JP2018523838A - ウェーハの表面性状を非接触検査するための方法及び装置 - Google Patents
ウェーハの表面性状を非接触検査するための方法及び装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2018523838A JP2018523838A JP2018528096A JP2018528096A JP2018523838A JP 2018523838 A JP2018523838 A JP 2018523838A JP 2018528096 A JP2018528096 A JP 2018528096A JP 2018528096 A JP2018528096 A JP 2018528096A JP 2018523838 A JP2018523838 A JP 2018523838A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- optical sensor
- light intensity
- rotation angle
- angle
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 63
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 22
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 115
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 72
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims abstract description 17
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 56
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 19
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 8
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims 2
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 83
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 51
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 27
- 230000008569 process Effects 0.000 description 23
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 4
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 4
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 4
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 3
- 239000000839 emulsion Substances 0.000 description 3
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 2
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 1
- 239000006227 byproduct Substances 0.000 description 1
- 238000012993 chemical processing Methods 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 238000012634 optical imaging Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
- G01B11/303—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces using photoelectric detection means
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23Q—DETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
- B23Q17/00—Arrangements for observing, indicating or measuring on machine tools
- B23Q17/002—Arrangements for observing, indicating or measuring on machine tools for indicating or measuring the holding action of work or tool holders
- B23Q17/003—Arrangements for observing, indicating or measuring on machine tools for indicating or measuring the holding action of work or tool holders by measuring a position
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23Q—DETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
- B23Q17/00—Arrangements for observing, indicating or measuring on machine tools
- B23Q17/20—Arrangements for observing, indicating or measuring on machine tools for indicating or measuring workpiece characteristics, e.g. contour, dimension, hardness
