JP2019144146A - 流体素子 - Google Patents
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Abstract
【課題】高度な加工精度が要求されず、しかも大容量の流体の流体原料の通流を可能にしたディスク方式の流体素子を提供する。【解決手段】質量流量計又は質量流量制御器の主流路Rmに挿入されて使用される流体素子Aである。流体素子Aは、複数の平板状の流路ディスク60と、流路ディスク60の間にて流路ディスク60の周縁全周に気密的又は液密的に接合されたスペーサ70の積層体Cnで構成される。スペーサ70の内側にて、流路ディスク60の中央に中央通流孔61が穿設され、流路ディスク60の周縁に周縁通流孔65が穿設される。積層体Cnの流路ディスク60とスペーサ70とは、拡散接合にて接合される。【選択図】図1
Description
本発明の主たる部分は、質量流量計(マスフローメータ)又は質量流量制御器(マスフローコントローラ)の一部品である流体素子に関する。更に詳しくは、熱式質量流量計(サーマルマスフローメータ)、及び熱式質量流量制御器(サーマルマスフローコントローラ)における「バイパス素子」や、差圧式質量流量計(ディファレンシャルプレッシャマスフローメータ)、及び差圧式質量流量制御器(ディファレンシャルプレッシャフローコントローラ)における「差圧発生素子」に係る。
本発明では、前記「バイパス素子」「差圧発生素子」としては同一物を使用する。しかしながら、熱式質量流量計、及び熱式質量流量制御器では、測定用の金属毛細管に流体原料の一部が流れ、「バイパス素子」に残りの大部分の流体原料が流れるが、差圧式質量流量計、及び差圧式質量流量制御器では、流体原料の全量が「差圧発生素子」に流れる。そこで、本発明では、前記「バイパス素子」「差圧発生素子」の上位概念として「流体素子」を用いることとする。
本発明では、前記「バイパス素子」「差圧発生素子」としては同一物を使用する。しかしながら、熱式質量流量計、及び熱式質量流量制御器では、測定用の金属毛細管に流体原料の一部が流れ、「バイパス素子」に残りの大部分の流体原料が流れるが、差圧式質量流量計、及び差圧式質量流量制御器では、流体原料の全量が「差圧発生素子」に流れる。そこで、本発明では、前記「バイパス素子」「差圧発生素子」の上位概念として「流体素子」を用いることとする。
従来の一般的な熱的質量流量計(同制御器、以下、両者を含めて「熱的質量流量計等」という。)は、多数の毛細管を束ねたバイパス素子によるバイパス流路を内部に形成した本体ブロックに対して別途センサケースを設け、このセンサケース内に測定流路としての金属毛細管(内径が0.1mm〜0.4mm)を設け、この細管に一対のセンサコイルが巻設されている(特許文献1)。
このような熱的質量流量計等において、測定流路として金属毛細管を用いる理由は、金属毛細管の入口と出口の間の圧力差(差圧)が測定されるべき流体の質量流量と良好な直線性を示す必要があるからである。この金属毛細管を流れる流体の量は、数ミリリットル/分と極めて少流量である。そして残りの流体は、上記「流体素子」の1つである、多数の毛細管を束ねた「バイパス素子」を流れる。このバイパス素子に用いられる毛細管は、測定流路としての金属毛細管と差圧対流量の特性がほぼ類似するものが用いられ、ハンドリングのために太い円管内に隙間なく詰め込まれる。このバイパス素子の毛細管は、測定されるべき流体の流量によって最適の本数や形状が選ばれる。
このような熱的質量流量計等において、測定流路として金属毛細管を用いる理由は、金属毛細管の入口と出口の間の圧力差(差圧)が測定されるべき流体の質量流量と良好な直線性を示す必要があるからである。この金属毛細管を流れる流体の量は、数ミリリットル/分と極めて少流量である。そして残りの流体は、上記「流体素子」の1つである、多数の毛細管を束ねた「バイパス素子」を流れる。このバイパス素子に用いられる毛細管は、測定流路としての金属毛細管と差圧対流量の特性がほぼ類似するものが用いられ、ハンドリングのために太い円管内に隙間なく詰め込まれる。このバイパス素子の毛細管は、測定されるべき流体の流量によって最適の本数や形状が選ばれる。
しかしながら、このバイパス素子は、以下のような問題点を有する。
1)バイパス用の毛細管の流量精度を確保するためには、後述するが、バイパス素子を構成する毛細管の内周の半径の精度が極めて重要になる。そのためには求める半径となるように該毛細管の内半径を精密に作成し、且つ両端のばりを除去する必要がある。この「内面研磨」は毛細管の内周の正確な半径を得る上で非常に重要であって必然的に製作コストが掛かる。その結果、大流量素子になればそのコストは急激に高くなる。
2)その他の問題点として、円管内に詰め込まれたバイパス用の毛細管が抜けないようにするために、例えば、円管の両端をかしめる、或いは円管の中心に丸棒を挿入し、外側の太い円管と丸棒とでバイパス用の毛細管を挟み込み、抵抗を増やして抜けにくくするようにしている。このような方策を採ったとしても、バイパス用の毛細管の抜け止めを安全に防ぐことは出来なかったし、測定されるべき流体の流量が大流量になるとバイパス素子そのものを大きくしなければならないし、大きくするとバイパス用の毛細管が抜けやすくなる。
3)バイパス用の毛細管の円管への組み込みは、手作業による細心の注意が要求され、生産性が低い。
1)バイパス用の毛細管の流量精度を確保するためには、後述するが、バイパス素子を構成する毛細管の内周の半径の精度が極めて重要になる。そのためには求める半径となるように該毛細管の内半径を精密に作成し、且つ両端のばりを除去する必要がある。この「内面研磨」は毛細管の内周の正確な半径を得る上で非常に重要であって必然的に製作コストが掛かる。その結果、大流量素子になればそのコストは急激に高くなる。
2)その他の問題点として、円管内に詰め込まれたバイパス用の毛細管が抜けないようにするために、例えば、円管の両端をかしめる、或いは円管の中心に丸棒を挿入し、外側の太い円管と丸棒とでバイパス用の毛細管を挟み込み、抵抗を増やして抜けにくくするようにしている。このような方策を採ったとしても、バイパス用の毛細管の抜け止めを安全に防ぐことは出来なかったし、測定されるべき流体の流量が大流量になるとバイパス素子そのものを大きくしなければならないし、大きくするとバイパス用の毛細管が抜けやすくなる。
3)バイパス用の毛細管の円管への組み込みは、手作業による細心の注意が要求され、生産性が低い。
これに対して特許文献2に示すような、ディスク方式のバイパス素子がある。即ち、円板の中心にドリルで貫通孔を形成し、ハーフエッチングにて貫通孔から外周に至る溝を形成し、この円板を積層することで前記溝をバイパス流路として使用するのである。この場合、単に円板の積層数を増減させることで、バイパス素子を通流する流体の流量の増減が可能となる。
しかしながら、このディスク方式のバイパス素子には以下のような問題点がある。
1)この場合は、円板を積層し、円板の片面にハーフエッチングされた「溝」をバイパス用の毛細管として使用することになる。バイパス素子の正確なバイパス流量を確保するためには、流体原料の通流路を正確な円管状とし、且つ正確な半径を確保することが重要であるが、ハーフエッチングではこれを得難い。
即ち、ハーフエッチングの場合、円板に薄い金属板を用いるが、ハーフエッチング技術では極めて細くて浅い、断面が半円又は矩形の溝しかできず、従って積層した時に正確な寸法の円管を形成できない。換言すれば、ハーフエッチ円板積層型バイパス素子のバイパス流量は精度が悪い。仮に精度を高めようとすれば、ハーフエッチの精度を高めなければならず、著しいコスト増に見舞われることになるし、加工精度に限界がある。
2)加えて、他の問題点として、円板の一方の面に貫通孔が伸びた放射状の溝を形成する場合、「溝」の数は自ずと限定される。その結果、この方式では、1枚の円板に設けられる「毛細管」として使用する「溝」の本数が限られてしまい、大流量のバイパス流量に対応するには多数枚の円板が必要となり、大容量の流体には適用が困難であった。要するに、従来のバイパス素子は、コスト高であるにも拘わらずバイパス流量の精度が悪く、しかも大流量に対応できないという技術的問題点があった。上記の場合は、「差圧発生素子」として使用する場合でも言えることである。
1)この場合は、円板を積層し、円板の片面にハーフエッチングされた「溝」をバイパス用の毛細管として使用することになる。バイパス素子の正確なバイパス流量を確保するためには、流体原料の通流路を正確な円管状とし、且つ正確な半径を確保することが重要であるが、ハーフエッチングではこれを得難い。
即ち、ハーフエッチングの場合、円板に薄い金属板を用いるが、ハーフエッチング技術では極めて細くて浅い、断面が半円又は矩形の溝しかできず、従って積層した時に正確な寸法の円管を形成できない。換言すれば、ハーフエッチ円板積層型バイパス素子のバイパス流量は精度が悪い。仮に精度を高めようとすれば、ハーフエッチの精度を高めなければならず、著しいコスト増に見舞われることになるし、加工精度に限界がある。
2)加えて、他の問題点として、円板の一方の面に貫通孔が伸びた放射状の溝を形成する場合、「溝」の数は自ずと限定される。その結果、この方式では、1枚の円板に設けられる「毛細管」として使用する「溝」の本数が限られてしまい、大流量のバイパス流量に対応するには多数枚の円板が必要となり、大容量の流体には適用が困難であった。要するに、従来のバイパス素子は、コスト高であるにも拘わらずバイパス流量の精度が悪く、しかも大流量に対応できないという技術的問題点があった。上記の場合は、「差圧発生素子」として使用する場合でも言えることである。
本発明は、上記のような問題点に鑑みてなされたもので、従来例ほどの寸法精度も要求されず、しかも同一サイズであれば従来例に比較して大容量の流体原料の通流を可能にした、そして安価なディスク方式の流体素子を提供することをその主たる課題とする。
請求項1に記載の発明(流体素子A:図3(a))は、
質量流量計又は質量流量制御器に流入し、バイパスした流体原料Gが通流する主流路Rmに挿入されて使用され、又は全量の流体原料Gが通流する主流路Rmに挿入されて両端に圧力差を生じさせる流体素子Aであって、
前記流体素子Aは、複数の平板状の流路ディスク60と、前記流路ディスク60の間にて前記流路ディスク60の周縁全周に気密的又は液密的に接合されたスペーサ70の積層体Cnとで構成され、
前記スペーサ70の内側にて、流路ディスク60の中央に中央通流孔61が穿設され、流路ディスク60の周縁に周縁通流孔65が穿設されことを特徴とする。
質量流量計又は質量流量制御器に流入し、バイパスした流体原料Gが通流する主流路Rmに挿入されて使用され、又は全量の流体原料Gが通流する主流路Rmに挿入されて両端に圧力差を生じさせる流体素子Aであって、
前記流体素子Aは、複数の平板状の流路ディスク60と、前記流路ディスク60の間にて前記流路ディスク60の周縁全周に気密的又は液密的に接合されたスペーサ70の積層体Cnとで構成され、
前記スペーサ70の内側にて、流路ディスク60の中央に中央通流孔61が穿設され、流路ディスク60の周縁に周縁通流孔65が穿設されことを特徴とする。
請求項2に記載の発明(流体素子A:図3(b)(c))は、
請求項1に記載の積層体Cnと、
前記積層体Cnの両面のそれぞれに気密的又は液密的に接合された一方の蓋部材80と、他方の蓋部材85とで構成され、
前記一方の蓋部材80の中央には中央貫通孔81が穿設され、
前記他方の蓋部材85の周縁に周縁貫通孔86が穿設されていることを特徴とする。
請求項1に記載の積層体Cnと、
前記積層体Cnの両面のそれぞれに気密的又は液密的に接合された一方の蓋部材80と、他方の蓋部材85とで構成され、
前記一方の蓋部材80の中央には中央貫通孔81が穿設され、
前記他方の蓋部材85の周縁に周縁貫通孔86が穿設されていることを特徴とする。
請求項3に記載の発明(流体素子A:図7)は、
質量流量計又は質量流量制御器に流入し、バイパスした流体原料Gが通流する主流路Rmに挿入されて使用され、又は全量の流体原料Gが通流する主流路Rmに挿入されて両端に圧力差を生じさせる流体素子Aであって、
