JP2018200528A - Ic module, ic card, and manufacturing method of them - Google Patents

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Abstract

To provide an IC card which has high reliability, high productivity, high cost superiority, and excellent appearance by using solder capable of connecting an IC module and an antenna with higher strength.SOLUTION: An IC module comprises a substrate (11) having a conductive foil (13) on only one face. The conductive foil forms an external connection terminal (2) used for contact type communication, and a bridge circuit (3) which electrically connects the IC chip and an antenna for contactless communication. The substrate has a through hole (4). A first construction (15) is formed at the through hole from the rear face of the bridge circuit. A second construction (16) different from the first construction is formed at a face of the first construction opposite to the bridge circuit. A melting point of the second construction is lower than the melting point of the first construction.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、ICモジュール、ICカード、およびそれらの製造方法に関する。より詳しくは、接触通信機能および非接触通信機能の両方の通信機能を有するデュアルICカード、デュアルICカード用のICモジュール、およびそれらの製造方法に関する。   The present invention relates to an IC module, an IC card, and a manufacturing method thereof. More specifically, the present invention relates to a dual IC card having both a contact communication function and a non-contact communication function, an IC module for the dual IC card, and a manufacturing method thereof.

デュアルICカードは、1個のICチップで接触通信機能および非接触通信機能の両方の通信機能を満足するカードであり、使用者の用途に応じて通信形態を使い分けられるため、様々な用途に用いられてきている(例えば、特許文献1および2を参照)。   The dual IC card is a card that satisfies both the contact communication function and the non-contact communication function with a single IC chip, and can be used for various applications depending on the user's application. (See, for example, Patent Documents 1 and 2).

デュアルICカードにおいて、例えば、クレジットなどの大量のデータ交換や決算業務の交信のような確実性と安全性が求められる用途では接触通信が用いられる。一方で、入退室のゲート管理などのように認証が主たる交信内容であり、交信データ量が少量の用途では非接触通信が用いられる。   In a dual IC card, for example, contact communication is used in applications that require certainty and safety, such as exchange of a large amount of data such as credits and communication of settlement work. On the other hand, authentication is the main communication content such as entrance / exit gate management, and contactless communication is used in applications where the amount of communication data is small.

デュアルICカードは、接触式通信及び非接触式通信にそれぞれ専用のICチップを搭載したハイブリッドカードに比べてコスト面で有利である。また、接触用途、非接触用途でポイントサービス等の共通のサービス等を提供できるのはデュアルICカードのみであり、この点においてもメリットを有する。   The dual IC card is advantageous in terms of cost compared to a hybrid card equipped with a dedicated IC chip for contact communication and non-contact communication. Further, only dual IC cards can provide a common service such as a point service for contact use and non-contact use.

デュアルICカードにおいて、接触通信機能および非接触通信機能を有するICチップを搭載したICモジュールと、カード本体に内蔵され非接触通信を行うためのアンテナ(コイル)とを半田などの導電性の接続部材によって物理的に接続する方式が一般的である。   In a dual IC card, an IC module having an IC chip having a contact communication function and a non-contact communication function, and an antenna (coil) built in the card body for non-contact communication are made of conductive connection members such as solder. Generally, a physical connection method is used.

また、この方式とは異なり、ICモジュールとカード本体とを電磁的な結合により電気的に接続する電磁結合方式がある。接触通信機能および非接触通信機能を有するICチップを搭載したICモジュールは、ICモジュールとの間で電磁的な結合(電磁結合、トランス結合など)により電力供給と通信が可能なカード本体に取付けられてデュアルICカードとして用いられる。   Unlike this method, there is an electromagnetic coupling method in which the IC module and the card body are electrically connected by electromagnetic coupling. An IC module equipped with an IC chip having a contact communication function and a non-contact communication function is attached to a card body capable of power supply and communication with the IC module by electromagnetic coupling (electromagnetic coupling, transformer coupling, etc.). Used as a dual IC card.

ICモジュールとカード本体とを電磁的な結合により電気的に接続することで、ICモジュールとカード本体との電気的な接続が不安定になることを抑制することができる。これは、ICモジュールとカード本体とを半田などの導電性の接続部材で直接接続した場合には、デュアルICカードを曲げたときに接続部材が破損する恐れがあるためである。   By electrically connecting the IC module and the card body by electromagnetic coupling, it is possible to suppress the unstable electrical connection between the IC module and the card body. This is because when the IC module and the card body are directly connected by a conductive connecting member such as solder, the connecting member may be damaged when the dual IC card is bent.

このようにICモジュールとカード本体とが電磁的な結合により電気的に接続されたデュアルICカードとしては、例えば特許文献3に記載されたものが知られている。デュアルICカード用のICモジュールは、接触型外部機器との接触通信用の端子(外部接続端子)が表面に形成されており、裏面に非接触通信用の接続コイルが形成されている。   As such a dual IC card in which the IC module and the card body are electrically connected by electromagnetic coupling as described above, for example, the one described in Patent Document 3 is known. An IC module for a dual IC card has a contact communication terminal (external connection terminal) with a contact-type external device formed on the front surface, and a contact coil for non-contact communication formed on the back surface.

カード本体には、ICモジュールに設けられた非接触通信用の接続コイルと電磁的な結合を行う結合用コイルが形成されている。カード本体の結合用コイルが誘起する磁束の変化を、ICモジュール裏面の非接触通信用の接続コイルで電流に変換し、その発生した電流により、ICモジュールのICチップが駆動され、交信を行う。   The card body is formed with a coupling coil for electromagnetic coupling with a connection coil for non-contact communication provided in the IC module. The change in magnetic flux induced by the coupling coil of the card body is converted into a current by the contact coil for non-contact communication on the back surface of the IC module, and the IC chip of the IC module is driven by the generated current to perform communication.

また、特許文献4は、基板にスルーホールを有し、スルーホールを介して、外部接続端子とアンテナとが金属(半田)で接続されたICモジュールを開示している。   Patent Document 4 discloses an IC module in which a substrate has a through hole, and an external connection terminal and an antenna are connected by metal (solder) through the through hole.

また、特許文献5および6は、外部接続端子基板をカード本体に一体化させる工程で、熱圧による一体化と同時に接続部と外部接続端子基板の裏面に設けた半田バンプとを接続部材を介して電気的に接続することにより、両者の接続が確実に行なわれ、品質の安定したデュアルICカードを提供できることを開示している。   Further, Patent Documents 5 and 6 are processes for integrating the external connection terminal board into the card body, and at the same time as the integration by thermal pressure, the connection portion and the solder bump provided on the back surface of the external connection terminal board are connected via the connection member. By connecting them electrically, it is disclosed that they can be securely connected and a dual IC card with stable quality can be provided.

