JP2019007959A - 試験測定システム及びそのための方法 - Google Patents
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Abstract
Description
102 アナログ・フロント・エンド
104 トラック及びホール回路
106 アナログ・デジタル・コンバータ(ADC)
108 トリガ・ハードウェア
110 アクイジション回路
112 トリガ・コンパレータ
114 ロジック回路
116 トリガ・イネーブル・ロジック回路
118 トリガ・ロジック回路
120 アクイジション・メモリ
200 オシロスコープ
300 オシロスコープ
302 デジタル・フロント・エンド
400 イベント
402 トリガ・イベント・デコーダ
404 トリガ・イネーブル・イベント・デコーダ
406 リセット・イベント・デコーダ
408 トリガ・イネーブル・ラッチ
410 トリガ・ラッチ
412 リセット・ロジック
414 リセット・ロジック回路
416 タイマ
500 トリガ・イネーブル・イベント
502 トリガ・イベント
600 トリガ・イネーブル・イベント
602 トリガ・イベント
700 トリガ・イネーブル・イベント
702 トリガ・イベント
810 Aでアーミング、BでトリガのUI選択ボタン
Claims (7)
- 少なくとも1つは被試験デバイスである1つ以上のデバイスから1つ以上の信号を受ける1つ以上のポートと、
上記1つ以上の信号内に、該1つ以上の信号のリアルタイム・イベントであるトリガ・イネーブル・イベントが生じたときにトリガ・イネーブル信号を出力するよう構成されるトリガ・イネーブル・ロジック回路と、
上記トリガ・イネーブル信号を受けた場合に上記1つ以上の信号の1つにトリガ・イベントが生じた後で複数のトリガ信号の夫々を生成するよう構成される1つ以上のトリガ・ロジック回路と、
複数の上記トリガ信号の夫々に応じてデータを捕捉してメモリ中に記憶するよう構成されるアクイジション回路と
を具える試験測定システム。 - 上記1つ以上のポートには、上記被試験デバイスからの第1信号を受ける第1ポートと、上記被試験デバイスからの第2信号を受ける第2ポートと、上記被試験デバイスからの第3信号を受ける第3ポートとがあり、
上記トリガ・イネーブル・ロジック回路は、上記第1信号内にトリガ・イネーブル・イベントが生じた場合に上記トリガ・イネーブル信号を生成するよう更に構成され、
上記1つ以上のトリガ・ロジック回路は、その1つ以上のトリガ・コンパレータが上記第2信号内にトリガ・イベントが生じたと判定した場合に複数のトリガ信号を夫々生成するよう更に構成され、
アクイジション回路は、上記トリガ信号の夫々に応じて、上記第3信号の一部分を捕捉してメモリに記憶するよう更に構成される請求項1の試験測定システム。 - 上記1つ以上の信号内に新たなトリガ・イネーブル・イベントが生じるまで上記トリガ・イネーブル信号が出力されないように、上記トリガ・イネーブル・ロジック回路のリセット条件に応じて上記トリガ・イネーブル・ロジック回路をリセットするリセット信号を出力するリセット回路を更に具える請求項1又は2の試験測定システム。
- 試験測定システム中の複数のトリガ・イベントに応じて、1つ以上の信号の複数の部分を取り込む方法であって、
被試験デバイスから1つ以上の信号を受ける処理と、
上記1つ以上の信号のリアルタイム・イベントを含むトリガ・イネーブル・イベントが上記1つ以上の信号の1つにおいて検出された場合にトリガ・イネーブル信号を生成する処理と、
初期化信号が生成された後に上記1つ以上の信号の1つにおいてトリガ・イベントが検出される度に複数のトリガ信号を生成する処理と、
上記トリガ信号の夫々についてデータを取り込む処理と、
上記データをメモリに記憶する処理と
を具える方法。 - 上記トリガ・イネーブル信号は、第1信号内に上記トリガ・イネーブル・イベントが検出された場合に生成され、上記トリガ信号は、第2信号内に上記トリガ・イベントが検出された場合に生成され、取り込まれる部分は、第3信号の一部分である請求項4の方法。
- リセット条件が生じた場合に、上記トリガ・イネーブル信号をリセットする処理を更に具える請求項4又は5の方法。
- 試験測定システムのプロセッサで実行されたときに、上記試験測定システムに、請求項4から6のいずれかの方法を実行させるコンピュータ・プログラム。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2022264952A1 (ja) * | 2021-06-18 | 2022-12-22 | 三菱電機株式会社 | Ad変換装置 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11879914B2 (en) * | 2017-11-17 | 2024-01-23 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Measurement apparatus and method for controlling a measurement apparatus |
CN110763888B (zh) * | 2019-11-15 | 2021-12-07 | 北京普源精电科技有限公司 | 自动识别触发类型的方法、装置及示波器 |
KR20230007469A (ko) | 2020-07-21 | 2023-01-12 | 주식회사 아도반테스토 | 트리거 생성을 사용하는 자동 테스트 장비 및 방법 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07120503A (ja) * | 1993-10-22 | 1995-05-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 波形記録装置 |
JPH095401A (ja) * | 1995-06-23 | 1997-01-10 | Nec Corp | 測定装置およびロジックアナライザ |
JP2007155718A (ja) * | 2005-12-08 | 2007-06-21 | Tektronix Inc | トリガ事象識別方法及び回路 |
