JP2018187064A - スリットランプ顕微鏡 - Google Patents

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Abstract

【課題】被検者に負担を与えることなく検査精度を向上させることができるスリットランプ顕微鏡を提供する。【解決手段】照明光を出力する光源を有し、前記照明光が開口部の面積を変更可能な光束制御部を通過することにより面積を制限した観察光を被検眼に照射する照明系と、前記観察光の被検眼からの戻り光を観察する観察系と、少なくとも前記照明系の作動を制御する制御部とを備えたスリットランプ顕微鏡であって、前記開口部の面積を検知するスリット開口面積検知部を有し、前記制御部は前記開口面積検知部により検知された開口面積に基づき光源の光度を制御する。【選択図】 図１

Description

本発明は、スリットランプ顕微鏡の改良に関する。
一般に、スリットランプ顕微鏡は、スリット光を用いて角膜の光切片を切り取ることにより角膜の断面の画像を取得する眼科装置として広く眼科検診に使用されている。
特許文献１に開示されているように、このような従来のスリットランプ顕微鏡は、照明光を出力する光源を有し、光源から出力された照明光が配置間隔が可変な一対のスリット刃を有するスリット部を介することにより形成された任意の幅のスリット光を被検眼に照射する照明系と、前記スリット光の被検眼からの戻り光を撮像素子に導く観察系と、前記照明系及び観察系の作動を制御する制御部とを備えている。
このようなスリットランプ顕微鏡を使用して被験眼の観察、診断を行う場合、スリット光を角膜に照射して角膜を観察するものであるが、事情に応じてより詳細な観察が必要とされる場合は、高い照度で角膜を照明することが要請される場合がある。
この場合、角膜に照射された光の一部は角膜において反射されるが、大部分の光は角膜を透過して眼底へ至ることとなるため、高い照度で角膜を照明した場合には、眼底への光傷害に対する安全値を超えてしまう場合がある。
従って、従来より、被験者に負担を与えることなく観察精度を向上させることが可能なスリットランプ顕微鏡が要請されていた。
特許公開第２０１４−１０８３３９号公報
本発明はこのような従来からの不具合を解決するためのものであって、その課題は、被験者に負担を与えることなく観察精度を向上させることができるスリットランプ顕微鏡を提供することにある。
上記課題達成のため、請求項１記載の発明にあっては、スリットランプ顕微鏡において、照明系の条件を検知する検知手段を有し、前記検知手段の検知結果に基づき、照明光源の光度を制御することを特徴とする。
請求項２記載の発明にあっては、前記照明系の条件は光源の光量であることを特徴とする。
請求項３記載の発明にあっては、照明光を出力する光源を有し、前記照明光が開口部の面積を変更可能な光束制御部を通過することにより面積が制限された観察光を被検眼に照射する照明系と、前記観察光の被検眼からの戻り光を観察する観察系と、少なくとも前記照明系の作動を制御する制御部とを備えたスリットランプ顕微鏡であって、前記開口部の面積を検知する開口面積検知部を有し、前記制御部は前記開口面積検知部により検知された開口面積に基づき光源の光度を制御することを特徴とする。
請求項４記載の発明にあっては、前記光束制御部はスリット部を有し、前記スリット部は少なくとも配置間隔が可変な一対のスリット刃を有し、前記スリット刃の間隔を検知可能に形成されていることを特徴とする。
請求項５記載の発明にあっては、前記光束制御部は視野絞り部を有し、複数の径の異なる開口を選択的に光軸上に配置することにより開口を通過する前記光束の径を可変とし、配置された開口を検知可能に形成されていることを特徴とする。
請求項６記載の発明にあっては、前記光束制御部は、スリット部と、前記スリット部の反光源側に設けられた視野絞り部とを備え、前記視野絞り部は、前記光束に対して直交する方向において回転可能に配置された円盤状のターレットにより形成され、前記開口は前記ターレット本体において同心円上に配置された複数の円形開口部と単一の湾曲涙滴状開口部とからなり、前記湾曲涙滴状開口部は、大径円弧端部と、前記大径円弧端部に同心円の円周方向に対向して配置された小径円弧端部と、前記大径円弧端部から前記小径円弧端部にかけて徐々に幅寸法が小さくなるように形成された湾曲輪郭部とにより形成され、前記湾曲涙滴状開口部は前記スリット部を通過した光束の幅を連続的に変更制御しうることを特徴とする。
請求項７記載の発明にあっては、検者によって前記スリット部の一対のスリット刃の配置間隔及び前記視野絞り部の開口径が操作設定された場合には、前記制御部は前記開口面積検知部により検知された前記一対のスリット刃の配置間隔及び前記視野絞り部の開口径に基づき前記光源の最大光度値を決定すると共に、前記光源の光度値は前記最大光度値以下に設定されるように構成されていることを特徴とする。
請求項８記載の発明にあっては、前記制御部は記憶部を有し、前記記憶部は、設定された一対のスリット刃の配置間隔幅及び視野絞り部の開口径からなる開口面積と、前記一対のスリット刃の配置間隔及び視野絞り部の開口径に対応した前記観察光が被検眼の眼底に照射された場合であっても眼底照度安全値を超えない適切な光源の最大光度値とからなるデータを格納しており、前記制御部は、前記記憶部のデータを参照して、前記開口面積検知部により検知されたスリット部のスリット幅及び視野絞り部の開口径に基づき前記光源の最大光度値を決定することを特徴とする。
請求項９記載の発明にあっては、前記開口面積検知部は、スリット操作部の操作量を検知することにより前記スリット幅値を取得することを特徴とする。
請求項１０記載の発明にあっては、前記開口面積検知部は、前記一対のスリット刃の移動量を検知することによりスリット幅値を検知することを特徴とする。
請求項１１記載の発明にあっては、前記開口面積検知部は、観察系に配置された撮像装置により取得された前眼部画像の開口像に基づき開口面積を検知することを特徴とする。
請求項１２記載の発明にあっては、前記開口面積検知部は、前記ターレットを駆動するステッピングモータのステップを計測することにより前記ターレットの開口部により形成される開口径を検知することを特徴とする。
請求項１３記載の発明にあっては、前記開口面積検知手段は、光検知部により前記ターレットの回転角度を検出することにより開口径を検知することを特徴とする。
従来、スリットランプ顕微鏡においては、光源の光度を電圧の高低のみにより制御していたが、光源の個体差や設置時の僅かな位置ズレによって角膜上の照度、眼底上の照度に差異が生じ、スリット部及び視野絞り部が開放された、被検者の眼底に対して最も悪い条件下で工場出荷時に眼底照度安全値を超えないように光源の光度を調整した場合であっても、事後的にユーザーが光源を交換した場合には交換後に眼底照度値との関係での調整はできないため、眼底照度の安全値を超えてしまう場合が発生したり、充分な照度が得られない虞があった。
しかしながら、請求項１及び２記載の発明にあっては、光源の光度を検知する検知手段を有し、検知手段の検知結果に基づき照明光源の光度を制御するように構成され、光度の調整を電圧等によりコントロールするのではなく、光源の光量をモニタして光度を制御するように構成されていることから、光源の劣化や光源の交換により眼底照度の安全値を超えてしまう事態を有効に防止することが可能となる。
また、従来は眼底照度を全ての条件で安全値以下に抑えるように光源の最大光度が均一に制限されていたため、例えば、スリット幅を狭め眼底照度が安全値に至る場合であっても光源の光度を上昇させることができず、観察部位をより詳細に観察することができない、という不具合があった。
しかしながら、請求項３〜１３記載の発明にあっては、前記開口部の面積を検知する開口面積検知部を有し、前記制御部は前記開口面積検知部により検知された開口面積に基づき光源の光度を制御するように構成されていることから、スリット部及び視野絞り部により設定された開口面積に対応して最大光度を可変にすることができることから、検者は設定された開口面積に応じた最大光度の範囲内であれば自由に光源の光度を上げることができ、被験眼に対する光障害の可能性を排除しつつ、より精密な観察を行うことが可能となる。
本発明の一実施の形態に係るスリットランプ顕微鏡の全体構成を示す概念図である。 本発明の一実施の形態に係るスリットランプ顕微鏡の全体構成を示す概念図である。 本発明の一実施の形態に係るスリットランプ顕微鏡に装備される視野絞り部の構成を示す概念図である。 本発明の一実施の形態に係るスリットランプ顕微鏡に装備される視野絞り部の構成を示す概念図である。 本発明の一実施の形態に係るスリットランプ顕微鏡の全体構成を示すブロック図である。 本発明の一実施の形態に係るスリットランプ顕微鏡において、設定されたスリット幅及び視野絞り径に基づき光源の光度制御を行う場合のフローチャートを示す図である。
以下、添付図面に示す実施の形態に基づき、本発明に係るスリットランプ顕微鏡を詳細に説明する。
本実施の形態に係る装置光学系において、最も被検者側に位置するレンズ（対物レンズ）から被検者に向かう方向を前方向とし、その反対方向を後方向とする。また、前方向に直交する水平方向を左右方向とする。前後方向と左右方向の双方に直交する方向を上下方向とする。以上の方向の定義を前提として説明を行う。
［全体構成］
本実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の全体構成について図１及び図２を参照しながら説明する。スリットランプ顕微鏡１には、コンピュータ１００が接続されている。コンピュータ１００は、各種の制御処理や演算処理を行う。
なお、顕微鏡本体（光学系等を格納する筐体）とは別にコンピュータ１００を設ける代わりに、顕微鏡本体に同様のコンピュータを搭載した構成を適用することも可能である。
スリットランプ顕微鏡１はテーブル２上に載置される。なお、コンピュータ１００は他のテーブル上またはその他の場所に設置されていてもよい。基台４は、移動機構部３を介して水平方向に移動可能に構成されている。基台４は、操作ハンドル５を傾倒操作することにより移動される。操作ハンドル５を軸周りに回転することで支持部１５は基台４に対して上下に移動される。
基台４の上面には、観察系６および照明系８を支持する支持部１５が設けられている。また、本実施の形態にあっては、支持部１５には、図２に示す背景照明系２０が支持されている。
支持部１５には、観察系６を支持する支持アーム１６が左右方向に回動可能に取り付けられている。支持アーム１６の上部には、照明系８および背景照明系２０を支持する支持アーム１７が左右方向に回動可能に取り付けられている。支持アーム１６、１７は、それぞれ独立に同軸で回動可能とされている。
観察系６は、支持アーム１６を手動で回動させることで移動される。照明系８および背景照明系２０は、支持アーム１７を手動で回動させることで移動される。
なお、各支持アーム１６、１７は、電気的な機構によって回動されるように構成されていてもよい。その場合、各支持アーム１６、１７を回動させるための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構とが設けられる。アクチュエータは、たとえばステッピングモータ（パルスモータ）により構成される。伝達機構は、たとえば歯車の組み合わせやラック・アンド・ピニオンなどによって構成される。
照明系８は、被検眼Ｅに照明光を照射する。照明系８は、前述のように、回動軸を中心に左右方向に旋回することができる。それにより被検眼Ｅに対する照明光の照射方向が変更される。照明系８は上下方向にも旋回するように構成されていてもよく、照明光の仰角や俯角を変更できるように構成されていてもよい。
照明光の強度の変更は、基台４上に設けられた照明強度操作部１８を用いて行われる。なお、背景照明系２０により被検眼Ｅに照射される背景照明光の強度についても、照明強度操作部１８を用いて行えるように構成されていてもよい。
また、照明光や背景照明光の強度の変更を、他の操作部材により行えるように構成することも可能である。他の操作部材としては、スリットランプ顕微鏡１の筐体に設けられた操作部材や、コンピュータ１００に設けられた操作部材がある。
観察系６は、照明光（および背景照明光）の被検眼Ｅからの反射光を案内する左右一対の光学系を有する。この光学系は鏡筒本体９内に収納されている。鏡筒本体９の終端は接眼部９ａである。検者は接眼部９ａをのぞき込むことで被検眼Ｅを肉眼で観察する。
前述のように、支持アーム１６を回動させることにより鏡筒本体９を左右方向に回動させることができる。それにより被検眼Ｅに対する観察系６の向きを変更することができる。
なお、照明光の反射光には、たとえば散乱光のように被検眼Ｅを経由した各種の光が含まれるが、これら各種の光を含めて「反射光」と呼ぶ。
鏡筒本体９に対峙する位置には顎受け台１０が配置されている。顎受け台１０には、被検者の顔を安定配置させるための顎受部１０ａと額当て１０ｂが設けられている。
鏡筒本体９の側面には、観察倍率を変更するための観察倍率操作ノブ１１が配置されている。更に、鏡筒本体９には、被検眼Ｅを撮影するための撮像装置１３が接続されている。
撮像装置１３は撮像素子を含んで構成されている。
撮像素子は、光を検出して電気信号（画像信号）を出力する光電変換素子である。画像信号はコンピュータ１００に入力される。撮像素子としては、たとえばＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ）イメージセンサや、ＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ Ｍｅｔａｌ ＯｘｉｄｅＳｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）イメージセンサが用いられる。照明系８の下方位置には、照明系８から出力される照明光束を被検眼Ｅに向けて反射するミラー１２が配置されている。また、ミラー１２は、背景照明系２０から出力される背景照明光を被検眼Ｅに向けて反射する。
［光学系の構成］
スリットランプ顕微鏡１の光学系の構成について、図２を参照しながら説明する。スリットランプ顕微鏡１は、観察系６と、照明系８と、背景照明系２０とを有する。
〔観察系〕
観察系６は左右一対の光学系を備えている。左右の光学系は、ほぼ同様の構成を有する。操作者は、この左右の光学系により被検眼Ｅを双眼で観察することができる。なお、図２には、観察系６の左右の光学系の一方のみが示されている。符号Ｏ１は観察系６の光軸（観察光軸）である。
観察系６の左右の各光学系は、対物レンズ３１、変倍光学系３２、絞り３３、結像レンズ３５、プリズムユニット３６および接眼レンズ３７を有する。ビームスプリッタ３４は、左右の光学系の一方にまたは双方に設けられる。接眼レンズ３７は接岸部９ａ内に設けられている。符号Ｐは、結像レンズ３５により観察部位の像が結像する位置を示している。この像を接眼レンズ３７を介して観察する。符号Ｅｃは被検眼Ｅの角膜を、符号Ｅｐは虹彩を、符号Ｅｒは眼底をそれぞれ示している。符号Ｅｏは検者眼を示している。
変倍光学系３２は、複数（たとえば２枚）の変倍レンズ３２ａ、３２ｂを含んで構成される。この実施形態では、観察系６の光路に対して選択的に挿入可能な複数の変倍レンズ群が設けられている。
これら変倍レンズ群は、それぞれ異なる倍率を付与するように構成されている。観察系６の光路に配置された変倍レンズ群が変倍レンズ３２ａ、３２ｂとして用いられる。それにより、被検眼Ｅの接眼レンズによる観察像や撮影画像の倍率（画角）を変更できる。倍率の変更、即ち観察系６の光路に配置される変倍レンズ群の切り替えは、観察倍率操作ノブ１１を操作することにより行われる。また、図示しないスイッチ等を用いて電動で倍率を変更するように構成してもよい。
ビームスプリッタ３４は、観察光軸Ｏ１に沿って進む光を二分割する。ビームスプリッタ３４を透過した光は、結像レンズ３５、プリズムユニット３６および接眼レンズ３７を介して検者眼Ｅｏに導かれる。プリズムユニット３６は、２つの光学素子３６ａ、３６ｂを含み、像を反転すると共に検者の眼幅に合わせて左右観察光軸の幅を変更することができる。
他方、ビームスプリッタ３４により反射された光は、リレーレンズ４１およびミラー４２を介して、撮像装置１３の撮像素子４３に導かれる。撮像素子４３は、この反射光を検出して画像信号を生成する。
〔照明系〕
照明系８は、光源５１、リレーレンズ５２、照明絞り５６、コンデンサレンズ５３、スリット部５４、視野絞り部６０、および結像レンズ５５を有する。符号Ｏ２は、照明系８の光軸（照明光軸）を示す。
光源５１は照明光を出力する。なお、照明系８に複数の光源を設けてもよい。たとえば、定常光を出力する光源（ハロゲンランプ、ＬＥＤ等）と、フラッシュ光を出力する光源（キセノンランプ、ＬＥＤ等）の双方を光源５１として設けることができる。また、角膜観察用の光源と眼底観察用の光源とを別々に設けてもよい。光源５１は、可視光を出力する可視光源を少なくとも含む。光源５１への印加電力の大きさにより光度が変更可能に構成されている。
〔光束制御部〕
本実施の形態にあっては、照明系８は光源５１の照明光が通過する開口部７１の面積を変更可能な光束制御部７０を有しており、光束制御部７０を通過することにより面積を制限した観察光を被検眼Ｅに照射する。
即ち、本実施の形態にあっては光束制御部７０は、スリット部５４と、視野絞り部６０と、スリット部５４及び視野絞り部６０により形成される開口部７１の面積を検知する開口面積検知部５９とを有しており、制御部１０１は開口面積検知部により検知された開口面積に基づき光源５１の光度を制御する。
＜スリット部＞
スリット部５４は、スリット光（観察光）を生成するために用いられる。スリット部５４は、互いに所定間隔をおいて対向して配置された一対のスリット刃５４ａ、５４ｂを有する。これらスリット刃５４ａ、５４ｂの配置間隔（スリット幅）を変更することによりスリット光の幅が変更される。手動操作により任意にスリット刃５４ａ、５４ｂの配置間隔を調整することができる。この場合、スリット刃５４ａ、５４ｂを電動により開閉するように構成してもよい。
＜視野絞り部＞
図２、図３及び図４に示すように、視野絞り部６０は、スリット部５４の反光源５１側においてスリット部５４に近接して配置され、異なる大きさ及び形状の複数の開口６２を有し、回転中心６６を中心として回転動するターレット６１を有している。
図３及び図４に示すように、本実施の形態にあっては、ターレット６１は照明光軸０２に対して直交する方向において回転可能に配置された円盤状部材であって、開口６２は、同心円上に配置された４つの円形開口部６３ａ、６３ｂ、６３ｃ、６３ｄと単一の湾曲涙滴状開口部６４とからなる。円形開口部６３ａ、６３ｂ、６３ｃ、６３ｄは、それぞれ異なる径に形成され、時計回り方向に次第に大径となるように、互いに開口中心が等間隔となるように配置されている。
従って、ターレット６１を適宜回転させることにより任意の開口６２の中心を照明光軸０２に合わせることにより観察面の照明範囲を適宜制限することが可能となる。
最小の円形開口部６３ａが照明光軸０２上に配置された場合には、照明光束６５の径よりも最も小径の絞り光を形成することができ、最大の円形開口部６３ｄが照明光軸０２上に配置された場合には、照明光束６５の径と同一の最大径の絞り光を形成することができる。
また、前記湾曲涙滴状開口部６４は、大径円弧端部６４ａと、大径円弧端部６４ａに同心円の円周方向に対向して配置された小径円弧端部６４ｂと、前記大径円弧端部６４ａから小径円弧端部６４ｂにかけて徐々に幅寸法が小さくなるように形成された湾曲輪郭部６４ｃ、６４ｄとにより形成されており、図４に示すように、湾曲涙滴状開口部６４はスリット部５４を通過した光束の幅を連続的に変更制御しうるように構成されている。
図３に示すように、ターレット６１は、複数の開口６２の中心を照明光軸０２に合致させて配設されており、検者はターレット６１を適宜回転させることにより所望の開口６２を、スリット部５４を開放した状態で照明光軸０２に対して選択的に配置することにより、被観察部を円形に照明することができる。また、スリット部５４を、スリット刃５４ａ、５４ｂの間隔を狭めた状態で、視野絞り部６０と併せて使用することにより、被観察部を小判状に照明することもできる。
従って、ターレット６１を回転することにより、任意の大きさの開口６２を選択的に照明光軸０２上に配置することで、被観察面における照明範囲を制限し、スリット部５４のスリット刃５４ａ、５４ｂの幅と視野絞り部６０の開口６２の径を組み合わせることで幅と長さを制限した観察光を被観察面に照射することができる。
また、図４に示すように、湾曲涙滴状開口部６４に関しては、スリット部５４の間隔を狭めた状態で照明光軸０２上に配置し、ターレット６１を大径円弧端部６４ａと小径円弧端部６４ｂとの間において回動させることにより、スリット部５４により形成されるスリット間隔の長さＬを制限し、スリットの長さの絞りを連続的に行うことができる。
本実施の形態にあっては、ターレット６１は手動操作により回転駆動させるように構成されている。ターレット６１には、各円形開口部６３の中心が照明光軸０２に一致する位置に適宜構成のクリック部（図示せず）が設けられており、検者は、操作部を操作することにより、クリック部に合わせるようにしてターレット６１を回転操作することにより所望の円形開口部６３を照明光軸０２上に配置固定することができる。
湾曲涙滴状開口部６４にあっては、大径円弧端部６４ａ及び小径円弧端部６４ｂの中心が照明光軸０２に一致する位置にクリック部（図示せず）が設けられている一方、大径円弧端部６４ａと小径円弧端部６４ｂとの間においてはクリック部は設けられておらず、大径円弧端部６４ａと小径円弧端部６４ｂとの間の任意の位置においてターレット６１の回転を停止させることが可能である。従って、大径円弧端部６４ａと小径円弧端部６４ｂとの間の任意の位置において停止させて連続的にスリットの長さを絞ることができる。
また、ターレット６１は電動により回転するように構成してもよい。この場合には、ターレット６１を駆動するアクチュエータとしてのステッピングモータ及び適宜の駆動力伝達機構が設けられる。制御部１０１は、ステッピングモータのステップ数を計測することによりターレット６１の回転角度を光検知手段、例えば、フォトインタプラタにより検知するように構成する。
＜開口面積検知部＞
本実施の形態に係るスリットランプ顕微鏡１はスリット部５４のスリット刃５４ａ、５４ｂの配置間隔及び視野絞り部６０のターレット６１の回転角度を検知する検知手段を備えた開口面積検知部５９を有している。制御部１０１は開口面積検知部５９により検知されたスリット幅及びターレット６１の開口６２により形成される開口面積に基づき光源５１の最大光度値光度を決定する。
開口面積検知部５９は、スリット部５４のスリット刃５４ａ及びスリット刃５４ｂの幅及び視野絞り部６０の開口部６２の開口径を各々検出する。
スリット部５４の幅については、回転操作可能に形成されたスリット操作部としてのスリット開閉ノブ（図示せず）の回転量を、エンコーダにより検知して検知情報を制御部１０１に送信する。
この場合、開口面積検知部５９を、一対のスリット刃５４ａ、５４ｂの移動量適宜の検知手段により検知することによりスリット幅値を検知するように構成してもよい。例えば、スリット刃５４ａ、５４ｂを駆動するアクチュエータの駆動軸の回転数を検知することによりスリット刃５４ａ、５４ｂの移動量を計測することもできる。
視野絞り部６０に関しては、上記のように、複数の開口６２を有するターレット６１の回転角度を、手動操作による場合には光検知手段により、また電動操作の場合には適宜の検知手段によりステッピングモータのステップ数を計測することにより検出し、当該回転角度に対応した各開口部６３ａ、６３ｂ、６３ｃ、６３ｄ、６４を特定して開口径を得る。
その結果、開口面積検知部５９は、スリット部５４のスリット幅とターレット６１の回転角度から得られた視野絞り部６０の開口６２の開口径の組み合わせから、複合された開口面積を得ることができる。
また、開口面積検知部５９において、観察系６に配置された撮像装置４３により取得された前眼部画像の開口像に基づき開口面積を検知するように構成してもよい。この場合には、変倍系の倍率を検知してフィードバックすることが必要となる。
照明絞り５６は、その透光部のサイズを変更可能に構成されている。照明絞り５６は、特に眼底観察において有効である。たとえば、照明絞り５６には、角膜Ｅｃや水晶体による照明光の反射を低減させ、照明光の明るさを調整する等の用途がある。
〔背景照明系〕
背景照明光２０は、被検眼Ｅに背景照明光を照射する。背景照明光は、照明系８による被検眼Ｅに対する照明光の照射領域の周囲の領域に照射される。なお、背景照明光の照射領域は、少なくともこの周囲領域を含むものであればよい。たとえば、背景照明光の照射領域は、照明系８による照射領域の少なくとも一部と重複していてもよい。
背景照明系２０は、光源（背景光源）を含む。背景光源は、可視光を出力する可視光源を少なくとも含む。この可視光は、たとえば肉眼観察や撮影に用いられる。背景光源は、赤外光を出力する赤外光源を含んでいてもよい。この赤外光は、たとえばマイボーム腺の観察や撮影に用いられる。
背景照明系２０が可視光源と背景光源の双方を含む場合、これら光源はたとえば択一的に使用される。背景照明系２０は、背景光源から出力された光を集束させる１つ以上のレンズを含んでいてもよい。符号Ｏ３は、背景照明系２０の光軸（背景照明光軸）を示す。
背景光源から出力された光は、（上記レンズによって集光された後、）ミラー１２により反射されて被検眼Ｅに照射される。この背景照明光の照射領域は、照明系８による被検眼Ｅの照射領域の周囲の領域を含む。
［制御系の構成］
スリットランプ顕微鏡１の制御系について、図５を参照しながら説明する。
スリットランプ顕微鏡１の制御系は、制御部１０１を中心に構成されている。なお、制御系の構成の少なくとも一部がコンピュータ１００に含まれていてもよい。
〔制御部〕
制御部１０１は、スリットランプ顕微鏡１の各部を制御する。
制御部１０１は、観察系６の制御、照明系８の制御、背景照明系２０の制御を行う。観察系６の制御としては、変倍光学系３２の制御、絞り３３の制御、撮像素子４３の電荷蓄積時間、感度、フレームレート等の制御などがある。照明系８の制御としては、光源５１、光源光度検知部５８、光束制御部７０を構成するスリット部５４、視野絞り部６０及び開口面積検知部５９、照明絞り５６の制御などがある。背景照明系２０の制御としては、背景光源の制御などがある。
制御部１０１は、マイクロプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ等を含んで構成される。ＲＯＭやハードディスクドライブ等の記憶装置には、制御プログラムがあらかじめ記憶されている。制御部１０１の動作は、この制御プログラムとハードウェアとが協働することによって実現される。制御部１０１は、スリットランプ顕微鏡１の装置本体（たとえば基台４内）やコンピュータ１００に配置される。
〔表示部〕
表示部１０２は、制御部１０１の制御を受けて各種の情報を表示する。表示部１０２は、ＬＣＤ等のフラットパネルディスプレイなどの表示デバイスを含んで構成される。表示部１０２は、スリットランプ顕微鏡１の装置本体に設けられていてもよいし、コンピュータ１００に設けられていてもよい。
〔操作部〕
操作部１０３は、操作デバイスや入力デバイスを含んで構成される。操作部１０３には、スリットランプ顕微鏡１に設けられたボタンやスイッチ（たとえば操作ハンドル５、照明強度操作部１８等）や、コンピュータ１００に設けられた操作デバイス（マウス、キーボード等）が含まれる。また、操作部１０３は、トラックボール、操作パネル、スイッチ、ボタン、ダイアルなど、任意の操作デバイスや入力デバイスを含んでいてもよい。
図５では、表示部１０２と操作部１０３とを別々に表しているが、これらの少なくとも一部を一体的に構成することも可能である。その具体例として、タッチスクリーンを用いることができる。
〔光源光度検知部〕
光源５１の光度は印加電力にほぼ相関するため、印加電力を制限することで光源５１の光度を制御することもできるが、図２に示すように、本実施の形態に係るスリットランプ顕微鏡１においては、光源５１の光度を測定検知する光源光度検知部５８が設けられている。
この光源光度検知部５８は、光源５１の光度を直接モニタするように構成されており、このように光量を直接にモニタすることで光源のバラツキや、光源の劣化による光量低下が起きた場合であっても、適切な照度のスリット像を投影することができる。
この場合、光源光度検知部５８をフォトディテクターにより構成し、光源５１の近傍に配置し、光源５１の散乱光成分を受光するように構成してもよく、また、光源５１の近傍に光ファイバの一方端部を配置し、光ファイバの端面から光源の散乱光を取り込み、他方端部近傍にフォトディテクターを配置しても良い。さらに、光路０２中に光束の一部を反射するミラーを配置し、反射光をフォトディテクターにより受光するようにしても良い。
〔開口部の開口面積による光源の光度制御〕
以下に、本発明における「スリット幅及び視野絞り径に基づく光源の最大光度値制御」の趣旨及び意義について説明する。
光源５１からの照明光はコンデンサレンズで５３により集光され、スリット部５４と視野絞り部６０の組み合わされた開口部７１を透過して結像レンズ５５からミラー１２の近傍に光源像を結像する。
光源像はミラー１２を介して被検眼Ｅの眼底Ｅｒ付近に結像する。前記開口部７１の像は結像レンズ５５によりミラー１２を介して観察部位に結像する。角膜Ｅｃを観察する場合は角膜Ｅｃがこの観察位置に合致するようにアライメントを行う。
光源５１の光度が一定の場合には開口部７１の開口の面積を変化させた場合であっても角膜Ｅｃ上に結像する開口像の照度は変化しない。しかしながら、眼底Ｅｒ上の光源像の照度は開口面積が狭くなると低くなり、開口面積が広がると高くなる。
開口部７１の開口面積はスリット部５４の幅と視野絞り部６０の径の組み合わせからなり、観察部位や観察方法によって検者が任意に設定する。観察部位をよりよく、詳細に観察しようとする場合、光源５１の光度を上げ（明るくして）被検部上の開口像の照度を高めて観察することとなる。
この時、照射した光束のほとんどは角膜Ｅｃを透過して眼底Ｅｒに達し、眼底Ｅｒを照明してしまうため、従来は、どのような照明条件であっても眼底照度の安全値を超えないよう光量ボリュウムに制限がかけられているか、又は警告を報知するように構成されたものも存在した。
しかしながら、光源５１の光度が一定であっても開口部７１の開口面積を変更すると眼底照度は変化するため、ある開口面積の時、眼底照度が安全値の上限に達していた場合であっても、開口面積を狭めれば眼底照度は安全値に対して余裕を持つことができる。この場合に、更に角膜Ｅｃ上を明るく観察したいという場合には光源５１の光度を上げて角膜Ｅｃ上の開口像の照度を上げることができる。逆に、開口面積を拡大した場合は眼底照度が安全値を超えてしまうため、光源５１の光度を下げなければならない。
従来においては、開口を最大に開いた状態で眼底Ｅｒの照度を安全値以下に抑えるように光源５１の光度を設定していたため、スリット部５４を狭めた状態で眼底安全値に対して余裕がある状態であっても明るく観察することができなかった。
そこで、本件発明にあってはスリット部５４の幅及び視野絞り６０の径を各々検出して、検出され複合された開口面積に応じて光源５１の最大光度を可変にするものである。
本実施の形態に係るスリットランプ顕微鏡１にあっては、検者によってスリット幅及び視野絞り径が操作設定された場合には、制御部は開口面積検知部５９により検知されたスリット部５４のスリット幅と視野絞り６０において選択された視野絞り径に基づき複合して得られる開口部７１の開口面積を求め、前記光源５１の最大光度値を設定すると共に、光源５１の光度値は最大光度値を超えては設定できないように構成されている。
図５に示すように、制御部１０１は記憶部１０１ａを有し、記憶部１０１ａは、検者が設定したスリット幅の値と視野絞り径とにより、開口面積に対応した観察光が被検眼Ｅの眼底Ｅｒに照射された場合であっても被験眼眼底に対する安全照度を超えない適切な光源の最大光度値からなるデータをあらかじめ格納している。
制御部１０１は、開口面積検知部５９により検知された、スリット幅及び選択された視野絞り径からなる開口面積に基づき、記憶部１０１ａのデータを参照して光源５１の最大光度値を決定する。
従って、検者は、診察において、必要に応じ適宜スリット部５４の開閉及び視野絞り部６０の開口径を操作して観察を行うが、検者により設定されたスリット部５４の幅と視野絞り部６０の開口径からなる開口面積に応じて、制御部１０１により開口面積値に対応する光源５１の最大光度値が決定され、検者は、最大光度値以下であれば適宜、光源５１の光度を操作変更して必要な観察、検査を行うことができ、かつ、決定された開口面積値に対応する最大光度値以上には光源５１の光度を上げることはできないように構成されている。
検者が最大光度値以上に光源５１の光度を設定しようとした場合には、「最大光度値に達している」旨の警告を表示部１０２に表示するか、又は音声により検者に警告してもよい。
〔作動説明〕
本実施の形態に係るスリットランプ顕微鏡１を使用して検眼するに際し、開口面積に基づく光源５１の光度制御を行う場合の手順について図６のフローチャートを参照しながら説明する。
操作者は、スリットランプ顕微鏡１を使用するに際し、検眼の個別具体的事情に応じてスリット部５４の幅、及び視野絞り部６０の視野絞り径を設定または変更する（Ｓ１）。
次に、開口面積検知部５９は、設定または変更されたスリット幅、及び視野絞り径を検知し、検知信号を制御部１０１へ送る（Ｓ２）。
次に、制御部１０１はスリット幅と視野絞り径を複合した開口面積を求め、記憶部１０１ａに格納されている、設定された開口面積と、当該開口面積に対応した前記観察光が被検眼の眼底に照射された場合であっても眼底照度の安全値を超えない適切な光源の最大光度値とからなるデータテーブルから、上記得られた開口面積に対応する光源５１の最大光度値を取得する（Ｓ３）。
次に、制御部１０１は光源光度検知部５８により光源５１の、設定または変更された実際の光度を検知し、光度を取得する（Ｓ４）。そして、制御部１０１は、Ｓ４において検知、取得された光源５１の光度がＳ３において記憶部１０１ａから取得された最大光度値以下であるか否か、を判断する（Ｓ５）。
制御部１０１は、光源５１の光度がＳ３において記憶部１０１ａから取得された最大光度値以下であると判断した場合には、検者により設定または変更された光度を許容し決定して制御を終了する（Ｓ６）。
一方、制御部１０１は、光源５１の光度がＳ３において記憶部１０１ａから取得された最大光度値以下ではない、と判断した場合には、光源５１の光度を、設定または変更された当該開口面積に対応する光源の最大光度値に設定して制御を終了する。
本実施の形態にあっては、背景照明系２０が設けられている場合を例に説明したが、上記実施の形態に限定されず、背景照明系２０が設けられていなくてもよい。
本発明はスリットランプ顕微鏡に係ることから、広く産業上の利用可能性を有している。
０１ 観察光軸
０２ 照明光軸
０３ 背景照明光軸
１ スリットランプ顕微鏡
２ テーブル
３ 移動機構部
４ 基台
５ 操作ハンドル
６ 観察系
８ 照明系
９ 鏡筒本体
９ａ 接眼部
１０ 顎受け台
１０ａ 顎受け部
１０ｂ 額当て
１１ 観察倍率操作ノブ
１２ 反射ミラー
１５ 支持部
１６ 支持アーム
１７ 支持アーム
１８ 照明強度操作部
２０ 背景照明系
３１ 対物レンズ
３２ 変倍光学系
３３ 絞り
３４ ビームスプリッタ
３５ リレーレンズ
３６ プリズム
３６ａ 光学素子
３６ｂ 光学素子
３７ 接眼レンズ
４１ リレーレンズ
４２ ミラー
４３ 撮像素子
５１ 光源
５２ リレーレンズ
５３ コンデンサレンズ
５４ スリット部（光束制御部）
５４ａ スリット刃
５４ｂ スリット刃
５５ コンデンサレンズ
５６ 照明絞り
５８ 光源光度検知部
５９ 開口面積検知部（光束制御部）
６０ 視野絞り部（光束制御部）
６１ ターレット
６２ 開口
６３ａ 円形開口部
６３ｂ 円形開口部
６３ｃ 円形開口部
６３ｄ 円形開口部
６４ 湾曲涙滴状開口部
６５ 照明光束
７０ 光束制御部
７１ 開口部
１００ コンピュータ
１０１ 制御部
１０１ａ 記憶部
１０２ 表示部
１０３ 操作部
Ｅ 被検眼
Ｅｃ 角膜
Ｅｐ 虹彩
Ｅｒ 眼底
Ｐ 光の結像位置
Ｌ スリット間隔の長さ
本発明は、スリットランプ顕微鏡の改良に関する。
一般に、スリットランプ顕微鏡は、スリット光を用いて角膜の光切片を切り取ることにより角膜の断面の画像を取得する眼科装置として広く眼科検診に使用されている。
特許文献１に開示されているように、このような従来のスリットランプ顕微鏡は、照明光を出力する光源を有し、光源から出力された照明光が配置間隔が可変な一対のスリット刃を有するスリット部を介することにより形成された任意の幅のスリット光を被検眼に照射する照明系と、前記スリット光の被検眼からの戻り光を撮像素子に導く観察系と、前記照明系及び観察系の作動を制御する制御部とを備えている。
このようなスリットランプ顕微鏡を使用して被検眼の観察、診断を行う場合、スリット光を角膜に照射して角膜を観察するものであるが、事情に応じてより詳細な観察が必要とされる場合は、高い照度で角膜を照明することが要請される場合がある。
この場合、角膜に照射された光の一部は角膜において反射されるが、大部分の光は角膜を透過して眼底へ至ることとなるため、高い照度で角膜を照明した場合には、眼底への光障害に対する安全値を超えてしまう場合がある。
従って、従来より、被検者に負担を与えることなく観察精度を向上させることが可能なスリットランプ顕微鏡が要請されていた。
特許公開第２０１４−１０８３３９号公報
本発明はこのような従来からの不具合を解決するためのものであって、その課題は、被検者に負担を与えることなく観察精度を向上させることができるスリットランプ顕微鏡を提供することにある。
上記課題達成のため、請求項１記載の発明にあっては、スリットランプ顕微鏡において、照明系の条件を検知する検知手段を有し、前記検知手段の検知結果に基づき、照明光源の光度を制御することを特徴とする。