隣接して配置された平板状の流路ディスク90と、互いの間隔を設けて前記流路ディスク90の間に配置された複数のスペーサ100とで構成された積層体Cnと、
前記積層体Cnの両面にそれぞれ配設された一方の蓋部材93、及び他方の蓋部材96と、
いずれか一方の蓋部材93(96)から他方の蓋部材96(93)に挿通され、前記一方の蓋部材93(96)、前記積層体Cn、及び他方の蓋部材96(93)を一体化する締結部材98とで構成され、
いずれか一方の蓋部材93(96)の中央に中央貫通孔94が穿設され、
前記流路ディスク90の中央に中央通流孔91が穿設され、
前記積層体Cnの外周面には、前記スペーサ70の間に、前記流路ディスク90間に形成される流体原料Gの流路Rに繋がる開口が設けられていることを特徴とする。
質量流量計又は質量流量制御器に流入し、バイパスした流体原料Gが通流する主流路Rmに挿入されて使用され、又は全量の流体原料Gが通流する主流路Rmに挿入されて両端に圧力差を生じさせる流体素子Aであって、
隣接して配置された平板状の流路ディスク90と、互いの間隔を設けて前記流路ディスク90の間に配置された複数のスペーサ100とで構成された積層体Cnと、
前記積層体Cnの両面にそれぞれ配設された一方の蓋部材93、及び他方の蓋部材96と、
いずれか一方の蓋部材93(96)から他方の蓋部材96(93)に挿通され、前記一方の蓋部材93(96)、前記積層体Cn、及び他方の蓋部材96(93)を一体化する締結部材98とで構成され、
いずれか一方の蓋部材93(96)の中央に中央貫通孔94が穿設され、
前記流路ディスク90の中央に中央通流孔91が穿設され、
前記積層体Cnの外周面には、前記スペーサ70の間に、前記流路ディスク90間に形成される流体原料Gの流路Rに繋がる開口が設けられていることを特徴とする。
上記流体素子Aには流体原料Gが、流路ディスク60・90の間を層流状態で流れる。この時、層流状態で流れる流体原料Gの流量Qは後述する式で表されるが、その流量Qは流路ディスク60・90間の流路幅h(スペーサ70・100の厚みT)の3乗に比例することになり、従来のバイパス用の毛細管(流量Q内半径の4乗に比例)に比べて加工精度を1桁落とすことが出来る。これにより従来例に比べて流体素子Aを安価に製造できるようになる。
これに加えて、本発明の流体素子Aは、流路ディスク60・90間の隙間全体を流路Rとして使用できるため、同一サイズであれば、従来例に比べて大量の流体原料Gを流すことが出来る。
なお、上記「主流路Rm」とは、熱式質量流量計(同制御器)にあっては、流入した大半の流体原料Gが通流する「バイパス流路Rb」であり、差圧式質量流量計(同制御器)にあっては、流入した全量の流体原料Gが通流する「差圧発生流路Rh」である。「主流路Rm」は「バイパス流路Rb」と「差圧発生流路Rh」の上位概念である。
なお、上記「主流路Rm」とは、熱式質量流量計(同制御器)にあっては、流入した大半の流体原料Gが通流する「バイパス流路Rb」であり、差圧式質量流量計(同制御器)にあっては、流入した全量の流体原料Gが通流する「差圧発生流路Rh」である。「主流路Rm」は「バイパス流路Rb」と「差圧発生流路Rh」の上位概念である。
請求項4は、請求項1又は2に記載の発明(流体素子A)において、
積層体Cnの流路ディスク60とスペーサ70とは、拡散接合にて接合されていることを特徴とする。
積層体Cnの流路ディスク60とスペーサ70とは、拡散接合にて接合されていることを特徴とする。
本発明の流体素子Aによれば、従来例に比べて安価に製造することが出来るだけでなく、同一サイズであれば、従来例に比べて大流量の流体原料を流すことが出来る。
以下、本発明を図面に従って説明する。本発明の流体素子Aが適用される装置には、図1に示す熱式質量流量制御器と、図10で必要部分のみを示した差圧式質量流量制御器、或いは、流量原料Gの質量流量を制御する質量流量制御部50を持たない質量流量計があり、本発明の流体素子Aはそれらのいずれにも適用される。
本発明では熱式質量流量制御器(第1実施例:図1)を代表例として説明し、差圧式質量流量制御器(第2実施例:図10)においてはその必要部分のみを説明する。質量流量計に付いては、上記のように質量流量制御器から質量流量制御部50を除いた部分ということになるので、説明の簡略のために質量流量制御器の説明を援用する。
本発明では熱式質量流量制御器(第1実施例:図1)を代表例として説明し、差圧式質量流量制御器(第2実施例:図10)においてはその必要部分のみを説明する。質量流量計に付いては、上記のように質量流量制御器から質量流量制御部50を除いた部分ということになるので、説明の簡略のために質量流量制御器の説明を援用する。
そしてこの熱式質量流量制御器(及び質量流量計)において、質量流量制御の対象となる原料は半導体ガスであり、差圧式質量流量制御器(及び質量流量計)では、例えば、TEOSSのような液体原料である。ここでは、気体も液体も共に流体原料Gとする。
第1実施例の質量流量制御器は、図1の通りで、図示しない原料供給源から供給される流体原料Gの質量流量を測定すると共に、所定の質量流量の流体原料Gを図示しない成膜装置などの製造装置へ供給するためのものであり、質量流量測定部10、及び質量流量制御部50、これらが取り付けられた本体ブロックH及び入口フランジ20、出口フランジ22から構成されている。そして質量流量測定部10は、測定回路とバイパス回路に分かれている。
質量流量制御器の本体部分は、角柱状のブロックで構成され、内部に種々の部材が内蔵される本体ブロックHと、本体ブロックHの入口側端面に装着された入口フランジ20、出口側端部に装着された出口フランジ22とで構成されている。
入口フランジ20には原料供給源から供給された流体原料Gを本体ブロックH内に取り込む流体原料入口21が設けられ、出口フランジ22には製造装置へ流体原料Gを送り出す流体原料出口23が設けられている。
そして本体ブロックHの内部には、流体原料入口21に連通し、流体原料Gを測定回路とバイパス回路に分流すると共にバイパス素子Aが収納される第1空間1、測定回路とバイパス回路に分流した流体原料Gが合流し、後述する質量流量制御部50の弁室54に至る第2空間2、及び合流した前記流体原料Gが質量流量制御されて流体原料出口23に向かって送り出される第3空間3が設けられている。
