JP2019171220A - 眼科撮影装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】干渉光学系を用いて取得された画像に現れるアーチファクトを除去するための新たな技術を提供する。【解決手段】眼科撮影装置は、対物レンズと、干渉光学系と、光スキャナと、固視標投影系と、制御部とを含む。干渉光学系は、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、測定光を対物レンズを介して被検眼に入射させ、被検眼から出射し対物レンズを通過した測定光の戻り光と参照光との干渉光を検出する。光スキャナは、測定光を偏向する。固視標投影系は、被検眼の眼底に固視標を投影する。制御部は、第1座標系において光スキャナを制御することにより測定光のスキャン位置を制御すると共に、第2座標系において固視標投影系を制御することにより固視標の位置を制御する。制御部は、対物レンズの光軸に対する第1座標系の相対位置及び光軸に対する第2座標系の相対位置の少なくとも一方を変更する。【選択図】図3

Description

この発明は、眼科撮影装置に関する。
光コヒーレンストモグラフィ(Optiacl Coherence Tomography:以下、OCT)は、被測定物体の表面形態や内部形態を表す画像の形成に利用される。OCTを用いて取得されたOCT画像には、被測定物体以外の物体からの反射やコヒーレンスリバイバル現象に起因したアーチファクトが現れることがある。これらアーチファクトは、注目部位に重なって現れたり、セグメンテーション処理等の画像処理の結果に影響を及ぼしたりする場合がある。
例えば、OCT画像を取得するための干渉光学系を構成する光学部材に対して減反射コーティングを施すことにより、被測定物体以外の物体からの反射に起因したアーチファクトを除去する場合がある。また、コヒーレンスリバイバル現象の発生が抑制されるように光源からの光に対して位相変調を行うことで、アーチファクトを除去する手法が知られている(特許文献1)。
米国特許出願公開第2014/0029015号明細書
しかしながら、光学部材に対して減反射コーティングを施した場合でも、反射を完全に抑制することは困難である。また、特許文献1に開示された手法では、光学系を構成する光学部材の種類やその配置等の光学的条件に応じた設計が必要になり、光学系や制御系の設計が複雑化する。
一般に、コヒーレンス長が長くなるほど被測定物体以外の物体からの反射に起因したアーチファクトがOCT画像に現れやすくなる。また、コヒーレンスリバイバル間隔が短くなるほどコヒーレンスリバイバル現象に起因したアーチファクトがOCT画像に現れやすくなる。従って、コヒーレンス長が長い光源やコヒーレンスリバイバル間隔が短い光源を用いる場合にはOCT画像の画質の劣化を招きやすくなり、前述のアーチファクトを除去するための新たな技術が求められる。
本発明は、このような問題を解決するためになされたものであり、その目的は、干渉光学系を用いて取得された画像に現れるアーチファクトを除去するための新たな技術を提供することにある。
実施形態の眼科撮影装置は、対物レンズと、干渉光学系と、光スキャナと、固視標投影系と、制御部とを含む。干渉光学系は、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、測定光を対物レンズを介して被検眼に入射させ、被検眼から出射し対物レンズを通過した測定光の戻り光と参照光との干渉光を検出する。光スキャナは、測定光を偏向する。固視標投影系は、被検眼の眼底に固視標を投影する。制御部は、第1座標系において光スキャナを制御することにより測定光のスキャン位置を制御すると共に、第2座標系において固視標投影系を制御することにより固視標の位置を制御する。制御部は、対物レンズの光軸に対する第1座標系の相対位置及び光軸に対する前記第2座標系の相対位置の少なくとも一方を変更する。
この発明によれば、干渉光学系を用いて取得された画像に現れるアーチファクトを除去するための新たな技術を提供することが可能になる。
実施形態に係る眼科撮影装置の構成の一例を表す概略図である。 実施形態に係る眼科撮影装置の構成の一例を表す概略図である。 実施形態に係る眼科撮影装置の構成の一例を表す概略図である。 実施形態の比較例に係る眼科撮影装置の動作を説明するための概略図である。 実施形態の比較例に係る眼科撮影装置の動作を説明するための概略図である。 実施形態に係る眼科撮影装置の動作を説明するための概略図である。 実施形態に係る眼科撮影装置の動作例のフローを表すフロー図である。 実施形態に係る眼科撮影装置の動作を説明するための概略図である。 実施形態の変形例に係る眼科撮影装置の動作を説明するための概略図である。 実施形態の変形例に係る眼科撮影装置を説明するための概略図である。
この発明の実施形態の一例について、図面を参照しながら詳細に説明する。この発明に係る眼科撮影装置は、光干渉断層計の機能を有し、被検眼に対してOCTを実行する。このOCTは、例えば眼底や前眼部など、被検眼の任意の部位に対して実行される。
この明細書では、OCTによって取得される画像をOCT画像と総称することがある。また、ノイズをアーチファクトと同一視して表記する場合がある。また、この明細書において引用された文献の記載内容を、以下の実施形態の内容として援用することが可能である。
以下の実施形態では、フーリエドメインタイプのOCTを実行可能な眼科撮影装置について説明する。特に、実施形態に係る眼科撮影装置は、スウェプトソースタイプのOCTの手法を適用可能である。なお、スウェプトソースタイプ以外のタイプ、例えばスペクトラルドメインタイプのOCTを実行可能な眼科撮影装置に対して、この発明に係る構成を適用することも可能である。また、以下の実施形態ではOCT装置と眼底カメラとを組み合わせた装置について説明する。しかしながら、眼底カメラ以外のモダリティ、例えばSLO(Scanning Laser Ophthalmoscope)、スリットランプ、眼科手術用顕微鏡、光凝固装置などに、実施形態に係る構成を有するOCT装置を組み合わせることも可能である。また、実施形態に係る構成を、単体のOCT装置に組み込むことも可能である。
[構成]
図1に示すように、眼科撮影装置1は、眼底カメラユニット2、OCTユニット100及び演算制御ユニット200を含んで構成される。眼底カメラユニット2は、従来の眼底カメラとほぼ同様の光学系を有する。OCTユニット100には、OCTを実行するための光学系が設けられている。演算制御ユニット200は、各種の演算処理や制御処理等を実行するコンピュータを具備している。
〔眼底カメラユニット〕
図1に示す眼底カメラユニット2には、被検眼Eの眼底Efの表面形態を表す2次元画像(眼底像)を取得するための光学系が設けられている。眼底像には、観察画像や撮影画像などが含まれる。観察画像は、例えば、近赤外光を用いて所定のフレームレートで形成されるモノクロの動画像である。撮影画像は、例えば、可視光をフラッシュ発光して得られるカラー画像、または近赤外光若しくは可視光を照明光として用いたモノクロの静止画像であってもよい。眼底カメラユニット2は、これら以外の画像、例えばフルオレセイン蛍光画像やインドシアニングリーン蛍光画像や自発蛍光画像などを取得可能に構成されていてもよい。
眼底カメラユニット2には、被検者の顔を支持するための顎受けや額当てが設けられている。更に、眼底カメラユニット2には、照明光学系10と撮影光学系30が設けられている。照明光学系10は眼底Efに照明光を照射する。撮影光学系30は、この照明光の眼底反射光を撮像装置(CCDイメージセンサ(単にCCDと呼ぶことがある)35、38)に導く。また、撮影光学系30は、OCTユニット100からの測定光を被検眼Eに導くとともに、被検眼Eを経由した測定光をOCTユニット100に導く。
照明光学系10の観察光源11は、例えばハロゲンランプまたはLED(Light Emitting Diode)により構成される。観察光源11から出力された光(観察照明光)は、曲面状の反射面を有する反射ミラー12により反射され、集光レンズ13を経由し、可視カットフィルタ14を透過して近赤外光となる。更に、観察照明光は、撮影光源15の近傍にて一旦集束し、ミラー16により反射され、リレーレンズ17、18、絞り19及びリレーレンズ20を経由する。そして、観察照明光は、孔開きミラー21の周辺部(孔部の周囲の領域)にて反射され、ダイクロイックミラー46を透過し、対物レンズ22により屈折されて眼底Efを照明する。
観察照明光の眼底反射光は、対物レンズ22により屈折され、ダイクロイックミラー46を透過し、孔開きミラー21の中心領域に形成された孔部を通過し、ダイクロイックミラー55を透過し、合焦レンズ31を経由し、ミラー32により反射される。更に、この眼底反射光は、ハーフミラー33Aを透過し、ダイクロイックミラー33により反射され、集光レンズ34によりCCDイメージセンサ35の受光面に結像される。CCDイメージセンサ35は、例えば所定のフレームレートで眼底反射光を検出する。表示装置3には、CCDイメージセンサ35により検出された眼底反射光に基づく画像(観察画像)が表示される。なお、撮影光学系30のピントが前眼部に合わせられている場合、被検眼Eの前眼部の観察画像が表示される。
撮影光源15は、例えばキセノンランプまたはLEDにより構成される。撮影光源15から出力された光(撮影照明光)は、観察照明光と同様の経路を通って眼底Efに照射される。撮影照明光の眼底反射光は、観察照明光のそれと同様の経路を通ってダイクロイックミラー33まで導かれ、ダイクロイックミラー33を透過し、ミラー36により反射され、集光レンズ37によりCCDイメージセンサ38の受光面に結像される。表示装置3には、CCDイメージセンサ38により検出された眼底反射光に基づく画像(撮影画像)が表示される。なお、観察画像を表示する表示装置3と撮影画像を表示する表示装置3は、同一のものであってもよいし、異なるものであってもよい。また、被検眼Eを赤外光で照明して同様の撮影を行う場合には、赤外の撮影画像が表示される。また、撮影光源としてLEDを用いることも可能である。
LCD(Liquid Crystal Display)39は、固視標や視力測定用指標を表示する。固視標は被検眼Eを固視させるための指標であり、眼底撮影時やOCT計測時などに使用される。
LCD39から出力された光は、その一部がハーフミラー33Aにて反射され、ミラー32に反射され、合焦レンズ31及びダイクロイックミラー55を経由し、孔開きミラー21の孔部を通過し、ダイクロイックミラー46を透過し、対物レンズ22により屈折されて眼底Efに投影される。LCD39の画面上における固視標の表示位置を変更することにより、被検眼Eの固視位置を変更できる。
更に、眼底カメラユニット2には、従来の眼底カメラと同様にアライメント光学系50とフォーカス光学系60が設けられている。アライメント光学系50は、被検眼Eに対する装置光学系の位置合わせ(アライメント)を行うための指標(アライメント指標)を生成する。フォーカス光学系60は、被検眼Eに対してフォーカス(ピント)を合わせるための指標(スプリット指標)を生成する。
アライメント光学系50のLED51から出力された光(アライメント光)は、絞り52、53及びリレーレンズ54を経由してダイクロイックミラー55により反射され、孔開きミラー21の孔部を通過し、ダイクロイックミラー46を透過し、対物レンズ22により被検眼Eの角膜に投影される。
アライメント光の角膜反射光は、対物レンズ22、ダイクロイックミラー46及び上記孔部を経由し、その一部がダイクロイックミラー55を透過し、合焦レンズ31を通過し、ミラー32により反射され、ハーフミラー33Aを透過し、ダイクロイックミラー33に反射され、集光レンズ34によりCCDイメージセンサ35の受光面に投影される。CCDイメージセンサ35による受光像(アライメント指標)は、観察画像とともに表示装置3に表示される。ユーザは、従来の眼底カメラと同様の操作を行ってアライメントを実施する。また、演算制御ユニット200がアライメント指標の位置を解析して光学系を移動させることによりアライメントを行ってもよい(オートアライメント機能)。
フォーカス調整を行う際には、照明光学系10の光路上に反射棒67の反射面が斜設される。フォーカス光学系60のLED61から出力された光(フォーカス光)は、リレーレンズ62を通過し、スプリット指標板63により2つの光束に分離され、二孔絞り64を通過し、ミラー65に反射され、集光レンズ66により反射棒67の反射面に一旦結像されて反射される。更に、フォーカス光は、リレーレンズ20を経由し、孔開きミラー21に反射され、ダイクロイックミラー46を透過し、対物レンズ22により屈折されて眼底Efに投影される。
フォーカス光の眼底反射光は、アライメント光の角膜反射光と同様の経路を通ってCCDイメージセンサ35により検出される。CCDイメージセンサ35による受光像(スプリット指標)は、観察画像とともに表示装置3に表示される。演算制御ユニット200は、従来と同様に、スプリット指標の位置を解析して合焦レンズ31及びフォーカス光学系60を移動させてピント合わせを行う(オートフォーカス機能)。また、スプリット指標を視認しつつ手動でピント合わせを行ってもよい。
ダイクロイックミラー46は、眼底撮影用の光路からOCT用の光路を分岐させている。ダイクロイックミラー46は、OCTに用いられる波長帯の光を反射し、眼底撮影用の光を透過させる。このOCT用の光路には、OCTユニット100側から順に、コリメータレンズユニット40と、光路長変更部41と、光スキャナ42と、合焦レンズ43と、ミラー44と、リレーレンズ45とが設けられている。
光路長変更部41は、図1に示す矢印の方向に移動可能とされ、OCT用の光路の光路長を変更する。この光路長の変更は、被検眼Eの眼軸長に応じた光路長の補正や、干渉状態の調整などに利用される。光路長変更部41は、例えばコーナーキューブと、これを移動する機構とを含んで構成される。
光スキャナ42は、被検眼Eの瞳孔と光学的に共役な位置に配置されている。光スキャナ42は、OCT用の光路を通過する光(測定光LS)の進行方向を変更する。それにより、被検眼Eを測定光LSでスキャンすることができる。光スキャナ42は、例えば、測定光LSをx方向にスキャンするガルバノミラーと、y方向にスキャンするガルバノミラーと、これらを独立に駆動する機構とを含んで構成される。それにより、測定光LSをxy平面上の任意の方向にスキャンすることができる。
〔OCTユニット〕
OCTユニット100の構成の一例を図2に示す。OCTユニット100には、被検眼EのOCT画像を取得するための光学系が設けられている。この光学系は、従来のスウェプトソースタイプのOCT装置と同様の構成を有する。すなわち、この光学系は、波長掃引型(波長走査型)光源からの光を測定光と参照光とに分割し、被検眼Eからの測定光の戻り光と参照光路を経由した参照光とを干渉させて干渉光を生成し、この干渉光を検出する干渉光学系である。干渉光学系による干渉光の検出結果(検出信号)は、干渉光のスペクトルを示す信号であり、演算制御ユニット200に送られる。
光源ユニット101は、一般的なスウェプトソースタイプのOCT装置と同様に、出射光の波長を掃引(走査)可能な波長掃引型(波長走査型)光源を含んで構成される。波長掃引型光源は、共振器を含むレーザ光源を含んで構成される。光源ユニット101は、人眼では視認できない近赤外の波長帯において、出力波長を時間的に変化させる。
光源ユニット101から出力された光L0は、光ファイバ102により偏波コントローラ103に導かれてその偏光状態が調整される。偏波コントローラ103は、例えばループ状にされた光ファイバ102に対して外部から応力を与えることで、光ファイバ102内を導かれる光L0の偏光状態を調整する。
偏波コントローラ103により偏光状態が調整された光L0は、光ファイバ104によりファイバカプラ105に導かれて測定光LSと参照光LRとに分割される。
参照光LRは、光ファイバ110によりコリメータ111に導かれて平行光束となる。平行光束となった参照光LRは、光路長補正部材112及び分散補償部材113を経由し、コーナーキューブ114に導かれる。光路長補正部材112は、参照光LRの光路長(光学距離)と測定光LSの光路長とを合わせるための遅延手段として作用する。分散補償部材113は、参照光LRと測定光LSとの間の分散特性を合わせるための分散補償手段として作用する。
コーナーキューブ114は、コリメータ111により平行光束となった参照光LRの進行方向を逆方向に折り返す。コーナーキューブ114に入射する参照光LRの光路と、コーナーキューブ114から出射する参照光LRの光路とは平行である。また、コーナーキューブ114は、参照光LRの入射光路及び出射光路に沿う方向に移動可能とされている。この移動により参照光LRの光路の長さが変更される。
なお、図1及び図2に示す構成においては、測定光LSの光路(測定光路、測定アーム)の長さを変更するための光路長変更部41と、参照光LRの光路(参照光路、参照アーム)の長さを変更するためのコーナーキューブ114の双方が設けられているが、これらのうちのいずれか一方が設けられていてもよい。また、これら以外の光学部材を用いて、測定光路長と参照光路長との差を変更することも可能である。
コーナーキューブ114を経由した参照光LRは、分散補償部材113及び光路長補正部材112を経由し、コリメータ116によって平行光束から集束光束に変換されて光ファイバ117に入射し、偏波コントローラ118に導かれて参照光LRの偏光状態が調整される。
偏波コントローラ118は、例えば、偏波コントローラ103と同様の構成を有する。偏波コントローラ118により偏光状態が調整された参照光LRは、光ファイバ119によりアッテネータ120に導かれて、演算制御ユニット200の制御の下で光量が調整される。アッテネータ120により光量が調整された参照光LRは、光ファイバ121によりファイバカプラ122に導かれる。
一方、ファイバカプラ105により生成された測定光LSは、光ファイバ127により導かれ、コリメータレンズユニット40により平行光束とされる。平行光束にされた測定光LSは、光路長変更部41、光スキャナ42、合焦レンズ43、ミラー44、及びリレーレンズ45を経由してダイクロイックミラー46に到達する。そして、測定光LSは、ダイクロイックミラー46により反射され、対物レンズ22により屈折されて被検眼Eに照射される。測定光LSは、被検眼Eの様々な深さ位置において散乱(反射を含む)される。このような後方散乱光を含む測定光LSの戻り光は、往路と同じ経路を逆向きに進行してファイバカプラ105に導かれ、光ファイバ128を経由してファイバカプラ122に到達する。
ファイバカプラ122は、光ファイバ128を介して入射された測定光LSと、光ファイバ121を介して入射された参照光LRとを合成して(干渉させて)干渉光を生成する。ファイバカプラ122は、所定の分岐比(例えば1:1)で、測定光LSと参照光LRとの干渉光を分岐することにより、一対の干渉光LCを生成する。ファイバカプラ122から出射した一対の干渉光LCは、それぞれ光ファイバ123、124により検出器125に導かれる。
