JP2019066485A - 多段階フィードバックコンデンサスイッチングスキーム - Google Patents

多段階フィードバックコンデンサスイッチングスキーム Download PDF

Info

Publication number
JP2019066485A
JP2019066485A JP2018220106A JP2018220106A JP2019066485A JP 2019066485 A JP2019066485 A JP 2019066485A JP 2018220106 A JP2018220106 A JP 2018220106A JP 2018220106 A JP2018220106 A JP 2018220106A JP 2019066485 A JP2019066485 A JP 2019066485A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
switch
capacitance
differential amplifier
input
feedback capacitor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2018220106A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6706660B2 (ja
Inventor
リー ジェミン
zhe-ming Li
リー ジェミン
ガンタ サイクリシュナ
Ganta Saikrishna
ガンタ サイクリシュナ
チョン テ‐ソン
Tae-Song Chung
チョン テ‐ソン
ベタンコート ラファエル
Betancourt Rafael
ベタンコート ラファエル
マイケル ウェイナース ジョン
Michael Weinerth John
マイケル ウェイナース ジョン
シャフロヒー ファルザネ
Shahrokhi Farzaneh
シャフロヒー ファルザネ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Synaptics Inc
Original Assignee
Synaptics Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Synaptics Inc filed Critical Synaptics Inc
Publication of JP2019066485A publication Critical patent/JP2019066485A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6706660B2 publication Critical patent/JP6706660B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0416Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
    • G06F3/04166Details of scanning methods, e.g. sampling time, grouping of sub areas or time sharing with display driving
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/044Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/016Input arrangements with force or tactile feedback as computer generated output to the user
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/044Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
    • G06F3/0445Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means using two or more layers of sensing electrodes, e.g. using two layers of electrodes separated by a dielectric layer
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/94Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the way in which the control signals are generated
    • H03K17/96Touch switches
    • H03K17/962Capacitive touch switches
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2203/00Indexing scheme relating to G06F3/00 - G06F3/048
    • G06F2203/041Indexing scheme relating to G06F3/041 - G06F3/045
    • G06F2203/04108Touchless 2D- digitiser, i.e. digitiser detecting the X/Y position of the input means, finger or stylus, also when it does not touch, but is proximate to the digitiser's interaction surface without distance measurement in the Z direction
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K2217/00Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00
    • H03K2217/94Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00 characterised by the way in which the control signal is generated
    • H03K2217/96Touch switches
    • H03K2217/9607Capacitive touch switches
    • H03K2217/960735Capacitive touch switches characterised by circuit details
    • H03K2217/96074Switched capacitor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

【課題】静電容量測定の方法を提供する。【解決手段】静電容量測定回路のフィードバックコンデンサを第1の電圧レベルにリセット502し、測定フェーズを開始するためにセンサ電極と差動増幅器の第1の入力部とを結合506し、フィードバックコンデンサと差動増幅器の出力部との間の複数のスイッチの第1のスイッチを閉じる508ことを含む。第1のスイッチを閉じるときフィードバックコンデンサと直列に結合される第1のスイッチに第1の抵抗値を適用する。さらに、ある時間遅延の後に、複数のスイッチの第2のスイッチをオンし、第1のスイッチと並列に結合される第2のスイッチにおいて第2の抵抗値を生じさせ、第1のスイッチを閉じてからある遅延の後に複数のスイッチの残りを閉じ510、センサ電極と入力物体との間の結合に相当する絶対静電容量が測定されるようにセンサ電極の電荷を積分するために差動増幅器を動作させる512ことを含む。【選択図】図5

