JP2019174446A - 管のためのx線検査システムおよび方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】管のX線検査システムおよび方法を提供する。【解決手段】走査システム104内の走査器112が、細長い構造体102の周りの螺旋経路116上を移動される。走査器112は、並進構造体110を使用し、細長い構造体102に取り付けられた螺旋軌道システム108を使用して細長い構造体102の周りの螺旋経路116上を移動される。走査器112が螺旋経路116上を移動する間に走査器112からX線ビーム118が発せられる。細長い構造体102に当たるX線ビーム118からの後方散乱120が検出される。【選択図】図1

Description

本開示は概して検査システムに関し、特に、細長い構造体の非破壊検査に関する。さらに詳細には、本開示は、X線走査器を使用した管の非破壊検査のための方法、装置、およびシステムに関する。
管は流体を輸送するために多くの産業で使用される。例えば、石油産業では石油とガスを輸送するために管を使用する。石油を輸送するための管は鋼鉄またはプラスチックから作られており、通常は埋められている。石油はパイプラインに沿ったポンプ場によって管を通して移動される。
天然ガスおよび類似したガス燃料は加圧して液状にされる。天然ガスの管は多くの場合炭素鋼で作られている。別の例として、地域暖房システムや遠隔暖房(teleheating)システムは顧客に、温水、加圧温水、場合によっては蒸気を輸送する断熱管のネットワークを使用する。
給水システムでも、顧客に飲料水を輸送するために管を用いる。ポンプは、管を通って流れる飲料水を加圧して消費用の水を送る。
管の状態を判断するために管検査が行われる。例えば、管に障害物、腐食、または他の不整合箇所が存在するかどうかを判断するために検査が行われうる。検査はまた、肉厚、溶接品質、および他のパラメータを決定するためにも行われうる。管検査は非破壊試験を含み、いくつかの異なる方法で行われうる。例えば、管検査はビデオを使用して行われうる。しかしながら、この種の検査は管内への装置の導入を伴う。別の種類の検査はX線を使用する。この種の試験は管の外部から検査を行うことを可能にする。
現在のX線検査が行われる一方法は手動によるものである。人間のオペレータが検査を行うために管に沿ってX線走査システムを移動させる。断熱管では、X線が管の一方の側の線源から管を通して向けられ、管の反対側の検出器によって検出されて画像を生成する。多くの場合、線源は次いで管の反対側に移動され、別の画像が生成される。
石油を輸送するための管は何百マイルにもわたって延在しうる。何百マイルもの管を検査することは、現在の技術を使用すると時間がかかる面倒なプロセスである。
したがって、上述した問題の少なくともいくつか、および他の起こりうる問題を考慮に入れた方法および装置があることが望ましいはずである。例えば、所望のレベルの効率で管を検査することに伴う技術的問題を克服する方法、装置、およびシステムがあることが望ましいはずである。
本開示の一実施形態は、走査システムを提供する。本走査システムは、螺旋軌道システムと、並進構造体と、走査器とを含む。螺旋軌道システムは、細長い構造体の周りに配置されるように構成される。並進構造体は、螺旋経路上の螺旋軌道システム上を移動するように構成される。走査器は並進構造体に連結され、走査器はX線ビームを発するように構成される。
本開示の別の実施形態は、管走査システムを提供する。本管走査システムは、螺旋軌道システムと、並進構造体と、走査器と、コントローラーとを含む。螺旋軌道システムは、管の周りに配置されるように構成される。並進構造体は、管上の螺旋経路上の螺旋軌道システム上を移動するように構成される。走査器は並進構造体に連結される。コントローラーは、並進構造体および走査器と通信する。コントローラーは、螺旋経路上の螺旋軌道システム上を移動するよう並進構造体を制御し、並進構造体が管上の螺旋軌道システム上を移動する間にX線ビームを発するよう走査器を制御するように構成される。コントローラーはまた、管に当たるX線ビームからの後方散乱を検出するようにも構成される。
本開示の別の実施形態は、細長い構造体を走査するための方法を提供する。走査システム内の走査器が、細長い構造体の周りの螺旋経路上を移動される。走査器は、並進構造体を使用し、細長い構造体に取り付けられた螺旋軌道システムを使用して細長い構造体の周りの螺旋経路上を移動される。走査器が螺旋経路上を移動する間に走査器からX線ビームが発せられる。細長い構造体に当たるX線ビームからの後方散乱が検出される。
これらの特徴および機能を、本開示の様々な実施形態において別々に達成することができ、またはこれらの特徴および機能は、以下の説明および図面を参照してさらなる詳細が理解できる他の実施形態において組み合わされてもよい。
例示的な実施形態の特徴であると考えられる新規の特徴は添付の特許請求の範囲に記載されている。しかしながら、例示的な実施形態、ならびにその好ましい使用モード、さらなる目的および特徴は、本開示の例示的な実施形態の以下の詳細な説明を添付の図面と併せて読めば最もよく理解されるであろう。
例示的な実施形態による走査環境のブロック図である。 例示的な実施形態による並進構造体のブロック図である。 例示的な実施形態による走査器のブロック図である。 例示的な実施形態による螺旋軌道システムのブロック図である。 例示的な実施形態による走査システムの図である。 例示的な実施形態による走査器の図である。 例示的な実施形態によるX線管の側面図である。 例示的な実施形態による螺旋軌道セクションの一部分の図である。 例示的な実施形態による管を走査するように位置決めされた走査器の断面図である。 例示的な実施形態による流体で満たされた管の走査から生成された画像の図である。 例示的な実施形態による管の走査からのデータのフィルタリングから生成された画像の図である。 例示的な実施形態による流体で部分的に満たされた管の走査から生成された画像の図である。 例示的な実施形態による管の走査からのデータのフィルタリングから生成された画像の図である。 例示的な実施形態による細長い構造体を走査するためのプロセスのフローチャートである。 例示的な実施形態による細長い構造体の走査からの画像を処理するためのプロセスのフローチャートである。 例示的な実施形態による細長い構造体を走査するためのプロセスのフローチャートである。 例示的な実施形態による走査内のデータをフィルタリングするためのプロセスのフローチャートである。 例示的な実施形態による流体を含む細長い構造体の走査からのデータをフィルタリングするのに使用される周波数を識別するためのプロセスのフローチャートである。 例示的な実施形態によるデータ処理システムのブロック図である。
例示的な実施形態では、1つまたは複数の異なる考慮事項を認め、考慮に入れている。例えば、例示的な実施形態では、管などの細長い構造体を自動的に走査する方法、装置、およびシステムを有することが望ましいはずであることを認め、考慮に入れている。
例示的な実施形態では、その上でX線走査器が移動されうる管にレールまたは軌道システムが取り付けられうることを認め、考慮に入れている。例示的な実施形態では、この種の走査が、典型的には軸方向、すなわち管を通って中心に延在する軸に沿った方向の走査のみを提供することを認め、考慮に入れている。例示的な実施形態では、この種の走査システムが、管を走査するために軌道を管の一方の側に取り付け、その軌道を取り外し、その軌道を管の別の側に再度取り付けるために必要以上に時間を要することを認め、考慮に入れている。
よって、例示的な実施形態は、細長い構造体を走査するための方法、装置、およびシステムを提供する。1つの例示的な実施例では、走査システムは、螺旋軌道システムと、並進構造体と、走査器とを含む。螺旋軌道システムは、細長い構造体の周りに配置されるように構成される。細長い構造体は、例えば、管であってもよい。並進構造体は、螺旋経路上の螺旋軌道システム上を移動するように構成される。走査器は並進構造体に連結され、走査器はX線ビームを発するように構成される。
次に各図を参照し、特に図1を参照すると、例示的な実施形態による走査環境のブロック図が示されている。図示のように、走査環境100は、走査システム104を使用して細長い構造体102を検査することができる環境である。この例示的な実施例では、細長い構造体102は管106の形態をとっている。管106は、断熱管、非断熱管、鋼管、油管、天然ガス管、または他の何らかの種類の管とすることができる。
この例では、管106は様々な種類の材料を運びうる。例えば、管106は流体107を運ぶ。流体107はいくつかの異なる形態をとることができる。例えば、流体107は、液体、気体、原油、精製石油、水素、燃料、航空機燃料、油、水、ワイン、ビール、天然ガス、バイオ燃料、または他の種類の材料のうちの少なくとも1つから選択することができる。
この例示的な実施例では、走査システム104は、管106内に不整合箇所111が存在するかどうかを判断するために使用される。図示のように、不整合箇所111は、細長い構造体102の走査からの予期しない結果によって指示される。例えば、予期しない結果は、閾値よりも大きいかまたは小さい値でありうる。予期しない結果は、所望の範囲外の値でありうる。
不整合箇所111は、いくつかの異なる形態をとりうる。例えば、不整合箇所111は、腐食、内部腐食、外部腐食、流動誘起腐食、孔食、薄肉化、公差外溶接、公差外付着物、スケール、亀裂、断熱剤損傷、およびその他の望ましくない結果を含む群の中から選択されうる。
本明細書で使用される際に、「いくつかの(a number of)」は、ものに関連して使用される場合、1つまたは複数のものを意味する。例えば、「いくつかの異なる形態」とは、1つまたは複数の異なる形態である。
この例示的な実施例では、走査システム104はいくつかの異なる構成要素を含む。図示のように、走査システム104は、螺旋軌道システム108と、並進構造体110と、走査器112と、コントローラー114とを含む。
この例示的な実施例では、螺旋軌道システム108は、細長い構造体102の周りに配置されるように構成される。言い換えれば、螺旋軌道システム108は、螺旋経路116を定義するように細長い構造体102に巻き付くことができる。螺旋軌道システム108は、真空システム、付勢システム、磁気フットシステム(magnetic foot system)、または他の何らかの適切な機構のうちの少なくとも1つを使用して細長い構造体102に連結することができる。
