JP2019159024A - 空間光変調器、光変調装置、及び空間光変調器の駆動方法 - Google Patents

空間光変調器、光変調装置、及び空間光変調器の駆動方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2019159024A
JP2019159024A JP2018043311A JP2018043311A JP2019159024A JP 2019159024 A JP2019159024 A JP 2019159024A JP 2018043311 A JP2018043311 A JP 2018043311A JP 2018043311 A JP2018043311 A JP 2018043311A JP 2019159024 A JP2019159024 A JP 2019159024A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
pixel group
phase
modulation
intensity
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2018043311A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6596527B2 (ja
Inventor
寛人 酒井
Hiroto Sakai
寛人 酒井
宅見 宗則
Munenori Takumi
宗則 宅見
田中 博
Hiroshi Tanaka
博 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hamamatsu Photonics KK
Original Assignee
Hamamatsu Photonics KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hamamatsu Photonics KK filed Critical Hamamatsu Photonics KK
Priority to JP2018043311A priority Critical patent/JP6596527B2/ja
Priority to PCT/JP2019/004462 priority patent/WO2019171874A1/ja
Priority to CN201980017917.3A priority patent/CN111819490B/zh
Priority to US16/977,397 priority patent/US11906821B2/en
Priority to DE112019001232.0T priority patent/DE112019001232T5/de
Publication of JP2019159024A publication Critical patent/JP2019159024A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6596527B2 publication Critical patent/JP6596527B2/ja
Priority to US18/367,614 priority patent/US20240004225A1/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/0121Operation of devices; Circuit arrangements, not otherwise provided for in this subclass
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/13306Circuit arrangements or driving methods for the control of single liquid crystal cells
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1335Structural association of cells with optical devices, e.g. polarisers or reflectors
    • G02F1/133553Reflecting elements
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/29Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the position or the direction of light beams, i.e. deflection
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03HHOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
    • G03H1/00Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
    • G03H1/22Processes or apparatus for obtaining an optical image from holograms
    • G03H1/2294Addressing the hologram to an active spatial light modulator
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2203/00Function characteristic
    • G02F2203/12Function characteristic spatial light modulator

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

【課題】変調後の光に生じるゆらぎを低減することができる空間光変調器、光変調装置、及び空間光変調器の駆動方法を提供する。【解決手段】SLM4Aは、変調部40Aおよび駆動回路41を備える。変調部40Aは、複数の画素40aを有し、周期的に時間変化する駆動信号の振幅に応じて入射光L1の位相若しくは強度を画素40a毎に変調する。駆動回路41は、駆動信号を変調部40Aに提供する。駆動回路41は、複数の画素40aのうち画素群401に提供する駆動信号V1(t)の位相と、複数の画素40aのうち画素群402に提供する駆動信号V2(t)の位相とを互いに反転させるように制御する。【選択図】図1

