JP2020088302A - Method for manufacturing light-emitting device - Google Patents
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Abstract
Description
本開示は、発光装置の製造方法に関する。 The present disclosure relates to a method for manufacturing a light emitting device.
特許文献1には、リードフレームの最表面の全面に金めっきを施し、その後リードフレーム上に反射用樹脂部を形成して、発光装置を得る製造方法が開示されている。
特許文献2には、金属基板の表裏に感光性レジストを塗布し、めっき部材を部分的に形成して、発光装置を得る製造方法が開示されている。
しかしながら、特許文献1の発光装置の製造方法では、酸化等の耐性が高い金と反射用樹脂部との密着性が低いことに起因して、リードフレームと反射用樹脂部との密着性が低くなる可能性がある。
また、特許文献2の発光装置の製造方法では、感光性レジストを金属基板の角部または側面に確実に塗布することが難しく、例えば、感光性レジストが金属基板の角部近傍等に形成されない可能性がある。
However, in the method for manufacturing the light-emitting device of
Further, in the method for manufacturing a light emitting device of
そこで、本発明の一実施形態では、レジスト膜を所望の部位に形成し、リードフレーム(リード部)と樹脂部との密着性の低下を抑制した発光装置の製造方法を提供することを目的とする。 Therefore, it is an object of one embodiment of the present invention to provide a method for manufacturing a light-emitting device in which a resist film is formed at a desired portion to prevent a decrease in adhesion between a lead frame (lead portion) and a resin portion. To do.
本発明の一実施形態の発光装置の製造方法は、一対の金属部を複数備え、上面、下面および一対の金属部それぞれが対向する端面を有する金属板と、金属部の端面を含む第1領域に電着法により形成されたレジスト膜をマスクとし金属部の上面上を含む第1領域以外の領域に形成された金または金合金を含む第1めっき層と、を含み、レジスト膜が除去されてなるリードフレームと、第1領域を被覆し、かつリードフレームの下面の一部を露出させてリードフレームと一体成型された樹脂成形体と、を有し、上面側に複数の凹部を有し、凹部の底面において金属部の上面上にある第1めっき層が位置する第1構造体を準備する工程と、凹部内において、底面に発光素子を配置し、発光素子を被覆する封止部材を配置して第2構造体を形成する工程と、第2構造体を個片化し、複数の発光装置を得る工程と、を備える。 A method for manufacturing a light-emitting device according to an embodiment of the present invention includes a metal plate having a plurality of pairs of metal parts, an upper surface, a lower surface, and a metal plate having end faces facing each other, and a first region including end faces of the metal parts. And a first plating layer containing gold or a gold alloy formed in a region other than the first region including on the upper surface of the metal part using the resist film formed by the electrodeposition method as a mask, and the resist film is removed. And a resin molded body that covers the first region and exposes a part of the lower surface of the lead frame and is integrally molded with the lead frame, and has a plurality of recesses on the upper surface side. A step of preparing a first structure in which the first plating layer on the upper surface of the metal portion is located on the bottom surface of the recess, and a sealing member for disposing the light emitting element on the bottom surface and covering the light emitting element in the recess. The method includes the steps of arranging and forming the second structure, and dividing the second structure into pieces to obtain a plurality of light emitting devices.
本発明の一実施形態により、レジスト膜を所望の部位に形成し、リードフレーム(リード部)と樹脂部との密着性の低下を抑制した発光装置の製造方法を提供することが可能となる。 According to one embodiment of the present invention, it is possible to provide a method for manufacturing a light-emitting device in which a resist film is formed at a desired portion and a decrease in adhesion between a lead frame (lead portion) and a resin portion is suppressed.
以下、図面を参照しながら、本開示の実施形態を詳細に説明する。以下の実施形態は、例示であり、本開示による発光装置の製造方法は、以下の実施形態に限られない。例えば、以下の実施形態で示される数値、形状、材料などは、あくまでも一例であり、技術的に矛盾が生じない限りにおいて種々の改変が可能である。 Hereinafter, embodiments of the present disclosure will be described in detail with reference to the drawings. The following embodiments are examples, and the method for manufacturing the light emitting device according to the present disclosure is not limited to the following embodiments. For example, the numerical values, shapes, materials, etc. shown in the following embodiments are merely examples, and various modifications are possible as long as there is no technical contradiction.
図面が示す構成要素の寸法、形状等は、わかり易さのために誇張されている場合があり、実際のリードフレームや発光装置等における、寸法、形状および構成要素間の大小関係を反映していない場合がある。また、図面が過度に複雑になることを避けるために、一部の要素の図示を省略することがある。 The dimensions, shapes, etc. of the components shown in the drawings may be exaggerated for the sake of clarity, and do not reflect the dimensions, shapes, and size relationships between the components in actual lead frames, light-emitting devices, etc. There are cases. Further, in order to avoid making the drawings excessively complicated, some of the elements may not be shown.
以下の説明において、実質的に同じ機能を有する構成要素は共通の参照符号で示し、説明を省略することがある。以下の説明では、特定の方向または位置を示す用語(例えば、「上」、「下」およびそれらの用語を含む別の用語)を用いる場合がある。しかしながら、それらの用語は、参照した図面における相対的な方向または位置をわかり易さのために用いているに過ぎない。参照した図面における「上」、「下」等の用語による相対的な方向または位置の関係が同一であれば、本開示以外の図面、実際の製品、製造装置等において、参照した図面と同一の配置でなくてもよい。 In the following description, components having substantially the same function are designated by common reference numerals, and description thereof may be omitted. In the following description, a term indicating a specific direction or position (for example, “upper”, “lower” and another term including those terms) may be used. However, those terms are only used for the sake of clarity in terms of relative orientation or position in the referenced figures. In the drawings other than the present disclosure, the actual product, the manufacturing apparatus, etc., the same as the referenced drawings, as long as the relative directions or positions in terms of “upper”, “lower”, etc. in the referenced drawings are the same. It does not have to be arranged.
本明細書において、金属部およびリード部等の用語は、個片化する前と後で同じ用語を用いることがある。 In the present specification, the terms such as the metal portion and the lead portion may be the same as those used before and after being divided into individual pieces.