並進構造体110は、螺旋軌道システム108に連結することができる。図示のように、並進構造体110は、螺旋経路116上の螺旋軌道システム108上を移動するように構成される。
例示的な実施例では、走査器112は並進構造体110と関連付けられている。1つの構成要素が別の構成要素と「関連付けられて」いる場合、その関連付けは物理的な関連付けである。例えば、第1の構成要素である走査器112は、第2の構成要素に固定されているか、第2の構成要素に結合されているか、第2の構成要素に取り付けられているか、第2の構成要素に溶接されているか、第2の構成要素に留め付けられているか、または他の何らかの適切な方法で第2の構成要素に連結されているかのうちの少なくとも1つであることによって、第2の構成要素である並進構造体110と物理的に関連付けられているとみなされうる。第1の構成要素はまた、第3の構成要素を使用して第2の構成要素に連結されてもよい。第1の構成要素はまた、第2の構成要素の一部として、第2の構成要素の延長部として、またはその両方として形成されていることによって第2の構成要素と物理的に関連付けられているとみなされてもよい。
本明細書で使用される場合、「at least one of(〜のうちの少なくとも1つ)」は、項目のリストと一緒に使用される場合、リストに記載された項目のうちの1つまたは複数の異なる組み合わせを使用でき、リスト中の各項目のうちの1つだけが必要とされる場合もあることを意味する。言い換えると、「at least one of」は、リストの中から項目の任意の組み合わせおよび任意の数の項目が使用されうるが、リスト中のすべての項目が必要であるとは限らないことを意味する。項目は、特定の物体、物事、またはカテゴリでありうる。
例えば、「項目A、項目B、または項目Cのうちの少なくとも1つ」は、項目A、項目Aおよび項目B、または項目Cを含みうる。この例はまた、項目A、項目B、および項目Cまたは項目Bおよび項目Cも含みうる。当然ながら、これらの項目の任意の組み合わせが存在していてもよい。いくつかの例示的な実施例では、「at least one of」は、例えば、2つの項目A、1つの項目B、および10の項目C;4つの項目Bおよび7つの項目C;または他の適切な組み合わせを意味しうるが、これに限定されない。
走査器112は、X線ビーム118を発するように構成される。この例示的な実施例では、X線ビーム118はX線放射からなり、X線放射は電磁放射の一形態であるX線ビーム118は約0.01ナノメートルから約10ナノメートルまでの波長を有し、これは約100eVから約450keVまでのエネルギーを有する約30ペタヘルツから約30エクサヘルツまでの周波数に対応する。X線ビーム118は典型的には紫外線よりも短くガンマ線よりも長い波長を有する。さらに、走査器112は、X線ビーム118が細長い構造体102に当たった結果として生じる後方散乱120を検出するように構成される。
図示のように、走査器112は、いくつかの異なる種類のX線走査技術を使用して走査117を行うことができる。この例示的な実施例では、走査器112は、X線走査システム、後方散乱X線システム、または透過X線システムのうちの少なくとも1つから選択されうる。
この例示的な実施例では、コントローラー114は、細長い構造体102上の螺旋経路116上の螺旋軌道システム108上を移動するよう並進構造体110を制御するように構成される。さらに、コントローラー114は、並進構造体110が細長い構造体102上の螺旋経路116上の螺旋軌道システム108上を移動する間に細長い構造体102を走査するよう走査器112を制御するようにも構成される。
図示のように、コントローラー114は、ソフトウェア、ハードウェア、ファームウェア、またはそれらの組み合わせとして実装することができる。ソフトウェアが使用される場合、コントローラー114によって行われる動作は、プロセッサーユニットなどのハードウェア上で動作するように構成されたプログラムコードとして実現することができる。ファームウェアが使用される場合、コントローラー114によって行われる動作は、プログラムコードおよびデータとして実装し、プロセッサーユニット上で動作する永続的メモリに格納することができる。ハードウェアが用いられる場合、ハードウェアは、コントローラー114において動作を行うように動作する回路を含みうる。
例示的な実施例では、ハードウェアは、回路システム、集積回路、特定用途向け集積回路(ASIC)、プログラマブル・ロジック・デバイス、またはいくつかの動作を行うように構成された他の何らかの適切な種類のハードウェアのうちの少なくとも1つから選択される形態をとりうる。プログラマブル・ロジック・デバイスでは、デバイスはいくつかの動作を行うように構成されうる。デバイスは、後で再構成されてもよく、またはいくつかの動作を行うように永続的に構成されていてもよい。プログラマブル・ロジック・デバイスには、例えば、プログラマブ・ロジック・アレイ、プログラマブル・アレイ・ロジック、フィールド・プログラマブル・ロジック・アレイ、フィールド・プログラマブル・ゲートアレイ、および他の適切なハードウェアデバイスが含まれる。加えて、これらのプロセスは、無機構成要素と一体化された有機構成要素において実施されてもよく、人間を除く有機構成要素から完全に構成されてもよい。例えば、プロセスは有機半導体中の回路として実装されてもよい。
図示のように、コントローラー114は、走査システム104のためにコンピューターシステム122に配置することができる。コンピューターシステム122は、1つまたは複数のデータ処理システムを含む物理ハードウェアシステムである。複数のデータ処理システムが存在する場合、データ処理システムは通信媒体を使用して互いに通信しうる。通信媒体はネットワークでありうる。データ処理システムは、コンピューター、サーバーコンピューター、ワークステーション、タブレットコンピューター、ラップトップコンピューター、携帯電話、または他の何らかの適切なデータ処理システムのうちの少なくとも1つから選択されうる。
この例示的な実施例では、動作時に、コントローラー114は、空隙部123内に流体107を有する空隙部123を有する細長い構造体102を走査するように走査器112を制御する。この例示的な実施例では、走査器112は走査117のデータ124を生成する。1つの例示的な実施例では、走査117内のデータ124は、走査器112によって検出されたX線ビーム118の後方散乱の強度を指示する画素を含む。
コントローラー114は、走査器112が細長い構造体102上の螺旋経路116上を移動する間に生成された走査117内のデータ124をフィルタリングする。走査117のデータ124のフィルタリングは、コントローラー114が流体107に起因する走査117内のデータ124の部分を除去してフィルタリングされたデータ126を形成することによって行われる。コントローラー114はまた、背景雑音125に起因するデータ124の部分を除去してフィルタリングされたデータ126を形成するために走査117内のデータ124をフィルタリングすることもできる。背景雑音125は、溶接修理箇所、グリッド内のブラケット、グリッド構造や、雑音を隠し、または雑音として働き、不整合箇所の検出をより困難にする可能性のある後方散乱を生じさせうる他の要素のうちの少なくとも1つなどの要素によっても生じうる。
例えば、強度およびデータ124は後方散乱のエネルギーに対応する。コントローラー114は、流体107と関連付けられる強度を除去するためにデータ124をフィルタリングすることができる。図示のように、コントローラー114は、高域フィルター、低域フィルター、帯域フィルター、または他の何らかの適切な種類のフィルターのうちの少なくとも1つを使用してデータ124をフィルタリングすることができる。言い換えると、コントローラー114は、これらの種類のフィルターのうちの任意の1つを単独でまたは組み合わせて使用することができる。
この例示的な実施例では、走査システム104は、現在使用されている技術と比較してより正確に管106内の不整合箇所111を検出することを可能にする。例えば、走査システム104は、フィルタリングされたデータ126における細長い構造体102内の不整合箇所111の検出を可能にする。
1つの例示的な実施例には、所望のレベルの効率で管の検査に伴う技術的問題を克服する1つまたは複数の技術的解決策が存在する。結果として、1つまたは複数の技術的解決策は、螺旋軌道システム108を使用して螺旋経路116に沿って細長い構造体102を走査するための技術的効果を提供しうることになる。螺旋軌道システム108では、走査システム104は細長い構造体102をより効率的に走査することができる。1つの例示的な実施例では、1つまたは複数の技術的解決策により、管をより迅速かつ自動的に検査することが可能になる。
1つの例示的な実施例には、流体を運ぶ管などの細長い構造体における不整合箇所を検出することに伴う技術的問題を克服する1つまたは複数の技術的解決策が存在する。結果として、例示的な実施例における1つまたは複数の技術的解決策は、流体に起因する走査内のデータの部分を除去するために、管や航空機の翼内の燃料タンクなどの細長い構造体の走査からのデータをフィルタリングするという技術的効果を提供しうることになる。フィルタリングにより、細長い構造体における不整合箇所を検出する能力が高まる。
よって、例示的な実施例は、細長い構造体の空隙部から流体を除去する必要なしに細長い構造体に不整合箇所がないか検査することを可能にする1つまたは複数の技術的解決策を提供する。結果として、流体を運ぶ細長い構造体を、現在使用されている技術と比較して、より容易かつ迅速に検査することが可能になる。例えば、航空機の翼内の燃料タンクを、燃料タンクから燃料を抜かずに走査することができる。別の例として、油を運ぶ管を、図1の走査システム104を使用してより容易に検査することができる。何百マイルにもわたって延在する管の検査を、パイプラインから油を抜く必要なしにより容易に行うことができる。
よって、細長い構造体を、細長い構造体の周りの螺旋経路上で走査器を移動させる並進構造体を用いて走査することができる。さらに、細長い構造体内の流体または背景雑音に起因するデータの部分を除去するために、細長い構造体の走査から生成されたデータをフィルタリングすることができる。このように、例示的な実施例では、細長い構造体の走査を高い精度で迅速かつ自動的に行うことができる。
結果として、コンピューターシステム122は、コンピューターシステム122内のコントローラー114が細長い構造体102内の不整合箇所をより効率的に検出する能力を実現する専用のコンピューターシステムとして動作することになる。特に、コントローラー114は、コントローラー114のない現在利用可能な一般的なコンピューターシステムと比較して、コンピューターシステム122を専用のコンピューターシステムに変える。
次に図2を見ると、例示的な実施形態による並進構造体のブロック図が示されている。例示的な実施例では、複数の図で同じ参照番号が使用されることがある。この異なる図における参照番号の再使用は、異なる図における同じ要素を表す。
この図示の例では、並進構造体110は、いくつかの異なる構成要素を含む。図示のように、並進構造体110はキャリッジ200と移動システム202とを含む。
この例では、キャリッジ200は、図1にブロック形式で示されている螺旋軌道システム108または細長い構造体102のうちの少なくとも1つに付着するように構成された物理的構造体である。例えば、キャリッジ200は、図1にブロック形式で示されている走査システム104を保持し、図1の細長い構造体102上の螺旋軌道システム108に付着するように構成されている。この例示的な実施例では、移動システム202は、キャリッジ200が細長い構造体102上の螺旋経路116上を移動するようにキャリッジ200を移動させるように構成されている。
図示のように、移動システム202は、推進システム204と移動構成要素206とを含む。各構成要素は、螺旋軌道システム108上でキャリッジ200を移動させるように選択される。
推進システム204は、電気制御推進システムであってよい。推進システム204は、例えば、内燃機関、電気エンジン、または他の何らかの適切な推進システムのうちの少なくとも1つから選択されうるが、これに限定されない。
移動構成要素206は、キャリッジ200にいくつかの方向に移動する能力を提供する。移動構成要素206は、ローラー、ホイール、ホロノミックホイール、軌道、または他の適切な構成要素のうちの少なくとも1つから構成されうる。本明細書で使用される場合、ホロノミックホイール(またはオムニホイール)とは、表面を横切って複数の方向に移動することができるホイールである。
移動構成要素206はまた、細長い構造体102の螺旋軌道システム108にキャリッジ200を係合させるかまたは取り付けることも可能にしうる。例えば、移動構成要素206は、螺旋軌道システム108に連結するように構成されうる。他の例示的な実施例では、移動システム202は、細長い構造体102に付着し、螺旋経路116上を移動するためのガイドとして螺旋軌道システム108を使用するように構成されうる。
図3を参照すると、例示的な実施形態による走査器のブロック図が示されている。図示のように、図3の構成要素は、図1にブロック形式で示されている走査器112の実施態様の一例を示している。この例示的な実施例では、走査器112は、X線源300と、コリメータ302と、センサーシステム304とを含む。
X線源300は、この例示的な実施例では走査器112からファンビーム(fan beam)306として発せられるX線の発生源である。ファンビーム306は、図1にブロック形式で示されているX線ビーム118の実施態様の一例である。X線源300はX線管であってよい。この例示的な実施例では、走査器112を自己完結型ユニットとして実装することができる。例えば、X線源300は、ファンビーム306を発生させるための電力を供給するのに必要な電源を含むことができる。
この例示的な実施例では、コリメータ302は、ファンビーム306を形成するために粒子または波のビームを狭める装置である。例えば、ファンビーム306の形状310を定義するコリメータ302にはスリット308が存在する。スリット308は、この例では、ファンビーム306の形状310を長方形にする長方形の形状を有する。さらに、ファンビーム306は向き312を有する。
図示のように、センサーシステム304は、ファンビーム306などのX線ビームから生じ、図1にブロック形式で示されている細長い構造体102に当たる後方散乱314を検出する。この例示的な実施例では、センサーシステム304はデータ315を生成し、データ315を図1にブロック形式で示されているコントローラー114に送信する。
この例示的な実施例では、センサーシステム304は検出器群316からなる。図示のように、検出器群316は、固体検出器を使用して実施することができる。これらの検出器は、画素としてアレイ状に配置されうる。固体検出器は、例えば、X線光子を、データ315を形成する電荷に変換する半導体検出器であってもよい。このデータはデジタル画像の生成を可能にする形式である。
次に図4を参照すると、例示的な実施形態による螺旋軌道システムのブロック図が示されている。図4は、図1の螺旋軌道システム108の実施態様の一例である。
この例では、螺旋軌道システム108は、螺旋軌道セクション400を含む。図示のように、螺旋軌道セクション400は、螺旋軌道402を形成するように連結される。螺旋軌道セクション400は、単一軌道セクションと二重軌道セクションの一方から選択される。この例示的な実施例では、螺旋軌道セクション400内のセクションは、チェーン、付勢軌道セクション、付勢セグメント、可撓性ストリップ、または管などの細長い構造体の周りに配置するための他の適切な種類の軌道セクションからなる。
この例では、並進構造体110が、走査システム104のために、螺旋軌道システム108によって制限されない任意の方法で細長い構造体102の長手方向に沿って移動することを可能にするように、螺旋軌道402の螺旋軌道セクション400を図1の細長い構造体102に沿って分解し、組み立て直すことができる。
例えば、並進構造体110が螺旋軌道402の螺旋軌道セクション400内の現在の螺旋軌道セクション408上にある間に、螺旋軌道402の螺旋軌道セクション400内の前の螺旋軌道セクション404が螺旋軌道402の後端406から切断される。前の螺旋軌道セクション404は、螺旋軌道402の前端410に再連結される。
走査環境100と図1〜図4におけるこの環境内の様々な構成要素との例示は、例示的な実施形態が実施されうる方法に対する物理的制限やアーキテクチャ上の制限を意図したものではない。例示した構成要素に加えて、またはその代わりに他の構成要素が使用されてもよい。いくつかの構成要素は不要な場合もある。また、各ブロックはいくつかの機能要素を例示するために提示されている。例示的な実施形態で実施する場合、これらのブロックのうちの1つまたは複数を結合し、分割し、または結合もしくは分割して異なるブロックとしてもよい。
例えば、管106は、断熱管、非断熱管、またはそれらの何らかの組み合わせであってもよい。例えば、管106は断熱部分と非断熱部分とを有することができる。さらに、細長い構造体102は、管106以外の他の形態もとりうる。例えば、細長い構造体102は、ドラム、燃料タンク、導管、および他の適切な種類の細長い構造体のうちの1つから選択されうる。細長い構造体102が燃料タンクの形態をとる場合、燃料タンクは航空機の翼内にあるかまたはその一体部分でありうる。
さらに、細長い構造体102は管106に関連して説明されているが、細長い構造体102は他の形態をとることもできる。例えば、細長い構造体102は、ドラム、導管、石油流体タンク、および航空機の胴体セクションの中から選択することができる。
次に図5を参照すると、例示的な実施形態による走査システムの図が示されている。この例示的な実施例では、走査システム500は、図1にブロック形式で示されている走査システム104の物理的実施態様の一例である。図示のように、走査システム500は、螺旋軌道システム502と、並進構造体504と、走査器506と、コントローラー508とを含む。
螺旋軌道システム502は、管513において螺旋軌道512を形成する螺旋軌道セクション510からなる。この図示の例では、並進構造体504が螺旋軌道512の螺旋軌道セクション510内の現在の螺旋軌道セクション518上にある間に、螺旋軌道512の螺旋軌道セクション510内の前の螺旋軌道セクション514が螺旋軌道512の後端516から切断される。前の螺旋軌道セクション514は、螺旋軌道512の前端520に再連結される。
前の螺旋軌道セクション514を後端516から切断して前端520に再連結することにより、並進構造体504が再連結された前の螺旋軌道セクション上に移動すると現在の螺旋軌道セクション518が前の螺旋軌道セクションになる。すべての管513または所望の長さの管513が走査されるまでこのプロセスを繰り返し行うことができる。
並進構造体504は、螺旋経路526上の螺旋軌道システム502内の螺旋軌道512上を移動する。並進構造体504による走査器506の移動中、走査器506は管513を走査するためにX線ビーム(図示せず)を発する。
図6を参照すると、例示的な実施形態による走査器の図が示されている。図6には図5の走査器506の実施態様の一例が示されている。
走査器506は、ハウジング626の内側にX線管618が配置されたハウジング626を含む。ハウジング626は、図5の並進構造体504に連結されている。
動作において、X線管618は、窓616でX線管618を通過するX線を発生する。この例示的な実施例では、窓616を通過するX線はX線ビーム620を形成する。結果として、X線管618は、動作において、X線管618がX線管618内の窓616を通過して物体の表面上の位置に向かうX線ビーム620を発生するように構成されることになる。
X線管618は、ハウジング626の内側の高電圧ケーブル630を介して電源628から高電圧出力を受け取る。さらに、この図示の例では、ハウジング626にモーターシステム614が接続されている。モーターシステム614は、回転ホイール600を回転させるために矢印612の方向に回転するように構成されている。
図示のように、回転ホイール600は矢印610の方向に回転するように構成されている。回転ホイール600が回転すると、開口部604や開口部608などの開口部も回転する。開口部により、X線ビーム620の一部分が回転ホイール600を通過することができる。