特開2000−182017号公報JP 2000-182017 A 特開2000−227954号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2000-227954 国際公開第99/26195号International Publication No. 99/26195 特開2015−114754号公報JP2015-114754A 特開2009−182212号公報JP 2009-182212 A 特開2011−107865号公報JP 2011-107865 A

デュアルICカードは、通常、ICモジュールとカード側のアンテナとから構成される。デュアルICカードに用いられるICモジュールにおいて、ICモジュールとカード側のアンテナとを接続する導電性接合材として、一般的に、銀ペース卜等の樹脂ベースの接合材が使用される。ICモジュールとカード側のアンテナとの接合部を高強度化するため、接合材の半田付けを行う。   A dual IC card is usually composed of an IC module and an antenna on the card side. In an IC module used for a dual IC card, a resin-based bonding material such as a silver pace bag is generally used as a conductive bonding material for connecting the IC module and the card-side antenna. In order to increase the strength of the joint between the IC module and the card-side antenna, the joint material is soldered.

ICモジュールとカード側のアンテナとの接合部において接合材の半田付けを行う場合は、ICモジュールの表面側を加熱することにより、ICモジュールを構成するガラスエポキシを介してICモジュールの裏面にあるカード側のアンテナとの接合部(接続用端子部)に熱を伝える。そのため、半田を容易に溶融させることは困難である。   When soldering a bonding material at the joint between the IC module and the antenna on the card side, the card on the back surface of the IC module is heated via the glass epoxy constituting the IC module by heating the front side of the IC module. Heat is transferred to the joint (connecting terminal) with the antenna on the side. Therefore, it is difficult to easily melt the solder.

半田を完全に溶融させるために、加熱温度を高めたり、加熱時間を長くしたりすると、プラスチック基材で構成されたカードが変形し外観上の問題が発生する。また、使用するICモジュールとカードとを接着する接着剤の種類によっては、接着剤が熱により劣化し、ICモジュールの脱落を引き起こす可能性がある。   If the heating temperature is increased or the heating time is lengthened in order to completely melt the solder, a card made of a plastic base material is deformed, causing a problem in appearance. Also, depending on the type of adhesive that bonds the IC module and card to be used, the adhesive may deteriorate due to heat and cause the IC module to drop off.

特許文献4に示されたICモジュールの構成によっても、半田を容易に溶融することができるが、この構成の場合は、ガラスエポキシ基板(ガラエポ基板)の両面に導体箔を持つ両面基板を使い、それぞれの導体箔をスルーホールなどのビアで接続している。そのため、基板自体が高コストとなるデメリットがあるとともに、ICモジュールをアンテナに接続する加工において、クリーム半田の塗布が必要となり、生産性が低下する問題がある。   Solder can also be easily melted by the configuration of the IC module shown in Patent Document 4, but in this configuration, a double-sided board having a conductive foil on both sides of a glass epoxy board (glass epoxy board) is used. Each conductor foil is connected by vias such as through holes. Therefore, there is a demerit that the substrate itself is expensive, and in the process of connecting the IC module to the antenna, it is necessary to apply cream solder, and there is a problem that productivity is lowered.

また、ICモジュールとカード側のアンテナを接続するための半田としては、一般的にクリーム半田が使用され、ディスペンサー等を用いた塗布工程が必要となる。従って、専用のディスペンサーを有する設備を使用して、安定的に接続しつつ半田のはみ出し等を無くすために半田の量を的確に管理して製造を行わなければならない。クリーム半田を使用せずディスペンサーを使用しないタイプの設備を使用することも可能であるが、この場合も専用設備が必要となる。   Further, cream solder is generally used as the solder for connecting the IC module and the card-side antenna, and an application process using a dispenser or the like is required. Accordingly, it is necessary to use a facility having a dedicated dispenser to manufacture with the solder amount accurately controlled in order to eliminate the protrusion of solder while stably connecting. Although it is possible to use equipment of a type that does not use cream solder and does not use a dispenser, special equipment is also required in this case.

特許文献3に示されたICモジュールの構成によっても、接触式ICカードと同様の製造工程で製造できるが、この構成の場合は、ICモジュール用基板として、ガラエポ基板の両面に導体箔を持つ両面基板を使い、それぞれの導体箔をスルーホールなどのビアで接続するため、基板自体が高コストとなるデメリットがある。   The structure of the IC module shown in Patent Document 3 can also be manufactured by the same manufacturing process as that of the contact IC card. In this structure, both sides of the glass epoxy substrate having conductor foil are used as the IC module substrate. Since a substrate is used and each conductor foil is connected by vias such as through holes, there is a demerit that the substrate itself is expensive.

本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、ICモジュールとアンテナとを高強度で接続できる半田を使用し、信頼性が高く、生産性、コスト優位性が高く、外観の優れたICカードを提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances, uses a solder that can connect an IC module and an antenna with high strength, has high reliability, has high productivity and cost advantage, and has an excellent appearance. The purpose is to provide.

上記課題を解決するために、本発明の一態様に係るICモジュールは、片面にのみ導体箔を有する基板から構成されるICモジュールであって、前記導体箔は、接触式通信に使用される外部接続端子と、非接触通信のためにICチップとアンテナとの電気的接続を行うためのブリッジ回路とを形成し、前記基板は貫通孔を有し、前記貫通孔において、前記ブリッジ回路の裏面から、第1構造体が形成されており、前記第1構造体の前記ブリッジ回路とは反対側の面には、前記第1構造体とは異なる第2構造体が形成されており、前記第2構造体の融点は、前記第1構造体の融点よりも低いことを特徴とする。   In order to solve the above problems, an IC module according to one embodiment of the present invention is an IC module including a substrate having a conductive foil only on one side, and the conductive foil is an external device used for contact communication. A connection terminal and a bridge circuit for performing electrical connection between the IC chip and the antenna for non-contact communication are formed, the substrate has a through-hole, and the through-hole is formed from the back surface of the bridge circuit. A first structure is formed, and a second structure different from the first structure is formed on a surface of the first structure opposite to the bridge circuit, and the second structure The melting point of the structure is lower than the melting point of the first structure.

前記第1構造体および前記第2構造体は融点が互いに異なる半田であってもよい。   The first structure and the second structure may be solders having different melting points.

前記第1構造体は、前記基板の裏面から突出していてもよい。   The first structure may protrude from the back surface of the substrate.

前記第1構造体または前記第2構造体において、前記ブリッジ回路とは反対側の面がフラットであってもよい。   In the first structure or the second structure, a surface opposite to the bridge circuit may be flat.

本発明の一態様に係るICカードは、接触式通信機能と非接触式通信機能の両方を有するICチップと、前記ICチップと電気的に接続され、非接触通信を行うアンテナと、片面にのみ導体箔を有する基板から構成され、前記ICチップを搭載するICモジュールと、を備え、前記導体箔は、接触式通信に使用される外部接続端子と、前記ICチップと前記アンテナとの電気的接続を行うためのブリッジ回路とを形成し、前記基板は貫通孔を有し、前記貫通孔において、前記ブリッジ回路の裏面から、第1構造体が形成されており、前記第1構造体と前記アンテナとは、前記第1構造体とは異なる第2構造体で接続されており、前記第2構造体の融点は、前記第1構造体の融点よりも低いことを特徴とする。   An IC card according to one embodiment of the present invention includes an IC chip having both a contact communication function and a non-contact communication function, an antenna that is electrically connected to the IC chip and performs non-contact communication, and only on one side. An IC module comprising a substrate having conductor foil and mounting the IC chip, wherein the conductor foil is an external connection terminal used for contact communication, and electrical connection between the IC chip and the antenna. The substrate has a through-hole, and a first structure is formed in the through-hole from the back surface of the bridge circuit, and the first structure and the antenna Are connected by a second structure different from the first structure, and the melting point of the second structure is lower than the melting point of the first structure.

