JP2019086661A - 撮像装置およびその制御方法 - Google Patents

Abstract

【課題】振れ検出の精度を保ちつつ、連続撮影速度の低下を低減可能な撮像装置を提供すること。【解決手段】撮像光路内に位置する第１のミラーダウン位置と、前記撮像光路外に位置するミラーアップ位置との間を駆動するミラー１５３と、撮像装置の振れを検出する振れ検出部１５１と、測光処理を行う測光部１４２と、測距処理を行う測距部１４３と、これら制御するシステム制御部１２０と、を備え、システム制御部１２０は、連続撮影の露光の後に、振れ検出部の出力の所定期間における積算値が所定の値よりも大きくない場合、測光処理および測距処理を含まない第１のシーケンスを行い、積算値が所定の値よりも大きい場合、測光処理および測距処理を含む第２のシーケンスを行う。【選択図】図１

Description

本発明は、撮像装置およびその制御方法に関する。

典型的な手振れによる像振れの補正機能をもつ撮像装置は、手振れ量の検出に角速度センサ等の振れ検出センサを備えている。そして、振れ検出センサで検知した撮像装置の振れ情報に基づいて撮影光学系を駆動して、結像面上の像振れ補正が行われている。しかし、撮像装置は、ミラーやシャッタ駆動部、レンズのピント制御を行う超音波モータやステッピングモーター等、様々な振動源を有している。振れ検出センサの感度は非常に敏感であるため、各振動源が振動した際には、振れ検出センサの出力は手振れの振動と各振動源の振動が重畳された出力となってしまい、正しく手振れ補正が行われない恐れがある。特許文献１は、振れ補正の必要性に応じて撮影レンズのＡＦ駆動の速度を変更し、撮影レンズの駆動による振動との干渉を受けることを回避する手段を開示している。

特開２００３−１０７３１９号公報

しかしながら、特許文献１に開示された技術では、撮影レンズのＡＦ駆動による振動の干渉は回避できるが、撮像装置のミラーの駆動による振動の干渉が回避できない。また近年、振れ検出手段によりパンニングのスピードを検出し、撮像装置の初心者でも簡単に流し撮りが行えるようにする機能を有した撮像装置も出てきている。しかしながら、流し撮りにより連続で撮影を行う場合、正確なパンニングスピードを検出するために、撮像装置のミラーの駆動による振動が収まるまで一定時間振れ検出を待つ必要があるため、連続撮影速度が低下してしまう。

本発明は、振れ検出の精度を保ちつつ、連続撮影速度の低下を低減可能な撮像装置を提供することを目的とする。

上記課題を解決するために、本発明は、撮像光路内に位置する第１のミラーダウン位置と、前記撮像光路外に位置するミラーアップ位置との間を駆動するミラーと、撮像装置の振れを検出する振れ検出部と、測光処理を行う測光部と、測距処理を行う測距部と、前記ミラー、前記振れ検出部、前記測光部および前記測距部を制御する制御部と、を備える。前記制御部は、連続撮影の露光の後に、前記振れ検出部の出力の所定期間における積算値が所定の値よりも大きくない場合、前記測光処理および前記測距処理を含まない第１のシーケンスを行い、前記積算値が前記所定の値よりも大きい場合、前記測光処理および前記測距処理を含む第２のシーケンスを行う。

本発明によれば、振れ検出の精度を保ちつつ、連続撮影速度の低下を低減可能な撮像装置を提供することができる。

撮像装置の構成を示すブロック図である。 撮像装置の像振れ補正機能に対する補正方向について説明した図である。 ミラーの各停止位置を説明する図である。 連続撮影動作の処理の流れを示すフローチャートである。 撮影条件判定の処理の流れを示すフローチャートである。 連続撮影動作の処理の流れを示すフローチャートである。 撮影条件の判定による連続撮影速度の違いを説明した図である。 連続撮影動作中の撮影条件の変化を説明した図である。 撮影条件判定の処理の流れを示すフローチャートである。 変位量の閾値とシャッタースピード及び焦点距離の関係を示す図である。

図１は、撮像装置の構成を示す図である。撮像装置は、本体部である撮像装置１００とレンズ装置２００を備えている。レンズ装置２００は、撮像装置１００に着脱可能である。
＜撮像装置１００の内部構成＞
撮像装置１００は、撮像素子１２１、Ａ／Ｄ変換部１２２、画像処理部１２３、画像演算部１２９、メモリ制御部１２４、メモリ１２７、外部メモリ１３０、表示部１１０、システム制御部１２０および不揮発性メモリ１２８を備える。また、撮像装置１００は、電源部１３１、操作部１３２、測光部１４２、測距部１４３、振れ検出部１５１、シャッタ制御部１４１、シャッタ１４４、ミラー１５３、ミラー制御部１５２およびレンズマウント１０１を備える。

撮像素子１２１は、複数の光電変換部を有し、レンズ装置２００を介して結像された被写体の光学像を電気信号に変換する。Ａ／Ｄ変換部１２２は、撮像素子１２１のアナログ信号出力をデジタル信号に変換する。Ａ／Ｄ変換部１２２でＡ／Ｄ変換されたデジタル信号は、メモリ制御部１２４およびシステム制御部１２０により制御され、メモリ１２７に格納される。

