JP2018198259A - Composition for negative characteristic resistor, resistance paste for negative characteristic resistor, and negative characteristic thermistor - Google Patents

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勝弘 川久保
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Abstract

To provide a composition for a negative characteristic resistor, a resistive paste for a negative characteristic resistor, and a negative characteristic thermistor which do not contain a lead component and are excellent in negative temperature coefficient of resistance with small variations in resistance values.SOLUTION: In a composition for a negative characteristic resistor containing conductive particles and glass frit, which is a raw material of a negative characteristic thermistor, the conductive particles are represented by the general formula: BiRuNbO(0.06≤x≤0.50), and the content of Pb in the glass frit is less than 0.1% by mass.SELECTED DRAWING: None

Description

本発明は、負特性抵抗体用組成物、負特性抵抗体用抵抗ペースト、および、この負特性抵抗体用抵抗ペーストを用いた負特性サーミスタに関する。より詳しくは、セラミック基板上に鉛を含まない厚膜型負特性サーミスタを形成するために用いられる負特性抵抗体用組成物、および負特性抵抗体用抵抗ペースト、さらには、この負特性抵抗体用抵抗ペーストを用いた厚膜型負特性サーミスタに関する。   The present invention relates to a negative characteristic resistor composition, a negative characteristic resistor resistive paste, and a negative characteristic thermistor using the negative characteristic resistor resistive paste. More specifically, a negative characteristic resistor composition used to form a lead-free thick film type negative characteristic thermistor on a ceramic substrate, a negative characteristic resistor resistive paste, and the negative characteristic resistor The present invention relates to a thick film negative characteristic thermistor using a resistance paste.

サーミスタとは、温度変化に応じて抵抗値が大きく変化する抵抗体のことであり、温度検出や温度制御、自己温度制御加熱器や電力計などに広く適用されている電子部品である。サーミスタは温度が高くなるほど抵抗値が低くなる負特性サーミスタ(NTCサーミスタ、CTRサーミスタ)と、逆に温度が高くなるほど抵抗値が高くなる正特性サーミスタ(PTCサーミスタ)に分類される。これらのうち、負特性サーミスタであるNTCサーミスタが最も一般的に使用されている。サーミスタは、ディスク型、薄膜型、厚膜型など様々な形状を採りうるが、これらのうちの厚膜型サーミスタは、絶縁性のセラミック基板に、導電性粒子およびガラスフリットを含むペーストを塗布し、焼成することによって製造され、小型で安価という利点がある。   The thermistor is a resistor whose resistance value changes greatly according to temperature change, and is an electronic component widely applied to temperature detection, temperature control, a self-temperature control heater, a power meter, and the like. The thermistor is classified into a negative characteristic thermistor (NTC thermistor, CTR thermistor) whose resistance value decreases as the temperature increases, and a positive characteristic thermistor (PTC thermistor) whose resistance value increases as the temperature increases. Of these, NTC thermistors, which are negative characteristic thermistors, are most commonly used. Thermistors can take various shapes such as disk type, thin film type, and thick film type. Of these, the thick film type thermistor applies a paste containing conductive particles and glass frit to an insulating ceramic substrate. It is manufactured by firing and has the advantage of being small and inexpensive.

特開平08−253342号公報には、鉛を含まない抵抗体用組成物として、Ru(ルテニウム)系の導電性材料と、Biを含むガラスフリットからなる抵抗体用組成物が記載されている。しかしながら、近年電子部品の小型化が進むことにより電気特性の精度向上も求められており、サーミスタにおいてもその要求は例外ではない。このようなサーミスタにおける抵抗値のばらつきや電流ノイズを規制するという観点からは、特開平08−253342号公報に記載された抵抗体用組成物は、要求される特性を十分に満たしているということはできない。 Japanese Patent Application Laid-Open No. 08-253342 describes a resistor composition comprising a Ru (ruthenium) -based conductive material and a glass frit containing Bi 2 O 3 as a resistor composition that does not contain lead. ing. However, in recent years, as electronic components have been miniaturized, it has been required to improve the accuracy of electrical characteristics, and the demand is no exception for thermistors. From the viewpoint of regulating resistance value variations and current noise in such a thermistor, the resistor composition described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 08-253342 sufficiently satisfies the required characteristics. I can't.

また、特開2008−192784号公報には、YRu、NdRu、SmRu、および、GdRuから選ばれた少なくとも1種類のルテニウム系導電性粒子と、鉛およびBiを含まないガラスフリットからなる組成物が記載されている。しかしながら、近年電子部品の小型化とともに、電気的応答速度の高速化も求められており、この観点から、特開2008−192784号公報に記載の組成物を用いて得られたサーミスタにおける負の温度特性よりも、さらに大きい負の温度特性を備えた負特性サーミスタが求められている。 Japanese Patent Application Laid-Open No. 2008-192784 discloses at least one ruthenium selected from Y 2 Ru 2 O 7 , Nd 2 Ru 2 O 7 , Sm 2 Ru 2 O 7 , and Gd 2 Ru 2 O 7. A composition comprising system conductive particles and glass frit containing no lead and Bi 2 O 3 is described. However, in recent years, there has been a demand for higher electrical response speed as well as downsizing of electronic components. From this viewpoint, the negative temperature in the thermistor obtained by using the composition described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2008-192784. There is a demand for a negative temperature coefficient thermistor having a negative temperature characteristic larger than the characteristic.

特開平08−253342号公報JP 08-253342 A 特開2008−192784号公報JP 2008-192784 A

上述のように、導電性粒子と鉛を含まないガラス粉末を用いたさまざまな負特性サーミスタ用の抵抗体用組成物および抵抗ペーストが開示されているが、近年の負特性サーミスタの小型化および高精度化に対して、十分に満足できる特性を有する抵抗体用組成物および抵抗体ペーストは量産化されていない。   As described above, various negative resistor thermistor compositions and resistor pastes using conductive particles and lead-free glass powder have been disclosed. Resistor compositions and resistor pastes having sufficiently satisfactory characteristics for accuracy have not been mass-produced.