本開示の実施形態に係る発光装置100の製造方法は、第1構造体50を準備する工程と、第2構造体60を形成する工程と、第2構造体60を個片化し、複数の発光装置100を得る工程とを備える。第1構造体50を準備する工程は、(A)金属板30を準備する工程と、(B)所望の領域に金または金合金を含む第1めっき層5が形成されたリードフレーム40を形成する工程と、(C)リードフレーム40に樹脂成形体8を形成する工程と、を含む。
図1A〜図5Dを参照して、各工程について詳細に説明する。
The method for manufacturing the
Each step will be described in detail with reference to FIGS. 1A to 5D.
[(A)金属板30を準備する工程]
まず、一対の金属部35を複数備え、上面30a、下面30bおよび一対の金属部35それぞれが対向する端面35cを有する金属板30を準備する。金属板30は、予め製造された金属板30を購入して準備してもよく、銅、銅合金又はニッケル合金からなる平板状の板材にエッチング加工またはプレス加工等を施すことにより製造して準備してもよい。図1Aは金属板30を上面側から見たときの模式的上面図であり、図1Bは図1A中の破線部を拡大した部分拡大図(二対の金属部35を示す)であり、図1Cは図1B中の1C−1C線における模式的端面図である。本明細書において、端面35cとは、一対の金属部35それぞれが対向する面であって、上面35aと下面35bとの間にある面をいう。
[(A) Step of Preparing Metal Plate 30]
First, a
図1Cで示す金属部35は、金属部35の上面35aと端面35cとを接続する第1角部C1と、金属部35の下面35bと端面35cとを接続する第2角部C2とを有する。本明細書において、角部は角の一部に曲面を有していても良い。一対の金属部35のうち一方の金属部35において、第1角部C1は第2角部C2よりも他方の金属部35に近い位置にある。また、金属部35の端面35cは、第1角部C1および第2角部C2よりも他方の金属部35に近い位置にある凸部Pを有している。端面35cが凸部Pを備えることで、端面35cが上面35aに対して垂直である場合に比べて、端面35cの表面積を容易に増加させることができ、後述する樹脂成形体8との密着強度を向上させることができる。
The
また、図1Bで示すように、金属部35は上面35aに溝13または貫通孔を有することができる。これにより、溝13または貫通孔内に樹脂成形体8を入り込ませることで、一対の金属部35(一対のリード部36となる部分)と樹脂成形体8とを強固に固定することができる。溝13や貫通孔を形成する工程は、一対の金属部35を形成する工程と同じ工程で行ってもよく、別の工程で行ってもよい。
Further, as shown in FIG. 1B, the
[(B)リードフレーム40を形成する工程]
次に、電着法により金属部35の端面35cを含む第1領域Xにレジスト膜7を形成する。図2Aは、図1B中の2A−2A線における模式的端面図であり、第1領域Xにレジスト膜7が形成された後の金属部35を示す。図2Aでは、レジスト膜7は、端面35cの上側に位置する領域とその領域と連続する上面35aの一部とを連続して被覆している。また、端面35cの反対側に位置する端面35dの上側に位置する領域と、上面35aの一部とを被覆している。レジスト膜7は、端面35cの一部を被覆してもよく、端面35cの全面を被覆してもよい。また、レジスト膜7は、金属部35の端面35cに加え、金属部35の上面35aと端面35cとを接続する第1角部C1と、金属部35の下面35bと端面35cとを接続する第2角部C2との少なくとも一方を連続して被覆することが好ましい。これにより、レジスト膜7を除去した後において、該領域には金または金合金を含む第1めっき層5が形成されないため、後述する樹脂成形体8との密着強度を向上させることができる。
[(B) Step of forming lead frame 40]
Next, the resist film 7 is formed in the first region X including the
金属部35の第1領域Xにレジスト膜7を形成する工程は、例えば、以下の工程を含む。
The step of forming the resist film 7 in the first region X of the
[(B-1)電着法によるレジスト膜7の形成工程]
まず、荷電粒子となる物質(例えば、アクリル)およびレジスト膜7となる物質を含む水溶液中に金属板30を浸漬し、電気を印加する。この浸漬工程は、例えば、電圧100V〜250Vで浸漬時間10秒〜30秒の条件で行われ、好適には電圧150V〜200Vで浸漬時間10秒〜20秒の条件で行われる。これにより、図2Bで示すように、金属部35の上面35a、下面35b、端面35cおよび角部を含む表面にレジスト膜7が形成される。図2Bでは、分かりやすさのためレジスト膜7のハッチングは省略している。レジスト膜7となる物質は、好適には感光性のフォトレジスト材料が用いられる。レジスト膜7としてフォトレジスト材料を用いることで、所望の領域に光を当て、不要な部分を現像液により除去することにより、レジスト膜7を精度良く加工することができる。
[(B-1) Step of forming resist film 7 by electrodeposition method]
First, the
[(B-2)レジスト膜7の乾燥工程]
次に、水溶液から金属板30を取り出した後、レジスト膜7に熱を加える乾燥工程を行う。レジスト膜7が形成された金属板30に対して、例えば、60℃〜100℃で45秒〜90秒、好適には60℃〜80℃で60秒〜90秒間熱を加える。これにより、金属板30の表面において、厚みのばらつきが少ないレジスト膜7を形成することができる。また、乾燥工程を行うことで、レジスト膜7となる成分が金属部35の角部近傍にも効果的に付着し、レジスト膜7が金属部35の角部を被覆しやすくなる。
[(B-2) Drying Step of Resist Film 7]
Next, after taking out the
レジスト膜7を塗布により形成する従来の方法では、レジスト膜7が金属部35の角部および/または端面を確実に被覆することは難しい。しかし、本開示の発光装置の製造方法においては、電着法によりレジスト膜7を形成することで、角部および端面35cを含む金属部35の所望の領域にレジスト膜7を容易に形成することができる。
With the conventional method of forming the resist film 7 by coating, it is difficult for the resist film 7 to reliably cover the corners and/or end faces of the
また、従来の塗布による形成方法では、金属部35の角部に形成されるレジスト膜7の厚みは、金属部35の上面35aおよび下面35bに形成されるレジスト膜の厚みに比べて薄くなる傾向がある。しかし、本開示の発光装置の製造方法では、電着法によりレジスト膜7を形成することで、金属部35の角部に形成されるレジスト膜7の厚みと、金属部35の上面35aおよび下面35bに形成されるレジスト膜の厚みとのばらつきを低減することができる。これにより、金または金合金を含む第1めっき層が金属部35の角部に意図せず形成されることを抑制することができる。金属部35の上面35aに形成されるレジスト膜の厚みh1と、金属部35の第1角部C1または第2角部C2に形成されるレジスト膜7の厚みh2との差は、例えば0μm〜30μmであり、0μm〜5μmであることが好ましい。これにより、後述する露光工程において、レジスト膜7が十分に硬化しない可能性を低減することができる。また、後述するレジスト膜7を除去または剥離する工程において、除去または剥離を容易に行うことができる。なお、金属部35の第1角部C1または第2角部C2に形成されるレジスト膜7の厚みh2は、金属部35の第1角部C1または第2角部C2とレジスト膜7の角部RCとの間の距離を指す。
In the conventional coating method, the thickness of the resist film 7 formed at the corners of the
金属板30の表面に形成されるレジスト膜7の厚みは、例えば20μm以下であり、10μm以下であることが好ましい。レジスト膜7の厚みを20μm以下にすることで、レジスト膜7の膜厚のばらつきを効果的に抑制することができる。また、レジスト膜7の厚みを20μm以下にすることで、レジスト膜7を除去または剥離する工程において、除去または剥離を容易に行うことができる。なお、レジスト膜7の厚みは、20μmよりも大きくてもよい。
The resist film 7 formed on the surface of the
[(B-3)第1領域X以外のレジスト膜7を除去する工程]
次に、第1領域Xに形成されたレジスト膜7以外のレジスト膜7を除去する。この工程は、例えば、金属部35の表面のうち所望の領域に光を当てる露光工程と、不要な部分を現像液により除去する工程(現像工程)とを含む。
[(B-3) Step of removing the resist film 7 other than the first region X]
Next, the resist film 7 other than the resist film 7 formed in the first region X is removed. This step includes, for example, an exposure step of irradiating a desired region on the surface of the
レジスト膜7としてネガ型のフォトレジスト材料を用いる場合は、金属板30の上方、下方または上方及び下方から第1領域Xに位置するレジスト膜7に光を当て、第1領域Xに位置するレジスト膜7を現像液に対して不溶性にする露光工程を行う。次に、金属板30を現像液に浸漬または現像液を金属板30の表面にスプレー等で噴射する。これにより、金属部35の表面に位置するレジスト膜7のうち、第1領域X以外の第2領域Yに位置するレジスト膜7が現像液により除去される。なお、レジスト膜7と金属部35との密着力を向上させるため、現像工程の後に加熱処理を行ってもよい。これらの工程を経ることにより、図2Aで示すように、金属部35の表面のうち第1領域Xにのみレジスト膜7が形成された金属板30を形成することができる。
When a negative photoresist material is used as the resist film 7, the resist film 7 located in the first region X is exposed to light from above, below, or above and below the
また、レジスト膜7としてポジ型のフォトレジスト材料を用いる場合は、金属板30の上方、下方または上方及び下方から第1領域X以外の第2領域Yに位置するレジスト膜7に光を当て、第2領域Yに位置するレジスト膜7を現像液に対して可溶性にする露光工程を行う。次に、金属板30を現像液に浸漬または現像液を金属板30の表面に噴射等する。これにより、金属部35の表面に位置するレジスト膜7のうち、第2領域Yに位置するレジスト膜7が現像液により除去される。なお、レジスト膜7と金属部35との密着力を向上させるため、現像工程の後に加熱処理を行ってもよい。これらの工程を経ることにより、図2Aで示すように、金属部35の表面のうち第1領域Xにのみレジスト膜7が形成された金属板30を形成することができる。
When a positive photoresist material is used as the resist film 7, light is applied to the resist film 7 located in the second region Y other than the first region X from above, below, or above and below the
露光工程は、例えば遮光用マスクを配置して光を当てることにより行うことができる。図2Cにおいて、ネガ型のフォトレジスト材料を用い、遮光用マスクMSを用いた場合の露光工程を示す。図2Cは、金属部35の上面に対して垂直な方向における模式的端面図である。図2Cでは、第1角部C1は第2角部C2よりも外側にある。遮光用マスクは洗浄することにより、繰り返し使用することができる。なお、露光工程は、その他に所定のパターニング光を照射する照射装置を用いることにより行うことができる。照射装置としては、例えば、マスクレス露光装置、ダイレクトイメージング装置または直描露光装置を用いることができる。