本発明の一態様に係るICモジュールの製造方法は、片面にのみ導体箔を有する基板からICモジュールを製造する方法であって、前記導体箔において、接触式通信に使用される外部接続端子と、非接触通信のためにICチップとアンテナとの電気的接続を行うためのブリッジ回路とを形成するステップと、前記基板に貫通孔を設けるステップと、前記貫通孔において、前記ブリッジ回路の裏面から、第1構造体を形成するステップと、前記第1構造体の前記ブリッジ回路とは反対側の面に、前記第1構造体とは異なる第2構造体を形成するステップと、を含み、前記第2構造体の融点は、前記第1構造体の融点よりも低いことを特徴とする。   An IC module manufacturing method according to an aspect of the present invention is a method of manufacturing an IC module from a substrate having a conductive foil only on one side, and the external connection terminal used for contact communication in the conductive foil; Forming a bridge circuit for performing electrical connection between the IC chip and the antenna for non-contact communication, providing a through hole in the substrate, and in the through hole, from the back surface of the bridge circuit; Forming a first structure, and forming a second structure different from the first structure on a surface of the first structure opposite to the bridge circuit, the first structure The melting point of the two structures is lower than the melting point of the first structure.

本発明の一態様に係るICカードの製造方法は、片面にのみ導体箔を有する基板からICカードを製造する方法であって、前記導体箔において、接触式通信に使用される外部接続端子と、非接触通信のためにICチップとアンテナとの電気的接続を行うためのブリッジ回路とを形成するステップと、前記基板に貫通孔を設けるステップと、前記貫通孔において、前記ブリッジ回路の裏面から、第1構造体を形成するステップと、前記第1構造体と前記アンテナとを、前記第1構造体とは異なる第2構造体で接続するステップと、を含み、前記第2構造体の融点は、前記第1構造体の融点よりも低いことを特徴とする。   An IC card manufacturing method according to an aspect of the present invention is a method of manufacturing an IC card from a substrate having a conductive foil only on one side, and the external connection terminal used for contact communication in the conductive foil; Forming a bridge circuit for performing electrical connection between the IC chip and the antenna for non-contact communication, providing a through hole in the substrate, and in the through hole, from the back surface of the bridge circuit; Forming a first structure, and connecting the first structure and the antenna with a second structure different from the first structure, wherein the melting point of the second structure is The melting point of the first structure is lower.

本発明の各態様によれば、ICモジュールとアンテナとを高強度で接続できる半田を使用することにより、信頼性が高く、生産性、コスト優位性が高く、外観の優れたデュアルICカードを提供することができる。   According to each aspect of the present invention, by using solder that can connect an IC module and an antenna with high strength, a dual IC card having high reliability, high productivity, high cost advantage, and excellent appearance is provided. can do.

また、本発明の各態様によれば、デュアルICカードに両面基板およびビアを有する両面基板を使用する必要がない上、通常のデュアルICカード専用設備を使用せず一般的な接触式ICカードの設備で製造できるため、デュアルICカードの生産性を向上することができるとともに、デュアルICカードの低コスト化を実現することもできる。   Moreover, according to each aspect of the present invention, it is not necessary to use a double-sided board and a double-sided board having vias in a dual IC card, and a general contact IC card is not used without using a normal dual IC card dedicated facility. Since it can be manufactured by equipment, the productivity of the dual IC card can be improved and the cost of the dual IC card can be reduced.

本発明の一実施形態に係る、デュアルICカード用のICモジュールの底面図である。It is a bottom view of the IC module for dual IC cards based on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係る、デュアルICカード用のICモジュールのアンテナ接合状態を示す底面図である。It is a bottom view which shows the antenna joining state of the IC module for dual IC cards based on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係る、デュアルICカード用のICモジュールの断面図である。It is sectional drawing of the IC module for dual IC cards based on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係る、デュアルICカード用のICモジュールの半田構造体の様々な形態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the various forms of the solder structure of the IC module for dual IC cards based on one Embodiment of this invention.

以下、図面を参照して、本発明の実施形態に係るデュアルICカードについて詳細に説明する。図1は、本発明の一実施形態に係る、デュアルICカード用のICモジュール(デュアルインターフェースICモジュール)の底面図である。図2は、図1のICモジュールのアンテナ接合状態を示す底面図である。図3は、図2のICモジュールの断面図である。   Hereinafter, a dual IC card according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a bottom view of an IC module for a dual IC card (dual interface IC module) according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a bottom view showing an antenna joined state of the IC module of FIG. FIG. 3 is a cross-sectional view of the IC module of FIG.

本発明の一実施形態に係るデュアルICカードは、複数のカード基材間に埋設されたアンテナ回路と、接触式通信機能と非接触式通信機能の両方を有するデュアルインターフェースICモジュールとを有するデュアルインターフェースICカードである。ここで、カード基材としては、ポリ塩化ビニル(PVC)やポリエチレンテレフタレート共重合体(PET−G)等の、カード基材として一般的な絶縁性や耐久性を兼ね備えた材料が用いられる。   A dual IC card according to an embodiment of the present invention includes a dual interface having an antenna circuit embedded between a plurality of card bases and a dual interface IC module having both a contact communication function and a non-contact communication function. IC card. Here, as the card base material, a material having general insulation and durability as the card base material such as polyvinyl chloride (PVC) and polyethylene terephthalate copolymer (PET-G) is used.

デュアルインターフェースICモジュールは、接触式通信機能と非接触式通信機能の両方を有するICチップ1を搭載している。ICモジュールの表面には、接触式通信に使用される外部接続端子2と、非接触通信のためにICチップからアンテナへの電気的接続を行うためのブリッジ回路パターン3(非接触機能ブリッジ部)とが配置されている。ICモジュールの裏面には、非接触式通信に使用され表面のブリッジ回路を介してカード本体側のアンテナと接続するためのアンテナ接続用半田構造体(第1構造体)15が配置されている。   The dual interface IC module is equipped with an IC chip 1 having both a contact communication function and a non-contact communication function. On the surface of the IC module, there are an external connection terminal 2 used for contact communication and a bridge circuit pattern 3 (non-contact function bridge portion) for electrical connection from the IC chip to the antenna for non-contact communication. And are arranged. On the back surface of the IC module, an antenna connecting solder structure (first structure) 15 used for non-contact communication and connected to the antenna on the card body side via a bridge circuit on the front surface is disposed.