Description

本発明は、空間光変調器、光変調装置、及び空間光変調器の駆動方法に関する。
非特許文献1〜3には、空間光変調器を用いた光学装置が記載されている。そして、これらの文献には、空間光変調器から出力される変調光の強度に周期的な揺らぎが生じることが記載されており、その揺らぎを抑制する方法として、別の光変調素子を用いる方法、若しくは液晶の温度を低下させて液晶の粘性を増す方法が提案されている。
M. McGovern et al., "Single beam atom sorting machine", Laser Physics,Letter. Vol. 9, No. 1, pp. 78-84 (2012) Hyosub Kim et al., "In situ single-atom array synthesis usingdynamic holographic optical tweezers", Nature Communications, DOI: 10.1038 /ncomms13317 (2016) Rainer J. Beck et al., "Compensation for time fluctuations of phase modulationin a liquid-crystal-on-silicon display by process synchronization in lasermaterials processing", Applied Optics, Vol. 50, No. 18, 20 June 2011
近年、空間光変調器は、例えば微小物体を操作する光トラップ技術、光走査顕微鏡、レーザ加工といった様々な分野において利用されている。多くの場合、空間光変調器は、各画素に提供される電圧信号によって駆動される。この電圧信号には、周期的な時間変化が与えられることがある。例えば、液晶型の空間光変調器に対しては、液晶の相状態を長く保つために、周期的に時間変化する電圧信号(交流電圧)が提供される。しかしながら、このような電圧信号に起因して、空間光変調器から出力される変調後の光にゆらぎ(電圧信号の変化周期と同期した変動)が生じる。変調後の光にゆらぎが生じると、例えば光トラップ技術の場合にはトラップされた微小物体が微かに振動する。また、光走査顕微鏡においては得られる像の明るさが周期的に変動し、レーザ加工においては加工対象に照射される光の強度が周期的に変動してしまう。従って、変調後の光に生じるゆらぎを低減することが望まれる。
本発明は、このような問題点に鑑みてなされたものであり、変調後の光に生じるゆらぎを低減することができる空間光変調器、光変調装置、及び空間光変調器の駆動方法を提供することを目的とする。
上述した課題を解決するために、本発明の一実施形態による空間光変調器は、複数の画素を有し、周期的に時間変化する駆動信号の振幅に応じて入射光の位相若しくは強度を画素毎に変調する変調部と、駆動信号を変調部に提供する駆動回路と、を備える。駆動回路は、複数の画素のうち第1の画素群に提供する駆動信号の位相と、複数の画素のうち第2の画素群に提供する駆動信号の位相とを互いに反転させるように制御する。
本発明の一実施形態による空間光変調器の駆動方法は、複数の画素を有し、周期的に時間変化する駆動信号の振幅に応じて入射光の位相若しくは強度を画素毎に変調する変調部を備える空間光変調器を駆動する方法であって、複数の画素のうち第1の画素群に提供する駆動信号の位相と、複数の画素のうち第2の画素群に提供する駆動信号の位相とを互いに反転させる。
これらの空間光変調器及び駆動方法においては、複数の画素のうち第1の画素群に提供する駆動信号の位相と、複数の画素のうち第2の画素群に提供する駆動信号の位相とが互いに反転するので、変調部から出力される変調後の光が集光される際、第1の画素群からの光のゆらぎと第2の画素群からの光のゆらぎとが互いに打ち消し合う。これにより、変調後の光に生じるゆらぎを低減することができる。なお、各画素の位相は駆動信号の振幅に応じて定まるので、駆動信号の位相の反転にかかわらず所望の位相パターンが得られる。
上記の空間光変調器及び駆動方法において、変調部は液晶層を含んでもよい。前述したように、変調部が液晶層を含む場合、液晶の相状態を長く保つために駆動信号を周期的に時間変化させることが望ましい。従って、上記の空間光変調器及び駆動方法が適している。
上記の空間光変調器において、駆動回路は、入射光の照射領域における第1の画素群の面積と第2の画素群の面積とが互いに等しくなるように制御してもよい。同様に、上記の駆動方法において、入射光の照射領域における第1の画素群の面積と第2の画素群の面積とは互いに等しくてもよい。これにより、第1の画素群からの光のゆらぎの大きさと第2の画素群からの光のゆらぎの大きさとがほぼ等しくなり、これらがより効果的に打ち消し合うので、変調後の光のゆらぎを更に低減することができる。
上記の空間光変調器において、駆動回路は、第1の画素群と第2の画素群との境界線を可変としてもよい。同様に、上記の駆動方法では、第1の画素群と第2の画素群との境界線を可変としてもよい。これにより、入射光の照射領域の位置に応じて境界線を移動させ、第1の画素群からの光のゆらぎの大きさと、第2の画素群からの光のゆらぎの大きさとを互いに近づけることができる。従って、これらのゆらぎをより効果的に打ち消し合わせて、変調後の光のゆらぎを更に低減することができる。
本発明の一実施形態による光変調装置は、上記の空間光変調器と、変調後の光の強度を検出する光検出器と、を備える。駆動回路は、光検出器から提供される光強度の周期的な変動に基づいて、第1の画素群と第2の画素群との境界線の位置を定める。同様に、上記の駆動方法において、変調後の光の強度を検出し、該光強度の周期的な変動に基づいて、第1の画素群と第2の画素群との境界線の位置を定めてもよい。これにより、入射光の照射領域の位置に応じて境界線を自動的に移動させ、第1の画素群からの光のゆらぎの大きさと、第2の画素群からの光のゆらぎの大きさとを容易に近づけることができる。
本発明の一実施形態による光変調装置は、上記の空間光変調器と、入射光を変調部に提供する光源と、変調部から出力された変調後の光を集光する集光光学系と、を備える。これにより、変調後の光に生じるゆらぎを低減可能な光変調装置を提供できる。
この光変調装置は、光源から出力された光を変調部へ導く導光光学系を更に備えてもよい。そして、導光光学系は、変調部における光の入射位置を可変としてもよい。同様に、上記の駆動方法において、光を変調部へ導く導光光学系を設け、導光光学系により変調部における光の入射位置を可変としてもよい。これにより、入射光の照射範囲における第1及び第2の画素群の面積割合が互いに近づくように光の入射位置を移動させ、第1の画素群からの光のゆらぎの大きさと、第2の画素群からの光のゆらぎの大きさとを互いに近づけることができる。従って、これらのゆらぎをより効果的に打ち消し合わせて、変調後の光のゆらぎを更に低減することができる。この場合、光変調装置は、変調後の光の強度を検出する光検出器と、導光光学系を制御する導光光学系制御部と、を更に備え、導光光学系制御部は、光検出器から提供される光強度の周期的な変動に基づいて、変調部における光の入射位置を定めてもよい。同様に、上記の駆動方法において、変調後の光の強度を検出し、該光強度の周期的な変動に基づいて、変調部における光の入射位置を定めてもよい。これにより、入射光の照射範囲における第1及び第2の画素群の面積割合に応じて光の入射位置を自動的に移動させ、第1の画素群からの光のゆらぎの大きさと、第2の画素群からの光のゆらぎの大きさとを容易に近づけることができる。
本発明による空間光変調器、光変調装置、及び空間光変調器の駆動方法によれば、変調後の光に生じるゆらぎを低減することができる。
一実施形態に係る光変調装置1Aの構成を概略的に示す図である。 SLM4Aの一例としてLCOS型のSLMを概略的に示す断面図であって、変調部40Aに入射する光Lの中心軸線AXに沿った断面を示している。 (a)駆動信号V(t)の時間波形の一例を概念的に示すグラフである。(b)駆動信号V(t)の時間波形の一例を概念的に示すグラフである。 変調部40Aの正面図であって、画素群401,402の輪郭を示している。 (a)駆動信号V(t),V(t)の位相が一致する場合の集光点Oにおける位相変調量の変化の一例を示す。(b)駆動信号V(t),V(t)の位相を相互に反転した場合の集光点Oにおける位相変調量の変化の一例を示す。 (a),(b)駆動信号V(t),V(t)の位相が一致する場合の集光点Oにおける位相変調量の変化の一例を示す。 (a),(b)駆動信号V(t),V(t)の位相を相互に反転した場合の集光点Oにおける位相変調量の変化の一例を示す。 照射領域Q内における画素群401,402の面積比がゆらぎの抑制にどの程度影響するかを確認するために、照射領域Qの中心Pと境界線Bとの距離を変化させつつゆらぎの大きさを計測した結果を示すグラフである。 SLM4A及び集光光学系6によって形成された4点のビームスポットLU,LD,RU,及びRDを示す図である。 (a)駆動信号V(t),V(t)の位相が互いに一致する場合のビームスポットLU,LD,RU,及びRDそれぞれの光強度I_Lu,I_Ld,I_Ru,及びI_Rdを示すグラフである。(b)(a)の部分A1を拡大して示すグラフである。 (a)駆動信号V(t),V(t)の位相を互いに反転した場合の光強度I_Lu,I_Ld,I_Ru,及びI_Rdを示すグラフである。(b)(a)の部分A2を拡大して示すグラフである。 図9に示された4点のビームスポットLU,LD,RU,及びRDを形成するための位相パターンを示す図であって、色の濃淡により位相値を表している。 画素群401,402における各位相パターンが互いに異なる場合を示す図である。 (a),(b)図13に示された位相パターンを回転させることにより、画素群401,402のそれぞれに含まれる位相パターンを変化させた様子を示している。 (a),(b)図13に示された位相パターンを回転させることにより、画素群401,402のそれぞれに含まれる位相パターンを変化させた様子を示している。 図14の(a)及び(b)、並びに図15の(a)及び(b)に示されたそれぞれの場合における位相変調量のゆらぎの大きさを示すグラフである。 (a)図15の(b)における画素群401の位相変調量のヒストグラムを示す。(b)図15の(b)における画素群402の位相変調量のヒストグラムを示す。 光Lの光強度の損失を評価した結果を示す図である。(a)は位相パターンを示し、(b)は(a)の位相パターンによって形成される4点のビームスポットを示し、(c)はそのうち1つのビームスポットを拡大して示す。 光Lの光強度の損失を評価した結果を示す図である。(a)は位相パターンを示し、(b)は(a)の位相パターンによって形成される4点のビームスポットを示し、(c)はそのうち1つのビームスポットを拡大して示す。 境界線Bと交差する別の境界線Bを設け、変調部40Aを4つの画素群403〜406に分割した場合を示す図である。 或る方向を長手方向とする複数の画素群407と、該方向を長手方向とする複数の画素群408とが、該方向と交差する方向に交互に並んだ場合を示す図である。 第2変形例に係る光変調装置1Bの構成を示す図である。 第3変形例に係る光変調装置1Cの構成を示す図である。 第4変形例に係る光変調装置1Dの構成を示す図である。 第5変形例に係る光変調装置1Eの構成を示す図である。
以下、添付図面を参照しながら本発明による空間光変調器、光変調装置、及び空間光変調器の駆動方法の実施の形態を詳細に説明する。なお、図面の説明において同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
図1は、一実施形態に係る光変調装置1Aの構成を概略的に示す図である。光変調装置1Aは、例えば光トラップ装置、レーザ加工装置、または顕微鏡装置などに組み込まれる。この光変調装置1Aは、光源2、導光光学系3、空間光変調器(Spatial Light Modulator;SLM)4、駆動回路5、及び集光光学系6を備えている。SLM4Aは、変調部40A及び駆動回路41を有する。
光源2は、コヒーレントな光LをSLM4Aの変調部40Aに提供するための光源であって、例えば半導体レーザ素子等のレーザ光源や、SLD(Super Luminescence Diode)等のインコヒーレント光源等によって構成される。光源2から出力される光Lは平行光である。図中の破線AXは、光源2から出力される光Lの中心軸線、すなわち進行方向と直交する断面における強度分布の中心を進行方向に結んだ線を表す。該強度分布は例えばガウス分布である。光Lは、空間を伝搬して導光光学系3に達する。
