JP2019042374A

JP2019042374A - 光干渉断層撮影装置及びその制御方法

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Publication number: JP2019042374A
Application number: JP2017171186A
Authority: JP
Inventors: オーロウスキースラウォミール; Orlowski Slawomir; ダラシンスキパーヴェル; Dalasinski Pawel; バラッシュスキートマッシュ; Bajraszewski Tomasz
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 2017-09-06
Filing date: 2017-09-06
Publication date: 2019-03-22
Anticipated expiration: 2037-09-06
Also published as: JP7027075B2; WO2019049822A1; US11464409B2; US20200196857A1

Abstract

【課題】ＯＣＴユニットのオートフォーカスの所要時間を短縮する光干渉断層撮影装置及びその制御方法を提供する。
【解決手段】光干渉断層撮影装置は、被検眼の撮像領域に対して測定光を走査する第１の走査パターンにより測定光が走査されている間における受光手段の出力を用いて記憶用の断層画像が取得される前に、第１の走査パターンの走査時間よりも短い走査時間で撮像領域の少なくとも一部に対して測定光を走査する第２の走査パターンにより測定光を繰り返し走査するように、光走査手段を制御し、第２の走査パターンにより測定光が繰り返し走査されている間における受光手段の出力を用いて合焦手段を駆動するように、駆動手段を制御する制御手段を有する。
【選択図】図４

Description

本発明は、光干渉断層撮影装置及びその制御方法に関する。

標準的な光干渉断層計（以下ＯＣＴ装置と記す）は被検眼の眼底像を生成する眼底撮像ユニットとＯＣＴ検査を実行するＯＣＴ撮像ユニットから構成される。通常両ユニットにはそれぞれ、非検眼の屈折異常を補正して撮像対象である眼底にフォーカスを合わせるために合焦ユニット（フォーカスレンズ）が設けられ、装置全体を制御する制御手段により駆動制御（モータで駆動）される。

代表的な眼底撮像ユニットには共焦点型走査型レーザ検眼鏡（以下ＳＬＯユニットと記す）があるが、ＯＣＴ撮像ユニットの撮像領域より広い撮像領域を持つ。例えば近年のＯＣＴ装置においては、ＳＬＯユニットの撮像範囲が網膜上約１０ｘ１０ｍｍであり、ＯＣＴユニットの撮像範囲はＳＬＯユニットの撮像範囲の一部分である３ｘ３ｍｍ等がよく用いられる。また、ＯＣＴユニットの撮像範囲及び位置はＳＬＯユニットの撮像範囲の中で可変とされることが通例である。

一般に眼科撮像装置に共通して、合焦（フォーカス合わせ）は撮像する眼底画像の先鋭度・コントラストを最大化するために行われる操作であり、上述の装置構成では表示器３５０に表示される眼底画像を観察しながら制御手段に調整命令を与え合焦ユニットの駆動することにより実行される。

近年ＯＣＴ装置においても、この合焦操作を自動的に行う機能、いわゆるオートフォーカス機能の実現に対する要求は、検査のスループットを向上するための操作の簡便化のみならず、検査結果の再現性の向上のために高まってきた。ＯＣＴユニットの合焦状態を検出するために、上述の手動操作を自動化する技術が知られている（特許文献１）。

ここで、特許文献１には、断層画像に対するフォーカス調整を適正に行うために、ＳＬＯユニットの合焦信号を利用してＯＣＴユニットの第１のオートフォーカスを行った後に、ＯＣＴユニットにより取得された断層画像に基づいてＯＣＴユニットの第２のオートフォーカスを行う技術が開示されている。このとき、上記第１のオートフォーカスとは、具体的に、ＳＬＯユニットでは共焦点型の特徴としてコントラストが最大化するとともにその画像出力のレベルも最大化されることを利用してＳＬＯユニットの合焦位置を検出し、その合焦位置に基づいてＯＣＴ合焦ユニットの制御を行うものである。また、上記第２のオートフォーカスとは、複数のフォーカス位置において断層画像を取得し、取得された断層画像のコントラスト等が最も高くなるフォーカス位置を合焦位置としてＯＣＴ合焦ユニットの制御を行うものである。そして、ＯＣＴユニットのオートフォーカスが完了するとＯＣＴユニットにより記憶用の断層画像を取得する。

このとき、特許文献１には、オートフォーカス用の断層画像を取得するための測定光を走査する走査パターンと記憶用の断層画像を取得するための測定光を走査する走査パターンとが両方とも、同一形状（直線状）で同一方向に走査する同一の走査パターンであることが開示されている。

特開２００９−２９１２５２号公報

ここで、オートフォーカス用の断層画像を取得するための測定光を走査する走査パターンが、例えば、記憶用の断層画像として３次元の断層画像を取得するための測定光を走査する走査パターンと同一であると、主走査線毎にＯＣＴユニットの合焦状態を検出する必要がある。すなわち、記憶用の断層画像を取得するための測定光を走査する走査パターンの主走査線数が多いほど、ＯＣＴユニットの合焦状態を検出する際の計算時間が長くなってしまう。このため、ＯＣＴユニットのオートフォーカスの所要時間が長くなってしまうため、従来のＯＣＴユニットのオートフォーカスの手法は実用的なものとは言えなかった。

本発明の目的の一つは、ＯＣＴユニットのオートフォーカスの所要時間を短縮することである。

本発明に係る光干渉断層撮影装置の一つは、
測定光を照射した被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光との干渉光を受光する受光手段を含む干渉光学系と、
前記受光手段の出力を用いて前記被検眼の断層画像を取得する断層画像取得手段と、
前記干渉光学系に設けられ、前記被検眼に対して前記測定光を走査する光走査手段と、
前記干渉光学系に設けられ、合焦手段を駆動する駆動手段と、
前記被検眼の撮像領域に対して前記測定光を走査する第１の走査パターンにより前記測定光が走査されている間における前記受光手段の出力を用いて記憶用の断層画像が取得される前に、前記第１の走査パターンの走査時間よりも短い走査時間で前記撮像領域の少なくとも一部に対して前記測定光を走査する第２の走査パターンにより前記測定光を繰り返し走査するように、前記光走査手段を制御し、前記第２の走査パターンにより前記測定光が繰り返し走査されている間における前記受光手段の出力を用いて前記合焦手段を駆動するように、前記駆動手段を制御する制御手段と、を有する。

