JP2019177456A - 研磨パッド、研磨パッドの製造方法、及び光学材料又は半導体材料の表面を研磨する方法 - Google Patents

研磨パッド、研磨パッドの製造方法、及び光学材料又は半導体材料の表面を研磨する方法 Download PDF

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【課題】従来の研磨パッドよりも硬度が低く、また、有機残渣の発生が少なく、結果としてスクラッチ、有機残渣等のディフェクトの発生を抑制できる研磨パッドを提供することを目的とする。【解決手段】 ポリウレタン樹脂を含む研磨層を有する研磨パッドであって、前記ポリウレタン樹脂が、イソシアネート末端ウレタンプレポリマー及び硬化剤を含む硬化性樹脂組成物の硬化物であり、前記硬化剤は、下記式(I)で表される数平均分子量が400〜1300のアミン系硬化剤を含む、前記研磨パッド。(上記式(I)中、nは、前記アミン系硬化剤の数平均分子量が400〜1300となる1以上の自然数である。)【選択図】なし

Description

本発明は、研磨パッド、研磨パッドの製造方法、及び光学材料又は半導体材料の表面を研磨する方法に関する。本発明の研磨パッドは、光学材料、半導体ウエハ、半導体デバイス、ハードディスク用基板等の研磨に用いられ、特に半導体ウエハの上に酸化物層、金属層等が形成されたデバイスを研磨するのに好適に用いられる。
光学材料、半導体ウエハ、ハードディスク基板、液晶用ガラス基板、半導体デバイスは非常に精密な平坦性が要求される。また、半導体デバイスの研磨においては、近年の集積回路の微細化・高密度化に伴い、スクラッチ(傷)、有機残渣等のディフェクト(欠陥)の抑制についてより厳密なレベルが要求されるようになってきている。このような各種材料の表面を平坦に研磨するために、硬質研磨パッドが一般的に用いられている。
硬質研磨パッドを用いた研磨において、研磨開始から研磨パッド及び砥液(スラリー)を交換するまでの1回の研磨作業の終期には相当の研磨屑が発生している。研磨屑の蓄積が原因で研磨パッドの開口部が目詰まりして、研磨パッドのスラリーの保持性が悪化し、摩擦熱が発生する。このため、1回の研磨作業の間に、被研磨物の表面の温度は初期から終期にかけて上昇し、30℃〜90℃を含む幅広い温度範囲で変化する。また、化学機械研磨に使用されるスラリーは温度上昇とともに化学的作用(被研磨物の表面の腐食)が強くなるため、1回の研磨作業の終期において、より大きなスクラッチが入りやすい傾向となる。このようなスクラッチが入りやすい状況において、研磨パッドの表面の剛性が高く維持されているとより被研磨物の表面にスクラッチが発生しやすくなる。
現在、多くの硬質研磨パッドは、ポリオール成分とイソシアネート成分との反応物であるウレタンプレポリマーに、硬化剤としてポリアミン類又はポリオール類、添加剤として発泡剤・触媒等を混合してポリウレタン組成物を製造し、当該ポリウレタン組成物を硬化させる、いわゆるプレポリマー法により製造されている。上記硬化剤としては、取扱い性が良好で得られるポリウレタン組成物の動的性能に優れている点から、芳香族ジアミンである3,3’−ジクロロ−4,4’−ジアミノジフェニルメタン(MOCA)が最もよく用いられている。
しかし、上記のMOCAは、発ガン性物質の疑いが持たれているとともに、塩素化合物であるため、焼却時に猛毒であるダイオキシンの発生を誘発し、また、酸性ガスを発生させる虞がある。このため、MOCAは人体及び環境に有害な物質として指摘されている。このような状況から、MOCAの代替となる硬化剤を用いることが要望されている。
特許文献1には、非MOCA系の硬化剤として、ビス−(アルキルチオ)芳香族ジアミン等を脂肪族トリオールと併せて用いて製造された研磨パッドが開示されている。
特表2010−538461号公報
また、本発明者らが検討したところ、後述の比較例で示すように、MOCAを硬化剤として用いた研磨パッドは、硬度(剛性)が高く、被研磨物にスクラッチが入りやすいことがわかった。
