JP2019102716A - Light emitting apparatus and method of manufacturing the same - Google Patents

Light emitting apparatus and method of manufacturing the same Download PDF

Info

Publication number
JP2019102716A
JP2019102716A JP2017234016A JP2017234016A JP2019102716A JP 2019102716 A JP2019102716 A JP 2019102716A JP 2017234016 A JP2017234016 A JP 2017234016A JP 2017234016 A JP2017234016 A JP 2017234016A JP 2019102716 A JP2019102716 A JP 2019102716A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light emitting
submount
emitting device
emitting element
bonding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2017234016A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP7091640B2 (en
Inventor
英男 宮坂
Hideo Miyasaka
英男 宮坂
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2017234016A priority Critical patent/JP7091640B2/en
Publication of JP2019102716A publication Critical patent/JP2019102716A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP7091640B2 publication Critical patent/JP7091640B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

To provide a reliable light emitting apparatus and a method of manufacturing the same.SOLUTION: A light emitting apparatus 1 includes: a light emitting device 22; a sub-mount 23 to which the light emitting device 22 is joined; and a heat sink 24 to which the sub-mount 23 is joined. The sub-mount 23 is a metal 29 containing diamond particles. The sub-mount 23 includes a tapered portion 23a that is formed in a tapered shape having a thinner width toward an arrangement side of the light emitting device 22.SELECTED DRAWING: Figure 3

Description

本発明は、発光装置および発光装置の製造方法に関するものである。   The present invention relates to a light emitting device and a method of manufacturing the light emitting device.

一般的に、発光装置に用いられる発光ダイオードや半導体レーザーなどの発光素子は、発光時に発熱するため、この熱により発光素子が劣化したり、発光特性が低下したりする虞がある。そのため、発光装置は、発光素子から発生する熱を外部へ放出することにより、発光素子が高温にならないように構成されている。
特許文献1では、発光素子と放熱用のヒートシンクとの間に、熱伝導率を向上させるために、ダイヤモンドを含む複数の粒状体を含有させた銅の矩形状の金属体をサブマウントとして配置し、発光素子からの熱を放熱する放熱性を向上させていることが開示されている。
Generally, a light emitting element such as a light emitting diode or a semiconductor laser used for a light emitting device generates heat at the time of light emission, so the heat may deteriorate the light emitting element or lower the light emitting property. Therefore, the light emitting device is configured such that the temperature of the light emitting element does not become high by releasing the heat generated from the light emitting element to the outside.
In Patent Document 1, in order to improve the thermal conductivity, a rectangular metal body of copper containing a plurality of particles containing diamond is disposed as a submount between the light emitting element and the heat sink for heat radiation. It is disclosed that the heat dissipation property to radiate the heat from the light emitting element is improved.

また、特許文献2では、発光素子と放熱用金属部材との間に設けられたAlNやAl23等のサブマウントを発光素子の配置側に向かうに従って先細のテーパー状に形成することで、発光素子の側方からの光をサブマウントで遮らないようにして、光の出射効率の低下を抑制しつつ発光素子からの熱を放熱する放熱性を向上させていることが開示されている。 Further, in Patent Document 2, a submount such as AlN or Al 2 O 3 provided between the light emitting element and the metal member for heat dissipation is formed in a tapered shape toward the light emitting element disposition side. It is disclosed that the heat radiation property of radiating the heat from the light emitting element is improved while suppressing the decrease of the light emission efficiency by not blocking the light from the side of the light emitting element by the submount.

特開2005−123457号公報JP 2005-123457 A 特開2013−26576号公報JP, 2013-26576, A

しかしながら、特許文献1の発光装置では、サブマウントが矩形状であるため発光素子の側方からの光を遮ってしまい、光の出射効率を低下させてしまうという課題があった。また、特許文献2の発光装置では、ダイヤモンド粒子を含有した金属に比べ、熱伝導率の低いサブマウントを用いているため、特許文献1の発光装置に比べ、発光素子からの熱を放熱する放熱性が低いという課題があった。そのため、ダイヤモンド粒子を含有したテーパー状の金属をサブマウントとして用いることが、光の出射効率の低下抑制や放熱性の向上に有効である。しかしながら、ダイヤモンド粒子を含有した金属をテーパー状に加工することは、含有するダイヤモンド粒子が硬いため、非常に困難であった。   However, in the light emitting device of Patent Document 1, there is a problem that the light from the side of the light emitting element is blocked because the submount has a rectangular shape, and the light emission efficiency is reduced. In addition, since the light emitting device of Patent Document 2 uses a submount having a lower thermal conductivity than a metal containing diamond particles, heat radiation from the light emitting element is dissipated as compared with the light emitting device of Patent Document 1 There was a problem that the sex was low. Therefore, using a tapered metal containing diamond particles as the submount is effective for suppressing the decrease in light emission efficiency and improving the heat dissipation. However, processing a metal containing diamond particles into a tapered shape is very difficult because the contained diamond particles are hard.

本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態又は適用例として実現することが可能である。   The present invention has been made to solve at least a part of the above-described problems, and can be realized as the following modes or application examples.

[適用例1]本適用例に係る発光装置は、発光素子と、前記発光素子が接合されたサブマウントと、前記サブマウントが接合された放熱板と、を備えた発光装置であって、前記サブマウントは、ダイヤモンド粒子を含む金属であり、前記サブマウントは、前記発光素子の配置側に向かうに従って先細のテーパー状に形成されているテーパー部を備えていることを特徴とする。   Application Example 1 A light emitting device according to this application example is a light emitting device including a light emitting element, a submount to which the light emitting element is joined, and a heat sink to which the submount is joined, The submount is a metal containing diamond particles, and the submount is characterized by including a tapered portion which is tapered toward the disposition side of the light emitting element.

本適用例によれば、発光素子と放熱板との間に設けられたサブマウントが、発光素子の配置側に向かうに従って先細のテーパー状に形成されているテーパー部を備えているので、発光素子の側方からの光をサブマウントで遮らないようにすることができ、光の出射効率の低下を抑制することができる。また、サブマウントが、熱伝導率の高いダイヤモンド粒子を含有した金属であるため、発光素子からの熱を放熱する放熱性を向上させることができる。   According to this application example, since the submount provided between the light emitting element and the heat sink is provided with a tapered portion that is formed in a tapered shape toward the arrangement side of the light emitting element, the light emitting element It is possible to prevent the light from the side of the light from being blocked by the submount, and it is possible to suppress the decrease in the light emission efficiency. In addition, since the submount is a metal containing diamond particles with high thermal conductivity, the heat dissipation property to dissipate the heat from the light emitting element can be improved.

[適用例2]上記適用例に記載の発光装置において、前記サブマウントの前記発光素子が接合された面の垂線とテーパー部との角度は、30度以上66度以下であることが好ましい。   Application Example 2 In the light emitting device described in the application example, it is preferable that an angle between a perpendicular line of the surface of the submount to which the light emitting element is bonded and a tapered portion be 30 degrees or more and 66 degrees or less.

本適用例によれば、サブマウントの発光素子が接合された面の垂線とテーパー部との角度が、30度以上66度以下であるので、発光素子の側方からの光をサブマウントで遮らないようにすることができ、光の出射効率の低下を抑制することができる。   According to this application example, since the angle between the perpendicular line of the surface to which the light emitting element of the submount is joined and the taper portion is not less than 30 degrees and not more than 66 degrees, light from the side of the light emitting element is blocked by the submount. It is possible to prevent the decrease of the light emission efficiency.

[適用例3]上記適用例に記載の発光装置において、前記発光素子と前記サブマウントとの間に絶縁膜を備えていることが好ましい。   Application Example 3 In the light emitting device described in the application example, it is preferable that an insulating film be provided between the light emitting element and the submount.

本適用例によれば、発光素子とサブマウントとの間に絶縁膜を備えているので、発光素子と放熱板とが絶縁され、発光素子に印加される電圧が放熱板を介して外部に導通するのを防止することができる。   According to this application example, since the insulating film is provided between the light emitting element and the submount, the light emitting element and the heat sink are insulated, and the voltage applied to the light emitting element is conducted to the outside through the heat sink. Can be prevented.