The exposure step can be performed, for example, by disposing a light-shielding mask and applying light. FIG. 2C shows an exposure process when a negative photoresist material is used and a light shielding mask MS is used. FIG. 2C is a schematic end view in a direction perpendicular to the upper surface of the
露光工程を含むレジスト膜7を除去する工程(B-3)では、金属部35の下面全面に位置するレジスト膜7を除去することが好ましい。これにより、後述する第1めっき層5を形成する工程(B-4)において、金属部35の下面全面に第1めっき層5を形成することができる。その結果、個片化後の発光装置100の下面において、酸化または硫化が起きにくい第1めっき層5が配置することになる。その結果、例えば、発光装置100を半田等の接合部材を介して実装基板に実装する際に、発光装置100と接合部材との接合強度が経時的に低下していくことを抑制することができる。
In the step (B-3) of removing the resist film 7 including the exposure step, it is preferable to remove the resist film 7 located on the entire lower surface of the
金属部35の下面全面に位置するレジスト膜7を除去する方法として、例えば図2Cで示す露光工程を行う。具体的には、金属板30の下方からレジスト膜7に光を当てる際に、金属部35の下面を覆うように遮光用マスクMSを配置し、さらに遮光用マスクMSの端部Eを金属部35の第1角部C1と第2角部C2との間に位置させて露光を行う。これにより、金属部35の下面35bおよび下面35bと連続する端面35cの一部に光が当たることが抑制され、その領域に位置するレジスト膜が現像液に対して不溶性になることを抑制することができる。その結果、金属部35の下面35bおよび下面35bと連続する端面35cの一部に位置するレジスト膜7は現像液により容易に除去される。また、端面35cの反対側に位置する金属部35の端面35dにおいても、同様にすることができる。また、露光工程において、所定のパターニング光を照射する照射装置を用いる場合は、パターニング光の端部を金属部35の第1角部C1と第2角部C2との間に位置させ、その端部から外側(第1角部C1側)を照射するように露光を行う
As a method of removing the resist film 7 located on the entire lower surface of the
また、ポジ型のフォトレジスト材料を用いた場合は、図2Dで示すように、金属部35の下面35bおよび下面35bと連続する端面35cの一部に光が当たるように、遮光用マスクMSの端部Eまたは照射装置のパターニング光の端部を金属部35の第1角部C1と第2角部C2との間に位置させて行う。これにより、金属部35の下面35bおよび下面35bと連続する端面35cの一部に位置するレジスト膜7は現像液に対して可溶性になる。その結果、その領域に位置するレジスト膜7は現像液により容易に除去される。
Further, when a positive photoresist material is used, as shown in FIG. 2D, the lower surface 35b of the
なお、金属部35の下面35bにおいて、レジスト膜7を除去しない、または、レジスト膜7の一部のみを除去してもよい。レジスト膜7の一部のみを除去する場合、例えば、下面35bの幾何中心を含む中央領域に位置するレジスト膜7を除去し、下面35bの縁部に位置するレジスト膜7を残すことができる。また、下面35bの縁部に位置するレジスト膜7を除去し、下面35bの幾何中心を含む中央領域に位置するレジスト膜7を残すこともできる。これにより、金属部35の下面において、金属部35の表面が位置する、または、後述する第2めっき層6が位置することになり、第1めっき層5が位置する場合に比べてコストを低減することができる。
The resist film 7 may not be removed on the lower surface 35b of the
[(B-4)第1めっき層5を形成する工程]
次に、第1領域Xにレジスト膜7が形成された金属板30に、めっき法により金または金合金を含む第1めっき層5を形成する。第1めっき層5は、部分めっき層である。めっき法は、電解めっき法または無電解めっき法を用いることができる。図2Eで示すように、第1めっき層5は、少なくとも金属部35の上面35a上に形成される。この場合の上面または上面上に形成されるとは、上面に直接形成される場合と、他のめっき層を介して上方に間接的に形成される場合の双方を含む。換言すると、第1めっき層5は、金属部35の上面35aと直接接していてもよく、金属部35の上方に位置し金属部35の上面35aと直接接していなくてもよい。第1めっき層5と金属部35の上面35aとの間には第2めっき層6が位置する場合、第1めっき層5は第2めっき層6を介して金属部35の上方に位置する。
[(B-4) Step of forming first plating layer 5]
Next, the
図2Eで示す第1めっき層5は、金属部35の上面35a側、下面35b側、端面35c側および端面35cの反対側に位置する端面35d側に形成されている。金属部35の表面に金または金合金を含む第1めっき層5が形成されることで、第1めっき層5が形成された金属部35の表面が酸化または硫化することを抑制することができる。第1めっき層5の厚みは、例えば、10nm以上であり、20nm以上であることが好ましく、25nm以上であることがより好ましい。これにより、例えば、第1めっき層5上に発光素子10を実装する工程やワイヤの一端を接続する工程を容易に行うことができる。
The
第1めっき層5の金または金合金の含有率は、例えば、85質量%以上であり、90質量%以上が好ましい。これにより、例えば、第1めっき層5上に発光素子10を実装する工程やワイヤの一端を接続する工程を容易に行うことができる。また、第1めっき層5が金合金である場合、金合金は、金銀合金、金インジウム合金、金パラジウム合金、金コバルト合金、金ニッケル合金または金銅合金を用いることができる。
The gold or gold alloy content of the
[(B-5)第1領域Xに位置するレジスト膜7を除去する工程]
次に、第1領域Xに位置するレジスト膜7を剥離液により除去する。レジスト膜7の表面に第1めっき層5が形成されている場合は、レジスト膜7と、レジスト膜7の表面に形成されている第1めっき層5とは同時に除去されうる。以上の工程を経ることにより、図2Fで示すように、第1めっき層5が形成されていない第1領域Xと、第1めっき層5が形成されている第2領域Yとを備えるリード部36を有するリードフレーム40を形成することができる。以降の説明では、第1めっき層5を備える金属板30をリードフレーム40とし、第1めっき層5を備える金属部35をリード部36として説明する。
[(B-5) Step of removing resist film 7 located in first region X]
Next, the resist film 7 located in the first region X is removed with a stripping solution. When the
[(B-6)第2めっき層6を形成する工程]
リードフレーム40を形成する工程は、第1めっき層5を形成する工程(B-4)の前に、金属部35の表面に第2めっき層6を形成する工程を含むことが好ましい。第2めっき層6は、電解めっき法または無電解めっき法により形成することができる。第2めっき層6は、第1領域Xを被覆する、又は、第1領域Xおよび第2領域Yの双方を被覆することができる。第2めっき層6が金属部35の表面に位置することで、銅合金等からなる金属板30の表面が外部に露出し、その表面が酸化等することを抑制することができる。また、金属板30の銅等の成分が最表層となる第1めっき層5の表面に析出する可能性を低減することができる。その結果、例えば、発光素子10の電極と第1めっき層5とをワイヤ等(ワイヤまたは接合部材を含む)で接続する際に、第1めっき層5とワイヤ等との接続強度が低下することを抑制することができる。なお、第2めっき層6は、金属部35の全面に形成してもよく、金属部35の表面のうち一部のみに形成してもよい。リードフレーム40が第1めっき層5および第2めっき層6を有する場合、第1めっき層5は最表層となり、第2めっき層6は中間層または下地層とすることができる。
[(B-6) Step of forming second plating layer 6]
The step of forming the lead frame 40 preferably includes the step of forming the
第2めっき層6は、例えば、銅、銅合金、ニッケル、ニッケル合金、パラジウム、パラジウム合金、ロジウムまたはロジウム合金を含む金属層を1層または複数層備える。第2めっき層6は、金または金合金を実質的に含まない。金または金合金を実質的に含まないとは、金または金合金が不可避的に混入することを排除しないことを意味し、金または金合金の含有率は例えば0.05質量%以下である。第2めっき層6が複数層である場合、第2めっき層6は、例えば、金属部35側から順に、ニッケルまたはニッケル合金を含む金属層と、パラジウム、パラジウム合金、ロジウムまたはロジウム合金を含む金属層とを備える構成とすることができる。なお、めっき法により形成される第2めっき層6の代わりに、スパッタ、導電性ペーストまたは蒸着等により形成される金属層を用いることができる。金属層は、第2めっき層6で挙げた材料を用いることができる。
The
第2めっき層6を形成する工程(B-6)は、例えば、金属板30を準備する工程(A)の後であってリードフレーム40を形成する工程(B)の前、または、第1領域X以外のレジスト膜7を除去する工程(B-3)の後であって第1めっき層5を形成する工程(B-4)の前に行うことができる。第2めっき層6が複数層である場合、各層を形成する工程のタイミングは、上記の2つの工程間のうち一方の工程間に全て行ってもよく、2つの工程間に分けて別々に行ってもよい。例えば、第2めっき層6がニッケル等を含む金属層とパラジウム等を含む金属層を備える場合は、工程(A)と工程(B)の間にニッケル等を含む金属層とパラジウム等を含む金属層とを形成してもよく、工程(B−3)と工程(B−4)の間にニッケル等を含む金属層とパラジウム等を含む金属層とを形成してもよく、工程(A)と工程(B)の間にニッケル等を含む金属層を形成し、工程(B−3)と工程(B−4)の間にパラジウム等を含む金属層を形成してもよい。
The step (B-6) of forming the
図2Gにおいて、第1めっき層5および第2めっき層6を備えたリード部36の一例を示す。図2Gで示す第2めっき層6は、下層金属層6aと上層金属層6bとを含んでいる。第2めっき層6のうち下層金属層6aは、例えば工程(A)と工程(B)の間に形成され、第1領域Xおよび第2領域Yの双方を被覆する。また、上層金属層6bは、例えば工程(B−3)と工程(B−4)の間に形成され、第2領域Yを被覆する。下層金属層6aが金属部35の第1領域Xおよび第2領域Yの双方を被覆することで、金属部35の表面が外部に露出することを抑制することができ、その表面が酸化等することを抑制することができる。また、上層金属層6bが金属部35の第2領域Yを被覆することで、金属部35の銅等の成分が最表層となる第1めっき層5の表面に析出する可能性を低減することができる。
FIG. 2G shows an example of the