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/9501—Semiconductor wafers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N2021/4704—Angular selective
- G01N2021/4711—Multiangle measurement
- G01N2021/4723—Scanning scatter angles
Landscapes
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
【選択図】図1
Description
M = Σφ' ・ H(φ')
ここで、
H(φ') = I(φ') / ΣI(φ') である。
ここで、
iは、1からnまでの添字、
nは、フォトデテクタの最大番号、
Iiは、第i番フォトデテクタにより計測された光強度値、そして、
φ'iは、第i番フォトデテクタに対応した散乱角である。
12 …光源
14 …計測光スポット
d …計測光スポットの直径
O1 …表面
α …散乱光計測可能最大角度範囲
O …計測光学系の対物レンズ
16 …ラインセンサ
18 …フォトデテクタ
φ …散乱角値
Iφ' …光強度値
H1(φ') …光強度分布
H(φ') …散乱角分布
F1 …面法線
20 …計測軸
Δ1 …傾斜角度
22 …ラインセンサの長手方向軸
M1 …光強度分布の中央からの偏位量
O2 …表面
H2(φ') …光強度分布
Δ2 …傾斜角度
M2 …偏位量
Aq …散乱角分布の偏差;表面粗さ値
Ask …微細構造の断面形状の非対称度
Aq* …欠陥検出信号
i …添字
Ii …第i番フォトデテクタの光強度計測値
Ig …光強度値の合計値;光強度特性値
OM …光センサの光学中心点
W …ウェーハ
DT …回転台
m1 …ウェーハの中心軸
P1, P2 …矢印
D …研削圧
S …研削砥石車
m2 …研削砥石車の中心軸
RE …回転ユニット
PS …研磨円板
E …エマルジョン
Ra …算術平均表面粗さ
SR …研削条痕
L …縦方向
Q …横方向
E1 …平面
θ …水平回転角度
r …径方向位置
30 …線図
32 …Aq値の線図
40 …回転台
42 …回転台制御装置
β …回転角度
44 …回転角度センサ
46 …位置決め装置
50 …制御装置
Claims (15)
- 例えばウェーハ(W)などの精密加工が施された円板形状のワークピース(W)の表面性状を角度分解散乱光計測法を用いて非接触検査するための方法において、
光センサ(10)が所定の光強度分布を有する光束(24)を前記ワークピース(W)の検査対象表面へ照射して計測光スポット(14)を形成し、
前記光束の反射光の光強度(Ii)を、複数個(i個)のフォトデテクタ(18)を備えたラインセンサ(16)により所定角度範囲(α)内において検出し、検出した光強度から少なくとも1つの光強度特性値(Ig)を算出し、
前記ワークピース(W)を回転装置(40)に回転可能に支持してその回転角度(β)を測定し、
前記光センサ(10)は位置決め装置(46)により、前記ワークピース(W)の前記検査対象表面に対して相対的に方向付けされて該光センサ(20)の計測軸(20)が前記検査対象表面に対して垂直とされ、前記位置決め装置(46)は前記光センサ(10)を、前記ワークピース(W)の前記検査対象表面に対して相対的に径方向(r)に移動可能に、且つ、該光センサ(10)の前記計測軸(20)を中心として任意の回転角度(θ)で回転可能に支持しており、
セットアップ動作モードにおいて、所定計測位置において前記光センサ(10)を該光センサの前記計測軸(20)を中心として回転させて、前記光強度特性値(Ig)が極大値を取る回転角度である初期回転角度(θ)により表される初期回転角度位置を測定し、
計測動作モードにおいて、制御装置(50)が、前記初期回転角度(θ)を考慮に入れて、前記フォトデテクタ(18)で検出された光強度値(Ii)から表面性状を表す少なくとも1つの特性値(Aq; Aq*; M)を算出する、
ことを特徴とする方法。 - 前記計測動作モードにおいて、前記制御部(50)が、回転角度(θ)を前記初期回転角度に調整角度を加えた角度に設定して、表面性状を表す更なる特性値(Aq; Aq*; M)を算出することを特徴とする請求項1記載の方法。
- 前記調整角度は±45°または±90°であることを特徴とする請求項2記載の方法。
- 前記セットアップ動作モードにおいて、前記ラインセンサ(16)の前記複数個のフォトデテクタ(18)のうちの幾つかまたはそれら全部の光強度値の合計値を、光強度特性値(Ig)として算出することを特徴とする先行請求項の何れか1項記載の方法。
- 前記計測動作モードにおいて、前記回転装置(40)が前記ワークピース(W)を所定角度(β)ずつ回転させ、前記光センサ(10)がその回転の都度順次前記ワークピース(W)の前記検査対象表面を走査することで、円形経路に沿った特性値の変化を測定することを特徴とする先行請求項の何れか1項記載の方法。
- 前記計測動作モードにおいて、前記ワークピースの前記検査対象表面の少なくとも一部を領域走査し、該領域走査において、前記ワークピース上の計測位置の径方向位置(r)に応じて前記光センサ(10)の前記計測軸(20)を中心とした回転角度(θ)を変化させることを特徴とする先行請求項の何れか1項記載の方法。
- 前記回転角度(θ)を所定の関数F(r, θ) に従って変化させることを特徴とする請求項6記載の方法。
- 前記領域走査を、円形、円弧形、渦巻形、または放射形に行うことを特徴とする先行請求項の何れか1項記載の方法。
- 前記計測光スポット(14)の直径が20μm〜300μmであることを特徴とする先行請求項の何れか1項記載の方法。
- 例えばウェーハ(W)などの精密加工が施された円板形状のワークピース(W)の表面性状を角度分解散乱光計測法を用いて非接触検査するための装置において、
所定の光強度分布を有する光束(24)を前記ワークピース(W)の検査対象表面へ照射して計測光スポット(14)を形成する光センサ(10)を備え、
前記光束の反射光の光強度(Ii)が、複数個(i個)のフォトデテクタ(18)を備えたラインセンサ(16)により所定角度範囲(α)内において検出され、検出された光強度から少なくとも1つの光強度特性値(Ig)が算出されるようにしてあり、
前記ワークピース(W)を回転可能に支持する回転装置(40)を備え、その回転角度(β)を回転角度センサ(44)が測定するようにしてあり、
