JP2018163152A - Slide vertical type test socket - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、テストソケットに関し、より詳しくは、組み立てが完了した電子部品を検査機と接続するにあたって使用されるようになされるテストソケットに関する。 The present invention relates to a test socket, and more particularly, to a test socket that is used for connecting an assembled electronic component to an inspection machine.
半導体、LCDモジュール、イメージセンサ、カメラモジュールなどは、各部品の組み立て完了後、実装される電子部品と同一の作動信号及び電源を供給して正常動作するか否かなどを確認する品質検査を受ける。 For semiconductors, LCD modules, image sensors, camera modules, etc., after the assembly of each part is completed, supply the same operation signal and power as the electronic parts to be mounted and undergo quality inspections to check whether they operate normally. .
テストソケットは、検査機の信号がLCDモジュールやカメラモジュールなどに伝達可能なようにLCDモジュールやカメラモジュールなどを検査機と連結する装置である。 The test socket is a device that connects the LCD module, the camera module, and the like to the inspection machine so that the signal of the inspection machine can be transmitted to the LCD module, the camera module, and the like.
これに関連して、韓国登録特許公報第1006243号には電子モジュール検査用ソケットが開示されている。韓国登録特許公報第1006243号は、検査対象物である電子モジュールが装着される装着部を形成した胴部と、胴部の一側にヒンジ連結されて回動されることで胴部の上面に接して電子モジュールを選択的に押すと共に、電子モジュールの離脱を防止するように胴部の上部をカバーする蓋部と、胴部と蓋部の一側または両側面に備えられ蓋部の閉鎖時に半自動で作動されるようにする作動部と、作動部によって蓋部の閉鎖状態を維持するようにするクリップ部と、胴部に備えられ蓋部の閉鎖時に電子モジュールに接続されるピン組立体と、ピン組立体と接続され検査装置と電気的に連結される印刷回路基板とを含むことを特徴とする。 In this connection, Korean Patent Registration No. 1006243 discloses an electronic module inspection socket. Korean Registered Patent Publication No. 1006243 discloses a body part that forms a mounting part on which an electronic module as an inspection object is mounted, and a hinge part that is hinged to one side of the body part so as to be rotated. A lid that covers the upper part of the body part so as to prevent the electronic module from being detached while contacting and selectively pushing the electronic module, and provided on one or both sides of the body part and the lid part when the lid part is closed An operating part to be operated semi-automatically, a clip part to maintain the closed state of the lid part by the operating part, and a pin assembly provided in the body part and connected to the electronic module when the lid part is closed; A printed circuit board connected to the pin assembly and electrically connected to the inspection apparatus.
韓国登録特許公報第1006243号は、作業者が蓋部を回転させると、蓋部に設けられた部材(接続ピンブロックまたはプッシュブロック)が装着部に載せられた電子モジュールを押すことにより、テストソケットの接続ピン(以下‘接続ピン’)を電子モジュールのコネクタ(以下‘コネクタ’)に接続させる作動構造を形成する。 Korean Registered Patent Publication No. 1006243 discloses a test socket in which when a worker rotates a lid, a member (connection pin block or push block) provided on the lid pushes an electronic module placed on the mounting portion. The operation structure for connecting the connection pins (hereinafter referred to as “connection pins”) to the connector (hereinafter referred to as “connector”) of the electronic module is formed.
しかし、韓国登録特許公報第1006243号は、次のような短所がある。 However, Korean Registered Patent Publication No. 10063443 has the following disadvantages.
(1) 蓋部が電子モジュールを覆った状態で接続ピンとコネクタが接続されるため、電子モジュールと検査装置は‘電子モジュールに対する作業者の視野が遮られた状態’で電気的に連結される構造を形成する。よって、作業者は接続ピンとコネクタが正常に接続されたか否かを視覚的に確認することができない。 (1) Since the connection pin and the connector are connected in a state where the lid covers the electronic module, the electronic module and the inspection device are electrically connected in a state where the field of view of the operator with respect to the electronic module is blocked. Form. Therefore, the operator cannot visually confirm whether or not the connection pin and the connector are normally connected.
作業者は、電子モジュールの検査の結果、良好と判定された場合、接続ピンとコネクタが正常に接続されたものと見なすことができるが、電子モジュールの検査の結果、不良と判定された場合、不良判定が非正常接続に因るものか、または電子モジュールの欠陥に因るものかを正確に判断できず、追加確認しなければならないという困難がある。 The operator can consider that the connection pin and the connector are normally connected when the electronic module is determined to be good as a result of the inspection of the electronic module. It is difficult to accurately determine whether the determination is due to an abnormal connection or due to a defect in the electronic module, and there is a difficulty that additional confirmation must be made.
(2) 作業者の手により蓋部が回転しながら接続ピンがコネクタに接続される作動構造を形成し、蓋部は胴部の一側を中心として略90度の回転半径を形成する。よって、テストソケットの設置空間は、胴部の平面積と蓋部の高さに作業者の操作空間を加えた空間を占めることになる。 (2) An operating structure is formed in which the connecting pin is connected to the connector while the lid is rotated by the operator's hand, and the lid forms a rotation radius of approximately 90 degrees around one side of the body. Therefore, the installation space for the test socket occupies a space obtained by adding the operator's operation space to the plane area of the trunk portion and the height of the lid portion.
電子モジュールの検査工程が行われる検査室は、限定された空間内に多様な機資材が設けられる。多様な機資材は、検査作業の利便性及び効率性のために作業者の至近距離内に配置される。よって、検査室内でテストソケットの占める空間が大きいほど検査作業の利便性及び効率性が減少することになる。 In an inspection room where an inspection process of an electronic module is performed, various machine materials are provided in a limited space. Various machine materials are placed within a short distance of the worker for convenience and efficiency of inspection work. Therefore, the greater the space occupied by the test socket in the inspection room, the less convenient and efficient the inspection work is.
(3) 蓋部が回転して接続ピンをコネクタに接続させるため、蓋部は力の方向が毎瞬間変わる曲線運動をしながら接続ピンとコネクタを接続させる外力を形成する。よって、蓋部の回転力は、(接続ピンとコネクタが完全に接続される前まで)接続ピンとコネクタの接続方向に対して傾斜した方向に接続ピンとコネクタに伝達され、接続ピンとコネクタとの接触部位には理想的な接続方向と一致しない外力による摩擦力が生じる。 (3) Since the lid portion rotates to connect the connection pin to the connector, the lid portion forms an external force that connects the connection pin and the connector while performing a curved motion in which the direction of the force changes every moment. Therefore, the rotational force of the lid is transmitted to the connection pin and the connector in a direction inclined with respect to the connection direction of the connection pin and the connector (before the connection pin and the connector are completely connected), and is transmitted to the contact portion between the connection pin and the connector. Causes frictional forces due to external forces that do not match the ideal connection direction.
結果的に、接続ピンとコネクタには摩擦力による損傷が発生することになる。特に、多数のコネクタと接続される接続ピンは摩擦力による損傷が累積するため、寿命の減少が早くなる。 As a result, the connection pin and the connector are damaged by the frictional force. In particular, the connection pins connected to a large number of connectors accumulate damage due to frictional forces, so that the life is shortened quickly.
これに関連して、韓国登録特許公報第759081号にはカメラモジュール検査用ソケットが開示されている。韓国登録特許公報第759081号は、検査対象物であるカメラモジュールが装着される胴部;胴部に昇降可能に結合されている作動部;作動部の垂直方向昇降を案内する昇降ガイド;作動部が下降した状態を維持するように固定するクリップ部;作動部の一側に位置しカメラモジュールのコネクタピンに接続されるピン組立体;ピン組立体と接続される印刷回路基板;印刷回路基板と検査装置を連結する連結配線;及び、作動部に備えられているレンズ圧着部;を含んでなることを特徴とする。 In this regard, Korean Patent Registration No. 759081 discloses a socket for camera module inspection. Korean Registered Patent Publication No. 759081 is a body part to which a camera module as an inspection object is mounted; an operation part coupled to the body part so as to be movable up and down; an elevating guide for guiding the vertical movement of the operation part; A clip portion that is fixed so as to maintain a lowered state; a pin assembly that is located on one side of the operating portion and is connected to a connector pin of the camera module; a printed circuit board connected to the pin assembly; A connecting wire for connecting the inspection device; and a lens crimping portion provided in the operating portion.
(4) 韓国登録特許公報第759081号は、作動部が縦方向に上昇および下降する作動構造を形成するため、上述の問題点(1)乃至(3)を部分的に解決することはできるが、レンズ圧着部が装着板の上側に位置するため、装着板に移動されるカメラモジュールがレンズ圧着部にぶつかって破損する事故が発生し、レンズ圧着部が装着板に対する作業者の視線を干渉する構造的限界を持つ。 (4) Since the Korean Registered Patent Publication No. 759081 forms an operating structure in which the operating part is raised and lowered in the vertical direction, the above problems (1) to (3) can be partially solved. Since the lens crimping part is located on the upper side of the mounting plate, an accident occurs in which the camera module moved to the mounting plate collides with the lens crimping part and the lens crimping part interferes with the operator's line of sight with respect to the mounting plate. Has structural limitations.
本発明の目的は、検査途中に電子モジュールに対する作業者の視野が確保され、ソケットの設置空間の高さが縮小され、接続ピンとコネクタが理想的な接続方向で接続されるようになされるテストソケットを提供することにある。 An object of the present invention is to provide a test socket in which an operator's field of view for an electronic module is ensured during inspection, the height of the socket installation space is reduced, and connection pins and connectors are connected in an ideal connection direction. Is to provide.
また、接続ピンとコネクタとの接続を作業者の手作業ではなく機械力による自動接続構造で具現するようになされるテストソケットを提供することにある。 It is another object of the present invention to provide a test socket in which the connection between the connection pin and the connector is realized by an automatic connection structure using mechanical force instead of manual operation of an operator.
上記目的は、本発明により、電子部品が装着され、上部に下り坂の傾斜面が形成されたベース;上記ベース上で上下方向に移動可能に形成されたトップカバー;及び、上記トップカバーに摺動可能に結合され、上記トップカバーの下降時に上記電子部品を下側に加圧する加圧モジュール;を含み、上記加圧モジュールは、上記トップカバーが下降する過程で上記傾斜面によって押されて上記電子部品の上側に摺動することを特徴とするテストソケットによって達成される。 According to the present invention, there is provided a base in which an electronic component is mounted and a downhill inclined surface is formed on an upper portion; a top cover formed so as to be movable in the vertical direction on the base; and a slide on the top cover. A pressure module that is movably coupled and pressurizes the electronic component downward when the top cover is lowered. The pressure module is pushed by the inclined surface in the process of lowering the top cover. This is achieved by a test socket characterized by sliding on the upper side of the electronic component.
上記ベースまたは上記加圧モジュールには上記電子部品のコネクタと上下方向に接続する接続ピンが設けられるようになされることができる。 The base or the pressure module may be provided with a connection pin connected to the connector of the electronic component in the vertical direction.
上記ベース及び上記トップカバーのうちの一方には縦シャフトが形成され、上記ベース及び上記トップカバーのうちの他方には上記縦シャフトが上下方向に移動可能に挿入されるシャフト溝が形成されるようになされることができる。 One of the base and the top cover is formed with a vertical shaft, and the other of the base and the top cover is formed with a shaft groove into which the vertical shaft is movably inserted in the vertical direction. Can be made.
上記トップカバーと上記加圧モジュールは第1弾性部材によって連結され、上記加圧モジュールは、上記トップカバーが上昇及び下降する過程で上記第1弾性部材の回復力によって上記傾斜面に密着されるようになされることができる。 The top cover and the pressure module are connected by a first elastic member, and the pressure module is brought into close contact with the inclined surface by the recovery force of the first elastic member in the process of raising and lowering the top cover. Can be made.
上記ベースと上記トップカバーとの間には第2弾性部材が介在し、上記トップカバーを下降させた外力を除くと、上記トップカバーは上記第2弾性部材の回復力によって上昇し、上記加圧モジュールは上記第1弾性部材の回復力によって上記電子部品から遠ざかる方向に摺動するようになされることができる。 A second elastic member is interposed between the base and the top cover. When an external force that lowers the top cover is removed, the top cover is raised by the recovery force of the second elastic member, and the pressure is increased. The module may be slid in a direction away from the electronic component by the recovery force of the first elastic member.
上記トップカバーはアクチュエータによって上下方向に移動し、上記アクチュエータが上記トップカバーを上昇させると、上記加圧モジュールは上記第1弾性部材の回復力によって上記電子部品から遠ざかる方向に摺動するようになされることができる。 The top cover is moved up and down by an actuator, and when the actuator raises the top cover, the pressure module slides away from the electronic component by the recovery force of the first elastic member. Can.
上記トップカバーにはレールが形成され、上記加圧モジュールは、上記レールに沿って摺動するスライダ;上記スライダに結合され、上記電子部品を下側に加圧するプッシュブロック;及び、上記傾斜面を転がるように上記スライダに回転可能に結合される転動部材;を含んでなることができる。 A rail is formed on the top cover, and the pressure module is a slider that slides along the rail; a push block that is coupled to the slider and presses the electronic component downward; and the inclined surface A rolling member rotatably coupled to the slider for rolling.
上記トップカバーと上記加圧モジュールは第1弾性部材によって連結され、上記ベースには、上記プッシュブロックが上記電子部品を下側に加圧するように上記転動部材が上記第1弾性部材の回復力によって密着された状態で転がる垂直面が上記傾斜面の下に形成されるようになされることができる。 The top cover and the pressure module are connected by a first elastic member, and the rolling member is connected to the base so that the push block presses the electronic component downward. A vertical surface that rolls in close contact with each other can be formed below the inclined surface.
本発明によれば、トップカバーが下降する過程で加圧モジュールが傾斜面によって押されて電子部品の上側に摺動することにより、検査途中に電子モジュールに対する作業者の視野が確保され、ソケットの設置空間の高さが縮小され、接続ピンとコネクタが理想的な接続方向で接続されるようになされるテストソケットを提供することができる。 According to the present invention, the pressing module is pushed by the inclined surface in the process of lowering the top cover and slides to the upper side of the electronic component, so that the visual field of the operator for the electronic module is ensured during the inspection, and the socket It is possible to provide a test socket in which the height of the installation space is reduced and the connection pins and the connectors are connected in an ideal connection direction.
また、アクチュエータがトップカバーを上昇させると、加圧モジュールは第1弾性部材の回復力によって電子部品から遠ざかる方向に摺動することにより、接続ピンとコネクタとの接続を作業者の手作業ではなく機械力による自動接続構造で具現するようになされるテストソケットを提供することができる。 Further, when the actuator raises the top cover, the pressure module slides away from the electronic component by the recovery force of the first elastic member, so that the connection between the connection pin and the connector is not a manual operation by the operator. It is possible to provide a test socket configured to be implemented by an automatic connection structure using force.
以下、添付図面を参照して本発明の望ましい実施例を詳しく説明すれば次の通りである。但し、本発明の説明において、既に公知の機能或いは構成に関する説明は、本発明の要旨を明瞭にするために省略することにする。 Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, in the description of the present invention, descriptions of already known functions or configurations will be omitted to clarify the gist of the present invention.
本発明のテストソケットは、検査途中に電子モジュールに対する作業者の視野が確保され、ソケットの設置空間の高さが縮小され、接続ピンとコネクタが理想的な接続方向で接続されるようになされる。 In the test socket of the present invention, the field of view of the operator with respect to the electronic module is ensured during the inspection, the height of the installation space of the socket is reduced, and the connection pin and the connector are connected in an ideal connection direction.
また、本発明のテストソケットは、接続ピンとコネクタとの接続を作業者の手作業ではなく機械力による自動接続構造で具現するようになされる。 In addition, the test socket of the present invention is configured so that the connection between the connection pin and the connector is realized by an automatic connection structure by mechanical force instead of manual operation of the operator.
図1は本発明の一実施例によるテストソケットの斜視図であり、図2は図1のテストソケットの使用状態を示した斜視図であり、図3は図1のテストソケットの分離斜視図であり、図4は図1のテストソケットの断面図であり、図5は図2のテストソケットの断面図であり、図6は本発明の他の実施例によるテストソケットの斜視図であり、図7は図6のテストソケットの断面図であり、図8は図6のテストソケットの使用状態を示した断面図である。 1 is a perspective view of a test socket according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a perspective view illustrating a usage state of the test socket of FIG. 1, and FIG. 3 is an exploded perspective view of the test socket of FIG. 4 is a cross-sectional view of the test socket of FIG. 1, FIG. 5 is a cross-sectional view of the test socket of FIG. 2, and FIG. 6 is a perspective view of the test socket according to another embodiment of the present invention. 7 is a cross-sectional view of the test socket of FIG. 6, and FIG. 8 is a cross-sectional view showing a use state of the test socket of FIG. 6.
図1乃至図5に示されているように、本発明の一実施例によるテストソケット10は、組み立てが完了した電子部品Lを検査機と接続するにあたって使用されるようになされ、ベース100、トップカバー200及び加圧モジュール300を含んで構成される。
As shown in FIGS. 1 to 5, a
上記電子部品Lは、テストソケット10に装着され検査機を通して品質検査を受けることになる半導体、LCDモジュール、イメージセンサ、カメラモジュールなどを意味する。図面には、電子部品LとしてLCDモジュールの端部を示した。下では本発明の容易な理解のために、図面に示した状態で上下を区分して説明することにする。
The electronic component L means a semiconductor, an LCD module, an image sensor, a camera module, or the like that is mounted on the
図1乃至図3に示されているように、ベース100は、電子部品Lが装着される構成であり、略直方体のブロック形態に形成される。ベース100の上面には電子部品Lが装着される装着部110が形成される。
As shown in FIGS. 1 to 3, the
テストソケット10は電子部品Lを検査機と連結するための装置であり、電子部品LのコネクタCはテストソケット10の接続ピンPに接続される。コネクタCは電子部品Lの種類及び機種別に電子部品Lの上側または下側に形成される。
The
接続ピンPは、ベース100または加圧モジュール300に設けられ、電子部品LのコネクタCと上下方向に接続される。下側にコネクタCが形成された電子部品Lを検査するテストソケット10は接続ピンPがベース100の装着部110に形成され、上側にコネクタが形成された電子部品を検査するテストソケットは接続ピンがプッシュブロックに形成される。
The connection pin P is provided on the base 100 or the
図1乃至図8には、下側にコネクタCが形成されたLCDモジュールを検査するテストソケット10、すなわち、接続ピンPが装着部110に形成されたタイプのテストソケット10が示されている。以下では、本発明の容易な理解のために、図面に示されているタイプ(接続ピンPが装着部110に形成されたタイプ)のテストソケット10を基準に説明することにする。ベース100の底面には回路基板PCBが結合される。接続ピンPは回路基板PCBに連結される。
1 to 8 show a
図3乃至図5に示されているように、ベース100の上部には下り坂の傾斜面121が形成される。より詳しくは、ベース100の上側には傾斜面121及び垂直面122が形成されたガイド120が設けられる。傾斜面121は装着部110に向かって下り坂を形成する。垂直面122は傾斜面121の下に形成される。
As shown in FIGS. 3 to 5, a downhill
図1乃至図3に示されているように、ベース100には第1レバーL1及び第2レバーL2が回転可能に形成され、トップカバー200には第1レバーL1に係る係部220が形成される。
As shown in FIGS. 1 to 3, the
第1レバーL1はベース100の両側面にそれぞれ回転可能に結合される。第1レバーL1はトーションばね(図示せず)によって係部220の方に回転力を有することになる。図2に示されているように、係部220は、トップカバー200が下降して接続ピンPがコネクタCに接続されるとき、第1レバーL1の上端部に係ることになる。係部220が第1レバーL1に係ると、トップカバー200の上昇が遮られて接続ピンPとコネクタCとの接続状態が維持される。第1レバーL1の下端部はベース100の下に延びる。
The first lever L1 is rotatably coupled to both side surfaces of the
図4及び図5に示されているように、第2レバーL2はベース100の端部に回転可能に結合される。第2レバーL2の一端部は外部に突出し、第2レバーL2の他端部は第1レバーL1の他端部の下側に位置する。作業者が図5の状態で第2レバーL2の一端部を押すと、第2レバーL2の他端部が第1レバーL1の下端部を持ち上げて第1レバーL1が回転され、係部220が第1レバーL1に係った状態が解除される。第1レバーL1及び第2レバーL2は本発明の主要構成ではないため、詳しい説明は省略することにする。
As shown in FIGS. 4 and 5, the second lever L <b> 2 is rotatably coupled to the end of the
図1乃至図5に示されているように、トップカバー200は加圧モジュール300を上下方向に移動させるための構成であり、ベース100上で上下方向に移動可能に形成される。
As shown in FIGS. 1 to 5, the
ベース100には縦シャフト130が形成される。詳しく図示されてはいないが、ベース100には溝が形成され、縦シャフト130は溝に挿入結合される。トップカバー200には縦シャフト130が上下方向に移動可能に挿入されるシャフト溝SHが形成される。よって、縦シャフト130がシャフト溝SHに挿入された状態で、トップカバー200はベース100上で上下方向に移動可能な状態になる。
A
ベース100とトップカバー200との間には複数の第2弾性部材E2が介在する。第2弾性部材E2は圧縮スプリングである。ベース100及びトップカバー200には第2弾性部材E2の上端部及び下端部が挿入される複数の装着溝IHが形成される。第2弾性部材E2は装着溝IHに挿入されて流動が拘束される。
A plurality of second elastic members E <b> 2 are interposed between the base 100 and the
図1及び図4は、第2弾性部材E2の回復力によってトップカバー200が最大に上昇した状態を示している。ベース100には、図1及び図4の状態でトップカバー200の下端部が係るブロッカー131が結合される。トップカバー200はブロッカー131の干渉によってさらに上昇できず、図1及び図4の状態を維持する。
1 and 4 show a state where the
図2及び図5は、作業者がトップカバー200を押して(第2弾性部材E2が圧縮されながら)トップカバー200が下降した状態を示している。図2及び図5に示されている状態からトップカバー200を下降させた外力(作業者が押す力)を除くと、トップカバー200は第2弾性部材E2の回復力によって図1及び図4の状態に上昇する。
2 and 5 show a state where the operator pushes the top cover 200 (while the second elastic member E2 is compressed) and the
図3に示されているように、トップカバー200には(スライダ310が摺動する)一対のレール210が形成される。レール210は平面上で傾斜面121の下り坂と同一の方向に長く形成される。
As shown in FIG. 3, a pair of rails 210 (on which the
図3乃至図5に示されているように、加圧モジュール300は、トップカバー200の下降時に電子部品Lを下側に加圧する構成であり、スライダ310、プッシュブロック320及び転動部材330を含んで構成される。
As shown in FIGS. 3 to 5, the pressurizing
スライダ310はレール210に沿って摺動する構成であり、一対のマウント部311を通してレール210に装着される。マウント部311がレール210にそれぞれ装着されると、スライダ310はレール210の長手方向に沿った直線移動だけ可能な状態になる。
The
プッシュブロック320は、トップカバー200の下降時に電子部品Lと直接接触して加圧する構成であり、スライダ310に結合される。より具体的には、プッシュブロック320は装着部110に向かう側のスライダ310の端部に結合される。プッシュブロック320は弾性を有するゴムやシリコーン材質からなる。
The
転動部材330は、傾斜面121及び垂直面122を転がる構成であり、円筒形に形成され、ボルトまたはピンによりスライダ310に回転可能に結合される。
The rolling
図3乃至図5に示されているように、トップカバー200と加圧モジュール300は第1弾性部材E1によって連結される。第1弾性部材E1は転動部材330を傾斜面121及び垂直面122に密着させる構成で、圧縮スプリングであり、装着部110の反対側でスライダ310とトップカバー200とを連結する。スライダ310及びトップカバー200には第1弾性部材E1の両端部が係る孔が形成される。
As shown in FIGS. 3 to 5, the
図4及び図5に示されているように、第1弾性部材E1は、(回復力によってスライダ310を電子部品Lから遠ざかる方向に引っ張って)転動部材330を傾斜面121または垂直面122に密着させる。よって、転動部材330は、トップカバー200の上昇及び下降時、傾斜面121または垂直面122に密着された状態で転がることになる。
As shown in FIGS. 4 and 5, the first elastic member E1 moves the rolling
図1及び図4の状態、すなわち、第2弾性部材E2の回復力によってトップカバー200が最大に上昇した状態で、転動部材330は第1弾性部材E1の回復力によって傾斜面121の上端部に密着される。このとき、プッシュブロック320はトップカバー200の下側に位置し、作業者は電子部品Lを装着部110に容易に装着させることができる。
In the state of FIGS. 1 and 4, that is, in the state where the
以後、作業者がトップカバー200を押すと、加圧モジュール300はトップカバー200が下降する過程で傾斜面121によって押されて電子部品Lの上側に摺動した後、電子部品Lに向かって縦方向に下降することになる。
Thereafter, when the operator presses the
図4で、R1は転動部材330が傾斜面121を転がるときの転動部材330の移動経路を示しており、W1は転動部材330が傾斜面121を転がるときのプッシュブロック320の移動経路を示している。転動部材330が傾斜面121を転がるとき、スライダ310はレール210に沿って移動し、転動部材330及びプッシュブロック320の移動経路は傾斜面121の下り坂と同一の角度を形成する。
In FIG. 4, R <b> 1 indicates a moving path of the rolling
図4で、R2は転動部材330が垂直面122を転がるときの転動部材330の移動経路を示しており、W2は転動部材330が垂直面122を転がるときのプッシュブロック320の移動経路を示している。転動部材330が垂直面122を転がるとき、スライダ310はレール210に沿って移動せず、転動部材330とプッシュブロック320は縦方向の移動経路を形成する。
In FIG. 4, R <b> 2 indicates a moving path of the rolling
プッシュブロック320は、移動経路W1では電子部品Lと離れており、移動経路W2で電子部品Lを下側(コネクタCと接続ピンPの接続方向)に加圧することになる。図5に示されている状態で、コネクタCと接続ピンPはプッシュブロック320の加圧力によって安定的な接続状態を維持することになる。
The
検査機によるテスト完了後、作業者が第2レバーL2を押すと、トップカバー200は第2弾性部材E2の回復力によって上昇し、加圧モジュール300は第1弾性部材E1の回復力によって電子部品Lから遠ざかる方向に摺動することになる。すなわち、トップカバー200の上昇時、転動部材330は第1弾性部材E1の回復力によって垂直面122及び傾斜面121に密着された状態で上昇し、プッシュブロック320はW2と逆方向の移動経路に沿って上昇した後、W1と逆方向の移動経路に沿って移動し再びトップカバー200の下側に位置することになる。(図1及び図4参照)
When the operator presses the second lever L2 after the test by the inspection machine is completed, the
韓国登録特許公報第1006243号は、作業者が蓋部を回転させると、蓋部に設けられた部材(接続ピンブロックまたはプッシュブロック)が装着部に載せられた電子モジュールを押すことにより、テストソケットの接続ピン(以下‘接続ピン’)を電子モジュールのコネクタ(以下‘コネクタ’)に接続させる作動構造を形成する。 Korean Registered Patent Publication No. 1006243 discloses a test socket in which when a worker rotates a lid, a member (connection pin block or push block) provided on the lid pushes an electronic module placed on the mounting portion. The operation structure for connecting the connection pins (hereinafter referred to as “connection pins”) to the connector (hereinafter referred to as “connector”) of the electronic module is formed.
しかし、韓国登録特許公報第1006243号は、次のような短所がある。 However, Korean Registered Patent Publication No. 10063443 has the following disadvantages.
(1) 蓋部が電子モジュールを覆った状態で接続ピンとコネクタが接続されるため、電子モジュールと検査装置は‘電子モジュールに対する作業者の視野が遮られた状態’で電気的に連結される構造を形成する。よって、作業者は接続ピンとコネクタが正常に接続されたか否かを視覚的に確認することができない。 (1) Since the connection pin and the connector are connected in a state where the lid covers the electronic module, the electronic module and the inspection device are electrically connected in a state where the field of view of the operator with respect to the electronic module is blocked. Form. Therefore, the operator cannot visually confirm whether or not the connection pin and the connector are normally connected.
作業者は、電子モジュールの検査の結果、良好と判定された場合、接続ピンとコネクタが正常に接続されたものと見なすことができるが、電子モジュールの検査の結果、不良と判定された場合、不良判定が非正常接続に因るものか、または電子モジュールの欠陥に因るものかを正確に判断できず、追加確認しなければならないという困難がある。 The operator can consider that the connection pin and the connector are normally connected when the electronic module is determined to be good as a result of the inspection of the electronic module. It is difficult to accurately determine whether the determination is due to an abnormal connection or due to a defect in the electronic module, and there is a difficulty that additional confirmation must be made.
(2) 作業者の手により蓋部が回転しながら接続ピンがコネクタに接続される作動構造を形成し、蓋部は胴部の一側を中心として略90度の回転半径を形成する。よって、テストソケットの設置空間は、胴部の平面積と蓋部の高さに作業者の操作空間を加えた空間を占めることになる。 (2) An operating structure is formed in which the connecting pin is connected to the connector while the lid is rotated by the operator's hand, and the lid forms a rotation radius of approximately 90 degrees around one side of the body. Therefore, the installation space for the test socket occupies a space obtained by adding the operator's operation space to the plane area of the trunk portion and the height of the lid portion.
電子モジュールの検査工程が行われる検査室は、限定された空間内に多様な機資材が設けられる。多様な機資材は、検査作業の利便性及び効率性のために作業者の至近距離内に配置される。よって、検査室内でテストソケットの占める空間が大きいほど検査作業の利便性及び効率性が減少することになる。 In an inspection room where an inspection process of an electronic module is performed, various machine materials are provided in a limited space. Various machine materials are placed within a short distance of the worker for convenience and efficiency of inspection work. Therefore, the greater the space occupied by the test socket in the inspection room, the less convenient and efficient the inspection work is.
(3) 蓋部が回転して接続ピンをコネクタに接続させるため、蓋部は力の方向が毎瞬間変わる曲線運動をしながら接続ピンとコネクタを接続させる外力を形成する。よって、蓋部の回転力は、(接続ピンとコネクタが完全に接続される前まで)接続ピンとコネクタの接続方向に対して傾斜した方向に接続ピンとコネクタに伝達され、接続ピンとコネクタとの接触部位には理想的な接続方向と一致しない外力による摩擦力が生じる。 (3) Since the lid portion rotates to connect the connection pin to the connector, the lid portion forms an external force that connects the connection pin and the connector while performing a curved motion in which the direction of the force changes every moment. Therefore, the rotational force of the lid is transmitted to the connection pin and the connector in a direction inclined with respect to the connection direction of the connection pin and the connector (before the connection pin and the connector are completely connected), and is transmitted to the contact portion between the connection pin and the connector. Causes frictional forces due to external forces that do not match the ideal connection direction.
結果的に、接続ピンとコネクタには摩擦力による損傷が発生することになる。特に、多数のコネクタと接続される接続ピンは摩擦力による損傷が累積するため、寿命の減少が早くなる。 As a result, the connection pin and the connector are damaged by the frictional force. In particular, the connection pins connected to a large number of connectors accumulate damage due to frictional forces, so that the life is shortened quickly.
これに関連して、韓国登録特許公報第759081号にはカメラモジュール検査用ソケットが開示されている。韓国登録特許公報第759081号は、検査対象物であるカメラモジュールが装着される胴部;胴部に昇降可能に結合されている作動部;作動部の垂直方向昇降を案内する昇降ガイド;作動部が下降した状態を維持するように固定するクリップ部;作動部の一側に位置しカメラモジュールのコネクタピンに接続されるピン組立体;ピン組立体と接続される印刷回路基板;印刷回路基板と検査装置を連結する連結配線;及び、作動部に備えられているレンズ圧着部;を含んでなることを特徴とする。 In this regard, Korean Patent Registration No. 759081 discloses a socket for camera module inspection. Korean Registered Patent Publication No. 759081 is a body part to which a camera module as an inspection object is mounted; an operation part coupled to the body part so as to be movable up and down; an elevating guide for guiding the vertical movement of the operation part; A clip portion that is fixed so as to maintain a lowered state; a pin assembly that is located on one side of the operating portion and is connected to a connector pin of the camera module; a printed circuit board connected to the pin assembly; A connecting wire for connecting the inspection device; and a lens crimping portion provided in the operating portion.
(4) 韓国登録特許公報第759081号は、作動部が縦方向に上昇および下降する作動構造を形成するため、上述の問題点(1)乃至(3)を部分的に解決することはできるが、レンズ圧着部が装着板の上側に位置するため、装着板に移動されるカメラモジュールがレンズ圧着部にぶつかって破損する事故が発生し、レンズ圧着部が装着板に対する作業者の視線を干渉する構造的限界を持つ。 (4) Since the Korean Registered Patent Publication No. 759081 forms an operating structure in which the operating part is raised and lowered in the vertical direction, the above problems (1) to (3) can be partially solved. Since the lens crimping part is located on the upper side of the mounting plate, an accident occurs in which the camera module moved to the mounting plate collides with the lens crimping part and the lens crimping part interferes with the operator's line of sight with respect to the mounting plate. Has structural limitations.
本発明のテストソケット10は、トップカバー200の下降時、加圧モジュール300が電子部品Lの上側に移動した後、接続ピンPとコネクタCの接続方向に加圧することにより、上述のような従来技術の問題点(1)乃至(4)を解決できる。
In the
図2に示されているように、トップカバー200が下降した状態でもプッシュブロック320の下にあるコネクタCの位置及び角度を確認することができるため、作業者は接続ピンPとコネクタCが正常接続しているか否かを視覚的に確認できることから、従来技術の問題点(1)を解決できる。
As shown in FIG. 2, since the position and angle of the connector C under the
図4に示されているように、トップカバー200は回転せず上下方向に移動する作動構造を形成する。トップカバー200は垂直面122及び傾斜面121の高さ分だけ上昇することになり、垂直面122及び傾斜面121の高さはコネクタCと接続ピンPとの接続深さの数十倍以上に形成する必要がないため、検査室内でテストソケット10が占める高さを低くできることから、従来技術の問題点(2)を解決できる。
As shown in FIG. 4, the
そして、プッシュブロック320は、移動経路W1では電子部品Lと離れており、移動経路W2で電子部品Lを下側(コネクタCと接続ピンPの接続方向)に加圧することになるため、従来技術の問題点(3)を解決できる。
The
また、プッシュブロック320は、トップカバー200の上昇時、装着部110の上側から離れたトップカバー200の下に移動するため、従来技術の問題点(4)を解決できる。
In addition, since the push block 320 moves under the
図6乃至図8に示されているように、本発明の他の実施例によるテストソケット20は、トップカバー200をアクチュエータAによって上下方向に移動させるようになされ、ベース100、トップカバー200及び加圧モジュール300を含んで構成される。
As shown in FIGS. 6 to 8, the
図6に示されているように、ベース100は、電子部品Lが装着される構成であり、略直方体のブロック形態に形成される。ベース100の上面には電子部品Lが装着される装着部110が形成される。
As shown in FIG. 6, the
図6乃至図8に示されているように、ベース100の上側には下り坂の傾斜面121が形成されたガイド120が設けられる。傾斜面121は装着部110に向かって下り坂を形成する。ガイド120には傾斜面121の下に垂直面122が形成される。
As shown in FIGS. 6 to 8, a
トップカバー200は、アクチュエータAによってベース100上で上下方向に移動可能に形成される。図7及び図8に示されているように、アクチュエータAは空圧シリンダが使用される。アクチュエータAは電気や油圧を用いるタイプが使用されてもよい。
The
アクチュエータAの本体A1はベースの下端部に結合され、アクチュエータAのロッドA2はベース100に形成された孔を通過してトップカバー200の方に延びる。ロッドA2はボルトによってトップカバー200に結合される。未説明のBHはボルトが挿入されるホールを意味する。
The body A1 of the actuator A is coupled to the lower end of the base, and the rod A2 of the actuator A extends through the hole formed in the base 100 toward the
トップカバー200には縦シャフト230が形成される。詳しく図示されてはいないが、トップカバー200には溝が形成され、縦シャフト230は溝に挿入結合される。ベース100には縦シャフト230が上下方向に移動可能に挿入されるホールが形成される。よって、縦シャフト230がホールに挿入された状態で、トップカバー200はベース100上で上下方向に移動可能な状態になる。
A
図6及び図7はアクチュエータAによってトップカバー200が上昇した状態を示しており、図8はアクチュエータAによってトップカバー200が下降して接続ピンPとコネクタCが接続された状態を示している。
6 and 7 show a state where the
図7及び図8を参照すると、トップカバー200には(スライダ310が摺動する)一対のレール210が形成される。一対のレール210は平面上で傾斜面121の下り坂と同一の方向に長く形成される。
Referring to FIGS. 7 and 8, the
図6乃至図8に示されているように、加圧モジュール300は、トップカバー200の下降時、電子部品Lを下側に加圧する構成であり、スライダ310、プッシュブロック320及び転動部材330を含んで構成される。
6 to 8, the pressurizing
スライダ310は、レール210に沿って摺動する構成であり、一対のマウント部311を通してレール210に装着される。マウント部311がレール210にそれぞれ装着されると、スライダ310はレール210の長手方向に沿った直線移動だけ可能な状態になる。
The
プッシュブロック320は、トップカバー200の下降時、電子部品Lと直接接触して加圧する構成であり、スライダ310に結合される。より具体的には、プッシュブロック320は、装着部110に向かう側のスライダ310の端部に結合される。プッシュブロック320は弾性を有するゴムやシリコーン材質からなる。
The
転動部材330は、傾斜面121及び垂直面122を転がる構成であり、円筒形に形成され、ボルトまたはピンによってスライダ310に回転可能に結合される。
The rolling
図7及び図8に示されているように、トップカバー200と加圧モジュール300は第1弾性部材E1によって連結される。第1弾性部材E1は、転動部材330を傾斜面121及び垂直面122に密着させる回復力を形成する構成で、圧縮スプリングであり、装着部110の反対側においてスライダ310とトップカバー200とを連結する。スライダ310及びトップカバー200には第1弾性部材E1の両端部が係る孔が形成される。
As shown in FIGS. 7 and 8, the
図4及び図5に示されているように、第1弾性部材E1は、(スライダ310を回復力によって電子部品Lから遠ざかる方向に引っ張って)転動部材330を傾斜面121または垂直面122に密着させる。トップカバー200の上昇及び下降時、転動部材330は傾斜面121または垂直面122に密着された状態で転がることになる。
As shown in FIGS. 4 and 5, the first elastic member E1 moves the rolling
図6及び図7の状態、すなわち、アクチュエータAによってトップカバー200が最大に上昇した状態で、転動部材330は第1弾性部材E1の回復力によって傾斜面121の上端部に密着される。このとき、プッシュブロック320はトップカバー200の下側に位置し、作業者は電子部品Lを装着部110に容易に装着させることができる。
6 and 7, that is, in a state where the
図8に示されているように、トップカバー200がアクチュエータAによって下降すると、加圧モジュール300はトップカバー200が下降する過程で傾斜面121によって押されて電子部品Lの上側に摺動し縦方向に下降することになる。
As shown in FIG. 8, when the
プッシュブロック320は、転動部材330が傾斜面121を転がるとき、電子部品Lと離れており、転動部材330が垂直面122を転がるとき、電子部品Lを下側(コネクタCと接続ピンPの接続方向)に加圧することになる。図8に示されている状態でコネクタCと接続ピンPはプッシュブロック320の加圧力によって安定的な接続状態を維持することになる。
The
検査機によるテスト完了後、トップカバー200はアクチュエータAによって自動で上昇する。加圧モジュール300は、トップカバー200の上昇時、第1弾性部材E1の回復力によって電子部品Lから遠ざかる方向に摺動することになる。
After the test by the inspection machine is completed, the
トップカバー200をアクチュエータAによって上昇または下降させると、トップカバー200の速度を一定に制御できることからコネクタCと接続ピンPをより安定的に接続させることができ、作業者が手でトップカバー200などを押す必要がないため検査室内でテストソケット20の占める高さを最小限に低めることができるという利点がある。
When the
本発明によれば、トップカバーが下降する過程で加圧モジュールが傾斜面によって押されて電子部品の上側に摺動することにより、検査途中に電子モジュールに対する作業者の視野が確保され、ソケットの設置空間の高さが縮小され、接続ピンとコネクタが理想的な接続方向で接続されるようになされるテストソケットを提供することができる。 According to the present invention, the pressing module is pushed by the inclined surface in the process of lowering the top cover and slides to the upper side of the electronic component, so that the visual field of the operator for the electronic module is ensured during the inspection, and the socket It is possible to provide a test socket in which the height of the installation space is reduced and the connection pins and the connectors are connected in an ideal connection direction.
また、アクチュエータがトップカバーを上昇させると、加圧モジュールは第1弾性部材の回復力によって電子部品から遠ざかる方向に摺動することにより、接続ピンとコネクタとの接続を作業者の手作業ではなく機械力による自動接続構造で具現するようになされるテストソケットを提供することができる。 Further, when the actuator raises the top cover, the pressure module slides away from the electronic component by the recovery force of the first elastic member, so that the connection between the connection pin and the connector is not a manual operation by the operator. It is possible to provide a test socket configured to be implemented by an automatic connection structure using force.
先に本発明の特定の実施例が説明及び図示されているが、本発明は記載の実施例に限定されるものではなく、本発明の思想及び範囲を逸脱しない範囲で多様な修正及び変形が可能であることは、本技術の分野における通常の知識を有する者にとって自明なことである。従って、かかる修正例または変形例は本発明の技術的思想や観点から個別的に理解されてはならず、変形された実施例は本発明の特許請求の範囲に属するものとされなければならない。 Although specific embodiments of the present invention have been described and illustrated above, the present invention is not limited to the described embodiments, and various modifications and variations can be made without departing from the spirit and scope of the present invention. What is possible is obvious to those with ordinary knowledge in the art. Therefore, such modifications or variations should not be individually understood from the technical idea and viewpoint of the present invention, and the modified embodiments should belong to the scope of the claims of the present invention.
10、20:テストソケット
100:ベース
110:装着部
P:接続ピン
120:ガイド
121:傾斜面
122:垂直面
130:縦シャフト
131:ブロッカー
IH:装着溝
E2:第2弾性部材
L1:第1レバー
L2:第2レバー
A:アクチュエータ
200:トップカバー
210:レール
220:係部
230:縦シャフト
SH:シャフト溝
E1:第1弾性部材
BH:ボルトホール
300:加圧モジュール
310:スライダ
311:マウント部
320:プッシュブロック
330:転動部材
10, 20: Test socket
100: base 110: mounting portion P: connection pin 120: guide 121: inclined surface 122: vertical surface 130: vertical shaft 131: blocker IH: mounting groove E2: second elastic member L1: first lever L2: second lever A : Actuator 200: Top cover 210: Rail 220: Engagement part 230: Vertical shaft SH: Shaft groove E 1: First elastic member BH: Bolt hole 300: Pressure module 310: Slider 311: Mount part 320: Push block 330: Roll Moving member
Claims (8)
上記ベース上で上下方向に移動可能に形成されたトップカバー;及び、
上記トップカバーに摺動可能に結合され、上記トップカバーの下降時に上記電子部品を下側に加圧する加圧モジュール;を含み、
上記加圧モジュールは、上記トップカバーが下降する過程で上記傾斜面によって押されて上記電子部品の上側に摺動することを特徴とするテストソケット。 A base on which electronic components are mounted and a downhill slope is formed at the top;
A top cover formed to be movable in the vertical direction on the base; and
A pressure module that is slidably coupled to the top cover and pressurizes the electronic component downward when the top cover is lowered;
The test socket according to claim 1, wherein the pressure module is pushed by the inclined surface and slides to the upper side of the electronic component while the top cover is lowered.
上記ベース及び上記トップカバーのうちの他方には上記縦シャフトが上下方向に移動可能に挿入されるシャフト溝が形成されたことを特徴とする請求項1に記載のテストソケット。 A vertical shaft is formed on one of the base and the top cover,
The test socket according to claim 1, wherein a shaft groove into which the vertical shaft is inserted so as to be movable in the vertical direction is formed on the other of the base and the top cover.
上記加圧モジュールは、上記トップカバーが上昇及び下降する過程で上記第1弾性部材の回復力によって上記傾斜面に密着されることを特徴とする請求項3に記載のテストソケット。 The top cover and the pressure module are connected by a first elastic member,
The test socket according to claim 3, wherein the pressure module is closely attached to the inclined surface by a recovery force of the first elastic member in a process in which the top cover is raised and lowered.
上記トップカバーを下降させた外力を除くと、上記トップカバーは上記第2弾性部材の回復力によって上昇し、上記加圧モジュールは上記第1弾性部材の回復力によって上記電子部品から遠ざかる方向に摺動することを特徴とする請求項4に記載のテストソケット。 A second elastic member is interposed between the base and the top cover,
When the external force that lowers the top cover is removed, the top cover is raised by the recovery force of the second elastic member, and the pressure module is slid in the direction away from the electronic component by the recovery force of the first elastic member. The test socket according to claim 4, wherein the test socket moves.
上記アクチュエータが上記トップカバーを上昇させると、上記加圧モジュールは上記第1弾性部材の回復力によって上記電子部品から遠ざかる方向に摺動することを特徴とする請求項4に記載のテストソケット。 The top cover is moved up and down by the actuator,
5. The test socket according to claim 4, wherein, when the actuator raises the top cover, the pressure module slides in a direction away from the electronic component by a recovery force of the first elastic member.
上記加圧モジュールは、
上記レールに沿って摺動するスライダ;
上記スライダに結合され、上記電子部品を下側に加圧するプッシュブロック;及び、
上記傾斜面を転がるように上記スライダに回転可能に結合される転動部材;を含むことを特徴とする請求項1に記載のテストソケット。 Rails are formed on the top cover,
The pressure module is
A slider that slides along the rail;
A push block coupled to the slider and pressurizing the electronic component downward; and
The test socket according to claim 1, further comprising a rolling member rotatably coupled to the slider so as to roll on the inclined surface.
上記ベースには、上記プッシュブロックが上記電子部品を下側に加圧するように上記転動部材が上記第1弾性部材の回復力によって密着された状態で転がる垂直面が上記傾斜面の下に形成されることを特徴とする請求項7に記載のテストソケット。 The top cover and the pressure module are connected by a first elastic member,
A vertical surface is formed under the inclined surface on the base so that the rolling member is in close contact with the recovery force of the first elastic member so that the push block pressurizes the electronic component downward. The test socket according to claim 7, wherein:
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08162239A (en) * | 1994-12-02 | 1996-06-21 | Texas Instr Japan Ltd | Socket |
JP2009087739A (en) * | 2007-09-28 | 2009-04-23 | Yamaichi Electronics Co Ltd | Socket for semiconductor device |
US20100221929A1 (en) * | 2009-03-02 | 2010-09-02 | Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. | Burn-in socket with sliding member movable in dual directions |
JP2017016882A (en) * | 2015-06-30 | 2017-01-19 | 株式会社エンプラス | Socket for electronic component |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AU2002359952A1 (en) * | 2001-12-28 | 2003-07-24 | Nhk Spring Co., Ltd. | Socket for inspection |
KR100759081B1 (en) * | 2006-06-30 | 2007-09-19 | 주식회사 엔티에스 | A socket for testing electonic camera module |
KR101006243B1 (en) * | 2008-09-03 | 2011-01-07 | 주식회사 엔티에스 | A socket for testing electonic module |
JP2013137286A (en) * | 2011-12-28 | 2013-07-11 | Advantest Corp | Electronic component testing device |
TWM450871U (en) * | 2012-09-26 | 2013-04-11 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Electrical connector |
KR101246182B1 (en) * | 2013-01-22 | 2013-03-22 | 프라임텍 주식회사 | Test socket for camera module |
CN103424681B (en) * | 2013-09-03 | 2016-04-27 | 苏州创瑞机电科技有限公司 | Automatic test socket for CMOS wafer automatic test straight needle |
KR101697165B1 (en) * | 2015-09-12 | 2017-02-10 | 주식회사 메카텍시스템즈 | Camera module automatic test socket |
KR101574486B1 (en) * | 2015-09-14 | 2015-12-11 | 디플러스(주) | Test socket |
CN106405164B (en) * | 2016-11-10 | 2023-08-18 | 苏州大学文正学院 | Turnover straight-falling type optical chip module test socket |
-
2017
- 2017-03-27 KR KR1020170038688A patent/KR101926690B1/en active IP Right Grant
-
2018
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- 2018-03-27 CN CN201810259401.7A patent/CN108663546B/en active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08162239A (en) * | 1994-12-02 | 1996-06-21 | Texas Instr Japan Ltd | Socket |
JP2009087739A (en) * | 2007-09-28 | 2009-04-23 | Yamaichi Electronics Co Ltd | Socket for semiconductor device |
US20100221929A1 (en) * | 2009-03-02 | 2010-09-02 | Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. | Burn-in socket with sliding member movable in dual directions |
JP2017016882A (en) * | 2015-06-30 | 2017-01-19 | 株式会社エンプラス | Socket for electronic component |
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Publication number | Publication date |
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