Description

背景
[開示の分野]
[0001]実施形態は、一般には入力感知、詳細には静電容量感知(capacitance sensing:キャパシタンスセンシング)に関する。
関連技術の説明
[0002]近接センサ装置(一般にタッチパッド又はタッチセンサ装置とも呼ばれる)を含む入力装置は、様々な電子システムにおいて広く使用されている。近接センサ装置は、典型的には、しばしば表面によって境界が定められる感知領域を含み、この感知領域において近接センサ装置が1つ又は複数の入力物体の存在、位置、及び/又は動きを決定する。近接センサ装置を使用して電子システムのためのインタフェースを提供することができる。例えば、近接センサ装置は、より大きな計算機システムに対する入力装置(ノート型コンピュータ若しくはデスクトップコンピュータに組み込まれた、又はそれらの周辺にある不透明なタッチパッドなど)としてしばしば使用される。近接センサ装置は、より小さな計算機システムにおいてもしばしば使用される(携帯電話に組み込まれたタッチスクリーンなど)。
概要
[0003]本開示の実施形態は、静電容量感知装置のための処理システムを提供する。本処理システムは、センサ電極からの静電容量を測定するためにセンサ電極に結合されるように構成された静電容量測定回路を含む。静電容量測定回路は、センサ電極に結合された第1の入力部、第2の入力部、及び出力部を有する差動増幅器、並びに差動増幅器の第1の入力部と差動増幅器の出力部との間に結合されたフィードバックコンデンサを含む。静電容量測定回路は、フィードバックコンデンサと差動増幅器の出力部との間に直列に結合された第1のスイッチ及び第2のスイッチをさらに含む。静電容量測定回路は、第1のスイッチをオンし、フィードバックコンデンサと直列に第1の抵抗値を適用するように構成された制御モジュールを含む。制御モジュールは、ある時間遅延の後に、第2のスイッチをオンし、第1の抵抗と並列に第2の抵抗を配置し、それによってフィードバックコンデンサと直列の総抵抗を低下させるようにさらに構成されている。
[0004]本開示の別の実施形態は、静電容量感知装置のための処理システムを提供する。処理システムは、センサ電極からの静電容量の測定のためにセンサ電極に結合されるように構成された静電容量測定回路を含む。静電容量測定回路は、センサ電極に結合された第1の入力部、第2の入力部、及び出力部を有する差動増幅器を含む。静電容量測定回路は、差動増幅器の第1の入力部と差動増幅器の出力部との間に結合された第1のフィードバック静電容量、及び第1のフィードバック静電容量と並列に結合された第2のフィードバック静電容量を含む。第2のフィードバック静電容量は、複数の関連付けられたスイッチと直列の複数のコンデンサを含む。静電容量測定回路は、積分フェーズ中に、複数のスイッチの各スイッチを制御して関連付けられたコンデンサを順次遅延の後に差動増幅器の出力部に結合するように構成された制御モジュールをさらに含む。
[0005]本開示の別の実施形態では、静電容量測定の方法が提供される。本方法は、静電容量測定回路のフィードバックコンデンサを第1の電圧レベルにリセットするステップと、測定フェーズを開始するためにセンサ電極と差動増幅器の第1の入力部とを結合するステップと、を含む。フィードバックコンデンサが差動増幅器の第1の入力部と差動増幅器の出力部との間に結合されている。さらに、本方法は、フィードバックコンデンサと差動増幅器の出力部との間の複数のスイッチの第1のスイッチを閉じるステップを含む。第1のスイッチを閉じるステップによりフィードバックコンデンサと直列に結合される第1のスイッチに第1の抵抗値を適用する。さらに、本方法は、ある時間遅延の後に、複数のスイッチの第2のスイッチをオンし、第1のスイッチと並列に結合される第2のスイッチにおいて第2の抵抗値を生じさせるステップと、第1のスイッチを閉じてからある遅延の後に複数のスイッチの残りを閉じるステップと、センサ電極と入力物体との間の結合に相当する絶対静電容量が測定されるようにセンサ電極の電荷を積分するために差動増幅器を動作させるステップと、を含む。
[0006]実施形態の上記の特徴を詳細に理解することができるように、一部が添付図面に示される実施形態を参照することによって上で要約された実施形態のより具体的な説明を行うことができる。しかしながら、添付図面は、典型的な実施形態のみを示し、したがって、範囲を限定していると考えられるべきではなく、その理由は他の効果的な実施形態を受け入れることができるためである。
[0007]図1は、一例による入力装置を含むシステムのブロック図である。
[0008]図2は、本開示の実施形態による静電容量センサ装置を示すブロック図である。
[0009]図3Aは、本開示の実施形態による、リセットフェーズ及び積分フェーズを含む、絶対静電容量感知のサイクルを通した静電容量測定回路の動作を示す。 [0009]図3Bは、本開示の実施形態による、リセットフェーズ及び積分フェーズを含む、絶対静電容量感知のサイクルを通した静電容量測定回路の動作を示す。
[0010]図4は、一実施形態による、センサ電極からの静電容量を測定するためにセンサ電極に結合されるように構成された静電容量測定回路の回路図である。
[0011]図5は、一実施形態による、電荷積分器を用いて静電容量を測定する方法を示す流れ図である。
[0012]図6Aは、本開示の一実施形態による、リセットフェーズ及び積分フェーズを含む、絶対静電容量感知のサイクルを通した静電容量測定回路の動作を示す。 [0012]図6Bは、本開示の一実施形態による、リセットフェーズ及び積分フェーズを含む、絶対静電容量感知のサイクルを通した静電容量測定回路の動作を示す。 [0012]図6Cは、本開示の一実施形態による、リセットフェーズ及び積分フェーズを含む、絶対静電容量感知のサイクルを通した静電容量測定回路の動作を示す。 [0012]図6Dは、本開示の一実施形態による、リセットフェーズ及び積分フェーズを含む、絶対静電容量感知のサイクルを通した静電容量測定回路の動作を示す。
[0013]図7は、本開示の一実施形態による、電荷を生成するための回路を示すブロック図である。
[0014]図8は、本開示の一実施形態による、電流入力波形を示すチャート図である。
[001]図9は、本開示の一実施形態による、記載されたスイッチングスキームを使用するチャージポンプ回路を示すブロック図である。
詳細な説明
[0016]理解を容易にするために、可能な場合は、各図に共通の同一の要素を指定するために同一の参照数字を使用した。一実施形態の要素は、他の実施形態に有益に組み込まれてもよいと考えられている。
[0017]以下の詳細な説明は、本質的に単なる例示であって、実施形態又はそのような実施形態の用途及び使用法を限定することは意図されていない。さらに、前述の技術分野、背景、概要又は以下の詳細な説明で提示された、いかなる明示された又は暗示された理論によっても拘束される意図はない。
[0018]ここで図を見てみると、図1は、本発明の実施形態による、例示的な入力装置100のブロック図である。入力装置100は、電子システム(図示せず)に入力を提供するように構成されていてもよい。本文書で使用されるように、用語「電子システム」(又は「電子装置」)は、電子的に情報を処理することができる任意のシステムを広く指す。電子システムの一部の非限定的な例には、すべてのサイズ及び形状のパーソナルコンピュータ、例えば、デスクトップコンピュータ、ラップトップコンピュータ、ネットブックコンピュータ、タブレット、ウェブブラウザ、eブックリーダー、及び携帯情報端末(PDA)が含まれる。さらなる例示的な電子システムには、入力装置100、別個のジョイスティック又はキースイッチを含む物理的なキーボードなどの複合入力装置が含まれる。さらに、例示的な電子システムには、(遠隔制御装置及びマウスを含む)データ入力装置並びに(表示画面及びプリンタを含む)データ出力装置などの周辺装置が含まれる。他の例には、遠隔端末、キオスク、及びビデオゲーム機(例えば、ビデオゲームコンソール、携帯ゲーム機など)が含まれる。他の例には、(スマートフォンなどの携帯電話を含む)通信装置、並びに(記録装置、編集機、並びにテレビ、セットトップボックス、音楽再生装置、デジタルフォトフレーム、及びデジタルカメラなどの再生装置を含む)メディア装置が含まれる。さらに、電子システムは、入力装置に対するホスト又はスレーブであってもよい。
[0019]入力装置100は、電子システムの物理的な一部として実装されてもよく、又は電子システムと物理的に離れていてもよい。必要に応じて、入力装置100は、下記の、すなわちバス、ネットワーク、及び他の有線相互接続又は無線相互接続のいずれか1つ又は複数を使用して電子システムの一部と通信してもよい。例として、I2C、SPI、PS/2、ユニバーサルシリアルバス(USB)、Bluetooth(登録商標)、RF、及びIRDAが含まれる。
[0020]図1では、入力装置100は、感知領域120の1つ又は複数の入力物体140によって提供される入力を感知するように構成された、(しばしば「タッチパッド」又は「タッチセンサ装置」とも呼ばれる)近接センサ装置として示されている。図1に示すように、例示的な入力物体には、指及びスタイラスが含まれる。
[0021]感知領域120は、入力装置100がユーザ入力(例えば、1つ又は複数の入力物体140によって提供されるユーザ入力)を検出することができる入力装置100の上の、周囲の、中の、及び/又は近くのいかなる空間も包含する。特定の感知領域のサイズ、形状、及び位置は、実施形態間で大きく変わることがある。一部の実施形態では、感知領域120は、信号対雑音比が、十分に正確な物体検出の妨げとなるまで、入力装置100の表面から1つ又は複数の方向に空間内へと延在する。この感知領域120が特定方向に延在する距離は、様々な実施形態において、1ミリメートル未満、ミリメートル、センチメートル、又はそれ以上のオーダであってもよく、使用される感知技術のタイプ及び所望の精度に応じて著しく変わる場合がある。したがって、一部の実施形態は、入力装置100のいかなる表面との接触も含まない、入力装置100の入力表面(例えば、タッチ表面)との接触を含む、ある量の印加された力又は圧力と結合された入力装置100の入力表面との接触を含む、及び/又はそれらの組合せを含む入力を感知する。様々な実施形態において、入力表面は、センサ電極が存在するケーシングの表面によって、センサ電極又は任意のケーシング上に施されるフェースシートなどによって提供されてもよい。一部の実施形態では、感知領域120は、入力装置100の入力表面に投影されたときに矩形形状を有する。
[0022]入力装置100は、感知領域120のユーザ入力を検出するためのセンサ構成部品及び感知技術の任意の組合せを利用してもよい。入力装置100は、ユーザ入力の検出のための1つ又は複数の感知素子を備える。いくつかの非限定的な例として、入力装置100は、静電容量性、弾性、抵抗性、誘導性、磁気、音響、超音波、及び/又は光学技法を使用してもよい。一部の実施態様は、一次元、二次元、三次元、又はそれ以上の空間に広がる画像を提供するように構成されている。一部の実施態様は、特定の軸又は面に沿って入力の投影を行うように構成されている。入力装置100の一部の抵抗性の実施態様では、可撓性及び伝導性の第1の層が1つ又は複数のスペーサ素子によって伝導性の第2の層から分離されている。動作中に、1つ又は複数の電圧勾配が層の両端間に生成される。可撓性の第1の層を押すことによって、この層を、層間の電気的接触を生成するように十分に反らすことができ、結果として層間の接触点(複数可)を反映する電圧出力が得られる。これらの電圧出力を使用して位置情報を決定してもよい。
[0023]入力装置100の一部の誘導性の実施態様では、1つ又は複数の感知素子は、共振コイル又はコイル対によって誘起されるループ電流を捕らえる。次いで、電流の大きさ、位相、及び周波数のある組合せを使用して位置情報を決定してもよい。
[0024]入力装置100の一部の静電容量性の実施態様では、電圧又は電流を印加して電場を生成する。近くの入力物体によって電場の変化を引き起こし、電圧、電流などの変化として検出ことができる静電容量結合における検出可能な変化を生成する。
[0025]一部の静電容量性の実施態様は、電場を生成するために静電容量感知素子のアレイ、又は他の規則的な若しくは不規則なパターンを利用する。一部の静電容量性の実施態様では、別々の感知素子をオーミックに短絡してより大きなセンサ電極を形成してもよい。一部の静電容量性の実施態様は、一様に抵抗性であってもよい抵抗性のシートを利用する。
[0026]一部の静電容量性の実施態様は、センサ電極と入力物体との間の静電容量結合の変化に基づいた「自己静電容量」(又は「絶対静電容量」)感知方法を利用する。様々な実施形態において、センサ電極の近くの入力物体は、センサ電極の近くの電場を変え、測定される静電容量結合を変化させる。一実施態様では、絶対静電容量感知方法は、基準電圧(例えば、システムグランド)に対してセンサ電極を変調することによって、及びセンサ電極と入力物体との間の静電容量結合を検出することによって動作する。
[0027]一部の静電容量性の実施態様は、センサ電極間の静電容量結合の変化に基づいた「相互静電容量」(又は「トランス静電容量」)感知方法を利用する。様々な実施形態において、センサ電極の近くの入力物体は、センサ電極間の電場を変え、測定される静電容量結合を変化させる。一実施態様では、トランス静電容量感知方法は、1つ又は複数の送信器センサ電極(「送信器電極」又は「送信器」でもある)と1つ又は複数の受信器センサ電極(「受信器電極」又は「受信器」でもある)との間の静電容量結合を検出することによって動作する。送信器センサ電極を基準電圧(例えば、システムグランド)に対して変調し送信器信号を送信してもよい。受信器センサ電極を基準電圧に対して実質的に一定に保持し、結果として生じる信号の受信を容易に行うことができる。結果として生じる信号は、1つ又は複数の送信器信号及び/又は1つ又は複数の周囲の干渉源(例えば、他の電磁気信号)に対応する影響(複数可)を含んでもよい。センサ電極は、専用の送信器若しくは受信器であってもよく、又は、センサ電極は、送信及び受信の両方を行うよう構成されてもよい。或は、受信器電極は、グラウンドに対して変調されてもよい。
