JP2020087679A - 表示装置、検査方法 - Google Patents

Abstract

【課題】バックライトの制御状態を適切に検査する。【解決手段】表示装置は、複数に分割された光源が配置され、光源から透過光を変調可能な表示パネルに照射するバックライトと、表示する画像を示す画像情報に基づいて、複数に分割された各光源の点灯情報を生成する画像処理部と、画像処理部が生成した点灯情報に基づいて、複数に分割された各光源を制御する分割光源制御部と、複数に分割された光源の特徴量を測定する測定部と、画像情報に対応する光源の特徴量である第１特徴量と、画像情報が示す画像を表示する際に測定部が測定した光源の特徴量である第２特徴量とに基づいて、バックライトの制御状態を判定する判定部とを備える。【選択図】図１５

Description

本発明は、表示装置、及び検査方法に関する。

近年、表示装置のバックライトの故障を検出する技術が提案されている（例えば、特許文献１を参照）。特許文献１に記載の技術では、バックライトであるＬＥＤアレイに流れる電流を検出し、ＬＥＤアレイの通常動作時における駆動電流値とＬＥＤアレイの初期設定動作時における初期電流値とを比較してＬＥＤアレイの故障を検出する。

国際公開第２０１４／１７４６３５号

ところで、近年、消費電力低減や高コントラスト実現のためにバックライトの光源を複数に分割し、この分割したエリア毎にバックライトを点灯するエリア制御を行う表示装置が提案されている。しかしながら、上述した特許文献１に記載の技術では、このようなバックライトのエリア制御を行う場合には、画像によってエリアや輝度が変動するため、例えば、バックライトの制御状態を適切に検査することは困難であった。

本発明は、上記問題を解決すべくなされたもので、その目的は、バックライトの制御状態を適切に検査することができる表示装置、及び検査方法を提供することにある。

上記問題を解決するために、本発明の一態様は、複数に分割された光源が配置され、前記光源から透過光を変調可能な表示パネルに照射するバックライトと、表示する画像を示す画像情報に基づいて、前記複数に分割された各光源の点灯情報を生成する画像処理部と、前記画像処理部が生成した前記点灯情報に基づいて、前記複数に分割された各光源を制御する分割光源制御部と、前記複数に分割された光源の特徴量を測定する測定部と、前記画像情報に対応する前記光源の特徴量である第１特徴量と、前記画像情報が示す前記画像を表示する際に測定部が測定した前記光源の特徴量である第２特徴量とに基づいて、前記バックライトの制御状態を判定する判定部とを備えることを特徴とする表示装置である。

また、本発明の一態様は、複数に分割された光源が配置され、前記光源から透過光を変調可能な表示パネルに照射するバックライトを備える表示装置の検査方法であって、画像処理部が、表示する画像を示す画像情報に基づいて、前記複数に分割された各光源の点灯情報を生成する画像処理ステップと、分割光源制御部が、前記画像処理ステップによって生成された前記点灯情報に基づいて、前記複数に分割された各光源を制御する分割光源制御ステップと、測定部が、前記複数に分割された光源の特徴量を測定する測定ステップと、判定部が、前記画像情報に対応する前記光源の特徴量である第１特徴量と、前記測定ステップによって前記画像情報が示す前記画像を表示する際に測定された前記光源の特徴量である第２特徴量とに基づいて、前記バックライトの制御状態を判定する判定ステップとを含むことを特徴とする検査方法である。

本発明によれば、バックライトの制御状態を適切に検査することができる。

第1の実施形態による表示装置の一例を示すブロック図である。 第1の実施形態における液晶モジュールの一例を示す断面図である。 第1の実施形態におけるバックライトの一例を示す斜視図である。 第1の実施形態における特徴量の一例を示す図である。 第1の実施形態における特徴量記憶部のデータ例を示す図である。 第1の実施形態における検査パターン及び輝度の測定値の一例を示す図である。 第1の実施形態による表示装置の動作の一例を示すフローチャートである。 第２の実施形態による表示装置の一例を示すブロック図である。 第２の実施形態におけるＷｉｎｄｏｗサイズと輝度との特性カーブの一例を示す図である。 第２の実施形態における特徴量の補正処理の一例を示す図である。 第２の実施形態による表示装置の動作の一例を示すフローチャートである。 第３の実施形態による表示装置の一例を示すブロック図である。 第３の実施形態における輝度の均一性の経時変化の一例を示す図である。 第３の実施形態による表示装置の動作の一例を示すフローチャートである。 第４の実施形態による表示装置の一例を示すブロック図である。

以下、本発明の一実施形態による表示装置、及び検査方法について、図面を参照して説明する。

［第１の実施形態］
図１は、第１の実施形態による表示装置１の一例を示すブロック図である。
図１に示すように、表示装置１は、画像処理部１１と、記憶部１２と、判定部１３と、液晶モジュール２０とを備える。

画像処理部１１は、表示する画像を示す画像情報に基づいて、後述するバックライト３０の複数に分割された各光源３１の点灯情報を生成するとともに、点灯情報に対応して変換した画像情報を生成する。ここで、画像情報には、例えば、外部から入力される映像信号や、記憶部１２などから取得される検査パターンの画像情報（映像信号）等が含まれる。また、点灯情報には、例えば、複数に分割された各光源３１の点灯値などが含まれる。画像処理部１１は、生成した点灯情報、及び点灯情報に対応して変換した画像情報を液晶モジュール２０に出力する。

液晶モジュール２０は、図１及び図２に示すように、分割光源制御部２１と、画像表示制御部２２と、表示パネル２３と、特徴量測定部２４と、バックライト３０とを備える。
図２は、本実施形態における液晶モジュール２０の一例を示す断面図である。図２に示すように、表示パネル２３とバックライト３０とは、重ねて配置され、バックライト３０から照射された透過光を表示パネル２３が変調して、表示パネル２３に画像を表示する。

バックライト３０は、複数に分割された光源３１が配置され、光源３１から透過光を変調可能な表示パネル２３に照射する。バックライト３０は、図３に示すように、複数に分割された光源３１と、導光板３２（発光部）と、複数のセンサ部３３とを備える。
図３は、本実施形態におけるバックライト３０の一例を示す斜視図である。図３に示すように、バックライト３０には、導光板３２の１つの側面に複数に分割された光源３１が配置され、反対側の御側面に、複数のセンサ部３３が配置されている。

