JP2019189886A - Tool for plating hard disk substrate - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、ハードディスク用基板をめっきする際に使用するめっき治具に関する。 The present invention relates to a plating jig used for plating a hard disk substrate.
この種のハードディスク用基板のめっき治具として、ハードディスク用基板をめっきする際に、ハードディスク用基板の中心の貫通孔に挿入されてハードディスク用基板をぶら下げた状態で支持するめっき軸が開示されている(特許文献1および特許文献2参照)。めっき軸は、ハードディスク用基板とともにめっき液に浸漬され、めっき液内で回転駆動され、めっき軸にぶら下げ支持されているハードディスク用基板をめっき液内で従動回転させるように構成されている。めっき軸の外周面には、周方向に沿って溝が設けられており、めっき軸にぶら下げ支持されているハードディスク用基板が軸方向に移動するのを規制している。 As a plating jig for this type of hard disk substrate, a plating shaft that is inserted into a through hole at the center of the hard disk substrate and supports the hard disk substrate in a suspended state when the hard disk substrate is plated is disclosed. (See Patent Document 1 and Patent Document 2). The plating shaft is immersed in the plating solution together with the hard disk substrate, is driven to rotate in the plating solution, and is configured to follow and rotate the hard disk substrate that is supported by hanging on the plating shaft in the plating solution. Grooves are provided along the circumferential direction on the outer peripheral surface of the plating shaft to restrict the movement of the hard disk substrate suspended from the plating shaft in the axial direction.
特許文献1に記載の溝は、断面がVの字形状で、めっき軸の外周面からの深さが5mm以下で形成されている。ハードディスク用基板の厚みは、0.8mmまたは1.3mmのものが使用されている。特許文献2に記載の溝は、断面が方形で、めっき軸の外周面から幅0.5mm〜1.5mmで、深さが1.5mm〜3mmの寸法を有している。特に、ハードディスク用基板の厚みが0.8mmのものに対しては、溝が幅1mmで、深さが2.5mmの寸法を有している。 The groove described in Patent Document 1 has a V-shaped cross section and a depth from the outer peripheral surface of the plating shaft of 5 mm or less. A hard disk substrate having a thickness of 0.8 mm or 1.3 mm is used. The groove described in Patent Document 2 has a square cross section, a width of 0.5 mm to 1.5 mm from the outer peripheral surface of the plating shaft, and a depth of 1.5 mm to 3 mm. In particular, for a hard disk substrate having a thickness of 0.8 mm, the groove has a width of 1 mm and a depth of 2.5 mm.
しかしながら、特許文献1に記載の溝は、断面がVの字形状で形成されているため、めっき軸にぶら下げ支持されたハードディスク用基板は、溝の内壁面に対してハードディスク用基板の貫通孔を形成する内壁の角部が点接触するだけである。したがって、ハードディスク用基板を安定した姿勢状態で支持することが困難で、ハードディスク用基板の支持が不十分となっている。断面がVの字形状の溝は、具体的には、図7に示すように、めっき軸Jの外周面gに形成された一方の傾斜面aと、一方の傾斜面aに対向する他方の傾斜面bとを有する傾斜部Kを備えている。特許文献1に記載の溝では、めっき軸によりハードディスク用基板を従動回転させた際に、図8(a)に示すように、ハードディスク用基板Pに大きなばたつきが発生し、傾斜部Kの傾斜面a、bが削れてめっき液に異物となって混入し、めっき表面に付着してめっき不良になってしまうという、いわゆるノジュールの発生の問題がある。 However, since the groove described in Patent Document 1 has a V-shaped cross section, the hard disk substrate supported by the plating shaft has a through hole of the hard disk substrate with respect to the inner wall surface of the groove. Only the corners of the inner wall to be formed are in point contact. Therefore, it is difficult to support the hard disk substrate in a stable posture, and the support of the hard disk substrate is insufficient. Specifically, as shown in FIG. 7, the groove having a V-shaped cross section has one inclined surface a formed on the outer peripheral surface g of the plating shaft J and the other opposing the one inclined surface a. An inclined portion K having an inclined surface b is provided. In the groove described in Patent Document 1, when the hard disk substrate is driven and rotated by the plating shaft, as shown in FIG. 8A, a large fluttering occurs in the hard disk substrate P, and the inclined surface of the inclined portion K is inclined. There is a problem of generation of so-called nodules in which a and b are scraped and mixed into the plating solution as foreign matters and adhere to the plating surface, resulting in poor plating.
また、図8(b)に示すように、ハードディスク用基板P同士の間に、スペーサSが設けられている場合には、ハードディスク用基板Pのばたつきによってハードディスク用基板Pの外周面部がスペーサSに衝突して、スペーサSが削られ、めっき液内に異物となって混入し、ハードディスク用基板Pのめっき面に付着してめっき不良になってしまうという、ノジュールの発生の問題がある。 Further, as shown in FIG. 8B, when the spacer S is provided between the hard disk substrates P, the outer peripheral surface portion of the hard disk substrate P becomes the spacer S due to the flapping of the hard disk substrate P. There is a problem of generation of nodules in which the spacers S are scraped and mixed, becoming foreign matter in the plating solution and adhering to the plating surface of the hard disk substrate P, resulting in poor plating.
特許文献2に記載の溝においても、特許文献1に記載の溝の場合と同様に、ハードディスク用基板の支持が不十分であり、ハードディスク用基板を従動回転させた際にハードディスク用基板に大きなばたつきが発生するおそれがある。したがって、他の部品への衝突によりハードディスク用基板のめっき表面に傷が付くおそれや、めっき軸が削られてめっき液内に異物として混入し、めっき表面に付着してめっき不良になってしまうという、いわゆるノジュールの発生の問題がある。特に、厚みが0.5mm〜0.63mm程度の薄いハードディスク用基板の場合に、ばたつきの発生が顕著に顕れてしまうという問題がある。 Also in the groove described in Patent Document 2, as in the case of the groove described in Patent Document 1, the hard disk substrate is not sufficiently supported, and when the hard disk substrate is driven to rotate, the hard disk substrate has a large fluctuation. May occur. Therefore, the plating surface of the hard disk substrate may be scratched by collision with other components, or the plating shaft may be scraped and mixed as a foreign substance in the plating solution, resulting in poor plating due to adhesion to the plating surface. There is a problem of generation of so-called nodules. In particular, in the case of a thin hard disk substrate having a thickness of about 0.5 mm to 0.63 mm, there is a problem that the occurrence of fluttering is noticeable.
本発明は、このような問題を解決するためになされたもので、ハードディスク用基板を安定した姿勢状態で支持し、ハードディスク用基板をめっきする際にハードディスク用基板のばたつきの発生を抑制することができるハードディスク用基板のめっき治具を提供することを課題とする。 The present invention has been made to solve such problems, and supports the hard disk substrate in a stable posture and suppresses the occurrence of flapping of the hard disk substrate when plating the hard disk substrate. An object is to provide a plating jig for a hard disk substrate that can be produced.
(1)本発明に係るハードディスク用基板のめっき治具は、中心に貫通孔を有するハードディスク用基板の前記貫通孔に挿入される軸本体と、該軸本体の表面に凹設されて前記軸本体に前記ハードディスク用基板をぶら下げて支持した状態で前記ハードディスク用基板の一部が入り込む溝とを備えたハードディスク用基板のめっき治具であって、前記溝は、前記軸本体の軸線方向に直交する方向に所定の幅および所定の深さで形成され、前記溝に前記ハードディスク用基板の一部が入り込んだ状態で、前記ハードディスク用基板の厚みと前記溝の幅との差が、0.04mm以上、かつ0.3mm以下になるように、前記溝の幅が形成されたことを特徴とする。 (1) A plating jig for a hard disk substrate according to the present invention includes a shaft main body inserted into the through hole of the hard disk substrate having a through hole in the center, and a recess formed on the surface of the shaft main body. A hard disk substrate plating jig provided with a groove into which a part of the hard disk substrate enters while the hard disk substrate is suspended and supported on the hard disk substrate, wherein the groove is orthogonal to the axial direction of the shaft body The difference between the thickness of the hard disk substrate and the width of the groove is 0.04 mm or more in a state in which a part of the hard disk substrate enters the groove. And the width of the groove is formed to be 0.3 mm or less.
(2)本発明に係るハードディスク用基板のめっき治具は、(1)に記載のハードディスク用基板のめっき治具であって、前記溝の深さが、0.1mm以上、かつ1.0mm以下であることを特徴とする。 (2) A plating jig for a hard disk substrate according to the present invention is the plating jig for a hard disk substrate according to (1), wherein the depth of the groove is 0.1 mm or more and 1.0 mm or less. It is characterized by being.
(3)本発明に係るハードディスク用基板のめっき治具は、(1)または(2)に記載のハードディスク用基板のめっき治具であって、前記溝の開口部の角が丸みを有する形状であることを特徴とする。 (3) A plating jig for a hard disk substrate according to the present invention is the plating jig for a hard disk substrate according to (1) or (2), wherein the corners of the opening of the groove are rounded. It is characterized by being.
