JP2019136783A - 両面研削装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】板状の被研削物の厚さを測定可能であって、被研削物を精度よく所望の厚さに研削加工できる両面研削装置を提供すること。【解決手段】両面研削装置1は、上面が第1砥石面11であって、第1中心軸C1を回転軸として回転する第1砥石10と、下面が第2砥石面21であって、第1中心軸C1に平行な第2中心軸C2を回転軸として回転する第2砥石20と、第1砥石面11に載置された被研削物50の上面の鉛直方向位置および第1砥石面11の鉛直方向位置を検知することで被研削物50の厚さを測定可能な測定部40と、を備える。第1砥石面11および第2砥石面21は、被研削物50を加工する研削加工領域において対向しており、研削加工領域における第1砥石面11と第2砥石面21との距離は、測定部40で測定された被研削物50の厚さに基づいて決定される。【選択図】図1

Description

本発明は、両面研削装置に関するものである。
ウェハを所望の厚さに研削加工するためには、研削時におけるウェハの厚さを正確に把握することが好ましい。特許文献1には、ウェハを研削加工する研削装置と、当該研削装置から取り出したウェハの厚さを測定する測定装置とを備えた、ウェハのラッピング装置が開示されている。
特開平05−185367号公報
特許文献1に係るラッピング装置では、研削装置からウェハを取り出して厚さを測定し、再度研削装置にウェハを取り付けて研削するといった動作を繰り返す必要がある。しかし、ウェハを取り出したり取り付けたりする際に、研削装置に設置するウェハの位置がずれてしまい、ウェハの加工精度が落ちてしまうことがあるという問題があった。
本発明は、このような事情に鑑みなされたものであり、板状の被研削物の厚さを測定可能であって、被研削物を精度よく所望の厚さに研削加工できる両面研削装置を提供するものである。
本発明に係る両面研削装置は、上面が第1砥石面であって、第1中心軸を回転軸として回転する第1砥石と、下面が第2砥石面であって、前記第1中心軸に平行な第2中心軸を回転軸として回転する第2砥石と、前記第1砥石面に載置された被研削物の上面の鉛直方向位置および前記第1砥石面の鉛直方向位置を検知することで前記被研削物の厚さを測定可能な測定部と、を備え、前記第1砥石面および前記第2砥石面は、前記被研削物を加工する研削加工領域において対向しており、前記研削加工領域における前記第1砥石面と前記第2砥石面との距離は、前記測定部で測定された前記被研削物の厚さに基づいて決定されることを、特徴としたものである。
本発明に係る両面研削装置は、被研削物を研削加工するための第1砥石および第2砥石と、第1砥石の第1砥石面上に載置された被研削物の厚さを測定可能な測定部と、を備える。このような構成においては、被研削物の厚さ測定と研削加工を第1砥石上で行うことができる。したがって、被研削物の厚さを測定する際に被研削物を取り外す必要が無く、加工プロセス中における誤差の発生を抑制することができる。すなわち、被研削物を精度よく所望の厚さに研削加工することができる。
本発明により、板状の被研削物の厚さを測定可能であって、被研削物を精度よく所望の厚さに研削加工できる両面研削装置を提供することができる。
被研削物が載置される際の両面研削装置を示す斜視図である。 被研削物が載置された後の両面研削装置を示す斜視図である。 図2の状態における両面研削装置の、切断線III−IIIでの断面図である。 両面研削装置を用いて被研削物の研削加工を行う場合の流れを説明するフロー図である。 ステップS1における両面研削装置の状態を示す斜視図である。 ステップS2における両面研削装置の状態を示す斜視図である。 ステップS3における両面研削装置の状態を示す斜視図である。 図7の状態における両面研削装置の、切断線VIII−VIIIでの断面図である。 ステップS4における両面研削装置の状態を示す斜視図である。 ステップS7における両面研削装置の状態を示す斜視図である。 図10の状態における両面研削装置の、切断線XI−XIでの断面図である。 ステップS7の詳細なフローを示すフロー図である。
