工程(B)において、(B-1)工程〜(B-3)工程の代わりに、金属板30の第1領域X以外の第2領域Yにマスクを形成する工程と、マスクが形成された金属板30に対して電着法によりレジスト膜7を形成する工程と、レジスト膜7を乾燥する工程と、マスクを除去する工程とを行い、第1領域Xにのみレジスト膜7が形成された金属板30を形成することができる。マスクは、導電性または絶縁性の部材を用いることができ、好適には絶縁性のマスクが用いられる。絶縁性のマスクを用いることで、マスクが形成された領域にはレジスト膜7が形成されず、マスクを除去する工程が容易になる。マスクとしては、例えば、メタルマスクまたはラバーマスク等を用いることができる。
(Modification)
In the step (B) of forming the lead frame 40, a step of forming a mask in the second region Y other than the first region X of the metal plate 30 instead of the steps (B-1) to (B-3). , A step of forming the resist film 7 on the metal plate 30 on which the mask is formed by an electrodeposition method, a step of drying the resist film 7, and a step of removing the mask are performed, and the resist is applied only to the first region X. The metal plate 30 on which the film 7 is formed can be formed. A conductive or insulating member can be used for the mask, and an insulating mask is preferably used. By using the insulating mask, the resist film 7 is not formed in the region where the mask is formed, and the step of removing the mask becomes easy. As the mask, for example, a metal mask or a rubber mask can be used.

また、一対のリード部36の上面上に形成される第1めっき層5の配置は種々変更可能である。図6A〜図6Dは、一対のリード部36の模式的上面図であり、第1めっき層5が形成される領域にハッチングを施している。また、図6Bでは、発光素子10、保護素子11およびワイヤ4が配置される領域を破線で示している。図6Aでは、第1めっき層5は、一対のリード部36の上面全面に形成されている。これにより、一対のリード部36の上面全面において硫化や酸化等が生じる可能性を低減することができる。図6Bでは、第1めっき層5は、リード部36の上面のうち発光素子10や保護素子11から延びるワイヤ4の一端が接続される領域およびその領域の近傍のみに形成されている。これにより、使用する第1めっき層5の体積を減らしつつ、ワイヤ4の接続強度を向上させることができる。図6Cでは、第1めっき層5は、リード部36の上面のうち凹部2の底面に露出する領域にのみ形成されている。これにより、例えば、凹部2の開口から硫黄成分等が入り込んだ場合に、凹部2の底面に位置する一対のリード部36の上面が硫化等することを効果的に抑制することができる。なお、図6Cの変形例として、第1めっき層5は、図6Dで示すようにリード部36の上面のうち溝13と端面36cとで画定される領域に形成されていてもよい。 Further, the arrangement of the first plating layer 5 formed on the upper surfaces of the pair of lead portions 36 can be variously changed. 6A to 6D are schematic top views of the pair of lead portions 36, and the regions where the first plating layers 5 are formed are hatched. Further, in FIG. 6B, a region where the light emitting element 10, the protection element 11 and the wire 4 are arranged is shown by a broken line. In FIG. 6A, the first plating layer 5 is formed on the entire upper surfaces of the pair of lead portions 36. As a result, it is possible to reduce the possibility that sulfuration, oxidation or the like will occur on the entire upper surfaces of the pair of lead portions 36. In FIG. 6B, the first plating layer 5 is formed only on the upper surface of the lead portion 36 in a region to which one end of the wire 4 extending from the light emitting element 10 or the protective element 11 is connected and in the vicinity of that region. Thereby, the connection strength of the wire 4 can be improved while reducing the volume of the first plating layer 5 used. In FIG. 6C, the first plating layer 5 is formed only on the region exposed on the bottom surface of the recess 2 on the upper surface of the lead portion 36. Accordingly, for example, when a sulfur component or the like enters from the opening of the recess 2, it is possible to effectively prevent the upper surfaces of the pair of lead portions 36 located on the bottom surface of the recess 2 from being sulfurized. As a modification of FIG. 6C, the first plating layer 5 may be formed in a region defined by the groove 13 and the end face 36c on the upper surface of the lead portion 36 as shown in FIG. 6D.

まず、実施例1〜7で用いるリードフレーム40を準備した。リードフレーム40の具体的な形成方法を、実施例1のリードフレーム40を例に取って以下に説明する。 First, the lead frame 40 used in Examples 1 to 7 was prepared. A specific method of forming the lead frame 40 will be described below by taking the lead frame 40 of Example 1 as an example.

金属板30としては、三菱伸銅製TAMAC194材をエッチング加工したものを使用した。 As the metal plate 30, a TAMAC194 material manufactured by Mitsubishi Shindoh was used.

まず、金属板30(金属部35)の表面全面に下層金属層6aを形成した。下層金属層6aとしては、ニッケルめっき層を用いた。 First, the lower metal layer 6a was formed on the entire surface of the metal plate 30 (metal part 35). A nickel plating layer was used as the lower metal layer 6a.