[適用例4]上記適用例に記載の発光装置において、前記サブマウントと前記放熱板との間に絶縁膜を備えていることが好ましい。   Application Example 4 In the light emitting device described in the application example, it is preferable that an insulating film be provided between the submount and the heat sink.

本適用例によれば、サブマウントと放熱板との間に絶縁膜を備えているので、発光素子と放熱板とが絶縁され、発光素子に印加される電圧が放熱板を介して外部に導通するのを防止することができる。   According to this application example, since the insulating film is provided between the submount and the heat sink, the light emitting element and the heat sink are insulated, and the voltage applied to the light emitting element is conducted to the outside through the heat sink. Can be prevented.

[適用例5]上記適用例に記載の発光装置において、前記絶縁膜は、AlN、DLC、SiC、SiO2、SiNの何れかであることが好ましい。 Application Example 5 In the light emitting device according to the application example, the insulating film is preferably any one of AlN, DLC, SiC, SiO 2 and SiN.

本適用例によれば、絶縁膜がAlN(窒化アルミニウム)、DLC(ダイヤモンド・ライク・カーボン)、SiC(炭化ケイ素)、SiO2(二酸化ケイ素)、SiN(窒化ケイ素)の何れかであるので、サブマウントや放熱板上にプラズマCVD法又はPVD法で容易に形成することができる。 According to this application example, since the insulating film is any of AlN (aluminum nitride), DLC (diamond like carbon), SiC (silicon carbide), SiO 2 (silicon dioxide), and SiN (silicon nitride), It can be easily formed on the submount or the heat sink by plasma CVD or PVD.

[適用例6]本適用例に係る発光装置の製造方法は、発光素子と、前記発光素子が接合されたサブマウントと、前記サブマウントが接合された放熱板と、を備えた発光装置の製造方法であって、前記サブマウントは、ダイヤモンド粒子を含む金属であり、前記発光素子の配置側に向かうに従って先細のテーパー状に形成されているテーパー部を備え、メッキ法で形成されていることを特徴とする。   Application Example 6 A method of manufacturing a light emitting device according to this application example includes manufacturing a light emitting device including a light emitting element, a submount to which the light emitting element is bonded, and a heat sink to which the submount is bonded. In the method, the submount is a metal including diamond particles, and includes a tapered portion which is formed in a tapered shape toward the arrangement side of the light emitting element, and is formed by a plating method. It features.

本適用例によれば、発光素子の配置側に向かうに従って先細のテーパー状にサブマウントを形成するためのメッキ用マスクが形成できるので、ダイヤモンド粒子を含む金属をメッキするメッキ法でサブマウントを形成し、テーパー部を有するサブマウントを容易に形成することができる。従って、発光素子からの光の出射効率の低下を抑制しつつ、発光素子からの熱を放熱する放熱性を向上させた発光装置を製造することができる。   According to this application example, since the plating mask for forming the submount in a tapered shape can be formed in the direction toward the arrangement side of the light emitting element, the submount is formed by the plating method of plating metal containing diamond particles. And a submount having a tapered portion can be easily formed. Therefore, it is possible to manufacture a light emitting device in which the heat dissipation property for releasing the heat from the light emitting element is improved while suppressing the decrease in the light emitting efficiency of the light emitting element.

[適用例7]上記適用例に記載の発光装置の製造方法において、金属板上にフォトレジストでメッキ用マスクを形成する工程と、前記金属板上にダイヤモンド粒子を含む金属をメッキする工程と、前記ダイヤモンド粒子を含む金属上に絶縁膜を形成する工程と、を有することが好ましい。   Application Example 7 In the method of manufacturing a light emitting device described in the application example, a step of forming a plating mask with a photoresist on a metal plate, a step of plating a metal containing diamond particles on the metal plate, Forming an insulating film on the metal containing the diamond particles.

本適用例によれば、フォトレジストで作成したマスクをメッキ用マスクとして、ダイヤモンド粒子を含む金属をメッキすることで、テーパー部を有するサブマウントを形成することができ、高い熱伝導率を有するサブマウントを製造することができる。また、ダイヤモンド粒子を含む金属上に絶縁膜を形成することで、発光素子とサブマウントとを絶縁することができ、発光素子に印加される電圧が放熱板を介して外部に導通するのを防止することができる。   According to this application example, by using a mask made of a photoresist as a plating mask and plating a metal containing diamond particles, a submount having a tapered portion can be formed, and a sub having high thermal conductivity. Mounts can be manufactured. Further, by forming an insulating film on a metal containing diamond particles, the light emitting element and the submount can be insulated, and the voltage applied to the light emitting element is prevented from being conducted to the outside through the heat sink. can do.

第一実施形態に係る発光装置を示す斜視図。FIG. 1 is a perspective view showing a light emitting device according to a first embodiment. 図1のA−A線における断面図。Sectional drawing in the AA of FIG. 図2のC部拡大図。The C section enlarged view of FIG. 本実施形態に係る発光装置におけるサブマウントの製造方法を示す断面図。FIG. 7 is a cross-sectional view showing the method of manufacturing the submount in the light emitting device according to the embodiment. 本実施形態に係る発光装置におけるサブマウントの製造方法を示す断面図。FIG. 7 is a cross-sectional view showing the method of manufacturing the submount in the light emitting device according to the embodiment. 本実施形態に係る発光装置におけるサブマウントの製造方法を示す断面図。FIG. 7 is a cross-sectional view showing the method of manufacturing the submount in the light emitting device according to the embodiment. 本実施形態に係る発光装置におけるサブマウントの製造方法を示す断面図。FIG. 7 is a cross-sectional view showing the method of manufacturing the submount in the light emitting device according to the embodiment. 本実施形態に係る発光装置におけるサブマウントの製造方法を示す断面図。FIG. 7 is a cross-sectional view showing the method of manufacturing the submount in the light emitting device according to the embodiment. 本実施形態に係る発光装置における発光部の製造方法を示す断面図。FIG. 7 is a cross-sectional view showing the method of manufacturing the light emitting unit in the light emitting device according to the embodiment. 本実施形態に係る発光装置における発光部の製造方法を示す断面図。FIG. 7 is a cross-sectional view showing the method of manufacturing the light emitting unit in the light emitting device according to the embodiment. 本実施形態に係る発光装置における発光部の製造方法を示す断面図。FIG. 7 is a cross-sectional view showing the method of manufacturing the light emitting unit in the light emitting device according to the embodiment. 本実施形態に係る発光装置における発光部の製造方法を示す断面図。FIG. 7 is a cross-sectional view showing the method of manufacturing the light emitting unit in the light emitting device according to the embodiment. 本実施形態に係る発光装置の製造方法を示す断面図。FIG. 7 is a cross-sectional view showing the method of manufacturing the light emitting device according to the embodiment. 第二実施形態に係る発光装置の発光部を示す断面図。Sectional drawing which shows the light emission part of the light-emitting device which concerns on 2nd embodiment.

以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。
なお、以下の説明で用いる図面は、特徴をわかりやすくするために、便宜上特徴となる部分を拡大して示している場合があり、各構成要素の寸法比率などが実際と同じであるとは限らない。また、同様の目的で、特徴とならない部分を省略して図示している場合がある。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
In the drawings used in the following description, in order to make the features easy to understand, the features that are the features may be enlarged for the sake of convenience, and the dimensional ratio of each component may be limited to the same as the actual Absent. Moreover, for the same purpose, there may be a case where parts which are not characteristic are omitted.

<第一実施形態>
[発光装置]
以下に、本実施形態に係る発光装置の一例について説明するが、本実施形態はこれらに限定されない。
First Embodiment
[Light Emitting Device]
Hereinafter, although an example of the light emitting device according to the present embodiment will be described, the present embodiment is not limited thereto.