以下、本発明を適用した具体的な実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。ただし、本発明が以下の実施形態に限定される訳ではない。また、説明を明確にするため、以下の記載および図面は、適宜、簡略化されている。
なお、当然のことながら、図1およびその他の図面に示した右手系xyz座標は、構成要素の位置関係を説明するための便宜的なものである。通常、z軸正向きが鉛直上向き、xy平面が水平面であり、図面間で共通である。
まず、本発明の実施形態に係る両面研削装置1の全体的な構成について、まず図1〜図3を用いて説明する。図1は、被研削物50が載置される際の両面研削装置1を示す斜視図である。図2は、被研削物50が載置された後の両面研削装置1を示す斜視図である。図3は、図2の状態における両面研削装置1の、切断線III−IIIでの断面図である。なお、図1の斜視図、および図3以降の全ての断面図においては、第2砥石20を省略しないが、図2以降の斜視図においては、説明の便宜上、第2砥石20を省略する。また、図1の斜視図においては、説明の便宜上、第2砥石20を実際の位置よりも上方に示している。
図1に示すように、両面研削装置1は、第1砥石10と、サンギア15と、第2砥石20と、カウンタギア25と、測定部40と、キャリアギア55と、を備える。また、両面研削装置1は、図示しない制御部をさらに備える。両面研削装置1は、キャリアギア55に保持された被研削物50の両面を研削する装置である。
第1砥石10は、第1中心軸C1を回転軸として回転する、円板状の部材である。第1中心軸C1は、鉛直方向である。第1砥石10は、図示しない下本体部の上方に配置されている。下本体部は、例えば、中心軸を鉛直方向とした円筒の形状であるが、下本体部の形状は円筒状に限らず、直方体状でもよい。第1砥石10の上面は、第1砥石面11である。
第1砥石面11の中心部には、上方に開口した内孔12が設けられている。内孔12内には、第1中心軸C1を回転軸として回転するサンギア15が、第1砥石10と同軸に配置されている。
第1砥石面11には、吸着孔13が設けられている。吸着孔13は、第1砥石10を貫通している。第1砥石面11の吸着孔13上には、被研削物50が載置される。吸着孔13の内部は、下本体部によって減圧することができる。したがって、吸着孔13上に載置された被研削物50は第1砥石面11に吸着される。なお、吸着孔13は複数備えられていてもよい。第1砥石10は、第1砥石面11上に配置された被研削物50を研削する。
第2砥石20は、第2中心軸C2を回転軸として回転する、円板状の部材である。第2中心軸C2は、第1中心軸C1と平行であり鉛直方向である。第2砥石20は、図示しない上本体部の下方に配置されている。上本体部は、例えば、中心軸を鉛直方向とした円筒の形状であるが、上本体部の形状は円筒状に限らず、直方体状でもよい。第2中心軸C2は、第1中心軸C1と間隔を空けて配置されている。第2砥石20の上面は、第2砥石面21である。
第2砥石面21の中心部には、下方に開口した内孔22が設けられている。なお、説明の便宜上、図1において第2砥石20は実際の位置よりも上方に示されている。実際には、図3に示すように、内孔22内にカウンタギア25が配置されるように第2砥石20が配置されている。すなわち、内孔22内には、第2中心軸C2を回転軸として回転するカウンタギア25が、第2砥石20と同軸に配置されている。
図1に示すように、第2砥石面21には、吸着孔23が設けられている。吸着孔23は、第2砥石20を貫通している。吸着孔23の内部は、上本体部によって減圧される。吸着孔23の内部が減圧されることによって、図3に示すように、キャリアギア55は第2砥石面21に吸着される。なお、吸着孔23は複数備えられていてもよい。
図1に示すように、第1砥石10及び第2砥石20は、回転軸が間隔を空けて配置されたオフセット配置となっている。第2砥石20における第2砥石面21と、第1砥石10における第1砥石面11とは、部分的に対向している。第1砥石面11と第2砥石面21とが対向する領域を、研削加工領域という。第2砥石20は、研削加工領域に配置された被研削物50を研削する。
サンギア15は、歯車状の部材であり、外周に複数の歯が形成されている。サンギア15は、第1砥石10と同軸に、第1砥石10に設けられた内孔12内に配置される。ここで、サンギア15の上面は、第1砥石面11よりも上方に突出しており、図示しないサンギア回転軸に接続されている。サンギア回転軸も、第1砥石10の第1中心軸C1と同軸になるように、配置されている。xy平面視では、サンギア15は、第2砥石20の外側に配置されている。
カウンタギア25は、歯車状の部材であり、外周に複数の歯が形成されている。カウンタギア25は、第2砥石20と同軸に、第2砥石20に設けられた内孔22内に配置される。ここで、カウンタギア25の下面は、第2砥石面21よりも下方に突出しており、カウンタギア回転軸26に接続されている。カウンタギア回転軸26も、第1砥石10の第1中心軸C1と同軸になるように、配置されている。xy平面視では、カウンタギア25は、第1砥石10の外側に配置されている。
被研削物50は、平坦な両面を有する板状の部材である。被研削物50は、例えば、ウェハである。なお、被研削物50は、研削される平坦な両面を有していれば、ウェハに限らない。
被研削物50は、第1砥石面11と第2砥石面21とが対向する研削加工領域に配置されて研削される。図2に示すように、被研削物50の下面51は、第1砥石10の第1砥石面11に当接し、被研削物50の上面52は、第2砥石20の第2砥石面21に当接する。これにより、被研削物50の下面51は、第1砥石面11により研削され、被研削物50の上面52は、第2砥石面21により研削される。
図1に示すように、キャリアギア55は、歯車状の部材であり、外周面に複数の歯が形成されている。また、キャリアギア55は、内部に被研削物50を保持する保持孔が設けられている。キャリアギア55は、被研削物50を保持するので、単に、キャリアともいう。その場合には、外周の複数の歯をキャリアギアという。
キャリアギア55の中心軸と、保持孔の中心軸とは、ずれていてもよい。キャリアギア55は、被研削物50の外周面を囲んで被研削物50を保持する。被研削物50は、例えば、保持孔に嵌合されて保持される。キャリアギア55の厚さは、被研削物50の厚さよりも薄い。よって、キャリアギア55に保持されたときの被研削物50の下面51及び上面52は、保持孔から突出している。例えば、キャリアギア55の厚さは、70[μm]である。
図3に示すように、初め、キャリアギア55は第2砥石20の吸着孔23に吸着されている。キャリアギア55は、被研削物50の研削時に降下され、第1砥石面11上の被研削物50を保持孔に保持する。被研削物50を保持したキャリアギア55は、第1砥石10と第2砥石20との間に配置される。この場合に、xy平面視では、キャリアギア55に保持された被研削物50は、研削加工領域内に配置される。一方、キャリアギア55の歯は、xy平面視では、第1砥石面11から外側に突出する部分及び第2砥石面21から外側に突出する部分を有している。
サンギア15は、図示しないサンギア回転軸の回転に伴って回転される。カウンタギア25は、第1中心軸C1を回転軸としたサンギア15の回転に連動して、第2中心軸C2を回転軸として回転する。サンギア15及びカウンタギア25に噛み合うキャリアギア55は、第1砥石面11と第2砥石面21との間で、第1砥石面11に平行な面内で回転する。
一方、第1砥石10は、第1中心軸C1を回転軸として回転し、第2砥石20は、第2中心軸C2を回転軸として回転する。これにより、被研削物50の下面51は第1砥石面11によって研削され、被研削物50の上面52は、第2砥石面21によって研削される。なお、第1砥石10とサンギア15は、独立に回転してもよいし、それぞれ一体となって回転してもよい。また、第2砥石20とカウンタギア25は、独立に回転してもよいし、それぞれ一体となって回転してもよい。
測定部40は、被研削物50の厚さを測定するための装置である。図2に示すように、測定部40は、支持部材41と、第1変位センサ42と、第2変位センサ43と、を備えている。支持部材41は、第1変位センサ42および第2変位センサ43を支持する部材である。第1変位センサ42および第2変位センサ43は、y軸周りに回動可能な棒状部材である。測定時において、第1変位センサ42および第2変位センサ43は、鉛直方向を向く。
