JP2019158537A - 自動分析装置 - Google Patents

Abstract

【課題】試料の分注精度の低下を防ぐことができる自動分析装置を提供する。【解決手段】自動分析装置で発生した排熱をサンプラ部４２内に供給する供給部４８と、試料ラック１２に保持された試料容器を搬送部４０へ搬送する搬送機構部と、試料容器内の試料の温度を検出する第１の温度センサ４５とを備え、搬送機構部は、第１の温度センサ４５により検出された温度が下限温度ｔ１以上の試料を収容する試料容器を試料の分注が行われる分注位置Ｐ５へ搬送し、第１の温度センサ４５により検出された温度が下限温度ｔ１よりも低い試料を収容する試料容器をサンプラ部４２内の待機位置Ｐ７へ搬送する。【選択図】図３

Description

本発明の実施形態は、被検体から採取された試料と試薬容器に収容された試薬とを分注してその試料に含まれる成分を分析する自動分析装置に関する。

自動分析装置は、生化学検査項目や免疫検査項目等を対象項目とし、被検体から採取された試料と各検査項目の分析に用いる試薬とを反応容器に分注し、反応容器内の試料と試薬の反応によって生ずる色調や濁りの変化を光学的に測定する。そして、自動分析装置は、測定結果に基づいて、試料に含まれる各検査項目成分の濃度や酵素の活性等で表される分析データを得ることができる。

自動分析装置は、試料容器内の試料を吸引して反応容器に吐出する分注を行う分注プローブを備えている。試料には、被検体から採取されて運ばれていたものや、冷蔵庫から出されて間もないものがある。試料は温度が低下すると粘度が高くなり、試料の粘度が高いと、分注プローブによる試料の分注精度が低下する題がある。

特開２０１６−９０５２６号公報

本発明が解決しようとする課題は、試料の分注精度の低下を防ぐことができる自動分析装置を提供することである。

上記課題を達成するために、実施形態の自動分析装置は、試料容器内の試料と試薬とを分注して、前記試料及び前記試薬の混合液を測定する自動分析装置において、前記自動分析装置で発生した排熱をサンプラ部内に供給する供給部と、前記試料容器内の試料の温度を検出する第１の温度センサと、前記第１の温度センサにより検出された温度が予め設定された下限温度以上の試料を収容する試料容器を当該試料の分注が行われる分注位置へ搬送し、前記第１の温度センサにより検出された温度が前記下限温度よりも低い試料を収容する試料容器を待機させる前記サンプラ部内の待機位置へ搬送する搬送機構とを備える。

実施形態に係る自動分析装置の構成を示すブロック図。 実施形態に係る分析部の構成の一例を示す斜視図。 実施形態に係る搬送部の構成の一例を示す平面図。 図３のＡ−Ａ矢視断面図。 実施形態に係るサンプラ部内に供給される排熱の流れを示す図。 実施形態に係る搬送機構部の構成の一例を示すブロック図。 実施形態に係る搬送部及び搬送機構部の動作を示すフローチャート。

以下、図面を参照して実施形態を説明する。

本実施形態では、自動分析装置で発生した排熱をサンプラ部内に供給する供給部と、試料を収容する試料容器を搬送する搬送機構部と、試料容器内の試料の温度を検出する第１の温度センサとを備え、搬送機構部は、第１の温度センサにより検出された温度が予め設定された下限温度以上の試料を収容する試料容器を試料の分注が行われる分注位置へ搬送し、第１の温度センサにより検出された温度が下限温度よりも低い試料を収容する試料容器を待機させるサンプラ部内の待機位置へ搬送する。

図１は、実施形態に係る自動分析装置の構成を示したブロック図である。この自動分析装置１００は、各検査項目に対応する標準試料や被検試料等の各試料及び各検査項目に対応する試薬を分注し、各試料及び各試薬の混合液を測定して標準データや被検データを生成する分析部１０を備えている。分析部１０は、各試料の分注や各試薬の分注等を行う複数のユニットからなり、これらのユニットを駆動する駆動部３０を備えている。

また、自動分析装置１００は、分析部１０の試料の分注が行われる位置等への試料の搬送が行われる搬送部４０と、試料を搬送する搬送機構部５０とを備えている。また、自動分析装置１００は、駆動部３０、搬送部４０及び搬送機構部５０を制御する分析制御部６０を備えている。