図1は、本実施形態に係る発光装置1を示す斜視図であり、図2は、図1のA−A線における断面図であり、図3は、図2のC部拡大図である。図1、図2、および図3に示すように、本実施形態に係る発光装置1は、基板11と、複数の発光部21と、接合フレーム31と、複数の電極33と、支持フレーム41と、透光性部材43と、を備える。   FIG. 1 is a perspective view showing a light emitting device 1 according to the present embodiment, FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG. 1, and FIG. 3 is an enlarged view of a portion C of FIG. As shown in FIGS. 1, 2 and 3, the light emitting device 1 according to this embodiment includes a substrate 11, a plurality of light emitting units 21, a bonding frame 31, a plurality of electrodes 33, and a support frame 41. , And a translucent member 43.

基板11は、第1の面11aと、その反対側に、例えば放熱器が取り付けられる第2の面11bと、を有する。発光部21は接合材61によって基板11の第1の面11a側に設けられている。発光部21は基板11とは反対側に向けて光を出射する。接合材61として、例えば金−スズなどのはんだ材料が用いられる。   The substrate 11 has a first surface 11 a and a second surface 11 b to which, for example, a radiator is attached on the opposite side. The light emitting unit 21 is provided on the first surface 11 a side of the substrate 11 by the bonding material 61. The light emitting unit 21 emits light toward the side opposite to the substrate 11. As the bonding material 61, for example, a solder material such as gold-tin is used.

接合フレーム31は、複数の発光部21を囲むように基板11の第1の面11a側に設けられている。接合フレーム31は、接合材63によって基板11に接合されている。接合材63は、基板11と接合フレーム31とを接合することができれば特に限定されないが、金属ろうが好ましく、銀ろうがより好ましく用いられる。   The bonding frame 31 is provided on the first surface 11 a side of the substrate 11 so as to surround the plurality of light emitting units 21. The bonding frame 31 is bonded to the substrate 11 by a bonding material 63. The bonding material 63 is not particularly limited as long as the bonding material 63 can bond the substrate 11 and the bonding frame 31, but metal solder is preferable, and silver solder is more preferably used.

また、接合フレーム31には複数の貫通孔35が設けられている。各貫通孔35には、発光部21へ電力を供給するための電極33が設けられている。電極33には、発光部21と電気的に接続するためのボンディングワイヤーが設けられている(図示略)。接合フレーム31と電極33との間は封止材71によって封止されている。封止材71として、例えば低融点ガラスなどが好ましく用いられる。   Further, the bonding frame 31 is provided with a plurality of through holes 35. Each through hole 35 is provided with an electrode 33 for supplying power to the light emitting unit 21. The electrode 33 is provided with a bonding wire (not shown) for electrically connecting to the light emitting unit 21. A sealing material 71 seals between the bonding frame 31 and the electrode 33. For example, low melting point glass is preferably used as the sealing material 71.

支持フレーム41は、接合フレーム31の基板11とは反対側に接合されている。   The support frame 41 is bonded to the side opposite to the substrate 11 of the bonding frame 31.

透光性部材43は、支持フレーム41の基板11側に、第1の面11aと対向するように設けられている。このとき、透光性部材43は、接着材51によって支持フレーム41に接合されている。接着材51として、例えば低融点ガラスなどが好ましく用いられる。本実施形態では、透光性部材43は、支持フレーム41および接着材51とともに蓋体40を構成している。   The translucent member 43 is provided on the substrate 11 side of the support frame 41 so as to face the first surface 11 a. At this time, the translucent member 43 is joined to the support frame 41 by the adhesive 51. For example, low melting glass is preferably used as the adhesive 51. In the present embodiment, the light transmitting member 43 constitutes the lid 40 together with the support frame 41 and the adhesive 51.

発光装置1は、基板11と、接合フレーム31と、支持フレーム41と、透光性部材43と、によって囲まれた収納空間Sを有する。すなわち、複数の発光部21は収納空間S内に設けられている。   The light emitting device 1 has a storage space S surrounded by the substrate 11, the bonding frame 31, the support frame 41, and the light transmitting member 43. That is, the plurality of light emitting units 21 are provided in the storage space S.

[基板]
以下、図2および図3を基に、各部の構成について詳細に説明する。
基板11は、平面視において、例えば略正方形又は略長方形などの四角形状である。発光部21を搭載する第1の面11aは、例えば平坦面である。
[substrate]
Hereinafter, based on FIG. 2 and FIG. 3, the structure of each part is demonstrated in detail.
The substrate 11 has a square shape such as, for example, a substantially square or a substantially rectangular shape in a plan view. The first surface 11 a on which the light emitting unit 21 is mounted is, for example, a flat surface.

基板11の形成材料として、放熱性が高い材料、例えば金属材料が用いられる。このような金属材料として、銅又はアルミニウムが好ましく、銅がより好ましく用いられる。   As a forming material of the substrate 11, a material having high heat dissipation, for example, a metal material is used. As such a metal material, copper or aluminum is preferable, and copper is more preferably used.

[発光部]
発光部21は、図3に示すように、発光素子22と、サブマウント23と、放熱板24と、を備えている。発光素子22としては、例えば発光ダイオード又は半導体レーザーなどが用いられる。発光素子22は、用途に応じて任意の波長のものを選択することができる。例えば、波長430nm〜490nmの青色光の発光素子としては、窒化物系半導体(InXAlYGa1-X-YN、0≦X≦1、0≦Y≦1、X+Y≦1)を含むことができる。また、これに加えて、3族元素としてホウ素原子が一部に置換されたものや、5族元素として窒素原子の一部をリン原子、ヒ素原子で置換されたものを含むこともできる。
[Light emitting unit]
As shown in FIG. 3, the light emitting unit 21 includes a light emitting element 22, a submount 23, and a heat sink 24. For example, a light emitting diode or a semiconductor laser is used as the light emitting element 22. The light emitting element 22 can select an arbitrary wavelength according to the application. For example, the light-emitting element of blue light of wavelength 430Nm~490nm, contain a nitride-based semiconductor (In X Al Y Ga 1- XY N, 0 ≦ X ≦ 1,0 ≦ Y ≦ 1, X + Y ≦ 1) it can. In addition to this, a group 3 element in which a boron atom is partially substituted, and a group 5 element in which a part of nitrogen atoms is substituted by a phosphorus atom or an arsenic atom can also be included.

サブマウント23は、発光素子22の配置側に向かうに従って先細のテーパー状に形成されているテーパー部23aを備えている。なお、サブマウント23の発光素子22が接合された面の垂線Lとテーパー部23aとの角度θが、30度以上66度以下である。そのため、発光素子22の側方からの光をサブマウント23で遮らないようにすることができ、光の出射効率の低下を抑制することができる。角度θが30度より小さい場合には、放熱板24の配置側の面積が小さくなるため、発光素子22から発生する熱の放熱性が低下する。角度θが66度より大きい場合には、発光素子22からの光を遮ってしまい光の出射効率が低下する。   The sub mount 23 includes a tapered portion 23 a that is formed in a tapered shape toward the arrangement side of the light emitting element 22. The angle θ between the perpendicular L of the surface of the submount 23 to which the light emitting element 22 is joined and the tapered portion 23a is 30 degrees or more and 66 degrees or less. Therefore, the light from the side of the light emitting element 22 can be prevented from being blocked by the submount 23, and a decrease in light emission efficiency can be suppressed. When the angle θ is smaller than 30 degrees, the area on the side where the heat dissipation plate 24 is disposed becomes smaller, so the heat dissipation property of the heat generated from the light emitting element 22 is reduced. When the angle θ is larger than 66 degrees, the light from the light emitting element 22 is blocked and the light emission efficiency is reduced.

また、サブマウント23の形成材料としては、ダイヤモンド粒子が含有した金属が用いられる。このような金属として、銅が好ましく用いられる。サブマウント23は、ダイヤモンド粒子が含有しているため、銅単体に比べ熱伝導率が高く、発光素子22から発生する熱を効率良く外部へ放出することができる。なお、テーパー部23aを有するサブマウント23を機械加工等で形成するには、硬度の高いダイヤモンド粒子が含まれているため、非常に難しい。そのため、ダイヤモンド粒子が含有した金属をメッキするメッキ法により形成されている。   In addition, as a forming material of the submount 23, a metal contained in diamond particles is used. Copper is preferably used as such a metal. Since the submount 23 contains diamond particles, its thermal conductivity is higher than that of copper alone, and the heat generated from the light emitting element 22 can be efficiently dissipated to the outside. It is very difficult to form the submount 23 having the tapered portion 23a by machining or the like because it contains diamond particles with high hardness. Therefore, it is formed by the plating method which plates the metal which the diamond particle contained.

また、サブマウント23の発光素子22の配置側には、絶縁膜27が設けられており、つまり、発光素子22とサブマウント23との間に絶縁膜27が配置されている。そのため、発光素子22とサブマウント23とが絶縁され、発光素子22に印加される電圧が放熱板24を介して外部に導通するのを防止することができる。なお、絶縁膜27の形成材料としては、AlN(窒化アルミニウム)、DLC(ダイヤモンド・ライク・カーボン)、SiC(炭化ケイ素)、SiO2(二酸化ケイ素)、SiN(窒化ケイ素)の何れかが用いられる。 In addition, the insulating film 27 is provided on the side of the submount 23 on which the light emitting elements 22 are disposed. That is, the insulating film 27 is disposed between the light emitting elements 22 and the submount 23. Therefore, the light emitting element 22 and the submount 23 are insulated, and the voltage applied to the light emitting element 22 can be prevented from being conducted to the outside through the heat sink 24. As a material for forming the insulating film 27, any of AlN (aluminum nitride), DLC (diamond like carbon), SiC (silicon carbide), SiO 2 (silicon dioxide), and SiN (silicon nitride) is used. .

発光素子22とサブマウント23とは、サブマウント23に設けられた絶縁膜27上に接合膜26aを設けた後に、接合材25aを介して接合されている。なお、接合膜26aとして、例えばチタンタングステン−金などが用いられる。また、接合材25aとして、例えば金−スズなどのはんだ材料が用いられる。   The light emitting element 22 and the submount 23 are joined via the joining material 25a after the joining film 26a is provided on the insulating film 27 provided on the submount 23. For example, titanium tungsten-gold or the like is used as the bonding film 26a. Further, as the bonding material 25a, for example, a solder material such as gold-tin is used.

放熱板24の形成材料として、放熱性が高い材料、例えば金属材料が用いられる。このような金属材料として、銅又はアルミニウムが好ましく、銅がより好ましく用いられる。   As a forming material of the heat sink 24, a material having high heat dissipation, for example, a metal material is used. As such a metal material, copper or aluminum is preferable, and copper is more preferably used.

サブマウント23と放熱板24とは、サブマウント23の放熱板24の配置側に接合膜26bを設け、放熱板24の外周に接合膜26cを設けた後に、接合材25bを介して接合されている。なお、接合膜26bとして、例えばチタンタングステン−金などが用いられる。また、接合膜26cとして、例えばニッケル−金又は銀などのメッキ層が用いられる。また、接合材25bとして、例えば金−スズなどのはんだ材料が用いられる。   The submount 23 and the heat dissipating plate 24 are provided with the bonding film 26b on the arrangement side of the submount 23 on the heat dissipating plate 24, and after the bonding film 26c is provided on the outer periphery of the heat dissipating plate 24, they are bonded via the bonding material 25b. There is. For example, titanium tungsten-gold or the like is used as the bonding film 26 b. Further, as the bonding film 26c, a plated layer of, for example, nickel-gold or silver is used. Further, as the bonding material 25b, for example, a solder material such as gold-tin is used.

[接合フレーム、電極]
接合フレーム31の形成材料としては、基板11と比べて熱伝導率が低い材料が用いられている。このような材料としては、例えば、コバールが用いられる。接合フレーム31の表面にはメッキ層が形成されており、例えばニッケル−金からなるメッキ層が形成されている。
[Joining frame, electrode]
As a material for forming the bonding frame 31, a material having a thermal conductivity lower than that of the substrate 11 is used. As such a material, Kovar is used, for example. A plated layer is formed on the surface of the joint frame 31, and a plated layer made of, for example, nickel-gold is formed.

電極33の形成材料としては、例えばコバールが用いられる。また、電極33の表面にはメッキ層が形成されており、例えばニッケル−金からなるメッキ層が形成されている。   As a forming material of the electrode 33, Kovar is used, for example. In addition, a plated layer is formed on the surface of the electrode 33, and a plated layer made of, for example, nickel-gold is formed.

収納空間S内において、電極33の端部にはボンディングワイヤー(図示略)が設けられており、電極33は発光素子22と電気的に接続している。このボンディングワイヤーの形成材料としては、金が好ましく用いられる。電極33の他方の端部は、外部電気回路(図示略)と接続している。   In the storage space S, a bonding wire (not shown) is provided at an end of the electrode 33, and the electrode 33 is electrically connected to the light emitting element 22. Gold is preferably used as a material for forming the bonding wire. The other end of the electrode 33 is connected to an external electric circuit (not shown).

[支持フレーム]
支持フレーム41の形成材料としては、例えば金属が挙げられ、銅が好ましく用いられる。支持フレーム41の表面にはメッキ層が形成されており、例えばニッケルからなるメッキ層が形成されている。
[Supporting frame]
As a formation material of the support frame 41, a metal is mentioned, for example, Copper is used preferably. A plated layer is formed on the surface of the support frame 41, and a plated layer made of, for example, nickel is formed.

支持フレーム41は、接合フレーム31に、例えばニッケル−金を用いて溶接されている。   The support frame 41 is welded to the joint frame 31 using, for example, nickel-gold.

[透光性部材]
透光性部材43は、発光素子22から出射された光を透過することができる限り、特に限定されない。透光性部材43の形成材料としては、ホウケイ酸ガラス、石英ガラス、合成石英ガラスなどのガラス、水晶、又はサファイアなどが挙げられる。
[Transparent member]
The translucent member 43 is not particularly limited as long as the light emitted from the light emitting element 22 can be transmitted. As a forming material of the translucent member 43, glass such as borosilicate glass, quartz glass, synthetic quartz glass, quartz, sapphire or the like can be mentioned.

透光性部材43は、基板11とは反対側に、例えばレンズ機能を有する光学素子(図示略)が一体成形されていてもよい。このような光学素子としては、例えば集光レンズが挙げられる。   For example, an optical element (not shown) having a lens function may be integrally formed on the opposite side of the light transmitting member 43 to the substrate 11. As such an optical element, a condensing lens is mentioned, for example.

[収納空間]
本実施形態において収納空間Sは、発光素子22の表面に対する有機物や水分の付着を低減するために、密閉空間である。このとき、収納空間Sは、真空であることが好ましい。また、収納空間Sが真空でない場合には、窒素ガスなどの不活性ガスで満たされていることが好ましい。この不活性ガスは、工業用の高純度のものを使用するとよい。なお、本明細書において、真空とはJIS Z 8126に規定されているように、通常の大気圧より低い圧力の気体で満たされた空間の状態をいう。この定義において、その気体は不活性ガスであってもよい。
[Storage space]
In the present embodiment, the storage space S is a sealed space in order to reduce the adhesion of organic substances and moisture to the surface of the light emitting element 22. At this time, the storage space S is preferably vacuum. When the storage space S is not vacuum, it is preferable that the storage space S be filled with an inert gas such as nitrogen gas. This inert gas may be of high purity for industrial use. In addition, in this specification, a vacuum means the state of the space filled with the gas of the pressure lower than normal atmospheric pressure as prescribed in JISZ8126. In this definition, the gas may be an inert gas.