画像処理部１２３は、Ａ／Ｄ変換部１２２でＡ／Ｄ変換されたデジタル信号のデータあるいはメモリ制御部１２４からのデータに対して、所定の画素補間処理や色変換処理などの画像処理を行う。画像処理部１２３は、適応離散コサイン変換（ＡＤＣＴ）等により画像データを圧縮伸長する圧縮・伸長回路も備え、メモリ１２７に格納された画像を読み込んで圧縮処理或いは伸長処理を行い、処理を終えたデータをメモリ１２７に書き込むことも可能である。画像演算部１２９は、撮像画像のコントラスト値を算出し、コントラスト値から撮影画像の合焦状態を測定する。また、画像演算部１２９は、メモリ１２７に格納された画像データと現在の撮像画像の相関値を算出し、最も相関の高い領域を探索することが可能である。

メモリ制御部１２４は、Ａ／Ｄ変換部１２２、画像処理部１２３、表示部１１０および外部メモリ１３０とメモリ１２７間のデータの送受を制御する。Ａ／Ｄ変換部１２２の出力したデータが画像処理部１２３およびメモリ制御部１２４を介して、あるいはＡ／Ｄ変換部１２２の出力したデータが直接メモリ制御部１２４を介して、メモリ１２７に書き込まれる。

メモリ１２７は、撮影した静止画像、動画像および再生用表示のための画像のデータを格納するためのメモリであり、所定枚数の静止画像や動画像を格納するのに十分な記憶量を備える。なお、メモリ１２７には、システム制御部１２０のプログラムスタック領域、ステータス記憶領域、演算用領域、ワーク用領域および画像表示データ用領域が確保されている。各種の演算は、メモリ１２７の演算用領域を利用し、システム制御部１２０により実行される。外部メモリ１３０は、コンパクトフラッシュ（登録商標）やＳＤカードといった着脱可能な記録媒体であり、画像ファイル記録や読出が行われる。

表示部１１０は、不図示の液晶パネル表示部およびバックライト照明部を有し、画像や操作画面を表示する。また、撮像素子から得られた撮像データを表示部１１０に逐次リアルタイムにスルー画像表示することで、「ライブビュー」撮影を行うことができる。ライブビュー撮影中は、ＡＦ（オートフォーカス）対象の被写体の位置を操作者が認識できるよう、表示部１１０に対して、ＡＦ領域を示すＡＦ枠を画像に重畳して表示することができる。また、表示部１１０がタッチパネルを有する場合には、操作者はＡＦする被写体の位置を指定するタッチＡＦを実現することができる。

システム制御部１２０は、撮像装置１００とレンズ装置２００を含む撮像装置全体を制御する。また、システム制御部１２０は、タイマー機能を有する。不揮発性メモリ１２８は、電気的に消去・記録可能な不揮発性メモリであり、例えば、フラッシュメモリやＥＥＰＲＯＭ等が用いられる。不揮発性メモリ１２８には、撮像装置１００を制御するプログラムが格納されている。また、不揮発性メモリ１２８には、撮影状態が保存される。

電源部１３１は、電池、電池検出回路、ＤＣ−ＤＣコンバータおよび通電するブロックを切り替えるスイッチ回路等を有し、電池の装着の有無、電池の種類および電池残量の検出を行う。また、電源部１３１は、検出結果及びシステム制御部１２０の指示に基づいてＤＣ−ＤＣコンバータを制御し、必要な電圧を必要な期間、各ブロック部へ供給する。操作部１３２は、システム制御部１２０の各種の動作指示を入力するための操作手段である。操作部１３２は、例えば、スイッチやダイヤル、視線検知によるポインティング、音声認識装置等の単数或いは複数の組み合わせで構成される。操作部１３２は、撮影準備動作を指示するＳＷ１（シャッタボタンの半押し状態）と撮影を指示するＳＷ２（シャッタボタンの全押し状態）を有している。

測光部１４２は、ＡＥ（自動露出）処理のための測光を行う。測光部１４２は、レンズ２１０に入射した光線を、絞り２１１および不図示の測光用レンズを介して測光部１４２に入射させることにより、光学像として結像された画像の露出状態を測定する。測距部１４３は、ＡＦ処理のための測距を行う。測距部１４３は、レンズ２１０に入射した光線を、絞り２１１、ミラー１５３および不図示の測距用ミラーを介して測距部１４３に入射させることにより、光学像として結像された画像の合焦状態を測定する。なお、ライブビュー撮影中は、画像演算部１２９より出力された画像データから求められたコントラスト値に応じて、撮影画像の合焦状態を測定することも可能である。

振れ検出部１５１は、撮像装置１００の振れを検出する。振れ検出部１５１として、例えば、角速度センサ（ジャイロセンサ）が用いられる。振れ検出部１５１は、撮像装置１００の内部の振動量を振れデータとして検出することが可能であり、例えば、図２に示されるようにＰｉｔｃｈ方向、Ｙａｗ方向、Ｒｏｌｌ方向の３軸方向の振動を検出できる。図２は、撮像装置１００の像振れ補正機能に対する補正方向について説明した図である。本実施例においては、Ｐｉｔｃｈ方向、Ｙａｗ方向、Ｒｏｌｌ方向それぞれに、０〜１０２３の値が出力されるものとする。なお、システム制御部１２０は、所定時間間隔に振れ検出部１５１から取得した出力の所定時間の積算値を撮像装置１００の変位量として保持するものとする。なお、本実施例では、所定時間間隔を１ｍｓ、所定時間を前回の変位量取得から今回の変位量取得までの期間とする。

