JP6067963B2 - 試験測定機器及びトリガ方法 - Google Patents
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Description
(1)被試験無線周波数(RF)信号を受ける入力端子と;上記RF信号をデジタル化するアナログ・デジタル変換器(ADC)と;上記デジタル化RF信号からI(同相)及びQ(直交位相)ベースバンド成分情報を発生するデジタル・ダウンコンバータと;上記I及びQベースバンド成分情報を用いてパワー・レベルを求めるパワー検出器と;該パワー検出器が求めた上記パワー・レベルが所定パワーしきい値を超えたときにIQベースの時間領域トレースを発生する1個以上の復調器とを具えた試験測定機器。
(2)上記所定パワーしきい値は、ユーザ指定可能であり;上記試験測定機器は、上記パワー検出器に機能的に結合され、上記ユーザ指定可能なしきい値を上記パワー検出器から受信した上記パワー・レベルを比較する比較器を更に具えた態様1の試験測定機器。
(3)上記比較器は、1個以上の復調器をイネーブルする(動作可能にする)ロジック信号を発生する態様2の試験測定機器。
(4)上記ロジック信号は、トリガ・イネーブル信号を含み;上記試験測定機器は、上記トリガ・イネーブル信号に応答してIQベースの時間領域トレースに関連したイベントでトリガするトリガ回路を更に具える態様3の試験測定機器。
(5)上記パワー・レベルが所定期間だけ上記ユーザ指定しきい値を超えるまで、上記比較器が発生したロジック信号を遅延させる遅延機能を更に具えた態様3の試験測定機器。
(6)上記遅延ロジック信号は、遅延されたトリガ・イネーブル信号を含み;上記遅延トリガ・イネーブル信号に応答して、上記IQベースの時間領域トレースに関連したイベントでトリガするトリガ回路を更に具えた態様5の試験測定機器。
(7)上記1個以上の復調器は、位相復調器及び周波数復調器の少なくとも一方を含む態様1の試験測定機器。
(8)上記IQベースの時間領域トレースは、周波数対時間トレース及び位相対時間トレースの少なくとも一方を含む態様1の試験測定機器。
(9)上記所定パワーしきい値は、ユーザが指定可能であり;上記パワー検出器に機能的に結合され、上記ユーザ指定可能なパワーしきい値を上記パワー検出器から受けた上記パワーと比較し、トリガ・イネーブル信号を発生する比較器と;該比較器が発生した上記トリガ・イネーブル信号を受けた後、上記周波数対時間トレース又は上記位相対時間トレースに関連したイベントにてトリガするトリガ回路を更に具える態様8の試験測定機器。
(10)上記RF信号を中間周波数(IF)信号に変換するRF/IF変換器を更に具え;上記ADCは、上記IF信号をデジタル化し;上記デジタル・ダウンコンバータは、上記デジタル化IF信号から上記I及びQベースバンド成分情報を発生する態様1の試験測定機器。
(11)上記I及びQベースバンド成分情報の1つ以上の記録を蓄積する取込みメモリと;該取込みメモリに機能的に結合された制御器と;該制御器に機能的に結合され、上記IQベースの時間領域トレースを表示する表示ユニットとを具え;上記制御器は、上記パワー検出器が求めた上記パワー・レベルが上記所定パワーしきい値を超えた後に、上記IQベースの時間領域トレースに関連したイベントでトリガするトリガ・セクションを含む態様1の試験測定機器。
(12)被試験無線周波数(RF)信号を受ける入力端子と;上記RF信号を中間周波数(IF)信号に変換するRF/IF変換器と;上記IF信号のパワー・レベルを求め、該パワー・レベルが所定パワーしきい値を超えた後にトリガ・イネーブル信号を発生するアナログ・パワー検出器及び復調器セクションとを具えた試験測定機器。
(13)上記トリガ・イネーブル信号に応答して、少なくとも1つの時間領域トレースに関連したイベントでトリガするトリガ回路を更に具えた態様12の試験測定機器。
(14)上記パワー・レベルが上記所定レベルしきい値を超えた後に、少なくとも1つの時間領域トレースを発生する1個以上のアナログ復調器を更に具えた態様12の試験測定機器。
(15)IQベースの時間領域トレースに関連したイベントにてトリガする方法であって;試験測定機器の端子にて被試験無線周波数(RF)信号を受け;アナログ・デジタル変換器(ADC)を用いて上記被試験RF信号をデジタル化し;上記デジタル化信号をダウンコンバージョンし、I(同相位相)及びQ(直交位相)ベースバンド成分情報を発生し;I及びQベースバンド成分情報を用いてパワー・レベルを求め;該パワー・レベルをユーザ指定パワーしきい値と比較し;上記パワー・レベルが上記ユーザ指定パワーしきい値を超えたときにイネーブル信号を発生するトリガ方法。
(16)更に、上記イネーブル信号に応答して1個以上の復調器をイネーブルし;該1個以上の復調器がIQベースの時間領域トレースを発生し;トリガ回路をイネーブルして、上記イネーブル信号に応答して上記IQベースの時間領域トレース内でトリガ・イベントを検出する態様15の方法。
(17)上記1個以上の復調器は、位相復調器及び周波数復調器の少なくとも一方を含み;上記IQベースの時間領域トレースは、周波数対時間トレース及び位相対時間トレースの少なくとも一方を含む態様16の方法。
(18)上記イネーブル信号は、トリガ・イネーブル信号を含み;更に、上記パワー・レベルが上記ユーザ指定可能なパワーしきい値を所定期間だけ超えるまで、上記トリガ・イネーブル信号の発生を遅延させ;上記遅延したトリガ・イネーブル信号を受けた後に、上記周波数対時間トレース又は上記位相対時間トレース内のイベントにてトリガする態様17の方法。
(19)更に、上記IQベースの時間領域トレースが低しきい値及び高しきい値を超えたときに、上記IQベースの時間領域トレース内のイベントにてトリガする態様16の方法。
(20)更に、上記IQベースの時間領域トレースが低しきい値を超え、高しきい値を超えないとき、上記IQベースの時間領域トレースにてトリガする態様16の方法。
(21)更に、(a)所定期間よりも長い、(b)上記所定期間よりも短い、(c)所定時間レンジ内、(d)上記所定時間レンジ外の少なくとも1つで、上記IQベースの時間領域トレースがしきい値よりも上のとき、上記IQベースの時間領域トレース内のイベントにてトリガする態様16の方法。
(22)更に、(a)所定期間よりも長い、(b)上記所定期間よりも短い、(c)所定時間レンジ内、(d)上記所定時間レンジ外の少なくとも1つで、IQベースの時間領域トレースがしきい値未満の時に、上記IQベースの時間領域トレース内のイベントにてトリガする態様16の方法。
(23)上記IQベースの時間領域トレースが、第1及び第2しきい値の定めたウィンドウ内のときに、上記IQベースの時間領域トレース内のイベントにてトリガする態様16の方法。
(24)更に、上記IQベースの時間領域トレースが、第1及び第2しきい値の定めたウィンドウ外のときに、上記IQベースの時間領域トレース内のイベントにてトリガする態様16の方法。
(25)更に、上記I及びQベースバンド成分情報の組合せが所定のロジック状態に対応するときに、上記IQベースの時間領域トレース内のイベントにてトリガする態様16の方法。
(26)更に、所定の状態シーケンスに応答して上記IQベースの時間領域トレース内のイベントにてトリガし;上記状態は、(a)上記IQベースの時間領域トレースがしきい値よりも上である第1状態と、(b)上記IQベースの時間領域トレースが上記しきい値未満の第2状態を含む態様16の方法。
(27)試験測定機器が態様15のステップを実行する関連インストラクションを蓄積するフロッピー(登録商標)・ディスク、光学ディスク、固定ディスク、揮発性メモリ、不揮発性メモリ、ランダム・アクセス・メモリ、リード・オンリ・メモリ又はフラッシュ・メモリなどのマシン・アクセス可能な媒体。
108 アナログ・デジタル変換器(ADC)
110 入力端子
112 RF/IF変換器
115 デジタル・ダウンコンバータ
120 アナログ位相復調器
125 アナログ周波数復調器
130 取込みメモリ
135 記録
140 制御器
145 パワー検出器/復調器セクション
146 アナログ・パワー検出器/変調器セクション
147 トリガ回路(セクション)
150 表示ユニット
300 パワー検出器
305 比較器
318 遅延機能
320 位相復調器
325 周波数復調器
Claims (2)
- 被試験無線周波数(RF)信号を受ける入力端子と、
上記RF信号をデジタル化するアナログ・デジタル変換器(ADC)と、
デジタル化された上記RF信号からI(同相)及びQ(直交位相)ベースバンド成分情報を発生するデジタル・ダウンコンバータと、
上記I及びQベースバンド成分情報を用いてパワー・レベルを求めるパワー検出器と、
該パワー検出器が求めた上記パワー・レベルが所定パワーしきい値を超えたときにIQベースの時間領域トレースである周波数対時間トレース又は位相対時間トレースを発生する1個以上の復調器と、
上記復調器に結合され、上記パワー検出器から受けた上記パワー・レベルと上記所定パワーしきい値とを比較し、1個以上の上記復調器をイネーブルするイネーブル信号であって、トリガ・イネーブル信号も含む上記イネーブル信号を発生する比較器と、
上記トリガ・イネーブル信号に応じて上記周波数対時間トレース又は上記位相対時間トレース中のイベントでトリガをかけるトリガ回路と
を具えた試験測定機器。 - IQベースの時間領域トレースに関連したイベントにてトリガする方法であって、
試験測定機器の端子にて被試験無線周波数(RF)信号を受ける処理と、
アナログ・デジタル変換器(ADC)を用いて上記被試験RF信号をデジタル化する処理と、
デジタル化された上記被試験RF信号をダウンコンバージョンし、I(同相位相)及びQ(直交位相)ベースバンド成分情報を発生する処理と、
該I及びQベースバンド成分情報を用いてパワー・レベルを求める処理と、
該パワー・レベルをユーザ指定パワーしきい値と比較する処理と、
上記パワー・レベルが上記ユーザ指定パワーしきい値を超えたときに、トリガ・イネーブル信号を含むイネーブル信号を発生する処理と、
上記イネーブル信号に応じて、位相復調器又は周波数復調器をイネーブルし、IQベースの時間領域トレースである位相対時間トレース又は周波数対時間トレースを生成する処理と、
上記トリガ・イネーブル信号に応じてトリガ回路をイネーブルし、上記位相対時間トレース又は周波数対時間トレース中のイベントを検出する処理と
を具えたトリガ方法。
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