[0028]図1では、処理システム110は、入力装置100の一部として示されている。処理システム110は、感知領域120の入力を検出するために入力装置100のハードウェアを動作させるように構成されている。処理システム110は、1つ若しくは複数の集積回路(IC)及び/又は他の回路構成部品の一部或はすべてを備える。例えば、相互静電容量センサ装置のための処理システムは、送信器センサ電極によって信号を送信するように構成された送信器回路、及び/又は受信器センサ電極によって信号を受信するように構成された受信器回路を備えてもよい。一部の実施形態では、処理システム110は、ファームウェアコード、ソフトウェアコードなどの電子的可読命令も備える。一部の実施形態では、処理システム110を構成する構成部品は、入力装置100の感知素子(複数可)の近くなどに一緒に置かれる。他の実施形態では、処理システム110の構成部品は、入力装置100の感知素子(複数可)の近くの1つ又は複数の構成部品及び他のどこかの1つ又は複数の構成部品と物理的に離れている。例えば、入力装置100は、デスクトップコンピュータに結合された周辺装置であってもよく、処理システム110は、デスクトップコンピュータの中央処理装置上で動くように構成されたソフトウェア、及び中央処理装置とは別個の(恐らくは関連付けられたファームウェアを有する)1つ又は複数のICを備えてもよい。別の例として、入力装置100は、電話機に物理的に組み込まれてもよく、処理システム110は、電話機のメインプロセッサーの一部である回路及びファームウェアを備えてもよい。一部の実施形態では、処理システム110は、入力装置100を実施する目的にある。他の実施形態では、処理システム110は、表示画面を動作させる、触覚型のアクチュエータを駆動するなどの他の機能も行う。
[0029]処理システム110は、処理システム110の異なる機能を扱う1組のモジュールとして実装されてもよい。各モジュールは、処理システム110の一部である回路、ファームウェア、ソフトウェア、又はそれらの組合せを備えてもよい。様々な実施形態において、モジュールの異なる組合せが使用されてもよい。例示的なモジュールには、センサ電極及び表示画面などのハードウェアを動作させるためのハードウェア動作モジュール、センサ信号及び位置情報などのデータを処理するためのデータ処理モジュール、並びに情報を報告するための報告モジュールが含まれる。さらに例示的なモジュールには、感知素子(複数可)を動作させ、入力を検出するように構成されたセンサ操作モジュール、モード変更ジェスチャーなどのジェスチャーを識別するように構成された識別モジュール、及び動作モードを変更するためのモード変更モジュールが含まれる。
[0030]一部の実施形態では、処理システム110は、1つ又は複数の動作を引き起こすことによって感知領域120におけるユーザ入力(又はユーザ入力の欠如)に直ちに応答する。例示的な動作には、操作モードの変更、並びにGUI動作、例えば、カーソル移動、選択、メニューナビゲーション、及び他の機能などが含まれる。一部の実施形態では、処理システム110は、電子システムの一部に(例えば、別個の中央処理システムが存在する場合は、処理システム110とは別個の電子システムの中央処理システムに)入力(又は入力の欠如)に関する情報を提供する。一部の実施形態では、電子システムのある部分は、処理システム110から受け取った情報を処理してユーザ入力に作用し、例えば、モード変更動作及びGUI動作を含む、あらゆる動作を容易に行えるようにする。
[0031]例えば、一部の実施形態では、処理システム110は、入力装置100の感知素子(複数可)を動作させ、感知領域120における入力(又は入力の欠如)を示す電気信号を生成する。処理システム110は、電子システムに提供される情報を生成する際に電気信号に対して任意の適切な量の処理を行ってもよい。例えば、処理システム110は、センサ電極から得られたアナログ電気信号をデジタル化してもよい。別の例として、処理システム110は、フィルタリング又は他の信号調節を行うことができる。さらに別の例として、処理システム110は、情報が電気信号とベースラインの差を反映するように、ベースラインを減じる、さもなければ報告してもよい。さらなる例として、処理システム110は、位置情報を決定する、入力を命令として認識する、筆跡を認識することなどができる。
[0032]本明細書で広く使用されているような「位置情報」は、絶対位置、相対位置、速度、加速度、及び他のタイプの空間的情報を包含する。例示的な「ゼロ次元の」位置情報は、近くの/遠くの、又は接触した/非接触の情報を含む。例示的な「一次元の」位置情報には、軸に沿った位置が含まれる。例示的な「二次元の」位置情報には、面内の動きが含まれる。例示的な「三次元の」位置情報には、空間における瞬間の又は平均の速度が含まれる。さらなる例には、空間的情報の他の表現が含まれる。また、例えば、ある時間にわたって位置、動き、又は瞬間の速度を追跡する履歴データを含む、1つ又は複数のタイプの位置情報に関する履歴データを決定する及び/又は保存してもよい。
[0033]一部の実施形態では、入力装置100は、処理システム110によって、又は他のなんらかの処理システムによって動作する追加の入力構成部品が実装されている。これらの追加の入力構成部品は、感知領域120の入力に対する冗長な機能性又は他のなんらかの機能性を提供してもよい。図1は、入力装置100を使用して、項目の選択を容易にするために使用することができる感知領域120の近くのボタン130を示す。他のタイプの追加の入力構成部品には、スライダ、ボール、ホイール、スイッチなどが含まれる。反対に、一部の実施形態では、入力装置100は、他の入力構成部品が全く実装されていなくてもよい。
[0034]一部の実施形態では、入力装置100は、タッチ画面インタフェースを備え、感知領域120は、表示画面の活性領域の少なくとも一部とオーバーラップする。例えば、入力装置100は、表示画面を覆う実質的に透明なセンサ電極を備え、関連付けられた電子システムのためのタッチ画面インタフェースを提供してもよい。表示画面は、ユーザへのビジュアルインターフェイスを表示することができる任意のタイプのダイナミックディスプレイであってもよく、任意のタイプの発光ダイオード(LED)、有機LED(OLED)、陰極線管(CRT)、液晶ディスプレイ(LCD)、プラズマ、エレクトロルミネセンス(EL)、又は他のディスプレイ技術を含んでもよい。入力装置100及び表示画面は、物理的要素を共有してもよい。例えば、一部の実施形態は、表示及び検知のために同一の電気的構成要素のいくつかを利用してもよい。別の例として、表示画面は、処理システム110によって一部が又は全体が動作してもよい。
[0035]本発明の多くの実施形態は、完全に機能する装置の文脈において記載されているが、本発明のメカニズムは、様々な形態でプログラム製品(例えば、ソフトウェア)として配布することができることを理解されたい。例えば、本発明のメカニズムは、電子プロセッサによって読み取り可能な情報担持媒体(例えば、処理システム110によって読み取り可能な非一時的な、コンピュータ読み取り可能及び/又は記録可能/書き込み可能情報担持媒体)上のソフトウェアプログラムとして実施され配布されてもよい。さらに、本発明の実施形態は、配布を実行するために使用される特定のタイプの媒体に関係なく等しく適用される。非一時的な、電子的に読み取り可能な媒体の例には、様々なディスク、メモリスティック、メモリカード、メモリモジュールなどが含まれる。電子的に読み取り可能な媒体は、フラッシュ、光学、磁気、ホログラフィー、又はその他の記憶技術に基づいてもよい。
[0036]図2は、一部の実施形態による、例示的なセンサ電極パターンの一部を有し、このパターンに関連付けられた感知領域120において感知するように構成された入力装置100の一実施形態を示す。図及び説明を明瞭にするために、図2は、センサパターンを複数の単純な矩形として表しているが、アレイは、図示しない他の幾何学形状及び/又は様々な構成要素を有することができることを理解されたい。このセンサ電極パターンは、第1の複数のセンサ電極210(210−1、210−2、210−3、...、210−n)、及び第1の複数のセンサ電極210上に配置された第2の複数のセンサ電極220(220−1、220−2、220−3、...、220−n)を備える。
[0037]センサ電極210、220は、典型的には互いにオーミックに絶縁されている。さらに、センサ電極210が複数のサブ電極を含んでいるところでは、サブ電極は、互いにオーミックに絶縁されていてもよい。一実施形態において、センサ電極210はすべて、基板の単一層上に配置され得る。センサ電極が単一の基板に配置されて示されているが、一部の実施形態では、センサ電極は、2つ以上の基板に配置されてもよい。例えば、一部のセンサ電極は、第1の基板に配置されてもよく、他のセンサ電極は、第1の基板に付着させた第2の基板に配置されてもよい。
[0038]一般に、処理システム110は、感知信号によってセンサ電極パターンの感知素子を励起し、又は駆動し、感知信号及び感知領域120における入力の影響を含む、誘起される又は結果として生じる信号を測定する。本明細書で使用されるような、用語「励起する」、「駆動する」は、駆動される素子のある電気的な態様を制御することを包含する。例えば、ワイヤを流れる電流を駆動する、電荷を導体内へと駆動する、実質的に一定の又は変化する電圧波形を電極上に駆動することなどが可能である。感知信号は、ある時間にわたって一定であっても、実質的に一定であっても、又は変化してもよく、一般に、形状、周波数、大きさ、及び位相を含む。感知信号は、グランド信号又は他の基準信号などの「受動信号」とは対照的に「能動信号」と呼ばれることがある。また、感知信号は、トランス静電容量感知で使用される場合は「送信器信号」、又は絶対感知で使用される場合は「絶対感知信号」若しくは「変調信号」と呼ばれることがある。
[0039]一例において、処理システム110は、電圧によってセンサ電極パターンの感知素子(複数可)を駆動し、感知素子(複数可)上の結果として生じるそれぞれの電荷を感知する。すなわち、感知信号は、電圧信号であり、結果として生じる信号は、電荷信号(例えば、積分された電流信号などの蓄積された電荷を示す信号)である。静電容量は、印加される電圧に比例し、蓄積される電荷に反比例する。処理システム110は、感知された電荷から静電容量の測定値(複数可)を決定することができる。別の例において、処理システム110は、電荷によってセンサ電極パターンの感知素子(複数可)を駆動し、感知素子(複数可)上の結果として生じるそれぞれの電圧を感知する。すなわち、感知信号は、電荷の蓄積を引き起こす信号(例えば、電流信号)であり、結果として生じる信号は、電圧信号である。処理システム110は、感知された電圧から静電容量の測定値(複数可)を決定することができる。一般に、用語「感知信号」は、電荷を感知するための駆動電圧及び電圧を感知するための駆動電荷の両方、並びに静電容量の指標を得るために使用することができるその他のタイプの信号を包含することが意図されている。「静電容量の指標」には、静電容量を導出することができる電荷、電流、電圧などの測定値が含まれる。
[0040]処理システム110は、センサモジュール202及び決定モジュール204を含むことができる。センサモジュール202及び決定モジュール204は、処理システム110の異なる機能を行うモジュールを備える。他の例では、1つ又は複数の他のモジュール206の異なる構成が本明細書に記載された機能を行うことができる。センサモジュール202及び決定モジュール204は、回路を含むことができ、さらにファームウェア、ソフトウェア、又は回路と共同して動作するそれらの組合せを含むことができる。
[0041]センサモジュール202は、1つ又は複数のスキーム(「励起スキーム」)に応じて1つ又は複数のサイクル(「励起サイクル」)にわたってセンサ電極パターンの1つ又は複数の感知素子上の感知信号(複数可)を選択的に駆動する。各励起サイクル中に、センサモジュール202は、センサ電極パターンの1つ又は複数の感知素子からの結果として生じる信号(複数可)を選択的に感知することができる。各励起サイクルは、関連付けられた時間間隔を有し、その時間間隔中に感知信号が駆動され、結果として生じる信号が測定される。
[0042]1つのタイプの励起スキームでは、センサモジュール202は、絶対静電容量感知のためにセンサ電極パターンの感知素子を選択的に駆動することができる。絶対静電容量感知では、センサモジュール202は、センサ電極(複数可)210、220の電圧、電荷、又は電流を測定し、センサ電極(複数可)210、220と入力物体との間の静電容量を示す、結果として生じる信号を得ることができる。そのような励起スキームでは、選択された感知素子(複数可)と入力物体(複数可)との間の絶対静電容量の測定値は、結果として生じる信号(複数可)から決定される。
[0043]別のタイプの励起スキームでは、センサモジュール202は、トランス静電容量感知のためにセンサ電極パターンの感知素子を選択的に駆動することができる。トランス静電容量感知では、センサモジュール202は、送信器信号(複数可)によって、選択された送信器センサ電極を駆動し、選択された受信器センサ電極から、結果として生じる信号を感知する。そのような励起スキームでは、送信器電極と受信器電極との間のトランス静電容量の測定値は、結果として生じる信号から決定される。一例において、センサモジュール202は、送信器信号(複数可)によって、選択されたセンサ電極210を駆動し、センサ電極220から、結果として生じる信号を受信することができる。
[0044]いかなる励起サイクルにおいても、センサモジュール202は、基準信号及び保護信号を含む、他の信号によってセンサ電極パターンの感知素子を駆動することができる。すなわち、感知信号によって駆動されない、又は結果として生じる信号を受信するように感知されないセンサ電極パターンの感知素子は、基準信号、保護信号によって駆動されてもよく、或は浮遊状態のままであってもよい(すなわち、いかなる信号によっても駆動されない)。基準信号は、グランド信号(例えば、システムグランド)、又はその他の一定の若しくは実質的に一定の電圧信号であってもよい。保護信号は、送信器信号の形状、大きさ、周波数、又は位相の少なくとも1つが同様の又は同一の信号であってもよい。
