KR101801711B1 - Linearly connected electronic component test socket - Google Patents

Linearly connected electronic component test socket Download PDF

Info

Publication number
KR101801711B1
KR101801711B1 KR1020170086411A KR20170086411A KR101801711B1 KR 101801711 B1 KR101801711 B1 KR 101801711B1 KR 1020170086411 A KR1020170086411 A KR 1020170086411A KR 20170086411 A KR20170086411 A KR 20170086411A KR 101801711 B1 KR101801711 B1 KR 101801711B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
lid
base
electronic component
guide
connection
Prior art date
Application number
KR1020170086411A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
정영진
김시재
Original Assignee
주식회사 티씨에스
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 티씨에스 filed Critical 주식회사 티씨에스
Priority to KR1020170086411A priority Critical patent/KR101801711B1/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101801711B1 publication Critical patent/KR101801711B1/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0433—Sockets for IC's or transistors
    • G01R1/0441—Details
    • G01R1/0466—Details concerning contact pieces or mechanical details, e.g. hinges or cams; Shielding
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2825—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere in household appliances or professional audio/video equipment

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

A linearly connected electronic component test socket is provided. The linearly connected electronic component test socket comprises: a base having a seat on which an electronic component is placed; a cover part coupled to the base so as to perform hinge rotation; and a connection part connected to the cover part to slidingly move in a linear direction, maintaining a state tilted at a predetermined angle with the cover unit to be parallel with the seat when the cover unit performs hinge rotation to approach the base, and having a pin block connected to the electronic component provided on one surface. Therefore, a stable connection operation and an accurate connection operation between the electronic component and the pin block in the linear direction can be performed.

Description

직선방향 접속형 전자부품 테스트 소켓{Linearly connected electronic component test socket}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a linear-

본 발명은 전자부품 테스트 소켓에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 테스트용 소켓의 구조 개선을 통해 핀 블럭과 전자부품 간의 직선방향 접속이 가능하도록 하며, 동작과정에서 구성요소 간의 마찰을 최소화하여 원활한 동작과정이 이루어질 수 있도록 한 직선방향 접속형 전자부품 테스트 소켓에 관한 것이다.The present invention relates to an electronic component test socket, and more particularly, to an electronic component test socket capable of linear connection between a pin block and an electronic component by improving the structure of a test socket, minimizing friction between components during operation, To a linear-connected electronic component test socket.

사회가 발전함에 따라 테블릿 컴퓨터, 카메라 폰, PDA 및 스마트 폰 등의 다양한 소형 멀티미디어 기기들의 출시가 이어지고 있으며, 이러한 소형 멀티미디어 기기에 적용되는 화상입력기기용 소형 카메라 모듈의 수요 또한 증가하고 있다.As the society develops, a variety of small multimedia devices such as tablet computers, camera phones, PDAs and smart phones are being launched, and the demand for small camera modules for image input devices applied to such small multimedia devices is also increasing.

특히, 다양한 소형 멀티미디어 기기들 중 스마트 폰은 다양한 기술이 하나로 집약된 대표적인 기기로써, 휴대가 간편한 디자인을 선호하는 소비자의 수요 심리에 맞게 여기에 적용되는 부품 모듈들 또한 소형화되고 있는 추세에 있다.Particularly, among the various small multimedia devices, smart phones are representative devices in which various technologies are integrated into one, and the component modules applied thereto are also becoming smaller in line with the demand for consumers who prefer portable design.

이러한 부품들 중 카메라 모듈은 CCD나 CMOS의 이미지 센서 칩을 이용하여 제조하며, 그 동작관계를 살펴보면 이미지 센서 칩에 렌즈를 통하여 사물을 집광한 후, 광신호를 전기 신호로 변환하여 LCD 디스플레이 장치 등의 디스플레이 매체에 사물이 표시될 수 있도록 영상을 전달한다.Among these components, a camera module is manufactured by using an image sensor chip of CCD or CMOS. The operation of the camera module is as follows. After the object is focused on the image sensor chip through a lens, the optical signal is converted into an electric signal, So that an object can be displayed on the display medium of the display device.

한편, 소형 디스플레이 모듈과 카메라 모듈 등과 같은 소형 전자부품은 조립이 완료된 후 OS(Open-Short)테스트, 칼라테스트 및 픽셀테스트 등 모듈의 이상 유무에 대한 검사과정을 거치게 되는데, 모듈의 성능 평가 시에는 이미지 센서로부터의 신호를 받아 그 특성을 평가하기 때문에 실제로 카메라 모듈이 장착되는 전자부품과 동일한 작동신호 및 전원을 공급하여 카메라 모듈의 이상유무를 체크한다.Meanwhile, small electronic components such as a small display module and a camera module are subjected to an inspection process for an abnormality such as an OS (Open-Short) test, a color test, and a pixel test after the assembly is completed. And receives the signal from the image sensor and evaluates the characteristics of the camera module. Thus, the same operation signal and power supply as those of the electronic component to which the camera module is mounted are checked to check whether or not the camera module is abnormal.

상기 소형 디스플레이 모듈과 카메라 모듈 등과 같이 보드와 보드를 바로 연결하는 고기능 마이크로 커넥터(Micro-Connector) 또는 비투비 커넥터(Board to Board Connector)를 실장한 형태의 제품이 급격히 증가하고 있다.There has been a rapid increase in products such as a small display module, a camera module, and the like in which a high-performance micro-connector or a board-to-board connector is directly mounted to connect the board and the board.

마이크로-커넥터를 이용한 테스트 방법에는 포고 핀(Pogo-Pin)을 이용한 방법, 메일-커넥터(male-connector)를 피메일-커넥터(female-connector)에 직접 삽입하는 방법, 러버 커넥터를 이용한 방법 등이 있다. 직접 삽입하여 테스트를 하는 방법은 작업 효율성이 떨어져 현재 거의 이용되고 있지 않다.Test methods using a micro-connector include a method using a pogo-pin, a method of inserting a male-connector directly into a female-connector, a method using a rubber connector, and the like have. The method of directly inserting and testing has not been used at present due to its low efficiency.

