JP2020016627A - Measuring apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、測定装置に関するものである。 The present invention relates to a measuring device.
特許文献1には、所定の硬度を有し、曲げに対して不可逆性を有するセミリジッド型の同軸ケーブルと、同軸ケーブルの先端に取り付けられたプローブ先端部材としてのプリント配線基板と、を備えるコンタクトプローブが開示されている。プリント配線基板には、測定対象との接触部であるコンタクト電極が、微細コプレーナストリップ線路として配線形成される。
高周波特性を測定する測定装置では、接触子と測定対象との良好な接触状態を得るために、プローブを所定の押し付け力により測定対象に押し付けることが望ましい。 In a measuring device that measures high-frequency characteristics, it is desirable that a probe be pressed against a measurement target with a predetermined pressing force in order to obtain a good contact state between the contact and the measurement target.
しかしながら、特許文献1に記載の測定装置では、コンタクト電極が設けられるプリント配線基板が、不可逆性を有するセミリジッド型の同軸ケーブルの先端に取り付けられる。よって、プリント配線基板を測定対象に所定の押し付け力で押し付けると、同軸ケーブルが変形するため、同軸ケーブルにおける特性インピーダンスが変化する。これにより、同軸ケーブルによる伝送損失が増加し、測定装置による高周波特性の測定精度が低下するおそれがある。
However, in the measurement device described in
本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであり、測定装置の測定精度を向上させることを目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and has as its object to improve the measurement accuracy of a measuring device.
本発明のある態様によれば、測定装置は、それぞれ測定対象に押し付けられる複数の接触子と、シグナル線及びグランド線を含む高周波伝送線路が設けられ、柔軟性を有する伝送基板と、複数の接触子及び伝送基板が取り付けられる本体部と、を備える。複数の接触子は、それぞれ対応するシグナル線及びグランド線一体的に設けられる。本体部は、ベース部と、接触子及び伝送基板を保持する保持部と、ベース部に取り付けられ保持部を支持する支持部と、を有し、支持部は、測定対象への接触子の押し付けに伴って弾性変形する。 According to an embodiment of the present invention, the measuring device includes a plurality of contacts each of which is pressed against an object to be measured, a high-frequency transmission line including a signal line and a ground line, and a flexible transmission board, And a main body on which the transmission board is mounted. The plurality of contacts are provided integrally with the corresponding signal lines and ground lines, respectively. The main body has a base, a holding unit that holds the contact and the transmission board, and a support that is attached to the base and supports the holding unit, and the support presses the contact against a measurement target. It is elastically deformed.
この態様によれば、接触子を測定対象に押し付ける際には、本体部の支持部が弾性変形することにより所定の押し付け力で接触子を接触させることができる。また、高周波伝送線路は、柔軟性を有する伝送基板に設けられるため、測定対象に接触子を押し付けるのに伴い伝送基板が変形しても、伝送損失を抑制することができる。このように、所定の押し付け力で接触子を測定対象に押し付け、所定の押し付け力を確保しつつ押し付けに伴う伝送損失を抑制できるため、測定精度を向上させることができる。 According to this aspect, when the contact is pressed against the measurement target, the contact can be brought into contact with a predetermined pressing force by elastically deforming the support of the main body. In addition, since the high-frequency transmission line is provided on the flexible transmission substrate, transmission loss can be suppressed even if the transmission substrate is deformed as the contact is pressed against the measurement target. As described above, the contact can be pressed against the measurement target with a predetermined pressing force, and the transmission loss due to the pressing can be suppressed while maintaining the predetermined pressing force, so that the measurement accuracy can be improved.
