CN110476076B - 电磁波检测装置、程序以及电磁波检测系统 - Google Patents

电磁波检测装置、程序以及电磁波检测系统 Download PDF

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Abstract

电磁波检测装置(10)具有：照射部(11)、第一检测部(17)、行进部(20)、存储部(13)、以及控制部(14)。照射部(11)照射电磁波。第一检测部(17)检测照射于对象(ob)的电磁波的反射波。行进部(20)具有多个行进元件(px)。多个行进元件(px)根据照射于对象(ob)的电磁波的照射位置来切换该所述反射波是否向第一检测部(17)行进。存储部(13)存储与电磁波的发射方向有关的信息。控制部(14)基于当第一检测部(17)检测出反射波时使反射波行进到第一检测部(17)中的行进元件(px)的位置来更新与发射方向有关的信息。

Description

电磁波检测装置、程序以及电磁波检测系统
相关申请的相互参照
本申请要求2017年3月24在日本申请的日本特愿2017-059893的优先权，并将在先申请的全部内容引入于此以用于参照。
技术领域
本发明涉及一种电磁波检测装置、程序以及电磁波检测系统。
背景技术
近年来，开发了一种从发射的电磁波的反射波的检测结果来获得与周围相关的信息的装置。例如，已知一种使用激光雷达来测量物体的位置的装置(参考专利文献1)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2011-220732号公报。
发明内容
第一观点的电磁波检测装置包括：
发射电磁波的照射部；
第一检测部，检测照射于对象的所述电磁波的反射波；
行进部，具有根据照射于所述对象的所述电磁波的照射位置，来切换所述反射波是否向所述第一检测部行进的多个行进元件；
存储部，存储与所述电磁波的发射方向有关的信息；以及
控制部，基于当所述第一检测部检测出所述反射波时使所述反射波行进到所述第一检测部中的行进元件的位置，来更新与所述发射方向有关的信息。
另外，第二观点的电磁波检测系统包括：
发射电磁波的照射部；
第一检测部，检测照射于对象的所述电磁波的反射波；
行进部，具有根据照射于所述对象的所述电磁波的照射位置，来切换所述反射波是否向所述第一检测部行进的多个行进元件；
存储部，存储与所述电磁波的发射方向有关的信息；以及
控制部，基于当所述第一检测部检测出所述反射波时使所述反射波行进到所述第一检测部中的行进元件的位置，来更新与所述发射方向有关的信息。
另外，本公开的第三观点的程序使装置执行如下步骤：
发射电磁波；
由第一检测部检测照射于对象的所述电磁波的反射波；
根据照射于所述对象的所述电磁波的照射位置，使能够切换所述反射波是否向所述第一检测部行进的多个行进元件的一部分行进到所述第一检测部中；
存储与所述电磁波的发射方向有关的信息；
基于当所述第一检测部检测出所述反射波时使所述反射波行进到所述第一检测部中的行进元件的位置，来更新与所述发射方向有关的信息。
附图说明
图1是示出第一实施方式的电磁波检测装置的概略结构的结构图。
图2是用于说明图1的电磁波检测装置的行进部中的像素在第一状态和第二状态下的电磁波的行进方向的电磁波检测装置的结构图。
图3是示出存储在图1的存储部中的第一关联信息的一个例子的图。
图4是示出存储在图1的存储部中的第二关联信息的一个例子的图。
图5是示出存储在图1的存储部中的第三关联信息的一个例子的图。
图6是示出用于说明图1的照射部、第二检测部、以及控制部所构成的测距传感器的测距原理的电磁波的发射时刻和检测时刻的时序图。
图7是用于说明图1的控制部控制用于重复获取图像信息以及距离信息的各部位的时序图。
图8是用于说明图1的行进部的任意的像素处于第二状态时的电磁波的行进状态的电磁波检测装置的结构图。
图9是用于说明仅图8的任意的像素处于第一状态时的电磁波的行进状态的电磁波检测装置的结构图。
图10是示出在第一实施方式的电磁波检测装置中对第一关联信息进行更新时的行进部中的像素的状态以及反射波的扫描轨迹的行进部的示意图。
图11是第一检测部相对于经过时间检测反射波时的图表，以用于示出在图1的电磁波检测装置中，第一检测部针对更新第一关联信息时的规定的像素检测反射波的推定的经过时间与实际的经过时间之间的差异。
图12是用于说明在第一实施方式中的图1的控制部执行的第一关联信息的更新处理的流程图。
图13是用于说明在第二实施方式中的图1的控制部执行的第一关联信息的更新处理的流程图。
具体实施方式
以下，参照附图对应用了本发明的电磁波检测装置的实施方式进行说明。在根据已经获得的信息来推定发射的电磁波的发射方向的情况下，有时实际的发射方向与推定的发射方向不同。因此，应用了本发明的电磁波检测装置构成为能够减小实际的电磁波的发射方向与推定的电磁波的发射方向之间的差异。
如图1所示，本公开的第一实施方式的电磁波检测装置10构成为包括：照射部11、电磁波检测部12、存储部13、以及控制部14。
在之后的图中，连结各功能块的虚线表示控制信号或者通信的信息的流动。虚线所示的通信可以是有线通信，也可以是无线通信。另外，从各功能块突出的实线表示波束状的电磁波。
照射部11具有至少发射电磁波的照射源15。照射源15发射例如红外线、可视光线、紫外线、以及电波中的至少一种电磁波。在第一实施方式中，照射源15发射红外线。
照射源15发射规定宽度的波束状的电磁波。在第一实施方式中，照射源15发射宽度较窄的例如0.5°的波束状的电磁波。另外，照射源15能够以脉冲状或者连续波的方式发射电磁波。在第一实施方式中，照射源15发射脉冲状的电磁波。例如，照射源15包括LED(Light Emitting Diode)以及LD(Laser Diode)等。照射源15基于后述的控制部14的控制，来切换电磁波的发射以及停止。
在照射部11中，电磁波的发射方向可以是固定的，也可以基于从控制部14的输出的驱动信号而发生改变。在第一实施方式中，电磁波的发射方向能够改变。
可以通过使从单一的照射源15发射的电磁波在倾斜角度能够改变的反射面上反射从而使电磁波的发射方向发生改变。另外，例如，如相控阵雷达那样，可以通过从配置成平面状阵列的多个照射源15一点一点地移动相位并进行发射从而使电磁波的发射方向发生改变。在第一实施方式中，如下所述，通过使用反射面进行反射来改变电磁波的发射方向。
如上所述，在第一实施方式中，照射部11还具有行进方向改变部16。行进方向改变部16具有能够改变方向的反射面。行进方向改变部16基于从后述的控制部14输出的驱动信号，改变反射面的方向。
反射面通过根据驱动信号来改变从照射源15发射的电磁波的行进方向，来改变照射位置并照射对象ob。即，行进方向改变部16通过从照射源15发射的电磁波来扫描对象ob。需要说明的是，行进方向改变部16沿一维方向或者二维方向扫描对象ob。在第一实施方式中，行进方向改变部16沿二维方向扫描对象ob。
行进方向改变部16构成为使从照射源15发射并反射的电磁波的照射区域中的至少一部分包括在电磁波检测装置10的电磁波的检测范围中。因此，能够在电磁波检测装置10中检测经由行进方向改变部16照射于对象ob的电磁波的至少一部分。
需要说明的是，在第一实施方式中，行进方向改变部16构成为使从照射源15发射并由行进方向改变部16反射的电磁波的照射区域中的至少一部分包括在第二检测部18以及第一检测部17的检测范围中。因此，能够由第二检测部18以及第一检测部17检测经由行进方向改变部16照射于对象ob的电磁波的至少一部分。