以上で述べたように、第一実施形態に係る発光装置1によれば、以下の特徴を有する。
発光素子22と放熱板24との間に設けられたサブマウント23が、発光素子22の配置側に向かうに従って先細のテーパー状に形成されているテーパー部23aを備えているので、発光素子22の側方からの光をサブマウント23で遮らないようにすることができ、光の出射効率の低下を抑制することができる。また、サブマウント23が、熱伝導率の高いダイヤモンド粒子を含有した金属であるため、発光素子22からの熱を放熱する放熱性を向上させることができ、熱による発光素子22の劣化を低減できる。
As described above, the light emitting device 1 according to the first embodiment has the following features.
Since the submount 23 provided between the light emitting element 22 and the heat sink 24 includes a tapered portion 23 a that is formed in a tapered shape toward the arrangement side of the light emitting element 22, the submount 23 of the light emitting element 22 The light from the side can be prevented from being blocked by the submount 23, and a decrease in light emission efficiency can be suppressed. In addition, since the submount 23 is a metal containing diamond particles with high thermal conductivity, the heat dissipation property to dissipate the heat from the light emitting element 22 can be improved, and the deterioration of the light emitting element 22 due to heat can be reduced. .

また、サブマウント23の発光素子22が接合された面の垂線Lとテーパー部23aとの角度θが、30度以上66度以下であるので、発光素子22の側方からの光をサブマウント23で遮らないようにすることができ、光の出射効率の低下を抑制することができる。   Further, since the angle θ between the perpendicular L of the submount 23 to which the light emitting element 22 is joined and the taper portion 23a is 30 degrees or more and 66 degrees or less, the light from the side of the light emitting element 22 is submount 23 Therefore, the light emission efficiency can be reduced.

また、発光素子22とサブマウント23との間にAlN、DLC、SiC、SiO2、SiNの何れかの絶縁膜27を備えているので、発光素子22と放熱板24とが絶縁され、発光素子22に印加される電圧が放熱板24を介して外部に導通するのを防止することができる。 In addition, since the insulating film 27 made of any of AlN, DLC, SiC, SiO 2 , and SiN is provided between the light emitting element 22 and the submount 23, the light emitting element 22 and the heat sink 24 are insulated. It can prevent the voltage applied to 22 from being conducted to the outside through the heat sink 24.

[発光装置の製造方法]
以下に、本実施形態に係る発光装置1の製造方法の一例について、図4A〜図6を参照して説明するが、本実施形態はこれらに限定されない。
[Method of manufacturing light emitting device]
Hereinafter, an example of a method of manufacturing the light emitting device 1 according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 4A to 6, but the present embodiment is not limited thereto.

図4A〜図4Eは、本実施形態に係る発光装置におけるサブマウントの製造方法を示す断面図であり、図5A〜図5Dは、本実施形態に係る発光装置における発光部の製造方法を示す断面図であり、図6は、本実施形態に係る発光装置の製造方法を示す断面図である。   4A to 4E are cross-sectional views showing a method of manufacturing a submount in a light emitting device according to this embodiment, and FIGS. 5A to 5D are cross sections showing a method of manufacturing a light emitting unit in a light emitting device according to this embodiment FIG. 6 is a cross-sectional view showing the method of manufacturing the light emitting device according to the embodiment.

[サブマウントの製造方法]
まず、本実施形態に係る発光装置1におけるサブマウント23の製造方法を説明する。
図4Aに示すように、金属板28を準備し、金属板28上にフォトレジストREを塗布する。
[Method of manufacturing submount]
First, a method of manufacturing the submount 23 in the light emitting device 1 according to the present embodiment will be described.
As shown in FIG. 4A, a metal plate 28 is prepared, and a photoresist RE is applied on the metal plate 28.

次に、金属板28上にフォトレジストREでメッキ用マスクを形成する工程として、サブマウント23が形成される領域に開口部を有するフォトマスクをフォトレジストRE上に配置し、斜め露光する。その後、現像することで図4Bに示すように、金属板28上に開口部を有するメッキ用マスクが形成される。   Next, in the step of forming a plating mask with the photoresist RE on the metal plate 28, a photomask having an opening in the region where the submount 23 is to be formed is disposed on the photoresist RE, and oblique exposure is performed. Thereafter, development is performed to form a plating mask having an opening on the metal plate 28, as shown in FIG. 4B.

なお、斜め露光における光軸の傾斜角度は、上述したサブマウント23の発光素子22が接合された面の垂線Lとテーパー部23aとの角度θと同じとする。また、ポジ型のフォトレジストREを用いることで、斜め露光されたフォトレジストREは、金属板28側に近づくに従い、フォトマスクの開口部よりも広い範囲が化学反応を起こす。化学反応を起こしたフォトレジストREは現像液に溶解し易くなる。そのため、次に、現像液で化学反応を起こした領域のフォトレジストREを溶解することで、金属板28に向かうに従って先細のテーパー状のメッキ用マスクを形成することができる。   The inclination angle of the optical axis in oblique exposure is the same as the angle θ between the perpendicular L of the surface of the submount 23 to which the light emitting element 22 is joined and the tapered portion 23a. In addition, by using the positive photoresist RE, the obliquely exposed photoresist RE causes a chemical reaction in a range wider than the opening of the photomask as it approaches the metal plate 28 side. The chemically reacted photoresist RE easily dissolves in the developer. Therefore, next, by dissolving the photoresist RE in the region where the chemical reaction has occurred with the developer, it is possible to form a tapered plating mask in the direction of the metal plate 28.

次に、金属板28上にダイヤモンド粒子を含む金属29をメッキする工程として、フォトレジストREでメッキ用マスクが形成された金属板28をダイヤモンド粒子が含有する金属29が入ったメッキ漕に浸漬させ、電流を印加し、図4Cに示すように、メッキ用マスクが形成されていない金属板28上にダイヤモンド粒子を含む金属29をメッキする。この工程により、角度θのテーパー部23aを有するサブマウント23を製造することができる。
従って、本実施形態に係る角度θのテーパー部23aを有するサブマウント23は、ダイヤモンド粒子を含む金属29をメッキするメッキ法で作成されている。
Next, as a step of plating metal 29 containing diamond particles on metal plate 28, metal plate 28 on which a plating mask is formed with photoresist RE is dipped in a plating bath containing metal 29 containing diamond particles. A current is applied, and as shown in FIG. 4C, a metal 29 containing diamond particles is plated on the metal plate 28 on which the plating mask is not formed. By this process, the submount 23 having the tapered portion 23a of the angle θ can be manufactured.
Therefore, the submount 23 having the tapered portion 23a of the angle θ according to the present embodiment is formed by a plating method in which the metal 29 containing diamond particles is plated.

次に、ダイヤモンド粒子を含む金属29上に絶縁膜27を形成する工程として、ダイヤモンド粒子を含む金属29をメッキした金属板28のダイヤモンド粒子を含む金属29上に、AlN、DLC、SiC、SiO2、SiNの何れかの絶縁膜27をプラズマCVD法又はPVD法等で形成する。その後、更に絶縁膜27上に、図4Dに示すように、チタンタングステン−金などの接合膜26aをスパッタ法又は蒸着法等で形成する。 Next, in the step of forming the insulating film 27 on the metal 29 containing diamond particles, AlN, DLC, SiC, SiO 2 on the metal 29 containing diamond particles of the metal plate 28 plated with the metal 29 containing diamond particles. , Or SiN insulating film 27 is formed by plasma CVD method, PVD method or the like. Thereafter, as shown in FIG. 4D, a bonding film 26a of titanium tungsten-gold or the like is further formed on the insulating film 27 by a sputtering method, a vapor deposition method or the like.

次に、図4Eに示すように、金属29上のメッキ用マスクであるフォトレジストREと、フォトレジストRE上の絶縁膜27および接合膜26aと、を同時に除去する。その後、ダイヤモンド粒子を含む金属29から金属板28を剥離することで、ダイヤモンド粒子を含む金属29上に絶縁膜27および接合膜26aが形成され、テーパー部23aを有するサブマウント23が形成される。   Next, as shown in FIG. 4E, the photoresist RE, which is a plating mask on the metal 29, and the insulating film 27 and the bonding film 26a on the photoresist RE are simultaneously removed. Thereafter, the metal plate 28 is peeled off from the metal 29 containing diamond particles, whereby the insulating film 27 and the bonding film 26a are formed on the metal 29 containing diamond particles, and the submount 23 having the tapered portion 23a is formed.

[発光部の製造方法]
次に、本実施形態に係る発光装置1における発光部21の製造方法を説明する。
まず、図5Aに示すように、銅又はアルミニウム等の放熱性の高い金属材料を形成材料とする放熱板24を準備し、放熱板24の外周にメッキ法でニッケル−金又は銀などのメッキ層を形成する。
[Method of manufacturing light emitting unit]
Next, a method of manufacturing the light emitting unit 21 in the light emitting device 1 according to the present embodiment will be described.
First, as shown in FIG. 5A, a heat sink 24 made of a metal material with high heat dissipation such as copper or aluminum is prepared, and the outer periphery of the heat sink 24 is plated with nickel-gold or silver by plating. Form

次に、図4A〜図4Eで示した製造方法で形成した絶縁膜27および接合膜26aが形成されたサブマウント23の絶縁膜27および接合膜26aが配置された面とは反対側の面に、図5Bに示すように、チタンタングステン−金などの接合膜26bをスパッタ法又は蒸着法等で形成する。   Next, on the surface opposite to the surface on which the insulating film 27 and the bonding film 26a are disposed of the submount 23 on which the insulating film 27 and the bonding film 26a are formed by the manufacturing method shown in FIGS. 4A to 4E. As shown in FIG. 5B, a bonding film 26b such as titanium tungsten-gold is formed by a sputtering method, an evaporation method, or the like.

次に、サブマウント23の接合膜26bが形成された面と、放熱板24の接合膜26cが形成された面と、を金−スズなどの接合材25bで、図5Cに示すように、接合する。   Next, as shown in FIG. 5C, the surface of the submount 23 on which the bonding film 26b is formed and the surface on which the bonding film 26c of the heat sink 24 is formed are bonded with a bonding material 25b such as gold-tin. Do.

次に、サブマウント23の絶縁膜27および接合膜26aが配置された側の接合膜26a上に、発光素子22を金−スズなどの接合材25aで、図5Dに示すように、接合する。
以上の製造方法により、放熱板24上にサブマウント23を介して発光素子22が接合された発光部21が形成される。
Next, as shown in FIG. 5D, the light emitting element 22 is bonded with a bonding material 25a such as gold-tin on the bonding film 26a on the side where the insulating film 27 and the bonding film 26a of the submount 23 are disposed.
By the above manufacturing method, the light emitting portion 21 in which the light emitting element 22 is joined to the heat sink 24 via the submount 23 is formed.

次に、本実施形態に係る発光装置1の製造方法を説明する。
図6に示すように、まず、透光性部材43に接着材51を用いて支持フレーム41を固定し、蓋体40を形成しておく。
蓋体40とは別体に、基板11の第1の面11aに、貫通孔35が形成された接合フレーム31および発光部21を接合する。このとき、第1の面11aに、発光部21又は接合フレーム31のどちらか一方を先に接合しておいてもよい。なお、接合フレーム31の接合の後で発光部21の接合を行なえば、接合フレーム31の接合時に発生する熱を発光部21が受けることがないため、接合フレーム31の接合を先に行なう方が好ましい。
Next, a method of manufacturing the light emitting device 1 according to the present embodiment will be described.
As shown in FIG. 6, first, the support frame 41 is fixed to the translucent member 43 using the adhesive 51, and the lid 40 is formed.
The bonding frame 31 and the light emitting unit 21 in which the through holes 35 are formed are bonded to the first surface 11 a of the substrate 11 separately from the lid 40. At this time, either the light emitting unit 21 or the bonding frame 31 may be bonded to the first surface 11 a first. If the light emitting unit 21 is joined after the joining frame 31 is joined, the light emitting unit 21 does not receive the heat generated at the time of joining the joining frame 31. Therefore, it is better to join the joining frame 31 first. preferable.

次いで、接合フレーム31に封止材71を用いて電極33を固定する。なお、この工程は、接合フレーム31を第1の面11aに接合する前に行ってもよい。   Then, the electrode 33 is fixed to the bonding frame 31 using the sealing material 71. Note that this step may be performed before bonding the bonding frame 31 to the first surface 11a.

次いで、発光部21と、電極33とをボンディングワイヤーを用いて電気的に接続する。具体的には、超音波接合又は熱圧着接合もしくは両方を用いて、ボンディングワイヤーの一方の端部を電極33に接合するとともに、ボンディングワイヤーの他方の端部を発光部21に接合する。   Next, the light emitting unit 21 and the electrode 33 are electrically connected using a bonding wire. Specifically, one end of the bonding wire is bonded to the electrode 33 and the other end of the bonding wire is bonded to the light emitting unit 21 using ultrasonic bonding or thermocompression bonding or both.

次いで、基板11に設けられた接合フレーム31と、透光性部材43に設けられた支持フレーム41と、を溶接する。この接合工程において、透光性部材43は第1の面11aと対向するように配置される。   Next, the joint frame 31 provided on the substrate 11 and the support frame 41 provided on the translucent member 43 are welded. In the bonding step, the translucent member 43 is disposed to face the first surface 11 a.

具体的には、接合フレーム31と支持フレーム41との接合部を局所的に加熱し、接合フレーム31の表面に形成されたニッケル−金からなるメッキ層を溶かすことにより溶接することができる。溶接方法としては、例えば抵抗溶接又はレーザー溶接などの局所加熱による溶接が用いられる。   Specifically, welding can be performed by locally heating the bonding portion between the bonding frame 31 and the support frame 41 and melting a plated layer made of nickel-gold formed on the surface of the bonding frame 31. As a welding method, for example, welding by local heating such as resistance welding or laser welding is used.

接合工程は、真空で行うとよい。また、接合工程は、窒素ガスなどの不活性ガスで満たされた空間で行うとよい。これにより、発光装置1の製造時に発光素子22の表面に対する有機物や水分の付着を低減できる。また、収納空間Sを真空又は窒素ガスで満たすことができるため、発光装置1の使用時においても発光素子22の表面に対する有機物や水分の付着を低減できる。したがって、使用時における発光素子22の破損が低減された信頼性が高い発光装置1を容易に製造できる。   The bonding step may be performed in vacuum. In addition, the bonding step may be performed in a space filled with an inert gas such as nitrogen gas. Thereby, adhesion of organic substances and moisture to the surface of the light emitting element 22 can be reduced at the time of manufacturing the light emitting device 1. Further, since the storage space S can be filled with vacuum or nitrogen gas, adhesion of organic substances and moisture to the surface of the light emitting element 22 can be reduced even when the light emitting device 1 is used. Therefore, it is possible to easily manufacture the highly reliable light emitting device 1 in which the breakage of the light emitting element 22 during use is reduced.

以上で述べたように、本実施形態に係る発光装置1の製造方法によれば、以下の特徴を有する。
発光素子22の配置側に向かうに従って先細のテーパー状にサブマウント23を形成するためのメッキ用マスクを形成することができるようになったので、ダイヤモンド粒子を含む金属29をメッキするメッキ法でサブマウント23を形成し、テーパー部23aを有する熱伝導率が高いサブマウント23を容易に形成することができる。従って、発光素子22からの光の出射効率の低下を抑制しつつ、発光素子22からの熱を放熱する放熱性を向上させた発光装置1を製造することができる。
As described above, the method for manufacturing the light emitting device 1 according to the present embodiment has the following features.
Since it became possible to form a plating mask for forming the submount 23 in a tapered shape in a tapered shape toward the arrangement side of the light emitting element 22, the sublayer was formed by plating using a metal 29 containing diamond particles. The mount 23 can be formed, and the submount 23 having the tapered portion 23a and having high thermal conductivity can be easily formed. Therefore, it is possible to manufacture the light emitting device 1 in which the heat dissipation property of releasing the heat from the light emitting element 22 is improved while suppressing the decrease of the light emitting efficiency of the light emitting element 22.

また、フォトレジストREで作成したマスクをメッキ用マスクとして、ダイヤモンド粒子を含む金属29をメッキすることで、テーパー部23aを有するサブマウント23を形成し、その後、ダイヤモンド粒子を含む金属29上に絶縁膜27を形成することで、発光素子22とサブマウント23とを絶縁することができ、発光素子22に印加される電圧が放熱板24を介して外部に導通するのを防止した発光装置1を製造することができる。   The submount 23 having the tapered portion 23a is formed by plating the metal 29 containing diamond particles using the mask made of the photoresist RE as a mask for plating, and thereafter insulating on the metal 29 containing diamond particles By forming the film 27, the light emitting element 22 and the submount 23 can be insulated, and the light emitting device 1 prevents the voltage applied to the light emitting element 22 from being conducted to the outside through the heat sink 24. It can be manufactured.

また、絶縁膜27がAlN、DLC、SiC、SiO2、SiNの何れかであるので、ダイヤモンド粒子を含む金属29上にプラズマCVD法又はPVD法で容易に絶縁膜27を形成することができ、発光素子22とサブマウント23とを絶縁する絶縁膜27を有するサブマウント23を容易に製造することができる。 Further, since the insulating film 27 is any of AlN, DLC, SiC, SiO 2 and SiN, the insulating film 27 can be easily formed on the metal 29 containing diamond particles by plasma CVD or PVD. The submount 23 having the insulating film 27 which insulates the light emitting element 22 and the submount 23 can be easily manufactured.

<第二実施形態>
次に、本発明の第二実施形態に係る発光装置1の発光部21について、図7を参照して説明する。
図7は、第二実施形態に係る発光装置の発光部を示す断面図である。なお、第二実施形態において、第一実施形態と同様の構成には同じ符号を付してその説明を省略又は簡略し、第一実施形態と異なる内容について詳細に説明する。
Second Embodiment
Next, the light emitting unit 21 of the light emitting device 1 according to the second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
FIG. 7 is a cross-sectional view showing the light emitting unit of the light emitting device according to the second embodiment. In the second embodiment, the same components as those of the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted or simplified, and the contents different from the first embodiment will be described in detail.

第二実施形態に係る発光装置の発光部21aは、第一実施形態に係る発光装置の発光部21と異なり、図7に示すように、絶縁膜27aがサブマウント23と放熱板24との間に配置されている。つまり、発光部21aは、サブマウント23のテーパー部23aが先細となる側の発光素子22と対向する面とは反対側の面に絶縁膜27aが形成されている。   Unlike the light emitting unit 21 of the light emitting device according to the first embodiment, the light emitting unit 21a of the light emitting device according to the second embodiment differs from the light emitting unit 21 according to the first embodiment in that the insulating film 27a is between the submount 23 and the heat sink 24 as shown in FIG. Is located in That is, in the light emitting portion 21a, the insulating film 27a is formed on the surface opposite to the surface facing the light emitting element 22 on the side where the tapered portion 23a of the submount 23 is tapered.

なお、絶縁膜27aが形成されたサブマウント23の製造方法は、以下の方法で行われる。ネガ型のフォトレジストREを用いて、斜め露光されたフォトレジストREが金属板28側に近づくに従い、フォトマスクの遮蔽部(メッキ用マスクとなる領域)よりも狭い範囲が化学反応を起こす。ネガ型のフォトレジストREは化学反応を起こすと現像液で溶解し難くなる。そのため、次に、現像液で化学反応を起こした領域以外のフォトレジストREを溶解することで、金属板28と反対側に向かうに従って先細のテーパー状のメッキ用マスクを形成することができる。   The method of manufacturing the submount 23 in which the insulating film 27a is formed is performed by the following method. With the negative photoresist RE, as the obliquely exposed photoresist RE approaches the metal plate 28, the range narrower than the shielding portion of the photomask (the area to be a mask for plating) causes a chemical reaction. The negative photoresist RE becomes difficult to dissolve in the developer when a chemical reaction occurs. Therefore, next, by dissolving the photoresist RE other than the area where the chemical reaction has occurred with the developer, it is possible to form a tapered plating mask in the direction opposite to the metal plate 28.

その後、金属板28上にダイヤモンド粒子を含む金属29をメッキすることで、金属板28と反対側に向かうに従って先細のテーパー状のテーパー部23aを有するサブマウント23が形成される。次に、ダイヤモンド粒子を含む金属29上にAlN、DLC、SiC、SiO2、SiNの何れかの絶縁膜27aをプラズマCVD法又はPVD法等で形成することで絶縁膜27aが形成されたサブマウント23が製造される。 Thereafter, a metal 29 containing diamond particles is plated on the metal plate 28 to form a submount 23 having a tapered portion 23a which is tapered toward the opposite side to the metal plate 28. Next, a submount on which the insulating film 27a is formed by forming the insulating film 27a of any of AlN, DLC, SiC, SiO 2 or SiN on the metal 29 containing diamond particles by plasma CVD method, PVD method or the like. 23 are manufactured.

その後、金属板28を剥離し、サブマウント23のテーパー部23aが先細となる側にチタンタングステン−金などの接合膜26aを、また、サブマウント23に形成された絶縁膜27a上にチタンタングステン−金などの接合膜26bを、それぞれスパッタ法又は蒸着法等で形成する。   Thereafter, the metal plate 28 is peeled off, and titanium tungsten-gold or other bonding film 26 a is formed on the side where the tapered portion 23 a of the submount 23 is tapered, and titanium tungsten- on the insulating film 27 a formed on the submount 23. A bonding film 26b of gold or the like is formed by sputtering or evaporation, respectively.

発光部21aは、サブマウント23のテーパー部23aが先細となる側に接合材25aを介して発光素子22を接合し、サブマウント23の絶縁膜27aが形成された側に接合材25bを介して放熱板24を接合することで形成される。   The light emitting portion 21a joins the light emitting element 22 via the bonding material 25a on the side where the tapered portion 23a of the submount 23 is tapered, and on the side where the insulating film 27a of the submount 23 is formed via the bonding material 25b. It is formed by joining the heat sink 24.

以上の構成とすることで、サブマウント23と放熱板24との間に絶縁膜27aを備えているので、発光素子22と放熱板24とが絶縁され、発光素子22に印加される電圧が放熱板24を介して外部に導通するのを防止することができる。   With the above configuration, since the insulating film 27a is provided between the submount 23 and the heat sink 24, the light emitting element 22 and the heat sink 24 are insulated, and the voltage applied to the light emitting element 22 dissipates heat. Conduction to the outside through the plate 24 can be prevented.

1…発光装置、11…基板、11a…第1の面、21,21a…発光部、22…発光素子、23…サブマウント、23a…テーパー部、24…放熱板、25a,25b…接合材、26a,26b,26c…接合膜、27,27a…絶縁膜、28…金属板、29…金属、31…接合フレーム、33…電極、35…貫通孔、40…蓋体、41…支持フレーム、43…透光性部材、51…接着材、61,63…接合材、71…封止材、L…垂線、S…収納空間、θ…角度。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Light emitting device, 11 ... Substrate, 11a ... 1st surface, 21, 21a ... Light emission part, 22 ... Light emitting element, 23 ... Submount, 23a ... Taper part, 24 Heat sink, 25a, 25b ... Bonding material, 26a, 26b, 26c: bonding film, 27, 27a: insulating film, 28: metal plate, 29: metal, 31: bonding frame, 33: electrode, 35: through hole, 40: lid, 41: support frame, 43 ... Translucent member, 51 ... adhesive, 61, 63 ... bonding material, 71 ... sealing material, L ... perpendicular, S ... storage space, θ ... angle.