この例示的な実施例では、X線ビーム620の一部分は、平行X線ビーム602として開口部604を通過する。平行X線ビーム602は、開口部604を通って軸622に沿った方向に進む。回転ホイール600が矢印610の方向に回転すると、開口部604を通過する平行X線ビーム602を形成するX線ビーム620の部分は変化しうる。
いくつかの例示的な実施例では、X線管618は、矢印612の方向のハウジング626の回転が矢印612の方向にハウジング626と共にX線管618を回転させるように、ハウジング626に連結されうる。これらの例示的な実施例では、X線管618は、X線ビーム620の方向が変わるように回転されうる。いくつかの例示的な実施例では、モーターシステム614はハウジング626を回転させるように構成されうる。いくつかの例示的な実施例では、ハウジング626は、回転ホイール600が回転する間に、X線ビーム620の部分が開口部604を通過するときに平行X線ビーム602を形成するように回転されうる。
他の例示的な実施例では、モーターシステム614または他の何らかのモーターシステム(図示せず)は、X線管618内の回転アノード、ハウジング626、または回転ホイール600のうちの少なくとも1つを回転させるように構成されうる。
この例示的な実施例では、ハウジング626内に冷却液624が配置されている。特に、X線管618および電源628はハウジング626内に配置されており、冷却液624に浸されている。この例では、冷却液624は絶縁油でありうる。ハウジング626にはX線システム606の動作中に冷却液624を低温に保つために熱電冷却器(この図には示されていない)が取り付けられうる。
図示のように、X線管618と電源628とは冷却液624内で十分な距離で隔てられており、そのためX線管618と電源628との間にアーク放電はほとんど発生しない。電源628は箱として一般的に描かれているが、電源628は個別に描かれていないいくつかの個別の構成要素から形成されている。
さらに、いくつかの例示的な実施例では、電源628の構成要素は冷却液624と直接接触しうる。電源628の構成要素のいくつかの例示的な実施例には、サーマルシャットダウン回路、一定出力を維持するためのフィードバック電流システム、高電圧フライバック、高圧変圧器、高圧整流器、高圧コンデンサー、高圧トランジスタ、および高圧抵抗器のうちの少なくとも1つが含まれうる。
走査器506は検出器650および検出器652も含む。これらの検出器は、X線ビーム620が管などの細長い構造体に当たった結果として生じる後方散乱(図示せず)を検出する。この例では、検出器650および検出器652によって生成されたデータを、無線接続によって図5のコントローラー508に送信することができる。
走査器506のすべての構成要素は主ハウジング660内に位置する。主ハウジング660は、図5の並進構造体504と関連付けられている。
次に図7を参照すると、例示的な実施形態によるX線管の側面図が示されている。X線管700は、図3のX線源300の実施態様の一例である。
図示のように、X線管700は真空管702の形態をとる。真空管702は、回転アノード706と衝突する電子708を放出するように構成されたカソード704を有する。回転アノード706は、電子708を受け取ったことに応答してX線を発生する。
この例示的な実施例では、回転アノード706は軸710を中心に回転するように構成されている。図示のように、真空管702内の窓712を通過する回転アノード706によって発生したX線の部分はX線ビーム714を形成する。X線ビーム714はこの図示の例では軸716に沿った方向に進む。
回転アノード706が軸710を中心に回転すると、電子708が回転アノード706と衝突する角度が変化する。よって、X線ビーム714が進む方向は、回転アノード706を回転させることによって変化しうる。このように、回転アノード706は、物体を走査するためにX線ビーム714を方向づけるように構成されている。
次に図8を参照すると、例示的な実施形態による螺旋軌道セクションの一部分の図が示されている。この図示の例では、螺旋軌道セクション800は、図4の螺旋軌道402の螺旋軌道セクション400内の前の螺旋軌道セクション404や現在の螺旋軌道セクション408などの螺旋軌道セクションの一部分である。例示的な実施例では、図4の螺旋軌道セクション400は、螺旋軌道セクション800によって示されているように、いくつかの異なる形態をとることができる。
例えば、螺旋軌道セクション800内の螺旋軌道セクション802は、その上に並進構造体を取り付け、螺旋経路上で走査器を移動させるのに使用することができるチェーン804およびチェーン805を含む。チェーン804には真空ユニット806、真空ユニット808、真空ユニット811、真空ユニット813、および真空ユニット815が連結されている。図示のように、チェーン805には真空ユニット807、真空ユニット809、真空ユニット817、真空ユニット819、および真空ユニット821が連結されており、これらは管などの細長い構造体の表面に螺旋軌道セクション802を連結するために真空にすることができる。
別の例として、螺旋軌道セクション800内の螺旋軌道セクション810は、管などの細長い構造体上に螺旋軌道セクション810を保持するために矢印814および矢印816の方向に付勢される付勢セクション812からなる。この種の螺旋軌道セクションも、いくつかの例示的な実施例では、細長い構造体上に螺旋軌道セクション810を保持するのを助ける真空ユニットを含みうる。
別の例として、螺旋軌道セクション800のうちの螺旋軌道セクション820は、可撓性ストリップ822および可撓性ストリップ823の形態をとることができる。これらの可撓性ストリップは、管などの細長い構造体に巻き付くように構成されたプラスチック、ゴム、または他の何らかの適切な種類の材料のうちの少なくとも1つから選択することができる材料からなる。この図示の例では、可撓性ストリップ822内に真空ポート824が形成されており、可撓性ストリップ823内に真空ポート825が形成されており、それらを通して真空にして可撓性ストリップ822および可撓性ストリップ823を管などの細長い構造体に取り付けることができる。
図示のように、螺旋軌道セクション800は可撓性の二重軌道システムを形成するように平行に延在している。他の例では、平行ではない螺旋可撓性軌道セクションが可撓性の単一軌道システムに使用されうる。
走査システム500と図5〜図8に示されているシステム内の様々な構成要素との例示は、図1にブロック形式で示されている走査システム104を実施するための1つの方法の例として提供されている。例示的な実施例は、他の走査システムを実施するための方法を制限することを意図したものではない。
例えば、この例示的な実施例では2つの螺旋軌道セクションが示されているが、他の例示的な実施例は他の数の螺旋軌道セクションを有していてもよい。例えば、他の実施態様では3つの螺旋軌道セクション、5つの螺旋軌道セクション、6つの螺旋軌道セクション、または他の何らかの数の螺旋軌道セクションを使用することができる。別の例では、回転アノードのないX線管を図1の走査器112で使用することができる。
他の例示的な実施例では、図8の螺旋軌道セクション800が二重軌道セクションとして示される。他の例示的な実施例では、図8の螺旋軌道セクション800に例示された二重軌道セクションの代わりに、単一軌道セクションまたは三重軌道セクションを使用することができる。
図9を参照すると、例示的な実施形態による管を走査するように位置決めされた走査器の断面図が示されている。この例示的な実施例では、走査器902が管900に対して位置決めされた管900の断面図が示されている。走査器902は、図1にブロック形式で示されている走査器112の実施態様の一例である。
図示のように、管900は油906で満たされた空隙部904を含む。空隙部904は、油906で完全に満たされているものとして示されている。走査器902から発せられたファンビーム908を使用して管900内の不整合箇所を検出することができる。
この例示的な実施例では、走査器902はいくつかの異なる構成要素を含む。この図に示されるように、走査器902は、X線源910と、コリメータ912と、検出器914と、検出器916と、偏光グリッド918と、シールド920とを含む。
この例示的な実施例では、コリメータ912は、管900に向けられるファンビーム908を形成するようにX線エネルギーを整形する。ファンビーム908を用いた管900の走査により後方散乱922が生じる。この例示的な実施例では、後方散乱922は、管900や油906などの要素から反射された信号からなる。
図示のように、偏光グリッド918は、検出器914および検出器916に到達する後方散乱922の量を低減させる。偏光グリッド918は、偏光グリッド918の表面924に対して実質的に垂直な方向に進む後方散乱922内のX線を通過させるように構成されている。例えば、後方散乱922内の信号926、信号928、および信号930は、偏光グリッド918を通過して検出器914および検出器916に到達する。対照的に、後方散乱922内の信号932および信号934は、偏光グリッド918を通過しない。
偏光グリッド918の使用により、ファンビーム908に応答して管900から実質的に直接反射された後方散乱922内の信号を通過させることができる。走査器902を回転させ、または移動させることにより、管900のその他の部分から信号を得ることができる。
さらに、シールド920は後方散乱を低減させるように構成されている。この例では、細長い構造体である管900は、X線源910とシールド920との間に位置している。
図示のように、シールド920は、管900を通過するファンビーム908の部分の後方散乱を吸収し、または低減させるように位置決めされた構造の材料からなる。例えば、シールド920は、鉛、コンクリート、オスミウム、金、またはX線放射を吸収するのに適した密度もしくは原子量を有する他の何らかの材料などの材料で構成することができる。
よって、管900または油906以外の環境内の他の要素からの後方散乱922が低減される。結果として、他の要素によって引き起こされた雑音がシールド920の使用によって低減されうることになる。
1つの例示的な実施例では、肉厚936を検出することによって管900内の不整合箇所を検出することができる。例えば、管900内の肉厚936の変動は、亀裂、腐食、酸化、孔食、蓄積、剥離、層間剥離、空隙、または管900内の他の望ましくない不整合のうちの少なくとも1つなどの不整合箇所によって引き起こされる可能性がある。
この例示的な実施例では、油906の形態の流体の存在により、管900内の不整合箇所を検出することがより困難になる可能性がある。図1のコントローラー114などのコントローラーを使用して走査器902を実装することによって、流体が存在しうる空隙部を有する管や他の細長い構造体を走査するための現在のシステムおよび技術と比較して、管900内の不整合箇所の検出をより容易に行うことができる。
図9の走査器902および管900の例示は、例示的な実施例を実施するための1つの方法を例示するために提供されている。図9の例示は、他の例示的な実施例を実施するための方法を限定することを意図したものではない。例えば、シールド920は、走査器902とは別の構成要素とみなされてもよく、他の実施形態では省略されてもよい。別の例示的な実施例では、偏光グリッド918が省略されてもよい。
別の例として、管900は空であるかまたは部分的に油906で満たされていてもよい。他の例示的な実施例では、他の種類の流体が存在していてもよい。これらの流体には、例えば、液体形態の天然ガス、気体形態の天然ガス、水、ガソリン、または他の種類の液体が含まれうる。
次に図10を参照すると、例示的な実施形態による流体で満たされた管の走査から生成された画像の図が示されている。この例示的な実施例では、画像1000は、管などの細長い構造体の走査から得られたデータを使用して生成された画像の一例である。走査は、管に向けられたX線ビームの後方散乱を検出することを含む。この例では、画像1000は流体で満たされた管のものである。
図示のように、画像1000は流体1002および不整合箇所1004を含む。この例では、管内に流体1002が存在するため画像1000内で不整合箇所1004を検出することは困難である。
次に図11を参照すると、例示的な実施形態による管の走査からのデータのフィルタリングから生成された画像の図が示されている。この例示的な実施例では、画像1100は、管の走査からのデータを処理した結果である。処理は、図1にブロック形式で示されているコントローラー114などのコントローラーを使用して行われる。走査からのデータは、管内の流体に起因する走査内のデータの一部分を除去するためにフィルタリングされる。結果として、不整合箇所1004は、図10の画像1000と比較して画像1100ではずっと明確になる。
次に図12を参照すると、例示的な実施形態による流体で部分的に満たされた管の走査から生成された画像の図が示されている。この例では、画像1200は、流体で部分的に満たされた、管などの細長い構造体の走査から得られたデータを使用して生成される。走査は、管に向けられたX線ビームの後方散乱を検出することを含む。この例示的な実施例では、セクション1202は空の管の部分を表しており、セクション1204は流体が存在する管の部分を表している。
この図示の例では、画像1200のセクション1202に不整合箇所1206の一部分が見えている。管の画像1200のセクション1204に位置する不整合箇所1206は、画像1200では容易には検出できない。
次に図13を参照すると、例示的な実施形態による管の走査からのデータのフィルタリングから生成された画像の図が示されている。この例示的な実施例では、画像1300は、管の走査からのデータを処理した結果である。
セクション1302は、流体が存在しない管のセクションからのデータを表している。セクション1304は、流体が存在する管のセクションを表している。セクション1304内のデータは、管内の流体の存在に起因するデータの部分を除去するためにフィルタリングされる。
この例では、フィルタリングは、高域フィルタリングプロセスを使用して、検出器によって検出された後方散乱内の信号の部分を差し引いて画像1300のデータを形成することによって行われる。この例では、図12の画像1200と比較して画像1300においては不整合箇所1206がより明確に見えている。
図10〜図13の画像の例示は、管の走査からのデータを使用して生成することができるいくつかの画像を示すために提供されている。これらの例示は、例示的な実施例を実施することができる方法を限定することを意図したものではない。例えば、他の画像は、流体が航空機の燃料である航空機の翼に組み込まれた燃料タンクなどの任意の細長い構造体のものであってもよい。よって、例示的な実施例は、流体を含む細長い構造体に存在しうる不整合箇所のより正確で完全な検出を可能にする。
次に図14を見ると、例示的な実施形態による細長い構造体を走査するためのプロセスのフローチャートが示されている。図14に示すプロセスは、図1の走査システム104を使用して実施することができる。
このプロセスは、細長い構造体の周りの螺旋経路上で走査システム内の走査器を移動させることから開始する(動作1400)。この動作では、走査器は、並進構造体を使用し、細長い構造体に取り付けられた螺旋軌道システムを使用して、細長い構造体の周りの螺旋経路上を移動される。
プロセスは、走査器が螺旋経路上を移動する間に走査器からX線ビームを発する(動作1402)。X線ビームはこの図示の例ではファンビームとすることができ、または他の何らかの形態をとることができる。
プロセスは、細長い構造体に当たるX線ビームからの後方散乱を検出する(動作1404)。プロセスは、後方散乱の検出からデータを生成する(動作1406)。プロセスは、細長い構造体に不整合箇所が存在するかどうかを判断するためにデータを分析する(動作1408)。その後プロセスは終了する。
不整合箇所を検出すると、措置をとることができる。措置は、細長い構造体を再加工すること、細長い構造体の一部分を交換すること、細長い構造体を交換すること、細長い構造体を検査すること、細長い構造体の別の走査を行うこと、不整合箇所の位置および識別を報告書に付加すること、ならびに他の適切な措置を含む群の中から選択することができる。
次に図15を参照すると、例示的な実施形態による細長い構造体の走査からの画像を処理するためのプロセスのフローチャートが示されている。図15に示すプロセスは、コントローラー114、または図1のコントローラー114と通信する他の何らかのデータ処理システムで実施することができる。様々な動作は、ソフトウェアまたはハードウェアのうちの1つを使用して実施することができる。ソフトウェアが使用される場合、プロセスはプロセッサーユニットによって実行されるプログラムコードを使用して実施することができ、プログラムコードはこのプロセスの様々な動作のための命令を含む。
プロセスは、走査器によって検出された後方散乱から画像を生成することから開始する(動作1500)。画像が重なった視野を有する場合、プロセスは、画像を結合してセグメント化された画像を形成するために画像のスティッチングを行う(動作1502)。その後プロセスは終了する。
次に図16を見ると、例示的な実施形態による細長い構造体を走査するためのプロセスのフローチャートが示されている。図16に示すプロセスは、図1の走査環境100内で実施することができる。このプロセスは、図1の走査システム104内のコントローラー114を使用して実施することができる。様々な動作は、ソフトウェアまたはハードウェアの少なくとも一方で実施することができる。例えば、様々な動作は、ソフトウェア、ハードウェア、またはそれらの何らかの組み合わせを使用して実施することができる。ソフトウェアが使用される場合、プロセッサーユニットに動作を行わせるプログラムコードで様々な動作を実施することができる。
プロセスは、細長い構造体の空隙部に流体を有する細長い構造体の走査を受け取ることから開始する(動作1600)。動作1600の走査は、X線ビームを使用して走査器によって生成される。
プロセスは、流体に起因する走査内のデータの一部分を除去してフィルタリングされたデータを形成するために、走査中のデータをフィルタリングする(動作1602)。その後プロセスは終了する。これにより、フィルタリングされたデータ内の細長い構造体の壁上の不整合箇所を検出することが可能になる。この不整合箇所は、細長い構造体の内壁または外壁上のものでありうる。例えば、このプロセスは、流体を運ぶ細長い構造体の後壁の内側の不整合箇所の検出を可能にすることができる。
次に図17を参照すると、例示的な実施形態による走査内のデータをフィルタリングするためのプロセスのフローチャートが示されている。図17のプロセスは、図16の動作1602の実施態様の一例である。
この例示的な実施例では、走査内のデータは、画素が走査器によって検出されたX線ビームの後方散乱の強度を指示する画素を含み、強度は後方散乱のエネルギーに対応し、コントローラーは流体と関連付けられた強度を除去するためにデータをフィルタリングする。この例では、画素の強度は、検出器において画素で検出された後方散乱内の信号のエネルギーが増加するにつれて増加する。
プロセスは、データをフィルタリングして流体に起因するデータの一部分を除去するためにいくつかのフィルターを選択する(動作1700)。いくつかのフィルターは、高域フィルター、低域フィルター、帯域フィルター、または他の何らかの適切な種類のフィルターのうちの少なくとも1つから選択することができる。選択される1つまたは複数のフィルターの種類は、画像内のデータからどの周波数が除去されるべきかに基づくものとすることができる。言い換えると、フィルターは、不整合箇所のデータを向上させるように画素のデータを渡すために選択することができる。この種のフィルタリングは、いくつかの異なる方法で行うことができる。例えば、フーリエ変換低域フィルターやフーリエ変換高域フィルターを使用することができる。例えば、液体および他の背景が不整合箇所よりも高いフィルターにある場合には、低域フィルターを使用して液体および他の背景要素のデータを除去することができる。他の背景要素には、例えば、溶接修理箇所、グリッド内のブラケット、グリッド構造から検出された後方散乱の強度や、雑音を隠し、または雑音として働き、不整合箇所の検出をより困難にする可能性のある後方散乱を生じさせうる他の要素が含まれうる。1つまたは複数のフィルターの種類は、液体に起因するものなど、データ内の実質的に均一な強度を有する反復可能なセクションを除去するように選択することができる。