JP2011141276A (ja) * | 2010-01-07 | 2011-07-21 | Tektronix Inc | 試験測定機器及びそのトリガ方法 |
JP2012042462A (ja) * | 2010-08-13 | 2012-03-01 | Tektronix Inc | 試験測定機器及びトリガ方法 |
JP2015203701A (ja) * | 2014-04-11 | 2015-11-16 | テクトロニクス・インコーポレイテッドTektronix,Inc. | 試験測定装置及びトリガ方法 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
USRE42773E1 (en) * | 1992-06-17 | 2011-10-04 | Round Rock Research, Llc | Method of manufacturing an enclosed transceiver |
US6748335B2 (en) * | 2002-05-06 | 2004-06-08 | Tektronix, Inc. | Acquisition system for a multi-channel relatively long record length digital storage oscilloscope |
US7398175B2 (en) | 2002-12-18 | 2008-07-08 | Tektronix, Inc. | Method and apparatus providing multiple channel multiple instrument triggering |
US6876936B2 (en) | 2003-07-25 | 2005-04-05 | Tektronix, Inc. | Measurement of inductance using a digital storage oscilloscope under real-time operating environments |
AR073129A1 (es) * | 2008-08-26 | 2010-10-13 | Spx Corp | Modulo de osciloscopio digital con deteccion de fallas en la recepcion de la senal. |
US20110060540A1 (en) * | 2009-09-04 | 2011-03-10 | Tektronix, Inc. | Test and Measurement Instrument and Method For Providing Post-Acquisition Trigger Control and Presentation |
WO2012023154A1 (en) * | 2010-08-16 | 2012-02-23 | Empire Technology Development Llc | Converter and converter control method |
TWI433089B (zh) * | 2010-10-29 | 2014-04-01 | Chunghwa Picture Tubes Ltd | 顯示器的削角系統及其時序削角控制方法 |
US9291646B2 (en) * | 2012-07-27 | 2016-03-22 | Tektronix, Inc. | Cross domain triggering in a test and measurement instrument |
CN102890258B (zh) * | 2012-10-22 | 2014-06-25 | 电子科技大学 | 一种并行结构数字存储示波器捕获率的测试方法 |
DE102014208464A1 (de) * | 2014-02-28 | 2015-09-03 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Digitales Oszilloskop und Verfahren mit paralleler Akquisition und Signalnachverarbeitung |
-
2017
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07120503A (ja) * | 1993-10-22 | 1995-05-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 波形記録装置 |
JPH095401A (ja) * | 1995-06-23 | 1997-01-10 | Nec Corp | 測定装置およびロジックアナライザ |
JP2007155718A (ja) * | 2005-12-08 | 2007-06-21 | Tektronix Inc | トリガ事象識別方法及び回路 |
JP2011141276A (ja) * | 2010-01-07 | 2011-07-21 | Tektronix Inc | 試験測定機器及びそのトリガ方法 |
JP2012042462A (ja) * | 2010-08-13 | 2012-03-01 | Tektronix Inc | 試験測定機器及びトリガ方法 |
JP2015203701A (ja) * | 2014-04-11 | 2015-11-16 | テクトロニクス・インコーポレイテッドTektronix,Inc. | 試験測定装置及びトリガ方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2022264952A1 (ja) * | 2021-06-18 | 2022-12-22 | 三菱電機株式会社 | Ad変換装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN109100555A (zh) | 2018-12-28 |
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