行进方向改变部16包括例如MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)镜、棱镜、以及电流镜等。在第一实施方式中，行进方向改变部16包括MEMS镜。
电磁波检测部12包括：前段光学系统19、行进部20、第一后段光学系统21、第二后段光学系统22、第二检测部18、以及第一检测部17。
前段光学系统19包括例如透镜以及镜中的至少一种，并使作为存在于电磁波的照射区域中的被摄体的对象ob的图像成像。
行进部20可以设置在一次成像位置或者该一次成像位置的附近，该一次成像位置是通过前段光学系统19对从前段光学系统19远离规定的位置的对象ob的图像进行成像的位置。在第一实施方式中，行进部20设置在该一次成像位置。
行进部20具有通过了前段光学系统19的电磁波入射的作用面as。作用面as由沿着二维状排列的多个像素(行进元件)px构成。作用面as是在后述的第一状态以及第二状态中的至少一个的状态下，使电磁波产生例如反射以及透过等作用的面。
像素px根据照射于对象ob的电磁波的照射位置，对该电磁波的反射波是否向第二检测部18行进进行切换。进一步地，行进部20能够使每个像素px在第一状态与第二状态之间切换，该第一状态使入射到作用面as上的电磁波沿第一方向d1行进，该第二状态使入射到作用面as上的电磁波沿第二方向d2行进。在第一实施方式中，第一状态是将入射到作用面as上的电磁波沿第一方向d1反射的第一反射状态。另外，第二状态是将入射到作用面as上的电磁波沿第二方向d2反射的第二反射状态。
在第一实施方式中，进一步具体来说，行进部20在每个像素px上包括反射电磁波的反射面。行进部20通过改变每个像素px的反射面的方向，从而使每个像素px切换第一状态以及第二状态。
在第一实施方式中，行进部20包括例如DMD(Digital Micro mirror Device：数字微镜器件)。DMD通过驱动构成作用面as的微小的反射面，从而能够将每个像素px切换到该反射面相对于作用面as倾斜+12°以及－12°中的任一倾斜状态。需要说明的是，作用面as与DMD中载置微小的反射面的基板的板面平行。
行进部20基于后述的控制部14的控制，使每个像素px切换第一状态以及第二状态。例如，如图2所示，行进部20能够同时地将一部分像素px1切换为第一状态从而能够使入射到该像素px1上的电磁波沿第一方向d1行进，以及将另一部分像素px2切换为第二状态从而能够使入射到该像素px2上的电磁波沿第二方向d2行进。另外，行进部20通过将同一像素px从第一状态切换到第二状态，从而能够使入射到该像素px上的电磁波在第一方向d1之后向第二方向d2行进。
行进部20的各像素px在第二状态下使照射于对象ob的电磁波的反射波根据照射位置行进到后述的第二检测部18的彼此不同的多个检测元件中。
如图1所示，第一后段光学系统21设置在从行进部20开始的第一方向d1上。第一后段光学系统21包括例如透镜以及镜中的至少一个。第一后段光学系统21使作为在行进部20中切换了行进方向的电磁波的对象ob的图像成像。
第二后段光学系统22设置在从行进部20开始的第二方向d2上。第二后段光学系统22包括例如透镜以及镜中的至少一个。第二后段光学系统22使作为在行进部20中切换了行进方向的电磁波的对象ob的图像成像。
第一检测部17设置在通过行进部20沿第一方向d1行进之后经由第一后段光学系统21行进的电磁波的路径上。第一检测部17检测经由第一后段光学系统21的电磁波，即，检测沿第一方向d1行进的电磁波。
在第一实施方式中，第一检测部17是有源传感器，其检测从照射部11向对象ob照射的电磁波从该对象ob的反射波。需要说明的是，在第一实施方式中，第一检测部17检测从照射部11照射并且由行进方向改变部16反射而朝向对象ob照射的电磁波从该对象ob的反射波。
在第一实施方式中，进一步具体来说，第一检测部17包括构成测距传感器的元件。例如，第一检测部17包括APD(Avalanche PhotoDiode)、PD(PhotoDiode)以及测距图像传感器等单一的元件。另外，第一检测部17可以包括APD阵列、PD阵列、测距成像阵列、以及测距图像传感器等元件阵列。
第一检测部17检测从被摄体的反射波。在第一实施方式中，进一步具体来说，第一检测部17检测红外频带的电磁波。因此，在第一实施方式中，第一检测部17与行进方向改变部16协同，构成扫描型测距传感器。第一检测部17将表示检测出反射波的检测信息作为信号发送至控制部14。
需要说明的是，第一检测部17在构成上述的测距传感器的单一的元件的结构中，只要能够检测电磁波即可，不需要在检测面成像。因此，第一检测部17可以不设置在通过第一后段光学系统21进行成像的位置的二次成像位置。即，在该结构中，只要是来自所有视角的电磁波能够入射到检测面上的位置，则第一检测部17可以配置在通过行进部20沿第一方向d1行进后经由第一后段光学系统21行进的电磁波的路径上的任何位置。
第二检测部18设置在通过行进部20沿第二方向d2行进后经由第二后段光学系统22行进的电磁波的路径上。第二检测部18检测经由第二后段光学系统22后的电磁波，即，检测沿第二方向d2行进的电磁波。
第二检测部18是具有多个检测元件的无源传感器。多个检测元件配置在与第一后段光学系统21的光轴垂直的平面上。在第一实施方式中，进一步具体来说，第二检测部18包括元件阵列。例如，第二检测部18包括图像传感器或者成像阵列等拍摄元件，拍摄在检测面成像的电磁波的图像，生成与拍摄的对象ob相当的图像信息。进一步地，在第一实施方式中，进一步具体来说，第二检测部18拍摄可视光的图像。第二检测部18将生成的图像信息作为信号发送至控制部14。
另外，第二检测部18检测从照射源15经由行进方向改变部16照射到对象ob上的电磁波的反射波，拍摄基于检测出的电磁波的图像，并生成与拍摄的对象ob相当的图像信息。多个检测元件检测对象ob上的各照射位置的该电磁波。
需要说明的是，第二检测部18可以拍摄可视光以外的图像。另外，第二检测部18可以包括温度传感器。在该结构中，电磁波检测装置10能够通过第二检测部18来获取温度信息。
这样，在第一实施方式中，第二检测部18包括元件阵列，因此，如果入射的电磁波在检测面成像，则由于成像的电磁波入射到各检测元件中，因此第二检测部18能够使分辨率提高。因此，第二检测部18可以设置在通过第二后段光学系统22进行成像的位置的二次成像位置。
存储部13能够由半导体存储器或者磁存储器等构成，并存储各种信息、各种数据、以及用于使电磁波检测装置10动作的程序等。另外，存储部13也作为工作存储器发挥功能。
例如，存储部13存储与电磁波的发射方向有关的信息。需要说明的是，电磁波的发射方向是指限定发射方向的多种要素。如第一实施方式，在应用了行进方向改变部16的结构中，第一关联信息可以是反射面相对于基准面的倾斜角度。倾斜角度可以是相对于一个轴的倾斜角度，也可以是相对于两个轴的倾斜角度。另外，如上所述，在从平面状阵列排列的多个照射源15一点一点地移动相位并进行发射的结构中，可以是在多个照射源15中确定发射中的照射源15的位置等。另外，如上所述，在发射方向为固定的结构中，可以是在照射部11中作为基准的空间中的方向矢量等。
进一步地，在第一实施方式中，存储部13存储从第一关联信息到第三关联信息。
第一关联信息是将驱动信号与对应于该驱动信号的电磁波的发射方向相关联的信息。第一关联信息是例如发射方向相对于驱动信号的关联性，换言之，是表示发射方向相对于驱动信号的相关性的函数。或者，第一关联信息是驱动信号相对于发射方向的关联性，换言之，是表示驱动信号相对于发射方向的相关性的函数。或者，如图3所示，第一关联信息是例如与各驱动信号的多个信号值分别相对应的发射方向或者，第一关联信息可以是与各发射方向分别相对应的驱动信号的多个信号值。
