JP2019102004A - 構造解析シミュレーションプログラム、構造解析シミュレーション方法及び情報処理装置 - Google Patents

Abstract

【課題】誤った構造解析の結果が得られることを抑制する。【解決手段】処理部１２は、物品１５の構造解析のシミュレーションを行う条件を物品１５に対応する設計データ１１ａと関連付けて設定し、物品１５の設計変更に対応して設計データ１１ａが更新された場合、設計データ１１ａと更新後の設計データ１１ｂのそれぞれにおける座標情報に基づいて、設計データ１１ａ，１１ｂのそれぞれに含まれる領域の対応関係を特定し、特定した対応関係に基づいて設計データ１１ｂに条件を関連付けて設定して、設計変更された物品１６の構造解析のシミュレーションを実行する。【選択図】図１

Description

本発明は、構造解析シミュレーションプログラム、構造解析シミュレーション方法及び情報処理装置に関する。

設計対象の物品の強度、振動、熱などに関する性能評価を行うために、物品に対応する設計データに基づいてコンピュータ上で物品の構造解析を行う手法が知られている。
構造解析が行われる際、設計データで表される物品の領域に、構造解析のシミュレーションを行う条件（境界条件など）が設定される。その後、物品の形状や解析の目的に応じた要素分割により有限要素が作成されシミュレーションが実行される。そして、シミュレーション結果が、表示装置に表示される。

従来、シミュレーションを行う条件は、物品の点、稜線、面などの形状ごとに区別されて物品の各領域に割り当てられたＩＤ（Identification Number）（以下形状ＩＤという）に紐付けられて設定されていた。たとえば、物品のある面には面ＩＤ＝１が設定され、別の面には面ＩＤ＝２が設定され、ある稜線には稜線ＩＤ＝１が設定され、別の稜線には稜線ＩＤ＝２が設定され、条件はこれらの形状ＩＤに紐付けされて設定されていた。このように、条件を形状ＩＤに紐付けして保持しておくことで、同じ物品に対して繰り返し構造解析を行う際の条件設定の手間が軽減される。

特開平１１−１２０３８３号公報

しかし、従来、設計変更で物品の形状が変わる場合（点や面などの数が増減する場合など）、設計データ上で定義されていた形状ＩＤが変わってしまう可能性があった。形状ＩＤが変わる場合、物品の領域に意図しない条件が設定され、誤った構造解析の結果が得られる問題がある。

１つの側面では、本発明は、誤った構造解析の結果が得られることを抑制する構造解析シミュレーションプログラム、構造解析シミュレーション方法及び情報処理装置を提供することを目的とする。

１つの実施態様では、物品の構造解析のシミュレーションを行う条件を前記物品に対応する第１の設計データと関連付けて設定し、前記物品の設計変更に対応して前記第１の設計データが更新された場合、前記第１の設計データと更新後の第２の設計データのそれぞれにおける座標情報に基づいて、前記第１の設計データと前記第２の設計データのそれぞれに含まれる領域の対応関係を特定し、特定した前記対応関係に基づいて前記第２の設計データに前記条件を関連付けて設定して、設計変更された前記物品の構造解析のシミュレーションを実行する、処理をコンピュータに実行させる構造解析シミュレーションプログラムが提供される。

また、１つの実施態様では、構造解析シミュレーション方法が提供される。また、１つの実施態様では、情報処理装置が提供される。

１つの側面では、誤った構造解析の結果が得られることを抑制できる。

第１の実施の形態の情報処理装置及び構造解析シミュレーション方法の一例を示す図である。 情報処理装置のハードウェア例を示すブロック図である。 情報処理装置の機能例を示すブロック図である。 情報処理装置が実行する処理の一例の流れを示すフローチャートである。 解析条件の設定例を示す図である。 更新前後の設計データの領域の対応関係の特定処理と、更新後の設計データへの解析条件の設定処理の一例の流れを示すフローチャートである。 解析条件が設定された稜線に一致する稜線が、更新後の設計データに複数ある場合の一例を示す図である。 一致する稜線を仮決定する方法２の例を示す図である。 一致する面を仮決定する方法２の例を示す図である。 一致する立体を仮決定する方法２の例を示す図である。

以下、発明を実施するための形態を、図面を参照しつつ説明する。
（第１の実施の形態）
図１は、第１の実施の形態の情報処理装置及び構造解析シミュレーション方法の一例を示す図である。

第１の実施の形態の情報処理装置１０は、物品の設計データに基づいて、その物品の構造解析シミュレーションを行う。なお、情報処理装置１０は、クライアントコンピュータでもよいしサーバコンピュータでもよい。

情報処理装置１０は、記憶部１１及び処理部１２を有する。
記憶部１１は、ＲＡＭ（Random Access Memory）などの揮発性の記憶装置、または、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）やフラッシュメモリなどの不揮発性の記憶装置である。

記憶部１１は、設計データ１１ａ，１１ｂ、解析条件設定情報１１ｃを記憶する。
設計データ１１ａ，１１ｂは、ある物品についての設計変更による更新前後の設計データである。設計データ１１ａは、更新前、設計データ１１ｂは、更新後の設計データである。設計データ１１ａ，１１ｂは、情報処理装置１０が設計データの作成用ソフトウェアを実行し、ユーザによる入力を受け付けて、その入力に基づいて、生成されたものでもよい。また、設計データ１１ａ，１１ｂは、たとえば、ネットワークを介して情報処理装置１０の外部の装置から取得されたものであってもよい。

解析条件設定情報１１ｃは、処理部１２によって設計データ１１ａ，１１ｂと関連付けて設定された、構造解析を行うための条件（以下解析条件という）の情報である。解析条件として、境界条件や、物品に含まれる領域の材質に関する条件などがある。境界条件として、物品内のある領域がどの方向に固定され、どの方向の移動が許容されるのかについての条件（拘束条件）や、物品内のある領域にどのような方向でどのくらいの力が働くのかについての条件（荷重条件）などがある。

処理部１２は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）やＤＳＰ（Digital Signal Processor）などのプロセッサである。ただし、処理部１２は、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）やＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）などの特定用途の電子回路を含んでもよい。プロセッサは、ＲＡＭなどのメモリに記憶されたプログラムを実行する。たとえば、構造解析シミュレーションプログラムが実行される。なお、複数のプロセッサの集合を「マルチプロセッサ」または単に「プロセッサ」ということがある。

処理部１２は、ある物品の構造解析のシミュレーションを行う解析条件をその物品に対応する設計データ１１ａと関連付けて設定する。たとえば、解析条件の設定の際、情報処理装置１０に接続される図示しない表示装置の画面上に物品の３次元画像が表示される。そして、ユーザが物品内の所望の領域（面や立体の他、以下では点や稜線も含むものとする）に指定した解析条件を、処理部１２が受け、その解析条件を設計データ１１ａの上記領域を示す座標情報に関連付けて設定する。これによって得られた解析条件設定情報１１ｃは、記憶部１１に記憶される。

また、処理部１２は、物品の設計変更に対応して設計データ１１ａが更新された場合、更新前後の設計データ１１ａ，１１ｂのそれぞれにおける座標情報に基づいて更新前後の設計データ１１ａ，１１ｂのそれぞれに含まれる領域の対応関係を特定する。そして、処理部１２は、特定した対応関係に基づいて更新後の設計データ１１ｂに上記解析条件を関連付けて設定して、設計変更された物品の構造解析シミュレーションを実行する。処理部１２は、構造解析シミュレーションの結果を図示しない表示装置の画面上に表示させてもよい。