第1めっき層5の厚みは、金属板30の上面30a側と下面30b側とで同じ厚みでもよく、金属板30の上面30a側の厚みが金属板30の下面30b側の厚みよりも厚くてもよく、金属板30の上面30a側の厚みが金属板30の下面30b側の厚みよりも薄くてもよい。例えば、電解めっき法において、金属板30の上面30a側と下面30b側とで、それぞれの陰極電流密度分布を異ならせるように陽極と陰極との間に異なる大きさの遮蔽板を配置することによって、上面30a側と下面30b側とで厚みが異なる第1めっき層5を容易にかつ同時に形成することができる。金属板30の上面30a側に位置する第1めっき層5の厚みが下面30b側に位置する第1めっき層5の厚みよりも厚い場合は、上面30a側に位置する第1めっき層5の平坦度が向上するため、発光素子10から出射される光を効率的に上側に反射させることができる。また、金属板30の上面30a側に位置する第1めっき層5の厚みが下面30b側に位置する第1めっき層5の厚みよりも薄い場合は、接合部材を介して発光装置100を実装基板に実装する際に、発光装置100と接合部材との接合強度を向上させることができる。
The thickness of the
また、第2めっき層6の厚みは、金属板30の上面30a側と下面30b側とで同じ厚みでもよく、金属板30の上面30a側の厚みが金属板30の下面30b側の厚みよりも厚くてもよく、金属板30の上面30a側の厚みが金属板30の下面30b側の厚みよりも薄くてもよい。例えば、電解めっき法において、金属板30の上面30a側と下面30b側とで電流密度を異ならせることで、上面30a側と下面30b側とで厚みが異なる第2めっき層6を容易にかつ同時に形成することができる。金属板30の上面30a側に位置する第2めっき層6の厚みが下面30b側に位置する第2めっき層6の厚みよりも厚い場合は、上面30a側に位置する第1めっき層5および第2めっき層6の平坦度が向上するため、発光素子10から出射される光を効率的に上側に反射させることができる。。金属板30の上面30a側に位置する第2めっき層6の厚みが下面30b側に位置する第2めっき層6の厚みよりも薄い場合は、接合部材を介して発光装置100を実装基板に実装する際に、発光装置100と接合部材との接合強度を向上させることができる。なお、第2めっき層6が複数層である場合、上記の第2めっき層6の厚みは、各層の厚みとしてもよく、複数層の合計の厚みとしてもよい。
The
[(C)樹脂成形体8を形成する工程]
次に、リードフレーム40に樹脂成形体8を一体成型する。この工程を経ることにより、リードフレーム40と樹脂成形体8とを備え、上面側に複数の凹部2を有する第1構造体50(樹脂成形体付リードフレーム)を準備することができる。図3Aは図2Gで説明したリード部36を有するリードフレーム40を用いた場合の第1構造体50の模式的端面図である。また、図3Bは図3A中の破線部を拡大した部分拡大図である。第1構造体50は、複数のパッケージ領域1を備え、凹部2は各パッケージ領域1に形成されている。第1構造体50は、例えば、リードフレーム40を、樹脂成型金型のキャビティー内に一対のリード部36を所定の位置に支持した状態で、樹脂成型金型内に配置する。そして、キャビティー内に樹脂成形体8となる樹脂材料を注入して固体化させる。以上のようにして、各パッケージ領域1の樹脂部8aが一体に形成された樹脂成形体8を含む第1構造体50を準備することができる。樹脂成形体8の形成は、例えば、トランスファモールド法や射出成形法などによって行うことができる。
[(C) Step of forming resin molded body 8]
Next, the resin molded
凹部2の底面において、一対のリード部36の上面が位置し、金属部35の上面上にある第1めっき層5が位置する。第1めっき層5は酸化や硫化等が起きにくい金属層であるため、第1めっき層5が形成された金属部35の表面が酸化または硫化することを抑制することができる。また、例えば、発光素子10の電極と接続するワイヤ等の一端を第1めっき層5に接続する場合に、第1めっき層5は酸化や硫化等が起きにくいため、第1めっき層5とワイヤ等との接続強度の低下を抑制することができる。また、ワイヤ等を金または金合金を含む材料にすることで、第1めっき層5とワイヤ等との接続強度をさらに向上させることができる。
On the bottom surface of the recessed
樹脂成形体8は、リード部36の第1領域Xを被覆する。図3Bで示すリード部36は、第1領域Xに下層金属層6aが位置するため、樹脂成形体8は第1領域Xに位置する下層金属層6aと接している。第1領域Xには第1めっき層5が形成されていないため、樹脂成形体8と第1領域Xに位置する一対のリード部36との密着強度が良好となる。これにより、樹脂成形体8と一対のリード部36との密着強度の低下を効果的に抑制することができる。その結果、例えば、後述する凹部2内に配置される封止部材9が、リード部36の端面35cと樹脂成形体8との界面を通って、リード部36の上面側から下面側に向かって漏れ出る可能性を低減することができる。また、個片化後の発光装置100を半田等の接合部材を介して実装基板に実装する場合に、半田等の接合部材が、リード部36の端面35cと樹脂成形体8との界面を通って、凹部2内に入り込む可能性を低減することができる。
The resin molded
樹脂成形体8は、リードフレーム40の下面の一部を露出させる。これにより、個片化後の発光装置100において、凹部2の底面に配置される発光素子10から発生する熱を、下面側から効率的に放出することができる。一方で、リードフレーム40の下面が樹脂成形体8から露出することで、個片化後の発光装置100において、凹部2内に配置される封止部材9が下面側に漏れ出たり、半田等の接合部材が凹部2内に入り込む可能性がある。しかし、本開示の発光装置の製造方法では、第1めっき層5が形成されない第1領域Xを設け、第1領域Xを樹脂成形体8で被覆することで、樹脂成形体8と一対のリード部36との密着強度が良好となる。その結果、個片化後の発光装置100において、封止部材9が下面側に漏れ出たりする等の問題が起きる可能性を低減することができる。また、図3Aでは、第1構造体50の下面において、リードフレーム40の下面と樹脂成形体8の下面とは略同一面に形成されている。高さ方向において、リードフレーム40の下面と、樹脂成形体8の下面との高低差は、例えば±10μm以下である。
The resin molded
なお、第1構造体50を準備するとは、第1構造体50を製造して準備する場合と、予め製造された第1構造体50を購入して準備する場合の双方を含む。 In addition, preparing the 1st structure 50 includes both the case of manufacturing and preparing the 1st structure 50, and the case of purchasing and preparing the 1st structure 50 manufactured beforehand.
[(D)第2構造体60を形成する工程]
次に、第1構造体50の凹部2の底面に発光素子10を配置する。図4Aで示すように、発光素子10は、例えば、一の面に正負の電極(図示せず)を有し、凹部2の底面に露出した一対のリード部36の上面に配置される。そして、発光素子10の正負の電極と一対のリード部36とはワイヤ4により接続される。なお、発光素子10は、一の面に正負の電極を有し、正負の電極と一対のリード部36の上面とを対向させて、導電性の接合部材を介して一対のリード部36の上面上に配置することもできる。
[(D) Step of Forming Second Structure 60]
Next, the
第1めっき層5は、リード部36の上面のうちワイヤ4または接合部材が配置される配置領域Dを少なくとも被覆することが好ましい。第1めっき層5は酸化または硫化が起きにくい金属層であるため、ワイヤ4または接合部材の接続強度または接合強度が向上する。また、第1めっき層5は、図4Bで示すように、リード部36の上面のうちワイヤ4または接合部材が配置される配置領域Dのみを被覆していてもよい。これにより、使用する第1めっき層5の体積が減るため、発光装置100のコストを抑えつつ、ワイヤ4または接合部材の接続強度または接合強度を向上させることができる。なお、ワイヤ4を用いる場合の配置領域Dとは、ワイヤ4の断面積(ワイヤ径に対する断面積)に対して80倍〜400倍の領域であり、150倍〜200倍の領域であることが好ましい。また、接合部材を用いる場合の配置領域Dとは、例えば、接合部材の平面積に対して、10倍〜50倍の領域であり、20倍〜25倍の領域であることが好ましい。
The
次に、発光素子10を被覆するように凹部2内に封止部材9を配置する。封止部材9は、蛍光体および/または光拡散材を含有することができる。封止部材9は、例えば、母材となる樹脂材料に蛍光体および/または光拡散材を含有させた混合材料を、ディスペンサー等により凹部2内に吐出することにより配置することができる。その後、硬化工程を経ることにより封止部材9を形成することができる。なお、混合材料を凹部2内に配置した後であって硬化工程を行う前に、沈降工程を行ってもよい。沈降工程を行うことで、蛍光体等を凹部2の底面側に偏在させることができるため、個片化後の発光装置100の色むらを効果的に低減させることができる。
Next, the sealing member 9 is arranged in the
[(E)複数の発光装置100を得る工程]
最後に、第2構造体60を個片化し、複数の発光装置100を得る。個片化の方法としては、例えば、リードカット金型、ダイシングソー又はレーザー光を用いて個片化することができる。これにより、図5A、図5Bおよび図5Cで示す発光装置100を得ることができる。図5Aは一の実施形態に係る発光装置100の模式的端面図であり、図5Bは一の実施形態に係る発光装置100の模式的斜視図であり、図5Cは図5B中の破線部を拡大した部分拡大図である。また、図5Dは、一対のリード部36のみを上から見たときの模式的上面図であり、第1めっき層5が形成されている領域にハッチングを施している。
[(E) Step of obtaining a plurality of light emitting devices 100]
Finally, the
図5Aで示すように、発光装置100は、外側面においてリード部36と樹脂部8aとが同一面になることが好ましい。発光装置100の外側面において、リード部36が樹脂部8aよりも外側に延出しないことで、占有面積の小さい小型の発光装置100を提供することができる。なお、リード部36は、発光装置100の外側面において、樹脂部8aよりも外側に延出していてもよい。これにより、発光素子10が発する熱を効率的に外側に放出することができる。
As shown in FIG. 5A, in the
また、図5Aおよび図5Cで示すように、発光装置100の外側面において、リード部36と樹脂部8aとの間に第1めっき層5が位置しないことが好ましい。これにより、発光装置100の外側面において、樹脂部8aとリード部36との密着性が良好となり、外側面にある樹脂部8aとリード部36との界面から水分等が入り込むことを効果的に抑制することができる。図5Cでは、発光装置100の外側面において、金属部35と金属部35を被覆する下層金属層6a(例えば、ニッケルまたはニッケル合金を含む金属層)とが樹脂部8aから露出している。
Further, as shown in FIGS. 5A and 5C, it is preferable that the
また、発光装置100は、図5Aで示すように、リード部36の他のリード部36と対向する端面36cに第1めっき層5が形成されない領域を有する。これにより、凹部2内に配置された封止部材9が、リード部36の端面36cと樹脂部8aとの界面を通り、リード部36の下面側に漏れ出る可能性を低減することができる。図5Aで示す発光装置100では、第1めっき層5は端面36cの上面側に形成されていない。これにより、リード部36の端面36cと樹脂部8aとの界面のうち、封止部材9と接する部分に第1めっき層5が形成されていないため、封止部材9が凹部2から外側に漏れ出る可能性を低減することができる。端面36cのうち第1めっき層5が形成されない領域は、全面でもよく、一部でもよい。
Further, as shown in FIG. 5A, the
発光装置100は、図5Aで示すように、リード部36の端面36cと端面36cと連続する上面とを含む連続領域Sに第1めっき層5が形成されないことが好ましい。これにより、連続領域Sのうち上面側の領域は封止部材9と良好に密着し、連続領域Sのうち端面側の領域は樹脂部8aと良好に密着する。その結果、封止部材9が凹部2から外側に漏れ出る可能性を効果的に低減することができる。なお、第1めっき層5が形成されない連続領域Sは、一方のリード部36から他方のリード部36に向かう方向と垂直な方向において、リード部36の端面側の全ての領域に位置していてもよく、図5Dで示すようにリード部36の端面側の一部の領域にのみ位置していてもよい。
