JP2020061448A

JP2020061448A - チップ抵抗器

Info

Publication number: JP2020061448A
Application number: JP2018191335A
Authority: JP
Inventors: 健笠島; Takeshi Kasashima; 尚弘高嶋; Hisahiro Takashima
Original assignee: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Current assignee: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Priority date: 2018-10-10
Filing date: 2018-10-10
Publication date: 2020-04-16

Abstract

【課題】本発明は、高抵抗値でも抵抗値精度が高いチップ抵抗器を提供することを目的とするものである。【解決手段】本発明のチップ抵抗器は、絶縁基板１１の上面の両端部に形成された第１、第２の上面電極１２、１３と、絶縁基板１１の上面に形成された第１〜第３の抵抗体１４〜１６および第１、第２の内部電極１７、１８とを備え、第１の上面電極１２は第１の抵抗体１４の一端部と接続し、第１の内部電極１７は第１の抵抗体１４の他端部および第２の抵抗体１５の一端部と接続し、第２の内部電極１８は第２の抵抗体１５の他端部および第３の抵抗体１６の一端部と接続し、第２の上面電極１３は第３の抵抗体１６の他端部と接続し、第１、第２の内部電極１７、１８の一部は保護膜１９から露出している。【選択図】図１

Description

本発明は、各種電子機器に使用される高い抵抗値のチップ抵抗器に関する。

従来のこの種のチップ抵抗器は、図４に示すように、絶縁基板１と、この絶縁基板１の上面の両端部に設けられた一対の上面電極２と、絶縁基板１の上面に設けられ、かつ一対の上面電極２間に形成された矩形状の抵抗体３とを備え、抵抗体３には、抵抗値調整用のトリミング溝４が形成されていた。

なお、この出願の発明に関する先行技術文献情報としては、例えば、特許文献１が知られている。

特開平６−３３８４０６号公報

上記した従来のチップ抵抗器においては、抵抗値が高くなった場合（例えば１ＭΩ以上）、電流がほとんど流れないため、抵抗値を高精度で測定するのが困難となり、これにより、抵抗値精度が高いチップ抵抗器を得るのが困難であるという課題を有していた。

本発明は上記従来の課題を解決するもので、高抵抗値でも抵抗値精度が高いチップ抵抗器を提供することを目的とするものである。

第１の態様に係るチップ抵抗器は、絶縁基板と、前記絶縁基板の上面の両端部に設けられた第１、第２の上面電極と、前記絶縁基板の上面に設けられた第１〜第３の抵抗体および第１、第２の内部電極と、前記第１、第２の上面電極および前記第１、第２の内部電極の一部と前記第１〜第３の抵抗体を覆う保護膜とを備え、前記第１の上面電極は前記第１の抵抗体の一端部と接続し、前記第１の内部電極は前記第１の抵抗体の他端部および前記第２の抵抗体の一端部と接続し、前記第２の内部電極は前記第２の抵抗体の他端部および前記第３の抵抗体の一端部と接続し、前記第２の上面電極は前記第３の抵抗体の他端部と接続し、前記第１、第２の内部電極の一部は前記保護膜から露出している。

第２の態様に係るチップ抵抗器は、第１の態様において、前記第１の内部電極は第１突出部を有し、前記第２の内部電極は第２突出部を有し、前記第１、第２突出部の一部は前記保護膜から露出している。

第３の態様に係るチップ抵抗器は、第１の態様において、前記第１の上面電極と前記第２の内部電極とが接続され、前記第２の上面電極と前記第１の内部電極とが接続されている。

第４の態様に係るチップ抵抗器は、第１の態様において、前記第１の上面電極と前記第２の内部電極との間、前記第２の上面電極と前記第１の内部電極との間にそれぞれ欠落部分を有し、前記欠落部分はトリミング溝を形成することによって設けられた。

第５の態様に係るチップ抵抗器は、絶縁基板と、前記絶縁基板の上面の両端部に設けられた第１、第２の上面電極と、前記絶縁基板の上面に設けられた複数の抵抗体および複数の内部電極と、前記第１、第２の上面電極および前記複数の内部電極の一部と前記複数の抵抗体を覆う保護膜とを備え、前記第１の上面電極は前記複数の抵抗体のうちの１つの一端部と接続し、前記複数の抵抗体のうち隣接する前記抵抗体同士を前記内部電極を介して接続し、前記第２の上面電極は前記複数の抵抗体のうちの１つの他端部と接続し、前記第１、第２の上面電極、前記複数の内部電極は、その一部が前記保護膜から露出している。