第二关联信息是将电磁波的发射方向与沿该发射方向发射的电磁波的反射波入射的像素px(行进元件)的位置相关联的信息。第二关联信息是例如像素px的位置相对于发射方向的函数，或者是发射方向相对于像素px的位置的函数。或者，如图4所示，第二关联信息是例如与各发射方向分别相对应的像素px的位置(x’，y’)。或者，第二关联信息可以是与各像素px的位置分别相对应的发射方向。
第三关联信息是将电磁波的发射方向与沿该发射方向发射的电磁波的照射区域内的照射位置相关联的信息。第三关联信息是例如照射位置相对于发射方向的函数，或者是发射方向相对于照射位置的函数。或者，如图5所示，第三关联信息是例如与各发射方向分别相对应的照射位置(x”，y”)。或者，第三关联信息可以是与各照射位置分别相对应的发射方向。
控制部14包括一个以上的处理器以及存储器。处理器可以包括读取特定的程序并执行特定的功能的通用处理器，以及专门进行特定处理的专用处理器中的至少一个。专用的处理器可以包括面向特定应用IC(ASIC；Application Specific Integrated Circuit)。处理器可以包括可编程逻辑设备(PLD；Programmable Logic Device)。PLD可以包括FPGA(Field-Programmable Gate Array)。控制部14可以包括一个或者多个处理器协同动作的SoC(System-on-a-Chip)、以及SiP(System-in-a-Package)中的至少一个。
控制部14基于第二检测部18以及第一检测部17分别检测的电磁波，来获取与电磁波检测装置10的周围相关的信息。与周围相关的信息是例如图像信息、距离信息、以及温度信息等。
在第一实施方式中，如上所述，控制部14获取第二检测部18作为图像检测出的电磁波作为图像信息。另外，在第一实施方式中，控制部14基于第一检测部17检测出的检测信息，如下所述，通过ToF(Time-of-Flight)方式，来获取照射部11所照射的照射位置的距离信息。
如图6所示，控制部14通过将电磁波发射信号输入到照射源15中，使照射源15发射脉冲状的电磁波(参考“电磁波发射信号”栏)。照射源15基于输入的该电磁波发射信号来照射电磁波(参考“照射部发射量”栏)。由照射源15发射并由行进方向改变部16反射并照射于任意的照射区域的电磁波在该照射区域中反射。
控制部14具有例如时间测量LSI(Large Scale Integrated circuit)，来测量从使照射源15发射电磁波的时刻T1开始到获取检测信息(参考“检测信息获取”栏)的时刻T2为止的时间ΔT。控制部14通过将光速乘以该时间ΔT并除以2，来计算到照射位置为止的距离。
需要说明的是，控制部14将驱动信号输出至行进方向改变部16。另外，控制部14从存储部13读取第一关联信息以及第三关联信息。控制部14基于输出的驱动信号、第一关联信息、以及第三关联信息来计算照射位置。控制部14通过使用驱动信号来改变照射位置，并计算到各照射位置为止的距离，从而创建从第二检测部18获取的图像信息中的距离信息。
需要说明的是，在第一实施方式中，电磁波检测装置10是通过照射激光，直接测定到返回为止的时间的Direct ToF方式来创建距离信息的结构。但是，电磁波检测装置10并不限于这样的结构。例如，电磁波检测装置10可以通过以一定的周期照射电磁波，并根据照射的电磁波与返回的电磁波之间的相位差来间接地测量到返回为止的时间的Flash ToF方式来创建距离信息。另外，电磁波检测装置10也可以通过其他的ToF方式例如Phased ToF方式来创建距离信息。
另外，控制部14控制照射源15、行进方向改变部16、行进部20、第一检测部17、以及第二检测部18，来重复获取图像信息以及距离信息。以下使用图7的时序图对用于重复获取图像信息以及距离信息的各部位的控制进行说明。