In the
以下、本発明の発光装置100の製造方法に用いられる各部材について説明する。
Hereinafter, each member used in the method for manufacturing the
(金属板30、一対の金属部35)
金属板30および一対の金属部35の材料は、例えば、銅、アルミニウム、銀、鉄、ニッケル、又はこれらの合金を用いることができる。金属板30および一対の金属部35は、金または金合金を実質的に含まない。金または金合金を実質的に含まないとは、金または金合金が不可避的に混入することを排除しないことを意味し、金または金合金の含有率は例えば0.05質量%以下である。これらは単層であってもよいし、積層構造(例えば、クラッド材)であってもよい。特に、金属板30および一対の金属部35の材料として、安価で放熱性が高い銅または銅合金を好適に用いることができる。金属板30の厚みや形状は、発光装置100の厚みや形状等に応じて種々選択することができる。金属板30は、平板状でもよく、一部が折れ曲がった形状でもよく、一部が厚いまたは一部が薄い形状であってもよい。
(
As a material of the
金属板30は、一対の金属部35を複数備える。金属板30は、一つのパッケージ領域1において、一対の金属部35以外に他の金属部を備えることができる。他の金属部は、放熱部材として機能してもよく、一対の金属部35と同様に電極として機能してもよい。
The
(樹脂成形体8、樹脂部8a)
樹脂成形体8および樹脂部8aは、母材となる樹脂材料として、熱硬化性樹脂や熱可塑性樹脂などを用いることができる。具体的には、エポキシ樹脂組成物、シリコーン樹脂組成物、シリコーン変性エポキシ樹脂などの変性エポキシ樹脂組成物、エポキシ変性シリコーン樹脂などの変性シリコーン樹脂組成物、変成シリコーン樹脂組成物、不飽和ポリエステル樹脂、飽和ポリエステル樹脂、ポリイミド樹脂組成物、変性ポリイミド樹脂組成物、ポリフタルアミド(PPA)、ポリカーボネート樹脂、ポリフェニレンサルファイド(PPS)、液晶ポリマー(LCP)、ABS樹脂、フェノール樹脂、アクリル樹脂、PBT樹脂等の樹脂を用いることができる。特に、樹脂成形体8および樹脂部8aの樹脂材料として、耐熱性および耐光性に優れたエポキシ樹脂組成物やシリコーン樹脂組成物を用いることが好ましい。
(Resin molded
For the resin molded
樹脂成形体8および樹脂部8aは、上記の母材となる樹脂材料に、光反射性物質を含有することが好ましい。光反射性物質としては、発光素子10からの光を吸収しにくく、且つ、母材となる樹脂材料に対して屈折率差の大きい部材を用いることが好ましい。このような光反射性物質は、例えば、酸化チタン、酸化亜鉛、酸化ケイ素、酸化ジルコニウム、酸化アルミニウム、窒化アルミニウム等である。
It is preferable that the resin molded
また、樹脂成形体8および樹脂部8aは、発光装置100のコントラストを向上させるために、発光装置100の外光(多くの場合、太陽光)に対して光反射率が低い充填剤を含有してもよい。この場合、樹脂成形体8および樹脂部8aは、例えば、黒色ないしそれに近似した色である。充填剤としては、アセチレンブラック、活性炭、黒鉛などのカーボンや、酸化鉄、二酸化マンガン、酸化コバルト、酸化モリブデンなどの遷移金属酸化物、もしくは有色有機顔料などを目的に応じて利用することができる。
Further, the resin molded
(発光素子10)
発光素子10は、発光装置100の光源として機能し、さらに蛍光体の励起源となる。発光素子10には、発光ダイオード素子などを用いることができ、可視域の発光が可能な窒化物半導体(InxAlyGa1−x−yN、0≦x、0≦y、x+y≦1)を好適に用いることができる。図5Aで示す発光装置100は、1つの発光素子10を備えているが、本実施形態の発光装置はこれに限られない。発光装置100は、少なくとも1つの発光素子を備えていればよく、発光素子の個数は目的や用途に応じて変更可能である。
(Light emitting element 10)
The
発光装置100が複数の発光素子10を備える場合、複数の発光素子10は、例えば、青色光を出射する複数の青色発光素子、青色光、緑色光および赤色光をそれぞれ出射する3つの発光素子、または、青色光を出射する発光素子と緑色光を出射する発光素子とを組み合わせたものを含むことができる。発光装置100を液晶表示装置等の光源として用いる場合、発光素子として、青色光を出射する発光素子、または、青色光を出射する発光素子と緑色光を出射する発光素子との組み合わせを用いることが好ましい。青色光を出射する発光素子と緑色光を出射する発光素子は、いずれも半値幅が40nm以下の発光素子を用いることが好ましく、半値幅が30nm以下の発光素子を用いることがより好ましい。これにより、青色光や緑色光が容易に鋭いピークを持つことができる。その結果、例えば、発光装置100を液晶表示装置等の光源として用いる場合、液晶表示装置は高い色再現性を達成することができる。また、複数の発光素子10は、直列、並列、または直列と並列を組み合わせて接続される。
When the
(封止部材9)
発光装置100は、発光素子10を被覆する封止部材9を備える。封止部材9は、発光素子等を外力や埃、水分などから保護する。封止部材9は、発光素子10から出射される光の60%以上を透過するもの、さらに90%以上を透過するものが好ましい。封止部材9の母材としては、樹脂成形体8で用いられる樹脂材料を用いることができる。封止部材9は単一層であってもよく、複数層であってもよい。また、封止部材9には、酸化チタン、酸化ケイ素、酸化ジルコニウム、酸化アルミニウムなどの光拡散材を分散させることができる。
(Sealing member 9)
The
封止部材9は、発光素子10からの光の波長を変換する1種または複数種の蛍光体を含むことができる。蛍光体は、発光素子10の光で励起する蛍光体であればよく、例えば、(Ca,Sr,Ba)5(PO4)3(Cl,Br):Eu、(Sr,Ca,Ba)4Al14O25:Eu、(Ca,Sr,Ba)8MgSi4O16(F,Cl,Br)2:Eu、(Y,Lu,Gd)3(Al,Ga)5O12:Ce、(Sr,Ca)AlSiN3:Eu、3.5MgO・0.5MgF2・GeO2:Mn、(x-s)MgO・(s/2)Sc2O3・yMgF2・uCaF2・(1-t)GeO2・(t/2)Mt 2O3:zMn、Ca3Sc2Si3O12:Ce、CaSc2O4:Ce、(La,Y)3Si6N11:Ce、(Ca,Sr,Ba)3Si6O9N4:Eu、(Ca,Sr,Ba)3Si6O12N2:Eu、(Ba,Sr,Ca)Si2O2N2:Eu、(Ca,Sr,Ba)2Si5N8:Eu、(Ca,Sr,Ba)S:Eu、(Ba,Sr,Ca)Ga2S4:Eu、K2(Si,Ti,Ge)F6:Mn、Si6−zAlzOzN8−z:Eu(0<z<4.2)、の蛍光体を用いることができる。
The sealing member 9 may include one or more kinds of phosphors that convert the wavelength of light from the
光拡散材および/又は蛍光体の含有量は、例えば、封止部材9の全重量に対して10〜150重量%程度であることが好ましい。 The content of the light diffusion material and/or the phosphor is preferably, for example, about 10 to 150% by weight based on the total weight of the sealing member 9.
(ワイヤ4、接合部材)
ワイヤ4および接合部材は、発光素子10の電極とリード部36とを接続する部材である。ワイヤ4の材料として、例えば、金、銅、銀、白金、アルミニウム、パラジウム等の金属またはこれらの1種以上を含む合金を用いることができる。また、導電性の接合部材として、銀、金、パラジウムなどの導電性ペーストや、金−錫、錫−銀−銅などの共晶はんだ材料、低融点金属等のろう材、銀または金などを含むバンプ等を用いることができる。絶縁性の接合部材として、エポキシ樹脂組成物、シリコーン樹脂組成物、ポリイミド樹脂組成物やその変性樹脂、ハイブリッド樹脂等を用いることができる。これらの樹脂を用いる場合は、発光素子10からの光や熱による劣化を考慮して、発光素子10の実装面にアルミニウム膜や銀膜などの反射率の高い金属層や誘電体反射膜を設けることができる。
(Wire 4, joining member)
The wire 4 and the joining member are members that connect the electrode of the
ワイヤ4および接合部材は、金または金合金を含む材料であることが好ましい。これにより、ワイヤ4等を第1めっき層5と接続する場合に、ワイヤ4等と第1めっき層5との接続強度が向上する。また、ワイヤ4等が軟らかくなり、例えば、封止部材9からの応力により、ワイヤ等が破断する可能性を低減することができる。
The wire 4 and the joining member are preferably made of a material containing gold or a gold alloy. Thereby, when connecting the wire 4 and the like to the
(変形例)
リードフレーム40を形成する工程(B)において、(B-1)工程〜(B-3)工程の代わりに、金属板30の第1領域X以外の第2領域Yにマスクを形成する工程と、マスクが形成された金属板30に対して電着法によりレジスト膜7を形成する工程と、レジスト膜7を乾燥する工程と、マスクを除去する工程とを行い、第1領域Xにのみレジスト膜7が形成された金属板30を形成することができる。マスクは、導電性または絶縁性の部材を用いることができ、好適には絶縁性のマスクが用いられる。絶縁性のマスクを用いることで、マスクが形成された領域にはレジスト膜7が形成されず、マスクを除去する工程が容易になる。マスクとしては、例えば、メタルマスクまたはラバーマスク等を用いることができる。
(Modification)
In the step (B) of forming the lead frame 40, a step of forming a mask in the second region Y other than the first region X of the
また、一対のリード部36の上面上に形成される第1めっき層5の配置は種々変更可能である。図6A〜図6Dは、一対のリード部36の模式的上面図であり、第1めっき層5が形成される領域にハッチングを施している。また、図6Bでは、発光素子10、保護素子11およびワイヤ4が配置される領域を破線で示している。図6Aでは、第1めっき層5は、一対のリード部36の上面全面に形成されている。これにより、一対のリード部36の上面全面において硫化や酸化等が生じる可能性を低減することができる。図6Bでは、第1めっき層5は、リード部36の上面のうち発光素子10や保護素子11から延びるワイヤ4の一端が接続される領域およびその領域の近傍のみに形成されている。これにより、使用する第1めっき層5の体積を減らしつつ、ワイヤ4の接続強度を向上させることができる。図6Cでは、第1めっき層5は、リード部36の上面のうち凹部2の底面に露出する領域にのみ形成されている。これにより、例えば、凹部2の開口から硫黄成分等が入り込んだ場合に、凹部2の底面に位置する一対のリード部36の上面が硫化等することを効果的に抑制することができる。なお、図6Cの変形例として、第1めっき層5は、図6Dで示すようにリード部36の上面のうち溝13と端面36cとで画定される領域に形成されていてもよい。
Further, the arrangement of the
まず、実施例1〜7で用いるリードフレーム40を準備した。リードフレーム40の具体的な形成方法を、実施例1のリードフレーム40を例に取って以下に説明する。 First, the lead frame 40 used in Examples 1 to 7 was prepared. A specific method of forming the lead frame 40 will be described below by taking the lead frame 40 of Example 1 as an example.
金属板30としては、三菱伸銅製TAMAC194材をエッチング加工したものを使用した。
As the
まず、金属板30(金属部35)の表面全面に下層金属層6aを形成した。下層金属層6aとしては、ニッケルめっき層を用いた。 First, the lower metal layer 6a was formed on the entire surface of the metal plate 30 (metal part 35). A nickel plating layer was used as the lower metal layer 6a.
ニッケルめっき層は、電解スルファミン酸ニッケルめっき浴として、
スルファミン酸ニッケル=450g/L
塩化ニッケル=10g/L
ほう酸=30g/L
の浴を用いて、めっき時間を調整し液温55℃、陰極電流密度5A/dm2で電解めっきにより形成した。陽極はイオウ含有ニッケル電極を用いた。
The nickel plating layer is used as an electrolytic nickel sulfamate plating bath.
Nickel sulfamate=450g/L
Nickel chloride = 10g/L
Boric acid = 30 g/L
The bath was used to adjust the plating time, and the solution was formed by electrolytic plating at a liquid temperature of 55° C. and a cathode current density of 5 A/dm 2 . A nickel electrode containing sulfur was used as the anode.
次に、下層金属層6a上に金属板30の表面全面を覆うように上層金属層6bを形成した。上層金属層6bとしては、パラジウムめっき層を用いた。
Next, the upper metal layer 6b was formed on the lower metal layer 6a so as to cover the entire surface of the
パラジウムめっき層は、電解パラジウムめっき浴として、
テトラアンミンパラジウム塩化物 パラジウムとして5g/L
硝酸アンモニウム=150g/L
2−ピリジンスルホン酸=3g/L
pH 8.5 (アンモニア水にて調整)
の浴を用いて、めっき時間を調整し液温50℃、陰極電流密度0.5A/dm2で電解めっきにより形成した。陽極は白金被覆チタン電極を用いた。
The palladium plating layer is used as an electrolytic palladium plating bath.
Tetraammine palladium chloride 5g/L as palladium
Ammonium nitrate = 150 g/L
2-Pyridinesulfonic acid=3 g/L
pH 8.5 (adjusted with ammonia water)
The bath was used to adjust the plating time, and electrolytic plating was performed at a liquid temperature of 50° C. and a cathode current density of 0.5 A/dm 2 . A platinum-coated titanium electrode was used as the anode.
次に、ネガ型の電着レジスト液を用いて、液温38℃、電圧200V、浸漬時間15秒で金属板30の表面にレジスト膜7を形成した。レジスト膜7を形成した後の乾燥工程では、送風定温恒温器を使用し、温度75度、乾燥時間60秒で行った。乾燥後のレジスト膜7の厚みは7μm〜10μmとした。角部に位置するレジスト膜7が、第1めっき層5を形成するときに破損等する場合は、角部に位置するレジスト膜7が厚くなるように電着条件及び乾燥条件を調整することができる。なお、金属板30は、レジスト膜7を形成する前にレジスト膜7の付着面に対して脱脂等の洗浄処理を施したものを使用することができる。
Next, a resist film 7 was formed on the surface of the
次に、フォトマスクを用いて、レジスト膜7に対して主波長365nmの光を積算光量300mJ/cm2で露光し硬化させた。実施例1のリードフレーム40では、図6Bで示す領域(ハッチングを施した領域)に第1めっき層5が配置されるようにレジスト膜7の所定領域を露光した。その後、露光されていないレジスト膜7に対して現像液を用いて、液温50℃、時間70秒でスプレー現像により除去した。露光は、金属板30の形状に応じて、適宜選択することができる。例えば、金属板30の端面が十分に露光されず、レジスト膜7が未硬化になる形状の場合は、光が拡散する光源を使用したり、局所的に斜めから露光を追加したりすることで、金属板30の端面に確実に光を当ててレジスト膜7を硬化させる。
Next, using a photomask, the resist film 7 was exposed to light having a main wavelength of 365 nm at an integrated light amount of 300 mJ/cm 2 and cured. In the lead frame 40 of Example 1, a predetermined area of the resist film 7 was exposed so that the
次に、上層金属層6bの表面のうちレジスト膜7が除去された領域(第2領域Y)に第1めっき層5を形成した。これにより、第1めっき層5は金属板30の表面を部分的に覆う。第1めっき層5としては、金めっき層を用いた。
Next, the
金めっき層は、電解金めっき浴として、
シアン化金カリウム 金として1g/L
クエン酸カリウム=100g/L
りん酸二カリウム=30g/L
pH 4.0 (クエン酸または水酸化カリウムにて調整)
の浴を用いて、めっき時間を調整し液温45℃、陰極電流密度2A/dm2で電解めっきにより形成した。陽極は白金被覆チタン電極を用いた。
The gold plating layer is used as an electrolytic gold plating bath.
Gold potassium cyanide 1g/L as gold
Potassium citrate = 100g/L
Dipotassium phosphate = 30 g/L
pH 4.0 (adjusted with citric acid or potassium hydroxide)
The bath was used to adjust the plating time, and the solution was formed by electrolytic plating at a liquid temperature of 45° C. and a cathode current density of 2 A/dm 2 . A platinum-coated titanium electrode was used as the anode.
次に、レジスト膜7を剥離液により除去した。具体的には、液温60℃、時間60秒、スプレー圧0.2MPaの条件で、レジスト膜7に対して剥離液をスプレーで吹き付けて、レジスト膜7を剥離した。レジスト膜7の剥離は、金属板30の形状により、剥離条件を調整することができる。例えば、金属板30が表面に凹凸が多く、角部等にレジスト膜7が引っ掛かりやすい形状の場合は、スプレー圧を強くした剥離条件にすることができる。
Next, the resist film 7 was removed with a stripping solution. Specifically, the resist film 7 was stripped by spraying a stripping solution onto the resist film 7 under the conditions of a liquid temperature of 60° C., a time of 60 seconds, and a spray pressure of 0.2 MPa. For the peeling of the resist film 7, the peeling conditions can be adjusted depending on the shape of the
次に、図7で示すように、各めっき層の種類およびレジスト膜7の形状に応じたマスクのパターン形状等を変更して実施例2〜実施例7で用いるリードフレーム40を形成した。実施例2〜7のリードフレーム40においても、下層金属層6aおよび上層金属層6bは金属板30の表面全面を覆うように形成し、第1めっき層5は金属板30の表面において部分的に覆うように形成した。
Next, as shown in FIG. 7, the lead frame 40 used in Examples 2 to 7 was formed by changing the pattern shape of the mask according to the type of each plating layer and the shape of the resist film 7. Also in the lead frames 40 of Examples 2 to 7, the lower metal layer 6a and the upper metal layer 6b are formed so as to cover the entire surface of the
実施例2のリードフレーム40は、下層金属層6aとしてニッケルめっき層を用い、上層金属層6bとしてパラジウムめっき層を用い、第1めっき層5として金銀合金めっき層を用いた。また、第1めっき層5は、図6Bで示す領域に形成した。実施例2のリードフレーム40は、第1めっき層5が金銀合金めっき層である点で実施例1のリードフレーム40と相違する。
In the lead frame 40 of Example 2, a nickel plating layer was used as the lower metal layer 6a, a palladium plating layer was used as the upper metal layer 6b, and a gold-silver alloy plating layer was used as the
実施例2の金銀合金めっき層は、実施例1で示した金めっき浴組成に、0.1g/Lのシアン化銀カリウムを添加して形成した。 The gold-silver alloy plating layer of Example 2 was formed by adding 0.1 g/L of potassium potassium cyanide to the gold plating bath composition shown in Example 1.
実施例3のリードフレーム40は、下層金属層6aとしてニッケルめっき層を用い、上層金属層6bとしてパラジウムニッケル合金めっき層を用い、第1めっき層5として金めっき層を用いた。また、第1めっき層5は、図6Cで示す領域に形成した。実施例3のリードフレーム40は、上層金属層6bがパラジウムニッケル合金めっき層である点で実施例1のリードフレーム40と相違する。
In the lead frame 40 of Example 3, a nickel plating layer was used as the lower metal layer 6a, a palladium nickel alloy plating layer was used as the upper metal layer 6b, and a gold plating layer was used as the
実施例3のパラジウムニッケル合金めっき層は、実施例1で示したパラジウムめっき浴組成に、0.5g/Lの硫酸ニッケルを添加して形成した。 The palladium-nickel alloy plating layer of Example 3 was formed by adding 0.5 g/L of nickel sulfate to the palladium plating bath composition shown in Example 1.
実施例4のリードフレーム40は、下層金属層6aとしてニッケルめっき層を用い、上層金属層6bとしてロジウムめっき層を用い、第1めっき層5として金めっき層を用いた。また、第1めっき層5は、図6Cで示す領域に形成した。実施例4のリードフレーム40は、上層金属層6bがロジウムめっき層である点で実施例1のリードフレーム40と相違する。
In the lead frame 40 of Example 4, a nickel plating layer was used as the lower metal layer 6a, a rhodium plating layer was used as the upper metal layer 6b, and a gold plating layer was used as the
実施例4のロジウムめっき層は、電解ロジウムめっき浴として、
硫酸ロジウム ロジウムとして3g/L
硫酸=25g/L
酢酸鉛 鉛として10mg/L
の浴を用いて、めっき時間を調整し液温50℃、陰極電流密度1A/dm2で電解めっきにより形成した。陽極は白金被覆チタン電極を用いた。
The rhodium plating layer of Example 4 was used as an electrolytic rhodium plating bath.
