JP2019504296A - センサアセンブリ - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (35)
- 導電性の電極ブリッジ(14)と、センサ本体(1)を備え、
前記センサ本体(1)は、中心層(2)と、前記中心層を実質的に取り囲む外側絶縁層(4)と、前記中心層(2)と前記外側絶縁層(4)との間の導電性の電極層(6)と、前記センサ本体(1)の後面(12)にあって前記電極層(6)と電気的に接触している導電性の電極境界層(14)を有しており、
前記電極ブリッジ(26)が前記電極境界層(14)と圧縮電気接触している
ことを特徴とするセンサアセンブリ。 - 前記中心層(2)および前記外側絶縁層(4)が、同じ非導電性のセラミック材料から別々の構成層として予め形成され、互いに接合されて一体化された多層のセラミック製の本体を構成している請求項1に記載のセンサアセンブリ。
- 前記中心層(2)および前記外側絶縁層(4)が、SiNまたはSiAlONから形成されている請求項1または2に記載のセンサアセンブリ。
- 前記電極境界層(14)が、SiC,CrAlTiNおよびMCrAlYの1つまたは複数に基づく単層または多層コーティングである請求項1〜3の何れか1項に記載のセンサアセンブリ。
- 前記センサ本体(1’)は、前記中心層(2)と前記外側絶縁層(4)との間に配置された導電性のシールド層(16)をさらに備えている請求項1〜4の何れか1項に記載のセンサアセンブリ。
- 前記シールド層(16)は、内側絶縁層(18)によって前記電極層(6)から離隔されている請求項5に記載のセンサアセンブリ。
- 前記内側絶縁層(18)は、前記中心層(2)と前記外側絶縁層(4)の両方と同じ非導電性のセラミック材料から形成されている請求項6に記載のセンサアセンブリ。
- 前記内側絶縁層が、SiNまたはSiAlONから形成されている請求項7に記載のセンサアセンブリ。
- 導電性のシールドブリッジ(28)をさらに備え、前記センサ本体は、前記センサ本体(1’)の前記後面(12)にあって前記シールド層(18)と電気的に接触している導電性のシールド境界層(20)をさらに備えており、前記シールドブリッジ(28)は、前記シールド境界層(20)と圧縮電気接触している請求項5〜8の何れか1項に記載のセンサアセンブリ。
- 前記シールド境界層(20)が、SiC,CrAlTiNおよびMCrAlYの1つまたは複数に基づく単層または多層コーティングである請求項9に記載のセンサアセンブリ。
- 前記外側絶縁層(4)は、前記センサ本体の前面に沿って延在し、前記センサ本体の前記構成層の間の任意の境界からガスを排除するハーメチックシールを提供する窓層(10)を画定している請求項1〜10の何れか1項に記載のセンサアセンブリ。
- 前記窓層(10)が、電磁放射線に対して実質的に透明である請求項11に記載のセンサアセンブリ。
- 前記電極層(6)が、前記中心層(2)と前記窓層(10)との間に延在している請求項11または12に記載のセンサアセンブリ。
- 前記センサ本体(1”)は、前記センサ本体(1”)の前面にあって前記電極層(6)と電気的に接触する導電性の前面層(24)をさらに備えている請求項1〜10のいずれか一項に記載のセンサアセンブリ。
- 前記前面層(24)は、前記センサ本体(1”)の前記前面の実質的に全体にわたって延在している請求項14に記載のセンサアセンブリ。
- 前記前面層(24)が、SiC,CrAlTiNおよびMCrAlYの1つまたは複数に基づく単層または多層コーティングである請求項14または15に記載のセンサアセンブリ。
- 前記前面層(24)が、前記センサ本体(1”)の前記構成層の間のいずれの境界からもガスを排除するハーメチックシールを提供する請求項14〜16のいずれか一項に記載のセンサアセンブリ。
- 前記窓層(10)または前記前面層(24)上に形成された遮熱コーティング(30)をさらに備えている請求項11〜17のいずれか一項に記載のセンサアセンブリ。
- 導電性の電極ブリッジ(26)と、センサ本体(1’’’)を備え、
前記センサ本体(1’’’)は、導電性の中心層(2’)と、前記中心層(2’)を実質的に取り囲む外側絶縁層(4)と、前記センサ本体(1’’’)の後面(12)にあって前記中心層(2’)と電気的に接触している導電性の電極境界層(14)を有しており、
前記電極ブリッジ(26)が前記電極境界層(14)と圧縮電気接触している
ことを特徴とするセンサアセンブリ。 - 前記中心層(2’)および前記外側絶縁層(4)は、セラミック材料から別個の構成層として予め形成され、互いに接合されて一体化された多層のセラミック製の本体を形成する請求項19に記載のセンサアセンブリ。
- 前記中心層(2’)がSiCから形成され、前記外側絶縁層(4)がSiNまたはSiAlONから形成されている請求項19または20に記載のセンサアセンブリ。
- 前記電極境界層(14)が、SiC、CrAlTiNおよびMCrAlYの1つまたは複数に基づく単層または多層のコーティングである請求項19〜21のいずれか一項に記載のセンサアセンブリ。
- 前記センサ本体(1’’’)が、前記中心層(2’)と前記外側絶縁層(4)との間に配置された導電性のシールド層(16)をさらに備えている請求項19〜22のいずれか一項に記載のセンサアセンブリ。
- 前記シールド層(16)は、内側絶縁層(18)によって前記中心層(2’)から離隔している請求項23に記載のセンサアセンブリ。
- 前記内側絶縁層(18)は、前記外側絶縁層(4)と同じ非導電性のセラミック材料から形成されている請求項24に記載のセンサアセンブリ。
- 前記内側絶縁層は、SiNまたはSiAlONから形成されている請求項25に記載のセンサアセンブリ。
- 導電性のシールドブリッジ(28)をさらに備え、前記センサ本体(1’’’)が、前記センサ本体(1’’’)の前記後面(12)にあって前記シールド層(16)と電気的に接触している導電性のシールド境界層(20)をさらに備えており、前記シールドブリッジ(28)が前記シールド境界層(20)と圧縮電気接触している請求項23〜26のいずれか一項に記載のセンサアセンブリ。
- 前記シールド境界層(20)が、SiC,CrAlTiNおよびMCrAlYの1つまたは複数に基づく単層または多層のコーティングである請求項27に記載のセンサアセンブリ。
- 前記外側絶縁層は、前記センサ本体の前記構成層の間の任意の境界からガスを排除するハーメチックシールを提供する窓層を画定するために前記センサ本体の前面に沿って延在している請求項19〜28のいずれか1項に記載のセンサアセンブリ。
- 前記窓層は、電磁放射線に対して実質的に透明である請求項29に記載のセンサアセンブリ。
- 前記センサ本体は、前記センサ本体(1’’’)の前面にあって前記中心層(2’)と電気的に接触する導電性の前面層(24)をさらに備えている請求項19〜27のいずれか一項に記載のセンサアセンブリ。
- 前記前面層(24)は、前記センサ本体(2’)の前記前面の実質的に全体にわたって延在している請求項31に記載のセンサアセンブリ。
- 前記前面層(24)は、SiC,CrAlTiNおよびMCrAlYの1つまたは複数に基づく単層または多層のコーティングである請求項31または32に記載のセンサアセンブリ。
- 前記前面層(24)は、前記センサ本体(1’’’)の前記構成層の間の任意の境界からガスを排除するハーメチックシールを提供している請求項31〜33のいずれか一項に記載のセンサアセンブリ。
- 前記窓層(24)または前記前面層上に形成された遮熱層(30)をさらに備えている請求項29〜34のいずれか一項に記載のセンサアセンブリ。
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