JP2018163020A - 電磁波検出装置、プログラム、および電磁波検出システム - Google Patents

電磁波検出装置、プログラム、および電磁波検出システム Download PDF

Info

Publication number
JP2018163020A
JP2018163020A JP2017059893A JP2017059893A JP2018163020A JP 2018163020 A JP2018163020 A JP 2018163020A JP 2017059893 A JP2017059893 A JP 2017059893A JP 2017059893 A JP2017059893 A JP 2017059893A JP 2018163020 A JP2018163020 A JP 2018163020A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electromagnetic wave
unit
radiation direction
traveling
detection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2017059893A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6850173B2 (ja
Inventor
浩希 岡田
Hiroki Okada
浩希 岡田
絵梨 内田
Eri Uchida
絵梨 内田
皆川　博幸
Hiroyuki Minagawa
博幸 皆川
喜央 ▲高▼山
喜央 ▲高▼山
Yoshiteru TAKAYAMA
光夫 小野
Mitsuo Ono
光夫 小野
篤史 長谷部
Atsushi Hasebe
篤史 長谷部
河合　克敏
Katsutoshi Kawai
克敏 河合
幸年 金山
Yukitoshi KANAYAMA
幸年 金山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyocera Corp filed Critical Kyocera Corp
Priority to JP2017059893A priority Critical patent/JP6850173B2/ja
Priority to PCT/JP2018/008335 priority patent/WO2018173720A1/ja
Priority to CN201880020356.8A priority patent/CN110476076B/zh
Priority to US16/495,470 priority patent/US11408982B2/en
Priority to EP18770202.2A priority patent/EP3605138A4/en
Priority to KR1020197027505A priority patent/KR102287270B1/ko
Publication of JP2018163020A publication Critical patent/JP2018163020A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6850173B2 publication Critical patent/JP6850173B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/483—Details of pulse systems
    • G01S7/486—Receivers
    • G01S7/4861—Circuits for detection, sampling, integration or read-out
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/481—Constructional features, e.g. arrangements of optical elements
    • G01S7/4817—Constructional features, e.g. arrangements of optical elements relating to scanning
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S13/00—Systems using the reflection or reradiation of radio waves, e.g. radar systems; Analogous systems using reflection or reradiation of waves whose nature or wavelength is irrelevant or unspecified
    • G01S13/02—Systems using reflection of radio waves, e.g. primary radar systems; Analogous systems
    • G01S13/04—Systems determining presence of a target
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S17/04—Systems determining the presence of a target
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S17/06—Systems determining position data of a target
    • G01S17/08—Systems determining position data of a target for measuring distance only
    • G01S17/10—Systems determining position data of a target for measuring distance only using transmission of interrupted, pulse-modulated waves
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/88—Lidar systems specially adapted for specific applications
    • G01S17/89—Lidar systems specially adapted for specific applications for mapping or imaging
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/02—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S13/00
    • G01S7/03—Details of HF subsystems specially adapted therefor, e.g. common to transmitter and receiver
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/481—Constructional features, e.g. arrangements of optical elements
    • G01S7/4816—Constructional features, e.g. arrangements of optical elements of receivers alone
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/483—Details of pulse systems
    • G01S7/484—Transmitters
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/483—Details of pulse systems
    • G01S7/486—Receivers
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/483—Details of pulse systems
    • G01S7/486—Receivers
    • G01S7/4865—Time delay measurement, e.g. time-of-flight measurement, time of arrival measurement or determining the exact position of a peak

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
  • Radar Systems Or Details Thereof (AREA)

Abstract

【課題】推定される電磁波の放射方向と実際の電磁波の放射方向との差異を低減する。【解決手段】電磁波検出装置１０は照射部１１と第１の検出部１７と進行部２０と記憶部１３と制御部１４とを有する。照射部１１は電磁波を照射する。第１の検出部１７は対象ｏｂに照射された電磁波の反射波を検出する。進行部２０は複数の進行素子ｐｘを有する。複数の進行素子ｐｘは対象ｏｂに照射された電磁波の照射位置別に当前記反射波の第１の検出部１７への進行の可否を切替える。記憶部１３は電磁波の放射方向に関する情報を記憶する。制御部１４は第１の検出部１７が反射波を検出するときに反射波を第１の検出部１７に進行させている進行素子ｐｘの位置に基づいて放射方向に関する情報を更新する。【選択図】図１

