JP2018169440A - 感光性樹脂組成物、感光性エレメント、プリント配線板及びプリント配線板の製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
本発明の第2の態様は、支持フィルムと、上記感光性樹脂組成物からなる感光層とを備える、感光性エレメントに関する。
本発明の第3の態様は、上記感光性樹脂組成物により形成された永久マスクレジストを具備するプリント配線板に関する。
本発明の第4の態様は、基板上に上記感光性樹脂組成物又は上記感光性エレメントを用いて感光層を形成する工程と、該感光層を露光及び現像してレジストパターンを形成する工程と、該レジストパターンを硬化して永久マスクレジストを形成する工程とを含むプリント配線板の製造方法に関する。
本実施形態の感光性樹脂組成物は、(A)酸変性ビニル基含有エポキシ樹脂(以下、(A)成分と称する場合がある。)、(B)エポキシ化合物(以下、(B)成分と称する場合がある。)、(C)光重合開始剤(以下、(C)成分と称する場合がある。)及び(D)光重合性化合物(以下、(D)成分と称する場合がある。)を含有し、(A)酸変性ビニル基含有エポキシ樹脂に含まれるカルボキシル基に対する、(B)エポキシ化合物に含まれるエポキシ基の当量比が、1.2〜4.0である。
(A)成分は、エポキシ樹脂とビニル基を有する有機酸との反応物を酸変性した樹脂であり、ビニル基及びカルボキシル基を含む樹脂である。(A)成分として、例えば、エポキシ樹脂とビニル基含有モノカルボン酸とを反応させて得られるエステル化物に、飽和又は不飽和多塩基酸無水物を付加した付加反応物を用いることができる。
エポキシ樹脂(a1)としては、例えば、下記一般式(I)又は(II)で表される構造単位を有するエポキシ樹脂が挙げられ、一般式(II)で表される構造単位を有するエポキシ樹脂が好ましい。
エポキシ樹脂(a2)は、エポキシ樹脂(a1)とは異なるエポキシ樹脂であれば特に制限はないが、アンダーフィルとの密着性を向上させる観点から、ノボラック型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂及びトリフェノールメタン型エポキシ樹脂からなる群より選ばれる少なくとも1種であることが好ましい。
(b)成分としては、例えば、アクリル酸、アクリル酸の二量体、メタクリル酸、β−フルフリルアクリル酸、β−スチリルアクリル酸、桂皮酸、クロトン酸、α−シアノ桂皮酸等のアクリル酸誘導体、水酸基含有アクリレートと二塩基酸無水物との反応生成物である半エステル化合物、ビニル基含有モノグリシジルエーテル又はビニル基含有モノグリシジルエステルと二塩基酸無水物との反応生成物である半エステル化合物が挙げられる。
(a)成分と(b)成分との反応を促進する観点から、触媒の使用量は、(a)成分と(b)成分との合計100質量部に対して、0.01〜10質量部、0.05〜2質量部又は0.1〜1質量部であってもよい。
(c)成分としては、例えば、無水コハク酸、無水マレイン酸、テトラヒドロ無水フタル酸、無水フタル酸、メチルテトラヒドロ無水フタル酸、エチルテトラヒドロ無水フタル酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、エチルヘキサヒドロ無水フタル酸及び無水イタコン酸が挙げられる。これらの中でも、解像性に優れたパターンを形成できる感光性樹脂組成物を得る観点から、好ましくはテトラヒドロ無水フタル酸である。
(GPC条件)
GPC装置:高速GPC装置「HCL−8320GPC」、
検出器 :示差屈折計又はUV、東ソー(株)製
カラム :カラムTSKgel SuperMultipore HZ−H(カラム長さ:15cm、カラム内径:4.6mm)、東ソー(株)製
溶離液 :テトラヒドロフラン(THF)
測定温度 :40℃
流量 :0.35mL/分
試料濃度 :10mg/THF5mL
注入量 :20μL
(B)成分であるエポキシ化合物としては、2以上エポキシ基を有する化合物を用いることができ、(A)成分に含まれるカルボキシ基と、熱又は紫外線で硬化するエポキシ化合物が挙げられる。(B)成分を用いることで、耐熱性、密着性及び耐薬品性に優れる永久マスクレジストを形成することができる。
(C)成分である光重合開始剤としては、(D)成分である光重合性化合物を重合させることができれば、特に限定されない。(C)成分としては、例えば、アルキルフェノン系光重合開始剤、アシルホスフィンオキサイド系光重合開始剤、チオキサントン骨格を有する化合物及びチタノセン系光重合開始剤が挙げられる。これらの中でも、はんだ耐熱性を向上させる観点から、アルキルフェノン系光重合開始剤又はアシルホスフィンオキサイド系光重合開始剤が好ましい。(C)成分は、単独で又は2種以上を組み合わせて使用することができる。
(D)成分である光重合性化合物は、光重合性を示す官能基を有する化合物であれば特に限定されない。光重合性を示す官能基としては、例えば、ビニル基、アリル基、プロパギル基、ブテニル基、エチニル基、フェニルエチニル基、マレイミド基、ナジイミド基、(メタ)アクリロイル基等のエチレン性不飽和基が挙げられる。反応性の観点から、(D)成分は、(メタ)アクリロイル基を有する化合物を含むことが好ましい。
本実施形態の感光性樹脂組成物は、(E)成分として顔料を更に含有してもよい。(E)成分としては、配線を隠蔽する等の際に所望の色を発色する着色剤を用いることができる。(E)成分としては、例えば、フタロシアニンブルー、フタロシアニングリーン、アイオディングリーン、ジアゾイエロー、クリスタルバイオレット、酸化チタン、カーボンブラック、ナフタレンブラック等の公知の着色剤が挙げられる。
本実施形態の感光性樹脂組成物は、永久マスクレジストの密着性、硬度等の特性を向上させる目的で、(F)成分として無機フィラーを更に含有してもよい。(F)成分としては、例えば、シリカ、アルミナ、ジルコニア)、タルク、水酸化アルミニウム)、炭酸カルシウム、硫酸バリウム、硫酸カルシウム、酸化亜鉛、チタン酸マグネシウム及びカーボンが挙げられる。(F)成分は、単独で又は2種以上を組み合わせて使用することができる。
本実施形態の感光性樹脂組成物は、(G)成分として硬化剤を更に含有してもよい。(G)成分としては、それ自体が熱、紫外線等で硬化する化合物、又は、本実施形態の感光性樹脂組成物中の光硬化性成分である(A)成分のカルボキシ基又は水酸基と、熱、紫外線等で硬化する化合物が挙げられる。硬化剤を用いることで、永久マスクレジストの耐熱性、密着性、耐薬品性等を向上させることができる。
本実施形態の感光性樹脂組成物は、(H)成分としてエラストマーを更に含有することができる。(H)成分は、特に、本実施形態の感光性樹脂組成物を半導体パッケージ基板に用いる場合に好適に使用することができる。感光性樹脂組成物に(H)成分を添加することにより、(A)成分の硬化収縮による樹脂内部の歪み(内部応力)に起因する可とう性及び接着強度の低下を抑えることができる。すなわち、感光性樹脂組成物により形成される永久マスクレジストの可とう性及び接着強度を向上させることができる。
本実施形態の感光性樹脂組成物には、必要に応じて、粘度を調整するために、有機溶剤等の希釈剤を混合してもよい。有機溶剤としては、例えば、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン類、トルエン、キシレン、テトラメチルベンゼン等の芳香族炭化水素、メチルセロソルブ、ブチルセロソルブ、メチルカルビトール、ブチルカルビトール、プロピレングリコールモノメチルエーテル、ジプロピレングリコールモノエチルエーテル、ジプロピレングリコールジエチルエーテル、トリエチレングリコールモノエチルエーテル等のグリコールエーテル類、酢酸エチル、酢酸ブチル、ブチルセロソルブアセテート、カルビトールアセテート等のエステル類、オクタン、デカン等の脂肪族炭化水素、石油エーテル、石油ナフサ、水添石油ナフサ、ソルベントナフサ等の石油系溶剤が挙げられる。
本実施形態の感光性エレメントは、支持フィルムと、本実施形態の感光性樹脂組成物からなる感光層とを備える。図1は、本実施形態の感光性エレメントを模式的に示す断面図である。図1に示されるように、感光性エレメント1は、支持フィルム10と、支持フィルム10上に形成された感光層20とを備えている。また、感光層20上には、感光層20を被覆する保護フィルム30を更に備えていてもよい。
本実施形態のプリント配線板は、本実施形態の感光性樹脂組成物により形成された永久マスクレジストを具備する。本実施形態のプリント配線板は、本実施形態の感光性樹脂組成物より形成される永久マスクレジストを具備するため、アンダーフィルに対して優れた密着性を有し、クラックの発生を低減したレジストパターンが形成さている。
撹拌機、還流冷却器及び温度計を備えたフラスコに、ビスフェノールFノボラック型エポキシ樹脂(EXA−7376、DIC(株)製、一般式(II)中、Y3及びY4がグリシジル基、R12が水素原子である構造を有するビスフェノールFノボラック型エポキシ樹脂、エポキシ当量:186)350質量部、アクリル酸70質量部、メチルハイドロキノン0.5質量部及びカルビトールアセテート120質量部を仕込み、90℃で加熱攪拌して混合物を完全に溶解した。次に、得られた溶液を60℃に冷却し、トリフェニルホスフィン2質量部を加え、100℃に加熱して、溶液の酸価が1mgKOH/g以下になるまで反応させた。反応後の溶液に、テトラヒドロ無水フタル酸(THPAC)98質量部とカルビトールアセテート85質量部とを加え、80℃で6時間反応させた。その後、室温まで冷却し、固形分が73質量%である(A1)成分としてのTHPAC変性ビスフェノールFノボラック型エポキシアクリレート(エポキシアクリレート(1))を得た。
撹拌機、還流冷却器及び温度計を備えたフラスコに、ビスフェノールF型エポキシ樹脂(一般式(IV)中、Y6が水素原子、R14が水素原子である構造を有するビスフェノールF型エポキシ樹脂、エポキシ当量:526)1052質量部、アクリル酸144質量部、メチルハイドロキノン1質量部、カルビトールアセテート850質量部及びソルベントナフサ100質量部を仕込み、70℃で加熱撹拌して混合物を溶解した。次に、溶液を50℃に冷却し、トリフェニルホスフィン2質量部及びソルベントナフサ75質量部を加え、100℃に加熱して、溶液の酸価が1mgKOH/g以下になるまで反応させた。次に、反応後の溶液に、THPAC745質量部、カルビトールアセテート75質量部及びソルベントナフサ75質量部を加え、80℃で6時間反応させた。その後、室温まで冷却し、固形分酸価80mgKOH/g、固形分が62質量%である(A2)成分としてのTHPAC変性ビスフェノールF型エポキシアクリレート(エポキシアクリレート(2))を得た。
表1に示す配合組成に従って各成分を配合し、3本ロールミルで混練し感光性樹脂組成物を調製した。固形分濃度が70質量%になるようにカルビトールアセテートを加えて、感光性樹脂組成物を得た。表1には、感光性樹脂組成物の固形分全量を基準とした場合における(A)、(C)〜(F)成分の固形分の質量部を示す。表1中の(B)成分の数値は、(A)成分に含まれるカルボキシル基に対する(B)成分に含まれるエポキシ基の当量比である。
・エポキシアクリレート(1):合成例1で得られた酸変性ビニル基含有エポキシ樹脂
・エポキシアクリレート(2):合成例2で得られた酸変性ビニル基含有エポキシ樹脂
・YX4000X:ビフェニル型エポキシ樹脂(三菱化学(株)製、商品名)
・イルガキュア907:2−メチル−1−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルホリノ−1−プロパノン(BASF社製、商品名)
・イルガキュア819:ビス(2,4,6−トリメチルベンゾイル)フェニルホスフィンオキサイド(BASF社製、商品名)
・DETX−S:2,4−ジエチルチオキサントン(日本化薬(株)製、商品名)
・DPHA:ジペンタエリストールヘキサアクリレート(日本化薬(株)製、商品名)
・フタロシアニン系顔料:C.I.Pigment Blue 15(山陽色素(株)製、商品名)
・B34:硫酸バリウム粒子(堺化学工業(株)製、商品名、平均粒径:0.3μm)
・SFP20M:シリカ粒子(デンカ(株)製、商品名、平均粒径:0.3μm)
・メラミン化合物:微粉砕メラミン(日産化学工業(株)製、商品名)
実施例及び比較例の感光性樹脂組成物を、厚さ0.6mmの銅張積層基板(MCL−E−67、日立化成(株)製)に、乾燥後の厚さが35μmになるようにスクリーン印刷法で塗布した後、80℃で20分間熱風循環式乾燥機を用いて乾燥させた。次に、所定のパターンを有するネガマスクを塗膜に密着させ、紫外線露光装置を用いて600mJ/cm2の露光量で露光した。その後、1質量%の炭酸ナトリウム水溶液で60秒間、1.765×105Paの圧力でスプレー現像し、未露光部を溶解現像した。次に、紫外線露光装置を用いて1000mJ/cm2の露光量で露光し、150℃で1時間加熱して、永久マスクレジストを有する試験片を作製した。
上記試験片の開口ビア部を1000倍の金属顕微鏡により観察した。解像性を以下の基準で、判断した。
A:ビアが開口しており、ビア底部にレジスト残渣が生じなかった。
B:ビアが開口しているが、ビア底部にレジスト残渣が生じていた。
C:ビアが開口しなかった。
上記試験片の永久マスクレジスト上に、直径3.0mmの円形であるモールドアンダーフィル(CEL−C−3730(日立化成(株))製)を接着後、試験片に対して平行方向にモールドアンダーフィルを引っかき、モールドアンダーフィル剥離後の試験片面の様子を観察した。以下の基準で、判断した。
A:アンダーフィルとレジストとが高強度で密着したことにより、剥離部分にレジストがなくなり、試験片材料の銅箔面が析出した。
B:アンダーフィルとレジストとの密着性に優れるものの、剥離部分にレジストが一部残った。
C:アンダーフィルとレジストとの密着不良により、剥離部分にレジストが完全に残った。
上記試験片に水溶性フラックスを塗布し、265℃のはんだ槽に10秒間浸漬した。これを1サイクルとして、6サイクル繰り返した後、永久マスクレジストの外観を目視で観察し、以下の基準で評価した。
A:永久マスクレジスト30cm×30cm内に、外観変化はなかった。
B:永久マスクレジスト30cm×30cm内に、塗膜のウキ又はフクレが1個〜5個発生した。
C:永久マスクレジスト30cm×30cm内に、塗膜のウキ又はフクレが6個以上発生した。
上記試験片をイソプロピルアルコールに室温(25℃、以下同様)で30分間浸漬し、永久マスクレジストの外観に異常がないかを確認後、セロハンテープにより剥離試験を行った。
A:永久マスクレジストの外観に異常がなく、剥離が生じなかった。
B:永久マスクレジストの外観にほんの僅かな変化が生じた。
C:永久マスクレジストの外観に異常があるか、又は、剥離が生じた。
上記試験片を10質量%塩酸水溶液に室温で30分間浸漬し、永久マスクレジストの外観に異常がないかを確認後、セロハンテープにより剥離試験を行った。
A:永久マスクレジスト外観に異常がなく、剥離が生じなかった。
B:永久マスクレジスト外観にほんの僅かな変化が生じた。
C:永久マスクレジスト外観に異常があるか、又は、剥離が生じた。
上記試験片を5質量%水酸化ナトリウム水溶液に室温で30分間浸漬し、永久マスクレジストの外観に異常がないかを確認後、セロハンテープにより剥離試験を行った。
A:永久マスクレジスト外観に異常がなく、剥離が生じなかった。
B:永久マスクレジスト外観にほんの僅かな変化が生じた。
C:永久マスクレジスト外観に異常がある、又は、剥離が生じた。
銅張積層基板の代わりに、くし型電極(ライン/スペース=10μm/10μm)が形成されたビスマレイミドトリアジン基板を用いた以外は、上記[試験片の作製]に記載の方法と同じく試験片を形成し、これを135℃、85%、5V条件下に晒した。その後、マイグレーションの発生の程度を、100倍の金属顕微鏡により観察し、次の基準で評価した。
A:200時間を超えても永久マスクレジストにマイグレーションが発生しないまま、抵抗値が10−6Ω以下に低下することがなかった。
B:100時間以上200時間未満、永久マスクレジストにマイグレーションが発生しないまま、抵抗値が10−6Ω以下に低下することがなかった。
C:100時間未満に、永久マスクレジストにマイグレーションが発生し、抵抗値が10−6Ω以下に低下した。
表1に示す配合割合で調製した実施例1〜6、比較例1〜2の各感光性樹脂組成物をメチルエチルケトンにて希釈し、PETフィルム上に塗布して90℃で10分乾燥し、厚さ25μmの感光性樹脂組成物からなる感光層を形成した。さらにその上に保護フィルムを貼り合わせて、実施例7〜12、比較例3及び4の感光性エレメントを作製した。
上記感光性エレメントから保護フィルムを剥がし、ベタの銅箔基板に、感光性エレメントの感光層を熱ラミネートし、次いで、上記[試験片の作製]に記載の方法と同じく露光して、永久マスクレジストを有する試験片を作製した。
Claims (8)
- (A)酸変性ビニル基含有エポキシ樹脂、(B)エポキシ化合物、(C)光重合開始剤及び(D)光重合性化合物を含有し、
前記(A)酸変性ビニル基含有エポキシ樹脂に含まれるカルボキシル基に対する、前記(B)エポキシ化合物に含まれるエポキシ基の当量比が、1.2〜4.0である、感光性樹脂組成物。 - 前記(C)光重合開始剤が、アシルホスフィンオキサイド系光重合開始剤を含む、請求項1に記載の感光性樹脂組成物。
- (E)顔料を更に含有する、請求項1又は2に記載の感光性樹脂組成物。
- (F)無機フィラーを更に含有する、請求項1〜3のいずれか一項に記載の感光性樹脂組成物。
- 支持フィルムと、請求項1〜4のいずれか一項に記載の感光性樹脂組成物からなる感光層とを備える、感光性エレメント。
- 請求項1〜4のいずれか一項に記載の感光性樹脂組成物により形成された永久マスクレジストを具備する、プリント配線板。
- 前記永久マスクレジストの厚さが、10〜50μmである、請求項6に記載のプリント配線板。
- 基板上に、請求項1〜4のいずれか一項に記載の感光性樹脂組成物又は請求項5に記載の感光性エレメントを用いて感光層を形成する工程と、
前記感光層を露光及び現像してレジストパターンを形成する工程と、
前記レジストパターンを硬化して永久マスクレジストを形成する工程と、
を含む、プリント配線板の製造方法。
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