検出器125は、例えば一対の干渉光LCをそれぞれ検出する一対のフォトディテクタを有し、これらによる検出結果の差分を出力するバランスドフォトダイオード(Balanced Photo Diode)である。検出器125は、その検出結果(検出信号)をDAQ(Data Acquisition System)130に送る。DAQ130には、光源ユニット101からクロックKCが供給される。クロックKCは、光源ユニット101において、波長掃引型光源により所定の波長範囲内で掃引(走査)される各波長の出力タイミングに同期して生成される。光源ユニット101は、例えば、各出力波長の光L0を分岐することにより得られた2つの分岐光の一方を光学的に遅延させた後、これらの合成光を検出した結果に基づいてクロックKCを生成する。DAQ130は、クロックKCに基づき、検出器125の検出結果をサンプリングする。DAQ130は、サンプリングされた検出器125の検出結果を演算制御ユニット200に送る。演算制御ユニット200は、例えば一連の波長走査毎に(Aライン毎に)、検出器125により得られた検出結果に基づくスペクトル分布にフーリエ変換等を施すことにより、各Aラインにおける反射強度プロファイルを形成する。更に、演算制御ユニット200は、各Aラインの反射強度プロファイルを画像化することにより画像データを形成する。
〔演算制御ユニット〕
演算制御ユニット200の構成について説明する。演算制御ユニット200は、検出器125から入力される検出信号を解析して被検眼EのOCT画像を形成する。そのための演算処理は、従来のスウェプトソースタイプのOCT装置と同様である。
また、演算制御ユニット200は、眼底カメラユニット2、表示装置3及びOCTユニット100の各部を制御する。例えば演算制御ユニット200は、被検眼EのOCT画像を表示装置3に表示させる。
演算制御ユニット200は、例えば、プロセッサ、RAM(Random Access Memory)、ROM(Read Only Memory)、ハードディスクドライブ、通信インターフェイスなどを含む。また、演算制御ユニット200は、キーボードやマウス等の操作デバイス(入力デバイス)や、LCD等の表示デバイスを備えていてもよい。プロセッサは、例えば、CPU(Central Processing Unit)、GPU(Graphics Processing Unit)、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)、プログラマブル論理デバイス(例えば、SPLD(Simple Programmable Logic Device)、CPLD(Complex Programmable Logic Device)、FPGA(Field Programmable Gate Array))等の回路により実現される。ハードディスクドライブ等の記憶装置には、眼科撮影装置1を制御するためのコンピュータプログラムが記憶されている。演算制御ユニット200は、例えば、記憶回路や記憶装置に格納されているプログラムを読み出し実行することで、実施形態に係る機能を実現する。
〔制御系〕
眼科撮影装置1の制御系の構成について図3を参照しつつ説明する。なお、図3においては、眼科撮影装置1のいくつかの構成要素が省略されており、この実施形態を説明するために特に必要な構成要素が選択的に示されている。
(制御部)
眼科撮影装置1の制御系は、制御部210を中心に構成される。制御部210は、例えば、前述のプロセッサ、RAM、ROM、ハードディスクドライブ、通信インターフェイス等を含んで構成される。制御部210には、主制御部211と記憶部212が設けられている。
(主制御部)
主制御部211は前述の各種制御を行う。特に、図3に示すように、主制御部211は、眼底カメラユニット2の撮影合焦駆動部31A、CCDイメージセンサ35及び38、LCD39、光路長変更部41、光スキャナ42及びOCT合焦駆動部43Aなどを制御する。また、主制御部211は、OCTユニット100の光源ユニット101、参照駆動部114A、検出器125及びDAQ130などを制御する。
撮影合焦駆動部31Aは、合焦レンズ31を光軸方向に移動させる。それにより、撮影光学系30の合焦位置が変更される。なお、主制御部211は、図示しない光学系駆動部を制御して、眼底カメラユニット2に設けられた光学系を3次元的に移動させることができる。この制御は、アライメントやトラッキングにおいて用いられる。トラッキングとは、被検眼Eの運動に合わせて装置光学系を移動させるものである。トラッキングを行う場合には、事前にアライメントとピント合わせが実行される。トラッキングは、被検眼Eを動画撮影して得られる画像に基づき被検眼Eの位置や向きに合わせて装置光学系をリアルタイムで移動させることにより、アライメントとピントが合った好適な位置関係を維持する機能である。
OCT合焦駆動部43Aは、測定光路の光軸に沿って合焦レンズ43を移動させる。それにより、測定光LSの合焦位置が変更される。測定光LSの合焦位置は、測定光LSのビームウェストの深さ位置(z位置)に相当する。
参照駆動部114Aは、参照光路に設けられたコーナーキューブ114を移動させる。それにより、参照光路の長さが変更される。なお、前述したように、光路長変更部41と、コーナーキューブ114及び参照駆動部114Aとのいずれか一方のみが設けられた構成であってもよい。
主制御部211は、固視標座標系における所望の位置を指定してLCD39を制御することにより、LCD39の画面上における固視標の表示位置を変更する。固視標座標系は、LCD39の画面に対して定義された座標系に関連付けられた2次元の直交座標系(xy座標系)である。主制御部211は、対物レンズ22の光軸に対する固視標座標系の相対位置を変更することが可能である。
例えば、主制御部211は、所定の制御座標系(装置座標系)における所望の位置が固視標座標系の原点となるようにLCD39における固視標の表示位置を制御することにより、対物レンズ22の光軸に対する固視標座標系の相対位置を変更する。この場合、記憶部212には、固視標座標系の原点を制御座標系における初期位置(X0,Y0)に設定するための基準位置情報212Aがあらかじめ記憶されている。例えば、初期位置(X0,Y0)は、対物レンズ22の光軸上の位置である。また、記憶部212には、出荷工程やメンテナンス工程で行われた固視標座標系の原点位置の調整により得られた両軸方向のオフセット量(Δx0,Δy0)を含む調整情報212Bが事後的に保存される。主制御部211は、記憶部212から基準位置情報212A及び調整情報212Bを読み出し、当該制御座標系における新たな位置(X0+Δx0,Y0+Δy0)が固視標座標系の原点となるようにLCD39における固視標の表示位置を制御する。すなわち、主制御部211は、対物レンズ22の光軸から外れた位置を制御中心とする固視標座標系に変更してLCD39を制御することが可能である。