Description

本発明は、電磁波検出装置、プログラム、および電磁波検出システムに関するものである。
近年、放射された電磁波の反射波の検出結果から周囲に関する情報を得る装置が開発されている。例えば、物体の位置を、レーザレーダを用いて測定する装置が知られている。（特許文献１参照）。
特開２０１１−２２０７３２号公報
このような装置において、推定される電磁波の放射方向と、実際の電磁波の放射方向との差異の低減が求められている。
従って、上記のような従来技術の問題点に鑑みてなされた本開示の目的は、推定される電磁波の放射方向と、実際の電磁波の放射方向との差異を低減させることである。
上述した諸課題を解決すべく、第１の観点による電磁波検出装置は、
電磁波を放射する照射部と、
対象に照射された前記電磁波の反射波を検出する第１の検出部と、
前記対象に照射された前記電磁波の照射位置別に、前記反射波の前記第１の検出部への進行の可否を切替える複数の進行素子を有する進行部と、
前記電磁波の放射方向に関する情報を記憶する記憶部と、
前記第１の検出部が前記反射波を検出するときに前記反射波を前記第１の検出部に進行させている進行素子の位置に基づいて、前記放射方向に関する情報を更新する制御部と、を備える。
また、第２の観点による電磁波検出システムは、
電磁波を放射する照射部と、
対象に照射された前記電磁波の反射波を検出する第１の検出部と、
前記対象に照射された前記電磁波の照射位置別に、前記反射波の前記第１の検出部への進行の可否を切替える複数の進行素子を有する進行部と、
前記電磁波の放射方向に関する情報を記憶する記憶部と、
前記第１の検出部が前記反射波を検出するときに前記反射波を前記第１の検出部に進行させている進行素子の位置に基づいて、前記放射方向に関する情報を更新する制御部と、を備える。
上述したように本開示の解決手段を装置、及びシステムとして説明してきたが、本開示は、これらを含む態様としても実現し得るものであり、また、これらに実質的に相当する方法、プログラム、プログラムを記録した記憶媒体としても実現し得るものであり、本開示の範囲にはこれらも包含されるものと理解されたい。
例えば、本開示の第３の観点によるプログラムは、
電磁波を放射するステップと、
対象に照射された前記電磁波の反射波を第１の検出部によりに検出するステップと、
前記対象に照射された前記電磁波の照射位置別に、前記反射波の前記第１の検出部への進行の可否を切替え可能な複数の進行素子の一部を、前記第１の検出部に進行させるステップと、
前記電磁波の放射方向に関する情報を記憶するステップと、
前記第１の検出部が前記反射波を検出するときに前記反射波を前記第１の検出部に進行させている進行素子の位置に基づいて、前記放射方向に関する情報を更新するステップと、を装置に実行させる。
上記のように構成された本開示によれば、推定される電磁波の放射方向と、実際の電磁波の放射方向との差異を低減し得る。
第１の実施形態に係る電磁波検出装置の概略構成を示す構成図である。 図１の電磁波検出装置の進行部における画素の第１の状態と第２の状態における電磁波の進行方向を説明するための、電磁波検出装置の構成図である。 図１の記憶部に記憶される第１の関連情報の一例を示す図である。 図１の記憶部に記憶される第２の関連情報の一例を示す図である。 図１の記憶部に記憶される第３の関連情報の一例を示す図である。 図１の照射部、第２の検出部、および制御部が構成する測距センサによる測距の原理を説明するための電磁波の放射の時期と検出の時期を示すタイミングチャートである。 図１の制御部が画像情報および距離情報を繰返し取得するための各部位の制御を説明するためのタイミングチャートである。 図１の進行部の任意の画素が第２の状態であるときの電磁波の進行状態を説明するための、電磁波検出装置の構成図である。 図８の任意の画素のみが第１の状態であるときの電磁波の進行状態を説明するための、電磁波検出装置の構成図である。 第１の実施形態の電磁波検出装置において、第１の関連情報の更新を行うときの進行部における画素の状態および反射波による走査の軌跡を示す進行部の模式図である。 図１の電磁波検出装置において、第１の関連情報の更新を行うときの所定の画素に対して第１の検出部が反射波を検出する、推定される経過時間と実際の経過時間との差異を示すための、経過時間に対する第１の検出部が反射波を検出するときのグラフである。 第１の実施形態において、図１の制御部が実行する第１の関連情報の更新処理を説明するためのフローチャートである。 第２の実施形態において、図１の制御部が実行する第１の関連情報の更新処理を説明するためのフローチャートである。
以下、本発明を適用した電磁波検出装置の実施形態について、図面を参照して説明する。放射された電磁波の放射方向を、既に得られている情報から推定する場合、実際の放射方向と推定される放射方向とが異なることがある。そこで、本発明を適用した電磁波検出装置は、実際の電磁波の放射方向と推定される電磁波の放射方向との差異を低減し得るように構成されている。
図１に示すように、本開示の第１の実施形態に係る電磁波検出装置１０は、照射部１１、電磁波検出部１２、記憶部１３、および制御部１４を含んで構成されている。
以後の図において、各機能ブロックを結ぶ破線は、制御信号または通信される情報の流れを示す。破線が示す通信は有線通信であってもよいし、無線通信であってもよい。また、各機能ブロックから突出する実線は、ビーム状の電磁波を示す。
照射部１１は、少なくとも電磁波を放射する照射源１５を有する。照射源１５は、例えば、赤外線、可視光線、紫外線、および電波の少なくともいずれかの電磁波を放射する。第１の実施形態において、照射源１５は、赤外線を放射する。
照射源１５は、所定の幅のビーム状の電磁波を放射する。第１の実施形態では、照射源１５は、幅の細い、例えば０．５°のビーム状の電磁波を放射する。また、照射源１５は電磁波をパルス状または連続波として放射可能である。第１の実施形態においては、照射源１５はパルス状の電磁波を放射する。例えば、照射源１５は、ＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅ）およびＬＤ（Ｌａｓｅｒ Ｄｉｏｄｅ）などを含む。照射源１５は、後述する制御部１４の制御に基づいて、電磁波の放射および停止を切替える。
照射部１１において、電磁波の放射方向は固定であっても、制御部１４から出力される駆動信号に基づいて変更可能であってもよい。第１の実施形態においては、電磁波の放射方向は変更可能である。
電磁波の放射方向は、単一の照射源１５から放射される電磁波を傾斜角度が変更可能な反射面に反射させることによって変更させてもよい。また、電磁波の放射方向は、例えばフェーズドアレイレーダーのように、平面状にアレイ配列させた複数の照射源１５から位相を少しずつずらして放射させることによって変更させもてよい。第１の実施形態においては、以下に説明するように、反射面を用いて反射させることにより電磁波の放射方向を変更する。
上述のように、第１の実施形態において、照射部１１は、さらに進行方向変更部１６を有する。進行方向変更部１６は、向きを変更可能な反射面を有する。進行方向変更部１６は、後述する制御部１４から出力される駆動信号に基づいて、反射面の向きを変える。
反射面は、照射源１５から放射された電磁波の進行方向を、駆動信号に応じて変更することにより、照射位置を変えながら対象ｏｂに照射する。すなわち、進行方向変更部１６は、照射源１５から放射される電磁波により、対象ｏｂを走査する。なお、進行方向変更部１６は、一次元方向または二次元方向に対象ｏｂを走査する。第１の実施形態においては、進行方向変更部１６は、二次元方向に対象ｏｂを走査する。
進行方向変更部１６は、照射源１５から放射されて反射した電磁波の照射領域の少なくとも一部が、電磁波検出装置１０における電磁波の検出範囲に含まれるように、構成されている。したがって、進行方向変更部１６を介して対象ｏｂに照射される電磁波の少なくとも一部は、電磁波検出装置１０において検出され得る。
なお、第１の実施形態において、進行方向変更部１６は、照射源１５から放射され且つ進行方向変更部１６に反射した電磁波の照射領域の少なくとも一部が、第２の検出部１８および第１の検出部１７における検出範囲に含まれるように、構成されている。したがって、進行方向変更部１６を介して対象ｏｂに照射される電磁波の少なくとも一部は、第２の検出部１８および第１の検出部１７により検出され得る。
進行方向変更部１６は、例えば、ＭＥＭＳ（Ｍｉｃｒｏ Ｅｌｅｃｔｒｏ Ｍｅｃｈａｎｉｃａｌ Ｓｙｓｔｅｍｓ）ミラー、ポリゴンミラー、およびガルバノミラーなどを含む。第１の実施形態においては、進行方向変更部１６は、ＭＥＭＳミラーを含む。
電磁波検出部１２は、前段光学系１９、進行部２０、第１の後段光学系２１、第２の後段光学系２２、第２の検出部１８、および第１の検出部１７を有している。
前段光学系１９は、例えば、レンズおよびミラーの少なくとも一方を含み、電磁波の照射領域に存在する被写体となる対象ｏｂの像を結像させる。
進行部２０は、前段光学系１９から所定の位置をおいて離れた対象ｏｂの像の、前段光学系１９による結像位置である一次結像位置、又は当該一次結像位置近傍に、設けられていればよい。第１の実施形態においては、進行部２０は、当該一次結像位置に、設けられている。
進行部２０は、前段光学系１９を通過した電磁波が入射する作用面ａｓを有している。作用面ａｓは、２次元状に沿って並ぶ複数の画素（進行素子）ｐｘによって構成されている。作用面ａｓは、後述する第１の状態および第２の状態の少なくともいずれかにおいて、電磁波に、例えば、反射および透過などの作用を生じさせる面である。
画素ｐｘは、対象ｏｂに照射される電磁波の照射位置別に、当該電磁波の反射波の第２の検出部１８への進行の可否を切替え可能である。さらには、進行部２０は、作用面ａｓに入射する電磁波を、第１の方向ｄ１に進行させる第１の状態と、第２の方向ｄ２に進行させる第２の状態とに、画素ｐｘ毎に切替可能である。第１の実施形態において、第１の状態は、作用面ａｓに入射する電磁波を、第１の方向ｄ１に反射する第１の反射状態である。また、第２の状態は、作用面ａｓに入射する電磁波を、第２の方向ｄ２に反射する第２の反射状態である。
第１の実施形態において、進行部２０は、さらに具体的には、画素ｐｘ毎に電磁波を反射する反射面を含んでいる。進行部２０は、画素ｐｘ毎の反射面の向きを変更することにより、第１の状態および第２の状態を画素ｐｘ毎に切替える。
第１の実施形態において、進行部２０は、例えばＤＭＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｍｉｃｒｏ ｍｉｒｒｏｒ Ｄｅｖｉｃｅ：デジタルマイクロミラーデバイス）を含む。ＤＭＤは、作用面ａｓを構成する微小な反射面を駆動することにより、画素ｐｘ毎に当該反射面を作用面ａｓに対して＋１２°および−１２°のいずれかの傾斜状態に切替可能である。なお、作用面ａｓは、ＤＭＤにおける微小な反射面を載置する基板の板面に平行である。