ニッケルめっき層は、電解スルファミン酸ニッケルめっき浴として、
スルファミン酸ニッケル=450g/L
塩化ニッケル=10g/L
ほう酸=30g/L
の浴を用いて、めっき時間を調整し液温55℃、陰極電流密度5A/dmで電解めっきにより形成した。陽極はイオウ含有ニッケル電極を用いた。
The nickel plating layer is used as an electrolytic nickel sulfamate plating bath.
Nickel sulfamate=450g/L
Nickel chloride = 10g/L
Boric acid = 30 g/L
The bath was used to adjust the plating time, and the solution was formed by electrolytic plating at a liquid temperature of 55° C. and a cathode current density of 5 A/dm 2 . A nickel electrode containing sulfur was used as the anode.

次に、下層金属層6a上に金属板30の表面全面を覆うように上層金属層6bを形成した。上層金属層6bとしては、パラジウムめっき層を用いた。 Next, the upper metal layer 6b was formed on the lower metal layer 6a so as to cover the entire surface of the metal plate 30. A palladium plating layer was used as the upper metal layer 6b.

パラジウムめっき層は、電解パラジウムめっき浴として、
テトラアンミンパラジウム塩化物 パラジウムとして5g/L
硝酸アンモニウム=150g/L
2−ピリジンスルホン酸=3g/L
pH 8.5 (アンモニア水にて調整)
の浴を用いて、めっき時間を調整し液温50℃、陰極電流密度0.5A/dmで電解めっきにより形成した。陽極は白金被覆チタン電極を用いた。
The palladium plating layer is used as an electrolytic palladium plating bath.
Tetraammine palladium chloride 5g/L as palladium
Ammonium nitrate = 150 g/L
2-Pyridinesulfonic acid=3 g/L
pH 8.5 (adjusted with ammonia water)
The bath was used to adjust the plating time, and electrolytic plating was performed at a liquid temperature of 50° C. and a cathode current density of 0.5 A/dm 2 . A platinum-coated titanium electrode was used as the anode.

次に、ネガ型の電着レジスト液を用いて、液温38℃、電圧200V、浸漬時間15秒で金属板30の表面にレジスト膜7を形成した。レジスト膜7を形成した後の乾燥工程では、送風定温恒温器を使用し、温度75度、乾燥時間60秒で行った。乾燥後のレジスト膜7の厚みは7μm〜10μmとした。角部に位置するレジスト膜7が、第1めっき層5を形成するときに破損等する場合は、角部に位置するレジスト膜7が厚くなるように電着条件及び乾燥条件を調整することができる。なお、金属板30は、レジスト膜7を形成する前にレジスト膜7の付着面に対して脱脂等の洗浄処理を施したものを使用することができる。 Next, a resist film 7 was formed on the surface of the metal plate 30 using a negative electrodeposition resist solution at a liquid temperature of 38° C., a voltage of 200 V, and an immersion time of 15 seconds. In the drying step after forming the resist film 7, a blower constant temperature and temperature controller was used, and the temperature was 75° C. and the drying time was 60 seconds. The thickness of the resist film 7 after drying was set to 7 μm to 10 μm. If the resist film 7 located at the corners is damaged when forming the first plating layer 5, the electrodeposition conditions and the drying conditions may be adjusted so that the resist film 7 located at the corners becomes thicker. it can. It should be noted that the metal plate 30 may be one in which the surface to which the resist film 7 is attached is subjected to cleaning treatment such as degreasing before the resist film 7 is formed.

次に、フォトマスクを用いて、レジスト膜7に対して主波長365nmの光を積算光量300mJ/cmで露光し硬化させた。実施例1のリードフレーム40では、図6Bで示す領域(ハッチングを施した領域)に第1めっき層5が配置されるようにレジスト膜7の所定領域を露光した。その後、露光されていないレジスト膜7に対して現像液を用いて、液温50℃、時間70秒でスプレー現像により除去した。露光は、金属板30の形状に応じて、適宜選択することができる。例えば、金属板30の端面が十分に露光されず、レジスト膜7が未硬化になる形状の場合は、光が拡散する光源を使用したり、局所的に斜めから露光を追加したりすることで、金属板30の端面に確実に光を当ててレジスト膜7を硬化させる。 Next, using a photomask, the resist film 7 was exposed to light having a main wavelength of 365 nm at an integrated light amount of 300 mJ/cm 2 and cured. In the lead frame 40 of Example 1, a predetermined area of the resist film 7 was exposed so that the first plating layer 5 was arranged in the area (hatched area) shown in FIG. 6B. Then, the resist film 7 which was not exposed was removed by spray development using a developing solution at a liquid temperature of 50° C. and a time of 70 seconds. The exposure can be appropriately selected according to the shape of the metal plate 30. For example, when the end surface of the metal plate 30 is not sufficiently exposed and the resist film 7 is uncured, it is possible to use a light source that diffuses light or locally add exposure at an angle. , The end surface of the metal plate 30 is surely irradiated with light to cure the resist film 7.