以上のように本発明のチップ抵抗器は、第１〜第３の抵抗体を直列接続し、かつ内部電極を介して接続しているため、各抵抗体の抵抗値を分割して測定しながら抵抗値調整でき、これにより、チップ抵抗器全体の抵抗値の精度を高くすることができ、さらに、第１、第２の内部電極の一部を露出させているため、完成後も、分割して抵抗値を測定でき、これにより、チップ抵抗器全体の抵抗値を精度良く測定できるという効果を有する。

本発明の実施の形態１におけるチップ抵抗器の上面図同チップ抵抗器の他の例の上面図本発明の実施の形態２におけるチップ抵抗器の上面図従来のチップ抵抗器の上面図

（実施の形態１）
以下、本開示の実施の形態１におけるチップ抵抗器について、図面を参照しながら説明する。

図１は実施の形態１におけるチップ抵抗器の上面図である。

実施の形態１におけるチップ抵抗器は、図１に示すように、絶縁基板１１と、この絶縁基板１１の上面の両端部に設けられた第１、第２の上面電極１２、１３と、絶縁基板１１の上面に設けられ、かつ第１、第２の上面電極１２、１３間に配置された第１〜第３の抵抗体１４〜１６および第１、第２の内部電極１７、１８と、第１、第２の上面電極１２、１３の一部および第１、第２の内部電極１７、１８の一部と第１〜第３の抵抗体１４〜１６を覆う保護膜１９とを備えている。

さらに、図示されていないが、第１、第２の上面電極１２、１３と電気的に接続されるように絶縁基板１１の両端面に設けられた一対の端面電極と、第１、第２の上面電極１２、１３の一部と前記一対の端面電極の表面に形成されためっき層とが備えられている。

上記構成において、前記絶縁基板１１は、Ａｌ₂Ｏ₃を９６％含有するアルミナで構成され、その形状は長辺Ｘと短辺Ｙを有する矩形状（上面視にて長方形）となっている。

また、前記第１、第２の上面電極１２、１３は、絶縁基板１１の上面の長辺Ｘ側の端部に設けられ、Ａｇ系厚膜材料を印刷することによって形成されている。

さらに、前記第１〜第３の抵抗体１４〜１６は、絶縁基板１１の上面において、第１、第２の上面電極１２、１３間に配置され、ＲｕＯ₂、ＡｇＰｄ、ＣｕＮｉ等によって形成されている。なお、この第１〜第３の抵抗体１４〜１６の上面はプリコートガラス（図示せず）で覆われている。さらに、抵抗値調整のためのトリミング溝１４ａ、１５ａ、１６ａが必要に応じて形成される。

そして、第１〜第３の抵抗体１４〜１６は、絶縁基板１１の長辺Ｘに沿って一定間隔で順に配置されている。

前記第１の内部電極１７は、絶縁基板１１の上面の第２の上面電極１３の近傍に位置し、Ａｇ系厚膜材料を印刷することによって形成されている。

前記第２の内部電極１８は、絶縁基板１１の上面の第１の上面電極１２の近傍に位置し、Ａｇ系厚膜材料を印刷することによって形成されている。

第１、第２の上面電極１２、１３、第１、第２の内部電極１７、１８の厚みは第１〜第３の抵抗体１４〜１６の厚みより厚くなっている。さらに、第１、第２の上面電極１２、１３と第１、第２の内部電極１７、１８を同時に形成するのが好ましい。

また、第１の内部電極１７は、絶縁基板１１の長辺Ｘに沿った直線状の部分と第１の上面電極１２側に向かう第１突出部１７ａとを有し、第２の内部電極１８は、絶縁基板１１の長辺Ｘに沿った直線状の部分と第２の上面電極１３側に向かう第２突出部１８ａとを有している。

そして、前記保護膜１９は、第１、第２の上面電極１２、１３の一部、第１、第２の内部電極１７、１８の一部（第１、第２突出部１７ａ、１８ａの一部）が露出し、かつ第１〜第３の抵抗体１４〜１６およびトリミング溝１４ａ、１５ａ、１６ａを覆うように、ガラスまたはエポキシ樹脂により形成されている。第１、第２の内部電極１７、１８の露出した表面は前記めっき層で覆われる。

第１の上面電極１２は、第２の上面電極１３側に向かう第１凸部１２ａを有し、第１凸部１２ａが第１の抵抗体１４の一端部と接続している。第１の内部電極１７は、第１の抵抗体１４の他端部と第２の抵抗体１５の一端部の両方と接続している。第２の内部電極１８は、第２の抵抗体１５の他端部と第３の抵抗体１６の一端部の両方と接続している。