また、自動分析装置１００は、分析部１０で生成された標準データや被検データを処理して各検査項目の検量データや分析データを生成するデータ処理部７０を備えている。また、自動分析装置１００は、データ処理部７０で生成された検量データや分析データを出力する出力部８０を備えている。

また、自動分析装置１００は、各検査項目の標準データや分析データを生成させる分析パラメータを設定するための入力、各試料に対して試料ＩＤや検査項目を設定するための入力等を行う操作部９０を備えている。また、自動分析装置１００は、分析制御部６０、データ処理部７０及び出力部８０を統括して制御するシステム制御部９１を備えている。

図２は、分析部１０の構成の一例を示した斜視図である。この分析部１０は、各検査項目の標準試料や被検試料などの各試料に含まれる各検査項目の成分と反応する試薬である例えば１試薬系及び２試薬系の第１試薬を収容する第１試薬容器１３と、複数の第１試薬容器１３を保持する第１試薬ラック１４とを備えている。また、分析部１０は、第１試薬ラック１４に保持された第１試薬容器１３内の第１試薬を保冷する第１試薬庫１５を備えている。

また、分析部１０は、２試薬系の第１試薬と対をなす第２試薬を収容する第２試薬容器１６と、複数の第２試薬容器１６を保持する第２試薬ラック１７とを備えている。また、分析部１０は、第２試薬ラック１７に保持された第２試薬容器１６内の第２試薬を保冷する第２試薬庫１８を備えている。また、分析部１０は、円周上に配置された複数の反応容器１９と、この反応容器１９を保持する反応ディスク２０とを備えている。

また、分析部１０は、後側に配置された搬送部４０内を搬送機構部５０により搬送された、試料、この試料を収容する試料容器１１及びこの試料容器１１を保持する試料ラック１２から当該試料を吸引して、反応容器１９内に吐出する分注を行う試料分注プローブ２１と、試料分注プローブ２１を支持する試料分注アーム２２とを備えている。また、分析部１０は、第１試薬ラック１４に保持された第１試薬容器１３内の第１試薬を吸引して、試料が分注された反応容器１９内に吐出する分注を行う第１試薬分注プローブ２３と、第１試薬分注プローブ２３を支持する第１試薬分注アーム２４とを備えている。

また、分析部１０は、第２試薬ラック１７に保持された第２試薬容器１６内の第２試薬を吸引して、第１試薬が分注された反応容器１９内に吐出する分注を行う第２試薬分注プローブ２５と、第２試薬分注プローブ２５を支持する第２試薬分注アーム２６とを備えている。また、分析部１０は、反応容器１９に分注された試料及び第１試薬の混合液や、試料、第１試薬及び第２試薬の混合液を撹拌する撹拌子２７を備えている。

また、分析部１０は、撹拌子２７により撹拌が行われた混合液を収容する反応容器１９に光を照射し、反応容器１９内の標準試料を含む混合液や被検試料を含む混合液を透過した光を検出して標準データや被検データを生成する測定部２８を備えている。また、分析部１０は、測定を終了した反応容器１９内を洗浄する洗浄ノズル２９を備えている。そして、洗浄ノズル２９により洗浄が行われた反応容器１９は、再び試料の分注、試薬の分注及び測定に使用される。

図１に戻り、駆動部３０は、分析部１０の各ユニットを駆動する分析部１０の下側に配置された複数の駆動機構を備えている。駆動部３０の各駆動機構は、この駆動機構を支持する支持体と、各駆動機構の前方を覆う前面カバー、後方を覆う背面カバー、左方及び右方を覆う２つの側面カバーと、分析部１０とにより包囲された駆動室に配置されている。

そして、駆動部３０は、第１及び第２試薬ラック１４，１７をそれぞれ回転駆動するモータ等の駆動機構を有し、第１及び第２試薬容器１３，１６を回転移動する。また、駆動部３０は、第１及び第２試薬庫１５，１８をそれぞれ冷却駆動する例えばペルチェ素子等の駆動機構を有し、第１及び第２試薬庫１５，１８内の第１及び第２試薬を保冷する。また、駆動部３０は、反応ディスク２０を回転駆動するモータ等の駆動機構を有し、反応容器１９を回転移動する。