また、主制御部211は、スキャナ座標系における所望の位置を指定して光スキャナ42を制御することにより、測定光LSのスキャン位置やスキャン範囲を変更する。スキャナ座標系は、被検眼Eの測定部位に対して定義された座標系に関連付けられた2次元の直交座標系(xy座標系)である。主制御部211は、対物レンズ22の光軸に対するスキャナ座標系の相対位置を変更することが可能である。
例えば、主制御部211は、所定の制御座標系における所望の位置がスキャナ座標系の原点となるように被検眼Eに対するスキャン位置を制御することにより、対物レンズ22の光軸に対するスキャナ座標系の相対位置を変更する。この場合、記憶部212には、スキャナ座標系の原点を制御座標系における初期位置(X1,Y1)に設定するための基準位置情報212Aがあらかじめ記憶されている。例えば、初期位置(X1,Y1)は、対物レンズ22の光軸上の位置である(X0=X1、かつ、Y0=Y1)。また、記憶部212には、出荷工程やメンテナンス工程で行われたスキャナ座標系の原点位置の調整により得られた両軸方向のオフセット量(Δx1,Δy1)を含む調整情報212Bが事後的に保存される。主制御部211は、記憶部212から基準位置情報212A及び調整情報212Bを読み出し、当該制御座標系における新たな位置(X1+Δx1,Y1+Δy1)がスキャナ座標系の原点となるように被検眼Eに対するスキャン位置を制御する。すなわち、主制御部211は、対物レンズ22の光軸から外れた位置を制御中心として測定光LSを偏向するように光スキャナ42を制御することが可能である。
主制御部211は、前述のスキャナ座標系の相対位置の変更に連動して、対物レンズ22の光軸に対する固視標座標系の相対位置を変更することが可能である。例えば、調整情報212Bに含まれるオフセット量を同一(Δx0=Δx1、かつ、Δy0、Δy1)にして、主制御部211は、対物レンズ22の光軸に対する両座標系の相対位置を変更する。すなわち、主制御部211は、対物レンズ22の光軸Oからの光スキャナ42の制御中心の変位に応じて固視標座標系の位置を変更することが可能である。また、例えば、基準位置情報212Aに含まれる両座標系の初期位置を同一(X0=X1、かつ、Y0=Y1)にして、かつ、調整情報212Bに含まれるオフセット量を同一(Δx0=Δx1、かつ、Δy0、Δy1)にしてよい。それにより、主制御部211は、固視標座標系の原点とスキャナ座標系の原点とが一致した状態で、対物レンズ22の光軸に対する両座標系の相対位置を変更することが可能である。
或いは、主制御部211は、前述のスキャナ座標系の相対位置の変更とは独立に、対物レンズ22の光軸に対する固視標座標系の相対位置を変更してもよい。
(記憶部)
記憶部212は、各種のデータを記憶する。記憶部212に記憶されるデータとしては、前述の基準位置情報212A及び調整情報212Bの他に、例えば、OCT画像の画像データ、眼底像の画像データ、被検眼情報などがある。被検眼情報は、患者IDや氏名などの被検者に関する情報や、左眼/右眼の識別情報などの被検眼に関する情報を含む。また、記憶部212には、眼科撮影装置1を動作させるための各種プログラムやデータが記憶されている。
(画像形成部)
画像形成部220は、検出器125(DAQ130)からの検出信号に基づいて、眼底Efの断面像の画像データを形成する。すなわち、画像形成部220は、干渉光学系による干渉光LCの検出結果に基づいて被検眼Eの画像データを形成する。この処理には、従来のスウェプトソースタイプのOCTと同様に、フィルタ処理、FFT(Fast Fourier Transform)などの処理が含まれている。このようにして取得される画像データは、複数のAライン(被検眼E内における各測定光LSの経路)における反射強度プロファイルを画像化することにより形成された一群の画像データを含むデータセットである。
画質を向上させるために、同じパターンでのスキャンを複数回繰り返して収集された複数のデータセットを重ね合わせる(加算平均する)ことができる。
画像形成部220は、例えば、前述の回路基板を含んで構成される。なお、この明細書では、「画像データ」と、それに基づく「画像」とを同一視することがある。また、被検眼Eの部位とその画像とを同一視することもある。
(データ処理部)
データ処理部230は、画像形成部220により形成されたOCT画像に対して各種のデータ処理(画像処理)や解析処理を施す。例えば、データ処理部230は、画像の輝度補正や分散補正等の補正処理を実行する。また、データ処理部230は、眼底カメラユニット2により得られた画像(眼底像、前眼部像等)に対して各種の画像処理や解析処理を施す。
データ処理部230は、断面像の間の画素を補間する補間処理などの公知の画像処理を実行することにより、被検眼Eのボリュームデータ(ボクセルデータ)を形成することができる。ボリュームデータに基づく画像を表示させる場合、データ処理部230は、このボリュームデータに対してレンダリング処理を施して、特定の視線方向から見たときの擬似的な3次元画像を形成する。
データ処理部230は、眼底像とOCT画像との位置合わせを行うことができる。眼底像とOCT画像とが並行して取得される場合には、双方の光学系が同軸であることから、(ほぼ)同時に取得された眼底像とOCT画像とを、撮影光学系30の光軸を基準として位置合わせすることができる。また、眼底像とOCT画像との取得タイミングに関わらず、OCT画像のうち眼底Efの相当する画像領域の少なくとも一部をxy平面に投影して得られる正面画像と、眼底像との位置合わせをすることにより、そのOCT画像とその眼底像とを位置合わせすることも可能である。この位置合わせ手法は、眼底像取得用の光学系とOCT用の光学系とが同軸でない場合においても適用可能である。また、双方の光学系が同軸でない場合であっても、双方の光学系の相対的な位置関係が既知であれば、この相対位置関係を参照して同軸の場合と同様の位置合わせを実行することが可能である。
以上のように機能するデータ処理部230は、例えば、プロセッサ、RAM、ROM、ハードディスクドライブ、回路基板等を含んで構成される。ハードディスクドライブ等の記憶装置には、上記機能をプロセッサに実行させるコンピュータプログラムがあらかじめ格納されている。