プロセスは、いくつかのフィルターを使用してデータをフィルタリングする(動作1701)。この動作により、細長い構造体内の流体に起因するデータの部分が削除される。動作1701におけるフィルタリングはまた、背景雑音を形成する他の要素に起因するデータを除去するためにも使用することができる。
プロセスは、不整合箇所を含む強度のグループを選択する(動作1702)。この強度のグループは、不整合箇所のための標準器(standard)を使用して選択することができる。標準器は、検出されるべき不整合性を含む材料、または不整合性を再現する材料とすることができる。標準器を細長い構造体の壁に対して配置することができ、細長い構造体を標準器と共に走査することができる。壁は、流体を含まない細長い構造体の内壁または外壁とすることができる。いくつかの例示的な実施例では、検査されるべき細長い構造体と同じ仕様を有する別の細長い構造体を標準器と共に使用することができる。
プロセスは、不整合箇所のデータを渡すために不整合箇所のグループを使用してデータをフィルタリングする(動作1704)。その後プロセスは終了する。
図18を参照すると、例示的な実施形態による流体を含む細長い構造体の走査からのデータをフィルタリングするのに使用される周波数を識別するためのプロセスのフローチャートが示されている。図18に示すプロセスは、図16の動作1600を実施するために使用することができる動作の一例である。
プロセスは、処理のための画像を受け取ることから開始する(動作1800)。動作1800では、センサーが後方散乱を検出する画素を含む場合、走査内のデータから画像が取得される。
明るい物体の探索が行われるべきであるかどうかに関する判定が行われる(動作1802)。動作1802で、プロセスは、不整合箇所が走査内の他の物体よりも明るいかどうかを判定する。この例では、明るい物体は、存在しうる他の物体よりも高い強度を有するデータ内の不整合箇所などの関心対象の物体である。不整合箇所の種類がわかっている場合には、画像のフィルタリングで使用するためにそれらの整合性が明るい物体として現れるか否かを判断することができる。
例えば、フィルタリングの周波数は、画像の強度のヒストグラムにおいて液体の周波数を識別し、それらの液体の周波数を除去するフィルターを選択することに基づいて決定することができる。
プロセスが明るい物体を探索しているのでない場合、プロセスは処理のために画像内の未処理の画素を選択する(動作1804)。プロセスは、処理のために選択された画素の周りのウィンドウを識別する(動作1806)。ウィンドウは、正方形、長方形、または画素を囲む任意の形状とすることができる。この例では、画素はウィンドウの中央に位置する。
プロセスはウィンドウ内の画素の平均強度を計算する(動作1808)。プロセスは、ウィンドウ内の画素の平均強度から当該画素の強度を差し引く(動作1810)。
画像内に別の未処理画素が存在するかどうかに関する判定が行われる(動作1812)。画像内に別の未処理の画素が存在する場合、プロセスは1804の動作に戻る。
そうでない場合、プロセスは閾値演算を行う(動作1814)。動作1814で、プロセスは、閾値に対する不整合箇所についていくつかの周波数を選択する。言い換えると、閾値は、走査が行われる1つまたは複数の不整合箇所の周波数応答に応じて、複数の周波数を有しうる。この閾値により、不整合箇所以外の他の項目のデータが除去される。
この例示的な実施例では、閾値はルックアップテーブルに基づくものとすることができる。ルックアップテーブルは、管、液体、および不整合箇所の特性に基づいて、閾値に1つまたは複数の周波数を提供することができる。このルックアップテーブルは、不整合箇所についての標準器を、検査されている管および液体と同じ特性を有する管および液体と共に使用して生成することができる。その後プロセスは終了する。
動作1802に戻って、明るい物体の探索が行われるべきである場合、プロセスは処理のために画像内の未処理の画素を選択する(動作1816)。プロセスは、処理のために選択された画素の周りのウィンドウを識別する(動作1818)。ウィンドウは、正方形、長方形、または画素を囲む任意の形状とすることができる。この例では、画素はウィンドウの中央に位置する。
プロセスはウィンドウ内の画素の平均強度を計算する(動作1820)。プロセスは、ウィンドウ内の画素の平均強度を当該画素の強度から差し引く(動作1822)。
プロセスは、画像内に別の未処理画素が存在するかどうか判定する(動作1824)。画像内に別の未処理の画素が存在する場合、プロセスは1816の動作に戻る。そうでない場合、プロセスは上述したように動作1814に進む。
様々な図示の実施形態におけるフローチャートおよびブロック図は、例示的な実施形態における装置および方法のいくつかの可能な実施態様のアーキテクチャ、機能性、および動作を例示している。これに関して、フローチャートまたはブロック図の各ブロックは、モジュール、セグメント、機能、または動作もしくはステップの一部分のうちの少なくとも1つを表すことができる。例えば、ブロックのうちの1つまたは複数を、プログラムコード、ハードウェア、またはプログラムコードとハードウェアとの組み合わせとして実施することができる。ハードウェアとして実施される場合、ハードウェアは、例えば、フローチャートまたはブロック図における1つまたは複数の動作を行うように製造または構成された集積回路の形態をとりうる。プログラムコードとハードウェアの組み合わせとして実施される場合、その実施態様はファームウェアの形態をとりうる。フローチャートまたはブロック図の各ブロックは、様々な動作を行う専用ハードウェアシステムを使用して、または専用ハードウェアと専用ハードウェアによって実行されるプログラムコードとの組み合わせを使用して実施されうる。
例示的な実施形態のいくつかの代替の実施態様では、各ブロックに記載される1つまたは複数の機能は、図に記載される順序とは異なる順序で行われうる。例えば、場合によっては、連続して示される2つのブロックが実質的に同時に行われてもよく、または各ブロックは関与する機能に応じて逆の順序で行われる場合もある。また、フローチャートまたはブロック図の例示のブロックに加えて他のブロックが追加されてもよい。
次に図19を見ると、例示的な実施形態によるデータ処理システムのブロック図が示されている。データ処理システム1900は、図1のコンピューターシステム122を実施するために使用されうる。この例示的な実施例では、データ処理システム1900は通信フレームワーク1902を含み、通信フレームワーク1902は、プロセッサーユニット1904と、メモリ1906と、永続記憶装置1908と、通信部1910と、入出力部1912と、ディスプレイ1914との間の通信を提供する。この例では、通信フレームワーク1902はバスシステムの形態をとりうる。
プロセッサーユニット1904は、メモリ1906にロードされうるソフトウェアのための命令を実行するように働く。プロセッサーユニット1904は、特定の実施態様に応じて、いくつかのプロセッサー、マルチコアプロセッサーコア、または他の何らかの種類のプロセッサーであってよい。
メモリ1906および永続記憶装置1908は記憶装置1916の例である。記憶装置は、例えば、データ、関数形式のプログラムコード、または一時的、永続的、もしくは一時的と永続的の両方の他の適切な情報などの情報を格納することができる任意のハードウェアであるが、これに限定されない。記憶装置1916は、これらの例示的な実施例ではコンピューター読み取り可能な記憶装置とも呼ばれうる。メモリ1906は、これらの例では、例えば、ランダム・アクセス・メモリや他の任意の適切な揮発性または不揮発性記憶装置でありうる。永続記憶装置1908は、特定の実施態様に応じて様々な形態をとりうる。
例えば、永続記憶装置1908は、1つまたは複数の構成要素またはデバイスを含みうる。例えば、永続記憶装置1908は、ハードドライブ、ソリッドステートドライブ(SSD)、フラッシュメモリ、書き換え可能な光ディスク、書き換え可能な磁気テープ、またはこれらの何らかの組み合わせであってもよい。永続記憶装置1908によって使用される媒体は取り外し可能であってもよい。例えば、永続記憶装置1908には取り外し可能なハードドライブが使用されてもよい。
通信部1910は、これらの例示的な実施例では、他のデータ処理システムまたは装置との通信を提供する。これらの例示的な実施例では、通信部1910はネットワーク・インターフェース・カードである。
入出力部1912は、データ処理システム1900に接続されうる他の装置とのデータの入力および出力を可能にする。例えば、入出力部1912は、キーボード、マウス、または他の何らかの適切な入力装置のうちの少なくとも1つを介したユーザ入力のための接続を提供しうる。さらに、入出力部1912はプリンタに出力を送りうる。ディスプレイ1914は、ユーザに情報を表示する機構を提供する。
記憶装置1916には、通信フレームワーク1902を介してプロセッサーユニット1904と通信する、オペレーティングシステム、アプリケーション、またはプログラムのうちの少なくとも1つのための命令が位置しうる。様々な実施形態のプロセスは、メモリ1906などのメモリに位置しうるコンピューター実装命令を使用してプロセッサーユニット1904によって行われうる。
これらの命令は、プログラムコード、コンピューター使用可能プログラムコード、またはプロセッサーユニット1904内のプロセッサーによって読み取られ実行されうるコンピューター読み取り可能なプログラムコードと呼ばれる。様々な実施形態におけるプログラムコードは、メモリ1906や永続記憶装置1908などの様々な物理的な、またはコンピューター読み取り可能な記憶媒体上で具現化されうる。
プログラムコード1918は、選択的に取り外し可能であり、プロセッサーユニット1904が実行するためにデータ処理システム1900にロードされ、または転送されうるコンピューター読み取り可能な媒体1920上に関数形式で位置する。プログラムコード1918およびコンピューター読み取り可能な媒体1920は、これらの例示的な実施例ではコンピュータープログラム製品1922を形成する。例示的な実施例では、コンピューター読み取り可能な媒体1920はコンピューター読み取り可能な記憶媒体1924である。
これらの例示的な実施例では、コンピューター読み取り可能な記憶媒体1924は、プログラムコード1918を伝播または送信する媒体ではなく、プログラムコード1918を格納するのに使用される物理的な、または有形の記憶装置である。