Rhodium Sulfate Rhodium 3g/L
Sulfuric acid = 25 g/L
The bath was used to adjust the plating time, and electrolytic plating was performed at a liquid temperature of 50° C. and a cathode current density of 1 A/dm 2 . A platinum-coated titanium electrode was used as the anode.
実施例5のリードフレーム40は、下層金属層6aとしてニッケルめっき層を用い、上層金属層6bとしてロジウム白金合金めっき層を用い、第1めっき層5として金めっき層を用いた。また、第1めっき層5は、図6Cで示す領域に形成した。実施例5のリードフレーム40は、上層金属層6bがロジウム白金合金めっき層である点で実施例1のリードフレーム40と相違する。
In the lead frame 40 of Example 5, a nickel plating layer was used as the lower metal layer 6a, a rhodium platinum alloy plating layer was used as the upper metal layer 6b, and a gold plating layer was used as the
実施例5のロジウム白金合金めっき層は、実施例4で示したロジウムめっき浴組成に、0.5g/Lの塩化白金酸を添加して形成した。 The rhodium platinum alloy plating layer of Example 5 was formed by adding 0.5 g/L of chloroplatinic acid to the rhodium plating bath composition shown in Example 4.
実施例6のリードフレーム40は、下層金属層6aとしてニッケルコバルト合金めっき層を用い、上層金属層6bとしてパラジウムめっき層を用い、第1めっき層5として金めっき層を用いた。また、第1めっき層5は、図6Dで示す領域に形成した。実施例6のリードフレーム40は、下層金属層6aがニッケルコバルト合金めっき層である点で実施例1のリードフレーム40と相違する。
In the lead frame 40 of Example 6, a nickel-cobalt alloy plating layer was used as the lower metal layer 6a, a palladium plating layer was used as the upper metal layer 6b, and a gold plating layer was used as the
実施例6のニッケルコバルト合金めっき層は、実施例1で示したニッケルめっき浴組成に、45g/Lのスルファミン酸コバルトを添加して形成した。 The nickel-cobalt alloy plating layer of Example 6 was formed by adding 45 g/L of cobalt sulfamate to the nickel plating bath composition shown in Example 1.
実施例7のリードフレーム40は、下層金属層6aとしてニッケルめっき層を用い、上層金属層6bとしてパラジウムめっき層を用い、第1めっき層5として金めっき層を用いた。また、第1めっき層5は、図6Dで示す領域に形成した。実施例7のリードフレーム40は、第1めっき層5を形成する領域が実施例1のリードフレーム40と相違する。
In the lead frame 40 of Example 7, a nickel plating layer was used as the lower metal layer 6a, a palladium plating layer was used as the upper metal layer 6b, and a gold plating layer was used as the
以上の方法により、実施例1〜7で用いるリードフレーム40を準備した。。 The lead frame 40 used in Examples 1 to 7 was prepared by the above method. ..
次に、比較例1のリードフレームとして、各めっき層の種類を実施例1および実施例7のリードフレーム40と同じにして、第1めっき層5を金属板30の表面全面を覆うように形成したリードフレームを準備した。具体的には、金属板30の表面全面に、下層金属層6a、上層金属層6bおよび第1めっき層5を形成した。下層金属層6aとしてはニッケルめっき層を用い、上層金属層6bとしてはパラジウムめっき層を用い、第1めっき層5としては金めっき層を用いた。
Next, as the lead frame of Comparative Example 1, the type of each plating layer is the same as that of the lead frame 40 of Examples 1 and 7, and the
また、比較例2のリードフレームとして、各めっき層の種類を実施例1および実施例7のリードフレーム40と同じにして、電着法の代わりにドライフィルムレジストを用いて第1めっき層5を形成したリードフレームを準備した。具体的には、金属板30の表面全面に、下層金属層6aおよび上層金属層6bを形成した後、ドライフィルムレジストを用いてレジスト膜7を形成し、上層金属層6b上に部分的に第1めっき層5を形成した。下層金属層6aとしてはニッケルめっき層を用い、上層金属層6bとしてはパラジウムめっき層を用い、第1めっき層5としては金めっき層を用いた。
Further, as the lead frame of Comparative Example 2, the type of each plating layer was the same as that of the lead frame 40 of Examples 1 and 7, and the
次に、実施例1〜7、比較例1および比較例2で準備したリードフレーム40に対して、樹脂成形体8を形成し集合体(樹脂付リードフレーム)を準備した。集合体(樹脂付リードフレーム)は、上面側に複数の凹部2を有しており、それぞれの凹部2の底面には第1めっき層5が露出している。
Next, a resin molded
次に、凹部2の底面に位置する第1めっき層5上に発光素子10を配置し、凹部2内に蛍光体を含有する封止部材9を形成した。その後、個片化することで、実施例1〜7および比較例1〜2の発光装置を得た。
Next, the
(評価、測定)
次に、実施例1〜7、比較例1および比較例2の発光装置をそれぞれ鉛フリ−半田(Sn−0.3Ag−0.7Cu)を塗布したプリント基板上に設置し、温度260℃で10秒間の条件でリフローを行った。その後、プリント基板から発光装置を剥がし、凹部2内の半田の侵入の有無を評価した。また、発光装置の下面における封止部材9の漏れの有無についても評価した。その評価結果を図7に示す。
(Evaluation and measurement)
Next, the light emitting devices of Examples 1 to 7, Comparative Example 1 and Comparative Example 2 were placed on a printed circuit board coated with lead-free solder (Sn-0.3Ag-0.7Cu), respectively, at a temperature of 260°C. Reflow was performed under the condition of 10 seconds. After that, the light emitting device was peeled off from the printed board, and the presence or absence of invasion of solder in the
図7に示すように、実施例1〜7の発光装置100は、凹部2内の半田の侵入及び発光装置100の下面における封止部材9の漏れは発生しなかった。一方、比較例1および比較例2の発光装置では、凹部2内の半田の侵入及び発光装置の下面における封止部材の漏れが発生した。特に、各めっき層の種類を同じ条件とした実施例1および実施例7と比較例1とを比較すると、金属部35の端面全面に第1めっき層5が位置する比較例1では、半田の侵入及び封止部材9の漏れが発生し、一方、金属部35の端面を含む第1領域に第1めっき層5が位置しない実施例1および実施例7では、半田の侵入及び封止部材9の漏れは発生しなかった。また、電着法によりレジスト膜7を形成した実施例1〜7では、金属部35の角部および端面において、所望の厚みのレジスト膜7を形成することができた。一方、ドライフィルムレジストを用いた比較例2の発光装置では、金属部35の角部および端面において所望の形状および厚みでレジスト膜を配置することができなかった。
As shown in FIG. 7, in the
100 発光装置
30 金属板
40 リードフレーム
50 第1構造体
60 第2構造体
1 パッケージ領域
2 凹部
4 ワイヤ
5 第1めっき層
6 第2めっき層
6a 下層金属層
6b 上層金属層
7 レジスト膜
8 樹脂成形体
8a 樹脂部
9 封止部材
10 発光素子
11 保護素子
13 溝
30a 上面
30b 下面
35 金属部
35a 上面
35b 下面
35c 端面
35d 端面
36 リード部
36c 端面
C1 第1角部
C2 第2角部
D 配置領域
E 端部
MS マスク
P 凸部
RC 角部
S 連続領域
X 第1領域
Y 第2領域
100 Light-Emitting
Claims (15)
前記凹部内において、前記底面に発光素子を配置し、前記発光素子を被覆する封止部材を配置して第2構造体を形成する工程と、
前記第2構造体を個片化し、複数の発光装置を得る工程と、を備える発光装置の製造方法。 A metal plate having a plurality of pairs of metal parts, each having an upper surface, a lower surface, and an end surface facing the pair of metal parts, and a resist film formed by an electrodeposition method in a first region including the end surfaces of the metal parts as a mask. And a first plating layer containing gold or a gold alloy formed in a region other than the first region including on the upper surface of the metal portion, the lead frame having the resist film removed, and the first frame. A resin molded body that covers the region and exposes a part of the lower surface of the lead frame and is integrally molded with the lead frame, and has a plurality of recesses on the upper surface side, Preparing a first structure in which the first plating layer is located on the upper surface of the metal part;
Arranging a light emitting element on the bottom surface in the recess, and arranging a sealing member for covering the light emitting element to form a second structure;
And a step of obtaining a plurality of light emitting devices by dividing the second structure into pieces.
前記金属板を準備する工程と、
前記金属部の端面を含む前記第1領域に電着法により前記レジスト膜を形成し、前記金属部の上面上に前記第1めっき層を形成し、前記レジスト膜を除去することにより前記リードフレームを形成する工程と、
前記リードフレームに前記樹脂成形体を形成する工程と、を含む、請求項1に記載の発光装置の製造方法。 The step of preparing the first structure includes
A step of preparing the metal plate,
The lead frame is formed by forming the resist film on the first region including the end surface of the metal part by an electrodeposition method, forming the first plating layer on the upper surface of the metal part, and removing the resist film. A step of forming
The method of manufacturing a light emitting device according to claim 1, further comprising the step of forming the resin molded body on the lead frame.
前記レジスト膜を前記金属部の上面、下面、端面および角部を含む表面に配置する工程と、
前記レジスト膜を乾燥する工程と、
前記第1領域に位置する前記レジスト膜に光を当て、前記第1領域に位置する前記レジスト膜を現像液に対して不溶性にする露光工程と、
前記金属部の表面に位置する前記レジスト膜のうち、前記第1領域以外の第2領域に位置する前記レジスト膜を現像液により除去する工程と、
前記第1めっき層を形成した後に、前記第1領域に位置する前記レジスト膜を剥離液により除去する工程と、を含む請求項1〜3のいずれか1項に記載の発光装置の製造方法。 The step of preparing the first structure includes
Arranging the resist film on the upper surface, the lower surface, the end surface and the surface including the corners of the metal portion;
A step of drying the resist film,
An exposure step of irradiating the resist film located in the first region with light to make the resist film located in the first region insoluble in a developing solution;
Removing the resist film located in the second region other than the first region of the resist film located on the surface of the metal part with a developing solution;
The method for manufacturing a light emitting device according to claim 1, further comprising: after the formation of the first plating layer, removing the resist film located in the first region with a stripping solution.
前記レジスト膜を前記金属部の上面、下面、端面および角部を含む表面に配置する工程と、
前記レジスト膜を乾燥する工程と、
前記第1領域以外の第2領域に位置する前記レジスト膜に光を当て、前記第2領域に位置する前記レジスト膜を現像液に対して可溶性にする露光工程と、
前記金属部の表面に位置する前記レジスト膜のうち、前記第2領域に位置する前記レジスト膜を現像液により除去する工程と、
前記第1めっき層を形成した後に、前記第1領域に位置する前記レジスト膜を剥離液により除去する工程と、を含む、請求項1〜3のいずれか1項に記載の発光装置の製造方法。 The step of preparing the first structure includes
Arranging the resist film on the upper surface, the lower surface, the end surface and the surface including the corners of the metal portion;
A step of drying the resist film,
An exposure step of irradiating the resist film located in a second region other than the first region with light to make the resist film located in the second region soluble in a developing solution;
Removing the resist film located in the second region of the resist film located on the surface of the metal portion with a developing solution;
The method for manufacturing a light emitting device according to claim 1, further comprising: after the formation of the first plating layer, removing the resist film located in the first region with a stripping solution. ..
前記一対の金属部のうち、一方の金属部の上面と端面とを接続する第1角部は、前記一方の金属部の下面と端面とを接続する第2角部よりも他方の金属部に近い位置にあり、
前記露光工程は、前記金属板の下方から前記レジスト膜に光を当てるとともに、前記遮光用マスクの端部またはパターニング光の端部を前記一方の金属部の前記第1角部と前記第2角部との間に位置させる工程を含む、請求項6に記載の発光装置の製造方法。 In a sectional view perpendicular to the upper surfaces of the pair of metal parts,
Of the pair of metal portions, the first corner portion that connects the upper surface and the end surface of the one metal portion is closer to the other metal portion than the second corner portion that connects the lower surface and the end surface of the one metal portion. In a close position,
In the exposure step, light is applied to the resist film from below the metal plate, and an end portion of the light shielding mask or an end portion of patterning light is applied to the first corner portion and the second corner portion of the one metal portion. The method for manufacturing a light emitting device according to claim 6, further comprising the step of positioning the light emitting device between the light emitting device and the portion.
前記第1めっき層は、前記金属部の上面のうち前記ワイヤまたは前記接合部材が配置される配置領域のみを被覆する、請求項10に記載の発光装置の製造方法。 The light emitting element is connected to the pair of metal parts via a wire or a joining member,
The method for manufacturing a light emitting device according to claim 10, wherein the first plating layer covers only an arrangement region where the wire or the joining member is arranged on the upper surface of the metal portion.
前記第2めっき層は、前記第1領域を被覆する、又は、前記第1領域および前記第1領域以外の第2領域の双方を被覆する、請求項1〜11のいずれか1項に記載の発光装置の製造方法。 Further comprising a second plating layer between the upper surface of the metal part and the first plating layer,
The said 2nd plating layer covers the said 1st area|region, or covers both the said 1st area|region and the 2nd area|region other than the said 1st area|region, The any one of Claims 1-11. Manufacturing method of light emitting device.
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20210367123A1 (en) * | 2020-05-21 | 2021-11-25 | Jentech Precision Industrial Co., Ltd. | Light emitting diode module and manufacturing method thereof |
JP7495610B2 (en) | 2020-07-06 | 2024-06-05 | 日亜化学工業株式会社 | Light emitting device and method for manufacturing the same |
US12027655B2 (en) | 2020-07-06 | 2024-07-02 | Nichia Corporation | Light emitting device and manufacturing method for light emitting device |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6947988B2 (en) * | 2019-01-28 | 2021-10-13 | 日亜化学工業株式会社 | Manufacturing method of light emitting device |
US11393960B2 (en) * | 2019-02-26 | 2022-07-19 | Rohm Co., Ltd. | Semiconductor light-emitting device and method for manufacturing the same |
JP7391694B2 (en) * | 2020-02-06 | 2023-12-05 | 新光電気工業株式会社 | Lead frame, semiconductor device, and lead frame manufacturing method |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01261852A (en) * | 1988-04-12 | 1989-10-18 | Fuji Plant Kogyo Kk | Method of partially plating lead frame |
JP2011129687A (en) * | 2009-12-17 | 2011-06-30 | Dainippon Printing Co Ltd | Lead frame and method for manufacturing the same, and semiconductor device and method for manufacturing the same |
JP2011228687A (en) * | 2010-03-30 | 2011-11-10 | Dainippon Printing Co Ltd | Led lead frame or substrate, semiconductor device, and method of manufacturing led lead frame or substrate |
WO2012060336A1 (en) * | 2010-11-02 | 2012-05-10 | 大日本印刷株式会社 | Led-element mounting lead frame, resin-attached lead frame, method of manufacturing semiconductor device, and semiconductor-element mounting lead frame |
JP2013051296A (en) * | 2011-08-31 | 2013-03-14 | Panasonic Corp | Semiconductor device package and method of manufacturing the same, and semiconductor device |
JP2015128092A (en) * | 2013-12-27 | 2015-07-09 | 日亜化学工業株式会社 | Light-emitting device |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3195080B2 (en) | 1992-11-11 | 2001-08-06 | 新光電気工業株式会社 | Lead frame manufacturing method |
JPH06291232A (en) | 1993-04-05 | 1994-10-18 | Shinko Electric Ind Co Ltd | Lead frame and manufacture thereof |
JPH07302871A (en) | 1994-05-02 | 1995-11-14 | Toppan Printing Co Ltd | Manufacture of lead frame |
EP1602749A1 (en) * | 2003-01-17 | 2005-12-07 | Toppan Printing Co., Ltd. | Metal photo-etching product and production method therefor |
JP2006093559A (en) | 2004-09-27 | 2006-04-06 | Sumitomo Metal Mining Package Materials Co Ltd | Lead frame and its manufacturing method |
CN106067511A (en) * | 2010-03-30 | 2016-11-02 | 大日本印刷株式会社 | Resin lead frame, semiconductor device and manufacture method thereof |
JP2012114286A (en) | 2010-11-25 | 2012-06-14 | Toshiba Corp | Led package |
TW201250964A (en) * | 2011-01-27 | 2012-12-16 | Dainippon Printing Co Ltd | Resin-attached lead frame, method for manufacturing same, and lead frame |
JP6015231B2 (en) | 2011-08-26 | 2016-10-26 | 大日本印刷株式会社 | LED element mounting substrate, method for manufacturing the same, and semiconductor device using the LED element mounting substrate |
JP5978705B2 (en) | 2012-03-28 | 2016-08-24 | 大日本印刷株式会社 | LED element mounting substrate, method for manufacturing the same, and semiconductor device using the LED element mounting substrate |
JP6331388B2 (en) | 2013-12-27 | 2018-05-30 | 日亜化学工業株式会社 | Lead frame or substrate for light emitting device and light emitting device including the same |
JP5817894B2 (en) | 2014-07-18 | 2015-11-18 | 大日本印刷株式会社 | Lead frame and manufacturing method thereof, and semiconductor device and manufacturing method thereof |
JP6065081B2 (en) | 2015-10-01 | 2017-01-25 | 大日本印刷株式会社 | Lead frame and manufacturing method thereof, and semiconductor device and manufacturing method thereof |
JP2017076809A (en) | 2016-12-05 | 2017-04-20 | 大日本印刷株式会社 | Lead frame with resin, semiconductor device, and lighting device |
-
2018
- 2018-11-30 JP JP2018224393A patent/JP7174240B2/en active Active
-
2019
- 2019-11-27 US US16/698,324 patent/US11183619B2/en active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01261852A (en) * | 1988-04-12 | 1989-10-18 | Fuji Plant Kogyo Kk | Method of partially plating lead frame |
JP2011129687A (en) * | 2009-12-17 | 2011-06-30 | Dainippon Printing Co Ltd | Lead frame and method for manufacturing the same, and semiconductor device and method for manufacturing the same |
JP2011228687A (en) * | 2010-03-30 | 2011-11-10 | Dainippon Printing Co Ltd | Led lead frame or substrate, semiconductor device, and method of manufacturing led lead frame or substrate |
WO2012060336A1 (en) * | 2010-11-02 | 2012-05-10 | 大日本印刷株式会社 | Led-element mounting lead frame, resin-attached lead frame, method of manufacturing semiconductor device, and semiconductor-element mounting lead frame |
JP2013051296A (en) * | 2011-08-31 | 2013-03-14 | Panasonic Corp | Semiconductor device package and method of manufacturing the same, and semiconductor device |
JP2015128092A (en) * | 2013-12-27 | 2015-07-09 | 日亜化学工業株式会社 | Light-emitting device |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20210367123A1 (en) * | 2020-05-21 | 2021-11-25 | Jentech Precision Industrial Co., Ltd. | Light emitting diode module and manufacturing method thereof |
US11705547B2 (en) * | 2020-05-21 | 2023-07-18 | Jentech Precision Industrial Co., Ltd. | Manufacturing method of light emitting diode module |
JP7495610B2 (en) | 2020-07-06 | 2024-06-05 | 日亜化学工業株式会社 | Light emitting device and method for manufacturing the same |
US12027655B2 (en) | 2020-07-06 | 2024-07-02 | Nichia Corporation | Light emitting device and manufacturing method for light emitting device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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US11183619B2 (en) | 2021-11-23 |
US20200176649A1 (en) | 2020-06-04 |
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