(第1実施形態)
以下、図1から図4を参照して、本発明の第1実施形態に係る測定装置100について説明する。
(1st Embodiment)
Hereinafter, the
測定装置100は、例えば回路基板を電気的に検査する検査装置(図示省略)に用いられる。測定装置100は、回路基板に含まれる測定対象T(図2参照)として、配線パターンがプリントされた半導体ウェハや電子回路基板、半導体ウェハや電子回路基板が実装された電子回路実装基板などにおいて発生する電磁波の高周波特性を測定する。
The
図1から図3に示すように、測定装置100は、それぞれ測定対象Tに押し付けられる複数の接触子としての第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3と、高周波伝送線路が設けられ、柔軟性を有する伝送基板10と、第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3が取り付けられる本体部20と、を備える。
As shown in FIGS. 1 to 3, the
第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3は、それぞれ測定対象Tに押し付けられて測定対象Tから高周波信号が入力される電極である。第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3は、図3及び図4に示すように、互いに同一の円柱形状に形成され、伝送基板10の長手方向の一端部に設けられる。
The
伝送基板10は、柔軟性を有する帯状のフレキシブルプリント基板であり、外力により変形が可能である。
The
伝送基板10には、図3及び図4に示すように、高周波伝送線路としてコプレーナ線路が設けられる。具体的には、伝送基板10では、柔軟性を有する絶縁層である基材11の下面(測定対象Tに対向する面)に、導体層である単一のシグナル線12と、導体層である2つのグランド線と、が設けられる。以下では、二つのグランド線の一方を「第一グランド線13」、他方を「第二グランド線14」と称する。
As shown in FIGS. 3 and 4, the
シグナル線12は、図4に示すように、所定の幅(図4中左右方向の長さ)を有し、伝送基板10の長手方向(図4中上下方向)に沿って延びる。第一グランド線13及び第二グランド線14は、それぞれ所定の幅を有し、伝送基板10の長手方向に沿って延びる。シグナル線12、第一グランド線13、及び第二グランド線14の幅は、それぞれ長手方向に均一である。このように、シグナル線12、第一グランド線13、及び第二グランド線14は、互いに平行に延びて設けられる。
As shown in FIG. 4, the
シグナル線12は、第一グランド線13と第二グランド線14との間に、第一グランド線13と第二グランド線14のそれぞれに対して所定の間隔を空けて設けられる。シグナル線12、第一グランド線13、及び第二グランド線14のそれぞれの幅と互いの間隔は、高周波伝送線路の特性インピーダンスが、測定対象Tの特性インピーダンスと整合するように設定される。
The
シグナル線12には、第一接触子1が電気的に接続される。第一接触子1は、シグナル線12の表面に施されるめっき(例えばニッケルめっき)が積層されることで、シグナル線12上に形成される。よって、第一接触子1は、シグナル線12と一体に成形される。言い換えれば、シグナル線12の一部が第一接触子1として機能する。
The
第一グランド線13には、第二接触子2が電気的に接続される。第一接触子1と同様に、第二接触子2は、第一グランド線13に施されるめっきが積層されることで、第一グランド線13上に形成される。
The
第二グランド線14には、第三接触子3が電気的に接続される。第一接触子1及び第二接触子2と同様に、第三接触子3は、第二グランド線14に施されるめっきが積層されることで、第二グランド線14上に形成される。
The
以上のように、第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3は、それぞれ対応するシグナル線12、第一グランド線13、第二グランド線14と一体的に設けられるため、各接触子1,2,3と伝送基板10の高周波伝送線路との間における伝送損失が抑制される。これにより、高周波伝送線路における伝送特性が向上する。
As described above, the
第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3は、伝送基板10の長手方向に対して垂直な直線上に並んで設けられる。つまり、第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3は、互いに平行に延びるシグナル線12、第一グランド線13、及び第二グランド線14に直交する仮想の直線上に設けられる。第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3は、測定対象Tの接触面Ts(図2参照)に垂直な方向から測定対象Tに押し付けられる。
The
伝送基板10の図示しない他端部は、図示しない制御装置(コントローラ)に電気的に接続される。第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3から入力される高周波信号は、伝送基板10の高周波伝送線路によって伝送され、制御装置に入力される。
The other end (not shown) of the
図1から3に示すように、本体部20は、ベース部30と、第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3を保持する保持部40と、ベース部30に取り付けられ保持部40を支持する支持部50と、を有する。ベース部30、保持部40、及び支持部50は、樹脂によって互いに一体成形される。保持部40、支持部50、ベース部30は、伝送基板10の長手方向に並んで構成される。
As shown in FIGS. 1 to 3, the
ベース部30は、直方体形状に形成され、検査装置の昇降装置(図示省略)によって鉛直上下方向(測定対象Tの接触面Tsに垂直な方向)に移動される。ベース部30が上下に移動することで、第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3が測定対象Tに対して接触・離間する。ベース部30の下面(測定対象Tに対向する面)には、図2に示すように、伝送基板10において一端部から長手方向に離間した中間部分が取り付けられる。伝送基板10は、張力が作用しないようにベース部30に取り付けられる。
The
保持部40は、直方体形状に形成され、一部がベース部30の下面から測定対象Tに向けて突出する。ベース部30から突出する保持部40の下面(測定対象Tに対向する面)には、測定対象Tへの押し付けに伴う第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3同士の独立した移動を許容する移動許容部としての弾性部材60が設けられる。
The holding
弾性部材60は、例えばゴムなどで形成され、外力によって伸縮可能である。弾性部材60は、接着剤により保持部40の下面に接着される。弾性部材60には、図2及び3に示すように、伝送基板10の一端部が接着され、伝送基板10を介して第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3が取り付けられる。第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3は、伝送基板10を挟んで、弾性部材60に対向する。つまり、保持部40は、弾性部材60を介して、伝送基板10と当該伝送基板10に設けられる第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3とを保持する。
The
弾性部材60は、第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3よりも弾性変形しやすい材質であることが望ましい。また、弾性部材60は、第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3を測定対象Tに押し付けた際、第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3に対して優先して変形することが望ましい。
The
支持部50は、主に図2に示すように、一対のリンク部51,55を有するリンク機構により構成される。一対のリンク部51,55は、それぞれ測定対象Tの接触面Tsに対して平行に延び、接触面Tsに垂直な方向に並んで設けられる。
As shown in FIG. 2, the
一方のリンク部51は、矩形断面を有するロッド部52と、ロッド部52の一端と保持部40とを接続するジョイント部53と、ロッド部52の他端とベース部30とを接続するジョイント部54と、を有する。同様に、他方のリンク部55は、矩形断面を有するロッド部56と、ロッド部56の一端と保持部40とを接続するジョイント部57と、ロッド部56の他端とベース部30とを接続するジョイント部58と、を有する。
One
ロッド部52,56とベース部30及び保持部40との間には、半円状の切り欠きが形成される。各切り欠きは、測定対象Tの接触面Tsに平行でロッド部52,56の長手方向(図2中左右方向)に対して垂直に延びる。これにより、ロッド部52,56とベース部30及び保持部40との間にジョイント部53,54,57,58が設けられる。各ジョイント部53,54,57,58は、ロッド部52,56の長手方向に直交する断面積がロッド部52,56よりも小さく、ロッド部52,56と比較して弾性変形しやすく構成される。
A semicircular notch is formed between the
ベース部30を鉛直方向下方に移動させて第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3が測定対象Tに押し付けられると、その反力(以下、「押し付け反力」とも称する。)によってリンク部51のジョイント部53,54、及びリンク部55のジョイント部57,58が弾性変形し、各ロッド部52,56が保持部40及びベース部30に対して傾動(相対回転)する。
When the
一方のリンク部51を例に説明すると、一方のジョイント部53を中心としてロッド部52が保持部40に対して相対回転し、他方のジョイント部54を中心としてロッド部52がベース部30に対して相対回転する。このように、第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3を測定対象Tに押し付ける際、支持部50が弾性変形することにより、鉛直方向に沿ったベース部30と保持部40との相対移動が許容される。また、支持部50は、リンク機構により構成されるため、ベース部30と保持部40とは、鉛直方向において略直線的に相対移動することができる。
If one
次に、測定装置100の作用について説明する。
Next, the operation of the measuring
測定対象Tの高周波特性を測定するには、測定対象Tに対して垂直に(本実施形態では鉛直方向に)ベース部30を移動させ、第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3を測定対象Tの接触面Tsに接触させる。この状態からベース部30をさらに下方へ移動させることで、所定の押し付け力により第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3を測定対象Tに押し付けて電気的に接続させる。測定対象Tに接触した状態から第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3をさらに押し付けるのに伴い、支持部50が弾性変形する。支持部50の弾性変形によって生じる弾性力により、第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3を測定対象Tに押し付ける押し付け力が確保される。
To measure the high-frequency characteristics of the measurement target T, the
伝送基板10は、柔軟性を有するフレキシブルプリント基板であるため、支持部50の弾性変形(ベース部30と保持部40が鉛直方向に相対移動)によって撓む。具体的には、伝送基板10は、ベース部30に取り付けられる中間部に対して、保持部40に取り付けられる一端部が上下(図2中上下方向)に移動するように変形する。このような伝送基板10の変形においては、シグナル線12、第一グランド線13、及び第二グランド線14の相対的な位置関係(間隔)は変化しない。よって、支持部50の変形に伴って伝送基板10が変形しても、伝送基板10における特性インピーダンスは変化せず、伝送基板10における伝送損失も抑制される。したがって、測定装置100の測定精度を向上させることができる。
Since the
また、一般に、測定対象では、測定面に高低差(凹凸)が生じることがある。特に、測定対象が電子回路基板である場合には、半導体ウェハなどと比べて大きな凹凸が生じやすい。測定対象に高低差がある場合、高さが相対的に高い部位に対してある接触子が先に接触してしまい、高さが相対的に低い部位には他の接触子が充分に接触しないおそれがある。このように、測定対象に高低差(凹凸)が生じる場合には、接触子と測定対象との接触状態が不均一になり、良好な接触状態を得られないおそれがある。 In addition, in general, in a measurement object, a height difference (irregularities) may occur on a measurement surface. In particular, when the measurement target is an electronic circuit board, large irregularities are likely to occur as compared with a semiconductor wafer or the like. If there is a height difference in the measurement object, a certain contact comes in contact with a relatively high part first, and another contact does not sufficiently contact a relatively low part. There is a risk. As described above, when a height difference (irregularity) occurs in the measurement target, the contact state between the contact and the measurement target becomes nonuniform, and a good contact state may not be obtained.
これに対し、測定装置100では、第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3は、弾性部材60を介して保持部40に取り付けられる。また、第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3は、柔軟性を有する伝送基板10上に設けられる。このため、第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3が測定対象Tに接触すると、当該接触子に対向する弾性部材60が圧縮されると共に、伝送基板10が変形する。よって、ある接触子が測定対象Tに先に接触しても、弾性部材60と伝送基板10の変形によって他の接触子と共に保持部40を測定対象Tに向けてさらに移動させることができる。
On the other hand, in the
このように、測定装置100では、第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3は、測定対象Tの高さの差を許容するように、互いに異なる移動量で独立して移動(言い換えれば相対移動)することができる。このため、第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3と測定対象Tとの接触状態を均一にすることができる。これにより、第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3のそれぞれを所定の押し付け力により測定対象Tに押し付けて、良好な接触状態を得ることができる。
As described above, in the
(第2実施形態)
次に、図5及び図6を参照して、本発明の第2実施形態について、説明する。以下では、上記第1実施形態と異なる点を中心に説明し、上記第1実施形態と同一の構成には同一の符号を付して説明を省略する。
(2nd Embodiment)
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. Hereinafter, points different from the first embodiment will be mainly described, and the same components as those in the first embodiment will be denoted by the same reference numerals and description thereof will be omitted.
上記第1実施形態では、第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3を互いに独立して移動させる移動許容部は、保持部40に設けられる弾性部材60である。上記第1実施形態では、弾性部材60が拡縮することで、第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3が、互いに独立して移動する。
In the first embodiment, the movement permitting portion that moves the
これに対し、第2実施形態に係る測定装置200では、移動許容部は、保持部40と一体に形成される弾性構造部160である。
On the other hand, in the
弾性構造部160は、保持部40に接続される基部161と、基部161を支点として互いに独立して撓み変形(弾性変形)する複数の変形部と、を有する。
The
図5及び図6に示すように、変形部は、接触子に対応した数(本実施形態では、3つ)だけ設けられ、それぞれ伝送基板10を介して第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3が取り付けられる。以下では、第一接触子1が取り付けられる変形部を「第一変形部165」、第二接触子2が取り付けられる変形部を「第二変形部166」、第三接触子3が取り付けられる変形部を「第三変形部167」とも称する。第一変形部165、第二変形部166、及び第三変形部167は、それぞれ基端側が基部161から折れ曲がって形成され、基端側から測定対象Tに対して平行に延びる。第一変形部165、第二変形部166、及び第三変形部167の先端側は、自由端として構成される。
As shown in FIGS. 5 and 6, the number of the deformable portions is provided by the number corresponding to the contacts (three in the present embodiment), and the
第一変形部165、第二変形部166、及び第三変形部167と保持部40との間には、主に図5に示すように、隙間160aが形成される。隙間160aが設けられることで、第一変形部165、第二変形部166、及び第三変形部167と保持部40との干渉が防止される。
A
また、第一変形部165、第二変形部166、及び第三変形部167の間には、互いを隔てるスリット160b,160cが形成される。基部161、第一変形部165、第二変形部166、及び第三変形部167は、保持部40と共に樹脂により一体成形される。
Further, slits 160b and 160c are formed between the first
伝送基板10には、図6に示すように、シグナル線12と第一グランド線13の間、及び、シグナル線12と第二グランド線14の間において、長手方向に延びるスリット10a,10bが形成される。第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3は、スリット10a,10bによって互いに隔てられるため、独立して移動しやすくなる。
As shown in FIG. 6, slits 10a and 10b extending in the longitudinal direction are formed between the
第一変形部165、第二変形部166、及び第三変形部167は、それぞれ基部161を支点として自由端が鉛直方向上下に移動するように、曲げ変形が可能である。言い換えれば、第一変形部165、第二変形部166、及び第三変形部167は、基部161を支点として撓み変形が可能である。また、第一変形部165、第二変形部166、及び第三変形部167は、スリット160b,160cによって隔てられており、互いに独立して変形可能である。よって、第一変形部165、第二変形部166、及び第三変形部167に取り付けられる第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3も互いに独立して移動可能である。このような第2実施形態においても、上記第1実施形態と同様に、測定対象Tの高低差を許容して、第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3と測定対象Tとの接触状態を均一にすることができる。よって、測定対象Tに高低差があっても、第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3と測定対象Tとの接触状態を良好にすることができる。
The first
なお、上記第1実施形態と同様、測定装置200では、伝送基板10にスリット10a,10bを設けない構成としてもよい。この場合には、スリット160b,160cを設けて複数の変形部を設ける構成(図5の構成)とせずに、図7に示すように、単一の変形部168が基部161に接続され、変形部168に第一接触子1、第二接触子2、第三接触子3を取り付けるように構成してもよい。
Note that, similarly to the first embodiment, the measuring
反対に、上記第1実施形態において、第2実施形態のように、第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3を隔てるスリット10a,10bを伝送基板10に設けてもよい。伝送基板10にスリット10a,10bを設ける場合には、上述のように、第一接触子1、第二接触子2、及び第三接触子3を独立して移動させやすい。一方、伝送基板10にスリット10a,10bを設けない場合には、スリット10a,10bにより生じる空気層が、シグナル線12と第一グランド線13、及び、シグナル線12と第二グランド線14との間に形成されることがない。このため、伝送基板10にスリット10a,10bを設けない場合には、高周波伝送線路の特性インピーダンスを測定対象Tの特性インピーダンスに整合させやすい。伝送基板10にスリット10a,10bを設けるか否かは、高周波伝送線路の特性インピーダンスを考慮して、決定すればよい。
Conversely, in the first embodiment, the
以上のように、移動許容部である弾性構造部160が基部161を支点として複数の変形部が互いに独立して撓み変形する第2実施形態においても、第1実施形態と同様の作用効果を奏する。つまり、移動許容部は、上記第1実施形態のように、自身の圧縮(伸縮)により接触子の独立した移動を許容するものでもよいし、上記第2実施形態のように、基部161を支点とした複数の変形部(第一変形部165、第二変形部166、及び第三変形部167)の撓み変形により接触子の独立した移動を許容するものでもよい。
As described above, the second embodiment in which the plurality of deformed portions flex and deform independently of each other with the
次に、上記実施形態の作用効果についてまとめて説明する。 Next, the operation and effect of the above embodiment will be described together.
第1及び第2実施形態では、測定装置100,200は、測定対象Tに押し付けられる複数の接触子(第一接触子1,第二接触子2,第三接触子3)と、シグナル線12及びグランド線(第一グランド線13,第二グランド線14)を含む高周波伝送線路が設けられ、柔軟性を有する伝送基板10と、接触子(第一接触子1,第二接触子2,第三接触子3)及び伝送基板10が取り付けられる本体部20と、を備え、複数の接触子(第一接触子1,第二接触子2,第三接触子3)は、それぞれ対応するシグナル線12及びグランド線(第一グランド線13,第二グランド線14)に一体的に設けられ、本体部20は、ベース部30と、接触子(第一接触子1,第二接触子2,第三接触子3)及び伝送基板10を保持する保持部40と、ベース部30に取り付けられ保持部40を支持する支持部50と、を有し、支持部50は、測定対象Tへの接触子(第一接触子1,第二接触子2,第三接触子3)の押し付けに伴って弾性変形する。
In the first and second embodiments, the measuring
このような第1及び第2実施形態によれば、接触子(第一接触子1,第二接触子2,第三接触子3)を測定対象Tに押し付ける際には、本体部20の支持部50が弾性変形することにより所定の押し付け力で接触子(第一接触子1,第二接触子2,第三接触子3)を接触させることができる。また、高周波伝送線路は、柔軟性を有する伝送基板10に設けられるため、測定対象Tに接触子(第一接触子1,第二接触子2,第三接触子3)を押し付けるのに伴い伝送基板10が変形しても、伝送損失を抑制することができる。したがって、所定の押し付け力で接触子(第一接触子1,第二接触子2,第三接触子3)を測定対象Tに押し付け、伝送損失を抑制できるため、測定装置100の測定精度を向上させることができる。
According to the first and second embodiments, when the contacts (the
また、第1及び第2実施形態に係る測定装置100,200は、保持部40に設けられ、測定対象Tへの押し付けに伴う複数の接触子(第一接触子1,第二接触子2,第三接触子3)同士の独立した移動を許容する移動許容部(弾性部材60、弾性構造部160)をさらに備える。
The measuring
また、第1実施形態に係る測定装置100では、移動許容部(弾性構造部160)は、弾性を有する弾性部材60であり、複数の接触子(第一接触子1,第二接触子2,第三接触子3)は、弾性部材60の弾性変形により互いに独立して移動可能に構成される。
In the
また、第2実施形態に係る測定装置200では、移動許容部は、保持部40に接続される基部161と、基部161を支点として互いに独立して弾性変形する複数の変形部(第一変形部165,第二変形部166,第三変形部167)と、を有し、複数の接触子(第一接触子1,第二接触子2,第三接触子3)は、それぞれ対応する複数の変形部(第一変形部165,第二変形部166,第三変形部167)に取り付けられ、変形部(第一変形部165,第二変形部166,第三変形部167)が基部161を支点として弾性変形することにより、互いに独立して移動可能に構成される。
In the
このような第1及び第2実施形態によれば、複数の接触子(第一接触子1,第二接触子2,第三接触子3)が互いに独立して移動することができるため、測定対象Tにおいて高低差が生じる場合であっても、各接触子(第一接触子1,第二接触子2,第三接触子3)を測定対象Tに均一に接触させることができる。したがって、各接触子(第一接触子1,第二接触子2,第三接触子3)と測定対象Tとの接触状態を良好にすることができ、測定装置100,200の測定精度が向上する。
According to such first and second embodiments, since the plurality of contacts (the
次に、各実施形態の変形例について説明する。以下のような変形例も本発明の範囲内であり、以下の変形例と上記実施形態の各構成とを組み合わせたり、以下の変形例同士を組み合わせたりすることも可能である。また、上記実施形態の説明において記載された変形例についても同様に、他の変形例と任意に組み合わせることが可能である。 Next, a modified example of each embodiment will be described. The following modified examples are also within the scope of the present invention, and it is also possible to combine the following modified examples with the configurations of the above-described embodiments, or to combine the following modified examples. Similarly, the modifications described in the description of the above embodiment can be arbitrarily combined with other modifications.
上記各実施形態では、高周波伝送線路は、コプレーナ線路である。これに対し、高周波伝送線路は、ストリップ線路やマイクロストリップ線路など、その他のものであってもよい。 In each of the above embodiments, the high-frequency transmission line is a coplanar line. On the other hand, the high-frequency transmission line may be another type such as a strip line or a microstrip line.
また、上記各実施形態では、伝送基板10は、柔軟性を有するフレキシブルプリント基板である。これに対し、伝送基板10は、柔軟性を有する部位と有していない部位とを含むフレックスリジット基板であってもよい。特許請求の範囲における「柔軟性を有する伝送基板」とは、全体が柔軟性を有するフレキシブルプリント基板に限らず、一部が柔軟性を有するフレックスリジット基板も含む意味である。
In each of the above embodiments, the
また、上記各実施形態では、支持部50におけるリンク部51,55のロッド部52,56は、互いに同じ長さを有する。これに対し、ロッド部52,56は、長さが互いに異なるように構成されてもよい。
In the above embodiments, the
また、上記各実施形態では、支持部50とは、一対のリンク部51,55を有するリンク機構により構成される。これに対し、支持部50は、測定対象Tへの第一接触子1,第二接触子2,及び第三接触子3の押し付けに伴い変形するように構成される限りは、リンク機構に限らず、任意の構成とすることができる。
Further, in each of the above embodiments, the
また、上記各実施形態では、第一接触子1、第二接触子2、第三接触子3は、円柱形状に形成される。これに限らず、第一接触子1、第二接触子2、第三接触子3は、任意の形状に形成することができる。第一接触子1、第二接触子2、第三接触子3は、例えば、角柱、角錐、円錐、角錐台、円錐台などの形状で形成してもよい。
In each of the above embodiments, the
以上、本発明の実施形態について説明したが、上記実施形態は本発明の適用例の一部を示したに過ぎず、本発明の技術的範囲を上記実施形態の具体的構成に限定する趣旨ではない。 As described above, the embodiment of the present invention has been described. However, the above embodiment is only a part of an application example of the present invention, and the technical scope of the present invention is not limited to the specific configuration of the above embodiment. Absent.
1 第一接触子(接触子)
2 第二接触子(接触子)
3 第三接触子(接触子)
10 伝送基板
12 シグナル線
13 第一グランド線(グランド線)
14 第二グランド線(グランド線)
20 本体部
30 ベース部
40 保持部
50 支持部
60 弾性部材(移動許容部)
100 測定装置
160 弾性構造部(移動許容部)
161 基部
165 第一変形部(変形部)
166 第二変形部(変形部)
167 第三変形部(変形部)
200 測定装置
1 First contact (contact)
2 Second contact (contact)
3 Third contact (contact)
DESCRIPTION OF
14 Second ground line (ground line)
100
161
166 Second deformed part (deformed part)
167 Third deformation part (deformation part)
200 measuring device
Claims (4)
それぞれ測定対象に押し付けられる複数の接触子と、
シグナル線及びグランド線を含む高周波伝送線路が設けられ、柔軟性を有する伝送基板と、
前記複数の接触子及び前記伝送基板が取り付けられる本体部と、を備え、
前記複数の接触子は、それぞれ対応する前記シグナル線及び前記グランド線に一体的に設けられ、
前記本体部は、
ベース部と、
前記複数の接触子及び前記伝送基板を保持する保持部と、
前記ベース部に取り付けられ前記保持部を支持する支持部と、を有し、
前記支持部は、前記測定対象への前記複数の接触子の押し付けに伴って弾性変形する、
測定装置。 A measuring device,
A plurality of contacts each pressed against the object to be measured,
A high-frequency transmission line including a signal line and a ground line is provided, and a flexible transmission substrate,
A body portion to which the plurality of contacts and the transmission board are attached,
The plurality of contacts are provided integrally with the corresponding signal line and ground line, respectively.
The main body is
A base part,
A holding unit that holds the plurality of contacts and the transmission board,
A support portion attached to the base portion and supporting the holding portion,
The support portion is elastically deformed with the pressing of the plurality of contacts on the measurement target,
measuring device.
前記保持部に設けられると共に前記複数の接触子が取り付けられ、前記測定対象への押し付けに伴う前記複数の接触子同士の独立した移動を許容する移動許容部をさらに備える、
測定装置。 The measuring device according to claim 1,
The plurality of contacts are attached to the holding unit and the plurality of contacts are attached, and further includes a movement allowance unit that allows independent movement of the plurality of contacts with the measurement target.
measuring device.
前記移動許容部は、弾性を有する弾性部材であり、
前記複数の接触子は、前記弾性部材の伸縮により互いに独立して移動可能に構成される、
測定装置。 The measuring device according to claim 2,
The movement permitting part is an elastic member having elasticity,
The plurality of contacts are configured to be movable independently of each other by expansion and contraction of the elastic member,
measuring device.
前記移動許容部は、
前記保持部に接続される基部と、
前記基部を支点として互いに独立して弾性変形する複数の変形部と、を有し、
前記複数の接触子は、それぞれ対応する前記複数の変形部に取り付けられ、前記基部を支点として前記複数の変形部が撓み変形することにより、互いに独立して移動可能に構成される、
測定装置。 The measuring device according to claim 2,
The movement permitting unit includes:
A base connected to the holding unit;
A plurality of deformed portions that are elastically deformed independently of each other with the base as a fulcrum,
The plurality of contacts are attached to the corresponding plurality of deformed portions, respectively, and the plurality of deformed portions are flexibly deformed with the base as a fulcrum, and are configured to be movable independently of each other.
measuring device.
Priority Applications (4)
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2021193579A1 (en) * | 2020-03-25 | 2021-09-30 | 日本電産リード株式会社 | Inspection probe and inspection device |
CN113945820A (en) * | 2020-07-16 | 2022-01-18 | 日置电机株式会社 | Measuring device |
-
2018
- 2018-07-27 JP JP2018141833A patent/JP2020016627A/en active Pending
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