이와 같은 검사는 전자부품이 안착될 수 있는 소켓을 마련하고, 이 소켓 내부에 전자부품을 안착시킨 후, 상기 전자부품에 전원 및 제어신호를 입력하여 테스트를 진행한다.Such a test is performed by providing a socket on which an electronic component can be placed, placing the electronic component in the socket, and then inputting power and control signals to the electronic component to perform the test.

본 발명의 출원인에 의해 출원된 대한민국실용신안등록 제20-0471077호 "전자부품 테스트용 소켓"은 덮개부의 힌지회전 동작을 통해 베이스에 안착된 전자부품의 테스트 동작을 수행한다.Korean Utility Model Registration No. 20-0471077 entitled " Socket for Testing Electronic Components ", filed by the applicant of the present invention, performs a test operation of an electronic part seated on a base through a hinge rotation operation of a lid part.

즉, 일반적으로 전자부품의 테스트를 위해서는 측정핀을 전자부품 측으로 이동시키기 위한 수평이동과 측정핀과 전자부품의 접속을 위한 수직이동을 병행해야 했으며, 이러한 구분 동작을 한 동작으로 수행하기 위해서는 상기 종래기술처럼 힌지회전을 통해 접속동작을 수행해야 했다.That is, generally, in order to test an electronic component, horizontal movement for moving the measurement pin toward the electronic component and vertical movement for connection of the measurement pin and the electronic component have to be performed in parallel. To perform the division operation, I had to perform the hinge rotation through the hinge rotation like the technology.

그러나 힌지 회전에 의한 접속은 구분 동작을 간소화시킨 구조적 특징은 인정되나, 측정핀이 힌지회전 동작과정에서 전자부품과 접속을 이루어 측정핀과 전자부품 간에 정확한 접속동작이 이루어지지 못하는 문제점이 있었다.However, although the structural feature of simplifying the division operation by the hinge rotation is recognized, there is a problem in that the measurement pin is connected to the electronic component in the hinge rotation operation process, and the accurate connection operation between the measurement pin and the electronic component can not be performed.

대한민국실용신안등록 제20-0471077호Korea Utility Model Registration No. 20-0471077

본 발명은 상술한 종래 문제점을 감안하여 안출한 것으로, 그 목적은 전자부품 테스트소켓의 구조 개선을 통해 전자부품과의 접속을 위한 핀 블럭이 힌지회전 동작과 직선방향 슬라이딩 동작을 연동하여 수행하며, 상기 핀 블럭이 구비된 접속부가 덮개부와 소정각도 틀어져 상기 덮개부가 베이스에 근접시 상기 접속부가 안착대와 평행을 이루도록 함으로써, 상기 핀 블럭의 직선방향 이동 과정에서 전자부품과 접속하여 정확한 접속동작을 구현할 수 있도록 한 직선방향 접속형 전자부품 테스트 소켓이 제공된다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and it is an object of the present invention to provide a pin block for connection with an electronic component by performing a hinge rotation operation and a linear sliding operation in conjunction with each other, The connecting portion provided with the pin block is turned at a predetermined angle with the lid portion so that the connecting portion is in parallel with the seating table when the lid is close to the base, so that the pin block is connected to the electronic component in the linear movement process, There is provided a linearly-connected electronic component test socket that can be implemented.

본 발명의 다른 목적은 덮개부의 미는 힘을 접속부에 전달하는 가압부재 중 상기 덮개부의 구성요소와 가압부재의 구성요소 사이에 개재된 스페이서를 둥근 구형상의 볼로 구성함으로써, 구성요소 간의 접촉면적을 최대한 제한하여 동작과정에서의 마찰을 최소화할 수 있도록 한 직선방향 접속형 전자부품 테스트 소켓이 제공된다.It is a further object of the present invention to provide a method of controlling the contact area between components by maximizing the contact area between the components by constituting spacers interposed between the components of the lid part and the constituent elements of the pressing member among the pressing members for transmitting the pushing force of the lid part to the connecting part. So that the friction in the operation process can be minimized.

본 발명의 또 다른 목적은 전자부품과 핀 블럭 간의 접속시 별도의 가이드부재를 통해 접속동작을 안내하도록 함으로써, 안정된 접속동작을 구현할 수 있도록 한 직선방향 접속형 전자부품 테스트 소켓이 제공된다.It is still another object of the present invention to provide a linearly connected electronic component test socket capable of realizing a stable connection operation by guiding the connection operation through a separate guide member when connecting the electronic component and the pin block.

상기한 과제해결을 위한 본 발명은 전자부품이 놓이는 안착대를 갖는 베이스; 상기 베이스에 힌지회전 가능하게 결합된 덮개부 및 상기 덮개부에 직선방향 슬라이딩 이동가능게 연결되며, 상기 덮개부가 힌지회전하여 상기 베이스에 근접시 상기 안착대와 평행을 이루도록 상기 덮개부와 소정각도 틀어진 상태를 유지하고, 일면에 상기 전자부품과 접속을 이루는 핀 블럭이 마련된 접속부를 포함한다.According to an aspect of the present invention, there is provided an electronic device comprising: a base having a seat for placing electronic parts; A lid part hingably coupled to the base and a lid part movably slidably connected to the lid part so that the lid part is hingedly rotated to be in a predetermined angle with the lid part so as to be parallel to the seating part when the lid part is close to the base And a connection portion provided with a pin block connecting to the electronic component on one side thereof.

본 발명에 있어서, 상기 베이스는, 상기 접속부가 베이스에 걸림없이 원활하게 힌지회전할 수 있도록 내부에 개구홀이 마련될 수 있다.In the present invention, the base may be provided with an opening hole therein so that the connection portion can be hinged smoothly without being caught by the base.

본 발명에 있어서, 상기 덮개부는, 내측에 상기 베이스 측으로 개방되어 상기 접속부(130)를 소정깊이 수용하는 가이드홈이 마련되고, 상기 가이드홈의 내면에 상기 접속부의 외부 노출을 위한 개방홀이 마련될 수 있다.In the present invention, the lid portion is provided with a guide groove which is opened to the base side inside and accommodates the connection portion 130 to a predetermined depth, and an opening hole for external exposure of the connection portion is provided on the inner surface of the guide groove .

본 발명에 있어서, 상기 덮개부와 접속부 사이에는 상기 덮개부의 직선방향 슬라이딩 이동을 안내하기 위한 가이드부가 더 구비되며,In the present invention, a guide portion for guiding the sliding movement of the lid portion in the linear direction is further provided between the lid portion and the connecting portion,

상기 가이드부는, The guide portion

상기 덮개부의 가이드홈 내에 상기 베이스 측으로 돌출되게 구비되며, 상기 접속부가 덮개부와 소정각도 틀어진 상태를 유지할 수 있도록 상기 덮개부와 소정의 경사각을 이루고, 상부에 가이드레일과 안착편이 마련된 연장브라켓; 상기 접속부에서 연장, 돌출되어 상기 가이드레일에 슬라이딩 이동가능하게 연결되며, 일측에 단턱홈이 마련된 가이드블럭 및 상기 안착편과 단턱홈 사이에 개재되어 상기 접속부에 탄성력을 제공하는 탄성체를 포함하여 구성될 수 있다.An extension bracket that protrudes toward the base side in the guide groove of the lid part and has a predetermined inclination angle with the lid part so that the connection part can be kept at a predetermined angle with the lid part and has a guide rail and a seating part on the upper part; A guide block extending and protruding from the connection portion and slidably connected to the guide rail and having a step groove at one side thereof and an elastic body interposed between the seat piece and the end groove to provide an elastic force to the connection portion .

본 발명에 있어서, 상기 덮개부와 접속부 사이에는 상기 전자부품과 핀 블럭의 접속을 위한 덮개부의 미는 힘을 상기 접속부에 전달하기 위한 가압부재가 더 구비되며,In the present invention, a pressing member is further provided between the lid portion and the connecting portion for transmitting pushing force of the lid portion for connecting the electronic component and the pin block to the connecting portion,

상기 가압부재는, 상기 가이드홈의 양측 내벽에 형성된 수용홈; 상기 접속부의 양측 외면에 돌출, 형성되어 상기 수용홈에 연결된 연장돌부 및 상기 수용홈과 연장돌부 사이에 개재되어 상기 전자부품과 핀 블럭 간의 접속시 상기 덮개부의 힌지회전을 통해 전달된 힘을 접속부에 전달하여 상기 접속부가 베이스 측으로 밀착되도록 하는 스페이서를 포함하여 구성될 수 있다.Wherein the pressing member includes: a receiving groove formed on both side inner walls of the guide groove; An extension protrusion formed on both outer surfaces of the connection portion and extending between the receiving groove and the extension protrusion to allow a force transmitted through the hinge rotation of the cover to be connected to the connection portion when the electronic component and the pin block are connected And a spacer for transmitting the connection portion so that the connection portion is brought into close contact with the base side.

본 발명에 있어서, 상기 가압부재의 스페이서는 둥근 구 형상의 볼로 이루어질 수 있다.In the present invention, the spacer of the pressing member may be formed of a spherical ball.

본 발명에 있어서, 상기 베이스와 덮개부 사이에는 상기 덮개부의 힌지회전 동작 과정에서 상기 덮개부가 베이스에 맞닿을 때 상기 덮개부의 힌지회전 동작을 안내하기 위한 가이드부재가 구비되며, In the present invention, a guide member is provided between the base and the lid unit to guide the hinge rotation operation of the lid unit when the lid unit comes into contact with the base during a hinge rotation operation of the lid unit,

상기 가이드부재는 상기 베이스에 형성된 핀홀 및 상기 덮개부에 구비되어 상기 덮개부의 힌지회전 과정에서 상기 덮개부가 베이스에 가까워질 때 상기 핀홀에 삽입, 연결되는 위치결정핀을 포함하여 구성될 수 있다.The guide member may include a pin hole formed in the base and a positioning pin provided in the lid unit and inserted and connected to the pin hole when the lid unit approaches the base in a hinge rotation process of the lid unit.

본 발명에 있어서, 상기 베이스와 덮개부 사이에는 상기 베이스로부터 덮개부를 밀어내는 탄성력을 제공하는 탄성부재가 마련되며, 상기 베이스의 단부에는 상기 베이스에 덮개부가 밀착시 상기 덮개부를 베이스에 결속시키기 위한 스토퍼가 더 구비될 수 있다.According to the present invention, an elastic member is provided between the base and the cover to provide an elastic force to push the cover from the base, and a stopper for binding the cover to the base when the cover is in close contact with the base, May be further included.

본 발명에 의하면, 전자부품 테스트 소켓의 구조 개선을 통해 핀 블럭의 직선방향 이동 과정에서 전자부품과 접속하여 정확하고 정밀한 접속동작을 구현함은 물론, 구성요소 간의 마찰을 최소화하여 원활한 동작과정이 이루어질 수 있도록 하는 효과가 있다.According to the present invention, by improving the structure of the electronic component test socket, it is possible to realize accurate and precise connection operation by connecting with the electronic parts in the linear movement of the pin block, and to minimize the friction between the components, There is an effect to be able to.

또한, 구성요소 간의 마찰을 최소화하여 원활한 동작과정이 이루어질 수 있도록 하는 효과가 있다.In addition, there is an effect that a smooth operation process can be performed by minimizing friction between components.

또한, 접속부의 직선방향 이동동작 및 접속부와 베이스 간의 밀착동작을 가이드부와 가이드부재를 통해 안내하도록 함으로써, 전자부품과 핀 블럭 간의 접속동작을 더욱 정밀하게 구현될 수 있도로 하는 효과가 있다.The linear movement of the connecting portion and the close operation between the connecting portion and the base are guided through the guide portion and the guide member, so that the connection operation between the electronic component and the pin block can be realized more precisely.