光源３１は、例えば、発光ダイオードなどであり、本実施形態では、例えば、６個に分割されている。なお、６個に分割された光源３１は、後述する分割光源制御部２１によって、個別に点灯が制御される。なお、１個の光源３１が証明する表示領域をブロックとする。
導光板３２は、光源３１が生成した光を透過光として、表示パネル２３に照射する。

センサ部３３は、例えば、受光素子であり、図３に示す光線Ｌ１のように、光源３１から導光板３２を通過した光を受光して輝度（光の強さ）を検出する。なお、本実施形態では、センサ部３３は、導光板３２を間に挟んで、光源３１と対応して配置されており、分割された光源３１と同様に、６個が備えられている。

図１の説明に戻り、分割光源制御部２１は、画像処理部１１が生成した点灯情報に基づいて、複数に分割された各光源３１を制御する。すなわち、分割光源制御部２１は、画像処理部１１が生成した各光源３１の点灯値により、各光源３１の点灯を制御する。ここで、分割光源制御部２１は、画像情報に応じて、複数に分割された各光源３１を異なる点灯値にて発光させる制御を行う。ここでの点灯の制御には、光源３１を消灯する制御も含まれる。

画像表示制御部２２は、表示パネル２３を透過する透過光の変調を制御する。画像表示制御部２２は、入力された画像情報に基づいて、表示パネル２３の駆動を制御する制御情報を生成し、当該制御情報を表示パネル２３に供給する。

表示パネル２３は、例えば、液晶ディスプレイパネルであり、画像表示制御部２２からの制御情報に基づいて、バックライト３０から照射された透過光を変調して出力して画像を表示する。

特徴量測定部２４（測定部の一例）は、複数に分割された光源３１の特徴量を測定する。特徴量測定部２４は、センサ部３３が検出した輝度（光の強さ）を取得し、取得した当該輝度の分布に基づいて、光源３１の特徴量を抽出する。ここで、特徴量には、例えば、輝度の分布を正規分布にあてはめた場合（正規分布にフィッティングした場合）の特徴量（例えば、中心位置、半値全幅（ＦＷＨＭ）、ピーク輝度、など）が含まれる。このように、特徴量測定部２４は、センサ部３３が検出した光源３１の輝度の分布に基づいて、光源３１の特徴量を測定する。なお、特徴量には、取得した輝度の分布を含めてもよい。ここで、図４を参照して、正規分布にフィッティングした場合の特徴量の具体例について説明する。

図４は、本実施形態における特徴量の一例を示す図である。
図４に示すように、正規分布の波形Ｗ１において、中心位置Ｘの高さが、輝度のピーク値（最大値）であるピーク輝度Ｙｓであり、波形Ｗ１において、ピーク輝度Ｙｓの半分の値となる２点の幅を、半値全幅（ＦＷＨＭ）である。特徴量測定部２４は、輝度の分布を正規分布にフィッティングさせて、図４に示すような半値全幅（ＦＷＨＭ）、中心位置Ｘ、ピーク輝度Ｙｓなどを特徴量として抽出する。特徴量測定部２４は、抽出した特徴量を判定部１３に出力する。

図１の説明に戻り、記憶部１２は、表示装置１の処理に利用する各種情報を記憶する。記憶部１２は、特徴量記憶部１２１を備えている。
特徴量記憶部１２１は、検査パターンである画像情報と、バックライト３０の光源３１の特徴量（第１特徴量）とを対応付けて記憶する。ここで、図５を参照して、特徴量記憶部１２１のデータ例について説明する。

図５は、本実施形態における特徴量記憶部１２１のデータ例を示す図である。
図５において、特徴量記憶部１２１は、「画像情報」と、「特徴量」とを対応付けて記憶する。ここで、「画像情報」は、予め定められた検査パターンの画像情報である。また、「特徴量」は、上述した半値全幅（ＦＷＨＭ）、中心位置Ｘ、ピーク輝度Ｙｓなどの光源３１の特徴量である。

図５に示す例では、「画像情報」が“検査パターンＡ”である場合に、「特徴量」が“ＸＸＸ、ＹＹＹ、・・・”であることを示している。
なお、特徴量記憶部１２１には、このような「画像情報」と「特徴量」とが対応付けられて、予め記憶されているものとする。

再び、図１の説明に戻り、判定部１３は、画像情報に対応する光源３１の特徴量である第１特徴量と、当該画像情報が示す画像を表示する際に特徴量測定部２４が測定した光源３１の特徴量である第２特徴量とに基づいて、バックライト３０の制御状態を判定する。すなわち、判定部１３は、特徴量記憶部１２１から取得した画像情報に対応する第１特徴量と、特徴量測定部２４が測定した第２特徴量とを比較し、当該比較結果に基づいて、バックライト３０の制御状態を判定する。

判定部１３は、例えば、第１特徴量と第２特徴量とが一致する場合に、バックライト３０の制御状態が正常であると判定する。また、判定部１３は、例えば、第１特徴量と第２特徴量とが一致しない場合に、バックライト３０の制御状態に異常（例えば、故障）が発生していると判定し、例えば、外部に故障警告を出力する。ここで、図６を参照して、判定部１３がバックライト３０の制御状態を判定する際に表示する画像の検査パターンについて説明する。

図６は、本実施形態における検査パターン及び輝度の測定値の一例を示す図である。
図６（ａ）〜（ｆ）は、左から順に、検査パターン、バックライト３０の光量分布（輝度分布）、及び輝度の測定値の分布を示している。

検査パターンＰＴ１〜検査パターンＰＴ６は、６つに分割された光源３１のそれぞれを１つずつ点灯させるパターンであり、分割された１つの光源３１の領域（１ブロック）を白色とし、その他の領域を黒色で表示する。ここで、黒色を表示する領域の光源３１は、非点灯となる。すなわち、検査パターンＰＴ１〜検査パターンＰＴ６は、複数に分割された光源３１のうちの１つを点灯し、当該点灯した光源３１以外を非点灯にする検査パターンである。

なお、以下の説明において、白色の表示領域をＷｉｎｄｏｗということがある。検査パターンＰＴ１〜検査パターンＰＴ６において、白色の表示領域（Ｗｉｎｄｏｗ）は、６つに分割された光源３１の点灯を順番に面したパターンである。

また、図６の（ａ）〜（ｆ）に示す輝度の測定値のグラフは、検査パターンＰＴ１〜検査パターンＰＴ６を表示した場合に検出したセンサ部３３の検出値を棒グラフにより示している。
上述した特徴量測定部２４は、図６の（ａ）〜（ｆ）の棒グラフのような輝度の分布を正規分布にフィッティングして、波形Ｗ２〜波形Ｗ７の様な波形を生成し、特徴量を抽出（測定）する。そして、判定部１３は、特徴量測定部２４が抽出（測定）した特徴量である第２特徴量と、特徴量記憶部１２１が各検査パターン（ＰＴ１〜ＰＴ６）に対応する第１特徴量とを比較して、バックライト３０の制御状態を判定する。

特徴量測定部２４は、検査パターンＰＴ１〜検査パターンＰＴ６のような画像情報による判定処理を、例えば、出荷検査の際、及び出荷後に使用開始してから定期的に実行する。また、検査パターンＰＴ１〜検査パターンＰＴ６のような画像情報は、検査の際に、外部から映像信号として入力されてもよいし、記憶部１２に予め記憶されているものを取得するようにしてもよい。

次に、図面を参照して、本実施形態による表示装置１の動作について説明する。
図７は、本実施形態による表示装置１の動作の一例を示すフローチャートである。ここでは、表示装置１の検査処理の一例について説明する。

図７において、表示装置１の画像処理部１１に、例えば、外部から映像信号として画像情報が入力される、又は、記憶部１２から画像情報が取得されると、画像処理部１１は、画像情報に基づいて、バックライト３０の輝度値を生成する（ステップＳ１０１）。画像処理部１１は、例えば、図６に示す検査パターンＰＴ１〜検査パターンＰＴ６のような画像情報に基づいて、分割された各光源３１の輝度値を生成し、生成した輝度値を分割光源制御部２１に出力する。

また、画像処理部１１は、バックライト３０の輝度値に対応させて変換した画像情報を生成して、当該変換した画像情報を画像表示制御部２２に出力し、画像表示制御部２２に表示パネル２３の透過光を変調させる。

次に、分割光源制御部２１は、画像処理部１１が生成した輝度値に基づいて各光源３１を制御する（ステップＳ１０２）。例えば、図６に示す検査パターンＰＴ１〜検査パターンＰＴ６である場合には、特徴量測定部２４は、６個に分割された光源３１のうちの１つを点灯し、その他を消灯（非点灯）にする制御を行う。その結果、バックライト３０の光量は、図６（ａ）〜（ｆ）のバックライト３０の光量分布のような状態になる。

次に、センサ部３３が、位置ごとの輝度値を測定する（ステップＳ１０３）。６個のセンサ部３３のそれぞれは、図６に示す棒グラフのような輝度値を測定する。
次に、特徴量測定部２４は、センサ部３３が測定した輝度値から、特徴量（第２特徴量）を抽出する（ステップＳ１０４）。特徴量測定部２４は、図６に示す棒グラフのような輝度値の分布を、波形Ｗ２〜波形Ｗ７のように正規分布にフィッティングし（正規分布にあてはめ）、第２特徴量を抽出する。ここで、第２特徴量は、例えば、上述した図４に示すような半値全幅（ＦＷＨＭ）、中心位置Ｘ、ピーク輝度Ｙｓなどである。

次に、判定部１３は、画像情報に対応する特徴量(第1特徴量)を特徴量記憶部１２１から取得する（ステップＳ１０５）。判定部１３は、例えば、図６に示す検査パターンＰＴ１〜検査パターンＰＴ６に対応する第1特徴量を特徴量記憶部１２１から取得する。

次に、判定部１３は、第1特徴量と第２特徴量とが一致するか否かを判定する（ステップＳ１０６）。すなわち、判定部１３は、第1特徴量と第２特徴量とを比較し、第1特徴量と第２特徴量とが一致するか否かを判定する。なお、判定部１３は、第1特徴量と第２特徴量との差分が所定の値以内である場合に、第1特徴量と第２特徴量とが一致すると判定してもよい。判定部１３は、第1特徴量と第２特徴量とが一致する場合（ステップＳ１０６：ＹＥＳ）に、バックライト３０の動作状態が正常であると判定し、検査処理を終了する。また、判定部１３は、第1特徴量と第２特徴量とが一致しない場合（ステップＳ１０６：ＮＯ）に、処理をステップＳ１０７に進める。

ステップＳ１０７において、判定部１３は、バックライト３０の動作状態が異常であると判定し、故障警告を外部に出力する。なお、判定部１３は、輝度値の分布、及び第２特徴量の状態からバックライト３０の故障の要因を推定し、推定要因を出力するようにしてもよい。すなわち、判定部１３は、例えば、輝度値の分布、及び第２特徴量の状態から、光源３１又は光源３１の接続不良なのか、光源３１自体の特性不良なのかなどを推定するようにしてもよい。ステップＳ１０７の処理後に、判定部１３は、検査処理を終了する。

なお、表示装置１は、上述した図７に示すような検査処理を検査パターンを変更して実行するとともに、出荷検査の際や、出荷後に使用開始してから定期的（所定の時間間隔、例えば、１カ月ごとなど）に実行する。

以上説明したように、本実施形態による表示装置１は、バックライト３０と、画像処理部１１と、分割光源制御部２１と、特徴量測定部２４（測定部）と、判定部１３とを備える。バックライト３０は、複数に分割された光源３１が配置され、光源３１から透過光を変調可能な表示パネル２３に照射する。画像処理部１１は、表示する画像を示す画像情報（例えば、映像信号など）に基づいて、複数に分割された各光源３１の点灯情報（例えば、輝度値）を生成する。分割光源制御部２１は、画像処理部１１が生成した点灯情報に基づいて、複数に分割された各光源３１を制御する。特徴量測定部２４は、複数に分割された光源３１の特徴量を測定する。判定部１３は、画像情報に対応する光源３１の特徴量である第１特徴量と、画像情報が示す画像を表示する際に特徴量測定部２４が測定した光源３１の特徴量である第２特徴量とに基づいて、バックライト３０の制御状態を判定する。