また、駆動部３０は、試料分注アーム２２、第１試薬分注アーム２４及び第２試薬分注アーム２６をそれぞれ回転駆動するモータ等の駆動機構を有し、試料分注プローブ２１、第１試薬分注プローブ２３及び第２試薬分注プローブ２５を回転移動する。また、駆動部３０は、試料分注アーム２２、第１試薬分注アーム２４及び第２試薬分注アーム２６をそれぞれ上下駆動するモータ等の駆動機構を有し、試料分注プローブ２１、第１試薬分注プローブ２３及び第２試薬分注プローブ２５を上下移動する。

図３は、搬送部４０の構成の一例を示した平面図である。また、図４は、図３のＡ−Ａ矢視断面図である。

図３において、搬送部４０は、搬送機構部５０により試料ラック１２が搬送される投入部４１、サンプラ部４２及び回収部４３を備えている。また、搬送部４０は、試料ラック１２に記されるラックＩＤ及び当該試料ラック１２に保持された試料容器１１に記される試料ＩＤを読み取るリーダ４４と、リーダ４４に試料ＩＤが読み取られた試料容器１１内の試料の温度を検出する第１の温度センサ４５とを備えている。

また、搬送部４０は、サンプラ部４２内の空気の温度を検出する第２の温度センサ４６と、サンプラ部４２内の空気を自動分析装置１００外に排気する２つのファン４７とを備えている。また、搬送部４０は、自動分析装置１００で発生した排熱をサンプラ部４２内に供給する供給部４８を備えている。

投入部４１は、分析部１０の前後方向を長手とし分析部１０の左側に配置され、前端部に搬送部４０外に開口する開口部を備え、後端部にサンプラ部４２に連通する開口部を備えている。また、投入部４１は、搬送機構部５０により矢印Ｌ１方向に試料ラック１２が搬送される投入レーン及びこの投入レーンを左側方、右側方及び上方から覆うカバーを備えている。また、投入部４１は、操作者により試料ラック１２が載置される投入レーンの前端の位置である投入位置Ｐ１と、投入位置Ｐ１の試料ラックが搬送機構部５０により搬送される投入レーンの後端の位置である投入搬出位置Ｐ２を有する。

サンプラ部４２は分析部１０の左右方向を長手とし分析部１０、投入部４１及び回収部４３の後側に配置され、投入部４１に連通する開口部を左端部の前側に備え、回収部４３に連通する開口部を右端部の前側に備えている。また、サンプラ部４２は、試料ラック１２が搬送される分注レーン４２１及び２つの待機レーン４２２を備えている。また、サンプラ部４２は、図４に示すように、支持フレーム４２３と、側壁４２４と、サンプラカバー４２５とを備えている。

分注レーン４２１は分析部１０の左右方向を長手とし投入部４１と回収部４３との間に配置され、分注搬入位置Ｐ４と、分注位置Ｐ５と、分注搬出位置Ｐ６とを有する。そして、分注搬入位置Ｐ４は、搬送機構部５０により搬送された試料ラック１２が載置される位置である。また、分注位置Ｐ５は、搬送機構部５０により分注搬入位置Ｐ４から矢印Ｌ２方向に搬送された試料ラック１２に保持される試料容器１１内の試料の分注が試料分注プローブ２１により行われる位置である。また、分注搬出位置Ｐ６は、すべての試料容器１１内の試料の分注を終了した分注位置Ｐ５の試料ラック１２が搬送機構部５０により搬送される位置である。

２つの待機レーン４２２のうちの一方の待機レーン４２２は分析部１０左右方向を長手とし分注レーン４２１の左方に配置され、他方の待機レーン４２２は分析部１０左右方向を長手とし分注レーン４２１の後方に配置されている。そして、各待機レーン４２２は、第１の温度センサ４５に検出された温度が予め設定された例えば１５℃等の下限温度ｔ１よりも低い試料が収容された試料容器１１を保持する試料ラック１２が待機する複数の待機位置Ｐ７を有する。