前記光センサ(10)を前記ワークピース(W)の前記検査対象表面に対して相対的に方向付けして該光センサ(20)の計測軸(20)を前記検査対象表面に対して垂直とする位置決め装置(46)を備え、前記位置決め装置(46)は前記光センサ(10)を、前記ワークピース(W)の前記検査対象表面に対して相対的に径方向(r)に移動可能に、且つ、該光センサ(10)の前記計測軸(20)を中心として任意の回転角度(θ)で回転可能に支持しており、
セットアップ動作モードにおいて、所定計測位置において前記光センサ(10)が該光センサの前記計測軸(20)を中心として回転させられて、前記光強度特性値(Ig)が極大値を取る回転角度である初期回転角度(θ)により表される初期回転角度位置が測定されるようにしてあり、
計測動作モードにおいて、制御装置(50)が、前記初期回転角度(θ)を考慮に入れて、前記フォトデテクタ(18)で検出された光強度値(Ii)から表面性状を表す少なくとも1つの特性値(Aq; Aq*; M)を算出する、
ことを特徴とする装置。 - 前記計測動作モードにおいて、前記制御部(50)が、回転角度(θ)を前記初期回転角度に調整角度を加えた角度に設定して、表面性状を表す更なる特性値(Aq; Aq*; M)を算出することを特徴とする請求項10記載の装置。
- 前記調整角度は±45°または±90°であることを特徴とする請求項11記載の装置。
- 前記計測動作モードにおいて、前記回転装置(40)が前記ワークピース(W)を所定角度(β)ずつ回転させ、前記光センサ(10)がその回転の都度順次前記ワークピース(W)の前記検査対象表面を走査することで、円形経路に沿った特性値の変化が測定されることを特徴とする先行請求項の何れか1項記載の装置。
- 前記計測動作モードにおいて、前記ワークピースの前記検査対象表面の少なくとも一部が領域走査され、該領域走査において、前記ワークピース上の計測位置の径方向位置(r)に応じて前記光センサ(10)の前記計測軸(20)を中心とした回転角度(θ)が変化させられることを特徴とする先行請求項の何れか1項記載の装置。
- 前記計測光スポット(14)の直径が20μm〜300μmであることを特徴とする先行請求項の何れか1項記載の装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102015114065.9 | 2015-08-25 | ||
DE102015114065.9A DE102015114065A1 (de) | 2015-08-25 | 2015-08-25 | Verfahren und Einrichtung zur berührungslosen Beurteilung der Oberflächenbeschaffenheit eines Wafers |
PCT/EP2016/070033 WO2017032819A1 (de) | 2015-08-25 | 2016-08-25 | Verfahren und einrichtung zur berührungslosen beurteilung der oberflächenbeschaffenheit eines wafers |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018523838A true JP2018523838A (ja) | 2018-08-23 |
JP6602477B2 JP6602477B2 (ja) | 2019-11-06 |
Family
ID=56926152
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018528096A Active JP6602477B2 (ja) | 2015-08-25 | 2016-08-25 | ウェーハの表面性状を非接触検査するための方法及び装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10180316B2 (ja) |
EP (1) | EP3341679B1 (ja) |
JP (1) | JP6602477B2 (ja) |
CN (1) | CN107923739B (ja) |
DE (1) | DE102015114065A1 (ja) |
WO (1) | WO2017032819A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20190027915A (ko) * | 2016-09-29 | 2019-03-15 | 가부시키가이샤 사무코 | 실리콘 웨이퍼의 평가 방법, 실리콘 웨이퍼 제조 공정의 평가 방법, 실리콘 웨이퍼의 제조 방법 및 실리콘 웨이퍼 |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108344379B (zh) * | 2018-01-23 | 2019-12-06 | 上海大学 | 一种测量绝缘子截面轮廓形状及爬电距离的系统和方法 |
US11049720B2 (en) * | 2018-10-19 | 2021-06-29 | Kla Corporation | Removable opaque coating for accurate optical topography measurements on top surfaces of transparent films |
KR20210068890A (ko) | 2019-12-02 | 2021-06-10 | 삼성전자주식회사 | Cdi 기반 검사 장치 및 방법 |
TWI770906B (zh) * | 2021-03-26 | 2022-07-11 | 環球晶圓股份有限公司 | 晶圓表面缺陷檢測方法及其裝置 |
CN113587827B (zh) * | 2021-06-10 | 2023-07-18 | 浙江晶盛机电股份有限公司 | 一种晶圆面形实时在线测量系统及其测量方法 |
CN115077386B (zh) * | 2022-08-19 | 2022-12-16 | 南京木木西里科技有限公司 | 一种水溶胶表面全自动测量装置、系统及其测量方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60310A (ja) * | 1983-02-11 | 1985-01-05 | オプテイツシエ・ウエルケ・ゲ−・ロ−デンストツク | 表面構造、特に、荒さの測定装置 |
JPS62502216A (ja) * | 1985-02-05 | 1987-08-27 | オプティシェ ウエルケ ゲ−・ロ−デンストック | 低位のフォ−ム誤差の光学的検出装置 |