シャッタ制御部１４１は、測光部１４２からの測光情報に基づいて、絞り２１１を制御するレンズ制御部２０２と連携しながら、シャッタ１４４を制御する。シャッタ１４４は、非撮影時には撮像素子１２１を遮光し、撮影時には開いて撮像素子１２１へ光線を導く。レンズマウント１０１は、撮像装置１００とレンズ装置２００とを接続するためのインターフェースである。

ミラー１５３は、ミラー１５３の駆動により、レンズ２１０による撮像光路を、不図示の光学ファインダと撮像素子１２１のいずれかに切り替える。また、ミラー１５３は、半透過ミラーであり、ミラー１５３を透過した一部の光束は不図示のサブミラーを通じて測距部１４３に導かれ、周知の位相差検出方式の焦点検出動作が行われる。

ミラー制御部１５２は、レンズ２１０による撮像光路を、不図示の光学ファインダと撮像素子１２１のいずれかに切り替えるミラー１５３の動きを制御する。ミラー制御部１５２は、例えばステッピングモーター及びステッピングモーターを駆動するモータードライバを含む電気回路を有する。ミラー制御部１５２は、撮像装置１００の撮影条件に応じて、システム制御部１２０からの制御内容に応じてステッピングモーターを駆動し、ミラー１５３を駆動させる。
本発明の実施例では、ミラー制御部１５２は、図３の３ａ〜３ｃに示すような位置へのミラー１５３を駆動させる事が可能である。図３の各位置の説明を行う。

ここで、ミラー１５３の駆動について説明する。図３は、ミラーの各停止位置を説明する図である。ミラー制御部１５２は、位置３ａ〜位置３ｃに示される位置へ、ミラー１５３を駆動させる。位置３ａは、撮像素子１２１が撮像可能な位置であり、ミラーアップ位置（ＭＵＰ）と定義する。位置３ａでは、ミラー１５３が撮像光路外に位置する。位置３ｂは、測光部１４２および測距部１４３が測光・測距可能な位置であり、第１のミラーダウン位置（ＭＤＯＷＮ）と定義する。位置３ｂでは、ミラー１５３が撮像光路内に位置する。ミラーアップ位置及びミラーダウン位置は、それぞれミラー１５３を含む不図示のメカ機構の突き当ての位置に存在する。また、撮像装置１００の使用者（撮影者）は、ミラーダウン位置にて、不図示の光学ファインダより被写体の観察が正常に可能となる。

位置３ｃは、ミラー１５３がダウンした状態であり、第１のミラーダウン位置の近傍であるが、第１のミラーダウン位置とは異なる位置であり、また、メカ機構（他の部材）の突き当ての位置ではない位置である。また、位置３ｃは、測光および測距動作は不可能であるが、撮像装置１００の使用者は、不図示の光学ファインダより、被写体の観察が可能な位置である。位置３ｃを第２のミラーダウン位置（ＭＤＯＷＮ２）と定義する。位置３ｃでミラー１５３が停止した場合は、ミラー１５３がメカ機構の突き当て位置にぶつかることによる衝撃がないことが特徴である。システム制御部１２０は、位置３ａ〜位置３ｃに示す各々の位置に対応した位置検出用信号の検出結果に基づいて、ミラー制御部１５２を制御し、ミラー１５３の各位置への制御を行う。

＜レンズ装置２００の内部構成＞
レンズ装置２００は、交換レンズタイプのレンズユニットである。レンズ装置２００は、レンズ２１０、絞り２１１、レンズマウント２０１、レンズ制御部２０２、レンズ駆動部２０３および振れ検出部２０４を備える。被写体の光学像を、レンズ２１０から、絞り２１１、レンズマウント２０１、レンズマウント１０１およびシャッタ１４４を介して導き、撮像素子１２１上に結像することができる。

レンズ２１０は、複数のレンズで構成されるレンズ群である。レンズ２１０には、例えば、フォーカスレンズやシフトレンズが含まれる。絞り２１１は、通過する光量を制限する。レンズマウント２０１は、撮像装置１００とレンズ装置２００とを接続するためのインターフェースであり、撮像装置１００側のレンズマウント１０１と接続される。レンズ制御部２０２は、レンズ装置２００全体を制御する。

レンズ制御部２０２は、動作用の定数、変数およびプログラム等を記憶するメモリの機能も備える。さらに、レンズ制御部２０２は、レンズ装置２００固有の番号等の識別情報、管理情報、開放絞り値や最小絞り値、焦点距離等の機能情報、現在や過去の各設定値等を保持する不揮発メモリの機能も備える。また、レンズ制御部２０２は、測距部１４３あるいは画像処理部１２３より測定された画像の合焦状態に応じて、レンズ２１０のフォーカシングを制御し、撮像素子１２１に入射する被写体像の結像位置を変更することでＡＦ動作を行う。また、レンズ制御部２０２は、絞り２１１の制御およびレンズ２１０のズーミングを制御する機能も兼ね備える。

レンズ駆動部２０３は、フォーカシング制御機構、ズーミング制御機構、像ぶれ補正制御機構および絞り制御機構を備え、レンズ２１０および絞り２１１を駆動する。具体的には、レンズ駆動部２０３は、レンズ制御部２０２からのフォーカシング制御信号、ズーミング制御信号、像振れ補正制御信号などに基づいて、レンズ２１０を駆動する。さらに、レンズ駆動部２０３は、レンズ制御部２０２からの絞り制御信号に基づいて、絞り２１１を駆動する。