次に、上層金属層6bの表面のうちレジスト膜7が除去された領域(第2領域Y)に第1めっき層5を形成した。これにより、第1めっき層5は金属板30の表面を部分的に覆う。第1めっき層5としては、金めっき層を用いた。 Next, the first plating layer 5 was formed in a region (second region Y) where the resist film 7 was removed on the surface of the upper metal layer 6b. Thereby, the first plating layer 5 partially covers the surface of the metal plate 30. A gold plating layer was used as the first plating layer 5.

金めっき層は、電解金めっき浴として、
シアン化金カリウム 金として1g/L
クエン酸カリウム=100g/L
りん酸二カリウム=30g/L
pH 4.0 (クエン酸または水酸化カリウムにて調整)
の浴を用いて、めっき時間を調整し液温45℃、陰極電流密度2A/dmで電解めっきにより形成した。陽極は白金被覆チタン電極を用いた。
The gold plating layer is used as an electrolytic gold plating bath.
Gold potassium cyanide 1g/L as gold
Potassium citrate = 100g/L
Dipotassium phosphate = 30 g/L
pH 4.0 (adjusted with citric acid or potassium hydroxide)
The bath was used to adjust the plating time, and the solution was formed by electrolytic plating at a liquid temperature of 45° C. and a cathode current density of 2 A/dm 2 . A platinum-coated titanium electrode was used as the anode.

次に、レジスト膜7を剥離液により除去した。具体的には、液温60℃、時間60秒、スプレー圧0.2MPaの条件で、レジスト膜7に対して剥離液をスプレーで吹き付けて、レジスト膜7を剥離した。レジスト膜7の剥離は、金属板30の形状により、剥離条件を調整することができる。例えば、金属板30が表面に凹凸が多く、角部等にレジスト膜7が引っ掛かりやすい形状の場合は、スプレー圧を強くした剥離条件にすることができる。 Next, the resist film 7 was removed with a stripping solution. Specifically, the resist film 7 was stripped by spraying a stripping solution onto the resist film 7 under the conditions of a liquid temperature of 60° C., a time of 60 seconds, and a spray pressure of 0.2 MPa. For the peeling of the resist film 7, the peeling conditions can be adjusted depending on the shape of the metal plate 30. For example, when the metal plate 30 has a large number of irregularities on the surface and the resist film 7 is easily caught at a corner or the like, the peeling condition can be set to have a high spray pressure.

次に、図7で示すように、各めっき層の種類およびレジスト膜7の形状に応じたマスクのパターン形状等を変更して実施例2〜実施例7で用いるリードフレーム40を形成した。実施例2〜7のリードフレーム40においても、下層金属層6aおよび上層金属層6bは金属板30の表面全面を覆うように形成し、第1めっき層5は金属板30の表面において部分的に覆うように形成した。 Next, as shown in FIG. 7, the lead frame 40 used in Examples 2 to 7 was formed by changing the pattern shape of the mask according to the type of each plating layer and the shape of the resist film 7. Also in the lead frames 40 of Examples 2 to 7, the lower metal layer 6a and the upper metal layer 6b are formed so as to cover the entire surface of the metal plate 30, and the first plating layer 5 is partially formed on the surface of the metal plate 30. It was formed so as to cover.

実施例2のリードフレーム40は、下層金属層6aとしてニッケルめっき層を用い、上層金属層6bとしてパラジウムめっき層を用い、第1めっき層5として金銀合金めっき層を用いた。また、第1めっき層5は、図6Bで示す領域に形成した。実施例2のリードフレーム40は、第1めっき層5が金銀合金めっき層である点で実施例1のリードフレーム40と相違する。 In the lead frame 40 of Example 2, a nickel plating layer was used as the lower metal layer 6a, a palladium plating layer was used as the upper metal layer 6b, and a gold-silver alloy plating layer was used as the first plating layer 5. The first plating layer 5 was formed in the area shown in FIG. 6B. The lead frame 40 of Example 2 differs from the lead frame 40 of Example 1 in that the first plating layer 5 is a gold-silver alloy plating layer.

実施例2の金銀合金めっき層は、実施例1で示した金めっき浴組成に、0.1g/Lのシアン化銀カリウムを添加して形成した。 The gold-silver alloy plating layer of Example 2 was formed by adding 0.1 g/L of potassium potassium cyanide to the gold plating bath composition shown in Example 1.

実施例3のリードフレーム40は、下層金属層6aとしてニッケルめっき層を用い、上層金属層6bとしてパラジウムニッケル合金めっき層を用い、第1めっき層5として金めっき層を用いた。また、第1めっき層5は、図6Cで示す領域に形成した。実施例3のリードフレーム40は、上層金属層6bがパラジウムニッケル合金めっき層である点で実施例1のリードフレーム40と相違する。 In the lead frame 40 of Example 3, a nickel plating layer was used as the lower metal layer 6a, a palladium nickel alloy plating layer was used as the upper metal layer 6b, and a gold plating layer was used as the first plating layer 5. Further, the first plating layer 5 was formed in the area shown in FIG. 6C. The lead frame 40 of Example 3 is different from the lead frame 40 of Example 1 in that the upper metal layer 6b is a palladium nickel alloy plating layer.

実施例3のパラジウムニッケル合金めっき層は、実施例1で示したパラジウムめっき浴組成に、0.5g/Lの硫酸ニッケルを添加して形成した。 The palladium-nickel alloy plating layer of Example 3 was formed by adding 0.5 g/L of nickel sulfate to the palladium plating bath composition shown in Example 1.

実施例4のリードフレーム40は、下層金属層6aとしてニッケルめっき層を用い、上層金属層6bとしてロジウムめっき層を用い、第1めっき層5として金めっき層を用いた。また、第1めっき層5は、図6Cで示す領域に形成した。実施例4のリードフレーム40は、上層金属層6bがロジウムめっき層である点で実施例1のリードフレーム40と相違する。 In the lead frame 40 of Example 4, a nickel plating layer was used as the lower metal layer 6a, a rhodium plating layer was used as the upper metal layer 6b, and a gold plating layer was used as the first plating layer 5. Further, the first plating layer 5 was formed in the area shown in FIG. 6C. The lead frame 40 of Example 4 is different from the lead frame 40 of Example 1 in that the upper metal layer 6b is a rhodium plated layer.

実施例4のロジウムめっき層は、電解ロジウムめっき浴として、
硫酸ロジウム ロジウムとして3g/L
硫酸=25g/L
酢酸鉛 鉛として10mg/L
の浴を用いて、めっき時間を調整し液温50℃、陰極電流密度1A/dmで電解めっきにより形成した。陽極は白金被覆チタン電極を用いた。
The rhodium plating layer of Example 4 was used as an electrolytic rhodium plating bath.
Rhodium Sulfate Rhodium 3g/L
Sulfuric acid = 25 g/L
Lead acetate 10 mg/L as lead
The bath was used to adjust the plating time, and electrolytic plating was performed at a liquid temperature of 50° C. and a cathode current density of 1 A/dm 2 . A platinum-coated titanium electrode was used as the anode.

実施例5のリードフレーム40は、下層金属層6aとしてニッケルめっき層を用い、上層金属層6bとしてロジウム白金合金めっき層を用い、第1めっき層5として金めっき層を用いた。また、第1めっき層5は、図6Cで示す領域に形成した。実施例5のリードフレーム40は、上層金属層6bがロジウム白金合金めっき層である点で実施例1のリードフレーム40と相違する。 In the lead frame 40 of Example 5, a nickel plating layer was used as the lower metal layer 6a, a rhodium platinum alloy plating layer was used as the upper metal layer 6b, and a gold plating layer was used as the first plating layer 5. Further, the first plating layer 5 was formed in the area shown in FIG. 6C. The lead frame 40 of Example 5 is different from the lead frame 40 of Example 1 in that the upper metal layer 6b is a rhodium platinum alloy plating layer.

実施例5のロジウム白金合金めっき層は、実施例4で示したロジウムめっき浴組成に、0.5g/Lの塩化白金酸を添加して形成した。 The rhodium platinum alloy plating layer of Example 5 was formed by adding 0.5 g/L of chloroplatinic acid to the rhodium plating bath composition shown in Example 4.

実施例6のリードフレーム40は、下層金属層6aとしてニッケルコバルト合金めっき層を用い、上層金属層6bとしてパラジウムめっき層を用い、第1めっき層5として金めっき層を用いた。また、第1めっき層5は、図6Dで示す領域に形成した。実施例6のリードフレーム40は、下層金属層6aがニッケルコバルト合金めっき層である点で実施例1のリードフレーム40と相違する。 In the lead frame 40 of Example 6, a nickel-cobalt alloy plating layer was used as the lower metal layer 6a, a palladium plating layer was used as the upper metal layer 6b, and a gold plating layer was used as the first plating layer 5. The first plating layer 5 was formed in the area shown in FIG. 6D. The lead frame 40 of Example 6 differs from the lead frame 40 of Example 1 in that the lower metal layer 6a is a nickel-cobalt alloy plating layer.

実施例6のニッケルコバルト合金めっき層は、実施例1で示したニッケルめっき浴組成に、45g/Lのスルファミン酸コバルトを添加して形成した。 The nickel-cobalt alloy plating layer of Example 6 was formed by adding 45 g/L of cobalt sulfamate to the nickel plating bath composition shown in Example 1.