ICモジュールの表面の外部接続端子2とブリッジ回路3は、厚さ50〜200μmのガラスエポキシやPET等の絶縁基材の片面に、厚さ10〜50μmの銅箔をラミネート加工した後、エッチング加工により複数の銅箔パターンに区切ることで形成されている。   The external connection terminal 2 and the bridge circuit 3 on the surface of the IC module are etched after laminating a copper foil having a thickness of 10 to 50 μm on one surface of an insulating base material such as glass epoxy or PET having a thickness of 50 to 200 μm. Is formed by dividing into a plurality of copper foil patterns.

ICモジュールの表面の銅箔パターンの露出部分には0.5〜3μmのニッケルメッキが施されており、さらにその上に0.01〜0.3μmの金メッキが施されている。なお、メッキの構成はこれに限定されない。   The exposed portion of the copper foil pattern on the surface of the IC module is plated with nickel of 0.5 to 3 μm, and further plated with gold of 0.01 to 0.3 μm. In addition, the structure of plating is not limited to this.

絶縁性のカード基材には、ICモジュールの表面の外部接続端子2とブリッジ回路パターン3からICモジュールの裏面へつながる直径0.5〜1.5mmの穴4および5が形成されている。なお、図中の穴の形状は、上から見て丸型であるが、穴の形状は丸型に限定されない。穴は、1つのブリッジ回路3に対して2つ以上ある。この穴のうちの1つは、ICチップ1からブリッジ回路3へのワイヤーボンディングによる接続に使用されるボンディングホール5となる。ボンディングホール5には、ICチップ1からブリッジ回路3につながるボンディングワイヤー6が通される。   Holes 4 and 5 having a diameter of 0.5 to 1.5 mm connected from the external connection terminal 2 and the bridge circuit pattern 3 to the back surface of the IC module are formed in the insulating card base. In addition, although the shape of the hole in a figure is a round shape seeing from the top, the shape of a hole is not limited to a round shape. There are two or more holes for one bridge circuit 3. One of the holes becomes a bonding hole 5 used for connection from the IC chip 1 to the bridge circuit 3 by wire bonding. A bonding wire 6 connected from the IC chip 1 to the bridge circuit 3 is passed through the bonding hole 5.

ボンディングホール5以外の穴4には、非接触式通信に使用され表面のブリッジ回路3を介してカード本体側のアンテナと接続するためのアンテナ接続用半田構造体15が形成されている。アンテナ接続用半田構造体15は、ブリッジ回路パターン3の裏面につながる穴4にスクリーン印刷等の方法でクリーム半田を充填し、その後リフローすることで形成されている。   In the holes 4 other than the bonding holes 5, an antenna connecting solder structure 15 used for non-contact communication and connected to the antenna on the card body side via the bridge circuit 3 on the surface is formed. The antenna connection solder structure 15 is formed by filling the hole 4 connected to the back surface of the bridge circuit pattern 3 with cream solder by a method such as screen printing and then reflowing.

半田構造体15に使用される半田は、ICモジュールを実装する際の熱(一般的には150〜200°C程度)では溶融しないものを使用する。例えば、一般的なSnベースの合金で融点が200°C程度以上の半田合金を使用する。   The solder used for the solder structure 15 is one that does not melt with heat (generally about 150 to 200 ° C.) when the IC module is mounted. For example, a general Sn-based alloy with a melting point of about 200 ° C. or higher is used.

半田構造体15を形成した後、半田構造体15の上面を研磨するなどの方法で、後で接続するアンテナ面に対してフラットにするとともに、スクリーン印刷では正確に制御しきれない半田構造体15の高さを正確に制御する。半田構造体15は、半田構造体15を形成する穴4の50%を埋める高さ(これは、ガラエポ基板11の裏面から突出しない高さである)から、最大でガラエポ基板11の裏面から50μm突出する高さであればよい。好ましくは、半田構造体15は、ガラエポ基板11の裏面からわずかに突出しているのがよい。ただし、半田構造体15面をフラットにする加工は必ずしも必要ではない。   After the solder structure 15 is formed, the surface of the solder structure 15 is flattened by a method such as polishing the upper surface of the solder structure 15, and the solder structure 15 that cannot be accurately controlled by screen printing is used. To accurately control the height. The solder structure 15 has a height that fills 50% of the holes 4 forming the solder structure 15 (this is a height that does not protrude from the back surface of the glass epoxy substrate 11), and is 50 μm from the back surface of the glass epoxy substrate 11 at the maximum. What is necessary is just the height which protrudes. Preferably, the solder structure 15 may slightly protrude from the back surface of the glass epoxy substrate 11. However, it is not always necessary to make the surface of the solder structure 15 flat.

さらに、アンテナ接続用半田構造体15の上に、追加半田層16(第2構造体)が形成される。追加半田層16は、アンテナ接続用半田構造体15の上に、スクリーン印刷等の方法で、半田構造体15を構成する半田よりも融点の低いクリーム半田を載せた後、半田構造体15を構成する半田が溶融しない温度でリフローすることにより形成される。   Further, an additional solder layer 16 (second structure) is formed on the antenna connecting solder structure 15. The additional solder layer 16 is formed on the antenna connecting solder structure 15 by applying cream solder having a melting point lower than that of the solder constituting the solder structure 15 by a method such as screen printing. It is formed by reflowing at a temperature at which the solder to be melted does not melt.

追加半田層16に使用される半田は、カード基材10などへの熱によるダメージを低減するため、より低い温度または少ない熱量で融解する低融点のものを使用する。具体的にはSn−Bi系やSn−In系(融点150°Cよりも低い、融点110〜140°C程度)等の半田合金を使用する。   The solder used for the additional solder layer 16 is a solder having a low melting point that melts at a lower temperature or with a smaller amount of heat in order to reduce damage to the card substrate 10 and the like by heat. Specifically, a solder alloy such as Sn—Bi system or Sn—In system (melting point lower than 150 ° C., melting point of about 110 to 140 ° C.) is used.

半田構造体15の上に追加半田層16を形成した後、追加半田層16の上面を研磨するなどの方法で、後で接続するアンテナ面に対してフラットにするとともに、スクリーン印刷では正確に制御しきれない半田層16の高さを正確に制御する。ただし、追加半田層16の上面をフラットにする加工は、必ずしも必要ではない。   After the additional solder layer 16 is formed on the solder structure 15, the upper surface of the additional solder layer 16 is polished to make it flat with respect to the antenna surface to be connected later, and accurately controlled by screen printing. The height of the solder layer 16 that cannot be completely controlled is controlled accurately. However, it is not always necessary to make the upper surface of the additional solder layer 16 flat.

ICチップ1は、ガラスエポキシやPET、リードフレームに対して、ダイアタッチ用接着剤により接着される。その後、直径10〜40μmの金あるいは銅などのワイヤー6によって外部接続端子2およびブリッジ回路3に対してワイヤーボンディングされ、保護のため樹脂14により封止される。   The IC chip 1 is bonded to glass epoxy, PET, or lead frame with a die attach adhesive. Thereafter, the external connection terminal 2 and the bridge circuit 3 are wire-bonded with a wire 6 such as gold or copper having a diameter of 10 to 40 μm and sealed with a resin 14 for protection.