US6122046A (en) * | 1998-10-02 | 2000-09-19 | Applied Materials, Inc. | Dual resolution combined laser spot scanning and area imaging inspection |
JP2011013058A (ja) * | 2009-07-01 | 2011-01-20 | Hitachi High-Technologies Corp | 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3037622A1 (de) * | 1980-10-04 | 1982-04-22 | Theodor Prof. Dr.-Ing. 1000 Berlin Gast | Optoelektronisches messverfahren und einrichtungen zum bestimmen der oberflaechenguete streuend reflektierender oberflaechen |
JP2564310B2 (ja) * | 1987-06-26 | 1996-12-18 | 株式会社日立製作所 | 外観検査装置 |
DE4408226C2 (de) | 1994-03-11 | 1997-08-28 | Peter Dr Ing Lehmann | Meßeinrichtung zur prozeßgekoppelten Bestimmung der Rauheit technischer Oberflächen durch Auswertung di- oder polychromatischer Specklemuster |
US5712701A (en) * | 1995-03-06 | 1998-01-27 | Ade Optical Systems Corporation | Surface inspection system and method of inspecting surface of workpiece |
US5825482A (en) * | 1995-09-29 | 1998-10-20 | Kla-Tencor Corporation | Surface inspection system with misregistration error correction and adaptive illumination |
JP4316853B2 (ja) * | 2002-10-09 | 2009-08-19 | 株式会社トプコン | 表面検査方法および装置 |
DE10313191A1 (de) * | 2003-03-25 | 2004-10-07 | Gutehoffnungshütte Radsatz Gmbh | Verfahren zur berührungslosen dynamischen Erfassung des Profils eines Festkörpers |
KR20080079173A (ko) * | 2005-12-14 | 2008-08-29 | 가부시키가이샤 니콘 | 표면검사장치 및 표면검사방법 |
US20070229833A1 (en) * | 2006-02-22 | 2007-10-04 | Allan Rosencwaig | High-sensitivity surface detection system and method |
JP4692892B2 (ja) * | 2006-06-01 | 2011-06-01 | 株式会社ニコン | 表面検査装置 |
US20100028567A1 (en) * | 2006-12-14 | 2010-02-04 | Hidemi Suizu | Glass sheet defect detection device, glass sheet manufacturing method, glass sheet, glass sheet quality judging device, and glass sheet inspection method |
JP2008298623A (ja) * | 2007-05-31 | 2008-12-11 | Hitachi High-Technologies Corp | 検査装置および検査方法 |
CN101889189B (zh) * | 2008-09-30 | 2012-07-04 | 松下电器产业株式会社 | 表面形状测量装置及方法 |
CN102759533B (zh) * | 2011-04-27 | 2015-03-04 | 中国科学院微电子研究所 | 晶圆检测方法以及晶圆检测装置 |
DE102012005417B4 (de) | 2012-03-14 | 2013-10-24 | Friedrich-Schiller-Universität Jena | Vorrichtung und Verfahren zur winkelaufgelösten Streulichtmessung |
EP2657686B1 (de) | 2012-04-26 | 2019-08-14 | Brodmann Technologies GmbH | Vorrichtung zum Erfassen von Streulicht mit rotierendem Prisma |
DE102012012156B4 (de) * | 2012-06-19 | 2014-05-15 | Audiodev Gmbh | Verfahren zum optischen vermessen von pyramiden auf texturierten monokristallinen siliziumwafern |
-
2015
- 2015-08-25 DE DE102015114065.9A patent/DE102015114065A1/de not_active Ceased
-
2016
- 2016-08-25 WO PCT/EP2016/070033 patent/WO2017032819A1/de active Application Filing
- 2016-08-25 JP JP2018528096A patent/JP6602477B2/ja active Active
- 2016-08-25 CN CN201680048734.4A patent/CN107923739B/zh active Active
- 2016-08-25 US US15/753,660 patent/US10180316B2/en active Active
- 2016-08-25 EP EP16765932.5A patent/EP3341679B1/de active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60310A (ja) * | 1983-02-11 | 1985-01-05 | オプテイツシエ・ウエルケ・ゲ−・ロ−デンストツク | 表面構造、特に、荒さの測定装置 |
JPS62502216A (ja) * | 1985-02-05 | 1987-08-27 | オプティシェ ウエルケ ゲ−・ロ−デンストック | 低位のフォ−ム誤差の光学的検出装置 |
US6122046A (en) * | 1998-10-02 | 2000-09-19 | Applied Materials, Inc. | Dual resolution combined laser spot scanning and area imaging inspection |
JP2011013058A (ja) * | 2009-07-01 | 2011-01-20 | Hitachi High-Technologies Corp | 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20190027915A (ko) * | 2016-09-29 | 2019-03-15 | 가부시키가이샤 사무코 | 실리콘 웨이퍼의 평가 방법, 실리콘 웨이퍼 제조 공정의 평가 방법, 실리콘 웨이퍼의 제조 방법 및 실리콘 웨이퍼 |
KR102297269B1 (ko) | 2016-09-29 | 2021-09-01 | 가부시키가이샤 사무코 | 실리콘 웨이퍼의 평가 방법, 실리콘 웨이퍼 제조 공정의 평가 방법, 실리콘 웨이퍼의 제조 방법 및 실리콘 웨이퍼 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2017032819A1 (de) | 2017-03-02 |
EP3341679A1 (de) | 2018-07-04 |
CN107923739A (zh) | 2018-04-17 |
US20180245911A1 (en) | 2018-08-30 |
US10180316B2 (en) | 2019-01-15 |
JP6602477B2 (ja) | 2019-11-06 |
DE102015114065A1 (de) | 2017-03-02 |
EP3341679B1 (de) | 2020-06-24 |
CN107923739B (zh) | 2021-02-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6602477B2 (ja) | ウェーハの表面性状を非接触検査するための方法及び装置 | |
US9403257B2 (en) | Apparatus and method for double-side polishing of work | |
TWI408333B (zh) | 面粗糙度檢查裝置 | |
JP5960125B2 (ja) | 物体の厚さを干渉法により光学的に計測する方法及び装置 | |
JP2000009437A (ja) | 薄膜の膜厚計測方法及びその装置並びにそれを用いた薄膜デバイスの製造方法及びその製造装置 | |
TWI623725B (zh) | 在一亮場差分干涉對比系統中提供高精確度檢驗或計量之方法 | |
US20200357704A1 (en) | Laser triangulation sensor system and method for wafer inspection | |
TWI740068B (zh) | 工件的雙面研磨裝置及雙面研磨方法 | |
CN116964410A (zh) | 用于在表面上进行粗糙度和/或缺陷测量的测量装置和方法 | |
JP2020015122A (ja) | ワークの両面研磨装置および両面研磨方法 | |
JP4400331B2 (ja) | ウエーハの形状評価方法及び管理方法 | |
US20230258577A1 (en) | Edge portion measuring apparatus and method for measuring edge portion | |
KR101883748B1 (ko) | 일정 영역의 표면 정밀도의 정량 측정을 위한 방법 및 장치 | |
CN104979257B (zh) | 用于无图案硅片测量的定位方法 | |
JP6373233B2 (ja) | 半導体ウェハの加工ダメージ評価方法 | |
KR20230050509A (ko) | 웨이퍼 표면거칠기 검사장치 및 방법 | |
CN110828294A (zh) | 化学机械研磨设备的研磨性能检测方法 | |
JP7017916B2 (ja) | 基板検査装置 | |
JP5835981B2 (ja) | プラズマエッチング確認装置 | |
KR20240001252A (ko) | 워크의 양면 연마 장치 및 양면 연마 방법 | |
JP2011209090A (ja) | 平滑面検査装置 | |
JP2021118301A (ja) | 基板処理装置、及び基板処理方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180221 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180712 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20190529 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190611 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190902 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190917 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20191008 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6602477 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |