JP2019527576A - スペクトル符号化プローブ - Google Patents
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Abstract
Description
本出願は、2016年7月15日に出願した仮出願第62/363089号の優先権を主張するものであり、その開示は、全体として参照により本明細書に組み込まれる。
回折次数の議論を明確にするために、回折格子の式についての符号規約が、図8Aおよび図8Bにおいて与えられ、示されている。入射光および回折光の場合、光は、回折格子の表面の法線に対して回転させられる。法線に対する回折光の回転が時計回りの場合、図8Bに示すように、回折光の符号は負(負の角度)である。回折次数については、回折光は、0次の光に対して回転し、回折光の回転が0次に対して反時計回りの場合、図8Aに示すように、符号は正である(正の回析次数)。
−nisinθi+ndsinθd=mGλ (1)
ただし、mは回折次数(m=0、±1、±2、・・・)であり、Gは回折格子空間周波数(単位:1/μm)であり、λは真空中の光の波長(単位:μm)であり、niおよびndは、それぞれ入射光および回折光の屈折率であり、−θiおよびθdは、図8Aおよび図8Bに示す符号規約によって定められる入射角および回折角度である。
θi=θd (2)
本発明の様々な実施形態のプローブに使用される回折格子は、三角回折格子である。三角回折格子は、より一般化されたブレーズド回折格子であり、その回折格子線は、三角形の鋸歯状形状の断面を有する。形成された構造は、図11Aに示すように階段状であり得る。図11Aは、θi=56.1°および対応するその寸法が1ミクロンのピッチについての数値解に従う階段設計を示す。この階段設計は、典型的なブレーズド回折格子に基づいているが、それは、所与のパラメータnd=1(空気)、ni=1.5、m=−1、λo=0.415μm、およびG=1/μmに対する特定の結果を得るように特定の波長に合わせられている。図11Aに示すタイプの三角回折格子は、望ましい構造の補完的形状(しばしば、回折格子自体)を有する原型で成形され得る。原型の製造は、図15または図16に示すように、通常、フォトリソグラフィプロセスで行われる。
前述したように、いくつかの実施形態については、0次は反射される。したがって、この0次の光を再利用/リサイクルするのが有用である。0次の光は、FOVを増大させるために再利用することができる。図17は、FOVを増大させるために0次反射光を再利用するように構成された階段回折格子の一実施形態を示す。−1次の光42は、前方ビュー光として回折格子16から外に出る。0次反射光38は、例えば、内部全反射(TIR)側壁または反射コーティング30によってさらに反射され、内部で反射された0次光39は、異なる角度でシステムに再び入り、反射40として階段(ブレーズ)回折格子16と再び相互作用する。この設計の場合、反射面30は、光学的に平坦である、すなわち細かく磨かれているまたは射出成形されていることを必要とする。必要に応じて、射出成形部品が光学システム内で収差を補正するためにこの表面になだらかな曲線を導入することが可能である。図17に示すように、−1次の光42は、プローブの光軸Oxに平行な回折格子16から出て、前方ビュー光としての役割を果たす。他方で、反射40(再利用の0次)の光は、光軸に対して負の角度で回折格子を出て、このようにして側面ビュー光としての役割を果たす。したがって、2つの検出ファイバ、すなわち、前方ビュー用のものと側面ビュー光用のものが、図17のこの実施形態とともに使用されることが好ましい。限られた受光角のより、0次および−2次は、システム内で迷光を引き起こさない。対照的に、最適化された側壁30を用いて適切に設計されているとき、回折格子は、FOVを増大させるために0次を使用することができる。
図11に示す階段回折格子設計の代替回折格子設計を、図22Aおよび図22Bを参照して説明する。この設計は、低い反射率および高い透過回折について最適化される。図22Aは、回折格子平面に直交する光軸に沿った平面回折格子の破断図を示す。この設計については、4002は回折格子の平面であり、4001は階段回折格子の物理的な縁部(形状)である。プローブの光軸(Ox)は符号4003として示され、光軸に平行な前方方向の光(回折光)は矢印4004として示されている。図の左上部分は、屈折率(ni)のプローブスペーサ材料であり、ただしni=1.5である。図の右下部分は、屈折率(nd)を有する空気または回折空間媒体と仮定され、ただし、nd=1.0である。この設計については、415から830nmあるいは同様の範囲の波長範囲が考えられる。回折格子は、以前に示した実施形態について、かつ特定の波長λo=415nmについて、式(1)から(4)に従う。波面4008を伴う反射光線4006(a)および4006(b)は、回折格子の上側リッジ4010における散乱から波を結合することによって引き起こされる反射である。波面4009を伴う射光線4007(a)および4007(b)は、回折格子の下側リッジ4011における散乱によって引き起こされる反射である。回折格子の形状は、反射波面4008および4009が互いに弱め合う干渉をするように最適化されており、それによって反射の影響は小さくなる。この最適化のために、光線4006(b)および4007(a)の光学的な経路差(path difference)は、以下に説明するように計算される。
経路1=−niΛcosθicos2θitanγ (5)
である。
経路1=−niΛcosθicos2θi(tanα+tanγ) (11)
本開示の例示的な一実施形態によるSEEプローブから画像を取得するシステムは、図23の図に示されている。図23のシステム30は、例えば、光源370と、検出器/分光計380と、光ファイバ回転接合(FORJ)330と、プローブ302と、画像処理コンピュータ350とを備える。光源370は、広帯域スペクトル(または他の電磁放射)の光を出力する。波長の範囲は、400nmから800nmまでである可視領域内であり得る。しかしながら、他の波長も使用可能である。例示的なイメージングシステム300では、光は、直接ガイドすることができ、または他の方法で照明ファイバと呼ばれ得るファイバ372の中に供給することができる。照明ファイバ372は、FORJ330に接続することができ、シース320内のFORJ330に接続される別の照明ファイバ310にさらにガイドされる(および/またはそれと関連付けられる)。照明ファイバ310の端部には、例示的なSEEプローブ302を取り付けることができる。物体または試料(例えば、組織)から戻る散乱された光は、プローブ302によって集められ、検出ファイバ312へガイドすることができる。検出ファイバ312は、FORJ330を介して別の検出ファイバ382に接続することができる。検出ファイバ382は、コリメート用光学器機384を介して検出器/分光計380に接続することができる。検出器/分光計380は、選択した波長の強度を検出することができる。選択した波長を検出するこの例示的な機能は、分光計によって実行することができる。FORJ330内に収容される機械的走査ユニットによって回折方向に直交する方向328にプローブを機械的に走査することによって、物体の2次元画像を得ることができる。機械的走査は、照明ファイバ310および検出ファイバ312とともにプローブを回転させるために例えば、ガルバノスキャナまたはモータによって実行することができる。コンピュータ350は、システム300の様々な部分を制御し動作させるように構成された1つまたは複数のマイクロプロセッサを備え、コンピュータ可読命令(プログラムコード)を実行して検出器/分光計330から得た信号に基づいて画像を再構成する。
説明を参照するのに際して、開示した例を十分に理解するために具体的な詳細が説明される。他の例では、よく知られている方法、手順、コンポーネント、および回路については、本開示を必ずしも長くする必要がないので詳細には説明していない。
Claims (23)
- 光ガイドコンポーネントと、
光集束コンポーネントと、
回折格子コンポーネントと、
を備えたプローブであって、
前記プローブは、前記光ガイドコンポーネントからの光を、前記光集束コンポーネントを通じて前記回折格子コンポーネントへ前記プローブの光軸の方向にガイドし、次いで前記光ガイドコンポーネントと前記回折格子コンポーネントの間に中間的な反射がない状態で、前記回折格子コンポーネントからのスペクトル的な分散光を試料に進めるように構成されているプローブ。 - 前記回折格子コンポーネントは、三角回折格子を備える、請求項1に記載のプローブ。
- 前記プローブは、スペクトル符号化内視鏡検査(SEE)プローブである、請求項1に記載のプローブ。
- 前記回折格子コンポーネントは、前記プローブの光軸の前記方向に実質的に直交する第1の表面と前記プローブの光軸の前記方向に実質的に平行な第2の表面とを有する三角回折格子を備え、
前記回折格子コンポーネントは、以下の式、
ただし、mは、前記回折格子コンポーネントの回折次数であり、Gは、前記回折格子コンポーネントの空間周波数であり、λは、前記回折格子コンポーネントへの入射光の波長であり、λoは、前記回折格子コンポーネントによって回析される光の特定の波長であり、niおよびndは、前記入射光および回折光それぞれの屈折率であり、θiは、前記回折格子コンポーネントへの前記入射光の入射角であり、θdは、前記回折格子コンポーネントによって回折させられた前記光の回折角である、請求項1に記載のプローブ。 - 400nmから1000nmの間の波長を有する前記回折格子コンポーネントから回析された光は、実質的に0次コンポーネントを有さない、請求項1に記載のプローブ。
- 前記回折格子コンポーネントは、前記プローブの光軸の前記方向に実質的に直交する第1の屈折表面を備える、請求項1に記載のプローブ。
- 前記回折格子コンポーネントは、前記プローブの光軸の前記方向に実質的に平行な第2の屈折表面を備える、請求項6に記載のプローブ。
- 前記回折格子コンポーネントは、透過された回折光の次数のうちの1つまたは複数を高めるように構成された透過性回折格子である、請求項1に記載のプローブ。
- 前記回折格子コンポーネントは、回折光の4次、5次、および6次を高めるように構成されている、請求項8に記載のプローブ。
- 前記回折格子コンポーネントは、階段設計を有する、請求項8に記載のプローブ。
- 前記光集束コンポーネントは、屈折率分布型(GRIN)レンズ、またはボールレンズである、請求項1に記載のプローブ。
- 前記プローブは、可視光をガイドおよび回折するように構成され、入射角θiおよび回折角θdをθi=θdであるように有する前記可視光内の1つの波長がある、請求項1に記載のプローブ。
- 前記プローブは、可視光をガイドおよび回折するように構成されており、前記可視光の最短の波長は、前記プローブの光軸に実質的に平行な前記回折格子コンポーネントから伝搬する、請求項1に記載のプローブ。
- 前記回折格子コンポーネントは、反射に関する弱め合う干渉によって、前記回折格子コンポーネントに入射する光の反射を最小にするように構成されている、請求項1に記載のプローブ。
- 前記回折格子コンポーネントの側面に配置されている光学的に平坦である反射面をさらに備え、前記回折格子コンポーネントおよび前記反射面は、前記回折格子コンポーネントに0次反射光を戻すようにガイドするように構成されている、請求項1に記載のプローブ。
- 前記試料から少なくとも1つの反射光を受け取るように配置および構成された検出ファイバをさらに備える、請求項1に記載のプローブ。
- 前記試料から反射光を受け取るように配置および構成された、少なくとも2つの検出ファイバをさらに備え、
少なくとも1つの検出ファイバは、前記プローブの光軸に実質的に沿った前記試料上の位置から少なくとも1つの反射光を受け取るように配置および構成され、少なくとも1つの検出ファイバは、前記プローブの光軸に対して実質的に角度付けされた前記試料上の位置から少なくとも1つの反射光を受け取るように配置および構成されている、請求項1に記載のプローブ。 - 前記回折格子コンポーネントの側面に配置された第2の回折格子コンポーネントをさらに備える、請求項17に記載のプローブ。
- 前記第2の回折格子コンポーネントは、前記回折格子コンポーネントによって反射された0次の光を回折させるように配置および構成され、
前記プローブの光軸に対して実質的に角度付けされた前記試料上の位置から少なくとも1つの反射光を受け取るように配置および構成された前記検出ファイバは、その遠位端に回折格子を備える、請求項18に記載のプローブ。 - 回折格子間隔Λは、0.75から1.25μmの間である、請求項1に記載のプローブ。
- 回折格子間隔Λは、少なくとも1.5μmである、請求項1に記載のプローブ。
- 前記プローブの半分の視野(FOV)は、400から800ナノメートルの間の波長を有する回折光について30から80度の間で角度付けされており、
前記半分のFOVの角度は、Δθ=θd−θiとして定められ、θiは前記回折格子コンポーネントへ入射する前記光の入射角であり、θdは前記回折格子コンポーネントにより回折させられた前記光の回折角である、請求項1に記載のプローブ。 - 光ガイドコンポーネントと、
光集束コンポーネントと、
回折格子コンポーネントと、
回転要素と、
1つまたは複数の検出ファイバと、
1つまたは複数の検出器と、
前記1つまたは複数の検出器によって検出された回折光の複数の次数からの光を処理し、前記処理された光に基づいて単色画像または多色画像を形成するように構成された1つまたは複数のプロセッサと、
を備えたシステムであって、
前記光ガイドコンポーネント、光集束コンポーネント、および回折格子コンポーネントは、前記光集束コンポーネントを通じて前記回折格子コンポーネントへプローブの光軸の方向に前記光ガイドコンポーネントからの光をガイドするように構成されたプローブを形成し、次いで前記光ガイドコンポーネントと前記回折格子コンポーネントの間に中間的な反射がない状態で前記回折格子コンポーネントからのスペクトル的な分散光を試料に進めるように配置され、
前記1つまたは複数の検出器は、前記試料から反射した回折光の複数の次数の光を検出するように構成されているシステム。
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