振れ検出部２０４は、例えば、角速度センサ（ジャイロセンサ）であり、レンズ装置２００内部の振動量を検出する。本実施例の振れ検出部２０４は、例えば、図３に示されるＰｉｔｃｈ方向、Ｙａｗ方向、Ｒｏｌｌ方向のうち、Ｐｉｔｃｈ方向とＹａｗ方向の２軸方向の振動を検出できる。また、振れ検出部２０４は、撮像装置１００の振れ検出部１５１と同等の機能を担うことができる。

（実施例１）
図４を参照して、実施例１における、連続撮影動作について説明する。図４は、実施例１における、連続撮影動作の処理の流れを示すフローチャートである。このフローチャートに示される処理は、システム制御部１２０が、振れ検出部１５１の出力を用いて撮影条件を変更する撮影モードが設定されていることを検出し、さらに、撮影準備動作を検出した場合に開始される。撮影準備動作は、例えば、操作部１３２に備えられたＳＷ１がＯＮ状態になった場合に検出される。

ステップＳ４０１で、システム制御部１２０は、測光部１４２および測距部１４３を駆動し、測光値の取得と測距動作を行う。システム制御部１２０は、測距動作の結果に応じてレンズ制御部２０２と通信を行う。レンズ制御部２０２は、システム制御部１２０との通信に基づいてレンズ駆動部２０３を制御し、被写体に合焦するようレンズ２１０を駆動させる。

ステップＳ４０２で、システム制御部１２０は、振れ検出部１５１から撮像装置１００の内部の振れデータ量を取得するとともに、システム制御部１２０で積算していた、所定期間の撮像装置１００の変位量を取得する。そしてシステム制御部１２０は、取得した振れデータ量および変位量をメモリ１２７に格納する。
ステップＳ４０３で、システム制御部１２０は、操作部１３２のＳＷ２の状態がＯＮ状態であるか確認する。システム制御部１２０は、ＳＷ２の状態がＯＮ状態であると判定した場合はステップＳ４０４へ進み、ＯＮ状態でないと判定した場合はステップＳ４０１へ戻る。

ステップＳ４０４で、システム制御部１２０は、ミラー制御部１５２を制御し、ミラー１５３をＭＤＯＷＮの位置からＭＵＰの位置へ駆動させる。
ステップＳ４０５で、システム制御部１２０は、シャッタ制御部１４１および撮像素子１２１を制御し、撮像動作を行い、画像を取得する。

ステップＳ４０６で、システム制御部１２０は、操作部１３２のＳＷ２の状態がＯＮ状態であるか確認する。システム制御部１２０はＳＷ２の状態がＯＮ状態であると判定した場合は、ステップＳ４０８へ進み、ＯＮ状態でないと判定した場合は、ステップＳ４０７へ進む。
ステップＳ４０７で、システム制御部１２０は、ミラー制御部１５２を制御し、ミラー１５３をＭＵＰの位置からＭＤＯＷＮの位置へ駆動させて、本フローチャートの処理を終了する。

ステップＳ４０８で、システム制御部１２０は、撮像装置１００の撮影条件に変更があるか否かを判定する。処理の詳細は、図５を用いて後述する。
ステップＳ４０９で、システム制御部は、ステップＳ４０８の結果、撮像装置１００の撮影条件に変更ありと判定されたか否かを判定する。システム制御部１２０が、撮像装置１００の撮影条件に変更なしと判定した場合はステップＳ４１０へ進み、第１のシーケンスを行う。一方、システム制御部１２０が、撮像装置１００の撮影条件に変更ありと判定した場合はステップＳ４１２へ進み、第２のシーケンスを行う。

第１のシーケンスでは、ステップＳ４１０およびステップＳ４１１に示される一連の処理を行う。
ステップＳ４１０で、システム制御部１２０は、振れ検出部１５１から撮像装置１００の内部の振れデータ量を取得するとともに、システム制御部１２０で積算していた所定期間の撮像装置１００の変位量を取得し、メモリ１２７に格納する。
ステップＳ４１１で、システム制御部１２０は、ミラー制御部１５２を制御し、ミラー１５３をＭＵＰの位置からＭＤＯＷＮの位置へ駆動させる。その後、ステップＳ４０４へ戻る。

第２のシーケンスでは、ステップＳ４１２〜ステップＳ４１６に示される一連の処理を行う。
ステップＳ４１２で、システム制御部１２０は、ミラー制御部１５２を制御し、ミラー１５３をＭＵＰの位置からＭＤＯＷＮの位置へ駆動させる。
ステップＳ４１３で、システム制御部１２０は、内部のタイマーを所定の時間Ｔ＿ＡＥＡＦに設定し、ミラー１５３の駆動による振動が収まるまで安定待ちを行う。所定の時間Ｔ＿ＡＥＡＦは、ミラー１５３の駆動による振動の影響が低減し、高精度な測光および測距動作を行える状態になる時間が設定される。

ステップＳ４１４で、システム制御部１２０は、測光部１４２および測距部１４３を駆動し、測光値の取得と測距動作を行う。
ステップＳ４１５で、システム制御部１２０は、内部のタイマーを所定の時間Ｔ＿ＧＹＲＯに設定し、ミラー１５３の駆動による振動の影響が低減し、振れ検出部１５１により高精度な振れ検出結果の出力を得られる状態になるまで安定待ちを行う。

ステップＳ４１６で、システム制御部１２０は、振れ検出部１５１から撮像装置１００の内部の振れデータ量を取得するとともに、システム制御部１２０で積算していた、所定期間の撮像装置１００の変位量を取得し、メモリ１２７に格納する。その後、ステップＳ４０４へ戻る。以上が、実施例１における、連続撮影動作についての説明である。

＜撮影条件の判定＞
次に、図５を参照して、図４のステップＳ４０８で定義された撮影条件判定について説明する。図５は、連続撮影動作中の撮影条件判定の処理の流れを示すフローチャートである。
ステップＳ５０１で、システム制御部１２０は、メモリ１２７に保持していた所定期間の撮像装置１００の変位量を読み出す。所定期間の変位量は、所定期間における振れ検出部１５１の出力の積算値である。

ステップＳ５０２で、システム制御部１２０は、ステップＳ５０１で読み出した所定期間の撮像装置１００の変位量が所定の値Ｇｔｈ以下であるか否かを判定する。ここで、判定に用いる所定の値Ｇｔｈは、撮像装置１００の連続撮影動作において、露出および測距条件が変化ないと想定できる値を設定する。本実施例では、Ｐｉｔｃｈ方向、Ｙａｗ方向、Ｒｏｌｌ方向ともに、所定の値Ｇｔｈ＝５００とする。なお、Ｐｉｔｃｈ方向、Ｙａｗ方向、Ｒｏｌｌ方向ごとに値を設定してもよい。システム制御部１２０が、所定期間の撮像装置１００の変位量が所定の値Ｇｔｈ以下ではあると判定した場合はステップＳ５０３へ、Ｇｔｈより大きいと判定した場合はステップＳ５０４へ進む。

ステップＳ５０３で、システム制御部１２０は、撮像装置１００の撮影条件変更なしと判定し、メモリ１２７に変更なしフラグとして１を保持しておく。一方、ステップＳ５０４で、システム制御部１２０は、撮像装置１００の撮影条件変更ありと判定し、メモリ１２７に変更なしフラグとして０を保持しておく。ステップＳ４０８では、保持したフラグに基づいて撮影条件に変更があったか否か判定が行われる。

以上説明したように、本実施例によると、連続撮影の露光の後に、撮影条件の変更がないと判定した場合には、測光処理および測距処理を含まない第１のシーケンスを行う（ステップＳ４１０〜ステップＳ４１１）。一方、撮影条件の変更があると判定した場合には、測光処理および測距処理を含む第２のシーケンスを行う（ステップＳ４１２〜ステップＳ４１６）。第１のシーケンスでは、測光処理および測距処理を行わず、次の撮影動作の振れデータの取得を行った後にミラー１５３の駆動を行う。これにより、連続撮影における露光間の時間を測光および測距動作の時間と各安定待ち時間（Ｔ＿ＡＦＡＥ＋Ｔ＿ＧＹＲＯ）の分だけ短くすることができ、連続撮影速度の低下を軽減することができる。

（実施例２）
実施例１では、連続撮影を行う際に、前回の撮像装置１００の変位量が所定の範囲内の場合は、測光および測距動作を行わず、次の撮影動作の振れデータの取得と撮像装置１００の変位量の積算を行った後にミラー１５３の駆動を行う例を説明した。実施例２では、実施例１に挙げた方法とは別の方法で、連続撮影速度の低下を低減させる例について説明する。なお、本実施例では、実施例１と共通する部分については説明を省略し、本実施例に特有の部分を中心に説明する。

図６を参照して、実施例２における、連続撮影動作について説明する。図６は、実施例２における、連続撮影動作の処理の流れを示すフローチャートである。このフローチャートに示される処理は、システム制御部１２０が、振れ検出部１５１の出力を用いて撮影条件を変更する撮影モードが設定されていることを検出し、さらに、撮影準備動作を検出した場合に開始される。撮影準備動作は、例えば、操作部１３２に供えられたＳＷ１がＯＮ状態になった場合に検出される。

図６のステップＳ６０１からＳ６０９は、図４のステップＳ４０１からＳ４０９と同様の処理が実行される。また、図５のステップＳ６１２からＳ６１５は、図４のステップＳ４１２からＳ４１５と同様の処理が実行される。
撮影条件に変更がないと判定された場合、第１のシーケンスとして、ステップＳ６１０、ステップＳ６１１およびステップＳ６１６に示される一連の処理を行う。
ステップＳ６１０で、システム制御部１２０は、ミラー制御部１５２を制御し、ミラー１５３をＭＵＰの位置からＭＤＯＷＮ２の位置へ駆動させる。この際、ミラー制御部１５２は、ミラー１５３をＭＤＯＷＮの位置へ駆動させる時よりも遅く動かすように制御することで、ミラー１５３の駆動時の振動を低減させる。遅く動かす方法として、例えば、ミラー制御部１５２はミラー１５３を駆動するステッピングモーターへの印加電圧を下げて駆動させる。また、ＭＤＯＷＮ２の位置への駆動では、ミラー１５３がメカ機構の突き当て位置にぶつかることがないため、ミラー１５３がメカ機構の突き当たることによる衝撃が発生しない。