第1変位センサ42は、測定時において鉛直方向に伸縮する。第1変位センサ42は、第1砥石面11に載置された被研削物50の上面52に接触することで、被研削物50の上面52の鉛直方向位置(以下、鉛直位置)を検知する。また、第1変位センサ42は、第1砥石面11に接触することで、第1砥石面11の鉛直位置を検知する。第1変位センサ42は、非測定時においては鉛直方向を向いておらず、被研削物50や第1砥石面11と接しない。
第2変位センサ43は、測定時において鉛直方向に伸縮する。第2変位センサ43は、第2砥石面21に接触することで、第2砥石面21の鉛直位置を検知する。第2変位センサ43は、非測定時においては鉛直方向を向いておらず、第2砥石面21と接しない。
制御部(不図示)は、例えば、コンピュータのような演算機能を有する装置である。制御部は、両面研削装置1の各部の動作を制御する。
また、制御部は、測定部40が検知した第1砥石面11の鉛直位置から、第1砥石10の摩耗量を算出する。また、制御部は、測定部40が検知した被研削物50の上面52の鉛直位置と第1砥石面11の鉛直位置との差から、第1砥石面11に載置された被研削物50の厚さを算出する。また、制御部は、測定部40が検知した第2砥石面21の鉛直位置から、第2砥石20の摩耗量を算出する。
また、制御部は、測定部40で測定された被研削物50の厚さに基づいて、研削加工時における第2砥石面21の高さを調整する。制御部は、測定部40が検知した第2砥石面21の鉛直位置をさらに考慮して、研削加工時における第2砥石面21の高さを調整してもよい。
ここで、両面研削装置1を用いて被研削物50の研削加工を行う場合の流れについて、図4〜図12を用いて説明する。図4は、両面研削装置1を用いて被研削物50の研削加工を行う場合の流れを説明するフロー図である。
まず、ステップS1において、被研削物50は測定部40の近くに搬送される。図5は、ステップS1における両面研削装置1の状態を示す斜視図である。図5に示すように、ステップS1において、制御部は第1砥石面11を回転させる。これによって、被研削物50は、第1変位センサ42によって鉛直位置を測定できる位置に搬送される。
次に、図4に示すように、ステップS2において、測定部40は被研削物50の上面52の鉛直位置を検知する。具体的には、第1変位センサ42が被研削物50の上面52の鉛直位置を検知する。図6は、ステップS2における両面研削装置1の状態を示す斜視図である。図6に示すように、ステップS2において、第1変位センサ42は鉛直方向を向くように回動する。第1変位センサ42は、この状態で鉛直方向に伸長することで被研削物50の上面52と接触し、被研削物50の上面52の鉛直位置を検知する。第1変位センサ42は、被研削物50の上面52の鉛直位置を検知したのち、鉛直方向に収縮する。
次に、図4に示すように、ステップS3において、測定部40は被研削物50を研削加工領域に搬送される。図7は、ステップS3における両面研削装置1の状態を示す斜視図である。図8は、図7の状態における両面研削装置1の、切断線VIII−VIIIでの断面図である。
図7に示すように、ステップS3において、第1変位センサ42はy軸周りに回動して被研削物50の上面52から退避する。その後、制御部は第1砥石面11を回転させる。これによって、被研削物50は研削加工領域に搬送される。このとき、図8に示すように、キャリアギア55は第2砥石面21の吸着孔23に吸着されているため、被研削物50は、キャリアギア55の下をくぐって保持孔の下に搬送される。
次に、図4に示すように、ステップS4において、測定部40は第1砥石面11の鉛直位置を検知する。具体的には、第1変位センサ42が第1砥石面11の鉛直位置を検知する。図9は、ステップS4における両面研削装置1の状態を示す斜視図である。図9に示すように、ステップS4において、第1変位センサ42は鉛直方向を向くように回動する。第1変位センサ42は、この状態で鉛直方向に伸長することで第1砥石面11と接触し、第1砥石面11の鉛直位置を検知する。第1変位センサ42は、第1砥石面11の鉛直位置を検知したのち、鉛直方向に収縮する。
また、ステップS4において、測定部40は第2砥石面21の鉛直位置を検知してもよい。具体的には、第2変位センサ43が第2砥石面21の鉛直位置を検知する。この場合、ステップS4において、第2変位センサ43も鉛直方向を向くように回動する。第2変位センサ43は、この状態で鉛直方向に伸長することで第2砥石面21と接触し、第2砥石面21の鉛直位置を検知する。第2変位センサ43は、第2砥石面21の鉛直位置を検知したのち、鉛直方向に収縮する。
次に、図4に示すように、ステップS5において、制御部は被研削物50の厚さを算出する。具体的には、制御部は、測定部40が検知した被研削物50の上面52の鉛直位置と第1砥石面11の鉛直位置との差を算出し、その結果を被研削物50の厚さとする。
次に、ステップS6において、制御部は、測定部40で測定された被研削物50の厚さが所望の厚さよりも大きいか判断する。測定部40で測定された被研削物50の厚さが所望の厚さ以下である場合は、被研削物50を研削する必要がないため、フローを終了する。すなわち、被研削物50を両面研削装置1から取り外す。測定部40で測定された被研削物50の厚さが所望の厚さよりも大きい場合は、ステップS7に進む。
ステップS7において、第1砥石10と第2砥石20は、測定部40で測定された被研削物50の厚さに基づいて、被研削物50を研削加工する。図10は、ステップS7における両面研削装置1の状態を示す斜視図である。図11は、図10の状態における両面研削装置1の、切断線XI−XIでの断面図である。
図10に示すように、ステップS7において、第1変位センサ42はy軸周りに回動して第1砥石面11から退避する。また、第2変位センサ43はy軸周りに回動して第2砥石面21から退避する。また、制御部は、吸着孔23によるキャリアギア55の吸着を止め、キャリアギア55を第1砥石面11上に降下させる。また、制御部は、吸着孔13による被研削物50の吸着を止める。その後、制御部は、図11に示すように、第2砥石面21と被研削物50とが接する位置まで第2砥石20を降下させる。第2砥石面21と被研削物50とが接する位置まで第2砥石20を降下させた後、制御部は、第1砥石面11、第2砥石面21、サンギア15、カウンタギア25、およびキャリアギア55を回転させ、被研削物50の研削加工を開始する。
また、制御部は、測定部40で測定された被研削物50の厚さに基づいて、研削完了時における第1砥石面11と第2砥石面21との距離を設定する。制御部は、被研削物50を研削しながら、第1砥石面11と第2砥石面21との距離が設定した値になるまで、第2砥石20を降下させる。
制御部は、第1砥石面11と第2砥石面21との距離が設定した値になったと判断したら、第1砥石面11、第2砥石面21、サンギア15、カウンタギア25、およびキャリアギア55の回転を止め、被研削物50の研削を終了する。その後、制御部は、吸着孔23によるキャリアギア55の吸着を再開し、第2砥石20を元の位置に戻す。また、制御部は、吸着孔13による被研削物50の吸着を再開する。
その後、再びステップS1に戻る。具体的には、第1砥石面11が回転し、被研削物50を測定部40の近くに搬送する。
ここで、研削完了時における第1砥石面11と第2砥石面21との距離を、測定部40で測定された被研削物50の厚さに基づいて決定する方法について、図12を用いて説明する。図12は、ステップS7の詳細なフローを示すフロー図である。
まず、ステップS71において、制御部は、被研削物50の研削加工回数が1回目であるか、2回目以降であるかを判断する。被研削物50の研削加工回数が1回目である場合は、ステップS72に進み、被研削物50の研削加工回数が2回目以降である場合は、ステップS73に進む。
ステップS72に進んだ場合、制御部は、研削完了時における第1砥石面11と第2砥石面21との距離を所望の厚さに設定する。
被研削物50の研削加工回数が2回目以降である場合は、研削完了時における第1砥石面11と第2砥石面21との距離を所望の厚さに設定しても、被研削物50が十分に研削されない状況であることがわかる。すなわち、第1砥石10や第2砥石20の摩耗、あるいは校正のずれ等といった装置誤差が生じていることがわかる。そこで、ステップS73に進んだ場合は、研削完了時における第1砥石面11と第2砥石面21との距離を、直前の設定値から距離hだけ小さく設定する。距離hは、次式(1)で定義される。