支持フレーム４２３は、分注レーン４２１、待機レーン４２２及び側壁４２４を支持するフレームであり、上下方向に貫通する２つの排気口４２ａ及び２つの通気口４２ｂが形成されている。また、側壁４２４は、分注レーン４２１及び待機レーン４２２よりも前方に配置され、分析部１０の試料分注プローブ２１により試料の分注が行われる以外の部分を分析部１０から隔離するように配置されている。また、サンプラカバー４２５は、図４に示すように、分注レーン４２１、待機レーン４２２、支持フレーム４２３及び側壁４２４を、左側方、右側方、後側方及び上方から覆うように配置されている。

このように、サンプラカバー４２５で覆うことにより、試料分注プローブ２１、サンプラ部４２内を搬送される試料ラック１２及びこの試料ラック１２を搬送する搬送機構部５０と自動分析装置１００を操作する操作者との接触を防いで安全を確保することができる。

回収部４３は分析部１０の前後方向を長手とし分析部１０の右側に配置され、前端部に搬送部４０外に開口する開口部を備え、後端部にサンプラ部４２に連通する開口部を備えている。また、回収部４３は、回収レーン及びこの回収レーンを左側方、右側方及び上方から覆うカバーを備えている。また、回収部４３は、回収レーンの後端の位置である回収搬入位置Ｐ８と、回収搬入位置Ｐ８に対して矢印Ｌ３方向の、回収レーンの前端の位置である回収位置Ｐ９とを有する。

回収搬入位置Ｐ８は、搬送機構部５０によりサンプラ部４２の分注レーン４２１における分注搬出位置Ｐ６から搬送された試料ラック１２が載置される位置である。また、回収位置Ｐ９は、回収搬入位置Ｐ８の試料ラック１２が搬送機構部５０により搬送される位置である。

リーダ４４は例えばバーコードリーダであり、搬送機構部５０により投入部４１の投入搬出位置Ｐ２からサンプラ部４２内をＬ２方向に搬送された読取位置Ｐ３の試料ラック１２に記されたラックＩＤ及び試料容器１１に記された試料ＩＤを読み取る。

第１の温度センサ４５は例えば物体から放射される赤外線を利用して非接触的に物体の温度を検出するセンサであり、リーダ４４に隣接して配置される。そして、第１の温度センサ４５は、リーダ４４に試料ＩＤが読み取られた試料容器１１内の試料の温度を検出する。

第２の温度センサ４６は、サンプラ部４２内の空気中の温度を検出するセンサであり、サンプラ部４２内の待機レーン４２２近傍に配置される。

ファン４７は、サンプラ部４２の排気口４２ａの下側に配置され、サンプラ部４２内の空気を自動分析装置１００外に排気する。そして、ファン４７は、第２の温度センサ４６により検出されたサンプラ部４２内の空気の温度が予め設定された下限温度ｔ１よりも高い排気温度ｔ２以上になると作動して排気し、第２の温度センサ４６により検出されたサンプラ部４２内の空気の温度が排気温度ｔ２よりも低くなると停止する。

このように、サンプラ部４２内の温度が排気温度ｔ２以上になるとファン４７を作動させることにより、サンプラ部４２内の過剰な温度上昇を防ぐことができる。

供給部４８は、分析部１０の前後方向を長手とし、サンプラ部４２の支持フレーム４２３の下側に配置されている。そして、供給部４８は、図４に示すように、自動分析装置１００内で排熱を発生する熱源が配置された空間である例えば駆動部３０の各駆動機構が配置された駆動室３０ａ内とサンプラ部４２内とを連通するダクト４８１と、ダクト４８１を覆うように配置されたダクトカバー４８２とを備えている。

ダクト４８１は、長手方向に垂直な断面が例えば四角形の筒状に形成され、駆動室３０ａ内に開口する第１の開口部４８ａと、サンプラ部４２内に開口する斜めに傾斜した開口面が形成された第２の開口部４８ｂとを有する。第１の開口部４８ａは駆動室３０ａの上部に配置され、第２の開口部４８ｂはサンプラ部４２の通気口４２ｂの下側であって第１の開口部４８ａ以上の高さに配置されている。

ダクトカバー４８２は第２の開口部４８ｂの後方の位置に複数の通気孔４８ｃを有し、駆動室３０ａを構成している背面カバーから駆動室３０ａ外に出ているダクト４８１の部分を覆うように配置されている。

そして、供給部４８は、図５に矢印で示すように、駆動部３０の各駆動機構の排熱により駆動室３０ａの温度上昇したサンプラ部４２内の空気よりも高温の空気が第１の開口部４８ａからダクト４８１内に流入して第２の開口部４８ｂより流出し、流出した空気が通気口４２ｂから上昇してサンプラ部４２内へ流入することにより、各駆動機構の排熱をサンプラ部４２内に供給する。

また、供給部４８は、駆動部３０の各駆動機構の排熱により駆動室３０ａの温度上昇した高温の空気が第１の開口部４８ａからダクト４８１内に流入して第２の開口部４８ｂより流出し、流出した空気の一部が通気孔４８ｃからダクトカバー４８２の外側に流出することにより、各駆動機構の排熱を自動分析装置１００外に排出する。

このように、簡単な構成の供給部４８を設けることにより、自動分析装置１００で発生する排熱を利用してサンプラ部４２内の温度を上昇させることができる。

図６は、搬送機構部５０の構成の一例を示したブロック図である。この搬送機構部５０は搬送部４０内から搬送部４０の下側に亘って配置され、第１の搬送機構５１と、第２の搬送機構５２と、第３の搬送機構５３と、第４の搬送機構５４とを備えている。

第１の搬送機構５１は、搬送部４０の投入部４１の試料ラック１２に当接可能なように設けたアームと、このアームをＬ１方向及びＬ３方向に駆動する機構とを有する。そして、第１の搬送機構５１は、投入部４１の投入位置Ｐ１に載置された試料ラック１２を投入搬出位置Ｐ２まで搬送する。

第２の搬送機構５２は、試料ラック１２を保持及び開放可能な保持アームと、この保持アームを駆動して試料ラック１２の保持動作及び開放動作を行わせる第１の機構と、この第１の機構を回転駆動可能に支持する第２の機構と、この第２の機構をＬ２方向及びＬ２方向とは反対方向に直線駆動可能に支持する第３の機構とを備えている。

そして、第２の搬送機構５２は、図３に示すように、投入搬出位置Ｐ２の試料ラック１２を持ち上げて破線で示した軌道Ｔ１に沿ってＬ２方向のサンプラ部４２の読取位置Ｐ３まで搬送する。

また、第２の搬送機構５２は、搬送部４０の第１の温度センサ４５により検出された温度が下限温度ｔ１以上の試料が収容された試料容器１１を保持する試料ラック１２を、読取位置Ｐ３から軌道Ｔ１に沿ってＬ２方向に搬送して分注レーン４２１の分注搬入位置Ｐ４に載置する。また、第２の搬送機構５２は、分注搬出位置Ｐ６の試料ラック１２を持ち上げて軌道Ｔ１に沿ってＬ２方向に搬送して回収部４３の回収搬入位置Ｐ８に載置する。

また、第２の搬送機構５２は、第１の温度センサ４５により検出された温度が下限温度ｔ１よりも低い試料が収容された試料容器１１を保持する試料ラック１２を、読取位置Ｐ３から２つの待機レーン４２２のいずれかの待機レーン４２２に搬送する。そして、第２の搬送機構５２は、分注レーン４２１後方の待機レーン４２２まで搬送する場合、下限温度ｔ１よりも低い試料が収容された試料容器１１を保持する試料ラック１２を、図３に示すように、軌道Ｔ１に沿ってＬ２方向に搬送し第１の回転位置Ｐ１０で矢印Ｒ１方向に１８０度回転してから破線で示した軌道Ｔ２に沿ってＬ２方向と反対方向の矢印Ｌ４方向に搬送し、待機レーン４２２の待機位置Ｐ７に載置する。

また、第２の搬送機構５２は、分注レーン４２１後方の待機レーン４２２の待機位置Ｐ７で予め設定された待機時間以上経過した試料ラック１２を持ち上げてＬ４方向に搬送し、図３に示すように、第２の回転位置Ｐ１１で矢印Ｒ２方向に１８０度回転してから軌道Ｔ２に沿ってＬ２方向の読取位置Ｐ３まで搬送する。

第３の搬送機構５３は、分注レーン４２１に配置されたベルトと、このベルトが巻回された２つのプーリと、このプーリを回転駆動するモータとを備えている。そして、第３の搬送機構５３は、分注レーン４２１の分注搬入位置Ｐ４の試料ラック１２を分注位置Ｐ５へ搬送する。また、第３の搬送機構５３は、試料の分注が終了した試料容器１１を保持する分注位置Ｐ５の試料ラック１２を分注搬出位置Ｐ６へ搬送する。

第４の搬送機構５４は、回収部４３の回収搬入位置Ｐ８の試料ラック１２に当接可能なように配置されたアームと、このアームを駆動するモータとを備えている。そして、第４の搬送機構５４は、回収搬入位置Ｐ８の試料ラック１２を回収位置Ｐ９へ搬送する。

図１に戻り、分析制御部６０は、操作部９０から入力された各検査項目の分析パラメータ、試料ＩＤ、この試料ＩＤで識別される試料に設定された検査項目等の入力情報に基づき駆動部３０、搬送部４０及び搬送機構部５０を制御する。そして、分析制御部６０は、試料ラック１２の搬送、第１試薬容器１３の移動、第２試薬容器１６の移動、試料の分注、第１試薬の分注、第２試薬の分注、混合液の撹拌、測定等を実行させる。

データ処理部７０は、演算部７１及びデータ記憶部７２を備えている。そして、演算部７１は例えばＣＰＵ及び記憶回路を有し、分析部１０の測定部２８で生成された各検査項目の標準データ及びこの標準データの標準試料に予め設定された標準値の関係を示す検量データを生成する。また、演算部７１は、測定部２８で生成された各検査項目の被検データ及び検量データを用いて濃度値や酵素の活性値で表される分析データを生成する。また、データ記憶部７２は例えばハードディスクドライブ（ＨＤＤ）等のストレージを有し、演算部７１で生成された検量データを検査項目毎に保存し、演算部７１で生成された各検査項目の分析データを被検試料毎に保存する。

出力部８０は、印刷部８１及び表示部８２を備えている。そして、印刷部８１はプリンタなどを有し、データ処理部７０で生成された検量データや分析データを予め設定されたフォーマットに従って、プリンタ用紙などに印刷する。また、表示部８２は例えばＣＲＴや液晶パネルなどのモニタを有し、データ処理部７０で生成された検量データや分析データを表示する。また、表示部８２は、各検査項目の試料の分注量、第１試薬の分注量及び第２試薬の分注量等の分析パラメータを設定するための分析パラメータ設定画面や、各被検試料の試料ＩＤ及び検査項目を設定するための検査項目設定画面を表示する。

操作部９０は、例えばキーボード、マウス、ボタン、タッチキーパネルなどの入力デバイスを備えている。そして、操作部９０は、各検査項目の分析パラメータを設定するための入力、試料ＩＤ及び検査項目を設定するための入力、分析部１０立ち上げのための洗浄を実行させる入力、検査を開始させるための入力等を行う。

システム制御部９１は、ＣＰＵ及び記憶回路を備え、操作部９０から入力されたコマンド信号、各検査項目の分析パラメータ、試料ＩＤ及び検査項目の情報等の入力情報を記憶回路に記憶した後、これらの入力情報に基づいて、分析制御部６０、データ処理部７０及び出力部８０を統括してシステム全体を制御する。

以下、図１乃至図７を参照して、搬送部４０及び搬送機構部５０の動作の一例を説明する。

図７は、搬送部４０及び搬送機構部５０の動作を示したフローチャートである。

操作部９０から分析部１０立ち上げのための洗浄を実行させる入力が行われると、分析制御部６０は、駆動部３０及び搬送部４０を制御する。そして、分析制御部６０は、分析部１０の各ユニットの洗浄動作を実行させる。

駆動部３０は、例えば２４時間冷却駆動して第１及び第２試薬庫１５，１８内を冷却する。また、駆動部３０は、操作部９０からの洗浄を実行させる入力に応じて、分析部１０の各ユニットを駆動して洗浄動作を行う。搬送部４０の供給部４８は、駆動部３０の各駆動機構の動作により発生した排熱をサンプラ部４２内に供給する。

分析部１０の各ユニットの洗浄終了後、試料が収容された試料容器１１を例えば複数保持する試料ラック１２が搬送部４０の投入部４１における投入位置Ｐ１に載置され、検査開始の入力が操作部９０から行われると、搬送部４０及び搬送機構部５０は、分析制御部６０の制御に基づき動作を開始する（ステップＳ１）。