請求項２記載の発明にあっては、前記照明系の条件は光源の光量であることを特徴とする。
請求項３記載の発明にあっては、照明光を出力する光源を有し、前記照明光が開口部の面積を変更可能な光束制御部を通過することにより面積が制限された観察光を被検眼に照射する照明系と、前記観察光の被検眼からの戻り光を観察する観察系と、少なくとも前記照明系の作動を制御する制御部とを備えたスリットランプ顕微鏡であって、前記開口部の面積を検知する開口面積検知部を有し、前記制御部は前記開口面積検知部により検知された開口面積に基づき光源の光度を制御することを特徴とする。
請求項４記載の発明にあっては、前記光束制御部はスリット部を有し、前記スリット部は少なくとも配置間隔が可変な一対のスリット刃を有し、前記スリット刃の間隔を検知可能に形成されていることを特徴とする。
請求項５記載の発明にあっては、前記光束制御部は視野絞り部を有し、複数の径の異なる開口を選択的に光軸上に配置することにより開口を通過する前記光束の径を可変とし、配置された開口を検知可能に形成されていることを特徴とする。
請求項６記載の発明にあっては、前記光束制御部は、スリット部と、前記スリット部の反光源側に設けられた視野絞り部とを備え、前記視野絞り部は、前記光束に対して直交する方向において回転可能に配置された円盤状のターレットにより形成され、前記開口は前記ターレット本体において同心円上に配置された複数の円形開口部と単一の湾曲涙滴状開口部とからなり、前記湾曲涙滴状開口部は、大径円弧端部と、前記大径円弧端部に同心円の円周方向に対向して配置された小径円弧端部と、前記大径円弧端部から前記小径円弧端部にかけて徐々に幅寸法が小さくなるように形成された湾曲輪郭部とにより形成され、前記湾曲涙滴状開口部は前記スリット部を通過した光束の幅を連続的に変更制御しうることを特徴とする。
請求項７記載の発明にあっては、検者によって前記スリット部の一対のスリット刃の配置間隔及び前記視野絞り部の開口径が操作設定された場合には、前記制御部は前記開口面積検知部により検知された前記一対のスリット刃の配置間隔及び前記視野絞り部の開口径に基づき前記光源の最大光度値を決定すると共に、前記光源の光度値は前記最大光度値以下に設定されるように構成されていることを特徴とする。
請求項８記載の発明にあっては、前記制御部は記憶部を有し、前記記憶部は、設定された一対のスリット刃の配置間隔幅及び視野絞り部の開口径からなる開口面積と、前記一対のスリット刃の配置間隔及び視野絞り部の開口径に対応した前記観察光が被検眼の眼底に照射された場合であっても眼底照度安全値を超えない適切な光源の最大光度値とからなるデータを格納しており、前記制御部は、前記記憶部のデータを参照して、前記開口面積検知部により検知されたスリット部のスリット幅及び視野絞り部の開口径に基づき前記光源の最大光度値を決定することを特徴とする。
請求項９記載の発明にあっては、前記開口面積検知部は、スリット操作部の操作量を検知することにより前記スリット幅値を取得することを特徴とする。
請求項１０記載の発明にあっては、前記開口面積検知部は、前記一対のスリット刃の移動量を検知することによりスリット幅値を検知することを特徴とする。
請求項１１記載の発明にあっては、前記開口面積検知部は、観察系に配置された撮像装置により取得された前眼部画像の開口像に基づき開口面積を検知することを特徴とする。
請求項１２記載の発明にあっては、前記開口面積検知部は、前記ターレットを駆動するステッピングモータのステップを計測することにより前記ターレットの開口部により形成される開口径を検知することを特徴とする。
請求項１３記載の発明にあっては、前記開口面積検知手段は、光検知部により前記ターレットの回転角度を検出することにより開口径を検知することを特徴とする。
従来、スリットランプ顕微鏡においては、光源の光度を電圧の高低のみにより制御していたが、光源の個体差や設置時の僅かな位置ズレによって角膜上の照度、眼底上の照度に差異が生じ、スリット部及び視野絞り部が開放された、被検者の眼底に対して最も悪い条件下で工場出荷時に眼底照度安全値を超えないように光源の光度を調整した場合であっても、事後的にユーザーが光源を交換した場合には交換後に眼底照度値との関係での調整はできないため、眼底照度の安全値を超えてしまう場合が発生したり、充分な照度が得られない虞があった。
しかしながら、請求項１及び２記載の発明にあっては、光源の光度を検知する検知手段を有し、検知手段の検知結果に基づき照明光源の光度を制御するように構成され、光度の調整を電圧等によりコントロールするのではなく、光源の光量をモニタして光度を制御するように構成されていることから、光源の劣化や光源の交換により眼底照度の安全値を超えてしまう事態を有効に防止することが可能となる。
また、従来は眼底照度を全ての条件で安全値以下に抑えるように光源の最大光度が均一に制限されていたため、例えば、スリット幅を狭め眼底照度が安全値に至る場合であっても光源の光度を上昇させることができず、観察部位をより詳細に観察することができない、という不具合があった。
しかしながら、請求項３〜１３記載の発明にあっては、前記開口部の面積を検知する開口面積検知部を有し、前記制御部は前記開口面積検知部により検知された開口面積に基づき光源の光度を制御するように構成されていることから、スリット部及び視野絞り部により設定された開口面積に対応して最大光度を可変にすることができることから、検者は設定された開口面積に応じた最大光度の範囲内であれば自由に光源の光度を上げることができ、被検眼に対する光障害の可能性を排除しつつ、より精密な観察を行うことが可能となる。
本発明の一実施の形態に係るスリットランプ顕微鏡の全体構成を示す概念図である。 本発明の一実施の形態に係るスリットランプ顕微鏡の全体構成を示す概念図である。 本発明の一実施の形態に係るスリットランプ顕微鏡に装備される視野絞り部の構成を示す概念図である。 本発明の一実施の形態に係るスリットランプ顕微鏡に装備される視野絞り部の構成を示す概念図である。 本発明の一実施の形態に係るスリットランプ顕微鏡の全体構成を示すブロック図である。 本発明の一実施の形態に係るスリットランプ顕微鏡において、設定されたスリット幅及び視野絞り径に基づき光源の光度制御を行う場合のフローチャートを示す図である。
以下、添付図面に示す実施の形態に基づき、本発明に係るスリットランプ顕微鏡を詳細に説明する。
本実施の形態に係る装置光学系において、最も被検者側に位置するレンズ（対物レンズ）から被検者に向かう方向を前方向とし、その反対方向を後方向とする。また、前方向に直交する水平方向を左右方向とする。前後方向と左右方向の双方に直交する方向を上下方向とする。以上の方向の定義を前提として説明を行う。
［全体構成］
本実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の全体構成について図１及び図２を参照しながら説明する。スリットランプ顕微鏡１には、コンピュータ１００が接続されている。コンピュータ１００は、各種の制御処理や演算処理を行う。
なお、顕微鏡本体（光学系等を格納する筐体）とは別にコンピュータ１００を設ける代わりに、顕微鏡本体に同様のコンピュータを搭載した構成を適用することも可能である。
スリットランプ顕微鏡１はテーブル２上に載置される。なお、コンピュータ１００は他のテーブル上またはその他の場所に設置されていてもよい。基台４は、移動機構部３を介して水平方向に移動可能に構成されている。基台４は、操作ハンドル５を傾倒操作することにより移動される。操作ハンドル５を軸周りに回転することで支持部１５は基台４に対して上下に移動される。
基台４の上面には、観察系６および照明系８を支持する支持部１５が設けられている。また、本実施の形態にあっては、支持部１５には、図２に示す背景照明系２０が支持されている。
支持部１５には、観察系６を支持する支持アーム１６が左右方向に回動可能に取り付けられている。支持アーム１６の上部には、照明系８および背景照明系２０を支持する支持アーム１７が左右方向に回動可能に取り付けられている。支持アーム１６、１７は、それぞれ独立に同軸で回動可能とされている。
観察系６は、支持アーム１６を手動で回動させることで移動される。照明系８および背景照明系２０は、支持アーム１７を手動で回動させることで移動される。
なお、各支持アーム１６、１７は、電気的な機構によって回動されるように構成されていてもよい。その場合、各支持アーム１６、１７を回動させるための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構とが設けられる。アクチュエータは、たとえばステッピングモータ（パルスモータ）により構成される。伝達機構は、たとえば歯車の組み合わせやラック・アンド・ピニオンなどによって構成される。
照明系８は、被検眼Ｅに照明光を照射する。照明系８は、前述のように、回動軸を中心に左右方向に旋回することができる。それにより被検眼Ｅに対する照明光の照射方向が変更される。照明系８は上下方向にも旋回するように構成されていてもよく、照明光の仰角や俯角を変更できるように構成されていてもよい。
照明光の強度の変更は、基台４上に設けられた照明強度操作部１８を用いて行われる。なお、背景照明系２０により被検眼Ｅに照射される背景照明光の強度についても、照明強度操作部１８を用いて行えるように構成されていてもよい。
また、照明光や背景照明光の強度の変更を、他の操作部材により行えるように構成することも可能である。他の操作部材としては、スリットランプ顕微鏡１の筐体に設けられた操作部材や、コンピュータ１００に設けられた操作部材がある。
観察系６は、照明光（および背景照明光）の被検眼Ｅからの反射光を案内する左右一対の光学系を有する。この光学系は鏡筒本体９内に収納されている。鏡筒本体９の終端は接眼部９ａである。検者は接眼部９ａをのぞき込むことで被検眼Ｅを肉眼で観察する。
前述のように、支持アーム１６を回動させることにより鏡筒本体９を左右方向に回動させることができる。それにより被検眼Ｅに対する観察系６の向きを変更することができる。
なお、照明光の反射光には、たとえば散乱光のように被検眼Ｅを経由した各種の光が含まれるが、これら各種の光を含めて「反射光」と呼ぶ。
鏡筒本体９に対峙する位置には顎受け台１０が配置されている。顎受け台１０には、被検者の顔を安定配置させるための顎受部１０ａと額当て１０ｂが設けられている。
鏡筒本体９の側面には、観察倍率を変更するための観察倍率操作ノブ１１が配置されている。更に、鏡筒本体９には、被検眼Ｅを撮影するための撮像装置１３が接続されている。
撮像装置１３は撮像素子を含んで構成されている。
撮像素子は、光を検出して電気信号（画像信号）を出力する光電変換素子である。画像信号はコンピュータ１００に入力される。撮像素子としては、たとえばＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ）イメージセンサや、ＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ Ｍｅｔａｌ Ｏｘｉｄｅ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）イメージセンサが用いられる。照明系８の下方位置には、照明系８から出力される照明光束を被検眼Ｅに向けて反射するミラー１２が配置されている。また、ミラー１２は、背景照明系２０から出力される背景照明光を被検眼Ｅに向けて反射する。
［光学系の構成］
スリットランプ顕微鏡１の光学系の構成について、図２を参照しながら説明する。スリットランプ顕微鏡１は、観察系６と、照明系８と、背景照明系２０とを有する。
〔観察系〕
観察系６は左右一対の光学系を備えている。左右の光学系は、ほぼ同様の構成を有する。操作者は、この左右の光学系により被検眼Ｅを双眼で観察することができる。なお、図２には、観察系６の左右の光学系の一方のみが示されている。符号Ｏ１は観察系６の光軸（観察光軸）である。
観察系６の左右の各光学系は、対物レンズ３１、変倍光学系３２、絞り３３、結像レンズ３５、プリズムユニット３６および接眼レンズ３７を有する。ビームスプリッタ３４は、左右の光学系の一方にまたは双方に設けられる。接眼レンズ３７は接岸部９ａ内に設けられている。符号Ｐは、結像レンズ３５により観察部位の像が結像する位置を示している。この像を接眼レンズ３７を介して観察する。符号Ｅｃは被検眼Ｅの角膜を、符号Ｅｐは虹彩を、符号Ｅｒは眼底をそれぞれ示している。符号Ｅｏは検者眼を示している。
変倍光学系３２は、複数（たとえば２枚）の変倍レンズ３２ａ、３２ｂを含んで構成される。この実施形態では、観察系６の光路に対して選択的に挿入可能な複数の変倍レンズ群が設けられている。
これら変倍レンズ群は、それぞれ異なる倍率を付与するように構成されている。観察系６の光路に配置された変倍レンズ群が変倍レンズ３２ａ、３２ｂとして用いられる。それにより、被検眼Ｅの接眼レンズによる観察像や撮影画像の倍率（画角）を変更できる。倍率の変更、即ち観察系６の光路に配置される変倍レンズ群の切り替えは、観察倍率操作ノブ１１を操作することにより行われる。また、図示しないスイッチ等を用いて電動で倍率を変更するように構成してもよい。
ビームスプリッタ３４は、観察光軸Ｏ１に沿って進む光を二分割する。ビームスプリッタ３４を透過した光は、結像レンズ３５、プリズムユニット３６および接眼レンズ３７を介して検者眼Ｅｏに導かれる。プリズムユニット３６は、２つの光学素子３６ａ、３６ｂを含み、像を反転すると共に検者の眼幅に合わせて左右観察光軸の幅を変更することができる。
他方、ビームスプリッタ３４により反射された光は、リレーレンズ４１およびミラー４２を介して、撮像装置１３の撮像素子４３に導かれる。撮像素子４３は、この反射光を検出して画像信号を生成する。
〔照明系〕
照明系８は、光源５１、リレーレンズ５２、照明絞り５６、コンデンサレンズ５３、スリット部５４、視野絞り部６０、および結像レンズ５５を有する。符号Ｏ２は、照明系８の光軸（照明光軸）を示す。
光源５１は照明光を出力する。なお、照明系８に複数の光源を設けてもよい。たとえば、定常光を出力する光源（ハロゲンランプ、ＬＥＤ等）と、フラッシュ光を出力する光源（キセノンランプ、ＬＥＤ等）の双方を光源５１として設けることができる。また、角膜観察用の光源と眼底観察用の光源とを別々に設けてもよい。光源５１は、可視光を出力する可視光源を少なくとも含む。光源５１への印加電力の大きさにより光度が変更可能に構成されている。
〔光束制御部〕
本実施の形態にあっては、照明系８は光源５１の照明光が通過する開口部７１の面積を変更可能な光束制御部７０を有しており、光束制御部７０を通過することにより面積を制限した観察光を被検眼Ｅに照射する。
即ち、本実施の形態にあっては光束制御部７０は、スリット部５４と、視野絞り部６０と、スリット部５４及び視野絞り部６０により形成される開口部７１の面積を検知する開口面積検知部５９とを有しており、制御部１０１は開口面積検知部により検知された開口面積に基づき光源５１の光度を制御する。
＜スリット部＞
スリット部５４は、スリット光（観察光）を生成するために用いられる。スリット部５４は、互いに所定間隔をおいて対向して配置された一対のスリット刃５４ａ、５４ｂを有する。これらスリット刃５４ａ、５４ｂの配置間隔（スリット幅）を変更することによりスリット光の幅が変更される。手動操作により任意にスリット刃５４ａ、５４ｂの配置間隔を調整することができる。この場合、スリット刃５４ａ、５４ｂを電動により開閉するように構成してもよい。
＜視野絞り部＞
図２、図３及び図４に示すように、視野絞り部６０は、スリット部５４の反光源５１側においてスリット部５４に近接して配置され、異なる大きさ及び形状の複数の開口６２を有し、回転中心６６を中心として回転動するターレット６１を有している。
図３及び図４に示すように、本実施の形態にあっては、ターレット６１は照明光軸０２に対して直交する方向において回転可能に配置された円盤状部材であって、開口６２は、同心円上に配置された４つの円形開口部６３ａ、６３ｂ、６３ｃ、６３ｄと単一の湾曲涙滴状開口部６４とからなる。円形開口部６３ａ、６３ｂ、６３ｃ、６３ｄは、それぞれ異なる径に形成され、時計回り方向に次第に大径となるように、互いに開口中心が等間隔となるように配置されている。
従って、ターレット６１を適宜回転させることにより任意の開口６２の中心を照明光軸０２に合わせることにより観察面の照明範囲を適宜制限することが可能となる。
最小の円形開口部６３ａが照明光軸０２上に配置された場合には、照明光束６５の径よりも最も小径の絞り光を形成することができ、最大の円形開口部６３ｄが照明光軸０２上に配置された場合には、照明光束６５の径と同一の最大径の絞り光を形成することができる。
また、前記湾曲涙滴状開口部６４は、大径円弧端部６４ａと、大径円弧端部６４ａに同心円の円周方向に対向して配置された小径円弧端部６４ｂと、前記大径円弧端部６４ａから小径円弧端部６４ｂにかけて徐々に幅寸法が小さくなるように形成された湾曲輪郭部６４ｃ、６４ｄとにより形成されており、図４に示すように、湾曲涙滴状開口部６４はスリット部５４を通過した光束の幅を連続的に変更制御しうるように構成されている。
図３に示すように、ターレット６１は、複数の開口６２の中心を照明光軸０２に合致させて配設されており、検者はターレット６１を適宜回転させることにより所望の開口６２を、スリット部５４を開放した状態で照明光軸０２に対して選択的に配置することにより、被観察部を円形に照明することができる。また、スリット部５４を、スリット刃５４ａ、５４ｂの間隔を狭めた状態で、視野絞り部６０と併せて使用することにより、被観察部を小判状に照明することもできる。
従って、ターレット６１を回転することにより、任意の大きさの開口６２を選択的に照明光軸０２上に配置することで、被観察面における照明範囲を制限し、スリット部５４のスリット刃５４ａ、５４ｂの幅と視野絞り部６０の開口６２の径を組み合わせることで幅と長さを制限した観察光を被観察面に照射することができる。
また、図４に示すように、湾曲涙滴状開口部６４に関しては、スリット部５４の間隔を狭めた状態で照明光軸０２上に配置し、ターレット６１を大径円弧端部６４ａと小径円弧端部６４ｂとの間において回動させることにより、スリット部５４により形成されるスリット間隔の長さＬを制限し、スリットの長さの絞りを連続的に行うことができる。
本実施の形態にあっては、ターレット６１は手動操作により回転駆動させるように構成されている。ターレット６１には、各円形開口部６３の中心が照明光軸０２に一致する位置に適宜構成のクリック部（図示せず）が設けられており、検者は、操作部を操作することにより、クリック部に合わせるようにしてターレット６１を回転操作することにより所望の円形開口部６３を照明光軸０２上に配置固定することができる。
湾曲涙滴状開口部６４にあっては、大径円弧端部６４ａ及び小径円弧端部６４ｂの中心が照明光軸０２に一致する位置にクリック部（図示せず）が設けられている一方、大径円弧端部６４ａと小径円弧端部６４ｂとの間においてはクリック部は設けられておらず、大径円弧端部６４ａと小径円弧端部６４ｂとの間の任意の位置においてターレット６１の回転を停止させることが可能である。従って、大径円弧端部６４ａと小径円弧端部６４ｂとの間の任意の位置において停止させて連続的にスリットの長さを絞ることができる。
また、ターレット６１は電動により回転するように構成してもよい。この場合には、ターレット６１を駆動するアクチュエータとしてのステッピングモータ及び適宜の駆動力伝達機構が設けられる。制御部１０１は、ステッピングモータのステップ数を計測することによりターレット６１の回転角度を光検知手段、例えば、フォトインタプラタにより検知するように構成する。
＜開口面積検知部＞
本実施の形態に係るスリットランプ顕微鏡１はスリット部５４のスリット刃５４ａ、５４ｂの配置間隔及び視野絞り部６０のターレット６１の回転角度を検知する検知手段を備えた開口面積検知部５９を有している。制御部１０１は開口面積検知部５９により検知されたスリット幅及びターレット６１の開口６２により形成される開口面積に基づき光源５１の最大光度値光度を決定する。
開口面積検知部５９は、スリット部５４のスリット刃５４ａ及びスリット刃５４ｂの幅及び視野絞り部６０の開口部６２の開口径を各々検出する。
スリット部５４の幅については、回転操作可能に形成されたスリット操作部としてのスリット開閉ノブ（図示せず）の回転量を、エンコーダにより検知して検知情報を制御部１０１に送信する。
この場合、開口面積検知部５９を、一対のスリット刃５４ａ、５４ｂの移動量適宜の検知手段により検知することによりスリット幅値を検知するように構成してもよい。例えば、スリット刃５４ａ、５４ｂを駆動するアクチュエータの駆動軸の回転数を検知することによりスリット刃５４ａ、５４ｂの移動量を計測することもできる。
視野絞り部６０に関しては、上記のように、複数の開口６２を有するターレット６１の回転角度を、手動操作による場合には光検知手段により、また電動操作の場合には適宜の検知手段によりステッピングモータのステップ数を計測することにより検出し、当該回転角度に対応した各開口部６３ａ、６３ｂ、６３ｃ、６３ｄ、６４を特定して開口径を得る。
その結果、開口面積検知部５９は、スリット部５４のスリット幅とターレット６１の回転角度から得られた視野絞り部６０の開口６２の開口径の組み合わせから、複合された開口面積を得ることができる。
また、開口面積検知部５９において、観察系６に配置された撮像装置４３により取得された前眼部画像の開口像に基づき開口面積を検知するように構成してもよい。この場合には、変倍系の倍率を検知してフィードバックすることが必要となる。
照明絞り５６は、その透光部のサイズを変更可能に構成されている。照明絞り５６は、特に眼底観察において有効である。たとえば、照明絞り５６には、角膜Ｅｃや水晶体による照明光の反射を低減させ、照明光の明るさを調整する等の用途がある。
〔背景照明系〕
背景照明光２０は、被検眼Ｅに背景照明光を照射する。背景照明光は、照明系８による被検眼Ｅに対する照明光の照射領域の周囲の領域に照射される。なお、背景照明光の照射領域は、少なくともこの周囲領域を含むものであればよい。たとえば、背景照明光の照射領域は、照明系８による照射領域の少なくとも一部と重複していてもよい。
背景照明系２０は、光源（背景光源）を含む。背景光源は、可視光を出力する可視光源を少なくとも含む。この可視光は、たとえば肉眼観察や撮影に用いられる。背景光源は、赤外光を出力する赤外光源を含んでいてもよい。この赤外光は、たとえばマイボーム腺の観察や撮影に用いられる。
背景照明系２０が可視光源と背景光源の双方を含む場合、これら光源はたとえば択一的に使用される。背景照明系２０は、背景光源から出力された光を集束させる１つ以上のレンズを含んでいてもよい。符号Ｏ３は、背景照明系２０の光軸（背景照明光軸）を示す。
背景光源から出力された光は、（上記レンズによって集光された後、）ミラー１２により反射されて被検眼Ｅに照射される。この背景照明光の照射領域は、照明系８による被検眼Ｅの照射領域の周囲の領域を含む。
［制御系の構成］
スリットランプ顕微鏡１の制御系について、図５を参照しながら説明する。
スリットランプ顕微鏡１の制御系は、制御部１０１を中心に構成されている。なお、制御系の構成の少なくとも一部がコンピュータ１００に含まれていてもよい。
〔制御部〕
制御部１０１は、スリットランプ顕微鏡１の各部を制御する。
制御部１０１は、観察系６の制御、照明系８の制御、背景照明系２０の制御を行う。観察系６の制御としては、変倍光学系３２の制御、絞り３３の制御、撮像素子４３の電荷蓄積時間、感度、フレームレート等の制御などがある。照明系８の制御としては、光源５１、光源光度検知部５８、光束制御部７０を構成するスリット部５４、視野絞り部６０及び開口面積検知部５９、照明絞り５６の制御などがある。背景照明系２０の制御としては、背景光源の制御などがある。
制御部１０１は、マイクロプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ等を含んで構成される。ＲＯＭやハードディスクドライブ等の記憶装置には、制御プログラムがあらかじめ記憶されている。制御部１０１の動作は、この制御プログラムとハードウェアとが協働することによって実現される。制御部１０１は、スリットランプ顕微鏡１の装置本体（たとえば基台４内）やコンピュータ１００に配置される。
〔表示部〕
表示部１０２は、制御部１０１の制御を受けて各種の情報を表示する。表示部１０２は、ＬＣＤ等のフラットパネルディスプレイなどの表示デバイスを含んで構成される。表示部１０２は、スリットランプ顕微鏡１の装置本体に設けられていてもよいし、コンピュータ１００に設けられていてもよい。
〔操作部〕
操作部１０３は、操作デバイスや入力デバイスを含んで構成される。操作部１０３には、スリットランプ顕微鏡１に設けられたボタンやスイッチ（たとえば操作ハンドル５、照明強度操作部１８等）や、コンピュータ１００に設けられた操作デバイス（マウス、キーボード等）が含まれる。また、操作部１０３は、トラックボール、操作パネル、スイッチ、ボタン、ダイアルなど、任意の操作デバイスや入力デバイスを含んでいてもよい。
図５では、表示部１０２と操作部１０３とを別々に表しているが、これらの少なくとも一部を一体的に構成することも可能である。その具体例として、タッチスクリーンを用いることができる。
〔光源光度検知部〕
光源５１の光度は印加電力にほぼ相関するため、印加電力を制限することで光源５１の光度を制御することもできるが、図２に示すように、本実施の形態に係るスリットランプ顕微鏡１においては、光源５１の光度を測定検知する光源光度検知部５８が設けられている。
この光源光度検知部５８は、光源５１の光度を直接モニタするように構成されており、このように光量を直接にモニタすることで光源のバラツキや、光源の劣化による光量低下が起きた場合であっても、適切な照度のスリット像を投影することができる。
この場合、光源光度検知部５８をフォトディテクターにより構成し、光源５１の近傍に配置し、光源５１の散乱光成分を受光するように構成してもよく、また、光源５１の近傍に光ファイバの一方端部を配置し、光ファイバの端面から光源の散乱光を取り込み、他方端部近傍にフォトディテクターを配置しても良い。さらに、光路０２中に光束の一部を反射するミラーを配置し、反射光をフォトディテクターにより受光するようにしても良い。
〔開口部の開口面積による光源の光度制御〕
以下に、本発明における「スリット幅及び視野絞り径に基づく光源の最大光度値制御」の趣旨及び意義について説明する。
光源５１からの照明光はコンデンサレンズで５３により集光され、スリット部５４と視野絞り部６０の組み合わされた開口部７１を透過して結像レンズ５５からミラー１２の近傍に光源像を結像する。
光源像はミラー１２を介して被検眼Ｅの眼底Ｅｒ付近に結像する。前記開口部７１の像は結像レンズ５５によりミラー１２を介して観察部位に結像する。角膜Ｅｃを観察する場合は角膜Ｅｃがこの観察位置に合致するようにアライメントを行う。
光源５１の光度が一定の場合には開口部７１の開口の面積を変化させた場合であっても角膜Ｅｃ上に結像する開口像の照度は変化しない。しかしながら、眼底Ｅｒ上の光源像の照度は開口面積が狭くなると低くなり、開口面積が広がると高くなる。
開口部７１の開口面積はスリット部５４の幅と視野絞り部６０の径の組み合わせからなり、観察部位や観察方法によって検者が任意に設定する。観察部位をよりよく、詳細に観察しようとする場合、光源５１の光度を上げ（明るくして）被検部上の開口像の照度を高めて観察することとなる。
この時、照射した光束のほとんどは角膜Ｅｃを透過して眼底Ｅｒに達し、眼底Ｅｒを照明してしまうため、従来は、どのような照明条件であっても眼底照度の安全値を超えないよう光量ボリュウムに制限がかけられているか、又は警告を報知するように構成されたものも存在した。
しかしながら、光源５１の光度が一定であっても開口部７１の開口面積を変更すると眼底照度は変化するため、ある開口面積の時、眼底照度が安全値の上限に達していた場合であっても、開口面積を狭めれば眼底照度は安全値に対して余裕を持つことができる。この場合に、更に角膜Ｅｃ上を明るく観察したいという場合には光源５１の光度を上げて角膜Ｅｃ上の開口像の照度を上げることができる。逆に、開口面積を拡大した場合は眼底照度が安全値を超えてしまうため、光源５１の光度を下げなければならない。
従来においては、開口を最大に開いた状態で眼底Ｅｒの照度を安全値以下に抑えるように光源５１の光度を設定していたため、スリット部５４を狭めた状態で眼底安全値に対して余裕がある状態であっても明るく観察することができなかった。
そこで、本件発明にあってはスリット部５４の幅及び視野絞り６０の径を各々検出して、検出され複合された開口面積に応じて光源５１の最大光度を可変にするものである。
本実施の形態に係るスリットランプ顕微鏡１にあっては、検者によってスリット幅及び視野絞り径が操作設定された場合には、制御部は開口面積検知部５９により検知されたスリット部５４のスリット幅と視野絞り６０において選択された視野絞り径に基づき複合して得られる開口部７１の開口面積を求め、前記光源５１の最大光度値を設定すると共に、光源５１の光度値は最大光度値を超えては設定できないように構成されている。
図５に示すように、制御部１０１は記憶部１０１ａを有し、記憶部１０１ａは、検者が設定したスリット幅の値と視野絞り径とにより、開口面積に対応した観察光が被検眼Ｅの眼底Ｅｒに照射された場合であっても被検眼眼底に対する安全照度を超えない適切な光源の最大光度値からなるデータをあらかじめ格納している。
制御部１０１は、開口面積検知部５９により検知された、スリット幅及び選択された視野絞り径からなる開口面積に基づき、記憶部１０１ａのデータを参照して光源５１の最大光度値を決定する。
従って、検者は、診察において、必要に応じ適宜スリット部５４の開閉及び視野絞り部６０の開口径を操作して観察を行うが、検者により設定されたスリット部５４の幅と視野絞り部６０の開口径からなる開口面積に応じて、制御部１０１により開口面積値に対応する光源５１の最大光度値が決定され、検者は、最大光度値以下であれば適宜、光源５１の光度を操作変更して必要な観察、検査を行うことができ、かつ、決定された開口面積値に対応する最大光度値以上には光源５１の光度を上げることはできないように構成されている。
検者が最大光度値以上に光源５１の光度を設定しようとした場合には、「最大光度値に達している」旨の警告を表示部１０２に表示するか、又は音声により検者に警告してもよい。
〔作動説明〕
本実施の形態に係るスリットランプ顕微鏡１を使用して検眼するに際し、開口面積に基づく光源５１の光度制御を行う場合の手順について図６のフローチャートを参照しながら説明する。
操作者は、スリットランプ顕微鏡１を使用するに際し、検眼の個別具体的事情に応じてスリット部５４の幅、及び視野絞り部６０の視野絞り径を設定または変更する（Ｓ１）。
次に、開口面積検知部５９は、設定または変更されたスリット幅、及び視野絞り径を検知し、検知信号を制御部１０１へ送る（Ｓ２）。
次に、制御部１０１はスリット幅と視野絞り径を複合した開口面積を求め、記憶部１０１ａに格納されている、設定された開口面積と、当該開口面積に対応した前記観察光が被検眼の眼底に照射された場合であっても眼底照度の安全値を超えない適切な光源の最大光度値とからなるデータテーブルから、上記得られた開口面積に対応する光源５１の最大光度値を取得する（Ｓ３）。
次に、制御部１０１は光源光度検知部５８により光源５１の、設定または変更された実際の光度を検知し、光度を取得する（Ｓ４）。そして、制御部１０１は、Ｓ４において検知、取得された光源５１の光度がＳ３において記憶部１０１ａから取得された最大光度値以下であるか否か、を判断する（Ｓ５）。
制御部１０１は、光源５１の光度がＳ３において記憶部１０１ａから取得された最大光度値以下であると判断した場合には、検者により設定または変更された光度を許容し決定して制御を終了する（Ｓ６）。
一方、制御部１０１は、光源５１の光度がＳ３において記憶部１０１ａから取得された最大光度値以下ではない、と判断した場合には、光源５１の光度を、設定または変更された当該開口面積に対応する光源の最大光度値に設定して制御を終了する。
本実施の形態にあっては、背景照明系２０が設けられている場合を例に説明したが、上記実施の形態に限定されず、背景照明系２０が設けられていなくてもよい。
本発明はスリットランプ顕微鏡に係ることから、広く産業上の利用可能性を有している。
０１ 観察光軸
０２ 照明光軸
０３ 背景照明光軸
１ スリットランプ顕微鏡
２ テーブル
３ 移動機構部
４ 基台
５ 操作ハンドル
６ 観察系
８ 照明系
９ 鏡筒本体
９ａ 接眼部
１０ 顎受け台
１０ａ 顎受け部
１０ｂ 額当て
１１ 観察倍率操作ノブ
１２ 反射ミラー
１５ 支持部
１６ 支持アーム
１７ 支持アーム
１８ 照明強度操作部
２０ 背景照明系
３１ 対物レンズ
３２ 変倍光学系
３３ 絞り
３４ ビームスプリッタ
３５ リレーレンズ
３６ プリズム
３６ａ 光学素子
３６ｂ 光学素子
３７ 接眼レンズ
４１ リレーレンズ
４２ ミラー
４３ 撮像素子
５１ 光源
５２ リレーレンズ
５３ コンデンサレンズ
５４ スリット部（光束制御部）
５４ａ スリット刃
５４ｂ スリット刃
５５ コンデンサレンズ
５６ 照明絞り
５８ 光源光度検知部
５９ 開口面積検知部（光束制御部）
６０ 視野絞り部（光束制御部）
６１ ターレット
６２ 開口
６３ａ 円形開口部
６３ｂ 円形開口部
６３ｃ 円形開口部
６３ｄ 円形開口部
６４ 湾曲涙滴状開口部
６５ 照明光束
７０ 光束制御部
７１ 開口部
１００ コンピュータ
１０１ 制御部
１０１ａ 記憶部
１０２ 表示部
１０３ 操作部
Ｅ 被検眼
Ｅｃ 角膜
Ｅｐ 虹彩
Ｅｒ 眼底
Ｐ 光の結像位置
Ｌ スリット間隔の長さ

Claims (13)

  1. スリットランプ顕微鏡において、照明系の条件を検知する検知手段を有し、前記検知手段の検知結果に基づき照明光源の光度を制御することを特徴とするスリットラン
    プ
  2. 前記照明系の条件は光源の光量であることを特徴とする請求項１に記載のスリットランプ顕微鏡
  3. 照明光を出力する光源を有し、前記照明光が開口部の面積を変更可能な光束制御部を通過することにより面積が制限された観察光を被検眼に照射する照明系と、前記観察光の被検眼からの戻り光を観察する観察系と、少なくとも前記照明系の作動を制御する制御部とを備えたスリットランプ顕微鏡であって、
    前記開口部の面積を検知する開口面積検知部を有し、前記制御部は前記開口面積検知部により検知された開口面積に基づき光源の光度を制御することを特徴とするスリットランプ顕微鏡。
  4. 前記光束制御部はスリット部を有し、前記スリット部は少なくとも配置間隔が可変な一対のスリット刃を有し、前記スリット刃の間隔を検知可能に形成されていることを特徴とする請求項３に記載のスリットランプ顕微鏡
  5. 前記光束制御部は視野絞り部を有し、複数の径の異なる開口を選択的に光軸上に配置することにより開口を通過する前記光束の径を可変とし、配置された開口を検知可能に形成されていることを特徴とする請求項３に記載のスリットランプ顕微鏡。
  6. 前記光束制御部は、スリット部と、前記スリット部の反光源側に設けられた視野絞り部とを備え、前記視野絞り部は、前記光束に対して直交する方向において回転可能に配置された円盤状のターレットにより形成され、前記開口は前記ターレット本体において同心円上に配置された複数の円形開口部と単一の湾曲涙滴状開口部とからなり、前記湾曲涙滴状開口部は、大径円弧端部と、前記大径円弧端部に同心円の円周方向に対向して配置された小径円弧端部と、前記大径円弧端部から前記小径円弧端部にかけて徐々に幅寸法が小さくなるように形成された湾曲輪郭部とにより形成され、前記湾曲涙滴状開口部は前記スリット部を通過した光束の幅を連続的に変更制御しうることを特徴とする請求項３記載のスリットランプ顕微鏡。
  7. 検者によって前記スリット部の一対のスリット刃の配置間隔及び前記視野絞り部の開口径が操作設定された場合には、前記制御部は前記開口面積検知部により検知された前記一対のスリット刃の配置間隔及び前記視野絞り部の開口径に基づき前記光源の最大光度値を決定すると共に、前記光源の光度値は前記最大光度値以下に設定されるように構成されていることを特徴とする請求項３乃至６のいずれか１項に記載のスリットランプ顕微鏡。
  8. 前記制御部は記憶部を有し、前記記憶部は、設定された一対のスリット刃の配置間隔幅及び視野絞り部の開口径からなる開口面積と、前記一対のスリット刃の配置間隔及び視野絞り部の開口径に対応した前記観察光が被検眼の眼底に照射された場合であっても眼底照度安全値を超えない適切な光源の最大光度値とからなるデータを格納しており、前記制御部は、前記記憶部のデータを参照して、前記開口面積検知部により検知されたスリット部のスリット幅及び視野絞り部の開口径に基づき前記光源の最大光度値を決定することを特徴とする請求項３乃至７のいずれか１項に記載のスリットランプ顕微鏡。
  9. 前記開口面積検知部は、スリット操作部の操作量を検知することにより前記スリット幅値を取得することを特徴とする請求項３乃至８のいずれか１項に記載のスリットランプ顕微鏡。
  10. 前記開口面積検知部は、前記一対のスリット刃の移動量を検知することによりスリット幅値を検知することを特徴とする請求項３乃至８のいずれか１項に記載のスリットランプ顕微鏡。
  11. 前記開口面積検知部は、観察系に配置された撮像装置により取得された前眼部画像の開口像に基づき開口面積を検知することを特徴とする請求項３乃至８のいずれか１項に記載のスリットランプ顕微鏡。
  12. 前記開口面積検知部は、前記ターレットを駆動するステッピングモータのステップを計測することにより前記ターレットの開口部により形成される開口径を検知することを特徴とする請求項３乃至８のいずれか１項に記載のスリットランプ顕微鏡。
  13. 前記開口面積検知手段は、光検知部により前記ターレットの回転角度を検出することにより開口径を検知することを特徴とする請求項３乃至８のいずれか１項に記載のスリットランプ顕微鏡。
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