KR101945295B1 - Test socket - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 테스트소켓에 관한 것으로, 보다 상세하게는, 작업자가 특별히 주의를 하지 않더라도 FPCB가 쉽게 안정한 상태로 안착되어 커넥터 부분의 파손이 방지되며, 테스트 완료 후에는 FPCB의 회수가 용이하도록 이루어지는 테스트소켓에 관한 것이다.The present invention relates to a test socket, and more particularly, to a test socket which can easily recover the FPCB after the test is completed, by preventing the connector portion from being damaged due to the FPCB being seated in a stable state easily, .
연성인쇄회로기판(Flexible Printed Circuit Board; 이하 FPCB)은 전자제품이 소형화 및 경량화가 되면서 개발된 전자부품으로 작업성이 뛰어나고, 내열성, 내굴곡성, 내약품성이 강하며, 열에 강하므로, 모든 전자제품의 핵심부품으로서 카메라, Computer 및 주변기기, Hand Held Phone, Video & Audio기기, Camcorder, Printer, DVD, TFT LCD, 위성장비, 군사장비, 의료장비 등에서 널리 사용되고 있다. Flexible Printed Circuit Board (FPCB) is a flexible printed circuit board (hereinafter referred to as FPCB), which has been developed as electronic products have been miniaturized and lightweight, and has excellent workability, heat resistance, bending resistance and chemical resistance, Is widely used in cameras, computers and peripherals, handheld phones, video & audio equipment, camcorders, printers, DVD, TFT LCD, satellite equipment, military equipment and medical equipment.
그러나 FPCB는 기계적 강도가 낮아 찢어지기 쉽고 취급이 어려우며, SMD, 커넥터 부위에 일정한 강도를 형성하기 위한 스티프너 작업이 요구된다. However, the FPCB has a low mechanical strength and tears easily and is difficult to handle. Stiffener work is required to form a constant strength on the SMD and connector parts.
연성인쇄회로기판(Flexible Printed Circuit Board)에 대한 제조검사는 특정 FPCB unit에 한하여 샘플 이미지를 display 하는 디스플레이 방식과, 회로상의 전기적 특성을 검출하는 ICT 방식 등이 있다. 검사를 수행하기 위해 FPCB는 테스트소켓에 넣어진 후 검사장비에 로딩된다. A manufacturing inspection for a flexible printed circuit board (FPCB) includes a display method for displaying a sample image only for a specific FPCB unit and an ICT method for detecting electrical characteristics on the circuit. To perform the test, the FPCB is loaded into the test socket after being loaded into the test socket.
이와 관련하여 대한민국 등록특허공보 제1357020호에는 전자부품 테스트용 소켓이 개시되어 있다. 등록특허공보 제1357020호는 전자부품 또는 FPCB의 단자부가 안착되는 안착부를 갖는 베이스; 베이스의 단부에서 힌지축에 의하여 회전 가능하도록 결합되는 덮개부; 및 베이스와 덮개부 사이에 서로 간에 반발력을 제공하는 힌지부; 베이스에 반발력을 가지며 결합되며 하부에는 베이스의 안착부에 대응되는 위치에 측정핀을 구비하는 플로팅 가이드; 베이스와 플로팅 가이드 사이에 반발력을 제공하는 탄성 스프링 또는 자석; 및 베이스에 일단이 고정되면서 연장되어 플로팅 가이드의 가이드홀을 관통하며 타단은 플로팅 가이드의 상부와 걸리게 되는 지지핀을 포함하는 것을 특징으로 한다. In this regard, Korean Patent Registration No. 1357020 discloses a socket for testing electronic components. Patent Publication No. 1357020 discloses a base having an electronic part or a mounting part on which a terminal portion of the FPCB is seated; A lid rotatably coupled by a hinge shaft at an end of the base; And a hinge portion for providing a repulsive force between the base and the cover portion; A floating guide coupled to the base with a repulsive force and having a measuring pin at a position corresponding to the seating portion of the base at the bottom; An elastic spring or magnet for providing a repulsive force between the base and the floating guide; And a support pin extending from the base while being fixed to the base, the support pin passing through the guide hole of the floating guide and the other end being engaged with the upper portion of the floating guide.
등록특허공보 제1357020호는, 테스트용 소켓에서 베이스에 반발력을 가지고 결합되는 플로팅 가이드를 구비하여 플로팅 가이드 하부의 측정핀이 측정하고자 하는 FPCB 또는 전자부품의 단자부에 안정적으로 접촉할 수 있는 이점이 있다. Patent Publication No. 1357020 has a floating guide which is coupled to the base with repulsive force from the test socket so that the measuring pin under the floating guide can stably contact the terminal portion of the FPCB or the electronic part to be measured .
그러나 등록특허공보 제1357020호는, 상술한 FPCB의 단점에 의해 FPCB의 커넥터 부분에 파손이 빈번하게 발생하는 문제가 있었다. 즉, 얇아서 쉽게 구부러지는 FPCB는 작업자가 조금만 부주의해도 안착부에 불안정한 상태(들뜬 상태, 기울어진 상태, 회전된 상태)로 안착되기 쉬운데, 이 상태에서 플로팅가이드가 하강하면 측정핀은 커넥터 단자를 불안정한 위치에서 가압하여 커넥터 부분이 쉽게 파손된다. However, the registered patent publication No. 1357020 has a problem that breakage frequently occurs in the connector portion of the FPCB due to the disadvantage of the FPCB described above. That is, the FPCB, which is thin and easily bendable, tends to be seated in an unstable state (an excited state, a tilted state, or a rotated state) in the seat part even if the operator is careless. However, if the floating guide is lowered in this state, The connector portion is easily broken.
등록특허공보 제1357020호가 가지고 있는 상술한 문제를 해결하고자, 안착부에 영구자석을 장착하여 SUS 재질의 스티프너를 영구자석의 자력에 의해 안착부에 밀착시킴으로써 커넥터 부분의 들뜸을 방지하는 방법도 사용되고 있으나, SUS 재질은 영구자석에 달라붙는 강한 인력을 형성하기 어려우므로 커넥터 부분의 파손을 크게 감소시키지 못하고 있다. In order to solve the above-mentioned problem of Patent Publication No. 1357020, there is also used a method in which a permanent magnet is mounted on a seat portion and a stiffener made of SUS is brought into close contact with the seat portion by the magnetic force of the permanent magnet to prevent lifting of the connector portion , The SUS material does not significantly reduce the damage of the connector portion because it is difficult to form a strong attractive force to stick to the permanent magnet.
또한, 등록특허공보 제1357020호는, 플로팅가이드가 안착부의 바로 위쪽에 위치하여 안착부에 대한 작업자의 시야를 가리므로, FPCB가 안착부에 불안정한 상태로 안착되더라도 이를 확인하기 어려운 문제가 있었다. In addition, in the registered patent publication No. 1357020, since the floating guide is positioned just above the seat part to cover the view of the operator with respect to the seat part, there is a problem that it is difficult to confirm even if the FPCB is seated in the seat part in an unstable state.
본 발명의 목적은, 작업자의 시야가 확보된 상태로 FPCB를 안착시킬 수 있고, 작업자가 특별히 주의를 하지 않더라도 FPCB가 쉽게 안정한 상태로 안착되어 커넥터 부분의 파손이 방지되며, 테스트 완료 후에는 FPCB의 회수가 용이하도록 이루어지는 테스트소켓을 제공하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an FPCB capable of placing the FPCB in a state in which the field of view of the operator is secured and preventing the breakage of the connector portion due to the fact that the FPCB is easily seated in a stable state, And to provide a test socket that can be easily recovered.
상기 목적은, 본 발명에 따라, 전자부품의 단자에 접속하는 접속핀이 설치된 베이스; 상기 접속핀에 가까워지거나 멀어지도록 상기 베이스에 이동 가능하게 설치되고, 상기 전자부품이 얹히는 안착부재; 상기 전자부품이 얹혀진 경로를 선택적으로 침범하도록 상기 베이스에 이동 가능하게 설치되는 간섭부재; 상기 베이스에 회전 또는 이동 가능하게 장착된 커버; 및 상기 커버에 설치되어 상기 전자부품을 상기 접속핀 쪽으로 밀며 상기 간섭부재를 상기 경로 바깥으로 미는 푸시부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트소켓에 의하여 달성된다.According to the present invention, the above-mentioned object can be accomplished by providing a semiconductor device comprising: a base provided with a connection pin for connecting to a terminal of an electronic component; A seating member movably installed on the base so as to approach or separate from the connection pin, the seating member on which the electronic component is placed; An interference member movably installed on the base to selectively pass the path on which the electronic component is placed; A cover rotatably or movably mounted on the base; And a push member installed on the cover and pushing the electronic component toward the connection pin and pushing the interference member out of the path.
상기 푸시부재와 상기 간섭부재 간 접촉면은 상기 푸시부재 및 상기 간섭부재의 이동방향과 각각 경사를 형성하도록 이루어질 수 있다.The contact surface between the push member and the interference member may be configured to form an inclination with respect to the moving direction of the push member and the interference member, respectively.
상기 안착부재는 제1 탄성부재에 의해 상기 접속핀과 멀어지는 쪽으로 가압되도록 이루어질 수 있다.The seating member may be pressed by the first elastic member toward the side away from the connection pin.
상기 커버에 설치되어 상기 경로 바깥으로 밀린 상기 간섭부재의 이동을 차단하는 막음부재를 포함하여 이루어질 수 있다.And a blocking member installed on the cover to block movement of the interference member pushed out of the path.
상기 간섭부재는 제2 탄성부재에 의해 상기 경로 쪽으로 가압되고, 상기 막음부재는 상기 간섭부재의 이동 구간에 침범하여 상기 제2 탄성부재에 의한 상기 간섭부재의 이동을 가로막도록 이루어질 수 있다.The interfering member may be urged toward the path by a second elastic member, and the blocking member may interfere with movement of the interference member by the second elastic member to interfere with the movement of the interference member.
상기 안착부재에는 상기 전자부품을 상기 얹혀진 경로의 역방향으로 미는 푸셔가 형성되도록 이루어질 수 있다.The seating member may be formed with a pusher for pushing the electronic component in a direction opposite to the path on which the electronic component is mounted.
상기 막음부재는 제3 탄성부재에 의해 상기 간섭부재 쪽으로 가압되고, 상기 막음부재가 상기 이동 구간에 침범한 각도 또는 길이는, 상기 제3 탄성부재의 변형량에 의해 상기 커버의 회전각 또는 이동길이보다 더 큰 절대값을 갖도록 이루어질 수 있다.Wherein the angle of the blocking member with respect to the moving section or the length of the blocking member with respect to the moving section is smaller than the angle of rotation or the moving length of the cover by the deformation amount of the third elastic member, Can be made to have a larger absolute value.
