KR101855249B1 - Test socket for an electronic component having a horizontal side connection function - Google Patents

Test socket for an electronic component having a horizontal side connection function Download PDF

Info

Publication number
KR101855249B1
KR101855249B1 KR1020160123989A KR20160123989A KR101855249B1 KR 101855249 B1 KR101855249 B1 KR 101855249B1 KR 1020160123989 A KR1020160123989 A KR 1020160123989A KR 20160123989 A KR20160123989 A KR 20160123989A KR 101855249 B1 KR101855249 B1 KR 101855249B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
block
electronic component
inspected
floating
contact
Prior art date
Application number
KR1020160123989A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20180034762A (en
Inventor
강경원
정현채
김성환
Original Assignee
(주) 네스텍코리아
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by (주) 네스텍코리아 filed Critical (주) 네스텍코리아
Priority to KR1020160123989A priority Critical patent/KR101855249B1/en
Publication of KR20180034762A publication Critical patent/KR20180034762A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101855249B1 publication Critical patent/KR101855249B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0416Connectors, terminals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836Fault-finding or characterising

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓이 제공된다. 제공된 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓은 내측에 피검사 전자부품이 놓이는 안착대가 구비되며, 상기 안착대의 양측에 접속홀이 마련된 본체블록; 상기 안착대의 인접한 양측에서 수평방향 이동가능하게 설치되며, 상기 접속홀을 통해 피검사 전자부품의 양측으로 접근하여 전기신호를 인가할 수 있도록 일면에 상기 피검사 전자부품과 컨택 동작을 이루는 도전성 핀이 구비되고, 타측면에 상기 도전성 핀을 피검사 전자부품 측으로 안내하는 유도부재가 마련된 플로팅블록; 상기 본체블록의 상부에서 수평방향 이동가능하게 설치되며, 내측에 절개홈이 마련되고, 하부 양측에 상기 유도부재와 맞닿는 밀착롤러가 자유회전 가능하게 연결된 가압블록 및 상기 본체블록의 상부에 설치되며, 한 쌍의 플로팅블록 사이에서 컨택 동작을 위해 수평방향으로 이동하는 플로팅블록의 이동거리를 제한하는 멈춤블록으로 구성되어 제품 생산비용을 절감 및 제품의 내구성을 향상은 물론, 동작과정에서 구성요소 간의 마찰을 최소화하여 부품 마모로 인한 오동작을 최소화한다.There is provided a test socket for an electronic part having a horizontal side contact function. A test socket for an electronic component having a horizontal side contact function is provided with a mounting block on which an electronic component to be inspected is placed and a connection hole on both sides of the mounting block, And a conductive pin which is provided on both sides of the seat so as to be horizontally movable and which is in contact with the electronic component to be inspected on one side so as to approach both sides of the electronic component to be inspected through the connection hole and to apply an electric signal, A floating block provided on the other side thereof with an inducing member for guiding the conductive pin toward the electronic component to be inspected; A pressing block installed on the upper portion of the body block so as to be horizontally movable and provided with a cutting groove on the inner side and a contact roller which is in contact with the guide member on both lower sides thereof, And a stop block that limits the moving distance of the floating block moving in the horizontal direction for a contact operation between the pair of floating blocks, thereby reducing the production cost of the product and improving the durability of the product, Thereby minimizing malfunction due to component wear.

Description

수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓{Test socket for an electronic component having a horizontal side connection function}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a test socket for an electronic component having a horizontal side contact function,

본 발명은 전자부품용 테스트 소켓에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 전자부품용 테스트소켓의 구조 개선을 통해 구성요소 및 동작구조의 단순화를 통해 제품 생산비용을 절감 및 제품의 내구성 향상은 물론, 구성요소 간의 동작과정에서 마찰을 최소화하여 원활한 가압동작 및 동작과정에서 구성요소 간의 마찰로 인한 마모현상을 최소화할 수 있도록 한 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a test socket for an electronic component, and more particularly, to a test socket for an electronic component, which can improve the durability of the product, The present invention relates to a test socket for an electronic component having a lateral side contact function capable of minimizing friction during operation and minimizing abrasion due to friction between elements during smooth pressing operation and operation.

사회가 발전함에 따라 테블릿 컴퓨터, 카메라 폰, PDA 및 스마트 폰 등의 다양한 소형 멀티미디어 기기들이 활발하게 출시되고 있으며, 이러한 소형 멀티미디어 기기에 적용되는 화상입력기기용 소형 카메라 모듈의 수요 또한 증가하고 있는 추세이다.As the society develops, a variety of small multimedia devices such as tablet computers, camera phones, PDAs and smart phones are actively being released, and the demand for small camera modules for image input devices applied to such small multimedia devices is also increasing .

특히, 다양한 소형 멀티미디어 기기들 중 스마트 폰은 다양한 기술이 하나로 집약된 대표적인 멀티미디어 기기로써, 소형화된 디자인을 선호하는 소비자의 수요 심리에 맞게 이에 적용되는 부품 모듈들 또한 작은 사이즈가 되도록 개발하는 추세에 있다.Particularly, among the various small multimedia devices, the smartphone is a representative multimedia device in which various technologies are concentrated into one, and there is a tendency to develop the component modules to be applied thereto in a small size in accordance with the demand for consumers who prefer a miniaturized design .

이러한 부품들 중 카메라 모듈은 CCD나 CMOS의 이미지 센서 칩을 이용하여 제조하며, 그 동작관계를 살펴보면 이미지 센서 칩에 렌즈를 통하여 사물을 집광한 후, 광 신호를 전기 신호로 변환하여 LCD 디스플레이 장치 등의 디스플레이 매체에 사물이 표시될수 있도록 영상을 전달한다.Among these components, a camera module is manufactured by using an image sensor chip of CCD or CMOS. The operation of the camera module is as follows. After the object is focused on the image sensor chip through a lens, the optical signal is converted into an electric signal, So that an object can be displayed on the display medium of the display device.

또한, 카메라 모듈은 각 부품의 조립이 완료된 후 OS(Open-Short)테스트, 칼라테스트 및 픽셀테스트 등 모듈의 이상 유무에 대한 검사과정을 거치게 되는데, 모듈의 성능 평가 시에는 이미지 센서로부터의 신호를 받아 그 특성을 평가하기 때문에 실제로 카메라 모듈이 장착되는 전자부품과 동일한 작동신호 및 전원을 공급하여 카메라 모듈의 이상유무를 체크한다.In addition, after the assembly of each component is completed, the camera module is inspected for abnormalities of modules such as an OS (Open-Short) test, a color test, and a pixel test. In order to evaluate the characteristics of the camera module, the same operation signal and power source as those of the electronic component to which the camera module is mounted are checked to check whether or not the camera module is abnormal.

이와 같은 검사는 카메라 모듈이 안착될 수 있는 소켓을 마련하고, 이 소켓 내부에 카메라 모듈을 안착시킨 후, 카메라 모듈의 전원 및 제어신호를 전달 받기 위한 프로브핀들을 통전 가능한 상기 소켓의 단자들과 연결하여 테스트를 진행한다. Such inspection is carried out by providing a socket on which a camera module can be seated, placing the camera module in the socket, and then connecting probe pins for receiving power and control signals of the camera module to the terminals of the socket, And the test is carried out.

도 1은 대한민국등록특허 제10-1464223호 "카메라 모듈 검사용 자동 소켓"을 나타낸 도면이다.FIG. 1 is a view showing a Korean automatic image forming apparatus of Korean Patent No. 10-1464223 entitled " Automatic socket for inspecting a camera module ".

도 1을 참조하면, 대한민국등록특허 제10-1464223호는 상부에 카메라모듈이 안착되는 베이스플레이트를 구비하며, 측면에 회전축을 구비하고, 저면에 승하강 로드를 구비하는 고정몸체부(10); 상기 회전축에 연결되어 상기 회전축과 함께 회전하는 사이드플레이트(15); 및 상기 사이드플레이트에 승하강 가능하게 연결되며, 상기 베이스플레이트에 대응하여 상기 카메라모듈의 상부를 가압하도록 형성되는 가압블럭을 구비하는 회전몸체부(20);를 포함하여 구성된다.Referring to FIG. 1, Korean Patent Registration No. 10-1464223 discloses a camera having a fixed body portion 10 having a base plate on which a camera module is mounted, a rotary shaft on a side surface thereof, and a lifting / lowering rod on the bottom thereof. A side plate (15) connected to the rotating shaft and rotated together with the rotating shaft; And a rotating body part (20) connected to the side plate so as to be able to move up and down, and a pressing block formed to press the upper part of the camera module corresponding to the base plate.

그러나 종래 대한민국등록특허 제10-1464223호 "카메라모듈 검사용 자동 소켓"은 카메라 모듈의 전원 및 전기신호를 전달하기 위한 단자가 카메라 모듈의 상부 또는 하부에 형성되어 수직방향으로 컨택 동작하는 카메라 모듈에는 사용 가능하였으나, 전원 또는 전기신호를 전달하기 위한 단자가 측면방향으로 형성된 카메라 모듈에는 사용하지 못하는 문제점이 있었다.However, Korean Patent Registration No. 10-1464223 entitled "Automatic socket for inspecting a camera module" refers to a camera module in which a terminal for transmitting power and electric signals of a camera module is formed on an upper portion or a lower portion of a camera module, However, there is a problem in that a terminal for transmitting a power or an electric signal can not be used in a camera module formed in a lateral direction.

또한, 이러한 종래 문제점을 개선하기 위한 테스트 소켓들은 구조가 복잡하여 높은 제품 생산비용이 소요됨은 물론, 복잡한 동작구조로 인해 제품의 내구성이 저하되는 구조적 문제점이 발생하였다.In addition, the test sockets for improving the conventional problems have a complicated structure, which results in a high product production cost and a structural problem that the durability of the product is deteriorated due to a complicated operation structure.

대한민국등록특허 제10-1464223호Korean Patent No. 10-1464223

본 발명은 상술한 종래 문제점을 감안하여 안출한 것으로, 그 목적은 전자부품용 테스트소켓의 구조 개선을 통해 가압블록의 단순 동작에 의해 피검사 전자부품과 도전성 핀 간의 컨택 동작이 이루어지도록 함으로써, 구조 단순화를 통한 제품 생산비용을 절감 및 제품의 내구성을 향상시킬 수 있도록 한 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓을 제공한다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned conventional problems, and it is an object of the present invention to provide a test socket for electronic components, in which a contact operation between an inspecting electronic component and a conductive pin is performed by a simple operation of a press block, Provided is a test socket for electronic parts having a horizontal side contact function for reducing product production cost through simplification and improving durability of a product.

본 발명의 다른 목적은 플로팅블록을 피검사 전자부품 측으로 가압하는 밀착롤러를 자유회전 가능하게 구성하여 유도부재의 돌출부위면 접촉시 회전운동하도록 함으로써, 상기 밀착롤러와 유도부재 간의 마찰을 최소화하여 원활한 가압동작 및 동작과정에서 구성요소 간의 마찰로 인한 마모현상을 최소화할 수 있도록 한 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓을 제공한다.It is another object of the present invention to provide a fixing device for an image forming apparatus in which a contact roller for pressing a floating block toward an electronic device to be inspected is freely rotatable, A test socket for electronic parts having a horizontal side contact function capable of minimizing abrasion due to friction between components during a pressing operation and operation.

본 발명의 또 다른 목적은 피검사 전자부품과 도전성 핀 간의 컨택 동작 과정에서 상기 피검사 전자부품을 안착대 내부에 견고하게 밀착, 고정함으로써, 정확한 검사동작이 이루어질 수 있도록 한 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓을 제공한다. It is still another object of the present invention to provide a horizontal side contact function capable of performing an accurate inspection operation by firmly fixing and fixing the electronic component to be inspected in the seat base in the process of contact operation between the electronic component to be inspected and the conductive pin The socket for testing an electronic part having the socket is provided.

상기한 과제해결을 위한 본 발명은 내측에 피검사 전자부품이 놓이는 안착대가 구비되며, 상기 안착대의 양측에 접속홀이 마련된 본체블록; 상기 안착대의 인접한 양측에서 수평방향 이동가능하게 설치되며, 상기 접속홀을 통해 피검사 전자부품의 양측으로 접근하여 전기신호를 인가할 수 있도록 일면에 상기 피검사 전자부품과 컨택 동작을 이루는 도전성 핀이 구비되고, 타측면에 상기 도전성 핀을 피검사 전자부품 측으로 안내하는 유도부재가 마련된 플로팅블록; 상기 본체블록의 상부에서 수평방향 이동가능하게 설치되며, 내측에 절개홈이 마련되고, 하부 양측에 상기 유도부재와 맞닿는 밀착롤러가 자유회전 가능하게 연결된 가압블록 및 상기 본체블록의 상부에 설치되며, 한 쌍의 플로팅블록 사이에서 컨택 동작을 위해 수평방향으로 이동하는 플로팅블록의 이동거리를 제한하는 멈춤블록으로 구성된다.According to an aspect of the present invention, there is provided an electronic apparatus comprising: a main body block having a mounting base on which an electronic component to be inspected is placed, and connection holes provided on both sides of the mounting base; And a conductive pin which is provided on both sides of the seat so as to be horizontally movable and which is in contact with the electronic component to be inspected on one side so as to approach both sides of the electronic component to be inspected through the connection hole and to apply an electric signal, A floating block provided on the other side thereof with an inducing member for guiding the conductive pin toward the electronic component to be inspected; A pressing block installed on the upper portion of the body block so as to be horizontally movable and provided with a cutting groove on the inner side and a contact roller which is in contact with the guide member on both lower sides thereof, And a stop block for limiting the moving distance of the floating block moving in the horizontal direction for the contact operation between the pair of floating blocks.

본 발명에 의하면, 상기 유도부재는, 상기 밀착롤러가 전, 후방향으로 이동하는 과정에서 상기 밀착롤러에 의해 가압될 수 있도록 상기 안착대의 반대방향으로 돌출된 돌출부로 구성될 수 있다.According to the present invention, the guide member may be a protruding portion protruding in a direction opposite to the seat so as to be pressed by the contact roller in the process of moving the contact roller in the forward and backward directions.

본 발명에 의하면, 상기 본체블록과 플로팅블록 및 상기 본체블록과 가압블록 사이에는 상기 플로팅블록과 가압블록이 원활하게 동작할 수 있도록 안내하는 가이드블록이 더 설치되며, According to the present invention, a guide block is further provided between the body block and the floating block, and between the body block and the press block to guide the floating block and the press block to operate smoothly,

상기 가이드블록은, 상기 본체블록에 설치된 가이드레일 및 상기 가이드레일에 슬라이딩 이동가능하게 결합된 이송부재를 포함하여 구성될 수 있다.The guide block may include a guide rail provided on the body block and a conveying member slidably coupled to the guide rail.

본 발명에 의하면, 상기 플로팅블록과 본체블록 사이에는 상기 플로팅블록이 피검사 전자부품과 멀어지도록 탄성력을 제공하는 탄성체가 개재될 수 있다.According to the present invention, between the floating block and the body block, an elastic body that provides an elastic force to move the floating block away from the electronic component to be inspected may be interposed.

본 발명에 의하면, 상기 가이드블록과 가압블록 사이에는 피검사 전자부품과 도전성 핀 간의 컨택 동작시 상기 피검사 전자부품을 안착대의 내면에 밀착, 고정하기 위한 고정유닛이 더 구비되며, 상기 고정유닛은, 상기 가이드블록과 가압블록 사이에 결속된 고정편; 상기 고정편에 힌지회전 가능하게 연결되며, 상기 피검사 전자부품의 모서리를 안착대의 내면 측으로 가압하는 쐐기형 힌지회전구 및 상기 고정편과 힌지회전구 사이에 개재되어 상기 힌지회전구에 탄성력을 제공하는 탄성스프링으로 구성될 수 있다.According to the present invention, there is further provided a fixing unit between the guide block and the pressing block for contacting and fixing the electronic component to be inspected to the inner surface of the seating table during contact operation between the electronic component to be inspected and the conductive pin, A fixed piece bound between the guide block and the pressing block; A wedge-shaped hinge rotatable member hingedly connected to the stationary member for pressing the edge of the electronic component to be inspected to the inner surface side of the seat, and an elastic member provided between the stationary member and the hinge rotation member for imparting elastic force to the hinge rotary member As shown in Fig.

본 발명에 의하면, 전체적인 구조 단순화를 통해 제품 생산비용을 절감 및 제품의 내구성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.According to the present invention, it is possible to reduce the production cost of the product and improve the durability of the product by simplifying the overall structure.

또한, 동작과정에서 구성요소 간의 마찰을 최소화하여 부품 마모로 인한 오동작을 최소화할 수 있는 효과가 있다.Further, it is possible to minimize the friction between the components in the operation process, thereby minimizing malfunction due to component wear.

또한, 테스트 과정에서 전자부품과 도전성 핀 간에 정확한 검사동작이 이루어질 수 있는 효과가 있다.Further, there is an effect that an accurate inspection operation can be performed between the electronic component and the conductive pin in the test process.

도 1은 대한민국등록특허 제10-1464223호 "카메라 모듈 검사용 자동 소켓"을 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓을 나타낸 분해사시도이다.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓 중 가압블록을 나타낸 저면사시도이다.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓을 나타낸 평면도이다.
도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓의 컨택 동작을 나타낸 평면도이다.
도 6은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓의 컨택 해제동작을 나타낸 평면도이다.
FIG. 1 is a view showing a Korean automatic image forming apparatus of Korean Patent No. 10-1464223 entitled " Automatic socket for inspecting a camera module ".
2 is an exploded perspective view showing a test socket for an electronic component having a horizontal side contact function according to a preferred embodiment of the present invention.
3 is a bottom perspective view showing a press block of a test socket for electronic parts having a horizontal side contact function according to a preferred embodiment of the present invention.
4 is a plan view showing a test socket for electronic parts having a horizontal side contact function according to a preferred embodiment of the present invention.
5 is a plan view showing a contact operation of a test socket for an electronic component having a horizontal side contact function according to a preferred embodiment of the present invention.
6 is a plan view showing a contact releasing operation of a test socket for an electronic part having a horizontal side contact function according to a preferred embodiment of the present invention.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓을 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, a test socket for an electronic part having a horizontal side contact function according to a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓을 나타낸 분해사시도이고, 도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓 중 가압블록을 나타낸 저면사시도이다.FIG. 2 is an exploded perspective view showing a test socket for an electronic part having a horizontal side contact function according to a preferred embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a cross-sectional view of a test socket for an electronic part having a horizontal side contact function according to a preferred embodiment of the present invention. 1 is a bottom perspective view showing a press block of a test socket.

도 2 및 도 3을 참조하면, 본 발명의 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓(100)은 본체블록(110)과, 상기 본체블록(110)에 수평방향 이동가능하게 설치된 플로팅블록(120)과 가압블록(130) 및 상기 본체블록(110)의 상부에 설치된 멈춤블록(140)을 포함하여 구성된다. 2 and 3, a test socket 100 for an electronic component having a horizontal side contact function of the present invention includes a body block 110, a floating block 120 mounted horizontally movably to the body block 110, A push block 120 and a detent block 140 installed on the upper portion of the body block 110.

상기 본체블록(110)은 본 발명의 구성요소들 결속하기 위한 기본 틀 역할을 수행하는 구성수단이다. The main body block 110 is a constituent means that serves as a basic frame for binding the constituent elements of the present invention.

상기 본체블록(110)은 그 내측에 피검사 전자부품(N)이 놓이는 안착대(111)가 구비되며, 상기 안착대(111)의 양측에 양방향으로 개구된 접속홀(113)이 마련된다.The main body block 110 is provided with a mount table 111 on which an electronic component N to be inspected is placed and a connection hole 113 is provided on both sides of the mount table 111 in both directions.

한편, 상기 플로팅블록(120)은 상기 안착대(111)에 놓인 피검사 전자부품(N)에 테스트를 위한 전기신호를 인가하는 역할을 수행하는 구성수단이다.The floating block 120 is a means for applying an electric signal for testing to the electronic component N to be inspected placed on the mounting table 111.

상기 플로팅블록(120)은 상기 안착대(111)의 인접한 양측에서 수평방향 이동가능하게 설치되며, 일면에 상기 피검사 전자부품(N)과 컨택 동작을 이루는 도전성 핀(121)이 구비되며, 타측면에 상기 도전성핀(121)을 피검사 전자부품(N) 측으로 안내하는 유도부재(123)가 마련된다.The floating block 120 is horizontally movably installed on both sides of the seat cushion 111. The conductive pin 121 is provided on one surface of the floating block 120 and is in contact with the electronic component N to be inspected. And an induction member 123 for guiding the conductive pin 121 toward the electronic component N to be inspected is provided on the side surface.

이에, 상기 도전성핀(121)은 상기 접속홀(113)을 통해 피검사 전자부품(N)의 양측으로 접근하여 피검사 전자부품(N)에 전기신호를 인가한다.The conductive pin 121 approaches both sides of the electronic component N to be inspected through the connection hole 113 and applies an electric signal to the electronic component N to be inspected.

상기 플로팅블록(120)과 본체블록(110) 사이에는 탄성체(127)가 개재된다. 상기 탄성체(127)는 상기 플로팅블록(120)에 상기 피검사 전자부품(N)과 멀어지도록 탄성력을 제공한다.An elastic body 127 is interposed between the floating block 120 and the body block 110. The elastic body 127 provides an elastic force to the floating block 120 to move away from the electronic component N to be inspected.

한편, 상기 가압블록(130)은 상기 플로팅블록(120)이 피검사 전자부품(N) 측으로 이동하는데 필요한 동력을 제공하기 위한 역할을 수행하는 구성수단이다.The pressing block 130 is a means for providing the power required for the floating block 120 to move toward the electronic component N to be inspected.

상기 가압블록(130)은 상기 본체블록(110)의 상부에서 상기 플로팅블록(120)과 직교되게 수평방향 이동가능하게 설치되며, 내측에 절개홈(131)이 마련되고, 하부 양측에 밀착롤러(133)가 자유회전 가능하게 연결된다.The pressing block 130 is horizontally movably installed at the upper portion of the body block 110 so as to be orthogonal to the floating block 120. The pressing block 130 is provided with a cutting groove 131 at its inner side, 133 are freely rotatably connected.

상기 밀착롤러(133)는 상기 유도부재(123)와 맞닿게 된다. 또한, 상기 유도부재(123)는 상기 밀착롤러(133)가 전, 후방향으로 이동하는 과정에서 상기 밀착롤러(133)에 의해 가압될 수 있도록 상기 안착대(111)의 반대방향으로 돌출된 돌출부로 구성된다.The contact roller 133 abuts the guide member 123. [ The guide member 123 may be provided with a protrusion 132 protruding in a direction opposite to the seat cushion 111 so that the guide roller 123 can be pressed by the contact roller 133 during the movement of the contact roller 133 in the forward and backward directions. .

여기서, 상기 가압블록(130)의 수평방향 이동은 수평방향 구동력을 발생하는 수단에 의해 구현되며, 상기 수평방향 구동력을 발생하는 수단은 유, 공압 실린더와 같이 수평방향 왕복 동작을 하는 구성이면 어떠한 것이든 적용 가능하다.Here, the horizontal movement of the pressing block 130 is realized by a means for generating a horizontal driving force, and the means for generating the horizontal driving force may be any type of structure such as a pneumatic cylinder, Lt; / RTI >

또한, 상기 본체블록(110)과 플로팅블록(120) 및 상기 본체블록(110)과 가압블록(130) 사이에는 상기 플로팅블록(120)과 가압블록(130)이 원활하게 동작할 수 있도록 안내하기 위한 가이드블록(150)이 더 설치된다.The floating block 120 and the pressing block 130 are guided so as to be smoothly operated between the body block 110 and the floating block 120 and between the body block 110 and the pressing block 130 A guide block 150 is further installed.

상기 가이드블록(150)은 상기 본체블록(110)에 가이드레일(151)이 설치되고, 상기 가이드레일(151)에 이송부재(153)가 슬라이딩 이동가능하게 결합된다. 이에, 상기 플로팅블록(120)과 가압블록(130)은 상기 이송부재(153)에 체결된다.The guide block 150 is provided with a guide rail 151 on the body block 110 and a conveying member 153 is slidably coupled to the guide rail 151. Accordingly, the floating block 120 and the pressing block 130 are fastened to the conveying member 153.

상기 멈춤블록(140)은 상기 피검사 전자부품(N) 측으로 접근하는 플로팅블록(120)의 이동거리를 제한하기 위한 역할을 수행하는 구성수단이다.The stop block 140 is a means for limiting the moving distance of the floating block 120 approaching the electronic component N to be inspected.

상기 멈춤블록(140)은 상기 본체블록(110)의 상부에 설치되며, 한 쌍의 플로팅블록(120) 사이에서 컨택 동작을 위해 수평방향으로 이동하는 플로팅블록의 이동거리를 제한한다.The stop block 140 is installed on the upper portion of the body block 110 and limits the moving distance of the floating block moving in the horizontal direction for the contact operation between the pair of the floating blocks 120.

한편, 상기 가이드블록(150)과 가압블록(130) 사이에는 피검사 전자부품(N)과 도전성 핀(121) 간의 컨택 동작시 상기 피검사 전자부품(N)을 안착대(111)의 내면에 밀착, 고정하기 위한 고정유닛(160)이 더 구비된다.When the electronic component to be inspected N is brought into contact with the inner surface of the mounting table 111 between the guide block 150 and the pressing block 130 during the contact operation between the electronic component N to be inspected and the conductive pin 121, The fixing unit 160 is further provided for tightly and fixing.

상기 고정유닛(160)은 상기 가이드블록(150)과 가압블록(130) 사이에 고정편(161)이 결속되고, 상기 고정편(161)에 쐐기형 힌지회전구(163)가 힌지회전가능하게 연결되며, 상기 고정편(161)과 힌지회전구(163) 사이에 상기 쐐기형 힌지회전구(163)에 탄성력을 제공하기 위한 탄성스프링(165)이 개재된다.The fixing unit 160 includes a fixing block 161 coupled between the guide block 150 and the pressing block 130 and a wedge-shaped hinge rotation hole 163 hinged to the fixing block 161 And an elastic spring 165 is interposed between the fixing piece 161 and the hinge rotation hole 163 to provide an elastic force to the wedge-shaped hinge rotation hole 163.

이에, 컨택 동작시 상기 피검사 전자부품(N)의 모서리를 상기 쐐기형 힌지회전구(163)가 안착대(111)의 내면 측으로 가압하여 피검사 전자부품(N)과 전도성 핀(121) 간에 정확한 컨택 동작이 이루어질 수 있도록 한다.When the contacted electronic component N and the conductive pin 121 are electrically connected to each other by the wedge-shaped hinge rotation member 163 by pressing the edge of the electronic component N to be inspected, So that accurate contact operation can be performed.

상기와 같은 결합구성으로 이루어진 본 발명의 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓은 구조 단순화를 통한 제품 생산비용을 절감 및 제품의 내구성을 향상은 물론, 구성요소 간에 발생할 수 있는 마모현상을 최소화할 수 있도록 한 것으로, 이에 따른 동작관계 및 작용효과를 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.The test socket for electronic parts having the horizontal side contact function of the present invention having the above-described combined structure can reduce the production cost by simplifying the structure and improve the durability of the product, And the operation and the effect of the operation will be described in detail with reference to the drawings.

도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓을 나타낸 평면도이고, 도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓의 컨택 동작을 나타낸 평면도이며, 도 6은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓의 컨택 해제동작을 나타낸 평면도이다.FIG. 4 is a plan view showing a test socket for an electronic component having a horizontal side contact function according to a preferred embodiment of the present invention. FIG. 5 is a cross- 6 is a plan view showing a contact releasing operation of a test socket for an electronic part having a horizontal side contact function according to a preferred embodiment of the present invention.

도 4 내지 도 6을 참조하면, 상기 안착대(111)에 피검사 전자부품(N)을 놓은 후, 상기 가압블록(130)을 후방으로 슬라이딩 이동한다.4 to 6, after placing the inspection electronic component N on the mounting table 111, the pressing block 130 is slid rearward.

이때, 상기 가압블록(130)은 상기 본체블록(110)과 가압블록(130) 사이에 설치된 가이드블록(150)에 의해 원활하게 슬라이딩 이동한다.At this time, the pressing block 130 slides smoothly by the guide block 150 installed between the body block 110 and the pressing block 130.

또한, 상기 고정유닛(160)은 가압블록(130)과 함께 전자부품(N) 측으로 이동하여 상기 쐐기형 힌지회전구(163)의 단부가 상기 안착대(111)에 놓인 피검사 전자부품(N)의 모서리를 안착대(111)의 내면 측으로 가압, 고정한다.The fixing unit 160 moves toward the electronic component N together with the pressing block 130 so that the end portion of the wedge type hinge rotating member 163 is moved toward the electronic component N to be inspected Is pressed and fixed to the inner surface side of the seat cushion 111.

이에, 상기 고정유닛(160)은 상기 피검사 전자부품(N)과 도전성 핀(121) 간의 컨택 동작이 정확하게 이루어질 수 있도록 한다.Thus, the fixing unit 160 can accurately perform a contact operation between the electronic component N to be inspected and the conductive pin 121.

이후, 상기 가압블록(130)을 후방으로 슬라이딩 이동하면, 상기 가압블록(130)의 밀착롤러(133)는 플로팅블록(120)에 마련된 유도부재(123)를 가압하여 상기 플로팅블록(120)이 전자부품(N) 측으로 이동한다.When the pressing block 130 is slid rearward, the contact roller 133 of the pressing block 130 presses the guide member 123 provided on the floating block 120 to move the floating block 120 And moves to the electronic component (N) side.

이때, 상기 플로팅블록(120)은 상기 본체블록(110)과 플로팅블록(120) 사이에 설치된 가이드블록(150)에 의해 원활하게 슬라이딩 이동한다.At this time, the floating block 120 slides smoothly by the guide block 150 installed between the body block 110 and the floating block 120.

이후, 상기 플로팅블록(120)이 전자부품(N) 측으로 이동하면, 상기 도전성 핀(121)은 안착대(111)의 접속홀(113)을 통해 피검사 전자부품(N)의 양측으로 접근하여 전자부품(N)과 컨택 동작이 이루어진다.Thereafter, when the floating block 120 moves toward the electronic component N, the conductive pin 121 approaches both sides of the electronic component N to be inspected through the connection hole 113 of the mounting table 111 A contact operation is performed with the electronic component N. [

이때, 상기 멈춤블록(140)은 상기 전자부품(N)과 도전성 핀(121) 간에 정확한 컨택 동작이 이루어졌을 때 상기 플로팅블록(120)이 더는 전자부품(N) 측으로 이동하지 못하도록 이동거리를 제한한다. 이에, 상기 멈춤블록(140)은 전자부품(N)과 도전성 핀(121) 간의 컨택 동작 과정에서 전자부품(N) 측으로 과도한 힘이 전달되는 것을 미연에 방지함은 물론, 테스트 과정에서 전자부품(N)의 파손을 방지한다.The stop block 140 may move the floating block 120 so that the floating block 120 can no longer move toward the electronic component N when the contact operation between the electronic component N and the conductive pin 121 is performed correctly Limit. The detent block 140 prevents the excessive force from being transmitted to the electronic component N during the contact operation between the electronic component N and the conductive pin 121, N).

도 6을 참조하면, 상기 가압블록(130)을 전방으로 슬라이딩 이동하면, 상기 가압블록(130)의 밀착롤러(133)는 유도부재(123)가 형성된 구간에서 이탈하여 상기 가압블록(130)이 더 이상 플로팅블록(120)을 가압하지 않는 상태가 된다.6, when the pressing block 130 is slid forward, the contact roller 133 of the pressing block 130 is separated from the section where the guide member 123 is formed, so that the pressing block 130 The floating block 120 is not pressed any more.

이에, 상기 플로팅블록(120)은 상기 플로팅블록(120)과 본체블록(110) 사이에 개재된 탄성체(127)의 탄성력에 의해 초기 위치로 복귀한다.The floating block 120 returns to the initial position by the elastic force of the elastic body 127 interposed between the floating block 120 and the body block 110.

이러한 동작과정을 구현하는 본 발명은 전체적인 구조 단순화를 통해 제품 생산비용을 절감 및 제품의 내구성을 향상은 물론, 동작과정에서 구성요소 간의 마찰을 최소화하여 부품 마모로 인한 오동작을 최소화하며, 테스트 과정에서 전자부품과 도전성 핀 간에 정확한 검사동작이 이루어질 수 있도록 한다.The present invention, which realizes this operation process, minimizes the malfunction due to component wear by minimizing the friction between the components in the operation process as well as reducing the product production cost and the durability of the product through the entire structure simplification, So that an accurate inspection operation can be performed between the electronic part and the conductive pin.

110 : 본체블록 111 : 안착대
113 : 접속홀 120 : 플로팅블록
121 : 도전성핀 123 : 유도부재
127 : 탄성체 130 : 가압블록
131 : 절개홈 133 : 밀착롤러
140 : 멈춤블록 150 : 가이드블록
151 : 가이드레일 153 : 이송부재
160 : 고정유닛 161 : 고정편
163 : 쐐기형 힌지회전구 165 : 탄성스프링
110: main body block 111:
113: connection hole 120: floating block
121: conductive pin 123: guide member
127: elastic body 130: pressure block
131: incision groove 133: contact roller
140: stop block 150: guide block
151: guide rail 153: conveying member
160: Fixing unit 161: Fixing piece
163: Wedge type hinge rotation gear 165: Elastic spring

Claims (5)

내측에 피검사 전자부품이 놓이는 안착대가 구비되며, 상기 안착대의 양측에 접속홀이 마련된 본체블록;
상기 안착대의 인접한 양측에서 수평방향 이동가능하게 설치되며, 일면에 도전성핀이 구비되어 상기 접속홀을 통해 피검사 전자부품의 양측으로 접근하여 상기 피검사 전자부품과 컨택 동작을 이루는 도전성 핀이 구비되고, 타측면에 상기 도전성 핀을 피검사 전자부품 측으로 안내하는 유도부재가 마련된 플로팅블록;
상기 본체블록의 상부에서 수평방향 이동가능하게 설치되며, 내측에 절개홈이 마련되고, 하부 양측에 상기 유도부재와 맞닿는 밀착롤러가 자유회전 가능하게 연결된 가압블록; 및
상기 본체블록과 플로팅블록 및 상기 본체블록과 가압블록 사이에는 상기 플로팅블록과 가압블록이 원활하게 동작할 수 있도록 안내하는 가이드블록을 포함하되, 상기 가이드블록은, 상기 본체블록에 설치된 가이드레일 및 상기 가이드레일에 슬라이딩 이동가능하게 결합된 이송부재를 포함하는 것을 특징으로 하며,
상기 가이드블록과 가압블록 사이에는 피검사 전자부품과 도전성 핀 간의 컨택 동작시 상기 피검사 전자부품을 안착대의 내면에 밀착, 고정하기 위한 고정유닛이 더 구비되며,
상기 고정유닛은,
상기 가이드블록과 가압블록 사이에 결속된 고정편;
상기 고정편에 힌지회전 가능하게 연결되며, 상기 피검사 전자부품의 모서리를 안착대의 내면 측으로 가압하는 쐐기형 힌지회전구; 및
상기 고정편과 힌지회전구 사이에 개재되어 상기 힌지회전구에 탄성력을 제공하는 탄성스프링으로 구성된 것을 특징으로 하는 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓.
A main body block having a mounting block on which an electronic component to be inspected is placed, and connection holes provided on both sides of the mounting block;
Conductive pins are provided on both sides of the seat so as to be horizontally movable, and conductive pins are provided on one surface of the seat so as to approach both sides of the electronic component to be inspected through the connection holes and to make contact with the electronic components to be inspected A floating block provided on the other side thereof with an induction member for guiding the conductive pin toward the electronic component to be inspected;
A pressing block which is horizontally movably installed at an upper portion of the body block and has a cutout groove at its inner side and a contact roller which is in contact with the guide member at both lower sides thereof so as to freely rotate; And
And a guide block for guiding the floating block and the pressing block to smoothly operate between the body block and the floating block, and between the body block and the pressing block, wherein the guide block includes a guide rail provided on the body block, And a conveying member slidably coupled to the guide rail,
A fixing unit is further provided between the guide block and the press block to fix and fix the electronic component to be inspected to the inner surface of the mount table during contact operation between the electronic component to be inspected and the conductive pin,
The fixed unit includes:
A fixed piece coupled between the guide block and the pressing block;
A wedge-shaped hinge rotatably connected to the stationary piece so as to be hinged, for pressing the edge of the electronic device to be inspected to the inner surface side of the seat; And
And a resilient spring interposed between the fixing piece and the hinge rotation opening to provide an elastic force to the hinge rotation opening.
제1항에 있어서,
상기 유도부재는,
상기 밀착롤러가 전, 후방향으로 이동하는 과정에서 상기 밀착롤러에 의해 가압될 수 있도록 상기 안착대의 반대방향으로 돌출된 돌출부로 구성된 것을 특징으로 하는 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓.
The method according to claim 1,
Wherein the guide member comprises:
And a protrusion protruded in a direction opposite to the seat so as to be pressed by the contact roller in the course of moving the contact roller in the forward and backward directions.
제1항에 있어서,
상기 본체블록의 상부에 설치되며, 한 쌍의 플로팅블록 사이에서 컨택 동작을 위해 수평방향으로 이동하는 플로팅블록의 이동거리를 제한하는 멈춤블록을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓.
The method according to claim 1,
Further comprising a stop block provided on the body block and restricting a moving distance of a floating block moving in a horizontal direction for a contact operation between the pair of floating blocks. Test socket for electronic components.
제1항에 있어서,
상기 플로팅블록과 본체블록 사이에는 상기 플로팅블록이 피검사 전자부품과 멀어지도록 탄성력을 제공하는 탄성체가 개재된 것을 특징으로 하는 수평방향 사이드 컨택 기능을 갖는 전자부품용 테스트 소켓.
The method according to claim 1,
Wherein the floating block has an elastic body provided between the floating block and the body block to provide an elastic force to move the floating block away from the electronic component to be inspected.
삭제delete
KR1020160123989A 2016-09-27 2016-09-27 Test socket for an electronic component having a horizontal side connection function KR101855249B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020160123989A KR101855249B1 (en) 2016-09-27 2016-09-27 Test socket for an electronic component having a horizontal side connection function

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020160123989A KR101855249B1 (en) 2016-09-27 2016-09-27 Test socket for an electronic component having a horizontal side connection function

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20180034762A KR20180034762A (en) 2018-04-05
KR101855249B1 true KR101855249B1 (en) 2018-05-08

Family

ID=61977695

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020160123989A KR101855249B1 (en) 2016-09-27 2016-09-27 Test socket for an electronic component having a horizontal side connection function

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101855249B1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102654545B1 (en) * 2023-12-12 2024-04-04 주식회사 프로이천 Floating block

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102040775B1 (en) * 2018-08-09 2019-11-05 주식회사 엔티에스 Multi axis test socket
KR102145182B1 (en) * 2019-10-10 2020-08-18 주식회사 세인블루텍 Camera Module Automatic TestSocket
JP6830706B1 (en) * 2020-08-07 2021-02-17 株式会社Sdk Measurement socket
KR102432815B1 (en) * 2020-08-24 2022-08-16 한화시스템 주식회사 Supporting apparatus for subject to be inspected and inspecting method using the same
KR102186192B1 (en) * 2020-10-20 2020-12-03 주식회사미래기계기술 Side contact gripper device for testing electronic components

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101230447B1 (en) 2012-11-19 2013-02-06 프라임텍 주식회사 Jig for testing camera module
KR101448961B1 (en) * 2013-09-30 2014-10-14 프라임텍 주식회사 Test socket for vcm module
KR101581712B1 (en) * 2014-12-22 2016-01-04 (주) 네스텍코리아 Socket For Testing Electronics Having Side Contact
KR101584967B1 (en) * 2015-12-14 2016-01-14 (주) 네스텍코리아 Socket For Testing Electronics Having 4-Direction Side Connect
KR101584970B1 (en) 2015-05-06 2016-01-14 (주) 네스텍코리아 Socket For Testing Electronics

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101230447B1 (en) 2012-11-19 2013-02-06 프라임텍 주식회사 Jig for testing camera module
KR101448961B1 (en) * 2013-09-30 2014-10-14 프라임텍 주식회사 Test socket for vcm module
KR101581712B1 (en) * 2014-12-22 2016-01-04 (주) 네스텍코리아 Socket For Testing Electronics Having Side Contact
KR101584970B1 (en) 2015-05-06 2016-01-14 (주) 네스텍코리아 Socket For Testing Electronics
KR101584967B1 (en) * 2015-12-14 2016-01-14 (주) 네스텍코리아 Socket For Testing Electronics Having 4-Direction Side Connect

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102654545B1 (en) * 2023-12-12 2024-04-04 주식회사 프로이천 Floating block

Also Published As

Publication number Publication date
KR20180034762A (en) 2018-04-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101855249B1 (en) Test socket for an electronic component having a horizontal side connection function
KR101584970B1 (en) Socket For Testing Electronics
KR101442035B1 (en) Apparatus for testing camera module
KR101801711B1 (en) Linearly connected electronic component test socket
KR101584967B1 (en) Socket For Testing Electronics Having 4-Direction Side Connect
KR101581712B1 (en) Socket For Testing Electronics Having Side Contact
KR101850937B1 (en) Camera module automatic test socket
KR101448961B1 (en) Test socket for vcm module
KR101776797B1 (en) Electronic parts test center with precise side contact function
CN107770515B (en) Device for checking camera module
CN107037241B (en) Camera module test socket
KR101969839B1 (en) Panel carring vacuum holder
KR101444774B1 (en) Socket for testing electronics
JP2018163152A (en) Slide vertical type test socket
KR101616391B1 (en) Socket for testing Camera Module
US11333704B2 (en) Sliding test device for electronic components
KR101672936B1 (en) Apparatus for inspecting camera module
KR101444787B1 (en) Socket for testing electronics
KR101776810B1 (en) Test socket for electronic components
KR101628302B1 (en) Socket For Testing Electronics
KR102040775B1 (en) Multi axis test socket
TWI635277B (en) Test device with crimping mechanism and test classification device
KR101985209B1 (en) An electronic component test socket having a multi-pusher function in which a contact operation is performed in a direction perpendicular to the power transmission direction
KR100901830B1 (en) Flexible pcb test socket
KR101628301B1 (en) camera module testing socket for vertically contacting

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right