(4)本発明に係るハードディスク用基板のめっき治具は、(1)〜(3)のいずれかに記載のハードディスク用基板のめっき治具であって、前記溝の底面が平坦であり、前記底面と、前記溝の内壁面とが直交していることを特徴とする。 (4) A plating jig for a hard disk substrate according to the present invention is the plating jig for a hard disk substrate according to any one of (1) to (3), wherein a bottom surface of the groove is flat, The bottom surface and the inner wall surface of the groove are orthogonal to each other.
(5)本発明に係るハードディスク用基板のめっき治具は、(1)〜(4)のいずれかに記載のハードディスク用基板のめっき治具であって、ハードディスク用基板のめっき治具の材質は、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)であり、ポリフッ化ビニリデン(PVDF)であり、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、並びにポリエーテルエーテルケトン(PEEK)およびポリテトラフルオロエチレン(PTFE)の混合材料のいずれかから選択されることを特徴とする。 (5) A plating jig for a hard disk substrate according to the present invention is the plating jig for a hard disk substrate according to any one of (1) to (4), and the material of the plating jig for the hard disk substrate is , Polytetrafluoroethylene (PTFE), polyvinylidene fluoride (PVDF), polyetheretherketone (PEEK), and any mixture of polyetheretherketone (PEEK) and polytetrafluoroethylene (PTFE) It is selected from these.
(6)本発明に係るハードディスク用基板の製造方法は、(1)〜(5)のいずれかに記載のハードディスク用基板のめっき治具を用いることを特徴とする。 (6) A method for manufacturing a hard disk substrate according to the present invention is characterized by using the plating jig for a hard disk substrate according to any one of (1) to (5).
上記(1)に記載した本発明に係るハードディスク用基板のめっき治具は、ハードディスク用基板との間の幅方向のクリアランスが、0.04mm以上、かつ0.3mm以下になる幅で、溝が形成されている。この構成により、0.3mmを超える大きな隙間に起因するハードディスク用基板のばたつきの発生が抑制される。さらに、ばたつきに起因する内径付近の疵も防止することができる。また、0.04mm未満となる小さな隙間に起因するめっき厚の薄膜化が防止される。 The plating jig for a hard disk substrate according to the present invention described in (1) above has a width in which the clearance in the width direction between the hard disk substrate and the hard disk substrate is 0.04 mm or more and 0.3 mm or less, and the groove is Is formed. With this configuration, occurrence of flapping of the hard disk substrate due to a large gap exceeding 0.3 mm is suppressed. Furthermore, wrinkles near the inner diameter caused by flapping can be prevented. In addition, the plating thickness can be prevented from being reduced due to the small gap of less than 0.04 mm.
上記(2)に記載した本発明に係るハードディスク用基板のめっき治具は、深さが、0.1mm以上、かつ1.0mm以下の溝が形成されている。この構成により、深さが0.1mm未満となる浅い溝に起因するハードディスク用基板のばたつきの発生が抑制される。また、深さが1.0mmを超える深い溝に起因するめっき厚の薄膜化が防止される。 In the plating jig for a hard disk substrate according to the present invention described in (2) above, a groove having a depth of 0.1 mm or more and 1.0 mm or less is formed. With this configuration, occurrence of flapping of the hard disk substrate due to the shallow groove having a depth of less than 0.1 mm is suppressed. Further, the plating thickness is prevented from being reduced due to a deep groove having a depth exceeding 1.0 mm.
上記(3)に記載した本発明に係るハードディスク用基板のめっき治具は、溝の開口部の角が丸みを有している。この構成により、開口部の角にバリが発生することが防止され、溝に支持されるハードディスク用基板に疵が付くことが防止される。 In the plating jig for a hard disk substrate according to the present invention described in (3) above, the corners of the opening of the groove are rounded. With this configuration, burrs are prevented from occurring at the corners of the opening, and wrinkles are prevented from sticking to the hard disk substrate supported by the groove.
上記(4)に記載した本発明に係るハードディスク用基板のめっき治具は、溝の底面が平坦であり、底面と、溝の内壁面とが直交している。この構成により、ハードディスク用基板が安定した姿勢状態で支持され、ばたつきの発生が抑制される。 In the plating jig for a hard disk substrate according to the present invention described in (4) above, the bottom surface of the groove is flat, and the bottom surface and the inner wall surface of the groove are orthogonal. With this configuration, the hard disk substrate is supported in a stable posture, and the occurrence of flapping is suppressed.
上記(5)に記載した本発明に係るハードディスク用基板のめっき治具は、ハードディスク用基板のめっき治具の材質は、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)であり、ポリフッ化ビニリデン(PVDF)であり、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、またはポリエーテルエーテルケトン(PEEK)およびポリテトラフルオロエチレン(PTFE)の混合材料である。この構成により、めっき治具の高い耐摩耗性、酸およびアルカリに対する高い耐薬品性、高い電気絶縁性および高い機械的強度が確保される。また、この構成により、めっき治具からの異物の発生が抑制される。 The plating jig for the hard disk substrate according to the present invention described in the above (5), the material of the plating jig for the hard disk substrate is polytetrafluoroethylene (PTFE), and polyvinylidene fluoride (PVDF), Polyetheretherketone (PEEK) or a mixture of polyetheretherketone (PEEK) and polytetrafluoroethylene (PTFE). This configuration ensures high wear resistance of the plating jig, high chemical resistance to acids and alkalis, high electrical insulation, and high mechanical strength. Further, with this configuration, generation of foreign matter from the plating jig is suppressed.
上記(6)に記載した本発明に係るハードディスク用基板の製造方法は、(1)〜(5)のいずれかに記載のめっき治具を用いてハードディスク用基板を製造するので、ハードディスク用基板を安定した姿勢状態で支持し、ハードディスク用基板をめっきする際にハードディスク用基板のばたつきの発生を抑制することができ、ばたつきに起因する内径付近の疵を抑制することもでき、また、小さな隙間に起因するめっき厚の薄膜化が防止される。 The method for manufacturing a hard disk substrate according to the present invention described in the above (6) manufactures a hard disk substrate using the plating jig according to any one of (1) to (5). Supports in a stable posture, can suppress the occurrence of flapping of the hard disk substrate when plating the hard disk substrate, can suppress wrinkles near the inner diameter caused by the flapping, and also in a small gap The resulting plating thickness is prevented from being reduced.
本発明によれば、ハードディスク用基板を安定した姿勢状態で支持することができ、ハードディスク用基板をめっきする際にハードディスク用基板のばたつきの発生を抑制することができるハードディスク用基板のめっき治具を提供することができる。 According to the present invention, there is provided a plating jig for a hard disk substrate that can support the hard disk substrate in a stable posture and can suppress the occurrence of flapping of the hard disk substrate when plating the hard disk substrate. Can be provided.
本発明に係るハードディスク用基板のめっき治具を適用した実施形態に係るハードディスク用基板のめっき治具10について図面を参照して説明する。
A hard disk
まず、ハードディスク用基板のめっき治具10に装着するハードディスク用基板Pについて説明する。ハードディスク用基板Pは、図1(a)、図1(b)に示すように、厚みがt、外径がD、中心の貫通孔hの内径がdの円盤で構成されている。厚みtは0.5mm〜2mm程度、外径Dは、30mm〜270mm程度、内径dは、10mm〜70mm程度の寸法を有している。
First, the hard disk substrate P to be mounted on the plating
ハードディスク用基板Pの材料は、アルミニウム合金、ガラス、セラミックなどの板材からなる。ハードディスク用基板Pは、高い精度の平滑性と表面硬度を有しており、高速回転による振動の発生を抑制することができる高い剛性および耐衝撃性も有している。これらの特性を備えるためにハードディスク用基板Pは硬い素材で形成されている。 The hard disk substrate P is made of a plate material such as an aluminum alloy, glass, or ceramic. The hard disk substrate P has high precision smoothness and surface hardness, and also has high rigidity and impact resistance capable of suppressing the occurrence of vibration due to high-speed rotation. In order to have these characteristics, the hard disk substrate P is formed of a hard material.
また、ハードディスク用基板Pは、下地の表面処理が行われ、表面処理の後にめっき処理が行われ、めっき処理後に、表面が研磨され鏡面化されるように構成されている。めっき処理として、本実施形態では、無電解ニッケル−りん(NiP)めっきが行われる。 Further, the hard disk substrate P is configured such that the surface treatment of the base is performed, the plating treatment is performed after the surface treatment, and the surface is polished and mirror-finished after the plating treatment. In this embodiment, electroless nickel-phosphorus (NiP) plating is performed as the plating process.