(ユーザインターフェイス)
ユーザインターフェイス240には、表示部241と操作部242とが含まれる。表示部241は、前述した演算制御ユニット200の表示デバイスや表示装置3を含んで構成される。操作部242は、前述した演算制御ユニット200の操作デバイスを含んで構成される。操作部242には、眼科撮影装置1の筐体や外部に設けられた各種のボタンやキーが含まれていてもよい。また、表示部241は、眼底カメラユニット2の筺体に設けられたタッチパネルなどの各種表示デバイスを含んでいてもよい。
なお、表示部241と操作部242は、それぞれ個別のデバイスとして構成される必要はない。例えばタッチパネルのように、表示機能と操作機能とが一体化されたデバイスを用いることも可能である。その場合、操作部242は、このタッチパネルとコンピュータプログラムとを含んで構成される。操作部242に対する操作内容は、電気信号として制御部210に入力される。また、表示部241に表示されたグラフィカルユーザインターフェイス(GUI)と、操作部242とを用いて、操作や情報入力を行うようにしてもよい。
OCTユニット100、コリメータレンズユニット40、光路長変更部41、光スキャナ42、合焦レンズ43、ミラー44、及びリレーレンズ45は、この実施形態に係る「干渉光学系」の一例である。LCD39、ハーフミラー33A、ミラー32、合焦レンズ31、ダイクロイックミラー55、孔開きミラー21、及びダイクロイックミラー46は、この実施形態に係る「固視標投影系」の一例である。LCD39は、この実施形態に係る「発光位置を変更可能な発光部」の一例である。基準位置情報212Aは、この実施形態に係る「発光位置情報」の一例である。
[動作例]
眼科撮影装置1の動作について説明する。
図4A及び図4Bに、実施形態の比較例の説明図を示す。図4Aは、比較例における固視標座標系及びスキャナ座標系の説明図を表す。図4Bは、比較例における眼科撮影装置により得られたOCT画像を模式的に表す。
図4Aに示すように、スキャナ座標系SCの原点が対物レンズ22の光軸Oに一致するように設けられている。このような位置調整は、設計段階や、出荷工程やメンテナンス工程で行われる。それにより、比較例に係る眼科撮影装置では、被検眼Eの注目部位が光軸Oの位置に配置されるようにアライメントが行われ、光軸Oを含むスキャンによる撮影頻度が高くなる。
ところが、光軸Oを含むスキャンにより取得されたOCT画像IMG1では、図4Bに示すように、対物レンズ22のレンズ面の頂点からの反射光がアーチファクトN1として現れる場合がある。例えば、図4Bに示すように中心窩CFを注目部位とする断層画像を観察する目的で撮影したにもかかわらず、注目部位付近にアーチファクトN1が現れてしまい、画像中の注目部位付近の観察が難しくなる。この現象は、コヒーレンス長が長くなるほど、眼科撮影装置が有する光学系からの反射に起因したアーチファクトがOCT画像に現れやすくなる。
そこで、実施形態では、対物レンズ22の光軸Oから外れた位置を光スキャナ42の制御中心としてOCTが実行される。
図5に、実施形態における固視標座標系及びスキャナ座標系の説明図を表す。図5において、図4Aと同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
図5に示すように、実施形態では、対物レンズ22の光軸Oから外れた位置がスキャナ座標系SCの原点となるように光スキャナ42が制御される。それにより、注目部位付近にアーチファクトが現れないOCT画像を取得することが可能になる。特に、撮影頻度が高いOCT画像(光軸Oを含むスキャンにより取得されたOCT画像)において、注目部位付近の詳細な観察が可能になる。
また、実施形態では、スキャナ座標系SCの原点が固視標座標系FCの原点となるようにLCD39が制御される。それにより、LCD39により固視標の表示位置を変更して被検眼Eの固視位置を誘導することで、頻度が高い中心窩を含むスキャンによるアーチファクトフリーの画像の取得が可能になる。
この実施形態では、主制御部211が、前述の基準位置情報212A及び調整情報212Bを用いることにより、制御座標系における任意の位置を制御中心として、LCD39又は光スキャナ42を制御する。それにより、対物レンズ22の反射光に起因したアーチファクトだけではなく、光学系の状態に応じて発生するコヒーレンスリバイバル現象に起因したアーチファクトの除去も可能になる。なお、スキャナ座標系SCの原点及び固視標座標系FCの原点は、設計段階で、対物レンズ22の光軸Oから外れた位置に設けられるように調整されてもよい。
以下では、基準位置情報212Aに含まれる両座標系の初期位置及びオフセット量が同一であるものとする。すなわち、主制御部211は、固視標座標系の原点とスキャナ座標系の原点とが一致した状態で、対物レンズ22の光軸Oに対して、同一方向に同一オフセット量だけ固視標座標系FCの原点の位置及びスキャナ座標系SCの原点の位置を変更するものとする。
図6に、眼科撮影装置1の動作例のフロー図を示す。この動作例には、画像に基づく被検眼Eと装置光学系との位置合わせの処理と、画像に基づくスキャン領域の設定処理とが含まれる。位置合わせの処理には、OCT計測のためのアライメント(オートアライメント)、ピント合わせ(オートフォーカス)、トラッキング(オートトラッキング)が含まれる。
(S1)
まず、固視標座標系の原点及びスキャナ座標系の原点が対物レンズ22の光軸Oから外れた位置となるように、座標系の調整が行われる。S1では、調整情報212Bの決定と決定された調整情報212Bの記憶部212への保存が行われる。
例えば、主制御部211は、基準位置情報212Aに基づいて特定された位置がスキャナ座標系の原点となるように光スキャナ42を制御し、所定のスキャン範囲について眼底Efをスキャンする。画像形成部220は、検出器150により得られた検出信号をサンプリングすることにより得られた収集データに基づいて、OCT画像を形成する。形成されたOCT画像は表示部241に表示される。ユーザは、表示部241に表示されたOCT画像を観察しながら操作部242を用いてオフセット量(Δx,Δy)を設定することで、スキャナ座標系の原点の位置が変更される。次に、スキャナ座標系の原点の位置が変更された状態で次のOCT画像を取得し、取得されたOCT画像を表示部241に表示させ、これを繰り返し行う。その結果、ユーザは、適正と判断するオフセット量を決定することができる。決定されたオフセット量は、調整情報212Bとして記憶部212に保存される。