[0045]「システムグランド」は、システム構成要素によって共有される共通の電圧を指すことができる。例えば、携帯電話の静電容量感知システムは、時として電話機の電源(例えば、充電器又はバッテリー)によって提供されるシステムグランドを基準とすることがある。システムグランドは、アース又はその他の基準に対して固定されていなくてもよい。例えば、テーブル上の携帯電話は、通常、浮いたシステムグランドを有する。自由空間を介してアースグランドに強く結合された人間によって保持される携帯電話は、その人間に対して接地され得るが、この人間グランドは、アースグランドに対して変化することがある。多くのシステムでは、システムグランドは、システムの最大領域の電極に接続されるか、又はその電極によって提供される。静電容量センサ装置200は、そのようなシステムグランド電極に近接して位置する(例えば、グランド面又はバックプレーン上方に位置する)ことができる。
[0046]決定モジュール204は、センサモジュール202によって得られた、結果として生じる信号に基づいて静電容量測定を行う。静電容量測定は、素子間の静電容量結合の変化(「静電容量の変化」とも呼ばれる)を含むことができる。例えば、決定モジュール204は、入力物体(複数可)が存在しない場合の素子間の静電容量結合のベースライン測定値を決定することができる。次いで、決定モジュール204は、静電容量結合のベースライン測定値を入力物体(複数可)が存在する状態の静電容量結合の測定値と組み合わせて、静電容量結合の変化を決定することができる。
[0047]一例において、決定モジュール204は、「静電容量ピクセル」として、感知領域120の特定の部分に関連付けられた複数の静電容量測定を行い、「静電容量画像」又は「静電容量フレーム」を生成することができる。静電容量画像の静電容量ピクセルは、センサ電極パターンの感知素子を使用して静電容量結合を測定することができる感知領域120内の位置を表わす。例えば、静電容量ピクセルは、入力物体(複数可)によって影響を受けるセンサ電極210−1と別のセンサ電極220−1との間のトランス静電容量結合に相当することができる。別の例において、静電容量ピクセルは、センサ電極210又は220の絶対静電容量に相当することができる。決定モジュール204は、センサモジュール202によって得られた、結果として生じる信号を使用して、静電容量結合の変化のアレイを決定し、静電容量画像を形成する静電容量ピクセルのxyアレイを生成することができる。静電容量画像は、トランス静電容量感知(例えば、トランス静電容量画像)を使用して得られても、又は絶対静電容量感知(例えば、絶対静電容量画像)を使用して得られてもよい。このようにして、処理システム110は、感知領域120の入力物体(複数可)に関連して測定された応答のスナップショットである静電容量画像を捕らえることができる。所与の静電容量画像は、感知領域の静電容量ピクセルのすべて、又は静電容量ピクセルのサブセットのみを含むことができる。
[0048]別の例において、決定モジュール204は、感知領域120の特定の軸に関連付けられた複数の静電容量測定を行い、その軸に沿った「静電容量プロファイル」を生成することができる。例えば、決定モジュール204は、センサ電極210−N及び/又はセンサ電極220−Nによって規定された軸に沿った絶対静電容量結合の変化のアレイを決定し、静電容量プロファイル(複数可)を生成することができる。静電容量結合の変化のアレイは、所与の軸に沿った、センサ電極の数以下のいくつかの点を含むことができる。
[0049]静電容量画像(複数可)又は静電容量プロファイル(複数可)などの、処理システム110による静電容量の測定(複数可)によって、センサ電極パターンによる、形成された感知領域に対する接触、ホバリング、他のユーザ入力の感知が可能となる。決定モジュール204は、静電容量の測定を利用してセンサ電極パターンによって形成された感知領域に対するユーザ入力に関する位置情報を決定することができる。決定モジュール204は、そのような測定(複数可)をさらに又は代わりに使用して入力物体のサイズ及び/又は入力物体のタイプを決定することができる。
[0050]1つ又は複数の実施形態において、処理システム110は、(実際のタッチによる感知とは対照的に)「ホバー」感知と呼ばれることがある一種の近接感知を行う静電容量センサ装置を動作させるように構成されてもよい。しかしながら、ホバー感知において許容可能な性能を実現するために、処理システム110は、わずかな、漸進的なバックグラウンド静電容量の測定値を得ることができるように構成される。処理システム110によって処理された信号を増幅するために、処理システムは、アナログデジタル変換を行う前に信号をゲインアップする。しかしながら、変換前の信号は、入力物体(例えば、指)の近接度及びバックグラウンド静電容量の量に応じて大きな範囲を有してもよい。そのため、処理システム110は、バックグラウンド静電容量の消去を行い、処理システム110内の内部段の飽和を防ぐように構成される。
[0051]1つの効果的な方法は、バックグラウンド静電容量の消去を達成するために積分器のフィードバックにフィードバック静電容量を使用することである。後でより詳細に記載されるように、センサモジュール202は、リセットフェーズ中にフィードバックコンデンサを基準電圧に充電し、そのような電荷がバックグラウンド静電容量を効果的に消去する。しかしながら、この技法は、積分器の入力ノードが電源レールを上回ったり下回ったりするため、積分器への大きな電荷のリークをもたらす。また、静電容量の急激な放電は、特に単一終端システムにおいて、「電源リップル」及び電源電圧除去(PSR:power supply rejection)の問題を引き起こす場合がある。したがって、本開示の実施形態は、上記問題を解決するための様々なシステム及びスイッチングスキームを提供する。
[0052]バックグラウンド静電容量を消去するための別の方法は、バックグラウンド静電容量に反対極性の電荷を加えることである。後でさらに記載されるように、センサモジュール202は、一方の端部がCB(すなわち、対接地静電容量)に結合され、もう一方の端部が反対極性を有する電圧信号によって励起されるコンデンサを含む。そのような記載されたコンデンサの物理的サイズを低減させるために、センサモジュール202は、出力部がCBに接続された電流増幅器が後にある、電流コンベヤへ電荷を出力することができる。それにもかかわらず、上記方法によって使用されるコンデンサの物理的サイズは、電流増幅器の帯域幅及び性能に対する厳しい制約をもたらす。したがって、本開示の実施形態は、バックグラウンド静電容量に使用される多段階電荷成形技法を提供し、この技法によって、電流増幅器に課せられる仕様をさらに弱める。
[0053]図3A〜図3Bは、一実施形態による、リセットフェーズ(図3A)及び積分フェーズ(図3B)を含む絶対静電容量感知のサイクルを通した静電容量測定回路300の動作を示す。静電容量測定回路300は、入力装置100及び/又は処理システム110の一部として含まれていてもよい。例えば、処理システム110は、回路300に入力電圧を供給する、並びに回路300のスイッチを動作させる信号を制御する及び/又は選択可能なコンデンサのバンクからコンデンサを選択してもよい。一実施形態において、静電容量測定回路300は、反転及び非反転入力部、並びに出力部(VOUT)を備えた差動増幅器302を含む。第1のスイッチ320は、差動増幅器302の非反転入力部と図2に関して上記されたセンサ電極210、220などのセンサ電極との間に結合され、このセンサ電極に回路300が結合されている。
[0054]差動増幅器302は、電荷積分器として構成され、出力部と反転入力部との間に配置されたフィードバック静電容量(CFB)を含む。フィードバック静電容量は、片側(例えば、ノード312)が差動増幅器302の出力部に、反対側(例えば、ノード310)が差動増幅器302の反転入力部に結合された1つ又は複数のコンデンサによって表わされている。図示した実施形態では、フィードバック静電容量CFBは、複数のフィードバックコンデンサ、例えば、第1のフィードバックコンデンサ304(CFB0)と第2のフィードバックコンデンサ306(CFB1)とに分割され、それによって感知サイクルのプリチャージ/リセットフェーズ中に、一方のコンデンサ304をリセットしながら、もう一方のコンデンサ306を基準電圧VRX又はグランドのいずれかにプリチャージすることができる。フィードバックコンデンサのこのプリチャージは、上述したようなバックグラウンド静電容量を消去する働きをする。フィードバックコンデンサ306が基準電圧又はグラウンドにプリチャージされるどうかの選択は、感知サイクルのプリチャージ/リセットフェーズ中のスイッチ314の位置によって遂行される。
[0055]スイッチ308は、フィードバックコンデンサ304、306と並列に配置されている。スイッチ308は、フィードバックコンデンサ304、306を放電及びリセットするためのリセット機構として動作する。図3A及び図3Bでは、静電容量CBは、バックグラウンド静電容量を表わし、この静電容量は、センサ電極とグラウンドとの間の、入力物体140が寄与する静電容量を含んでもよい。
[0056]動作において、静電容量測定回路300は、差動増幅器302が電荷積分器として設定され、基準電圧が差動増幅器302の非反転入力部に印加される絶対感知方法を行う。一実施形態において、基準電圧は、基準電圧の上下に実質的に等しい量(すなわち、ΔVREF)だけ変調され、この量は、一部の実施形態では電源電圧VRXのほぼ半分である。そのため、非反転入力部に印加される電圧は、第1の電圧(VRX/2+ΔVREF)として表されている。
[0057]図3Aに表される(最初の半)感知サイクルのリセットフェーズ中に、スイッチ320を開いて回路300をセンサ電極から切り離し、スイッチ308を閉じることによって第1のフィードバックコンデンサ304を放電し、スイッチ314がグランドに結合されるように動作させることによって、第2のフィードバックコンデンサ306をある電圧レベルにプリチャージする。図3Bに表される感知サイクルの積分フェーズ中に、フィードバックコンデンサ304、306は、スイッチ314を差動増幅器302の出力部VOUTと結合する、及びスイッチ308を開くことによって並列に配置される。差動増幅器302の反転入力部は、第1のスイッチ320を閉じることによってバックグラウンド静電容量CBに結合される。
[0058]従来の静電容量測定回路では、リセットフェーズでは、フィードバックコンデンサの片側の(例えば、ノード312の)電圧レベルは、0Vである。積分フェーズでは、フィードバックコンデンサのこの片側は、基準電圧(VRX/2+ΔVREF)に結合される。図3Bの挿入図には、第1のノード310が「レールを上回る」原因となる、ノード312における0VからVRX/2+ΔVREFへの急激なステップを表す線グラフ350が含まれている。図3Bの別の挿入図には、電源電圧レベル144を上回る、フィードバックコンデンサ306のもう一方の側(例えば、ノード310)の電圧レベルを表す線グラフ340が含まれている。差動増幅器302が反応して、第1のノード310を電圧レベルVRX/2+ΔVREFに戻すまで、この過剰電圧は、静電容量測定回路300の逆バイアスダイオード及びフィードバックスイッチ308を介して電荷リークを引き起こす。そのようなRC特性によって、基準電圧、すなわち増幅器の最終的に落ち着く出力電圧に重大な誤差が生じる可能性があり、間違ったADC結果がもたらされ、この結果は、入力コンデンサCBの非線形な関数である。
[0059]したがって、本開示の1つ又は複数の実施形態は、リセットフェーズから積分フェーズに移行するときに静電容量測定回路300の差動増幅器302の反転入力部で起きる電圧スパイクを低減させるように構成されている。一実施形態において、静電容量測定回路300は、電圧ピークを遅延させて入力ノードを正しくVREFに戻す機会を差動増幅器302に与える「ランプ」機構を含む。
[0060]一実施形態において、静電容量測定回路300は、フィードバックコンデンサ306の片側と差動増幅器302の出力部VOUTとの間に結合された抵抗器316を含む。抵抗器316は、時間間隔TREACT中にリセットフェーズから積分フェーズに移行するときノード310において0Vから基準電圧へのランプを生成するように構成され、この時間間隔TREACTが、差動増幅器302が入力ノード310を正しく基準電圧に戻すことが可能となる十分な持続時間を表わす。
[0061]図4は、一実施形態による、センサ電極からの静電容量を測定するためにセンサ電極に結合されるように構成された静電容量測定回路400の回路図である。場合によって、抵抗器が常にフィードバックコンデンサに直列であるため、図4に表されるような固定抵抗器の使用によって、差動増幅器及び静電容量測定回路のセトリング応答が全体として変わることがある。静電容量測定回路400は、そのような問題に対処するように構成されている。静電容量測定回路300と同様に、回路400は、入力装置100及び/又は処理システム110の一部として含まれていてもよい。例えば、処理システム110は、回路400に入力電圧を供給する、並びに回路300のスイッチを動作させる信号を制御する及び/又は選択可能なコンデンサのバンクからコンデンサを選択してもよい。
[0062]一実施形態において、静電容量測定回路400は、スイッチを介してセンサ電極に接続する反転入力部、非反転入力部、及び出力部(VOUT)を有する差動増幅器402を含む。第1のスイッチ420は、差動増幅器402の反転入力部と図2に関して上記されたセンサ電極210、220などのセンサ電極との間に結合され、このセンサ電極に回路400が結合されている。