あるいは、プログラムコード1918は、コンピューター読み取り可能な信号媒体を使用してデータ処理システム1900に転送されてもよい。コンピューター読み取り可能な信号媒体は、例えば、プログラムコード1918を含む伝播データ信号でありうる。例えば、コンピューター読み取り可能な信号媒体は、電磁信号、光信号、または任意の他の適切な種類の信号のうちの少なくとも1つでありうる。これらの信号は、無線通信リンク、光ファイバーケーブル、同軸ケーブル、ワイヤ、または任意の他の適切な種類の通信リンクなどの通信リンクのうちの少なくとも1つで送信されうる。
データ処理システム1900について例示された様々な構成要素は、様々な実施形態が実施されうる方法に対するアーキテクチャ上の制限を与えることを意図したものではない。様々な例示的な実施形態は、データ処理システム1900について例示された構成要素以外の、またはその代わりの構成要素を含むデータ処理システムにおいて実施されてもよい。図19に示される他の構成要素は、図示の例示的な実施例とは異なりうる。様々な実施形態は、プログラムコード1918を実行することができる任意のハードウェアデバイスまたはシステムを使用して実施されうる。
さらに、本開示は、以下の各項による実施例を含む。
項1.細長い構造体の周りに配置されるように構成された螺旋軌道システムと、螺旋経路上の螺旋軌道システム上を移動するように構成された並進構造体と、並進構造体に連結され、X線ビームを発するように構成された走査器と、を含む、走査システム。
項2.螺旋経路上の螺旋軌道システム上を移動するように並進構造体を制御し、並進構造体が細長い構造体上の螺旋軌道システム上を移動する間に細長い構造体を走査するように走査器を制御するように構成されたコントローラーをさらに含む、項1の走査システム。
項3.走査器が、X線ビームを発するように構成されたX線源と、細長い構造体に当たるX線ビームによって生じた後方散乱を検出するように構成されたセンサーシステムと、を含む、項1の走査システム。
項4.後方散乱が検出されるときセンサーシステムが画像を生成し、画像が重なった視野を有し、コントローラーが、画像を結合して重なった視野を有する画像からセグメント化された画像を提供するために画像スティッチングを行う、項3の走査システム。
項5.螺旋軌道システムが、真空システム、付勢システム、または磁気フットシステムのうちの少なくとも1つを使用して細長い構造体に連結される、項1の走査システム。
項6.並進構造体が、螺旋軌道システムに付着するように構成されたキャリッジと、キャリッジが細長い構造体上の螺旋経路を移動するようにキャリッジを移動させるように構成された移動システムと、を含む、項1の走査システム。
項7.螺旋軌道システムが、螺旋軌道を形成するように連結された螺旋軌道セクションであって、並進構造体が螺旋軌道の螺旋軌道セクション内の現在の螺旋軌道セクション上にある間に、螺旋軌道の螺旋軌道セクション内の前の螺旋軌道セクションが螺旋軌道の後端から切断され、前の螺旋軌道セクションが螺旋軌道の前端に再連結される、螺旋軌道セクションを含む、項1の走査システム。
項8.螺旋軌道セクションが、単一軌道セクションと二重軌道セクションの一方から選択される、項7の走査システム。
項9.螺旋軌道セクション内の螺旋軌道セクションが、チェーンと、付勢軌道セクションと、可撓性ストリップからなる、項7の走査システム。
項10.走査器が、並進構造体に連結されたハウジングと、ハウジングの内側に位置する冷却液と、ハウジングの内側に位置し、冷却液に浸された電源と、ハウジングの内側に位置し、冷却液に浸されたX線管と、を含み、X線管が、動作において、X線管がX線管内の窓を通過して物体の表面上の位置に向かうX線ビームを発生するように構成された、項1の走査システム。
項11.X線管が、窓を有する真空管と、電子を放出するカソードと、電子が回転アノードと衝突するときX線を発生する回転アノードであって、X線がX線ビームとして窓を通過し、回転アノードが物体を走査するようにX線ビームを方向づけるように構成された、回転アノードと、を含む、項10の走査システム。
項12.細長い構造体が、管、断熱管、非断熱管、鋼管、油管、天然ガス管、ドラム、導管、石油流体タンク、および航空機の胴体セクションのうちの1つから選択される、項1の走査システム。
項13.管の周りに配置されるように構成された螺旋軌道システムと、管上の螺旋経路上の螺旋軌道システム上を移動するように構成された並進構造体と、並進構造体に連結された走査器と、並進構造体および走査器と通信するコントローラーと、を含み、コントローラーが、螺旋経路上の螺旋軌道システム上を移動するように並進構造体を制御し、並進構造体が管上の螺旋軌道システムを移動する間にX線ビームを発するように走査器を制御し、管に当たるX線ビームからの後方散乱を検出するように構成された、管走査システム。
項14.走査器が、キャリッジに連結されたハウジングと、ハウジングの内側に位置する冷却液と、ハウジングの内側に位置し、冷却液に浸された電源と、ハウジングの内側に位置し、冷却液に浸されたX線管であって、X線管が、動作において、X線管がX線管内の窓を通過して物体の表面上の第1の位置に向かうX線ビームを発生するように構成された、X線管と、を含む、項13の管走査システム。
項15.螺旋軌道システムが、螺旋軌道を形成するように連結された螺旋軌道セクションであって、並進構造体が螺旋軌道セクション内の現在の螺旋軌道セクション上にある間に、前の螺旋軌道セクションが螺旋軌道セクションの後端から取り外され、前の螺旋軌道セクションが螺旋軌道セクションの前端に連結される、螺旋軌道セクションを含む、項13の管走査システム。
項16.螺旋軌道セクションが、単一軌道セクションと二重軌道セクションの一方から選択される、項15の管走査システム。
項17.管が、断熱管、非断熱管、鋼管、油管、天然ガス管、ドラム、導管、石油流体タンク、および航空機の胴体セクションのうちの1つから選択される、項13の管走査システム。
項18.細長い構造体を走査するための方法であって、走査システム内の走査器に細長い構造体の周りの螺旋経路上を移動させるステップであって、走査器が、並進構造体を使用し、細長い構造体に取り付けられた螺旋軌道システムを使用して、細長い構造体の周りの螺旋経路上を移動される、ステップと、走査器が螺旋経路上を移動する間に走査器からX線ビームを発するステップと、細長い構造体に当たるX線ビームからの後方散乱を検出するステップと、を含む方法。
項19.螺旋軌道システムが、螺旋軌道を形成するように連結された螺旋軌道セクションを含み、並進構造体が螺旋軌道の螺旋軌道セクション内の現在の螺旋軌道セクション上にある間に、螺旋軌道の螺旋軌道セクション内の前の螺旋軌道セクションを螺旋軌道の後端から切断するステップと、前の螺旋軌道セクションを螺旋軌道の前端に再連結するステップと、をさらに含む、項18の方法。
項20.X線ビームから検出された後方散乱から画像を生成するステップと、画像が重なった視野を有する場合、画像を結合してセグメント化された画像を形成するために画像に対して画像スティッチングを行うステップと、をさらに含む、項18の方法。
項21.細長い構造体が、管、断熱管、非断熱管、油管、天然ガス管、ドラム、導管、石油流体タンク、および航空機の胴体セクションのうちの1つから選択される、項18の方法。
よって、例示的な実施例は、細長い構造体を走査するための方法、装置、およびシステムを提供する。1つの例示的な実施例では、走査システムは、螺旋軌道システムと、並進構造体と、走査器とを含む。螺旋軌道システムは、細長い構造体の周りに配置されるように構成される。細長い構造体は、例えば、管であってもよい。並進構造体は、螺旋経路上の螺旋軌道システム上を移動するように構成される。走査器は並進構造体に連結され、走査器はX線ビームを発するように構成される。
さらに、例示的な実施例は、空隙部を有する細長い構造体を液体で走査するための方法、装置、およびシステムを提供する。流体に起因する走査内のデータの一部分を除去するために細長い構造体の走査内のデータをフィルタリングすることができ、フィルタリングされたデータを使用して細長い構造体の壁上の不整合箇所を検出することが可能になる。走査は、走査器が細長い構造体上の螺旋経路上を並進構造体によって移動される間に行うことができる。
結果として、1つまたは複数の技術的解決策は、流体に起因する走査内のデータの一部分を除去するために、管や航空機の翼内の燃料タンクなどの細長い構造体の走査からのデータをフィルタリングするという技術的効果を提供しうることになる。フィルタリングにより、細長い構造体における不整合箇所を検出する能力が高まる。よって、例示的な実施例は、細長い構造体の空隙部から流体を除去する必要なしに細長い構造体に不整合箇所がないか検査することを可能にする1つまたは複数の技術的解決策を提供する。結果として、細長い構造体をより容易かつ迅速に検査することが可能になる。
よって、例示的な実施例は、螺旋経路上で管などの細長い構造体を走査することができる方法、装置、およびシステムを提供する。この走査は、細長い構造体内の不整合箇所に起因する後方散乱の部分に対して流体または背景雑音に起因する後方散乱の部分を区別するように行われる。結果として、図1の走査システム104などの走査システムを使用して細長い構造体を迅速かつ自動的に走査することが可能になる。さらに、X線管内で自己完結型電源または回転アノードの少なくとも一方を使用することにより、走査器に必要な重量を減らすことができる。
様々な例示的な実施形態の説明は例示と説明のために提示されており、網羅的であることも開示された形態の実施形態に限定されることも意図されていない。様々な例示的な実施例は、措置または動作を行う構成要素について記載している。例示的な実施形態では、構成要素が記載された措置または動作を行うように構成されうる。例えば、構成要素は、例示的な実施例に構成要素によって行われるものとして記載されている措置または動作を行う能力を構成要素に与える構造体のための構成または設計を有しうる。
当業者には多くの改変形態および変形形態が当業者には明らかであろう。さらに、様々な例示的な実施形態は、他の所望の実施形態と比較して異なる特徴を提供する場合もある。選択された1つまたは複数の実施形態は、実施形態の原理、実際の応用を最もよく説明し、当業者が、企図される特定の用途に適する様々な改変を伴った様々な実施形態について本開示を理解することを可能にするために選択され、説明されている。