본 발명에 의하면, 커버를 닫을 때 푸시부재가 전자부품을 접속핀 쪽으로 밀며 간섭부재를 경로 바깥으로 미는 작동구조를 형성함으로써, 작업자가 특별히 주의를 하지 않더라도 FPCB가 쉽게 안정한 상태로 안착되어 커넥터 부분의 파손이 방지되도록 이루어지는 테스트소켓을 제공할 수 있게 된다.According to the present invention, when the cover is closed, the push member pushes the electronic component toward the connection pin and forms the operating structure that pushes the interference member out of the path, so that even if the operator does not pay special attention, the FPCB is easily seated in a stable state, It is possible to provide a test socket in which breakage is prevented.
또한, 커버를 열 때에는 막음부재가 경로 바깥으로 밀린 간섭부재의 이동을 차단한 상태에서 안착부재에 형성된 푸셔가 전자부품을 얹혀진 경로의 역방향으로 미는 작동구조를 형성함으로써, 테스트 완료 후에는 FPCB의 회수가 용이하도록 이루어지는 테스트소켓을 제공할 수 있게 된다.Further, when the cover is opened, the blocking member prevents the movement of the interference member pushed out of the path, and the pusher formed on the seating member forms an operating structure for pushing the electronic component in a direction opposite to the path on which the electronic component is placed. It is possible to provide a test socket which is made to be easy to carry out.
아울러, 커버가 열린 상태에서 안착부재가 그대로 노출됨으로써, 작업자의 시야가 확보된 상태로 FPCB를 안착시킬 수 있도록 이루어지는 테스트소켓을 제공할 수 있게 된다.In addition, it is possible to provide a test socket in which the seating member is exposed while the cover is open, so that the FPCB can be seated with the view of the operator secured.
도 1 및 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트소켓의 사시도.
도 3은 도 2의 테스트소켓의 부분 분리사시도.
도 4는 도 2의 테스트소켓의 베이스의 부분 평면도.
도 5는 도 2의 테스트소켓의 커버 및 푸시부재를 나타내는 단면도.
도 6은 도 2의 테스트소켓의 커버 및 막음부재를 나타내는 단면도.
도 7은 도 2의 테스트소켓의 베이스 및 안착부재를 나타내는 단면도.
도 8 내지 도 12는 도 2의 테스트소켓의 사용상태를 나타내는 단면도.1 and 2 are perspective views of a test socket according to an embodiment of the present invention;
Figure 3 is a partially exploded perspective view of the test socket of Figure 2;
Figure 4 is a partial top view of the base of the test socket of Figure 2;
5 is a sectional view showing a cover and a push member of the test socket of FIG. 2;
6 is a cross-sectional view showing the cover and blocking member of the test socket of Fig. 2;
7 is a sectional view showing the base and the seating member of the test socket of Fig. 2;
Figs. 8 to 12 are sectional views showing the use state of the test socket of Fig. 2; Fig.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 상세하게 설명하면 다음과 같다. 다만, 본 발명을 설명함에 있어서, 이미 공지된 기능 혹은 구성에 대한 설명은, 본 발명의 요지를 명료하게 하기 위하여 생략하기로 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following description of the present invention, the well-known functions or constructions are not described in order to simplify the gist of the present invention.
본 발명의 테스트소켓은, 작업자의 시야가 확보된 상태로 FPCB를 안착시킬 수 있고, 작업자가 특별히 주의를 하지 않더라도 FPCB가 쉽게 안정한 상태로 안착되어 커넥터 부분의 파손이 방지되며, 테스트 완료 후에는 FPCB의 회수가 용이하도록 이루어진다.The test socket of the present invention can seat the FPCB in a state in which the operator's field of view is secured and prevents the breakage of the connector portion due to the fact that the FPCB is easily seated in a stable state without the operator's attention, Is easy to recover.
도 1 및 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트소켓의 사시도이고, 도 3은 도 2의 테스트소켓의 부분 분리사시도이고, 도 4는 도 2의 테스트소켓의 베이스의 부분 평면도이고, 도 5는 도 2의 테스트소켓의 커버 및 푸시부재를 나타내는 단면도이고, 도 6은 도 2의 테스트소켓의 커버 및 막음부재를 나타내는 단면도이고, 도 7은 도 2의 테스트소켓의 베이스 및 안착부재를 나타내는 단면도이고, 도 8 내지 도 12는 도 2의 테스트소켓의 사용상태를 나타내는 단면도이다.1 and 2 are perspective views of a test socket according to an embodiment of the present invention, FIG. 3 is a partially separated perspective view of the test socket of FIG. 2, FIG. 4 is a partial plan view of the base of the test socket of FIG. 5 is a sectional view showing the cover and the push member of the test socket of Fig. 2, Fig. 6 is a sectional view showing the cover and the blocking member of the test socket of Fig. 2, And FIGS. 8 to 12 are sectional views showing the use state of the test socket of FIG.
도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트소켓(10)은, 작업자가 특별히 주의를 하지 않더라도 FPCB가 쉽게 안정한 상태로 안착되어 커넥터(C) 부분의 파손이 방지되고, 테스트 완료 후에는 FPCB의 회수가 용이하도록 이루어지며, 베이스(100), 안착부재(200), 간섭부재(300), 커버(400) 및 푸시부재(500)를 포함하여 구성된다. 1 and 2, the
이하에서는 본 발명의 용이한 이해를 위해 도 1에 도시된 상태(커버(400)가 닫힌 상태)에서 상하를 구분하여 설명하기로 한다. Hereinafter, for the sake of easy understanding of the present invention, the upper and lower portions will be described in a state shown in FIG. 1 (a state in which the
도 7 및 도 8에 도시된 바와 같이, 베이스(100)는 전자부품(FPCB)의 단자에 접속하는 접속핀(101)이 설치된 구성으로서, 전체적으로 직육면체 블록 형태를 형성한다. 상술한 전자부품(FPCB)은 FPCB를 의미한다. As shown in Figs. 7 and 8, the
물론, 본 발명의 테스트소켓(10)은 일반 PCB의 테스트에 사용될 수도 있다. 베이스(100)에는 볼트(미도시)가 삽입되는 복수의 구멍(H)이 형성된다. 베이스(100)는 볼트체결에 의해 테스트장비(미도시)의 테이블에 고정된다. Of course, the
바람직하게는, 접속핀(101)은 포고핀으로 마련되어 안착부재(200)에 안착된 FPCB를 테스트장비와 전기적으로 연결한다. 접속핀(101)은 핀설치부재(120)에 세로방향으로 설치된다. 핀설치부재(120)는 안착부재(200) 아래에 배치된다. Preferably, the
안착부재(200)는 전자부품(FPCB)이 얹히는 구성으로서, 접속핀(101)에 가까워지거나 멀어지도록 베이스(100)에 이동 가능하게 설치된다. 베이스(100)에는 블록형태의 안착부재(200)가 세로방향으로 이동하는 설치공간(102)이 형성된다. The
도 7 및 도 8에 도시된 바와 같이, 안착부재(200)와 핀설치부재(120) 사이에는 제1 탄성부재(S1)가 개재된다. 안착부재(200)는 제1 탄성부재(S1)에 의해 접속핀(101)과 멀어지는 쪽 즉, 위쪽으로 가압된다. 7 and 8, a first elastic member S1 is interposed between the
안착부재(200)의 가장자리에는 단차부(220)가 형성된다. 단차부(220)는, 커버(400)가 열린 상태에서 제1 탄성부재(S1)의 힘에 의해 베이스(100)의 경계부(103)에 밀착된다. A
도 8에 도시된 바와 같이, FPCB의 단부 저면에는 단자를 갖는 커넥터(C)가 부착되고, FPCB의 단부 상면에는 스티프너(T)가 부착된다. As shown in Fig. 8, a connector C having terminals is attached to the bottom surface of the end portion of the FPCB, and a stiffener T is attached to the upper surface of the end portion of the FPCB.
FPCB는 유연하게 구부러지는 동박(구리막)을 입힌 회로기판의 원판으로, 특정영역에는 각종 표면실장소자(Surface Mounter Device)가 장착된다. 이때 FPCB는 표면실장소자가 장착되는 영역의 견고함을 보강해주어야 하며, 이를 위해 FPCB에서 표면실장소자가 장착되는 면의 반대쪽 면에는 금속 또는 에폭시 재질의 스티프너(T)가 부착된다. The FPCB is an original plate of a circuit board on which a flexible copper foil (copper film) is bent, and various surface mount devices are mounted in a specific area. At this time, the FPCB should reinforce the rigidity of the area in which the surface mount element is mounted. To this end, a metal or epoxy stiffener T is attached to the opposite surface of the FPCB on which the surface mount element is mounted.
도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 안착부재(200)의 상부에는 전자부품(FPCB)의 테두리를 감싸는 경계벽(230)이 형성된다. FPCB의 스티프너(T)는 경계벽(230)에 의해 회전이 방지된다. 그리고 안착부재(200)의 상부 경계벽(230) 안쪽에는 FPCB의 저면이 안착되는 안착면(201)과, 커넥터(C)가 삽입되는 삽입부(202)가 형성된다. As shown in FIGS. 2 and 3, a
도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이, 간섭부재(300)는 안착부재(200)에 얹혀진 전자부품(FPCB)의 유동을 방지하지 위한 구성으로서, 베이스(100)의 상면에 수평방향으로 이동 가능하게 설치된다. 3 and 4, the
도 8에 도시된 바와 같이, FPCB는 안착부재(200)의 위에서 커넥터(C)가 삽입부(202)에 삽입되는 방향 즉, 아래쪽으로 하강하는 경로(PA)를 지나서 안착면(201)에 안착된다. 8, the FPCB is mounted on the
베이스(100)의 상면에는 간섭부재(300)의 수평방향 이동구간의 경계를 형성하는 구속부재(110)가 설치된다. 구속부재(110)는 베이스(100)의 상면에 볼트체결된다. The upper surface of the
본 발명의 용이한 이해를 돕기 위해 도 4를 기준으로 간섭부재(300)의 왼쪽 부분을 간섭부재(300)의 '앞쪽 부분'으로 지칭하고, 간섭부재(300)의 오른쪽 부분을 간섭부재(300)의 '뒤쪽 부분'으로 지칭하고자 한다. The left portion of the
구속부재(110)는 베이스(100)의 상면에 볼트체결된 상태에서 베이스(100)의 상면과 사이에 이동공간(113)을 형성한다. 간섭부재(300)의 뒤쪽 부분은 이동공간(113) 안쪽에 배치된다. 간섭부재(300)는 (전자부품(FPCB)이 얹혀진 경로(PA)를 선택적으로 침범하도록) 이동공간(113) 안쪽에 구비된 제2 탄성부재(S2)에 의해 경로(PA) 쪽으로 가압된다. The restricting
도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이, 간섭부재(300)에는 경계면(301)이 형성되고, 구속부재(110)에는 구속면(111)이 형성된다. 구속면(111)은 경계면(301)이 밀착된 상태에서 제2 탄성부재(S2)의 가압력에 의한 간섭부재(300)의 이동구간의 경계를 형성한다. 3 and 4, the
도 8에 도시된 바와 같이, 간섭부재(300)는 제2 탄성부재(S2)의 가압력에 의해 (경계면(301)과 구속면(111)이 밀착된 위치까지) 전자부품(FPCB)이 얹혀진 경로(PA)를 침범한다. As shown in Fig. 8, the
간섭부재(300)의 앞쪽 부분에는 앞쪽으로 갈수록 내리막을 형성하는 비탈면(303)이 형성된다. 비탈면(303)의 하단은 안착면(201)보다 위쪽에 위치한다. In the front portion of the
도 8에 도시된 상태에서, 간섭부재(300)는 전자부품(FPCB)이 얹혀진 경로(PA)를 침범하므로, 작업자가 경로(PA)를 따라 FPCB를 하강시키면, 작업자가 FPCB를 하강시키는 힘은 비탈면(303)을 통해 간섭부재(300)로 전달된다. 간섭부재(300)는 FPCB가 경로(PA)를 따라 하강하는 과정에서 제2 탄성부재(S2)가 수축하는 방향으로 밀리게 된다. 8, since the
도 9에 도시된 바와 같이, FPCB가 안착면(201)에 안착되면, 간섭부재(300)는 스티프너(T)의 위쪽에서 제2 탄성부재(S2)의 가압력에 의해 전자부품(FPCB)이 얹혀진 경로(PA)를 다시 침범하게 된다. 스티프너(T)에는 (간섭부재(300)가 경로(PA)를 다시 침범하면서) 비탈면(303)의 하단이 걸리는 단차가 형성될 수 있다. 9, when the FPCB is seated on the
도 9에 도시된 바와 같이, FPCB가 안착면(201)에 안착된 상태에서 커넥터(C)와 접속핀(101)은 세로방향으로 이격되어 있다. As shown in Fig. 9, the connector C and the
도 7 내지 도 9에 도시된 바와 같이, 안착부재(200)에는 전자부품(FPCB)을 얹혀진 경로(PA)의 역방향으로 미는 푸셔(210)가 형성된다. 푸셔(210)는 푸싱핀(P) 및 제4 탄성부재(S4)를 포함하여 구성된다. 7 to 9, the seating
안착부재(200)에는 세로방향의 홀이 형성되고, 푸싱핀(P)은 세로방향의 홀에 삽입된 상태에서 제4 탄성부재(S4)에 의해 위쪽으로 가압된다. 푸싱핀(P)의 상단부는 안착면(201) 상에서 위쪽으로 돌출된다. 제4 탄성부재(S4)는 안착부재(200) 또는 핀설치부재(120)에 장착된다. A longitudinal hole is formed in the
도 7 및 도 8에 도시된 바와 같이, 푸싱핀(P)의 상단부는, FPCB가 안착면(201)에 안착되기 전까지 안착면(201)보다 위쪽으로 돌출된 상태를 유지한다. 도 9에 도시된 바와 같이, FPCB가 안착면(201)에 안착되면, 푸싱핀(P)의 상단은 FPCB에 의해 눌려 안착면(201)과 동일평면에 위치하게 된다. As shown in Figs. 7 and 8, the upper end of the pushing pin P maintains a state of protruding upward from the
도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 커버(400)는 베이스(100)의 상면에 가까워지거나 멀어지는 구성으로서, 베이스(100)에 회전 또는 이동 가능하게 장착된다. 커버(400)에는 푸시부재(500) 및 막음부재(600)가 설치된다. As shown in Figs. 1 and 2, the
도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에서 커버(400)는 베이스(100)에 회전 가능하게 장착된 것으로 도시되었다. 자세하게 도시되지는 않았으나, 커버(400)와 베이스(100)는 커버핀(미도시)에 의해 상대회전 가능하게 결합된다. Referring to FIG. 2, in one embodiment of the present invention, a
도 2를 참조하면, 커버(400)가 베이스(100)를 기준으로 대략 90도 회전되면, 커버(400)는 베이스(100)에 걸려 더 이상의 회전이 방지된다. 커버핀에는 토션스프링(미도시)이 장착된다. 커버(400)는 토션스프링에 의해 베이스(100)로부터 벌어지는 방향으로 가압된다. Referring to FIG. 2, when the
커버(400)에는 걸림부(410)가 형성되고, 베이스(100)에는 걸림부(410)에 걸리는 레버(L)가 설치된다. 레버(L)는 핀(미도시)에 의해 베이스(100)에 회전가능하게 결합된다. 핀에는 토션스프링이 장착되며, 레버(L)는 토션스프링에 의해 걸림부(410)에 걸리는 방향으로 회전하는 회전력을 갖게 된다. The
도 1에 도시된 바와 같이, 레버(L)와 걸림부(410)는 커버(400)가 베이스(100)의 상부를 닫을 때 서로 걸림으로써 결합력을 형성한다. 사용자가 레버(L)를 누르면 걸림부(410)와의 걸림구조가 해제되며, 커버(400)는 도 2의 상태로 회전된다. As shown in FIG. 1, the lever L and the engaging
도 5에 도시된 바와 같이, 푸시부재(500)는 전자부품(FPCB)을 접속핀(101) 쪽으로 밀며 간섭부재(300)를 경로(PA) 바깥으로 미는 구성으로서, 커버(400)에 볼트체결된다. 5, the
도 2, 도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이, 푸시부재(500)는 누름면(501) 및 경사면(502)을 형성한다. As shown in Figs. 2, 4 and 5, the
누름면(501)은 (커버(400)가 베이스(100)의 상면과 가깝게 회전되는 과정에서) 커버(400)의 회전력에 의해 안착면(201)에 안착된 FPCB의 상면을 아래로 누르는 면이다. 그리고 경사면(502)은 (커버(400)가 베이스(100)의 상면과 가깝게 회전되는 과정에서) 커버(400)의 회전력에 의해 간섭부재(300)의 비탈면(303)을 아래로 누르는 면이다. The
푸시부재(500)와 간섭부재(300) 간 접촉면 즉, 경사면(502)과 비탈면(303)은 푸시부재(500) 및 간섭부재(300)의 이동방향과 각각 경사를 형성한다. 도 10을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에서 비탈면(303)은 간섭부재(300)의 이동방향과 약 60°의 사잇각을 이루고, 경사면(502)은 푸시부재(500)의 이동방향과 약 30°의 사잇각을 이루는 것으로 도시되었다. The contact surfaces between the
도 10 및 도 11에 도시된 바와 같이, 푸시부재(500)는 커버(400)가 베이스(100)의 상면과 가깝게 회전되는 과정에서 누름면(501)을 통해 전자부품(FPCB)을 접속핀(101) 쪽으로 미는 한편, 경사면(502)을 통해 간섭부재(300)를 경로(PA) 바깥으로 밀게 된다. 10 and 11, the
도 10은 누름면(501)과 FPCB의 상면이 최초 접촉한 상태를 나타내고, 도 11은 커버(400)가 완전히 닫힌 상태를 나타낸다. 커버(400)가 닫히는 과정에서 푸시부재(500)가 FPCB의 상면을 아래로 누르는 힘에 의해 (제1 탄성부재(S1)가 압축되며) 안착부재(200)는 아래로 하강하게 된다. 도 11에 도시된 상태에서 커넥터(C)는 접속핀(101)에 접촉되고, 전자부품(FPCB)의 테스트가 실시된다. Fig. 10 shows a state in which the
도 2 및 도 6에 도시된 바와 같이, 막음부재(600)는 경로(PA) 바깥으로 밀린 간섭부재(300)의 이동을 차단하기 위한 구성으로서, 간섭부재(300)에 가까워지거나 멀어지도록 커버(400)에 이동 가능하게 설치된다. 간섭부재(300)에는 막음부재(600)가 삽입되는 걸림홀(304)이 형성된다. 2 and 6, the blocking
도 6에 도시된 바와 같이, 막음부재(600)와 커버(400) 사이에는 제3 탄성부재(S3)가 개재된다. 막음부재(600)는 제3 탄성부재(S3)에 의해 간섭부재(300)와 가까워지는 쪽 즉, 아래쪽으로 가압된다. As shown in FIG. 6, a third elastic member S3 is interposed between the blocking
막음부재(600)의 가장자리에는 단차부(610)가 형성된다. 단차부(610)는, 커버(400)가 열린 상태에서 제3 탄성부재(S3)의 힘에 의해 커버(400)에 체결된 볼트의 헤드에 밀착된다. 미설명된 도면 부호 620은 막음부재(600)의 상하이동을 안내하는 핀을 의미한다. A stepped
도 10에 도시된 바와 같이, 간섭부재(300)는, 커버(400)가 닫히면서 푸시부재(500)에 의해 경로(PA) 바깥으로 점점 밀리게 된다. 간섭부재(300)가 경로(PA) 바깥으로 밀리는 과정에서 제2 탄성부재(S2)는 압축된다. 도 11에 도시된 바와 같이, 커버(400)가 완전히 닫히면 걸림홀(304)은 막음부재(600)가 삽입될 수 있는 위치로 위치하게 된다. As shown in Fig. 10, the
도 10에 도시된 바와 같이, 제3 탄성부재(S3)는 커버(400)가 닫히는 과정에서 (막음부재(600)가 걸림홀(304)에 삽입되기 전까지) 압축된다. 도 11에 도시된 바와 같이, 커버(400)가 완전히 닫히면 제3 탄성부재(S3)가 탄성 회복되며 막음부재(600)가 걸림홀(304)에 깊숙히 삽입된다. The third elastic member S3 is compressed in the process of closing the cover 400 (until the blocking
막음부재(600)는 걸림홀(304)에 삽입됨으로써 간섭부재(300)의 이동 구간에 침범하게 된다. 따라서 막음부재(600)는 제2 탄성부재(S2)의 탄성 회복에 의한 간섭부재(300)의 이동을 가로막게 된다. The blocking
막음부재(600)가 이동 구간에 침범한 길이(또는 각도)는, 제3 탄성부재(S3)의 변형량에 의해 커버(400)의 이동길이(또는 회전각)보다 더 큰 절대값을 갖는다. 따라서, 도 12의 상태에서 커버(400) 개방시 막음부재(600)는, 이동 구간에 침범한 막음부재(600)의 길이(또는 각도)만큼 커버(400)가 이동(또는 회전)한 다음 걸림홀(304)에서 빠져나오게 된다. The length (or angle) at which the blocking
도 12에 도시된 바와 같이, FPCB의 테스트 완료 후 커버(400) 개방시, 막음부재(600)는 (제1 탄성부재(S1)의 탄성 회복에 의해 안착부재(200)가 최대한 상승한 후) 푸시부재(500)의 누름면(501)과 FPCB의 상면 간 접촉이 해제되더라도 걸림홀(304)에 일부 삽입된 상태를 유지한다. 따라서 간섭부재(300)는 제2 탄성부재(S2)의 탄성 회복력에 의해 경로(PA) 쪽으로 가압되더라도 경로(PA)로부터 이격된 상태를 유지한다. 12, when the
도 12에 도시된 바와 같이, 커버(400) 개방시 푸시부재(500)의 누름면(501)과 FPCB의 상면 간 접촉이 해제되면, 전자부품(FPCB)은 푸셔(210)에 의해 경로(PA)의 역방향으로 밀려 안착면(201)으로부터 상승하게 된다. 전자부품(FPCB)은 푸셔(210)에 의해 비탈면(303)의 하단보다 높게 상승하여 간섭부재(300)의 간섭(전자부품(FPCB)의 유동 방지)으로부터 자유로운 상태가 된다. 12, when the
따라서, 전자부품(FPCB)은, 커버(400) 개방이 더 진행되어 막음부재(600)가 걸림홀(304)에서 빠져나와 간섭부재(300)가 다시 경로(PA)를 침범하더라도 테스트소켓(10)으로부터 쉽게 회수될 수 있다. Therefore, the electronic component FPCB can be removed from the
본 발명에 의하면, 커버를 닫을 때 푸시부재가 전자부품을 접속핀 쪽으로 밀며 간섭부재를 경로 바깥으로 미는 작동구조를 형성함으로써, 작업자가 특별히 주의를 하지 않더라도 FPCB가 쉽게 안정한 상태로 안착되어 커넥터 부분의 파손이 방지되도록 이루어지는 테스트소켓을 제공할 수 있게 된다.According to the present invention, when the cover is closed, the push member pushes the electronic component toward the connection pin and forms the operating structure that pushes the interference member out of the path, so that even if the operator does not pay special attention, the FPCB is easily seated in a stable state, It is possible to provide a test socket in which breakage is prevented.
또한, 커버를 열 때에는 막음부재가 경로 바깥으로 밀린 간섭부재의 이동을 차단한 상태에서 안착부재에 형성된 푸셔가 전자부품을 얹혀진 경로의 역방향으로 미는 작동구조를 형성함으로써, 테스트 완료 후에는 FPCB의 회수가 용이하도록 이루어지는 테스트소켓을 제공할 수 있게 된다.Further, when the cover is opened, the blocking member prevents the movement of the interference member pushed out of the path, and the pusher formed on the seating member forms an operating structure for pushing the electronic component in a direction opposite to the path on which the electronic component is placed. It is possible to provide a test socket which is made to be easy to carry out.
아울러, 커버가 열린 상태에서 안착부재가 그대로 노출됨으로써, 작업자의 시야가 확보된 상태로 FPCB를 안착시킬 수 있도록 이루어지는 테스트소켓을 제공할 수 있게 된다.In addition, it is possible to provide a test socket in which the seating member is exposed while the cover is open, so that the FPCB can be seated with the view of the operator secured.
앞에서, 본 발명의 특정한 실시예가 설명되고 도시되었지만 본 발명은 기재된 실시예에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 사상 및 범위를 벗어나지 않고 다양하게 수정 및 변형할 수 있음은 이 기술의 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명한 일이다. 따라서, 그러한 수정예 또는 변형예들은 본 발명의 기술적 사상이나 관점으로부터 개별적으로 이해되어서는 안되며, 변형된 실시예들은 본 발명의 특허청구범위에 속한다 하여야 할 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, It is obvious to those who have. Accordingly, it should be understood that such modifications or alterations should not be understood individually from the technical spirit and viewpoint of the present invention, and that modified embodiments fall within the scope of the claims of the present invention.
10 : 테스트소켓
100 : 베이스 200 : 안착부재
101 : 접속핀 201 : 안착면
102 : 설치공간 202 : 삽입부
103 : 경계부 210 : 푸셔
110 : 구속부재 P : 푸싱핀
111 : 구속면 S4 : 제4 탄성부재
113 : 이동공간 220 : 단차부
120 : 핀설치부재 230 : 경계벽
L : 레버 S1 : 제1 탄성부재
300 : 간섭부재 400 : 커버
301 : 경계면 410 : 걸림부
303 : 비탈면 500 : 푸시부재
304 : 걸림홀 501 : 누름면
S2 : 제2 탄성부재 502 : 경사면
FPCB : 전자부품 600 : 막음부재
C : 커넥터 610 : 단차부
T : 스티프너 S3 : 제3 탄성부재
PA : 경로10: Test socket
100: base 200:
101: connection pin 201: seat face
102: installation space 202: insertion part
103: boundary 210: pusher
110: restraint member P: pushing pin
111: restricting surface S4: fourth elastic member
113: moving space 220:
120: pin mounting member 230:
L: lever S1: first elastic member
300: interference member 400: cover
301: interface 410:
303: slope surface 500: push member
304: latching hole 501: pushing face
S2: second elastic member 502: inclined surface
FPCB: electronic component 600: blocking member
C: Connector 610: Stepped portion
T: stiffener S3: third elastic member
PA: Path
Claims (7)
상기 접속핀에 가까워지거나 멀어지도록 상기 베이스에 이동 가능하게 설치되고, 상기 전자부품이 얹히는 안착부재;
상기 전자부품이 얹혀진 경로를 선택적으로 침범하도록 상기 베이스에 이동 가능하게 설치되는 간섭부재;
상기 베이스에 회전 또는 이동 가능하게 장착된 커버; 및
상기 커버에 설치되어 상기 전자부품을 상기 접속핀 쪽으로 밀며 상기 간섭부재를 상기 경로 바깥으로 미는 푸시부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트소켓.A base provided with a connection pin for connecting to a terminal of the electronic component;
A seating member movably installed on the base so as to approach or separate from the connection pin, the seating member on which the electronic component is placed;
An interference member movably installed on the base to selectively pass the path on which the electronic component is placed;
A cover rotatably or movably mounted on the base; And
And a push member installed on the cover and pushing the electronic component toward the connection pin and pushing the interference member out of the path.
상기 푸시부재와 상기 간섭부재 간 접촉면은 상기 푸시부재 및 상기 간섭부재의 이동방향과 각각 경사를 형성하는 것을 특징으로 하는 테스트소켓.The method according to claim 1,
Wherein a contact surface between the push member and the interference member forms a slope with respect to a moving direction of the push member and the interference member, respectively.
상기 안착부재는 제1 탄성부재에 의해 상기 접속핀과 멀어지는 쪽으로 가압되는 것을 특징으로 하는 테스트소켓.The method according to claim 1,
And the seating member is urged toward the side away from the connecting pin by the first elastic member.
상기 커버에 설치되어 상기 경로 바깥으로 밀린 상기 간섭부재의 이동을 차단하는 막음부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트소켓.The method according to claim 1,
And a blocking member installed on the cover to block movement of the interference member pushed out of the path.
상기 간섭부재는 제2 탄성부재에 의해 상기 경로 쪽으로 가압되고,
상기 막음부재는 상기 간섭부재의 이동 구간에 침범하여 상기 제2 탄성부재에 의한 상기 간섭부재의 이동을 가로막는 것을 특징으로 하는 테스트소켓.5. The method of claim 4,
The interference member is urged toward the path by the second elastic member,
Wherein the blocking member interferes with the movement of the interference member to prevent movement of the interference member by the second elastic member.
상기 안착부재에는 상기 전자부품을 상기 얹혀진 경로의 역방향으로 미는 푸셔가 형성되는 것을 특징으로 하는 테스트소켓.6. The method of claim 5,
And a pusher is formed in the seating member to push the electronic component in a direction opposite to the path on which the electronic component is mounted.
상기 막음부재는 제3 탄성부재에 의해 상기 간섭부재 쪽으로 가압되고,
상기 막음부재가 상기 이동 구간에 침범한 각도 또는 길이는, 상기 제3 탄성부재의 변형량에 의해 상기 커버의 회전각 또는 이동길이보다 더 큰 절대값을 갖는 것을 특징으로 하는 테스트소켓.6. The method of claim 5,
The blocking member is urged toward the interference member by the third elastic member,
Wherein an angle or a length of the blocking member in the moving section has an absolute value larger than a rotation angle or a moving length of the cover by a deformation amount of the third elastic member.
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102162813B1 (en) * | 2019-08-30 | 2020-10-07 | 에스엠파워텍 주식회사 | Flexible support type test device for flexible printed circuit board and test method using that |
KR102175111B1 (en) * | 2019-08-30 | 2020-11-05 | 에스엠파워텍 주식회사 | Test device for flexible printed circuit board with compound flexion and test method using that |
KR102205712B1 (en) * | 2019-09-27 | 2021-01-21 | 에스엠파워텍 주식회사 | Fpcb(flexible printed circuit) installation adapter for fpcb test apparatus and fpcb test apparatus comprising the same |
KR102212615B1 (en) * | 2019-08-30 | 2021-02-05 | 에스엠파워텍 주식회사 | Reverse support type test device for flexible printed circuit board and test method using that |
KR102297098B1 (en) * | 2020-04-17 | 2021-09-02 | 디플러스(주) | Test Socket |
KR102497496B1 (en) * | 2022-11-14 | 2023-02-08 | 투스템 주식회사 | Socket for module test with integrated side block and floating |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101357020B1 (en) | 2013-11-27 | 2014-02-05 | 주식회사 티씨에스 | Socket for testing electronics |
KR101581712B1 (en) | 2014-12-22 | 2016-01-04 | (주) 네스텍코리아 | Socket For Testing Electronics Having Side Contact |
KR101628302B1 (en) | 2016-02-03 | 2016-06-09 | (주) 네스텍코리아 | Socket For Testing Electronics |
KR101801711B1 (en) | 2017-07-07 | 2017-12-06 | 주식회사 티씨에스 | Linearly connected electronic component test socket |
-
2018
- 2018-03-14 KR KR1020180029820A patent/KR101945295B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101357020B1 (en) | 2013-11-27 | 2014-02-05 | 주식회사 티씨에스 | Socket for testing electronics |
KR101581712B1 (en) | 2014-12-22 | 2016-01-04 | (주) 네스텍코리아 | Socket For Testing Electronics Having Side Contact |
KR101628302B1 (en) | 2016-02-03 | 2016-06-09 | (주) 네스텍코리아 | Socket For Testing Electronics |
KR101801711B1 (en) | 2017-07-07 | 2017-12-06 | 주식회사 티씨에스 | Linearly connected electronic component test socket |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102162813B1 (en) * | 2019-08-30 | 2020-10-07 | 에스엠파워텍 주식회사 | Flexible support type test device for flexible printed circuit board and test method using that |
KR102175111B1 (en) * | 2019-08-30 | 2020-11-05 | 에스엠파워텍 주식회사 | Test device for flexible printed circuit board with compound flexion and test method using that |
KR102212615B1 (en) * | 2019-08-30 | 2021-02-05 | 에스엠파워텍 주식회사 | Reverse support type test device for flexible printed circuit board and test method using that |
KR102205712B1 (en) * | 2019-09-27 | 2021-01-21 | 에스엠파워텍 주식회사 | Fpcb(flexible printed circuit) installation adapter for fpcb test apparatus and fpcb test apparatus comprising the same |
KR102297098B1 (en) * | 2020-04-17 | 2021-09-02 | 디플러스(주) | Test Socket |
KR102497496B1 (en) * | 2022-11-14 | 2023-02-08 | 투스템 주식회사 | Socket for module test with integrated side block and floating |
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