[0063]差動増幅器402は、電荷積分器として構成され、差動増幅器の出力部と反転入力部との間に結合されたフィードバック静電容量(CFB)を含む。フィードバック静電容量CFBは、片側(例えば、ノード412)が差動増幅器402の出力部に、反対側(例えば、ノード410)が差動増幅器402の反転入力部に結合された、第1のフィードバックコンデンサ404(CFB0)及び第2のフィードバックコンデンサ406(CFB1)を含む、1つ又は複数のコンデンサによって表わされている。以前に記載したように、感知サイクルのプリチャージ/リセットフェーズ中に、一方のコンデンサ404をリセットしている間に、もう一方のコンデンサ406を電源電圧VRX又はグランドのいずれかにプリチャージすることができる。フィードバックコンデンサのこのプリチャージは、バックグラウンド静電容量を消去する働きをする。フィードバックコンデンサ406が電源電圧又はグラウンドにプリチャージされるどうかの選択は、感知サイクルのプリチャージ/リセットフェーズ中のスイッチ(簡単にするために省略されている)の位置によって遂行される。スイッチ408は、フィードバックコンデンサ404、406と並列に配置され、フィードバックコンデンサ404、406を放電しリセットするためのリセット機構として動作する。
[0064]一実施形態において、静電容量測定回路400は、フィードバックコンデンサ(例えば、CFB1)と差動増幅器402の出力部VOUTとの間に直列に構成された第1のスイッチ422及び第2のスイッチ424を含む。図4に表す実施形態では、第1のスイッチ422及び第2のスイッチ424は、トランジスターであるが、記載される機能を提供する他の等価な回路素子(複数可)が利用されてもよい。すなわち、第1のスイッチ422及び第2のスイッチ424は、スイッチによって抵抗を制御することができる1つ又は複数の回路素子を含んでもよい。静電容量測定回路400は、制御モジュール426又は処理システム110の他の構成部品から1つ又は複数の制御信号を受信するように構成されている。一実施形態において、制御モジュール426は、第1のスイッチ422をオンし、以て、フィードバックコンデンサCFB1と直列に第1の抵抗値を適用するように構成されている。制御モジュール426は、ある時間遅延の後に、第2のスイッチ424をオンし、第1の抵抗と並列に第2の抵抗を配置するようにさらに構成されている。別の実施形態では、制御モジュール426は、第1のスイッチ422を線形モードへと動作させ、第1のスイッチ422に第1の抵抗を生じさせるように構成されている。制御モジュール426は、ある時間遅延の後に、第2のスイッチ424を飽和モードへと動作させ、第1の抵抗と並列に第2の抵抗を生じさせることができる。
[0065]図5は、一実施形態による、電荷積分器によって静電容量を測定する方法500を示す流れ図である。方法500は、他の同様のシステム(複数可)に加えて、上記の処理システム110及び静電容量測定回路400を使用して行われるとして記載されている。
[0066]方法500は、ブロック502から始まり、ここで、処理システム110は、静電容量測定回路400のフィードバックコンデンサを第1の電圧レベルにリセットする。一部の実施形態では、フィードバックコンデンサは、差動増幅器402の第1の入力部と差動増幅器402の出力部との間に結合されている。一部の実施形態では、処理システム110は、リセットフェーズ中に第3のスイッチ(例えば、スイッチ314)を動作させ、フィードバックコンデンサをある電圧レベル(例えば、グランド、基準電圧、電源電圧)に接続し、フィードバックコンデンサをプリチャージして少なくとも一部のバックグラウンド静電容量(CB)を消去する。
[0067]ブロック504では、処理システム110は、フィードバックコンデンサと差動増幅器402の出力部との間の複数のスイッチを開く。一実施形態において、処理システム110は、フィードバックコンデンサ406と差動増幅器402の出力部VOUTとの間に結合されたスイッチ422、424を開く。一部の実施形態では、スイッチ422及びスイッチ424は、第1、第2、及び第3の端子を有するトランジスターを備え、スイッチ422、424の第1の端子が並列に接続され、スイッチ422、424の第2の端子が並列に接続されている。一部の実施形態では、処理システム110は、スイッチ422、424の第3の端子に制御信号を印加して各スイッチを開く。
[0068]ブロック506では、処理システム110は、センサ電極と差動増幅器の第1の入力部を結合して測定フェーズを開始する。一実施形態において、処理システム110は、スイッチ420を閉じてセンサ電極220と差動増幅器402の反転入力部を結合して測定フェーズ(積分フェーズとも呼ばれる)を開始する。
[0069]ブロック508では、処理システム110は、フィードバックコンデンサと差動増幅器の出力部との間の複数のスイッチの第1のスイッチ422を閉じる。一実施形態において、処理システム110は、第1のスイッチ422に制御信号を送信してスイッチ422を線形モードへと動作させ、第1の持続時間に第1の抵抗を生じさせる。一部の実施形態では、第1の抵抗は、比較的大きな抵抗値であってもよく、スイッチ422は、「弱いスイッチ」として特徴付けられる。
[0070]ブロック510では、処理システム110は、第1のスイッチを閉じてからある遅延の後に、複数のスイッチの残りを閉じる。時間遅延(例えば、TREACT)は、差動増幅器402の入力ノードを基準電圧値に補正するのに十分な時間を差動増幅器402に提供するようにあらかじめ選択されていてもよい。一部の実施形態では、処理システム110は、第2のスイッチ424に制御信号を送信してスイッチ424を飽和モードへと動作させ、第1の抵抗と並列に第2の抵抗を生じさせる。一部の実施形態では、処理システム110は、一方の制御信号(例えば、「fb_conn_en_strong」)をもう一方の制御信号(例えば、「fb_conn_en」)に比べて1つ又は複数のクロックサイクルだけ遅延させる、別々の制御信号を使用してもよい。一実施態様において、弱いスイッチゲート(例えば、スイッチ422)は、ビットのサブセット(例えば、fb_conn_en<0:5>)を使用して制御されてもよいが、強いスイッチ(例えば、スイッチ424)は、fb_conn_en制御信号とfb_conn_en<0:5>制御信号との「論理積」関数の結果である信号を使用して制御される。
[0071]1つ又は複数の実施形態において、第2の抵抗は、第1の抵抗よりも実質的に小さくてもよく、これによってコンデンサ306と直列の実効的な抵抗を小さくする。このように、第2のスイッチ424は、「強いスイッチ」として特徴付けられてもよい。上述したように、第1のスイッチ422を線形モードへと動作させ、第1のスイッチ422に第1の抵抗を生じさせることによって、静電容量測定回路400のセトリング応答を向上させてもよい。このセトリング応答の向上は、第2のスイッチ424を飽和モード(アクティブモードと呼ばれることがある)へと動作させることによって、第1の抵抗と並列に第2の抵抗を生じさせ、静電容量測定回路のセトリング応答を低下させてもよく、結果としてスイッチ422、424がない場合に存在するのと実質的に同様のセトリング応答となるため、一時的な時間量に対してのみである。
[0072]ブロック512では、処理システム110は、差動増幅器を動作させて、センサ電極と入力物体との間の結合に相当する絶対静電容量が測定されるように、センサ電極の電荷を積分する。単一のサイクル内に第1のリセットフェーズ、第1の積分フェーズ、次いで第2のリセットフェーズ、及び第2の積分フェーズがあるように差動増幅器402を半サイクル動作させてもよいことを認識されたい。
[0073]本開示の別の実施形態では、静電容量測定回路は、既存のデジタル制御信号を利用するスイッチドコンデンサ回路であってもよく、追加の別個の制御信号が不要である場合がある。そのようなスイッチングスキームを使用する回路は、積分器の入力ノードが電源レールを上回らない及び下回らないようにすることによって、積分器への電荷リークを低減させ、電源の電流スパイクも低減させる。そのような回路について、図6A〜図6Dに関連して以下でさらに詳細に記載する。
[0074]図6A〜図6Dは、本開示の実施形態による、リセットフェーズ(図6A)及び積分フェーズ(図6B〜図6D)を含む、絶対静電容量感知のサイクルを通した静電容量測定回路600の動作を示す。静電容量測定回路600は、上記の静電容量測定回路300、400と共通の回路素子及び機能を共有してもよい。静電容量測定回路600は、入力装置100及び/又は処理システム110の一部として含まれていてもよい。例えば、処理システム110は、回路600に対する入力電圧、並びに回路600のスイッチを動作させる及び/又は選択可能なコンデンサのバンクからコンデンサ選択する制御信号を供給してもよい。
[0075]一実施形態において、静電容量測定回路600は、センサ電極からの静電容量を測定するためにセンサ電極(例えば、センサ電極210、220)に結合されるように構成された第1の(「−」として表された反転)入力部を有する差動増幅器602を含む。差動増幅器602は、第2の(「+」として表された非反転)入力部、及び出力部(VOUT)をさらに含む。一部の実施形態では、第1のスイッチ620は、差動増幅器602の反転入力部とセンサ電極との間に配置されている。
[0076]静電容量測定回路600は、差動増幅器602の第1の入力部と差動増幅器の出力部との間に結合された第1のフィードバック静電容量604(CFB0)、及び第1のフィードバック静電容量606と並列に結合された第2のフィードバック静電容量606(CFB1)をさらに含む。第2のフィードバック静電容量606は、複数の関連付けられたスイッチと直列の複数のコンデンサを含んでもよい。スイッチ608は、フィードバック静電容量604、606と並列に配置されている。スイッチ608は、フィードバック静電容量604、606を放電しリセットするためのリセット機構として動作する。図6A〜図6Dでは、静電容量CBは、センサ電極とグラウンドとの間のバックグラウンド静電容量を表わす。
[0077]図6A〜図6Dに表す実施形態では、フィードバック静電容量CFBは、複数のフィードバックコンデンサ、例えば、第1のフィードバック静電容量(CFB0)、関連付けられたスイッチ610、612、614と並列にそれぞれ配置された3つのコンデンサ(Cap0、Cap1、Cap2)で構成された第2のフィードバック静電容量306(CFB1)に分割されている。静電容量測定回路600は、複数のスイッチと並列に結合された(図3Aのスイッチ314と同様の)複数のプリチャージスイッチをさらに含んでもよい。そのような実施形態では、各プリチャージスイッチは、リセットフェーズ中に、関連付けられたコンデンサをある電圧レベル(例えば、VRX、グランド)に接続し、関連付けられたコンデンサをプリチャージしてバックグラウンド静電容量を消去するように動作可能である。例えば、感知サイクルのプリチャージ/リセットフェーズ中に、一方のコンデンサ604をリセットしながら、もう一方のコンデンサ(Cap0、Cap1、Cap2)を基準電圧VRX又はグランドのいずれかにプリチャージすることができる。図を明瞭にするために、回路600におけるプリチャージスイッチの記載は、省略された。
[0078]一部の実施形態では、静電容量測定回路600は、複数のスイッチをリセットフェーズ及び積分フェーズにおいて動作させ、センサ電極の静電容量を測定するように構成された制御モジュールを含む。後でより詳細に記載されるように、制御モジュールは、積分フェーズ中に、複数のスイッチの各スイッチを制御して順次遅延の後に関連付けられたコンデンサ(例えば、Cap0、Cap1、Cap2)を差動増幅器の出力部(VOUT)に結合するように構成されている。順次遅延とは、第1の遅延の後にあるスイッチの状態が変化し、次いで、第2の遅延の後に次のスイッチの状態が変化することなどを指す。
[0079]図6Aは、(最初の半)感知サイクルのリセットフェーズを示す。このリセットフェーズ中に、静電容量測定回路600のフィードバックコンデンサ(例えば、CFB0)は、第1の電圧レベルにリセットされる。図示するように、回路600をセンサ電極から切り離すためにスイッチ620が開かれ、スイッチ608を閉じることによって第1のフィードバック静電容量604が放電される。一部の実施形態では、処理システム110は、フィードバック静電容量(Cap0、Cap1、Cap2)と差動増幅器602の出力部との間の複数のスイッチ610、612、614を開き、プリチャージスイッチがグランドに結合されるように動作させることによって、複数のコンデンサCap0、Cap1、Cap2をある電圧レベルにプリチャージする。動作中に、順次遅延の後に、関連付けられたコンデンサを差動増幅器の出力部に結合するように複数のスイッチの各スイッチを制御することによって、リセットフェーズから積分フェーズにスイッチングするときの第1のフィードバックコンデンサの電荷リークを低減させる。
[0080]図6B〜図6Dは、(最初の半)感知サイクルの積分(測定)フェーズを示す。測定フェーズを開始するために、処理システム110は、スイッチ620を閉じることによってセンサ電極と差動増幅器602の第1の反転入力部を結合する。次いで、処理システム110は、フィードバックコンデンサと差動増幅器の出力部VOUTとの間の複数のスイッチの第1のスイッチを閉じる。図6Bに表わすように、処理システム110は、複数のコンデンサの第1のコンデンサCap0に関連付けられた第1のスイッチ610を閉じて、差動増幅器の非反転入力部と出力部との間に第1のコンデンサCap0を結合する。処理システム110は、差動増幅器602の動作を開始し、センサ電極と入力物体との間の結合に相当する絶対静電容量が測定されるように、センサ電極の電荷を積分してもよい。