或いは、例えば、データ処理部230が、オフセット量を所定のステップで増減しつつ、取得されたOCT画像又は干渉光に基づく干渉信号を解析することによりアーチファクトの有無を判別することで、適正と判断されるオフセット量を決定してもよい。
S1において、オフセット量は、次のように決定されることが望ましい。
図7は、実施形態に係るオフセット量の説明図である。図7は、被検眼Eのプロジェクション画像を模式的に表す。プロジェクション画像IMG2には、アーチファクトAFが描出されている。アーチファクトAFの半径をrとすると、オフセット量Δx、Δyは、半径rより大きいことが望ましい(Δx>r、かつ、Δy>r)。すなわち、対物レンズ22の光軸Oに対する光スキャナ42の制御中心の変位量は、光スキャナ42による測定光LSの偏向方向におけるアーチファクトのサイズに基づいて設定される。図7では、スキャンラインG1において取得された断層画像中にはアーチファクトAFが現れるが、y方向にd(d>r)だけシフトさせたスキャンラインG1´において取得された断層画像中にはアーチファクトAFが現れなくなる。
(S2)
次に、観察光源11からの照明光(可視カットフィルタ14により近赤外光となる)で眼底Efを連続照明することにより、眼底Efの近赤外動画像の取得を開始する。この近赤外動画像は、連続照明が終了するまでリアルタイムで得られる。この動画像を構成する各フレームの画像は、フレームメモリ(記憶部212)に一時記憶され、データ処理部230に逐次送られる。
なお、被検眼Eには、アライメント光学系50によるアライメント指標と、フォーカス光学系60によるスプリット指標とが投影されている。よって、近赤外動画像にはアライメント指標とスプリット指標とが描出されている。これら指標を用いてアライメントやピント合わせを行うことができる。また、被検眼Eには、LCD39による固視標も投影されている。被検者は、この固視標を凝視するように指示を受ける。
(S3)
データ処理部230は、光学系によって被検眼Eを動画撮影することにより得られるフレームを逐次に解析して、アライメント視標の位置を求め、光学系の移動量を算出する。制御部210は、データ処理部230により算出された光学系の移動量に基づいて図示しない光学系駆動部を制御することにより、オートアライメントを行う。
(S4)
データ処理部230は、光学系によって被検眼Eを動画撮影することにより得られるフレームを逐次に解析して、スプリット視標の位置を求め、合焦レンズ31の移動量を算出する。制御部210は、データ処理部230により算出された合焦レンズ31の移動量に基づいて撮影合焦駆動部31Aを制御することにより、オートフォーカスを行う。
(S5)
続いて、制御部210は、オートトラッキングを開始する。具体的には、データ処理部230は、光学系によって被検眼Eを動画撮影することにより逐次に得られるフレームをリアルタイムで解析して、被検眼Eの動き(位置の変化)を監視する。制御部210は、逐次に取得される被検眼Eの位置に合わせて光学系を移動させるように図示しない光学系駆動部を制御する。それにより、被検眼Eの動きに対して光学系をリアルタイムで追従させることができ、アライメントとピントが合った好適な位置関係を維持することが可能となる。
(S6)
制御部210は、近赤外動画像を表示部241にリアルタイムで表示させる。ユーザは、操作部242を用いることにより、この近赤外動画像上にスキャン領域を設定する。設定されるスキャン領域は1次元領域でも2次元領域でもよい。
なお、測定光LSのスキャン態様や注目部位(視神経乳頭、黄斑部、病変部等)があらかじめ設定されている場合などには、これら設定内容に基づいて制御部210がスキャン領域を設定するように構成することも可能である。具体的には、データ処理部230による画像解析により注目部位を特定し、制御部210が、この注目部位を含むように(例えば、この注目部位が中心に位置するように)所定パターンの領域を設定する。
(S7)
制御部210は、光源ユニット101や光路長変更部41を制御するとともに、S5で設定されたスキャン領域に基づいて光スキャナ42を制御することにより、眼底EfのOCT計測を行う。
画像形成部220は、上記のようにクロックKCに基づいて、検出器150により得られた検出信号をサンプリングすることにより得られた収集データに基づいて、当該Aラインの断層像(画像)を形成する。走査態様が3次元スキャンである場合、データ処理部230は、画像形成部220により形成された複数の断層像に基づいて眼底Efの3次元画像を形成する。以上で、この動作例は終了となる(エンド)。
[変形例]
(第1変形例)
前述の実施形態では、対物レンズ22の光軸Oから外れた位置に固視標座標系FCの原点及びスキャナ座標系SCの原点を変更する場合について説明したが、実施形態に係る眼科撮影装置の構成はこれに限定されるものではない。例えば、対物レンズ22の光軸Oから外れた位置にスキャナ座標系SCの原点だけを変更してもよい。
図8に、実施形態の第1変形例における固視標座標系及びスキャナ座標系の説明図を表す。図8において、図5と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
図8に示すように、第1変形例では、対物レンズ22の光軸O上の位置が固視標座標系FCの原点となるようにLCD39が制御され、光軸Oから外れた位置がスキャナ座標系SCの原点となるように光スキャナ42が制御される。第1変形例によれば、前述の実施形態と同様に、注目部位付近にアーチファクトが現れないOCT画像を取得することが可能になる。
(第2変形例)
図9に、実施形態の第2変形例における眼科撮影装置の構成の要部を示す。図9では、図1の被検眼Eと対物レンズ22との間のみが図示されている。
第2変形例に係る眼科撮影装置は、対物レンズ22と被検眼Eとの間に配置可能な前置レンズ23を含む。前置レンズ23は、手動または自動で対物レンズ22と被検眼Eとの間に配置可能である。対物レンズ22と被検眼Eとの間に前置レンズ23が配置された場合、座標系に対する制御に関して前述の実施形態における「対物レンズ」を「前置レンズ」に置き換えて本発明を適用することが可能である。例えば、対物レンズ22と被検眼Eとの間に前置レンズ23が配置された場合、主制御部は、前置レンズ23の光軸から外れた位置を中心として測定光を偏向するように光スキャナ42を制御することが可能である。同様に、主制御部は、前置レンズ23の光軸から外れた位置が固視標座標系の原点となるようにLCD39を制御することが可能である。
[効果]
この実施形態に係る眼科撮影装置の効果について説明する。
実施形態に係る眼科撮影装置(眼科撮影装置1)は、対物レンズ(対物レンズ22)と、干渉光学系(OCTユニット100からリレーレンズ45までの光学系)と、光スキャナ(光スキャナ42)と、制御部(制御部210、主制御部211)と、画像形成部(画像形成部220)とを含む。干渉光学系は、光源(光源ユニット101)からの光(光L0)を測定光(測定光LS)と参照光(参照光LR)とに分割し、測定光を対物レンズを介して被検眼(被検眼E)に入射させ、被検眼から出射し対物レンズを通過した測定光の戻り光と参照光との干渉光(干渉光LC)を検出する。光スキャナは、測定光を偏向する。制御部は、対物レンズの光軸(光軸O)から外れた位置を中心として測定光を偏向するように光スキャナを制御する。画像形成部は、干渉光学系による干渉光の検出結果に基づいて被検眼の画像を形成する。
このような構成によれば、注目部位付近にアーチファクトが現れない被検眼の画像を取得することが可能になる。特に、対物レンズの光軸を含むような撮影頻度が高い画像において、注目部位付近の詳細な観察が可能になる。また、対物レンズの反射光に起因したアーチファクトだけではなく、光学系の状態に応じて発生するコヒーレンスリバイバル現象に起因したアーチファクトの除去も可能になる。
また、実施形態に係る眼科撮影装置は、被検眼の眼底(眼底Ef)に固視標を投影する固視標投影系(LCD39からダイクロイックミラー46までの光学系)を含み、制御部は、光スキャナの制御とともに固視標投影系の制御を行ってもよい。
このような構成によれば、被検眼の固視位置を移動させることにより、対物レンズの反射光に起因したアーチファクトの出現位置から離れた位置で、注目部位付近の詳細な観察が可能になる。
また、実施形態に係る眼科撮影装置では、固視標投影系は、発光位置を変更可能な発光部(LCD39)を含み、発光部からの光を被検眼の眼底に投影し、発光部による発光位置を表す発光位置情報(基準位置情報212A)をあらかじめ記憶する記憶部(記憶部212)を含み、制御部は、発光位置情報を変更して固視標投影系の制御を行ってもよい。
このような構成によれば、簡素な構成及び制御で、光スキャナの制御に応じた固視標の表示位置の変更が可能になる。
また、実施形態に係る眼科撮影装置では、制御部は、対物レンズの光軸からの光スキャナの制御中心の変位に応じて発光位置情報を変更してもよい。
このような構成によれば、固視標の表示位置を変更して被検眼の固視位置を誘導することで、頻度が高い中心窩を含むスキャンによるアーチファクトフリーの画像の取得が可能になる。
また、実施形態に係る眼科撮影装置では、対物レンズの光軸に対する光スキャナの制御中心の変位量(Δx又はΔy)は、光スキャナによる測定光の偏向方向におけるアーチファクトのサイズ(半径r)に基づいて設定されてもよい。
このような構成によれば、高い確度でアーチファクトが描出されない画像の取得が可能になる。
また、実施形態に係る眼科撮影装置は、対物レンズと被検眼との間に配置可能な前置レンズを含み、対物レンズと被検眼との間に前置レンズが配置されているとき、制御部は、前置レンズの光軸から外れた位置を中心として測定光を偏向するように光スキャナを制御してもよい。
このような構成によれば、前置レンズの光軸を含むような撮影頻度が高い画像において、注目部位付近の詳細な観察が可能になる。また、前置レンズの反射光に起因したアーチファクトだけではなく、光学系の状態に応じて発生するコヒーレンスリバイバル現象に起因したアーチファクトの除去も可能になる。
以上に説明した構成は、この発明を好適に実施するための一例に過ぎない。よって、この発明の要旨の範囲内における任意の変形(省略、置換、付加等)を適宜に施すことが可能である。適用される構成は、例えば目的に応じて選択される。また、適用される構成に応じ、当業者にとって自明の作用効果や、本明細書において説明された作用効果が得られる。
1 眼科撮影装置
2 眼底カメラユニット
22 対物レンズ
23 前置レンズ
42 光スキャナ
100 OCTユニット
200 演算制御ユニット
210 制御部
211 主制御部
212 記憶部
220 画像形成部
230 データ処理部
E 被検眼

Claims (4)

  1. 対物レンズと、
    光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光を前記対物レンズを介して被検眼に入射させ、前記被検眼から出射し前記対物レンズを通過した前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系と、
    前記測定光を偏向する光スキャナと、
    前記被検眼の眼底に固視標を投影する固視標投影系と、
    第1座標系において前記光スキャナを制御することにより前記測定光のスキャン位置を制御すると共に、第2座標系において前記固視標投影系を制御することにより前記固視標の位置を制御する制御部と、
    を含み、
    前記制御部は、前記対物レンズの光軸に対する前記第1座標系の相対位置及び前記光軸に対する前記第2座標系の相対位置の少なくとも一方を変更する、眼科撮影装置。
  2. 前記制御部は、第3座標系における所定の位置が基準となるように前記スキャン位置を制御することにより前記光軸に対する前記第1座標系の相対位置を変更する
    ことを特徴とする請求項1に記載の眼科撮影装置。
  3. 前記制御部は、第3座標系における所定の位置が基準となるように前記固視標の位置を制御することにより前記光軸に対する前記第2座標系の相対位置を変更する
    ことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の眼科撮影装置。
  4. 前記制御部は、前記光スキャナによる前記測定光の偏向方向におけるアーチファクトのサイズに基づいて、前記光軸に対する前記第1座標系の相対位置及び前記光軸に対する前記第2座標系の相対位置の少なくとも一方を変更する
    ことを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の眼科撮影装置。

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