進行部２０は、後述する制御部１４の制御に基づいて、第１の状態および第２の状態を、画素ｐｘ毎に切替える。例えば、図２に示すように、進行部２０は、同時に、一部の画素ｐｘ１を第１の状態に切替えることにより当該画素ｐｘ１に入射する電磁波を第１の方向ｄ１に進行させ得、別の一部の画素ｐｘ２を第２の状態に切替えることにより当該画素ｐｘ２に入射する電磁波を第２の方向ｄ２に進行させ得る。また、進行部２０は、同一の画素ｐｘを第１の状態から第２の状態に切替えることにより、当該画素ｐｘに入射する電磁波を第１の方向ｄ１の次に第２の方向ｄ２に向けて進行させ得る。
進行部２０の各画素ｐｘは、第２の状態において、対象ｏｂに照射された電磁波の反射波を、照射位置別に、後述する第２の検出部１８の異なる複数の検出素子に進行させる。
図１に示すように、第１の後段光学系２１は、進行部２０から第１の方向ｄ１に設けられている。第１の後段光学系２１は、例えば、レンズおよびミラーの少なくとも一方を含む。第１の後段光学系２１は、進行部２０において進行方向を切替えられた電磁波としての対象ｏｂの像を結像させる。
第２の後段光学系２２は、進行部２０から第２の方向ｄ２に設けられている。第２の後段光学系２２は、例えば、レンズおよびミラーの少なくとも一方を含む。第２の後段光学系２２は、進行部２０において進行方向を切替えられた電磁波としての対象ｏｂの像を結像させる。
第１の検出部１７は、進行部２０による第１の方向ｄ１に進行した後に第１の後段光学系２１を経由して進行する電磁波の経路上に設けられている。第１の検出部１７は、第１の後段光学系２１を経由した電磁波、すなわち第１の方向ｄ１に進行した電磁波を検出する。
第１の実施形態において、第１の検出部１７は、照射部１１から対象ｏｂに向けて照射された電磁波の当該対象ｏｂからの反射波を検出するアクティブセンサである。なお、第１の実施形態において、第１の検出部１７は、照射部１１から照射され且つ進行方向変更部１６により反射されることにより対象ｏｂに向けて照射された電磁波の当該対象ｏｂからの反射波を検出する。
第１の実施形態において、第１の検出部１７は、さらに具体的には、測距センサを構成する素子を含む。例えば、第１の検出部１７は、ＡＰＤ（Ａｖａｌａｎｃｈｅ ＰｈｏｔｏＤｉｏｄｅ）、ＰＤ（ＰｈｏｔｏＤｉｏｄｅ）および測距イメージセンサなどの単一の素子を含む。また、第１の検出部１７は、ＡＰＤアレイ、ＰＤアレイ、測距イメージングアレイ、および測距イメージセンサなどの素子アレイを含むものであってもよい。
第１の検出部１７は、被写体からの反射波を検出する。第１の実施形態において、第１の検出部１７は、さらに具体的には、赤外線の帯域の電磁波を検出する。したがって、第１の実施形態において、第１の検出部１７は、進行方向変更部１６と協同して、走査型の測距センサを構成する。第１の検出部１７は、反射波を検出したことを示す検出情報を信号として制御部１４に送信する。
なお、第１の検出部１７は、上述した測距センサを構成する単一の素子である構成において、電磁波を検出できればよく、検出面において結像される必要はない。それゆえ、第１の検出部１７は、第１の後段光学系２１による結像位置である二次結像位置に設けられなくてもよい。すなわち、この構成において、第１の検出部１７は、すべての画角からの電磁波が検出面上に入射可能な位置であれば、進行部２０により第１の方向ｄ１に進行した後に第１の後段光学系２１を経由して進行する電磁波の経路上のどこに配置されてもよい。
第２の検出部１８は、進行部２０による第２の方向ｄ２に進行した後に第２の後段光学系２２を経由して進行する電磁波の経路上に、設けられている。第２の検出部１８は、第２の後段光学系２２を経由した電磁波、すなわち第２の方向ｄ２に進行した電磁波を検出する。
第２の検出部１８は、複数の検出素子を有するパッシブセンサである。複数の検出素子は、第１の後段光学系２１の光軸に垂直な平面に配置されている。第１の実施形態において、第２の検出部１８は、さらに具体的には、素子アレイを含む。例えば、第２の検出部１８は、イメージセンサまたはイメージングアレイなどの撮像素子を含み、検出面において結像した電磁波による像を撮像して、撮像した対象ｏｂに相当する画像情報を生成する。さらに、第１の実施形態において、第２の検出部１８は、さらに具体的には可視光の像を撮像する。第２の検出部１８は、生成した画像情報を信号として制御部１４に送信する。
また、第２の検出部１８は、照射源１５から進行方向変更部１６を介して対象ｏｂに照射した電磁波の反射波を検出し、検出した電磁波による像を撮像して、撮像した対象ｏｂに相当する画像情報を生成する。複数の検出素子は、対象ｏｂ上の照射位置別の当該電磁波を検出する。
なお、第２の検出部１８は、可視光以外の像を撮像してもよい。また、第２の検出部１８はサーモセンサを含んでいてもよい。この構成において、電磁波検出装置１０は、第２の検出部１８により温度情報を取得し得る。
このように、第１の実施形態において、第２の検出部１８は、素子アレイを含む、そのため、第２の検出部１８は、入射された電磁波が検出面において結像すると、結像した電磁波は各検出素子に入射するため、解像度を向上させ得る。そこで、第２の検出部１８は、第２の後段光学系２２による結像位置である二次結像位置に設けられるとよい。
記憶部１３は、半導体メモリ又は磁気メモリ等で構成することができ、各種情報、各種データ、および電磁波検出装置１０を動作させるためのプログラム等を記憶する。また、記憶部１３は、ワークメモリとしても機能する。
例えば、記憶部１３は、電磁波の放射方向に関する情報を記憶する。なお、電磁波の放射方向とは、放射方向を規定する多様な要素である。第１の実施形態のように、進行方向変更部１６を適用する構成においては、第１の関連情報は、基準面に対する反射面の傾斜角度であってよい。傾斜角度は、１軸に対する傾斜角度でも、２軸に対する傾斜角度であってもよい。また、前述のように、平面状にアレイ配列させた複数の照射源１５から位相を少しずつずらして放射する構成においては、複数の照射源１５の中で放射中の照射源１５を特定する位置などであってよい。また、前述のように、放射方向が固定である構成においては、照射部１１において基準となる空間における方向ベクトルなどであってよい。
さらに、第１の実施形態において、記憶部１３は、第１の関連情報から第３の関連情報を記憶する。
第１の関連情報は、駆動信号と、当該駆動信号に対応した電磁波の放射方向とを関連付けた情報である。第１の関連情報は、例えば、駆動信号に対する放射方向の関連性、言換えると駆動信号に対する放射方向の相関性を示す関数である。または、第１の関連情報は、放射方向に対する駆動信号の関連性、言換えると放射方向に対する駆動信号の相関性を示す関数である。または、第１の関連情報は、例えば、図３に示すように、駆動信号の複数の信号値毎に別々に対応付けられる放射方向（θ、φ）である。または、第１の関連情報は、放射方向毎に別々に対応付けられる駆動信号の複数の信号値であってもよい。
第２の関連情報は、電磁波の放射方向と、当該放射方向に放射される電磁波の反射波が入射する画素ｐｘ（進行素子）の位置とを関連付けた情報である。第２の関連情報は、例えば、放射方向に対する画素ｐｘの位置の関数、または、画素ｐｘの位置に対する放射方向の関数である。または、第２の関連情報は、例えば、図４に示すように、放射方向（θ、φ）毎に別々に対応付けられる画素ｐｘの位置（ｘ’、ｙ’）である。または、第２の関連情報は、画素ｐｘの位置毎に別々に対応付けられる放射方向であってもよい。
第３の関連情報は、電磁波の放射方向と、当該放射方向に放射される電磁波の照射領域内の照射位置とを関連付けた情報である。第３の関連情報は、例えば、放射方向に対する照射位置の関数、または、照射位置に対する放射方向の関数である。または、第３の関連情報は、例えば、図５に示すように、放射方向（θ、φ）毎に別々に対応付けられる照射位置（ｘ’’、ｙ’’）である。または、第２の関連情報は、照射位置毎に別々に対応付けられる放射方向であってもよい。
制御部１４は、１以上のプロセッサおよびメモリを含む。プロセッサは、特定のプログラムを読み込ませて特定の機能を実行する汎用のプロセッサ、および特定の処理に特化した専用のプロセッサの少なくともいずれかを含んでよい。専用のプロセッサは、特定用途向けＩＣ（ＡＳＩＣ；Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）を含んでよい。プロセッサは、プログラマブルロジックデバイス（ＰＬＤ；Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ）を含んでよい。ＰＬＤは、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ−Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）を含んでよい。制御部１４は、１つまたは複数のプロセッサが協働するＳｏＣ（Ｓｙｓｔｅｍ−ｏｎ−ａ−Ｃｈｉｐ）、およびＳｉＰ（Ｓｙｓｔｅｍ Ｉｎ ａ Ｐａｃｋａｇｅ）の少なくともいずれかを含んでもよい。
制御部１４は、第２の検出部１８および第１の検出部１７がそれぞれ検出した電磁波に基づいて、電磁波検出装置１０の周囲に関する情報を取得する。周囲に関する情報は、例えば画像情報、距離情報、および温度情報などである。
第１の実施形態において、制御部１４は、前述のように、第２の検出部１８が画像として検出した電磁波を画像情報として取得する。また、第１の実施形態において、制御部１４は、第１の検出部１７が検出する検出情報に基づいて、以下に説明するように、ＴｏＦ（Ｔｉｍｅ−ｏｆ−Ｆｌｉｇｈｔ）方式により、照射部１１に照射される照射位置の距離情報を取得する。
図６に示すように、制御部１４は、照射源１５に電磁波放射信号を入力することにより、照射源１５にパルス状の電磁波を放射させる（“電磁波放射信号”欄参照）。照射源１５は、入力された当該電磁波放射信号に基づいて電磁波を照射する（“照射部放射量”欄参照）。照射源１５が放射し且つ進行方向変更部１６が反射して任意の照射領域に照射された電磁波は、当該照射領域において反射する。
制御部１４は、例えば、時間計測ＬＳＩ（Ｌａｒｇｅ Ｓｃａｌｅ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ ｃｉｒｃｕｉｔ）を有しており、照射源１５に電磁波を放射させた時期Ｔ１から、検出情報を取得（“検出情報取得”欄参照）した時期Ｔ２までの時間ΔＴを計測する。制御部１４は、当該時間ΔＴに、光速を乗算し、且つ２で除算することにより、照射位置までの距離を算出する。
なお、制御部１４は、進行方向変更部１６に駆動信号を出力する。また、制御部１４は、記憶部１３から第１の関連情報および第３の関連情報を読出す。制御部１４は、出力する駆動信号、第１の関連情報、および第３の関連情報に基づいて、照射位置を算出する。制御部１４は、駆動信号を用いて照射位置を変えながら、各照射位置までの距離を算出することにより、第２の検出部１８から取得した画像情報における距離情報を作成する。
なお、第１の実施形態において、電磁波検出装置１０は、レーザ光を照射して、返ってくるまでの時間を直接測定するＤｉｒｅｃｔ ＴｏＦにより距離情報を作成する構成である。しかし、電磁波検出装置１０は、このような構成に限られない。例えば、電磁波検出装置１０は、電磁波を一定の周期で照射し、照射された電磁波と返ってきた電磁波との位相差から、返ってくるまでの時間を間接的に測定するＦｌａｓｈ ＴｏＦにより距離情報を作成しても良い。また、電磁波検出装置１０は、他のＴｏＦ方式、例えば、Ｐｈａｓｅｄ ＴｏＦにより距離情報を作成してもよい。