搬送部４０の第２の温度センサ４６は、サンプラ部４２内の空気中の温度を検出する。ファン４７は、供給部４８からの排熱の供給により第２の温度センサ４６に検出された温度が排気温度ｔ２以上になると作動してサンプラ部４２内の空気を自動分析装置１００外に排気し、第２の温度センサ４６に検出された温度が排気温度ｔ２よりも下がると排気動作を停止する。

搬送機構部５０の第１の搬送機構５１は、投入位置Ｐ１の試料ラック１２を投入搬出位置Ｐ２へ搬送する（ステップＳ２）。

ステップＳ２の後、第２の搬送機構５２は、投入搬出位置Ｐ２の試料ラック１２を読取位置Ｐ３へ搬送する（ステップＳ３）。

リーダ４４は、読取位置Ｐ３の試料ラック１２のラックＩＤ及びこの試料ラック１２に保持されている試料容器１１の試料ＩＤを読み取る。第１の温度センサ４５は、リーダ４４に試料ＩＤが読み取られた試料容器１１内の試料の温度を検出する（ステップＳ４）。

ステップＳ４の後、第１の温度センサ４５により検出されたすべての試料容器１１内の試料の温度が下限温度ｔ１以上である場合（ステップＳ５のはい）、第２の搬送機構５２は、当該試料容器１１を保持する試料ラック１２を分注レーン４２１の分注搬入位置Ｐ４へ搬送する（ステップＳ６）。

ステップＳ４の後、第１の温度センサ４５により検出された温度が下限温度ｔ１よりも低い温度の試料を収容する試料容器１１が１個以上ある場合（ステップＳ５のいいえ）、第２の搬送機構５２は、当該試料容器１１を保持する試料ラック１２を待機レーン４２２の待機位置Ｐ７へ搬送する（ステップＳ７）。

ここでは、第２の搬送機構５２は、下限温度ｔ１よりも低い温度の試料が収容された試料容器１１を保持する試料ラック１２を、待機レーン４２２の待機位置Ｐ７のうち、供給部４８により排熱が供給される通気口４２ｂに近い待機位置Ｐ７へ優先的に搬送する。

このように、分注が行われる前の試料の温度を検出することにより、冷蔵庫等の保管場所から出したばかりの試料のように、試料が低温状態であるか否かを判別することができる。これにより、低温により粘度が上昇した試料であるか否かを判別することができる。

ステップＳ７の後、第２の搬送機構５２は、待機位置Ｐ７で予め設定された待機時間以上経過した試料ラック１２を、待機位置Ｐ７から読取出位置Ｐ３へ搬送する（ステップＳ８）。その後、リーダ４４が読取位置Ｐ３の試料ラック１２のラックＩＤ及びこの試料ラック１２に保持されている試料容器１１の試料ＩＤを読み取ってからステップＳ４に移行する。

このように、供給部４８から供給される排熱を利用してサンプラ部４２内の温度を上昇させ、下限温度ｔ１よりも低い温度の試料が収容された試料容器１１を保持する試料ラック１２を待機位置Ｐ７で待機させることにより、当該試料容器１１内の試料の温度を上昇させることができる。これにより、ヒータ等の専用の熱源を必要とせず、低温が原因で上昇した試料の粘度を低下させることができる。

ステップＳ６の後、第３の搬送機構５３は、分注搬入位置Ｐ４の試料ラック１２を分注位置Ｐ５へ搬送する（ステップＳ９）。

なお、第１の温度センサ４５に検出された温度が下限温度ｔ１以上の試料を収容する試料容器１１と、下限温度ｔ１よりも低い試料を収容する試料容器１１とを保持している試料ラック１２を読取位置Ｐ３から分注位置Ｐ５に搬送させ、下限温度ｔ１よりも低い試料の分注を止めて、下限温度ｔ１以上の試料の分注を行わせてから、当該試料ラック１２を待機位置Ｐ７へ搬送させる。そして、待機位置Ｐ７の試料ラック１２を待機時間以上経過してから再び読取位置Ｐ３に搬送させて下限温度ｔ１よりも低かった試料の温度を第１の温度センサ４５に再度検出させて、当該試料が下限温度ｔ１以上である場合、当該試料ラック１２を分注位置Ｐ５に搬送させ、当該試料の分注を行わせるように実施してもよい。

