JP2020046336A - 腐食センサおよび腐食評価システム - Google Patents
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Abstract
Description
(1)本発明は、腐食の評価対象である試料金属からなる試料電極と、該試料電極上に絶縁層を介して配設され、該試料電極の電位の基準となる参照電極と、を備える腐食センサである。
(1)本発明は、上述した腐食センサを用いた腐食評価システムとしても把握できる。例えば、本発明は、上述した腐食センサと、前記参照電極に対する前記試料電極の電位を測定する電位測定手段と、該試料電極の電位を閾値と比較して前記試料金属の腐食形態を判定する判定手段と、を備える腐食評価システムでもよい。
(1)本明細書でいう「〜手段」を「〜ステップ」と読み替えることにより、本発明は、腐食評価システムのみならず、腐食評価方法としても把握される。判定手段(ステップ)や算出手段(ステップ)は、例えば、コンピュータにより実行されるプログラムとして構成される。
腐食センサは、試料電極、参照電極および絶縁層を少なくとも備え、補助電極および絶縁層をさらに備えるとよい。また、腐食センサは、各電極を外部回路(測定装置等)に電気的に接続する手段(例えば、端子・リード等の配線)を備えるとよい。
試料電極は、腐食の評価対象である試料金属からなる。試料電極の形態は、評価対象に応じて適宜選択され得る。例えば、平板状の他、ブロック状、柱状、筒状、膜状等でもよい。通常、試料電極には、試料金属の板片を用いればよい。
参照電極は、電極電位が安定しており、腐食センサの電極として取扱性に優れる物質からなるとよい。参照電極は、高抵抗(低導電性)でもよく、金属に限らず、酸化物半導体や化合物を参照電極に用いてもよい。代表例として、参照電極は、銀−塩化銀からなる電極(Ag/AgCl電極)であるとよい。この他、参照電極には、白金(Pt)等の貴金属を用いてもよい。
補助電極は、腐食環境下でも、試料電極との間で安定した通電が確保される物質からなるとよい。補助電極には、高耐食性(不溶性または難溶性、試料電極よりも標準電極電位が貴)であると共に導電性に優れる物質を用いるとよい。代表例として、補助電極は、Pt電極であるとよい。この他、貴金属(Au、Ag等)、酸化物半導体、ニクタイド導電材等を補助電極に用いてもよい。なお、ニクタイド導電材は、例えば、Ti3P、FeTiP、XTiP(X:金属元素)等である。
絶縁層には、種々の絶縁材を用いることができる。例えば、セラミックス、樹脂、紙等を絶縁層に用いてもよい。試料電極と補助電極の間に作用する電圧または印加される電圧は、通常、高々数V程度である。絶縁層の耐絶縁電圧は、例えば、10V程度で十分である。
腐食センサは、各電極を外部回路(測定装置等)に電気的に接続する配線(端子、リード等/これらをまとめて、単に「配線」という。)を備えるとよい。配線形態は種々あり得る。端子数(配線数)は電極数と一致していてもよいし、それよりも多くてもよい。例えば、補助電極を設ける場合、合計で4端子(試料電極と参照電極の間の2端子+試料電極と補助電極の間の2端子)があってもよい。
参照電極に対する試料電極の電位を測定する電位測定手段は、例えば、電圧計である。試料電極と補助電極の間の電流量は、例えば、(無抵抗)電流計により測定される。これらの測定には、ポテンショスタットやガルバノスタットを用いてもよい。各測定手段は、汎用品で構成されてよいし、専用品(腐食評価用に開発された回路素子等)で構成されてもよい。
腐食センサは、一つの試料電極上に、絶縁層を介した参照電極または補助電極が複数配設されたものでもよい。腐食評価システムは、複数の腐食センサからの出力(電位)に基づいて、腐食形態等を総合的に判定してもよい。
本発明の一実施例である腐食評価システムMの縦断面図を図1に模式的に示した。腐食評価システムMは、腐食センサSと測定解析装置Dとを備える。腐食センサSは、試料電極1と、参照電極2と、補助電極3と、試料電極1と参照電極2の間に介装される絶縁層21と、試料電極1と補助電極3の間に介装される絶縁層31とを備える。なお、試料電極1、参照電極2および補助電極3は、それぞれの端子からリード12、22、32により、測定解析装置Dへ電気的に接続されている。
(1)構成
大気雰囲気中で鋼材(試料金属)に生じる腐食を、腐食評価システムMを用いて評価した。
腐食センサSに、大気環境を模擬した乾燥環境と湿潤環境に交互に曝す複合サイクル腐食試験に施した。複合サイクル腐食試験は、(a)60℃×約45%RHの大気雰囲気中に、腐食センサSを6時間保持する乾燥工程と、(b)50℃×約85%RHの大気雰囲気中に、腐食センサSを6時間保持する湿潤工程とを交互に繰り返して行った(1周期:12時間)。
図2から次のようなことがわかる。先ず、試験開始当初の試料電極1は、絶縁層21により絶縁された状態にあるから、その電位は測定されず、ほぼ零である。
環境変化と時間経過により試料電極1の電位が変動する理由について、図3を用いて考察する。図3は、試料電極1と補助電極3の間で生じていると考えられる腐食反応(酸化還元反応)を模式的に示した分極曲線である。図3の横軸は電位で、縦軸は電流の対数表示である。その横軸より上側の曲線は、試料電極1側で生じている腐食反応を示す局部アノード分極曲線である。横軸より下側の曲線は、補助電極3側で生じている腐食反応を示す局部カソード分極曲線である。
D 測定解析装置
S 腐食センサ
1 試料電極
2 参照電極
3 補助電極
21、31 絶縁層
Claims (8)
- 腐食の評価対象である試料金属からなる試料電極と、
該試料電極上に絶縁層を介して配設され、該試料電極の電位の基準となる参照電極と、
を備える腐食センサ。 - 前記参照電極は、Ag/AgCl電極である請求項1に記載の腐食センサ。
- さらに、前記試料電極上に絶縁層を介して配設され、該試料電極と対をなして通電される補助電極を備える請求項1または2に記載の腐食センサ。
- 前記補助電極は、Pt電極である請求項3に記載の腐食センサ。
- 前記絶縁層は、通気性または通液性を有する絶縁材からなる請求項1〜4のいずれかに記載の腐食センサ。
- 前記試料金属は、鉄または鉄合金である請求項1〜5のいずれかに記載の腐食センサ。
- 請求項1に記載の腐食センサと、
前記参照電極に対する前記試料電極の電位を測定する電位測定手段と、
該試料電極の電位を閾値と比較して前記試料金属の腐食形態を判定する判定手段と、
を備える腐食評価システム。 - 請求項3に記載の腐食センサと、
前記参照電極に対する前記試料電極の電位を測定する電位測定手段と、
該試料電極の電位を閾値と比較して前記試料金属の腐食形態を判定する判定手段と、
該試料電極と前記補助電極の間で通電させて該試料電極の分極抵抗を算出する分極抵抗算出手段と、
該腐食形態を考慮して該分極抵抗に基づいて腐食速度の指標値を算出する腐食速度算出手段と、
を備える腐食評価システム。
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