さらに、MOCAの一部を代替することを目的として、硬化剤としてジオール類であるポリオールをMOCAと併用することを本発明者らが検討したところ、後述の比較例で示すように、ジオール類はジアミン類よりも反応速度が低いため、ジオール類が反応せずに未反応残留物として硬化後の樹脂組成物に含まれていることがわかった。このような未反応残留物が存在すると、研磨時に有機残渣として被研磨物に付着し、ディフェクトとなってしまうものと考えられる。
以上のように、従来の研磨パッドよりも硬度が低く、また、有機残渣の発生が少なく、結果としてスクラッチ、有機残渣等のディフェクトの発生を抑制できる研磨パッドが望まれている。
本発明は、従来の研磨パッドよりも硬度が低く、また、有機残渣の発生が少なく、結果としてスクラッチ、有機残渣等のディフェクトの発生を抑制できる研磨パッド、研磨パッドの製造方法、及び光学材料又は半導体材料の表面を研磨する方法を提供することを目的とする。
本発明者らは、上記課題を解決するべく鋭意研究した結果、硬化剤としてMOCAの代わりに特定のアミン系硬化剤を用いることで上記課題を解決できることを知見し、本発明を完成するに至った。本発明の具体的態様は以下のとおりである。
なお、本明細書において、「〜」を用いて数値範囲を表す際は、その範囲は両端の数値
を含むものとする。
[1] ポリウレタン樹脂を含む研磨層を有する研磨パッドであって、
前記ポリウレタン樹脂が、イソシアネート末端ウレタンプレポリマー及び硬化剤を含む硬化性樹脂組成物の硬化物であり、前記硬化剤は、下記式(I)で表される数平均分子量が400〜1300のアミン系硬化剤を含む、前記研磨パッド。
Figure 2019177456
(上記式(I)中、nは、前記アミン系硬化剤の数平均分子量が400〜1300となる1以上の自然数である。)
[2] 前記イソシアネート末端ウレタンプレポリマーが、ポリオール成分とポリイソシアネート成分との反応生成物である、[1]に記載の研磨パッド。
[3] 前記ポリイソシアネート成分がトリレンジイソシアネートを含む、[2]に記載の研磨パッド。
[4] 前記ポリオール成分がポリオキシテトラメチレングリコールを含む、[2]又は[3]に記載の研磨パッド。
[5] 前記硬化性樹脂組成物が微小中空球体をさらに含む、[1]〜[4]のいずれか1つに記載の研磨パッド。
[6] [1]〜[5]のいずれか1つに記載の研磨パッドの製造方法であって、
前記研磨層を成形する工程を含む、前記方法。
[7] 光学材料又は半導体材料の表面を研磨する方法であって、[1]〜[5]のいずれか1つに記載の研磨パッドを使用する、前記方法。
本発明の研磨パッドは、従来の研磨パッドよりも硬度が低く、また、有機残渣の発生が少なく、結果としてスクラッチ、有機残渣等のディフェクトの発生を抑制できる。
(作用)
本発明では、硬化剤として、従来使用されていたMOCAの代わりに上記式(I)で表される数平均分子量が400〜1300のアミン系硬化剤を使用する。
本発明者らは、予想外にも上記式(I)で表される数平均分子量が400〜1300のアミン系硬化剤を用いることにより、MOCAを用いた従来の研磨パッドよりも硬度が低く、また、有機残渣の発生が少なく、結果としてスクラッチ、有機残渣等のディフェクトの発生を抑制できる研磨パッドが得られることを見出した。これらの特性が得られる理由の詳細は明らかではないが、以下のように推察される。
当該アミン系硬化剤は、ソフトセグメントであるポリオキシテトラメチレン鎖を有するため、当該アミン系硬化剤を用いた硬化物は、MOCAを用いた硬化物に比べて、研磨パッドの硬度(剛性)低くなるものと考えられる。
また、上記式(I)で表される数平均分子量が400〜1300のアミン系硬化剤は、MOCAと同様に両末端にアミノ基を有し、イソシアネート末端ウレタンプレポリマーとの反応性がMOCAと同程度であるため、硬化後の樹脂組成物に未反応物として残留しにくいと考えられる。
以下、本発明の研磨パッド、研磨パッドの製造方法、及び光学材料又は半導体材料の表面を研磨する方法について、説明する。