[0081]積分フェーズが開始されるときに、すべてのCFB1コンデンサが一緒に同時に接続される場合、差動増幅器602の入力ノードに大きなスパイクがある場合がある。このシナリオが、図6Bの挿入図に見出される破線グラフによって表されている。万一入力ノードの電圧レベルが電源電圧レベルを上回ると、電荷リークが起きる可能性がある。電荷がダイオード及びスイッチのターンオン点未満に「リークされる」まで、又は差動増幅器602が反応し、差動増幅器602のフィードバックを使用して入力ノードが差動増幅器602の正端子と等しくなるように設定されるまで、電荷はリークし続ける可能性がある。したがって、フィードバックコンデンサのすべてが、積分フェーズの開始時に出力ノードに同時に接続されるとは限らない。例えば、処理システム110は、スイッチ610を閉じて(他のスイッチ612、614は開いたままにして)、コンデンサCap0を出力部VOUTに接続する。一部の実施形態では、コンデンサCap0、Cap1、Cap2は、総静電容量がフィードバック静電容量CFB0よりも小さい、又は実質的に等しい。単一のコンデンサCap0は、CFB0よりも小さな静電容量を有するため、差動増幅器602の入力ノードは、バックグラウンド静電容量CB及び第1のフィードバック静電容量CFB0が電荷を共有することにより、電源を上回ってピークが生じることはない。ある遅延の後、差動増幅器602のスルーレート及び帯域幅に応じて、差動増幅器602は、最終的に入力ノードをVrefに戻す。この振る舞いが、図6Bの挿入図に見出される実線グラフによって表されており、この実線グラフは、従来のシナリオの破線グラフよりも実質的に低い電圧ピークを有する。
[0082]一実施形態において、第1のスイッチ610を閉じてからある遅延の後、処理システム110は、複数のスイッチの残り(例えば、スイッチ612、614)を閉じる。図6Cに表わすように、処理システム110は、フィードバックコンデンサCap1に関連付けられたスイッチ612を閉じて、差動増幅器の反転入力部と出力ノードとの間に(コンデンサCap0及び第1のフィードバック静電容量CFB0と並列に)コンデンサCap1を接続する。この動作によって、図6Cの挿入図に表わすように、差動増幅器の電源範囲内で入力ノードに別のピークが生じることがある。再び、差動増幅器は、入力ノードをVrefに戻す。図6Dは、積分フェーズの別の段階を表しており、ここでは処理システムは、フィードバックコンデンサCap2に関連付けられたスイッチ614を閉じて、反転入力部と出力ノードとの間にコンデンサCap2を接続する。
[0083]一部の実施形態では、処理システム110は、カウンターに基づいてスイッチ610、612、614の閉鎖間の順次遅延を決定してもよい。遅延は、プログラム可能であってもよく、カウンターを使用して追跡されてもよい。一実施形態において、カウンターを使用して、順序付け(すなわち、どのスイッチが1番目で、どのスイッチが2番目かなど)、及びコンデンサCap0、Cap1、Cap2を差動増幅器の出力部に結合する時期(すなわち、どの時間に)を制御することができる。一例において、時間t=0でCap0を接続し、次いで時間t=5nsでCap2を接続し、次いでt=12nsでCap1を接続するスイッチングスキームが利用されてもよい。そのようなスイッチングスキームでは、処理システム110は、t=0でゼロにカウントダウンするようにプログラムされた、Cap0のスイッチ(すなわち、スイッチ610)を制御する「カウンター0」、t=12nsでゼロにカウントダウンするようにプログラムされた(Cap1に関連付けられたスイッチ612を制御する)「カウンター1」、及びt=5nsでゼロにカウントダウンするようにプログラムされた(Cap2に関連付けられたスイッチ61を制御する)「カウンター2」を含む。
[0084]本実施形態は、3つのコンデンサCap0、Cap1、Cap2を使用して記載されているが、記載された技法は、電源における電流スパイクを低減させるのを支援するためにN個のフィードバックコンデンサに対して拡張されてもよいことを認識されたい。
[0085]記載された技法の一変形形態がコンデンサのサブセットへの分割を含むことをさらに認識されたい。代替の実施形態では、第2のフィードバック静電容量の複数のコンデンサがサブセットで配置され、各サブセットが積分フェーズ中に同時にオンに切り換え(switched on:スイッチオン)される。記載されたスキームの別の変形形態では、処理システムは、サブセットの「総」数を選択してもよい。サブセットの総数がMの場合、記載された技法を適用することによって、電荷積分器の入力ノードにM個のピークが生じる。
[0086]例えば、(Cap0及びCap1を備える)CFB1が11pFの総静電容量を有する静電容量測定回路600において第1及び第2のコンデンサCap0、Cap1が、3.8pF、7.2pFの静電容量をそれぞれ有するとする。第1のシナリオでは、Cap0は、積分フェーズの開始時にスイッチされ、Cap1は、プログラマブル遅延の後にスイッチされる。この第1のシナリオでは、Cap1がCap0よりも大きな静電容量であるため、電圧ピークのグラフは、第1の電圧ピークよりも大きな第2のピークを有する。この振る舞いとは対照的に第2のシナリオでは、Cap1は、積分の開始時にスイッチが入れられ、Cap0は、プログラマブル遅延の後にスイッチが入れられる。第2のシナリオでは、第1の電圧ピークは、第2の電圧ピークよりも大きい。そのため、正確なピーク値は、CB、CFB0、及び差動増幅器の速度に加えて、お互いの相対的な静電容量値を含む、様々な要因に依存する場合がある。
多段階漸進的スイッチング技法
[0087]前述したように、バックグラウンド静電容量を消去する別の方法は、バックグラウンド静電容量に反対極性の電荷を加えることである。図7は、本開示の一実施形態による、電荷を生成するための回路700を表すブロック図である。回路700は、電荷生成回路702、電流コンベヤ720、及び電流増幅器730を含む。電荷生成回路702は、コンデンサ716(C1)の一方の極板をグランドから電源電圧まで駆動し、第1の抵抗器704(R1)及びバッファー710を通して接地することによって、電荷を生成するように構成されている。
[0088]コンデンサ716によって生成された電荷は、電流コンベヤ720に送出される。電流コンベヤ720の入力部は、基準電圧にバイアスされていてもよい。電流コンベヤ720は、複数の電流増幅器に電流を分配するための1つ又は複数の電流ミラーを含む。電流増幅器(複数可)706は、増幅器利得よって電流を増幅するように構成されている。
[0089]従来の手法では、電流コンベヤ720の入力部の電流波形は、(R1*C1)によって設定された時定数を有する減衰する指数波形である場合がある。波形のピーク電流は、(V/R1)によって設定され、ここでVは電源電圧である。そのため、従来の駆動スキームにおける電流波形は、以下の式1及び式2によって表わすことができる。
Figure 2019066485
Figure 2019066485
[0090]しかしながら、従来の電荷生成回路の問題は、以下のとおりである。電流コンベヤの入力部のピーク電流は、容易にmAのオーダとなる場合があり、電流増幅器(例えば、利得1〜8)によって逓倍され得る。複数の電流増幅器が同時に一緒に動作する場合、ピーク電流の合計は非常に大きくなり(数百mA)、内蔵電源及びグラウンドライン上に大きな「バウンス」を引き起こす。従来の(大きな振幅及び短い時間を有する)波形を使用する別の問題は、波形のインパルス的性質のために波形が電流増幅器で正確に増幅され得ないということである。鋭い波形は、トランジスターが飽和領域から外れた状態となるように駆動し、電流コンベヤにおけるヘッドルームの問題を引き起こす。その結果、電流が電荷積分器によって積分されるときに、出力波形が歪むことがあり、精度の問題を引き起こす。
[0091]したがって、本開示の実施形態は、そのような問題に対処する多段階電荷共有技法を提供する。電荷生成回路702は、第2の抵抗器706(R2)、第3の抵抗器708(R3)、第1の抵抗器704とコンデンサ716との間に配置されたスイッチ712(SW2)及びスイッチ714(SW1)を含む。図7に示す実施形態では、第2の抵抗器706(R2)及び第3の抵抗器708(R3)は、第1の抵抗器704と直列に配置されている。スイッチ712(SW2)は、第2の抵抗器706と並列に配置され、もう一方のスイッチ714(SW1)は、第3の抵抗器708と並列に配置されている。
[0092]動作において、電荷生成の開始時に、スイッチ712及び714が開き、電流コンベヤ720の入力部のピーク電流は、以下の式3によって表わすことができる。一部の実施形態では、式3で表わされたIpeak2は、式1のIpeak1よりも小さい。
Figure 2019066485
[0093]1つ又は複数の実施形態において、処理システム110は、入力波形(例えば、矩形波)の半サイクル(thalf)内のある時間間隔でスイッチ712及び714を順次閉じ、図8に表される波形800を生成してもよい。すなわち、第1のステップで、処理システム110は、スイッチ712を閉じ、スイッチ714を開いたままにしておく。次いで、第2のステップで、処理システム110は、スイッチ714を閉じる。電流波形800がt=0からt=thalfまで積分される場合、得られる結果は、式2によって得られたものと同じであるはずである。
[0094]1つ又は複数の実施形態において、記載された多段階電荷技法は、電源及びグランドラインにおける「バウンス」を有利に減少させる。電源及びグラウンドラインの「バウンス」が小さいほど、同一の電源及びグランドラインに接続されている回路に導入されるノイズがより小さくなる。第2に、ピーク振幅(Ipeak2)がより小さくなるため、電荷が電荷積分器によって積分されるときの精度を改善することができる。
チャージポンプ回路のためのスイッチングスキーム
[0095]スイッチングスキームがグローバルな粗いベースライン補正のための多段階電荷技法の文脈で上記されているが、本開示の実施形態は、他のタイプの回路、特に、結果として電流及び/又は電圧レベルが大きなスイングとなる動作を有する回路で使用するために拡張することができることを理解されたい。図9は、そのような一例を表している。
[0096]図9は、本開示の一実施形態による、記載されたスイッチングスキームを使用するチャージポンプ回路900を表すブロック図である。図示したチャージポンプ回路900では、フライバックコンデンサCf1及びCf2が充放電され、対応する出力電圧(CP_OUT)を提供する。
[0097]以前の手法では、フライバックコンデンサと直列のスイッチは、スイッチの抵抗、したがってスイッチ両端間の電圧降下を小さくするために大きい。しかしながら、これらの大きなスイッチがオン又はオフしてフライバックコンデンサをそれぞれ充放電するとき、回路900を横切って流れる充電電流に大きな過渡的ピークがある場合がある。これらの高い電流ピークは、結果として、隣接する高感度回路、集積回路、及び/又は入力装置内部の処理システムに影響を与える高い電磁放射となる場合がある。この問題は、ピーク放射電力に対する厳格な要求を満足しなければならない携帯機器で使用されるタッチセンサASICにおいて特に深刻となる可能性がある。
[0098]1つ又は複数の実施形態において、従来の大きなスイッチを使用する代わりに、チャージポンプ回路900は、複数の、重み付けされたより小さな(すなわち、単一の大きなスイッチに比べてより小さな)スイッチで構成されたスイッチング素子を含む。複数のスイッチは、チャージポンプクロックサイクル内でわずかに遅延しながら順次オンするように構成されている。図9に表す実施形態では、チャージポンプ回路900は、フライバックコンデンサCf1と直列に(すなわち、Cf1の底部極板に)接続されたスイッチング素子902を含み、このスイッチング素子902が、複数の、重み付けされたスイッチM12、M13、M1、M16で構成されている。図9に示す実施形態によると、別のスイッチング素子904は、もう一方のフライバックコンデンサCf2に結合され、複数の、より小さなスイッチM18、M19、M20、M21で構成されている。
[0099]一部の実施形態では、スイッチング素子902のより小さなスイッチ間の遅延は、RC回路を使用して実施されてもよく、又は他の実施形態では、カウンターによって実現されてもよい。図9に表す例では、チャージポンプ回路900は、スイッチM12、M13、M1、及びM16のゲートに結合され、スイッチのオン及びオフを順次遅延させて制御するRC遅延回路910を含む。スイッチング素子904に対する同様のRC遅延回路は、図を簡単にするために省略されている。
[00100]したがって、本明細書に述べられた実施形態及び例は、本発明及びその特定の用途について最良の説明を行い、以て、当業者が本発明を行い使用することが可能となるように提示された。しかしながら、当業者は、前述の記載が例示及び例のみのために提示されたことを認識されるであろう。述べられたような記載は、網羅的であること、又は本発明が開示された精密な形態に限定されることは意図されていない。
100 入力装置
110 処理システム
120 感知領域
130 ボタン
140 入力物体
202 センサモジュール
204 決定モジュール
210 センサ電極
220 センサ電極
300 静電容量測定回路
302 差動増幅器
304 フィードバックコンデンサ
306 フィードバックコンデンサ
308 スイッチ
310 ノード
312 ノード
314 スイッチ
316 抵抗器
320 スイッチ
340 線グラフ
350 線グラフ
400 静電容量測定回路
402 差動増幅器
404 フィードバックコンデンサ
406 フィードバックコンデンサ
408 スイッチ
410 ノード
412 ノード
420 スイッチ
422 スイッチ
424 スイッチ
426 制御モジュール
600 静電容量測定回路
602 差動増幅器
604 フィードバック静電容量
606 フィードバック静電容量
608 スイッチ
610 スイッチ
612 スイッチ
614 スイッチ
620 スイッチ
700 回路
702 電荷生成回路
704 抵抗器
706 抵抗器
708 抵抗器
710 バッファー
712 スイッチ
714 スイッチ
716 コンデンサ
720 電流コンベヤ
730 電流増幅器
800 波形
900 チャージポンプ回路
902 スイッチング素子
904 スイッチング素子
910 遅延回路