これにより、本実施形態による表示装置１は、例えば、画像によって複数に分割された光源３１（エリア）によってバックライト３０の輝度を変更するエリア制御を行う場合に、画像情報に対応した特徴量によりバックライト３０の制御状態を判定するため、バックライト３０の制御状態を適切に検査することができる。

本実施形態による表示装置１は、例えば、出荷検査などの製造工程において、バックライト３０の制御状態を適切に検査することができる。また、本実施形態による表示装置１は、例えば、ユーザ使用時に定期的に上述した判定部１３の判定処理を行うことで、故障を早期に検出することができる。

また、本実施形態による表示装置１は、画像情報と、第１特徴量とを対応付けて記憶する特徴量記憶部１２１を備える。判定部１３は、特徴量記憶部１２１から取得した画像情報に対応する第１特徴量と、第２特徴量とを比較し、当該比較結果に基づいて、バックライト３０の制御状態を判定する。
これにより、本実施形態による表示装置１は、簡易な構成により、バックライト３０の制御状態を適切に検査することができる。

また、本実施形態では、画像情報は、複数に分割された光源３１のうちの１つを点灯し、当該点灯した光源３１以外を非点灯にする検査パターン（例えば、図６に示す検査パターンＰＴ１〜検査パターンＰＴ６など）である。
これにより、本実施形態による表示装置１は、バックライト３０のエリア制御（ブロック動作）に起因する故障を適切に検出することができる。また、本実施形態による表示装置１は、このような検査パターンを使用することで、例えば、複数に分割された光源３１のいずれかに故障がある場合に、故障の要因を適切に推定することができる。

また、本実施形態では、光源３１の特徴量は、光源３１の輝度の分布を正規分布にあてはめた場合（フィッティングした場合）の特徴量（例えば、図４に示すような半値全幅（ＦＷＨＭ）、中心位置Ｘ、ピーク輝度Ｙｓなど）である。
これにより、本実施形態による表示装置１は、簡易な手法により容易に抽出可能な特徴量により、適切にバックライト３０の制御状態を判定することができる。

また、本実施形態による表示装置１は、光源３１の輝度の分布を検出するセンサ部３３を備える。特徴量測定部２４は、センサ部３３が検出した光源３１の輝度の分布に基づいて、光源３１の特徴量を測定する。
これにより、本実施形態による表示装置１は、簡易な構成により、容易に光源３１の特徴量を測定することができる。

また、本実施形態の検査方法は、複数に分割された光源３１が配置され、光源３１から透過光を変調可能な表示パネル２３に照射するバックライト３０を備える表示装置１の検査方法であって、画像処理ステップと、分割光源制御ステップと、測定ステップと、判定ステップとを含む。画像処理ステップにおいて、画像処理部１１が、表示する画像を示す画像情報に基づいて、複数に分割された各光源３１の点灯情報を生成する。分割光源制御ステップにおいて、分割光源制御部２１が、画像処理ステップによって生成された点灯情報に基づいて、複数に分割された各光源３１を制御する。測定ステップにおいて、特徴量測定部２４が、複数に分割された光源３１の特徴量を測定する。判定ステップにおいて、判定部１３が、画像情報に対応する光源３１の特徴量である第１特徴量と、測定ステップによって画像情報が入力された際に測定された光源３１の特徴量である第２特徴量とに基づいて、バックライト３０の制御状態を判定する。
これにより、本実施形態による検査方法は、上述した表示装置１と同様の効果を奏し、バックライト３０の制御状態を適切に検査することができる。

なお、本実施形態において、判定部１３が、第１特徴量と、第２特徴量とに基づいて、バックライト３０の制御状態の異常（例えば、故障）を検出した場合に、例えば、故障警告を外部に出力した、ユーザへの修理を促すようにしてもよい。また、本実施形態による表示装置１は、例えば、サーバ装置に接続された状態で管理されてもよく、サーバ装置から、故障を検知した情報を保守部門などに送付するようにしてもよい。

[第２の実施形態]
次に、図面を参照して、第２の実施形態による表示装置１ａについて説明する。
図８は、第２の実施形態による表示装置１ａの一例を示すブロック図である。

図８に示すように、表示装置１ａは、画像処理部１１ａと、記憶部１２と、判定部１３ａと、液晶モジュール２０とを備える。
なお、図８において、図１と同一の構成には同一の符号を付与し、その説明を省略する。本実施形態では、画像処理部１１ａ及び判定部１３ａの処理が異なる点を除いて、第１の実施形態と同様である。

画像処理部１１ａは、画像情報の平均輝度に応じて、各光源３１の点灯情報を生成する。すなわち、画像処理部１１ａは、画像情報の平均輝度に応じて、分割された光源３１の輝度値を変更する。その他の画像処理部１１ａの処理は、第１の実施形態と同様である。
なお、画像情報の平均輝度（ＡＬＬ）は、下記の式（１）により表される。

ここで、変数Ｈと変数Ｗとは、画像の縦と横との画素数を表し、Ｙ（ｉ，ｊ）は、座標（ｉ，ｊ）における画像輝度信号レベル（０〜２５５）を表している。また、変数Ｌｐは、表示画像のピーク輝度であり、変数γは、ガンマ値を表している。一例として、ガンマ値γ＝２．２に設定し、平均輝度（ＡＬＬ）は、全伯表示を１００％とする相対値を示し、規格化した値をとる。
画像処理部１１ａは、例えば、上述の式（１）から算出された平均輝度レベルに基づいて、表示画像の輝度レベルを決定するルックアップテーブルを用いて、画像情報（映像信号）に応じたピーク輝度レベルを設定する。

判定部１３ａは、点灯情報に基づいて補正した第１特徴量と、第２特徴量とに基づいて、バックライト３０の制御状態を判定する。ここで、本実施形態では、バックライト３０の輝度のピーク値は、画像情報の平均輝度に応じて変更されるため、検査パターンの白色表示の領域（Ｗｉｎｄｏｗ）の面積が狭い程低い値となる。そのため、判定部１３ａは、図９に示すＷｉｎｄｏｗサイズと輝度レベルとを示す特性カーブ（波形Ｗ８）に基づいて、特徴量記憶部１２１から取得した第１特徴量を補正する。