実施例7のリードフレーム40は、下層金属層6aとしてニッケルめっき層を用い、上層金属層6bとしてパラジウムめっき層を用い、第1めっき層5として金めっき層を用いた。また、第1めっき層5は、図6Dで示す領域に形成した。実施例7のリードフレーム40は、第1めっき層5を形成する領域が実施例1のリードフレーム40と相違する。 In the lead frame 40 of Example 7, a nickel plating layer was used as the lower metal layer 6a, a palladium plating layer was used as the upper metal layer 6b, and a gold plating layer was used as the first plating layer 5. The first plating layer 5 was formed in the area shown in FIG. 6D. The lead frame 40 of Example 7 is different from the lead frame 40 of Example 1 in the region where the first plating layer 5 is formed.

以上の方法により、実施例1〜7で用いるリードフレーム40を準備した。。 The lead frame 40 used in Examples 1 to 7 was prepared by the above method. ..

次に、比較例1のリードフレームとして、各めっき層の種類を実施例1および実施例7のリードフレーム40と同じにして、第1めっき層5を金属板30の表面全面を覆うように形成したリードフレームを準備した。具体的には、金属板30の表面全面に、下層金属層6a、上層金属層6bおよび第1めっき層5を形成した。下層金属層6aとしてはニッケルめっき層を用い、上層金属層6bとしてはパラジウムめっき層を用い、第1めっき層5としては金めっき層を用いた。 Next, as the lead frame of Comparative Example 1, the type of each plating layer is the same as that of the lead frame 40 of Examples 1 and 7, and the first plating layer 5 is formed so as to cover the entire surface of the metal plate 30. Prepared lead frame. Specifically, the lower metal layer 6a, the upper metal layer 6b, and the first plating layer 5 were formed on the entire surface of the metal plate 30. A nickel plating layer was used as the lower metal layer 6a, a palladium plating layer was used as the upper metal layer 6b, and a gold plating layer was used as the first plating layer 5.

また、比較例2のリードフレームとして、各めっき層の種類を実施例1および実施例7のリードフレーム40と同じにして、電着法の代わりにドライフィルムレジストを用いて第1めっき層5を形成したリードフレームを準備した。具体的には、金属板30の表面全面に、下層金属層6aおよび上層金属層6bを形成した後、ドライフィルムレジストを用いてレジスト膜7を形成し、上層金属層6b上に部分的に第1めっき層5を形成した。下層金属層6aとしてはニッケルめっき層を用い、上層金属層6bとしてはパラジウムめっき層を用い、第1めっき層5としては金めっき層を用いた。 Further, as the lead frame of Comparative Example 2, the type of each plating layer was the same as that of the lead frame 40 of Examples 1 and 7, and the first plating layer 5 was formed using a dry film resist instead of the electrodeposition method. The formed lead frame was prepared. Specifically, after the lower metal layer 6a and the upper metal layer 6b are formed on the entire surface of the metal plate 30, a resist film 7 is formed using a dry film resist, and the resist film 7 is partially formed on the upper metal layer 6b. 1 Plating layer 5 was formed. A nickel plating layer was used as the lower metal layer 6a, a palladium plating layer was used as the upper metal layer 6b, and a gold plating layer was used as the first plating layer 5.

次に、実施例1〜7、比較例1および比較例2で準備したリードフレーム40に対して、樹脂成形体8を形成し集合体(樹脂付リードフレーム)を準備した。集合体(樹脂付リードフレーム)は、上面側に複数の凹部2を有しており、それぞれの凹部2の底面には第1めっき層5が露出している。 Next, a resin molded body 8 was formed on the lead frame 40 prepared in Examples 1 to 7, Comparative Example 1 and Comparative Example 2 to prepare an assembly (lead frame with resin). The assembly (lead frame with resin) has a plurality of recesses 2 on the upper surface side, and the first plating layer 5 is exposed on the bottom surface of each recess 2.

次に、凹部2の底面に位置する第1めっき層5上に発光素子10を配置し、凹部2内に蛍光体を含有する封止部材9を形成した。その後、個片化することで、実施例1〜7および比較例1〜2の発光装置を得た。 Next, the light emitting element 10 was arranged on the first plating layer 5 located on the bottom surface of the recess 2, and the sealing member 9 containing the phosphor was formed in the recess 2. After that, the light emitting devices of Examples 1 to 7 and Comparative Examples 1 and 2 were obtained by dividing into individual pieces.

(評価、測定)
次に、実施例1〜7、比較例1および比較例2の発光装置をそれぞれ鉛フリ−半田(Sn−0.3Ag−0.7Cu)を塗布したプリント基板上に設置し、温度260℃で10秒間の条件でリフローを行った。その後、プリント基板から発光装置を剥がし、凹部2内の半田の侵入の有無を評価した。また、発光装置の下面における封止部材9の漏れの有無についても評価した。その評価結果を図7に示す。
(Evaluation and measurement)
Next, the light emitting devices of Examples 1 to 7, Comparative Example 1 and Comparative Example 2 were placed on a printed circuit board coated with lead-free solder (Sn-0.3Ag-0.7Cu), respectively, at a temperature of 260°C. Reflow was performed under the condition of 10 seconds. After that, the light emitting device was peeled off from the printed board, and the presence or absence of invasion of solder in the recess 2 was evaluated. In addition, the presence or absence of leakage of the sealing member 9 on the lower surface of the light emitting device was also evaluated. The evaluation result is shown in FIG.

図7に示すように、実施例1〜7の発光装置100は、凹部2内の半田の侵入及び発光装置100の下面における封止部材9の漏れは発生しなかった。一方、比較例1および比較例2の発光装置では、凹部2内の半田の侵入及び発光装置の下面における封止部材の漏れが発生した。特に、各めっき層の種類を同じ条件とした実施例1および実施例7と比較例1とを比較すると、金属部35の端面全面に第1めっき層5が位置する比較例1では、半田の侵入及び封止部材9の漏れが発生し、一方、金属部35の端面を含む第1領域に第1めっき層5が位置しない実施例1および実施例7では、半田の侵入及び封止部材9の漏れは発生しなかった。また、電着法によりレジスト膜7を形成した実施例1〜7では、金属部35の角部および端面において、所望の厚みのレジスト膜7を形成することができた。一方、ドライフィルムレジストを用いた比較例2の発光装置では、金属部35の角部および端面において所望の形状および厚みでレジスト膜を配置することができなかった。 As shown in FIG. 7, in the light emitting device 100 of each of Examples 1 to 7, no invasion of the solder into the recess 2 and no leakage of the sealing member 9 on the lower surface of the light emitting device 100 occurred. On the other hand, in the light emitting devices of Comparative Example 1 and Comparative Example 2, intrusion of solder in the recess 2 and leakage of the sealing member on the lower surface of the light emitting device occurred. In particular, comparing Example 1 and Example 7 under the same conditions for each plating layer and Comparative Example 1, in Comparative Example 1 in which the first plating layer 5 is located on the entire end surface of the metal part 35, solder In Example 1 and Example 7 in which the intrusion and the leakage of the sealing member 9 occur, while the first plating layer 5 is not located in the first region including the end surface of the metal portion 35, the solder intrusion and the sealing member 9 are formed. No leakage occurred. Further, in Examples 1 to 7 in which the resist film 7 was formed by the electrodeposition method, the resist film 7 having a desired thickness could be formed on the corners and the end faces of the metal portion 35. On the other hand, in the light emitting device of Comparative Example 2 using the dry film resist, the resist film could not be arranged in the desired shape and thickness at the corners and end faces of the metal part 35.

100 発光装置
30 金属板
40 リードフレーム
50 第1構造体
60 第2構造体
1 パッケージ領域
2 凹部
4 ワイヤ
5 第1めっき層
6 第2めっき層
6a 下層金属層
6b 上層金属層
7 レジスト膜
8 樹脂成形体
8a 樹脂部
9 封止部材
10 発光素子
11 保護素子
13 溝
30a 上面
30b 下面
35 金属部
35a 上面
35b 下面
35c 端面
35d 端面
36 リード部
36c 端面
C1 第1角部
C2 第2角部
D 配置領域
E 端部
MS マスク
P 凸部
RC 角部
S 連続領域
X 第1領域
Y 第2領域
100 Light-Emitting Device 30 Metal Plate 40 Lead Frame 50 First Structure 60 Second Structure 1 Package Region 2 Recess 4 Wire 5 First Plating Layer 6 Second Plating Layer 6a Lower Metal Layer 6b Upper Metal Layer 7 Resist Film 8 Resin Molding Body 8a Resin part 9 Sealing member 10 Light emitting element 11 Protective element 13 Groove 30a Upper surface 30b Lower surface 35 Metal part 35a Upper surface 35b Lower surface 35c End surface 35d End surface 36 Lead part 36c End surface C1 First corner C2 Second corner D Arrangement area E Edge part MS mask P convex part RC corner part S continuous region X first region Y second region

Claims (15)