本発明の一つによれば、ＯＣＴユニットのオートフォーカスの所要時間を短縮することができる。

２次元走査型ＳＤ−ＯＣＴ装置の構成を説明するための図制御／信号処理ユニット１８０の構成を説明するための図ＯＣＴ撮像手順のフローチャート表示画面を説明するための図ＳＬＯの合焦状態を表す評価値の変化を説明するための図眼底上のプレ走査パターン２の例を説明するための図ＯＣＴの合焦状態を表す評価値の変化を説明するための図眼底上のプレ走査パターン２の別の実施形態を説明するための図眼底上のプレ走査パターン２の別の実施形態を説明するための図眼底上のプレ走査パターン２の別の実施形態を説明するための図眼底上のプレ走査パターン２の別の実施形態を説明するための図眼底上のプレ走査パターン２の別の実施形態を説明するための図眼底上のプレ走査パターン２の別の実施形態を説明するための図ライン走査型ＳＳ−ＯＣＴ装置の構成を説明するための図ＯＣＴＡ撮像手順のフローチャートモーションコントラストデータの生成を説明するための図本撮像走査パターンとプレ走査パターンを説明する表

以下、図面を参照して実施形態を説明する。各図面に示される同一または同等の構成要素、部材、処理には、同一の符号を付するものとし、適宜重複した説明は省略する。また、各図面において説明上重要ではない構成要素、部材、処理の一部は省略して表示する場合がある。

（第１の実施形態）
図１は本発明に係るＯＣＴ装置（光干渉断層撮影装置）の構成を示す図、図２は装置全体を制御する制御／信号処理ユニット１８０の構成を表す図であり、両者を用いて本発明が適用され得るＯＣＴ装置の構成を、干渉信号を分光して断層信号を算出するいわゆるＳＤ−ＯＣＴを例にとり説明する。

（ＯＣＴユニット：干渉光学系）
低コヒーレンス光を発するＯＣＴ用光源１００を出た測定光は光ファイバ１０５ａを通り、光分割ユニット１１０により測定光と参照光に分割される。分割された測定光は光ファイバ１０５ｂへ入射し、光ファイバ１０５ｂの出射端コアを２次光源として、コリメータレンズ１０８を介してＯＣＴ合焦ユニットを構成するＯＣＴフォーカスレンズ１２０へと導かれる。ＯＣＴフォーカスレンズ１２０の後方には２つのガルバノメトリックミラーから構成される光走査ユニット１４０、ダイクロマティックミラー１５０、被検眼Ｅに対向する対物レンズ１６０が設けられ、撮像対象となる被検眼Ｅの眼底へ測定光を導く。ここでＯＣＴフォーカスレンズ１２０の光軸上の位置は制御／信号処理ユニット１８０内のＯＣＴフォーカス制御部３１１からの信号に従いレンズ駆動機構１２５により可動であり、この位置を調整することにより撮像対象である被検眼Ｅの屈折異常を補償して光ファイバ１０５ｂの出射端コアを撮像部位である眼底と共役関係を作ることができる。この調整動作をＯＣＴユニット合焦と呼ぶ。また光走査ユニット１４０と被検眼の瞳孔は対物レンズ１６０により光学的に共役な関係に配置されており、制御／信号処理ユニット１８０内のＯＣＴ走査制御部３０９より出力される制御信号により２つのガルバノメトリックミラーを適時駆動することで測定光を被検眼眼底上に任意のパターンで操作することが可能である。

被検眼眼底で散乱・反射された測定光は戻り光と呼ばれ、再び対物レンズ１６０、ダイクロマティックミラー１５０、光走査ユニット１４０、フォーカスレンズ１２０、コリメータレンズ１０８の経路を戻り再び光ファイバ１０５ｂに導光され光分割器１１０へと向かう。一方、光分割器で分割された測定光のもう一方は光ファイバ１０５ｃを経て制御／信号処理ユニット１８０内の参照光路長制御部により光路長の調整可能な反射光路を形成する参照光路ユニット１３０へ導光後、再び光分割器１１０へと戻される。この参照光は光ファイバ１０５ｂからの戻り光と光分割器１１０にて合波され干渉光となり、光ファイバ１０５ｄにより分光器１７０へと導かれる。分光器１７０は入射した干渉光を例えば図示しない回折格子等で分光し、そのスペクトル成分をこれも図示しないラインセンサ等で検出し出力する。制御／信号処理ユニット１８０はこの分光器１７０の出力をＡ／Ｄ変換機２を介して読み込み、被検眼眼底上の測定光が照射された部位の断層信号を得るための信号処理を行う。所望の部位の断層信号を得るには、制御／信号処理ユニット１８０内のＯＣＴ走査制御部３０９を用いて、測定光を所望の部位へ連続的に移動するよう光走査ユニット１４０を制御するとともに、その制御信号を用いて、分光器１７０の出力から得られた複数の断層信号を適切に配置すればよい。尚、この信号処理については後述する。

（眼底観察ユニット）
対物レンズ１６０後方のダイクロマティックミラーによる分岐光路には眼底観察系であるＳＬＯユニットが波長分離の形式にて結合されている。レーザ光源１９０から発した照明ビームは穴あきミラー２００の穴部を通りレンズ２０５、ＳＬＯフォーカスレンズ２１０、ミラー２２０、レンズ２２５を介して光走査ユニット１４０と同様な２つのガルバノメトリックミラーから構成される第２の光走査ユニット２３０へ導かれた後、ダイクロマティックミラー１５０により対物レンズ１６０の光軸へ結合され、被検眼眼底をスポット照明する。被検眼眼底で散乱・反射された後、同光路を逆行して穴あきミラー２００へ到達されるが、今度はその周辺の反射部で反射された後、集光レンズ２３５で集光されコンフォーカルアパチャー２４０を通りアバランシュフォトダイオードのごとくの受光器２４５にて受光される。

ここでＯＣＴフォーカスレンズ１２０と同様にＳＬＯフォーカスレンズ２１０の光軸上の位置は制御／信号処理ユニット１８０のＳＬＯフォーカス制御部３０１からの制御信号に従い制御される駆動機構２１５によって可動であり、この位置を調整することによりコンフォーカルアパチャー２４０と撮像対象である被検眼Ｅの眼底との共役関係を作る。この調整動作をＳＬＯユニット合焦と呼ぶ。さらに、穴あきミラー２００の光軸との仮想的な交点と光走査ユニットの光偏向中心及び被検眼の瞳孔は光学的に共役とされており、光走査ユニット２３０が照明ビームを制御／信号処理ユニット１８０内に設けられたＳＬＯ走査制御部３０２の出力に従いラスター走査することにより、受光器２４５には被検眼眼底の２次元画像情報が逐次得られることになる。制御／信号処理ユニット１８０はその出力を第１のＡ／Ｄ変換器３０３にてデジタル変換し、光走査ユニット２３０へ送られたラスター走査制御信号と関連付けて画像メモリ３０４に記憶する。ＳＬＯ画像生成部３０５はこのデータを読み出し、被検眼眼底の２次元眼底画像を生成し、表示制御部３０６へ出力する一方、ＳＬＯユニット合焦のためのフィードバック信号としてＳＬＯフォーカス制御部３０１へも出力される。

（ＯＣＴ画像再構成）
同様に、被検眼眼底の戻り光は分光器により波長成分に分解された出力信号として制御／信号処理ユニット１８０内の第２のＡ／Ｄ変換器３０７によりデジタル化され、測定光の照射位置情報である光走査ユニット１４０の制御信号に関連付けて画像メモリ３０４に記憶される。断層画像取得手段の一例であるＯＣＴ画像生成部３０８はそのデジタルデータに光学系の分散補償処理や波長―波数変換、フーリエ変換を施すとともに強度を対数変換し、被検眼眼底の１点における深さ方向の輝度プロファイル（Ａモード信号）を生成する。そしてこの輝度プロファイルをそれと関連づいた測定光の照射位置情報である光走査ユニット１４０の制御信号に基づいて配置することで網膜断層像を得る。以上をＯＣＴ画像生成プロセスと呼ぶ。このような被検眼眼底の１点における深さ方向の輝度プロファイルを生成する信号処理は複雑な計算処理の複合であり、撮像分解能・撮像範囲を拡大していくと相応の時間がかかることとなることに注意されたい。

以上、ＯＣＴユニットの基本構成・基本機能をいわゆるスペクトラルドメインＯＣＴを例にとり説明したが、本発明が対象とするＯＣＴユニットはこれに限らず、波長掃引型ＯＣＴでも、ライン走査型のタイムドメインＯＣＴ等、撮像面を操作する形式のＯＣＴであれば同様の効果がある。

（ＯＣＴ装置の操作手順）
次に上述した眼底観察ユニット、ＯＣＴユニットを有するＯＣＴ装置の操作手順を図３のＯＣＴ撮像手順のフローチャートと表示器３５０の表示画面を表す図４を用いて説明する。検者は、表示画面を表す図４上のスタートボタン５０５を図示しないポインティングデバイス等のポインティングデバイスで指定、押下すことにより、装置の準備操作を行うプレビュー状態に装置をセットする。プレビューがスタートすると、ＳＬＯユニットは光源１９０を点灯、制御／信号処理ユニット１８０内の光走査ユニット２３０を駆動し、受光器２４５の出力を逐次画像メモリ３０４へ読み込むとともに、表示制御部３０６はＳＬＯ画像生成部３０５が生成した被検眼眼底の２次元画像であるＳＬＯ画像５２０を表示器３５０に出力する（Ｓ１００）。検者は図示しない前眼部観察ユニットにより観察された被検眼の前眼部像５１０を見ながら装置を被検眼の瞳孔に対物レンズ１６０の光軸が同軸かつ光走査ユニット２３０と光走査ユニット１４０とが共役になる位置に装置をアライメントする（Ｓ１１０）。アライメントが正しく合うと左下のフレームにはＳＬＯ画像５２０として被検眼眼底の２次元画像が映出される。そしてその上にディフォールトのＯＣＴ撮像範囲を表すインジケータ５２１が表示されている（Ｓ１２０）。

（ＳＬＯ合焦）
検者がＳＬＯの合焦を開始するスイッチ５４０をポインティングデバイス等で押下するとＳＬＯの合焦が開始される（Ｓ１３０）。まず制御／信号処理ユニット１８０内のＳＬＯフォーカス制御部３０１はレンズ駆動機構２１５駆動してＳＬＯフォーカスレンズ２１０をその調整範囲の一端へ移動する。その状態からＳＬＯフォーカスレンズ２１０を一定量動かした後、ＳＬＯ画像生成部３０５が生成したＳＬＯ画像を逐次評価してＳＬＯユニットの合焦位置を探索する。図５はＳＬＯの合焦状態を表す評価値のＳＬＯフォーカスレンズ２１０の位置に対する変化を表す図であり、評価関数には例えばＳＬＯ画像のうちＯＣＴの撮像範囲５２１におけるＳＬＯ画像の平均輝度を用いる。ＳＬＯユニットは前述のごとくコンフォーカル系となされているので、被検眼眼底にピントが合っている場合にその画像は最大強度をもつ。従って評価関数は図５のごとくあるＳＬＯフォーカスレンズ２１０の位置で一峰性のピークを持つことになる。このピークを発生する位置へＳＬＯフォーカスレンズ２１０を移動することによりＳＬＯの合焦は完了する。この時ＯＣＴユニット内のＯＣＴフォーカスレンズ１２０も同時にＳＬＯフォーカスレンズ２１０に対応する位置へ移動しておくことが望ましいことは、従来技術の項で述べたとおりである。また、必ずしも自動で合焦する必要はなく例えば、ＳＬＯ画像横に設けられたスライドバーをポインティングデバイスで操作することによりＳＬＯフォーカスレンズ２１０を移動してもよいし、ＳＬＯの合焦開始スイッチ５４０の操作なしに自動的にＳＬＯの合焦調整を開始してもよい。

ＳＬＯの合焦完了が確認されると、ＯＣＴユニットはＯＣＴ光源１００を点灯、制御／信号処理ユニット１８０内のＯＣＴ走査制御部３０９は、第１の走査パターンの一例であるプレ走査パターン１でＯＣＴの走査を開始するよう光走査ユニット１４０を駆動する（Ｓ１４０）。例えば本撮像走査パターンが矩形の３Ｄボリューム走査パターン５２１の場合、図１７（ａ）に示す如くプレ走査パターン１はＯＣＴ撮像範囲（矩形）の中央の十字と上辺・下辺の王の字パターンの走査が選ばれる。この王の字の４つの断層像は表示器３５０のフレーム５３０Ａ・Ｂ・Ｃ・Ｄに各々表示されるので、検者は撮像範囲５２１でどのような３Ｄボリュームが撮像されるかを把握することが可能となる。ここで、本撮像走査パターンは、被検眼の撮像領域に対して測定光を走査する第１の走査パターンの一例である。また、プレ走査パターン１は、第１の走査パターンの走査時間よりも短い走査時間で撮像領域の少なくとも一部に対して測定光を走査する第２の走査パターンの一例である。