また、制御部１４は、照射源１５、進行方向変更部１６、進行部２０、第１の検出部１７、および第２の検出部１８を制御して、画像情報および距離情報を繰返し取得する。画像情報および距離情報を繰返し取得するための各部位の制御について、図７のタイミングチャートを用いて以下に説明する。
タイミングｔ１において、制御部１４は、第２の検出部１８に第１のフレームの画像情報の生成のための電磁波の検出を開始させる。なお、タイミングｔ１においては、進行部２０の全画素ｐｘは第２の状態であり、前段光学系１９に入射する電磁波は第２の検出部１８に到達する（図８参照）。また、図７に示すように、タイミングｔ１において、制御部１４は、進行部２０における第１の画素ｐｘの第２の状態から第１の状態への切替えを開始させる（“進行部第１の画素駆動信号”欄参照）。なお、タイミングｔ１において、他の全画素ｐｘは第２の状態のままである（“進行部第２の画素状態”、“進行部第Ｎの画素状態”欄参照）。
進行部２０の第１の画素ｐｘの第２の状態から第１の状態への切替えが完了するタイミングｔ２において（“進行部第１の画素状態”欄参照）、制御部１４は照射源１５に電磁波を放射させる（“電磁波放射時期”欄参照）。なお、タイミングｔ２においては、進行部２０の第１の画素ｐｘが第２の状態（図８参照）から第１の状態に切替わり、前段光学系１９に入射し、進行部２０の第１の画素ｐｘにおいて結像する電磁波が第２の方向ｄ２の次に第１の方向ｄ１向けて進行する（図９参照）。
図７に示すように、また、タイミングｔ２において、制御部１４は、第１の検出部１７に電磁波を検出させる（“第２の検出部検出時期”欄参照）。なお、照射源１５が電磁波を照射してから電磁波検出装置１０に到達するまでにかかる時間は、画像情報の生成のための検出時間に比べて極めて短く、例えばナノ秒のオーダーである。それゆえ、タイミングｔ２とみなせる微小な時間に第１の検出部１７による電磁波の検出が完了する。制御部１４は、タイミングｔ２において進行方向変更部１６に送信する駆動信号に基づいて、進行部２０の第１の画素ｐｘに対応する照射位置における距離情報を算出することにより取得する。
さらに、タイミングｔ２において、制御部１４は、進行部２０における第１の画素ｐｘの第１の状態から第２の状態への切替えを開始させる（“進行部第１の画素駆動信号”欄参照）。このように、制御部１４は、進行部２０における第１の画素ｐｘを第１の状態から第２の状態へと切替えるため、再度、第１の画素ｐｘに対応する第２の検出部１８における検出素子に電磁波（可視光）を検出させ得る。
進行部２０の第１の画素ｐｘの第１の状態から第２の状態への切替えが完了するタイミングｔ３において（“進行部第１の画素状態”欄参照）、制御部１４は、進行部２０における第２の画素ｐｘの第２の状態から第１の状態への切替えを開始させる（“進行部第２の画素駆動信号”欄参照）。なお、タイミングｔ３において、他の全画素ｐｘは第２の状態のままである（“進行部第１の画素状態”、“進行部第Ｎの画素状態”欄参照）。
進行部２０の第２の画素ｐｘの第２の状態から第１の状態への切替えが完了するタイミングｔ４において（“進行部第２の画素状態”欄参照）、制御部１４は照射源１５に電磁波を放射させる（“電磁波放射時期”欄参照）。なお、タイミングｔ４においては、進行部２０の第２の画素ｐｘが第２の状態から第１の状態に切替わり、前段光学系１９に入射し、進行部２０の第２の画素ｐｘにおいて結像する電磁波が第２の方向ｄ２の次に第１の方向ｄ１向けて進行する。また、タイミングｔ４において、制御部１４は、第１の検出部１７に電磁波を検出させる（“第２の検出部検出時期”欄参照）。制御部１４は、タイミングｔ４において進行方向変更部１６に送信する駆動信号に基づいて、進行部２０の第２の画素ｐｘに対応する照射位置における距離情報を算出することにより取得する。
さらに、タイミングｔ４において、制御部１４は、進行部２０における第２の画素ｐｘの第１の状態から第２の状態への切替えを開始させる（“進行部第２の画素駆動信号”欄参照）。このように、制御部１４は、進行部２０における第２の画素ｐｘを第１の状態から第２の状態へと切替えるため、再度、第２の画素ｐｘに対応する第２の検出部１８における検出素子に電磁波（可視光）を検出させ得る。
以後、制御部１４は、進行部２０における第３の画素ｐｘから第Ｎの画素ｐｘについて、第１の画素ｐｘと同じ様に、順番に、第２の状態から第１の状態への切替えと、第１の状態から第２の状態への切替えとを行うことにより、第１のフレームの画像情報を取得すると共に、各画素ｐｘに対応する照射位置における距離情報を取得する。
なお、上述のように、制御部１４が、第（Ｍ−１）の画素ｐｘが第１の状態から第２の状態への切替えが完了する時期において、第Ｍの画素ｐｘの第２の状態から第１の状態への切替えを開始させる制御を行う構成において、１フレーム分の画像情報の生成のための時間Ｔｉｍｇに、進行部２０は、Ｔｉｍｇ／Ｔｄｉｓの数の画素ｐｘを第２の状態から第１の状態に切替可能である。
すなわち、制御部１４は、時間Ｔｉｍｇに、Ｔｉｍｇ／Ｔｄｉｓの数の画素ｐｘ分の距離情報の生成が可能である。なお、Ｍは、２≦Ｍ≦Ｎを満たす整数である。また、Ｔｄｉｓは、進行部２０の画素ｐｘの第２の状態から第１の状態への切替えにかかる時間と、第１の状態から第２の状態に戻すまでにかかる時間とを合計した時間である。すなわち、Ｔｄｉｓは、任意の画素ｐｘが第２の状態、第１の状態、および第２の状態の順に切替わるために要する時間である。第１の実施形態においては、例えば、Ｔｉｍｇは１／６０秒であり、Ｔｄｉｓは１／３０００秒である。
Ｔｉｍｇ／Ｔｄｉｓの値が進行部２０の画素数より少ない構成において、制御部１４は、時間Ｔｉｍｇ中に、進行部２０における画素ｐｘのすべてを切替えることができない。そのため、制御部１４は、１フレーム分の画像情報の生成中に、当該１フレーム分の画像情報に対応する距離情報を生成することができない。すなわち、制御部１４は、１フレーム分の画像情報の生成中に、当該１フレーム分の画像情報に満たないフレーム（例えば、０．５フレーム）分に対応する距離情報しか生成することができない。
そこで、Ｔｉｍｇ／Ｔｄｉｓの値が進行部２０の画素数より少ない構成において、制御部１４は、進行部２０における全画素ｐｘのうち、Ｔｉｍｇ／Ｔｄｉｓの数以下の画素ｐｘを切替対象として選択する。さらに、制御部１４は、切替対象として選択した各画素ｐｘの第１の状態への切替時期に当該各画素ｐｘに対応する照射領域内の領域に電磁波が照射されるように、駆動信号を進行方向変更部１６に送信する。
または、Ｔｉｍｇ／Ｔｄｉｓの値が進行部２０の画素数より少ない構成において、制御部１４は、複数のフレーム（Ｐフレーム：ＰはＰ＞１を満たす正の数）分の画像情報の生成のための時間Ｐ×Ｔｉｍｇ中に、進行部２０における画素ｐｘの全ての切替えが完了するように制御してもよい。さらに、制御部１４は、進行部２０の各画素ｐｘの切替時期に当該各画素ｐｘに対応する照射領域内の領域に電磁波が照射されるように、駆動信号を進行方向変更部１６に送信する。
または、Ｔｉｍｇ／Ｔｄｉｓの値が進行部２０の画素数より少ない構成において、制御部１４は、進行部２０における全画素ｐｘを、Ｔｉｍｇ／Ｔｄｉｓの数以下のグループに分け、グループ毎に画素ｐｘをまとめて切替える。さらに、制御部１４は、各グループを代表する位置（例えば、各グループの中心位置）の画素ｐｘの切替時期に当該画素ｐｘに対応する照射領域内の領域に電磁波が照射されるように、駆動信号を進行方向変更部１６に送信してもよい。
または、Ｔｉｍｇ／Ｔｄｉｓの値が進行部２０の画素数より少ない構成において、制御部１４は、進行部２０における全画素ｐｘを、Ｔｉｍｇ／Ｔｄｉｓの数以下のグループに分け、グループ毎にいずれかの画素ｐｘのみを切替える。さらに、制御部１４は、切替える当該画素ｐｘの切替時期に当該画素ｐｘに対応する照射領域内の領域に電磁波が照射されるように、駆動信号を進行方向変更部１６に送信してもよい。
なお、１フレーム分の画像の撮像時間中に第１の状態に切替えられた進行部２０の画素ｐｘに対応する第２の検出部１８における検出素子は、当該画素ｐｘが第１の状態に切替えられている間、受光することができない。そのため、第２の検出部１８における当該検出素子による信号強度は低下する。そこで、制御部１４は、第２の検出部１８における当該検出素子の信号値にゲインを乗じることにより、低下した信号強度を補償してもよい。なお、１フレーム分の画像の撮像時間は、１フレーム分の画像情報を生成するために第２の検出部１８が電磁波を検出している時間に相当する。
なお、進行方向変更部１６による走査速度が画素ｐｘの切替速度よりも高速である、すなわち、ＴｓｃｎがＴｄｉｓより短い構成において、制御部１４は、第（Ｍ−１）の画素ｐｘの第２の状態から第１の状態への切替えが完了する時期よりも前に、第Ｍの画素ｐｘの第２の状態から第１の状態への切替えを開始させてよい。
なお、Ｔｓｃｎは、照射源１５から放射されて進行方向変更部１６により反射された電磁波の照射位置が、ある照射位置から次の照射位置へ変わるために要する時間、または、ある照射位置から隣の照射位置へ変わるために要する時間である。このような構成は、任意の画素ｐｘの第１の状態から第２の状態への切替えの完了後に他の画素ｐｘの第１の状態への切替えを行なう制御よりも、短時間でより多くの画素ｐｘにおける距離情報を生成し得る。
タイミングｔ１から第１フレームの画像情報の生成のための時間Ｔｉｍｇの経過後のｔ５において（“第１の検出部検出時期”欄参照.）、制御部１４は、第２のフレームの画像情報の生成のための電磁波の検出を開始させる。また、制御部１４は、タイミングｔ１からｔ５における第２の検出部１８による電磁波の検出が終了した後、その間に検出した電磁波に基づく第１のフレームの画像情報を取得する。以後、制御部１４は、タイミングｔ１からｔ５の間に行った制御と同じ様に、画像情報の取得および距離情報の取得のための照射源１５、進行方向変更部１６、第１の検出部１７、第２の検出部１８、および進行部２０の制御を行う。
また、制御部１４は、第１の検出部１７が反射波を検出するときに進行部２０の中で反射波を第１の検出部１７に進行させている進行素子の位置に基づいて、放射方向に関する情報を更新する。第１の実施形態において、制御部１４は放射方向に関する情報の更新として、第１の関連情報を更新する。なお、前述のように、放射方向が固定である構成においては、制御部１４は放射方向を更新すればよい。以下に、第１の実施形態における、第１の関連情報の更新が詳細に、説明される。
図１０に示すように、制御部１４は、放射方向に関する情報を更新するために、進行部２０における所定の位置の画素ｐｘを第１の状態（符号“ｓ１”参照）に切替え、他の位置の画素ｐｘを第２の状態（符号“ｓ２”参照）に切替させる。なお、図１０において、図示の簡易化のために、進行部２０を５行６列の３０個の画素ｐｘで構成しているが、画素ｐｘの数は３０個に限定されない。