本発明の研磨パッドは、ポリウレタン樹脂を含む研磨層を有し、前記ポリウレタン樹脂が、イソシアネート末端ウレタンプレポリマー及び硬化剤を含む硬化性樹脂組成物の硬化物であり、前記硬化剤は、上述の式(I)で表される数平均分子量が400〜1300のアミン系硬化剤を含む。
本発明の研磨パッドは、ポリウレタン樹脂を含む研磨層を有する。研磨層は被研磨材料に直接接する位置に配置され、研磨パッドのその他の部分は、研磨パッドを支持するための材料、例えば、ゴムなどの弾性に富む材料で構成されてもよい。研磨パッドの剛性によっては、研磨層を研磨パッドとすることができる。
本発明の研磨パッドは、スクラッチ、有機残渣等のディフェクトの発生を抑制できることを除けば、一般的な研磨パッドと形状に大きな差異は無く、一般的な研磨パッドと同様に使用することができ、例えば、研磨パッドを回転させながら研磨層を被研磨材料に押し当てて研磨することもできるし、被研磨材料を回転させながら研磨層に押し当てて研磨することもできる。
本発明の研磨パッドは、一般に知られたモールド成形、スラブ成形等の製造法より作成できる。まずは、それら製造法によりポリウレタンのブロックを形成し、ブロックをスライス等によりシート状とし、ポリウレタン樹脂から形成される研磨層を成形し、支持体などに貼り合わせることによって製造される。あるいは支持体上に直接研磨層を成形することもできる。
より具体的には、研磨層は、研磨層の研磨面とは反対の面側に両面テープが貼り付けられ、所定形状にカットされて、本発明の研磨パッドとなる。両面テープに特に制限はなく、当技術分野において公知の両面テープの中から任意に選択して使用することが出来る。また、本発明の研磨パッドは、研磨層のみからなる単層構造であってもよく、研磨層の研磨面とは反対の面側に他の層(下層、支持層)を貼り合わせた複層からなっていてもよい。
研磨層は、イソシアネート末端ウレタンプレポリマー及び硬化剤を含む硬化性樹脂組成物を調製し、当該硬化性樹脂組成物を硬化させることによって成形される。
研磨層は発泡ポリウレタン樹脂から構成することができるが、発泡は微小中空球体を含む発泡剤をポリウレタン樹脂中に分散させて行うことができる。この場合、イソシアネート末端ウレタンプレポリマー、硬化剤、及び発泡剤を含む硬化性樹脂組成物を調製し、当該硬化性樹脂組成物を発泡硬化させることによって成形することができる。
硬化性樹脂組成物は、例えば、イソシアネート末端ウレタンプレポリマーを含むA液と、硬化剤成分を含むB液とを混合して調製する2液型の組成物とすることもできる。それ以外の成分はA液に入れても、B液に入れてもよいが、不具合が生じる場合はさらに複数の液に分割して3液以上の液を混合して構成される組成物とすることができる。
硬化性樹脂組成物に含まれる硬化剤である式(I)で表されるアミン系硬化剤の数平均分子量は、400〜1300であり、425〜1280が好ましく、450〜1250が最も好ましい。アミン系硬化剤の分子量が上記数値範囲内であることにより、スクラッチ、有機残渣等のディフェクトの発生を抑制できる研磨パッドが得られる。本発明におけるアミン系硬化剤の数平均分子量は、GPC法で測定したポリスチレン換算の値を用いることができる。
上記式(I)中におけるnは、式(I)で表されるアミン系硬化剤の数平均分子量が400〜1300となる1以上の自然数であり、2〜15が好ましく、3〜14がより好ましい。
硬化剤は、式(I)で表されるアミン系硬化剤のみから構成されていてもよい。
また、硬化剤全体に対する式(I)で表されるアミン系硬化剤の含有量は、50〜100重量%が好ましく、70〜100重量%がより好ましく、80〜100重量%が最も好ましい。アミン系硬化剤の含有量が上記数値範囲内であることにより、スクラッチ、有機残渣等のディフェクトの発生を抑制できる研磨パッドが得られる。
硬化剤全体の量は、イソシアネート末端ウレタンプレポリマーのNCOのモル数に対する、硬化剤のNHのモル数の比率(NHのモル数/NCOのモル数)が0.6〜1.2、好ましくは0.7〜1.0となる量を用いる。
硬化剤は、式(I)で表されるアミン系硬化剤以外の硬化剤をさらに含んでいてもよく、このような硬化剤としては、例えば、以下に説明するアミン系硬化剤が挙げられる。
アミン系硬化剤を構成するポリアミンとしては、例えば、ジアミンが挙げられ、これには、エチレンジアミン、プロピレンジアミン、ヘキサメチレンジアミンなどのアルキレンジアミン;イソホロンジアミン、ジシクロヘキシルメタン−4,4’−ジアミンなどの脂肪族環を有するジアミン;3,3’−ジクロロ−4,4’−ジアミノジフェニルメタン(別名:メチレンビス−o−クロロアニリン)(以下、MOCAと略記する。)などの芳香族環を有するジアミン;2−ヒドロキシエチルエチレンジアミン、2−ヒドロキシエチルプロピレンジアミン、ジ−2−ヒドロキシエチルエチレンジアミン、ジ−2−ヒドロキシエチルプロピレンジアミン、2−ヒドロキシプロピルエチレンジアミン、ジ−2−ヒドロキシプロピルエチレンジアミン等の水酸基を有するジアミン、特にヒドロキシアルキルアルキレンジアミン;等が挙げられる。また、3官能のトリアミン化合物、4官能以上のポリアミン化合物も使用可能である。
硬化剤は、上述のMOCAを含んでいてもよく、含んでいなくてもよい。
硬化剤がMOCAを含む場合、硬化剤全体に対するその含有量は、0重量%を超え50重量%未満が好ましく、0重量%を超え30重量%未満がより好ましく、0重量%を超え20重量%未満が最も好ましい。また、ここで、「3,3’−ジクロロ−4,4’−ジアミノジフェニルメタン(MOCA)を含まない」とは意図的な添加物として含有しないことを意味し、不純物として含まれる場合であっても、硬化剤全体に対して0.1質量%以下が好ましく、0.05質量%以下がより好ましく、0.01質量%以下が最も好ましい。MOCAの含有量が上記数値範囲内であることにより、スクラッチ、有機残渣等のディフェクトの発生を抑制できる研磨パッドが得られる。
硬化剤は、ポリオール系硬化剤を含まないことが好ましい。ここで、「ポリオール系硬化剤を含まない」とは意図的な添加物として含有しないことを意味し、不純物として含まれる場合であっても、硬化剤全体に対して0.1質量%以下が好ましく、0.05質量%以下がより好ましく、0.01質量%以下が最も好ましい。ポリオール系硬化剤が上記数値範囲内であることにより、スクラッチ、有機残渣等のディフェクトの発生を抑制できる研磨パッドが得られる。このようなポリオール硬化剤としては、例えば、イソシアネート末端ウレタンプレポリマーのポリオール成分として後述する化合物が挙げられる。
イソシアネート末端ウレタンプレポリマーは、ポリオール成分とポリイソシアネート成分とを反応させることにより得られる生成物であることが好ましい。
イソシアネート末端ウレタンプレポリマーのNCO当量(g/eq)としては、500未満が好ましく、350〜495がより好ましく、400〜490が最も好ましい。NCO当量(g/eq)が上記数値範囲内であることにより、適度な研磨性能の研磨パッドが得られ、NCO当量(g/eq)が350を下回ると得られる研磨パッドの硬度が大きくなりディフェクト性能が低下してしまい好ましくない。また、NCO当量(g/eq)が500を上回ると得られる研磨パッドの硬度が小さくなり平坦化性能が低下してしまう傾向になり好ましくない。
イソシアネート末端ウレタンプレポリマーに含まれる、分子量50〜300のアルキレングリコール以外のポリオール成分としては、エチレングリコール、ジエチレングリコール、トリエチレングリコール、1,2−プロパンジオール、1,3−プロパンジオール、1,3−ブタンジオール、1,4−ブタンジオール、ネオペンチルグリコール、ペンタンジオール、3−メチル−1,5−ペンタンジオール、1,6−ヘキサンジオールなどのジオール;ポリオキシテトラメチレングリコール(PTMG)、ポリエチレングリコール、ポリプロピレングリコールなどのポリエーテルポリオール;エチレングリコールとアジピン酸との反応物やブチレングリコールとアジピン酸との反応物等のポリエステルポリオール;ポリカーボネートポリオール;ポリカプロラクトンポリオール等が挙げられる。
この中でも、プレポリマーの取扱い性や得られる研磨パッドの機械的強度等の観点から、ポリオキシテトラメチレングリコールを使用することが好ましい。また、ポリオキシテトラメチレングリコールの数平均分子量としては、500〜2000が好ましく、600〜1000がより好ましく、650〜850が最も好ましい。
イソシアネート末端ウレタンプレポリマーに含まれるポリイソシアネート成分としては、例えば、m−フェニレンジイソシアネート、p−フェニレンジイソシアネート、2,6−トリレンジイソシアネート(2,6−TDI)、2,4−トリレンジイソシアネート(2,4−TDI)、ナフタレン−1,4−ジイソシアネート、ジフェニルメタン−4,4’−ジイソシアネート(MDI)、4,4’−メチレン−ビス(シクロヘキシルイソシアネート)(水添MDI)、3,3’−ジメトキシ−4,4’−ビフェニルジイソシアネート、3,3’−ジメチルジフェニルメタン−4,4’−ジイソシアネート、キシリレン−1,4−ジイソシアネート、4,4’−ジフェニルプロパンジイソシアネート、トリメチレンジイソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート、プロピレン−1,2−ジイソシアネート、ブチレン−1,2−ジイソシアネート、シクロヘキシレン−1,2−ジイソシアネート、シクロヘキシレン−1,4−ジイソシアネート、p−フェニレンジイソチオシアネート、キシリレン−1,4−ジイソチオシアネート、エチリジンジイソチオシアネート等が挙げられる。
この中でも、得られる研磨パッドの研磨特性や機械的強度等の観点から、2,6−トリレンジイソシアネート(2,6−TDI)、2,4−トリレンジイソシアネート(2,4−TDI)等のトリレンジイソシアネートを使用することが好ましい。
本発明において、硬化性樹脂組成物は微小中空球体をさらに含むことができる。
微小中空球体をポリウレタン樹脂に混合することによって発泡体を形成することができる。微小中空球体とは、熱可塑性樹脂からなる外殻(ポリマー殻)と、外殻に内包される低沸点炭化水素とからなる未発泡の加熱膨張性微小球状体を、加熱膨張させたものをいう。前記ポリマー殻としては、例えば、アクリロニトリル−塩化ビニリデン共重合体、アクリロニトリル−メチルメタクリレート共重合体、塩化ビニル−エチレン共重合体などの熱可塑性樹脂を用いることができる。同様に、ポリマー殻に内包される低沸点炭化水素としては、例えば、イソブタン、ペンタン、イソペンタン、石油エーテル等を用いることができる。
その他に当業界で一般的に使用される触媒などを硬化性樹脂組成物に添加しても良い。
また、上述したポリイソシアネート成分を硬化性樹脂組成物に後から追加で添加することもでき、イソシアネート末端ウレタンプレポリマーと追加のポリイソシアネート成分との合計重量に対する追加のポリイソシアネート成分の重量割合は、0.1〜10重量%が好ましく、0.5〜8重量%がより好ましく、1〜5重量%が特に好ましい。
ポリウレタン樹脂硬化性組成物に追加で添加するポリイソシアネート成分としては、上述のポリイソシアネート成分を特に限定なく使用することができるが、4,4’−メチレン−ビス(シクロヘキシルイソシアネート)(水添MDI)が好ましい。
本発明の研磨層の硬度は、A硬度又はD硬度で表され、A硬度であれば、80〜99が好ましく、90〜95がより好ましく、D硬度であれば、25〜55が好ましく、30〜40がより好ましい。硬度が上記の下限値以上であることにより、研磨加工時に研磨層の沈み込みが抑制され、ワークの一層高度な平坦化が可能となり、また、上記の上限値以下であることにより、ワークでのスクラッチの発生を更に抑制することができる。
本発明を以下の例により実験的に説明するが、以下の説明は、本発明の範囲が以下の例に限定して解釈されることを意図するものではない。
(材料)
以下の例で使用した材料を列挙する。
・イソシアネート末端ウレタンプレポリマー:
プレポリマー(1)・・・ポリイソシアネート成分としてトリレンジイソシアネート、ポリオール成分として数平均分子量650のポリテトラメチレンエーテルグリコール及びジエチレングリコールを含むNCO当量454のウレタンプレポリマー
・硬化剤:
アミン系硬化剤(1)・・・エラスマー(登録商標)250P(クミアイ化学工業社製)、上述の式(I)で表される数平均分子量が488のアミン系硬化剤
アミン系硬化剤(2)・・・エラスマー(登録商標)650P(クミアイ化学工業社製)、上述の式(I)で表される数平均分子量が888のアミン系硬化剤
アミン系硬化剤(3)・・・エラスマー(登録商標)1000P(クミアイ化学工業社製)、上述の式(I)で表される数平均分子量が1238のアミン系硬化剤
MOCA・・・3,3’−ジクロロ−4,4’−ジアミノジフェニルメタン(別名:メチレンビス−o−クロロアニリン)(NH当量=133.5)
ポリオール系硬化剤・・・数平均分子量1000のポリテトラメチレンエーテルグリコール
・微小中空球体:
EXPANCEL 551DE40d42(日本フィライト社製)
(実施例1)
A成分としてプレポリマー(1)を100g、B成分として硬化剤であるアミン系硬化剤(1)を48g、C成分として微小中空球体(EXPANCEL 551DE40d42)2gをそれぞれ準備した。なお、A成分のプレポリマーのNCOのモル数に対する、B成分のアミン系硬化剤のNHのモル数の比率(NHのモル数/NCOのモル数)は0.9である。また、比率を示すためg表示として記載しており、ブロックの大きさに応じて必要な重量(部)を準備する。以下同様にg(部)表記で記載する。
A成分とC成分とを混合し、A成分とC成分の混合物を減圧脱泡した後、A成分とC成分の混合物及びB成分を混合機に供給した。
得られた混合液を80℃に加熱した型枠に注型し、1時間加熱し硬化させた後、形成された樹脂発泡体を型枠から抜き出し、その後120℃で5時間キュアリングした。この発泡体を1.3mm厚にスライスしてウレタンシートを作成し、研磨パッドを得た。
(実施例2)
実施例1のB成分のアミン系硬化剤(1)48gに代えて、アミン系硬化剤(2)を88g準備した。なお、A成分のプレポリマーのNCOのモル数に対する、B成分のアミン系硬化剤のNHのモル数の比率(NHのモル数/NCOのモル数)は0.9である。
以降、実施例1と同様にしてウレタンシートを作成し、研磨パッドを得た。
(実施例3)
実施例1のB成分のアミン系硬化剤(1)48gに代えて、アミン系硬化剤(3)を123g準備した。なお、A成分のプレポリマーのNCOのモル数に対する、B成分のアミン系硬化剤のNHのモル数の比率(NHのモル数/NCOのモル数)は0.9である。
以降、実施例1と同様にしてウレタンシートを作成し、研磨パッドを得た。
(比較例1)
実施例1のB成分のアミン系硬化剤(1)48gに代えて、MOCAを27g準備した。なお、A成分のプレポリマーのNCOのモル数に対する、B成分のアミン系硬化剤のNHのモル数の比率(NHのモル数/NCOのモル数)は0.9である。
以降、実施例1と同様にしてウレタンシートを作成し、研磨パッドを得た。
(比較例2)
実施例1のB成分のアミン系硬化剤(1)48gに代えて、MOCAを13g及びポリオール硬化剤を49g準備した。なお、A成分のプレポリマーのNCOのモル数に対する、B成分のアミン系硬化剤のNHのモル数及びポリオール硬化剤のOHのモル数の合計の比率(NHのモル数+OHのモル数/NCOのモル数)は0.9である。
以降、実施例1と同様にしてウレタンシートを作成し、研磨パッドを得た。
(比較例3)
実施例1のB成分のアミン系硬化剤(1)48gに代えて、ポリオール硬化剤を99g準備した。なお、A成分のプレポリマーのNCOのモル数に対する、B成分のポリオール硬化剤のOHのモル数の比率(OHのモル数/NCOのモル数)は0.9である。
以降、実施例1と同様にしてウレタンシートを作成し、研磨パッドを得た。
(評価方法)
実施例1〜3及び比較例1〜3それぞれの研磨パッドについて、以下のA硬度及びD硬度の測定を行い、また、ディフェクトの評価を行った。
(A硬度)
研磨パッドのA硬度は、日本工業規格(JIS−K−7311)に準拠して、ショアAデュロメータを用いて測定した。ここで、試料は、少なくとも総厚さ4.5mm以上になるように、必要に応じて複数枚のウレタンシートを重ねることで得た。
(D硬度)
研磨パッドのD硬度は、日本工業規格(JIS−K−6253)に準拠して、D型硬度計を用いて測定した。ここで、試料は、少なくとも総厚さ4.5mm以上になるように、必要に応じて複数枚のウレタンシートを重ねることで得た。
(ディフェクト)
ディフェクトの評価は、以下の研磨試験の条件に基づいて、25枚の基板を研磨し、研磨加工後の21〜25枚目の基板5枚について、ウエハ表面検査装置(KLAテンコール社製、SurfscanSP2xpDLS)の高感度測定モードにて測定し、研磨パッドの硬度に起因するスクラッチ(傷)の個数及び基板表面に付着した有機残渣の個数をそれぞれ評価した。ディフェクトの評価では、12インチ(300mm<b)ウエハに0.16μm以上のディフェクト(スクラッチ又は有機残渣)が200個未満を○、200個以上を×とした。
(研磨試験の条件)
・使用研磨機:荏原製作所社製、F−REX300
・Disk:3MA188(#100)
・回転数:(定盤)70rpm、(トツプリング)71rpm
・研磨圧力:3.5psi
・研磨剤:キャボット社製、品番:SS25(SS25原液:純粋=重量比1:1の混合液を使用)
・研磨剤温度:20℃
・研磨剤吐出量:200ml/min
・使用ワーク(被研磨物):12インチシリコンウエハ上にテトラエトキシシランをPE-CVDで絶縁膜1μmの厚さになるように形成した基板
研磨の初期温度が20℃から研磨中にパッド表面温度が上昇し、40〜50℃になる。
結果を以下の表1及び2に示す。
Figure 2019177456
Figure 2019177456
表1及び表2の結果より、硬化剤としてアミン系硬化剤(1)〜(3)を使用した実施例1〜3の研磨パッドは、硬化剤としてMOCAのみを用いた研磨パッドより硬度が小さく、その結果被研磨物に発生するスクラッチの個数が小さくなった。
一方、硬化剤としてMOCAのみを使用した比較例1の研磨パッドは、スクラッチが多く発生した。
また、硬化剤としてMOCAにポリオール系硬化剤を混合したものを使用した比較例2の研磨パッドや硬化剤としてポリオール系硬化剤のみを使用した比較例3の研磨パッドについて、硬度が小さくスクラッチの発生は抑えられたが、ポリオール系硬化剤の未反応成分が原因と考えられる有機残渣によるディフェクトの発生が多く見られた。また、比較例3に関しては研磨パッドを製造する際の反応硬化時間が長く、得られた発泡体をスライスするのが困難であり製造上の問題点があった。
以上の結果より、上記式(I)で表される数平均分子量が400〜1300のアミン系硬化剤を硬化剤として用いた研磨パッドが、従来の研磨パッドよりも硬度が低く、また、有機残渣の発生が少なく、結果としてスクラッチ、有機残渣等のディフェクトの発生を抑制できることが確認できた。

Claims (7)

  1. ポリウレタン樹脂を含む研磨層を有する研磨パッドであって、
    前記ポリウレタン樹脂が、イソシアネート末端ウレタンプレポリマー及び硬化剤を含む硬化性樹脂組成物の硬化物であり、前記硬化剤は、下記式(I)で表される数平均分子量が400〜1300のアミン系硬化剤を含む、前記研磨パッド。
    Figure 2019177456
    (上記式(I)中、nは、前記アミン系硬化剤の数平均分子量が400〜1300となる1以上の自然数である。)
  2. 前記イソシアネート末端ウレタンプレポリマーが、ポリオール成分とポリイソシアネート成分との反応生成物である、請求項1に記載の研磨パッド。
  3. 前記ポリイソシアネート成分がトリレンジイソシアネートを含む、請求項2に記載の研磨パッド。
  4. 前記ポリオール成分がポリオキシテトラメチレングリコールを含む、請求項2又は3に記載の研磨パッド。
  5. 前記硬化性樹脂組成物が微小中空球体をさらに含む、請求項1〜4のいずれか1つに記載の研磨パッド。
  6. 請求項1〜5のいずれか1つに記載の研磨パッドの製造方法であって、
    前記研磨層を成形する工程を含む、前記方法。
  7. 光学材料又は半導体材料の表面を研磨する方法であって、請求項1〜5のいずれか1つに記載の研磨パッドを使用する、前記方法。
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