ここで検者がＯＣＴ撮像範囲の変更が必要と判断した場合、検者はやはり図示しないポインティングデバイスでＯＣＴ撮像範囲を表すインジケータ５２１をドラッグすることで撮像位置及びその範囲を調整できる（Ｓ１５５）。撮像位置の修正がなされた場合は再度ＳＬＯ合焦を繰り返すことになる。

（参照光路長調整）
検者が次に参照光路調整とＯＣＴフォーカス調整の開始ボタン（図４５５０）を押下すると制御／信号処理ユニット１８０内の参照光路制御部３１０は各断層像が適切な位置に来るよう（例えば断層像がフレーム５３０Ａの高さ方向の中央付近に位置するように）参照光路長を調整する（Ｓ１６０）。もちろんフレーム５３０Ａ左方に設けられたスライドバーを操作し検者が参照光路調整を手動で補正することも可能である。

（ＯＣＴ合焦）
この参照光路調整が完了すると（例えば、断層位置がフレームの所定の深さ位置にあると判別した場合）ＯＣＴ走査制御部３０９は次にＯＣＴの合焦を行うためのプレ走査パターン２でＯＣＴ光走査ユニットを繰り返し駆動する（Ｓ１７０）。例えば本撮像走査パターンが矩形の３Ｄボリューム走査パターン５２１の場合、図１７（ａ）に示す如くプレ走査パターン２はＯＣＴ撮像範囲（矩形）の対角線走査パターンが選ばれる。ＯＣＴユニット内のＯＣＴフォーカスレンズ１２０はＳＬＯ合焦を行った際にすでにＳＬＯフォーカスレンズ２１０に対応する位置へ移動されているのでＯＣＴの合焦位置付近にある。その位置からＯＣＴフォーカス制御部３１１はレンズ駆動機構１２５駆動してＯＣＴフォーカスレンズ１２０を一定量（- δＦ）動かした後、所定回プレ走査パターン２を走査する毎に、今度は逆方向に所定量Δ繰り返し移動していくとともに、ＯＣＴ画像生成部３０８が生成したプレ走査パターン２に対応したＯＣＴ画像を逐次評価してＯＣＴユニットの合焦位置を探索する（Ｓ１８０）。ここで、第２の走査パターンの一例であるプレ走査パターン２（ＯＣＴ撮像範囲（矩形）の対角線走査パターン）の繰り返し時間が、第１の走査パターンの一例である本撮像走査パターン（矩形の３Ｄボリューム走査パターン）による撮像時間に比べて十分に短くなされていることに注目されたい。このことによりプレ走査を繰り返し合焦評価を実施しても所定時間内でＯＣＴ合焦が可能であり、被検者の負担も軽減できるのである。図１７（ａ）にはその他の本撮像走査パターンに対応するプレ走査パターン２をプレ走査パターン１とともに例示した。

実際の眼底上の対角線走査パターンは、図６に示すごとく６１０Ａ・Ｂ・Ｃ・Ｄの４つの部分に分割され、各々の部分に対して評価が行われる。このＯＣＴ合焦の評価関数には例えば走査線の各部分のＯＣＴ画像のコントラストや高輝度部分の振幅／平均輝度等を用いる。尚、ここでさらに合焦時間の短縮を図るのであれば、走査線各部分走査中の分光器出力の分散値等より計算負荷少ない評価関数を用いてもよいし、Ａモードのサンプル数を間引くことにより、さらに計算時間を短縮することができる。

評価関数としてＯＣＴ画像の高輝度部分の振幅／平均輝度使う場合を例にとると、制御／信号処理ユニット１８０内のＯＣＴ画像生成部３０８は、あるフォーカス位置におけるプレ走査パターン２上の所定位置における分光器の出力信号から深さ方向の輝度プロファイル（Ａモード信号）を得る。そして連続した複数の位置からの輝度プロファイルを配列することによりプレ走査パターン２の一部分に対応する網膜断層像を得る。さらにその断層像の所定の輝度以上となる連続領域、すなわち網膜が存在する部分を抽出し、その平均輝度を求め所定の部分領域におけるそのフォーカス位置におけるＯＣＴ合焦の評価値とする。フォーカス位置の移動の前にプレ走査パターン２を複数回繰り返す場合には、その平均をとっても良い。以上の手順を異なるフォーカス位置で繰り返すことによりＯＣＴの合焦位置を探索していく。

図７はＯＣＴの合焦状態を表す評価値のＯＣＴフォーカスレンズ１２０の位置に対する変化を表す図であり、図７（ａ）・（ｂ）・（ｃ）・（ｄ）はそれぞれ６１０Ａ・Ｂ・Ｃ・Ｄの４つの部分に相当する評価値を表す。それらは各々異なるＯＣＴフォーカスレンズ１２０位置ＯＣＴ１−４で最大値ｍａｘ１−４の一峰性のピークを持つことになるが、この差は被検眼眼底の凹凸や構造体の微妙な差を反映するもので、被検眼が健常な場合は大きな差が出ることはなくほぼ同一となる。従って、ＯＣＴフォーカスレンズ１２０位置ＯＣＴ１−４及びピークの最大値ｍａｘ１−４が所定の範囲に収まる場合、ＯＣＴ１−４の単純平均をとりＯＣＴの合焦位置とする。これが例えば図７（ｄ）ごとく最大値が他の部分に比して顕著に低い場合や、ピーク位置が異なる場合は病変や変形による異常値と判断し平均処理から除外することが望ましい。尚、本実施形態ではプレ走査パターン２を４分割して４つの評価値の変化からＯＣＴ合焦位置を決定する方法を示したが、分割数はこれに限らず、かつ単純分割ではなく複数の分離した部分を用いてもよいし、全体の平均的な合焦位置を探索する場合、特に分割しなくとも本発明の効果は認められる。

上述のごとくのＯＣＴ合焦が完了後、制御／信号処理ユニット１８０内のＯＣＴ走査制御部３０９は再度プレ走査パターン１でＯＣＴの走査を開始し（Ｓ１９０）、撮像開始を待つ（Ｓ１９０）が、この間にＯＣＴの撮像範囲が変更された場合はＳ１５５に戻り、撮像位置及びその範囲を調整する。検者が撮像開始ボタン（図４５６０）を押下すると、ＳＬＯユニットは次のラスター走査で得られたＳＬＯ像の保存を開始（Ｓ２００）するとともに本撮像走査パターンに従ってＯＣＴ断層像の撮像を行い（Ｓ２０５）、画像再構成後その結果を保存とともに表示器３５０に表示する（Ｓ２１０）。撮像・画像再構成の手順は前述のごとくである。検者は表示器３５０上で撮像結果を確認（Ｓ２１５）し、差異撮影が必要な場合はキャンセルボタン５７０を押下してＳ１４０へ戻り、結果に問題がなければ完了ボタン５８０を押下して画像を保存（Ｓ２２０）し撮像終了となる。

以上説明したように本実施形態の装置では、効率的に行うことができるＯＣＴユニットの合焦が提供されるのでより高画質なＯＣＴ画像を得ることができる。

（変形例）
前述のごとくプレ走査パターン２の繰り返し時間は、本撮像走査パターンによる撮像時間に比べて十分に短くなされていることが必要条件であるが、加えて本撮像走査範囲の全体的なフォーカス状態が検出しやすい走査パターンとなることが望ましい。

最も単純なプレ走査パターン２としては図８に示すごとくの撮像範囲５２１中央水平１ラインがあげられる。健常人かつＯＣＴの合焦評価に際しＯＣＴ画像そのものを用い、かつ正確な合焦状態を見るためにＡスキャン密度も本撮像と同等とする、すなわち、合焦評価値の算出に時間がかかるような場合に用いることができる。もちろんＡスキャン密度を粗くして、図９のごとくの縦横の十文字の走査や、図１０に示した各方向複数の走査（複数十字）の走査をすることも可能である。尚、十文字の走査は、撮像領域の中心を通り且つ２辺に平行な２ラインからなる十文字に対して測定光を走査するものである。

他方、患眼等で網膜に凹凸が発生していることが明らかで、撮像範囲全体の合焦評価を行わなくてはならないような場合には、合焦評価値の算出に時間のかからない方法を選択し、図１１のごとく撮像範囲全体を粗い走査密度でラスター走査するプレ走査パターンを選択することが望ましい。

また、撮像対象が乳頭を含むような場合、図１２のごとく円形状の走査としたり、図１３のごとくラディアル走査とすることも好適である。円形状の走査の場合、合焦評価効率的に行うために、その直径は前記撮像領域の最大幅の１／２以上３／４以下でありことが望ましく、さらには２重円で行ったりすることも考えられる。

以上、本発明に適するプレ走査パターン２の変形例を示したが、当然、操作者の判断によりこれらを切り替えられるよう設定してもよいし、撮影部位より切り替えてもよい。さらにこれらの複合パターンで構成することも可能であることは言うまでもない。

（第２の実施形態：ライン走査型のＯＣＴ装置）
図１では本発明に係るＯＣＴ装置の構成としてＳＤ−ＯＣＴを例にとり説明したが、本発明が適用可能なＯＣＴ装置はこれに限らない。例えば、図１の光源を波長掃引型の光源に、分光器１７０を高感度の受光素子に置換し、その出力を光源の掃引波長に基づいて等波数でサンプリングする構成とすることによりいわゆるＳＳ−ＯＣＴとすることができる。さらに本発明は、測定光の走査形式も図１に示した２次元走査型に限らず、例えば、図１４に示したライン走査型（撮像領域においてライン状に照射される測定光を１次元に走査するもの）のＯＣＴ装置にも適用可能である。尚、２次元走査型とは、撮像領域において点状に照射される測定光を２次元に走査するものである。ライン走査型とは、撮像領域においてライン状に照射される測定光を１次元に走査するものである。また、以下図１４を用いライン走査型のＯＣＴ装置に適用する例を説明する。

光源８０１はやはり波長掃引型の光源であり、光源８０１から射出された波長が繰り返し掃引される測定光は光分割ユニットである光学カプラ８０２により測定光と参照光とに分岐される。

分割された測定光は、ライン像形成光学系９０１へ導かれ、レンズ８０３によりコリメート光となり、シリンドリカルレンズ８０４、レンズ８０５によって、平面８０６上にライン像を形成する。尚、図中、実線は紙面に垂直のサジタル方向で、平面８０６上で集光する光線、破線は紙面に平行のタンジェンシャル方向で、平面８０６上でコリメートされている光線を、それぞれ示している。

測定光はさらに、ビームスプリッタ８２５を通過しサンプル光学系９０２へ導かれる。サンプル光学系９０２には、ＯＣＴフォーカスレンズ８０７、絞り８０８、被検眼Ｅの前眼部と略共役な位置に配置された光走査ユニットであるガルバノメトリックミラー８０９、対物レンズ系を形成するレンズ８１０、レンズ８１１が配置され、測定光を被検眼眼底８１２へ導き、眼底上にライン像を形成する。さらに、尚、レンズ８１０、レンズ８１１の間にはイメージローテータ９５０が設けられ、被検眼眼底８１２に形成されるライン像を任意の方向に回転可能とされている。

ここで、平面８０６と被検眼８１２の眼底とが光学的に共役になるように、ＯＣＴフォーカスレンズ８０７が光軸上を移動することは第１の実施形態と同様である。ＯＣＴフォーカスレンズ８０７の位置を調整し豪商状態とした後で、ガルバノメトリックミラー８０９を駆動すれば眼底８１２上に導かれた測定光によるライン像をそのラインと直交する方向に移動可能であるし、連続的にラインを走査すれば、図１１の如く眼底上をあたかもラスター走査のように３次元で走査することができる。一方イメージローテータを駆動すれば、眼底８１２上に導かれた測定光によるライン像を開店することが可能であり、間欠的にラインを走査すれば、眼底上を図１３のようにラディアル走査することになる。