なお、所定の位置の画素ｐｘは、第１の関連情報が駆動信号に対する放射方向の関数、または、放射方向に対する駆動信号の関数である構成においては、少なくとも１つであればよい。また、所定の位置の画素ｐｘは、第１の関連情報が駆動信号の複数の信号値毎に別々に対応付けられる放射方向、または、放射方向毎に別々に対応付けられる駆動信号の複数の信号値である構成においては、複数であればよい。なお、所定の位置の画素ｐｘの数が多くなる程、更新精度が向上する。また、所定の位置の画素ｐｘが複数である構成においては、複数の画素ｐｘは互いに離れていてもよい。例えば、複数の画素ｐｘは、所定の画素間隔以上の間隔で離される。
また、制御部１４は、信号値が基準時間からの経過時間の関数である駆動信号を進行方向変更部１６に送信する。制御部１４は、連続的な電磁波放射信号を照射源１５に送信する。
信号値が経過時間の関数である駆動信号に応じて進行方向変更部１６が反射面を傾斜させることにより、放射方向は経過時間に応じて変化する。例えば、経過時間に応じた所定の軌跡ｌｏで、進行部２０の画素ｐｘが電磁波の反射波により走査される。電磁波の反射波が第２の状態である画素ｐｘに入射している間、第１の検出部１７は電磁波を検出しない。一方、電磁波の反射波が第１の状態である画素ｐｘに入射するとき、第１の検出部１７は電磁波を検出する。
制御部１４は、第１の状態である所定の位置の画素ｐｘに対応する駆動信号の信号値を、第１の関連情報および第２の関連情報に基づいて、算出する。さらに、制御部１４は、第１の状態である所定の位置の画素ｐｘに対応する駆動信号の信号値に一致させる、基準時間からの推定の経過時間を、経過時間の関数である駆動信号に基づいて、算出する。
制御部１４は、第１の検出部１７が反射波を検出する基準時間からの実際の経過時間を観察する。駆動信号に対する推定される電磁波の放射方向および実際の放射方向が一致するとき、第１の状態である所定の位置の画素ｐｘに反射波が入射する推定の経過時間および実際の経過時間は一致する。一方、図１１に示すように、推定される放射方向および実際の放射方向に差異があるとき、推定の経過時間（破線参照）および実際の経過時間（実線参照）の間にも差異が発生する。制御部１４は、所定の位置の画素ｐｘ毎の推定される経過時間に最近する実際の経過時間を組合せる。
制御部１４は、実際の経過時間に組合わされた推定される経過時間に基づいて、実際の経過時間において、第１の状態あり且つ反射光が入射する画素ｐｘを特定する。また、制御部１４は、特定した画素ｐｘの所定の位置を用いて、第２の関連情報に基づいて、放射方向を算出する。また、制御部１４は、実際の経過時間を用いて、駆動信号の関数に基づいて、駆動信号の信号値を算出する。制御部１４は、算出された、信号値および放射方向に基づいて、第１の関連情報を更新する。
例えば、第１の関連情報が、駆動信号に対する電磁波の放射方向の関数である構成においては、制御部１４は、組合せに基づいて、当該関数を更新する。制御部１４は更新した関数を駆動信号および電磁波の放射方向の最新の関連性、すなわち、最新の第１の関連情報として、記憶部１３に記憶させる。
また、例えば、第１の関連情報が、駆動信号の信号値毎に別々に対応付けられる放射方向である構成において、制御部１４は、記憶部１３に記憶されている各組合せにおける放射方向を、その放射方向に組合わされている各信号値それぞれに対応付けられている放射方向、即ち、最新の第１の関連情報として記憶部１３に記憶させる。
また、例えば、第１の関連情報が、放射方向毎に別々に対応付けられる駆動信号の信号値である構成において、制御部１４は、記憶部１３に記憶されている各組合せにおける各信号値を、その各信号値と組合されている放射方向それぞれに対応付けられる最新の信号値、即ち、最新の第１の関連情報として、記憶部１３に記憶させる。
次に、第１の実施形態において制御部１４が実行する、第１の関連情報の更新処理について、図１２のフローチャートを用いて説明する。制御部１４は、例えば、電磁波検出装置１０の入力デバイスが第１の関連情報の更新処理実行の操作を検出するとき、第１の関連情報の更新処理を開始する。
ステップＳ１００において、制御部１４は、進行部２０の所定の位置の画素ｐｘを第１の状態に切替させる。制御部１４が所定の画素ｐｘを第１の状態に切替させると、プロセスはステップＳ１０１に進む。
ステップＳ１０１では、制御部１４は、記憶部１３から第１の関連情報および第２の関連情報を読出す。制御部１４が第１の関連情報および第２の関連情報を読出すと、プロセスはステップＳ１０２に進む。
ステップＳ１０２では、制御部１４は、ステップＳ１００において第１の状態に切替えた所定の画素ｐｘに反射波が到達する、基準時間からの推定の経過時間を、ステップＳ１０１において読出した経過時間に対する信号値の関数、ならびに第１の関連情報および第２の関連情報に基づいて算出する。制御部１４が推定の経過時間を算出すると、プロセスはステップＳ１０３に進む。
ステップＳ１０３では、制御部１４は、経過時間に応じた関数である駆動信号を進行方向変更部１６に送信する。また、制御部１４は、連続的な電磁波放射信号を照射源１５に送信する。制御部１４が駆動信号および電磁波放射信号を送信すると、プロセスはステップＳ１０４に進む。
ステップＳ１０４では、制御部１４は、第１の検出部１７を駆動する。制御部１４は、第１の検出部１７の駆動により、反射波を検出するときの基準時間からの実際の経過時間を取得する。制御部１４が実際の経過時間を取得すると、プロセスはステップＳ１０５に進む。
ステップＳ１０５では、制御部１４は、第１の状態に切替えられた画素ｐｘ毎に、ステップＳ１０２で推定された経過時間に対して最近の実際の経過時間を組合わせる。制御部１４が経過時間を組合わせると、プロセスはステップＳ１０６に進む。
ステップＳ１０６では、制御部１４は、ステップＳ１０５において、組合わせた、推定された経過時間および実際の経過時間それぞれに対応する放射方向および駆動信号の信号値を算出する。制御部１４が信号値および放射方向を算出すると、プロセスはステップＳ１０７に進む。
ステップＳ１０７では、制御部１４は、ステップＳ１０６において算出した信号値および放射方向の組合せを用いて、記憶部１３に記憶した第１の関連情報を更新する。制御部１４は、第１の関連情報の更新後、第１の関連情報の更新処理を終了する。
以上のような構成の第１の実施形態の電磁波検出装置１０は、第１の検出部１７が前記反射波を検出するときに反射波を第１の検出部１７に進行させる画素ｐｘの所定の位置に基づいて、放射方向に関する情報を更新している。このような構成により、第１の実施形態の電磁波検出装置１０は、駆動信号の各信号値により推定される反射面の向きと、実際の反射面の向きとの差異を低減させ得る。そのため、第１の実施形態の電磁波検出装置１０は、実際の電磁波の放射方向と、駆動信号の各信号値により推定される電磁波の放射方向との差異を低減させ得る。なお、このような構成および効果は、後述する第２の実施形態の電磁波検出装置１０についても同じである。
特に、第１の実施形態の電磁波検出装置１０は、所定の位置の画素ｐｘ毎の推定される経過時間と最近する実際の経過時間との組合わせに基づいて、第１の検出部１７が反射波を検出するときに反射波を第１の検出部１７に進行させる画素ｐｘの所定の位置を特定している。このような構成により、第１の実施形態の電磁波検出装置１０では、反射波による進行部２０の１回の走査において、複数の画素ｐｘを放射方向に関する情報の更新に用い得る。したがって、第１の実施形態の電磁波検出装置１０は、放射方向に関する情報の更新に複数の画素ｐｘを用いる構成において、更新に用いる全画素ｐｘに関する反射波の検出時間を短縮させ得る。
また、第１の実施形態の電磁波検出装置１０は、進行部２０の作用面ａｓに配置された画素ｐｘ毎に第１の状態と第２の状態に切替え得る。このような構成により、第１の実施形態の電磁波検出装置１０は、前段光学系１９の光軸を、第１の状態において電磁波を進行させる第１の方向ｄ１における第１の後段光学系２１の光軸に、かつ第２の状態において電磁波を進行させる第２の方向ｄ２における第２の後段光学系２２の光軸に合わせることが可能となる。したがって、第１の実施形態の電磁波検出装置１０は、進行部２０の画素ｐｘを第１の状態および第２の状態のいずれかに切替えることにより、第１の検出部１７および第２の検出部１８の光軸のズレを低減し得る。これにより、第１の実施形態の電磁波検出装置１０は、第１の検出部１７および第２の検出部１８における検出軸のズレを低減し得る。そのため、第１の実施形態の電磁波検出装置１０は、第１の検出部１７および第２の検出部１８による検出結果における座標系のズレを低減し得る。なお、このような構成および効果は、後述する第２の実施形態の電磁波検出装置１０についても同じである。
また、第１の実施形態の電磁波検出装置１０は、進行部２０における一部の画素ｐｘを第１の状態に切替え、且つ別の一部の画素ｐｘを第２の状態に切替え得る。したがって、第１の実施形態の電磁波検出装置１０は、一部の画素ｐｘにおいて第１の検出部１７に電磁波を検出させながら、同時に別の一部の画素ｐｘにおいて第２の検出部１８に電磁波を検出させ得る。これにより、第１の実施形態の電磁波検出装置１０は、異なる領域に関する情報を同時に取得し得る。なお、このような構成および効果は、後述する第２の実施形態の電磁波検出装置１０についても同じである。
また、第１の実施形態の電磁波検出装置１０は、進行部２０における同一の画素ｐｘを第１の状態の次に第２の状態に切替え得る。このような構成において、進行部２０における画素ｐｘの第１の状態において第１の検出部１７に電磁波が検出され得、その直後、当該画素ｐｘの第２の状態において第２の検出部１８に電磁波が検出され得る。したがって、第１の実施形態の電磁波検出装置１０は、進行部２０における同一の画素ｐｘによる第１の検出部１７および第２の検出部１８における電磁波の検出時期のズレを低減し得る。これにより、第１の実施形態の電磁波検出装置１０は、同一領域に関する情報の取得時期のズレを低減し得る。なお、このような構成および効果は、後述する第２の実施形態の電磁波検出装置１０についても同じである。
また、第１の実施形態の電磁波検出装置１０は、照射源１５を有している。したがって、第１の実施形態の電磁波検出装置１０は、対象ｏｂに電磁波を照射することにより、第１の検出部１７をアクティブセンサとして機能させ得る。また、第１の実施形態の電磁波検出装置１０は、第２の検出部１８をパッシブセンサとして機能させ得る。このような構成において、第１の実施形態の電磁波検出装置１０は、進行部２０における画素ｐｘの少なくともいずれかを第１の状態の次に第２の状態に切替えることにより、同一領域に関する情報をアクティブセンサおよびパッシブセンサの両方に取得させ得る。また、このような構成において、第１の実施形態の電磁波検出装置１０は、進行部２０における一部の画素ｐｘを第１の状態に切替え、且つ別の一部の画素ｐｘを第２の状態に切替えることにより、アクティブセンサが情報を取得する領域とパッシブセンサが情報を取得する領域とを分け得る。なお、このような構成および効果は、後述する第２の実施形態の電磁波検出装置１０についても同じである。
また、第１の実施形態の電磁波検出装置１０は、進行方向変更部１６を有している。このような構成により、第１の実施形態の電磁波検出装置１０は、照射源１５が放射する電磁波を用いて対象ｏｂを走査し得る。すなわち、第１の実施形態の電磁波検出装置１０は、第１の検出部１７を進行方向変更部１６と協同させて走査型のアクティブセンサとして機能させ得る。したがって、第１の実施形態の電磁波検出装置１０は、第１の検出部１７により、一次元方向または二次元方向の位置に応じて情報を取得し得る。なお、このような構成および効果は、後述する第２の実施形態の電磁波検出装置１０についても同じである。