在时刻t1，控制部14使第二检测部18开始用于生成第一帧的图像信息的电磁波检测。需要说明的是，在时刻t1，行进部20的所有像素px处于第二状态，入射到前段光学系统19的电磁波到达第二检测部18(参考图8)。另外，如图7所示，在时刻t1，控制部14使行进部20中的第一像素px开始从第二状态向第一状态切换(参考“行进部第一像素驱动信号”栏)。需要说明的是，在时刻t1，其他的所有像素px保持第二状态(参考“行进部第二像素状态”、“行进部第N像素状态”栏)。
在行进部20的第一像素px从第二状态向第一状态切换完成的时刻t2(参考“行进部第一像素状态”栏)，控制部14使照射源15发射电磁波(参考“电磁波发射时刻”栏)。需要说明的是，在时刻t2，使行进部20的第一像素px从第二状态(参考图8)向第一状态切换，入射到前段光学系统19并在行进部20的第一像素px中成像的电磁波在第二方向d2之后向第一方向d1行进(参考图9)。
如图7所示，另外，在时刻t2，控制部14使第一检测部17检测电磁波(参考“第二检测部检测时刻”栏)。需要说明的是，从照射源15照射电磁波开始至到达电磁波检测装置10所花费的时间与用于生成图像信息的检测时间相比极短，例如是纳秒级。因此，第一检测部17对电磁波的检测在被视为时刻t2的微小的时间内结束。控制部14基于在时刻t2发送至行进方向改变部16的驱动信号，通过计算与行进部20的第一像素px对应的照射位置的距离信息来获取该距离信息。
进一步地，在时刻t2，控制部14使行进部20中的第一像素px开始从第一状态向第二状态切换(参考“行进部第一像素驱动信号”栏)。这样，由于将行进部20中的第一像素px从第一状态切换到第二状态，因此控制部14能够再次使与第一像素px对应的第二检测部18中的检测元件检测电磁波(可视光)。
在行进部20的第一像素px从第一状态向第二状态切换完成的时刻t3(参考“行进部第一像素状态”栏)，控制部14使行进部20中的第二像素px开始从第二状态向第一状态切换(参考“行进部第二像素驱动信号”栏)。需要说明的是，在时刻t3，其他的所有像素px保持第二状态(参考“行进部第一像素状态”、“行进部第N像素状态”栏)。
在行进部20的第二像素px从第二状态向第一状态切换完成的时刻t4(参考“行进部第二像素状态”栏)，控制部14使照射源15发射电磁波(参考“电磁波发射时刻”栏)。需要说明的是，在时刻t4，使行进部20的第二像素px从第二状态向第一状态切换，入射到前段光学系统19并在行进部20的第二像素px中成像的电磁波在第二方向d2之后向第一方向d1行进。另外，在时刻t4，控制部14使第一检测部17检测电磁波(参考“第二检测部检测时刻”栏)。控制部14基于在时刻t4发送至行进方向改变部16的驱动信号，通过计算与行进部20的第二像素px对应的照射位置的距离信息来获取该距离信息。
进一步地，在时刻t4，控制部14使行进部20中的第二像素px开始从第一状态向第二状态切换(参考“行进部第二像素驱动信号”栏)。这样，由于将行进部20中的第二像素px从第一状态向第二状态切换，因此控制部14能够再次使与第二像素px对应的第二检测部18的检测元件检测电磁波(可视光)。
之后，对于从行进部20中的第三像素px到第N像素px，控制部14以与第一像素px同样的方式，依次地进行从第二状态向第一状态的切换，从第一状态向第二状态的切换，来获取第一帧的图像信息，并且获取与各像素px对应的照射位置的距离信息。
需要说明的是，如上所述，在第(M－1)像素px从第一状态向第二状态切换完成的时刻控制部14执行控制以使第M像素px开始从第二状态向第一状态切换的结构中，行进部20在用于生成1帧的图像信息的时间Timg内能够将Timg/Tdis数量的像素px从第二状态切换到第一状态。