ステップＳ６１１で、システム制御部１２０は、内部のタイマーを所定の時間（Ｔ＿ＧＹＲＯ２）に設定し、ミラー１５３の駆動による振動の影響が低減し、振れ検出部１５１により高精度な振れ検出結果の出力を得られる状態になるまで安定待ちを行う。その後、ステップＳ６１６へ進む。
ステップＳ６１６で、システム制御部１２０は、振れ検出部１５１から撮像装置１００の内部の振れデータ量を取得するとともに、システム制御部１２０で積算していた、所定期間の撮像装置１００の変位量を取得し、メモリ１２７へ格納する。その後、ステップＳ６０４へ戻る。以上が、実施例２における、連続撮影動作について説明である。

本実施例では、連続撮影を行う際に、前回の撮像装置１００の変位量が所定の範囲内の場合は、ミラー１５３の駆動速度を落としてＭＤＯＷＮ２まで駆動させ、測光及び測距動作を行わず、次の撮影動作の振れデータの取得を行っている。

図７を用いて、本実施例における効果を説明する。図７は、撮影条件の判定による連続撮影速度の違いを説明した図である。
図７（Ａ）は、本実施例における、撮影条件判定を行わなかった場合および撮影条件判定で撮影条件変更ありと判定された場合（ステップＳ６０９がＮｏ）のタイミングチャートである。図７（Ａ）に示される場合では、露光完了後、次のミラーアップ開始までの時間は、次の式（１）で定義される。

Ｔ１＝Ｔ（ＭＵＰ→ＭＤＯＷＮ）＋Ｔ＿ＡＥＡＦ＋Ｔ（ＡＥＡＦ）
＋Ｔ＿ＧＹＲＯ＋Ｔ（ＧＹＲＯ） …（１）

Ｔ（ＭＵＰ→ＭＤＯＷＮ）：ＭＵＰ→ＭＤＯＷＮまでの駆動時間
Ｔ＿ＡＥＡＦ：ミラー振動が測光・測距動作可能になるまでの安定待ち時間
Ｔ（ＡＥＡＦ）：測光・測距動作時間
Ｔ＿ＧＹＲＯ：ミラー振動が変位量・振れデータ取得可能になるまでの安定待ち時間
Ｔ（ＧＹＲＯ）：変位量・振れデータ取得時間

図７（Ｂ）は、本実施例における、撮影条件判定にて撮影条件変更なしと判定された場合（ステップＳ６０９がＹｅｓ）のタイミングチャートである。図７（Ｂ）に示される場合では、露光完了後、次のミラーアップ開始までの時間は、次の式（２）で定義される。

Ｔ２＝Ｔ（ＭＵＰ→ＭＤＯＷＮ２）＋Ｔ＿ＧＹＲＯ２＋Ｔ（ＧＹＲＯ） …（２）

Ｔ（ＭＵＰ→ＭＤＯＷＮ２）：ＭＵＰ→ＭＤＯＷＮ２までの駆動時間
Ｔ＿ＧＹＲＯ２：ミラー振動が変位量・振れデータ取得可能になるまでの安定待ち時間。

ここで、本実施例におけるＭＤＯＷＮ２へのミラー１５３の駆動では、ミラー１５３を遅く駆動させるため、ＭＤＯＷＮにミラー１５３を駆動させる場合より駆動に時間がかかり、Ｔ（ＭＵＰ→ＭＤＯＷＮ）＜Ｔ（ＭＵＰ→ＭＤＯＷＮ２）となる。一方、ＭＤＯＷＮ２への駆動では、ミラー１５３を遅く動かし、かつ、メカ機構との衝突もないため、ミラー１５３の振動が少なくなり、Ｔ＿ＧＹＲＯ２＜Ｔ＿ＧＹＲＯとすることが可能である。このように、撮影条件判定にて撮影条件変更なしと判定された場合は、連続撮影の時間をＴ１−Ｔ２だけ短くすることができ、連続撮影速度の低下を軽減することが可能である。

以上説明したように、本実施例によると、連続撮影の露光の後に、撮影条件の変更がないと判定した場合には、測光処理および測距処理を含まない第１のシーケンスを行う（ステップＳ６１０、ステップＳ６１１、ステップＳ６１６）。一方、撮影条件の変更があると判定した場合には、測光処理および測距処理を含む第２のシーケンスを行う（ステップＳ６１２〜ステップＳ６１６）。第１のシーケンスでは、測光処理および測距処理を行わず、さらに、ミラー１５３の振動が少ないため、露光間の時間を短縮することができ、連写速度の低下を抑制することが可能となる。

（実施例３）
実施例１では、連続撮影を行う際に、前回の撮像装置１００の変位量が所定の範囲内の場合は、測光および測距動作を行わず、次の撮影動作の振れデータの取得と撮像装置１００の変位量の積算を行った後にミラー１５３の駆動を行う例を説明した。また、実施例２では、連続撮影を行う際に、前回の撮像装置１００の変位量が所定の範囲内の場合は、ミラー１５３の駆動速度を落とし、ＭＤＯＷＮ２まで駆動させ、測光および測距動作を行わず、次の撮影動作の振れデータの取得を行う例を説明した。このように、実施例１および実施例２においては、撮像装置１００の撮影条件に変更がないか否かを判定するための条件を、撮像装置１００の変位量のみで判定していた。しかしながら、撮像装置１００の変位量のみでは、以下の４つの場合に、撮影条件の変化を適切に反映できない恐れがある。