ステップＳ９の後、試料分注プローブ２１は、分注位置Ｐ５の試料ラック１２に保持されている試料容器１１内の試料を反応容器１９に分注する。第３の搬送機構５３は、すべての試料容器１１内の試料の分注が終了した試料ラック１２を分注位置Ｐ５から分注搬出位置Ｐ６へ搬送する（ステップＳ１０）。

このように、温度が下限温度ｔ１以上の試料を試料分注プローブ２１に分注させることにより、高粘度が原因による試料の分注精度の低下を防ぐことができる。

ステップＳ１０の後、第２の搬送機構５２は、分注搬出位置Ｐ６の試料ラック１２を回収部４３の回収搬入位置Ｐ８へ搬送する。そして、第４の搬送機構５４が回収搬入位置Ｐ８の試料ラック１２を回収位置Ｐ９まで搬送すると、搬送部４０及び搬送機構部５０は、動作を終了する（ステップＳ１２）。

なお、上記実施形態に限定されるものではなく、分注位置へ試料を搬送する順番を入れ替え可能なように設けた待機位置を有するサンプラ部と、分注位置及び待機位置へ搬送可能な搬送機構とを備えたものであればよい。例えば、複数の試料ラック１２を放射状に待機可能な待機位置を有するディスクを備えたサンプラ部と、当該ディスクを回転する機構及び試料ラック１２を待機位置及び分注位置へ搬送する機構とを備えたものであってもよい。

以上述べた実施形態によれば、自動分析装置１００で発生する排熱をサンプラ部４２内に供給する供給部４８と、試料容器１１内の試料の温度を検出する第１の温度センサ４５とを設け、下限温度ｔ１以上の試料を収容する試料容器１１を保持する試料ラック１２をサンプラ部４２内の試料の分注が行われる分注位置Ｐ５へ搬送させ、下限温度ｔ１よりも低い温度の試料が収容された試料容器１１を保持する試料ラック１２をサンプラ部４２内の待機位置Ｐ７へ搬送させることができる。これにより、高粘度が原因による試料の分注精度の低下を防ぐことができる。

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することを意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると共に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。

Ｐ５ 分注位置
Ｐ７ 待機位置
１１ 試料容器
１２ 試料ラック
４２ サンプラ部
４５ 第１の温度センサ
４８ 供給部
５２ 第２の搬送機構
４８１ ダクト

Claims (5)

1. 試料容器内の試料と試薬とを分注して、前記試料及び前記試薬の混合液を測定する自動分析装置において、
   前記自動分析装置で発生した排熱をサンプラ部内に供給する供給部と、
   前記試料容器内の試料の温度を検出する第１の温度センサと、
   前記第１の温度センサにより検出された温度が予め設定された下限温度以上の試料を収容する試料容器を当該試料の分注が行われる分注位置へ搬送し、前記第１の温度センサにより検出された温度が前記下限温度よりも低い試料を収容する試料容器を待機させる前記サンプラ部内の待機位置へ搬送する搬送機構とを備える自動分析装置。
2. 前記供給部は、前記排熱を発生する熱源が配置された空間と、前記サンプラ部内との間を連通するダクトを有する請求項１に記載の自動分析装置。
3. 前記ダクトは、前記空間上部に配置された前記空間に開口する第１の開口部と、前記サンプラ部の下側であって前記第１の開口部以上の高さに配置された前記サンプラ部内に開口する第２の開口部とを有する請求項２に記載の自動分析装置。
4. 前記搬送機構は、前記待機位置に搬送した前記試料容器のうち、前記待機位置で予め設定された待機時間以上経過した試料容器をこの試料容器内の試料の温度が前記第１の温度センサにより検出される位置まで搬送し、前記第１の温度センサにより検出された当該試料容器内の試料の温度が前記下限温度以上である場合、当該試料容器を前記分注位置へ搬送する請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の自動分析装置。
5. 前記サンプラ部内の空気の温度を検出する第２の温度センサと、
   前記第２の温度センサにより検出された温度が前記下限温度よりも高い予め設定された排気温度以上である場合に前記サンプラ部内の空気を前記自動分析装置外に排気し、前記第２の温度センサにより検出された温度が前記排気温度よりも低い場合に排気を停止するファンと、を有する請求項１乃至請求項４のいずれかに記載の自動分析装置。