図１には、第１の実施の形態の情報処理装置１０による構造解析シミュレーション方法の一例が示されている。
物品１５内の領域の１つである面１５ａに、解析条件として条件Ａが設定されている。いま、物品１５が設計変更によって物品１６に示すような形状になったとする。設計変更後の物品１６は設計変更前の物品１５と同様の形状の領域が多く、同様の形状の領域に対しては解析条件を引き継ぐことが望ましい。たとえば、設計変更前の物品１５の面１５ａは、設計変更後の物品１６の面１６ａと同じ形状である。そこで、処理部１２は、更新前後の設計データ１１ａ，１１ｂのそれぞれにおける座標情報に基づいて、このような領域の対応関係を特定する。

たとえば、設計データ１１ａに含まれる面１５ａを表す座標情報１１ａ１は、稜線１７ａ，１７ｂ，１７ｃ，１７ｄを表す座標情報と、面１５ａの代表点を表す座標情報とを含む。

稜線１７ａを表す座標情報は、たとえば、稜線１７ａの端点１８ａ，１８ｂを表す座標情報と稜線１７ａの中間点１８ｃを表す座標情報を含む。稜線１７ｂを表す座標情報は、たとえば、稜線１７ｂの端点１８ａ，１８ｂを表す座標情報と稜線１７ｂの中間点１８ｄを表す座標情報を含む。稜線１７ｃを表す座標情報は、たとえば、稜線１７ｃの端点１８ｅ，１８ｆを表す座標情報と稜線１７ｃの中間点１８ｇを表す座標情報を含む。稜線１７ｄを表す座標情報は、たとえば、稜線１７ｄの端点１８ｅ，１８ｆを表す座標情報と稜線１７ｄの中間点１８ｈの座標情報を含む。

代表点１８ｉは面１５ａ上になくてもよく、図１の例では、リング状の形状である面１５ａの代表点１８ｉは、稜線１７ａ，１７ｂによる円の中心点である。
処理部１２は、更新後の設計データ１１ｂから、上記のような面１５ａを表す座標情報１１ａ１に対応する座標情報をもつ領域を探す。たとえば、処理部１２は、稜線１７ａ〜１７ｂ及び代表点１８ｉを表す座標情報がすべて一致する座標情報をもつ領域を、面１５ａの座標情報１１ａ１に対応する座標情報をもつ領域として決定する。

たとえば、処理部１２が、座標情報１１ａ１に一致する設計データ１１ｂにおける座標情報１１ａ２を検出できたとする。つまり、処理部１２が、設計変更前の物品１５の面１５ａに対応する、面１６ａを決定できたとする。その場合、処理部１２は、設計データ１１ｂ上で、面１６ａに面１５ａと同じ解析条件（すなわち条件Ａ）を設定する。設計データ１１ｂに対して設定された解析条件の情報は、たとえば、記憶部１１に記載される。このとき、処理部１２は、解析条件設定情報１１ｃを更新してもよいし、更新前の設計データ１１ａに対応した解析条件設定情報１１ｃを残してもよい。

なお、処理部１２は、座標情報１１ａ１と座標情報１１ａ２が完全に一致していなくても、面１６ａを面１５ａに対応する領域であると仮決定してもよい。その場合、処理部１２は、面１６ａが仮決定された領域である旨を、図示しない表示装置の画面上に表示させて、ユーザに面１６ａに面１５ａに設定された解析条件を引き継がせるか否かを選択させてもよい。

以上のように、第１の実施の形態の情報処理装置１０によれば、更新前後の設計データ１１ａ，１１ｂの座標情報から特定した設計データ１１ａ，１１ｂの領域の対応関係に基づいて、更新後の設計データ１１ｂに解析条件が設定される。これにより、形状ＩＤに解析条件を紐付けする手法で発生するような、更新後の設計データ１１ｂに意図しない解析条件が設定されることを防ぐことができ、誤った構造解析の結果が得られることを抑制できる。また、設計変更に伴う再解析時に解析条件を更新後の設計データ１１ｂに設定しなおす手間が少なくなる。

なお、形状ＩＤが変わる要因として、設計変更の他にも、設計データ作成用のソフトウェア上でのユーザ操作（たとえば、複数の物品の設計データを同時に編集するなどの操作）など、様々な要因がある。このような要因で形状ＩＤが変わったとしても、情報処理装置１０によれば、座標情報から特定した設計データ１１ａ，１１ｂの領域の対応関係に基づいて、更新後の設計データ１１ｂに解析条件が設定されるため、解析条件の誤設定を防げる。

また、形状ＩＤを保持しなくてもよくなり、形状ＩＤを保持するためのメモリ領域をもたなくてすむようになる。
（第２の実施の形態）
次に、第２の実施の形態を説明する。

図２は、情報処理装置のハードウェア例を示すブロック図である。
情報処理装置２０は、ＣＰＵ２１、ＲＡＭ２２、ＨＤＤ２３、画像信号処理部２４、入力信号処理部２５、媒体リーダ２６及び通信インタフェース２７を有する。上記ユニットは、バスに接続されている。

ＣＰＵ２１は、プログラムの命令を実行する演算回路を含むプロセッサである。ＣＰＵ２１は、ＨＤＤ２３に記憶されたプログラムやデータの少なくとも一部をＲＡＭ２２にロードし、プログラムを実行する。なお、ＣＰＵ２１は複数のプロセッサコアを備えてもよく、情報処理装置２０は複数のプロセッサを備えてもよく、以下で説明する処理を複数のプロセッサまたはプロセッサコアを用いて並列に実行してもよい。また、複数のプロセッサの集合（マルチプロセッサ）を「プロセッサ」と呼んでもよい。

ＲＡＭ２２は、ＣＰＵ２１が実行するプログラムやＣＰＵ２１が演算に用いるデータを一時的に記憶する揮発性の半導体メモリである。なお、情報処理装置２０は、ＲＡＭ以外の種類のメモリを備えてもよく、複数個のメモリを備えてもよい。

ＨＤＤ２３は、ＯＳ（Operating System）やミドルウェアやアプリケーションソフトウェアなどのソフトウェアのプログラム、及び、データを記憶する不揮発性の記憶装置である。プログラムには、たとえば、構造解析シミュレーションを情報処理装置２０に実行させる構造解析シミュレーションプログラムが含まれる。なお、情報処理装置２０は、フラッシュメモリやＳＳＤ（Solid State Drive）などの他の種類の記憶装置を備えてもよく、複数の不揮発性の記憶装置を備えてもよい。

画像信号処理部２４は、ＣＰＵ２１からの命令にしたがって、情報処理装置２０に接続されたディスプレイ２４ａに画像を出力する。ディスプレイ２４ａとしては、ＣＲＴ（Cathode Ray Tube）ディスプレイ、液晶ディスプレイ（ＬＣＤ：Liquid Crystal Display）、プラズマディスプレイ（ＰＤＰ：Plasma Display Panel）、有機ＥＬ（ＯＥＬ：Organic Electro-Luminescence）ディスプレイなどを用いることができる。

入力信号処理部２５は、情報処理装置２０に接続された入力デバイス２５ａから入力信号を取得し、ＣＰＵ２１に出力する。入力デバイス２５ａとしては、マウスやタッチパネルやタッチパッドやトラックボールなどのポインティングデバイス、キーボード、リモートコントローラ、ボタンスイッチなどを用いることができる。また、情報処理装置２０に、複数の種類の入力デバイスが接続されていてもよい。