Claims (6)

  1. 静電容量測定の方法であって、当該方法は、
    静電容量測定回路のフィードバックコンデンサを第1の電圧レベルにリセットするステップであって、前記フィードバックコンデンサが差動増幅器の第1の入力部と前記差動増幅器の出力部との間に結合されている、ステップと、
    前記フィードバックコンデンサと前記差動増幅器の前記出力部との間の複数のスイッチを開くステップと、
    測定フェーズを開始するためにセンサ電極と前記差動増幅器の前記第1の入力部とを結合するステップと、
    前記フィードバックコンデンサと前記差動増幅器の前記出力部との間の前記複数のスイッチの第1のスイッチを閉じるステップであり、該第1のスイッチを閉じるステップにより前記フィードバックコンデンサと直列に結合される前記第1のスイッチに第1の抵抗値を適用する、ステップと、
    ある時間遅延の後に、前記複数のスイッチの第2のスイッチをオンし、前記第1のスイッチと並列に結合される前記第2のスイッチにおいて第2の抵抗値を生じさせるステップと、
    前記第1のスイッチを閉じてからある遅延の後に前記複数のスイッチの残りを閉じるステップと、
    前記センサ電極と入力物体との間の結合に相当する絶対静電容量が測定されるように前記センサ電極の電荷を積分するために前記差動増幅器を動作させるステップと、
    を含む、方法。
  2. 前記静電容量測定回路の前記フィードバックコンデンサを前記第1の電圧レベルにリセットするステップが、
    前記フィードバックコンデンサを第2の電圧レベルに結合し前記フィードバックコンデンサをバックグラウンド静電容量消去のためにプリチャージするように、プリチャージスイッチを動作させるサブステップ、
    をさらに含む、請求項1に記載の方法。
  3. 前記フィードバックコンデンサと前記差動増幅器の前記出力部との間の前記複数のスイッチの前記第1のスイッチ及び前記第2のスイッチが、
    第1の端子、第2の端子、及び第3の端子を有する第1のトランジスター及び第2のトランジスターであって、前記第1のスイッチの前記第1の端子及び前記第2のスイッチの前記第1の端子が並列に接続され、前記第1のスイッチの前記第2の端子及び前記第2のスイッチの前記第2の端子が並列に接続されており、前記第1のトランジスター及び前記第2のトランジスターが、前記第1のトランジスターの前記第3の端子及び前記第2のトランジスターの前記第3の端子で複数の制御信号を受信するように構成されている、第1のトランジスター及び第2のトランジスター、
    を備えている、請求項1に記載の方法。
  4. 前記フィードバックコンデンサと前記差動増幅器の前記出力部との間の前記複数のスイッチの前記第1のスイッチを閉じるステップが、
    前記第1のスイッチを、前記第1のスイッチに第1の抵抗値を生じさせる線形モードへと動作させるサブステップをさらに含み、
    前記第1のスイッチを閉じてから前記遅延の後に前記複数のスイッチの前記残りを閉じるステップが、
    前記第2のスイッチを、前記第2のスイッチに第2の抵抗値を生じさせる飽和モードへと動作させるサブステップであって、前記第1の抵抗値が前記第2の抵抗値よりも大きい、サブステップをさらに含む、
    請求項1に記載の方法。
  5. 前記フィードバックコンデンサが複数のフィードバックコンデンサを備えており、前記複数のフィードバックコンデンサのそれぞれが前記複数のスイッチの関連付けられたスイッチと直列に配置されている、請求項1に記載の方法。
  6. 前記フィードバックコンデンサと前記差動増幅器の前記出力部との間の前記複数のスイッチの各スイッチが、前記差動増幅器の前記第1の入力部と前記差動増幅器の前記出力部との間に関連付けられた前記フィードバックコンデンサを結合するように構成されている、請求項1に記載の方法。