図９は、本実施形態におけるＷｉｎｄｏｗサイズと輝度との特性カーブの一例を示す図である。
この図において、横軸は、対数チャート（Ｌｏｇスケール）のＷｉｎｄｏｗサイズを示し、縦軸は、輝度レベルを示している。また、波形Ｗ８は、Ｗｉｎｄｏｗサイズと輝度との特性カーブ（Window size−Luminance Level特性カーブ）を示している。

なお、本実施形態で使用する検査パターンは、黒背景（階調０／２５５）の白のＷｉｎｄｏｗ（階調２５５／２５５）であるため、階調信号レベルが０又は２５５の値をとる。このことから、画像輝度信号レベルＹ（ｉ，ｊ）＝０又は２５５となるため、上述の式（１）から平均輝度ＡＬＬは、γの値によらず、画像領域に占めるＷｉｎｄｏｗｓサイズの割合で決まることになる。
そのため、本実施形態では、Ｗｉｎｄｏｗｓサイズ（階調２５５／２５５）を変えた検査パターンを用いて測定することで、平均輝度ＡＬＬの特性を反映した検査を実施することができ、精度の高い故障診断や輝度補正に適用することができる。

また、図１０は、本実施形態における特徴量の補正処理の一例を示す図である。
図１０（ａ）〜（ｃ）は、左から順に、検査パターン、バックライト３０の光量分布（輝度分布）、及び輝度の測定値の分布を示している。

例えば、図１０（ａ）に示す検査パターンＰＴ１０は、全画面に白色を表示する検査パターンである。この場合、バックライト３０の輝度のピーク値は、図９のグラフ上の点Ｐ１に示すように、１００％である。この場合、判定部１３ａは、第１特徴量の補正を行わずに、第２特徴量と比較する。

また、例えば、図１０（ｂ）に示す検査パターンＰＴ１１は、分割された光源３１の１つの対応する領域全体に白色を表示する検査パターンである。この場合、バックライト３０の輝度のピーク値（輝度レベル）は、Ｗｉｎｄｏｗのサイズ（例えば、割合）が、約１６．７％であるため、図９のグラフ上の点Ｐ２に示すように、約７４％である。この場合、判定部１３ａは、第１特徴量を７４％の輝度に補正する。

具体的に、図１０（ｂ）の輝度の測定値の分布のグラフにおいて、波形Ｗ１０は、補正前の第１特徴量に対応する正規分布を示している。判定部１３ａは、波形Ｗ１０を、図９のグラフ上の点Ｐ２に示す輝度レベル（約７４％）に基づいて、波形Ｗ１１に示す正規分布に補正する。なお、波形Ｗ１２は、測定した第２特徴量に対応する正規分布を示している。判定部１３ａは、このように補正した第２特徴量と、測定した第１特徴量とを比較して、バックライト３０の制御状態を判定する。

また、例えば、図１０（ｃ）に示す検査パターンＰＴ１２は、分割された光源３１の１つの対応する領域（１ブロック）の一部に白色を表示する検査パターンである。すなわち、検査パターンＰＴ１２は、１ブロックよりも小さいサイズに白色を表示する検査パターンである。この場合、バックライト３０の輝度のピーク値（輝度レベル）は、Ｗｉｎｄｏｗのサイズ（例えば、割合）が、約３．３％であるため、図９のグラフ上の点Ｐ３に示すように、約５４％である。この場合、判定部１３ａは、第１特徴量を５４％の輝度に補正する。

具体的に、図１０（ｃ）の輝度の測定値の分布のグラフにおいて、波形Ｗ１３は、補正前の第１特徴量に対応する正規分布を示している。判定部１３ａは、波形Ｗ１３を、図９のグラフ上の点Ｐ３に示す輝度レベル（約５４％）に基づいて、波形Ｗ１４に示す正規分布に補正する。なお、波形Ｗ１５は、測定した第２特徴量に対応する正規分布を示している。判定部１３ａは、このように補正した第２特徴量と、測定した第１特徴量とを比較して、バックライト３０の制御状態を判定する。

このように、本実施形態の画像情報は、複数に分割された光源３１のうちの１つを点灯し、当該点灯した光源３１以外を非点灯にし、且つ、表示パネル２３のうちの所定の領域（Ｗｉｎｄｏｗ）を白色表示し、所定の領域以外を黒色表示する検査パターンである。そして、判定部１３ａは、所定の領域の面積に基づいて補正した第１特徴量と、第２特徴量とに基づいて、バックライト３０の制御状態を判定する。

次に図面を参照して、本実施形態による表示装置１ａの動作について説明する。
図１１は、本実施形態による表示装置１ａの動作の一例を示すフローチャートである。ここでは、表示装置１ａの検査処理の一例について説明する。

図１１において、表示装置１ａの画像処理部１１ａに、例えば、外部から映像信号として画像情報が入力される、又は、記憶部１２から画像情報が取得されると、画像処理部１１ａは、画像情報に基づいて、バックライト３０の輝度値を生成する（ステップＳ２０１）。画像処理部１１ａは、例えば、図６に示す検査パターンＰＴ１１及び検査パターンＰＴ１２のような画像情報に基づいて、分割された各光源３１の輝度値を生成し、生成した輝度値を分割光源制御部２１に出力する。ここで、画像処理部１１ａは、画像情報から平均輝度レベルを抽出して、当該平均輝度レベルに基づいて、表示画像のピーク輝度を設定する。また、分割光源制御部２１は、例えば、各ブロックの光量を制御する手段として、ＤＣ調光、ＰＷＭ調光、又は、ＤＣ調光とＰＷＭ調光との両方の組み合わせによって調光するようにしてもよい。

続く、ステップＳ２０２からステップＳ２０５までの処理は、上述した図７に示すステップＳ１０２からステップＳ１０５までの処理と同様であるため、ここではその説明を省略する。

ステップＳ２０６において、判定部１３ａは、第１特徴量を白色表示領域のサイズに基づいて補正する。判定部１３ａは、上述した図１０に示すような補正処理により、特徴量記憶部１２１が記憶する第２特徴量を補正する。

次に、判定部１３ａは、補正した第1特徴量と第２特徴量とが一致するか否かを判定する（ステップＳ２０７）。判定部１３ａは、補正した第1特徴量と第２特徴量とが一致する場合（ステップＳ２０７：ＹＥＳ）に、バックライト３０の動作状態が正常であると判定し、検査処理を終了する。また、判定部１３ａは、補正した第1特徴量と第２特徴量とが一致しない場合（ステップＳ２０７：ＮＯ）に、処理をステップＳ２０８に進める。