媒体リーダ２６は、記録媒体２６ａに記録されたプログラムやデータを読み取る読み取り装置である。記録媒体２６ａとして、たとえば、磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディスク（ＭＯ：Magneto-Optical disk）、半導体メモリなどを使用できる。磁気ディスクには、フレキシブルディスク（ＦＤ：Flexible Disk）やＨＤＤが含まれる。光ディスクには、ＣＤ（Compact Disc）やＤＶＤ（Digital Versatile Disc）が含まれる。

媒体リーダ２６は、たとえば、記録媒体２６ａから読み取ったプログラムやデータを、ＲＡＭ２２やＨＤＤ２３などの他の記録媒体にコピーする。読み取られたプログラムは、たとえば、ＣＰＵ２１によって実行される。なお、記録媒体２６ａは、可搬型記録媒体であってもよく、プログラムやデータの配布に用いられることがある。また、記録媒体２６ａやＨＤＤ２３を、コンピュータ読み取り可能な記録媒体ということがある。

通信インタフェース２７は、ネットワーク２７ａに接続され、ネットワーク２７ａを介して他の情報処理装置と通信を行うインタフェースである。通信インタフェース２７は、スイッチなどの通信装置とケーブルで接続される有線通信インタフェースでもよいし、基地局と無線リンクで接続される無線通信インタフェースでもよい。

このような情報処理装置２０は、クライアントコンピュータでもよいしサーバコンピュータでもよい。
次に、情報処理装置２０の機能及び処理手順を説明する。

図３は、情報処理装置の機能例を示すブロック図である。
情報処理装置２０は、解析条件設定部３１、対応関係特定部３２、シミュレーション実行部３３、表示部３４、設計データ記憶部３５、解析条件情報記憶部３６、仮決定領域記憶部３７を有する。解析条件設定部３１、対応関係特定部３２、シミュレーション実行部３３、表示部３４は、たとえば、ＣＰＵ２１が実行するプログラムモジュールを用いて実装できる。設計データ記憶部３５、解析条件情報記憶部３６、仮決定領域記憶部３７は、たとえば、ＲＡＭ２２またはＨＤＤ２３に確保した記憶領域を用いて実装できる。

解析条件設定部３１は、構造解析を行う物品の設計データと関連付けて、解析条件の設定を行う。また、解析条件設定部３１は、対応関係特定部３２が特定した、更新前後の設計データのそれぞれに含まれる領域の対応関係に基づいて、更新後の設計データに上記解析条件を設定する。

対応関係特定部３２は、物品の設計変更に対応して設計データが更新された場合、更新前後の設計データのそれぞれにおける座標情報に基づいて更新前後の設計データのそれぞれに含まれる領域の対応関係を特定する。

シミュレーション実行部３３は、設計変更された物品の構造解析シミュレーションを実行する。
表示部３４は、画像信号処理部２４を制御して、構造解析シミュレーションの結果をディスプレイ２４ａの画面上に表示させる。また、表示部３４は、後述する処理で仮決定された領域の情報をディスプレイ２４ａの画面上に表示させる。

設計データ記憶部３５は、物品の設計変更による更新前後の設計データを記憶する。
解析条件情報記憶部３６は、設計データに関連付けて設定された解析条件の情報を記憶する。

仮決定領域記憶部３７は、後述する処理で仮決定された領域の情報を記憶する。
図４は、情報処理装置が実行する処理の一例の流れを示すフローチャートである。
（Ｓ１０）解析条件設定部３１は、たとえば、ＨＤＤ２３に記憶された設計データを読み込む。

（Ｓ１１）解析条件設定部３１は、読み込んだ設計データに対応する物品の構造についての新規解析を行うか、再解析を行うかについての指示信号の入力を受け付ける。指示信号は、ユーザによって、入力デバイス２５ａを用いて入力される。

（Ｓ１２）解析条件設定部３１は、入力された指示信号に基づいて、新規解析が行われるのか否かを判定する。新規解析が行われる場合には、ステップＳ１３の処理が行われ、再解析が行われる場合には、ステップＳ１４の処理が行われる。

（Ｓ１３）新規解析が行われる場合、解析条件設定部３１は、構造解析を行う物品の設計データと関連付けて、解析条件の設定を行う。たとえば、解析条件設定部３１は、画像信号処理部２４を制御してディスプレイ２４ａの画面上に物品の３次元画像を表示させる。そして、解析条件設定部３１は、ユーザが入力デバイス２５ａを用いて物品内の所望の領域（面や立体の他、以下では点や稜線も含むものとする）に指定した解析条件を、入力信号処理部２５を介して受ける。そして、解析条件設定部３１は、その解析条件を設計データの上記領域を表す座標情報に関連付けて設定する。

図５は、解析条件の設定例を示す図である。
図５に示す物品１５は、図１に示したものと同じである。物品１５は、面１５ａ，１５ｂ，１５ｃ，１５ｄ，１５ｅ，１５ｆ，１５ｇ，１５ｈ，１５ｉ，１５ｊ，１５ｋ，１５ｌ，１５ｍなどの複数の面を有する。たとえば、ユーザは、画面上に表示される物品１５の３次元画像において、実施する構造解析の種類に応じて、解析条件を設定する領域とその解析条件の内容を、入力デバイス２５ａを用いて指定する。

図５の例では、立体である物品１５の材質を“ＳＳ４００”（鉄鋼材の一種）とするという解析条件が設定されている。また、面１５ａに対して、−Ｘ方向に１０００Ｎの一様分布荷重を加えるという解析条件が設定されている。また、面１５ｌ，１５ｍに対して、完全拘束（全方向に対して固定されている）、という解析条件が設定されている。

解析条件設定部３１は、このように設定された解析条件の情報を、解析条件情報記憶部３６に記憶する。
ステップＳ１３の処理後、ステップＳ１８の処理が行われる。

（Ｓ１４）一方、再解析が行われる場合、対応関係特定部３２は、設計変更前の物品に対応する設計データ（更新前の設計データ）を、たとえば、ＨＤＤ２３から読み込み済であるか否かを判定する。読み込み済でない場合には、ステップＳ１５の処理が行われ、読み込み済である場合には、ステップＳ１６の処理が行われる。

（Ｓ１５）対応関係特定部３２は、更新前の設計データを、たとえば、ＨＤＤ２３から読み込む。このとき、対応関係特定部３２は、更新前の設計データを選択させる画面をディスプレイ２４ａに表示させて、選択された設計データをＨＤＤ２３から読み込んでもよい。

（Ｓ１６）対応関係特定部３２は、更新前後の設計データのそれぞれにおける座標情報に基づいて更新前後の設計データのそれぞれに含まれる領域の対応関係を特定する。
（Ｓ１７）解析条件設定部３１は、特定した対応関係に基づいて更新後の設計データに解析条件を関連付けて設定する。

上記のステップＳ１６，Ｓ１７の処理の例については、後述する。
（Ｓ１８）シミュレーション実行部３３は、設計データと、設計データに設定された解析条件に基づいて、物品の構造解析シミュレーションを実行する。

（Ｓ１９）表示部３４は、画像信号処理部２４を制御して、構造解析シミュレーションの結果をディスプレイ２４ａの画面上に表示させる。
以下、更新前後の設計データの領域の対応関係の特定処理と、更新後の設計データへの解析条件の設定処理の一例を説明する。

図６は、更新前後の設計データの領域の対応関係の特定処理と、更新後の設計データへの解析条件の設定処理の一例の流れを示すフローチャートである。
（Ｓ２０）対応関係特定部３２は、更新前の設計データの領域に設定された解析条件を１つ選択する。たとえば、図５に示したように、物品１５の設計データの領域には、解析条件として、材質、荷重または拘束に関する条件が設定されている。対応関係特定部３２は、これらの解析条件のうちの１つを選択する。

（Ｓ２１）次に対応関係特定部３２は、選択した解析条件が設定された領域を１つ選択する。対応関係特定部３２は、ステップＳ２０の処理で、たとえば、図５に示したような解析条件のうち、“拘束：完全拘束”という解析条件を選択した場合、その解析条件が設定された領域は、面１５ｌと面１５ｍの２つであるため、そのうちの１つを選択する。

（Ｓ２２）対応関係特定部３２は、選択した領域に一致する更新後の設計データの領域の決定処理を行う。
以下、その決定処理の例を説明する。なお、解析条件が設定される領域は、面や立体の他、点や稜線も含むものとする。

（点の一致決定処理）
更新前の設計データにおいて解析条件が設定された点がある場合、対応関係特定部３２は、更新後の設計データにおいて、座標情報がその点に一致する点を決定する。

なお、たとえば、２つの物品による接触面上の点は物品ごとに定義されており、同じ座標情報をもつ点が複数、設計データに含まれる場合がある。その場合、対応関係特定部３２は、解析条件が設定された点が含まれる立体に座標情報が一致する立体に含まれる点を、解析条件が設定された点と一致する点として決定する。対応関係特定部３２は、解析条件が設定された点が含まれる立体がない場合、その点が含まれる面（面がない場合、稜線）に座標情報が一致する、更新後の設計データに含まれる面（または稜線）に含まれる点を、一致する点として決定する。このような処理で一致する立体、面、または稜線がない場合には、一致点の決定は行われない（未決定となる）。なお、立体、面及び稜線の一致決定処理については後述する。

また、更新前後の設計データが、それぞれ１つの点からなるモデルを表すものである場合には、対応関係特定部３２は、上記のような座標情報を用いた一致判定を行わずに、更新後の設計データの点を、解析条件が設定された点に一致する点であると決定する。

（稜線の一致決定処理）
更新前の設計データにおいて解析条件が設定された稜線がある場合、対応関係特定部３２は、更新後の設計データにおいて、その稜線の端点と中間点（中間点の数は任意）と、座標情報が一致する端点と中間点をもつ稜線を決定する。

なお、解析条件が設定された稜線に一致する、更新後の設計データに含まれる稜線を決定する際には、稜線のタイプ（直線、円弧、スプラインなど）の一致や、稜線の長さの一致を決定の条件に加えてもよい。稜線のタイプは、設計データに含まれる稜線の情報によって判別できる。円弧である稜線の情報には、半径の情報が含まれ、スプラインである稜線の情報には制御点の情報が含まれるためである。

また、たとえば、点と同様に、２つの物品の接触面の稜線は物品ごとに定義されており、同じ座標情報で定義される稜線が複数、設計データに含まれる場合がある。その場合、対応関係特定部３２は、解析条件が設定された稜線が含まれる立体に座標情報が一致する立体に含まれる稜線を、解析条件が設定された稜線に一致する稜線として決定する。

図７は、解析条件が設定された稜線に一致する稜線が、更新後の設計データに複数ある場合の一例を示す図である。
たとえば、物品４０において、物品１５との接触面に存在する稜線４０ａに、ある解析条件が設定されているとする。このような場合、設計変更後の物品１６，４１において、物品４０の稜線４０ａと一致する稜線として、物品１６に含まれる稜線１６ｂと物品４１に含まれる稜線４１ａの両方が検出される可能性がある。なお、図７では、説明の都合上、稜線１６ｂ，４１ａは離れて図示されているが、両者は一致している。

そこで、対応関係特定部３２は、稜線４０ａが含まれる立体、つまり、物品４０と座標情報が一致する立体を、更新後の設計データから探索する。物品４１が、物品４０に座標情報が一致する立体であると判定された場合、対応関係特定部３２は、物品４１に属する稜線４１ａを、稜線４０ａに一致する稜線であると決定する。

なお、対応関係特定部３２は、解析条件が設定された稜線が含まれる立体がない場合、その稜線が含まれる面と座標情報が一致する、更新後の設計データに含まれる面に含まれる稜線を、一致する稜線として決定する。このような処理で一致する立体または面がない場合には、一致する稜線の決定は行われない（未決定となる）。なお、立体及び面の一致決定処理については後述する。

更新前後の設計データが、それぞれ１つの稜線からなるモデルを表すものである場合には、対応関係特定部３２は、上記のような座標情報を用いた一致判定を行わず、更新後の設計データの稜線を、解析条件が設定された稜線に一致する稜線であると決定する。

（面の一致決定処理）
更新前の設計データにおいて解析条件が設定された面がある場合、対応関係特定部３２は、更新後の設計データにおいて、その面の全ての稜線と、面の代表点（代表点の数は任意）と、座標情報が一致する稜線と、面の代表点をもつ面を決定する。稜線や代表点の一致を決定する処理は、上記の点の一致決定処理や稜線の一致決定処理と同様の処理を用いて行われる。

なお、解析条件が設定された面に一致する、更新後の設計データに含まれる面を決定する際には、面のタイプ（平面、円筒面、円錐面など）の一致や、面の面積の一致を決定の条件に加えてもよい。面のタイプは、設計データに含まれる面の情報によって判別できる。

また、たとえば、点や稜線と同様に、２つの物品の接触面は物品ごとに定義されており、同じ座標情報で定義される面が複数、設計データに含まれる場合がある。その場合、対応関係特定部３２は、解析条件が設定された面が含まれる立体に、座標情報が一致する、更新後の設計データに含まれる立体に含まれる面を、一致する面として決定する。一致する立体がない場合には、一致する面の決定は行われない（未決定となる）。なお、立体の一致決定処理については後述する。

更新前後の設計データが、それぞれ１つの面からなるモデルを表すものである場合には、対応関係特定部３２は、上記のような座標情報を用いた一致判定を行わずに、更新後の設計データの面を、解析条件が設定された面に一致する面であると決定する。

（立体の一致決定処理）
更新前の設計データにおいて解析条件が設定された立体がある場合、対応関係特定部３２は、更新後の設計データにおいて、その立体の全ての面と座標情報が一致する面をもつ立体を決定する。面の一致を決定する処理は、上記の面の一致決定処理と同様の処理を用いて行われる。

なお、解析条件が設定された立体に一致する、更新後の設計データに含まれる立体を決定する際には、立体のタイプ（直方体、立方体、円柱など）の一致、立体の体積の一致、立体の重心、内部の点の一致などを決定の条件に加えてもよい。立体のタイプは、設計データに含まれる立体の情報によって判別できる。

なお、解析条件が設定された立体に一致する、立体が更新後の設計データに複数存在する場合、一致する立体の決定は行われない（未決定となる）。
更新前後の設計データが、それぞれ１つの立体からなるモデルを表すものである場合には、対応関係特定部３２は、上記のような座標情報を用いた一致判定を行わずに、更新後の設計データの立体を、解析条件が設定された立体に一致する立体であると決定する。

（Ｓ２３）対応関係特定部３２は、上記の処理によって、解析条件が設定された領域に一致する、更新後の設計データの領域が決定できたか否かを判定する。解析条件が設定された領域に一致する、更新後の設計データの領域が決定できた場合には、ステップＳ２４の処理が行われ、決定できなかった場合には、ステップＳ２５の処理が行われる。

（Ｓ２４）解析条件設定部３１は、対応関係特定部３２が決定した、解析条件が設定された領域に一致する更新後の設計データの領域に、その解析条件を設定する。
（Ｓ２５）解析条件が設定された領域に一致する更新後の設計データの領域が決定できなかった場合、対応関係特定部３２は、更新後の設計データにおいて、解析条件を設定する領域を仮決定する。以下、その仮決定処理の例を説明する。

対応関係特定部３２は、座標情報に基づいて、更新後の設計データから、解析条件が設定された更新前の設計データの領域と類似する（たとえば共通の要素をもつ）領域を特定し、特定した領域を、解析条件を設定する領域として仮決定する。たとえば、対応関係特定部３２は、領域の形状ごとに以下に示すような処理を行う。

（点の一致仮決定処理）
ステップＳ２２の処理で、解析条件が設定された点に一致する、更新後の設計データに含まれる点が決定できなかった場合、対応関係特定部３２は、解析条件が設定された点に一番近い座標情報で表される点を、更新後の設計データから抽出する。そして、対応関係特定部３２は、その抽出した点を、解析条件を設定する点として仮決定する。対応関係特定部３２は、解析条件が設定された点と、仮決定した点との間の距離に応じて、一致の度合いを示す値を決定してもよい。対応関係特定部３２は、異なる一致の度合いを示す値が関連付けられた複数の点を仮決定対象としてもよい。

（稜線の一致仮決定処理）
ステップＳ２２の処理で、解析条件が設定された稜線に一致する、更新後の設計データに含まれる稜線が決定できなかった場合、対応関係特定部３２は、たとえば、以下の３つの何れかの方法で、解析条件を設定する稜線を仮決定する。

（方法１）対応関係特定部３２は、解析条件が設定された稜線の各点（端点または中間点）と座標情報が一致する点をもっとも多くもつ稜線を、仮決定対象とする。なお、このとき対応関係特定部３２は、解析条件が設定された稜線の各点に対する仮決定対象の点を用いてもよい。仮決定できなくなる稜線が多くなる問題を防ぐためである。以下の方法２でも同じである。

（方法２）解析条件が設定された稜線の各点と座標情報が一致する点をもつ複数の稜線が、更新後の設計データに存在するものとする。また、複数の稜線に含まれる点のうち、解析条件が設定された稜線の各点と座標情報が一致する点以外で、互いに座標情報が一致する点があるものとする。また、複数の稜線によるグループ全体の長さ（各稜線の長さの和）が、解析条件が設定された稜線の長さと一致するものとする。その場合、対応関係特定部３２は、そのグループを、解析条件が設定された稜線と一致するとみなす稜線として仮決定する。

なお、対応関係特定部３２は、グループ全体の長さが、解析条件が設定された稜線の長さと完全に一致していなくても、もっとも長さが近いグループを、仮決定対象としてもよい。

図８は、一致する稜線を仮決定する方法２の例を示す図である。
更新前の設計データにおいて図８に示すような端点５１ａ，５１ｂをもつ稜線５０が定義されていても、物品の設計変更時などに、稜線の定義が変更され、更新後の設計データでは、稜線５０の代わりに２つの稜線５２ａ，５２ｂが定義されている場合がある。稜線５０に解析条件が設定された場合、対応関係特定部３２は以下の処理を行う。

対応関係特定部３２は、端点５１ａと座標情報が一致する端点５３ａをもつ稜線５２ａと、端点５１ｂと座標情報が一致する端点５３ｃをもつ稜線５２ｂを検出した場合、稜線５２ａ，５２ｂの他方の端点を表す座標情報が互いに一致するか否かを判定する。図８の例の場合、稜線５２ａ，５２ｂの端点５３ｂは共有されているので互いに一致する。この場合、対応関係特定部３２は、稜線５２ａ，５２ｂの長さの和を算出する。そして、対応関係特定部３２は、算出した長さの和が、稜線５０の長さと一致した場合、稜線５２ａ，５２ｂによるグループを、解析条件を設定する稜線として仮決定する。

このような処理により、物品の設計変更時に、稜線の定義が変更された場合にも、上記のようなグループに対して、後述するように解析条件の設定の機会が与えられ、解析条件を設定可能となる。

なお、対応関係特定部３２は、上記方法２において、グループ全体の長さが、解析条件が設定された稜線の長さと異なる場合には、方法１で得られた稜線を仮決定対象とする。また、対応関係特定部３２は、上記方法２において、グループ全体の長さが、解析条件が設定された稜線の長さに一致する場合には、方法１で得られた稜線を仮決定対象とせず、方法２で得られたグループを仮決定対象とする。

また、上記のように稜線の定義が、複数の稜線に分割されるように変更されるのとは逆に、複数の稜線が１つの稜線に変更される場合、対応関係特定部３２は、解析条件が設定された複数の稜線のそれぞれに対して、共通する１つの稜線を仮決定対象としてもよい。

たとえば、同じ解析条件が設定された複数の稜線のそれぞれに含まれる点と座標情報が一致する点をもつ１つの稜線が、更新後の設計データに存在するものとする。また複数の稜線の各点のうち、更新後の設計データの稜線の点と座標情報が一致する点以外に、互いに座標情報が一致する点があるものとする。また、解析条件が設定された複数の稜線によるグループ全体の長さ（各稜線の長さの和）が、更新後の設計データに存在する１つの稜線の長さと一致するものとする。その場合、対応関係特定部３２は、更新後の設計データに存在するその稜線を、解析条件が設定された複数の稜線と一致するとみなす稜線として仮決定する。たとえば、図８の稜線５２ａ，５２ｂが、解析条件が設定された稜線、稜線５０が更新後の設計データに含まれる稜線である場合、このような処理が行われる。

（方法３）対応関係特定部３２は、解析条件が設定された稜線の各点（端点または中間点）と座標情報が一致する点をもつ稜線が、更新後の設計データに含まれない場合、稜線のタイプに基づいて、たとえば、以下のような処理を行う。

解析条件が設定された稜線が直線である場合、対応関係特定部３２は、更新後の設計データに含まれる稜線のうち、解析条件が設定された稜線に平行で、かつ、その稜線にもっとも距離が近い稜線を仮決定対象とする。

解析条件が設定された稜線が直線以外である場合、対応関係特定部３２は、たとえば、以下のように仮決定対象を決める。対応関係特定部３２は、更新後の設計データに含まれる稜線のうち、解析条件が設定された稜線にタイプと長さが一致し、かつ、その稜線に対して平行な位置関係にあるものの中で、もっとも距離が近い稜線を仮決定対象とする。または、対応関係特定部３２は、更新後の設計データに含まれる稜線のうち、解析条件が設定された稜線にタイプが一致し、かつ、その稜線に対して同一平面上にあるものの中で、もっとも距離が近い稜線を仮決定対象とする。

対応関係特定部３２は、解析条件が設定された稜線と、仮決定した稜線との一致の度合いを示す値を決定してもよい。たとえば、対応関係特定部３２は、解析条件が設定された稜線の各点（端点または中間点）と座標情報が一致する点をより多くもつ稜線については、一致の度合いを高く設定する。また、対応関係特定部３２は、解析条件が設定された稜線の長さと仮決定されたグループの長さの比、解析条件が設定された稜線と仮決定された稜線の距離の近さによって、一致の度合いを決定してもよい。たとえば、一致の度合いは０から１の値で数値化される。１に近いほど一致の度合いが高い。また、対応関係特定部３２は、上記のような複数の条件のそれぞれに対応して決定された一致の度合いの値を乗算したものを、最終的な一致の度合いとして出力してもよい。

なお、対応関係特定部３２は、異なる一致の度合いを示す値が関連付けられた複数の稜線を仮決定対象としてもよい。
（面の一致仮決定処理）
ステップＳ２２の処理で、解析条件が設定された面に一致する、更新後の設計データに含まれる面が決定できなかった場合、対応関係特定部３２は、たとえば、以下の３つの何れかの方法で、解析条件を設定する面を仮決定する。

（方法１）対応関係特定部３２は、解析条件が設定された面の各稜線と座標情報が一致する稜線をもっとも多くもつ面を、仮決定対象とする。なお、このとき対応関係特定部３２は、解析条件が設定された面の各稜線に対する仮決定対象の稜線を用いてもよい。仮決定できなくなる面が多くなる問題を防ぐためである。以下の方法２でも同じである。

（方法２）解析条件が設定された面の複数の稜線のうちの１つまたは複数と座標情報が一致する稜線をもつ面が複数、更新後の設計データに存在し、かつそれらの面の別の稜線同士の座標情報が一致しているものとする。また、それらの面によるグループ全体の面積が、解析条件が設定された面の面積と一致するものとする。その場合、対応関係特定部３２は、そのグループを、解析条件が設定された面と一致するとみなす稜線として仮決定する。

なお、対応関係特定部３２は、グループ全体の面積が、解析条件が設定された面積と完全に一致していなくても、もっとも面積が近いグループを、仮決定対象としてもよい。
図９は、一致する面を仮決定する方法２の例を示す図である。

更新前の設計データにおいて図９に示すような稜線６１ａ，６１ｂをもつ面６０が定義されていても、物品の設計変更時に、面の定義が変更され、更新後の設計データでは、面６０の代わりに２つの面６２ａ，６２ｂが定義されている場合がある。面６０に解析条件が設定された場合、対応関係特定部３２は以下の処理を行う。

対応関係特定部３２は、稜線６１ａと座標情報が一致する稜線６３ａをもつ面６２ａと、稜線６１ｂと座標情報が一致する稜線６３ｂをもつ面６２ｂを検出した場合、面６２ａ，６２ｂの別の稜線を表す座標情報が互いに一致するか否かを判定する。図９の例の場合、面６２ａ，６２ｂの稜線６３ｃは共有されているので互いに一致する。この場合、対応関係特定部３２は、面６２ａ，６２ｂの面積の和を算出する。そして、対応関係特定部３２は、算出した面積の和が、面６０の面積と一致した場合、面６２ａ，６２ｂによるグループを、解析条件を設定する面として仮決定する。

このような処理により、物品の設計変更時に、面の定義が変更された場合にも、上記のようなグループに対して、後述するように解析条件の設定の機会が与えられ、解析条件を設定可能となる。

なお、対応関係特定部３２は、上記方法２において、グループ全体の面積が、解析条件が設定された面の面積と異なる場合には、方法１で得られた面を仮決定対象とする。また、対応関係特定部３２は、上記方法２において、グループ全体の面積が、解析条件が設定された面の面積に一致する場合には、方法１で得られた面を仮決定対象とせず、方法２で得られたグループを仮決定対象とする。

また、上記のように面の定義が、複数の面に分割されるように変更されるのとは逆に、複数の面が１つの面に変更される場合、対応関係特定部３２は、解析条件が設定された複数の面のそれぞれに対して、共通する１つの面を仮決定対象としてもよい。

たとえば、同じ解析条件が設定された複数の面のそれぞれに含まれる稜線と座標情報が一致する稜線をもつ１つの面が、更新後の設計データに存在するものとする。また複数の面の各稜線のうち、更新後の設計データの面の稜線と座標情報が一致する稜線以外に、互いに座標情報が一致する稜線があるものとする。また、解析条件が設定された複数の面によるグループ全体の大きさ（各面の面積の和）が、更新後の設計データに存在する１つの面の大きさと一致するものとする。その場合、対応関係特定部３２は、更新後の設計データに存在するその面を、解析条件が設定された複数の面と一致するとみなす面として仮決定する。たとえば、図９の面６２ａ，６２ｂが、解析条件が設定された面、面６０が更新後の設計データに含まれる面である場合、このような処理が行われる。

（方法３）対応関係特定部３２は、解析条件が設定された面の各稜線と座標情報が一致する稜線をもつ面が、更新後の設計データに含まれない場合、面のタイプに基づいて、たとえば、以下のような処理を行う。

解析条件が設定された面が平面である場合、対応関係特定部３２は、更新後の設計データに含まれる面のうち、解析条件が設定された面に平行で、かつ、その面にもっとも距離が近い面を仮決定対象とする。

解析条件が設定された面が平面以外（曲面）である場合、対応関係特定部３２は、たとえば、以下のように仮決定対象を決める。対応関係特定部３２は、更新後の設計データに含まれる曲面のうち、解析条件が設定された曲面にタイプと面積が一致し、かつ、その曲面に対して平行な位置関係にあるものの中で、もっとも距離が近い曲面を仮決定対象とする。または、対応関係特定部３２は、更新後の設計データに含まれる曲面のうち、解析条件が設定された曲面にタイプが一致し、かつ、その曲面に対して平行な位置関係にあるものの中で、もっとも距離が近い曲面を仮決定対象とする。または、対応関係特定部３２は、更新後の設計データに含まれる曲面のうち、解析条件が設定された曲面にタイプが一致し、かつ、その曲面と同一曲面上にあるものの中で、もっとも距離が近い曲面を仮決定対象とする。解析条件が設定された曲面と同一曲面上にあるものの中で、もっとも距離が近い曲面とは、たとえば、解析条件が設定された曲面と重複する面積が一番大きいもの、重心の位置が一番近いものなどである。

対応関係特定部３２は、解析条件が設定された面と、仮決定した面との一致の度合いを示す値を決定してもよい。たとえば、対応関係特定部３２は、解析条件が設定された面の各稜線と座標情報が一致する稜線をより多くもつ面については、一致の度合いを高く設定する。また、対応関係特定部３２は、解析条件が設定された面の面積と仮決定されたグループの面積の比、解析条件が設定された面と仮決定された面の距離の近さによって、一致の度合いを決定してもよい。また、対応関係特定部３２は、上記のような複数の条件のそれぞれに対応して決定された一致の度合いの値を乗算したものを、最終的な一致の度合いとして出力してもよい。

なお、対応関係特定部３２は、異なる一致の度合いを示す値が関連付けられた複数の面を仮決定対象としてもよい。
（立体の一致仮決定処理）
ステップＳ２２の処理で、解析条件が設定された立体に一致する、更新後の設計データに含まれる立体が決定できなかった場合、対応関係特定部３２は、たとえば、以下の３つの何れかの方法で、解析条件を設定する立体を仮決定する。

（方法１）対応関係特定部３２は、解析条件が設定された立体の各面と座標情報が一致する面をもっとも多くもつ立体を、仮決定対象とする。なお、このとき対応関係特定部３２は、解析条件が設定された立体の各面に対する仮決定対象の面を用いてもよい。仮決定できなくなる立体が多くなる問題を防ぐためである。以下の方法２でも同じである。

（方法２）解析条件が設定された立体の複数の面のうちの１つまたは複数と座標情報が一致する面をもつ立体が複数、更新後の設計データに存在し、かつそれらの立体の別の面同士の座標情報が一致しているものとする。また、それらの立体によるグループ全体の体積が、解析条件が設定された立体の体積と一致するものとする。その場合、対応関係特定部３２は、そのグループを、解析条件を設定する立体として仮決定する。

なお、対応関係特定部３２は、グループ全体の体積が、解析条件が設定された体積と完全に一致していなくても、もっとも体積が近いグループを、仮決定対象としてもよい。
図１０は、一致する立体を仮決定する方法２の例を示す図である。

更新前の設計データにおいて図１０に示すような面７１ａ，７１ｂをもつ立体７０が定義されていても、物品の設計変更時に、立体の定義が変更され、更新後の設計データでは、立体７０の代わりに２つの立体７２ａ，７２ｂが定義されている場合がある。立体７０に解析条件が設定された場合、対応関係特定部３２は以下の処理を行う。

対応関係特定部３２は、面７１ａと座標情報が一致する面７３ａをもつ立体７２ａと、面７１ｂと座標情報が一致する面７３ｂをもつ立体７２ｂを検出した場合、立体７２ａ，７２ｂの別の面の座標情報が互いに一致するか否かを判定する。図１０の例の場合、立体７２ａ，７２ｂの面７３ｃは共有されているので互いに一致する。この場合、対応関係特定部３２は、立体７２ａ，７２ｂの体積の和を算出する。そして、対応関係特定部３２は、算出した体積の和が、立体７０の体積と一致した場合、立体７２ａ，７２ｂによるグループを、解析条件を設定する立体として仮決定する。

このような処理により、物品の設計変更時に、立体の定義が変更された場合にも、上記のようなグループに対して、後述するように解析条件の設定の機会が与えられ、解析条件を設定可能となる。

なお、対応関係特定部３２は、上記方法２において、グループ全体の体積が、解析条件が設定された立体の体積と異なる場合には、方法１で得られた立体を仮決定対象とする。また、対応関係特定部３２は、上記方法２において、グループ全体の立体が、解析条件が設定された立体の体積に一致する場合には、方法１で得られた立体を仮決定対象とせず、方法２で得られたグループを仮決定対象とする。

また、上記のように立体の定義が、複数の立体に分割されるように変更されるのとは逆に、複数の立体が１つの立体に変更される場合、対応関係特定部３２は、解析条件が設定された複数の立体のそれぞれに対して、共通する１つの立体を仮決定対象としてもよい。

たとえば、同じ解析条件が設定された複数の立体のそれぞれに含まれる面と座標情報が一致する面をもつ１つの立体が、更新後の設計データに存在するものとする。また複数の立体の各面のうち、更新後の設計データの立体の面と座標情報が一致する面以外に、互いに座標情報が一致する面があるものとする。また、解析条件が設定された複数の立体によるグループ全体の大きさ（各立体の体積の和）が、更新後の設計データに存在する１つの立体の大きさと一致するものとする。その場合、対応関係特定部３２は、更新後の設計データに存在するその立体を、解析条件が設定された複数の立体と一致するとみなす立体として仮決定する。たとえば、図１０の立体７２ａ，７２ｂが、解析条件が設定された立体、立体７０が更新後の設計データに含まれる立体である場合、このような処理が行われる。

（方法３）対応関係特定部３２は、解析条件が設定された立体の各面と座標情報が一致する面をもつ立体が、更新後の設計データに含まれない場合、たとえば、以下のような処理を行う。

対応関係特定部３２は、更新後の設計データに含まれる立体のうち、解析条件が設定された立体と、重心の位置がもっとも近い立体を仮決定対象とする。または、対応関係特定部３２は、更新後の設計データに含まれる立体のうち、解析条件が設定された立体と、体積がもっとも近い立体を仮決定対象とする。または、対応関係特定部３２は、解析条件が設定された立体を形づくる各曲面と同一曲面上にある面は一致する面であるとみなした場合に、更新後の設計データに含まれる立体のうち、その一致する面の数が一番多い立体を仮決定対象とする。

対応関係特定部３２は、解析条件が設定された立体と、仮決定した立体との一致の度合いを示す値を決定してもよい。たとえば、対応関係特定部３２は、解析条件が設定された立体の各面と座標情報が一致する面をより多くもつ立体については、一致の度合いを高く設定する。また、対応関係特定部３２は、解析条件が設定された立体の体積と仮決定されたグループの体積の比、解析条件が設定された立体と仮決定された立体の重心の近さなどによって、一致の度合いを決定してもよい。また、対応関係特定部３２は、上記のような複数の条件のそれぞれに対応して決定された一致の度合いの値を乗算したものを、最終的な一致の度合いとして出力してもよい。

なお、対応関係特定部３２は、異なる一致の度合いを示す値が関連付けられた複数の立体を仮決定対象としてもよい。
対応関係特定部３２は、以上のように仮決定した領域（点、稜線、面または立体）の情報と、それらに設定予定の解析条件と、一致の度合いを示す値が算出された場合はその値を、仮決定領域記憶部３７に記憶する。

（Ｓ２６）ステップＳ２４，Ｓ２５の処理後、解析条件設定部３１は、更新前の設計データにおいて、ステップＳ２０の処理で選択された解析条件が設定された全領域が、ステップＳ２１の処理にて選択されたか否かを判定する。解析条件が設定された全領域が選択されていない場合には、ステップＳ２１からの処理が繰り返され、解析条件が設定された全領域が選択された場合には、ステップＳ２７の処理が行われる。

（Ｓ２７）解析条件設定部３１は、更新前の設計データにおいて、ステップＳ２０の処理にて、全解析条件が選択されたか否かを判定する。全解析条件が選択されていない場合には、ステップＳ２０からの処理が繰り返され、全解析条件が選択された場合には、ステップＳ２８の処理が行われる。

（Ｓ２８）表示部３４は、仮決定された領域があるか否かを判定する。仮決定された領域がない場合には、対応関係の特定処理と解析条件の設定処理が終了する。仮決定された領域がある場合、ステップＳ２９の処理が行われる。

（Ｓ２９）表示部３４は、仮決定領域記憶部３７に記憶された、仮決定された領域の情報に基づいて、仮決定された領域に解析条件を設定するか否かの決定を促す画面を、ディスプレイ２４ａに表示させる。仮決定領域記憶部３７に、一致の度合いを示す値が記憶されている場合には、表示部３４は、その値もディスプレイ２４ａに表示させる。また、表示部３４は、一致する領域が決定できなかった領域（未決定の領域）や決定できた領域についてもディスプレイに表示させてもよい。

（Ｓ３０）解析条件設定部３１は、ユーザが入力デバイス２５ａを用いて仮決定された領域に解析条件の設定を指示したか否かを判定する。仮決定された領域に対する解析条件の設定が指示されない場合には、対応関係の特定処理と解析条件の設定処理が終了する。仮決定された領域に対する解析条件の設定が指示された場合、ステップＳ３１の処理が行われる。

なお、解析条件設定部３１は、未決定の領域や決定できた領域についても解析条件の設定や、変更をユーザから受け付けてもよい。
（Ｓ３１）解析条件設定部３１は、ユーザによって指示された内容に基づいて、仮決定された領域に解析条件を設定する。また、解析条件設定部３１は、未決定の領域や決定できた領域についても解析条件の設定や、変更をユーザから受け付けた場合、受け付けた内容に基づいて、解析条件の設定や変更を行う。解析条件設定部３１は、このように設定または変更した解析条件の情報を、解析条件情報記憶部３６に記憶する。

以上の処理にて、対応関係の特定処理と解析条件の設定処理が終了し、前述したステップＳ１８の処理が行われる。
なお、上記の各ステップの処理の順序は一例であり、上記の例に限定されるものではない。

以上のように、第２の実施の形態の情報処理装置２０によれば、更新前後の設計データの座標情報から特定した両設計データの領域の対応関係に基づいて、更新後の設計データに解析条件が設定される。これにより、形状ＩＤに解析条件を紐付けする手法で発生するような、更新後の設計データに意図しない解析条件が設定されることを防ぐことができ、誤った構造解析の結果が得られることを抑制できる。また、設計変更に伴う再解析時に解析条件を更新後の設計データに設定しなおす手間が少なくなる。

また、形状ＩＤを保持しなくてもよくなり、形状ＩＤを保持するためのメモリ領域をもたなくてすむようになる。
また、情報処理装置２０は、解析条件が設定された領域に座標情報が一致する領域が更新後の設計データにない場合でも、解析条件が設定された領域に類似する領域を特定し、その領域への解析条件の設定を可能とする。また、このとき、情報処理装置２０は、解析情報が設定された領域と、類似する領域との一致の度合いを示す値を算出して、その値をディスプレイ２４ａに表示させることで、その領域に解析条件を設定すべきか否かのユーザによる判断を容易にする。

なお、前述のように、上記の処理内容は、情報処理装置２０にプログラムを実行させることで実現できる。
プログラムは、コンピュータ読み取り可能な記録媒体（たとえば、記録媒体２６ａ）に記録しておくことができる。記録媒体として、たとえば、磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディスク、半導体メモリなどを使用できる。磁気ディスクには、ＦＤおよびＨＤＤが含まれる。光ディスクには、ＣＤ、ＣＤ−Ｒ（Recordable）／ＲＷ（Rewritable）、ＤＶＤおよびＤＶＤ−Ｒ／ＲＷが含まれる。プログラムは、可搬型の記録媒体に記録されて配布されることがある。その場合、可搬型の記録媒体から他の記録媒体（たとえば、ＨＤＤ２３）にプログラムをコピーして実行してもよい。

以上、実施の形態に基づき、本発明の構造解析シミュレーションプログラム、構造解析シミュレーション方法及び情報処理装置の一観点について説明してきたが、これらは一例にすぎず、上記の記載に限定されるものではない。

１０ 情報処理装置
１１ 記憶部
１１ａ 設計データ（更新前）
１１ｂ 設計データ（更新後）
１１ａ１，１１ａ２ 座標情報
１１ｃ 解析条件設定情報
１２ 処理部
１５，１６ 物品
１５ａ，１６ａ 面
１７ａ〜１７ｄ 稜線
１８ａ，１８ｂ，１８ｅ，１８ｆ 端点
１８ｃ，１８ｄ，１８ｇ，１８ｈ 中間点
１８ｉ 代表点

Claims (9)

1. 物品の構造解析のシミュレーションを行う条件を前記物品に対応する第１の設計データと関連付けて設定し、
   前記物品の設計変更に対応して前記第１の設計データが更新された場合、前記第１の設計データと更新後の第２の設計データのそれぞれにおける座標情報に基づいて、前記第１の設計データと前記第２の設計データのそれぞれに含まれる領域の対応関係を特定し、
   特定した前記対応関係に基づいて前記第２の設計データに前記条件を関連付けて設定して、設計変更された前記物品の構造解析のシミュレーションを実行する、
   処理をコンピュータに実行させることを特徴とする構造解析シミュレーションプログラム。
2. 前記条件が、前記第１の設計データに含まれる第１の領域に設定されたとき、
   前記第２の設計データから、前記第１の領域を表す第１の座標情報と一致する第２の座標情報で表される第２の領域を特定することで、前記対応関係を特定する、
   処理を前記コンピュータに実行させることを特徴とする請求項１に記載の構造解析シミュレーションプログラム。
3. 前記第２の設計データに前記第２の領域が含まれない場合、前記第１の座標情報に基づいて、前記第２の設計データから、前記第１の領域と類似する第３の領域を特定し、
   特定した前記第３の領域を表示装置に表示させ、
   前記第３の領域に前記条件を設定することを指示する指示信号を受けた場合に、前記第３の領域に前記条件を設定する、
   処理を前記コンピュータに実行させることを特徴とする請求項２に記載の構造解析シミュレーションプログラム。
4. 前記第１の座標情報と前記第３の領域を表す第３の座標情報とに基づいて、前記第１の領域と前記第３の領域との一致の度合いを示す値を算出し、
   前記第３の領域を前記表示装置に表示させる際、前記値を前記表示装置に表示させる、
   処理を前記コンピュータに実行させることを特徴とする請求項３に記載の構造解析シミュレーションプログラム。
5. 前記第２の設計データに、前記第１の領域に含まれる第１の要素を表す第４の座標情報と一致する第５の座標情報で表される第２の要素を含む第４の領域と、前記第１の領域に含まれる第３の要素を表す第６の座標情報と一致する第７の座標情報で表される第４の要素を含む第５の領域とがあり、前記第４の領域の第５の要素を表す第８の座標情報と一致する第９の座標情報で表される第６の要素を前記第５の領域が含む場合、
   前記第４の領域と前記第５の領域とを含むグループの長さまたは大きさと、前記第１の領域の長さまたは大きさとの比較結果に基づいて、前記グループを前記第３の領域として特定するか否かを決定する、
   処理を前記コンピュータに実行させることを特徴とする請求項３または４に記載の構造解析シミュレーションプログラム。
6. 前記条件が、前記第１の設計データに含まれる第６の領域と第７の領域に設定されたとき、
   前記第２の設計データに、前記第６の領域に含まれる第７の要素を表す第１０の座標情報と一致する第１１の座標情報で表される第８の要素と、前記第７の領域に含まれる第９の要素を表す第１２の座標情報で表される第１０の要素とを含む第８の領域があり、前記第６の領域の第１１の要素を表す第１３の座標情報と一致する第１４の座標情報で表される第１２の要素を前記第７の領域が含む場合、
   前記第６の領域と前記第７の領域とを含むグループの長さまたは大きさと、前記第８の領域の長さまたは大きさとの比較結果に基づいて、前記第８の領域を前記第３の領域として特定するか否かを決定する、
   処理を前記コンピュータに実行させることを特徴とする請求項３または４に記載の構造解析シミュレーションプログラム。
7. 前記第２の設計データから、前記第２の領域のほかに、前記第１の座標情報と一致する第１５の座標情報で表される第９の領域が特定された場合、
   前記第２の領域と前記第９の領域のうち、前記第１の領域が含まれる第１０の領域を表す第１６の座標情報と一致する第１７の座標情報で表される第１１の領域に含まれる方を、前記第１の領域に対応する領域として決定する、
   処理を前記コンピュータに実行させることを特徴とする請求項２乃至６の何れか一項に記載の構造解析シミュレーションプログラム。
8. コンピュータが実行する構造解析シミュレーション方法であって、
   物品の構造解析のシミュレーションを行う条件を前記物品に対応する第１の設計データと関連付けて設定し、
   前記物品の設計変更に対応して前記第１の設計データが更新された場合、前記第１の設計データと更新後の第２の設計データのそれぞれにおける座標情報に基づいて、前記第１の設計データと前記第２の設計データのそれぞれに含まれる領域の対応関係を特定し、
   特定した前記対応関係に基づいて前記第２の設計データに前記条件を関連付けて設定して、設計変更された前記物品の構造解析のシミュレーションを実行する、
   ことを特徴とする構造解析シミュレーション方法。
9. 物品に対応する第１の設計データを記憶する記憶部と、
   前記物品の構造解析のシミュレーションを行う条件を前記第１の設計データと関連付けて設定し、
   前記物品の設計変更に対応して前記第１の設計データが更新された場合、前記第１の設計データと更新後の第２の設計データのそれぞれにおける座標情報に基づいて、前記第１の設計データと前記第２の設計データのそれぞれに含まれる領域の対応関係を特定し、
   特定した前記対応関係に基づいて前記第２の設計データに前記条件を関連付けて設定して、設計変更された前記物品の構造解析のシミュレーションを実行する処理部と、
   を有することを特徴とする情報処理装置。
   

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