アンテナ回路は、非接触式通信によりリーダー/ライターとの通信を行うためのコイルを有する。コイルの始端および終端には、それぞれ、ICモジュール側のアンテナ接続用半田構造体と接続するためのランドが形成されている。   The antenna circuit has a coil for communicating with the reader / writer by non-contact communication. Lands for connecting to the antenna connecting solder structure on the IC module side are formed at the start and end of the coil, respectively.

ここで、アンテナ回路は、カード基材の上において、直径50〜150μmの銅などのワイヤー7から形成されている。あるいは、厚さ15〜50μmのポリエチレンテレフタレート(PET)やポリエチレンナフタレート(PEN)等の絶縁性のベース基材の表裏において、厚さ5〜50μmの銅箔を材料としてエッチングによりパターン形成されていてもよい。   Here, the antenna circuit is formed of a wire 7 such as copper having a diameter of 50 to 150 μm on the card substrate. Alternatively, on the front and back of an insulating base substrate such as polyethylene terephthalate (PET) or polyethylene naphthalate (PEN) having a thickness of 15 to 50 μm, a pattern is formed by etching using a copper foil having a thickness of 5 to 50 μm as a material. Also good.

ワイヤーを用いたアンテナの場合は、ランドは、アンテナ端のワイヤーをジグザグに配置することで形成されるか、銅箔を溶接などの加工方法でアンテナ端に接続することで形成される。また、エッチングアンテナの場合は、ランドは、エッチングによって形成される。   In the case of an antenna using a wire, the land is formed by arranging the wire at the antenna end in a zigzag manner or by connecting a copper foil to the antenna end by a processing method such as welding. In the case of an etching antenna, the land is formed by etching.

その後、アンテナを、カード基材に挟みこみ、熱圧によるラミネートあるいは接着等の加工を行い一体化する。その後、カード個片形状に打ち抜くことによって、カード本体を成形する。   Thereafter, the antenna is sandwiched between card base materials, and integrated by performing processing such as lamination or adhesion by hot pressure. Thereafter, the card body is formed by punching into a card piece shape.

さらに、カード本体に、ICモジュールを埋め込むための凹部(キャビティ)を、ミーリング加工により形成する。同時に、ICモジュール側のアンテナ接続用半田構造体へ接続するためのランド部分を削り出す。   Further, a recess (cavity) for embedding the IC module is formed in the card body by milling. At the same time, a land portion for connecting to the antenna connecting solder structure on the IC module side is cut out.

ICモジュール表面から熱と圧力を加え、ICモジュールをホットメルトシート等の接着剤により、カード本体の凹部(キャビティ)に装着する。同時に、半田構造体15の上に形成した半田構造体15よりも低融点の追加半田層16を溶融させることのより、ICモジュール裏面のアンテナ接続用半田構造体15とアンテナ7とを接続する。以上の工程により、デュアルICカードを得る。   Heat and pressure are applied from the surface of the IC module, and the IC module is mounted in a recess (cavity) of the card body with an adhesive such as a hot melt sheet. At the same time, the additional solder layer 16 having a lower melting point than the solder structure 15 formed on the solder structure 15 is melted to connect the antenna connecting solder structure 15 and the antenna 7 on the back surface of the IC module. A dual IC card is obtained through the above steps.

図1は、上述のようにして形成されたICモジュールの底面図であり、ICモジュールを裏面側から見ている。ICモジュールの表面において、外部接続端子2と非接触機能ブリッジ部3が、表面銅箔を複数の銅箔パターンに区切ることにより形成されている。ICモジュールの裏面の中央部には、ICチップ1が配置されている。カード基材には、半田構造体15が形成される穴4とボンディングホール5が設けられている。ボンディングホール5には、裏面のICチップ1から表面のブリッジ回路3につながるボンディングワイヤー6が通されている。   FIG. 1 is a bottom view of the IC module formed as described above, and the IC module is viewed from the back side. On the surface of the IC module, the external connection terminal 2 and the non-contact function bridge portion 3 are formed by dividing the surface copper foil into a plurality of copper foil patterns. An IC chip 1 is disposed at the center of the back surface of the IC module. The card base is provided with a hole 4 in which a solder structure 15 is formed and a bonding hole 5. A bonding wire 6 connected from the IC chip 1 on the back surface to the bridge circuit 3 on the front surface is passed through the bonding hole 5.

図2は、図1のICモジュールにアンテナワイヤー7によるアンテナ回路が形成された例を示す底面図である。アンテナワイヤー7は、カード基材に挟みこまれ、熱圧によるラミネートあるいは接着等の加工により一体化されている。ここで、アンテナワイヤー7は、上から見て、半田構造体15が形成される穴4と重なるように配置されている。   FIG. 2 is a bottom view showing an example in which an antenna circuit using antenna wires 7 is formed on the IC module of FIG. The antenna wire 7 is sandwiched between card base materials and integrated by processing such as lamination or adhesion by hot pressure. Here, the antenna wire 7 is disposed so as to overlap with the hole 4 in which the solder structure 15 is formed as viewed from above.

図3は、図2のICモジュールの断面図であり、図2中のV−V線における断面図である。ただし、図3ではICチップ1は省略している。表面銅箔13には、外部接続端子2と、非接触機能ブリッジ部3とが形成されている。ガラエポ基板11には、穴が開けられている。穴の1つはボンディングホール5であり、もう1つの穴4には半田構造体15が形成されている。   3 is a cross-sectional view of the IC module of FIG. 2, and is a cross-sectional view taken along line VV in FIG. However, the IC chip 1 is omitted in FIG. An external connection terminal 2 and a non-contact function bridge portion 3 are formed on the surface copper foil 13. The glass epoxy substrate 11 is perforated. One of the holes is a bonding hole 5, and a solder structure 15 is formed in the other hole 4.

ボンディングホール5には、表面銅箔13にあるブリッジ回路3から裏面のICチップ1につながるボンディングワイヤー6が通されている。ボンディングワイヤー6は樹脂14により封止されている。   A bonding wire 6 that passes from the bridge circuit 3 on the front surface copper foil 13 to the IC chip 1 on the back surface is passed through the bonding hole 5. The bonding wire 6 is sealed with a resin 14.

穴4に形成された半田構造体15は、表面のブリッジ回路3とカード本体側のアンテナ7とを接続し、これにより非接触式通信を行うことができる。半田構造体15は、ブリッジ回路パターン3の裏面につながる穴4にクリーム半田を充填し、その後リフローすることで形成されている。   The solder structure 15 formed in the hole 4 connects the bridge circuit 3 on the surface and the antenna 7 on the card body side, thereby enabling non-contact communication. The solder structure 15 is formed by filling cream solder in the holes 4 connected to the back surface of the bridge circuit pattern 3 and then reflowing.