ステップＳ２０８において、判定部１３ａは、バックライト３０の動作状態が異常であると判定し、故障警告を外部に出力する。なお、ステップＳ２０８の処理は、上述した図７に示すステップＳ１０７の処理と同様であるため、ここではその説明を省略する。ステップＳ２０８の処理後に、判定部１３ａは、検査処理を終了する。
なお、上述した実施形態では、判定部１３ａは、白色表示領域のサイズに基づいて、第１特徴量を補正する例を説明したが、第２特徴量を補正して、第１特徴量と、補正した第２特徴量とに基づいて、バックライト３０の制御状態を判定するようにしてもよい。

以上説明したように、本実施形態による表示装置１ａは、バックライト３０と、画像処理部１１ａと、分割光源制御部２１と、特徴量測定部２４（測定部）と、判定部１３ａとを備える。
これにより、本実施形態による表示装置１ａは、上述した第１の実施形態と同様の効果を奏し、バックライト３０の制御状態を適切に検査することができる。

また、本実施形態では、画像処理部１１ａは、画像情報の平均輝度に応じて、各光源３１の点灯情報（例えば、表示画像のピーク輝度値）を生成する。判定部１３ａは、点灯情報に基づいて補正した第１特徴量と、第２特徴量とに基づいて、バックライト３０の制御状態を判定する。
これにより、本実施形態による表示装置１ａは、画像情報の平均輝度に基づいて、表示画像のピーク輝度を設けることでコントラスト感を向上させることができるとともに、画像の輝度レンジに応じた動作環境で故障を検出することができる。よって、本実施形態による表示装置１ａは、さらに精度の高い故障診断を行うことができる。例えば、本実施形態による表示装置１ａは、検出可能な故障モードとして、光源３１のショート／断線だけでなく、分割制御される光源３１の機能故障を検出することができる。

[第３の実施形態]
次に、図面を参照して、第３の実施形態による表示装置１ｂについて説明する。
図１２は、第３の実施形態による表示装置１ｂの一例を示すブロック図である。

図１２に示すように、表示装置１ｂは、画像処理部１１と、記憶部１２ａと、判定部１３ｂと、液晶モジュール２０とを備える。
なお、図１２において、図１と同一の構成には同一の符号を付与し、その説明を省略する。本実施形態では、バックライト３０の経時変化を考慮して、バックライト３０の制御状態を判定する場合の一例を示している。本実施形態では、記憶部１２ａの構成と判定部１３ｂの処理が異なる点を除いて、第１の実施形態と同様である。

記憶部１２ａは、表示装置１ｂの処理に利用する各種情報を記憶する。記憶部１２ｂは、特徴量記憶部１２１と、均一性記憶部１２２とを備えている。

均一性記憶部１２２は、予め測定された複数に分割された光源３１の均一性の特性を記憶する。均一性記憶部１２２は、例えば、上述した図１０の検査パターン１０を表示した場合のセンサ部３３の測定値（輝度値の分布）を、均一性の特性として記憶する。ここで、均一性の特性は、例えば、表示装置１ｂ出荷検査時に測定した特性を均一性記憶部１２２に記憶しておく。

判定部１３ｂは、均一性記憶部１２２が記憶する過去の均一性の特性と、特徴量測定部２４が測定した現在の均一性の特性とに基づいて、第１特徴量を補正する。判定部１３ｂは、判定処理を実行する前に、上述した図１０の検査パターン１０を表示して、センサ部３３により測定した輝度値の分布を現在の均一性の特性として特徴量測定部２４から取得する。
また、判定部１３ｂは、判定処理を実行する際に、均一性記憶部１２２が記憶する過去の均一性の特性と、取得した現在の均一性の特性とを比較値して補正値を生成し、当該補正値に基づいて、第１特徴量を補正する。ここで、図１３を参照して、輝度の均一性の経時変化について説明する。

図１３は、本実施形態における輝度の均一性の経時変化の一例を示す図である。
図１３（ａ）は、検査パターン１０を表示した際のバックライト３０の光量分布（輝度分布）、及び輝度の測定値の分布を示している。ここで、図１３（ａ）に示す波形Ｗ２０は、過去の均一性の特性に対応する。

また、図１３（ｂ）は、判定処理を行う現在において検査パターン１０を表示した際のバックライト３０の光量分布（輝度分布）、及び輝度の測定値の分布を示している。ここで、図１３（ｂ）に示す波形Ｗ２１は、現在の均一性の特性に対応し、波形Ｗ２０と波形Ｗ２１との差分が、輝度の均一性の経時変化を示している。

判定部１３ｂは、例えば、図６に示す検査パターンＰＴ１〜検査パターンＰＴ６を表示させて判定処理を実行し、波形Ｗ２０と波形Ｗ２１との差分に基づいて補正した第１特徴量と、検査パターンＰＴ１〜検査パターンＰＴ６を表示させて測定した第２特徴量とを比較して、バックライト３０の制御状態を判定する。判定部１３ｂの判定処理は、上述した輝度の均一性の経時変化に基づいて補正した第１特徴量を使用する点を除いて第１の実施形態と同様である。

次に図面を参照して、本実施形態による表示装置１ｂの動作について説明する。
図１４は、本実施形態による表示装置１ｂの動作の一例を示すフローチャートである。ここでは、表示装置１ｂの検査処理の一例について説明する。

図１４において、表示装置１ｂは、まず、輝度減衰量を測定する（ステップＳ３０１）。上述した図１３（ｂ）に示すように、特徴量測定部２４は、センサ部３３を使用して、現在の均一性の特性を計測し、判定部１３ｂは、均一性記憶部１２２が記憶する過去の均一性の特性と、取得した現在の均一性の特性との差分（輝度減衰量）を補正値として生成する。

続く、ステップＳ３０２からステップＳ３０６までの処理は、上述した図７に示すステップＳ１０１からステップＳ１０５までの処理と同様であるため、ここではその説明を省略する。

ステップＳ３０７において、判定部１３ｂは、輝度減衰量に基づいて、第１特徴量を補正する。例えば、検査パターンＰＴ１〜検査パターンＰＴ６を表示させる場合、判定部１３ｂは、点灯する光源３１に対応する輝度減衰量（ブロックごとの輝度減衰量）を用いて第１特徴量を補正する。

次に、判定部１３ｂは、補正した第1特徴量と第２特徴量とが一致するか否かを判定する（ステップＳ３０８）。判定部１３ｂは、補正した第1特徴量と第２特徴量とが一致する場合（ステップＳ３０８：ＹＥＳ）に、バックライト３０の動作状態が正常であると判定し、検査処理を終了する。また、判定部１３ｂは、補正した第1特徴量と第２特徴量とが一致しない場合（ステップＳ３０８：ＮＯ）に、処理をステップＳ３０９に進める。

ステップＳ３０９において、判定部１３ｂは、バックライト３０の動作状態が異常であると判定し、故障警告を外部に出力する。なお、ステップＳ３０９の処理は、上述した図７に示すステップＳ１０７の処理と同様であるため、ここではその説明を省略する。ステップＳ３０９の処理後に、判定部１３ｂは、検査処理を終了する。

なお、上述した実施形態では、判定部１３ｂは、輝度減衰量に基づいて、第１特徴量を補正する例を説明したが、第２特徴量を補正して、第１特徴量と、補正した第２特徴量とに基づいて、バックライト３０の制御状態を判定するようにしてもよい。

以上説明したように、本実施形態による表示装置１ｂは、バックライト３０と、画像処理部１１と、分割光源制御部２１と、特徴量測定部２４（測定部）と、判定部１３ｂとを備える。
これにより、本実施形態による表示装置１ｂは、上述した第１の実施形態と同様の効果を奏し、バックライト３０の制御状態を適切に検査することができる。

また、本実施形態による表示装置１ｂは、予め測定された複数に分割された光源３１の均一性の特性を記憶する均一性記憶部１２２を備える。特徴量測定部２４は、均一性の特性を測定する。判定部１３ｂは、均一性記憶部１２２が記憶する過去の均一性の特性と、特徴量測定部２４が測定した現在の均一性の特性とに基づいて、第１特徴量、又は第２特徴量を補正する。
これにより、本実施形態による表示装置１ｂは、輝度の均一性の特性の経時変化を、故障診断に適用することで、長期的に精度の高い故障診断を行うことができる。また、本実施形態による表示装置１ｂは、例えば、初期状態の画面の輝度分布が完全に均一でない製品出荷条件であっても、故障診断を適用することができる。

［第４の実施形態］
次に、図１５を参照して、第４の実施形態による表示装置１ｃについて説明する。なお、本実施形態では、本発明の基本構成例について説明する。
図１５は、本実施形態による表示装置１ｃの一例を示すブロック図である。

図１５に示すように、表示装置１ｃは、画像処理部１１０と、判定部１３０と、分割光源制御部２１０と、表示パネル２３０と、測定部２４０と、バックライト３００とを備える。
バックライト３００は、複数に分割された光源３１０が配置され、光源３１０から透過光を変調可能な表示パネル２３０に照射する。
表示パネル２３０は、例えば、液晶ディスプレイパネルであり、バックライト３０から照射された透過光を変調して出力して画像を表示する。

画像処理部１１０は、表示する画像を示す画像情報（例えば、映像信号など）に基づいて複数に分割された各光源３１０の点灯情報（例えば、輝度値）を生成する。
分割光源制御部２１０は、画像処理部１１０が生成した点灯情報に基づいて、複数に分割された各光源３１０を制御する。

測定部２４０は、複数に分割された光源３１０の特徴量を測定する。
判定部１３０は、画像情報に対応する光源３１０の特徴量である第１特徴量と、画像情報が示す画像を表示する際に測定部２４０が測定した光源３１０の特徴量である第２特徴量とに基づいて、バックライト３００の制御状態を判定する。

これにより、本実施形態による表示装置１ｃは、例えば、画像によって複数に分割された光源３１（エリア）によってバックライト３０の輝度を変更するエリア制御を行う場合に、画像情報に対応した特徴量によりバックライト３００の制御状態を判定するため、バックライト３００の制御状態を適切に検査することができる。

なお、本発明は、上記の実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で変更可能である。
例えば、上記の各実施形態において、輝度の特徴量は、正規分布にフィッティングさせて抽出する例を説明したが、これに限定されるものではなく、他の公知の関数を適用してもよい。また、特徴量は、中心位置、半値全幅（ＦＷＨＭ）、ピーク輝度に限定されるものではなく、他の特徴量を用いてもよい。

また、上記の各実施形態において、特徴量測定部２４（測定部２４０）は、特徴量を抽出する際に、複数の正規分布を重ねた曲線でフィッティングしてもよい。例えば、特徴量測定部２４（測定部２４０）は、ブロック数に応じた正規分布を重ねてもよい。これにより、複雑な輝度の均一性の変化に応じて特徴量を抽出することができる。

また、上記の各実施形態において、バックライト３０（３００）は、６個の光源に分割されて制御される例を説明したが、これに限定されるものではなく、複数に分割されて制御されるものであれば、他の数及び他のブロックに分割されて制御されてもよい。
また、上記の各実施形態において、バックライト３０は、図３に示すようなサイドエッジタイプの構成を説明したが、これに限定されるものではなく、直下型タイプであってもよい。

また、上記の各実施形態において、表示パネル２３（２３０）は、液晶表示素子を備える液晶ディスプレイパネルである例を説明したが、これに限定されるものではなく、他の透過式の表示素子を備える表示パネルであってもよい。
また、上記の各実施形態において、検査パターンの画像情報は、外部から映像信号として入力されてもよいし、記憶部１２（１２ａ）に予め記憶されているものを取得するようにしてもよい。

また、上記の各実施形態において、特徴量記憶部１２１は、「画像情報」と「特徴量」とを対応付けて記憶する例を説明したが、これに限定されるものではない。例えば、特徴量記憶部１２１は、検査パターンを示す識別情報と、「特徴量」とを対応付けて記憶するようにしてもよい。
また、上記の各実施形態は、各実施形態の一部又は全部を組み合わせて実施すｙるようにしてもよい。