図８は、連続撮影動作中の撮影条件の変化を説明した図である。
１点目は、図８（Ａ）に示すような、撮像装置１００と被写体との正対距離が変化する場合である。位置７０ａから位置７０ｂに被写体が移動した場合は、撮像装置１００と被写体との正対距離は距離Ｄ１で同じである。一方、位置７０ａから位置７０ｂより撮像装置１００に近い位置７０ｃに被写体が移動した場合は、撮像装置１００と被写体との正対距離は距離Ｄ１から距離Ｄ２に短くなる。被写体が位置７０ａから位置７０ｂに移動した場合も位置７０ａから位置７０ｃに移動した場合も、撮像装置１００の変位量はθ１で同じであるが、撮像装置１００と被写体との距離は異なっている。そのため、撮像装置１００の変位量のみで判定した場合に、焦点が合わない場合が生じる可能性がある。

２点目は、図８（Ｂ）に示すような、撮像装置１００に装着されたレンズ装置２００の焦点距離が異なる場合である。図８（Ｂ）において、異なる焦点距離をそれぞれｆ１とｆ２（ｆ１＞ｆ２）とし、望遠側のｆ１の画角を実線で、広角側のｆ２の画角を点線で示す。被写体である車両は、位置７１ａから位置７１ｂへと、位置７１ｃから位置７１ｄへ、同じ速度で同じ距離だけ動いている。位置７１ｃは位置７１ａより撮像装置１００に近く、焦点距離ｆ１で位置７１ａから位置７１ｂへの移動を、焦点距離ｆ２で位置７１ｃから位置７１ｄへの移動を撮影している。このとき、焦点距離ｆ１での撮像装置１００の変位量はθ１であるが、焦点距離ｆ２での撮像装置１００の変位量はθ２であり、変位量が大きくなっている。同じ速度で動く被写体を異なる焦点距離で被写体の画角に占める割合を同じになるように撮影した場合には、撮像装置の変位量は、焦点距離が広角側で撮影した方が大きくなる。そのため、撮像装置１００の変位量を同一条件で判定した場合は、誤判定をしてしまう可能性がある。

３点目は、図８（Ｃ）に示すような、撮像装置１００の撮影条件の一つであるシャッタースピード（Ｔｖ値）が異なる場合である。
図８（Ｃ）において、被写体の移動速度であるＶ１およびＶ２の関係をＶ２＞Ｖ１とする。同じ被写体を対象としても、被写体の動く速度によって適切なシャッタースピードが異なる。被写体の動く速度が速い場合（Ｖ２）は、速いシャッタースピードで撮影し、被写体の動く速度が遅い場合（Ｖ１）は、遅いシャッタースピードで撮影する場合を想定する。速度Ｖ１で位置７２ａから位置７２ｂに移動する被写体を遅いシャッタースピードで撮影した場合、撮像装置１００の変位量はθ１となる。一方、速度Ｖ２で位置７２ａから位置７２ｃに移動する被写体を速いシャッタースピードで撮影した場合、撮像装置１００の変位量はθ２となる。この場合、撮像装置の変位量を同一条件で判定した場合は、誤判定をしてしまう可能性がある。

４点目は、撮像装置１００の撮影条件が変更なしとシステム制御部１２０が判定してからの時間が経過した場合である。実施例１および実施例２では、連続撮影速度低下を低減させるために、測光および測距動作を行わないようにしているため、測光および測距動作を行わない状態が長時間続くと、露出及び合焦状態が変わる可能性がある。

そこで、本実施例では、上記の４つの場合を考慮した撮影条件の判定を行う。なお、本実施例では、実施例１または実施例２と共通する部分については説明を省略し、本実施例に特有の部分を中心に説明する。
図９を参照して、実施例３における、連続撮影動作における撮影条件判定について説明する。図９は、撮像装置の連続撮影動作中における撮影条件判定の処理の流れを示すフローチャートである。本処理は、実施例１では図４のステップＳ４０８に、実施例２では、図６のステップＳ６０８に該当する。なお、撮影条件判定に至るまでの連続撮影動作の処理及び撮影条件判定後の連続撮影動作の処理については、他の実施例と同様である。

ステップＳ９０１で、システム制御部１２０は、過去に撮影条件変更なしと判定してからの経過時間を確認する。過去に撮影条件変更なしと判定してからの経過時間が所定値未満の場合は、ステップＳ９０２へ進み、所定値以上の場合は、ステップＳ９０６へ進む。なお、本実施例では、経過時間と比較する所定値を１秒とする。過去に撮影条件変更なしと判定していない場合は、システム制御部１２０は、経過時間は０として判定を行うものとする。本ステップにより、システム制御部１２０は撮像装置１００の撮影条件が変更なしであると判定してからの所定の時間が経過した場合には、必ず撮影条件変更ありと判定することが可能となる。すなわち、システム制御部１２０は、撮像装置１００の撮影条件が変更なしであると判定してからの所定の時間が経過した場合に、誤って撮影条件変更なしと判定することを防ぐことができる。

ステップＳ９０２で、システム制御部１２０は、直近の所定の撮影回数の際に参照した測距部１４３測距情報の比較を行う。システム制御部１２０は、過去２回の測距情報を比較し、所定の範囲より測距情報が変化していると判定した場合は、ステップＳ９０６進み、変化していないと判定した場合はステップＳ９０３へ進む。なお、本実施例では、所定の撮影回数を２回とする。本ステップにより、連続撮影時の測距情報を参照し、測距情報が所定値よりも変化している場合には撮影条件が変更されていると判定して、撮像装置１００と被写体との正対距離が変化する場合でも合焦しない状態で撮影を行うことを防ぐことができる。

ステップＳ９０３で、システム制御部１２０は、メモリ１２７に保持していた所定期間の撮像装置１００の変位量と撮影動作のためのシャッタースピードとレンズ装置２００の焦点距離を読み出す。
ステップＳ９０４で、システム制御部１２０は、ステップＳ９０３で読み出した所定期間の撮像装置１００の変位量が所定の値Ｇｔｈ以下であるか否かを判定する。
ここで、判定に用いる変位量の閾値である所定の値Ｇｔｈは、撮像装置１００の連続撮影動作において、露出および測距条件が変化ないと想定できる値とする。本実施例では、所定の値Ｇｔｈは、図１０に示すように、シャッタースピードと焦点距離に応じて変化する変数とする。なお、本実施例においては、所定の値Ｇｔｈは、Ｐｉｔｃｈ方向、Ｙａｗ方向、Ｒｏｌｌ方向ともに同じ値とする。

図１０は、変位量の閾値とシャッタースピード及び焦点距離の関係を示す図である。図１０に示すように、所定の値Ｇｔｈは、シャッタースピードが速いほど値が大きくなる特徴を持つ。さらに、所定の値Ｇｔｈは、焦点距離が広角側になるほど値が大きくなる特徴を持つ。このように、所定の値Ｇｔｈは、シャッタースピードおよび焦点距離に応じて可変の値となる。

システム制御部１２０が、所定期間の撮像装置１００の変位量が所定の値Ｇｔｈ以下ではあると判定した場合はステップＳ９０５へ、所定の値Ｇｔｈより大きいと判定した場合はステップＳ９０６へ進む。本ステップにより、撮像装置１００に装着されたレンズ装置２００の焦点距離に応じて、正確な撮影条件変更の有無の判定を行うことができる。また、本ステップにより、撮像動作を行うためのシャッタースピードに応じて、正確な撮影条件変更の有無の判定を行うことができる。

ステップＳ９０５で、システム制御部１２０は、撮像装置１００の撮影条件変更なしと判定し、メモリ１２７にフラグとして１を保持する。一方、ステップＳ９０６では、システム制御部１２０は、撮像装置１００の撮影条件変更ありと判定し、メモリ１２７にフラグとして０を保持する。以上が、本実施例における、撮影条件の判定についての説明である。

以上のように、本実施例によれば、様々な撮影条件の変化に対応した撮影条件判定を行うことができ、連続撮影をパンニングのための振れ検出の精度を保ちつつ、連続撮影速度の低下を低減しながら行うことが可能となる。

（その他の実施例）
本発明は、上述の実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。

以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明は、これらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形および変更が可能である。

１００ 撮像装置
１２０ システム制御部
１４２ 測光部
１４３ 測距部
１５１ 振れ検出部
１５２ ミラー制御部
１５３ ミラー

Claims (7)

1. 撮像光路内に位置する第１のミラーダウン位置と、撮像光路外に位置するミラーアップ位置との間を駆動するミラーと、
   撮像装置の振れを検出する振れ検出部と、
   測光処理を行う測光部と、
   測距処理を行う測距部と、
   前記ミラー、前記振れ検出部、前記測光部および前記測距部を制御する制御部と、を備え、
   前記制御部は、連続撮影の露光の後に、前記振れ検出部の出力の所定期間における積算値が所定の値よりも大きくない場合、前記測光処理および前記測距処理を含まない第１のシーケンスを行い、前記積算値が前記所定の値よりも大きい場合、前記測光処理および前記測距処理を含む第２のシーケンスを行うことを特徴とする撮像装置。
2. 前記第１のシーケンスでは、前記振れ検出部の出力を取得し、前記ミラーを前記ミラーアップ位置から前記第１のミラーダウン位置に駆動することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
3. 前記第１のシーケンスでは、前記ミラーを前記ミラーアップ位置から前記第１のミラーダウン位置の近傍で他の部材との衝突のない第２のミラーダウン位置に駆動し、前記ミラーの駆動による振動が収まるのを待って前記振れ検出部の出力を取得することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
4. 前記ミラーを前記ミラーアップ位置から前記第２のミラーダウン位置に駆動する駆動速度は、前記ミラーを前記ミラーアップ位置から前記第１のミラーダウン位置に駆動する駆動速度より遅いことを特徴とする請求項３に記載の撮像装置。
5. 前記第２のシーケンスでは、前記ミラーを前記ミラーアップ位置から前記第１のミラーダウン位置に駆動し、前記ミラーの駆動による振動が収まるのを待って、前記測光処理および前記測距処理を行い、前記振れ検出部の出力を取得することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の撮像装置。
6. 前記所定の値は、シャッタースピードおよび焦点距離に応じて変化する変数であり、
   前記所定の値は、シャッタースピードが速いほど値が大きくなり、焦点距離が広角側であるほど値が大きくなることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の撮像装置。
7. ミラー、振れ検出部、測光部および測距部を備える撮像装置の制御方法であって、
   連続撮影の露光の後に、前記振れ検出部の出力の所定期間における積算値が所定の値よりも大きくない場合、測光処理および測距処理を含まない第１のシーケンスを行う工程と、
   前記積算値が前記所定の値よりも大きい場合、前記測光処理および前記測距処理を含む第２のシーケンスを行う工程とを有する
   ことを特徴とする制御方法。

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