導光光学系3は、光源2から出力された光LをSLM4Aの変調部40Aへ導く。具体的には、光源2と光学的に結合されており、光源2から出力された光Lを受ける。導光光学系3は、テレセントリック光学系であって、一対のレンズ3a,3bを少なくとも有する。レンズ3a,3bは、光Lの中心軸線AXに沿った方向に並んで配置されている。レンズ3aは、光Lの光路上において光源2とレンズ3bとの間に位置する。レンズ3a,3bの光軸は、中心軸線AXに沿っており、好適には中心軸線AXと略平行である。レンズ3a,3bの光軸は互いに一致している。レンズ3aとレンズ3bとの距離は、レンズ3aの焦点距離とレンズ3bの焦点距離との和に等しい。従って、レンズ3aとレンズ3bとの間において光Lは一旦収束したのち発散し、レンズ3bから再び平行光として出力される。なお、レンズ3a,3bの焦点距離を互いに異ならせることによって、レンズ3bから出力される光Lのビーム径を、レンズ3aに入力される光Lのビーム径と異ならせてもよい。なお、図に示すように、レンズ3bの焦点距離をレンズ3aの焦点距離よりも長くすることによって、レンズ3bから出力される光Lのビーム径が、レンズ3aに入力される光Lのビーム径よりも大きくなるように、導光光学系3をビームエキスパンダとして機能させてもよい。
このような導光光学系3においては、レンズ3a,3bが光軸と交差する方向(図中の矢印D1)に沿って移動可能に構成され、レンズ3a,3bの光軸と中心軸線AXとの距離が変更可能とされている。レンズ3a,3bの光軸が中心軸線AXに対して中心軸線AXと交差する方向に或る距離だけずれると、レンズ3bから出力される光Lの中心軸線AXは、中心軸線AXに対して平行な状態を維持しつつ、該方向に同じ距離だけシフトする。すなわち、導光光学系3は、光Lの中心軸線をシフトさせる機能も有する。これにより、変調部40Aに対する光Lの入射角を維持しながら、光Lの入射位置を可変にできる。
変調部40Aは、導光光学系3と光学的に結合されており、導光光学系3から出力された平行光である光Lを受ける。変調部40Aは、光Lの光路上に設けられ、位相パターンを表示する。変調部40Aは、複数の画素40aを有し、駆動信号(本実施形態では駆動電圧)の大きさに応じて入射光Lの位相を画素40a毎に変調する。駆動回路41は、変調部40Aに所望の位相パターンを表示させるための駆動電圧を画素40a毎に生成する。所望の位相パターンは、図示しないコンピュータによって演算され、駆動回路41に送られる。駆動回路41は、コンピュータから位相パターンに関する信号を受けて、この信号に基づく駆動電圧を変調部40Aの複数の画素40aに与える。
本実施形態のSLM4Aは液晶型であり、例えば、LCOS−SLM(Liquid Crystal On Silicon Spatial Light Modulator)或いはLCD(LiquidCrystal Display)である。なお、図1には反射型のSLM4Aが示されているが、SLM4Aは透過型であってもよい。
図2は、SLM4Aの一例としてLCOS型のSLMを概略的に示す断面図であって、変調部40Aに入射する光Lの中心軸線AXに沿った断面を示している。このSLM4Aは、変調部40A及び駆動回路41に加えて、シリコン基板42及び透明基板49を有する。変調部40Aは、複数の画素電極43、液晶層44、透明電極45、配向膜46a及び46b、誘電体ミラー47、並びにスペーサ48を含む。
透明基板49は、光Lを透過する材料からなり、シリコン基板42の主面に沿って配置される。複数の画素電極43は、シリコン基板42の主面上において二次元格子状に配列され、変調部40Aの各画素40aを構成する。透明電極45は、複数の画素電極43と対向する透明基板49の面上に配置される。液晶層44は、複数の画素電極43と透明電極45との間に配置される。液晶層44は、例えばネマチック液晶といった液晶からなり、多数の液晶分子44aを含む。配向膜46aは液晶層44と透明電極45との間に配置され、配向膜46bは液晶層44と複数の画素電極43との間に配置される。誘電体ミラー47は配向膜46bと複数の画素電極43との間に配置される。誘電体ミラー47は、透明基板49から入射して液晶層44を透過した光Lを反射して、再び透明基板49から出射させる。
駆動回路41は、複数の画素電極43と透明電極45との間に印加される駆動電圧を制御する画素電極回路(アクティブマトリクス駆動回路)である。駆動回路41から何れかの画素電極43に駆動電圧が印加されると、該画素電極43と透明電極45との間に生じた電界の大きさに応じて、該画素電極43上に位置する液晶分子44aの向きが変化し、その結果、液晶層44の当該部分の屈折率が変化する。したがって、液晶層44の当該部分を透過する光Lの光路長が変化し、ひいては、当該部分を透過する光Lの位相が変化する。光Lは、位相変調の後、光Lとして透明基板49から変調部40Aの外部へ出射する。複数の画素電極43に様々な大きさの駆動電圧が印加されることによって、位相変調量の空間的な分布を電気的に書き込むことができ、必要に応じて様々な波面形状を光Lにおいて実現することができる。
再び図1を参照する。集光光学系6は、SLM4Aの変調部40Aと光学的に結合されており、変調部40Aから出力された変調後の光Lを受ける。変調部40Aから出力される光Lは平行光であり、集光光学系6は、この光Lを任意の位置に集光する。集光光学系6は、例えば集光レンズ61によって好適に構成される。集光レンズ61による集光点Oと集光レンズ61との距離は、集光レンズ61の焦点距離と等しい。あお、図1では集光点Oは光Lの中心軸線AX上に位置しているが、集光点Oは中心軸線AXから離れた位置にあってもよい。また、集光点Oは単一の位置に限らず、複数の位置に形成されてもよい。
ここで、本実施形態によるSLM4Aの駆動方法について説明する。駆動回路41は、変調部40Aの複数の画素40aのうち画素群401(第1の画素群)に駆動信号V(t)を提供し、画素群402(第2の画素群)に駆動信号V(t)を提供する。図3の(a)は、駆動信号V(t)の時間波形の一例を概念的に示すグラフである。図3の(b)は、駆動信号V(t)の時間波形の一例を概念的に示すグラフである。これらの図に示されるように、駆動回路41は、周期的に時間変化する駆動信号V(t)またはV(t)を各画素40aに提供する。駆動信号V(t),V(t)は矩形波であり、基準電位より大きい電圧Vaと、基準電位より小さい電圧Vbとの間で変動する。一例では、電圧Va=−Vbである。但し、Va,Vbの値は画素毎に独立して設定される。駆動信号の振幅(Va−Vb)は、各画素40aにおける変調位相の大きさに対応する。すなわち、振幅(Va−Vb)が小さいほど位相変調量が小さくなり、振幅(Va−Vb)が大きいほど位相変調量が大きくなる。駆動信号V(t),V(t)の周波数は互いに等しく、例えば120Hz〜2400Hzの範囲内であり、一実施例では480Hz(周期約2ms)である。このように、駆動信号V(t),V(t)を周期的に時間変化させることによって、液晶層44を構成する液晶を常に微動させ、液相から固相への相転移を防いで相状態を長く維持することができる。その結果、SLM4Aの寿命を伸ばすことができる。
また、図3の(a)及び(b)を対比すると、駆動信号V(t)の位相と、駆動信号V(t)の位相とが互いに反転している。言い換えると、駆動信号V(t)と駆動信号V(t)とは、180°の位相差を有する。すなわち、駆動信号V(t)の電圧Vbから電圧Vaへの立ち上がりと、駆動信号V(t)の電圧Vaから電圧Vbへの立ち下がりとが同期しており、駆動信号V(t)の電圧Vaから電圧Vbへの立ち下がりと、駆動信号V(t)の電圧Vbから電圧Vaへの立ち上がりとが同期している。従って、いずれのタイミングで見ても、駆動信号V(t)の電圧がVaであるときには駆動信号V(t)の電圧がVbであり、駆動信号V(t)の電圧がVbであるときには駆動信号V(t)の電圧がVaである。また、Va=−Vbの場合、いずれのタイミングで見ても、駆動信号V(t)と駆動信号V(t)とは基準電位を挟んで互いに反転している。
図4は、変調部40Aの正面図であって、画素群401,402の輪郭を示している。変調部40Aにおいて画素群401,402は相補的な画素領域であり、変調部40Aの複数の画素は、画素群401及び402の何れかに属する。図4に示される例では、画素群401,402はそれぞれ四角形状であり、直線状の境界線Bを挟んで変調部40Aを2つの領域に分割している。好ましくは、光Lの照射領域Q内における画素群401,402の各面積は互いに等しくされる。そのために、境界線Bが照射領域Qの中心Pを通るように(言い換えると、照射領域Qの中心Pが境界線B上に位置するように)、光Lの中心軸線AXの位置が導光光学系3によって調整される。この調整は、作業者により手動で行われてもよく、或いはアクチュエータにより自動的に行われてもよい。また、境界線Bが直線状ではない場合、照射領域Q内における画素群401,402の各面積を互いに等しくするために、照射領域Qの中心Pは境界線Bから離れてもよい。なお、一つの画素40a当たりの面積が変調部40A全体で均等である場合、画素群の面積は、当該画素群に含まれる画素の個数と同義である。
以上に説明した、本実施形態による光変調装置1A及びSLM4A、並びにSLM4Aの駆動方法によって得られる効果について、従来の課題と共に説明する。近年、SLMは、例えば微小物体を操作する光トラップ技術、光走査顕微鏡、レーザ加工といった様々な分野において利用されている。これらの分野においては、SLMからの出力光の安定した制御が重要である。本実施形態のように、SLMが電圧信号によって駆動される場合、この電圧信号には周期的な時間変化が与えられることがある。その場合、電圧信号の時間変化に起因して、各画素の変調量に時間的なゆらぎ(電圧信号の変化周期と同期した変動)が生じ、ひいてはSLMから出力される変調後の光の強度に時間的なゆらぎが生じる。本発明者の知見によれば、時間変化の周波数が小さいほど、そのゆらぎは大きくなる。近年のSLMにおいては画素数が益々増加しているが、1画素あたりの電荷蓄積時間を確保するために各撮像フレームのリフレッシュレートは画素数の増加とともに長くなる。リフレッシュレートは電圧信号の時間変化の周期と関係し、1フレームの位相パターンをSLMに書き込むためには通常1/2f(f:電圧信号の周波数)の時間を要する。故に、電圧信号の周波数が小さくなり、結果として上記のゆらぎが大きくなる。
変調後の光にゆらぎが生じると、例えば光トラップ技術の場合にはトラップされた微小物体が微かに振動する。また、光走査顕微鏡においては得られる像の明るさが周期的に変動し、レーザ加工においては加工対象に照射される光の強度が周期的に変動してしまう。従って、変調後の光に生じるゆらぎを低減することが望まれる。
変調後の光のゆらぎの大きさは、SLMの変調部の電圧特性に依存する。故に、画素単位で観察すると、ゆらぎの大きさは画素毎に異なる。しかしながら、ゆらぎの周期は全ての画素において一致する。従って、集光光学系を用いて複数の画素からの光のゆらぎを積算した場合であっても、ゆらぎの周期は変わらない。本発明者は、或る画素領域全体のゆらぎの時間位相に対して、別の画素領域全体のゆらぎの時間位相を半周期ずらすことにより、互いに打ち消しあうことができると考えた。
すなわち本実施形態では、複数の画素40aのうち画素群401を構成する各画素40aに提供する駆動信号V(t)の位相と、複数の画素40aのうち画素群402を構成する各画素40aに提供する駆動信号V(t)の位相とを互いに反転させている。このような構成によれば、変調部40Aから出力される変調後の光Lが集光点Oにおいて集光される際に、画素群401からの光Lのゆらぎと画素群402からの光Lのゆらぎとが互いに打ち消し合う。これにより、変調後の光Lに生じるゆらぎを低減できるので、集光点Oにおける光Lの場(位相並びに、振幅若しくは光強度)を安定化させることができる。なお、各画素40aの位相は駆動信号V(t),V(t)の振幅(Va−Vb)に応じて定まるので、駆動信号V(t),V(t)の位相の反転にかかわらず、変調部40Aにおいては所望の位相パターンが得られる。なお、駆動信号V(t),V(t)の位相が互いに反転しているか否かは、各画素40aに提供される駆動電圧の時間波形をプロービングし、オシロスコープ等を用いて観察することによって容易に判別できる。
本実施形態によるこのような作用効果を以下に詳細に説明する。まず、ゆらぎの大きさについて定式化を行う。ゆらぎの大きさは、液晶の粘性と駆動電圧の周波数とに主に依存し、駆動電圧の振幅V、駆動電圧の振幅の関数A(V)、駆動電圧の周波数f、及び時間tを用いて
A(V)sin(2πft)
と表すことができる。なお、液晶の粘性のため、駆動電圧の周波数を徐々に大きくすると、液晶は駆動電圧の変化に徐々に追随できなくなる。従って、関数A(V)は、周波数fが大きくなるほど小さくなる。
SLMによる位相変調量は、所望の位相パターンに基づく位相変調量Phs(V)を上記のゆらぎに加算することで求められる。すなわち、位相変調量は、
Phs(V)+A(V)sin(2πft)
となる。
SLMには画素毎に独立した駆動電圧が入力されるので、各画素の番号をk、画素数をNとして、上記の位相変調量を全画素について積算する(下記の数式(1))。なお、この積算は、光学的にはSLMからの変調後の光を集光することと同義である。

更に、N/2個の画素のみ駆動電圧の位相を反転させると、上記の数式(1)は下記の数式(2)に書き換えられる。このとき、位相変調量Phs(V)は駆動電圧の振幅Vのみに依存するので不変である。

数式(2)の第2項及び第3項は、sin(θ+π)=−sinθ(θ:任意の角度)なる関係を用いて以下の数式(3)のように書き換えられる。

数式(3)の第2項及び第3項は互いに相殺するので、最終的に、位相変調量の積算結果は下記となり、ゆらぎは完全にキャンセルされる。

以上の説明から明らかなように、画素群401に提供する駆動信号V(t)の位相と、画素群402に提供する駆動信号V(t)の位相とを互いに反転させることによって、変調後の光Lに生じるゆらぎを低減することができる。なお、以上の説明から、画素群401の画素数と画素群402の画素数とが互いに等しい場合にゆらぎを最も低減することができるが、これらが互いに異なる場合であっても、或る程度のゆらぎを低減することができる。
また、実際には、画素群401,402の画素数が互いに等しい場合であっても、表示される位相値が画素40a毎に異なるため、完全にゆらぎを相殺することはできない。しかしながら、本発明者の知見によれば、画素数が多いほど、画素群401における位相値の平均と、画素群402における位相値の平均とが互いに近づく。従って、実用上、十分にゆらぎを低減することが可能である。
図5は、本実施形態の効果を示すグラフであって、1波長分の位相変調量の時間波形の計測結果を示す。図5の(a)は、駆動信号V(t),V(t)の位相が一致する場合の集光点Oにおける位相変調量の変化の一例を示す。図5の(b)は、駆動信号V(t),V(t)の位相を相互に反転した場合の集光点Oにおける位相変調量の変化の一例を示す。なお、これらの図において、縦軸は位相変調量を光Lの波長λによって規格化した値(単位:λ)を示し、横軸は時間(単位:秒)を示す。図5の(a)に示されるように、駆動信号V(t),V(t)の位相が一致する場合には、位相変調量が目標値(規格化値1.0)の周辺で周期的に変動し、大きなゆらぎが生じている。なお、この変動周期は駆動信号V(t),V(t)の時間変化の周期と一致する。これに対し、図5の(b)を参照すると、駆動信号V(t),V(t)の位相を相互に反転した場合には、ゆらぎが小さく抑制されていることがわかる。なお、図5の(b)においてもゆらぎが完全に解消されないのは、上述したように画素40a毎の位相値のばらつきに因ると考えられる。しかしながら、ゆらぎの大きさを、図5の(a)と比較しておよそ20%〜25%にまで抑制できている。
また、図6及び図7は、本実施形態の効果を示す別のグラフである。図6の(a)及び(b)は、駆動信号V(t),V(t)の位相が一致する場合の集光点Oにおける位相変調量の変化の一例を示す。図7の(a)及び(b)は、駆動信号V(t),V(t)の位相を相互に反転した場合の集光点Oにおける位相変調量の変化の一例を示しており、それぞれ図6の(a)及び(b)に対応している。なお、これらの図において、縦軸は光強度(位相変調量をθとしたときに三角関数sinθで表現される値)を示し、横軸は時間(単位:秒)を示す。図6の(a)及び(b)に示されるように、駆動信号V(t),V(t)の位相が一致する場合には、光Lの振幅が目標値の周辺で周期的に変動し、大きなゆらぎが生じている。これに対し、図7の(a)及び(b)を参照すると、駆動信号V(t),V(t)の位相を相互に反転した場合には、ゆらぎが小さく抑制されることがわかる。
本発明者は、照射領域Q内における画素群401,402の面積比がゆらぎの抑制にどの程度影響するかを確認するために、照射領域Qの中心Pと境界線Bとの距離を変化させつつゆらぎの大きさを計測した。図8は、その結果を示すグラフである。図8において、グラフG11は、中心Pが境界線B上に位置する場合を示す。グラフG12,G13は、境界線Bに直交する方向に0.5mmだけ中心Pを移動させた場合を示す。但し、グラフG12,G13の移動の向きは互いに逆である。グラフG14は、グラフG12と同じ向きに1.0mmだけ中心Pを移動させた場合を示す。なお、グラフG15は、参考のため駆動信号V(t),V(t)の位相を互いに反転させない場合の計測結果を示す。図8において縦軸は位相変調量(単位:λ)を表し、横軸は時間(単位:秒)を表す。
図8から明らかなように、グラフG11〜G14とグラフG15とを比較すると、駆動信号V(t),V(t)の位相を互いに反転させることによって位相変調量のゆらぎが顕著に低減されていることがわかる。また、グラフG12とグラフG13とを比較すると、ゆらぎの時間波形の位相が互いに反転していることがわかる。このことから、境界線Bのどちら側に照射領域Qがずれているのかを、ゆらぎの位相に基づいて判定することができる。また、グラフG11〜14を相互に比較すると、照射領域Qの中心Pが境界線Bに近づくほど(すなわち画素群401,402の面積比が1:1に近づくほど)、ゆらぎが効果的に抑制されることがわかる。従って、ゆらぎの大きさを計測し、これが最小となるように照射領域Qを移動させることによって、画素群401,402の面積比を1:1に精度良く近づけることができる。
図9は、本実施形態の効果を確認するために、SLM4A及び集光光学系6によって形成された4点のビームスポットLU,LD,RU,及びRDを示す図である。同図では、光強度が色の濃淡で示されており、光強度が大きいほど淡く、光強度が小さいほど濃く示されている。図10の(a)は、駆動信号V(t),V(t)の位相が互いに一致する場合のビームスポットLU,LD,RU,及びRDそれぞれの光強度I_Lu,I_Ld,I_Ru,及びI_Rdを示すグラフである。図10の(b)は、図10の(a)の部分A1を拡大して示すグラフである。また、図11の(a)は、駆動信号V(t),V(t)の位相を互いに反転した場合の光強度I_Lu,I_Ld,I_Ru,及びI_Rdを示すグラフである。図11の(b)は、図11の(a)の部分A2を拡大して示すグラフである。なお、図10及び図11の(b)において、グラフG21は光強度I_Luを示し、グラフG22は光強度I_Ldを示し、グラフG23は光強度I_Ruを示し、グラフG24は光強度I_Rdを示す。また、図10及び図11において、縦軸は4点の光強度の平均値で規格化した光強度の大きさを表し、横軸は時間(単位:ミリ秒)を表す。
図10の(b)に示されるように、駆動信号V(t),V(t)の位相が互いに一致する場合には、ゆらぎの大きさ(変動の振幅)は光強度(規格化値1)の約2%であった。これに対し、駆動信号V(t),V(t)の位相を互いに反転した場合には、ゆらぎの大きさは光強度の約0.5%であった。このように、駆動信号V(t),V(t)の位相を互いに反転させることによって、ゆらぎの大きさを約1/4に低減することができた。また、4点の光強度I_Lu,I_Ld,I_Ru,及びI_Rdは互いにほぼ等しい位相でもってゆらいでおり、その周波数は駆動信号V(t),V(t)の周波数と一致した。
なお、この例のように光軸から離れた位置に集光点を形成する場合、N次回折光(Nは1次以上の整数)が該集光点の形成に寄与するが、その回折光強度の増減は、光軸上を進む0次の回折光強度に影響する。すなわち、集光点の光強度が増したときには0次回折光の強度が減少し、集光点の光強度が減じたときには0次回折光の強度が増大する。従って、本実施形態によれば、0次回折光及びN次回折光の双方のゆらぎを低減することができる。
ここで、本発明者は、画素群401により表示される位相パターンと、画素群402により表示される位相パターンとの相違とゆらぎの大きさとの関係について確認した。図12は、図9に示された4点のビームスポットLU,LD,RU,及びRDを形成するための位相パターンを示す図であって、色の濃淡により位相値を表している。図12に示される位相パターンのように、各画素群401,402における各位相パターンが互いにほぼ同一(或いは対称)である場合には、各画素群401,402において生じるゆらぎの大きさも同等となり、これらのゆらぎが効果的に打ち消し合う。これに対し、例えば図13に示されるように、画素群401,402における各位相パターンが互いに異なる(同一ではなく、対称でもない)場合も考えられる。
図14及び図15は、図13に示された位相パターンを回転させることにより、画素群401,402のそれぞれに含まれる位相パターンを変化させた様子を示している。図14の(a)では、画素群401,402のそれぞれに含まれる各位相パターンを、境界線Bに関して線対称としている。図14の(b)、図15の(a)及び(b)では、位相パターンの回転角度を徐々に増し、画素群401,402のそれぞれに含まれる各位相パターンの非対称の程度を次第に大きくしている。
図16は、図14の(a)及び(b)、並びに図15の(a)及び(b)に示されたそれぞれの場合における位相変調量のゆらぎの大きさを示すグラフである。図16において、グラフG31は図14の(a)の場合を示し、グラフG32は図14の(b)の場合を示し、グラフG33は図15の(a)の場合を示し、グラフG34は図15の(b)の場合を示す。また、縦軸は位相変調量(規格化値)を表し、横軸は時間を表す。図16のグラフG31〜G34を比較すると、画素群401,402のそれぞれに含まれる各位相パターンの非対称の程度にかかわらず、ゆらぎの大きさは互いに同等であることがわかる。この結果から、本実施形態によれば、画素群401,402に含まれる各位相パターンが互いに異なっていても、変調後の光に生じるゆらぎを効果的に低減できることが理解される。
図17の(a)は、図15の(b)における画素群401の位相変調量のヒストグラムを示す。また、図17の(b)は、図15の(b)における画素群402の位相変調量のヒストグラムを示す。図17の(a),(b)を比較すると、いずれにおいても0(rad)から2π(rad)までほぼ一様に位相が分布していることがわかる。従って、図17の(a),(b)に示されるヒストグラムそれぞれの平均値は、いずれもπ(rad)となる。位相変調量のゆらぎの大きさは位相値に比例するので、画素群401,402における位相変調量のゆらぎの大きさは互いに同程度であるといえる。このことからも、本実施形態によれば、画素群401,402に含まれる各位相パターンが互いに異なっていても、変調後の光に生じるゆらぎを効果的に低減できることが容易に理解される。
なお、本実施形態においては、画素群401,402の境界線Bにおいて位相が常に不連続となるので、その位相差に起因する回折損失が光Lの光強度の損失として現れる。図18及び図19は、位相差をπとしたときに光Lの光強度の損失をシミュレーションによって評価した結果を示す図である。図18及び図19の(a)は位相パターンを示し、(b)は(a)の位相パターンによって形成される4点のビームスポットを示し、(c)はそのうち1つのビームスポットを拡大して示す。図18は駆動信号V(t),V(t)の位相が互いに一致する場合を示し、図19は駆動信号V(t),V(t)の位相を互いに反転させた場合を示す。この評価において、図18の(c)に示されるビームスポットの光強度を1.0としたとき、図19の(c)に示されるビームスポットの光強度は0.93であった。すなわち、境界線Bにおける回折損失に起因して、光強度が7%低下している。ただし、図10、図11で実験的に評価した4点の平均光強度は0.5%程度の低下であったため、駆動信号V(t),V(t)の位相を互いに反転させることによる光強度の損失は、極めて小さいといえる。
本実施形態のように、変調部40Aは液晶層44を含んでもよい。変調部40Aが液晶層44を含む場合、液晶の相状態を長く保つために駆動信号を周期的に時間変化させることが望ましく、上述したゆらぎが生じ易い。従って、本実施形態の構成が適している。
また、本実施形態のように、入射光Lの照射領域における画素群401の面積と画素群402の面積とは互いに等しくてもよい。これにより、第1の画素群からの光のゆらぎの大きさと第2の画素群からの光のゆらぎの大きさとがほぼ等しくなり、これらがより効果的に打ち消し合うので、変調後の光のゆらぎを更に低減することができる。
また、本実施形態のように、光変調装置1Aは、光源2から出力された光Lを変調部40Aへ導く導光光学系3を備えてもよい。そして、導光光学系3は、変調部40Aにおける光Lの入射位置を可変としてもよい。これにより、光Lの照射範囲における画素群401,402の面積割合が互いに近づくように光Lの入射位置を移動させ、画素群401からの光Lのゆらぎの大きさと、画素群402からの光Lのゆらぎの大きさとを互いに近づけることができる。従って、これらのゆらぎをより効果的に打ち消し合わせて、変調後の光Lのゆらぎを更に低減することができる。
(第1変形例)
上記実施形態では変調部40Aを2つの画素群401,402に分割しているが、画素群の分割態様はこれに限られない。例えば、図20に示されるように、境界線Bと交差する別の境界線Bを設け、変調部40Aを4つの画素群403〜406に分割してもよい。そして、画素群403,405(共に第1の画素群)に提供する駆動信号V(t)の位相と、画素群404,406(共に第2の画素群)に提供する駆動信号V(t)の位相とを互いに反転させてもよい。このような形態であっても、変調後の光Lに生じるゆらぎを効果的に低減することができる。なお、好適には、照射領域Q内における画素群403,405の面積の和と、画素群404,406の面積の和とが互いに等しくなるように、境界線B,Bと照射領域Qの中心Pとの相対位置関係が設定されるとよい。
或いは、図21に示されるように、或る方向を長手方向とする複数の画素群407と、該方向を長手方向とする複数の画素群408とが、該方向と交差する方向に交互に並んでもよい。このような形態であっても、変調後の光Lに生じるゆらぎを効果的に低減することができる。また、この場合、照射領域Qの中心Pと境界線Bとの相対位置によらず、画素群407の面積の総和と、画素群408の面積の総和との比を1:1に近づけることができる。従って、変調部40Aに対する光Lの入射位置の調整を不要にできる。但し、境界線Bの長さの総和が、図4の境界線Bの長さ、及び図20の境界線B,Bの長さの和と比較して長くなるので、光強度の損失の観点からは図4若しくは図20の分割形態の方が好ましい。
(第2変形例)
図22は、上記実施形態の第2変形例に係る光変調装置1Bの構成を示す図である。本変形例の光変調装置1Bは、上記実施形態のSLM4A(図2を参照)に代えて、SLM4Bを備えている。SLM4Bは、透過型の変調部40Bと、駆動回路41とを有する。変調部40Bは、上記実施形態と同様の光源及び導光光学系と光学的に結合されており、導光光学系から出力された平行光である光Lを裏面に受ける。変調部40Bは、光Lの光路上に設けられ、位相パターンを表示する。変調部40Bは、複数の画素40aを有し、駆動信号の大きさに応じて入射光Lの位相を画素40a毎に変調する。駆動回路41は、変調部40Bに所望の位相パターンを表示させるための駆動電圧を画素40a毎に生成する。変調後の光Lは、変調部40Bの表(おもて)面から出力され、集光光学系6に達する。集光光学系6は、光Lを任意の位置に集光する。
駆動回路41は、変調部40Bの複数の画素40aのうち画素群401(第1の画素群)に駆動信号V(t)を提供し、画素群402(第2の画素群)に駆動信号V(t)を提供する。駆動信号V(t)及びV(t)の信号波形は、上記実施形態と同様である(図3を参照)。すなわち、本変形例においても、駆動信号V(t)の位相と、駆動信号V(t)の位相とは互いに反転している。
本実施形態のように、SLMは透過型であってもよい。このような場合であっても、上記実施形態と同様の効果を奏することができる。
(第3変形例)
図23は、上記実施形態の第3変形例に係る光変調装置1Cの構成を示す図である。本変形例では、駆動回路41が、画素群401と画素群402との境界線Bを可変とする。すなわち、駆動回路41は、駆動信号V(t)を提供する画素40aと、駆動信号V(t)を提供する画素40aとを自在に変更することができる。従って、導光光学系3を用いて光Lの中心軸線AXを移動しなくても、光Lの照射領域の位置に応じて境界線Bを移動させることにより、変調部40Aに対する光Lの入射位置(すなわち照射領域の中心Pの位置)を境界線Bに近づけ、画素群401,402の面積比を1:1に近づけることができる。故に、本変形例においても、画素群401からの光Lのゆらぎの大きさと、画素群402からの光Lのゆらぎの大きさとを互いに近づけることができるので、これらのゆらぎをより効果的に打ち消し合わせて、変調後の光Lのゆらぎを更に低減することができる。また、上記実施形態と比較して、導光光学系3の構成を簡易にすることができる。
(第4変形例)
図24は、上記実施形態の第4変形例に係る光変調装置1Dの構成を示す図である。光変調装置1Dは、上記実施形態の光変調装置1Aの構成に加えて、ビームスプリッタ7、光検出器8、及び導光光学系制御部9を更に備える。ビームスプリッタ7の表(おもて)面は、SLM4Aの光出射面と光学的に結合され、SLM4Aから出力された光Lを受け、この光Lの一部を反射して光Lとし、残部を透過して光Lとする。光Lは、集光光学系6によって任意の位置に集光される。一方、光Lは、ビームスプリッタ7の裏面と光学的に結合された光検出器8に入射する。光検出器8は、変調後の光Lの強度を検出するために、光Lの光強度に応じた電気信号S1を生成する。光検出器8は、導光光学系制御部9と電気的に接続されており、導光光学系制御部9に電気信号S1を提供する。光検出器8は、例えば単一の受光部を有するフォトダイオードといった半導体受光素子を含んで構成される。光Lは、レンズによって集光されてもよく、集光されなくてもよい。導光光学系制御部9は、アクチュエータを含んで構成され、導光光学系3を方向D1に沿って移動させることができる。導光光学系制御部9は、光検出器8からの電気信号S1によって得られる光Lの光強度の周期的な変動(ゆらぎ)の大きさに基づいて、該変動が最小値に近づくように導光光学系3の位置を制御することにより、変調部40Aに対する光Lの入射位置(すなわち照射領域の中心Pの位置)を定める。
