JP2019073412A - シリコン単結晶の製造方法 - Google Patents
シリコン単結晶の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2019073412A JP2019073412A JP2017200276A JP2017200276A JP2019073412A JP 2019073412 A JP2019073412 A JP 2019073412A JP 2017200276 A JP2017200276 A JP 2017200276A JP 2017200276 A JP2017200276 A JP 2017200276A JP 2019073412 A JP2019073412 A JP 2019073412A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- exhaust port
- gas
- single crystal
- silicon single
- exhaust
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 58
- 239000010703 silicon Substances 0.000 title claims abstract description 58
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 56
- 239000013078 crystal Substances 0.000 title claims abstract description 49
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 11
- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims abstract description 19
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 19
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 4
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 22
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 17
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 abstract description 13
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 64
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 6
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 6
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 5
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 4
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 4
- UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N Carbon monoxide Chemical compound [O+]#[C-] UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000008710 crystal-8 Substances 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 2
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 150000003376 silicon Chemical class 0.000 description 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 239000012774 insulation material Substances 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B15/00—Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
- C30B15/14—Heating of the melt or the crystallised materials
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B15/00—Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B29/00—Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
- C30B29/02—Elements
- C30B29/06—Silicon
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B35/00—Apparatus not otherwise provided for, specially adapted for the growth, production or after-treatment of single crystals or of a homogeneous polycrystalline material with defined structure
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
Description
ここで、結晶中の炭素濃度は、炉内のヒーター、黒鉛ルツボ等の高温炭素部材から原料融液中に混入するCOの汚染速度と、原料融液からのCOの蒸発速度を制御することによって低減することが知られている。なお、高温炭素部材からのCO(gas)は、下記反応式に基づいて発生する。
SiO(gas)+2C(solid)→CO(gas)+SiC(solid)
本発明では、1:2≦前記上部排気口からのガスの排気量:前記下部排気口からのガスの排気量≦3:1とするのが好ましい。
特に、1:2≦上部排気口からのガスの排気量:下部排気口からのガスの排気量≦3:1とすることにより、石英ルツボ内のCOを含むガスを効率的に排出することができる。
この発明によれば、上部排気口および下部排気口の開口面積を変更するだけで、それぞれの排気口のガスの排気量を調整することができるため、簡単に上部排気口および下部排気口からのガスの排気量を調整することができる。
この発明によれば、引き上げ装置が排気流路を備えていることにより、COを含むガスが他の部位に漏れ出すことなく排気することができるため、引き上げられたシリコン単結晶中のCsを確実に低減することができる。
図1には、本発明の実施形態に係るシリコン単結晶の製造方法を適用できるシリコン単結晶の引き上げ装置1の構造の一例を表す模式図が示されている。引き上げ装置1は、チョクラルスキー法によりシリコン単結晶10を引き上げる装置であり、外郭を構成するチャンバ2と、チャンバ2の中心部に配置されるルツボ3とを備える。