被検眼の眼底８１２で反射散乱した測定光は、サンプル光学系９０２を介した後、ビームスプリッタ８２５によって反射され、撮影系９０４へ導かれ、後述する平面８２６上に、測定光のライン像を形成する。

撮影系９０４には、被検眼８１２の眼底及び平面８０６と光学的に共役な平面８２６があり、さらに、平面８２６は、レンズ８２７、レンズ８２８を介してラインセンサ８２９の受光面とも共役となっているため、眼底上のライン像から反射散乱された測定光がラインセンサ８２９へと達することになる。

一方、参照光は、参照系９０３へ導かれ、コリメータレンズ８１４によりコリメート光となり、ＮＤフィルター８１５を通過し所定光量に減衰される。その後、参照光はコリメートされた状態を保持したまま、ミラー８１６、ミラー８１８で反射され、光軸方向に移動可能でサンプル光学系９０２との光路長差を補正することができる参照ミラー８１７で折り返され、ミラー８１８、ミラー８１６、ミラー８１９で反射される。さらに、参照光はシリンドリカルレンズ８２０とレンズ８２１からなるライン像形成レンズ系を介し、ミラー８２２面上に中間像としてのライン像を形成する。中間ライン像はレンズ８２３、レンズ８２４を介し、ビームスプリッタ８２５を透過して、平面８２６上に、参照光によるライン像を形成している。

すなわち上述の如く、参照光と測定光とがビームスプリッタ８２５により合波され、平面８２６上で参照光と測定光の各々のライン像が干渉することになる。その干渉したライン像が、ラインセンサ８２９で受光され、出力信号として出力される。

尚、参照系９０３には、光ファイバを複数の環状に束ねた偏光調整用パドル８１３とそれを駆動する図示しない偏光調整駆動手段が設けられており、測定光と参照光との干渉状態が良くなるように、測定光の偏光状態に対する参照光の偏光状態を調整できるようになっている。

加えて、ＯＣＴフォーカスレンズ８２５の駆動、ガルバノメトリックミラー８０９の駆動、参照ミラー８１７駆動が制御／信号処理ユニット１８０により行われることは第１の実施形態と同様である。

（眼底観察ユニット）
さらに対物レンズを形成する２つのレンズ８１１と８１２の間にはダイクロマティックミラー９６０が設けられその分岐光路には図１と同様に眼底観察ユニットであるＳＬＯユニット９７０が設けられている。

（ＯＣＴ画像再構成）
ラインセンサ８２９は走査ユニット１４０の一つの駆動位置において光ラインセンサは波長掃引光源８０１の波長掃引に対応して等波数間隔にて繰り返し露光と読み出し動作を繰り返し行っていく。読み出された出力は制御／信号処理ユニット１８０内の第２のＡ／Ｄ変換器３０７によりサンプリングされることにより、ラインセンサ８２９の画素ごとに所定の波数間隔でサンプルされた深さ情報の元となる干渉信号セットとして画像メモリ３０４に記憶される。さらに光走査ユニット１４０の走査位置を制御しながら、この干渉信号セットの取得を繰り返すことにより、複数の走査ラインからなる３次元断層信号が得られることになる。ＯＣＴ画像生成部３０８は、これらの干渉信号セットをラインセンサの一画素に対応する干渉信号ごとに逐次演算することに光走査ユニット１４０の走査位置の被検眼眼底の断層像を生成する。

以上の如く構成されたライン走査型のＯＣＴ装置の操作フローの説明は割愛するが、基本的に図３に示した第１の実施形態と同様である。但し相違点として、プレ走査パターン１、プレ走査パターン２、本撮像の走査パターンのいずれの走査パターンもラインセンサ８２９に対応した一つまたは複数の走査線の組み合わせで構成されるものに制限されることである。本実施形態で有効と思われる走査パターンの例を図１７（ｂ）に示す。ここで対角線・十文字等、水平走査線以外の走査線はイメージローテータ９５０の駆動により、眼底上のライン角度を変更すればよい。

以上説明したように本発明はライン走査型のＯＣＴ装置にも効果的に適用可能であり、効率的に行うことができるＯＣＴユニットの合焦が提供されるのでより高画質なＯＣＴ画像を得ることができる。

（第３の実施形態：ＯＣＴＡへの適用）
近年、ＯＣＴの新しい応用例として、造影剤を用いない血管造影法血管造影法（ＯＣＴＡｎｇｉｏｇｒａｐｈｙ：ＯＣＴＡ）が提案されている。ＯＣＴＡは、撮像対象の同一断面（同一部分）をＯＣＴで繰り返し撮像し、例えば、複素ＯＣＴ信号の位相やベクトル、強度の時間的な変化を差、比率、又は相関等からその撮影間における撮像対象の時間的な変化を検出したデータいわゆるモーションコントラストデータを生成する。そして最終的には取得した３次元のモーションコントラストデータを２次元平面に投影することにより血管画像（以下、ＯＣＴＡ画像という。）を生成する撮像技法である。ＯＣＴＡはこのように複数の画像データから複数ステップの演算処理により生成されるので、そのもとになるＯＣＴ信号の画質が最終結果に大きな影響を及ぼす。ＯＣＴユニットの合焦状態もその画質を左右する大きな要因となることは言うまでもない。従って、ＯＣＴＡ撮像において特に本発明はその効果を発揮する。またその一方、ＯＣＴＡ画像の画質の向上のため、複数のＯＣＴＡ画像を別々に撮像した上で、それらを位置合わせ後、加算平均を取る方法も考案されている。このような撮像手法においては、撮像対象の同一断面をＯＣＴで繰り返し撮像するＯＣＴＡ画像をさらに繰り返して複数回連続的に撮像するため、総撮像時間が長時間となり、検者の負荷のみならず被患者の負担も飛躍的に増大するため、いかに総撮像時間を短縮するかが一つの大きな課題となってきた。そこで図１に示したＳＤ−ＯＣＴ装置を用いて複数のＯＣＴＡ画像を別々に撮像するシーケンスにおいて本発明を効果的に適用したＯＣＴＡ撮像手順のフローを図１５に示す。

本実施形態においては、ＯＣＴＡ撮像のための走査パターンはラスター走査による３次元ボリューム走査（３００×３００）であり、モーションコントラストを計算するために同一の走査線をＭ回（Ｍは２以上）繰り返し走査するので実際には１回のＯＣＴＡ撮像で３００×３００×Ｍのデータ量を撮像する。さらに本実施形態では、高画質データ生成のために本撮像をＮ回（Ｎは２以上）繰り返すので、トータルで３００×３００×Ｍ×Ｎのデータを撮像することになる。尚、詳細な説明を省略するが、本実施形態の装置ではＯＣＴＡの加算平均用に上述の量のデータを正しく同じ場所から撮像するために、被検眼のトラッキングを行うこが望ましい。トラッキングを行うことにより、固視微動の影響を少ない高画質のＯＣＴＡ像を得ることが可能となる。さらに、まばたきなどの画像を生成するにあたりアーティファクトとなる動きを検出した場合には、アーティファクトが発生した場所で再走査を自動的に行うよう構成することにより撮像失敗の確率を十分に下げることが可能となる。

通常、装置の電源がＯＮに伴いＳＬＯユニットの駆動が開始されるが、これから撮像する複数のＯＣＴＡデータの同定を確実にするためにＳ２１０にて不図示の被検眼情報取得部は、被検者識別番号を外部から取得する。この被検眼識別情報は装置が認識する左右眼種別とともに後ほどＯＣＴＡ画像データとともに図示しない外部記憶装置に記憶される。

その後、制御／信号処理ユニット１８０は図３にて説明した第１の実施形態と同等のＳＬＯ合焦動作（Ｓ２２０）を実施する。ＳＬＯの合焦が完了するとＳ２３０では、ＯＣＴユニットはプレ走査パターン１でＯＣＴの走査を開始し、制御／信号処理ユニット１８０は各断層像が適切な位置に来るよう（例えば断層像がフレーム５３０Ａの高さ方向の中央付近に位置するように）参照光路長を調整する。

この参照光路調整が完了するとＯＣＴユニットはＯＣＴの合焦を行うためのプレ走査パターン２でＯＣＴ光走査ユニットを繰り返し駆動し、ＯＣＴ合焦を行う。これらの撮影パラメータの調整終了後、操作者が撮像開始を指示するとＳＬＯ撮像と１回分のＯＣＴＡ撮像が開始される（Ｓ２５０）。このＯＣＴＡ撮像が所定Ｎ回行われるまで繰り返されるが、ここまでの操作フローは本走査パターンとしてＯＣＴＡのための繰り返し走査パターンが採用されている他はほぼ第１の実施形態と同様である。

繰り返し時においては、制御／信号処理ユニット１８０はＳ３００でＯＣＴフォーカスレンズ１２０を駆動せずそのままの状態で合焦状態の変化を確認する。すなわち、ＯＣＴの合焦を行うためのプレ走査パターン２でＯＣＴ光走査ユニットを再走査し、それに対応したＯＣＴ画像から合焦状態を評価する評価値（評価指標）を算出、そして算出した評価値と閾値とを比較する（Ｓ２７０）。ここで、評価値＞閾値（評価値が閾値よりも大きい）の場合には、合焦状態に変化がなく良好と判断し、ＯＣＴ合焦動作（Ｓ２４０）をスキップして再度撮像開始指示を待つ。評価値＜閾値（評価値が閾値よりも小さい）の場合には、被検眼の状態が変化して合焦が不十分と判断し、再度ＯＣＴ合焦（Ｓ２４０）へ戻る。すなわち、算出手段の一例である制御／信号処理ユニット１８０は、モーションコントラストを複数回算出し（ＯＣＴＡをＮ回撮像し）、２回目以降にモーションコントラストを算出するための第１の走査パターンに対応する（直前の）第２の走査パターンにより測定光が繰り返し走査されている間における受光手段の出力を用いて合焦手段による合焦状態を評価する評価指標を算出する。そして、制御手段の一例である制御／信号処理ユニット１８０は、は、算出された評価指標が閾値よりも小さい場合に合焦手段を駆動するように駆動手段を制御する。

ＯＣＴＡの撮像がＮ回完了した際は、ステップＳ２６０へと処理が進みＯＣＴ画像再構成を行うが、次のステップＳ２７０では、制御／信号処理ユニット１８０内のＯＣＴ画像生成部３０８内に設けられたデータ演算部がＯＣＴＡ特有のデータであるモーションコントラストデータの生成を行う。

このデータ生成について図１６を用いて簡単に説明を行う。ＭＣは３次元のモーションコントラストデータを示し、ＬＭＣは３次元のモーションコントラストデータを構成する２次元のモーションコントラストデータを示している。ここでは、このＬＭＣを生成する方法について説明をする。

データ演算部は、まず被検眼の同一範囲で撮影された複数の断層像間の位置ずれを補正する。位置ずれの補正方法は任意の方法であってよい。例えば、モーションコントラスト演算部は、同一範囲をＭ回撮影され、同一箇所に相当する断層像データ同士について、眼底形状等の特徴等を利用して位置合わせを行う。具体的には、Ｍ個の断層像データのうちの１つをテンプレートとして選択し、テンプレートの位置と角度を変えながらその他の断層像データとの類似度を求め、テンプレートとの位置ずれ量を求める。その後、モーションコントラスト演算部は、求めた位置ずれ量に基づいて、各断層像データを補正する。

次にデータ演算部は、各断層像データに関する撮影時間が互いに連続する、２つの断層像データ間で脱相関値Ｄを求める。脱相関値Ｄは２つの輝度の差が大きいほど大きくなるとともに０〜１の値となるよう定義されることが通例である。データ演算部は、同一位置で繰り返し取得したＭが３以上の場合には、同一位置（ｘ，ｚ）において複数の脱相関値Ｄ（ｘ，ｚ）を求めることができる。モーションコントラスト演算部は、求めた複数の脱相関値Ｄ（ｘ，ｚ）の最大値演算や平均演算などの統計的な処理を行うことで、最終的なモーションコントラストデータを生成することができる。尚、繰り返し回数Ｍが２の場合、最大値演算や平均演算などの統計的な処理は行わず、隣接する２つの断層像ＡとＢの脱相関値Ｄ（ｘ，ｚ）が、位置（ｘ、ｚ）におけるモーションコントラストの値となる。

脱相関値Ｄは一般的に言ってノイズの影響を受けやすい傾向がある。例えば、複数の断層像データの無信号部分にノイズがあり、互いに値が異なる場合には、脱相関値が高くなり、モーションコントラストデータにもノイズが重畳してしまう。これを避けるために、データ演算部は、前処理として、所定の閾値を下回る断層データはノイズとみなして、ゼロに置き換えることができる。これにより、ＯＣＴ画像生成部３０８は、前処理された断層データに基づいて、ノイズの影響を低減した３次元モーションコントラストデータＭＣを生成することができる。

その後ステップＳ３０５において、ＯＣＴ画像生成部３０８は前述したノイズの影響を低減した複数のモーションコントラストデータＭＣの位置合わせと加算平均処理を行ことにより高画質ＯＣＴＡデータ生成を行う。本処理の詳細については説明を割愛するが、複数の３次元モーションコントラストデータＭＣを３次元的に位置合わせした後に加算平均処理を行った一つの３次元モーションコントラストデータＭＣ‘を２次元平面に投影することにより高画質ＯＣＴＡ画像を得る方法や、複数の３次元モーションコントラストデータＭＣのそれぞれを２次元平面に投影して得た複数のＯＣＴＡ画像を加算平均して高画質ＯＣＴＡ画像を得る方法等複数のやり方が考えられる。

ステップＳ３０６では、加算平均して作成した高画質ＯＣＴＡ画像を表示部６００に表示するが、例えば複数の３次元モーションコントラストデータＭＣを３次元的に位置合わせした後に加算平均処理を行う方法で高画質ＯＣＴＡ画像を表示する場合には、加算平均後の３次元モーションコントラストデータに対して指定された生成範囲上端と生成範囲下端との範囲に対応するモーションコントラストデータを２次元平面上に投影してＯＣＴＡ画像を生成し、そのＯＣＴＡ画像を表示する。或いは、加算平均処理をした３次元モーションコントラストデータをボリュームレンダリングして３次元的に表示をするようにしても良い。

以上で述べた構成によれば、本実施形態では、ＯＣＴＡ撮像を繰り返し行う際にＯＣＴユニットの合焦状態を確実に確認するとともに、より短時間でより高画質なＯＣＴＡ画像を得ることが可能になる。

（その他の実施形態）
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。

Claims

測定光を照射した被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光との干渉光を受光する受光手段を含む干渉光学系と、
前記受光手段の出力を用いて前記被検眼の断層画像を取得する断層画像取得手段と、
前記干渉光学系に設けられ、前記被検眼に対して前記測定光を走査する光走査手段と、
前記干渉光学系に設けられ、合焦手段を駆動する駆動手段と、
前記被検眼の撮像領域に対して前記測定光を走査する第１の走査パターンにより前記測定光が走査されている間における前記受光手段の出力を用いて記憶用の断層画像が取得される前に、前記第１の走査パターンの走査時間よりも短い走査時間で前記撮像領域の少なくとも一部に対して前記測定光を走査する第２の走査パターンにより前記測定光を繰り返し走査するように、前記光走査手段を制御し、前記第２の走査パターンにより前記測定光が繰り返し走査されている間における前記受光手段の出力を用いて前記合焦手段を駆動するように、前記駆動手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする光干渉断層撮影装置。
前記光走査手段は、前記撮像領域において点状またはライン状に照射される前記測定光を走査することを特徴とする請求項１に記載の光干渉断層撮影装置。
前記第２の走査パターンは、前記第１の走査パターンの走査密度に比べて粗い走査密度であることを特徴とする請求項１または２に記載の光干渉断層撮影装置。
前記第２の走査パターンは、前記撮像領域の一部に対して前記測定光を走査する走査パターンであることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の光干渉断層撮影装置。
前記第２の走査パターンは、前記撮像領域の中央を通る１ラインに対して前記測定光を走査する走査パターンであることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の光干渉断層撮影装置。
前記撮像領域は矩形であり、かつ
前記第２の走査パターンは、前記撮像領域の少なくとも一つの対角線の少なくとも一部に対して前記測定光を走査する走査パターンであることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の光干渉断層撮影装置。
前記撮像領域は矩形であり、かつ
前記第２の走査パターンは、前記撮像領域の中心を通り且つ２辺に平行な２ラインからなる十文字に対して前記測定光を走査する走査パターンであることを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の光干渉断層撮影装置。
前記第２の走査パターンは、前記撮像領域の一部を含む円形状に対して前記測定光を走査する走査パターンであることを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の光干渉断層撮影装置。
前記走査される円形の直径は、前記撮像領域の最大幅の１／２以上３／４以下であることを特徴とする請求項８に記載の光干渉断層撮影装置。
前記第１の走査パターンとして前記撮像領域の同一部分に対して前記測定光が複数回繰り返し走査されている間における前記受光手段の出力を用いて、前記撮像領域のモーションコントラストを算出する算出手段を更に有することを特徴とする請求項１乃至９のいずれか１項に記載の光干渉断層撮影装置。
前記算出手段は、前記モーションコントラストを複数回算出し、２回目以降に前記モーションコントラストを算出するための前記第１の走査パターンに対応する前記第２の走査パターンにより前記測定光が繰り返し走査されている間における前記受光手段の出力を用いて前記合焦手段による合焦状態を評価する評価指標を算出し、
前記制御手段は、前記算出された評価指標が閾値よりも小さい場合に、前記合焦手段を駆動するように前記駆動手段を制御することを特徴とする請求項１０に記載の光干渉断層撮影装置。
測定光を照射した被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光との干渉光を受光する受光手段を含む干渉光学系と、
前記受光手段の出力を用いて前記被検眼の断層画像を取得する断層画像取得手段と、
前記干渉光学系に設けられ、前記被検眼に対して前記測定光を走査する光走査手段と、
前記干渉光学系に設けられ、合焦手段を駆動する駆動手段と、
を有する光干渉断層撮影装置の制御方法であって、
前記被検眼の撮像領域に対して前記測定光を走査する第１の走査パターンにより前記測定光が走査されている間における前記受光手段の出力を用いて記憶用の断層画像が取得される前に、前記第１の走査パターンの走査時間よりも短い走査時間で前記撮像領域の少なくとも一部に対して前記測定光を走査する第２の走査パターンにより前記測定光を繰り返し走査するように、前記光走査手段を制御する工程と、
前記第２の走査パターンにより前記測定光が繰り返し走査されている間における前記受光手段の出力を用いて前記合焦手段を駆動するように、前記駆動手段を制御する工程と、
を有することを特徴とする光干渉断層撮影装置の制御方法。
請求項１２に記載の光干渉断層撮影装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。