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Abstract
Description
本発明は、リングフレームにテープを介して支持されたウエーハを加工する加工装置に関する。 The present invention relates to a processing apparatus for processing a wafer supported via a tape on a ring frame.
従来、ウエーハを切削する切削装置においては、ウエーハがダイシングテープを介してリングフレームに支持される(例えば、特許文献1参照)。特許文献1において、リングフレームに支持されたウエーハは、高さ方向に複数の棚を有するカセットに収容されている。 Conventionally, in a cutting apparatus for cutting a wafer, the wafer is supported by a ring frame via a dicing tape (see, for example, Patent Document 1). In Patent Document 1, a wafer supported by a ring frame is accommodated in a cassette having a plurality of shelves in the height direction.
カセットは、その大きさに対応した面積を有するカセットステージ上に載置される。ウエーハは、所定の搬送機構によってカセットから取り出され、保持テーブル上に搬送される。そして、ウエーハは、切削ブレード等の加工手段によって切削加工され、ウエーハの表面には、例えば分割予定ラインに沿う切削溝が形成される。 The cassette is placed on a cassette stage having an area corresponding to its size. The wafer is taken out of the cassette by a predetermined transport mechanism and transported onto a holding table. Then, the wafer is cut by a processing means such as a cutting blade, and cutting grooves are formed on the surface of the wafer, for example, along the planned dividing lines.
ところで、加工対象となるウエーハには様々な大きさがあり、例えば、外径が比較的小径なウエーハ(以下、小径ウエーハとする)や、外径が比較的大径なウエーハ(以下、大径ウエーハとする)が存在する。大径ウエーハ専用の加工装置で小径ウエーハを加工しようとすると、ウエーハの搬送経路は、大径ウエーハに合わせて設定されているため、小径ウエーハは、大径ウエーハと同じ搬送経路で所定箇所まで搬送されることになる。この結果、小径ウエーハであるにもかかわらず、必要以上に移動距離が増加し、無駄が多くなることが想定される。小径ウエーハのサイズに合わせて加工装置を設計することも考えられるが、設計工数の観点からあまり好ましくない。 By the way, wafers to be processed have various sizes, for example, a wafer having a relatively small outer diameter (hereinafter, referred to as a small diameter wafer) or a wafer having a relatively large outer diameter (hereinafter, a large diameter) There is a wafer). When processing a small diameter wafer with a processing machine dedicated to a large diameter wafer, the transfer path of the wafer is set according to the large diameter wafer, so the small diameter wafer is transferred to a predetermined location along the same transfer path as the large diameter wafer. It will be done. As a result, although the wafer is small in diameter, it is assumed that the moving distance is increased more than necessary and waste is increased. Although it is conceivable to design the processing apparatus in accordance with the size of the small diameter wafer, it is not so preferable from the viewpoint of the number of designing steps.
本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、装置の外形を変更することなく簡易な構成で、大きさの異なるウエーハを効率的に加工することが可能な加工装置を提供することを目的の1つとする。 The present invention has been made in view of the foregoing, and it is an object of the present invention to provide a processing apparatus capable of efficiently processing wafers of different sizes with a simple configuration without changing the outer shape of the apparatus. One of the
本発明の一態様の加工装置は、テープを介してリングフレームの開口部でウエーハを支持するワークセットを棚状に収容するカセットを載置するカセットステージと、カセットステージから遠ざかる方向に延在する2本のレールでワークセットを仮置きする仮置き手段と、カセットステージに載置したカセットからワークセットを引き出し仮置き手段に仮置きする、または、仮置き手段に仮置きされたワークセットをカセットステージに載置されるカセットに進入させるプッシュプル手段と、仮置き手段に仮置きされたワークセットを保持テーブルに搬入する搬入手段と、保持テーブルが保持したワークセットのウエーハを加工する加工手段と、保持テーブルからワークセットを搬出し仮置き手段に仮置きする搬出手段と、を備える加工装置であって、カセットは、棚状に収容したワークセットの取り出しまたはワークセットを進入させる開口を備え、少なくとも2つのカセットの開口を仮置き手段の2本のレールの延在方向のY方向に対して直交するX方向に並べて載置させたカセットステージをX方向とY方向とに直交するZ方向に移動させる昇降手段を備え、プッシュプル手段は、ワークセットのリングフレームを把持する把持部と、把持部を2本のレールの延在方向のY方向に移動させるY移動手段と、把持部をX方向に移動させる第1のX移動手段と、を備え、仮置き手段は、2本のレールをX方向に移動させる第2のX移動手段を備える。 A processing apparatus according to one aspect of the present invention extends in a direction away from a cassette stage on which a cassette for storing a work set supporting a wafer at an opening of a ring frame via a tape in a shelf shape is placed. Temporary placement means for temporarily placing a workset with two rails, pulling out the workset from the cassette placed on the cassette stage and temporarily placing it on the temporary placement means, or cassetteing the workset temporarily placed on the temporary placement means Push-pull means for entering the cassette placed on the stage, loading means for loading the work set temporarily placed on the temporary placement means onto the holding table, and processing means for processing the wafer of the work set held by the holding table And Ejecting means for taking out the work set from the holding table and temporarily placing it on the temporary placement means The cassette has an opening for taking out the work set housed in the shelf or entering the work set, and the opening of at least two cassettes is in the Y direction of the extending direction of the two rails of the temporary placement means. The elevating device is provided for moving the cassette stage placed and arranged in the orthogonal X direction orthogonally to the Z direction orthogonal to the X direction and the Y direction, and the push-pull means grips the ring frame of the work set, and And Y first moving means for moving the grip in the X direction, and the temporary placement means includes the two rails. A second X moving means for moving in the X direction is provided.
この構成によれば、カセットステージ上に複数のカセットをX方向に並べ、各カセットに対してプッシュプル手段及び仮置き手段をX方向に移動させたことにより、カセットステージに対して小さいワークセットを連続的に搬送することが可能である。すなわち、より多くのワークセットを連続的に加工することが可能である。よって、通常の大きさのウエーハだけでなく、比較的小さいウエーハであっても、装置の外形を変更することなく簡易な構成で、効率的に加工することが可能である。 According to this configuration, a plurality of cassettes are arranged in the X direction on the cassette stage, and the push-pull unit and the temporary placement unit are moved in the X direction with respect to each cassette. It is possible to transport continuously. That is, it is possible to process more work sets continuously. Therefore, not only a wafer of a normal size but also a relatively small wafer can be efficiently processed with a simple configuration without changing the outer shape of the apparatus.
また、本発明の一態様の上記加工装置において、仮置き手段は、2本のレールの間隔を広げたり狭めたりするレール間隔調整手段を備える。 Further, in the above-described processing apparatus according to one aspect of the present invention, the temporary placement means includes rail distance adjustment means that widens or narrows the distance between the two rails.
また、本発明の一態様の上記加工装置において、カセットステージ、昇降手段、仮置き手段、及びプッシュプル手段は、一体化された搬送ユニットを構成し、搬送ユニットは、交換可能であることを特徴とする。 Further, in the above processing apparatus according to one aspect of the present invention, the cassette stage, the elevating means, the temporary placement means, and the push-pull means constitute an integrated transport unit, and the transport unit is replaceable. I assume.
本発明によれば、カセットステージ上に複数のカセットをX方向に並べ、プッシュプル手段及び仮置き手段をカセットの位置に応じてX方向に移動させることで、装置の外形を変更することなく簡易な構成で、大きさの異なるウエーハを効率的に加工することが可能である。 According to the present invention, a plurality of cassettes are arranged in the X direction on the cassette stage, and the push-pull unit and the temporary placement unit are moved in the X direction according to the position of the cassette, thereby simplifying the external shape of the apparatus. With this configuration, it is possible to efficiently process wafers of different sizes.
以下、添付図面を参照して、本実施の形態の切削装置について説明する。図1は、本実施の形態の切削装置の外観斜視図である。なお、図1では、加工装置として切削装置を例示して説明するが、加工装置はリングフレームに支持されたウエーハを搬送する装置であれば、どのような構成でもよい。なお、図1において、カセット及びワークセットは、便宜上、切削装置に対して大きさを誇張して表現している。また、図1において、X方向は加工送り方向を示し、Y方向はインデックス送り方向を示し、Z方向は鉛直方向を示している。X、Y、Z方向は、互いに直交している。 Hereinafter, the cutting device of the present embodiment will be described with reference to the attached drawings. FIG. 1 is an external perspective view of a cutting device according to the present embodiment. Although FIG. 1 illustrates the cutting device as the processing device, the processing device may have any configuration as long as it transports a wafer supported by a ring frame. In FIG. 1, the cassette and the work set are expressed in an exaggerated manner with respect to the cutting device for the sake of convenience. Further, in FIG. 1, the X direction indicates the processing feed direction, the Y direction indicates the index feed direction, and the Z direction indicates the vertical direction. The X, Y, Z directions are orthogonal to one another.
図1に示すように、切削装置1は、複数のウエーハWを収容するカセットCからウエーハWを取り出し、ウエーハWを保持テーブル20に搬送した後、切削手段(不図示)で保持テーブル20上のウエーハWを分割予定ラインLに沿って切削するように構成されている。 As shown in FIG. 1, the cutting apparatus 1 takes out the wafer W from the cassette C accommodating a plurality of wafers W, transports the wafer W to the holding table 20, and then cutting the wafer W on the holding table 20 by cutting means (not shown). The wafer W is configured to be cut along the dividing line L.
加工対象となるウエーハWは、概略円形状を有し、表面に格子状の分割予定ラインLが形成されている。分割予定ラインLによって区画された各領域には、各種デバイス(不図示)が形成されている。 The wafer W to be processed has a substantially circular shape, and a grid-like planned dividing line L is formed on the surface. Various devices (not shown) are formed in each of the areas partitioned by the planned division line L.
ウエーハWの裏面にはダイシングテープTが貼着されており、ダイシングテープTの外周にはリングフレームFが貼着されている。ウエーハWは、ダイシングテープTを介してリングフレームFの開口部で支持されたワークセットW1の状態で切削装置1に搬入される。なお、ウエーハWは、加工対象になるものであればよく、例えば、デバイス形成済みの半導体ウエーハや光デバイスウエーハでもよい。また、ダイシングテープTは、テープ基材に粘着層が塗布された通常の粘着テープの他、テープ基材にDAFが貼着されたDAF(Dai Attach Film)テープでもよい。 A dicing tape T is attached to the back surface of the wafer W, and a ring frame F is attached to the outer periphery of the dicing tape T. The wafer W is carried into the cutting apparatus 1 in the state of the work set W1 supported by the opening of the ring frame F via the dicing tape T. The wafer W may be any one to be processed, and may be, for example, a semiconductor wafer or an optical device wafer on which devices have been formed. Moreover, the dicing tape T may be a DAF (Dai Attach Film) tape in which a DAF is adhered to the tape substrate, in addition to a normal adhesive tape in which an adhesive layer is coated on the tape substrate.
複数のワークセットW1は、正面にワークセットW1を取り出し又は進入させる開口を有するカセットCに棚状に収容されている。具体的にカセットCは、前面及び後面が開口された、いわゆるオープン式のカセットであり、複数の棚板80を有する一対の側壁81の上下端部を連結板82で連結して構成される。側壁81の内側には、鉛直方向に延びる柱部材83が設けられており、柱部材83は、ワークセットW1の後方への移動を規制するストッパとして機能する。また、側壁81の外側には、取っ手84が設けられている。ワークセットW1は、対向する一対の側壁81間で同一高さに設けられる一対の棚板80の上にリングフレームFが載置されるように収容される。
The plurality of work sets W1 are housed in a shelf shape in a cassette C having an opening for taking out or entering the work set W1 in the front. Specifically, the cassette C is a so-called open-type cassette in which the front and rear surfaces are opened, and the upper and lower ends of a pair of
切削装置1は、切削加工の加工スペースを覆う直方体状の筐体11と、筐体11に隣接して待機スペースや洗浄スペースを形成する支持台12とを有している。支持台12の上面中央は、筐体11内に向かって延在するように開口されており、この開口は保持テーブル20と共に移動可能な移動板13及び蛇腹状の防水カバー14に覆われている。防水カバー14の下方には、保持テーブル20をX軸方向に移動させるボールねじ式の駆動機構(不図示)が設けられている。図1においては、保持テーブル20を筐体11の外部に移動させて支持台12上で待機させた状態を示している。
The cutting apparatus 1 has a rectangular
保持テーブル20は、ポーラスセラミック材によって保持面が形成されており、この保持面に生じる負圧によってウエーハWが吸引保持される。保持テーブル20の周囲にはエア駆動式の4つのクランプ21が設けられており、各クランプ21によってウエーハWの周囲のリングフレームFが四方から挟持固定される。
The holding table 20 has a holding surface formed of a porous ceramic material, and the negative pressure generated on the holding surface suctions and holds the wafer W. Four air-driven
保持テーブル20の手前側には、カセットCが載置されるカセットステージ4が設けられている。詳細は後述するが、カセットステージ4は、昇降手段5(図2参照)によって昇降可能に構成され、カセットC内のワークセットW1の出し入れ位置を高さ方向(Z方向)で調整する。
On the front side of the holding table 20, a
カセットステージ4と保持テーブル20との間には、ワークセットW1を仮置きする仮置き手段6と、カセットCと仮置き手段6との間でワークセットW1を搬送するプッシュプル手段7と、が設けられている。仮置き手段6は、Y方向に延在する一対のガイドレール60を有する。一対のガイドレール60は、X方向の間隔が調整可能に構成されている。仮置き手段6は、一対のガイドレール60上に載置されたワークセットW1を挟持することで、ワークセットW1のX方向の位置決めを実施する。
Between the
プッシュプル手段7は、カセットCから仮置き手段6上に加工前のワークセットW1を引き出す一方、加工後のワークセットW1を仮置き手段6からカセットCに押し込むように構成される。詳細は後述するが、カセットステージ4(昇降手段5を含む)、仮置き手段6、及びプッシュプル手段7は、一体化された搬送ユニット3(図2参照)を構成し、交換可能となっている。
The push-
保持テーブル20の奥側には、加工済みのワークセットW1を洗浄する洗浄手段22が設けられている。洗浄手段22は、ワークセットW1を保持したスピンナテーブル23を支持台12内に降下させ、高速回転されたワークセットW1に向けて洗浄水を噴射してワークセットW1を洗浄する。その後、洗浄手段22は、洗浄水の代わりに乾燥エアを噴射してワークセットW1を乾燥する。
On the back side of the holding table 20, a cleaning means 22 for cleaning the processed work set W1 is provided. The cleaning means 22 lowers the spinner table 23 holding the work set W1 into the
筐体11の側面には、仮置き手段6と保持テーブル20との間でワークセットW1を搬送する搬入手段として、第1の搬送手段24が設けられている。また、筐体11の側面には、保持テーブル20とスピンナテーブル23との間、スピンナテーブル23と仮置き手段6との間で、それぞれワークセットW1を搬送する搬出手段として、第2の搬送手段25が設けられている。
A first transfer means 24 is provided on the side surface of the
第1の搬送手段24及び第2の搬送手段25は、それぞれ筐体11の側面からL字状の搬送アーム24a、25aの下端に搬送パッド24b、25bを取り付けて構成される。搬送パッド24b、25bは、ウエーハWの上面を吸着可能に構成される。搬送アーム24a、25aは、図示しない昇降機構によってZ方向に昇降可能であると共に、筐体11の側面に設置されたボールねじ式の駆動機構26、27によってY方向に移動可能に構成される。
The first transfer means 24 and the second transfer means 25 are configured by attaching
筐体11の正面には、タッチパネル式のモニタ15が設置されている。モニタ15には、加工条件等が表示される共に、加工条件等を設定するための操作画面が表示される。また、切削装置1には、装置各部を統括制御する制御手段(不図示)が設けられている。制御手段は、各種処理を実行するプロセッサやメモリ等により構成される。メモリは、用途に応じてROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)等の一つ又は複数の記憶媒体で構成される。メモリには、例えば、装置各部を制御する制御プログラムの他、後述する画像処理を実施する処理プログラムが記憶されている。
A touch panel monitor 15 is installed on the front of the
また、図示は省略するが、筐体11及び支持台12内には、一対の切削ブレードで保持テーブル20上のウエーハWを切削する切削手段が設けられている。
Although not shown, cutting means for cutting the wafer W on the holding table 20 with a pair of cutting blades is provided in the
このような切削装置1では、プッシュプル手段7により、ワークセットW1がカセットCから引き出されて仮置き手段6に搬送(仮置き)される。仮置き手段6では、ワークセットW1のセンタリングが実施され、第1の搬送手段24によってワークセットW1が仮置き手段6から保持テーブル20に搬送(搬入)される。ワークセットW1を保持する保持テーブル20は、筐体11内に移動され、切削手段によってワークセットW1が切削加工される。
In such a cutting device 1, the work set W 1 is pulled out from the cassette C by the push-pull means 7 and conveyed (temporarily placed) to the temporary placement means 6. In the
切削後、保持テーブル20は、筐体11の外部に移動され、第2の搬送手段25によってワークセットW1が保持テーブル20からスピンナテーブル23に搬送される。スピンナテーブル23でワークセットW1の洗浄が実施されると、ワークセットW1は、第2の搬送手段25によってスピンナテーブル23から搬出され、仮置き手段6に搬送(仮置き)される。そして、ワークセットW1は、プッシュプル手段7によって仮置き手段6からカセットCに戻される(進入される)。
After cutting, the holding table 20 is moved to the outside of the
ところで、半導体製造装置においては、加工対象となるウエーハの大きさに様々な種類が存在する。例えば、外径がφ150mmの比較的小径なウエーハを、外径がφ300mmの比較的大径なウエーハ専用の加工装置で加工することが考えられる。この場合、ウエーハの搬送経路は、大径ウエーハに合わせて設定されているため、小径ウエーハは、大径ウエーハと同じ搬送経路で所定箇所まで搬送されることになる。この結果、小径ウエーハであるにもかかわらず、必要以上に移動距離が増加し、無駄が多くなることが想定される。 By the way, in the semiconductor manufacturing apparatus, there are various types of wafers to be processed. For example, it may be considered to process a relatively small diameter wafer having an outer diameter of φ150 mm using a processing apparatus dedicated to a relatively large diameter wafer having an outer diameter of φ300 mm. In this case, since the transfer path of the wafer is set in accordance with the large diameter wafer, the small diameter wafer is transferred to a predetermined location along the same transfer path as the large diameter wafer. As a result, although the wafer is small in diameter, it is assumed that the moving distance is increased more than necessary and waste is increased.
小径ウエーハのサイズに合わせて加工装置を設計することも考えられるが、ウエーハの外径が小さくなるからといって、それに比例して装置を小型化することは容易ではない。また装置を小型化したからといって、必ずしもウエーハの移動距離(搬送距離)を短縮することができるとは限らない。 Although it is conceivable to design a processing apparatus in accordance with the size of a small-diameter wafer, it is not easy to miniaturize the apparatus in proportion to the reduction in the outer diameter of the wafer. Further, even if the apparatus is miniaturized, the movement distance (transfer distance) of the wafer can not necessarily be shortened.
また、ウエーハが小さくなることで切削ブレードによる切削距離が短くなるため、大径ウエーハを切削する場合に比べて切削ブレードの消耗が少なくなる。したがって、小径のウエーハであるほど、多くのウエーハを連続的に加工できる方が生産性の観点から好ましい。特に、ウエーハが生セラミックスのように比較的柔らかい材質であれば、更に切削ブレードの消耗が少なくなるため、連続加工による生産性向上の効果が更に見込まれる。 In addition, since the cutting distance by the cutting blade becomes short because the wafer becomes smaller, the wear of the cutting blade is reduced compared to the case of cutting a large diameter wafer. Therefore, it is preferable from the viewpoint of productivity that it is possible to continuously process many wafers as the wafers have a smaller diameter. In particular, if the wafer is a relatively soft material such as a raw ceramic, the wear of the cutting blade is further reduced, and thus the effect of productivity improvement by continuous processing is further expected.
そこで、本件発明者は、テープを介してリングフレームに支持されるウエーハを加工する加工装置において、ウエーハを収容するカセット、カセットからウエーハを取り出すプッシュプル手段、及びウエーハを仮置きする仮置き手段の配置関係に着目し、本発明に想到した。具体的に、本実施の形態では、カセットステージ4上に複数(2つ)のカセットC1、C2(図2参照)をX方向に並べ、プッシュプル手段7及び仮置き手段6をカセットC1、C2の位置に応じてX方向に移動可能な構成とした。
Therefore, in the processing apparatus for processing a wafer supported by a ring frame via a tape, the inventor of the present invention is a cassette for storing the wafer, a push-pull means for taking the wafer out of the cassette, and a temporary placement means for temporarily placing the wafer. Focusing on the arrangement relationship, the present invention was conceived. Specifically, in the present embodiment, a plurality of (two) cassettes C1 and C2 (see FIG. 2) are arranged in the X direction on the
この構成によれば、カセットステージ4上により多くのカセットC1、C2を載置することで、カセットCからワークセットW1を連続的に搬送することができる。すなわち、より多くのワークセットを連続的に加工することが可能である。よって、比較的小さいウエーハであっても、装置の外形を変更することなく簡易な構成で、効率的に加工することが可能である。また、カセットステージ4をユニット化したことで、ウエーハWの大きさ(カセットCの大きさ)に応じてカセットステージ4を交換することができる。よって、多種類のウエーハサイズに対応した加工が可能となる。
According to this configuration, by placing more cassettes C1 and C2 on the
次に、図2から図4を参照して、本実施の形態に係る搬送ユニットについて説明する。図2は、本実施の形態に係る搬送ユニットを示す斜視図である。図3は、本実施の形態に係るプッシュプル手段を示す斜視図である。図4は、本実施の形態に係る仮置き手段を示す斜視図である。 Next, the conveyance unit according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 2 to 4. FIG. 2 is a perspective view showing the transport unit according to the present embodiment. FIG. 3 is a perspective view showing push-pull means according to the present embodiment. FIG. 4 is a perspective view showing temporary placement means according to the present embodiment.
図2に示すように、搬送ユニット3は、カセットステージ4、カセットステージ4を昇降させる昇降手段5、仮置き手段6、及びプッシュプル手段7をユニット化して構成される。搬送ユニット3は、裏面に複数の車輪30が取り付けられた基台31を有している。基台31は上面視略正方形状を有し、基台31の一辺には上方に向かって立ち上がる立壁部32が設けられている。基台31の上方には、上面視正方形状のカセットステージ4が設けられている。
As shown in FIG. 2, the
カセットステージ4は、2つのカセットC1、C2をX方向に並べて載置可能な載置面40を有する。当該載置面40には、各カセットC1、C2の四隅の位置決めをする位置決め部41が設けられている。位置決め部41は、上面視L字状に形成され、本実施の形態では、2つのカセットC1、C2に応じて合計8個設けられている。各位置決め部41がカセットCの四隅に当接することで、カセットC1、C2の位置決めがなされる。また、カセットステージ4は、立壁部32に設置される昇降手段5によってZ方向に昇降可能に構成される。昇降手段5は、例えばボールネジ式の駆動機構でカセットステージ4を昇降する。
The
また、立壁部32には、切削装置1の配管系統や電源系統、通信系統に接続するための用力接続部33及び通信接続部34が設けられている。立壁部32の上端には、仮置き手段6が設けられている。図3に示すように、仮置き手段6は、カセットステージ4から遠ざかる方向に延在する2本のガイドレール60と、ガイドレール60の間隔を広げたり狭めたりするレール間隔調整手段61と、ガイドレール60及びレール間隔調整手段61をX方向に移動させるX移動手段62とを有する。ガイドレール60は、延在方向から見て略L字状に形成され、リングフレームFを載置する載置面60aと、リングフレームFの側面が当接するガイド面60bとを有する。
Further, the standing wall portion 32 is provided with a
レール間隔調整手段61は、X方向に伸縮可能な2本のロッド63を備えたエアシリンダ64で構成される。各ロッド63の両端に、ガイドレール60が取り付けられる。ロッド63の伸縮により、2本のガイドレール60の間隔が調整される。
The rail interval adjustment means 61 is constituted by an
X移動手段62は、例えばボールネジ式の駆動機構で構成され、X方向に延在する基台65の上面に、一対のガイドレール66とボールネジ67とが設けられている。ボールネジ67の一端には駆動モータ68が設けられており、ボールネジ67には、ガイドレール66に沿ってX方向に移動可能な移動テーブル69が螺合されている。移動テーブル69の上面に、エアシリンダ64が取り付けられる。
The X moving means 62 is constituted by, for example, a ball screw type drive mechanism, and a pair of
図4に示すように、プッシュプル手段7は、リングフレームFを把持する把持部70と、把持部70をX方向又はY方向に移動させるX移動手段71、Y移動手段72とを有する。Y移動手段72は、例えばボールネジ式の駆動機構で構成され、筐体11内でY方向に延びる壁面(不図示)に沿ってガイドレール73とボールネジ74とが設けられている。ボールネジ74の一端には駆動モータ75が設けられており、ボールネジ74には、ガイドレール73に沿ってY方向に移動可能な移動部76が螺合されている。
As shown in FIG. 4, the push-pull means 7 has a gripping
移動部76は、Z方向に延在する長尺体で形成され、その上端にプッシュプルアーム77が設けられている。プッシュプルアーム77は、Y方向から見て略L字形状を有し、Z方向に伸縮可能に構成される。また、X方向に延在するプッシュプルアーム77の上面には、把持部70及びX移動手段71が設けられている。
The moving
X移動手段71は、プッシュプルアーム77の上面でX方向に延在するガイドレール78を備える。ガイドレール78には、把持部70がスライド可能に設けられている。X移動手段71は、図示しないアクチュエータにより、把持部70をガイドレール78に沿って移動させる。
The X moving means 71 includes a
把持部70は、カセットステージ4側に向かって突出する一対の平行板79を有し、一対の平行板79でリングフレームFを挟持するように構成される。一対の平行板79は、上下に並んで配置され、図示しないアクチュエータ(例えばエアシリンダ)で接近及び離間可能に構成される。この場合、一対の平行板79は、一方の平行板79に対して他方の平行板79のみが可動する構成としても、両方の平行板79が可動される構成としてもよい。
The gripping
次に、図5及び図6を参照して、本実施の形態に係る切削装置の搬送動作について説明する。図5及び図6は、本実施の形態に係る切削装置の動作例を示す上面模式図である。具体的に図5は、2つのカセットCのうち一方のカセットC1からワークセットを取り出す場合の上面模式図を示し、図5A−Gは、その動作遷移図を表している。図6は、2つのカセットCのうち他方のカセットC2からワークセットを取り出す場合の上面模式図を示し、図6A−Gは、その動作遷移図を表している。なお、図5及び図6においては、説明の便宜上、一部の構成(特に各種移動手段)を省略している。 Next, with reference to FIG.5 and FIG.6, conveyance operation | movement of the cutting device which concerns on this Embodiment is demonstrated. FIG.5 and FIG.6 is an upper surface schematic diagram which shows the operation example of the cutting device which concerns on this Embodiment. Specifically, FIG. 5 shows a schematic top view in the case of taking out the work set from one of the two cassettes C, and FIG. 5A-G shows its operation transition diagram. FIG. 6 shows a schematic top view in the case of taking out the work set from the other cassette C2 of the two cassettes C, and FIGS. 6A-G show its operation transition diagram. In FIG. 5 and FIG. 6, for convenience of explanation, a part of the configuration (in particular, various moving means) is omitted.
先ず、カセットC1からワークセットW1を搬出する場合について説明する。図5Aに示すように、把持部70は、X移動手段71(図4参照)によってカセットC1の正面に位置付けられている。仮置き手段6は、プッシュプル手段7と同様に、カセットC1の正面に位置付けられている。また、一対のガイドレール60は、カセットC1内のワークセットW1の移動をガイドするように、その間隔が調整されている。保持テーブル20は、所定の待機位置、例えば、第1の搬送手段24のX方向における中心位置と保持テーブル20の中心とが一致する位置に位置付けられている。また、カセットステージ4は、プッシュプル手段7がワークセットW1を把持可能な高さに位置付けられている。
First, the case where the work set W1 is unloaded from the cassette C1 will be described. As shown in FIG. 5A, the gripping
図5Bに示すように、把持部70がY方向に沿ってカセットC1に向かって移動され、平行板79でリングフレームFが把持される。次に、把持部70は、Y方向に沿ってカセットC1とは反対側の保持テーブル20側に向かって移動される。図5Cに示すように、ワークセットW1は、ガイドレール60に沿ってガイドされながらカセットC1から引き出される。そして、ワークセットW1は、保持テーブル20の中心とウエーハWの中心とがY方向で一致する位置まで搬送される。
As shown in FIG. 5B, the gripping
その後、図5Dに示すように、平行板79によるリングフレームFの把持が解除され、把持部70がワークセットW1からY方向に沿って退避される。次は、図5Eに示すように、一対のガイドレール60が、X移動手段62(図3参照)によってX方向に移動され、ワークセットW1が、保持テーブル20の上方にそれぞれの中心が一致するように位置付けられる。このとき、ワークセットW1が一対のガイドレール60によってセンタリングされているため、ワークセットW1の中心と保持テーブル20の中心とが、X方向で位置合わせされる。
Thereafter, as shown in FIG. 5D, the holding of the ring frame F by the
その後、図5Fに示すように、第1の搬送手段24がY方向に沿って移動され、ワークセットW1の上方に位置付けられる。第1の搬送手段24は、Z方向の高さを調整して搬送パッド24b(図1参照)によりワークセットW1の上面を吸着保持する。第1の搬送手段24によるワークセットW1の保持が完了したら、図5Gに示すように、レール間隔調整手段61(図3参照)によって、一対のガイドレール6が互いに離間する方向に移動される。そして、第1の搬送手段24は、ワークセットW1を降下させ、ワークセットW1は保持テーブル20上に載置される。このようにして、ワークセットW1がカセットC1から保持テーブル20まで搬送される。
Thereafter, as shown in FIG. 5F, the first transport means 24 is moved along the Y direction and positioned above the work set W1. The first transport means 24 adjusts the height in the Z direction and suction-holds the upper surface of the work set W1 by the
その後、保持テーブル20は、X方向に沿って筐体11(図1参照)内に移動され、ワークセットW1に対して加工が実施される。加工後のワークセットW1は、上記したように洗浄が実施された後、今度は第2の搬送手段25(図1参照)によって、仮置き手段6に戻される。仮置き手段6からカセットC1に戻すまでの搬送は、上記した動作を逆に行うことで可能である。
Thereafter, the holding table 20 is moved in the X direction into the housing 11 (see FIG. 1), and the processing is performed on the work set W1. The work set W1 after processing is cleaned as described above, and then returned to the temporary placement means 6 by the second transport means 25 (see FIG. 1). The transportation from the
次に、カセットC2からワークセットW1を搬出する場合について説明する。図6Aに示すように、把持部70は、X移動手段71(図4参照)によってX方向に移動され、カセットC2の正面に位置付けられる。図6Bに示すように、把持部70がY方向に沿ってカセットC2に向かって移動され、平行板79でリングフレームFが把持される。次に、把持部70は、Y方向に沿ってカセットC2とは反対側の保持テーブル20側に向かって移動される。図6Cに示すように、ワークセットW1は、ガイドレール60に沿ってガイドされながらカセットC2から引き出される。そして、ワークセットW1は、保持テーブル20の中心とウエーハWの中心とがY方向で一致する位置まで搬送される。
Next, the case of carrying out the work set W1 from the cassette C2 will be described. As shown in FIG. 6A, the gripping
その後、図6Dに示すように、平行板79によるリングフレームFの把持が解除され、把持部70がワークセットW1からY方向に沿って退避される。次は、図6Eに示すように、一対のガイドレール60が、X移動手段62(図3参照)によってX方向に移動され、ワークセットW1が、保持テーブル20の上方にそれぞれの中心が一致するように位置付けられる。このとき、ワークセットW1が一対のガイドレール60によってセンタリングされているため、ワークセットW1の中心と保持テーブル20の中心とが、X方向で位置合わせされる。
Thereafter, as shown in FIG. 6D, the holding of the ring frame F by the
その後、図6Fに示すように、第1の搬送手段24がY方向に沿って移動され、ワークセットW1の上方に位置付けられる。第1の搬送手段24は、Z方向の高さを調整して搬送パッド24b(図1参照)によりワークセットW1の上面を吸着保持する。第1の搬送手段24によるワークセットW1の保持が完了したら、図6Gに示すように、レール間隔調整手段61(図3参照)によって、一対のガイドレール6が互いに離間する方向に移動される。そして、第1の搬送手段24は、ワークセットW1を降下させ、ワークセットW1は保持テーブル20上に載置される。このようにして、ワークセットW1がカセットC1から保持テーブル20まで搬送される。
Thereafter, as shown in FIG. 6F, the first transport means 24 is moved along the Y direction and positioned above the work set W1. The first transport means 24 adjusts the height in the Z direction and suction-holds the upper surface of the work set W1 by the
その後、上記と同様に、保持テーブル20は、X方向に沿って筐体11(図1参照)内に移動され、ワークセットW1に対して加工が実施される。加工後のワークセットW1は、上記したように洗浄が実施された後、今度は第2の搬送手段25(図1参照)によって、仮置き手段6に戻される。仮置き手段6からカセットC1に戻すまでの搬送は、上記した動作を逆に行うことで可能である。このように、把持部70及び一対のガイドレール60をX方向に移動させることで、カセットC1、C2の両方からワークセットW1を取り出すと共に、加工後のワークセットW1をそれぞれのカセットC1、C2に戻すことが可能である。
Thereafter, in the same manner as described above, the holding table 20 is moved along the X direction into the housing 11 (see FIG. 1), and the processing is performed on the work set W1. The work set W1 after processing is cleaned as described above, and then returned to the temporary placement means 6 by the second transport means 25 (see FIG. 1). The transportation from the
以上のように、本実施の形態によれば、カセットステージ4上に複数のカセットC1、C2をX方向に並べ、各カセットC1、C2に対して把持部70及び一対のガイドレール60をX方向に移動させたことにより、カセットステージ4に対して小さいワークセットW1を連続的に搬送することが可能である。すなわち、より多くのワークセットW1を連続的に加工することが可能である。よって、通常の大きさのウエーハだけでなく、比較的小さいウエーハWであっても、装置の外形を変更することなく簡易な構成で、効率的に加工することが可能である。また、カセットステージ4をユニット化したことで、ウエーハWの大きさ(カセットC1、C2の大きさ)に応じてカセットステージ4を交換することができる。よって、多種類のウエーハサイズに対応した加工が可能となる。
As described above, according to the present embodiment, the plurality of cassettes C1 and C2 are arranged in the X direction on the
なお、本実施の形態では、加工装置としてウエーハを切削する切削装置を例示して説明したが、この構成に限定されない。本発明は、リングフレームにテープを介して支持されたウエーハを加工する他の加工装置に適用可能である。例えば、本発明は、レーザー加工装置、エッジトリミング装置、エキスパンド装置、ブレーキング装置、及びこれらを組み合わせたクラスター装置等の他の加工装置に適用されてもよい。 Although the present embodiment has been described by exemplifying a cutting device for cutting a wafer as a processing device, the present invention is not limited to this configuration. The present invention is applicable to other processing apparatuses for processing a wafer supported via a tape on a ring frame. For example, the present invention may be applied to other processing devices such as a laser processing device, an edge trimming device, an expanding device, a breaking device, and a cluster device combining these.
また、加工対象のワークとして、加工の種類に応じて、例えば、半導体デバイスウエーハ、光デバイスウエーハ、パッケージ基板、半導体基板、無機材料基板、酸化物ウエーハ、生セラミックス基板、圧電基板等の各種ワークが用いられてもよい。半導体デバイスウエーハとしては、デバイス形成後のシリコンウエーハや化合物半導体ウエーハが用いられてもよい。光デバイスウエーハとしては、デバイス形成後のサファイアウエーハやシリコンカーバイドウエーハが用いられてもよい。また、パッケージ基板としてはCSP(Chip Size Package)基板、半導体基板としてはシリコンやガリウム砒素等、無機材料基板としてはサファイア、セラミックス、ガラス等が用いられてもよい。さらに、酸化物ウエーハとしては、デバイス形成後又はデバイス形成前のリチウムタンタレート、リチウムナイオベートが用いられてもよい。 Also, as workpieces to be processed, various workpieces such as semiconductor device wafers, optical device wafers, package substrates, semiconductor substrates, inorganic material substrates, oxide wafers, green ceramic substrates, piezoelectric substrates, etc., according to the type of processing It may be used. As a semiconductor device wafer, a silicon wafer or a compound semiconductor wafer after device formation may be used. As the optical device wafer, a sapphire wafer or a silicon carbide wafer after device formation may be used. Further, a CSP (Chip Size Package) substrate may be used as the package substrate, silicon, gallium arsenide or the like may be used as the semiconductor substrate, and sapphire, ceramics, glass or the like may be used as the inorganic material substrate. Furthermore, as the oxide wafer, lithium tantalate or lithium niobate after device formation or before device formation may be used.
また、上記実施の形態では、2つのカセットC1、C2がX方向に並んでカセットステージ4上に載置される構成としたが、この構成に限定されない。カセットの個数は、3つ以上であってもよい。例えば、X方向に並んだカセットC1、C2の上に、更に別のカセットを積み重ねて使用してもよい。現実的には、複数のカセットを重ねて最大6つのカセットをカセットステージ4に載置できる。また、重ねられたカセットからウエーハを搬出および搬入させるため、重ねられた下のカセットの上部と上のカセットの下部とには、それぞれ凸と凹とを備え、凸と凹とが勘合して重ねられたカセットが位置合わせされる。
In the above embodiment, the two cassettes C1 and C2 are arranged on the
また、上記実施の形態では、各種移動手段の駆動機構として、ボールネジ式の駆動機構を例に挙げて説明したが、この構成に限定されない。駆動機構は、エア駆動式であってもよい。 Further, in the above embodiment, a ball screw type drive mechanism has been described as an example of the drive mechanism of various moving means, but the present invention is not limited to this configuration. The drive mechanism may be air driven.
また、本発明の各実施の形態を説明したが、本発明の他の実施の形態として、上記実施の形態及び変形例を全体的又は部分的に組み合わせたものでもよい。 Moreover, although each embodiment of this invention was described, you may combine the said embodiment and modification with the whole or partial as another embodiment of this invention.
また、本発明の実施の形態は上記の実施の形態及び変形例に限定されるものではなく、本発明の技術的思想の趣旨を逸脱しない範囲において様々に変更、置換、変形されてもよい。さらには、技術の進歩又は派生する別技術によって、本発明の技術的思想を別の仕方で実現することができれば、その方法を用いて実施されてもよい。したがって、特許請求の範囲は、本発明の技術的思想の範囲内に含まれ得る全ての実施形態をカバーしている。 Furthermore, the embodiments of the present invention are not limited to the above-described embodiments and modifications, and various changes, substitutions, and modifications may be made without departing from the scope of the technical idea of the present invention. Furthermore, if technical progress of the technology or another technology derived therefrom can realize the technical concept of the present invention in another way, it may be implemented using that method. Therefore, the claims cover all the embodiments that can be included within the scope of the technical idea of the present invention.
以上説明したように、本発明は、装置の外形を変更することなく簡易な構成で、異なる大きさのウエーハを効率的に加工することができるという効果を有し、特に、リングフレームにテープを介して支持されたウエーハを加工する加工装置に有用である。 As described above, the present invention has an effect that wafers of different sizes can be efficiently processed with a simple configuration without changing the outer shape of the apparatus, and in particular, it is possible to use a tape on a ring frame. It is useful for the processing apparatus which processes the wafer supported via it.
T ダイシングテープ(テープ)
F リングフレーム
W ウエーハ
W1 ワークセット
C、C1、C2 カセット
1 切削装置(加工装置)
20 保持テーブル
24 第1の搬送手段(搬入手段)
25 第2の搬送手段(搬出手段)
3 搬送ユニット
4 カセットステージ
5 昇降手段
6 仮置き手段
60 ガイドレール(レール)
61 レール間隔調整手段
62 X移動手段(第2のX移動手段)
7 プッシュプル手段
70 把持部
71 X移動手段(第1のX移動手段)
72 Y移動手段
T dicing tape (tape)
F ring frame W wafer W1 work set C, C1, C2 cassette 1 cutting device (processing device)
20 holding table 24 first conveying means (loading means)
25 Second transportation means (delivery means)
3
61 Rail spacing adjustment means 62 X moving means (second X moving means)
7 Push-
72 Y moving means
Claims (3)
該カセットステージから遠ざかる方向に延在する2本のレールでワークセットを仮置きする仮置き手段と、
該カセットステージに載置したカセットからワークセットを引き出し該仮置き手段に仮置きする、または、該仮置き手段に仮置きされたワークセットを該カセットステージに載置される該カセットに進入させるプッシュプル手段と、
該仮置き手段に仮置きされたワークセットを保持テーブルに搬入する搬入手段と、
該保持テーブルが保持したワークセットのウエーハを加工する加工手段と、
該保持テーブルから該ワークセットを搬出し該仮置き手段に仮置きする搬出手段と、を備える加工装置であって、
該カセットは、棚状に収容したワークセットの取り出しまたはワークセットを進入させる開口を備え、
少なくとも2つの該カセットの該開口を該仮置き手段の該2本のレールの延在方向のY方向に対して直交するX方向に並べて載置させた該カセットステージをX方向とY方向とに直交するZ方向に移動させる昇降手段を備え、
該プッシュプル手段は、
ワークセットのリングフレームを把持する把持部と、
該把持部を該2本のレールの延在方向のY方向に移動させるY移動手段と、
該把持部をX方向に移動させる第1のX移動手段と、を備え、
該仮置き手段は、該2本のレールをX方向に移動させる第2のX移動手段を備えた加工装置。 A cassette stage on which a cassette for storing a work set supporting a wafer at an opening of a ring frame through a tape in a shelf shape is placed;
Temporary placement means for temporarily placing a work set with two rails extending in a direction away from the cassette stage;
The work set is pulled out from the cassette placed on the cassette stage and temporarily placed on the temporary placement means, or the work set temporarily placed on the temporary placement means is pushed into the cassette placed on the cassette stage Pull means,
Carrying-in means for carrying in the work set temporarily placed on the temporary placing means onto the holding table;
Processing means for processing the wafer of the work set held by the holding table;
And a carrying out means for carrying out the work set from the holding table and temporarily placing the work set on the temporary placement means,
The cassette has an opening for taking out the shelf-set work set or for entering the work set,
The cassette stage in which the openings of at least two of the cassettes are placed side by side in the X direction orthogonal to the Y direction of the extension direction of the two rails of the temporary placement means, in the X and Y directions Equipped with lifting means for moving in the orthogonal Z direction,
The push-pull means is
A gripping unit that grips the ring frame of the work set;
Y moving means for moving the grip portion in the Y direction of the extension direction of the two rails;
First moving means for moving the holding portion in the X direction,
The temporary placement means comprises a second X moving means for moving the two rails in the X direction.
該搬送ユニットは、交換可能であることを特徴とする請求項1又は請求項2記載の加工装置。 The cassette stage, the elevating means, the temporary placement means, and the push-pull means constitute an integrated transfer unit,
The processing apparatus according to claim 1, wherein the transport unit is replaceable.
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