本発明は、このような状況に鑑みなされたものであり、抵抗値のばらつきが小さく、負の抵抗温度係数に優れた、鉛成分を含有しない負特性抵抗体用組成物、負特性抵抗体用抵抗ペースト、および負特性サーミスタを提供することを目的としている。   The present invention has been made in view of such circumstances, and has a small variation in resistance value, an excellent negative resistance temperature coefficient, a composition for negative characteristic resistors that does not contain a lead component, and for negative characteristic resistors The object is to provide a resistance paste and a negative thermistor.

本発明者は鋭意研究を重ねた結果、導電性粒子とガラスフリットを含有する負特性抵抗体用組成物において、前記導電性粒子として、Ruの一部をNbに置換したBiRu粉末、すなわち、一般式:BiRu2−xNb(0.06≦x≦0.50)で表されるルテニウムニオブ含有複合酸化物粉末からなる粒子を用い、かつ、前記ガラスフリットにおけるPbの含有量を0.1質量%未満とすることにより、抵抗値のばらつきが小さく、負の抵抗温度係数に優れた、鉛成分を含有しない負特性抵抗体用組成物、抵抗ペースト、および、負特性サーミスタが得られることを見出して、本発明に至ったものである。 As a result of intensive studies, the present inventor has found that in a composition for negative characteristic resistor containing conductive particles and glass frit, Bi 2 Ru 2 O 7 in which Ru is partially substituted with Nb as the conductive particles. And using the powder, that is, particles made of a ruthenium niobium-containing composite oxide powder represented by the general formula: Bi 2 Ru 2-x Nb x O 7 (0.06 ≦ x ≦ 0.50), and the glass frit When the Pb content is less than 0.1% by mass, the resistance value variation is small, the negative temperature coefficient of resistance is excellent, the composition for negative characteristic resistors not containing a lead component, the resistance paste, and The inventors have found that a negative characteristic thermistor can be obtained, and have reached the present invention.

すなわち、本発明の負特性抵抗体用組成物は、一般式:BiRu2−xNb(0.06≦x≦0.50)で表されるルテニウムニオブ含有複合酸化物粉末からなり、かつ、前記ガラスフリットにおけるPbの含有量が0.1質量%未満であることを特徴とする。なお、一般式におけるNbの含有量を示すxの値の範囲は、0.10≦x≦0.40とすることが好ましい。 That is, the negative characteristic resistor composition of the present invention is composed of a ruthenium niobium-containing composite oxide powder represented by the general formula: Bi 2 Ru 2-x Nb x O 7 (0.06 ≦ x ≦ 0.50). And the Pb content in the glass frit is less than 0.1% by mass. The range of the value of x indicating the Nb content in the general formula is preferably 0.10 ≦ x ≦ 0.40.

前記ガラスフリットが、SiO、B、Al、BaO、および、ZnOを含有する、Si−B−Al−Ba−Zn−O系ガラス粉末からなり、該ガラス粉末におけるBの含有量が、14質量%〜25質量%の範囲にあることが好ましい。 The glass frit is made of Si—B—Al—Ba—Zn—O-based glass powder containing SiO 2 , B 2 O 3 , Al 2 O 3 , BaO, and ZnO, and B 2 in the glass powder. the content of O 3 is preferably in the range of 14 to 25 mass%.

前記ルテニウムニオブ含有複合酸化物粉末と前記ガラスフリットとの質量比が、25:75〜65:35の範囲にあることが好ましい。   The mass ratio of the ruthenium niobium-containing composite oxide powder and the glass frit is preferably in the range of 25:75 to 65:35.

本発明の負特性抵抗体用抵抗ペーストは、負特性抵抗体用組成物と、有機ビヒクルとからなり、前記負特性抵抗体用組成物が本発明の負特性抵抗体用組成物からなり、該負特性抵抗体用組成物が前記有機ビヒクル中に分散していることを特徴とする。   The negative characteristic resistor resistor paste of the present invention comprises a negative characteristic resistor composition and an organic vehicle, and the negative characteristic resistor composition comprises the negative characteristic resistor composition of the present invention, The negative characteristic resistor composition is dispersed in the organic vehicle.

本発明の負特性サーミスタは、セラミック基板と、該セラミック基板上に備えられた厚膜負特性抵抗体とを有し、該厚膜負特性抵抗体は、導電体成分と固結剤とからなり、前記導電体成分の組成が、一般式:BiRu2−xNb(0.06≦x≦0.50)で表され、かつ、前記固結剤におけるPbの含有量が0.1質量%未満であることを特徴とする。なお、一般式におけるNbの含有量を示すxの値の範囲は、0.10≦x≦0.40とすることが好ましい。 The negative characteristic thermistor of the present invention has a ceramic substrate and a thick film negative characteristic resistor provided on the ceramic substrate, and the thick film negative characteristic resistor comprises a conductor component and a caking agent. The composition of the conductor component is represented by the general formula: Bi 2 Ru 2-x Nb x O 7 (0.06 ≦ x ≦ 0.50), and the content of Pb in the binder is 0. Less than 1% by mass. The range of the value of x indicating the Nb content in the general formula is preferably 0.10 ≦ x ≦ 0.40.

前記固結剤が、SiO、B、Al、BaO、および、ZnOを含有する、Si−B−Al−Ba−Zn−O系ガラスからなり、かつ、該ガラスにおけるBの含有量が14質量%〜25質量%の範囲にあることが好ましい。 The caking agent is made of Si—B—Al—Ba—Zn—O-based glass containing SiO 2 , B 2 O 3 , Al 2 O 3 , BaO, and ZnO, and B in the glass The content of 2 O 3 is preferably in the range of 14% by mass to 25% by mass.

本発明の負特性抵抗体用組成物を用いて製造した負特性サーミスタは、抵抗値のばらつきを小さく、かつ、負の抵抗温度係数に優れており、さらに、Pbを実質的に含まないことから、近年の負特性サーミスタの小型化および高精度化に対して、十分に満足できる特性を備えている。   The negative characteristic thermistor manufactured using the composition for negative characteristic resistor of the present invention has a small variation in resistance value, an excellent negative temperature coefficient of resistance, and is substantially free of Pb. In recent years, the negative characteristic thermistor has sufficiently satisfactory characteristics for miniaturization and high accuracy.

(1)負特性抵抗体用組成物
本発明は、一般式:BiRu2−xNbで表されるルテニウムニオブ含有複合酸化物粉末とガラスフリットとを負特性抵抗体用組成物の主な構成成分とすることによって、この負特性抵抗体用組成物を含有する抵抗ペーストを焼成して得られる抵抗体の抵抗温度係数が大きくマイナスになることを利用している。
(1) Composition for negative characteristic resistor In the present invention, a ruthenium niobium-containing composite oxide powder represented by a general formula: Bi 2 Ru 2-x Nb x O 7 and a glass frit are used. By using the main component of the resistor, the fact that the resistance temperature coefficient of the resistor obtained by firing the resistor paste containing the composition for negative characteristic resistor greatly becomes negative is utilized.

(a)導電性粒子
本発明の負特性抵抗体用組成物では、前記導電性粒子が、一般式:BiRu2−xNb(0.06≦x≦0.50)で表されるルテニウムニオブ含有複合酸化物粉末により構成されている。なお、Nbの含有量を示すxの値の範囲は、0.10≦x≦0.40とすることが好ましい。
(A) Conductive Particles In the composition for negative characteristic resistor of the present invention, the conductive particles are represented by the general formula: Bi 2 Ru 2-x Nb x O 7 (0.06 ≦ x ≦ 0.50). It is comprised by the ruthenium niobium containing complex oxide powder. The range of the value of x indicating the Nb content is preferably 0.10 ≦ x ≦ 0.40.

ルテニウムニオブ含有複合酸化物粉末としては、各種の製法で得られた粉末を使用することができる。たとえば、BiRu中のRuの一部をNbで置換することによって製造することができる。具体的には、NbとRuOとBiの粉末を混合し、焙焼した後粉砕する方法によって製造することができる。 As the ruthenium niobium-containing composite oxide powder, powders obtained by various production methods can be used. For example, it can be produced by replacing a part of Ru in Bi 2 Ru 2 O 7 with Nb. Specifically, it can be produced by a method in which powders of Nb 2 O 5 , RuO 2 and Bi 2 O 3 are mixed, baked and then pulverized.

Nbの含有量を示すxの範囲は、0.06≦x≦0.50とする。すなわち、Nb:Ruのモル比で3:97〜25:75の範囲とする。xの値が0.06よりも小さいと、期待される十分なサーミスタ特性が得られない。一方、xの値を0.50よりも大きくしようとしても、それ以上RuがNbに置換されず、残留するNbが逆にサーミスタ特性を悪化させてしまう。Nbの含有量を示すxの値の範囲は、0.10≦x≦0.40とすることが好ましい。   The range of x indicating the Nb content is 0.06 ≦ x ≦ 0.50. That is, the molar ratio of Nb: Ru ranges from 3:97 to 25:75. If the value of x is smaller than 0.06, the expected sufficient thermistor characteristics cannot be obtained. On the other hand, even if the value of x is made larger than 0.50, Ru is not replaced with Nb any more, and the remaining Nb adversely deteriorates the thermistor characteristics. The value range of x indicating the Nb content is preferably 0.10 ≦ x ≦ 0.40.

導電性粒子は、その粒径によって制限されることはないが、導電性粒子の平均粒径を0.1μm以下とすることが好ましく、0.01μm〜0.08μmの範囲とすることがより好ましい。導電性粒子の平均粒径を0.1μm以下に制御することにより、この導電性粒子を用いた負特性抵抗体用組成物を用いて製造される負特性サーミスタにおいて、その抵抗値のばらつきや電圧負荷による劣化を抑制することが可能となる。なお、導電性粒子の下限値は限定されないが、通常は、導電性粒子の平均粒径の下限値は、0.01μm程度である。   The conductive particles are not limited by the particle size, but the average particle size of the conductive particles is preferably 0.1 μm or less, and more preferably in the range of 0.01 μm to 0.08 μm. . By controlling the average particle size of the conductive particles to 0.1 μm or less, in the negative characteristic thermistor manufactured using the negative characteristic resistor composition using the conductive particles, the resistance value variation and voltage It becomes possible to suppress deterioration due to the load. The lower limit value of the conductive particles is not limited, but usually the lower limit value of the average particle diameter of the conductive particles is about 0.01 μm.

(b)ガラスフリット
ガラスフリットは、焼成されることにより軟化して、導電性粒子を結合させつつ厚膜を形成し、さらにその厚膜をセラミック基板などの基板に対して密着させる固結剤として機能を担う。
(B) Glass frit A glass frit is softened by firing to form a thick film while bonding conductive particles, and as a caking agent that adheres the thick film to a substrate such as a ceramic substrate. Take on the function.

本発明では、負特性抵抗体用組成物を構成するガラスフリットは、そのPbの含有率が0.1質量%以下であれば、その組成に特に制限されることはない。   In the present invention, the glass frit constituting the composition for negative characteristic resistors is not particularly limited to the composition as long as the Pb content is 0.1% by mass or less.

好ましくは、本発明のガラスフリットは、SiO、B、Al、BaO、および、ZnOを主成分として含有する、Si−B−Al−Ba−Zn−O系ガラス粉末により構成される。ガラスフリットをこのような組成のガラス粉末により構成することにより、最終的に得られるサーミスタにおいて、水分や電圧負荷による劣化を抑制することが可能となる。 Preferably, the glass frit of the present invention is made of Si—B—Al—Ba—Zn—O-based glass powder containing SiO 2 , B 2 O 3 , Al 2 O 3 , BaO, and ZnO as main components. Composed. By configuring the glass frit with the glass powder having such a composition, it is possible to suppress deterioration due to moisture or voltage load in the finally obtained thermistor.

この組成のガラスフリットにおいて、ガラスフリット中のBの含有量は、14質量%〜25質量%の範囲にあることが望ましく、14質量%〜20質量%の範囲にあることがより望ましい。Bの含有量が14質量%以上であると、サーミスタ特性がより良好となる。しかしながら、Bの含有量が25質量%を超えると、ガラスの耐水性および耐候性が低下してしまう。 In the glass frit having this composition, the content of B 2 O 3 in the glass frit is preferably in the range of 14% by mass to 25% by mass, and more preferably in the range of 14% by mass to 20% by mass. . If the B 2 O 3 content is 14 wt% or more, the thermistor characteristic becomes better. However, if the content of B 2 O 3 exceeds 25% by mass, the water resistance and weather resistance of the glass deteriorate.

サーミスタにおける水分や電圧負荷による劣化を抑制する観点からは、ガラスフリットがアルカリ金属成分を含有しないことが望ましい。   From the viewpoint of suppressing deterioration due to moisture or voltage load in the thermistor, it is desirable that the glass frit does not contain an alkali metal component.

ガラスフリットの平均粒径は、5.0μm以下であることが望ましく、0.5μm〜3.0μmの範囲にあることがより望ましい。ガラスフリットの平均粒径を5.0μm以下とすることにより、最終的に得られるサーミスタの抵抗値のばらつきや電圧負荷による劣化を抑制することが可能となる。なお、ガラスフリットの平均粒径の下限値は限定されないが、ガラスフリットは、ボールミルやビーズミルなどを用いて原材料を粉砕することにより得られることから、通常は、ガラスフリットの平均粒径の下限値は0.5μm程度である。   The average particle size of the glass frit is desirably 5.0 μm or less, and more desirably in the range of 0.5 μm to 3.0 μm. By setting the average particle size of the glass frit to 5.0 μm or less, it is possible to suppress variations in resistance value of the thermistor finally obtained and deterioration due to voltage load. The lower limit value of the average particle size of the glass frit is not limited, but since the glass frit is obtained by pulverizing raw materials using a ball mill, a bead mill or the like, the lower limit value of the average particle size of the glass frit is usually used. Is about 0.5 μm.

本発明の負特性抵抗体用組成物においては、導電性粒子とガラスフリットのほかに、最終的に得られるサーミスタの電気的特性を調整するために従来から使用されている種々の添加剤、分散剤、可塑剤などを含有させることは可能である。すなわち、本発明の負特性抵抗体用組成物は、面積抵抗値や抵抗温度係数の調整、膨張係数の調整、耐電圧性の向上、その他の改質を目的とした添加剤を含有することができる。このような添加剤としては、たとえば、MnO、CuO、TiO、Nb、Ta、SiO、Al、ZrO、ZrSiOなどが挙げられる。これらの添加剤の含有量は、導電性粒子およびガラスフリットの合計質量に対して、0.05質量%〜20質量%程度である。 In the composition for negative characteristic resistor of the present invention, in addition to conductive particles and glass frit, various additives and dispersions conventionally used for adjusting the electrical characteristics of the thermistor finally obtained. It is possible to contain an agent, a plasticizer and the like. That is, the composition for negative characteristic resistors of the present invention may contain additives for the purpose of adjusting the sheet resistance value and the temperature coefficient of resistance, adjusting the expansion coefficient, improving the voltage resistance, and other modifications. it can. Examples of such additives include MnO 2 , CuO, TiO 2 , Nb 2 O 5 , Ta 2 O 5 , SiO 2 , Al 2 O 3 , ZrO 2 , ZrSiO 4 and the like. The content of these additives is about 0.05% by mass to 20% by mass with respect to the total mass of the conductive particles and the glass frit.

(c)導電性粒子とガラスフリットの配合率
導電性粒子、すなわち、ルテニウムニオブ含有複合酸化物粉末と、ガラスフリットとの配合率は、質量比で、25:75〜65:35の範囲であることが好ましく、25:75〜50:50の範囲であることがより好ましい。すなわち、導電性粒子の配合率は、25質量%〜65質量%の範囲、好ましくは25質量%〜50質量%の範囲であり、ガラスフリットの配合率は、35質量%〜75質量%の範囲、好ましくは、50質量%〜75質量%の範囲である。
(C) Mixing ratio of conductive particles and glass frit The mixing ratio of conductive particles, that is, ruthenium niobium-containing composite oxide powder and glass frit is in a range of 25:75 to 65:35 in terms of mass ratio. It is preferable that it is in the range of 25:75 to 50:50. That is, the compounding ratio of the conductive particles is in the range of 25% to 65% by mass, preferably in the range of 25% to 50% by mass, and the compounding ratio of the glass frit is in the range of 35% to 75% by mass. Preferably, it is the range of 50 mass%-75 mass%.

ルテニウムニオブ含有複合酸化物粉末を導電性粒子として用いた、負特性抵抗体用抵抗ペーストを印刷し焼成した場合、抵抗体はガラスフリットの焼結で形成されるため、導電性粒子自体は焼結することはない。このため、ルテニウムニオブ含有複合酸化物粉末の含有量が、導電性粒子とガラスフリットとの合計質量に対して、65質量%を超えると、焼成時に抵抗体にクラックなどが発生して、最終的に得られるサーミスタにおいて、抵抗値のばらつきが大きくなる可能性がある。   When a resistive paste for negative characteristic resistors is printed and fired using ruthenium niobium-containing composite oxide powder as conductive particles, the conductive particles themselves are sintered because the resistor is formed by sintering glass frit. Never do. For this reason, when the content of the ruthenium niobium-containing composite oxide powder exceeds 65% by mass with respect to the total mass of the conductive particles and the glass frit, cracks and the like occur in the resistor during firing, and the final result In the thermistor obtained in (1), there may be a large variation in resistance value.

一方、ルテニウムニオブ含有複合酸化物粉末は、Ruの一部をNbに置換したことに起因して、導電性粒子自体の比抵抗が大きくなるため、ルテニウムニオブ含有複合酸化物粉末の含有量が、導電性粒子とガラスフリットとの合計質量に対して、25質量%を下回ると、サーミスタの抵抗値が高くなり過ぎてしまう場合がある。   On the other hand, the ruthenium niobium-containing composite oxide powder has a higher specific resistance of the conductive particles itself due to substitution of part of Ru with Nb, so the content of the ruthenium niobium-containing composite oxide powder is If the amount is less than 25% by mass with respect to the total mass of the conductive particles and the glass frit, the resistance value of the thermistor may become too high.

(2)負特性抵抗体用抵抗ペースト
本発明の負特性抵抗体用抵抗ペーストは、負特性抵抗体用組成物と、有機ビヒクルとにより構成され、この負特性抵抗体用組成物として、上述した本発明の負特性抵抗体用組成物を用いることを特徴とする。負特性抵抗体用ペーストにおいて、負特性抵抗体用組成物は、有機ビヒクル中に分散される。
(2) Negative Characteristic Resistor Resistive Paste The negative characteristic resistor resistive paste of the present invention is composed of a negative characteristic resistor composition and an organic vehicle. The negative characteristic resistor composition of the present invention is used. In the negative characteristic resistor paste, the negative characteristic resistor composition is dispersed in an organic vehicle.

有機ビヒクルは、抵抗体用組成物を構成する導電性粒子およびガラスフリットを、印刷に適したペースト状にする機能を有する。有機ビヒクルとしては、抵抗ペーストに一般的に使用されている材料を用いることができる。たとえば、エチルセルロース、ブチラール、アクリルなどの樹脂を、ターピネオール、ブチルカルビトール、ブチルカルビトールアセテートなどの溶剤に溶解したものが用いられる。   The organic vehicle has a function of making conductive particles and glass frit constituting the resistor composition into a paste suitable for printing. As an organic vehicle, the material generally used for resistance paste can be used. For example, a resin obtained by dissolving a resin such as ethyl cellulose, butyral, or acrylic in a solvent such as terpineol, butyl carbitol, or butyl carbitol acetate is used.

なお、負特性抵抗体用抵抗ペーストは、有機ビヒクルの配合量によって制限されることはないが、負特性抵抗体用組成物の配合量を100質量部としたときに、有機ビヒクルの配合量は15質量部以上であることが好ましい。有機ビヒクルの配合量が15質量部未満では、負特性抵抗体用ペーストの粘度が高くなりすぎて印刷ができなくなる可能性がある。有機ビヒクルの配合量は、20質量部以上が好ましく、30質量部以上がより好ましい。ただし、焼成時の揮発性が損なわれるため、有機ビヒクルの配合量の上限値は、100質量部程度となる。   The resistance paste for negative characteristic resistors is not limited by the blending amount of the organic vehicle, but when the blending amount of the composition for negative characteristic resistors is 100 parts by mass, the blending amount of the organic vehicle is It is preferably 15 parts by mass or more. When the blending amount of the organic vehicle is less than 15 parts by mass, the viscosity of the negative characteristic resistor paste becomes too high, and printing may not be possible. The amount of the organic vehicle is preferably 20 parts by mass or more, and more preferably 30 parts by mass or more. However, since the volatility at the time of firing is impaired, the upper limit of the amount of the organic vehicle is about 100 parts by mass.

また、本発明の負特性抵抗体用抵抗ペーストの製造方法は、特に限定されることはなく、一般的に抵抗ペーストを製造する際に用いられている、ロールミル、ボールミル、ビーズミルなどを用いて、有機ビヒクル中に負特性抵抗体用組成物を含む各種材料を、粉砕および分散させることにより、負特性抵抗体用ペーストは得られる。   Further, the method for producing the resistance paste for negative characteristic resistor of the present invention is not particularly limited, and generally used when producing a resistance paste, using a roll mill, a ball mill, a bead mill, etc. The paste for negative characteristic resistors can be obtained by pulverizing and dispersing various materials containing the composition for negative characteristic resistors in an organic vehicle.

(3)負特性サーミスタ
本発明の負特性サーミスタは、セラミック基板と、該セラミック基板上に備えられた厚膜負特性抵抗体とを有する。この厚膜負特性抵抗体は、負特性抵抗体用組成物を含有する負特性抵抗体用ペーストを、セラミック基板に塗布し、酸化雰囲気下で、750℃〜900℃の範囲にある温度で焼成することにより形成される。
(3) Negative characteristic thermistor The negative characteristic thermistor of this invention has a ceramic substrate and the thick film negative characteristic resistor provided on this ceramic substrate. This thick film negative characteristic resistor is obtained by applying a negative characteristic resistor paste containing a negative characteristic resistor composition to a ceramic substrate and firing at a temperature in the range of 750 ° C. to 900 ° C. in an oxidizing atmosphere. It is formed by doing.

この厚膜負特性抵抗体は、導電体成分と固結剤とからなり、それぞれの組成は、負特性抵抗体用組成物における、導電性粒子とガラスフリットの組成に対応する。すなわち、本発明の負特性サーミスタでは、前記導電体成分の組成が、一般式:BiRu2−xNb(0.06≦x≦0.50)で表され、かつ、前記固結剤におけるPbの含有量が0.1質量%未満である。なお、一般式におけるNbの含有量を示すxの値の範囲は、0.10≦x≦0.40であることが好ましい。 This thick film negative characteristic resistor comprises a conductor component and a caking agent, and each composition corresponds to the composition of conductive particles and glass frit in the negative characteristic resistor composition. That is, in the negative characteristic thermistor of the present invention, the composition of the conductor component is represented by the general formula: Bi 2 Ru 2-x Nb x O 7 (0.06 ≦ x ≦ 0.50), and The content of Pb in the binder is less than 0.1% by mass. In addition, it is preferable that the range of the value of x which shows content of Nb in general formula is 0.10 <= x <= 0.40.

また、前記固結剤は、SiO、B、Al、BaO、および、ZnOを含有する、Si−B−Al−Ba−Zn−O系ガラスからなり、かつ、このガラスにおけるBの含有量が14質量%〜25質量%の範囲にあることが好ましい。 The caking agent is made of Si—B—Al—Ba—Zn—O-based glass containing SiO 2 , B 2 O 3 , Al 2 O 3 , BaO, and ZnO, and this glass The content of B 2 O 3 in is preferably in the range of 14% by mass to 25% by mass.

本発明の負特性サーミスタを構成する厚膜負特性抵抗体の膜厚は任意であって、この膜厚によって本発明は制限されることはない。したがって、負特性サーミスタの特性に関与する厚膜負特性抵抗体の平均膜厚は、5μm以下とすることもできるし、これを超える平均膜厚を採用することもできる。さらに、平均膜厚が10μm以上である厚膜負特性抵抗体も本発明の範囲内である。   The film thickness of the thick film negative characteristic resistor constituting the negative characteristic thermistor of the present invention is arbitrary, and the present invention is not limited by this film thickness. Therefore, the average film thickness of the thick film negative characteristic resistor involved in the characteristics of the negative characteristic thermistor can be 5 μm or less, or an average film thickness exceeding this can be adopted. Furthermore, a thick film negative characteristic resistor having an average film thickness of 10 μm or more is also within the scope of the present invention.

本発明の負特性サーミスタは、抵抗値のばらつきが小さく、かつ、負の抵抗温度係数に優れているため、負特性サーミスタの小型化および高精度化に対して、十分に満足できるサーミスタ特性を備えている。具体的には、膜厚を7μmとした場合の抵抗値である換算面積抵抗値が100Ω/□〜10MΩ/□の範囲にあり、かつ、この領域において、その抵抗値のばらつきが5%未満であり、かつ、負の抵抗温度係数が、25℃から−55℃までにおける抵抗温度係数(COLD−TCR:以下、「C−TCR」と記す)で−2000ppm/℃以下、かつ、25℃から125℃までにおける抵抗温度係数(HOT−TCR:以下、「H−TCR」と記す)で−1000ppm/℃以下である。なお、抵抗値のばらつきは、好ましくは4%以下であり、より好ましくは3%以下である。   Since the negative characteristic thermistor of the present invention has a small variation in resistance value and an excellent negative resistance temperature coefficient, the thermistor has sufficient thermistor characteristics to satisfy the miniaturization and high accuracy of the negative characteristic thermistor. ing. Specifically, the converted area resistance value, which is the resistance value when the film thickness is 7 μm, is in the range of 100Ω / □ to 10 MΩ / □, and the variation in resistance value is less than 5% in this region. And a negative temperature coefficient of resistance is a temperature coefficient of resistance (COLD-TCR: hereinafter referred to as “C-TCR”) from 25 ° C. to −55 ° C., and is −2000 ppm / ° C. or lower, and 25 ° C. to 125 ° C. The temperature coefficient of resistance up to ℃ (HOT-TCR: hereinafter referred to as “H-TCR”) is −1000 ppm / ° C. or less. Note that the variation in resistance value is preferably 4% or less, and more preferably 3% or less.

以下、本発明についてその実施例を用いてさらに具体的に説明する。しかしながら、本発明は、これらの実施例に限定されるものではない。   Hereinafter, the present invention will be described more specifically using examples thereof. However, the present invention is not limited to these examples.

まず、Ruをアルカリ溶融して得られたKRuOを純水に溶解し、エタノールを添加した後、水洗および乾燥を行って、Ruの水和酸化物を得た。このRuの水和酸化物とNb粉末とBi粉末とを、所定の割合で混合して、800℃で5時間焙焼することにより、一般式:BiRu2−xNbで表されるルテニウムニオブ含有複合酸化物粉末を合成した。 First, K 2 RuO 4 obtained by alkali-melting Ru was dissolved in pure water, ethanol was added, and then washed with water and dried to obtain Ru hydrated oxide. The hydrated oxide of Ru, Nb 2 O 5 powder, and Bi 2 O 3 powder are mixed at a predetermined ratio and roasted at 800 ° C. for 5 hours to obtain a general formula: Bi 2 Ru 2-x A ruthenium niobium-containing composite oxide powder represented by Nb x O 7 was synthesized.

得られたルテニウムニオブ含有複合酸化物粉末を、ボールミルで24時間粉砕した後、200℃で24時間乾燥して、微細なルテニウムニオブ含有複合酸化物粉末を得た。   The obtained ruthenium niobium-containing composite oxide powder was pulverized with a ball mill for 24 hours and then dried at 200 ° C. for 24 hours to obtain a fine ruthenium niobium-containing composite oxide powder.

表1にRuの水和酸化物とNb粉末、およびBi粉末の混合比を、それぞれの金属元素のmol比換算の値で示した。得られた導電性粒子(ルテニウムニオブ含有複合酸化物粉末)の平均粒径は、50nm〜60nmの範囲にあった。また、この導電性粒子の比表面積は10m/g〜12m/gの範囲にあった。 Table 1 shows the mixing ratio of the hydrated oxide of Ru, the Nb 2 O 5 powder, and the Bi 2 O 3 powder in terms of the molar ratio of each metal element. The average particle diameter of the obtained conductive particles (ruthenium niobium-containing composite oxide powder) was in the range of 50 nm to 60 nm. The specific surface area of the conductive particles was in the range of 10m 2 / g~12m 2 / g.

Figure 2018198259
Figure 2018198259

また、本発明の評価用ガラスフリットとして、2種類のガラスフリットを準備した。表2に、準備した2種類のガラスフリットの配合組成を示す。ガラスフリットの平均粒径は、いずれも1μm〜2μmの範囲にあった。   Two types of glass frit were prepared as the glass frit for evaluation of the present invention. Table 2 shows the composition of the two types of prepared glass frit. The average particle size of the glass frit was in the range of 1 μm to 2 μm.

Figure 2018198259
Figure 2018198259

表1に示すルテニウムニオブ含有複合酸化物粉末と、表2に示すガラスフリットと、エチルセルロースとターピネオールを主成分とする有機ビヒクルとを、3ロールミルを用いて混練し、種々の負特性抵抗体用抵抗ペーストを作製して、実施例1〜8、および比較例1および2とした。作製した抵抗ペーストの配合組成を、それぞれ表3に示す。   A ruthenium niobium-containing composite oxide powder shown in Table 1, a glass frit shown in Table 2, and an organic vehicle mainly composed of ethyl cellulose and terpineol were kneaded using a three-roll mill, and various resistances for negative characteristic resistors. The paste was produced and it was set as Examples 1-8 and Comparative Examples 1 and 2. Table 3 shows the composition of the prepared resistance paste.

Figure 2018198259
Figure 2018198259

作製した抵抗ペーストを、あらかじめアルミナ基板上に1.0mm間隔で形成したAg電極間に、幅1.0mmでスクリーン印刷した後、150℃で10分間乾燥し、その後、ピーク温度850℃、ピーク時間9分となるように設定したベルト炉を用いて、焼成した。抵抗ペーストの厚さを調整することにより、得られる負特性サーミスタにおける、厚膜負特性抵抗体の膜厚を調整した。その結果、厚膜負特性抵抗体の平均膜厚は、約7μmであった。   The produced resistance paste was screen-printed with a width of 1.0 mm between Ag electrodes previously formed on an alumina substrate at intervals of 1.0 mm, then dried at 150 ° C. for 10 minutes, and then a peak temperature of 850 ° C. and a peak time. Firing was performed using a belt furnace set to 9 minutes. By adjusting the thickness of the resistance paste, the thickness of the thick film negative characteristic resistor in the obtained negative characteristic thermistor was adjusted. As a result, the average film thickness of the thick film negative characteristic resistor was about 7 μm.

得られた負特性サーミスタを構成する厚膜負特性抵抗体について、実施例1〜8、および比較例1および2についてそれぞれ、その膜厚および抵抗値を測定して、焼成膜厚を7μmとした換算面積抵抗値、抵抗値のばらつき、C−TCRおよびH−TCRを算出した。   About the thick film negative characteristic resistor which comprises the obtained negative characteristic thermistor, about Examples 1-8 and Comparative Examples 1 and 2, the film thickness and resistance value were measured, respectively, and the baking film thickness was 7 micrometers. The converted area resistance value, variation in resistance value, C-TCR and H-TCR were calculated.

以下、それぞれの測定方法および算出方法に関して説明する。   Hereinafter, each measurement method and calculation method will be described.

膜厚は、触針式の表面粗さ・輪郭形状測定機を用いて測定し、それぞれ5個の厚膜負特性抵抗体の膜厚測定値の平均値を「実測膜厚」とし、下記換算面積抵抗値の算出に用いた。   The film thickness was measured using a stylus type surface roughness / contour shape measuring instrument, and the average value of the film thickness measurement values of each of the five thick film negative characteristic resistors was taken as the “measured film thickness” and converted as follows: It used for calculation of sheet resistance.

抵抗値は、四端子法により測定し、25個の厚膜負特性抵抗体の抵抗値の実測値を用いて、抵抗値のばらつきを算出した。さらに、25個の厚膜負特性抵抗体の抵抗値の実測値の平均値を「実測抵抗値」とし、下記換算面積抵抗値の算出に用いた。   The resistance value was measured by the four-terminal method, and the variation of the resistance value was calculated using the measured value of the resistance value of the 25 thick film negative characteristic resistors. Furthermore, the average value of the measured values of the resistance values of the 25 thick film negative characteristic resistors was defined as the “measured resistance value”, which was used for the calculation of the following converted area resistance value.

換算面積抵抗値は、試料ごとに算出した「実測膜厚」と「実測抵抗値」を用いて、換算膜厚を7μmとした場合の値を、下記の式(1)に示す計算式によってそれぞれ算出した。
換算面積抵抗値(kΩ)=実測抵抗値×(実測膜厚/換算膜厚)・・・(1)
The converted area resistance value is the value when the converted film thickness is 7 μm using the “measured film thickness” and “measured resistance value” calculated for each sample, according to the calculation formula shown in the following formula (1). Calculated.
Converted area resistance value (kΩ) = actual resistance value × (actual film thickness / converted film thickness) (1)

抵抗値のばらつきは、25個の厚膜負特性抵抗体の抵抗値の標準偏差を平均値で除した値を用いた。   For the variation in resistance value, a value obtained by dividing the standard deviation of the resistance values of the 25 thick film negative characteristic resistors by the average value was used.

抵抗温度係数(C−TCR、H−TCR)は、厚膜負特性抵抗体を、−55℃、25℃、125℃にそれぞれ15分保持してからその抵抗値を測定し、それぞれの抵抗値をR−55、R25、R125としたときに、下記の式(2)および式(3)に示す計算式によって算出した値を用い、それぞれ5個の厚膜負特性抵抗体から算出した値の平均値を用いた。
C−TCR(ppm/℃)=[(R−55−R25)/R25]/(−80)×10・・・(2)
H−TCR(ppm/℃)=[(R125−R25)/R25]/(100)×10・・・(3)
The temperature coefficient of resistance (C-TCR, H-TCR) is determined by measuring the resistance value after holding the thick film negative characteristic resistor at −55 ° C., 25 ° C. and 125 ° C. for 15 minutes, respectively. Was calculated from five thick film negative characteristic resistors, using values calculated by the following formulas (2) and (3) when R is R- 55 , R 25 , and R 125 . The average value was used.
C-TCR (ppm / ° C.) = [(R −55 −R 25 ) / R 25 ] / (− 80) × 10 6 (2)
H-TCR (ppm / ° C.) = [(R 125 −R 25 ) / R 25 ] / (100) × 10 6 (3)

上記算出方法により得られたそれぞれの試料の、換算面積抵抗値、抵抗値のばらつき、および、抵抗温度係数(C−TCR、H−TCR)の値を、表4に示す。   Table 4 shows the converted area resistance value, variation in resistance value, and resistance temperature coefficient (C-TCR, H-TCR) value of each sample obtained by the above calculation method.

Figure 2018198259
Figure 2018198259

ガラス成分のみ異なる、実施例1と実施例2、実施例3と実施例4、実施例5と実施例6、実施例7と実施例8をそれぞれ比較すると、いずれも良好な抵抗値のばらつきと抵抗温度係数を有しており、特にガラスにおけるBの含有量が好適範囲内であるガラスBを用いた実施例2、実施例4、実施例6、および実施例8の方が、抵抗温度係数の値がよりマイナスに大きくなっており、負特性サーミスタとしてより好ましいサーミスタ特性を示していることが理解される。 When only Example 1 and Example 2, Example 3 and Example 4, Example 5 and Example 6, Example 7 and Example 8 are compared, respectively, only the glass component is different, Example 2, Example 4, Example 6, and Example 8 using glass B, which has a temperature coefficient of resistance and in particular the content of B 2 O 3 in the glass is within the preferred range, It can be understood that the value of the temperature coefficient of resistance is more negative, indicating a more preferable thermistor characteristic as a negative characteristic thermistor.

これに対し、比較例1は、Nbの含有量が、Nb:Ruのモル比で2:98(Nbの含有比率が、2モル%)である、ルテニウムニオブ含有複合酸化物粉末を用いた例である。比較例1では、抵抗温度係数のマイナス方向への値が小さくなってしまい、十分なサーミスタ特性を得られているとはいえない。また、比較例2は、Nbの含有量が、Nb:Ruのモル比で30:70(Nbの含有比率が、30モル%)である、ルテニウムニオブ含有複合酸化物粉末を用いた例である。比較例2では、サーミスタの抵抗値のばらつきが大きくなってしまっているため、サーミスタを製造する際の歩留りが大きく低下してしまうという問題が生じることが理解される。   In contrast, Comparative Example 1 is an example using a ruthenium niobium-containing composite oxide powder in which the Nb content is 2:98 (Nb content ratio is 2 mol%) in the molar ratio of Nb: Ru. It is. In Comparative Example 1, the value of the resistance temperature coefficient in the negative direction becomes small, and it cannot be said that sufficient thermistor characteristics are obtained. Comparative Example 2 is an example using a ruthenium niobium-containing composite oxide powder in which the Nb content is 30:70 (the Nb content ratio is 30 mol%) in terms of the Nb: Ru molar ratio. . In Comparative Example 2, it is understood that since the variation in the resistance value of the thermistor is large, there arises a problem that the yield in manufacturing the thermistor is greatly reduced.

Claims (6)

導電性粒子とガラスフリットとを含有し、
前記導電性粒子は、一般式:BiRu2−xNb(0.06≦x≦0.50)で表されるルテニウムニオブ含有複合酸化物粉末からなり、かつ、
前記ガラスフリットにおけるPbの含有量が0.1質量%未満である、
負特性抵抗体用組成物。
Containing conductive particles and glass frit,
The conductive particles are composed of a ruthenium niobium-containing composite oxide powder represented by the general formula: Bi 2 Ru 2-x Nb x O 7 (0.06 ≦ x ≦ 0.50), and
The Pb content in the glass frit is less than 0.1% by mass.
Composition for negative characteristic resistor.
前記ガラスフリットが、SiO、B、Al、BaO、および、ZnOを含有する、Si−B−Al−Ba−Zn−O系ガラス粉末からなり、該ガラス粉末におけるBの含有量が、14質量%〜25質量%の範囲にある、請求項1に記載の負特性抵抗体用組成物。 The glass frit is made of Si—B—Al—Ba—Zn—O-based glass powder containing SiO 2 , B 2 O 3 , Al 2 O 3 , BaO, and ZnO, and B 2 in the glass powder. The composition for negative characteristic resistors according to claim 1, wherein the content of O 3 is in the range of 14% by mass to 25% by mass. 前記ルテニウムニオブ含有複合酸化物粉末と前記ガラスフリットとの質量比が、25:75〜65:35の範囲にある、請求項1または2に記載の負特性抵抗体用組成物。   The composition for negative characteristic resistors according to claim 1 or 2, wherein a mass ratio of the ruthenium niobium-containing composite oxide powder and the glass frit is in a range of 25:75 to 65:35. 有機ビヒクルと、該有機ビヒクル中に分散している負特性抵抗体用組成物とからなり、
該負特性抵抗体用組成物が請求項1〜3のいずれかに記載の負特性抵抗体用組成物である、
負特性抵抗体用抵抗ペースト。
An organic vehicle and a composition for negative characteristic resistor dispersed in the organic vehicle,
The composition for negative characteristic resistors is the composition for negative characteristic resistors according to any one of claims 1 to 3.
Resistance paste for negative characteristic resistors.
セラミック基板と、
該セラミック基板上に備えられた厚膜負特性抵抗体と、
を有し、
前記厚膜負特性抵抗体は、導電体成分と固結剤とからなり、前記導電体成分の組成が、一般式:BiRu2−xNb(0.06≦x≦0.50)で表され、かつ、前記固結剤におけるPbの含有量が0.1質量%未満である、
負特性サーミスタ。
A ceramic substrate;
A thick film negative characteristic resistor provided on the ceramic substrate;
Have
The thick film negative characteristic resistor includes a conductor component and a caking agent, and the composition of the conductor component is represented by a general formula: Bi 2 Ru 2-x Nb x O 7 (0.06 ≦ x ≦ 0. 50), and the content of Pb in the caking agent is less than 0.1% by mass,
Negative characteristic thermistor.
前記固結剤が、SiO、B、Al、BaO、および、ZnOを含有する、Si−B−Al−Ba−Zn−O系ガラスからなり、かつ、前記ガラスにおけるBの含有量が14質量%〜25質量%の範囲にある、請求項5に記載の負特性サーミスタ。 The caking agent is made of Si—B—Al—Ba—Zn—O-based glass containing SiO 2 , B 2 O 3 , Al 2 O 3 , BaO, and ZnO, and B in the glass The negative characteristic thermistor according to claim 5, wherein the content of 2 O 3 is in the range of 14% by mass to 25% by mass.
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