第２の上面電極１３は、第１の上面電極１２側に向かう第２凸部１３ａを有し、第２凸部１３ａが第３の抵抗体１６の他端部と接続している。

したがって、第１の抵抗体１４は第１の上面電極１２と第１の内部電極１７とにその両端部が接続され、第２の抵抗体１５は第１の内部電極１７と第２の内部電極１８とにその両端部が接続され、第３の抵抗体１６は第２の内部電極１８と第２の上面電極１３とにその両端部が接続されている。

すなわち、第１の上面電極１２と第２の上面電極１３間において、第１〜第３の抵抗体１４〜１６が第１、第２の内部電極１７、１８を介して直列接続される。

なお、第１の内部電極１７の絶縁基板１１の長辺Ｘに沿った直線状の部分と第２凸部１３ａとが、隙間部２０を介して一直線に並んで配置され、第２の内部電極１８の絶縁基板１１の長辺Ｘに沿った直線状の部分と第１凸部１２ａとが、隙間部２１を介して一直線に並んで配置されている。

さらに、第１の内部電極１７と第２の上面電極１３とは隙間部２０を含んだ欠落部分２０ａによって分離されているが、第１の内部電極１７と第２の上面電極１３を一体的に形成した後、レーザ照射によってトリミング溝を形成することによって欠落部分２０ａ（隙間部２０）を設けるようにしてもよい。

同様に、第２の内部電極１８と第１の上面電極１２とは隙間部２１を含んだ欠落部分２１ａによって分離されているが、第２の内部電極１８と第１の上面電極１２を一体的に形成した後、レーザ照射によってトリミング溝を形成することによって欠落部分２１ａ（隙間部２１）を設けるようにしてもよい。

ここで、第１の内部電極１７と第２の上面電極１３は長辺Ｘに沿った直線状の部分を有し、かつこの部分の間に欠落部分２０ａが存在するが、この欠落部分２０ａもトリミング溝を形成することによって設ける。さらに、第２の内部電極１８と第１の上面電極１２も長辺Ｘに沿った直線状の部分を有し、かつこの部分の間に欠落部分２１ａが存在するが、この欠落部分２１ａもトリミング溝を形成することによって設ける。

上述したように、欠落部分２０ａ、２１ａ（隙間部２０、２１）を、印刷パターンではなく、トリミング溝を形成することによって設けるようにすれば、チップ抵抗器の寸法が小さくなっても、欠落部分２０ａ、２１ａを形成することが容易となる。

上記の実施の形態１におけるチップ抵抗器においては、まず、第１の上面電極１２の保護膜１９から露出する部分Ａと、第１の内部電極１７の露出する第１突出部１７ａ（部分Ｂ）に抵抗値測定用の検針を当接させ、第１の抵抗体１４の抵抗値を測定する。また、必要に応じてトリミング溝１４ａを形成する。

次に、前記部分Ｂと第２の内部電極１８の露出する第２突出部１８ａ（部分Ｃ）に抵抗値測定用の検針を当接させ、第２の抵抗体１５の抵抗値を測定する。また、必要に応じてトリミング溝１５ａを形成する。

前記部分Ｃと第２の上面電極１３の保護膜１９から露出する部分Ｄに抵抗値測定用の検針を当接させ、第３の抵抗体１６の抵抗値を測定する。また、必要に応じてトリミング溝１６ａを形成する。

上記の方法で測定された、第１の抵抗体１４、第２の抵抗体１５、第３の抵抗体１６の抵抗値から、チップ抵抗器全体の抵抗値を算出する。

そしてさらに、保護膜１９を形成する等してチップ抵抗器を完成させた後、上記の抵抗値を算出する際に検針を当接させた部分Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄは、保護膜１９から露出しているため、同様の方法で抵抗値を測定、算出することができる。

なお、上記の説明では、抵抗体を３つとしたが、同様の構造で抵抗体を２つ、あるいは４つ以上としてもよい。

また、同じ構成、配置において、第１の上面電極１２と第２の上面電極１３が形成される絶縁基板１１の辺Ｘを短辺としてもよい。

上記したように実施の形態１においては、第１〜第３の抵抗体１４〜１６を直列接続し、かつ第１、第２の内部電極１７、１８を介して接続しているため、各抵抗体１４〜１６の抵抗値を測定しながら抵抗値調整できる。

すなわち、抵抗値を分割して測定することができるため、一つの抵抗体の抵抗値が低くなって各抵抗体に流れる電流の量が増え、これにより、精度良く各抵抗体の抵抗値を測定、調整できるため、全体の抵抗値が高くても、チップ抵抗器全体の抵抗値の精度を高くすることができる。

さらに、第１、第２の内部電極１７、１８の一部を露出させているため、完成後も、分割して抵抗値を測定でき、これにより、チップ抵抗器全体の抵抗値を精度良く測定できるという効果が得られる。

また、検針を当接させる部分Ｂ、Ｃは、第１突出部１７ａ、第２突出部１８ａとしているため、保護膜１９の面積を広くすることができる。

さらに、図２に示すように、各抵抗体の抵抗値を分割して測定、抵抗値調整した後、隙間部２０、２１に導電部２２を形成して並列接合としてもよい。

（実施の形態２）
図３は本開示の実施の形態２におけるチップ抵抗器の上面図である。なお、この実施の形態２においては、上記した実施の形態１と同様の構成を有するものについては、同一符号を付しており、その説明は省略する。

実施の形態２が上記した実施の形態１と相違する点は、図３に示すように、第１、第２の上面電極１２、１３は、絶縁基板１１の上面の短辺Ｙ側の端部に設けられた点である。

このとき、第１〜第３の抵抗体１４〜１６は、実施の形態１と同様に絶縁基板１１の長辺Ｘに沿って一定間隔で順に配置されている。

また、第１、第２の内部電極１７、１８は、絶縁基板１１の長辺Ｘ側に形成され、第１の抵抗体１４は第１の上面電極１２と第１の内部電極１７とにその両端部が接続され、第２の抵抗体１５は第１の内部電極１７と第２の内部電極１８とにその両端部が接続され、第３の抵抗体１６は第２の内部電極１８と第２の上面電極１３とにその両端部が接続されている。

なお、検針を当接させる部分Ａ〜Ｄは保護膜１９から露出させる。そして、図３では抵抗体を３つとしたが、２つ、あるいは４つ以上としてもよい。

さらに、上記の実施の形態２の構成では、抵抗体を４つ以上とすることは容易であり、抵抗値を４つ以上に分割して測定することができるため、より精度良く各抵抗体の抵抗値を測定、調整でき、これにより、チップ抵抗器全体の抵抗値の精度をより高めることができる。

本発明に係るチップ抵抗器は、高抵抗値でも抵抗値精度が高いという効果を有するものであり、特に、各種電子機器に使用されるチップ抵抗器等において有用となるものである。

１１絶縁基板
１２第１の上面電極
１３第２の上面電極
１４第１の抵抗体
１５第２の抵抗体
１６第３の抵抗体
１７第１の内部電極
１８第２の内部電極

Claims

絶縁基板と、前記絶縁基板の上面の両端部に設けられた第１、第２の上面電極と、前記絶縁基板の上面に設けられた第１〜第３の抵抗体および第１、第２の内部電極と、前記第１、第２の上面電極および前記第１、第２の内部電極の一部と前記第１〜第３の抵抗体を覆う保護膜とを備え、前記第１の上面電極は前記第１の抵抗体の一端部と接続し、前記第１の内部電極は前記第１の抵抗体の他端部および前記第２の抵抗体の一端部と接続し、前記第２の内部電極は前記第２の抵抗体の他端部および前記第３の抵抗体の一端部と接続し、前記第２の上面電極は前記第３の抵抗体の他端部と接続し、前記第１、第２の内部電極の一部は前記保護膜から露出しているチップ抵抗器。
前記第１の内部電極は第１突出部を有し、前記第２の内部電極は第２突出部を有し、前記第１、第２突出部の一部は前記保護膜から露出している請求項１に記載のチップ抵抗器。
前記第１の上面電極と前記第２の内部電極とが接続され、前記第２の上面電極と前記第１の内部電極とが接続されている請求項１に記載のチップ抵抗器。
前記第１の上面電極と前記第２の内部電極との間、前記第２の上面電極と前記第１の内部電極との間にそれぞれ欠落部分を有し、前記欠落部分はトリミング溝を形成することによって設けられた請求項１に記載のチップ抵抗器。
絶縁基板と、前記絶縁基板の上面の両端部に設けられた第１、第２の上面電極と、前記絶縁基板の上面に設けられた複数の抵抗体および複数の内部電極と、前記第１、第２の上面電極および前記複数の内部電極の一部と前記複数の抵抗体を覆う保護膜とを備え、前記第１の上面電極は前記複数の抵抗体のうちの１つの一端部と接続し、前記複数の抵抗体のうち隣接する前記抵抗体同士を前記内部電極を介して接続し、前記第２の上面電極は前記複数の抵抗体のうちの１つの他端部と接続し、前記第１、第２の上面電極、前記複数の内部電極は、その一部が前記保護膜から露出しているチップ抵抗器。