次に、本開示の第２の実施形態に係る電磁波検出装置について説明する。第２の実施形態では放射方向に関する情報の更新方法が第１の実施形態と異なっている。以下に、第１の実施形態と異なる点を中心に第２の実施形態について説明する。なお、第１の実施形態と同じ構成を有する部位には同じ符号を付す。
第２の実施形態に係る電磁波検出装置１０は、第１の実施形態の電磁波検出装置１０と同じく、照射部１１、電磁波検出部１２、記憶部１３、および制御部１４を含んで構成されている。第２の実施形態における、照射部１１、電磁波検出部１２、および記憶部１３の構成および機能は、第１の実施形態と同じである。第２の実施形態における、制御部１４の構成は、第１の実施形態と同じである。第２の実施形態における制御部１４の放射方向に関する情報の更新以外の機能は、第１の実施形態と同じである。以下に、第２の実施形態の制御部１４が実行する放射方向に関する情報の更新機能の詳細が説明される。
第２の実施形態においても、制御部１４は、進行部２０の中で反射波を第１の検出部１７に進行させている進行素子の位置に基づいて、放射方向に関する情報を更新する。第２の実施形態において、制御部１４は放射方向に関する情報の更新として、第１の関連情報を更新する。なお、第１の実施形態と類似して、放射方向が固定である構成においては、制御部１４は放射方向を更新すればよい。
第２の実施形態において、制御部１４は、第１の実施形態と異なり、放射方向に関する情報を更新するために、進行部２０の中の所定の位置の単一の画素ｐｘを第１の状態に切替え、他の位置の画素ｐｘを第２の状態に切替えさせる。
また、第２の実施形態において、制御部１４は、第１の実施形態と同じく、信号値が基準時間からの経過時間の関数である駆動信号を進行方向変更部１６に送信する。制御部１４は、連続的な電磁波放射信号を照射源１５に送信する。
第２の実施形態において、制御部１４は、第１の実施形態と同じく、第１の検出部１７が反射波を検出する基準時間からの実際の経過時間を観察する。第２の実施形態において、制御部１４は、第１の実施形態と同じく、実際の経過時間を用いて、駆動信号の関数に基づいて、駆動信号の信号値を算出する。また、第２の実施形態において、制御部１４は、第１の実施形態と同じく、第１の状態に切替えた画素ｐｘの所定の位置を用いて、第２の関連情報に基づいて、放射方向を算出する。
第２の実施形態において、制御部１４は、第１の実施形態と異なり、算出した駆動信号の信号値および放射方向を組合わせて、記憶部１３に記憶させる。第２の実施形態において、第１の関連情報の更新に複数の画素ｐｘを用いる構成においては、制御部１４は、第１の実施形態と異なり、さらに、別の位置の単一の画素ｐｘを第１の状態に切替え、他の画素ｐｘを第２の状態に切替えて、当該別の位置の単一の画素ｐｘに対する駆動信号の信号値および放射方向を算出する。制御部１４は、当該駆動信号の信号値および放射方向を組合わせて、記憶部１３に記憶させる。以後、制御部１４は、第１の関連情報の更新に用いる画素ｐｘの数と同じ回数で、同様の制御を行ない、駆動信号の信号値および放射方向を組合わせて、記憶部１３に記憶させる。
制御部１４は、記憶部１３において組合わされて記憶された、駆動信号および放射方向に基づいて、第１の関連情報を更新する。なお、第１の関連情報の更新方法は、第１の実施形態と同じである。
次に、第２の実施形態において制御部１４が実行する、第１の関連情報の更新処理について、図１３のフローチャートを用いて説明する。制御部１４は、例えば、電磁波検出装置１０の入力デバイスが第１の関連情報の更新処理実行の操作を検出するとき、第１の関連情報の更新処理を開始する。
ステップＳ２００において、制御部１４は、進行部２０の所定の位置の単一の画素ｐｘを第１の状態に切替させる。制御部１４が所定の位置の単一の画素ｐｘを第１の状態に切替させると、プロセスはステップＳ２０１に進む。
ステップＳ２０１では、制御部１４は、記憶部１３から第２の関連情報を読出す。制御部１４が第２の関連情報を読出すと、プロセスはステップＳ２０２に進む。
ステップＳ２０２では、制御部１４は、ステップＳ２００において第１の状態に切替えられた単一の画素ｐｘの所定の位置を用いて、ステップＳ２０１において読出した第２の関連情報に基づいて、放射方向を算出する。制御部１４が放射方向を算出すると、プロセスはステップＳ２０３に進む。
ステップＳ２０３では、制御部１４は、経過時間に応じた関数である駆動信号を進行方向変更部１６に送信する。また、制御部１４は、連続的な電磁波放射信号を照射源１５に送信する。制御部１４が駆動信号および電磁波放射信号を送信すると、プロセスはステップＳ２０４に進む。
ステップＳ２０４では、制御部１４は、第１の検出部１７を駆動する。制御部１４は、第１の検出部１７の駆動により、反射波を検出するときの基準時間からの実際の経過時間を取得する。制御部１４が実際の経過時間を取得すると、プロセスはステップＳ２０５に進む。
ステップＳ２０５では、制御部１４は、ステップＳ２０４において取得した実際の経過時間を用いて、駆動信号の関数に基づいて、駆動信号の信号値を算出する。制御部１４が駆動信号の信号値を算出すると、プロセスはステップＳ２０６に進む。
ステップＳ２０６では、制御部１４は、ステップＳ２０２において算出した放射方向と、ステップＳ２０５において算出した駆動信号の信号値を組合わせて、記憶部１３に記憶させる。制御部１４が算出した放射方向および信号値を記憶させると、プロセスはステップＳ２０７に進む。
ステップＳ２０７では、制御部１４は、ステップＳ２０６において記憶した組合せが所定の数以上であるか否かを判別する。組合せが所定の数以上でないとき、プロセスはステップＳ２０８に進む。組合せが所定の数以上であるとき、プロセスはステップＳ２０９に進む。
ステップＳ２０８では、制御部１４は、第１の状態に切替える画素ｐｘの所定の位置を、未だに切替えられていない位置に変更する。制御部１４が所定の位置を変更すると、プロセスはステップＳ２００に戻る。
ステップＳ２０９では、制御部１４は、ステップＳ２０６において算出した信号値および放射方向の組合せを用いて、記憶部１３に記憶した第１の関連情報を更新する。制御部１４は、第１の関連情報の更新後、第１の関連情報の更新処理を終了する。
以上のような構成の第２の実施形態の電磁波検出装置１０は、反射波による進行部２０の一回の走査において単一の画素ｐｘを第１の方向ｄ１に切替えている。このような構成により、推定される放射方向および実際の放射方向の差異が比較的大きい場合においても、第２の実施形態の電磁波検出装置１０は、反射波を検出するときの反射波を第１の検出部１７に進行させる画素ｐｘの位置および駆動信号を正確に組合わせ得る。したがって、第２の実施形態の電磁波検出装置１０は、推定される放射方向および実際の放射方向の差異が比較的大きい場合においても、推定される放射方向および実際の放射方向の差異を高精度で低減させ得る。
本発明を諸図面および実施例に基づき説明してきたが、当業者であれば本開示に基づき種々の変形および修正を行うことが容易であることに注意されたい。従って、これらの変形および修正は本発明の範囲に含まれることに留意されたい。
例えば、第１の実施形態および第２の実施形態において、照射部１１からの電磁波の放射方向が固定である構成においては、以下のような変形例の構成によって、放射方向に関する情報を更新してよい。当該変形例において、制御部１４は、電磁波を連続的に放射させながら、進行部２０の画素ｐｘを順番に第１の状態に切替えさせる。制御部１４は、第１の検出部１７が反射波を検出するときに第１の状態に切替えていた画素ｐｘの位置を用いて、第２の関連情報に基づいて放射方向を算出する。制御部１４は、算出した放射方向を用いて、記憶部１３に記憶された放射方向に関する情報を更新する。
また、第１の実施形態および第２の実施形態において、進行部２０は、作用面ａｓに入射する電磁波の進行方向を第１の方向ｄ１および第２の方向ｄ２の２方向に切替可能であるが、２方向のいずれかへの切替えでなく、３以上の方向に切替可能であってよい。
また、第１の実施形態および第２の実施形態において、進行部２０の第１の状態および第２の状態は、作用面ａｓに入射する電磁波を、それぞれ、第１の方向ｄ１に反射する第１の反射状態、および第２の方向ｄ２に反射する第２の反射状態であるが、他の態様であってもよい。
例えば、第２の状態が、作用面ａｓに入射する電磁波を、透過させて第２の方向ｄ２に進行させる透過状態であってもよい。進行部２０は、さらに具体的には、画素ｐｘ毎に電磁波を反射する反射面を有するシャッタを含んでいてもよい。このような構成の進行部２０においては、画素ｐｘ毎のシャッタを開閉することにより、第１の反射状態および第２の状態としての透過状態を画素ｐｘ毎に切替え得る。このような構成の進行部２０として、例えば、開閉可能な複数のシャッタがアレイ状に配列されたＭＥＭＳシャッタを含む進行部が挙げられる。また、進行部２０は、電磁波を反射する反射状態と電磁波を透過する透過状態とを液晶配向に応じて切替え可能な液晶シャッタを含む進行部が挙げられる。このような構成の進行部２０においては、画素ｐｘ毎の液晶配向を切替えることにより、第１の状態としての反射状態および第２の状態としての透過状態を画素ｐｘ毎に切替え得る。
また、第１の実施形態および第２の実施形態において、電磁波検出装置１０は、第１の検出部１７がアクティブセンサの一部として機能し、第２の検出部１８がパッシブセンサである構成を有する。しかし、電磁波検出装置１０は、このような構成に限られない。例えば、電磁波検出装置１０は、第１の検出部１７および第２の検出部１８が共にパッシブセンサである構成でも、アクティブセンサの一部として機能する構成でも第１の実施形態と類似の効果が得られる。
また、第１の実施形態および第２の実施形態において、電磁波検出装置１０は、照射源１５、進行方向変更部１６、記憶部１３、制御部１４、および電磁波検出部１２を含んで構成されているが、これらの少なくとも１つを含んで構成されてもよい。また、電磁波検出装置１０が少なくとも電磁波検出部１２を含み、別の装置がその他を含むことにより、電磁波検出システムが構成されてもよい。
また、第１の実施形態および第２の実施形態において、電磁波検出装置１０は、照射源１５から放射されるビーム状の電磁波を進行方向変更部１６により走査させることにより、第１の検出部１７を進行方向変更部１６と協同させて走査型のアクティブセンサとして機能させる構成である。しかし、電磁波検出装置１０は、このような構成に限られない。例えば、電磁波検出装置１０は、進行方向変更部１６を備えず、照射源１５から放射状の電磁波を放射させ、走査なしで情報を取得する構成でも、第１の実施形態および第２の実施形態と類似の効果が得られる。
１０ 電磁波検出装置
１１ 照射部
１２ 電磁波検出部
１３ 記憶部
１４ 制御部
１５ 照射源
１６進行方向変更部
１７ 第１の検出部
１８ 第２の検出部
１９ 前段光学系
２０ 進行部
２１ 第１の後段光学系
２２ 第２の後段光学系
ａｓ 作用面
ｄ１ 第1の方向
ｄ２ 第２の方向
ｏｂ 対象
ｐｘ、ｐｘ１、ｐｘ２ 画素

Claims (14)

  1. 電磁波を放射する照射部と、
    対象に照射された前記電磁波の反射波を検出する第１の検出部と、
    前記対象に照射された前記電磁波の照射位置別に、前記反射波の前記第１の検出部への進行の可否を切替える複数の進行素子を有する進行部と、
    前記電磁波の放射方向に関する情報を記憶する記憶部と、
    前記第１の検出部が前記反射波を検出するときに前記反射波を前記第１の検出部に進行させている進行素子の位置に基づいて、前記放射方向に関する情報を更新する制御部と、を備える
    電磁波検出装置。
  2. 請求項１に記載の電磁波検出装置において、
    前記照射部は、駆動信号に応じて、前記電磁波の放射方向を変更することにより、照射位置を変えながら、前記電磁波を前記対象に照射し、
    前記記憶部は、前記駆動信号および前記放射方向を関連付けた第１の関連情報を、前記放射方向に関する情報として記憶し、
    前記制御部は、前記第１の検出部が前記反射波を検出するとき前記反射波を前記第１の検出部に進行させている進行素子の位置とともに、前記第１の検出部が前記反射波を検出するときの前記駆動信号に基づいて、前記放射方向に関する情報の更新として、前記第１の関連情報を更新する
    電磁波検出装置。
  3. 請求項２に記載の電磁波検出装置において、
    前記記憶部は、前記放射方向と、該放射方向に放射される電磁波の反射波が入射する進行素子の位置とを関連付けた第２の関連情報を含み、
    前記制御部は、前記第１の検出部が前記反射波を検出するとき前記反射波を前記第１の検出部に進行させている進行素子の位置および前記第２の関連情報に基づく放射方向と、前記第１の検出部が前記反射波を検出するときの前記駆動信号とに基づいて前記第１の関連情報を更新する
    電磁波検出装置。
  4. 請求項２または３に記載の電磁波検出装置において、
    前記制御部は、前記第１の関連情報の更新として、前記第１の関連情報における前記駆動信号および前記放射方向の関連性を更新する
    電磁波検出装置。
  5. 請求項２から４のいずれか１項に記載の電磁波検出装置において、
    前記制御部は、前記第１の関連情報の更新として、前記第１の関連情報における前記駆動信号および前記放射方向の相関性を示す関数を更新する
    電磁波検出装置。
  6. 請求項２から５のいずれか１項に記載の電磁波検出装置において、
    前記第１の関連情報は、前記駆動信号の複数の信号値、および該複数の信号値別に対応付けた前記放射方向であり、
    前記制御部は、前記第１の関連情報の更新として、前記第１の関連情報における前記駆動信号の複数の信号値と、前記放射方向との対応付けを更新する
    電磁波検出装置。
  7. 請求項６に記載の電磁波検出装置において、
    前記制御部は、前記第１の関連情報の更新として、前記第１の関連情報における前記駆動信号の複数の信号値を更新する
    電磁波検出装置。
  8. 請求項２から７のいずれか１項に記載の電磁波検出装置において、
    前記制御部は、前記第１の関連情報の更新として、前記第１の関連情報における前記放射方向を更新する
    電磁波検出装置。
  9. 請求項２から８のいずれか１項に記載の電磁波検出装置において、
    前記照射部は、放射する電磁波を、前記駆動信号に応じて向きを変更しながら反射することにより照射位置を変えながら前記対象に照射する反射面を有する
    電磁波検出装置。
  10. 請求項１から９のいずれか１項に記載の電磁波検出装置において、
    前記進行部は、前記反射波を、前記進行素子毎に、前記第１の検出部が配置される第１の方向に進行させる第１の状態と、前記第１の方向とは異なる第２の方向に進行させる第２の状態とに切替え可能である
    電磁波検出装置。
  11. 請求項１０に記載の電磁波検出装置において、
    前記制御部は、前記複数の進行素子の少なくとも１つの進行素子を前記第１の状態に切替え、前記第１の状態に切替えた進行素子の位置を、前記第１の検出部が前記反射波を検出するときに前記反射波を前記第１の検出部に進行させている進行素子の位置とみなす
    電磁波検出装置。
  12. 請求項１０または１１に記載の電磁波検出装置において、
    前記進行部に対して前記第２の方向に配置され、入射する前記反射波を検出する第２の検出部を、さらに備える
    電磁波検出装置。
  13. 電磁波を放射するステップと、
    対象に照射された前記電磁波の反射波を第１の検出部によりに検出するステップと、
    前記対象に照射された前記電磁波の照射位置別に、前記反射波の前記第１の検出部への進行の可否を切替え可能な複数の進行素子の一部を、前記第１の検出部に進行させるステップと、
    前記電磁波の放射方向に関する情報を記憶するステップと、
    前記第１の検出部が前記反射波を検出するときに前記反射波を前記第１の検出部に進行させている進行素子の位置に基づいて、前記放射方向に関する情報を更新するステップと、を装置に実行させる
    プログラム。
  14. 電磁波を放射する照射部と、
    対象に照射された前記電磁波の反射波を検出する第１の検出部と、
    前記対象に照射された前記電磁波の照射位置別に、前記反射波の前記第１の検出部への進行の可否を切替える複数の進行素子を有する進行部と、
    前記電磁波の放射方向に関する情報を記憶する記憶部と、
    前記第１の検出部が前記反射波を検出するときに前記反射波を前記第１の検出部に進行させている進行素子の位置に基づいて、前記放射方向に関する情報を更新する制御部と、を備える
    電磁波検出システム。
JP2017059893A 2017-03-24 2017-03-24 電磁波検出装置、プログラム、および電磁波検出システム Active JP6850173B2 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017059893A JP6850173B2 (ja) 2017-03-24 2017-03-24 電磁波検出装置、プログラム、および電磁波検出システム
PCT/JP2018/008335 WO2018173720A1 (ja) 2017-03-24 2018-03-05 電磁波検出装置、プログラム、および電磁波検出システム
CN201880020356.8A CN110476076B (zh) 2017-03-24 2018-03-05 电磁波检测装置、程序以及电磁波检测系统
US16/495,470 US11408982B2 (en) 2017-03-24 2018-03-05 Electromagnetic wave detection apparatus, program, and electromagnetic wave detection system
EP18770202.2A EP3605138A4 (en) 2017-03-24 2018-03-05 DEVICE FOR DETECTING ELECTROMAGNETIC WAVES, PROGRAM AND SYSTEM FOR DETECTING ELECTROMAGNETIC WAVES
KR1020197027505A KR102287270B1 (ko) 2017-03-24 2018-03-05 전자파 검출 장치, 프로그램, 및 전자파 검출 시스템

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017059893A JP6850173B2 (ja) 2017-03-24 2017-03-24 電磁波検出装置、プログラム、および電磁波検出システム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018163020A true JP2018163020A (ja) 2018-10-18
JP6850173B2 JP6850173B2 (ja) 2021-03-31

Family

ID=63585961

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017059893A Active JP6850173B2 (ja) 2017-03-24 2017-03-24 電磁波検出装置、プログラム、および電磁波検出システム

Country Status (6)

Country Link
US (1) US11408982B2 (ja)
EP (1) EP3605138A4 (ja)
JP (1) JP6850173B2 (ja)
KR (1) KR102287270B1 (ja)
CN (1) CN110476076B (ja)
WO (1) WO2018173720A1 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020085089A1 (ja) * 2018-10-25 2020-04-30 京セラ株式会社 電磁波検出装置
WO2020105419A1 (ja) * 2018-11-19 2020-05-28 京セラ株式会社 電磁波検出装置および情報取得システム
CN111624547A (zh) * 2019-02-27 2020-09-04 北方数字化技术公司 跟踪电磁场中的对象
JP2020176983A (ja) * 2019-04-22 2020-10-29 パイオニア株式会社 検知装置、測距方法、プログラム及び記録媒体

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7004632B2 (ja) * 2018-10-05 2022-01-21 京セラ株式会社 電磁波検出装置
CN113607757A (zh) * 2021-09-18 2021-11-05 三兄弟(珠海)科技有限公司 一种用于材料检测的电磁波检测装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004163271A (ja) * 2002-11-13 2004-06-10 Tokyo Denki Univ 非接触画像計測装置
JP2010096574A (ja) * 2008-10-15 2010-04-30 Ihi Corp レーザレーダ及びレーザレーダによる計測方法
JP2014512525A (ja) * 2011-03-17 2014-05-22 ウニベルジテート ポリテクニカ デ カタル−ニア 光ビームを受光するシステムと方法とコンピュータ・プログラム
JP2015513825A (ja) * 2012-02-15 2015-05-14 メサ・イメージング・アー・ゲーＭｅｓａ Ｉｍａｇｉｎｇ Ａｇ ストライプ照明の飛行時間型カメラ
US20160109561A1 (en) * 2014-10-16 2016-04-21 Harris Corporation Modulation of input to geiger mode avalanche photodiode lidar using digital micromirror devices

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4219814A (en) * 1978-12-26 1980-08-26 Rca Corporation Scanning radar
ATE155896T1 (de) * 1989-04-10 1997-08-15 Auto Sense Ltd Zusammenstossvorbeugungssystem für fahrzeuge
JP3483303B2 (ja) * 1994-06-21 2004-01-06 株式会社トプコン 回転レーザ装置
US5760886A (en) * 1994-07-29 1998-06-02 Miyazaki; Hidenori Scanning-type distance measurement device responsive to selected signals
JP3986671B2 (ja) * 1998-07-15 2007-10-03 本田技研工業株式会社 物体検知装置
EP1373830B1 (en) * 2001-04-04 2006-05-17 Instro Precision Limited Surface profile measurement
JP3962627B2 (ja) * 2001-11-12 2007-08-22 正吾 田中 コンクリート構造物及びそれ以外の構造物の非破壊検査方法
JP3950059B2 (ja) * 2003-01-06 2007-07-25 三井造船株式会社 時間分解二次元微弱光検出方法および装置
US20050058242A1 (en) * 2003-09-15 2005-03-17 Peschmann Kristian R. Methods and systems for the rapid detection of concealed objects
JP2005005975A (ja) * 2003-06-11 2005-01-06 Shimadzu Corp 撮影装置
JP4392833B2 (ja) * 2004-06-14 2010-01-06 三井造船株式会社 ３次元画像情報取得装置
EP1969312B1 (en) * 2005-12-08 2017-03-29 Advanced Scientific Concepts INC. Laser ranging, tracking and designation using 3-d focal planes
US7483151B2 (en) * 2006-03-17 2009-01-27 Alpineon D.O.O. Active 3D triangulation-based imaging method and device
DE102008045387B4 (de) * 2008-09-02 2017-02-09 Carl Zeiss Ag Vorrichtung und Verfahren zum Vermessen einer Oberfläche
JP2011220732A (ja) 2010-04-06 2011-11-04 Honda Motor Co Ltd 車両の周辺監視装置
JP5950599B2 (ja) * 2011-11-07 2016-07-13 キヤノン株式会社 被検体情報取得装置、被検体情報取得方法及びプログラム
WO2013080570A1 (ja) * 2011-12-02 2013-06-06 パナソニック株式会社 レーダ装置
DE102012101909B3 (de) * 2012-03-07 2013-01-03 Sick Ag Entfernungsmessender Sensor und Verfahren zur Synchronisierung
JP2013190350A (ja) * 2012-03-14 2013-09-26 Canon Inc テラヘルツ波帯の電磁波を用いた装置
ES2512965B2 (es) * 2013-02-13 2015-11-24 Universitat Politècnica De Catalunya Sistema y método para escanear una superficie y programa de ordenador que implementa el método
HUE049876T2 (hu) * 2013-05-17 2020-11-30 Grieshaber Vega Kg Topológiameghatározás ömlesztett termékekhez
JP6251533B2 (ja) * 2013-09-27 2017-12-20 パナソニック株式会社 レーダ装置及び物体検出方法
US10393565B2 (en) * 2014-06-03 2019-08-27 Vega Grieshaber Kg Determination of container and interference point profiles
US20170199272A1 (en) * 2014-07-03 2017-07-13 Sharp Kabushiki Kaisha Optical reflection sensor and electronic device
EP3171453B1 (de) * 2015-11-17 2019-02-13 VEGA Grieshaber KG Antennenvorrichtung und verfahren zum betreiben einer antennenvorrichtung
WO2017084700A1 (de) * 2015-11-17 2017-05-26 Vega Grieshaber Kg Antennenvorrichtung und verfahren zum senden und/oder empfangen eines signals
JP6742745B2 (ja) * 2016-02-08 2020-08-19 キヤノン株式会社 情報取得装置および表示方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004163271A (ja) * 2002-11-13 2004-06-10 Tokyo Denki Univ 非接触画像計測装置
JP2010096574A (ja) * 2008-10-15 2010-04-30 Ihi Corp レーザレーダ及びレーザレーダによる計測方法
JP2014512525A (ja) * 2011-03-17 2014-05-22 ウニベルジテート ポリテクニカ デ カタル−ニア 光ビームを受光するシステムと方法とコンピュータ・プログラム
JP2015513825A (ja) * 2012-02-15 2015-05-14 メサ・イメージング・アー・ゲーＭｅｓａ Ｉｍａｇｉｎｇ Ａｇ ストライプ照明の飛行時間型カメラ
US20160109561A1 (en) * 2014-10-16 2016-04-21 Harris Corporation Modulation of input to geiger mode avalanche photodiode lidar using digital micromirror devices

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020085089A1 (ja) * 2018-10-25 2020-04-30 京セラ株式会社 電磁波検出装置
WO2020105419A1 (ja) * 2018-11-19 2020-05-28 京セラ株式会社 電磁波検出装置および情報取得システム
JP2020085538A (ja) * 2018-11-19 2020-06-04 京セラ株式会社 電磁波検出装置および情報取得システム
JP7118865B2 (ja) 2018-11-19 2022-08-16 京セラ株式会社 電磁波検出装置および情報取得システム
CN111624547A (zh) * 2019-02-27 2020-09-04 北方数字化技术公司 跟踪电磁场中的对象
JP2020176983A (ja) * 2019-04-22 2020-10-29 パイオニア株式会社 検知装置、測距方法、プログラム及び記録媒体

Also Published As

Publication number Publication date
WO2018173720A1 (ja) 2018-09-27
US11408982B2 (en) 2022-08-09
EP3605138A1 (en) 2020-02-05
EP3605138A4 (en) 2020-12-23
KR20190119109A (ko) 2019-10-21
CN110476076B (zh) 2023-09-19
JP6850173B2 (ja) 2021-03-31
US20200096616A1 (en) 2020-03-26
CN110476076A (zh) 2019-11-19
KR102287270B1 (ko) 2021-08-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6850173B2 (ja) 電磁波検出装置、プログラム、および電磁波検出システム
US20240012114A1 (en) Electromagnetic wave detection apparatus, program, and information acquisition system
WO2018168507A1 (ja) 電磁波検出装置、プログラム、および電磁波検出システム
JP2022115975A (ja) 電磁波検出装置および情報取得システム
KR102287265B1 (ko) 전자파 검출 장치, 프로그램, 및 전자파 검출 시스템
US11194021B2 (en) Electromagnetic wave detection apparatus, program, and electromagnetic wave detection system comprising a controller to update related information associating an emission direction and two elements defining two points on a path of electromagnetic waves
JP7037609B2 (ja) 電磁波検出装置およびプログラム
JP2020067403A (ja) 電磁波検出装置
JP2022173534A (ja) 電磁波検出装置および情報取得システム
JP2020016623A (ja) 電磁波検出装置および情報取得システム
JP2018205285A (ja) 電磁波検出装置、電磁波検出システム、およびプログラム

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190710

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200512

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200703

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20201006

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20201104

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20210302

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20210305

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6850173

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150