本変形例の光変調装置1Dのように、変調後の光Lの強度を検出する光検出器8と、導光光学系3を制御する導光光学系制御部9とが設けられてもよい。そして、導光光学系制御部9は、光検出器8から提供される光強度の周期的な変動に基づいて、変調部40Aにおける光Lの入射位置を定めてもよい。これにより、光Lの照射範囲における画素群401,402の面積割合に応じて光Lの入射位置を自動的に移動させ、画素群401からの光Lのゆらぎの大きさと、画素群402からの光Lのゆらぎの大きさとを容易に近づけることができる。
(第5変形例)
図25は、上記実施形態の第5変形例に係る光変調装置1Eの構成を示す図である。光変調装置1Eは、上記第3変形例の光変調装置1Cの構成に加えて、ビームスプリッタ7及び光検出器8を更に備える。ビームスプリッタ7及び光検出器8の構成及び機能は、上述した第4変形例と同様である。また、光変調装置1EのSLM4Bは、上記実施形態の駆動回路41に代えて、駆動回路41Bを有する。駆動回路41Bは、光検出器8と電気的に接続されており、光Lの光強度に応じた電気信号S1を受ける。駆動回路41Bは、光検出器8からの電気信号S1によって得られる光Lの光強度の周期的な変動(ゆらぎ)の大きさに基づいて、該変動が最小値に近づくように、画素群401と画素群402との境界線Bの位置を定める。これにより、光Lの照射範囲における画素群401,402の面積割合に応じて境界線Bを自動的に移動させ、画素群401からの光Lのゆらぎの大きさと、画素群402からの光Lのゆらぎの大きさとを容易に近づけることができる。
本発明による空間光変調器、光変調装置、及び空間光変調器の駆動方法は、上述した実施形態に限られるものではなく、他に様々な変形が可能である。例えば、上述した各実施形態を、必要な目的及び効果に応じて互いに組み合わせてもよい。また、上記実施形態及び各変形例ではSLMは入射光の位相を変調しているが、SLMは入射光の強度を変調してもよい。また、上記実施形態及び各変形例では液晶型のSLMが用いられているが、SLMは液晶型以外のもの(例えばメンブレンミラー型や多重量子井戸型等)であってもよい。どのようなタイプのSLMであっても、周期的に時間変化する駆動信号によってSLMを駆動する場合には、変調媒体が有する電気特性が変調後の光にゆらぎとなって現れる。従って、本発明が好適に適用され得る。
1A,1B,1C,1D,1E…光変調装置、2…光源、3…導光光学系、3a,3b…レンズ、5…駆動回路、6…集光光学系、7…ビームスプリッタ、8…光検出器、9…導光光学系制御部、40A,40B…変調部、40a…画素、41,41B…駆動回路、42…シリコン基板、43…画素電極、44…液晶層、44a…液晶分子、45…透明電極、46a,46b…配向膜、47…誘電体ミラー、48…スペーサ、49…透明基板、61…集光レンズ、401〜408…画素群、AX,AX…中心軸線、B,B,B…境界線、D1…方向、L,L,L,L…光、LU,LD,RU,RD…ビームスポット、O…集光点、P…中心、Q…照射領域、S1…電気信号、V(t),V(t)…駆動信号。
図1は、一実施形態に係る光変調装置1Aの構成を概略的に示す図である。光変調装置1Aは、例えば光トラップ装置、レーザ加工装置、または顕微鏡装置などに組み込まれる。この光変調装置1Aは、光源2、導光光学系3、空間光変調器(Spatial Light Modulator;SLM)4、及び集光光学系6を備えている。SLM4Aは、変調部40A及び駆動回路41を有する。
(第5変形例)
図25は、上記実施形態の第5変形例に係る光変調装置1Eの構成を示す図である。光変調装置1Eは、上記第3変形例の光変調装置1Cの構成に加えて、ビームスプリッタ7及び光検出器8を更に備える。ビームスプリッタ7及び光検出器8の構成及び機能は、上述した第4変形例と同様である。また、光変調装置1EのSLM4Eは、上記実施形態の駆動回路41に代えて、駆動回路41Bを有する。駆動回路41Bは、光検出器8と電気的に接続されており、光Lの光強度に応じた電気信号S1を受ける。駆動回路41Bは、光検出器8からの電気信号S1によって得られる光Lの光強度の周期的な変動(ゆらぎ)の大きさに基づいて、該変動が最小値に近づくように、画素群401と画素群402との境界線Bの位置を定める。これにより、光Lの照射範囲における画素群401,402の面積割合に応じて境界線Bを自動的に移動させ、画素群401からの光Lのゆらぎの大きさと、画素群402からの光Lのゆらぎの大きさとを容易に近づけることができる。
1A,1B,1C,1D,1E…光変調装置、2…光源、3…導光光学系、3a,3b…レンズ、6…集光光学系、7…ビームスプリッタ、8…光検出器、9…導光光学系制御部、40A,40B…変調部、40a…画素、41,41B…駆動回路、42…シリコン基板、43…画素電極、44…液晶層、44a…液晶分子、45…透明電極、46a,46b…配向膜、47…誘電体ミラー、48…スペーサ、49…透明基板、61…集光レンズ、401〜408…画素群、AX,AX…中心軸線、B,B,B…境界線、D1…方向、L,L,L,L…光、LU,LD,RU,RD…ビームスポット、O…集光点、P…中心、Q…照射領域、S1…電気信号、V(t),V(t)…駆動信号。
上述した課題を解決するために、本発明の一実施形態による空間光変調器は、複数の画素を有し、周期的に時間変化する駆動信号の振幅に応じて入射光の位相若しくは強度を画素毎に変調する変調部と、駆動信号を変調部に提供する駆動回路と、を備える。駆動回路は、複数の画素のうち第1の画素群に提供する駆動信号の位相と、複数の画素のうち第2の画素群に提供する駆動信号の位相とを互いに反転させるように制御する。第1の画素群の少なくとも一部、及び第2の画素群の少なくとも一部は、入射光の照射領域内にある
本発明の一実施形態による空間光変調器の駆動方法は、複数の画素を有し、周期的に時間変化する駆動信号の振幅に応じて入射光の位相若しくは強度を画素毎に変調する変調部を備える空間光変調器を駆動する方法であって、複数の画素のうち第1の画素群に提供する駆動信号の位相と、複数の画素のうち第2の画素群に提供する駆動信号の位相とを互いに反転させ、第1の画素群の少なくとも一部、及び第2の画素群の少なくとも一部は、入射光の照射領域内にある
本発明の一実施形態による光変調装置は、上記の空間光変調器と、変調後の光の強度を検出する光検出器と、を備える。駆動回路は、光検出器から提供される光強度の周期的な変動に基づいて、該変動が最小値に近づくように、第1の画素群と第2の画素群との境界線の位置を定める。同様に、上記の駆動方法において、変調後の光の強度を検出し、該光強度の周期的な変動に基づいて、該変動が最小値に近づくように、第1の画素群と第2の画素群との境界線の位置を定めてもよい。これにより、入射光の照射領域の位置に応じて境界線を自動的に移動させ、第1の画素群からの光のゆらぎの大きさと、第2の画素群からの光のゆらぎの大きさとを容易に近づけることができる。
この光変調装置は、光源から出力された光を変調部へ導く導光光学系を更に備えてもよい。そして、導光光学系は、変調部における光の入射位置を可変としてもよい。同様に、上記の駆動方法において、光を変調部へ導く導光光学系を設け、導光光学系により変調部における光の入射位置を可変としてもよい。これにより、入射光の照射範囲における第1及び第2の画素群の面積割合が互いに近づくように光の入射位置を移動させ、第1の画素群からの光のゆらぎの大きさと、第2の画素群からの光のゆらぎの大きさとを互いに近づけることができる。従って、これらのゆらぎをより効果的に打ち消し合わせて、変調後の光のゆらぎを更に低減することができる。この場合、光変調装置は、変調後の光の強度を検出する光検出器と、導光光学系を制御する導光光学系制御部と、を更に備え、導光光学系制御部は、光検出器から提供される光強度の周期的な変動に基づいて、該変動が最小値に近づくように、変調部における光の入射位置を定めてもよい。同様に、上記の駆動方法において、変調後の光の強度を検出し、該光強度の周期的な変動に基づいて、該変動が最小値に近づくように、変調部における光の入射位置を定めてもよい。これにより、入射光の照射範囲における第1及び第2の画素群の面積割合に応じて光の入射位置を自動的に移動させ、第1の画素群からの光のゆらぎの大きさと、第2の画素群からの光のゆらぎの大きさとを容易に近づけることができる。

Claims (15)

  1. 複数の画素を有し、周期的に時間変化する駆動信号の振幅に応じて入射光の位相若しくは強度を画素毎に変調する変調部と、
    前記駆動信号を前記変調部に提供する駆動回路と、を備え、
    前記駆動回路は、前記複数の画素のうち第1の画素群に提供する前記駆動信号の位相と、前記複数の画素のうち第2の画素群に提供する前記駆動信号の位相とを互いに反転させるように制御する、空間光変調器。
  2. 前記変調部は液晶層を含む、請求項1に記載の空間光変調器。
  3. 前記駆動回路は、前記入射光の照射領域における前記第1の画素群の面積と前記第2の画素群の面積とが互いに等しくなるように制御する、請求項1または2に記載の空間光変調器。
  4. 前記駆動回路は、前記第1の画素群と前記第2の画素群との境界線を可変制御する、請求項1〜3のいずれか1項に記載の空間光変調器。
  5. 請求項4に記載の空間光変調器と、
    変調後の光の強度を検出する光検出器と、を備え、
    前記駆動回路は、前記光検出器から提供される光強度の周期的な変動に基づいて、前記第1の画素群と前記第2の画素群との境界線の位置を定める、光変調装置。
  6. 請求項1〜4のいずれか1項に記載の空間光変調器と、
    前記入射光を前記変調部に提供する光源と、
    前記変調部から出力された変調後の光を集光する集光光学系と、を備える、光変調装置。
  7. 前記光源から出力された光を前記変調部へ導く導光光学系を更に備え、
    前記導光光学系は、前記変調部における光の入射位置を可変とする、請求項6に記載の光変調装置。
  8. 変調後の光の強度を検出する光検出器と、
    前記導光光学系を制御する導光光学系制御部と、を更に備え、
    前記導光光学系制御部は、前記光検出器から提供される光強度の周期的な変動に基づいて、前記変調部における光の入射位置を定める、請求項7に記載の光変調装置。
  9. 複数の画素を有し、周期的に時間変化する駆動信号の振幅に応じて入射光の位相若しくは強度を画素毎に変調する変調部を備える空間光変調器を駆動する方法であって、
    前記複数の画素のうち第1の画素群に提供する前記駆動信号の位相と、前記複数の画素のうち第2の画素群に提供する前記駆動信号の位相とを互いに反転させる、空間光変調器の駆動方法。
  10. 前記変調部は液晶層を含む、請求項9に記載の空間光変調器の駆動方法。
  11. 前記第1の画素群の面積と前記第2の画素群の面積とが互いに等しい、請求項9または10に記載の空間光変調器の駆動方法。
  12. 前記第1の画素群と前記第2の画素群との境界線を可変とする、請求項9〜11のいずれか1項に記載の空間光変調器の駆動方法。
  13. 変調後の光の強度を検出し、該光強度の周期的な変動に基づいて、前記第1の画素群と前記第2の画素群との境界線の位置を定める、請求項12に記載の空間光変調器の駆動方法。
  14. 光を前記変調部へ導く導光光学系を設け、前記導光光学系により前記変調部における光の入射位置を可変とする、請求項9〜11のいずれか1項に記載の空間光変調器の駆動方法。
  15. 変調後の光の強度を検出し、該光強度の周期的な変動に基づいて、前記変調部における光の入射位置を定める、請求項14に記載の空間光変調器の駆動方法。
JP2018043311A 2018-03-09 2018-03-09 空間光変調器、光変調装置、及び空間光変調器の駆動方法 Active JP6596527B2 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018043311A JP6596527B2 (ja) 2018-03-09 2018-03-09 空間光変調器、光変調装置、及び空間光変調器の駆動方法
PCT/JP2019/004462 WO2019171874A1 (ja) 2018-03-09 2019-02-07 空間光変調器、光変調装置、及び空間光変調器の駆動方法
CN201980017917.3A CN111819490B (zh) 2018-03-09 2019-02-07 空间光调制器、光调制装置、以及空间光调制器的驱动方法
US16/977,397 US11906821B2 (en) 2018-03-09 2019-02-07 Spatial light modulator, light modulating device, and method for driving spatial light modulator
DE112019001232.0T DE112019001232T5 (de) 2018-03-09 2019-02-07 Räumlicher lichtmodulator, lichtmodulationsvorrichtung und verfahren zur ansteuerung eines räumlichen lichtmodulators
US18/367,614 US20240004225A1 (en) 2018-03-09 2023-09-13 Spatial light modulator, light modulating device, and method for driving spatial light modulator

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018043311A JP6596527B2 (ja) 2018-03-09 2018-03-09 空間光変調器、光変調装置、及び空間光変調器の駆動方法

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019179985A Division JP7111678B2 (ja) 2019-09-30 2019-09-30 光変調装置、及び空間光変調器の駆動方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019159024A true JP2019159024A (ja) 2019-09-19
JP6596527B2 JP6596527B2 (ja) 2019-10-23

Family

ID=67846694

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018043311A Active JP6596527B2 (ja) 2018-03-09 2018-03-09 空間光変調器、光変調装置、及び空間光変調器の駆動方法

Country Status (5)

Country Link
US (2) US11906821B2 (ja)
JP (1) JP6596527B2 (ja)
CN (1) CN111819490B (ja)
DE (1) DE112019001232T5 (ja)
WO (1) WO2019171874A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019197098A (ja) * 2018-05-08 2019-11-14 浜松ホトニクス株式会社 メタサーフェス構造体及びメタサーフェス構造体の製造方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007116935A1 (ja) * 2006-04-12 2007-10-18 Panasonic Corporation 投写型ディスプレイ装置及びスペックル低減素子
JP2009031367A (ja) * 2007-07-24 2009-02-12 Hamamatsu Photonics Kk 位相変調装置
JP2013037210A (ja) * 2011-08-09 2013-02-21 Nikon Corp 空間光変調器及びその製造方法、並びに露光装置
JP2014095863A (ja) * 2012-11-12 2014-05-22 Hamamatsu Photonics Kk 光照射装置
US20180031944A1 (en) * 2016-08-01 2018-02-01 Boulder Nonlinear Systems, Inc. Reflective spatial light modulator with high spatial frequency border

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004117894A (ja) 2002-09-26 2004-04-15 Sony Corp 液晶表示装置
JP4701589B2 (ja) 2002-09-30 2011-06-15 セイコーエプソン株式会社 液晶装置と投射型表示装置
JP4786291B2 (ja) 2005-10-19 2011-10-05 浜松ホトニクス株式会社 光ピンセット装置
KR20080103149A (ko) 2007-05-23 2008-11-27 주식회사 대우일렉트로닉스 광정보 기록장치 및 이를 이용한 광정보 기록방법
JP5779359B2 (ja) * 2011-02-15 2015-09-16 浜松ホトニクス株式会社 空間光変調装置および空間光変調方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007116935A1 (ja) * 2006-04-12 2007-10-18 Panasonic Corporation 投写型ディスプレイ装置及びスペックル低減素子
JP2009031367A (ja) * 2007-07-24 2009-02-12 Hamamatsu Photonics Kk 位相変調装置
JP2013037210A (ja) * 2011-08-09 2013-02-21 Nikon Corp 空間光変調器及びその製造方法、並びに露光装置
JP2014095863A (ja) * 2012-11-12 2014-05-22 Hamamatsu Photonics Kk 光照射装置
US20180031944A1 (en) * 2016-08-01 2018-02-01 Boulder Nonlinear Systems, Inc. Reflective spatial light modulator with high spatial frequency border

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
BECK ET AL.: "Compensation for time fluctuations of phase modulation in a liquid-crystal-on-silicon display by pro", APPLIED OPTICS, vol. 50, no. 18, JPN6019009413, 20 June 2011 (2011-06-20), pages 2899 - 2905, XP001563783, ISSN: 0004046735, DOI: 10.1364/AO.50.002899 *

Also Published As

Publication number Publication date
US20240004225A1 (en) 2024-01-04
US20210048692A1 (en) 2021-02-18
WO2019171874A1 (ja) 2019-09-12
CN111819490A (zh) 2020-10-23
JP6596527B2 (ja) 2019-10-23
US11906821B2 (en) 2024-02-20
CN111819490B (zh) 2024-04-16
DE112019001232T5 (de) 2020-12-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10856057B2 (en) Optical device and methods
JP6047325B2 (ja) 光変調方法、光変調プログラム、光変調装置、及び光照射装置
KR101895180B1 (ko) 선형적으로 평행하게 배열된 전극들에 기초한 가변 회절 소자를 포함한, 2차원 및/또는 3차원 이미지 내용을 표시하기 위한 디스플레이용 광 변조 장치
CN104823096B (zh) 光调制元件
US10295812B2 (en) Light irradiation device
KR102128642B1 (ko) 보상 광학 시스템의 조정 방법, 보상 광학 시스템, 및 보상 광학 시스템용 프로그램을 기억하는 기록 매체
US20240004225A1 (en) Spatial light modulator, light modulating device, and method for driving spatial light modulator
JP7111678B2 (ja) 光変調装置、及び空間光変調器の駆動方法
CA2861708A1 (en) Method for scanning along a continuous scanning trajectory with a scanner system
KR100890288B1 (ko) 회절형 광변조기에 있어서 반사부의 변위 변화량 보정 장치
KR102385200B1 (ko) 액정디스플레이 장치를 사용한 홀로그램 디스플레이
CN112946960A (zh) 基于数字微反射镜的大幅面任意分布的光取向装置及方法
JPWO2013080542A1 (ja) 構造化照明装置、その構造化照明装置の調整方法、コンピュータ実行可能な調整プログラム、構造化照明顕微鏡装置、面形状測定装置
CN211478821U (zh) 应用于dmd图案化液晶光取向装置的照明系统
KR100890290B1 (ko) 개구수에 의존하는 초점심도를 갖는 회절형 광변조기를이용한 디스플레이 장치
JP6925195B2 (ja) 光変調素子
JP2020024269A (ja) 光位相変調装置及び照明装置
Carbonell Leal Complex spatial shaping of femtosecond pulses with phase-only spatial light modulators
CN112946959A (zh) 应用于dmd图案化液晶光取向装置的照明系统
KR20230078580A (ko) 복굴절 셀
Marsman Wavefront Shaping; Developing a demonstration setup
GB2594553A (en) Laser machining inside materials
Egge et al. Sinusoidal rotating grating for speckle reduction in laser projectors
JPH0220823A (ja) 光空間位相変調方法及び光空間位相変調装置
KR20070117144A (ko) 회절형 광변조기에 있어서 회절광의 일부를 이용한반사부의 변위 변화량 보정 장치 및 그 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190423

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190423

A871 Explanation of circumstances concerning accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871

Effective date: 20190423

A975 Report on accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005

Effective date: 20190528

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190604

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190703

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190903

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190930

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6596527

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150