Claims (7)

発光素子と、前記発光素子が接合されたサブマウントと、前記サブマウントが接合された放熱板と、を備えた発光装置であって、
前記サブマウントは、ダイヤモンド粒子を含む金属であり、
前記サブマウントは、前記発光素子の配置側に向かうに従って先細のテーパー状に形成されているテーパー部を備えていることを特徴とする発光装置。
A light emitting device comprising a light emitting element, a submount to which the light emitting element is joined, and a heat sink to which the submount is joined,
The submount is a metal containing diamond particles,
The light emitting device, wherein the submount includes a tapered portion that is formed in a tapered shape toward the arrangement side of the light emitting element.
請求項1に記載の発光装置において、
前記サブマウントの前記発光素子が接合された面の垂線とテーパー部との角度は、30度以上66度以下であることを特徴とする発光装置。
In the light emitting device according to claim 1,
A light emitting device characterized in that an angle between a perpendicular line of the surface of the submount to which the light emitting element is joined and a taper portion is 30 degrees or more and 66 degrees or less.
請求項1又は請求項2に記載の発光装置において、
前記発光素子と前記サブマウントとの間に絶縁膜を備えていることを特徴とする発光装置。
In the light emitting device according to claim 1 or 2,
A light emitting device comprising an insulating film between the light emitting element and the submount.
請求項1又は請求項2に記載の発光装置において、
前記サブマウントと前記放熱板との間に絶縁膜を備えていることを特徴とする発光装置。
In the light emitting device according to claim 1 or 2,
A light emitting device comprising an insulating film between the submount and the heat sink.
請求項3又は請求項4に記載の発光装置において、
前記絶縁膜は、AlN、DLC、SiC、SiO2、SiNの何れかであることを特徴とする発光装置。
In the light emitting device according to claim 3 or 4,
The light-emitting device, wherein the insulating film is any one of AlN, DLC, SiC, SiO 2 and SiN.
発光素子と、前記発光素子が接合されたサブマウントと、前記サブマウントが接合された放熱板と、を備えた発光装置の製造方法であって、
前記サブマウントは、ダイヤモンド粒子を含む金属であり、前記発光素子の配置側に向かうに従って先細のテーパー状に形成されているテーパー部を備え、メッキ法で形成されていることを特徴とする発光装置の製造方法。
A method of manufacturing a light emitting device, comprising: a light emitting element; a submount to which the light emitting element is joined; and a heat dissipation plate to which the submount is joined,
The light emitting device is characterized in that the submount is a metal containing diamond particles, and includes a tapered portion which is formed in a tapered shape toward the arrangement side of the light emitting element, and is formed by a plating method. Manufacturing method.
請求項6に記載の発光装置の製造方法において、
金属板上にフォトレジストでメッキ用マスクを形成する工程と、
前記金属板上にダイヤモンド粒子を含む金属をメッキする工程と、
前記ダイヤモンド粒子を含む金属上に絶縁膜を形成する工程と、を有することを特徴とする発光装置の製造方法。
In the method of manufacturing a light emitting device according to claim 6,
Forming a plating mask with a photoresist on a metal plate;
Plating a metal containing diamond particles on the metal plate;
And b. Forming an insulating film on the metal containing the diamond particles.
JP2017234016A 2017-12-06 2017-12-06 Light emitting device and manufacturing method of light emitting device Active JP7091640B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017234016A JP7091640B2 (en) 2017-12-06 2017-12-06 Light emitting device and manufacturing method of light emitting device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017234016A JP7091640B2 (en) 2017-12-06 2017-12-06 Light emitting device and manufacturing method of light emitting device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019102716A true JP2019102716A (en) 2019-06-24
JP7091640B2 JP7091640B2 (en) 2022-06-28

Family

ID=66977207

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017234016A Active JP7091640B2 (en) 2017-12-06 2017-12-06 Light emitting device and manufacturing method of light emitting device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7091640B2 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6906721B1 (en) * 2020-08-12 2021-07-21 三菱電機株式会社 Semiconductor laser device
CN114551253A (en) * 2022-04-28 2022-05-27 至芯半导体(杭州)有限公司 Packaging method and packaging device

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58207689A (en) * 1982-05-28 1983-12-03 Hitachi Ltd Semiconductor laser apparatus
JPH11103120A (en) * 1997-09-25 1999-04-13 Rohm Co Ltd Semiconductor laser device
JP2001332798A (en) * 2000-05-22 2001-11-30 Victor Co Of Japan Ltd Semiconductor laser device
WO2003040420A1 (en) * 2001-11-09 2003-05-15 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Sintered diamond having high thermal conductivity and method for producing the same and heat sink employing it
US20120237791A1 (en) * 2011-03-17 2012-09-20 Enlight Corporation Heat conductive composite substrate having heat dissipation properties and manufacturing method thereof
JP2015160996A (en) * 2014-02-27 2015-09-07 国立大学法人信州大学 Copper-diamond composite material and production method thereof

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011096432A1 (en) 2010-02-04 2011-08-11 日本精機宝石工業株式会社 Heat sink material

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58207689A (en) * 1982-05-28 1983-12-03 Hitachi Ltd Semiconductor laser apparatus
JPH11103120A (en) * 1997-09-25 1999-04-13 Rohm Co Ltd Semiconductor laser device
JP2001332798A (en) * 2000-05-22 2001-11-30 Victor Co Of Japan Ltd Semiconductor laser device
WO2003040420A1 (en) * 2001-11-09 2003-05-15 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Sintered diamond having high thermal conductivity and method for producing the same and heat sink employing it
US20120237791A1 (en) * 2011-03-17 2012-09-20 Enlight Corporation Heat conductive composite substrate having heat dissipation properties and manufacturing method thereof
JP2015160996A (en) * 2014-02-27 2015-09-07 国立大学法人信州大学 Copper-diamond composite material and production method thereof

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6906721B1 (en) * 2020-08-12 2021-07-21 三菱電機株式会社 Semiconductor laser device
WO2022034653A1 (en) * 2020-08-12 2022-02-17 三菱電機株式会社 Semiconductor laser device
US11699890B2 (en) 2020-08-12 2023-07-11 Mitsubishi Electric Corporation Semiconductor laser machine
CN114551253A (en) * 2022-04-28 2022-05-27 至芯半导体(杭州)有限公司 Packaging method and packaging device

Also Published As

Publication number Publication date
JP7091640B2 (en) 2022-06-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6294417B2 (en) Optical semiconductor device and method of manufacturing optical semiconductor device
US11222998B2 (en) Optical semiconductor apparatus and method of manufacturing optical semiconductor apparatus
JP6484588B2 (en) Light emitting device and light emitting device package
WO2013150715A1 (en) Semiconductor laser apparatus and method for manufacturing same
WO2012042685A1 (en) Semiconductor light emitting device and light source device
JP7284424B2 (en) light emitting device
JP4114557B2 (en) Light emitting device
JP2004152808A (en) Semiconductor light emitting device
JP2019079847A (en) Light-emitting device and lid for use therein
JP7091640B2 (en) Light emitting device and manufacturing method of light emitting device
JP2023014090A (en) Light source device
JP6225834B2 (en) Semiconductor light emitting device and manufacturing method thereof
JPH09260539A (en) Sub-mounter and semiconductor device as well as manufacture thereof
JP5031136B2 (en) Semiconductor laser device
JP6801950B2 (en) Through Silicon Via and Semiconductor Package
JP2004228239A (en) Package for storing light emitting element and light emitting device
JP6485518B2 (en) Semiconductor light emitting device and manufacturing method thereof
JP6932019B2 (en) Light emitting device
KR20140090418A (en) Substrate for optical device and light emitting diode package having the same
US10825974B2 (en) Light-emitting diode package and method of manufacture
JP7220156B2 (en) Submount and semiconductor laser device
GB2551154B (en) Light-emitting diode package and method of manufacture
JP2007013044A (en) Light emitting device
JP2023089984A (en) Light-emitting device
JP2004087752A (en) Optical semiconductor module and its manufacturing method

Legal Events

Date Code Title Description
RD05 Notification of revocation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7425

Effective date: 20180910

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20190920

RD07 Notification of extinguishment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7427

Effective date: 20200806

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200907

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20210916

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20210929

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20211005

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20211108

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20211202

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220215

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220414

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220517

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220530

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7091640

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150