도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 직선방향 접속형 전자부품 테스트 소켓을 나타낸 사시도이다.
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 직선방향 접속형 전자부품 테스트 소켓을 나타낸 분해사시도이다.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 직선방향 접속형 전자부품 테스트 소켓을 나타낸 요부 저면 분해사시도이다.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 직선방향 접속형 전자부품 테스트 소켓을 나타낸 측면도이다.
도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 직선방향 접속형 전자부품 테스트 소켓의 동작상태를 구분 동작으로 나타낸 요부 측단면도이다.1 is a perspective view showing a test socket for a linearly connected electronic component according to a preferred embodiment of the present invention.
2 is an exploded perspective view showing a linearly connected electronic component test socket according to a preferred embodiment of the present invention.
3 is an exploded bottom perspective view showing a test socket for a linearly connected electronic component according to a preferred embodiment of the present invention.
4 is a side view showing a linearly connected electronic component test socket according to a preferred embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a cross-sectional view of a recessed portion showing the operation state of a linearly connected electronic component test socket according to a preferred embodiment of the present invention in a sorting operation.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 직선방향 접속형 전자부품 테스트 소켓을 도면을 참조하여 보다 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, a linearly connected electronic component test socket according to a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 직선방향 접속형 전자부품 테스트 소켓을 나타낸 사시도이고, 도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 직선방향 접속형 전자부품 테스트 소켓을 나타낸 분해사시도이며, 도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 직선방향 접속형 전자부품 테스트 소켓을 나타낸 요부 저면 분해사시도이다.FIG. 1 is a perspective view showing a test socket for a linearly connected electronic component according to a preferred embodiment of the present invention, FIG. 2 is an exploded perspective view showing a test socket for a linearly connected electronic component according to a preferred embodiment of the present invention, 3 is an exploded bottom perspective view showing a test socket for a linearly connected electronic component according to a preferred embodiment of the present invention.

도 1 내지 도 3을 참조하면, 본 발명의 직선방향 접속형 전자부품 테스트 소켓(100)은 베이스(110), 상기 베이스(110)에 힌지회전 가능하게 결합된 덮개부(120) 및 상기 덮개부(120)에 연결된 접속부(130)를 포함한다.1 to 3, a linearly connected electronic component test socket 100 of the present invention includes a base 110, a lid 120 hingedly coupled to the base 110, (Not shown).

상기 베이스(110)는 테스트를 위한 전자부품(N)이 올려놓기 위한 틀 역할을 수행하는 구성수단이다.The base 110 is a constituent means that serves as a frame for placing electronic components N for testing.

상기 베이스(110)는 그 상부에 전자부품(N)이 놓이는 안착대(111)가 구비되고, 그 내부에 개구홀(113)이 마련된다.The base 110 is provided with a mounting table 111 on which an electronic component N is placed, and an opening hole 113 is formed therein.

상기 개구홀(113)은 상기 접속부(130)가 힌지회전하는 과정에서 상기 접속부(130)의 특정부위를 수용하여 상기 베이스(110)에 걸림없이 원활하게 힌지회전동작이 이루어질 수 있도록 한다.The opening hole 113 accommodates a specific portion of the connection part 130 during the hinge rotation of the connection part 130 so that the hinge rotation can be smoothly performed without interfering with the base 110.

한편, 상기 덮개부(120)는 힌지회전 동작을 통해 상기 접속부(130)를 베이스(110) 측으로 이송하거나 베이스(110)로 부터 접속부(130)를 이격시키기 위한 역할을 수행한다.Meanwhile, the lid 120 serves to transfer the connection part 130 to the base 110 side through a hinge rotation operation or to separate the connection part 130 from the base 110.

상기 덮개부(120)는 그 내측에 상기 베이스(110) 측으로 개방되어 상기 접속부(130)를 소정깊이 수용하는 가이드홈(121)이 마련되고, 상기 가이드홈(121)의 내면에 상기 접속부(130)의 외부 노출을 위한 개방홀(123)이 마련된다.The lid part 120 has a guide groove 121 opened to the base 110 side to receive the connection part 130 to a predetermined depth and the connection part 130 (Not shown).

한편, 상기 접속부(130)는 그 일면에 핀블럭(131)이 구비되어 전자부품(N)과의 접속을 통해 상기 전자부품(N)에 전기신호를 인가하기 위한 역할을 수행하는 구성수단이다.The connection unit 130 is provided with a pin block 131 on one side of the connection unit 130 and serves to apply an electric signal to the electronic component N through connection with the electronic component N. [

상기 접속부(130)는 상기 덮개부(120)에 직선방향 슬라이딩 이동가능게 연결되며, 상기 덮개부(120)가 힌지회전하여 상기 베이스(110)에 근접시 상기 안착대(111)와 평행을 이루도록 상기 덮개부(120)와 소정각도 틀어진 상태를 유지한다.The connection unit 130 is connected to the lid unit 120 so as to be slidable in a linear direction so that the lid unit 120 is hingedly rotated so as to be parallel to the seating base 111 when the lid unit 120 is close to the base 110. [ The cover 120 is maintained at a predetermined angle with respect to the cover 120.

이러한 연결구조를 통해 상기 접속부(130)는 상기 덮개부(120)와 함께 힌지회전하며, 그 과정에서 상기 안착대(111)와 평행을 이루어 상기 전자부품(N)과 핀블럭(131)이 수직방향 접속동작이 구현될 수 있도록 한다. The connection part 130 is hinged together with the lid part 120 through the connection structure so that the electronic part N and the pin block 131 are perpendicular Directional connection operation can be implemented.

이때, 상기 덮개부(120)와 접속부(130) 사이에는 상기 덮개부(120)의 직선방향 슬라이딩 이동을 안내하기 위한 가이드부(140)가 더 구비된다.A guide part 140 is provided between the lid part 120 and the connection part 130 to guide the sliding movement of the lid part 120 in the linear direction.

상기 가이드부(140)는 상기 덮개부(120)의 가이드홈(121) 내에 구비된 연장브라켓(141)과, 상기 접속부(130)에 연장, 돌출된 가이드블럭(147) 및 탄성체(149)를 포함하여 구성된다.The guide part 140 includes an extension bracket 141 provided in the guide groove 121 of the lid part 120 and a guide block 147 and an elastic body 149 protruding from the connection part 130 .

상기 연장브라켓(141)은 상기 가이드홈(121) 내에서 상기 베이스(110) 측으로 돌출되며, 상기 접속부(130)가 덮개부(120)와 소정각도 틀어진 상태를 유지할 수 있도록 상기 덮개부(120)와 소정의 경사각을 이루고, 상부에 가이드레일(143)이 마련되며, 상기 가이드레일(143)의 인접한 외측에 안착편(145)이 마련된다.The extension bracket 141 is protruded toward the base 110 in the guide groove 121 and protrudes from the cover 120 in order to keep the connection part 130 at a predetermined angle with the lid 120. [ A guide rail 143 is provided at an upper portion thereof and a seat piece 145 is provided at an outer side adjacent to the guide rail 143.