ルツボ3は、内側の石英ルツボ3Aと、外側の黒鉛ルツボ3Bとから構成される二重構造であり、回転および昇降が可能な支持軸4の上端部に固定されている。
ルツボ3の上方には、支持軸4と同軸上で逆方向または同一方向に所定の速度で回転するワイヤなどの引き上げ軸7が設けられている。この引き上げ軸7の下端には種結晶8が取り付けられている。
熱遮蔽体12は、育成中のシリコン単結晶10に対して、ルツボ3内のシリコン融液9やヒーター5やルツボ3の側壁からの高温の輻射熱を遮断するとともに、結晶成長界面である固液界面の近傍に対しては、外部への熱の拡散を抑制し、単結晶中心部および単結晶外周部の引き上げ軸方向の温度勾配を制御する役割を担う。
また、熱遮蔽体12は、シリコン融液9からの蒸発部を炉上方から導入した不活性ガスにより、炉外に排気する整流筒としての機能もある。
ガス導入口13からチャンバ2内に導入された不活性ガスは、育成中のシリコン単結晶10と熱遮蔽体12との間を下降し、熱遮蔽体12の下端とシリコン融液9の液面との隙間を経た後、熱遮蔽体12の外側、さらにルツボ3の外側に向けて流れ、その後にルツボ3の外側を下降し、排気口14から排出される。
図2および図3には、前述した引き上げ装置1に形成された排気流路の構造が示されている。図2は、垂直方向断面図であり、図3は、水平方向断面図である。
排気ダクト15は、図3に示すように断面C字状の長尺部材から構成され、ヒーター5の外側に配置される内筒16に、排気ダクト15のC字のフランジ先端が接合されている。排気ダクト15は、内筒16の周りに4箇所設けられ、石英ルツボ3Aの中心を中心として、隣り合う排気ダクト15は90°の角度をなすように配置されている。
4本の排気ダクト15の4つの上部排気口16Aのガスの排気量および下部排気口16Bのガスの排気量は、1:3≦上部排気口16Aからのガスの排気量:下部排気口16Bのガスの排気量≦6:1、好ましくは、1:2≦上部排気口16Aからのガスの排気量:下部排気口16Bのガスの排気量≦3:1とされる。
そして、COを含むガスの一部は、図2に示すように、内筒16および熱遮蔽体12により囲まれた空間に流れ込み、高COガス濃度雰囲気領域を形成する。この高COガス濃度雰囲気領域内のCOを含むガスは、上部排気口16Aから排気ダクト15の内部に入り、下方に流れて排気口14から排出される。
そして、上部排気口16Aから排気されるガスの排気量と、下部排気口16Bから排気されるガスの排気量を調整することにより、石英ルツボ3A内のシリコン融液9の表面に流れ込んだCOを含むガスを効率的に排出することができ、結果的に引き上げられたシリコン単結晶10中のCsを低減することができる。
[1]排気位置によるシリコン単結晶10のカーボン濃度の変化
実施形態で説明したシリコン単結晶10の引き上げ装置1を使用して、上部排気口16A、下部排気口16Bからの排気流路を変更し、シリコン単結晶10を引き上げ、引き上げられたシリコン単結晶10中のカーボン濃度を測定した。
比較例1:上部排気口16Aを閉、下部排気口16Bを開とした。
比較例2:上部排気口16Aを開、下部排気口16Bを閉とした。
なお、実施例および比較例1、2において、原料チャージ量は400kgとし、390kgのシリコン単結晶10を引き上げた。また、アルゴンガス流量は、200L/minとし、炉内圧を4000Pa(30Torrを換算した値)とした。結果を図4に示す。
一方、比較例2の上排気のみの場合は、比較例1の下排気のみよりもシリコン単結晶10中のカーボン濃度が増加した。これは、石英ルツボ3Aおよび黒鉛ルツボ3Bの反応によって生成したCOガスを全て上部に吸い上げてしまうため、シリコン融液9近傍のCO濃度が上昇し、結果としてシリコン単結晶10中のカーボン濃度上昇につながったものと考えられる。
次に、STR社の熱流動解析プログラムCGSimを用い、上部排気口16Aおよび下部排気口16Bのガスの排気量の比率を変化させ場合に、シリコン融液9中のカーボン濃度がどのように変化するかを、シミュレーションした。結果を表1および図5に示す。
一方、上部排気口16Aのガスの排気量:下部排気口16Bのガスの排気量=6:1までは、5×1015(atoms/cm3)以下に低減させることができることを確認できた。
特に、1:2≦上部排気口16Aのガスの排気量:下部排気口16Bのガスの排気量≦3:1の範囲では、4×1015(atoms/cm3)以下まで低減することができ、シリコン融液9中のカーボン濃度を大きく低減することができた。
したがって、上部排気口16Aのガスの排気量:下部排気口16Bのガスの排気量を適切に変化させることにより、シリコン融液9中のカーボン濃度を低減させることができるため、引き上げられたシリコン単結晶10中の炭素濃度を低減することができることを確認することができた。
Claims (4)
- チャンバと、前記チャンバ内に設けられる石英ルツボと、前記石英ルツボを囲むように配置され、前記石英ルツボを加熱するヒーターとを備えた引き上げ装置を用い、シリコン単結晶を製造するシリコン単結晶の製造方法であって、
前記引き上げ装置には、前記引き上げ装置内に導入されたガスを前記ヒーターの上部から排気する上部排気口、および前記ヒーターの下部から排気する下部排気口が形成され、
1:3≦前記上部排気口からのガスの排気量:前記下部排気口からのガスの排気量≦6:1とすることを特徴とするシリコン単結晶の製造方法。 - 請求項1に記載のシリコン単結晶の製造方法において、
1:2≦前記上部排気口からのガスの排気量:前記下部排気口からのガスの排気量≦3:1とすることを特徴とするシリコン単結晶の製造方法。 - 請求項1または請求項2に記載のシリコン単結晶の製造方法において、
前記上部排気口および前記下部排気口からのガスの排気量は、それぞれの排気口の開口面積を変更することにより調整されることを特徴とするシリコン単結晶の製造方法。 - 請求項1から請求項3のいずれか一項に記載のシリコン単結晶の製造方法において、
前記引き上げ装置は、前記チャンバ内に配置され、前記上部排気口および前記下部排気口が形成され、カーボン部材から構成される排気流路を備えていることを特徴とするシリコン単結晶の製造方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017200276A JP6881214B2 (ja) | 2017-10-16 | 2017-10-16 | シリコン単結晶の製造方法 |
TW107125107A TWI682077B (zh) | 2017-10-16 | 2018-07-20 | 矽單結晶的製造方法 |
KR1020180121041A KR102151821B1 (ko) | 2017-10-16 | 2018-10-11 | 실리콘 단결정 제조 방법 |
CN201811203581.3A CN109666968B (zh) | 2017-10-16 | 2018-10-16 | 硅单晶的制造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017200276A JP6881214B2 (ja) | 2017-10-16 | 2017-10-16 | シリコン単結晶の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019073412A true JP2019073412A (ja) | 2019-05-16 |
JP6881214B2 JP6881214B2 (ja) | 2021-06-02 |
Family
ID=66142054
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017200276A Active JP6881214B2 (ja) | 2017-10-16 | 2017-10-16 | シリコン単結晶の製造方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6881214B2 (ja) |
KR (1) | KR102151821B1 (ja) |
CN (1) | CN109666968B (ja) |
TW (1) | TWI682077B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021046344A (ja) * | 2019-09-20 | 2021-03-25 | 株式会社Sumco | 半導体結晶製造装置 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05319976A (ja) | 1992-03-19 | 1993-12-03 | Fujitsu Ltd | 超低炭素結晶成長装置及びシリコン単結晶の製造方法 |
JP4128842B2 (ja) * | 2002-10-15 | 2008-07-30 | コバレントマテリアル株式会社 | シリコン単結晶引上装置 |
JP4730937B2 (ja) * | 2004-12-13 | 2011-07-20 | Sumco Techxiv株式会社 | 半導体単結晶製造装置および製造方法 |
CN101713095A (zh) * | 2009-08-18 | 2010-05-26 | 芜湖升阳光电科技有限公司 | 双向气流的硅晶体生长装置 |
CN201793813U (zh) * | 2010-09-28 | 2011-04-13 | 常州天合光能有限公司 | 低能耗单晶热场 |
KR101111681B1 (ko) * | 2010-10-05 | 2012-02-14 | (주)기술과가치 | 단결정 실리콘 잉곳 제조장치 |
JP5561785B2 (ja) * | 2011-03-25 | 2014-07-30 | グローバルウェーハズ・ジャパン株式会社 | シリコン単結晶引上装置及びそれを用いたシリコン単結晶の引上げ方法 |
CN103173849A (zh) * | 2011-12-21 | 2013-06-26 | 卉欣光电科技(江苏)有限公司 | 单晶硅制造装置炉室结构 |
JP6268936B2 (ja) * | 2013-11-05 | 2018-01-31 | 株式会社Sumco | シリコン単結晶製造方法 |
JP6413925B2 (ja) | 2015-05-20 | 2018-10-31 | 株式会社デンソー | 炭化珪素単結晶製造装置 |
CN204849115U (zh) * | 2015-08-07 | 2015-12-09 | 包头市山晟新能源有限责任公司 | 上排气热场单晶炉 |
-
2017
- 2017-10-16 JP JP2017200276A patent/JP6881214B2/ja active Active
-
2018
- 2018-07-20 TW TW107125107A patent/TWI682077B/zh active
- 2018-10-11 KR KR1020180121041A patent/KR102151821B1/ko active IP Right Grant
- 2018-10-16 CN CN201811203581.3A patent/CN109666968B/zh active Active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021046344A (ja) * | 2019-09-20 | 2021-03-25 | 株式会社Sumco | 半導体結晶製造装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201917237A (zh) | 2019-05-01 |
JP6881214B2 (ja) | 2021-06-02 |
KR102151821B1 (ko) | 2020-09-03 |
TWI682077B (zh) | 2020-01-11 |
KR20190042457A (ko) | 2019-04-24 |
CN109666968B (zh) | 2021-02-09 |
CN109666968A (zh) | 2019-04-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6090391B2 (ja) | シリコン単結晶の製造方法 | |
TWI730594B (zh) | 一種半導體晶體生長裝置 | |
KR101391057B1 (ko) | 단결정 반도체 제조 장치 및 제조 방법 | |
TW202111170A (zh) | 晶體生長裝置 | |
JPWO2003029533A1 (ja) | 単結晶半導体の製造装置、製造方法および単結晶インゴット | |
JP6675197B2 (ja) | 炭化珪素単結晶の製造装置 | |
JP2019073412A (ja) | シリコン単結晶の製造方法 | |
JP6257483B2 (ja) | シリコン単結晶製造方法 | |
KR102038960B1 (ko) | 실리콘 단결정 제조 방법 | |
JP6268936B2 (ja) | シリコン単結晶製造方法 | |
JP3832536B2 (ja) | シリコン単結晶の製造方法および引上げ機 | |
JP2018188338A (ja) | シリコン単結晶の製造方法及びシリコン単結晶 | |
KR101528055B1 (ko) | 잉곳 성장 장치 | |
JP6922831B2 (ja) | シリコン単結晶の製造方法およびシリコン単結晶の引き上げ装置 | |
US20040099210A1 (en) | Single crystal pulling apparatus for a metal fluoride | |
JP2014080342A (ja) | シリコン単結晶引上げ装置 | |
KR101871059B1 (ko) | 단결정 잉곳 성장장치 | |
RU2626637C1 (ru) | Способ выращивания высокотемпературных монокристаллов методом синельникова-дзиова | |
JP2023552024A (ja) | 複数の坩堝における炭化ケイ素結晶の同期成長方法及び装置 | |
JPH10185455A (ja) | 加熱処理装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20191017 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20200916 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200929 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20201116 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210406 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210419 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6881214 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |