KR101855249B1 - Test socket for an electronic component having a horizontal side connection function - Google Patents
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Abstract
수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓이 제공된다. 제공된 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓은 내측에 피검사 전자부품이 놓이는 안착대가 구비되며, 상기 안착대의 양측에 접속홀이 마련된 본체블록; 상기 안착대의 인접한 양측에서 수평방향 이동가능하게 설치되며, 상기 접속홀을 통해 피검사 전자부품의 양측으로 접근하여 전기신호를 인가할 수 있도록 일면에 상기 피검사 전자부품과 컨택 동작을 이루는 도전성 핀이 구비되고, 타측면에 상기 도전성 핀을 피검사 전자부품 측으로 안내하는 유도부재가 마련된 플로팅블록; 상기 본체블록의 상부에서 수평방향 이동가능하게 설치되며, 내측에 절개홈이 마련되고, 하부 양측에 상기 유도부재와 맞닿는 밀착롤러가 자유회전 가능하게 연결된 가압블록 및 상기 본체블록의 상부에 설치되며, 한 쌍의 플로팅블록 사이에서 컨택 동작을 위해 수평방향으로 이동하는 플로팅블록의 이동거리를 제한하는 멈춤블록으로 구성되어 제품 생산비용을 절감 및 제품의 내구성을 향상은 물론, 동작과정에서 구성요소 간의 마찰을 최소화하여 부품 마모로 인한 오동작을 최소화한다.There is provided a test socket for an electronic part having a horizontal side contact function. A test socket for an electronic component having a horizontal side contact function is provided with a mounting block on which an electronic component to be inspected is placed and a connection hole on both sides of the mounting block, And a conductive pin which is provided on both sides of the seat so as to be horizontally movable and which is in contact with the electronic component to be inspected on one side so as to approach both sides of the electronic component to be inspected through the connection hole and to apply an electric signal, A floating block provided on the other side thereof with an inducing member for guiding the conductive pin toward the electronic component to be inspected; A pressing block installed on the upper portion of the body block so as to be horizontally movable and provided with a cutting groove on the inner side and a contact roller which is in contact with the guide member on both lower sides thereof, And a stop block that limits the moving distance of the floating block moving in the horizontal direction for a contact operation between the pair of floating blocks, thereby reducing the production cost of the product and improving the durability of the product, Thereby minimizing malfunction due to component wear.
Description
본 발명은 전자부품용 테스트 소켓에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 전자부품용 테스트소켓의 구조 개선을 통해 구성요소 및 동작구조의 단순화를 통해 제품 생산비용을 절감 및 제품의 내구성 향상은 물론, 구성요소 간의 동작과정에서 마찰을 최소화하여 원활한 가압동작 및 동작과정에서 구성요소 간의 마찰로 인한 마모현상을 최소화할 수 있도록 한 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a test socket for an electronic component, and more particularly, to a test socket for an electronic component, which can improve the durability of the product, The present invention relates to a test socket for an electronic component having a lateral side contact function capable of minimizing friction during operation and minimizing abrasion due to friction between elements during smooth pressing operation and operation.
사회가 발전함에 따라 테블릿 컴퓨터, 카메라 폰, PDA 및 스마트 폰 등의 다양한 소형 멀티미디어 기기들이 활발하게 출시되고 있으며, 이러한 소형 멀티미디어 기기에 적용되는 화상입력기기용 소형 카메라 모듈의 수요 또한 증가하고 있는 추세이다.As the society develops, a variety of small multimedia devices such as tablet computers, camera phones, PDAs and smart phones are actively being released, and the demand for small camera modules for image input devices applied to such small multimedia devices is also increasing .
특히, 다양한 소형 멀티미디어 기기들 중 스마트 폰은 다양한 기술이 하나로 집약된 대표적인 멀티미디어 기기로써, 소형화된 디자인을 선호하는 소비자의 수요 심리에 맞게 이에 적용되는 부품 모듈들 또한 작은 사이즈가 되도록 개발하는 추세에 있다.Particularly, among the various small multimedia devices, the smartphone is a representative multimedia device in which various technologies are concentrated into one, and there is a tendency to develop the component modules to be applied thereto in a small size in accordance with the demand for consumers who prefer a miniaturized design .
이러한 부품들 중 카메라 모듈은 CCD나 CMOS의 이미지 센서 칩을 이용하여 제조하며, 그 동작관계를 살펴보면 이미지 센서 칩에 렌즈를 통하여 사물을 집광한 후, 광 신호를 전기 신호로 변환하여 LCD 디스플레이 장치 등의 디스플레이 매체에 사물이 표시될수 있도록 영상을 전달한다.Among these components, a camera module is manufactured by using an image sensor chip of CCD or CMOS. The operation of the camera module is as follows. After the object is focused on the image sensor chip through a lens, the optical signal is converted into an electric signal, So that an object can be displayed on the display medium of the display device.
또한, 카메라 모듈은 각 부품의 조립이 완료된 후 OS(Open-Short)테스트, 칼라테스트 및 픽셀테스트 등 모듈의 이상 유무에 대한 검사과정을 거치게 되는데, 모듈의 성능 평가 시에는 이미지 센서로부터의 신호를 받아 그 특성을 평가하기 때문에 실제로 카메라 모듈이 장착되는 전자부품과 동일한 작동신호 및 전원을 공급하여 카메라 모듈의 이상유무를 체크한다.In addition, after the assembly of each component is completed, the camera module is inspected for abnormalities of modules such as an OS (Open-Short) test, a color test, and a pixel test. In order to evaluate the characteristics of the camera module, the same operation signal and power source as those of the electronic component to which the camera module is mounted are checked to check whether or not the camera module is abnormal.
이와 같은 검사는 카메라 모듈이 안착될 수 있는 소켓을 마련하고, 이 소켓 내부에 카메라 모듈을 안착시킨 후, 카메라 모듈의 전원 및 제어신호를 전달 받기 위한 프로브핀들을 통전 가능한 상기 소켓의 단자들과 연결하여 테스트를 진행한다. Such inspection is carried out by providing a socket on which a camera module can be seated, placing the camera module in the socket, and then connecting probe pins for receiving power and control signals of the camera module to the terminals of the socket, And the test is carried out.
도 1은 대한민국등록특허 제10-1464223호 "카메라 모듈 검사용 자동 소켓"을 나타낸 도면이다.FIG. 1 is a view showing a Korean automatic image forming apparatus of Korean Patent No. 10-1464223 entitled " Automatic socket for inspecting a camera module ".
도 1을 참조하면, 대한민국등록특허 제10-1464223호는 상부에 카메라모듈이 안착되는 베이스플레이트를 구비하며, 측면에 회전축을 구비하고, 저면에 승하강 로드를 구비하는 고정몸체부(10); 상기 회전축에 연결되어 상기 회전축과 함께 회전하는 사이드플레이트(15); 및 상기 사이드플레이트에 승하강 가능하게 연결되며, 상기 베이스플레이트에 대응하여 상기 카메라모듈의 상부를 가압하도록 형성되는 가압블럭을 구비하는 회전몸체부(20);를 포함하여 구성된다.Referring to FIG. 1, Korean Patent Registration No. 10-1464223 discloses a camera having a
그러나 종래 대한민국등록특허 제10-1464223호 "카메라모듈 검사용 자동 소켓"은 카메라 모듈의 전원 및 전기신호를 전달하기 위한 단자가 카메라 모듈의 상부 또는 하부에 형성되어 수직방향으로 컨택 동작하는 카메라 모듈에는 사용 가능하였으나, 전원 또는 전기신호를 전달하기 위한 단자가 측면방향으로 형성된 카메라 모듈에는 사용하지 못하는 문제점이 있었다.However, Korean Patent Registration No. 10-1464223 entitled "Automatic socket for inspecting a camera module" refers to a camera module in which a terminal for transmitting power and electric signals of a camera module is formed on an upper portion or a lower portion of a camera module, However, there is a problem in that a terminal for transmitting a power or an electric signal can not be used in a camera module formed in a lateral direction.
또한, 이러한 종래 문제점을 개선하기 위한 테스트 소켓들은 구조가 복잡하여 높은 제품 생산비용이 소요됨은 물론, 복잡한 동작구조로 인해 제품의 내구성이 저하되는 구조적 문제점이 발생하였다.In addition, the test sockets for improving the conventional problems have a complicated structure, which results in a high product production cost and a structural problem that the durability of the product is deteriorated due to a complicated operation structure.
본 발명은 상술한 종래 문제점을 감안하여 안출한 것으로, 그 목적은 전자부품용 테스트소켓의 구조 개선을 통해 가압블록의 단순 동작에 의해 피검사 전자부품과 도전성 핀 간의 컨택 동작이 이루어지도록 함으로써, 구조 단순화를 통한 제품 생산비용을 절감 및 제품의 내구성을 향상시킬 수 있도록 한 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓을 제공한다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned conventional problems, and it is an object of the present invention to provide a test socket for electronic components, in which a contact operation between an inspecting electronic component and a conductive pin is performed by a simple operation of a press block, Provided is a test socket for electronic parts having a horizontal side contact function for reducing product production cost through simplification and improving durability of a product.
본 발명의 다른 목적은 플로팅블록을 피검사 전자부품 측으로 가압하는 밀착롤러를 자유회전 가능하게 구성하여 유도부재의 돌출부위면 접촉시 회전운동하도록 함으로써, 상기 밀착롤러와 유도부재 간의 마찰을 최소화하여 원활한 가압동작 및 동작과정에서 구성요소 간의 마찰로 인한 마모현상을 최소화할 수 있도록 한 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓을 제공한다.It is another object of the present invention to provide a fixing device for an image forming apparatus in which a contact roller for pressing a floating block toward an electronic device to be inspected is freely rotatable, A test socket for electronic parts having a horizontal side contact function capable of minimizing abrasion due to friction between components during a pressing operation and operation.
본 발명의 또 다른 목적은 피검사 전자부품과 도전성 핀 간의 컨택 동작 과정에서 상기 피검사 전자부품을 안착대 내부에 견고하게 밀착, 고정함으로써, 정확한 검사동작이 이루어질 수 있도록 한 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓을 제공한다. It is still another object of the present invention to provide a horizontal side contact function capable of performing an accurate inspection operation by firmly fixing and fixing the electronic component to be inspected in the seat base in the process of contact operation between the electronic component to be inspected and the conductive pin The socket for testing an electronic part having the socket is provided.
상기한 과제해결을 위한 본 발명은 내측에 피검사 전자부품이 놓이는 안착대가 구비되며, 상기 안착대의 양측에 접속홀이 마련된 본체블록; 상기 안착대의 인접한 양측에서 수평방향 이동가능하게 설치되며, 상기 접속홀을 통해 피검사 전자부품의 양측으로 접근하여 전기신호를 인가할 수 있도록 일면에 상기 피검사 전자부품과 컨택 동작을 이루는 도전성 핀이 구비되고, 타측면에 상기 도전성 핀을 피검사 전자부품 측으로 안내하는 유도부재가 마련된 플로팅블록; 상기 본체블록의 상부에서 수평방향 이동가능하게 설치되며, 내측에 절개홈이 마련되고, 하부 양측에 상기 유도부재와 맞닿는 밀착롤러가 자유회전 가능하게 연결된 가압블록 및 상기 본체블록의 상부에 설치되며, 한 쌍의 플로팅블록 사이에서 컨택 동작을 위해 수평방향으로 이동하는 플로팅블록의 이동거리를 제한하는 멈춤블록으로 구성된다.According to an aspect of the present invention, there is provided an electronic apparatus comprising: a main body block having a mounting base on which an electronic component to be inspected is placed, and connection holes provided on both sides of the mounting base; And a conductive pin which is provided on both sides of the seat so as to be horizontally movable and which is in contact with the electronic component to be inspected on one side so as to approach both sides of the electronic component to be inspected through the connection hole and to apply an electric signal, A floating block provided on the other side thereof with an inducing member for guiding the conductive pin toward the electronic component to be inspected; A pressing block installed on the upper portion of the body block so as to be horizontally movable and provided with a cutting groove on the inner side and a contact roller which is in contact with the guide member on both lower sides thereof, And a stop block for limiting the moving distance of the floating block moving in the horizontal direction for the contact operation between the pair of floating blocks.
본 발명에 의하면, 상기 유도부재는, 상기 밀착롤러가 전, 후방향으로 이동하는 과정에서 상기 밀착롤러에 의해 가압될 수 있도록 상기 안착대의 반대방향으로 돌출된 돌출부로 구성될 수 있다.According to the present invention, the guide member may be a protruding portion protruding in a direction opposite to the seat so as to be pressed by the contact roller in the process of moving the contact roller in the forward and backward directions.
본 발명에 의하면, 상기 본체블록과 플로팅블록 및 상기 본체블록과 가압블록 사이에는 상기 플로팅블록과 가압블록이 원활하게 동작할 수 있도록 안내하는 가이드블록이 더 설치되며, According to the present invention, a guide block is further provided between the body block and the floating block, and between the body block and the press block to guide the floating block and the press block to operate smoothly,
상기 가이드블록은, 상기 본체블록에 설치된 가이드레일 및 상기 가이드레일에 슬라이딩 이동가능하게 결합된 이송부재를 포함하여 구성될 수 있다.The guide block may include a guide rail provided on the body block and a conveying member slidably coupled to the guide rail.
본 발명에 의하면, 상기 플로팅블록과 본체블록 사이에는 상기 플로팅블록이 피검사 전자부품과 멀어지도록 탄성력을 제공하는 탄성체가 개재될 수 있다.According to the present invention, between the floating block and the body block, an elastic body that provides an elastic force to move the floating block away from the electronic component to be inspected may be interposed.
본 발명에 의하면, 상기 가이드블록과 가압블록 사이에는 피검사 전자부품과 도전성 핀 간의 컨택 동작시 상기 피검사 전자부품을 안착대의 내면에 밀착, 고정하기 위한 고정유닛이 더 구비되며, 상기 고정유닛은, 상기 가이드블록과 가압블록 사이에 결속된 고정편; 상기 고정편에 힌지회전 가능하게 연결되며, 상기 피검사 전자부품의 모서리를 안착대의 내면 측으로 가압하는 쐐기형 힌지회전구 및 상기 고정편과 힌지회전구 사이에 개재되어 상기 힌지회전구에 탄성력을 제공하는 탄성스프링으로 구성될 수 있다.According to the present invention, there is further provided a fixing unit between the guide block and the pressing block for contacting and fixing the electronic component to be inspected to the inner surface of the seating table during contact operation between the electronic component to be inspected and the conductive pin, A fixed piece bound between the guide block and the pressing block; A wedge-shaped hinge rotatable member hingedly connected to the stationary member for pressing the edge of the electronic component to be inspected to the inner surface side of the seat, and an elastic member provided between the stationary member and the hinge rotation member for imparting elastic force to the hinge rotary member As shown in Fig.
본 발명에 의하면, 전체적인 구조 단순화를 통해 제품 생산비용을 절감 및 제품의 내구성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.According to the present invention, it is possible to reduce the production cost of the product and improve the durability of the product by simplifying the overall structure.
또한, 동작과정에서 구성요소 간의 마찰을 최소화하여 부품 마모로 인한 오동작을 최소화할 수 있는 효과가 있다.Further, it is possible to minimize the friction between the components in the operation process, thereby minimizing malfunction due to component wear.
또한, 테스트 과정에서 전자부품과 도전성 핀 간에 정확한 검사동작이 이루어질 수 있는 효과가 있다.Further, there is an effect that an accurate inspection operation can be performed between the electronic component and the conductive pin in the test process.
도 1은 대한민국등록특허 제10-1464223호 "카메라 모듈 검사용 자동 소켓"을 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓을 나타낸 분해사시도이다.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓 중 가압블록을 나타낸 저면사시도이다.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓을 나타낸 평면도이다.
도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓의 컨택 동작을 나타낸 평면도이다.
도 6은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓의 컨택 해제동작을 나타낸 평면도이다.FIG. 1 is a view showing a Korean automatic image forming apparatus of Korean Patent No. 10-1464223 entitled " Automatic socket for inspecting a camera module ".
2 is an exploded perspective view showing a test socket for an electronic component having a horizontal side contact function according to a preferred embodiment of the present invention.
3 is a bottom perspective view showing a press block of a test socket for electronic parts having a horizontal side contact function according to a preferred embodiment of the present invention.
4 is a plan view showing a test socket for electronic parts having a horizontal side contact function according to a preferred embodiment of the present invention.
5 is a plan view showing a contact operation of a test socket for an electronic component having a horizontal side contact function according to a preferred embodiment of the present invention.
6 is a plan view showing a contact releasing operation of a test socket for an electronic part having a horizontal side contact function according to a preferred embodiment of the present invention.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓을 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, a test socket for an electronic part having a horizontal side contact function according to a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓을 나타낸 분해사시도이고, 도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓 중 가압블록을 나타낸 저면사시도이다.FIG. 2 is an exploded perspective view showing a test socket for an electronic part having a horizontal side contact function according to a preferred embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a cross-sectional view of a test socket for an electronic part having a horizontal side contact function according to a preferred embodiment of the present invention. 1 is a bottom perspective view showing a press block of a test socket.
도 2 및 도 3을 참조하면, 본 발명의 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓(100)은 본체블록(110)과, 상기 본체블록(110)에 수평방향 이동가능하게 설치된 플로팅블록(120)과 가압블록(130) 및 상기 본체블록(110)의 상부에 설치된 멈춤블록(140)을 포함하여 구성된다. 2 and 3, a
상기 본체블록(110)은 본 발명의 구성요소들 결속하기 위한 기본 틀 역할을 수행하는 구성수단이다. The
상기 본체블록(110)은 그 내측에 피검사 전자부품(N)이 놓이는 안착대(111)가 구비되며, 상기 안착대(111)의 양측에 양방향으로 개구된 접속홀(113)이 마련된다.The
한편, 상기 플로팅블록(120)은 상기 안착대(111)에 놓인 피검사 전자부품(N)에 테스트를 위한 전기신호를 인가하는 역할을 수행하는 구성수단이다.The
상기 플로팅블록(120)은 상기 안착대(111)의 인접한 양측에서 수평방향 이동가능하게 설치되며, 일면에 상기 피검사 전자부품(N)과 컨택 동작을 이루는 도전성 핀(121)이 구비되며, 타측면에 상기 도전성핀(121)을 피검사 전자부품(N) 측으로 안내하는 유도부재(123)가 마련된다.The
이에, 상기 도전성핀(121)은 상기 접속홀(113)을 통해 피검사 전자부품(N)의 양측으로 접근하여 피검사 전자부품(N)에 전기신호를 인가한다.The
상기 플로팅블록(120)과 본체블록(110) 사이에는 탄성체(127)가 개재된다. 상기 탄성체(127)는 상기 플로팅블록(120)에 상기 피검사 전자부품(N)과 멀어지도록 탄성력을 제공한다.An
한편, 상기 가압블록(130)은 상기 플로팅블록(120)이 피검사 전자부품(N) 측으로 이동하는데 필요한 동력을 제공하기 위한 역할을 수행하는 구성수단이다.The
상기 가압블록(130)은 상기 본체블록(110)의 상부에서 상기 플로팅블록(120)과 직교되게 수평방향 이동가능하게 설치되며, 내측에 절개홈(131)이 마련되고, 하부 양측에 밀착롤러(133)가 자유회전 가능하게 연결된다.The
상기 밀착롤러(133)는 상기 유도부재(123)와 맞닿게 된다. 또한, 상기 유도부재(123)는 상기 밀착롤러(133)가 전, 후방향으로 이동하는 과정에서 상기 밀착롤러(133)에 의해 가압될 수 있도록 상기 안착대(111)의 반대방향으로 돌출된 돌출부로 구성된다.The
여기서, 상기 가압블록(130)의 수평방향 이동은 수평방향 구동력을 발생하는 수단에 의해 구현되며, 상기 수평방향 구동력을 발생하는 수단은 유, 공압 실린더와 같이 수평방향 왕복 동작을 하는 구성이면 어떠한 것이든 적용 가능하다.Here, the horizontal movement of the
또한, 상기 본체블록(110)과 플로팅블록(120) 및 상기 본체블록(110)과 가압블록(130) 사이에는 상기 플로팅블록(120)과 가압블록(130)이 원활하게 동작할 수 있도록 안내하기 위한 가이드블록(150)이 더 설치된다.The
상기 가이드블록(150)은 상기 본체블록(110)에 가이드레일(151)이 설치되고, 상기 가이드레일(151)에 이송부재(153)가 슬라이딩 이동가능하게 결합된다. 이에, 상기 플로팅블록(120)과 가압블록(130)은 상기 이송부재(153)에 체결된다.The
상기 멈춤블록(140)은 상기 피검사 전자부품(N) 측으로 접근하는 플로팅블록(120)의 이동거리를 제한하기 위한 역할을 수행하는 구성수단이다.The
상기 멈춤블록(140)은 상기 본체블록(110)의 상부에 설치되며, 한 쌍의 플로팅블록(120) 사이에서 컨택 동작을 위해 수평방향으로 이동하는 플로팅블록의 이동거리를 제한한다.The
한편, 상기 가이드블록(150)과 가압블록(130) 사이에는 피검사 전자부품(N)과 도전성 핀(121) 간의 컨택 동작시 상기 피검사 전자부품(N)을 안착대(111)의 내면에 밀착, 고정하기 위한 고정유닛(160)이 더 구비된다.When the electronic component to be inspected N is brought into contact with the inner surface of the mounting table 111 between the
상기 고정유닛(160)은 상기 가이드블록(150)과 가압블록(130) 사이에 고정편(161)이 결속되고, 상기 고정편(161)에 쐐기형 힌지회전구(163)가 힌지회전가능하게 연결되며, 상기 고정편(161)과 힌지회전구(163) 사이에 상기 쐐기형 힌지회전구(163)에 탄성력을 제공하기 위한 탄성스프링(165)이 개재된다.The
이에, 컨택 동작시 상기 피검사 전자부품(N)의 모서리를 상기 쐐기형 힌지회전구(163)가 안착대(111)의 내면 측으로 가압하여 피검사 전자부품(N)과 전도성 핀(121) 간에 정확한 컨택 동작이 이루어질 수 있도록 한다.When the contacted electronic component N and the
상기와 같은 결합구성으로 이루어진 본 발명의 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓은 구조 단순화를 통한 제품 생산비용을 절감 및 제품의 내구성을 향상은 물론, 구성요소 간에 발생할 수 있는 마모현상을 최소화할 수 있도록 한 것으로, 이에 따른 동작관계 및 작용효과를 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.The test socket for electronic parts having the horizontal side contact function of the present invention having the above-described combined structure can reduce the production cost by simplifying the structure and improve the durability of the product, And the operation and the effect of the operation will be described in detail with reference to the drawings.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓을 나타낸 평면도이고, 도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓의 컨택 동작을 나타낸 평면도이며, 도 6은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓의 컨택 해제동작을 나타낸 평면도이다.FIG. 4 is a plan view showing a test socket for an electronic component having a horizontal side contact function according to a preferred embodiment of the present invention. FIG. 5 is a cross- 6 is a plan view showing a contact releasing operation of a test socket for an electronic part having a horizontal side contact function according to a preferred embodiment of the present invention.
도 4 내지 도 6을 참조하면, 상기 안착대(111)에 피검사 전자부품(N)을 놓은 후, 상기 가압블록(130)을 후방으로 슬라이딩 이동한다.4 to 6, after placing the inspection electronic component N on the mounting table 111, the
이때, 상기 가압블록(130)은 상기 본체블록(110)과 가압블록(130) 사이에 설치된 가이드블록(150)에 의해 원활하게 슬라이딩 이동한다.At this time, the
또한, 상기 고정유닛(160)은 가압블록(130)과 함께 전자부품(N) 측으로 이동하여 상기 쐐기형 힌지회전구(163)의 단부가 상기 안착대(111)에 놓인 피검사 전자부품(N)의 모서리를 안착대(111)의 내면 측으로 가압, 고정한다.The fixing
이에, 상기 고정유닛(160)은 상기 피검사 전자부품(N)과 도전성 핀(121) 간의 컨택 동작이 정확하게 이루어질 수 있도록 한다.Thus, the fixing
이후, 상기 가압블록(130)을 후방으로 슬라이딩 이동하면, 상기 가압블록(130)의 밀착롤러(133)는 플로팅블록(120)에 마련된 유도부재(123)를 가압하여 상기 플로팅블록(120)이 전자부품(N) 측으로 이동한다.When the
이때, 상기 플로팅블록(120)은 상기 본체블록(110)과 플로팅블록(120) 사이에 설치된 가이드블록(150)에 의해 원활하게 슬라이딩 이동한다.At this time, the floating
이후, 상기 플로팅블록(120)이 전자부품(N) 측으로 이동하면, 상기 도전성 핀(121)은 안착대(111)의 접속홀(113)을 통해 피검사 전자부품(N)의 양측으로 접근하여 전자부품(N)과 컨택 동작이 이루어진다.Thereafter, when the floating
이때, 상기 멈춤블록(140)은 상기 전자부품(N)과 도전성 핀(121) 간에 정확한 컨택 동작이 이루어졌을 때 상기 플로팅블록(120)이 더는 전자부품(N) 측으로 이동하지 못하도록 이동거리를 제한한다. 이에, 상기 멈춤블록(140)은 전자부품(N)과 도전성 핀(121) 간의 컨택 동작 과정에서 전자부품(N) 측으로 과도한 힘이 전달되는 것을 미연에 방지함은 물론, 테스트 과정에서 전자부품(N)의 파손을 방지한다.The
도 6을 참조하면, 상기 가압블록(130)을 전방으로 슬라이딩 이동하면, 상기 가압블록(130)의 밀착롤러(133)는 유도부재(123)가 형성된 구간에서 이탈하여 상기 가압블록(130)이 더 이상 플로팅블록(120)을 가압하지 않는 상태가 된다.6, when the
이에, 상기 플로팅블록(120)은 상기 플로팅블록(120)과 본체블록(110) 사이에 개재된 탄성체(127)의 탄성력에 의해 초기 위치로 복귀한다.The floating
이러한 동작과정을 구현하는 본 발명은 전체적인 구조 단순화를 통해 제품 생산비용을 절감 및 제품의 내구성을 향상은 물론, 동작과정에서 구성요소 간의 마찰을 최소화하여 부품 마모로 인한 오동작을 최소화하며, 테스트 과정에서 전자부품과 도전성 핀 간에 정확한 검사동작이 이루어질 수 있도록 한다.The present invention, which realizes this operation process, minimizes the malfunction due to component wear by minimizing the friction between the components in the operation process as well as reducing the product production cost and the durability of the product through the entire structure simplification, So that an accurate inspection operation can be performed between the electronic part and the conductive pin.
110 : 본체블록 111 : 안착대
113 : 접속홀 120 : 플로팅블록
121 : 도전성핀 123 : 유도부재
127 : 탄성체 130 : 가압블록
131 : 절개홈 133 : 밀착롤러
140 : 멈춤블록 150 : 가이드블록
151 : 가이드레일 153 : 이송부재
160 : 고정유닛 161 : 고정편
163 : 쐐기형 힌지회전구 165 : 탄성스프링110: main body block 111:
113: connection hole 120: floating block
121: conductive pin 123: guide member
127: elastic body 130: pressure block
131: incision groove 133: contact roller
140: stop block 150: guide block
151: guide rail 153: conveying member
160: Fixing unit 161: Fixing piece
163: Wedge type hinge rotation gear 165: Elastic spring
Claims (5)
상기 안착대의 인접한 양측에서 수평방향 이동가능하게 설치되며, 일면에 도전성핀이 구비되어 상기 접속홀을 통해 피검사 전자부품의 양측으로 접근하여 상기 피검사 전자부품과 컨택 동작을 이루는 도전성 핀이 구비되고, 타측면에 상기 도전성 핀을 피검사 전자부품 측으로 안내하는 유도부재가 마련된 플로팅블록;
상기 본체블록의 상부에서 수평방향 이동가능하게 설치되며, 내측에 절개홈이 마련되고, 하부 양측에 상기 유도부재와 맞닿는 밀착롤러가 자유회전 가능하게 연결된 가압블록; 및
상기 본체블록과 플로팅블록 및 상기 본체블록과 가압블록 사이에는 상기 플로팅블록과 가압블록이 원활하게 동작할 수 있도록 안내하는 가이드블록을 포함하되, 상기 가이드블록은, 상기 본체블록에 설치된 가이드레일 및 상기 가이드레일에 슬라이딩 이동가능하게 결합된 이송부재를 포함하는 것을 특징으로 하며,
상기 가이드블록과 가압블록 사이에는 피검사 전자부품과 도전성 핀 간의 컨택 동작시 상기 피검사 전자부품을 안착대의 내면에 밀착, 고정하기 위한 고정유닛이 더 구비되며,
상기 고정유닛은,
상기 가이드블록과 가압블록 사이에 결속된 고정편;
상기 고정편에 힌지회전 가능하게 연결되며, 상기 피검사 전자부품의 모서리를 안착대의 내면 측으로 가압하는 쐐기형 힌지회전구; 및
상기 고정편과 힌지회전구 사이에 개재되어 상기 힌지회전구에 탄성력을 제공하는 탄성스프링으로 구성된 것을 특징으로 하는 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓.A main body block having a mounting block on which an electronic component to be inspected is placed, and connection holes provided on both sides of the mounting block;
Conductive pins are provided on both sides of the seat so as to be horizontally movable, and conductive pins are provided on one surface of the seat so as to approach both sides of the electronic component to be inspected through the connection holes and to make contact with the electronic components to be inspected A floating block provided on the other side thereof with an induction member for guiding the conductive pin toward the electronic component to be inspected;
A pressing block which is horizontally movably installed at an upper portion of the body block and has a cutout groove at its inner side and a contact roller which is in contact with the guide member at both lower sides thereof so as to freely rotate; And
And a guide block for guiding the floating block and the pressing block to smoothly operate between the body block and the floating block, and between the body block and the pressing block, wherein the guide block includes a guide rail provided on the body block, And a conveying member slidably coupled to the guide rail,
A fixing unit is further provided between the guide block and the press block to fix and fix the electronic component to be inspected to the inner surface of the mount table during contact operation between the electronic component to be inspected and the conductive pin,
The fixed unit includes:
A fixed piece coupled between the guide block and the pressing block;
A wedge-shaped hinge rotatably connected to the stationary piece so as to be hinged, for pressing the edge of the electronic device to be inspected to the inner surface side of the seat; And
And a resilient spring interposed between the fixing piece and the hinge rotation opening to provide an elastic force to the hinge rotation opening.
상기 유도부재는,
상기 밀착롤러가 전, 후방향으로 이동하는 과정에서 상기 밀착롤러에 의해 가압될 수 있도록 상기 안착대의 반대방향으로 돌출된 돌출부로 구성된 것을 특징으로 하는 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓.The method according to claim 1,
Wherein the guide member comprises:
And a protrusion protruded in a direction opposite to the seat so as to be pressed by the contact roller in the course of moving the contact roller in the forward and backward directions.
상기 본체블록의 상부에 설치되며, 한 쌍의 플로팅블록 사이에서 컨택 동작을 위해 수평방향으로 이동하는 플로팅블록의 이동거리를 제한하는 멈춤블록을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓.The method according to claim 1,
Further comprising a stop block provided on the body block and restricting a moving distance of a floating block moving in a horizontal direction for a contact operation between the pair of floating blocks. Test socket for electronic components.
상기 플로팅블록과 본체블록 사이에는 상기 플로팅블록이 피검사 전자부품과 멀어지도록 탄성력을 제공하는 탄성체가 개재된 것을 특징으로 하는 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓.The method according to claim 1,
Wherein the floating block has an elastic body provided between the floating block and the body block to provide an elastic force to move the floating block away from the electronic component to be inspected.
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