ハードディスク用基板Pのめっき治具10は、図2、図3(a)、図3(b)に示すように、ハードディスク用基板Pの貫通孔hに挿入されるめっき軸20を備えている。めっき軸20は、図3(b)に示すように、軸本体21と、芯材22と、一対のキャップ23を有している。軸本体21には、軸線方向に貫通する貫通孔21aが形成されており、貫通孔21aには、芯材22が挿入されている。キャップ23は、芯材22が挿入された後に貫通孔21aの両側の開口端を閉塞するように取り付けられている。
The plating
軸本体21は、合成樹脂製材料によって構成されており、好ましくは、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)であり、より好ましくは、ポリフッ化ビニリデン(PVDF)であり、最も好ましくは、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、またはポリエーテルエーテルケトン(PEEK)およびポリテトラフルオロエチレン(PTFE)の混合材料によって構成されている。これらの材料は、酸およびアルカリに対する高い耐薬品性を有しており、耐摩耗性、電気絶縁性、および機械的強度などの観点からバランスを見ていずれかを選択することができる。また、これらの合成樹脂製材料はハードディスク用基板の製造に支障のない範囲で他の成分との混合材料であってもよい。
The
軸本体21は、ハードディスク用基板Pの貫通孔hよりも小径の外周面部21bを有しており、その外周面部21bには、溝30が凹設されている。溝30は、軸本体21にハードディスク用基板Pをぶら下げて支持した状態でハードディスク用基板Pの一部である内周端部が入り込む大きさを有している。溝30は、軸本体21の軸線方向に直交する方向に所定の幅および所定の深さで形成されており、溝30にハードディスク用基板Pの内周端部が入り込んだ状態で、ハードディスク用基板Pとの間の幅方向のクリアランスCが、0.04mm以上、かつ0.3mm以下になるように、溝30の幅が形成されている。
The shaft
複数の溝30は、図3(a)、図3(b)に示すように、それぞれ軸本体21の周方向に沿って周状に連続して設けられており、軸本体21の軸方向に所定間隔をおいて例えば60個程度が設けられている。溝30は、図4(a)、図4(b)に示すように、外周面部21bから、軸本体21の軸心に向かって傾斜する傾斜部31と、傾斜部31の軸心側の端部から軸心に向かって垂直に形成された垂直部32と、傾斜部31と垂直部32とが交わる角部33とを有している。
As shown in FIG. 3A and FIG. 3B, the plurality of
傾斜部31は、一方の傾斜面31aと、一方の傾斜面31aに対向する他方の傾斜面31bとを有しており、傾斜面31aと傾斜面31bとのなす角はθ(度)で形成され、傾斜部31の開口は幅W1(mm)で形成されている。なす角θおよび幅W1は、めっき軸10の構造、大きさ、形状などの設定諸元や実験値などのデータに基づいて適宜選択される。
The
ハードディスク用基板Pの貫通孔hに軸本体21を挿通してハードディスク用基板Pをぶら下げ支持した場合に、ハードディスク用基板Pの内周端部が溝30の垂直部32に入り込み易いように、なす角θは、例えば100度程度、幅W1は6mm程度、外周面部21bから傾斜部31と垂直部32とが交わる角部33までの深さDP1は、2.2mm程度で形成されている。なお、この傾斜部31を形成せずに、軸本体21の外周面部21bから直接、垂直部32を形成するようにしても良い。
When the shaft
垂直部32は、図4(b)に示すように、一方の内壁面32aと、一方の内壁面32aと対向する他方の内壁面32bと、底面32cとを有している。一方の内壁面32aと他方の内壁面32bとの間は、幅W2(mm)(図4(a)参照)で形成され、垂直部32は、深さDP2(mm)で形成されている。この幅W2は、ハードディスク用基板Pの厚みtと幅W2との差(W2−t)、即ちハードディスク用基板Pとの間の幅方向のクリアランスCが、0.04mm以上、かつ0.3mm以下となるように形成されている。なお、クリアランスCは、幅W2の中心部にハードディスク用基板Pが位置した場合には、隙間C1と隙間C2との合計となる。
As shown in FIG. 4B, the
したがって、ハードディスク用基板Pの厚みtを含めて、幅W2は、t+Cとなるように形成されている。なお、ハードディスク用基板Pの厚みtが0.63mmの場合は、幅W2は、0.67mm〜0.75mmであることが好ましい。なお、この垂直部32により、図5(b)に示すように、ハードディスク用基板Pの貫通孔hの内周端部が支持されている。
Therefore, the width W2 including the thickness t of the hard disk substrate P is formed to be t + C. When the thickness t of the hard disk substrate P is 0.63 mm, the width W2 is preferably 0.67 mm to 0.75 mm. The
なお、クリアランスCが0.04mm未満であると、隙間へのめっき液の浸入が不十分となりめっき厚が薄くなることがあり、ハードディスク用基板Pの貫通孔hの角部、即ちIDチャンファー付近に疵が発生することがある。クリアランスCが0.3mmを超えると、溝30によるハードディスク用基板Pの支持が不十分となり、めっき軸20によりハードディスク用基板Pを従動回転させたときにハードディスク用基板Pに大きなばたつきが発生することがある。
If the clearance C is less than 0.04 mm, the plating solution may not sufficiently penetrate into the gap and the plating thickness may be reduced. The corner of the through hole h of the hard disk substrate P, that is, near the ID chamfer May cause wrinkles. When the clearance C exceeds 0.3 mm, the hard disk substrate P is not sufficiently supported by the
垂直部32の深さDP2は、垂直部32と傾斜部31とが交わる角部33から底面32cまでの距離(mm)で表される。具体的には、角部33には後述する面取りRが形成されており、深さDP2は、角部33の面取りRの中心から底面32cまでの距離で表される。
The depth DP2 of the
なお、深さDP2は0.1mm以上、かつ1.0mm以下が好ましく、0.3mm以下がより好ましい。深さDP2が0.1mm未満であると、溝30によるハードディスク用基板Pの支持が不十分となり、大きなばたつきが発生することがある。深さDP2が1.0mmを超えると、隙間へのめっき液の浸入が不十分となりめっき厚が薄くなることがあり、IDチャンファー付近に疵が発生することがある。
The depth DP2 is preferably 0.1 mm or more and 1.0 mm or less, and more preferably 0.3 mm or less. When the depth DP2 is less than 0.1 mm, the support of the hard disk substrate P by the
底面32cは、軸本体21の軸心に沿って平坦に形成され、底面32cと垂直部32の一方の内壁面32aとが直交し、底面32cと垂直部32の他方の内壁面32bとが直交している。なお、底面32cと一方の内壁面32aおよび他方の内壁面32bとが直交する角部には、ハードディスク用基板Pの貫通孔hの角部が干渉しない範囲で小さな丸みや小さな傾斜があってもよい。
The
角部33の面取りRは、丸みを帯びていればよく、角部33に丸みを形成することにより、角部に発生するバリが除去され、ハードディスク用基板Pの疵の発生が防止される。
The chamfer R of the
芯材22は、繊維強化プラスチックや金属などの高い剛性を有する材料からなり、軸本体21に挿入されることで、めっき軸20の機械的強度を高めている。一対のキャップ23は、軸本体21と同様の材料で形成されている。片方のキャップ23は、図2に示すように、めっき設備に設けられている歯車に挿入され、この歯車によりめっき軸20が回転するように構成されている。
The
めっき軸20には、図5(a)に示すように、複数個の、例えば軸本体21に形成された溝30に対応して、60個程度のハードディスク用基板Pが挿入される。さらに、めっき軸20は、めっき設備に設けられているスペーサSが各ハードディスク用基板Pの間にセットされるように構成されている。
As shown in FIG. 5A, a plurality of hard disk substrates P, for example, corresponding to the
めっき軸20は、ハードディスク用基板PとスペーサSがセットされた状態で、めっき設備に装着され、浴液内に浸漬された状態で回転駆動される。めっき軸20にぶら下げ支持されているハードディスク用基板Pは、めっき軸20によって浴内で従動回転して表面処理が施され、表面処理の終了後にめっき軸20とともに浴から引き上げられる。
The plating
ハードディスク用基板Pは、(1)脱脂、(2)酸エッチング、(3)脱スマット、(4)1stジンケート、(5)脱ジンケート、(6)2ndジンケート、(7)無電解NiPめっき、および各工程間での水洗、の各工程の浴液に浸漬されることでハードディスク用基板Pの表面に表面処理が施される。めっき軸20は、前記(1)〜(7)に限られずハードディスク用基板Pを浴液に浸漬し、浴内で従動回転させる工程に使用することができ、例えば前記(1)〜(7)の一部の工程に使用されてもよいが、全ての工程で使用されるのが好ましい。
Hard disk substrate P includes (1) degreasing, (2) acid etching, (3) desmutting, (4) 1st zincate, (5) dezincating, (6) 2nd zincate, (7) electroless NiP plating, and Surface treatment is performed on the surface of the substrate P for the hard disk by being immersed in the bath solution of each step of washing with water between the steps. The plating
次いで、本実施形態に係るハードディスク用基板Pのめっき治具10の実施例および比較例について説明する。本実施形態に係るハードディスク用基板Pのめっき治具10の実施例に係るめっき治具および比較例に係るめっき治具を作製し、ハードディスク用基板Pをめっき治具に実装して、図6(a)の表に示す各項目について評価した。実施例1〜15と、比較例1〜3についてそれぞれ評価した。以下、各実施例および各比較例について説明する。
Next, examples and comparative examples of the plating
(実施例1)
実施例1は、図6(a)に示すように、ハードディスク用基板Pとして、厚みtが0.63mm、外径Dが95mm、内径dが25mmであるアルミニウム合金製のアルミ基板を使用した。めっき軸20を構成する軸本体21の溝30の垂直部32における幅W2を0.70mmとした。したがって、溝30とハードディスク用基板Pとの間の幅方向のクリアランスCは、W2−t、即ち0.70mm−0.63mm=0.07mmとなる。溝30の角部33における面取りRは、0.2mmとした。溝30の垂直部32における深さDP2を0.8mmとした。めっき軸20を構成する軸本体21および一対のキャップ23をポリエーテルエーテルケトン(PEEK)で形成した。
(Example 1)
In Example 1, as shown in FIG. 6A, an aluminum alloy aluminum substrate having a thickness t of 0.63 mm, an outer diameter D of 95 mm, and an inner diameter d of 25 mm was used as the hard disk substrate P. The width W2 at the
実施例1においては、めっき軸20を、実際のめっき設備を構成するめっき軸20よりも長さを短く形成し、ハードディスク用基板Pを10個程度支持できるものとした。めっき軸20以外の他の構成は、実際のめっき設備を構成する構成要素と同様に構成した実験機により評価を行った。ハードディスク用基板Pは、下地の表面処理が行われ、表面処理の後に無電解ニッケル−りん(NiP)めっきによるめっき処理を実際のめっき設備におけるめっき処理と同様に行った。
In Example 1, the plating
以上のように構成した実施例1に係るハードディスク用基板Pに対して、基板のばたつき、内径付近(内周端部)の疵、内径付近(内周端部)のめっき厚の3項目について評価を行った。基板のばたつきは、実験機によりめっき処理が施されているハードディスク用基板Pを目視により観察した。ハードディスク用基板Pのゆれがほとんどないものを◎で表示した。図7に示す従来のめっき軸Jに装着した実施例1と同様のハードディスク用基板Pに発生するばたつきと比較し、ハードディスク用基板Pのばたつきがかなり改善されたものを〇で表示した。 For the hard disk substrate P according to the first embodiment configured as described above, evaluation was made on three items: substrate flutter, wrinkles near the inner diameter (inner peripheral end), and plating thickness near the inner diameter (inner peripheral end). Went. For flapping of the substrate, the hard disk substrate P that was plated by an experimental machine was visually observed. A hard disk substrate P with almost no shaking is indicated by ◎. Compared with the fluttering generated on the hard disk substrate P similar to that of Example 1 mounted on the conventional plating shaft J shown in FIG.
なお、従来のめっき軸Jは、実施形態に係るめっき軸20と同様に構成され、めっき軸に形成された溝のみが異なっている。具体的には、従来のめっき軸Jの溝は、図7に示すように、傾斜部Kを備えている。傾斜部Kは、一方の傾斜面aと、一方の傾斜面aに対向する他方の傾斜面bとを有しており、傾斜面aと傾斜面bとのなす角は100度で形成され、傾斜部Kの開口は幅6.6mmで形成されている。また、傾斜部Kの外周面部gからの深さは、2.2mmで形成され、傾斜部の底部には面取りRが0.2mmで形成されている。
In addition, the conventional plating axis | shaft J is comprised similarly to the plating axis |
また、従来のめっき軸Jに装着したハードディスク用基板Pに発生するばたつきと比較し、ハードディスク用基板Pのばたつきがやや改善されたものを△で表示した。さらに、従来のめっき軸Jに装着したハードディスク用基板Pに発生するばたつきと同等のばたつきを×で表示した。 Compared with the fluttering generated on the hard disk substrate P mounted on the conventional plating shaft J, the flickering of the hard disk substrate P slightly improved is indicated by Δ. Further, the flicker equivalent to the flutter generated on the hard disk substrate P mounted on the conventional plating shaft J is indicated by x.
内径付近(内周端部)の疵は、ハードディスク用基板Pの貫通孔hの角部付近、即ちIDチャンファー付近を光学顕微鏡で観察し、疵の程度を、従来のめっき軸Jを使用してめっきしたハードディスク用基板PのIDチャンファー付近の疵と比較して判定した。従来と同等の疵を〇で表示し、従来に比べて疵が僅かに多いものを△で表示し、従来に比べて疵が多数存在しているものを×で表示した。 For the wrinkles near the inner diameter (inner peripheral end), the corners of the through holes h of the hard disk substrate P, that is, the vicinity of the ID chamfer, are observed with an optical microscope, and the degree of wrinkles is determined using a conventional plating axis J. Judgment was made in comparison with the wrinkles in the vicinity of the ID chamfer of the hard disk substrate P plated. The same type of wrinkles as in the conventional case is indicated by ○, those having slightly more wrinkles than the conventional case are indicated by Δ, and those having a larger number of wrinkles than the conventional case are indicated by ×.
内径付近(内周端部)のめっき厚は、ハードディスク用基板Pの外周付近から貫通孔hに向かう平面部からIDチャンファー付近までの高さ、即ち厚みをレーザー顕微鏡で測定した。IDチャンファー付近の厚みが薄くなっているものについては、断面を観察し、平面部に比べてめっき厚が薄くなっているか否かを検証した。従来のめっき軸Jを使用してめっきしたハードディスク用基板PのIDチャンファー付近のめっき厚と比較して評価した。 The plating thickness in the vicinity of the inner diameter (inner peripheral end) was measured with a laser microscope from the vicinity of the outer periphery of the hard disk substrate P to the through hole h to the vicinity of the ID chamfer, that is, the thickness. For the thin part near the ID chamfer, the cross section was observed to verify whether the plating thickness was thinner than the flat part. Evaluation was made in comparison with the plating thickness in the vicinity of the ID chamfer of the hard disk substrate P plated using the conventional plating axis J.
従来と同等のめっき厚を〇で表示し、従来に比べて薄く見えるが、断面観察の結果めっき厚が平面部に比べ80%の厚みが確保されているものを△で表示し、断面観察の結果めっき厚が平面部に比べ80%厚を確保できていないものを×で表示した。 The plating thickness equivalent to the conventional one is displayed as ◯, which looks thinner than the conventional one, but the cross-sectional observation shows that the plating thickness is 80% of the thickness compared to the flat part, and the cross-sectional observation Results The case where the plating thickness could not be secured 80% compared with the flat part was indicated by x.
実施例1に係るハードディスク用基板Pを評価した結果、基板のばたつきは◎、内径付近の疵は△、内径付近のめっき厚は△であった。したがって、実施例1に係るめっき軸20は良好であることが確認された。
As a result of evaluating the hard disk substrate P according to Example 1, the fluttering of the substrate was ◎, the wrinkles near the inner diameter were Δ, and the plating thickness near the inner diameter was Δ. Therefore, it was confirmed that the plating
(実施例2)
実施例2は、実施例1と同様に、ハードディスク用基板Pは、厚みtが0.63mm、外径Dが95mm、内径dが25mmで、アルミニウム合金からなるアルミ基板を使用した。めっき軸20を構成する軸本体21の溝30の垂直部32における幅W2を0.70mmとし、クリアランスCを0.07mmとした。溝30の角部33における面取りRは、1.0mmとした。溝30の垂直部32における深さDP2を0.1mmとした。めっき軸20を構成する軸本体21および一対のキャップ23をポリエーテルエーテルケトン(PEEK)で形成した。
(Example 2)
In Example 2, as in Example 1, the hard disk substrate P was an aluminum substrate made of an aluminum alloy having a thickness t of 0.63 mm, an outer diameter D of 95 mm, and an inner diameter d of 25 mm. The width W2 in the
実施例1と同様に、実験機によりめっき処理を行い、実施例2に係るハードディスク用基板Pに対して、基板のばたつき、内径付近の疵、内径付近のめっき厚の3項目について実施例1と同様に評価を行った。 In the same manner as in Example 1, plating was performed by an experimental machine, and the hard disk substrate P according to Example 2 was compared with Example 1 for three items of substrate flapping, wrinkles near the inner diameter, and plating thickness near the inner diameter. Evaluation was performed in the same manner.
実施例2に係るハードディスク用基板Pを評価した結果、基板のばたつきは〇、内径付近の疵は〇、内径付近のめっき厚は〇であった。したがって、実施例2に係るめっき軸20は良好であることが確認された。
As a result of evaluating the hard disk substrate P according to Example 2, the flapping of the substrate was ◯, the wrinkles near the inner diameter were ◯, and the plating thickness near the inner diameter was ◯. Therefore, it was confirmed that the plating
(実施例3)
実施例3は、実施例1と同様に、ハードディスク用基板Pは、厚みtが0.63mm、外径Dが95mm、内径dが25mmで、アルミニウム合金からなるアルミ基板を使用した。めっき軸20を構成する軸本体21の溝30の垂直部32における幅W2を0.70mmとし、クリアランスCを0.07mmとした。溝30の角部33における面取りRは、0.4mmとした。溝30の垂直部32における深さDP2を0.15mmとした。めっき軸20を構成する軸本体21および一対のキャップ23をポリエーテルエーテルケトン(PEEK)で形成した。
(Example 3)
In Example 3, as in Example 1, the hard disk substrate P was an aluminum substrate made of an aluminum alloy having a thickness t of 0.63 mm, an outer diameter D of 95 mm, and an inner diameter d of 25 mm. The width W2 in the
実施例1と同様に、実験機によりめっき処理を行い、実施例3に係るハードディスク用基板Pに対して、基板のばたつき、内径付近の疵、内径付近のめっき厚の3項目について実施例1と同様に評価を行った。 In the same manner as in Example 1, plating was performed by an experimental machine, and the hard disk substrate P according to Example 3 was compared with Example 1 for three items of substrate flutter, wrinkles near the inner diameter, and plating thickness near the inner diameter. Evaluation was performed in the same manner.
実施例3に係るハードディスク用基板Pを評価した結果、基板のばたつきは〇、内径付近の疵は〇、内径付近のめっき厚は〇であった。したがって、実施例3に係るめっき軸20は良好であることが確認された。
As a result of evaluating the hard disk substrate P according to Example 3, the fluttering of the substrate was ◯, the wrinkles near the inner diameter were ◯, and the plating thickness near the inner diameter was ◯. Therefore, it was confirmed that the plating
(実施例4)
実施例4は、実施例1と同様に、ハードディスク用基板Pは、厚みtが0.63mm、外径Dが95mm、内径dが25mmで、アルミニウム合金からなるアルミ基板を使用した。めっき軸20を構成する軸本体21の溝30の垂直部32における幅W2を0.70mmとし、クリアランスCを0.07mmとした。溝30の角部33における面取りRは、0.4mmとした。溝30の垂直部32における深さDP2を0.25mとした。めっき軸20を構成する軸本体21および一対のキャップ23をポリエーテルエーテルケトン(PEEK)で形成した。
Example 4
In Example 4, as in Example 1, the hard disk substrate P was an aluminum substrate made of an aluminum alloy having a thickness t of 0.63 mm, an outer diameter D of 95 mm, and an inner diameter d of 25 mm. The width W2 in the
実施例1と同様に、実験機によりめっき処理を行い、実施例4に係るハードディスク用基板Pに対して、基板のばたつき、内径付近の疵、内径付近のめっき厚の3項目について実施例1と同様に評価を行った。 In the same manner as in Example 1, plating was performed by an experimental machine, and the hard disk substrate P according to Example 4 was compared with Example 1 for three items of substrate flapping, wrinkles near the inner diameter, and plating thickness near the inner diameter. Evaluation was performed in the same manner.
実施例4に係るハードディスク用基板Pを評価した結果、基板のばたつきは〇、内径付近の疵は〇、内径付近のめっき厚は〇であった。したがって、実施例4に係るめっき軸20は良好であることが確認された。
As a result of evaluating the hard disk substrate P according to Example 4, the fluttering of the substrate was ◯, the wrinkles near the inner diameter were ◯, and the plating thickness near the inner diameter was ◯. Therefore, it was confirmed that the plating
(実施例5)
実施例5は、実施例1と同様に、ハードディスク用基板Pは、厚みtが0.63mm、外径Dが95mm、内径dが25mmで、アルミニウム合金からなるアルミ基板を使用した。めっき軸20を構成する軸本体21の溝30の垂直部32における幅W2を0.70mmとし、クリアランスCを0.07mmとした。溝30の角部33における面取りRは、0.2mmとした。溝30の垂直部32における深さDP2を0.3mmとした。めっき軸20を構成する軸本体21および一対のキャップ23をポリエーテルエーテルケトン(PEEK)で形成した。
(Example 5)
In Example 5, as in Example 1, the hard disk substrate P was an aluminum substrate made of an aluminum alloy having a thickness t of 0.63 mm, an outer diameter D of 95 mm, and an inner diameter d of 25 mm. The width W2 in the
実施例1と同様に、実験機によりめっき処理を行い、実施例5に係るハードディスク用基板Pに対して、基板のばたつき、内径付近の疵、内径付近のめっき厚の3項目について実施例1と同様に評価を行った。 In the same manner as in Example 1, plating was performed by an experimental machine, and the hard disk substrate P according to Example 5 was compared with Example 1 for three items of substrate flutter, wrinkles near the inner diameter, and plating thickness near the inner diameter. Evaluation was performed in the same manner.
実施例5に係るハードディスク用基板Pを評価した結果、基板のばたつきは◎、内径付近の疵は〇、内径付近のめっき厚は〇であった。したがって、実施例5に係るめっき軸20は良好であることが確認された。
As a result of evaluating the hard disk substrate P according to Example 5, the substrate fluttering was ◎, the wrinkles near the inner diameter were ◯, and the plating thickness near the inner diameter was ◯. Therefore, it was confirmed that the plating
(実施例6)
実施例6は、実施例1と同様に、ハードディスク用基板Pは、厚みtが0.63mm、外径Dが95mm、内径dが25mmで、アルミニウム合金からなるアルミ基板を使用した。めっき軸20を構成する軸本体21の溝30の垂直部32における幅W2を0.70mmとし、クリアランスCを0.07mmとした。溝30の角部33における面取りRは、0.2mmとした。溝30の垂直部32における深さDP2を0.3mmとした。めっき軸20を構成する軸本体21および一対のキャップ23をポリテトラフルオロエチレン(PTFE)で形成した。
(Example 6)
In Example 6, as in Example 1, the hard disk substrate P was an aluminum substrate made of an aluminum alloy having a thickness t of 0.63 mm, an outer diameter D of 95 mm, and an inner diameter d of 25 mm. The width W2 in the
実施例1と同様に、実験機によりめっき処理を行い、実施例6に係るハードディスク用基板Pに対して、基板のばたつき、内径付近の疵、内径付近のめっき厚の3項目について実施例1と同様に評価を行った。 In the same manner as in Example 1, plating was performed by an experimental machine, and the hard disk substrate P according to Example 6 was compared with Example 1 for three items of substrate flapping, wrinkles near the inner diameter, and plating thickness near the inner diameter. Evaluation was performed in the same manner.
実施例6に係るハードディスク用基板Pを評価した結果、基板のばたつきは◎、内径付近の疵は〇、内径付近のめっき厚は〇であった。したがって、実施例6に係るめっき軸20は良好であることが確認された。
As a result of evaluating the hard disk substrate P according to Example 6, the fluttering of the substrate was ◎, the wrinkles near the inner diameter were ◯, and the plating thickness near the inner diameter was ◯. Therefore, it was confirmed that the plating
(実施例7)
実施例7は、実施例1と同様に、ハードディスク用基板Pは、厚みtが0.63mm、外径Dが95mm、内径dが25mmで、アルミニウム合金からなるアルミ基板を使用した。めっき軸20を構成する軸本体21の溝30の垂直部32における幅W2を0.70mmとし、クリアランスCを0.07mmとした。溝30の角部33における面取りRは、0.2mmとした。溝30の垂直部32における深さDP2を0.3mmとした。めっき軸20を構成する軸本体21および一対のキャップ23をポリエーテルエーテルケトン(PEEK)およびポリテトラフルオロエチレン(PTFE)の混合材料で形成した。
(Example 7)
In Example 7, as in Example 1, the hard disk substrate P was an aluminum substrate made of an aluminum alloy having a thickness t of 0.63 mm, an outer diameter D of 95 mm, and an inner diameter d of 25 mm. The width W2 in the
実施例1と同様に、実験機によりめっき処理を行い、実施例7に係るハードディスク用基板Pに対して、基板のばたつき、内径付近の疵、内径付近のめっき厚の3項目について実施例1と同様に評価を行った。 In the same manner as in Example 1, plating was performed using an experimental machine, and the hard disk substrate P according to Example 7 was compared with Example 1 for three items of substrate flapping, wrinkles near the inner diameter, and plating thickness near the inner diameter. Evaluation was performed in the same manner.
実施例7に係るハードディスク用基板Pを評価した結果、基板のばたつきは◎、内径付近の疵は〇、内径付近のめっき厚は〇であった。したがって、実施例7に係るめっき軸20は良好であることが確認された。
As a result of evaluating the hard disk substrate P according to Example 7, the fluttering of the substrate was ◎, the wrinkles near the inner diameter were ◯, and the plating thickness near the inner diameter was ◯. Therefore, it was confirmed that the plating
(実施例8)
実施例8は、実施例1と同様に、ハードディスク用基板Pは、厚みtが0.63mm、外径Dが95mm、内径dが25mmで、アルミニウム合金からなるアルミ基板を使用した。めっき軸20を構成する軸本体21の溝30の垂直部32における幅W2を0.70mmとし、クリアランスCを0.07mmとした。溝30の角部33における面取りRは、0.2mmとした。溝30の垂直部32における深さDP2を0.3mmとした。めっき軸20を構成する軸本体21および一対のキャップ23をポリフッ化ビニリデン(PVDF)で形成した。
(Example 8)
In Example 8, as in Example 1, the hard disk substrate P was an aluminum substrate made of an aluminum alloy having a thickness t of 0.63 mm, an outer diameter D of 95 mm, and an inner diameter d of 25 mm. The width W2 in the
実施例1と同様に、実験機によりめっき処理を行い、実施例8に係るハードディスク用基板Pに対して、基板のばたつき、内径付近の疵、内径付近のめっき厚の3項目について実施例1と同様に評価を行った。 In the same manner as in Example 1, plating was performed by an experimental machine, and the hard disk substrate P according to Example 8 was compared with Example 1 for three items of substrate flapping, wrinkles near the inner diameter, and plating thickness near the inner diameter. Evaluation was performed in the same manner.
実施例8に係るハードディスク用基板Pを評価した結果、基板のばたつきは◎、内径付近の疵は〇、内径付近のめっき厚は〇であった。したがって、実施例8に係るめっき軸20は良好であることが確認された。
As a result of evaluating the hard disk substrate P according to Example 8, the fluttering of the substrate was ◎, the wrinkles near the inner diameter were ◯, and the plating thickness near the inner diameter was ◯. Therefore, it was confirmed that the plating
(実施例9)
実施例9は、実施例1と同様に、ハードディスク用基板Pは、厚みtが0.63mm、外径Dが95mm、内径dが25mmで、アルミニウム合金からなるアルミ基板を使用した。めっき軸20を構成する軸本体21の溝30の垂直部32における幅W2を0.67mmとし、クリアランスCを0.04mmとした。溝30の角部33における面取りRは、0.2mmとした。溝30の垂直部32における深さDP2を0.3mmとした。めっき軸20を構成する軸本体21および一対のキャップ23をポリエーテルエーテルケトン(PEEK)で形成した。
Example 9
In Example 9, as in Example 1, the hard disk substrate P was an aluminum substrate made of an aluminum alloy having a thickness t of 0.63 mm, an outer diameter D of 95 mm, and an inner diameter d of 25 mm. The width W2 in the
実施例1と同様に、実験機によりめっき処理を行い、実施例9に係るハードディスク用基板Pに対して、基板のばたつき、内径付近の疵、内径付近のめっき厚の3項目について実施例1と同様に評価を行った。 In the same manner as in Example 1, plating was performed by an experimental machine, and the hard disk substrate P according to Example 9 was compared with Example 1 for three items of substrate flutter, wrinkles near the inner diameter, and plating thickness near the inner diameter. Evaluation was performed in the same manner.
実施例9に係るハードディスク用基板Pを評価した結果、基板のばたつきは◎、内径付近の疵は〇、内径付近のめっき厚は〇であった。したがって、実施例9に係るめっき軸20は良好であることが確認された。
As a result of evaluating the hard disk substrate P according to Example 9, the fluttering of the substrate was ◎, the wrinkles near the inner diameter were ◯, and the plating thickness near the inner diameter was ◯. Therefore, it was confirmed that the plating
(実施例10)
実施例10は、実施例1と同様に、ハードディスク用基板Pは、厚みtが0.63mm、外径Dが95mm、内径dが25mmで、アルミニウム合金からなるアルミ基板を使用した。めっき軸20を構成する軸本体21の溝30の垂直部32における幅W2を0.80mmとし、クリアランスCを0.17mmとした。溝30の角部33における面取りRは、0.2mmとした。溝30の垂直部32における深さDP2を0.2mmとした。めっき軸20を構成する軸本体21および一対のキャップ23をポリエーテルエーテルケトン(PEEK)で形成した。
(Example 10)
In Example 10, as in Example 1, the hard disk substrate P was an aluminum substrate made of an aluminum alloy having a thickness t of 0.63 mm, an outer diameter D of 95 mm, and an inner diameter d of 25 mm. The width W2 in the
実施例1と同様に、実験機によりめっき処理を行い、実施例10に係るハードディスク用基板Pに対して、基板のばたつき、内径付近の疵、内径付近のめっき厚の3項目について実施例1と同様に評価を行った。 In the same manner as in Example 1, the plating process was performed by an experimental machine, and the hard disk substrate P according to Example 10 was compared with Example 1 for three items of substrate flapping, wrinkles near the inner diameter, and plating thickness near the inner diameter. Evaluation was performed in the same manner.
実施例10に係るハードディスク用基板Pを評価した結果、基板のばたつきは〇、内径付近の疵は〇、内径付近のめっき厚は〇であった。したがって、実施例10に係るめっき軸20は良好であることが確認された。
As a result of evaluating the hard disk substrate P according to Example 10, the fluttering of the substrate was ◯, the wrinkles near the inner diameter were ◯, and the plating thickness near the inner diameter was ◯. Therefore, it was confirmed that the plating
(実施例11)
実施例11は、実施例1と同様に、ハードディスク用基板Pは、厚みtが0.63mm、外径Dが95mm、内径dが25mmで、アルミニウム合金からなるアルミ基板を使用した。めっき軸20を構成する軸本体21の溝30の垂直部32における幅W2を0.90mmとし、クリアランスCを0.27mmとした。溝30の角部33における面取りRは、0.2mmとした。溝30の垂直部32における深さDP2を0.2mmとした。めっき軸20を構成する軸本体21および一対のキャップ23をポリエーテルエーテルケトン(PEEK)で形成した。
(Example 11)
In Example 11, as in Example 1, the hard disk substrate P used was an aluminum substrate made of an aluminum alloy having a thickness t of 0.63 mm, an outer diameter D of 95 mm, and an inner diameter d of 25 mm. The width W2 in the
実施例1と同様に、実験機によりめっき処理を行い、実施例11に係るハードディスク用基板Pに対して、基板のばたつき、内径付近の疵、内径付近のめっき厚の3項目について実施例1と同様に評価を行った。 In the same manner as in Example 1, plating was performed by an experimental machine, and the hard disk substrate P according to Example 11 was compared with Example 1 for three items of substrate flapping, wrinkles near the inner diameter, and plating thickness near the inner diameter. Evaluation was performed in the same manner.
実施例11に係るハードディスク用基板Pを評価した結果、基板のばたつきは△、内径付近の疵は〇、内径付近のめっき厚は〇であった。したがって、実施例11に係るめっき軸20は良好であることが確認された。
As a result of evaluating the hard disk substrate P according to Example 11, the fluttering of the substrate was Δ, the wrinkles near the inner diameter were ◯, and the plating thickness near the inner diameter was ◯. Therefore, it was confirmed that the plating
(実施例12)
実施例12は、実施例1と同様に、ハードディスク用基板Pは、厚みtが0.63mm、外径Dが95mm、内径dが25mmで、アルミニウム合金からなるアルミ基板を使用した。めっき軸20を構成する軸本体21の溝30の垂直部32における幅W2を0.90mmとし、クリアランスCを0.27mmとした。溝30の角部33における面取りRは、0.2mmとした。溝30の垂直部32における深さDP2を0.8mmとした。めっき軸20を構成する軸本体21および一対のキャップ23をポリエーテルエーテルケトン(PEEK)で形成した。
(Example 12)
In Example 12, as in Example 1, the hard disk substrate P was an aluminum substrate made of an aluminum alloy having a thickness t of 0.63 mm, an outer diameter D of 95 mm, and an inner diameter d of 25 mm. The width W2 in the
実施例1と同様に、実験機によりめっき処理を行い、実施例12に係るハードディスク用基板Pに対して、基板のばたつき、内径付近の疵、内径付近のめっき厚の3項目について実施例1と同様に評価を行った。 In the same manner as in Example 1, plating was performed by an experimental machine, and the hard disk substrate P according to Example 12 was compared with Example 1 for three items of substrate flapping, wrinkles near the inner diameter, and plating thickness near the inner diameter. Evaluation was performed in the same manner.
実施例12に係るハードディスク用基板Pを評価した結果、基板のばたつきは◎、内径付近の疵は〇、内径付近のめっき厚は〇であった。したがって、実施例12に係るめっき軸20は良好であることが確認された。
As a result of evaluating the hard disk substrate P according to Example 12, the substrate fluttering was ◎, the wrinkles near the inner diameter were ◯, and the plating thickness near the inner diameter was ◯. Therefore, it was confirmed that the plating
(実施例13)
実施例13は、実施例1と同様に、ハードディスク用基板Pは、厚みtが0.50mm、外径Dが95mm、内径dが25mmで、アルミニウム合金からなるアルミ基板を使用した。めっき軸20を構成する軸本体21の溝30の垂直部32における幅W2を0.55mmとし、クリアランスCを0.05mmとした。溝30の角部33における面取りRは、0.2mmとした。溝30の垂直部32における深さDP2を0.3mmとした。めっき軸20を構成する軸本体21および一対のキャップ23をポリエーテルエーテルケトン(PEEK)で形成した。
(Example 13)
In Example 13, as in Example 1, the hard disk substrate P was an aluminum substrate made of an aluminum alloy having a thickness t of 0.50 mm, an outer diameter D of 95 mm, and an inner diameter d of 25 mm. The width W2 in the
実施例1と同様に、実験機によりめっき処理を行い、実施例13に係るハードディスク用基板Pに対して、基板のばたつき、内径付近の疵、内径付近のめっき厚の3項目について実施例1と同様に評価を行った。 In the same manner as in Example 1, plating was performed using an experimental machine, and the hard disk substrate P according to Example 13 was compared with Example 1 for three items of substrate flutter, wrinkles near the inner diameter, and plating thickness near the inner diameter. Evaluation was performed in the same manner.
実施例13に係るハードディスク用基板Pを評価した結果、基板のばたつきは◎、内径付近の疵は〇、内径付近のめっき厚は〇であった。したがって、実施例13に係るめっき軸20は良好であることが確認された。
As a result of evaluating the hard disk substrate P according to Example 13, the fluttering of the substrate was ◎, the wrinkles near the inner diameter were ◯, and the plating thickness near the inner diameter was ◯. Therefore, it was confirmed that the plating
(実施例14)
実施例14は、実施例1と同様に、ハードディスク用基板Pは、厚みtが0.50mm、外径Dが95mm、内径dが25mmで、アルミニウム合金からなるアルミ基板を使用した。めっき軸20を構成する軸本体21の溝30の垂直部32における幅W2を0.57mmとし、クリアランスCを0.07mmとした。溝30の角部33における面取りRは、0.2mmとした。溝30の垂直部32における深さDP2を0.3mmとした。めっき軸20を構成する軸本体21および一対のキャップ23をポリエーテルエーテルケトン(PEEK)で形成した。
(Example 14)
In Example 14, as in Example 1, the hard disk substrate P was an aluminum substrate made of an aluminum alloy having a thickness t of 0.50 mm, an outer diameter D of 95 mm, and an inner diameter d of 25 mm. The width W2 in the
実施例1と同様に、実験機によりめっき処理を行い、実施例14に係るハードディスク用基板Pに対して、基板のばたつき、内径付近の疵、内径付近のめっき厚の3項目について実施例1と同様に評価を行った。 In the same manner as in Example 1, plating was performed by an experimental machine, and the hard disk substrate P according to Example 14 was compared with Example 1 for three items of substrate flapping, wrinkles near the inner diameter, and plating thickness near the inner diameter. Evaluation was performed in the same manner.
実施例14に係るハードディスク用基板Pを評価した結果、基板のばたつきは◎、内径付近の疵は〇、内径付近のめっき厚は〇であった。したがって、実施例14に係るめっき軸20は良好であることが確認された。
As a result of evaluating the hard disk substrate P according to Example 14, the fluttering of the substrate was ◎, the wrinkles near the inner diameter were ◯, and the plating thickness near the inner diameter was ◯. Therefore, it was confirmed that the plating
(実施例15)
実施例15は、実施例1と同様に、ハードディスク用基板Pは、厚みtが0.80mm、外径Dが95mm、内径dが25mmで、アルミニウム合金からなるアルミ基板を使用した。めっき軸20を構成する軸本体21の溝30の垂直部32における幅W2を0.87mmとし、クリアランスCを0.07mmとした。溝30の角部33における面取りRは、0.2mmとした。溝30の垂直部32における深さDP2を0.3mmとした。めっき軸20を構成する軸本体21および一対のキャップ23をポリエーテルエーテルケトン(PEEK)で形成した。
(Example 15)
In Example 15, as in Example 1, the hard disk substrate P was an aluminum substrate made of an aluminum alloy having a thickness t of 0.80 mm, an outer diameter D of 95 mm, and an inner diameter d of 25 mm. The width W2 of the
実施例1と同様に、実験機によりめっき処理を行い、実施例15に係るハードディスク用基板Pに対して、基板のばたつき、内径付近の疵、内径付近のめっき厚の3項目について実施例1と同様に評価を行った。 In the same manner as in Example 1, plating was performed by an experimental machine, and the hard disk substrate P according to Example 15 was compared with Example 1 for three items of substrate flutter, wrinkles near the inner diameter, and plating thickness near the inner diameter. Evaluation was performed in the same manner.
実施例15に係るハードディスク用基板Pを評価した結果、基板のばたつきは◎、内径付近の疵は〇、内径付近のめっき厚は〇であった。したがって、実施例15に係るめっき軸20は良好であることが確認された。
As a result of evaluating the hard disk substrate P according to Example 15, the fluttering of the substrate was ◎, the wrinkles near the inner diameter were ◯, and the plating thickness near the inner diameter was ◯. Therefore, it was confirmed that the plating
(比較例1)
比較例1は、実施例1と同様に、ハードディスク用基板Pは、厚みtが0.63mm、外径Dが95mm、内径dが25mmで、アルミニウム合金からなるアルミ基板を使用した。めっき軸は、図7に示す従来のめっき軸Jを使用した。したがって、図6(a)に示すように、実施例1と同様の溝30の垂直部32は形成されておらず、溝無しと表示している。めっき軸Jを構成する軸本体および一対のキャップをポリエーテルエーテルケトン(PEEK)で形成した。
(Comparative Example 1)
In Comparative Example 1, as in Example 1, the hard disk substrate P was an aluminum substrate made of an aluminum alloy having a thickness t of 0.63 mm, an outer diameter D of 95 mm, and an inner diameter d of 25 mm. As a plating shaft, a conventional plating shaft J shown in FIG. 7 was used. Therefore, as shown in FIG. 6A, the
実施例1と同様に、実験機によりめっき処理を行い、比較例1に係るハードディスク用基板Pに対して、基板のばたつき、内径付近の疵、内径付近のめっき厚の3項目について実施例1と同様に評価を行った。 In the same manner as in Example 1, plating was performed by an experimental machine, and the hard disk substrate P according to Comparative Example 1 was compared with Example 1 for three items of substrate flapping, wrinkles near the inner diameter, and plating thickness near the inner diameter. Evaluation was performed in the same manner.
比較例1に係るハードディスク用基板Pを評価した結果、基板のばたつきは×、内径付近の疵は〇、内径付近のめっき厚は〇であった。したがって、比較例1に係るめっき軸Jは基板のばたつきが大きく、めっき軸に適していないことが確認された。 As a result of evaluating the hard disk substrate P according to Comparative Example 1, the fluttering of the substrate was x, the wrinkles near the inner diameter were ◯, and the plating thickness near the inner diameter was ◯. Therefore, it was confirmed that the plating axis J according to Comparative Example 1 has a large substrate flutter and is not suitable for the plating axis.
(比較例2)
比較例2は、実施例1と同様に、ハードディスク用基板Pは、厚みtが0.63mm、外径Dが95mm、内径dが25mmで、アルミニウム合金からなるアルミ基板を使用した。めっき軸20を構成する軸本体21の溝30の垂直部32における幅W2を1.00mmとし、クリアランスCを0.37mmとした。溝30の角部33における面取りRは、0.2mmとした。溝30の垂直部32における深さDP2を0.2mmとした。めっき軸20を構成する軸本体21および一対のキャップ23をポリエーテルエーテルケトン(PEEK)で形成した。
(Comparative Example 2)
In Comparative Example 2, as in Example 1, the hard disk substrate P was an aluminum substrate made of an aluminum alloy having a thickness t of 0.63 mm, an outer diameter D of 95 mm, and an inner diameter d of 25 mm. The width W2 in the
実施例1と同様に、実験機によりめっき処理を行い、比較例2に係るハードディスク用基板Pに対して、基板のばたつき、内径付近の疵、内径付近のめっき厚の3項目について実施例1と同様に評価を行った。 In the same manner as in Example 1, plating was performed by an experimental machine, and the hard disk substrate P according to Comparative Example 2 was compared with Example 1 for three items of substrate flapping, wrinkles near the inner diameter, and plating thickness near the inner diameter. Evaluation was performed in the same manner.
比較例2に係るハードディスク用基板Pを評価した結果、基板のばたつきは×、内径付近の疵は〇、内径付近のめっき厚は〇であった。したがって、比較例2に係るめっき軸Jは基板のばたつきが大きく、めっき軸に適していないことが確認された。 As a result of evaluating the hard disk substrate P according to Comparative Example 2, the flutter of the substrate was x, the wrinkles near the inner diameter were ◯, and the plating thickness near the inner diameter was ◯. Therefore, it was confirmed that the plating axis J according to Comparative Example 2 has a large substrate flutter and is not suitable for the plating axis.
(比較例3)
比較例3は、実施例1と同様に、ハードディスク用基板Pは、厚みtが0.63mm、外径Dが95mm、内径dが25mmで、アルミニウム合金からなるアルミ基板を使用した。めっき軸20を構成する軸本体21の溝30の垂直部32における幅W2を0.70mmとし、クリアランスCを0.07mmとした。溝30の角部33における面取りRは、0.2mmとした。溝30の垂直部32における深さDP2を1.1mmとした。めっき軸20を構成する軸本体21および一対のキャップ23をポリエーテルエーテルケトン(PEEK)で形成した。
(Comparative Example 3)
In Comparative Example 3, as in Example 1, the hard disk substrate P was an aluminum substrate made of an aluminum alloy having a thickness t of 0.63 mm, an outer diameter D of 95 mm, and an inner diameter d of 25 mm. The width W2 in the
実施例1と同様に、実験機によりめっき処理を行い、比較例3に係るハードディスク用基板Pに対して、基板のばたつき、内径付近の疵、内径付近のめっき厚の3項目について実施例1と同様に評価を行った。 In the same manner as in Example 1, plating was performed by an experimental machine, and the hard disk substrate P according to Comparative Example 3 was compared with Example 1 for three items of substrate flapping, wrinkles near the inner diameter, and plating thickness near the inner diameter. Evaluation was performed in the same manner.
比較例3に係るハードディスク用基板Pを評価した結果、基板のばたつきは◎、内径付近の疵は×、内径付近のめっき厚は×であった。したがって、比較例3に係るめっき軸Jは基板のばたつきは良好であったが、内径付近の疵は×、内径付近のめっき厚は×で、めっき軸に適していないことが確認された。 As a result of evaluating the hard disk substrate P according to Comparative Example 3, the fluttering of the substrate was ◎, the wrinkles near the inner diameter were x, and the plating thickness near the inner diameter was x. Therefore, although the plating axis J according to Comparative Example 3 had good substrate fluttering, it was confirmed that the wrinkles near the inner diameter were x and the plating thickness near the inner diameter was x, which was not suitable for the plating axis.
なお、図6(b)に示すように、実施例5、実施例7、実施例9、実施例15および比較例1に対して、実際のめっき設備でめっきを行い、ノジュール発生率(個/面)について検証した。ノジュール発生率については、光学式表面検査装置により、ハードディスク用基板Pの表面を検査し、欠点となる突起の個数を走査電子顕微鏡(SEM)または原子間力顕微鏡(AFM)で、カウントした。判定基準は、0.003個/面とした。なお、光学式表面検査装置は、日立ハイテクファインシステムズ社製の型式RS1390を使用した。 In addition, as shown in FIG.6 (b), with respect to Example 5, Example 7, Example 9, Example 15, and the comparative example 1, it plated with an actual plating equipment, and a nodule generation rate (piece / Surface). As for the nodule generation rate, the surface of the hard disk substrate P was inspected with an optical surface inspection device, and the number of projections that became defects was counted with a scanning electron microscope (SEM) or an atomic force microscope (AFM). The criterion was 0.003 / surface. The optical surface inspection apparatus used was model RS1390 manufactured by Hitachi High-Tech Fine Systems.
ノジュール発生率は、実施例5が0.002、実施例7、実施例9および実施例15が0.001で、判定基準を満たしており、めっき軸に適していることが確認された。これに対して、比較例1のノジュール発生率は、0.010であり、判定基準を満たしておらず、めっき軸に適していないことが確認された。なお、図6(b)に示す「−」は検証が未実施であることを示しているが、他の未実施の各実施例についても、ハードディスク用基板Pに対する基板のばたつき、内径付近の疵、内径付近のめっき厚の3項目について良好な評価結果が得られているので、ノジュール発生率も判定基準を満たすことが推定される。 The nodule generation rate was 0.002 in Example 5, 0.001 in Example 7, Example 9 and Example 15, which met the criteria and was confirmed to be suitable for the plating axis. On the other hand, the nodule generation rate of Comparative Example 1 was 0.010, which did not satisfy the criterion, and was confirmed not to be suitable for the plating shaft. Note that “−” shown in FIG. 6B indicates that the verification has not been performed. However, in each of the other unexecuted examples, the flapping of the substrate with respect to the hard disk substrate P and the flaw near the inner diameter are also observed. Since good evaluation results have been obtained for the three items of the plating thickness near the inner diameter, it is estimated that the nodule generation rate also satisfies the criterion.
以下、本実施形態に係るハードディスク用基板Pのめっき治具10の効果について説明する。
Hereinafter, the effect of the plating
本実施形態に係るハードディスク用基板Pのめっき治具10は、ハードディスク用基板Pの厚みtと溝30の幅W2とのクリアランスCが、0.04mm以上、かつ0.3mm以下になる幅W2で、溝30が形成されている。この構成により、0.3mmを超えるクリアランスCに起因するハードディスク用基板のばたつきの発生が抑制され、0.04mm未満となるクリアランスCに起因するめっき厚の薄膜化が防止されるという効果が得られる。さらに、ばたつきに起因する内径付近の疵も防止されるという効果が得られる。
The plating
また、本実施形態に係るハードディスク用基板Pのめっき治具10は、深さが、0.1mm以上、かつ1.0mm以下で溝30が形成されている。この構成により、深さが0.1mm未満となる溝30に起因するハードディスク用基板Pのばたつきの発生が抑制されるという効果が得られる。また、深さが1.0mmを超える溝30に起因するめっき厚の薄膜化が防止されるという効果が得られる。
Further, the plating
また、本実施形態に係るハードディスク用基板Pのめっき治具10は、溝30の開口部の角が丸みを有している。この構成により、開口部の角にバリが発生することが防止され、溝30に支持されるハードディスク用基板Pに疵が付くことが防止されるという効果が得られる。
Further, in the
また、本実施形態に係るハードディスク用基板Pのめっき治具10は、溝30の底面32cが平坦であり、底面32cと、溝30の一方の傾斜面31aおよび他方の傾斜面31bとが直交している。この構成により、ハードディスク用基板Pが溝30の底面32cで安定した姿勢状態で支持され、ばたつきの発生が抑制されるという効果が得られる。
Further, in the
また、本実施形態に係るハードディスク用基板Pのめっき治具10は、ハードディスク用基板Pのめっき治具10の材質が、好ましくは、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)であり、より好ましくは、ポリフッ化ビニリデン(PVDF)であり、最も好ましくは、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、またはポリエーテルエーテルケトン(PEEK)およびポリテトラフルオロエチレン(PTFE)の混合材料で構成されている。この構成により、めっき治具10の高い耐摩耗性、酸およびアルカリに対する高い耐薬品性、高い電気絶縁性および高い機械的強度が確保されるという効果が得られる。また、本実施形態に係るハードディスク用基板Pのめっき治具10は、高い耐摩耗性、耐薬品性を有するため、めっき治具10からの異物の発生が抑制されるという効果が得られる。
In the
以上、本発明の実施形態について詳述したが、本発明は、前記の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の精神を逸脱しない範囲で、種々の設計変更を行うことができるものである。 Although the embodiments of the present invention have been described in detail above, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various designs can be made without departing from the spirit of the present invention described in the claims. It can be changed.
10・・・めっき治具
20・・・めっき軸(めっき治具)
21・・・軸本体
21a、h・・・貫通孔
21b・・・外周面部
22・・・芯材
23・・・キャップ
30・・・溝
31・・・傾斜部
31a・・・一方の傾斜面
31b・・・他方の傾斜面
32・・・垂直部
32a・・・一方の内壁面
32b・・・他方の内壁面
32c・・・底面
33・・・角部
C、C1、C2・・・クリアランス
D・・・外径
d・・・内径
DP1、DP2・・・深さ
P・・・ハードディスク用基板
t・・・厚み
R・・・面取り
W1、W2・・・幅
10 ... Plating
21 ...
Claims (6)
前記溝は、前記軸本体の軸線方向に直交する方向に所定の幅および所定の深さで形成され、前記溝に前記ハードディスク用基板の一部が入り込んだ状態で、前記ハードディスク用基板の厚みと前記溝の幅との差が、0.04mm以上、かつ0.3mm以下になるように、前記溝の幅が形成されたことを特徴とするハードディスク用基板のめっき治具。 A shaft main body inserted into the through hole of the hard disk substrate having a through hole in the center, and the hard disk substrate in a state of being recessedly supported on the surface of the shaft main body and hanging the hard disk substrate on the shaft main body A hard disk substrate plating jig having a groove into which a part of
The groove is formed with a predetermined width and a predetermined depth in a direction orthogonal to the axial direction of the shaft main body, and with the thickness of the hard disk substrate in a state where a part of the hard disk substrate enters the groove. A plating jig for a substrate for a hard disk, wherein the groove width is formed such that a difference from the groove width is 0.04 mm or more and 0.3 mm or less.
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