JP2018220106A 2015-05-15 2018-11-26 多段階フィードバックコンデンサスイッチングスキーム Active JP6706660B2 (ja)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201562162418P 2015-05-15 2015-05-15
US62/162,418 2015-05-15
US14/870,243 2015-09-30
US14/870,243 US9740351B2 (en) 2015-05-15 2015-09-30 Multi-step incremental switching scheme

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016087245A Division JP6524016B2 (ja) 2015-05-15 2016-04-25 多段階漸進的スイッチングスキーム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019066485A true JP2019066485A (ja) 2019-04-25
JP6706660B2 JP6706660B2 (ja) 2020-06-10

Family

ID=57277048

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016087245A Active JP6524016B2 (ja) 2015-05-15 2016-04-25 多段階漸進的スイッチングスキーム
JP2018220106A Active JP6706660B2 (ja) 2015-05-15 2018-11-26 多段階フィードバックコンデンサスイッチングスキーム

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016087245A Active JP6524016B2 (ja) 2015-05-15 2016-04-25 多段階漸進的スイッチングスキーム

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9740351B2 (ja)
JP (2) JP6524016B2 (ja)
KR (2) KR101946688B1 (ja)
CN (1) CN106155443B (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021225061A1 (ja) * 2020-05-07 2021-11-11 アルプスアルパイン株式会社 静電容量検出装置及び入力装置

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017173976A (ja) * 2016-03-22 2017-09-28 株式会社ジャパンディスプレイ センサ及びセンサ付き表示装置
IT201700034042A1 (it) * 2017-03-28 2018-09-28 St Microelectronics Srl Circuito current conveyor differenziale, dispositivo, apparecchiatura e procedimento corrispondenti
KR101879285B1 (ko) * 2017-08-01 2018-07-17 송청담 고감도 정전 센서 회로
KR102533653B1 (ko) * 2017-12-14 2023-05-16 엘지디스플레이 주식회사 적분기, 터치 표시 장치 및 이의 구동 방법
KR102479079B1 (ko) 2017-12-29 2022-12-19 엘지디스플레이 주식회사 터치표시장치, 터치구동회로 및 터치구동방법
US11054942B2 (en) 2018-04-05 2021-07-06 Synaptics Incorporated Noise suppression circuit
CN110727356B (zh) * 2018-06-28 2021-08-20 京东方科技集团股份有限公司 主动笔、触控输入系统及驱动方法
US11119606B2 (en) * 2019-08-20 2021-09-14 Synaptics Incorporated Background capacitance compensation
US11106317B1 (en) * 2020-04-14 2021-08-31 Synaptics Incorporated Common mode noise suppression with restoration of common mode signal
US11914820B2 (en) 2020-04-14 2024-02-27 Synaptics Incorporated Distributed analog display noise suppression circuit
JP2023522694A (ja) 2020-04-22 2023-05-31 マイクロチップ テクノロジー インコーポレイテッド タッチセンサ内の増幅された電荷キャンセル、並びに関連システム、方法、及びデバイス
US11979126B1 (en) * 2020-05-04 2024-05-07 Gigajot Technology, Inc. Programmable gain amplifier with active charge-injection/charge-leakage suppression
US11662867B1 (en) 2020-05-30 2023-05-30 Apple Inc. Hover detection on a touch sensor panel
CN112070367A (zh) * 2020-08-20 2020-12-11 中国人民解放军海军工程大学 一种基于改进综合成新率的大型武器装备价值评估方法
WO2023287744A1 (en) * 2021-07-13 2023-01-19 Edward Stoneham Delay-adjusted digital-unit interface
US11620946B1 (en) * 2022-03-03 2023-04-04 Apple Inc. Dual-mode sense circuit with enhanced dynamic range and accuracy

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4862136A (en) 1983-04-13 1989-08-29 Birkner John M Programmable resistance network
JP3019340B2 (ja) 1989-12-05 2000-03-13 セイコーエプソン株式会社 可変容量装置
US6275119B1 (en) 1999-08-25 2001-08-14 Micron Technology, Inc. Method to find a value within a range using weighted subranges
US7300807B2 (en) 2004-04-14 2007-11-27 International Business Machines Corporation Structure and method for providing precision passive elements
US7411774B2 (en) 2004-06-01 2008-08-12 Leeper Ii William F Voltage variable capacitor
WO2007145259A1 (ja) 2006-06-13 2007-12-21 Kyocera Corporation 可変容量回路
JP2008157920A (ja) 2006-11-29 2008-07-10 Aisin Seiki Co Ltd 静電容量検出装置
US8288965B1 (en) 2007-02-23 2012-10-16 Musco Corporation Apparatus and method for switching in added capacitance into high-intensity discharge lamp circuit at preset times
JP2010108501A (ja) * 2008-10-30 2010-05-13 Samsung Electronics Co Ltd センシング感度を向上させたタッチスクリーンコントローラ、タッチスクリーンコントローラを備えるディスプレイ駆動回路、ディスプレイ装置及びシステム
TWI397843B (zh) * 2009-10-30 2013-06-01 Orise Technology Co Ltd 用於觸控面板之偵測電路
US8427451B2 (en) 2009-12-30 2013-04-23 Wacom Co., Ltd. Multi-touch sensor apparatus and method
KR101652333B1 (ko) 2010-02-10 2016-08-30 삼성전자주식회사 가변 저항 메모리 장치 및 그것의 프로그램 방법
US8274491B2 (en) * 2010-06-21 2012-09-25 Pixart Imaging Inc. Capacitive touchscreen signal acquisition without panel reset
EP2617132B1 (en) * 2010-09-14 2020-12-02 Advanced Silicon SA Circuit for capacitive touch applications
CN103324366B (zh) * 2012-03-20 2016-09-28 晨星软件研发(深圳)有限公司 电容检测装置及应用该电容检测装置的电容式触控系统
US8723637B2 (en) 2012-04-10 2014-05-13 Analog Devices, Inc. Method for altering electrical and thermal properties of resistive materials
US9182432B2 (en) * 2012-07-18 2015-11-10 Synaptics Incorporated Capacitance measurement
US8872589B2 (en) * 2012-09-20 2014-10-28 Infineon Technologies Ag System and method for a programmable gain amplifier
JP6122307B2 (ja) 2013-02-22 2017-04-26 デクセリアルズ株式会社 可変容量回路、可変容量デバイス、共振回路、増幅回路及び電子機器
JP2015007920A (ja) * 2013-06-25 2015-01-15 国立大学法人鳥取大学 テキスト処理を用いた社会構造モデルの抽出

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021225061A1 (ja) * 2020-05-07 2021-11-11 アルプスアルパイン株式会社 静電容量検出装置及び入力装置
JP7354432B2 (ja) 2020-05-07 2023-10-02 アルプスアルパイン株式会社 静電容量検出装置及び入力装置

Also Published As

Publication number Publication date
KR102267365B1 (ko) 2021-06-21
KR20190015436A (ko) 2019-02-13
US20160334902A1 (en) 2016-11-17
US9740351B2 (en) 2017-08-22
JP6524016B2 (ja) 2019-06-05
JP6706660B2 (ja) 2020-06-10
CN106155443A (zh) 2016-11-23
CN106155443B (zh) 2020-05-05
KR101946688B1 (ko) 2019-02-11
JP2016219003A (ja) 2016-12-22
KR20160134567A (ko) 2016-11-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6706660B2 (ja) 多段階フィードバックコンデンサスイッチングスキーム
JP6112494B2 (ja) キャパシタンス測定
CN106445262B (zh) 校准基线校正电路中的电荷失配
WO2017003848A1 (en) Active matrix capacitive fingerprint sensor with 1-tft pixel architecture for display integration
US9703436B2 (en) Hybrid large dynamic range capacitance sensing
US20160349906A1 (en) Apparatus and method for detecting hovering object, switching matrix, apparatus for determining compensation capacitance, method of compensating for force sensing capacitance, and apparatus for detecting force input
US9218095B2 (en) Non-linear feedback capacitance sensing
US20210294454A1 (en) Noise suppression circuit
US9817502B2 (en) Switched-capacitor harmonic-reject mixer
US10126867B2 (en) Matched filter for a first order sigma delta capacitance measurement system and a method to determine the same
US9715312B2 (en) Input device having anti-static layer bypass
JP2016529539A (ja) 統合型入力デバイスにおいて表示更新を再開する場合の表示アーティファクトの低減
US9459367B2 (en) Capacitive sensor driving technique that enables hybrid sensing or equalization
CN105760027B (zh) 用于输入感应的开关电容技术
US10338740B2 (en) Reducing background capacitance associated with a touch surface
US20170269778A1 (en) Frequency shifting techniques for concurrent display driving and touch sensing

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20181126

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20181130

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20190823

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20190918

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190925

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20191218

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20200428

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20200518

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6706660

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250