상기 가이드블럭(147)은 상기 가이드레일(143)에 슬라이딩 이동가능하게 연결되며, 일측에 단턱홈(148)이 마련된다.The guide block 147 is slidably connected to the guide rail 143 and a step groove 148 is provided at one side thereof.

상기 탄성체(149)는 상기 연장브라켓(141)의 안착편(145)과 상기 가이드블럭(147)의 단턱홈(148) 사이에 개재되어 상기 접속부(130)에 탄성력을 제공한다.The elastic body 149 is interposed between the seating piece 145 of the extension bracket 141 and the end groove 148 of the guide block 147 to provide an elastic force to the connection part 130.

상기 탄성체(149)의 탄성력에 의해 상기 접속부(130)의 핀블럭(131)과 상기 안착대(111)에 놓인 전자부품(N)은 전기적인 접속동작 이후에 상기 접속부(130)를 초기 위치로 복귀한다.The pin block 131 of the connection part 130 and the electronic part N placed on the mounting table 111 are moved to the initial position after the electrical connection operation by the elastic force of the elastic body 149 Return.

한편, 상기 덮개부(120)와 접속부(130) 사이에는 가압부재(150)가 더 구비된다.A pressing member 150 is further provided between the lid 120 and the connection part 130.

상기 가압부재(150)는 상기 전자부품(N)과 핀블럭(131)의 접속을 위한 덮개부(120)의 미는 힘을 상기 접속부(130)에 전달하는 매개체 역할을 수행한다.The pressing member 150 serves as an intermediary for transmitting the pushing force of the lid 120 for connecting the electronic part N and the pin block 131 to the connection part 130.

상기 가압부재(150)는 상기 가이드홈(121)의 양측 내벽에 형성된 수용홈(151)이 형성되고, 상기 접속부(130)의 양측 외면에 연장돌부(153)가 돌출, 형성되어 상기 수용홈(151)에 연결되며, 상기 수용홈(151)과 연장돌부(153) 사이에 스페이서(155)가 개재된다.The pressing member 150 is formed with receiving grooves 151 formed on the inner walls of both sides of the guide groove 121. An extending protrusion 153 protrudes from both sides of the connecting portion 130, 151, and a spacer 155 is interposed between the receiving groove 151 and the extending projection 153.

상기 스페이서(155)는 상기 전자부품(N)과 핀블럭(131) 간의 접속시 상기 덮개부(120)의 힌지회전을 위한 힘을 접속부(130)에 전달하여 상기 접속부(130)가 베이스(110) 측으로 밀착되도록 한다.The spacer 155 transmits a force for hinge rotation of the lid 120 to the connection part 130 when the electronic part N and the pin block 131 are connected to each other, ).

이때, 상기 가압부재(150)의 스페이서(155)는 수용홈(151)과 연장돌부(153) 사이에서의 마찰을 최소화할 수 있도록 둥근 구 형상의 볼로 이루어진다.At this time, the spacer 155 of the pressing member 150 is formed of a spherical ball so as to minimize the friction between the receiving groove 151 and the extending projection 153.

한편, 상기 베이스(110)와 덮개부(120) 사이에는 상기 덮개부(120)의 힌지회전 동작 과정에서 상기 덮개부(120)가 베이스(110)에 맞닿을 때 상기 덮개부(120)의 힌지회전 동작을 안내하기 위한 가이드부재(160)가 구비된다.When the lid 120 is in contact with the base 110 during the hinge rotation of the lid 120, the lid 120 is hinged between the base 110 and the lid 120, And a guide member 160 for guiding the rotation operation.

상기 가이드부재(160)는 상기 베이스(110)에 형성된 핀홀(161)과, 상기 덮개부(120)에 구비된 위치결정핀(163)으로 구성된다.The guide member 160 includes a pin hole 161 formed in the base 110 and a positioning pin 163 provided in the lid 120.

이에, 상기 덮개부(120)의 힌지회전 과정에서 상기 덮개부(120)가 베이스(110)에 가까워지면, 상기 위치결정핀(163)이 상기 핀홀(161)에 삽입, 연결되어 핀블럭(131)과 전자부품(N) 간의 접속동작과정이 보다 정밀하게 구현되도록 함은 물론, 외부 힘에 의한 흔들림 현상을 미연에 방지한다.When the lid part 120 approaches the base 110 during the hinge rotation of the lid part 120, the positioning pin 163 is inserted into the pin hole 161 and connected to the pin block 131 ) And the electronic component (N) can be realized more precisely, and the shaking due to the external force can be prevented in advance.

또한, 상기 베이스(110)와 덮개부(120) 사이에는 탄성부재(170)가 마련된다. 상기 탄성부재(170)는 상기 베이스(110)로부터 덮개부(120)를 밀어내는 탄성력을 제공하여 핀블럭(131)과 전자부품(N) 간의 접속동작 이후 상기 덮개부(120)가 베이스(110)를 개방하도록 한다.An elastic member 170 is provided between the base 110 and the lid 120. The elastic member 170 provides an elastic force to push the lid 120 from the base 110 so that after the connection between the pin block 131 and the electronic component N, ).

상기 베이스(110)의 단부에는 상기 베이스(110)에 덮개부(120)가 밀착시 상기 덮개부(120)를 베이스(110)에 결속시키기 위한 스토퍼(180)가 더 구비된다.A stopper 180 is provided at an end of the base 110 to bind the lid 120 to the base 110 when the lid 120 is in close contact with the base 110.

상기 스토퍼(180)를 이용한 베이스(110)와 덮개부(120) 간의 결속은 상기 스토퍼(180)의 힌지회전을 통해 구현된다.The binding between the base 110 and the lid 120 using the stopper 180 is achieved through the hinge rotation of the stopper 180. [

이에, 상기와 같은 결합구성으로 이루어진 본 발명의 직선방향 접속형 전자부품 테스트 소켓은 상기 핀 블럭의 직선방향 이동 과정에서 전자부품과 접속하여 정확한 접속동작을 구현하며, 가압부재의 스페이서를 둥근 구형상의 볼로 구성함으로써, 구성요소 간의 접촉면적을 최대한 제한하여 동작과정에서의 마찰을 최소화할 수 있도록 한 것으로, 이에 따른 동작관계 및 작용효과를 도면을 참조하여 상세하게 설명하기로 한다.The test socket of the linear connection type electronic component according to the present invention having the above-described combined structure is connected to the electronic component in the linear movement of the pin block to realize an accurate connection operation, and the spacer of the pressing member is formed into a round spherical shape The contact area between the components is minimized to minimize the friction in the operation process. The operation relation and the operation effect therebetween will be described in detail with reference to the drawings.

도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 직선방향 접속형 전자부품 테스트 소켓을 나타낸 측면도이고, 도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 직선방향 접속형 전자부품 테스트 소켓의 동작상태를 구분 동작으로 나타낸 요부 측단면도이다.FIG. 4 is a side view showing a test socket of a linear connection type electronic component according to a preferred embodiment of the present invention, FIG. 5 is a sectional view of a test socket of a linear connection type electronic component according to a preferred embodiment of the present invention, Fig.

도 4 및 도 5를 참조하면, 테스트를 위한 전자부품(N)을 안착대(111)에 올려놓은 상태에서 상기 덮개부(120)를 베이스(110) 측으로 힌지회전한다.4 and 5, the lid unit 120 is hingedly rotated toward the base 110 in a state where the electronic part N for testing is placed on the mount table 111. As shown in FIG.

이후, 상기 접속부(130)가 베이스(110)에 가까워지면, 도 1에 도시된 바와 같이 상기 가이드부재(160)의 위치결정핀(163)이 상기 핀홀(161)에 삽입, 연결되어 핀블럭(131)과 전자부품(N) 간의 접속동작과정이 보다 정밀하게 이루어질 수 있도록 한다.1, the positioning pin 163 of the guide member 160 is inserted into the pin hole 161 to be connected to the pin block 161, 131 and the electronic component N can be performed more precisely.

또한, 상기 베이스(110)의 개방홀(123)에 상기 가이드부(140)의 연장브라켓(141)과 가이드블럭(147)이 삽입되어 상기 접속부(130)가 베이스(110)에 걸림없이 원활하게 힌지회전을 가능하게 한다. The extension bracket 141 of the guide part 140 and the guide block 147 are inserted into the opening hole 123 of the base 110 to smoothly connect the connection part 130 to the base 110 Enabling hinge rotation.

이후, 상기 접속부(130)가 힌지회전하여 상기 전자부품(N)과 핀블럭(131)이 맞닿으면, 상기 접속부(130)는 상기 안착대(111)와 평행을 이룬 상태가 된다.When the connection part 130 is hinged and the electronic part N and the pin block 131 come into contact with each other, the connection part 130 is in parallel with the seat 111.

이는 상기 접속부(130)와 덮개부(120)가 소정각도 틀어진 상태에 있기 때문에 가능하다.This is possible because the connection part 130 and the lid part 120 are in a state of being rotated at a predetermined angle.

이후, 상기 덮개부(120)를 베이스(110) 측으로 더 가압하면, 상기 덮개부(120)는 베이스(110) 측과 맞닿아 상기 베이스(110)와 평행을 이루게되며, 그 과정에서 도 2에 도시된 바와 같이 상기 가압부재(150)의 스페이서(155)는 상기 접속부(130)의 연장돌부(153)를 베이스(110) 측으로 가압한다.When the lid part 120 is further pressed toward the base 110, the lid part 120 is in contact with the base 110 side so as to be in parallel with the base 110, The spacers 155 of the pressing member 150 press the extension protrusions 153 of the connection portions 130 toward the base 110 side.

이에, 상기 스페이서(155)에 의해 힘을 전달받은 접속부(130)는 상기 가이드부(140)의 안내에 따라 직선방향 슬라이딩 이동하여 상기 전자부품(N)과 핀블럭(131)이 수직 선상에서 직선방향으로 접속동작이 이루어지도록 한다.The connection part 130 which receives the force by the spacer 155 is moved in a linear direction according to the guide of the guide part 140 so that the electronic part N and the pin block 131 are linearly So that the connection operation is performed.

이러한 동작과정을 구체적으로 살펴보면, 상기 스페이서(155)가 접속부(130)를 가압하면, 상기 접속부(130)의 가이드블럭(147)은 가이드레일(143)을 따라 직선방향 슬라이딩 이동하며, 그 이동과정에서 상기 전자부품(N)과 핀블럭(131)의 접속동작이 이루어진다.When the spacer 155 presses the connection part 130, the guide block 147 of the connection part 130 slides in a linear direction along the guide rail 143, The connecting operation between the electronic component N and the pin block 131 is performed.

그 과정에서 상기 베이스(110)와 덮개부(120)는 상기 스토퍼(180)에 의해 결속된다.In this process, the base 110 and the lid 120 are bound together by the stopper 180.

이후, 상기 전자부품(N)과 핀블럭(131)의 접속 동작이 종료하면, 상기 직선방향으로 슬라이딩 이동한 접속부(130)는 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이 상기 가이드부(140)를 구성하는 탄성체(149)의 탄성력에 의해 직선방향 이동하기 전의 초기 위치로 복귀한다.When the connecting operation of the electronic component N and the pin block 131 is completed, the connection part 130 sliding in the linear direction moves the guide part 140 as shown in FIGS. 1 and 2 And returns to the initial position before the elastic body 149 moves in the linear direction by the elastic force of the constituent elastic body 149.

한편, 전자부품(N)과 핀블럭(131)의 접속 후 상기 덮개부(120)를 힌지회전하기 위한 힘을 해제하면, 상기 덮개부(120)는 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이 상기 베이스(110)와 덮개부(120) 사이에 마련된 탄성부재(170)의 탄성력에 의해 상기 베이스(110)를 개방한다.1 and 2, when the force for hinging the lid 120 is released after the electronic component N and the pin block 131 are connected to each other, The base 110 is opened by the elastic force of the elastic member 170 provided between the base 110 and the lid 120.

이에, 상기와 같은 동작과정을 통해 살펴본 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 직선방향 접속형 전자부품 테스트 소켓은 핀 블럭의 직선방향 이동 과정에서 전자부품과 접속하여 정확하고 정밀한 접속동작을 구현함은 물론, 구성요소 간의 마찰을 최소화하여 원활한 동작과정이 이루어질 수 있도록 한다.Accordingly, the test socket of the linearly-connected type electronic component according to the preferred embodiment of the present invention, which has been operated through the above-described operation, realizes an accurate and precise connection operation by connecting with the electronic component in the linear movement of the pin block So that the friction between the components can be minimized so that a smooth operation can be performed.

110 : 베이스 111 : 안착대
120 : 덮개부 130 : 접속부
131 : 핀블럭 140 : 가이드부
141 : 연장브라켓 143 : 가이드레일
145 : 안착편 147 : 가이드블럭
148 : 단턱홈 149 : 탄성체
150 : 가압부재 151 : 수용홈
153 : 연장돌부 155 : 스페이서
160 : 가이드부재 161 : 핀홀
163 : 위치결정핀 170 : 탄성부재
180 : 스토퍼110: base 111: seat
120: lid part 130: connection part
131: pin block 140:
141: extension bracket 143: guide rail
145: seat part 147: guide block
148: Step groove 149: Elastic body
150: pressing member 151: receiving groove
153: extension protrusion 155: spacer
160: guide member 161: pinhole
163: positioning pin 170: elastic member
180: Stopper

Claims (8)

전자부품이 놓이는 안착대를 갖는 베이스;
상기 베이스에 힌지회전 가능하게 결합된 덮개부 및
상기 덮개부에 직선방향 슬라이딩 이동가능게 연결되며, 상기 덮개부가 힌지회전하여 상기 베이스에 근접시 상기 안착대와 평행을 이루도록 상기 덮개부와 소정각도 틀어진 상태를 유지하고, 일면에 상기 전자부품과 접속을 이루는 핀 블럭이 마련된 접속부를 포함하며,
상기 덮개부는 내측에 상기 베이스 측으로 개방되어 상기 접속부를 소정깊이 수용하는 가이드홈이 마련되고, 상기 가이드홈의 내면에 상기 접속부의 외부 노출을 위한 개방홀이 마련되며,
상기 덮개부와 접속부 사이에는 상기 덮개부의 직선방향 슬라이딩 이동을 안내하기 위한 가이드부를 더 구비하되,
상기 가이드부는,
상기 덮개부의 가이드홈 내에 상기 베이스 측으로 돌출되게 구비되며, 상기 접속부가 덮개부와 소정각도 틀어진 상태를 유지할 수 있도록 상기 덮개부와 소정의 경사각을 이루고, 상부에 가이드레일과 안착편이 마련된 연장브라켓;
상기 접속부에서 연장, 돌출되어 상기 가이드레일에 슬라이딩 이동가능하게 연결되며, 일측에 단턱홈이 마련된 가이드블럭 및
상기 안착편과 단턱홈 사이에 개재되어 상기 접속부에 탄성력을 제공하는 탄성체를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 직선방향 접속형 전자부품 테스트 소켓.A base having a seat for placing the electronic component;
A cover portion hingedly coupled to the base,
The lid part is slidably connected to the lid part in a linear slidable manner, and the lid part is hingedly rotated so as to be in a predetermined angle with the lid part so as to be in parallel with the seating part when the lid part is close to the base, And a connection block provided with a pin block,
Wherein the lid portion is provided with a guide groove which is opened to the base side and receives the connection portion to a predetermined depth, the lid portion is provided with an opening for external exposure of the connection portion on the inner surface of the guide groove,
And a guide portion for guiding the sliding movement of the lid portion in a linear direction is provided between the lid portion and the connection portion,
The guide portion
An extension bracket that protrudes toward the base side in the guide groove of the lid part and has a predetermined inclination angle with the lid part so that the connection part can be kept at a predetermined angle with the lid part and has a guide rail and a seating part on the upper part;
A guide block extending and protruding from the connection portion and slidably connected to the guide rail and having a step groove at one side thereof,
And an elastic body interposed between the seat piece and the stepped groove to provide an elastic force to the connecting portion. 제1항에 있어서,
상기 베이스는,
상기 접속부가 베이스에 걸림없이 원활하게 힌지회전할 수 있도록 내부에 개구홀이 마련된 것을 특징으로 하는 직선방향 접속형 전자부품 테스트 소켓.The method according to claim 1,
The base includes:
Wherein an opening hole is formed in the connection portion so that the connection portion can be hinged smoothly without hitting the base. 삭제delete 삭제delete 제1항에 있어서,
상기 덮개부와 접속부 사이에는 상기 전자부품과 핀 블럭의 접속을 위한 덮개부의 미는 힘을 상기 접속부에 전달하기 위한 가압부재가 더 구비되며,
상기 가압부재는,
상기 가이드홈의 양측 내벽에 형성된 수용홈;
상기 접속부의 양측 외면에 돌출, 형성되어 상기 수용홈에 연결된 연장돌부 및
상기 수용홈과 연장돌부 사이에 개재되어 상기 전자부품과 핀 블럭 간의 접속시 상기 덮개부의 힌지회전을 통해 전달된 힘을 접속부에 전달하여 상기 접속부가 베이스 측으로 밀착되도록 하는 스페이서를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 직선방향 접속형 전자부품 테스트 소켓.The method according to claim 1,
And a pressing member for transmitting a pushing force of the lid portion for connecting the electronic component and the pin block to the connection portion is further provided between the lid portion and the connection portion,
The pressing member
Receiving grooves formed on both side walls of the guide groove;
An extension protrusion formed on both outer surfaces of the connecting portion and connected to the receiving groove,
And a spacer interposed between the receiving groove and the extended protrusion to transmit a force transmitted through the hinge rotation of the lid when the electronic component and the pin block are connected to the connecting portion so that the connecting portion is brought into close contact with the base. A test socket for a linearly connected electronic component. 제5항에 있어서,
상기 가압부재의 스페이서는 둥근 구 형상의 볼로 이루어진 것을 특징으로 하는 직선방향 접속형 전자부품 테스트 소켓.6. The method of claim 5,
Wherein the spacer of the pressing member is made of a ball having a rounded sphere shape. 제1항에 있어서,
상기 베이스와 덮개부 사이에는 상기 덮개부의 힌지회전 동작 과정에서 상기 덮개부가 베이스에 맞닿을 때 상기 덮개부의 힌지회전 동작을 안내하기 위한 가이드부재가 구비되며,
상기 가이드부재는 상기 베이스에 형성된 핀홀 및 상기 덮개부에 구비되어 상기 덮개부의 힌지회전 과정에서 상기 덮개부가 베이스에 가까워질 때 상기 핀홀에 삽입, 연결되는 위치결정핀을 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 직선방향 접속형 전자부품 테스트 소켓.The method according to claim 1,
A guide member for guiding the hinge rotation of the lid unit when the lid unit comes into contact with the base during a hinge rotation operation of the lid unit is provided between the base and the lid unit,
Wherein the guide member includes a pinhole formed in the base and a positioning pin provided in the lid unit and inserted and connected to the pinhole when the lid unit is brought close to the base in a hinge rotation process of the lid unit. Directionally connected electronic component test socket. 제1항에 있어서,
상기 베이스와 덮개부 사이에는 상기 베이스로부터 덮개부를 밀어내는 탄성력을 제공하는 탄성부재가 마련되며, 상기 베이스의 단부에는 상기 베이스에 덮개부가 밀착시 상기 덮개부를 베이스에 결속시키기 위한 스토퍼가 더 구비된 것을 특징으로 하는 직선방향 접속형 전자부품 테스트 소켓.The method according to claim 1,
An elastic member is provided between the base and the lid to provide an elastic force to push the lid from the base, and a stopper for binding the lid to the base when the lid is in close contact with the base is further provided at an end of the base A testing socket for a linearly connected electronic component characterized by:
KR1020170086411A 2017-07-07 2017-07-07 Linearly connected electronic component test socket KR101801711B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020170086411A KR101801711B1 (en) 2017-07-07 2017-07-07 Linearly connected electronic component test socket

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020170086411A KR101801711B1 (en) 2017-07-07 2017-07-07 Linearly connected electronic component test socket

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101801711B1 true KR101801711B1 (en) 2017-12-06

Family

ID=60922137

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020170086411A KR101801711B1 (en) 2017-07-07 2017-07-07 Linearly connected electronic component test socket

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101801711B1 (en)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101945295B1 (en) 2018-03-14 2019-02-08 주식회사 엔티에스 Test socket
KR20190031708A (en) * 2017-09-18 2019-03-27 주식회사 탑 엔지니어링 Socket for camera module
KR20190031709A (en) * 2017-09-18 2019-03-27 주식회사 탑 엔지니어링 Socket for camera module
KR101963723B1 (en) * 2018-04-27 2019-08-01 주식회사 메카텍시스템즈 Test socket for camera module
KR102141782B1 (en) * 2020-04-21 2020-08-05 김광일 Folder Type Test Apparatus for Electronic Module
KR102297098B1 (en) * 2020-04-17 2021-09-02 디플러스(주) Test Socket
US11467185B2 (en) * 2019-08-30 2022-10-11 Sharp Kabushiki Kaisha Test socket and method of manufacturing the same

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100291793A1 (en) 2009-05-12 2010-11-18 Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. Socket assembly with heat sink module

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100291793A1 (en) 2009-05-12 2010-11-18 Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. Socket assembly with heat sink module

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190031708A (en) * 2017-09-18 2019-03-27 주식회사 탑 엔지니어링 Socket for camera module
KR20190031709A (en) * 2017-09-18 2019-03-27 주식회사 탑 엔지니어링 Socket for camera module
KR102527104B1 (en) 2017-09-18 2023-05-02 주식회사 탑 엔지니어링 Socket for camera module
KR102527100B1 (en) 2017-09-18 2023-05-02 주식회사 탑 엔지니어링 Socket for camera module
KR101945295B1 (en) 2018-03-14 2019-02-08 주식회사 엔티에스 Test socket
KR101963723B1 (en) * 2018-04-27 2019-08-01 주식회사 메카텍시스템즈 Test socket for camera module
US11467185B2 (en) * 2019-08-30 2022-10-11 Sharp Kabushiki Kaisha Test socket and method of manufacturing the same
KR102297098B1 (en) * 2020-04-17 2021-09-02 디플러스(주) Test Socket
KR102141782B1 (en) * 2020-04-21 2020-08-05 김광일 Folder Type Test Apparatus for Electronic Module

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101801711B1 (en) Linearly connected electronic component test socket
KR101855249B1 (en) Test socket for an electronic component having a horizontal side connection function
KR101442035B1 (en) Apparatus for testing camera module
KR101628305B1 (en) Auto-Socket For Testing Electronics
KR20110079560A (en) Slide type electronic device
KR101584970B1 (en) Socket For Testing Electronics
KR101850937B1 (en) Camera module automatic test socket
US20110192625A1 (en) Waterproof mechanism and electronic device having the same
KR101415193B1 (en) Camera module test socket
KR101444774B1 (en) Socket for testing electronics
KR101504961B1 (en) Test socket for vcm module
CN106405164B (en) Turnover straight-falling type optical chip module test socket
KR101963723B1 (en) Test socket for camera module
KR101683070B1 (en) Face- front socket for testing of camera module
US20120020029A1 (en) Assembly apparatus and electronic device using the same
CN100557448C (en) The device that is used for printed circuit holding
KR101444787B1 (en) Socket for testing electronics
KR101776810B1 (en) Test socket for electronic components
KR101628302B1 (en) Socket For Testing Electronics
KR20200102430A (en) Socket for electrical components
KR101690017B1 (en) Jig for focusing of camera module
KR101985209B1 (en) An electronic component test socket having a multi-pusher function in which a contact operation is performed in a direction perpendicular to the power transmission direction
KR102032856B1 (en) camera slid opening and closing device for full-screen smartphone
KR101808212B1 (en) Precise side test socket for an electronic component having a contact function
KR101985205B1 (en) An electronic component test socket having a multi-pusher function in which a contact operation is performed in the same direction as the power transmission direction

Legal Events

Date Code Title Description
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant