JP2019116630A - Resin composition - Google Patents

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Abstract

To provide a resin composition that has not only a low arithmetic average roughness but also a small root-mean-square roughness on an insulating layer surface in a wet roughening step, is capable of forming a plated conductor layer having sufficient peel strength thereon and is excellent in laminate properties.SOLUTION: The resin composition contains an epoxy resin, a curing agent and an inorganic filler surface-treated with an alkoxysilane compound. The inorganic filler has an average particle size of 0.01 to 5 μm and when a nonvolatile component in the resin composition is 100 mass%, the content of the inorganic filler is 30 to 90 mass%.SELECTED DRAWING: None

Description

本発明は、樹脂組成物に関する。さらに当該樹脂組成物を含有する、シート状積層材料、多層プリント配線板、半導体装置に関する。   The present invention relates to a resin composition. Furthermore, the present invention relates to a sheet-like laminate material, a multilayer printed wiring board, and a semiconductor device, which contain the resin composition.

近年、電子機器の小型化、高性能化が進み、多層プリント配線板においては、ビルドアップ層が複層化され、配線の微細化及び高密度化が求められている。   In recent years, miniaturization and high performance of electronic devices have progressed, and in multilayer printed wiring boards, buildup layers are multilayered, and miniaturization and densification of wiring are required.

これに対して様々な取組みがなされてきた。例えば、特許文献1には、フィラーがシラン系またはチタン系のカップリング剤で表面処理されていることが開示されている。しかしながら、アルコキシシラン化合物については全く記載されていない。また、特許文献2にはアルコキシシラン化合物の記載はあるが、具体的な記載はなく、本発明について指向されるようなものではない。   Various efforts have been made to this. For example, Patent Document 1 discloses that the filler is surface-treated with a silane or titanium coupling agent. However, no mention is made of alkoxysilane compounds at all. Patent Document 2 also describes an alkoxysilane compound, but there is no specific description, and it is not intended to be directed to the present invention.

特開2006−224644号公報Unexamined-Japanese-Patent No. 2006-224644 特開2008−74668号公報JP 2008-74668 A

本発明が解決しようとする課題は、湿式粗化工程において絶縁層表面の算術平均粗さが低いのみならず、二乗平均平方根粗さも小さく、その上に十分なピール強度を有するメッキ導体層を形成することができ、ラミネート性にも優れる樹脂組成物を提供することである。   The problem to be solved by the present invention is that not only the arithmetic mean roughness of the surface of the insulating layer is low but also the root mean square roughness is small in the wet roughening step, and a plated conductor layer having sufficient peel strength is formed thereon It is an object of the present invention to provide a resin composition which is excellent in laminating property.

本発明者らは、上記課題を解決すべく鋭意検討した結果、エポキシ樹脂、硬化剤及びアルコキシシラン化合物で表面処理された無機充填材を含有することを特徴とする樹脂組成物において、本発明を完成するに至った。   MEANS TO SOLVE THE PROBLEM As a result of earnestly examining that the present inventors should solve the said subject, in the resin composition characterized by including the inorganic filler surface-treated by the epoxy resin, the hardening | curing agent, and the alkoxysilane compound, It came to complete.

すなわち、本発明は以下の内容を含むものである。
〔1〕エポキシ樹脂、硬化剤及びアルコキシシラン化合物で表面処理された無機充填材を含有する樹脂組成物であって、該無機充填材の平均粒径が0.01〜5μmであり、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、該無機充填材の含有量が30〜90質量%であることを特徴とする樹脂組成物。
〔2〕該アルコキシシラン化合物が、アルキル基及び/又はアリール基を含むことを特徴とする〔1〕記載の樹脂組成物。
〔3〕該アルコキシシラン化合物が、炭素数1〜10のアルキル基、フェニル基、ベンジル基、トリル基、キシリル基及びナフチル基から選択される1種以上を含むことを特徴とする〔1〕又は〔2〕記載の樹脂組成物。
〔4〕該アルコキシシラン化合物が、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、シクロプロピル基、フェニル基、ベンジル基、トリル基、キシリル基及びナフチル基から選択される1種以上を含むことを特徴とする〔1〕〜〔3〕のいずれか記載の樹脂組成物。
〔5〕該アルコキシシラン化合物が、フェニルトリアルコキシシラン、ジメチルジアルコキシシラン、メチルトリアルコキシシラン、ジエチルジアルコキシシラン、エチルトリアルコキシシラン、ジフェニルジアルコキシシラン、メチルフェニルジアルコキシシラン及びジフェニルメチルモノアルコキシシランから選択される1種以上であることを特徴とする〔1〕〜〔4〕のいずれか記載の樹脂組成物。
〔6〕該アルコキシシラン化合物の分子量が、100〜1000であることを特徴とする〔1〕〜〔5〕のいずれか記載の樹脂組成物。
〔7〕該無機充填材が、シリカであることを特徴とする〔1〕〜〔6〕のいずれか記載の樹脂組成物。
〔8〕該無機充填材100質量部に対して、該アルコキシシラン化合物を0.05〜5質量部で表面処理することを特徴とする〔1〕〜〔7〕のいずれか記載の樹脂組成物。
〔9〕該無機充填材の単位表面積当たりのカーボン量が、0.01〜0.8mg/mであることを特徴とする〔1〕〜〔8〕のいずれか記載の樹脂組成物。
〔10〕該エポキシ樹脂が、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂及びブタジエン構造を有するエポキシ樹脂から選択される1種以上であることを特徴とする〔1〕〜〔9〕のいずれか記載の樹脂組成物。
〔11〕該硬化剤が、フェノール系硬化剤、活性エステル系硬化剤及びシアネートエステル系硬化剤から選択される1種以上であることを特徴とする〔1〕〜〔10〕のいずれか記載の樹脂組成物。
〔12〕該硬化剤が、ビフェニル型硬化剤、ナフタレン型硬化剤、フェノールノボラック型硬化剤、ナフチレンエーテル型硬化剤、トリアジン骨格含有フェノール系硬化剤、ジシクロペンタジエニルジフェノール構造を含む活性エステル系硬化剤、ノボラック型シアネートエステル系硬化剤、ジシクロペンタジエン型シアネートエステル系硬化剤及びビスフェノール型シアネートエステル系硬化剤から選択される1種以上であることを特徴とする〔1〕〜〔11〕のいずれか記載の樹脂組成物。
〔13〕樹脂組成物を硬化して絶縁層を形成し、その絶縁層表面を粗化処理した後の算術平均粗さが400nm以下であり、二乗平均平方根粗さが500nm以下であることを特徴とする〔1〕〜〔12〕のいずれか記載の樹脂組成物。
〔14〕樹脂組成物を硬化して絶縁層を形成し、その絶縁層表面を粗化処理した後の算術平均粗さが10〜400nmであり、二乗平均平方根粗さが30〜500nmであることを特徴とする〔1〕〜〔13〕のいずれか1項記載の樹脂組成物。
〔15〕樹脂組成物を硬化して絶縁層を形成し、その絶縁層表面を粗化処理し、メッキして得られる導体層と絶縁層とのピール強度が0.3〜1.2kgf/cm以上であることを特徴とする〔1〕〜〔14〕のいずれか記載の樹脂組成物。
〔16〕多層プリント配線板の絶縁層用樹脂組成物であることを特徴とする〔1〕〜〔15〕のいずれか記載の樹脂組成物。
〔17〕多層プリント配線板のビルドアップ層用樹脂組成物であることを特徴とする〔1〕〜〔16〕のいずれか記載の樹脂組成物。
〔18〕〔1〕〜〔17〕のいずれか記載の樹脂組成物を含有することを特徴とするシート状積層材料。
〔19〕〔1〕〜〔17〕のいずれか記載の樹脂組成物の硬化物により絶縁層が形成された多層プリント配線板。
〔20〕〔19〕記載の多層プリント配線板を用いることを特徴とする半導体装置。
That is, the present invention includes the following contents.
[1] A resin composition containing an epoxy resin, a curing agent, and an inorganic filler surface-treated with an alkoxysilane compound, wherein the average particle diameter of the inorganic filler is 0.01 to 5 μm, and the resin composition The resin composition characterized by content of this inorganic filler being 30-90 mass%, when the non-volatile component in it is 100 mass%.
[2] The resin composition according to [1], wherein the alkoxysilane compound contains an alkyl group and / or an aryl group.
[3] The alkoxysilane compound contains one or more selected from an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, a phenyl group, a benzyl group, a tolyl group, a xylyl group and a naphthyl group [1] or The resin composition as described in [2].
[4] The alkoxysilane compound contains one or more selected from methyl group, ethyl group, propyl group, isopropyl group, cyclopropyl group, phenyl group, benzyl group, tolyl group, xylyl group and naphthyl group The resin composition in any one of [1]-[3] characterized by the above-mentioned.
[5] The alkoxysilane compound is phenyltrialkoxysilane, dimethyldialkoxysilane, methyltrialkoxysilane, diethyldialkoxysilane, ethyltrialkoxysilane, diphenyldialkoxysilane, methylphenyldialkoxysilane and diphenylmethylmonoalkoxysilane The resin composition according to any one of [1] to [4], which is at least one selected from the group consisting of
[6] The resin composition according to any one of [1] to [5], wherein the molecular weight of the alkoxysilane compound is 100 to 1000.
[7] The resin composition according to any one of [1] to [6], wherein the inorganic filler is silica.
[8] The resin composition according to any one of [1] to [7], which is surface-treated with 0.05 to 5 parts by mass of the alkoxysilane compound based on 100 parts by mass of the inorganic filler. .
[9] The resin composition according to any one of [1] to [8], wherein the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler is 0.01 to 0.8 mg / m 2 .
[10] The epoxy resin is bisphenol A epoxy resin, bisphenol F epoxy resin, naphthol epoxy resin, naphthalene epoxy resin, biphenyl epoxy resin, naphthylene ether epoxy resin, glycidyl ester epoxy resin, anthracene epoxy resin It is 1 or more types selected from the epoxy resin and the epoxy resin which has a butadiene structure, The resin composition in any one of [1]-[9] characterized by the above-mentioned.
[11] The curing agent is one or more selected from a phenolic curing agent, an active ester curing agent and a cyanate ester curing agent, according to any one of [1] to [10]. Resin composition.
[12] An activity in which the curing agent contains a biphenyl type curing agent, a naphthalene type curing agent, a phenol novolac type curing agent, a naphthylene ether type curing agent, a triazine skeleton-containing phenolic curing agent, and a dicyclopentadienyl diphenol structure. At least one selected from ester-based curing agents, novolac-type cyanate ester-based curing agents, dicyclopentadiene-type cyanate ester-based curing agents, and bisphenol-type cyanate ester-based curing agents [1] to [11] ] The resin composition in any one of-.
[13] The resin composition is cured to form an insulating layer, and the surface of the insulating layer is roughened to have an arithmetic mean roughness of 400 nm or less and a root mean square roughness of 500 nm or less. The resin composition according to any one of [1] to [12].
[14] The resin composition is cured to form an insulating layer, and the surface of the insulating layer is roughened to have an arithmetic average roughness of 10 to 400 nm and a root mean square roughness of 30 to 500 nm The resin composition according to any one of [1] to [13], which is characterized in that
[15] The resin composition is cured to form an insulating layer, the surface of the insulating layer is roughened, and the peel strength between the conductive layer and the insulating layer obtained by plating is 0.3 to 1.2 kgf / cm. It is the above, The resin composition in any one of [1]-[14] characterized by the above-mentioned.
[16] The resin composition according to any one of [1] to [15], which is a resin composition for an insulating layer of a multilayer printed wiring board.
[17] The resin composition according to any one of [1] to [16], which is a resin composition for a buildup layer of a multilayer printed wiring board.
[18] A sheet-like laminate material comprising the resin composition according to any one of [1] to [17].
The multilayer printed wiring board in which the insulating layer was formed of the hardened | cured material of the resin composition in any one of [19] [1]-[17].
[20] A semiconductor device using the multilayer printed wiring board according to [19].

エポキシ樹脂、硬化剤及びアルコキシシラン化合物で表面処理された無機充填材を含有する樹脂組成物を用いることにより、湿式粗化工程において絶縁層表面の算術平均粗さが低いのみならず、二乗平均平方根粗さも小さく、その上に十分なピール強度を有するメッキ導体層を形成することができ、ラミネート性にも優れる樹脂組成物を提供できるようになった。   By using a resin composition containing an inorganic resin surface-treated with an epoxy resin, a curing agent and an alkoxysilane compound, not only the arithmetic mean roughness of the surface of the insulating layer is low in the wet roughening step, but also the root mean square The roughness was also small, and the plating conductor layer which has sufficient peel strength on it can be formed, and it came to be able to provide the resin composition which is excellent also in lamination nature.

本発明はエポキシ樹脂、硬化剤及びアルコキシシラン化合物で表面処理された無機充填材を含有することを特徴とする樹脂組成物である。以下、樹脂組成物について詳述する。   The present invention is a resin composition comprising an epoxy resin, a curing agent, and an inorganic filler surface-treated with an alkoxysilane compound. Hereinafter, the resin composition will be described in detail.

<エポキシ樹脂>
本発明に使用するエポキシ樹脂としては、特に限定されないが、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、tert-ブチル-カテコール型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、線状脂肪族エポキシ樹脂、ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、複素環式エポキシ樹脂、スピロ環含有エポキシ樹脂、シクロヘキサンジメタノール型エポキシ樹脂、トリメチロール型エポキシ樹脂、ハロゲン化エポキシ樹脂等が挙げられる。これらは1種又は2種以上組み合わせて使用してもよい。
<Epoxy resin>
The epoxy resin used in the present invention is not particularly limited, but bisphenol A epoxy resin, bisphenol F epoxy resin, bisphenol S epoxy resin, bisphenol AF epoxy resin, phenol novolac epoxy resin, tert-butyl-catechol resin Type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthalene ether type epoxy resin, glycidyl amine type epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, cresol novolac type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, wire Aliphatic epoxy resin, epoxy resin having butadiene structure, alicyclic epoxy resin, heterocyclic epoxy resin, spiro ring-containing epoxy resin, cyclohexane dimethanol type Carboxymethyl resin, trimethylol type epoxy resins, and halogenated epoxy resins. These may be used alone or in combination of two or more.

これらの中でも、耐熱性向上、ラミネート性向上、ピール強度向上の観点から、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂及びブタジエン構造を有するエポキシ樹脂から選択される1種以上を用いることが好ましい。具体的には、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂(三菱化学(株)製「エピコート828EL」、「YL980」)、ビスフェノールF型エポキシ樹脂(三菱化学(株)製「jER806H」、「YL983U」)、ナフタレン型2官能エポキシ樹脂(DIC(株)製「HP4032」、「HP4032D」、「HP4032SS」、「EXA4032SS」)、ナフタレン型4官能エポキシ樹脂(DIC(株)製「HP4700」、「HP4710」)、ナフトール型エポキシ樹脂(新日鐵化学(株)製「ESN−475V」)、ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂(ダイセル化学工業(株)製「PB−3600」)、ビフェニル構造を有するエポキシ樹脂(日本化薬(株)製「NC3000H」、「NC3000L」、「NC3100」、三菱化学(株)製「YX4000」、「YX4000H」、「YX4000HK」、「YL6121」)、アントラセン型エポキシ樹脂(三菱化学(株)製「YX8800」)、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂(DIC(株)製「EXA−7310」、「EXA−7311」、「EXA−7311L」、「EXA7311−G3」)、グリシジルエステル型エポキシ樹脂(ナガセケムテックス(株)製「EX711」、「EX721」、(株)プリンテック製「R540」)などが挙げられる。   Among these, from the viewpoint of heat resistance improvement, lamination property improvement and peel strength improvement, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, naphthalene ether type It is preferable to use one or more selected from an epoxy resin, a glycidyl ester type epoxy resin, an anthracene type epoxy resin, and an epoxy resin having a butadiene structure. Specifically, for example, bisphenol A type epoxy resin ("Epikote 828EL", "YL 980", manufactured by Mitsubishi Chemical Corp.), bisphenol F epoxy resin ("jER806H," YL 983 U ", manufactured by Mitsubishi Chemical Corp.), Naphthalene type bifunctional epoxy resin (“HP4032”, “HP4032D”, “HP4032SS”, “EXA4032SS” manufactured by DIC Corporation), naphthalene type tetrafunctional epoxy resin (“HP4700”, “HP4710” manufactured by DIC Corporation), Naphthol type epoxy resin ("ESN-475V" manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd.), epoxy resin having a butadiene structure ("PB-3600" manufactured by Daicel Chemical Industries, Ltd.), epoxy resin having a biphenyl structure (Nipponization) Medicine Co., Ltd. "NC3000H", "NC3000L", "NC31 00 ”, Mitsubishi Chemical Corporation“ YX4000 ”,“ YX4000H ”,“ YX4000HK ”,“ YL6121 ”, anthracene epoxy resin (Mitsubishi Chemical Corporation“ YX8800 ”), napthalene ether epoxy resin (DIC) Ltd. “EXA-7310”, “EXA-7311”, “EXA-7311L”, “EXA7311-G3”, glycidyl ester type epoxy resin (Nagase Chemtex Co., Ltd. “EX711”, “EX721”, Examples include "R540" manufactured by PRINTEC CO., LTD.

エポキシ樹脂は1分子中に2個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂を含有するのが好ましく、中でも、液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂を併用することがより好ましい。液状エポキシ樹脂としては1分子中に2個以上のエポキシ基を有し、温度20℃で液状の芳香族系エポキシ樹脂が好ましく、固体状エポキシ樹脂としては1分子中に3個以上のエポキシ基を有し、温度20℃で固体状の芳香族系エポキシ樹脂が好ましい。なお、本発明でいう芳香族系エポキシ樹脂とは、その分子内に芳香環構造を有するエポキシ樹脂を意味する。エポキシ樹脂として、液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂を併用する場合、樹脂組成物を接着フィルム形態で使用する場合に適度な可撓性を有し、ラミネート性が向上する点や樹脂組成物の硬化物の表面粗さを低くすることができる点から、その配合割合(液状エポキシ樹脂:固体状エポキシ樹脂)は質量比で1:0.1〜1:2の範囲が好ましく、1:0.3〜1:1.8の範囲がより好ましく、1:0.6〜1:1.5の範囲が更に好ましい。   The epoxy resin preferably contains an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule, and it is more preferable to use a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin in combination. The liquid epoxy resin is preferably an aromatic epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule and liquid at a temperature of 20 ° C., and the solid epoxy resin may have three or more epoxy groups in one molecule. It is preferable to use an aromatic epoxy resin which is solid at a temperature of 20 ° C. In addition, the aromatic epoxy resin as used in the field of this invention means the epoxy resin which has an aromatic ring structure in the molecule | numerator. When a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin are used in combination as an epoxy resin, the resin composition has appropriate flexibility when used in the form of an adhesive film, and the lamination property is improved, and the curing of the resin composition The compounding ratio (liquid epoxy resin: solid epoxy resin) is preferably in the range of 1: 0.1 to 1: 2 in terms of mass ratio from the viewpoint that the surface roughness of the product can be lowered, 1: 0.3 The range of 1: 1.8 is more preferable, and the range of 1: 0.6 to 1: 1.5 is more preferable.

液状エポキシ樹脂としては、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、又はナフタレン型エポキシ樹脂が好ましく、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、又はナフタレン型エポキシ樹脂がより好ましい。これらは1種または2種以上組み合わせて使用してもよい。固体状エポキシ樹脂としては、4官能ナフタレン型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、トリスフェノールエポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、又はナフチレンエーテル型エポキシ樹脂が好ましく、ナフトール型エポキシ樹脂、又はビフェニル型エポキシ樹脂がより好ましい。これらは1種または2種以上組み合わせて使用してもよい。   As the liquid epoxy resin, bisphenol A epoxy resin, bisphenol F epoxy resin, phenol novolac epoxy resin, glycidyl ester epoxy resin, or naphthalene epoxy resin is preferable, and bisphenol A epoxy resin, bisphenol F epoxy resin, Or a naphthalene type epoxy resin is more preferable. These may be used alone or in combination of two or more. As a solid epoxy resin, tetrafunctional naphthalene type epoxy resin, cresol novolac type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, trisphenol epoxy resin, naphthol type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, or naphtylene Ether type epoxy resins are preferable, and naphthol type epoxy resins or biphenyl type epoxy resins are more preferable. These may be used alone or in combination of two or more.

本発明の樹脂組成物において、樹脂組成物の硬化物の機械強度や耐水性を向上させるという観点から、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、エポキシ樹脂の含有量は3〜40質量%が好ましく、5〜30質量%がより好ましく、10〜20質量%が更に好ましい。   In the resin composition of the present invention, from the viewpoint of improving the mechanical strength and water resistance of the cured product of the resin composition, the content of the epoxy resin is 3 to 3 when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass. 40 mass% is preferable, 5-30 mass% is more preferable, 10-20 mass% is still more preferable.

<硬化剤>
本発明に使用する硬化剤としては、特に限定されないが、フェノール系硬化剤、活性エステル系硬化剤、シアネートエステル系硬化剤、ベンゾオキサジン系硬化剤、酸無水物系硬化剤等が挙げられ、算術平均粗さ(Ra値)、二乗平均平方根粗さ(Rq値)をより低下させるという観点から、フェノール系硬化剤、活性エステル系硬化剤及びシアネートエステル系硬化剤から選択される1種以上を用いることが好ましい。これらは1種又は2種以上組み合わせて使用してもよい。
<Hardening agent>
The curing agent used in the present invention is not particularly limited, and examples thereof include phenol-based curing agents, active ester-based curing agents, cyanate ester-based curing agents, benzoxazine-based curing agents, acid anhydride-based curing agents, etc. From the viewpoint of further lowering the average roughness (Ra value) and the root mean square roughness (Rq value), one or more selected from a phenolic curing agent, an active ester curing agent and a cyanate ester curing agent are used Is preferred. These may be used alone or in combination of two or more.

フェノール系硬化剤としては、特に制限はないが、ビフェニル型硬化剤、ナフタレン型硬化剤、フェノールノボラック型硬化剤、ナフチレンエーテル型硬化剤、トリアジン骨格含有フェノール系硬化剤が好ましい。具体的には、ビフェニル型硬化剤のMEH−7700、MEH−7810、MEH−7851(明和化成(株)製)、ナフタレン型硬化剤のNHN、CBN、GPH(日本化薬(株)製)、SN170、SN180、SN190、SN475、SN485、SN495、SN375、SN395(新日鐵化学(株)製)、EXB9500(DIC(株)製)、フェノールノボラック型硬化剤のTD2090(DIC(株)製)、ナフチレンエーテル型硬化剤のEXB−6000(DIC(株)製)、トリアジン骨格含有フェノール系硬化剤のLA3018、LA7052、LA7054、LA1356(DIC(株)製)等が挙げられる。これらは1種又は2種以上を併用してもよい。   The phenol-based curing agent is not particularly limited, but is preferably a biphenyl-type curing agent, a naphthalene-type curing agent, a phenol novolac-type curing agent, a naphthylene ether-type curing agent, or a triazine skeleton-containing phenol-based curing agent. Specifically, biphenyl type curing agents MEH-7700, MEH-7810, MEH-7851 (manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd.), naphthalene type curing agents NHN, CBN, GPH (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), SN170, SN180, SN190, SN475, SN485, SN495, SN395, SN395 (manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd.), EXB 9500 (manufactured by DIC Corporation), TD 2090 (manufactured by DIC Corporation), a phenol novolac curing agent, Examples thereof include EXB-6000 (manufactured by DIC Corporation), a naphthylene ether-type curing agent, LA3018, LA7052, LA7054, LA1356 (manufactured by DIC Corporation), and the like, and a triazine skeleton-containing phenol-based curing agent. One or more of these may be used in combination.

活性エステル系硬化剤としては、特に制限はないが、一般にフェノールエステル類、チオフェノールエステル類、N−ヒドロキシアミンエステル類、複素環ヒドロキシ化合物のエステル類等の反応活性の高いエステル基を1分子中に2個以上有する化合物が好ましく用いられる。当該活性エステル系硬化剤は、カルボン酸化合物及び/又はチオカルボン酸化合物とヒドロキシ化合物及び/又はチオール化合物との縮合反応によって得られるものが好ましい。特に耐熱性向上の観点から、カルボン酸化合物とヒドロキシ化合物とから得られる活性エステル系硬化剤が好ましく、カルボン酸化合物とフェノール化合物及び/又はナフトール化合物とから得られる活性エステル系硬化剤がより好ましい。カルボン酸化合物としては、例えば安息香酸、酢酸、コハク酸、マレイン酸、イタコン酸、フタル酸、イソフタル酸、テレフタル酸、ピロメリット酸等が挙げられる。フェノール化合物又はナフトール化合物としては、ハイドロキノン、レゾルシン、ビスフェノールA、ビスフェノールF、ビスフェノールS、フェノールフタリン、メチル化ビスフェノールA、メチル化ビスフェノールF、メチル化ビスフェノールS、フェノール、o−クレゾール、m−クレゾール、p−クレゾール、カテコール、α−ナフトール、β−ナフトール、1,5−ジヒドロキシナフタレン、1,6−ジヒドロキシナフタレン、2,6−ジヒドロキシナフタレン、ジヒドロキシベンゾフェノン、トリヒドロキシベンゾフェノン、テトラヒドロキシベンゾフェノン、フロログルシン、ベンゼントリオール、ジシクロペンタジエニルジフェノール、フェノールノボラック等が挙げられる。活性エステル系硬化剤は1種又は2種以上を使用することができる。活性エステル系硬化剤としては、特開2004−277460号公報に開示されている活性エステル系硬化剤を用いてもよく、また市販のものを用いることもできる。市販されている活性エステル系硬化剤としては、ジシクロペンタジエニルジフェノール構造を含む活性エステル系硬化剤、ナフタレン構造を含む活性エステル系硬化剤、フェノールノボラックのアセチル化物である活性エステル系硬化剤、フェノールノボラックのベンゾイル化物である活性エステル系硬化剤等が好ましく、なかでもピール強度の向上に優れるという点で、ジシクロペンタジエニルジフェノール構造を含む活性エステル系硬化剤がより好ましい。具体的には、ジシクロペンタジエニルジフェノール構造を含むものとしてEXB9451、EXB9460、EXB9460S−65T、HPC−8000−65T(DIC(株)製、活性基当量約223)、フェノールノボラックのアセチル化物である活性エステル系硬化剤としてDC808(三菱化学(株)製、活性基当量約149)、フェノールノボラックのベンゾイル化物である活性エステル系硬化剤としてYLH1026(三菱化学(株)製、活性基当量約200)、YLH1030(三菱化学(株)製、活性基当量約201)、YLH1048(三菱化学(株)製、活性基当量約245)等が挙げられる。   The active ester curing agent is not particularly limited, but generally an ester group having high reaction activity such as phenol esters, thiophenol esters, N-hydroxyamine esters and esters of heterocyclic hydroxy compounds is contained in one molecule. Compounds having two or more of them are preferably used. The active ester curing agent is preferably obtained by condensation reaction of a carboxylic acid compound and / or a thiocarboxylic acid compound with a hydroxy compound and / or a thiol compound. In particular, from the viewpoint of improving heat resistance, an active ester-based curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a hydroxy compound is preferable, and an active ester-based curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a phenol compound and / or a naphthol compound is more preferable. Examples of the carboxylic acid compound include benzoic acid, acetic acid, succinic acid, maleic acid, itaconic acid, phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid and pyromellitic acid. As a phenol compound or naphthol compound, hydroquinone, resorcinol, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, phenol phthalin, methylated bisphenol A, methylated bisphenol F, methylated bisphenol S, phenol, o-cresol, m-cresol, p-cresol, catechol, α-naphthol, β-naphthol, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, dihydroxy benzophenone, trihydroxy benzophenone, tetrahydroxy benzophenone, phloroglucin, benzenetriol And dicyclopentadienyl diphenol, phenol novolac and the like. The active ester curing agent can be used alone or in combination of two or more. As the active ester curing agent, an active ester curing agent disclosed in JP-A-2004-277460 may be used, or a commercially available one may be used. Commercially available active ester-based curing agents include active ester-based curing agents containing dicyclopentadienyl diphenol structure, active ester-based curing agents containing naphthalene structure, and active ester-based curing agents that are acetylated products of phenol novolac And an active ester-based curing agent which is a benzoyl compound of a phenol novolak, etc., among which an active ester-based curing agent having a dicyclopentadienyl diphenol structure is more preferable in that the improvement of the peel strength is excellent. Specifically, EXB9451, EXB 9460, EXB 9460S-65T, HPC-8000-65T (manufactured by DIC Corporation, having an active group equivalent weight of about 223) as acetylated products of phenol novolac as those containing a dicyclopentadienyldiphenol structure. DC808 (Mitsubishi Chemical Co., Ltd., active group equivalent about 149) as an active ester-based curing agent, YLH1026 (Mitsubishi Chemical Co., Ltd., active group equivalent: about 200) And YLH1030 (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., an active group equivalent of about 201), and YLH1048 (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., an active group equivalent of about 245).

ジシクロペンタジエニルジフェノール構造を含む活性エステル系硬化剤として、より具体的には下式(1)の化合物が挙げられる。   More specifically, examples of the active ester-based curing agent containing a dicyclopentadienyl diphenol structure include a compound of the following formula (1).

Figure 2019116630
(式中、Rはフェニル基、ナフチル基であり、kは0又は1を表し、nは繰り返し単位の平均で0.05〜2.5である。)
Figure 2019116630
(Wherein R represents a phenyl group or a naphthyl group, k represents 0 or 1, and n is 0.05 to 2.5 on the average of repeating units).

誘電正接を低下させ、耐熱性を向上させるという観点から、Rはナフチル基が好ましく、一方、kは0が好ましく、また、nは0.25〜1.5が好ましい。   From the viewpoint of lowering the dielectric loss tangent and improving the heat resistance, R is preferably a naphthyl group, while k is preferably 0 and n is preferably 0.25 to 1.5.

シアネートエステル系硬化剤としては、特に制限はないが、ノボラック型(フェノールノボラック型、アルキルフェノールノボラック型など)シアネートエステル系硬化剤、ジシクロペンタジエン型シアネートエステル系硬化剤、ビスフェノール型(ビスフェノールA型、ビスフェノールF型、ビスフェノールS型など)シアネートエステル系硬化剤、及びこれらが一部トリアジン化したプレポリマーなどが挙げられる。シアネートエステル系硬化剤の重量平均分子量は、特に限定されるものではないが、500〜4500が好ましく、600〜3000がより好ましい。シアネートエステル系硬化剤の具体例としては、例えば、ビスフェノールAジシアネート、ポリフェノールシアネート(オリゴ(3−メチレン−1,5−フェニレンシアネート)、4,4’−メチレンビス(2,6−ジメチルフェニルシアネート)、4,4’−エチリデンジフェニルジシアネート、ヘキサフルオロビスフェノールAジシアネート、2,2−ビス(4−シアネート)フェニルプロパン、1,1−ビス(4−シアネートフェニルメタン)、ビス(4−シアネート−3,5−ジメチルフェニル)メタン、1,3−ビス(4−シアネートフェニル−1−(メチルエチリデン))ベンゼン、ビス(4−シアネートフェニル)チオエーテル、ビス(4−シアネートフェニル)エーテル等の2官能シアネート樹脂、フェノールノボラック、クレゾールノボラック、ジシクロペンタジエン構造含有フェノール樹脂等から誘導される多官能シアネート樹脂、これらシアネート樹脂が一部トリアジン化したプレポリマーなどが挙げられる。これらは1種又は2種以上組み合わせて使用してもよい。市販されているシアネートエステル樹脂としては、下式(2)で表されるフェノールノボラック型多官能シアネートエステル樹脂(ロンザジャパン(株)製、PT30、シアネート当量124)、下式(3)で表されるビスフェノールAジシアネートの一部又は全部がトリアジン化され三量体となったプレポリマー(ロンザジャパン(株)製、BA230、シアネート当量232)、下式(4)で表されるジシクロペンタジエン構造含有シアネートエステル樹脂(ロンザジャパン(株)製、DT−4000、DT−7000)等が挙げられる。   The cyanate ester-based curing agent is not particularly limited, but novolak type (phenol novolac type, alkylphenol novolac type, etc.) cyanate ester type curing agent, dicyclopentadiene type cyanate ester type curing agent, bisphenol type (bisphenol A type, bisphenol Examples thereof include F-type and bisphenol S-type) cyanate ester-based curing agents, and prepolymers in which these are partially triazineated. The weight-average molecular weight of the cyanate ester-based curing agent is not particularly limited, but is preferably 500 to 4,500, and more preferably 600 to 3,000. Specific examples of cyanate ester-based curing agents include, for example, bisphenol A dicyanate, polyphenol cyanate (oligo (3-methylene-1,5-phenylene cyanate), 4,4′-methylene bis (2,6-dimethylphenyl cyanate), 4,4'-Ethylidene diphenyl dicyanate, hexafluorobisphenol A dicyanate, 2,2-bis (4-cyanate) phenylpropane, 1,1-bis (4-cyanatophenylmethane), bis (4-cyanate-3, Bifunctional cyanate resins such as 5-dimethylphenyl) methane, 1,3-bis (4-cyanatophenyl-1- (methylethylidene)) benzene, bis (4-cyanatophenyl) thioether, bis (4-cyanatophenyl) ether and the like , Phenol novolak, Resol novolac, polyfunctional cyanate resins derived from dicyclopentadiene structure-containing phenolic resins, etc., prepolymers in which these cyanate resins are partially triazineated, etc. These may be used alone or in combination of two or more. As a commercially available cyanate ester resin, a phenol novolak type polyfunctional cyanate ester resin represented by the following formula (2) (Lonza Japan Co., Ltd. product PT30, cyanate equivalent 124), the following formula (3) Prepolymer in which a part or all of bisphenol A dicyanate represented is triazinated to form a trimer (manufactured by Lonza Japan Ltd., BA 230, cyanate equivalent 232), dicyclopentadiene represented by the following formula (4) Structure-containing cyanate ester resin (manufactured by Lonza Japan Co., Ltd., T-4000, DT-7000), and the like.

Figure 2019116630
[式中、nは平均値として任意の数(好ましくは0〜20)を示す。]
Figure 2019116630
[In the formula, n represents an arbitrary number (preferably 0 to 20) as an average value. ]

Figure 2019116630
Figure 2019116630

Figure 2019116630
(式中、nは平均値として0〜5の数を表す。)
Figure 2019116630
(In the formula, n represents the number of 0 to 5 as an average value.)

ベンゾオキサジン系硬化剤としては、特に制限はないが、具体例としては、F−a、P−d(四国化成(株)製)、HFB2006M(昭和高分子(株)製)などが挙げられる。   The benzoxazine-based curing agent is not particularly limited, and specific examples include Fa, P-d (manufactured by Shikoku Kasei Co., Ltd.), HFB2006M (manufactured by Showa Highpolymer Co., Ltd.), and the like.

酸無水物系硬化剤としては、特に限定されるものではないが、無水フタル酸、テトラヒドロ無水フタル酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルテトラヒドロ無水フタル酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルナジック酸無水物、水素化メチルナジック酸無水物、トリアルキルテトラヒドロ無水フタル酸、ドデセニル無水コハク酸、5−(2,5−ジオキソテトラヒドロ−3−フラニル)−3−メチル−3−シクロヘキセン−1,2−ジカルボン酸無水物、無水トリメリット酸、無水ピロメリット酸、ベンソフェノンテトラカルボン酸二無水物、ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、オキシジフタル酸二無水物、3,3’−4,4’−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物、1,3,3a,4,5,9b−ヘキサヒドロ−5−(テトラヒドロ−2,5−ジオキソ−3−フラニル)−ナフト[1,2−C]フラン−1,3−ジオン、エチレングリコールビス(アンヒドロトリメリテート)、スチレンとマレイン酸が共重合したスチレン・マレイン酸樹脂などのポリマー型の酸無水物などが挙げられる。   The acid anhydride curing agent is not particularly limited, but is phthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, methyltetrahydrophthalic anhydride, methylhexahydrophthalic anhydride, methyl nadic anhydride Hydrogenated methyl nadic anhydride, trialkyltetrahydrophthalic anhydride, dodecenyl succinic anhydride, 5- (2,5-dioxotetrahydro-3-furanyl) -3-methyl-3-cyclohexene-1,2-dicarboxylic acid Acid anhydride, trimellitic anhydride, pyromellitic anhydride, bensophenone tetracarboxylic acid dianhydride, biphenyl tetracarboxylic acid dianhydride, naphthalene tetracarboxylic acid dianhydride, oxydiphthalic acid dianhydride, 3,3 ' -4,4'-diphenyl sulfone tetracarboxylic acid dianhydride, 1,3,3 4,5,9b-Hexahydro-5- (tetrahydro-2,5-dioxo-3-furanyl) -naphtho [1,2-C] furan-1,3-dione, ethylene glycol bis (anhydrotrimelitate) And polymer type acid anhydrides such as styrene-maleic acid resins obtained by copolymerizing styrene and maleic acid.

本発明の樹脂組成物において、樹脂組成物の硬化物の機械強度や耐水性を向上させるという観点から、エポキシ樹脂のエポキシ基の合計数と、硬化剤の反応基の合計数との比が、1:0.2〜1:2が好ましく、1:0.3〜1:1.5がより好ましく、1:0.4〜1:1が更に好ましい。なお樹脂組成物中に存在するエポキシ樹脂のエポキシ基の合計数とは、各エポキシ樹脂の固形分質量をエポキシ当量で除した値をすべてのエポキシ樹脂について合計した値であり、硬化剤の反応基の合計数とは、各硬化剤の固形分質量を反応基当量で除した値をすべての硬化剤について合計した値である。   In the resin composition of the present invention, the ratio of the total number of epoxy groups of the epoxy resin and the total number of reactive groups of the curing agent is, from the viewpoint of improving the mechanical strength and water resistance of the cured product of the resin composition. 1: 0.2 to 1: 2 are preferable, 1: 0.3 to 1: 1.5 are more preferable, and 1: 0.4 to 1: 1 are more preferable. The total number of epoxy groups of the epoxy resin present in the resin composition is a value obtained by dividing the mass of the solid content of each epoxy resin by the epoxy equivalent, for all epoxy resins, and the reactive group of the curing agent The total number of is the value obtained by dividing the mass of the solid content of each curing agent by the equivalent weight of the reactive group for all the curing agents.

<アルコキシシラン化合物で表面処理された無機充填材>
本発明に使用するアルコキシシラン化合物で表面処理された無機充填材のアルコキシシラン化合物としては、特に限定されないが、樹脂組成物をシート形態にした際のラミネート性向上という点から、アルキル基及び/又はアリール基を含むことが好ましく、アルキル基、アリール基及びアルコキシシリル基からなる群より選択される1種以上がケイ素原子に結合したものがより好ましい。アルキル基としては炭素数1〜10のアルキル基が好ましく、炭素数1〜6のアルキル基がより好ましく、樹脂ワニスの粘度上昇防止の観点から炭素数1〜4のアルキル基が更に好ましく、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基及びシクロプロピル基から選択される1種以上が更に一層好ましい。アリール基としてはフェニル基、ベンジル基、トリル基、キシリル基、ナフチル基から選択される1種以上が好ましい。具体的なアルコキシシラン化合物としては、フェニルトリアルコキシシラン、ジメチルジアルコキシシラン、メチルトリアルコキシシラン、ジエチルジアルコキシシラン、エチルトリアルコキシシラン、ジフェニルジアルコキシシラン、メチルフェニルジアルコキシシラン及びジフェニルメチルモノアルコキシシランから選択される1種以上を用いることが好ましい。ピール強度向上という点から、1つのアルコキシシリル基あたり、2〜3のアルコキシ基を有するのが好ましく、アルコキシ基としてはメトキシ基、エトキシ基が好ましい。また、アルコキシシリル基は修飾されていてもよい。これらのアルコキシシラン化合物は、表面処理時に有毒ガスなどの発生もなく生産性や環境面において優れている。また、アルコキシシラン化合物は、有機官能基を有するカップリング剤と異なり、疎水性が向上し、樹脂との相溶性が向上するという点で優れている。更に、アルコキシシラン化合物は、有機官能基を有するカップリング剤と異なり、表面処理時に自己凝集してしまうことも無く、表面処理がしやすいという点で優れている。そのため、アルコキシシラン化合物で表面処理された無機充填材を用いることで、ラミネート性向上や低粗度でありながらピール強度を向上させることができることになる。
<Inorganic filler surface-treated with alkoxysilane compound>
The alkoxysilane compound of the inorganic filler surface-treated with the alkoxysilane compound used in the present invention is not particularly limited, but from the viewpoint of improving the laminateability when the resin composition is formed into a sheet, an alkyl group and / or It is preferable to contain an aryl group, and one having one or more selected from the group consisting of an alkyl group, an aryl group and an alkoxysilyl group bonded to a silicon atom is more preferable. The alkyl group is preferably an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, more preferably an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, and still more preferably an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms from the viewpoint of preventing viscosity increase of the resin varnish One or more selected from ethyl group, propyl group, isopropyl group and cyclopropyl group is still more preferable. The aryl group is preferably at least one selected from a phenyl group, a benzyl group, a tolyl group, a xylyl group and a naphthyl group. Specific alkoxysilane compounds include phenyltrialkoxysilane, dimethyldialkoxysilane, methyltrialkoxysilane, diethyldialkoxysilane, ethyltrialkoxysilane, diphenyldialkoxysilane, methylphenyldialkoxysilane and diphenylmethyl monoalkoxysilane It is preferable to use one or more selected from From the viewpoint of improving the peel strength, it is preferable to have 2 to 3 alkoxy groups per alkoxysilyl group, and as the alkoxy group, a methoxy group or an ethoxy group is preferable. Also, the alkoxysilyl group may be modified. These alkoxysilane compounds are excellent in productivity and environment without generation of toxic gas at the time of surface treatment. In addition, unlike the coupling agent having an organic functional group, the alkoxysilane compound is excellent in that the hydrophobicity is improved and the compatibility with the resin is improved. Furthermore, unlike the coupling agent having an organic functional group, the alkoxysilane compound is excellent in that it is easy to perform surface treatment without self-aggregation at the time of surface treatment. Therefore, by using an inorganic filler surface-treated with an alkoxysilane compound, it is possible to improve peel strength while improving the lamination property and low roughness.

アルコキシシラン化合物の分子量は、表面処理時や乾燥時の揮発抑止という点から、100以上が好ましく、110以上がより好ましく、120以上が更に好ましい。一方、適切な反応性という点から、1000以下が好ましく、700以下がより好ましく、400以下が更に好ましい。市販品としては、信越化学工業(株)製「KBM103」(フェニルトリメトキシシラン)、「KBE-22」(ジメチルジエトキシシラン)、「KBM−13」(メチルトリメチルシラン)、「KBM−22」(ジメチルジメトキシシラン)、「KBM−3063」(ヘキシルトリメトキシシラン)、「KBE−3063」(ヘキシルトリエトキシシラン)、「KBM−3103」(デシルトリメトキシシラン)、「LS−2400」(ジエチルジエトキシシラン)、「LS−890」(エチルトリメチルシラン)、「LS−5300」(ジフェニルジメトキシシラン)、「LS−2720」メチルフェニルジメトキシシラン、「LS−5610」(ジフェニルメチルメトキシシラン)等が挙げられる。   The molecular weight of the alkoxysilane compound is preferably 100 or more, more preferably 110 or more, and still more preferably 120 or more from the viewpoint of suppressing volatilization during surface treatment or drying. On the other hand, from the viewpoint of appropriate reactivity, 1000 or less is preferable, 700 or less is more preferable, and 400 or less is more preferable. Commercially available products include "KBM103" (phenyltrimethoxysilane), "KBE-22" (dimethyldiethoxysilane), "KBM-13" (methyltrimethylsilane), "KBM-22" manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. (Dimethyldimethoxysilane), "KBM-3063" (hexyltrimethoxysilane), "KBE-3063" (hexyltriethoxysilane), "KBM-3103" (decyltrimethoxysilane), "LS-2400" (diethyldisilane) Ethoxysilane), “LS-890” (ethyltrimethylsilane), “LS-5300” (diphenyldimethoxysilane), “LS-2720” methylphenyldimethoxysilane, “LS-5610” (diphenylmethylmethoxysilane), etc. Be

本発明に使用するアルコキシシラン化合物で表面処理された無機充填材の無機充填材としては、特に限定されないが、例えば、シリカ、アルミナ、硫酸バリウム、タルク、クレー、雲母粉、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、酸化マグネシウム、窒化ホウ素、ホウ酸アルミニウム、チタン酸バリウム、チタン酸ストロンチウム、チタン酸カルシウム、チタン酸マグネシウム、チタン酸ビスマス、酸化チタン、ジルコン酸バリウム、ジルコン酸カルシウムなどが挙げられる。なかでも、無定形シリカ、粉砕シリカ、溶融シリカ、結晶シリカ、合成シリカ、中空シリカ、球状シリカ等のシリカが好ましく、とくに絶縁層の表面粗さを低下させるという点で溶融シリカ、球状シリカがより好ましく、球状溶融シリカが更に好ましい。これらは1種または2種以上組み合わせて使用してもよい。   The inorganic filler of the inorganic filler surface-treated with an alkoxysilane compound used in the present invention is not particularly limited, and examples thereof include silica, alumina, barium sulfate, talc, clay, mica powder, aluminum hydroxide, and hydroxide Magnesium, calcium carbonate, magnesium carbonate, magnesium oxide, boron nitride, aluminum borate, barium titanate, strontium titanate, calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, barium zirconate, calcium zirconate, etc. It can be mentioned. Among them, silicas such as amorphous silica, crushed silica, fused silica, crystalline silica, synthetic silica, hollow silica, spherical silica and the like are preferable, and fused silica and spherical silica are more preferable in that they reduce the surface roughness of the insulating layer. Preferably, spherical fused silica is more preferred. These may be used alone or in combination of two or more.

無機充填材の平均粒径は、特に限定されないが、無機充填材の平均粒径の上限値は、絶縁層表面が低粗度となり、微細配線形成を行うことを可能にするという観点から、5μm以下が好ましく、4μm以下がより好ましく、3μm以下が更に好ましく、2μm以下が更に一層好ましく、1μm以下が殊更好ましく、0.8μm以下が特に好ましく、0.6μm以下がとりわけ好ましい。一方、無機充填材の平均粒径の下限値は、樹脂組成物を樹脂ワニスとした場合に、ワニスの粘度が上昇し、取り扱い性が低下するのを防止するという観点から、0.01μm以上が好ましく、0.05μm以上がより好ましく、0.1μm以上が更に好ましく、0.2μm以上が殊更好ましく、0.3μm以上が特に好ましい。上記無機充填材の平均粒径はミー(Mie)散乱理論に基づくレーザー回折・散乱法により測定することができる。具体的にはレーザー回折散乱式粒度分布測定装置により、無機充填材の粒度分布を体積基準で作成し、そのメディアン径を平均粒径とすることで測定することができる。測定サンプルは、無機充填材を超音波により水中に分散させたものを好ましく使用することができる。レーザー回折散乱式粒度分布測定装置としては、(株)堀場製作所製 LA−750等を使用することができる。   The average particle size of the inorganic filler is not particularly limited, but the upper limit of the average particle size of the inorganic filler is 5 μm from the viewpoint that the surface of the insulating layer has low roughness and enables fine wiring to be formed. The following are preferable, 4 μm or less is more preferable, 3 μm or less is further preferable, 2 μm or less is still more preferable, 1 μm or less is particularly preferable, 0.8 μm or less is particularly preferable, and 0.6 μm or less is particularly preferable. On the other hand, the lower limit value of the average particle diameter of the inorganic filler is 0.01 μm or more from the viewpoint of preventing the viscosity of the varnish from rising and the handling property from decreasing when the resin composition is a resin varnish. The thickness is preferably 0.05 μm or more, more preferably 0.1 μm or more, particularly preferably 0.2 μm or more, and particularly preferably 0.3 μm or more. The average particle size of the inorganic filler can be measured by a laser diffraction / scattering method based on Mie scattering theory. Specifically, the particle size distribution of the inorganic filler can be prepared on a volume basis by a laser diffraction / scattering type particle size distribution measuring device, and the median diameter can be measured as an average particle size. As a measurement sample, one in which an inorganic filler is dispersed in water by ultrasonic waves can be preferably used. As laser diffraction scattering type particle size distribution measuring apparatus, LA-750 grade | etc., By Horiba, Ltd. can be used.

無機充填材の含有量は、特に限定されないが、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、硬化物が脆くなるのを防止する点やピール強度低下を防止する点から、90質量%以下が好ましく、85質量%以下がより好ましく、80質量%以下が更に好ましく、75質量%以下が更に一層好ましい。一方で、硬化物の熱膨張率を低下させるという点から、30質量%以上が好ましく、40質量%以上がより好ましく、50質量%以上が更に好ましく、60質量%以上が更に一層好ましい。   The content of the inorganic filler is not particularly limited, but when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, the content is 90 mass from the viewpoint of preventing the cured product from becoming brittle and preventing the decrease in peel strength. % Or less is preferable, 85 mass% or less is more preferable, 80 mass% or less is more preferable, and 75 mass% or less is still more preferable. On the other hand, it is preferably 30% by mass or more, more preferably 40% by mass or more, further preferably 50% by mass or more, and still more preferably 60% by mass or more from the viewpoint of reducing the thermal expansion coefficient of the cured product.

アルコキシシラン化合物で表面処理された無機充填材において、該無機充填材を表面処理している該アルコキシシラン化合物の量は特に限定されないが、無機充填材100質量部に対して、アルコキシシラン化合物を0.05〜4質量部で表面処理するのが好ましく、0.1〜3質量部で表面処理するのがより好ましく、0.2〜2質量部で表面処理するのが更に好ましく、0.3〜1質量部で表面処理するのが更に一層好ましい。   In the inorganic filler surface-treated with the alkoxysilane compound, the amount of the alkoxysilane compound which is surface-treated the inorganic filler is not particularly limited, but the amount of the alkoxysilane compound is 0 based on 100 parts by mass of the inorganic filler. It is preferable to surface-treat with 0.5 to 4 parts by mass, more preferably 0.1 to 3 parts by mass, and further preferably 0.2 to 2 parts by mass, 0.3 to It is even more preferable to surface treat at 1 part by mass.

また、アルコキシシラン化合物で表面処理された無機充填材において、該無機充填材の表面組成を分析することによって、炭素原子の存在を確認し、該無機充填材の単位表面積当たりのカーボン量を求めることができる。カーボン分析計としては、堀場製作所製「EMIA−320V」等を使用することができる。   In the inorganic filler surface-treated with an alkoxysilane compound, the presence of carbon atoms is confirmed by analyzing the surface composition of the inorganic filler, and the carbon amount per unit surface area of the inorganic filler is determined. Can. As a carbon analyzer, Horiba "EMIA-320V" etc. can be used.

具体的には、溶剤として十分な量のMEKをアルコキシシラン化合物で表面処理された無機充填材に加えて、25℃で5分間超音波洗浄する。上澄液を除去し、固形分を乾燥させた後、カーボン分析計を用いて該無機充填材の単位表面積当たりのカーボン量を測定することができる。カーボン分析計としては、堀場製作所製「EMIA−320V」等を使用することができる。   Specifically, a sufficient amount of MEK as a solvent is added to the inorganic filler surface-treated with an alkoxysilane compound, and ultrasonic cleaning is performed at 25 ° C. for 5 minutes. After removing the supernatant and drying the solid content, the carbon analyzer can be used to measure the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler. As a carbon analyzer, Horiba "EMIA-320V" etc. can be used.

上記の無機充填材の単位表面積当たりのカーボン量は、無機充填材の分散性向上や硬化物の湿式粗化工程後の算術平均粗さ、二乗平均平方根粗さを安定させるという点で、0.01mg/m以上が好ましく、0.05mg/m以上がより好ましく、0.1mg/m以上が更に好ましい。一方、樹脂ワニスの溶融粘度や接着フィルム形態での溶融粘度の上昇を防止するという点で、0.8mg/m以下が好ましく、0.5mg/m以下がより好ましく、0.3mg/m以下が更に好ましい。 The amount of carbon per unit surface area of the above-mentioned inorganic filler, in terms of stabilizing the arithmetic mean roughness and the root mean square roughness after the improvement of the dispersibility of the inorganic filler and the wet roughening process of the cured product, is 0. 01mg / m 2 or more preferably, 0.05 mg / m 2 or more preferably, 0.1 mg / m 2 or more is more preferable. On the other hand, it is preferably 0.8 mg / m 2 or less, more preferably 0.5 mg / m 2 or less, and 0.3 mg / m 2 in view of preventing the melt viscosity of the resin varnish and the increase in the melt viscosity in the adhesive film form. 2 or less is more preferable.

アルコキシシラン化合物で表面処理された無機充填材は、無機充填材をアルコキシシラン化合物により表面処理した後、樹脂組成物に添加することが好ましい。この場合には、無機充填材の分散性をより一層高めることが出来る。   The inorganic filler surface-treated with the alkoxysilane compound is preferably added to the resin composition after the inorganic filler is surface-treated with the alkoxysilane compound. In this case, the dispersibility of the inorganic filler can be further enhanced.

アルコキシシラン化合物で表面処理された無機充填材への表面処理方法は、特に限定されないが、乾式法や湿式法が挙げられる。乾式法としては、回転ミキサーに無機充填材を仕込んで、攪拌しながらアルコキシシラン化合物のアルコール溶液又は水溶液を滴下又は噴霧した後、さらに攪拌し、ふるいにより分級する。その後、加熱によりアルコキシシラン化合物と無機充填材とを脱水縮合させることにより得ることができる。湿式法としては、無機充填材と有機溶媒とのスラリーを攪拌しながらアルコキシシラン化合物を添加し、攪拌した後、濾過、乾燥及びふるいによる分級を行う。その後、加熱によりアルコキシシラン化合物と無機充填材とを脱水縮合させることにより得ることができる。さらに、樹脂組成物中にアルコキシシラン化合物を添加するインテグラルブレンド法でも可能である。   Although the surface treatment method to the inorganic filler surface-treated with the alkoxysilane compound is not specifically limited, A dry method and a wet method are mentioned. As a dry method, an inorganic filler is charged into a rotary mixer, and after an alcohol solution or an aqueous solution of an alkoxysilane compound is dropped or sprayed while stirring, it is further stirred and classified by a sieve. Thereafter, it can be obtained by dehydration condensation of the alkoxysilane compound and the inorganic filler by heating. As a wet method, an alkoxysilane compound is added while stirring a slurry of an inorganic filler and an organic solvent, and after stirring, filtration, drying and classification by sieving are performed. Thereafter, it can be obtained by dehydration condensation of the alkoxysilane compound and the inorganic filler by heating. Furthermore, it is also possible to use an integral blending method in which an alkoxysilane compound is added to the resin composition.

<硬化促進剤>
本発明の樹脂組成物には、さらに硬化促進剤を含有させることにより、エポキシ樹脂と硬化剤を効率的に硬化させることができる。硬化促進剤としては、特に限定されないが、アミン系硬化促進剤、グアニジン系硬化促進剤、イミダゾール系硬化促進剤、ホスホニウム系硬化促進剤、金属系硬化促進剤等が挙げられる。これらは1種又は2種以上組み合わせて使用してもよい。
<Hardening accelerator>
The epoxy resin and the curing agent can be efficiently cured by further incorporating a curing accelerator into the resin composition of the present invention. The curing accelerator is not particularly limited, and examples thereof include an amine curing accelerator, a guanidine curing accelerator, an imidazole curing accelerator, a phosphonium curing accelerator, a metal curing accelerator and the like. These may be used alone or in combination of two or more.

アミン系硬化促進剤としては、特に限定されるものではないが、トリエチルアミン、トリブチルアミンなどのトリアルキルアミン、4−ジメチルアミノピリジン、ベンジルジメチルアミン、2,4,6,−トリス(ジメチルアミノメチル)フェノール、1,8−ジアザビシクロ(5,4,0)−ウンデセン(以下、DBUと略記する。)などのアミン化合物などが挙げられる。これらは1種または2種以上組み合わせて使用してもよい。   The amine-based curing accelerator is not particularly limited, but includes triethylamine, trialkylamine such as tributylamine, 4-dimethylaminopyridine, benzyldimethylamine, 2,4,6-tris (dimethylaminomethyl) And amine compounds such as phenol and 1,8-diazabicyclo (5,4,0) -undecene (hereinafter abbreviated as DBU). These may be used alone or in combination of two or more.

グアニジン系硬化促進剤としては、特に限定されるものではないが、ジシアンジアミド、1−メチルグアニジン、1−エチルグアニジン、1−シクロヘキシルグアニジン、1−フェニルグアニジン、1−(o−トリル)グアニジン、ジメチルグアニジン、ジフェニルグアニジン、トリメチルグアニジン、テトラメチルグアニジン、ペンタメチルグアニジン、1,5,7−トリアザビシクロ[4.4.0]デカ−5−エン、7−メチル−1,5,7−トリアザビシクロ[4.4.0]デカ−5−エン、1−メチルビグアニド、1−エチルビグアニド、1−n−ブチルビグアニド、1−n−オクタデシルビグアニド、1,1−ジメチルビグアニド、1,1−ジエチルビグアニド、1−シクロヘキシルビグアニド、1−アリルビグアニド、1−フェニルビグアニド、1−(o−トリル)ビグアニド等が挙げられる。これらは1種または2種以上組み合わせて使用してもよい。   The guanidine curing accelerator is not particularly limited, but dicyandiamide, 1-methyl guanidine, 1-ethyl guanidine, 1-cyclohexyl guanidine, 1-phenyl guanidine, 1- (o-tolyl) guanidine, dimethyl guanidine , Diphenyl guanidine, trimethyl guanidine, tetramethyl guanidine, pentamethyl guanidine, 1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] dec-5-ene, 7-methyl-1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] dec-5-ene, 1-methyl biguanide, 1-ethyl biguanide, 1-n-butyl biguanide, 1-n-octadecyl biguanide, 1,1-dimethyl biguanide, 1,1-diethyl biguanide 1-cyclohexyl biguanide, 1-allyl biguanide, 1-fe Rubiguanido, 1-(o-tolyl) biguanide, and the like. These may be used alone or in combination of two or more.

イミダゾール系硬化促進剤としては、特に限定されるものではないが、2−メチルイミダゾール、2−ウンデシルイミダゾール、2−ヘプタデシルイミダゾール、1,2−ジメチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、1,2−ジメチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾール、1−シアノエチル−2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾリウムトリメリテイト、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾリウムトリメリテイト、2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−ウンデシルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−エチル−4’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジンイソシアヌル酸付加物、2−フェニルイミダゾールイソシアヌル酸付加物、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール、2−フェニル−4−メチル−5ヒドロキシメチルイミダゾール、2,3−ジヒドロ−1H−ピロロ[1,2−a]ベンズイミダゾール、1−ドデシル−2−メチル−3−ベンジルイミダゾリウムクロライド、2−メチルイミダゾリン、2−フェニルイミダゾリン等のイミダゾール化合物及びイミダゾール化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体が挙げられる。これらは1種または2種以上組み合わせて使用してもよい。   The imidazole-based curing accelerator is not particularly limited, but 2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-methylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1- Cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium tri Meritate 1-cyanoethyl-2-phenylimidazolium trimellitate, 2,4-diamino-6- [2′-methylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2 '-Undecylimidazolyl- (1')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-ethyl-4'-methylimidazolyl- (1 ')]-ethyl-s-triazine, 2,4-Diamino-6- [2′-methylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine isocyanuric acid adduct, 2-phenylimidazole isocyanuric acid adduct, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethyl Imidazole, 2-phenyl-4-methyl-5hydroxymethylimidazole, 2,3-dihydro-1H-pyrrolo [1,2-a] benzimidazole, 1 Dodecyl-2-methyl-3-benzyl-imidazolium chloride, 2-methyl-imidazoline, adduct of 2-phenyl-imidazo imidazole compounds such as phosphorus and imidazole compound and an epoxy resin. These may be used alone or in combination of two or more.

ホスホニウム系硬化促進剤としては、特に限定されるものではないが、トリフェニルホスフィン、ホスホニウムボレート化合物、テトラフェニルホスホニウムテトラフェニルボレート、n−ブチルホスホニウムテトラフェニルボレート、テトラブチルホスホニウムデカン酸塩、(4−メチルフェニル)トリフェニルホスホニウムチオシアネート、テトラフェニルホスホニウムチオシアネート、ブチルトリフェニルホスホニウムチオシアネート等が挙げられる。これらは1種または2種以上組み合わせて使用してもよい。   The phosphonium curing accelerator is not particularly limited, but triphenylphosphine, phosphonium borate compounds, tetraphenylphosphonium tetraphenylborate, n-butylphosphonium tetraphenylborate, tetrabutylphosphonium decanoate, (4- Examples include methylphenyl) triphenylphosphonium thiocyanate, tetraphenylphosphonium thiocyanate, butyltriphenylphosphonium thiocyanate and the like. These may be used alone or in combination of two or more.

本発明の樹脂組成物において、硬化促進剤(金属系硬化促進剤を除く)の含有量は、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、0.005〜1質量%の範囲が好ましく、0.01〜0.5質量%の範囲がより好ましい。この範囲内であると、熱硬化をより効率的にでき、樹脂ワニスの保存安定性も向上する。   In the resin composition of the present invention, the content of the curing accelerator (excluding the metal-based curing accelerator) is in the range of 0.005 to 1% by mass, assuming that the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass. Preferably, the range of 0.01 to 0.5% by mass is more preferable. Within this range, heat curing can be performed more efficiently, and the storage stability of the resin varnish is also improved.

金属系硬化促進剤としては、特に限定されるものではないが、コバルト、銅、亜鉛、鉄、ニッケル、マンガン、スズ等の金属の、有機金属錯体又は有機金属塩が挙げられる。有機金属錯体の具体例としては、コバルト(II)アセチルアセトナート、コバルト(III)アセチルアセトナート等の有機コバルト錯体、銅(II)アセチルアセトナート等の有機銅錯体、亜鉛(II)アセチルアセトナート等の有機亜鉛錯体、鉄(III)アセチルアセトナート等の有機鉄錯体、ニッケル(II)アセチルアセトナート等の有機ニッケル錯体、マンガン(II)アセチルアセトナート等の有機マンガン錯体などが挙げられる。有機金属塩としては、オクチル酸亜鉛、オクチル酸錫、ナフテン酸亜鉛、ナフテン酸コバルト、ステアリン酸スズ、ステアリン酸亜鉛などが挙げられる。これらは1種又は2種以上組み合わせて使用してもよい。   The metal-based curing accelerator is not particularly limited, and examples thereof include organometallic complexes or organometallic salts of metals such as cobalt, copper, zinc, iron, nickel, manganese and tin. Specific examples of the organic metal complex include organic cobalt complexes such as cobalt (II) acetylacetonate and cobalt (III) acetylacetonate, organic copper complexes such as copper (II) acetylacetonate, zinc (II) acetylacetonate Organic zinc complexes such as iron (III) acetylacetonate, organic nickel complexes such as nickel (II) acetylacetonate, organic manganese complexes such as manganese (II) acetylacetonate, and the like. Examples of the organic metal salt include zinc octylate, tin octylate, zinc naphthenate, cobalt naphthenate, tin stearate, zinc stearate and the like. These may be used alone or in combination of two or more.

本発明の樹脂組成物において、金属系硬化促進剤の添加量は、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、金属系硬化触媒に基づく金属の含有量が25〜500ppmの範囲が好ましく、40〜200ppmの範囲がより好ましい。この範囲内であると、絶縁層表面への密着性により優れる導体層が形成され、樹脂ワニスの保存安定性も向上する。   In the resin composition of the present invention, the amount of the metal-based curing accelerator added is such that the content of the metal based on the metal-based curing catalyst is in the range of 25 to 500 ppm based on 100% by mass of the non-volatile component in the resin composition. Preferably, the range of 40 to 200 ppm is more preferable. The conductor layer which is excellent in the adhesiveness to the insulating layer surface as it is in this range is formed, and the storage stability of resin varnish is also improved.

<熱可塑性樹脂>
本発明の樹脂組成物には、さらに熱可塑性樹脂を含有させることにより、硬化物の機械強度を向上させることができ、更に接着フィルムの形態で使用する場合のフィルム成型能を向上させることもできる。熱可塑性樹脂としては、フェノキシ樹脂、ポリビニルアセタール樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリスルホン樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂、ポリエステル樹脂を挙げることができ、特にフェノキシ樹脂、ポリビニルアセタール樹脂が好ましい。これらの熱可塑性樹脂は各々単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて使用してもよい。熱可塑性樹脂の重量平均分子量は5000〜200000の範囲であるのが好ましい。なお本発明における重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法(ポリスチレンン換算)で測定される。GPC法による重量平均分子量は、具体的には、測定装置として(株)島津製作所製LC−9A/RID−6Aを、カラムとして昭和電工(株)社製Shodex K−800P/K−804L/K−804Lを、移動相としてクロロホルム等を用いて、カラム温度40℃にて測定し、標準ポリスチレンの検量線を用いて算出することができる。
<Thermoplastic resin>
By further incorporating a thermoplastic resin into the resin composition of the present invention, the mechanical strength of the cured product can be improved, and the film moldability when used in the form of an adhesive film can also be improved. . Examples of the thermoplastic resin include phenoxy resin, polyvinyl acetal resin, polyimide resin, polyamide imide resin, polyether imide resin, polysulfone resin, polyether sulfone resin, polyphenylene ether resin, polycarbonate resin, polyether ether ketone resin and polyester resin. In particular, phenoxy resin and polyvinyl acetal resin are preferable. These thermoplastic resins may be used alone or in combination of two or more. The weight average molecular weight of the thermoplastic resin is preferably in the range of 5,000 to 200,000. The weight average molecular weight in the present invention is measured by gel permeation chromatography (GPC) method (in terms of polystyrene). Specifically, the weight average molecular weight by the GPC method is LC-9A / RID-6A manufactured by Shimadzu Corporation as a measuring device, and Shodex K-800P / K-804L / K manufactured by Showa Denko KK as a column. It can be measured at a column temperature of 40 ° C. using chloroform or the like as a mobile phase, and calculated using a calibration curve of standard polystyrene.

本発明の樹脂組成物に、熱可塑性樹脂を配合する場合には、樹脂組成物中の熱可塑性樹脂の含有量は、特に限定されるものではないが、樹脂組成物中の不揮発成分100質量%に対し、0.1〜10質量%が好ましく、0.5〜5質量%がより好ましい。この範囲内であると、フィルム成型能や機械強度向上の効果が発揮され、更に溶融粘度の上昇や湿式粗化工程後の絶縁層表面の粗度を低下させることができる。   When a thermoplastic resin is blended to the resin composition of the present invention, the content of the thermoplastic resin in the resin composition is not particularly limited, but 100% by mass of non-volatile components in the resin composition On the other hand, 0.1-10 mass% is preferable, and 0.5-5 mass% is more preferable. Within this range, the effect of improving the film moldability and mechanical strength is exhibited, and the increase in the melt viscosity and the roughness of the surface of the insulating layer after the wet roughening step can be further reduced.

<ゴム粒子>
本発明の樹脂組成物には、さらにゴム粒子を含有させることにより、メッキピール強度を向上させることができ、ドリル加工性の向上、誘電正接の低下、応力緩和効果を得ることもできる。本発明において使用され得るゴム粒子は、例えば、当該樹脂組成物のワニスを調製する際に使用する有機溶剤にも溶解せず、エポキシ樹脂などとも相溶しないものである。従って、該ゴム粒子は、本発明の樹脂組成物のワニス中では分散状態で存在する。このようなゴム粒子は、一般には、ゴム成分の分子量を有機溶剤や樹脂に溶解しないレベルまで大きくし、粒子状とすることで調製される。
<Rubber particles>
By further including rubber particles in the resin composition of the present invention, the plating peel strength can be improved, and the drill processability can be improved, the dielectric loss tangent can be lowered, and the stress relaxation effect can be obtained. The rubber particles that can be used in the present invention are, for example, those that do not dissolve in the organic solvent used when preparing the varnish of the resin composition and are not compatible with the epoxy resin or the like. Therefore, the rubber particles are present in a dispersed state in the varnish of the resin composition of the present invention. Such rubber particles are generally prepared by increasing the molecular weight of the rubber component to a level at which the rubber component does not dissolve in an organic solvent or resin, and forming it into particles.

本発明で使用され得るゴム粒子の好ましい例としては、コアシェル型ゴム粒子、架橋アクリロニトリルブタジエンゴム粒子、架橋スチレンブタジエンゴム粒子、アクリルゴム粒子などが挙げられる。コアシェル型ゴム粒子は、コア層とシェル層とを有するゴム粒子であり、例えば、外層のシェル層がガラス状ポリマーで構成され、内層のコア層がゴム状ポリマーで構成される2層構造、又は外層のシェル層がガラス状ポリマーで構成され、中間層がゴム状ポリマーで構成され、コア層がガラス状ポリマーで構成される3層構造のものなどが挙げられる。ガラス状ポリマー層は、例えば、メタクリル酸メチルの重合物などで構成され、ゴム状ポリマー層は、例えば、ブチルアクリレート重合物(ブチルゴム)などで構成される。ゴム粒子は2種以上を組み合わせて使用してもよい。コアシェル型ゴム粒子の具体例としては、スタフィロイドAC3832、AC3816N、AC3401N、IM−401改7−17 (商品名、ガンツ化成(株)製)、メタブレンKW−4426(商品名、三菱レイヨン(株)製)が挙げられる。架橋アクリロニトリルブタジエンゴム(NBR)粒子の具体例としては、XER−91(平均粒径0.5μm、JSR(株)製)などが挙げられる。架橋スチレンブタジエンゴム(SBR)粒子の具体例としては、XSK−500(平均粒径0.5μm、JSR(株)製)などが挙げられる。アクリルゴム粒子の具体例としては、メタブレンW300A(平均粒径0.1μm)、W450A(平均粒径0.2μm)(三菱レイヨン(株)製)を挙げることができる。   Preferred examples of the rubber particles that can be used in the present invention include core-shell type rubber particles, crosslinked acrylonitrile butadiene rubber particles, crosslinked styrene butadiene rubber particles, acrylic rubber particles and the like. The core-shell rubber particles are rubber particles having a core layer and a shell layer, and for example, a two-layer structure in which the shell layer of the outer layer is composed of a glassy polymer and the core layer of the inner layer is composed of a rubbery polymer, The shell layer of the outer layer is composed of a glassy polymer, the middle layer is composed of a rubbery polymer, and the core layer is composed of a glassy polymer. The glassy polymer layer is made of, for example, a polymer of methyl methacrylate and the like, and the rubbery polymer layer is made of, for example, a butyl acrylate polymer (butyl rubber) and the like. The rubber particles may be used in combination of two or more. Specific examples of the core-shell type rubber particles include staphyroids AC3832, AC3816N, AC3401N, IM-401 revision 7-17 (trade name, manufactured by Ganz Chemical Co., Ltd.), metabrene KW-4426 (trade name, Mitsubishi Rayon Co., Ltd.) Manufactured by Specific examples of the crosslinked acrylonitrile butadiene rubber (NBR) particles include XER-91 (average particle diameter 0.5 μm, manufactured by JSR Corporation). Specific examples of the crosslinked styrene butadiene rubber (SBR) particles include XSK-500 (average particle diameter 0.5 μm, manufactured by JSR Corporation) and the like. As a specific example of an acrylic rubber particle, metabrene W300A (average particle diameter 0.1 micrometer), W450A (average particle diameter 0.2 micrometer) (Mitsubishi Rayon Co., Ltd. product) can be mentioned.

配合するゴム粒子の平均粒径は、好ましくは0.005〜1μmの範囲であり、より好ましくは0.2〜0.6μmの範囲である。本発明で使用されるゴム粒子の平均粒径は、動的光散乱法を用いて測定することができる。例えば、適当な有機溶剤にゴム粒子を超音波などにより均一に分散させ、濃厚系粒径アナライザー(FPAR−1000;大塚電子(株)製)を用いて、ゴム粒子の粒度分布を質量基準で作成し、そのメディアン径を平均粒径とすることで測定することができる。   The average particle diameter of the rubber particles to be blended is preferably in the range of 0.005 to 1 μm, and more preferably in the range of 0.2 to 0.6 μm. The average particle size of the rubber particles used in the present invention can be measured using a dynamic light scattering method. For example, rubber particles are uniformly dispersed in a suitable organic solvent by ultrasonic waves or the like, and the particle size distribution of rubber particles is made based on mass using a concentrated particle size analyzer (FPAR-1000; manufactured by Otsuka Electronics Co., Ltd.) It can measure by making the median diameter into an average particle diameter.

ゴム粒子の含有量は、樹脂組成物中の不揮発成分100質量%に対し、好ましくは0.05〜10質量%であり、より好ましくは0.5〜5質量%である。   The content of the rubber particles is preferably 0.05 to 10% by mass, and more preferably 0.5 to 5% by mass, with respect to 100% by mass of the non-volatile component in the resin composition.

<難燃剤>
本発明の樹脂組成物には、さらに難燃剤を含有させることにより、難燃性を付与することができる。難燃剤としては、例えば、有機リン系難燃剤、有機系窒素含有リン化合物、窒素化合物、シリコーン系難燃剤、金属水酸化物等が挙げられる。有機リン系難燃剤としては、三光(株)製のHCA、HCA−HQ、HCA−NQ等のフェナントレン型リン化合物、昭和高分子(株)製のHFB−2006M等のリン含有ベンゾオキサジン化合物、味の素ファインテクノ(株)製のレオフォス30、50、65、90、110、TPP、RPD、BAPP、CPD、TCP、TXP、TBP、TOP、KP140、TIBP、北興化学工業(株)製のTPPO、PPQ、クラリアント(株)製のOP930、大八化学(株)製のPX200等のリン酸エステル化合物、新日鐵化学(株)製のFX289、FX305、TX0712等のリン含有エポキシ樹脂、新日鐵化学(株)製のERF001等のリン含有フェノキシ樹脂、三菱化学(株)製のYL7613等のリン含有エポキシ樹脂等が挙げられる。有機系窒素含有リン化合物としては、四国化成工業(株)製のSP670、SP703等のリン酸エステルアミド化合物、大塚化学(株)社製のSPB100、SPE100、(株)伏見製薬所製FP−series等のホスファゼン化合物等が挙げられる。金属水酸化物としては、宇部マテリアルズ(株)製のUD65、UD650、UD653等の水酸化マグネシウム、巴工業(株)社製のB−30、B−325、B−315、B−308、B−303、UFH−20等の水酸化アルミニウム等が挙げられる。
<Flame retardant>
Flame retardancy can be imparted to the resin composition of the present invention by further containing a flame retardant. Examples of the flame retardant include organic phosphorus flame retardants, organic nitrogen-containing phosphorus compounds, nitrogen compounds, silicone flame retardants, metal hydroxides and the like. As organophosphorus flame retardants, phenanthrene type phosphorus compounds such as HCA, HCA-HQ and HCA-NQ manufactured by Sanko Co., Ltd., phosphorus-containing benzoxazine compounds such as HFB-2006M manufactured by Showa Highpolymer Co., Ltd., Ajinomoto Leofos 30, 50, 65, 90, 110 manufactured by Fine Techno Co., Ltd., TPP, RPD, BAPP, CPD, TCP, TXP, TBP, TOP, KP 140, TIBP, TPPO, PPQ manufactured by Hokuko Chemical Co., Ltd., Phosphoric acid ester compounds such as OP 930 manufactured by Clariant Co., Ltd., PX 200 manufactured by Daihachi Chemical Co., Ltd., phosphorus-containing epoxy resins such as FX 289, FX 305, TX 0712 manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd. Phosphorus-containing phenoxy resin such as ERF 001 manufactured by Co., Ltd. Phosphorus-containing epoxy resin such as YL 7613 manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation And the like. Examples of organic nitrogen-containing phosphorus compounds include phosphoric acid ester amide compounds such as SP670 and SP703 manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd. SPB100 manufactured by Otsuka Chemical Co., Ltd., SPE100 manufactured by Fushimi Pharmaceutical Co., Ltd. FP-series manufactured by Fushimi Pharmaceutical Co., Ltd. And phosphazene compounds and the like. As metal hydroxide, magnesium hydroxide such as UD 65, UD 650, UD 653 manufactured by Ube Materials Co., Ltd., B-30 manufactured by Sakai Industry Co., Ltd., B-325, B-315, B-308, Aluminum hydroxides, such as B-303 and UFH-20, etc. are mentioned.

難燃剤の含有量は、樹脂組成物中の不揮発成分100質量%に対し、好ましくは0.5〜10質量%であり、より好ましくは1〜5質量%である。   The content of the flame retardant is preferably 0.5 to 10% by mass, and more preferably 1 to 5% by mass, with respect to 100% by mass of the non-volatile component in the resin composition.

<他の成分>
本発明の樹脂組成物には、本発明の効果を阻害しない範囲で、必要に応じて他の成分を配合することができる。他の成分としては、ビニルベンジル化合物、アクリル化合物、マレイミド化合物、ブロックイソシアネート化合物のような熱硬化性樹脂、シリコンパウダー、ナイロンパウダー、フッ素パウダー等の有機充填剤、オルベン、ベントン等の増粘剤、シリコーン系、フッ素系、高分子系の消泡剤又はレベリング剤、イミダゾール系、チアゾール系、トリアゾール系、シランカップリング剤等の密着性付与剤、フタロシアニン・ブルー、フタロシアニン・グリーン、アイオジン・グリーン、ジスアゾイエロー、カーボンブラック等の着色剤、シラン系カップリング剤、チタネート系カップリング剤等の表面処理剤、等を挙げることができる。
<Other ingredients>
If necessary, other components can be blended into the resin composition of the present invention as long as the effects of the present invention are not impaired. Other components include vinyl benzyl compounds, acrylic compounds, maleimide compounds, thermosetting resins such as blocked isocyanate compounds, organic fillers such as silicon powders, nylon powders and fluorine powders, thickeners such as olben and bentone, Silicone type, fluorine type, polymer type antifoaming agent or leveling agent, imidazole type, thiazole type, triazole type, adhesion imparting agent such as silane coupling agent, phthalocyanine blue, phthalocyanine green, iodine green, disazo Examples thereof include colorants such as yellow and carbon black, surface coupling agents such as silane coupling agents and titanate coupling agents.

本発明の樹脂組成物は、上記成分を適宜混合し、また、必要に応じて三本ロール、ボールミル、ビーズミル、サンドミル等の混練手段、あるいはスーパーミキサー、プラネタリーミキサー等の撹拌手段により混練または混合することにより調整することができる。また、さらに有機溶剤を加えることで樹脂ワニスとしても調整することができる。   In the resin composition of the present invention, the above-mentioned components are appropriately mixed, and if necessary, kneading or mixing is carried out by kneading means such as a triple roll, ball mill, bead mill or sand mill, or stirring means such as a super mixer or planetary mixer. It can be adjusted by doing. Moreover, it can also be adjusted as a resin varnish by adding an organic solvent.

本発明の樹脂組成物においては、湿式粗化工程において絶縁層表面の算術平均粗さが低いのみならず、二乗平均平方根粗さも小さく、その上に十分なピール強度を有するメッキ導体層を形成することができるので、多層プリント配線板の製造において、絶縁層を形成するための樹脂組成物(多層プリント配線板の絶縁層用樹脂組成物)として好適に使用することができ、メッキにより導体層を形成するための樹脂組成物(メッキにより導体層を形成する多層プリント配線板の絶縁層用樹脂組成物)としてより好適に使用することが出来る。つまり、多層プリント配線板のビルドアップ層用樹脂組成物として好適である。   In the resin composition of the present invention, not only the arithmetic mean roughness of the surface of the insulating layer is low but also the root mean square roughness is small in the wet roughening step, and a plated conductor layer having sufficient peel strength is formed thereon. Can be suitably used as a resin composition for forming an insulating layer (resin composition for insulating layer of multilayer printed wiring board) in the production of a multilayer printed wiring board, and the conductor layer is formed by plating. It can use more suitably as a resin composition for forming (resin composition for insulating layers of the multilayer printed wiring board which forms a conductor layer by plating). That is, it is suitable as a resin composition for buildup layers of a multilayer printed wiring board.

本発明の樹脂組成物を硬化して絶縁層を形成し、その絶縁層表面を粗化処理した後の算術平均粗さ(Ra値)、二乗平均平方根粗さ(Rq値)は、後述する<粗化後の算術平均粗さ(Ra値)、二乗平均平方根粗さ(Rq値)の測定>に記載の測定方法により把握することができる。   After the resin composition of the present invention is cured to form an insulating layer, and the surface of the insulating layer is roughened, the arithmetic mean roughness (Ra value) and the root mean square roughness (Rq value) will be described later. Measurement of Arithmetic Average Roughness (Ra Value) after Roughening, Measurement of Root-Mean-Square Roughness (Rq Value)> The measurement method can be grasped by the following method.

算術平均粗さ(Ra値)の上限値は、電気信号の伝送ロスを軽減するために、400nm以下が好ましく、350nm以下がより好ましく、300nm以下が更に好ましく、250nm以下が更に一層好ましく、200nm以下が殊更好ましく、180nm以下が特に好ましい。算術平均粗さ(Ra値)の下限値は、低ければ低いほど良いが、ピール強度を安定化させるという観点から、10nm以上が好ましく、50nm以上がより好ましく、100nm以上が更に好ましい。   The upper limit of the arithmetic average roughness (Ra value) is preferably 400 nm or less, more preferably 350 nm or less, still more preferably 300 nm or less, still more preferably 250 nm or less, in order to reduce the transmission loss of the electric signal. Is particularly preferable, and 180 nm or less is particularly preferable. The lower limit of the arithmetic average roughness (Ra value) is preferably as low as possible, but from the viewpoint of stabilizing the peel strength, 10 nm or more is preferable, 50 nm or more is more preferable, and 100 nm or more is still more preferable.

二乗平均平方根粗さ(Rq値)は絶縁層表面の局所的な状態が反映されるため、Rq値の把握により緻密で平滑な絶縁層表面になっていることが確認できることを見出した。二乗平均平方根粗さ(Rq値)の上限値は、緻密で平滑な絶縁層表面とするために、500nm以下が好ましく、450nm以下がより好ましく、400nm以下が更に好ましく、350nm以下が更に一層好ましく、300nm以下が殊更好ましく、250nm以下が特に好ましく、200nm以下がとりわけ好ましい。二乗平均平方根粗さ(Rq値)の下限値は、低ければ低いほど良いが、ピール強度を安定化させるという観点から、30nm以上が好ましく、70nm以上がより好ましく、120nm以上が更に好ましい。   Since the root mean square roughness (Rq value) reflects the local state of the surface of the insulating layer, it was found that the dense and smooth surface of the insulating layer can be confirmed by grasping the Rq value. The upper limit of the root mean square roughness (Rq value) is preferably 500 nm or less, more preferably 450 nm or less, still more preferably 400 nm or less, and still more preferably 350 nm or less, in order to obtain a dense and smooth insulating layer surface. 300 nm or less is particularly preferable, 250 nm or less is particularly preferable, and 200 nm or less is particularly preferable. The lower limit of the root mean square roughness (Rq value) is preferably as low as possible, but from the viewpoint of stabilizing the peel strength, 30 nm or more is preferable, 70 nm or more is more preferable, and 120 nm or more is still more preferable.

本発明の樹脂組成物を硬化して絶縁層を形成し、その絶縁層表面を粗化処理し、メッキして得られる導体層と絶縁層とのピール強度は、後述する<メッキ導体層の引き剥がし強さ(ピール強度)の測定>に記載の測定方法により把握することができる。   The resin composition of the present invention is cured to form an insulating layer, the surface of the insulating layer is roughened, and the peel strength of the conductive layer obtained by plating is as described below. Measurement of peel strength (peel strength)> It can be grasped by the measurement method described in the above.

ピール強度は、絶縁層と導体層とを十分に密着させておくために0.3kgf/cm以上が好ましく、0.35kgf/cm以上がより好ましく、0.4kgf/cm以上が更に好ましく、0.45kgf/cm以上が更に一層好ましい。ピール強度の上限値は高いほどよく、特に制限は無いが、一般的に1.2kgf/cm以下、1.0kgf/cm以下、0.8kgf/cm以下などとなる。   The peel strength is preferably 0.3 kgf / cm or more, more preferably 0.35 kgf / cm or more, still more preferably 0.4 kgf / cm or more, in order to keep the insulating layer and the conductor layer in close contact with each other. 45 kgf / cm or more is still more preferable. The upper limit value of the peel strength is preferably as high as possible, and is not particularly limited, but generally it is 1.2 kgf / cm or less, 1.0 kgf / cm or less, 0.8 kgf / cm or less.

本発明の樹脂組成物の用途は、特に限定されないが、接着フィルム、プリプレグ等のシート状積層材料、回路基板(積層板用途、多層プリント配線板用途等)、ソルダーレジスト、アンダ−フィル材、ダイボンディング材、半導体封止材、穴埋め樹脂、部品埋め込み樹脂等、樹脂組成物が必要とされる用途の広範囲に使用できる。本発明の樹脂組成物は、ワニス状態で回路基板に塗布して絶縁層を形成することもできるが、工業的には一般に、接着フィルム、プリプレグ等のシート状積層材料の形態で用いるのが好ましい。樹脂組成物の軟化点は、シート状積層材料のラミネート性の観点から40〜150℃が好ましい。   The application of the resin composition of the present invention is not particularly limited, and sheet-like laminate materials such as adhesive films and prepregs, circuit boards (laminate board applications, multilayer printed wiring board applications etc), solder resists, under-fill materials, dies It can be used in a wide range of applications where a resin composition is required, such as a bonding material, a semiconductor sealing material, a hole filling resin, and a component embedding resin. The resin composition of the present invention can be applied to a circuit board in the form of a varnish to form an insulating layer, but industrially, it is generally preferable to use a sheet-like laminate material such as an adhesive film or a prepreg. . The softening point of the resin composition is preferably 40 to 150 ° C. from the viewpoint of the laminateability of the sheet-like laminate material.

<シート状積層材料>
(接着フィルム)
本発明の接着フィルムは、当業者に公知の方法、例えば、有機溶剤に樹脂組成物を溶解した樹脂ワニスを調製し、この樹脂ワニスを、ダイコーターなどを用いて、支持体に塗布し、更に加熱、あるいは熱風吹きつけ等により有機溶剤を乾燥させて樹脂組成物層を形成させることにより製造することができる。
<Sheet-like laminated material>
(Adhesive film)
The adhesive film of the present invention is prepared by a method known to those skilled in the art. For example, a resin varnish prepared by dissolving a resin composition in an organic solvent is prepared, and the resin varnish is applied to a support using a die coater or the like. It can manufacture by making an organic solvent dry by heating or hot-air blowing etc., and forming a resin composition layer.

有機溶剤としては、例えば、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン類、酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、カルビトールアセテート等の酢酸エステル類、セロソルブ、ブチルカルビトール等のカルビトール類、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素類、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン等のアミド系溶媒等を挙げることができる。有機溶剤は2種以上を組みわせて用いてもよい。   Examples of organic solvents include ketones such as acetone, methyl ethyl ketone and cyclohexanone, ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, acetates such as propylene glycol monomethyl ether acetate and carbitol acetate, carbitols such as cellosolve and butyl carbitol And aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene; and amide solvents such as dimethylformamide, dimethylacetamide and N-methylpyrrolidone. Two or more organic solvents may be used in combination.

乾燥条件は特に限定されないが、樹脂組成物層への有機溶剤の含有量が10質量%以下、好ましくは5質量%以下となるように乾燥させる。ワニス中の有機溶剤量、有機溶剤の沸点によっても異なるが、例えば30〜60質量%の有機溶剤を含むワニスを50〜150℃で3〜10分程度乾燥させることにより、樹脂組成物層を形成することができる。   The drying conditions are not particularly limited, but the drying is performed so that the content of the organic solvent in the resin composition layer is 10% by mass or less, preferably 5% by mass or less. Depending on the amount of organic solvent in the varnish and the boiling point of the organic solvent, for example, a varnish containing 30 to 60% by mass of the organic solvent is dried at 50 to 150 ° C. for about 3 to 10 minutes to form a resin composition layer. can do.

接着フィルムにおいて形成される樹脂組成物層の厚さは、導体層の厚さ以上とするのが好ましい。回路基板が有する導体層の厚さは通常5〜70μmの範囲であるので、樹脂組成物層は10〜100μmの厚さを有するのが好ましい。薄膜化の観点から、15〜80μmがより好ましい。   The thickness of the resin composition layer formed in the adhesive film is preferably equal to or greater than the thickness of the conductor layer. Since the thickness of the conductor layer of the circuit board is usually in the range of 5 to 70 μm, the resin composition layer preferably has a thickness of 10 to 100 μm. From the viewpoint of thinning, 15 to 80 μm is more preferable.

支持体としては、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル等のポリオレフィンのフィルム、ポリエチレンテレフタレート(以下「PET」と略称することがある。)、ポリエチレンナフタレート等のポリエステルのフィルム、ポリカーボネートフィルム、ポリイミドフィルムなどの各種プラスチックフィルムが挙げられる。また離型紙や銅箔、アルミニウム箔等の金属箔などを使用してもよい。中でも、汎用性の点から、プラスチックフィルムが好ましく、ポリエチレンテレフタレートフィルムがより好ましい。支持体及び後述する保護フィルムには、マッド処理、コロナ処理等の表面処理が施してあってもよい。また、シリコーン樹脂系離型剤、アルキッド樹脂系離型剤、フッ素樹脂系離型剤等の離型剤で離型処理が施してあってもよい。   As the support, films of polyolefins such as polyethylene, polypropylene and polyvinyl chloride, films of polyethylene terephthalate (hereinafter sometimes abbreviated as "PET"), films of polyesters such as polyethylene naphthalate, polycarbonate films, polyimide films, etc. Various plastic films are mentioned. Further, release paper, copper foil, metal foil such as aluminum foil, or the like may be used. Among them, plastic films are preferable and polyethylene terephthalate films are more preferable from the viewpoint of versatility. The support and a protective film to be described later may be subjected to surface treatment such as mud treatment and corona treatment. Further, the release treatment may be performed with a release agent such as a silicone resin release agent, an alkyd resin release agent, or a fluorine resin release agent.

支持体の厚さは特に限定されないが、10〜150μmが好ましく、25〜50μmがより好ましい。   The thickness of the support is not particularly limited, but is preferably 10 to 150 μm, and more preferably 25 to 50 μm.

樹脂組成物層の支持体が密着していない面には、支持体に準じた保護フィルムをさらに積層することができる。保護フィルムの厚みは、特に限定されるものではないが、例えば、1〜40μmである。保護フィルムを積層することにより、樹脂組成物層の表面へのゴミ等の付着やキズを防止することができる。接着フィルムは、ロール状に巻きとって貯蔵することもできる。   The protective film according to the support can be further laminated on the surface of the resin composition layer to which the support is not adhered. Although the thickness of a protective film is not specifically limited, For example, it is 1-40 micrometers. By laminating the protective film, it is possible to prevent adhesion of dust and the like to the surface of the resin composition layer and scratches. The adhesive film can also be wound and stored in a roll.

(プリプレグ)
本発明のプリプレグは、本発明の樹脂組成物をシート状補強基材にホットメルト法又はソルベント法により含浸させ、加熱して半硬化させることにより製造することができる。すなわち、本発明の樹脂組成物がシート状補強基材に含浸した状態となるプリプレグとすることができる。シート状補強基材としては、例えば、ガラスクロスやアラミド繊維等のプリプレグ用繊維として常用されている繊維からなるものを用いることができる。そして支持体上にプリプレグが形成されたものが好適である。
(Prepreg)
The prepreg of the present invention can be produced by impregnating a sheet-like reinforcing substrate with the resin composition of the present invention by a hot melt method or a solvent method, and heating and semi-curing it. That is, it can be set as the prepreg which will be in the state which the resin composition of this invention impregnated in the sheet-like reinforcement base material. As a sheet-like reinforcement base material, what consists of fibers usually used as fibers for prepregs, such as glass cloth and an aramid fiber, can be used, for example. And it is preferable that a prepreg is formed on a support.

ホットメルト法は、樹脂組成物を有機溶剤に溶解することなく、支持体上に一旦コーティングし、それをシート状補強基材にラミネートする、あるいはダイコーターによりシート状補強基材に直接塗工するなどして、プリプレグを製造する方法である。またソルベント法は、接着フィルムと同様にして樹脂を有機溶剤に溶解して樹脂ワニスを調製し、このワニスにシート状補強基材を浸漬し、樹脂ワニスをシート状補強基材に含浸させ、その後乾燥させる方法である。また、接着フィルムをシート状補強基材の両面から加熱、加圧条件下、連続的に熱ラミネートすることで調製することもできる。支持体や保護フィルム等も接着フィルムと同様に用いることができる。   In the hot melt method, the resin composition is once coated on a support without dissolving it in an organic solvent, and then it is laminated on a sheet-like reinforcing substrate, or directly coated on a sheet-like reinforcing substrate by a die coater. And so on, to produce a prepreg. In the solvent method, the resin is dissolved in an organic solvent to prepare a resin varnish in the same manner as in the adhesive film, and the sheet-like reinforcing substrate is immersed in the varnish to impregnate the resin varnish into the sheet-like reinforcing substrate. It is a method of drying. The adhesive film can also be prepared by continuously heat laminating from both sides of the sheet-like reinforcing substrate under heating and pressure conditions. A support, a protective film and the like can also be used in the same manner as the adhesive film.

<シート状積層材料を用いた多層プリント配線板>
次に、上記のようにして製造したシート状積層材料を用いて多層プリント配線板を製造する方法の一例を説明する。
<Multilayer Printed Wiring Board Using Sheet-like Laminated Material>
Next, an example of a method for producing a multilayer printed wiring board using the sheet-like laminate material produced as described above will be described.

まず、シート状積層材料を、真空ラミネーターを用いて回路基板の片面又は両面にラミネート(積層)する。回路基板に用いられる基板としては、例えば、ガラスエポキシ基板、金属基板、ポリエステル基板、ポリイミド基板、BTレジン基板、熱硬化型ポリフェニレンエーテル基板等が挙げられる。なお、ここで回路基板とは、上記のような基板の片面又は両面にパターン加工された導体層(回路)が形成されたものをいう。また導体層と絶縁層とを交互に積層してなる多層プリント配線板において、該多層プリント配線板の最外層の片面又は両面がパターン加工された導体層(回路)となっているものも、ここでいう回路基板に含まれる。なお導体層表面には、黒化処理、銅エッチング等により予め粗化処理が施されていてもよい。   First, a sheet-like laminate material is laminated (laminated) on one side or both sides of a circuit board using a vacuum laminator. Examples of the substrate used for the circuit substrate include a glass epoxy substrate, a metal substrate, a polyester substrate, a polyimide substrate, a BT resin substrate, a thermosetting polyphenylene ether substrate, and the like. In addition, a circuit board means that by which the conductor layer (circuit) by which pattern processing was carried out was carried out on the single side | surface or both surfaces of the above board | substrates here. In addition, in a multilayer printed wiring board in which conductor layers and insulating layers are alternately stacked, a conductor layer (circuit) in which one or both surfaces of the outermost layer of the multilayer printed wiring board are patterned is also used here. Included in the circuit board. The surface of the conductor layer may be roughened in advance by blackening treatment, copper etching or the like.

上記ラミネートにおいて、シート状積層材料が保護フィルムを有している場合には該保護フィルムを除去した後、必要に応じてシート状積層材料及び回路基板をプレヒートし、シート状積層材料を加圧及び加熱しながら回路基板にラミネートする。本発明のシート状積層材料においては、真空ラミネート法により減圧下で回路基板にラミネートする方法が好適に用いられる。ラミネートの条件は、特に限定されるものではないが、例えば、圧着温度(ラミネート温度)を好ましくは70〜140℃、圧着圧力(ラミネート圧力)を好ましくは1〜11kgf/cm(9.8×10〜107.9×10N/m)とし、圧着時間(ラミネート時間)を好ましくは5〜180秒とし、空気圧20mmHg(26.7hPa)以下の減圧下でラミネートするのが好ましい。また、ラミネートの方法は、バッチ式であってもロールでの連続式であってもよい。真空ラミネートは、市販の真空ラミネーターを使用して行うことができる。市販の真空ラミネーターとしては、例えば、ニチゴー・モートン(株)製バキュームアップリケーター、(株)名機製作所製真空加圧式ラミネーター、(株)日立インダストリイズ製ロール式ドライコータ、日立エーアイーシー(株)製真空ラミネーター等を挙げることができる。 In the above laminate, when the sheet-like laminate material has a protective film, after removing the protective film, the sheet-like laminate material and the circuit board are preheated if necessary, and the sheet-like laminate material is pressurized and Laminate on a circuit board while heating. In the sheet-like laminate material of the present invention, a method of laminating on a circuit board under reduced pressure by vacuum lamination is suitably used. The conditions of the laminate are not particularly limited, but, for example, the pressing temperature (laminating temperature) is preferably 70 to 140 ° C., and the pressing pressure (laminating pressure) is preferably 1 to 11 kgf / cm 2 (9.8 × It is preferable to use 10 4 to 107.9 × 10 4 N / m 2 ), a pressure bonding time (lamination time) of preferably 5 to 180 seconds, and laminating under a reduced pressure of 20 mm Hg (26.7 hPa) or less. In addition, the method of laminating may be a batch system or a continuous system with a roll. Vacuum lamination can be performed using a commercially available vacuum laminator. Commercially available vacuum laminators include, for example, Vacuum Applicator manufactured by Nichigo Morton Co., Ltd., vacuum pressure type laminator manufactured by Meiki Co., Ltd., roll type dry coater manufactured by Hitachi Industries, Ltd., Hitachi AC Co., Ltd. A vacuum laminator etc. can be mentioned.

シート状積層材料を回路基板にラミネートした後、室温付近に冷却してから、支持体を剥離する場合は剥離し、樹脂組成物を熱硬化して硬化物を形成することで、回路基板上に絶縁層を形成することができる。熱硬化の条件は、樹脂組成物中の樹脂成分の種類、含有量などに応じて適宜選択すればよいが、好ましくは150℃〜220℃で20分〜180分、より好ましくは160℃〜210℃で30〜120分の範囲で選択される。絶縁層を形成した後、硬化前に支持体を剥離しなかった場合は、必要によりここで剥離することもできる。   After laminating the sheet-like laminate material on the circuit board, it is cooled to around room temperature, and then the support is peeled off if peeled off, and the resin composition is thermally cured to form a cured product on the circuit board. An insulating layer can be formed. The conditions for heat curing may be appropriately selected according to the type, content, etc. of the resin component in the resin composition, but preferably 20 minutes to 180 minutes at 150 ° C. to 220 ° C., more preferably 160 ° C. to 210 ° C. The temperature is selected in the range of 30 to 120 minutes. After the formation of the insulating layer, if the support is not peeled off before curing, it can be peeled off here if necessary.

また、シート状積層材料を、真空プレス機を用いて回路基板の片面又は両面に積層することもできる。減圧下、加熱及び加圧を行う積層工程は、一般の真空ホットプレス機を用いて行うことが可能である。例えば、加熱されたSUS板等の金属板を支持体層側からプレスすることにより行うことができる。プレス条件は、減圧度を通常1×10−2MPa以下、好ましくは1×10−3MPa以下の減圧下とする。加熱及び加圧は、1段階で行うことも出来るが、樹脂のしみだしを制御する観点から2段階以上に条件を分けて行うのが好ましい。例えば、1段階目のプレスを、温度が70〜150℃、圧力が1〜15kgf/cm2の範囲、2段階目のプレスを、温度が150〜200℃、圧力が1〜40kgf/cm2の範囲で行うのが好ましい。各段階の時間は30〜120分で行うのが好ましい。このように樹脂組成物層を熱硬化することにより回路基板上に絶縁層を形成することができる。市販されている真空ホットプレス機としては、例えば、MNPC−V−750−5−200(株)名機製作所製)、VH1−1603(北川精機(株)製)等が挙げられる。 The sheet-like laminate material can also be laminated on one side or both sides of the circuit board using a vacuum press. The lamination process of heating and pressurizing under reduced pressure can be performed using a general vacuum hot press. For example, it can be carried out by pressing a heated metal plate such as a SUS plate from the support layer side. The pressing conditions are such that the degree of reduced pressure is usually 1 × 10 −2 MPa or less, preferably 1 × 10 −3 MPa or less. Although heating and pressurization can be performed in one step, it is preferable to divide the conditions into two or more steps in order to control the bleeding of the resin. For example, the temperature of the first stage press is 70 to 150 ° C., the pressure is 1 to 15 kgf / cm 2, and the second stage press is 150 to 200 ° C., the pressure is 1 to 40 kgf / cm 2 It is preferred to do. The time of each step is preferably 30 to 120 minutes. By thermally curing the resin composition layer in this manner, an insulating layer can be formed on the circuit board. As a vacuum hot press marketed commercially, MNPC-V-750-5-200 (made by Meiki Seisakusho KK), VH1-1603 (made by Kitagawa Seiki Co., Ltd.) etc. are mentioned, for example.

次いで、回路基板上に形成された絶縁層に穴開け加工を行ってビアホール、スルーホールを形成する。穴あけ加工は、例えば、ドリル、レーザー、プラズマ等の公知の方法により、また必要によりこれらの方法を組み合わせて行うことができるが、炭酸ガスレーザー、YAGレーザー等のレーザーによる穴あけ加工が最も一般的な方法である。穴あけ加工前に支持体を剥離しなかった場合は、ここで剥離することになる。   Next, the insulating layer formed on the circuit board is subjected to a drilling process to form a via hole and a through hole. For example, drilling can be performed by a known method such as a drill, laser, plasma or the like and, if necessary, a combination of these methods, but laser drilling such as a carbon dioxide gas laser or a YAG laser is most common. It is a method. If the support is not peeled off before drilling, it will be peeled off here.

次いで、絶縁層表面に粗化処理を行う。乾式の粗化処理の場合はプラズマ処理等が挙げられ、湿式の粗化処理の場合は膨潤液による膨潤処理、酸化剤による粗化処理及び中和液による中和処理をこの順に行う方法が挙げられる。湿式の粗化処理の方が、絶縁層表面に凸凹のアンカーを形成しながら、ビアホール内のスミアを除去することができる点で好ましい。膨潤液による膨潤処理は、絶縁層を50〜80℃で5〜20分間(好ましくは55〜70℃で8〜15分間)、膨潤液に浸漬させることで行われる。膨潤液としてはアルカリ溶液、界面活性剤溶液等が挙げられ、好ましくはアルカリ溶液であり、該アルカリ溶液としては、例えば、水酸化ナトリウム溶液、水酸化カリウム溶液等が挙げられる。市販されている膨潤液としては、例えば、アトテックジャパン(株)製のスウェリング・ディップ・セキュリガンスP(Swelling Dip Securiganth P)、スウェリング・ディップ・セキュリガンスSBU(Swelling Dip Securiganth SBU)等を挙げることができる。酸化剤による粗化処理は、絶縁層を60〜80℃で10〜30分間(好ましくは70〜80℃で15〜25分間)、酸化剤溶液に浸漬させることで行われる。酸化剤としては、例えば、水酸化ナトリウムの水溶液に過マンガン酸カリウムや過マンガン酸ナトリウムを溶解したアルカリ性過マンガン酸溶液、重クロム酸塩、オゾン、過酸化水素/硫酸、硝酸等を挙げることができる。また、アルカリ性過マンガン酸溶液における過マンガン酸塩の濃度は5〜10重量%とするのが好ましい。市販されている酸化剤としては、例えば、アトテックジャパン(株)製のコンセントレート・コンパクト CP、ドージングソリューション セキュリガンスP等のアルカリ性過マンガン酸溶液が挙げられる。中和液による中和処理は、30〜50℃で3〜10分間(好ましくは35〜45℃で3〜8分間)、中和液に浸漬させることで行われる。中和液としては、酸性の水溶液が好ましく、市販品としては、アトテックジャパン(株)製のリダクションソリューシン・セキュリガントPが挙げられる。   Next, the surface of the insulating layer is roughened. In the case of dry roughening treatment, plasma treatment etc. may be mentioned, and in the case of wet roughening treatment, swelling treatment by swelling liquid, roughening treatment by oxidizing agent and neutralization treatment by neutralization solution may be mentioned in this order Be The wet roughening treatment is preferable in that the smear in the via hole can be removed while forming an uneven anchor on the surface of the insulating layer. The swelling treatment with the swelling solution is performed by immersing the insulating layer in the swelling solution at 50 to 80 ° C. for 5 to 20 minutes (preferably 8 to 15 minutes at 55 to 70 ° C.). The swelling solution includes an alkaline solution, a surfactant solution and the like, preferably an alkaline solution, and examples of the alkaline solution include sodium hydroxide solution, potassium hydroxide solution and the like. Examples of commercially available swelling solutions include Swelling Dip Securiganth P manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., Swelling Dip Securiganth SBU, and the like. be able to. The roughening treatment with an oxidizing agent is performed by immersing the insulating layer at 60 to 80 ° C. for 10 to 30 minutes (preferably, at 70 to 80 ° C. for 15 to 25 minutes) in an oxidizing agent solution. As the oxidizing agent, for example, alkaline permanganate solution in which potassium permanganate or sodium permanganate is dissolved in an aqueous solution of sodium hydroxide, dichromate, ozone, hydrogen peroxide / sulfuric acid, nitric acid, etc. may be mentioned. it can. The concentration of permanganate in the alkaline permanganate solution is preferably 5 to 10% by weight. Examples of commercially available oxidizing agents include alkaline permanganic acid solutions such as concentrate compact CP manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. and dosing solution Security G. The neutralization treatment with the neutralization solution is carried out by immersing in the neutralization solution for 3 to 10 minutes at 30 to 50 ° C. (preferably 3 to 8 minutes at 35 to 45 ° C.). As the neutralization solution, an acidic aqueous solution is preferable, and as a commercial product, reduction solution thin security G made by Atotech Japan Co., Ltd. can be mentioned.

次いで、乾式メッキ又は湿式メッキにより絶縁層上に導体層を形成する。乾式メッキとしては、蒸着、スパッタリング、イオンプレーティング等の公知の方法を使用することができる。湿式メッキとしては、無電解メッキと電解メッキとを組み合わせて導体層を形成する方法、導体層とは逆パターンのメッキレジストを形成し、無電解メッキのみで導体層を形成する方法、等が挙げられる。その後のパターン形成の方法として、例えば、当業者に公知のサブトラクティブ法、セミアディティブ法などを用いることができ、上述の一連の工程を複数回繰り返すことで、ビルドアップ層を多段に積層した多層プリント配線板となる。本発明においては、低粗度、高ピールであるため、多層プリント配線板のビルドアップ層として好適に使用することができる。   Then, a conductor layer is formed on the insulating layer by dry plating or wet plating. As dry plating, known methods such as vapor deposition, sputtering, ion plating and the like can be used. As wet plating, a method of forming a conductor layer by combining electroless plating and electrolytic plating, a method of forming a plating resist having a pattern reverse to that of the conductor layer, and forming a conductor layer only by electroless plating, etc. may be mentioned. Be As a subsequent pattern formation method, for example, a subtractive method, a semi-additive method or the like known to those skilled in the art can be used, and a multilayer formed by stacking buildup layers in multiple stages by repeating the above-described series of steps multiple times It becomes a printed wiring board. In the present invention, since it has low roughness and high peel, it can be suitably used as a buildup layer of a multilayer printed wiring board.

<半導体装置>
本発明の多層プリント配線板を用いることで半導体装置を製造することができる。本発明の多層プリント配線板の導通箇所に、半導体チップを実装することにより半導体装置を製造することができる。「導通箇所」とは、「多層プリント配線板における電気信号を伝える箇所」であって、その場所は表面であっても、埋め込まれた箇所であってもいずれでも構わない。また、半導体チップは半導体を材料とする電気回路素子であれば特に限定されない。
<Semiconductor device>
A semiconductor device can be manufactured by using the multilayer printed wiring board of the present invention. A semiconductor device can be manufactured by mounting a semiconductor chip in the conduction part of the multilayer printed wiring board of the present invention. The "conductive location" is a "location for transmitting an electrical signal in a multilayer printed wiring board", and the location may be a surface or an embedded location. The semiconductor chip is not particularly limited as long as it is an electric circuit element made of a semiconductor.

本発明の半導体装置を製造する際の半導体チップの実装方法は、半導体チップが有効に機能しさえすれば、特に限定されないが、具体的には、ワイヤボンディング実装方法、フリップチップ実装方法、バンプなしビルドアップ層(BBUL)による実装方法、異方性導電フィルム(ACF)による実装方法、非導電性フィルム(NCF)による実装方法、などが挙げられる。   The semiconductor chip mounting method in the present invention is not particularly limited as long as the semiconductor chip functions effectively, but specifically, the wire bonding mounting method, flip chip mounting method, no bump A mounting method using a buildup layer (BBUL), a mounting method using an anisotropic conductive film (ACF), a mounting method using a nonconductive film (NCF), and the like can be given.

以下、本発明を実施例により具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。なお、「部」は質量部を意味する。   EXAMPLES Hereinafter, the present invention will be specifically described by way of examples, but the present invention is not limited to these examples. In addition, "part" means a mass part.

<測定方法・評価方法>
まずは各種測定方法・評価方法について説明する。
<Measurement method and evaluation method>
First, various measurement methods and evaluation methods will be described.

〔ピール強度、算術平均粗さ(Ra値)、二乗平均平方根粗さ(Rq値)測定用サンプルの調製〕
(1)内層回路基板の下地処理
内層回路を形成したガラス布基材エポキシ樹脂両面銅張積層板(銅箔の厚さ18μm、基板厚み0.3mm、松下電工(株)製R5715ES)の両面をメック(株)製CZ8100にて1umエッチングして銅表面の粗化処理をおこなった。
[Preparation of sample for measurement of peel strength, arithmetic mean roughness (Ra value), root mean square roughness (Rq value)]
(1) Base treatment of inner layer circuit board Both sides of glass cloth base material epoxy resin double-sided copper-clad laminate (18 μm copper foil, 0.3 mm board thickness, R5715 ES made by Matsushita Electric Works Co., Ltd.) with inner layer circuit formed. The copper surface was roughened by etching 1 um with CZ 8100 manufactured by MEC CORPORATION.

(2)接着フィルムのラミネート
実施例及び比較例で作成した接着フィルムを、バッチ式真空加圧ラミネーターMVLP-500(名機(株)製商品名)を用いて、内層回路基板の両面にラミネートした。ラミネートは、30秒間減圧して気圧を13hPa以下とし、その後30秒間、100℃、圧力0.74MPaで圧着することにより行った。
(2) Lamination of adhesive film The adhesive films prepared in Examples and Comparative Examples were laminated on both sides of the inner layer circuit board using a batch-type vacuum pressure laminator MVLP-500 (trade name of Meishin Co., Ltd.). . Lamination was performed by reducing the pressure for 30 seconds to make the pressure 13 hPa or less, and then press-bonding at 100 ° C. under a pressure of 0.74 MPa for 30 seconds.

(3)樹脂組成物の硬化
ラミネートされた接着フィルムを、100℃、30分続けて180℃、30分の硬化条件で樹脂組成物を硬化して絶縁層を形成し、その後PETフィルムを剥離した。
(3) Curing of the resin composition The laminated adhesive film was cured at 100 ° C. for 30 minutes continuously and cured at 180 ° C. for 30 minutes to form the insulating layer, and then the PET film was peeled off. .

(4)粗化処理
絶縁層を形成した内層回路基板を、膨潤液である、アトテックジャパン(株)のジエチレングリコールモノブチルエーテル含有のスエリングディップ・セキュリガントP(グリコールエーテル類、水酸化ナトリウムの水溶液)に、60℃で10分間浸漬した。次に粗化液として、アトテックジャパン(株)のコンセントレート・コンパクトP(KMnO4:60g/L、NaOH:40g/Lの水溶液)に、80℃で20分間浸漬した。最後に中和液として、アトテックジャパン(株)のリダクションショリューシン・セキュリガントP(硫酸の水溶液)に40℃で5分間浸漬した。80℃で30分乾燥後、この粗化処理後の絶縁層表面について、算術平均粗さ(Ra値)、二乗平均平方根粗さ(Rq値)の測定を行った。
(4) Roughening treatment The inner layer circuit board on which the insulating layer is formed is made into swelling liquid, swelling dip security gullet P containing diethylene glycol monobutyl ether of Atotech Japan Ltd. (glycolether, aqueous solution of sodium hydroxide) Soaked at 60 ° C. for 10 minutes. Next, it was immersed for 20 minutes at 80 ° C. in a concentrate compact P (KMnO 4: 60 g / L, NaOH: 40 g / L aqueous solution) as a roughening solution. Finally, as a neutralization solution, it was immersed for 5 minutes at 40 ° C. in a reduction solution Suliganth P (aqueous solution of sulfuric acid) of Atotech Japan Co., Ltd. After drying at 80 ° C. for 30 minutes, measurements of arithmetic mean roughness (Ra value) and root mean square roughness (Rq value) were performed on the surface of the insulating layer after the roughening treatment.

(5)セミアディティブ工法によるメッキ
絶縁層表面に回路を形成するために、内層回路基板を、PdClを含む無電解メッキ用溶液に40℃で5分間浸漬し、次に無電解銅メッキ液に25℃で20分間浸漬した。150℃にて30分間加熱してアニール処理を行った後に、エッチングレジストを形成し、エッチングによるパターン形成の後に、硫酸銅電解メッキを行い、30μmの厚さで導体層を形成した。次に、アニール処理を200℃にて60分間行った。この回路基板についてメッキ導体層の引き剥がし強さ(ピール強度)の測定を行った。
(5) Plating by the semi-additive method In order to form a circuit on the surface of the insulating layer, the inner layer circuit board is immersed in a solution for electroless plating containing PdCl 2 for 5 minutes at 40 ° C., and then in an electroless copper plating solution. Soaked at 25 ° C. for 20 minutes. After annealing for heating at 150 ° C. for 30 minutes, an etching resist was formed, and after forming a pattern by etching, copper sulfate electrolytic plating was performed to form a conductor layer with a thickness of 30 μm. Next, annealing was performed at 200 ° C. for 60 minutes. The peel strength (peel strength) of the plated conductor layer was measured on this circuit board.

〔粗化後の算術平均粗さ(Ra値)、二乗平均平方根粗さ(Rq値)の測定〕
非接触型表面粗さ計(ビーコインスツルメンツ社製WYKO NT3300)を用いて、VSIコンタクトモード、50倍レンズにより測定範囲を121μm×92μmとして得られる数値によりRa値、Rq値を求めた。そして、それぞれ10点の平均値を求めることにより測定した。
[Measurement of arithmetic mean roughness (Ra value), root mean square roughness (Rq value) after roughening]
The Ra value and the Rq value were determined from the values obtained using a non-contact surface roughness meter (WYKO NT3300 manufactured by Becoin Instruments, Inc.) and a measurement range of 121 μm × 92 μm with a VSI contact mode, 50 × lens. And it measured by calculating | requiring the average value of 10 points | pieces, respectively.

〔メッキ導体層の引き剥がし強さ(ピール強度)の測定〕
回路基板の導体層に、幅10mm、長さ100mmの部分の切込みをいれ、この一端を剥がしてつかみ具(株式会社ティー・エス・イー、オートコム型試験機 AC−50C−SL)で掴み、室温中にて、50mm/分の速度で垂直方向に35mmを引き剥がした時の荷重(kgf/cm)を測定した。
[Measurement of peel strength (peel strength) of plated conductor layer]
Insert a cut of 10 mm in width and 100 mm in length in the conductor layer of the circuit board, peel off one end, and hold it with a clamp (TCS Corporation, auto-com type tester AC-50C-SL), The load (kgf / cm) when 35 mm was peeled off vertically at a speed of 50 mm / min was measured at room temperature.

〔ラミネート性の評価〕
実施例及び比較例で作製した接着フィルムを、バッチ式真空加圧ラミネーターMVLP−500(名機(株)製商品名)を用いて、導体厚35μmでL(ライン:配線幅)/S(スペース:間隔幅)=160/160μmの櫛歯状の導体パターン上にラミネートした。ラミネートは、30秒間減圧して気圧を13hPa以下とし、その後30秒間、100℃、圧力0.74MPaでプレスすることにより行った。ラミネートされた接着フィルムからPETフィルムを剥離し、180℃、30分の硬化条件で樹脂組成物を硬化して、絶縁層を形成した。絶縁層における導体上とそれ以外の部分の凹凸差(Rt:最大のpeak−to−valley)の値は非接触型表面粗さ計(ビーコインスツルメンツ社製WYKO NT3300)を用いて、VSIコンタクトモード、10倍レンズにより測定範囲を1.2mm×0.91mmとして得られる数値により求めた。なお、ラミネート後にボイドの発生は無く、さらに導体上とそれ以外の部分の凹凸差が5μm未満の場合を○、ラミネート後にボイドの発生は無いが、導体上とそれ以外の部分の凹凸差が5μm以上の場合を△、ラミネート後にボイドが発生した場合を×と評価した。
[Evaluation of laminating property]
The adhesive film produced in the example and the comparative example was subjected to L (line: wiring width) / S (space) with a conductor thickness of 35 μm using a batch-type vacuum pressure laminator MVLP-500 (trade name of Meishin Co., Ltd.). : Lamination width: A comb-like conductor pattern of 160/160 μm was laminated. Lamination was performed by reducing the pressure for 30 seconds to a pressure of 13 hPa or less, and then pressing for 30 seconds at 100 ° C. under a pressure of 0.74 MPa. The PET film was peeled off from the laminated adhesive film, and the resin composition was cured under curing conditions of 180 ° C. for 30 minutes to form an insulating layer. The value of unevenness difference (Rt: maximum peak-to-valley) on the conductor and the other part in the insulating layer is VSI contact mode, using a non-contact surface roughness meter (WYKO NT3300 manufactured by Becoin Instruments), It was determined by a numerical value obtained with a 10 × lens as a measurement range of 1.2 mm × 0.91 mm. There is no generation of voids after lamination, and a difference of less than 5 μm between the conductor and the other parts is ○, no void is generated after lamination, but the difference between the conductor and the other parts is 5 μm The above case was evaluated as Δ, and the case where a void occurred after lamination was evaluated as x.

〔使用した無機充填材〕
無機充填材1:球形シリカ(アドマテックス製「SO−C2 」、平均粒径0.5μm)100部に対して、フェニルトリメトキシシラン(信越化学工業(株)製、「KBM103」、分子量198.3)0.3部で表面処理したもの、単位表面積当たりのカーボン量0.126mg/m2。
[Inorganic filler used]
Inorganic filler 1: 100 parts of spherical silica ("SO-C2" manufactured by Admatex, average particle size 0.5 μm), phenyltrimethoxysilane (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., "KBM103", molecular weight 198. 3) Surface-treated with 0.3 part, carbon amount per unit surface area 0.126 mg / m 2.

無機充填材2:球形シリカ(アドマテックス製「 SO−C2」、平均粒径0.5μm)100部に対して、ジメチルジエトキシシラン(信越化学工業(株)製、「KBE-22」、分子量148.3)0.3部で表面処理したもの、単位表面積当たりのカーボン量0.063mg/m2。 Inorganic filler 2: Spherical silica ("SO-C2" manufactured by Admatex, average particle diameter 0.5 μm) 100 parts, dimethyldiethoxysilane (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., "KBE-22", molecular weight 148.3) Surface-treated with 0.3 part, carbon content per unit surface area 0.063 mg / m 2.

無機充填材3:球形シリカ(アドマテックス製「SO−C1」、平均粒径0.25μm)100部に対して、フェニルトリメトキシシラン(信越化学工業(株)製、「KBM103」、分子量198.3)0.5部で表面処理したもの、単位表面積当たりのカーボン量0.083mg/m2。 Inorganic filler 3: 100 parts of spherical silica (“SO-C1” manufactured by Admatex, average particle size 0.25 μm), phenyltrimethoxysilane (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., “KBM103”, molecular weight 198. 3) Surface-treated with 0.5 part, carbon content per unit surface area 0.083 mg / m 2.

無機充填材4:球形シリカ(アドマテックス製「 SO−C2」、平均粒径0.5μm)100部に対して、エポキシシラン(信越化学工業(株)製、「KBM403」、分子量236)0.5部で表面処理したもの、単位表面積当たりのカーボン量0.19mg/m2 Inorganic filler 4: Epoxysilane (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., "KBM 403", molecular weight 236) 0 to 100 parts of spherical silica ("SO-C2" manufactured by Admatex, average particle diameter 0.5 μm) 0. Surface-treated with 5 parts, 0.19 mg / m 2 of carbon per unit surface area

無機充填材5:球形シリカ(アドマテックス製「 SO−C2」、平均粒径0.5μm)の表面処理していないもの。 Inorganic filler 5: Spherical silica ("SO-C2" manufactured by Admatex, average particle diameter 0.5 μm) not subjected to surface treatment.

無機充填材6:球形シリカ(アドマテックス製「 SO−C1」、平均粒径0.25μm)の表面処理していないもの。 Inorganic filler 6: Spherical silica ("SO-C1" manufactured by Admatex, average particle diameter 0.25 μm) without surface treatment.

<実施例1>
ナフタレン型エポキシ樹脂(エポキシ当量144、DIC(株)製「EXA4032SS」)8部と、ビキシレノール型エポキシ樹脂(エポキシ当量190、三菱化学(株)製「YX4000HK」)11部、変性ナフタレン型エポキシ樹脂(エポキシ当量約330、新日鐵化学(株)製「ESN475V」)9部をソルベントナフサ32部に撹拌しながら加熱溶解させ、その後室温にまで冷却した。その混合溶液に、ゴム粒子(ガンツ化成(株)製、AC3816N)1.5部をソルベントナフサ6部に12時間、20℃で静置膨潤したもの、更に無機充填材1を140部混合し、3本ロールで混練、均一に分散させた。そこへ、活性エステル系硬化剤(DIC(株)製「HPC−8000−65T」、活性基当量約223の不揮発分65質量%のトルエン溶液)45部、フェノキシ樹脂(重量平均分子量35000、三菱化学(株)製「YL7553」不揮発分30質量%のMEKとシクロヘキサノンの1:1溶液)5部、硬化促進剤として4−ジメチルアミノピリジンの10質量%のMEK溶液1部、メチルエチルケトン(MEK)7部を混合し、回転ミキサーで均一に分散して、樹脂ワニスを作製した。次に、かかる樹脂ワニスをアルキド系離型処理付きポリエチレンテレフタレートフィルム(リンテック(株)製「AL5」、厚さ38μm)の離型面上に、乾燥後の樹脂組成物層の厚みが40μmとなるようにダイコーターにて均一に塗布し、80〜110℃(平均95℃)で5分間乾燥し、接着フィルムを得た。
Example 1
8 parts of naphthalene type epoxy resin (epoxy equivalent 144, DIC Corporation "EXA 4032 SS") and 11 parts of bixylenol type epoxy resin (epoxy equivalent 190, Mitsubishi Chemical Corporation "YX4000HK"), modified naphthalene type epoxy resin 9 parts of (Epoxy equivalent weight: about 330, "ESN 475V" manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd.) was heated and dissolved in 32 parts of solvent naphtha while stirring, and then cooled to room temperature. The mixed solution was mixed with 1.5 parts of rubber particles (manufactured by Ganz Chemical Co., Ltd., AC3816N) in 6 parts of solvent naphtha for 12 hours at 20 ° C., and 140 parts of the inorganic filler 1 were mixed It knead | mixed and disperse | distributed uniformly by 3 rolls. Thereto, 45 parts of an active ester-based curing agent ("HPC-8000-65T" manufactured by DIC, a toluene solution having a non-volatile content of 65% by weight of about 223 active groups equivalent), phenoxy resin (weight average molecular weight 35000, Mitsubishi Chemical 5 parts of MEK and cyclohexanone in 30% by mass non volatile matter "YL7553", 1 part of a 10% by mass MEK solution of 4-dimethylaminopyridine as a curing accelerator, 7 parts of methyl ethyl ketone (MEK) Were uniformly dispersed by a rotary mixer to prepare a resin varnish. Next, the thickness of the resin composition layer after drying is 40 μm on the release surface of the resin varnish with a release surface of an alkyd-based release-treated polyethylene terephthalate film (“AL5” manufactured by Lintec Co., Ltd., thickness 38 μm). As described above, it was uniformly applied by a die coater and dried at 80 to 110 ° C. (average 95 ° C.) for 5 minutes to obtain an adhesive film.

<実施例2>
無機充填材1を、無機充填材2に変更した以外は、実施例1と全く同様にして樹脂ワニスを作製した。次いで、実施例1と全く同様にして接着フィルムを得た。
Example 2
A resin varnish was produced in exactly the same manner as in Example 1 except that the inorganic filler 1 was changed to the inorganic filler 2. Then, in the same manner as in Example 1, an adhesive film was obtained.

<実施例3>
無機充填材1を、無機充填材3に変更した以外は、実施例1と全く同様にして樹脂ワニスを作製した。次いで、実施例1と全く同様にして接着フィルムを得た。
Example 3
A resin varnish was produced in the same manner as in Example 1 except that the inorganic filler 1 was changed to the inorganic filler 3. Then, in the same manner as in Example 1, an adhesive film was obtained.

<実施例4>
ナフタレン型エポキシ樹脂(エポキシ当量144、DIC(株)製「HP4700」)5部、液状ビスフェノール型エポキシ樹脂(新日鐵化学(株)製「ZX1059」、ビスフェノールA型とビスフェノールF型の1:1混合品)14部、ビフェニル型エポキシ樹脂(エポキシ当量269、日本化薬(株)製「NC3000H」)14部をソルベントナフサ30部に撹拌しながら加熱溶解させ、その後室温にまで冷却した。その混合溶液に、ゴム粒子(ガンツ化成(株)製、AC3816N)1.5部をソルベントナフサ6部に12時間、20℃で静置膨潤したもの、更に無機充填剤1を140部添加し、さらに難燃剤(三光(株)製「HCA−HQ」、10-(2,5-ジヒドロキシフェニル)-10-ヒドロ-9-オキサ-10-フォスファフェナンスレン-10-オキサイド、平均粒径1μm)5部を添加し、3本ロールで混練し分散させた。そこへ、フェノールノボラック系硬化剤(DIC(株)製「LA−7054」、フェノール性水酸基当量124の不揮発分60質量%のMEK溶液)10部、ナフタレン系フェノール樹脂(フェノール性水酸基当量215、新日鐵化学(株)製「SN485」、不揮発分60質量%のMEK溶液)10質量部、フェノキシ樹脂(重量平均分子量35000、三菱化学(株)製「YL7553」不揮発分30質量%のMEKとシクロヘキサノンの1:1溶液)7部、硬化促進剤として4−ジメチルアミノピリジンの5質量%のMEK溶液2部、MEK4部を混合し、回転ミキサーで均一に分散して、樹脂ワニスを作製した。次いで、実施例1と全く同様にして接着フィルムを得た。
Example 4
Naphthalene type epoxy resin (epoxy equivalent 144, DIC Corporation "HP 4700") 5 parts, liquid bisphenol type epoxy resin (Nippon Chemical Co., Ltd. "ZX1059", 1: 1 of bisphenol A type and bisphenol F type Mixed product: 14 parts of biphenyl type epoxy resin (epoxy equivalent 269, “NC3000H” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) and 30 parts of solvent naphtha were heated and dissolved while stirring, and then cooled to room temperature. Into the mixed solution, 1.5 parts of rubber particles (manufactured by Ganz Kasei Co., Ltd., AC3816N) was subjected to static swelling at 20 ° C. for 12 hours in 6 parts of solvent naphtha, and 140 parts of inorganic filler 1 was further added Furthermore, a flame retardant (Sanko Co., Ltd. “HCA-HQ”, 10- (2,5-dihydroxyphenyl) -10-hydro-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide, average particle diameter 1 μm 5 parts were added, and it knead | mixed and disperse | distributed with 3 rolls. There, 10 parts of a phenol novolac curing agent ("LA-7054" manufactured by DIC, a MEK solution with 60% by mass of a nonvolatile content of phenolic hydroxyl equivalent 124), a naphthalene based phenolic resin (phenolic hydroxyl equivalent 215, new 10 parts by weight of "SN 485" manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd., MEK solution having a nonvolatile content of 60% by mass, phenoxy resin (weight-average molecular weight 35000, "YL7553" manufactured by Mitsubishi Chemical Corp.) 7 parts of a 1: 1 solution, 2 parts of a 5% by weight MEK solution of 4-dimethylaminopyridine as a curing accelerator, and 4 parts of MEK were mixed and uniformly dispersed by a rotary mixer to prepare a resin varnish. Then, in the same manner as in Example 1, an adhesive film was obtained.

<実施例5>
ナフタレン型エポキシ樹脂(DIC(株)製「EXA4032SS」)10部、液状ビスフェノール型エポキシ樹脂(新日鐵化学(株)製「ZX1059」、ビスフェノールA型とビスフェノールF型の1:1混合品)5部、ナフトール型エポキシ樹脂(新日鐵化学(株)製「ESN475V」)20部、フェノキシ樹脂(重量平均分子量35000、三菱化学(株)製「YL7553」、不揮発成分30質量%のMEKとシクロヘキサノンの1:1溶液)7部をソルベントナフサ50部に撹拌しながら加熱溶解させ、その後室温にまで冷却した。次いで、活性エステル化合物(DIC(株)製「HPC8000−65T」、活性エステル当量223、固形分65%のトルエン溶液)10部、ビスフェノールAジシアネートのプレポリマー(ロンザジャパン(株)製「BA230S75」、シアネート当量約232、不揮発分75質量%のMEK溶液)20部、フェノールノボラック型多官能シアネートエステル樹脂(ロンザジャパン(株)製「PT30S」、シアネート当量約133、不揮発分85質量%のMEK溶液)10部、ゴム粒子(ガンツ化成(株)製、AC3816N)4部をソルベントナフサ16部に室温で12時間膨潤させておいたもの、難燃剤(三光(株)製「HCA−HQ」、10-(2,5-ジヒドロキシフェニル)-10-ヒドロ-9-オキサ-10-フォスファフェナンスレン-10-オキサイド、平均粒径1μm)3部、硬化促進剤(4−ジメチルアミノピリジン、固形分10質量%のMEK溶液)0.1部、硬化促進剤(東京化成(株)製、コバルト(III)アセチルアセトナート、固形分1質量%のMEK溶液)4.5部を加え、更に無機充填材1を140部混合し、回転ミキサーで均一に分散して、樹脂ワニスを作製した。次いで、実施例1と全く同様にして接着フィルムを得た。
Example 5
10 parts of naphthalene type epoxy resin (“EXA 4032 SS” manufactured by DIC Corporation), liquid bisphenol type epoxy resin (“ZX1059” manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd., 1: 1 mixture of bisphenol A type and bisphenol F type) 5 Parts, 20 parts of naphthol type epoxy resin ("ESN 475 V" manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd.), phenoxy resin (weight average molecular weight 35000, "YL 7553" manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., 30 mass% of nonvolatile components MEK and cyclohexanone 7 parts of a 1: 1 solution was dissolved by heating in 50 parts of solvent naphtha while stirring, and then cooled to room temperature. Next, 10 parts of an active ester compound ("HPC8000-65T" manufactured by DIC Corporation, active ester equivalent 223, 65% solid solution in toluene), a prepolymer of bisphenol A dicyanate ("BA230S75" manufactured by Lonza Japan Co., Ltd.) 20 parts of cyanate equivalent about 232, MEK solution of non volatile matter 75% by mass, phenol novolak type polyfunctional cyanate ester resin ("Lonza Japan Ltd. product" PT30S ", cyanate equivalent of about 133, MEK solution of non volatile matter 85 mass%) 10 parts, 4 parts of rubber particles (Gants Chemical Co., Ltd., AC3816N) swollen in 16 parts of solvent naphtha at room temperature for 12 hours, flame retardant (Sanko Co., Ltd. “HCA-HQ”, 10- (2,5-Dihydroxyphenyl) -10-hydro-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxai 3 parts of average particle diameter 1 μm, 0.1 part of hardening accelerator (4-dimethylaminopyridine, 10% by mass of solid MEK solution), hardening accelerator (manufactured by Tokyo Kasei Kogyo Co., Ltd., cobalt (III) acetylaceto) 4.5 parts of MEK solution having a solid content of 1% by mass was added, and 140 parts of the inorganic filler 1 were further mixed, and uniformly dispersed by a rotary mixer to prepare a resin varnish. Then, in the same manner as in Example 1, an adhesive film was obtained.

<比較例1>
無機充填材1を、無機充填材4に変更した以外は、実施例1と全く同様にして樹脂ワニスを作製した。次いで、実施例1と全く同様にして接着フィルムを得た。
Comparative Example 1
A resin varnish was produced in exactly the same manner as in Example 1 except that the inorganic filler 1 was changed to the inorganic filler 4. Then, in the same manner as in Example 1, an adhesive film was obtained.

<比較例2>
無機充填材1を、無機充填材5に変更した以外は、実施例1と全く同様にして樹脂ワニスを作製した。次いで、実施例1と全く同様にして接着フィルムを得た。
Comparative Example 2
A resin varnish was produced in the same manner as in Example 1 except that the inorganic filler 1 was changed to the inorganic filler 5. Then, in the same manner as in Example 1, an adhesive film was obtained.

<比較例3>
無機充填材1を、無機充填材6に変更した以外は、実施例1と全く同様にして樹脂ワニスを作製した。次いで、実施例1と全く同様にして接着フィルムを得た。
Comparative Example 3
A resin varnish was produced in the same manner as in Example 1 except that the inorganic filler 1 was changed to the inorganic filler 6. Then, in the same manner as in Example 1, an adhesive film was obtained.

結果を表1に示す。   The results are shown in Table 1.

Figure 2019116630
Figure 2019116630

表1の結果から、実施例の樹脂組成物は、低算術平均粗さ、低二乗平均平方根粗さでピール強度が十分な値が得られ、ラミネート性も良好であることが分かる。なお、Rq値は絶縁層表面の局所的な状態が反映されるため、Rq値の減少により緻密な粗面になっていることがわかる。一方、比較例では、算術平均粗さ、二乗平均平方根粗さが大きくなり、ピール強度も小さく、ラミネート性も劣る結果となった。   From the results of Table 1, it can be seen that the resin compositions of Examples give low peel strengths and low root mean square roughness values with sufficient peel strength and good laminateability. Note that, since the Rq value reflects the local state of the surface of the insulating layer, it can be seen that the dense rough surface is obtained as the Rq value decreases. On the other hand, in the comparative example, the arithmetic mean roughness and the root mean square roughness were large, the peel strength was small, and the laminateability was poor.

湿式粗化工程において絶縁層表面の算術平均粗さが低いのみならず、二乗平均平方根粗さも小さく、その上に十分なピール強度を有するメッキ導体層を形成することができ、ラミネート性にも優れる樹脂組成物を提供できるようになった。更にそれを用いたシート状積層材料、多層プリント配線板、半導体装置を提供できるようになった。更にこれらを搭載した、コンピューター、携帯電話、デジタルカメラ、テレビ、等の電気製品や、自動二輪車、自動車、電車、船舶、航空機、等の乗物も提供できるようになった。   In the wet roughening process, not only the arithmetic mean roughness of the surface of the insulating layer is low, but also the root mean square roughness is small, and a plated conductor layer having sufficient peel strength can be formed thereon, and the laminateability is also excellent. It became possible to provide a resin composition. Furthermore, it has become possible to provide a sheet-like laminate material, a multilayer printed wiring board and a semiconductor device using the same. Furthermore, it has become possible to provide electronic products such as computers, mobile phones, digital cameras, TVs, etc., and vehicles such as motorcycles, automobiles, trains, ships, aircrafts, etc. equipped with these.

Claims (1)

エポキシ樹脂、硬化剤及びアルコキシシラン化合物で表面処理された無機充填材を含有する樹脂組成物であって、
該無機充填材の平均粒径が0.01〜5μmであり、
樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、該無機充填材の含有量が30〜90質量%であることを特徴とする樹脂組成物。
A resin composition comprising an epoxy resin, a curing agent and an inorganic filler surface-treated with an alkoxysilane compound,
The average particle size of the inorganic filler is 0.01 to 5 μm,
The resin composition, wherein the content of the inorganic filler is 30 to 90% by mass, when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass.
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