100 走査環境
102 細長い構造体
104 走査システム
106 管
107 流体
108 螺旋軌道システム
110 並進構造体
111 不整合箇所
112 走査器
114 コントローラー
116 螺旋経路
117 走査
118 X線ビーム
120 後方散乱
122 コンピューターシステム
123 空隙部
124 データ
125 背景雑音
126 フィルタリングされたデータ
200 キャリッジ
202 移動システム
204 推進システム
206 移動構成要素
300 X線源
302 コリメータ
304 センサーシステム
306 ファンビーム
308 スリット
310 形状
312 向き
314 後方散乱
315 データ
316 検出器群
400 螺旋軌道セクション
402 螺旋軌道
404 前の螺旋軌道セクション
406 後端
408 現在の螺旋軌道セクション
410 前端
500 走査システム
502 螺旋軌道システム
504 並進構造体
506 走査器
508 コントローラー
510 螺旋軌道セクション
512 螺旋軌道
513 管
514 前の螺旋軌道セクション
516 後端
518 現在の螺旋軌道セクション
520 前端
526 螺旋経路
600 回転ホイール
602 平行X線ビーム
604 開口部
606 X線システム
608 開口部
610 矢印
612 矢印
614 モーターシステム
616 窓
618 X線管
620 X線ビーム
622 軸
624 冷却液
626 ハウジング
628 電源
630 高電圧ケーブル
650 検出器
652 検出器
660 主ハウジング
700 X線管
702 真空管
704 カソード
706 回転アノード
708 電子
710 軸
712 窓
714 X線ビーム
716 軸
800 螺旋軌道セクション
802 螺旋軌道セクション
804 チェーン
805 チェーン
806 真空ユニット
807 真空ユニット
808 真空ユニット
809 真空ユニット
810 螺旋軌道セクション
811 真空ユニット
812 付勢セクション
813 真空ユニット
814 矢印
815 真空ユニット
816 矢印
817 真空ユニット
819 真空ユニット
820 螺旋軌道セクション
821 真空ユニット
822 可撓性ストリップ
823 可撓性ストリップ
824 真空ポート
825 真空ポート
900 管
902 走査器
904 空隙部
906 油
908 ファンビーム
910 X線源
912 コリメータ
914 検出器
916 検出器
918 偏光グリッド
920 シールド
922 後方散乱
924 表面
926 信号
928 信号
930 信号
932 信号
934 信号
936 肉厚
1000 画像
1002 流体
1004 不整合箇所
1100 画像
1200 画像
1202 セクション
1204 セクション
1206 不整合箇所
1300 画像
1302 セクション
1304 セクション
1900 データ処理システム
1902 通信フレームワーク
1904 プロセッサーユニット
1906 メモリ
1908 永続記憶装置
1910 通信部
1912 入出力部
1914 ディスプレイ
1916 記憶装置
1918 プログラムコード
1920 コンピューター読み取り可能な媒体
1922 コンピュータープログラム製品
1924 コンピューター読み取り可能な記憶媒体

Claims (15)

  1. 細長い構造体(102)の周りに配置されるように構成された螺旋軌道システム(108)と、
    螺旋経路(116)上の前記螺旋軌道システム(108)上を移動するように構成された並進構造体(110)と、
    前記並進構造体(110)に連結され、X線ビーム(118)を発するように構成された走査器(112)と、
    を含む、走査システム(104)。
  2. 前記螺旋経路(116)上の前記螺旋軌道システム(108)上を移動するように前記並進構造体(110)を制御し、前記並進構造体(110)が前記細長い構造体(102)上の前記螺旋軌道システム(108)上を移動する間に前記細長い構造体(102)を走査するように前記走査器(112)を制御するように構成されたコントローラー(114)をさらに含む、請求項1に記載の走査システム(104)。
  3. 前記走査器(112)が、
    前記X線ビーム(118)を発するように構成されたX線源(300)と、
    前記細長い構造体(102)に当たる前記X線ビーム(118)によって生じた後方散乱(120)を検出するように構成されたセンサーシステム(304)と、
    を含み、
    前記後方散乱(120)が検出されるとき前記センサーシステム(304)が画像を生成し、前記画像が重なった視野を有し、コントローラー(114)が、前記画像を結合して前記重なった視野を有する前記画像からセグメント化された画像を提供するために画像スティッチングを行う、請求項1に記載の走査システム(104)。
  4. 前記螺旋軌道システム(108)が、真空システム、付勢システム、または磁気フットシステムのうちの少なくとも1つを使用して前記細長い構造体(102)に連結される、請求項1に記載の走査システム(104)。
  5. 前記並進構造体(110)が、
    前記螺旋軌道システム(108)に付着するように構成されたキャリッジ(200)と、
    前記キャリッジ(200)が前記細長い構造体(102)上の前記螺旋経路(116)を移動するように前記キャリッジ(200)を移動させるように構成された移動システム(202)と、
    を含む、請求項1に記載の走査システム(104)。
  6. 前記螺旋軌道システム(108)が、
    螺旋軌道(402)を形成するように連結された螺旋軌道セクション(400)であって、前記並進構造体(110)が前記螺旋軌道(402)の前記螺旋軌道セクション(400)内の現在の螺旋軌道セクション(408)上にある間に、前記螺旋軌道(402)の前記螺旋軌道セクション(400)内の前の螺旋軌道セクション(404)が前記螺旋軌道(402)の後端(406)から切断され、前記前の螺旋軌道セクション(404)が前記螺旋軌道(402)の前端(410)に再連結される、螺旋軌道セクション(400)を含む、請求項1に記載の走査システム(104)。
  7. 前記螺旋軌道セクション(400)が、単一軌道セクションと二重軌道セクションの一方から選択される、請求項6に記載の走査システム(104)。
  8. 前記螺旋軌道セクション(400)内の前記螺旋軌道セクションが、チェーン(804)、付勢軌道セクション(812)、および可撓性ストリップ(822)からなる、請求項6に記載の走査システム(104)。
  9. 前記走査器(112)が、
    前記並進構造体(110)に連結されたハウジング(626)と、
    前記ハウジング(626)の内側に位置する冷却液(624)と、
    前記ハウジング(626)の内側に位置し、前記冷却液(624)に浸された電源(628)と、
    前記ハウジング(626)の内側に位置し、前記冷却液(624)に浸されたX線管(618)であって、前記X線管(618)が、動作において、前記X線管(618)が前記X線管(618)内の窓(616)を通過して物体の表面上の位置に向かう前記X線ビーム(620)を発生するように構成された、X線管(618)と、
    を含む、請求項1に記載の走査システム(104)。
  10. 前記X線管が、
    窓(712)を有する真空管(702)と、
    電子(708)を放出するカソード(704)と、
    前記電子(708)が回転アノード(706)と衝突するときX線を発生する前記回転アノード(706)であって、前記X線が前記X線ビーム(118)として前記窓(712)を通過し、前記回転アノード(706)が物体を走査するように前記X線ビーム(714)を方向づけるように構成された、前記回転アノード(706)と、
    を含む、請求項9に記載の走査システム(104)。
  11. 前記細長い構造体(102)が、管(106)、断熱管、非断熱管、鋼管、油管、天然ガス管、ドラム、導管、石油流体タンク、および航空機の胴体セクションのうちの1つから選択される、請求項1に記載の走査システム(104)。
  12. 細長い構造体(102)を走査するための方法であって、
    走査システム(104)内の走査器(112)に前記細長い構造体(102)の周りの螺旋経路(116)上を移動させるステップであって、前記走査器(112)が、並進構造体(110)を使用し、前記細長い構造体(102)に取り付けられた螺旋軌道システム(108)を使用して、前記細長い構造体(102)の周りの前記螺旋経路(116)上を移動される、前記ステップと、
    前記走査器(112)が前記螺旋経路(116)上を移動する間に前記走査器(112)からX線ビーム(118)を発するステップと、
    前記細長い構造体(102)に当たる前記X線ビーム(118)からの後方散乱(120)を検出するステップと、
    を含む方法。
  13. 前記螺旋軌道システム(108)が、螺旋軌道(402)を形成するように連結された螺旋軌道セクション(400)を含み、
    前記並進構造体(110)が前記螺旋軌道(402)の前記螺旋軌道セクション(400)内の現在の螺旋軌道セクション(408)上にある間に、前記螺旋軌道(402)の前記螺旋軌道セクション(400)内の前の螺旋軌道セクション(404)を前記螺旋軌道(402)の後端(406)から切断するステップと、
    前記前の螺旋軌道セクション(404)を前記螺旋軌道(402)の前端(410)に再連結するステップと、
    をさらに含む、請求項12に記載の方法。
  14. 前記X線ビーム(118)から検出された前記後方散乱(120)から画像を生成するステップと、
    前記画像が重なった視野を有するとき、前記画像を結合してセグメント化された画像を形成するために前記画像に対して画像スティッチングを行うステップと、
    をさらに含む、請求項12に記載の方法。
  15. 前記細長い構造体(102)が、管(106)、断熱管、非断熱管、油管、天然ガス管、ドラム、導管、石油流体タンク、および航空機の胴体セクションのうちの1つから選択される、請求項12に記載の方法。
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