一対の金属部を複数備え、上面、下面および前記一対の金属部それぞれが対向する端面を有する金属板と、前記金属部の端面を含む第1領域に電着法により形成されたレジスト膜をマスクとし前記金属部の上面上を含む前記第1領域以外の領域に形成された金または金合金を含む第1めっき層と、を含み、前記レジスト膜が除去されてなるリードフレームと、前記第1領域を被覆し、かつ前記リードフレームの下面の一部を露出させて前記リードフレームと一体成型された樹脂成形体と、を有し、上面側に複数の凹部を有し、前記凹部の底面において前記金属部の上面上にある前記第1めっき層が位置する第1構造体を準備する工程と、
前記凹部内において、前記底面に発光素子を配置し、前記発光素子を被覆する封止部材を配置して第2構造体を形成する工程と、
前記第2構造体を個片化し、複数の発光装置を得る工程と、を備える発光装置の製造方法。
A metal plate having a plurality of pairs of metal parts, each having an upper surface, a lower surface, and an end surface facing the pair of metal parts, and a resist film formed by an electrodeposition method in a first region including the end surfaces of the metal parts as a mask. And a first plating layer containing gold or a gold alloy formed in a region other than the first region including on the upper surface of the metal portion, the lead frame having the resist film removed, and the first frame. A resin molded body that covers the region and exposes a part of the lower surface of the lead frame and is integrally molded with the lead frame, and has a plurality of recesses on the upper surface side, Preparing a first structure in which the first plating layer is located on the upper surface of the metal part;
Arranging a light emitting element on the bottom surface in the recess, and arranging a sealing member for covering the light emitting element to form a second structure;
And a step of obtaining a plurality of light emitting devices by dividing the second structure into pieces.
前記第1構造体を準備する工程は、
前記金属板を準備する工程と、
前記金属部の端面を含む前記第1領域に電着法により前記レジスト膜を形成し、前記金属部の上面上に前記第1めっき層を形成し、前記レジスト膜を除去することにより前記リードフレームを形成する工程と、
前記リードフレームに前記樹脂成形体を形成する工程と、を含む、請求項1に記載の発光装置の製造方法。
The step of preparing the first structure includes
A step of preparing the metal plate,
The lead frame is formed by forming the resist film on the first region including the end surface of the metal part by an electrodeposition method, forming the first plating layer on the upper surface of the metal part, and removing the resist film. A step of forming
The method of manufacturing a light emitting device according to claim 1, further comprising the step of forming the resin molded body on the lead frame.
前記レジスト膜は、前記金属部の端面に加え、前記金属部の上面と端面とを接続する第1角部と、前記金属部の下面と端面とを接続する第2角部との少なくとも一方を連続して被覆する、請求項1または2に記載の発光装置の製造方法。 In addition to the end face of the metal portion, the resist film has at least one of a first corner portion connecting the top surface and the end surface of the metal portion and a second corner portion connecting the bottom surface and the end surface of the metal portion. The method for manufacturing a light emitting device according to claim 1, wherein the light emitting device is continuously coated. 前記第1構造体を準備する工程は、
前記レジスト膜を前記金属部の上面、下面、端面および角部を含む表面に配置する工程と、
前記レジスト膜を乾燥する工程と、
前記第1領域に位置する前記レジスト膜に光を当て、前記第1領域に位置する前記レジスト膜を現像液に対して不溶性にする露光工程と、
前記金属部の表面に位置する前記レジスト膜のうち、前記第1領域以外の第2領域に位置する前記レジスト膜を現像液により除去する工程と、
前記第1めっき層を形成した後に、前記第1領域に位置する前記レジスト膜を剥離液により除去する工程と、を含む請求項1〜3のいずれか1項に記載の発光装置の製造方法。
The step of preparing the first structure includes
Arranging the resist film on the upper surface, the lower surface, the end surface and the surface including the corners of the metal portion;
A step of drying the resist film,
An exposure step of irradiating the resist film located in the first region with light to make the resist film located in the first region insoluble in a developing solution;
Removing the resist film located in the second region other than the first region of the resist film located on the surface of the metal part with a developing solution;
The method for manufacturing a light emitting device according to claim 1, further comprising: after the formation of the first plating layer, removing the resist film located in the first region with a stripping solution.
前記第1構造体を準備する工程は、
前記レジスト膜を前記金属部の上面、下面、端面および角部を含む表面に配置する工程と、
前記レジスト膜を乾燥する工程と、
前記第1領域以外の第2領域に位置する前記レジスト膜に光を当て、前記第2領域に位置する前記レジスト膜を現像液に対して可溶性にする露光工程と、
前記金属部の表面に位置する前記レジスト膜のうち、前記第2領域に位置する前記レジスト膜を現像液により除去する工程と、
前記第1めっき層を形成した後に、前記第1領域に位置する前記レジスト膜を剥離液により除去する工程と、を含む、請求項1〜3のいずれか1項に記載の発光装置の製造方法。
The step of preparing the first structure includes
Arranging the resist film on the upper surface, the lower surface, the end surface and the surface including the corners of the metal portion;
A step of drying the resist film,
An exposure step of irradiating the resist film located in a second region other than the first region with light to make the resist film located in the second region soluble in a developing solution;
Removing the resist film located in the second region of the resist film located on the surface of the metal portion with a developing solution;
The method for manufacturing a light emitting device according to claim 1, further comprising: after the formation of the first plating layer, removing the resist film located in the first region with a stripping solution. ..
前記露光工程は、前記金属板の上方、下方または上方及び下方から前記レジスト膜に光を当てる工程であって、遮光用マスクを配置して光を当てる工程、又は、所定のパターニング光を照射する照射装置を用いる工程を含む、請求項4または5に記載の発光装置の製造方法。 The exposure step is a step of irradiating the resist film with light from above, below or above and below the metal plate, and a step of arranging a light-shielding mask to apply light, or irradiating a predetermined patterning light. The method for manufacturing a light-emitting device according to claim 4, further comprising the step of using an irradiation device. 前記一対の金属部の上面に垂直な方向な断面視において、
前記一対の金属部のうち、一方の金属部の上面と端面とを接続する第1角部は、前記一方の金属部の下面と端面とを接続する第2角部よりも他方の金属部に近い位置にあり、
前記露光工程は、前記金属板の下方から前記レジスト膜に光を当てるとともに、前記遮光用マスクの端部またはパターニング光の端部を前記一方の金属部の前記第1角部と前記第2角部との間に位置させる工程を含む、請求項6に記載の発光装置の製造方法。
In a sectional view perpendicular to the upper surfaces of the pair of metal parts,
Of the pair of metal portions, the first corner portion that connects the upper surface and the end surface of the one metal portion is closer to the other metal portion than the second corner portion that connects the lower surface and the end surface of the one metal portion. In a close position,
In the exposure step, light is applied to the resist film from below the metal plate, and an end portion of the light shielding mask or an end portion of patterning light is applied to the first corner portion and the second corner portion of the one metal portion. The method for manufacturing a light emitting device according to claim 6, further comprising the step of positioning the light emitting device between the light emitting device and the portion.
前記金または金合金を含む第1めっき層の厚みは、10nm以上である、請求項1〜7のいずれか1項に記載の発光装置の製造方法。 The method for manufacturing a light emitting device according to claim 1, wherein the first plating layer containing gold or a gold alloy has a thickness of 10 nm or more. 前記第1めっき層は、前記凹部の底面において前記金属部の上面の全てを被覆する、請求項1〜8のいずれか1項に記載の発光装置の製造方法。 The method for manufacturing a light emitting device according to claim 1, wherein the first plating layer covers the entire top surface of the metal portion on the bottom surface of the recess. 前記第1めっき層は、前記凹部の底面において前記金属部の上面の一部のみを被覆する、請求項1〜8のいずれか1項に記載の発光装置の製造方法。 The method for manufacturing a light emitting device according to claim 1, wherein the first plating layer covers only a part of an upper surface of the metal portion on a bottom surface of the recess. 前記発光素子は、ワイヤまたは接合部材を介して前記一対の金属部と接続され、
前記第1めっき層は、前記金属部の上面のうち前記ワイヤまたは前記接合部材が配置される配置領域のみを被覆する、請求項10に記載の発光装置の製造方法。
The light emitting element is connected to the pair of metal parts via a wire or a joining member,
The method for manufacturing a light emitting device according to claim 10, wherein the first plating layer covers only an arrangement region where the wire or the joining member is arranged on the upper surface of the metal portion.
前記金属部の上面と前記第1めっき層との間に第2めっき層をさらに有し、
前記第2めっき層は、前記第1領域を被覆する、又は、前記第1領域および前記第1領域以外の第2領域の双方を被覆する、請求項1〜11のいずれか1項に記載の発光装置の製造方法。
Further comprising a second plating layer between the upper surface of the metal part and the first plating layer,
The said 2nd plating layer covers the said 1st area|region, or covers both the said 1st area|region and the 2nd area|region other than the said 1st area|region, The any one of Claims 1-11. Manufacturing method of light emitting device.
前記第2めっき層は、銅、銅合金、ニッケル、ニッケル合金、パラジウム、パラジウム合金、ロジウムまたはロジウム合金を含む金属層を1層または複数層備える、請求項12に記載の発光装置の製造方法。 The method for manufacturing a light emitting device according to claim 12, wherein the second plating layer includes one or more metal layers including copper, copper alloy, nickel, nickel alloy, palladium, palladium alloy, rhodium or rhodium alloy. 前記第1めっき層の金または金合金の含有率は、85質量%以上である、請求項1〜13のいずれか1項に記載の発光装置の製造方法。 The method for manufacturing a light emitting device according to claim 1, wherein a content of gold or a gold alloy in the first plating layer is 85 mass% or more. 前記第1めっき層の金合金は、金銀合金、金インジウム合金、金パラジウム合金、金コバルト合金、金ニッケル合金または金銅合金である、請求項1〜14のいずれか1項に記載の発光装置の製造方法。 15. The light emitting device according to claim 1, wherein the gold alloy of the first plating layer is a gold-silver alloy, a gold indium alloy, a gold palladium alloy, a gold cobalt alloy, a gold nickel alloy or a gold copper alloy. Production method.
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