JP2019158512A - サンプリングオシロスコープ及びこれを用いた自動スケール方法 - Google Patents
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前記光信号の消光比を設定する消光比設定手段2と、
前記光信号を電気信号に変換する光電変換器3と、
前記光電変換器に流れる電流値を検出する電流検出手段7と、
前記電流検出手段にて検出された電流値から前記光信号の平均値を算出し、算出した平均値と前記消光比設定手段にて設定された消光比に基づいて該消光比の比率を示すOneレベルとZeroレベルを算出するパラメータ算出手段8と、
前記パラメータ算出手段にて算出された前記光信号の平均値、Oneレベル、Zeroレベルに基づいて前記表示画面の縦軸をスケーリング調整する表示制御手段10とを備えたことを特徴とする。
前記光信号の消光比を設定するステップと、
前記光信号を光電変換器にて電気信号に変換するステップと、
前記光電変換器に流れる電流値を検出するステップと、
前記電流値から前記光信号の平均値を算出し、算出した平均値と前記消光比に基づいて該消光比の比率を示すOneレベルとZeroレベルを算出するステップと、
前記光信号の平均値、Oneレベル、Zeroレベルに基づいて前記表示画面の縦軸をスケーリング調整するステップとを含むことを特徴とする。
被測定信号が光信号の場合、光電変換器のフォトダイオードに流れる電流値を測定することにより、入力光信号の平均値をサンプラ回路を用いないで測定が可能である。
図1に示すように、本実施の形態のサンプリングオシロスコープ1は、被測定信号としての光信号の波形を表示するものであり、表示画面の縦軸(Y軸)のスケーリング調整に要する処理時間の短縮を図ったオートスケール処理を実現するため、消光比設定手段2、光電変換器(O/E)3、トリガ生成回路4、サンプラ5、クロッシング座標測定手段6、電流検出手段7、パラメータ算出手段8、切替手段9、表示制御手段10、表示手段11を備えて概略構成される。
2 消光比設定手段
3 光電変換器(O/E)
4 トリガ生成回路
5 サンプラ
6 クロッシング座標測定手段
7 電流検出手段
8 パラメータ算出手段
9 切替手段
10 表示制御手段
11 表示手段
21 周波数変換部
21a 可変分周器
21b 周波数逓倍回路
22 DDS(ダイレクト・デジタル・シンセサイザ)
23 BPF(バンドパスフィルタ)
24 増幅器
25 可変分周器
Claims (2)
- 被測定信号としての光信号を所定のサンプリングタイミングでサンプリングして表示画面に波形表示するサンプリングオシロスコープ(1)において、
前記光信号の消光比を設定する消光比設定手段(2)と、
前記光信号を電気信号に変換する光電変換器(3)と、
前記光電変換器に流れる電流値を検出する電流検出手段(7)と、
前記電流検出手段にて検出された電流値から前記光信号の平均値を算出し、算出した平均値と前記消光比設定手段にて設定された消光比に基づいて該消光比の比率を示すOneレベルとZeroレベルを算出するパラメータ算出手段(8)と、
前記パラメータ算出手段にて算出された前記光信号の平均値、Oneレベル、Zeroレベルに基づいて前記表示画面の縦軸をスケーリング調整する表示制御手段(10)とを備えたことを特徴とするサンプリングオシロスコープ。 - 被測定信号としての光信号を所定のサンプリングタイミングでサンプリングして表示画面に波形表示するサンプリングオシロスコープ(1)を用いた自動スケール方法において、
前記光信号の消光比を設定するステップと、
前記光信号を光電変換器にて電気信号に変換するステップと、
前記光電変換器に流れる電流値を検出するステップと、
前記電流値から前記光信号の平均値を算出し、算出した平均値と前記消光比に基づいて該消光比の比率を示すOneレベルとZeroレベルを算出するステップと、
前記光信号の平均値、Oneレベル、Zeroレベルに基づいて前記表示画面の縦軸をスケーリング調整するステップとを含むことを特徴とするサンプリングオシロスコープを用いた自動スケール方法。
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