半田構造体15に使用される半田は、高融点の半田であり、例えば、一般的なSnベースの合金で融点が200°C程度以上の半田合金が使用される。従って、半田構造体15に使用される半田は、ICモジュールを実装する際の熱(一般的には150〜200°C程度)では溶融しない。   The solder used for the solder structure 15 is a high melting point solder, for example, a general Sn-based alloy having a melting point of about 200 ° C. or higher is used. Therefore, the solder used for the solder structure 15 is not melted by the heat (generally about 150 to 200 ° C.) when mounting the IC module.

図4は、半田構造体15および追加半田層16の様々な形態を示す断面図である。図3の例では、半田構造体15の上面は、研磨などの方法によって、アンテナワイヤー7が接続される面に対してフラットにされている。ただし、図4(a)および(c)の例のように、半田構造体15の上面はフラットにされていなくてもよい。   FIG. 4 is a cross-sectional view showing various forms of the solder structure 15 and the additional solder layer 16. In the example of FIG. 3, the upper surface of the solder structure 15 is flattened with respect to the surface to which the antenna wire 7 is connected by a method such as polishing. However, as in the example of FIGS. 4A and 4C, the upper surface of the solder structure 15 does not have to be flat.

半田構造体15は、半田構造体15を形成する穴4の50%を埋める高さ(これは、ガラエポ基板11の裏面から突出しない高さである)から、最大でガラエポ基板11の裏面から50μm突出する高さであればよい。好ましくは、図3の例のように、半田構造体15は、ガラエポ基板11の裏面からわずかに突出しているのがよい。   The solder structure 15 has a height that fills 50% of the holes 4 forming the solder structure 15 (this is a height that does not protrude from the back surface of the glass epoxy substrate 11), and is 50 μm from the back surface of the glass epoxy substrate 11 at the maximum. What is necessary is just the height which protrudes. Preferably, as shown in the example of FIG. 3, the solder structure 15 may slightly protrude from the back surface of the glass epoxy substrate 11.

半田構造体15の上には、追加半田層16が形成されている。追加半田層16に使用される半田は、半田構造体15を構成する半田よりも低融点の半田が使用される。具体的にはSn−Bi系やSn−In系(融点110〜140°C程度)等の半田合金が使用される。追加半田層16は、半田構造体15の上に、低融点のクリーム半田を載せた後、半田構造体15を構成する半田が溶融しない温度でリフローすることにより形成される。   An additional solder layer 16 is formed on the solder structure 15. The solder used for the additional solder layer 16 is a solder having a melting point lower than that of the solder constituting the solder structure 15. Specifically, Sn—Bi-based or Sn—In-based (melting point: about 110 to 140 ° C.) solder alloy or the like is used. The additional solder layer 16 is formed by placing a low melting point cream solder on the solder structure 15 and then reflowing at a temperature at which the solder constituting the solder structure 15 does not melt.

図3の例では、追加半田層16の上面は、研磨などの方法によって、アンテナワイヤー7が接続される面に対してフラットにされている。ただし、図4(a)および(b)の例のように、追加半田層16の上面はフラットにされていなくてもよい。   In the example of FIG. 3, the upper surface of the additional solder layer 16 is flat with respect to the surface to which the antenna wire 7 is connected by a method such as polishing. However, as in the example of FIGS. 4A and 4B, the upper surface of the additional solder layer 16 may not be flat.

非接触式通信によりリーダー/ライターとの通信を行うためのアンテナ回路は、カード基材10の上において、直径50〜150μmの銅などのワイヤー7で形成されている。アンテナワイヤー7は、追加半田層16と接触するように配置されている。アンテナワイヤー7は、カード基材10に挟みこまれ、熱圧によるラミネートあるいは接着等の加工により一体化されている。図3の例では、ガラエポ基板11とカード基材10の間に接着シート12を挟んで一体化されている。   An antenna circuit for communicating with a reader / writer by non-contact communication is formed on the card substrate 10 with a wire 7 such as copper having a diameter of 50 to 150 μm. The antenna wire 7 is disposed so as to be in contact with the additional solder layer 16. The antenna wire 7 is sandwiched between the card base 10 and integrated by processing such as lamination or adhesion by hot pressure. In the example of FIG. 3, the adhesive sheet 12 is integrated between the glass epoxy substrate 11 and the card base 10.

図4に示す、半田構造体15および追加半田層16の様々な形態について説明する。図4(a)の例では、半田構造体15、追加半田層16ともに、表面をフラットにする加工は行われておらず、リフロー加工のみの状態である。図4(b)の例では、半田構造体15の表面はフラット状態であり、追加半田層16は表面をフラットにする加工は行われておらずリフロー加工のみの状態である。図4(c)の例では、半田構造体15は表面をフラットにする加工は行われておらずリフロー加工のみの状態であり、追加半田層16の表面はフラット状態である。図4(d)の例では、半田構造体15、追加半田層16ともに、表面はフラット状態である。   Various forms of the solder structure 15 and the additional solder layer 16 shown in FIG. 4 will be described. In the example of FIG. 4A, neither the solder structure 15 nor the additional solder layer 16 is processed to make the surface flat, and only the reflow process is performed. In the example of FIG. 4B, the surface of the solder structure 15 is in a flat state, and the additional solder layer 16 is in a state of only reflow processing without being processed to make the surface flat. In the example of FIG. 4C, the solder structure 15 is not subjected to the process of flattening the surface and is in a state of only reflow processing, and the surface of the additional solder layer 16 is in a flat state. In the example of FIG. 4D, the surfaces of both the solder structure 15 and the additional solder layer 16 are flat.

なお、図4(a)〜(d)の例のように、半田構造体15がガラエポ基板11の裏面からわずかに突出する高さとなっているのが好ましい。   4A to 4D, it is preferable that the solder structure 15 has a height that slightly protrudes from the back surface of the glass epoxy substrate 11.

上述のように、本願の一実施形態では、ICモジュール用基板として、ガラエポ基板の片面にのみ導体箔を有する片面基板を使用する。導体箔は、接触式通信に使用する外部接続端子、および非接触通信のためにICチップからアンテナへと電気的接続を行うためのブリッジ回路を形成する。また、ガラエポ基板に貫通孔を設け、貫通孔からブリッジの裏面に対して半田(または半田で接続可能な材料)で半田構造体を形成し、この半田構造体とアンテナとを半田構造体とは別の半田で接続する。   As described above, in one embodiment of the present application, a single-sided substrate having a conductive foil only on one side of a glass epoxy substrate is used as the IC module substrate. The conductor foil forms an external connection terminal used for contact communication and a bridge circuit for electrical connection from the IC chip to the antenna for non-contact communication. Also, a through hole is provided in the glass epoxy substrate, a solder structure is formed from the through hole to the back surface of the bridge with solder (or a material that can be connected with solder), and the solder structure and the antenna are connected to the solder structure. Connect with another solder.

このように構成することで、ICモジュール表面の導体箔と裏面のアンテナ接続用半田構造体とがガラエポ基板を介さず直接金属で接続されるため熱伝導性が高まり、ICモジュールとアンテナを接続するための半田を容易に溶融することができる。従って、ICモジュールを実装加工する際の熱がプラスチックのカードに与えるダメージ(変形等)を無くし、外観の優れたデュアルICカードを得ることができる。   With this configuration, the conductive foil on the front surface of the IC module and the solder structure for antenna connection on the back surface are directly connected by metal without using a glass epoxy substrate, so that the thermal conductivity is increased and the IC module and the antenna are connected. Therefore, the solder for melting can be easily melted. Therefore, the damage (deformation, etc.) that the heat at the time of mounting the IC module gives to the plastic card is eliminated, and a dual IC card having an excellent appearance can be obtained.

また、上述のように、本願の一実施形態では、片面基板を使用することができるため、通常のデュアルICカード用モジュールで使用されるような、ガラエポ基板の両面に導体箔を持つため両面に通常金メッキ加工が必要となる両面基板を使用しなくてもよい。従って、デュアルICカードを低コストで実現することができる。   In addition, as described above, in one embodiment of the present application, since a single-sided board can be used, a conductive foil is provided on both sides of a glass epoxy board as used in an ordinary dual IC card module. It is not necessary to use a double-sided substrate that normally requires gold plating. Therefore, a dual IC card can be realized at low cost.

また、上述のように、本願の一実施形態では、半田構造体を構成する半田として、ICモジュールを実装加工する際の熱で溶融しない融点の半田(または半田で接続可能な材料)を使用する。このようにすることで、ICモジュールを実装加工する際の熱で半田構造体が溶融しないため、半田構造体が溶融して重力等によってブリッジ裏面との接続が外れる現象を回避することができ、安定的に半田接続を行うことができる。   Further, as described above, in one embodiment of the present application, a solder having a melting point that does not melt by heat when mounting an IC module (or a material that can be connected by solder) is used as the solder constituting the solder structure. . By doing so, since the solder structure does not melt with the heat when mounting the IC module, the phenomenon that the solder structure melts and disconnects from the back of the bridge due to gravity, etc. can be avoided, Solder connection can be performed stably.

また、上述のように、本願の一実施形態では、半田構造体の上に、ICモジュール実装加工時の熱で溶融する半田を積層して配置した構成とする。このようにすることで、ICモジュールをアンテナに接続する加工の際にクリーム半田を塗布する必要がなくなる。従って、専用設備を使用する必要がなく、接触式ICカードと同じ製造設備、工程でデュアルICカードを製造することができる。また、ICモジュールをアンテナに接続する加工の際にクリーム半田を使用しなくてよいため、ペースト状態を保つためにクリーム半田に多く含まれるフラックス等の半田以外の成分がICモジュールを実装加工する際の熱で蒸散することによって生じるカード券面の汚れも無くすことができる。   In addition, as described above, in one embodiment of the present application, a solder that is melted by heat at the time of IC module mounting processing is laminated and disposed on the solder structure. By doing in this way, it is not necessary to apply cream solder in the process of connecting the IC module to the antenna. Therefore, it is not necessary to use a dedicated facility, and a dual IC card can be manufactured with the same manufacturing facility and process as the contact IC card. In addition, since it is not necessary to use cream solder when processing the IC module to be connected to the antenna, components other than solder, such as flux, that are often contained in cream solder in order to maintain the paste state, It is possible to eliminate the dirt on the card face caused by the evaporation of heat.

また、上述のように、本願の一実施形態では、半田構造体の形状を、接続するアンテナ面に対してフラットにするとともに、高さ制御を行った上で半田の積層を行う。このようにすることで、ICモジュールを実装加工する際の熱で溶融する半田層の半田量を高精度で制御することができ、安定した接続ができる。また、半田構造体の高さのバラツキが無くなるため、ICモジュールを実装加工する際にかける圧力によって半田構造体が外部接続端子の導体箔を押し上げる力を減少させるとともに均等にすることができる。従って、ICモジュールの外部接続端子表面に現れる半田構造体による突き上げ痕の少ない美しい外観を保つことができる。   Further, as described above, in one embodiment of the present application, the solder structure is flattened with respect to the antenna surface to be connected, and solder is stacked after height control is performed. By doing so, it is possible to control with high accuracy the amount of solder of the solder layer that is melted by heat when mounting the IC module, and stable connection can be achieved. In addition, since there is no variation in the height of the solder structure, it is possible to reduce and equalize the force with which the solder structure pushes up the conductor foil of the external connection terminal by the pressure applied when mounting the IC module. Accordingly, it is possible to maintain a beautiful appearance with few push-up marks due to the solder structure appearing on the external connection terminal surface of the IC module.

また、上述のように、本願の一実施形態では、形成した半田層をアンテナ面に対してフラットにするとともに高さ制御を行う。このようにすることで、ICモジュールを実装加工する際の熱で溶融する半田層の半田量をより高精度で制御することができるので、安定した接続ができる。また、半田構造体と追加半田層を合わせた構造体の高さのバラツキが無くなるため、ICモジュールを実装加工する際にかける圧力によって半田構造体が外部接続端子の導体箔を押し上げる力を減少させるとともに均等にすることができる。従って、ICモジュールの外部接続端子表面現れる半田構造体による突き上げ痕の少ない美しい外観をさらに保つことができる。   Further, as described above, in one embodiment of the present application, the formed solder layer is made flat with respect to the antenna surface and the height is controlled. By doing so, it is possible to control the amount of solder of the solder layer that is melted by the heat when mounting the IC module with higher accuracy, and thus stable connection can be achieved. Also, since there is no variation in the height of the combined structure of the solder structure and the additional solder layer, the force by which the solder structure pushes up the conductor foil of the external connection terminal by the pressure applied when mounting the IC module is reduced. Can be even with. Therefore, it is possible to further maintain a beautiful appearance with few push-up marks due to the solder structure appearing on the surface of the external connection terminal of the IC module.

また、上述のように、本願の一実施形態では、半田層を、半田構造体が溶融しない温度でリフローすることで溶融形成する。このようにすることで、半田構造体と混ざりあうことなく、設計どおりのICモジュール実装加工時の熱で半田層を溶融させることができるので、安定した接続が可能となる。   Further, as described above, in one embodiment of the present application, the solder layer is melt-formed by reflowing at a temperature at which the solder structure does not melt. By doing so, the solder layer can be melted by heat at the time of IC module mounting processing as designed without being mixed with the solder structure, so that stable connection is possible.

以上、本発明の好ましい実施形態を説明したが、本発明はこれら実施形態およびその変形例に限定されることはない。本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、構成の付加、省略、置換、およびその他の変更が可能である。   As mentioned above, although preferable embodiment of this invention was described, this invention is not limited to these embodiment and its modification. Additions, omissions, substitutions, and other modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.

本明細書において「前、後ろ、上、下、右、左、垂直、水平、縦、横、表、裏、行および列」などの方向を示す言葉は、本発明の構成におけるこれらの方向を説明するために使用している。従って、本発明の明細書を説明するために使用されたこれらの言葉は、本発明の構成において相対的に解釈されるべきである。   In this specification, words indicating directions such as “front, back, top, bottom, right, left, vertical, horizontal, vertical, horizontal, front, back, rows and columns” refer to these directions in the configuration of the present invention. Used to explain. Accordingly, these terms used to describe the specification of the present invention should be interpreted relatively in the configuration of the present invention.

1…ICチップ、2…外部接続端子、3…非接触機能ブリッジ部(ブリッジ回路パターン)、4…穴、5…ボンディングホール、6…ボンディングワイヤー、7…アンテナワイヤー、10…カード基材、11…ガラエポ基板、12…接着シート、13…表面銅箔、14…封止樹脂、15…半田構造体(第1構造体)、16…追加半田層(第2構造体)   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... IC chip, 2 ... External connection terminal, 3 ... Non-contact function bridge part (bridge circuit pattern), 4 ... Hole, 5 ... Bonding hole, 6 ... Bonding wire, 7 ... Antenna wire, 10 ... Card base material, 11 DESCRIPTION OF SYMBOLS ... Glass epoxy substrate, 12 ... Adhesive sheet, 13 ... Surface copper foil, 14 ... Sealing resin, 15 ... Solder structure (first structure), 16 ... Additional solder layer (second structure)

Claims (7)

接触式通信機能と非接触式通信機能の両方を有するICチップを搭載し、片面にのみ導体箔を有する基板から構成されるICモジュールであって、
前記導体箔は、接触式通信に使用される外部接続端子と、非接触通信のためにICチップとアンテナとの電気的接続を行うためのブリッジ回路とを形成し、
前記基板は貫通孔を有し、
前記貫通孔において、前記ブリッジ回路の裏面から、第1構造体が形成されており、
前記第1構造体の前記ブリッジ回路とは反対側の面には、前記第1構造体とは異なる第2構造体が形成されており、
前記第2構造体の融点は、前記第1構造体の融点よりも低いことを特徴とする、ICモジュール。
An IC module that includes an IC chip having both a contact-type communication function and a non-contact-type communication function, and includes a substrate having a conductor foil only on one side,
The conductor foil forms an external connection terminal used for contact communication and a bridge circuit for performing electrical connection between the IC chip and the antenna for non-contact communication,
The substrate has a through hole;
In the through hole, a first structure is formed from the back surface of the bridge circuit,
A second structure different from the first structure is formed on the surface of the first structure opposite to the bridge circuit,
The IC module according to claim 1, wherein the melting point of the second structure is lower than the melting point of the first structure.
前記第1構造体および前記第2構造体は融点が互いに異なる半田であることを特徴とする、請求項1に記載のICモジュール。   2. The IC module according to claim 1, wherein the first structure and the second structure are solders having different melting points. 前記第1構造体は、前記基板の導体箔の無い面から突出していることを特徴とする、請求項1または2に記載のICモジュール。   3. The IC module according to claim 1, wherein the first structure protrudes from a surface of the substrate without a conductive foil. 4. 前記第1構造体または前記第2構造体において、前記ブリッジ回路とは反対側の面がフラットであることを特徴とする、請求項1から3のいずれか1項に記載のICモジュール。   4. The IC module according to claim 1, wherein a surface of the first structure body or the second structure body on a side opposite to the bridge circuit is flat. 5. 接触式通信機能と非接触式通信機能の両方を有するICチップと、
前記ICチップと電気的に接続され、非接触通信を行うアンテナと、
片面にのみ導体箔を有する基板から構成され、前記ICチップを搭載するICモジュールと、
を備え、
前記導体箔は、接触式通信に使用される外部接続端子と、前記ICチップと前記アンテナとの電気的接続を行うためのブリッジ回路とを形成し、
前記基板は貫通孔を有し、
前記貫通孔において、前記ブリッジ回路の裏面から、第1構造体が形成されており、
前記第1構造体と前記アンテナとは、前記第1構造体とは異なる第2構造体で接続されており、
前記第2構造体の融点は、前記第1構造体の融点よりも低いことを特徴とする、ICカード。
An IC chip having both a contact communication function and a non-contact communication function;
An antenna that is electrically connected to the IC chip and performs non-contact communication;
An IC module comprising a substrate having a conductive foil only on one side, and mounting the IC chip;
With
The conductor foil forms an external connection terminal used for contact-type communication, and a bridge circuit for electrical connection between the IC chip and the antenna,
The substrate has a through hole;
In the through hole, a first structure is formed from the back surface of the bridge circuit,
The first structure and the antenna are connected by a second structure different from the first structure,
The IC card according to claim 1, wherein the melting point of the second structure is lower than the melting point of the first structure.
接触式通信機能と非接触式通信機能の両方を有するICチップを搭載し、片面にのみ導体箔を有する基板からICモジュールを製造する方法であって、
前記導体箔において、接触式通信に使用される外部接続端子と、非接触通信のためにICチップとアンテナとの電気的接続を行うためのブリッジ回路とを形成するステップと、
前記基板に貫通孔を設けるステップと、
前記貫通孔において、前記ブリッジ回路の裏面から、第1構造体を形成するステップと、
前記第1構造体の前記ブリッジ回路とは反対側の面に、前記第1構造体とは異なる第2構造体を形成するステップと、
を含み、
前記第2構造体の融点は、前記第1構造体の融点よりも低いことを特徴とする、ICモジュールの製造方法。
A method of mounting an IC chip having both a contact communication function and a non-contact communication function, and manufacturing an IC module from a substrate having a conductive foil only on one side,
In the conductor foil, forming an external connection terminal used for contact communication and a bridge circuit for performing electrical connection between the IC chip and the antenna for non-contact communication;
Providing a through hole in the substrate;
Forming a first structure from the back surface of the bridge circuit in the through hole;
Forming a second structure different from the first structure on a surface of the first structure opposite to the bridge circuit;
Including
The method for manufacturing an IC module, wherein the melting point of the second structure is lower than the melting point of the first structure.
接触式通信機能と非接触式通信機能の両方を有するICチップを搭載し、片面にのみ導体箔を有する基板からICカードを製造する方法であって、
前記導体箔において、接触式通信に使用される外部接続端子と、非接触通信のためにICチップとアンテナとの電気的接続を行うためのブリッジ回路とを形成するステップと、
前記基板に貫通孔を設けるステップと、
前記貫通孔において、前記ブリッジ回路の裏面から、第1構造体を形成するステップと、
前記第1構造体と前記アンテナとを、前記第1構造体とは異なる第2構造体で接続するステップと、
を含み、
前記第2構造体の融点は、前記第1構造体の融点よりも低いことを特徴とする、ICカードの製造方法。
A method of manufacturing an IC card from a substrate having a conductive foil only on one side, mounted with an IC chip having both a contact communication function and a non-contact communication function,
In the conductor foil, forming an external connection terminal used for contact communication and a bridge circuit for performing electrical connection between the IC chip and the antenna for non-contact communication;
Providing a through hole in the substrate;
Forming a first structure from the back surface of the bridge circuit in the through hole;
Connecting the first structure and the antenna with a second structure different from the first structure;
Including
The method of manufacturing an IC card, wherein the melting point of the second structure is lower than the melting point of the first structure.
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