h=(測定部40で測定された被研削物50の厚さ)−(所望の厚さ)・・・(1)
研削完了時における第1砥石面11と第2砥石面21との距離をこのように設定することで、装置誤差による研削量のずれを低減させることができる。従って、被研削物50を精度よく所望の厚さに研削加工することができる。
また、ステップS73において、第1砥石面11と第2砥石面21との距離を、直前の設定値から距離h’だけ小さくしてもよい。距離h’は、次式(2)で定義される。
h’=(測定部40で測定された被研削物50の厚さ)−(所望の厚さ)
+(第2砥石20の鉛直位置の変化量) ・・・(2)
なお、式(2)において「第2砥石20の鉛直位置の変化量」とは、測定部40で測定された第2砥石20の鉛直位置と、その直前に測定部40で測定された第2砥石20の鉛直位置との差を指す。
このように第1砥石面11と第2砥石面21との距離を設定した場合は、摩耗や熱膨張に伴う第2砥石20の鉛直位置の変化によって生じる装置誤差の影響を低減させることができる。従って、被研削物50をさらに精度よく所望の厚さに研削加工することができる。
以上で説明したように、本実施形態に係る両面研削装置1は、被研削物50の厚さ測定と研削加工とを同一の装置上で行うことができる。従って、被研削物50を精度よく所望の厚さに研削加工することができる。
なお、本発明は上記の実施形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。例えば、上記の実施形態において、第1変位センサ42および第2変位センサ43として接触式の変位センサを用いたが、例えば、光学式センサや磁気検出センサのような非接触式の変位センサを用いてもよい。
1 両面研削装置
10 第1砥石
11 第1砥石面
12 内孔
13 吸着孔
15 サンギア
20 第2砥石
21 第2砥石面
22 内孔
23 吸着孔
25 カウンタギア
26 カウンタギア回転軸
40 測定部
41 支持部材
42 第1変位センサ
43 第2変位センサ
50 被研削物
51 下面
52 上面
55 キャリアギア
C1 第1中心軸
C2 第2中心軸

Claims (1)

  1. 上面が第1砥石面であって、第1中心軸を回転軸として回転する第1砥石と、
    下面が第2砥石面であって、前記第1中心軸に平行な第2中心軸を回転軸として回転する第2砥石と、
    前記第1砥石面に載置された被研削物の上面の鉛直方向位置および前記第1砥石面の鉛直方向位置を検知することで前記被研削物の厚さを測定可能な測定部と、を備え、
    前記第1砥石面および前記第2砥石面は、前記被研削物を加工する研削加工領域において対向しており、
    前記研削加工領域における前記第1砥石面と前記第2砥石面との距離は、前記測定部で測定された前記被研削物の厚さに基づいて決定される、
    両面研削装置。
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0740233A (ja) * 1993-07-27 1995-02-10 Speedfam Co Ltd ワークの厚さ測定装置
JP2009072879A (ja) * 2007-09-21 2009-04-09 Toyo Advanced Technologies Co Ltd 端面研削方法および両面研削装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0740233A (ja) * 1993-07-27 1995-02-10 Speedfam Co Ltd ワークの厚さ測定装置
JP2009072879A (ja) * 2007-09-21 2009-04-09 Toyo Advanced Technologies Co Ltd 端面研削方法および両面研削装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102628016B1 (ko) * 2022-09-05 2024-01-23 김재중 각각 회전하는 메인 트레이 및 보조 트레이를 포함하는 연마 장치를 운용 방법

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