なお、上述した表示装置１（１ａ〜１ｃ）が備える各構成は、内部に、コンピュータシステムを有している。そして、上述した表示装置１（１ａ〜１ｃ）が備える各構成の機能を実現するためのプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録して、この記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータシステムに読み込ませ、実行することにより上述した表示装置１（１ａ〜１ｃ）が備える各構成における処理を行ってもよい。ここで、「記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータシステムに読み込ませ、実行する」とは、コンピュータシステムにプログラムをインストールすることを含む。ここでいう「コンピュータシステム」とは、ＯＳや周辺機器等のハードウェアを含むものとする。
また、「コンピュータシステム」は、インターネットやＷＡＮ、ＬＡＮ、専用回線等の通信回線を含むネットワークを介して接続された複数のコンピュータ装置を含んでもよい。また、「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、ＲＯＭ、ＣＤ−ＲＯＭ等の可搬媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置のことをいう。このように、プログラムを記憶した記録媒体は、ＣＤ−ＲＯＭ等の非一過性の記録媒体であってもよい。

また、記録媒体には、当該プログラムを配信するために配信サーバからアクセス可能な内部又は外部に設けられた記録媒体も含まれる。なお、プログラムを複数に分割し、それぞれ異なるタイミングでダウンロードした後に表示装置１（１ａ〜１ｃ）が備える各構成で合体される構成や、分割されたプログラムのそれぞれを配信する配信サーバが異なっていてもよい。さらに「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、ネットワークを介してプログラムが送信された場合のサーバやクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリ（ＲＡＭ）のように、一定時間プログラムを保持しているものも含むものとする。また、上記プログラムは、上述した機能の一部を実現するためのものであってもよい。さらに、上述した機能をコンピュータシステムに既に記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分ファイル（差分プログラム）であってもよい。

また、上述した機能の一部又は全部を、ＬＳＩ（Large Scale Integration）等の集積回路として実現してもよい。上述した各機能は個別にプロセッサ化してもよいし、一部、又は全部を集積してプロセッサ化してもよい。また、集積回路化の手法はＬＳＩに限らず専用回路、又は汎用プロセッサで実現してもよい。また、半導体技術の進歩によりＬＳＩに代替する集積回路化の技術が出現した場合、当該技術による集積回路を用いてもよい。

１、１ａ、１ｂ、１ｃ 表示装置
１１、１１ａ、１１０ 画像処理部
１２、１２ａ 記憶部
１３、１３ａ、１３ｂ、１３０ 判定部
２０ 液晶モジュール
２１、２１０ 分割光源制御部
２２ 画像表示制御部
２３、２３０ 表示パネル
２４ 特徴量測定部
３０、３００ バックライト
３１、３１０ 光源
３２ 導光板
３３ センサ部
１２１ 特徴量記憶部
１２２ 均一性記憶部
２４０ 測定部

Claims (9)

1. 複数に分割された光源が配置され、前記光源から透過光を変調可能な表示パネルに照射するバックライトと、
   表示する画像を示す画像情報に基づいて、前記複数に分割された各光源の点灯情報を生成する画像処理部と、
   前記画像処理部が生成した前記点灯情報に基づいて、前記複数に分割された各光源を制御する分割光源制御部と、
   前記複数に分割された光源の特徴量を測定する測定部と、
   前記画像情報に対応する前記光源の特徴量である第１特徴量と、前記画像情報が示す前記画像を表示する際に測定部が測定した前記光源の特徴量である第２特徴量とに基づいて、前記バックライトの制御状態を判定する判定部と
   を備えることを特徴とする表示装置。
2. 前記画像情報と、前記第１特徴量とを対応付けて記憶する特徴量記憶部を備え、
   前記判定部は、前記特徴量記憶部から取得した前記画像情報に対応する前記第１特徴量と、前記第２特徴量とを比較し、当該比較結果に基づいて、前記バックライトの制御状態を判定する
   ことを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
3. 前記画像処理部は、前記画像情報の平均輝度に応じて、各光源の点灯情報を生成し、
   前記判定部は、前記点灯情報に基づいて補正した前記第１特徴量と、前記第２特徴量とに基づいて、前記バックライトの制御状態を判定する
   ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の表示装置。
4. 前記画像情報は、前記複数に分割された光源のうちの１つを点灯し、当該点灯した光源以外を非点灯にする検査パターンである
   ことを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の表示装置。
5. 前記画像情報は、前記複数に分割された光源のうちの１つを点灯し、当該点灯した光源以外を非点灯にし、且つ、前記表示パネルのうちの所定の領域を白色表示し、前記所定の領域以外を黒色表示する検査パターンであり、
   前記判定部は、前記所定の領域の面積に基づいて補正した前記第１特徴量と、前記第２特徴量とに基づいて、前記バックライトの制御状態を判定する
   ことを特徴とする請求項３に記載の表示装置。
6. 予め測定された前記複数に分割された光源の均一性の特性を記憶する均一性記憶部を備え、
   前記測定部は、前記均一性の特性を測定し、
   前記判定部は、前記均一性記憶部が記憶する過去の前記均一性の特性と、前記測定部が測定した現在の前記均一性の特性とに基づいて、前記第１特徴量、又は前記第２特徴量を補正する
   ことを特徴とする請求項１から請求項５のいずれか一項に記載の表示装置。
7. 前記光源の特徴量は、前記光源の輝度の分布を正規分布にあてはめた場合の特徴量である
   ことを特徴とする請求項１から請求項６のいずれか一項に記載の表示装置。
8. 前記光源の輝度の分布を検出するセンサ部を備え、
   前記測定部は、前記センサ部が検出した前記光源の輝度の分布に基づいて、前記光源の特徴量を測定する
   ことを特徴とする請求項１から請求項７のいずれか一項に記載の表示装置。
9. 複数に分割された光源が配置され、前記光源から透過光を変調可能な表示パネルに照射するバックライトを備える表示装置の検査方法であって、
   画像処理部が、表示する画像を示す画像情報に基づいて、前記複数に分割された各光源の点灯情報を生成する画像処理ステップと、
   分割光源制御部が、前記画像処理ステップによって生成された前記点灯情報に基づいて、前記複数に分割された各光源を制御する分割光源制御ステップと、
   測定部が、前記複数に分割された光源の特徴量を測定する測定ステップと、
   判定部が、前記画像情報に対応する前記光源の特徴量である第１特徴量と、前記測定ステップによって前記画像情報が示す前記画像を表示する際に測定された前記光源の特徴量である第２特徴量とに基づいて、前記バックライトの制御状態を判定する判定ステップと
   を含むことを特徴とする検査方法。