入口フランジ20には原料供給源から供給された流体原料Gを本体ブロックH内に取り込む流体原料入口21が設けられ、出口フランジ22には製造装置へ流体原料Gを送り出す流体原料出口23が設けられている。
そして本体ブロックHの内部には、流体原料入口21に連通し、流体原料Gを測定回路とバイパス回路に分流すると共にバイパス素子Aが収納される第1空間1、測定回路とバイパス回路に分流した流体原料Gが合流し、後述する質量流量制御部50の弁室54に至る第2空間2、及び合流した前記流体原料Gが質量流量制御されて流体原料出口23に向かって送り出される第3空間3が設けられている。
第1空間1、第2空間2、及び第3空間3は同軸に設けられ、第1空間1と第2空間2とは後述するようにバイパス素子Aを介して繋がっており、第2空間2と第3空間3の間には隔壁7が設けられて仕切られている。なお、第1空間1、第2空間2及び第3空間3は中心軸に対する横断面は、円形の孔である。
第1空間1の内径は第2空間2の内径より大きく、両者の境界の段部5には第2空間2側から第1空間1側に向けて複数のスタッド6が突設されている。そして第1空間1の上部には上流側センサ通孔1eが穿設され、第1空間1に近い第2空間2の上部には下流側センサ通孔1fが穿設されている。更に、隔壁7に近い第2空間2の上部には、後述する質量流量制御部50の弁室54に至る制御バルブ入口孔57が穿設されている。即ち、該弁室54の下面は制御バルブ入口孔57を介して第2空間2に開口する。
第1空間1には、円形の蓋9、バイパス素子A及び分流用の第1部材30並びに押しばね35が収納されるようになっている。(なお、前記蓋9は、後述する図3(b)(c)に示すような出口側となる他方の蓋部材85を使用する場合は特に必要ではない。)
第1空間1は入口側と奥側に分かれており、奥側は流体素子収納空間1aとなっており、入口側は後述する第1部材収納空間1bとなっている。流体素子収納空間1aの内径は第1部材収納空間1bの内径より小さく、流体素子Aの外径に合わせて(或いは図7のような場合には流体素子Aの外径より大きく)形成されている流体素子収納空間1aの奥行きはバイパス素子Aの長さDより短く形成されている(図1)。(なお、バイパス素子Aが後述するようにスペーサ70の両側に流路ディスク60を一体化した単位素子C、1枚で構成されることも有り得るので、図2のように流体素子収納空間1aの奥行きを単位素子C、1枚の厚みより短くし、複数のスペーサ70と流路ディスク60を交互に配置した積層体Cn、或いはこれに加えて蓋部材80・85を設けたバイパス素子Aを用いる場合に、積層体Cnに合わせたカラー4を用いるようにしてもよい。従って、カラー4の外径は流体素子収納空間1aの内径に合致し、カラー4の内径はバイパス素子Aの外径に合致する。そして、カラー4の長さは、積層体Cnの積層長さDから単位素子C、1枚分の長さを引いた長さより若干短くし、バイパス素子Aの後端が流体素子収納空間1aから若干飛び出すようにする。)
第1空間1は入口側と奥側に分かれており、奥側は流体素子収納空間1aとなっており、入口側は後述する第1部材収納空間1bとなっている。流体素子収納空間1aの内径は第1部材収納空間1bの内径より小さく、流体素子Aの外径に合わせて(或いは図7のような場合には流体素子Aの外径より大きく)形成されている流体素子収納空間1aの奥行きはバイパス素子Aの長さDより短く形成されている(図1)。(なお、バイパス素子Aが後述するようにスペーサ70の両側に流路ディスク60を一体化した単位素子C、1枚で構成されることも有り得るので、図2のように流体素子収納空間1aの奥行きを単位素子C、1枚の厚みより短くし、複数のスペーサ70と流路ディスク60を交互に配置した積層体Cn、或いはこれに加えて蓋部材80・85を設けたバイパス素子Aを用いる場合に、積層体Cnに合わせたカラー4を用いるようにしてもよい。従って、カラー4の外径は流体素子収納空間1aの内径に合致し、カラー4の内径はバイパス素子Aの外径に合致する。そして、カラー4の長さは、積層体Cnの積層長さDから単位素子C、1枚分の長さを引いた長さより若干短くし、バイパス素子Aの後端が流体素子収納空間1aから若干飛び出すようにする。)
蓋9は、これが用いられる場合には、第1空間1の最も奥に挿入され、スタッド6に当接する。蓋9は第1空間1の内径より小さく、蓋9の外周面と第1空間1の内周面との間にその差分の隙間Sが形成されている。スタッド6が設けられた段部5と蓋9の間にスタッド6の突出高さだけの隙間が設けられ、この隙間Sに連続している。以下、両隙間をSで示す。そしてこの隙間Sは、後述する流体素子Aの、流体原料Gが流出する周縁通流孔65に連通している。
図1の実施例では、蓋9はスタッド6と別体に形成され、上記のようにスタッド6に当接するように取り付けられているが、スタッド6を蓋9に取り付け、上記段部5に設けた取り付け穴にスタッド6を差し込んで固定するようにしてもよい。
図1の実施例では、蓋9はスタッド6と別体に形成され、上記のようにスタッド6に当接するように取り付けられているが、スタッド6を蓋9に取り付け、上記段部5に設けた取り付け穴にスタッド6を差し込んで固定するようにしてもよい。
次に、流体素子Aについて説明する。本発明では流体素子Aは例えば、図3(a)(b)、及び図7のように3種類のものがあるが、いずれも説明の簡略のため同じ符号Aで示す。なお、図3(c)は、図3(b)を逆向きにして使用した場合である。この場合、本体ブロックHの構造を、逆向きにして使用が可能なように変更される。
図3(a)、及び図7の流体素子Aについても同様、本体ブロックHの構造を適切に変更して逆向きにして使用することが出来る。
図3(a)、及び図7の流体素子Aについても同様、本体ブロックHの構造を適切に変更して逆向きにして使用することが出来る。
流体素子Aの後述の構成部材は、例えば拡散接合のような接合方法で気密的或いは水密的に一体接合される。この流体素子Aでは、流路ディスク60間が流体原料Gの流路Rとなるため、後述する理由からスペーサ70の厚みTは厳密に加工される。
図3(a)の流体素子Aは、流路ディスク60とスペーサ70とで構成され、これら流路ディスク60とスペーサ70が交互に積層され、両端に流路ディスク60が配置され、拡散結合により一体化された積層体Cnである。1つのスペーサ70と、両側に気密的に接合された流路ディスク60の積層体が最小単位で、これを素子単位Cとする。
流体素子Aの流量が増大すれば、流路ディスク60とスペーサ70の積層枚数を増やすことになる。
流体素子Aの流量が増大すれば、流路ディスク60とスペーサ70の積層枚数を増やすことになる。
図3(b)の流体素子Aは、流路ディスク60とスペーサ70が交互に積層した積層体Cnの両側それぞれに蓋部材80・85を拡散接合した例である。ここでは、スペーサ70側に一方の蓋部材80を、流路ディスク60に他方の蓋部材85を拡散接合する。スペーサ70側(入口側)の蓋部材80には、中央貫通孔81が穿設され、流路ディスク60側(出口側)の蓋部材85には、後述する流路ディスク60の周縁通流孔65に一致するように周縁貫通孔86が穿設されている。この他方の蓋部材85は図1に示す蓋9の代わりとすることが出来る。
図3(c)の流体素子Aは、上記の図3(b)を逆にして使用した場合で、流体原料Gが、蓋部材85の周縁貫通孔86から入り、積層体Cnの内部を通り、蓋部材80の中央貫通孔81から流出する。
図示していないが、図3(a)の流体素子Aを逆にして使用することも可能である。
図示していないが、図3(a)の流体素子Aを逆にして使用することも可能である。
流路ディスク60は、平板状の金属薄板からエッチングで切り抜かれたもので、外形は円形で、中央に中央通流孔61、周縁部に外周に沿って複数の周縁通流孔65を切り抜いたものである。中央通流孔61と周縁通流孔65とは離れて設けられており、中央通流孔61と周縁通流孔65との間が内側リング62で、この部分が流路ディスク60を用いて積層体Cnとした時の流路Rの一部を構成する平面部となる。
図5の実施例では、中央通流孔61が流路ディスク60の中央に円形に切り抜かれている。そして、複数の周縁通流孔65は、流路ディスク60の外縁に沿って円弧状又は扇形に切り抜かれ、周縁通流孔65の外縁を構成する流路ディスク60の外縁リング66と内側リング62とが複数の支持アーム64で繋がれている。本実施例では周縁通流孔65は4カ所設けられている。勿論、周縁通流孔65の大きさや位置は図の実施例に限定されるものではない。
周縁通流孔65と中央通流孔61とは離れており、両者の間は流体原料Gが整流となって沿って流れる流路Rの一部を構成するリング状の平面部(内側リング62の表・裏面)となる。該平面部は、研磨などで出来る限り滑らかな面とすることが好ましい。
周縁通流孔65と中央通流孔61とは離れており、両者の間は流体原料Gが整流となって沿って流れる流路Rの一部を構成するリング状の平面部(内側リング62の表・裏面)となる。該平面部は、研磨などで出来る限り滑らかな面とすることが好ましい。
スペーサ70は、流路ディスク60の中央通流孔61と周縁通流孔65とを内側に取り囲むように前記隣接する流路ディスク60の対向面に拡散接合されるリング状の部材で、本実施例では流路ディスク60の外径と同じ外径で、円形の薄板をエッチングでリング状に切り抜かれている。リング部分71の幅(内径と外径の差)は、流路ディスク60の外縁リング66と同じ幅に切り抜かれている。そしてリング部分71の内周には、流路ディスク60の支持アーム64に合わせてガイドアーム74が突設され、これらリング部分71とガイドアーム74は流路ディスク60の接合部分において、外縁リング66と支持アーム64に拡散接合されている。なお、スペーサ70の厚みTは下記のように重要なので、1つの流体素子Aで使用されるスペーサ70の厚みTは均一に揃えられる。
流体素子Aは、上記図3(a)のように流路ディスク60とスペーサ70とを交互に配設して拡散接合した積層体Cnで構成されるが、その前後に入口側となる一方の蓋部材80および出口となる他方の蓋部材85を設けてもよい(図3(b))。その場合、一方の蓋部材80の中心には流路ディスク60の中央通流孔61に合わせて中央貫通孔81が穿設され、他方の蓋部材85の周縁には周縁通流孔65合わせて円弧又は扇形の周縁貫通孔86が穿設される。接合時、各流路ディスク60の中央通流孔61同士(及び中央貫通孔81)、周縁通流孔65同士(及び周縁貫通孔86)は一致するようにして積層され、流路ディスク60やスペーサ70に拡散接合される。
第1空間1の流体素子収納空間1aに収納される第1部材30は、中心に流入孔31が設けられた円筒状の部材で、外周面に測定用流体溝33が全周にわたって形成され、流入孔31の内面から測定用流体溝33に至る測定用流体孔32が1乃至複数穿設されている。流入孔31の内径は、流路ディスク60の中央通流孔61より大きいため、測定用流体孔32を超えた所から第1部材30の挿入側先端部34に向けてその内径が漸減するように形成されており、測定用流体32の挿入側先端部34の開口径は流路ディスク60の中央通流孔61に一致する大きさに形成されている。(なお、流体素子Aが図3(a)(b)のように、流体原料Gが流体素子Aの中央通流孔61から周縁通流孔65に流れる場合は、第1部材30には上記のように中央通流孔61に繋がる流入孔31を設けることになるが、図3(c)のように逆向きに使用し、周縁通流孔65から中央通流孔61に流体原料Gが流れる場合は、図示していないが、周縁通流孔65に繋がるように流入孔を第1部材に設けることになる。)
押しばね35は、例えば皿バネのようなものが使用される。図1のように蓋9、流体素子A、第1部材30を第1空間1に順に収納し、上記押しばね35を第1部材30の外側に当接させて第1空間1に収納し、入口フランジ20を本体ブロックHにボルト止めすると押しばね35が撓んで第1部材30の挿入側先端部34が流体素子Aの突出部分に押圧し、流体素子Aを流体素子収納空間1a内に固定する。
センサ管12は、逆U字状に曲成された毛細管と、その両端に設けられたフランジ13・14で構成されている。このセンサ管12は本実施例の本体ブロックHの上部に配置され、センサ管12の上流側端部に設けられた接続用のフランジ13を介して前記上流側端部が上流側センサ通孔1eに接続され、センサ管12の下流側端部に設けられた接続用のフランジ14を介して前記下流側端部が下流側センサ通孔1fと接続されている。上記センサ管12には、周知の質量流量センサ15が取り付けられている。
上記バイパス素子Aの下流側にて第2空間2と本体ブロックHの上面に設けられたフランジ14とは、下流側センサ通孔1fにて接続されている。
上記バイパス素子Aの下流側にて第2空間2と本体ブロックHの上面に設けられたフランジ14とは、下流側センサ通孔1fにて接続されている。
以上から測定用流路Rsは、上流側センサ通孔1e、センサ管12、及び下流側センサ通孔1fで構成され、バイパス流路Rbは、流体素子A、と隙間Sで構成される。
質量流量測定部10は、計測・制御回路など各種電子回路からなる測定部10aと、一対の質量流量センサ15が巻着されている前記センサ管12とを備えている。そして前記測定部10aは導電線11を介して後述する質量流量制御部50に接続されている。
また、第2空間2の下流側端部の隔壁7の近傍に、第2空間2から本体ブロックHの上面に至る制御バルブ入口孔57が穿設され、隔壁7を隔てて第3空間3の上流側端部(隔壁7に沿う部分)に本体ブロックHの上面から第3空間3に至る制御バルブ出口孔58が穿設されている。上記制御バルブ入口孔57の本体ブロックHの上面部分には、後述する弁室54の下半部を構成する凹部28が形成されている。
本体ブロックHの上面には合流した流体原料Gの質量流量制御を行う質量流量制御部50が設置されている。質量流量制御部50は、図1に示すように、本体ブロックHの上面で、第2空間2側で隔壁7に沿って形成された凹部28の上方に配置されている弁機構部40と、弁機構部40上に搭載された筒状のケーシング52内に収納されたアクチュエータ56とで構成されている。
弁機構部40は、リング状の機構部本体45、機構部本体45内に上下方向に摺動可能に収納されている弁体41とで構成されている。そして、弁体41の下面には、前記凹部28に一致して凹設された下面開口の凹穴42が設けられており、この凹穴42の周囲に環状の開閉弁部43が設けられている。開閉弁部43の断面形状は、下端に行くほど薄肉になる断面三角形で、下端(本体ブロックHの上面の弁座47に対する接触縁)はナイフエッジに形成され、閉時には開閉弁部43の下端前周が弁座47に気密的に接触する。
なお、上記凹穴42は弁室54の上半部を構成し、直下の凹部28とで弁室54を構成する。この弁室54内には例えばコイルスプリングのような弾発部材46が収納され、弁体41を常時上方向に押し上げ、アクチュエータ56の作動部56aに当接させている。
なお、上記凹穴42は弁室54の上半部を構成し、直下の凹部28とで弁室54を構成する。この弁室54内には例えばコイルスプリングのような弾発部材46が収納され、弁体41を常時上方向に押し上げ、アクチュエータ56の作動部56aに当接させている。
アクチュエータ56の一例であるピエゾ素子は、印加電圧の大きさに応じて長さが変化するものであり、印加電圧がゼロのときには、ピエゾ素子が伸長する長さはゼロとなり、印加電圧が大きくなるほど伸長する長さは長くなる。そして、ピエゾ素子が伸長すると弾発部材46を押し縮めて弁体41を押し下げ、弁体41の開閉弁部43が本体ブロックHの上面の弁座47に向かって下がる。最終的には本体ブロックHの上面の弁座47に当接して弁室54を閉じる。即ち、開閉弁部43と本体ブロックHの上面の弁座47との間の制御隙間Wを制御することで質量流量調整が行われる。なお、ピエゾ素子の代わりにソレノイド素子を使用するようにしてもよい。
質量流量制御器の運転を開始すると、流体原料Gが流体原料入口21に流入する。この時点で開閉弁部43は弁座47から離れ、開の状態となっている。第1空間1の第1部材30の流入孔31に入った流体原料Gはここで分流して、バイパス側と測定側に分かれる。測定側に分流した流体原料Gはセンサ管12を流れる。センサ管12内を流れる流体原料Gはバイパス素子Aに流れる流体原料Gと比較して少量である。バイパス側の流体原料Gはセンサ管12内を流れる流体原料G対して一定の比率で流れるようになっている。このセンサ管12には上記のように質量流量センサ15が取り付けられており、質量流量センサ15からの電位差から、これに接続された測定部10aがセンサ管12を流れる流体原料Gの質量流量を算出する。そしてこの算出値に従って上記質量流量制御部50の弁開度を制御することになる。
一方、バイパス側流体原料Gは、中央通流孔61からバイパス素子Aの内部に入り、隣接する流路ディスク60間に挟まれた1乃至複数の流路Rを通って周縁通流孔65から出て、蓋9と流体素子収納空間1aとの間の隙間Sを通り、第2空間2に至る。そしてセンサ管12を通ってきたセンサ側の流体原料Gと合流して第2空間2を流れ、弁室54に入る。
前記バイパス素子Aの流路R内では、流体原料Gは、中央通流孔61から周縁通流孔65に向かって放射状の層流となって流れる。その時、流路Rにスペーサ70のガイドアーム74の存在により、これが流路Rを流れる流体原料Gのガイドとなり、流体原料Gの層流流れをよりスムーズにする。
前記バイパス素子Aの流路R内では、流体原料Gは、中央通流孔61から周縁通流孔65に向かって放射状の層流となって流れる。その時、流路Rにスペーサ70のガイドアーム74の存在により、これが流路Rを流れる流体原料Gのガイドとなり、流体原料Gの層流流れをよりスムーズにする。
弁体41は前述の算出値に従った弁開度Wとなるように昇降し、弁室54から制御バルブ出口孔58に流出する流体原料Gは正確に制御された質量流量となる。
ここで、本発明のバイパス素子Aと従来の毛細管を使用したバイパス素子(図示せず)との相違を説明する。
従来の毛細管を束ねたバイパス素子の場合、液体原料Gの層流領域ではハーゲン・ポアズイユの法則が適用される。
Q(流量)=π・a4・△P/(8・μ・L)・・・・式1
a:バイパス用の毛細管の内径の半径
△P:バイパス用の毛細管の入口と出口の圧力差(差圧)
μ:流体原料の粘性係数
L:バイパス用の毛細管の長さ
従来の毛細管を束ねたバイパス素子の場合、液体原料Gの層流領域ではハーゲン・ポアズイユの法則が適用される。
Q(流量)=π・a4・△P/(8・μ・L)・・・・式1
a:バイパス用の毛細管の内径の半径
△P:バイパス用の毛細管の入口と出口の圧力差(差圧)
μ:流体原料の粘性係数
L:バイパス用の毛細管の長さ
これに対して本発明のバイパス素子Aは、隣接する二枚の流路ディスク60の間の流路Rを中央通流孔61から周縁通流孔65に向かって放射状に流体原料Gを層流となって流れるので、以下の式が成立する。
Q(流量)=π・h3・△P/{6・μ・ln(r2/r1)}・・・・式2
h:隣接する二枚の流路ディスク間の距離
r1:中央通流孔の半径((中央通流孔の面積/π)1/2)
r2:周縁通流孔の内側の半径((周縁通流孔の面積/π)1/2)
△P:中央通流孔の圧力と周縁通流孔の圧力差(流体素子の出入口間の差圧)
Q(流量)=π・h3・△P/{6・μ・ln(r2/r1)}・・・・式2
h:隣接する二枚の流路ディスク間の距離
r1:中央通流孔の半径((中央通流孔の面積/π)1/2)
r2:周縁通流孔の内側の半径((周縁通流孔の面積/π)1/2)
△P:中央通流孔の圧力と周縁通流孔の圧力差(流体素子の出入口間の差圧)
式1と式2を比較すると、本発明における式2では、円板状のバイパス素子の流量は前記距離hの3乗に比例する。これに対して、従来の毛細管を使用したバイパス素子では、その流量は、前記半径aの4乗である。
従来の毛細管を使用したバイパス素子では、そこを流れる流量Qは、バイパス用の毛細管の内径の半径aの精度が4乗で影響を受けるのに対しして、本発明のバイパス素子Aでは、前記距離hの3乗で影響を受けることになり、バイパス流量Qは、従来の毛細管を使用したバイパス素子に比べて前記距離hの精度から受ける影響が小さいということになる。換言すれば、従来の毛細管を使用したバイパス素子に比べて本発明のバイパス素子Aでは、そこまでの精度が要求されないことを意味する。
従来の毛細管を使用したバイパス素子では、そこを流れる流量Qは、バイパス用の毛細管の内径の半径aの精度が4乗で影響を受けるのに対しして、本発明のバイパス素子Aでは、前記距離hの3乗で影響を受けることになり、バイパス流量Qは、従来の毛細管を使用したバイパス素子に比べて前記距離hの精度から受ける影響が小さいということになる。換言すれば、従来の毛細管を使用したバイパス素子に比べて本発明のバイパス素子Aでは、そこまでの精度が要求されないことを意味する。
このことは、バイパス素子の構成部材の加工精度と組み立て精度の差となって現れ、本発明は従来例に比べて加工精度と組み立て精度とを大幅に落とすことが出来、コストダウンに繋がるというメリットがある。
なお、バイパス素子Aの流路ディスク60とスペーサ70とは、拡散接合(接合する材料同士を密着させ,真空や不活性ガス中などの制御された雰囲気中で、加圧・加熱し、接合面に生じる原子の拡散を利用して接合する方法)で接続されているので、従来例のような生産性の低さや、毛細管脱落のような恐れはない。
なお、バイパス素子Aの流路ディスク60とスペーサ70とは、拡散接合(接合する材料同士を密着させ,真空や不活性ガス中などの制御された雰囲気中で、加圧・加熱し、接合面に生じる原子の拡散を利用して接合する方法)で接続されているので、従来例のような生産性の低さや、毛細管脱落のような恐れはない。
本発明のバイパス素子は、従来例のような流路Rのための溝を設けず、流路ディスク60間の空間全体を流路Rとしているので、流量を大きく取れて流路ディスク60とスペーサ70の使用枚数を少なくすることが出来るだけでなく、技術的に高度な「ハーフエッチング技術」は不要であり、この点でも製作コストを大幅に抑制できる。換言すれば、同一流量に対して流体素子を小さく、且つ安価にできる。
図7〜図9は、バイパス素子Aの他の例(接合が締結部材98による場合)で、バイパス素子Aは図8に示すように円板状で、その中央に中央通流孔91が穿設され、その周囲に締結用孔92が穿設された流路ディスク90と、ワッシャ型のスペーサ100と、ねじのような締結部材98、一方の蓋部材93及び他方の蓋部材96とで構成されている。
流路ディスク90の中央通流孔91の周囲に穿設された複数の締結用孔92は、中央通流孔91と同心円の上に一定角度で設けられている。
スペーサ100は座金状のリングで、1つのバイパス素子Aに使用される複数のスペーサ100は、研磨などによりその厚みTに均一に製造される。
一方の蓋部材93は円板状の板材で流路ディスク90より大きく、その中心に流路ディスク90の中央通流孔91に合わせて中央貫通孔94が穿設され、該中央貫通孔94の周囲にて流路ディスク90の締結用孔92に一致させて締結用ネジ孔95aが設けられている。そして、一方の蓋部材93の、流路ディスク90から食み出た外縁部分に取付用孔95bが穿設されている。該取付用孔95bは締結用ネジ孔95aに対する同心円上に一定角度で設けられている。
他方の蓋部材96は円板状の板材で流路ディスク90と同じ大きさで、流路ディスク90の締結用孔92に一致して締結用孔98が設けられている。
しかして、一方の蓋部材93と他方の蓋部材96との間に流路ディスク90とスペーサ100とを交互に配設し、締結部材98を他方の蓋部材96の締結用孔98、積層構造になっている複数の流路ディスク90の締結用孔92、1又は複数のスペーサ100に挿通し、一方の蓋部材93の締結用ネジ孔95aに螺入してこれらを一体化する。これにより締結部材98を上記のように取り付けるだけで流体素子Aを正確に組み立てることが出来る。なおこの場合、流体素子Aの外周面全周にスペーサ100幅の開口が形成されることになる。
上記のようにして組み立てられた流体素子Aを図7に示すように、第1空間1の流体素子収納空間1aに挿入し、素子取付部材99を一方の蓋部材93の取付用孔95bに挿入し、これを本体ブロックHに設けたねじ穴に螺着し、流体素子Aを前記流体素子収納空間1aに固着する。固着された流体素子Aの外周と流体素子収納空間1aとの間、及び他方の蓋部材96と流体素子収納空間1aの奥壁との間に隙間Sが形成される。
なおこの流体素子Aは、素子取付部材99で本体ブロックHに固定できるため、図1の実施例の場合と異なり、第1部材を必要としない。
なおこの流体素子Aは、素子取付部材99で本体ブロックHに固定できるため、図1の実施例の場合と異なり、第1部材を必要としない。
そして、一方の蓋部材93の中央貫通孔94から流体素子A内に流入した流体原料Gは流路ディスク90間の流路Rを層流状態で流れ、外周面の開口から隙間Sに流出し、第2空間2に分流した流体原料Gが流れ込み、センサ管12を通って来た流体原料Gと合流する。そして既に述べたように流体原料Gの質量流量制御がなされる。
図7の流体素子Aは、一方の蓋部材93の中央貫通孔94から流体原料Gが流入する順方向の用い方であるが、一方の蓋部材93の中央貫通孔94をなくし、代わりに前記隙間Sに合致させて図示していない外縁貫通孔を設け、且つ他方の蓋部材96に図示していない中央貫通孔を設けることで、流体素子Aの外周面の開口から流体原料Gが流路R内に層流状態で流れ込み、図示していない中央貫通孔から第2空間2に流出するようにしてもよい。
図10は、圧力式質量流量計(制御器)の質量流量測定部10の部分断面で、上流側センサ通孔1eに連通する第1空間1側の圧力素子17、下流側センサ通孔1fに連通する第2空間2側の圧力素子18が設けられている。
流体素子Aには流体原料Gの全量が流れ、流体素子Aの両側には第1空間1の圧力P1と、第2空間2の圧力P2との間に圧力差が生じる。この場合、流体素子Aは差圧発生素子として働く。そして両者の差圧を測定部10aで検出する。
流体素子Aには流体原料Gの全量が流れ、流体素子Aの両側には第1空間1の圧力P1と、第2空間2の圧力P2との間に圧力差が生じる。この場合、流体素子Aは差圧発生素子として働く。そして両者の差圧を測定部10aで検出する。
これにより測定部10aは、流体素子Aを流れる流体原料Gの質量流量を算出する。装置が圧力式質量流量制御器である場合、この算出値に従って上記質量流量制御部50の弁開度を制御することになる。他の点は図1の熱式質量流量制御器と同じである。
なお、図3、図7の流体素子Aは、圧力式質量流量計(制御器)に適用可能であり、且つ上記のように順方向でも、逆方向でも使用できる。
A:流体素子(バイパス素子・差圧発生素子)、C:単位素子、Cn:積層体、D:流体素子の積層長さ、G:流体原料(ガス・液体)、H:本体ブロック、R:流路、Rb:バイパス流路、Rs:測定用流路、Rg:合流用流路、Rm:主流路、Rr:質量流量制御流路、S:隙間、T:スペーサの厚み、W:制御隙間、1:第1空間、1a:流体素子収納空間、1b:第1部材収納空間、1e:上流側センサ通孔、1f:下流側センサ通孔、2:第2空間、3:第3空間、4:カラー、5:段部、6:スタッド、7:隔壁、9:蓋、10:質量流量測定部、10a:測定部、11:導電線、12:センサ管、13・14:フランジ、15:質量流量センサ、17・18:圧力素子、20:入口フランジ、21:流体原料入口、22:出口フランジ、23:流体原料出口、28:凹部、30:第1部材、31:流入孔、32:測定用流体孔、33:測定用流体溝、34:挿入側先端部、35:押しばね、40:弁機構部、41:弁体、42:凹穴、43:開閉弁部、45:機構部本体、46:弾発部材、47:弁座、50:質量流量制御部、52:ケーシング、54:弁室、56:アクチュエータ、56a:作動部、57:制御バルブ入口孔、58:制御バルブ出口孔、60:流路ディスク、61:中央通流孔、62:内側リング、64:支持アーム、65:周縁通流孔、66:外縁リング、70:スペーサ、71:リング部分、74:ガイドアーム、80:(一方の)蓋部材、81:中央貫通孔、85:(他方の)蓋部材、86:周縁貫通孔、90:流路ディスク、91:中央通流孔、92:締結用孔、93:(一方の)蓋部材、94:中央貫通孔、95a:締結用ネジ孔、95b:取付用孔、96:(他方の)蓋部材、97:締結用孔、98:締結部材、99:素子取付部材、100:スペーサ
Claims (4)
- 質量流量計又は質量流量制御器に流入し、バイパスした流体原料が通流する主流路に挿入されて使用され、又は全量の流体原料が通流する主流路に挿入されて両端に圧力差を生じさせる流体素子であって、
前記流体素子は、複数の平板状の流路ディスクと、前記流路ディスクの間にて前記流路ディスクの周縁全周に気密的又は液密的に接合されたスペーサの積層体とで構成され、
前記スペーサの内側にて、流路ディスクの中央に中央通流孔が穿設され、流路ディスクの周縁に周縁通流孔が穿設されことを特徴とする流体素子。 - 請求項1に記載の積層体と、
前記積層体の両面のそれぞれに気密的又は液密的に接合された一方の蓋部材と、他方の蓋部材とで構成され、
前記一方の蓋部材の中央には中央貫通孔が穿設され、
前記他方の蓋部材の周縁に周縁貫通孔が穿設されていることを特徴とする流体素子。 - 質量流量計又は質量流量制御器に流入し、バイパスした流体原料が通流する主流路に挿入されて使用され、又は全量の流体原料が通流する主流路に挿入されて両端に圧力差を生じさせる流体素子であって、
隣接して配置された平板状の流路ディスクと、互いの間隔を設けて前記流路ディスクの間に配置された複数のスペーサとで構成された積層体と、
前記積層体の両面にそれぞれ配設された一方の蓋部材、及び他方の蓋部材と、
いずれか一方の蓋部材から他方の蓋部材に挿通され、前記一方の蓋部材、前記積層体、及び他方の蓋部材を一体化する締結部材とで構成され、
いずれか一方の蓋部材の中央に中央貫通孔が穿設され、
前記流路ディスクの中央に中央通流孔が穿設され、
前記積層体の外周面には、前記スペーサの間に、前記流路ディスク間に形成される流体原料の流路に繋がる開口が設けられていることを特徴とする流体素子。 - 積層体の流路ディスクとスペーサとは、拡散接合にて接合されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の流体素子。
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