即，控制部14能够在时间Timg内生成Timg/Tdis数量的像素px的距离信息。需要说明的是，M是满足2≤M≤N的整数。另外，Tdis是将行进部20的像素px从第二状态切换到第一状态所花费的时间与从第一状态返回到第二状态所花费的时间进行合计的时间。即，Tdis是任意的像素px按第二状态、第一状态、以及第二状态的顺序切换所需要的时间。在第一实施方式中，例如，Timg是1/60秒，Tdis是1/3000秒。
在Timg/Tdis的值比行进部20的像素数量少的结构中，控制部14在时间Timg内不能够切换行进部20中的所有像素px。因此，控制部14在生成1帧的图像信息的过程中，不能够生成与该1帧的图像信息相对应的距离信息。即，控制部14在生成1帧的图像信息的过程中，只能生成与小于该1帧的图像信息的帧(例如，0.5帧)相对应的距离信息。
因此，在Timg/Tdis的值比行进部20的像素数量少的结构中，控制部14在行进部20的所有像素px中选择Timg/Tdis的数量以下的像素px作为切换对象。进一步地，控制部14将驱动信号发送至行进方向改变部16，以在将选择为切换对象的各像素px切换到第一状态的时刻，将电磁波照射到与该各像素px对应的照射区域内的区域。
或者，在Timg/Tdis的值比行进部20的像素数量少的结构中，控制部14可以进行控制以在用于生成多个帧(P个帧：P是满足P＞1的正数)的图像信息的时间P×Timg内结束行进部20中的所有像素px的切换。进一步地，控制部14将驱动信号发送至行进方向改变部16，以在行进部20的各像素px的切换时刻将电磁波照射到与该各像素px对应的照射区域内的区域。
或者，在Timg/Tdis的值比行进部20的像素数量少的结构中，控制部14将行进部20中的所有像素px分为Timg/Tdis数量以下的组，针对每组将像素px一起进行切换。进一步地，控制部14可以将驱动信号发送至行进方向改变部16，以在代表各组的位置(例如，各组的中心位置)的像素px的切换时刻将电磁波照射到与该像素px对应的照射区域内的区域。
或者，在Timg/Tdis的值比行进部20的像素数量少的结构中，控制部14将行进部20中的所有像素px分为Timg/Tdis数量以下的组，针对每组仅切换任意的像素px。进一步地，控制部14可以将驱动信号发送至行进方向改变部16，以在切换的该像素px的切换时刻将电磁波照射到与该像素px对应的照射区域内的区域。
需要说明的是，在拍摄1帧的图像的时间中，与切换到第一状态的行进部20的像素px对应的第二检测部18中的检测元件在将该像素px切换到第一状态期间不能受光。因此，第二检测部18的该检测元件的信号强度降低。因此，通过将增益乘以第二检测部18的该检测元件的信号值，控制部14可以补偿降低的信号强度。需要说明的是，拍摄1帧的图像的时间相当于第二检测部18检测电磁波以生成1帧的图像信息的时间。
需要说明的是，通过行进方向改变部16进行的扫描速度比像素px的切换速度更高速，即，在Tscn比Tdis更短的结构中，在第(M－1)像素px从第二状态向第一状态切换完成的时刻之前，控制部14可以使第M像素px开始从第二状态向第一状态切换。
需要说明的是，Tscn是从照射源15发射并由行进方向改变部16反射的电磁波的照射位置从某个照射位置改变到下一个照射位置所需的时间，或者是从某个照射位置改变到相邻的照射位置所需的时间。与任意的像素px从第一状态向第二状态切换完成后控制其他的像素向第一状态切换相比，这样的结构能够在短时间内生成更多的像素的距离信息。
在从时刻t1经过用于生成第一帧图像信息的时间Timg后的t5(参考“第一检测部检测时刻”栏)，控制部14开始用于生成第二帧的图像信息的电磁波检测。另外，控制部14在从时刻t1到t5中由第二检测部18结束电磁波的检测之后，获取基于在这期间检测到的电磁波的第一帧的图像信息。之后，控制部14以与在从时刻t1到t5之间进行的控制同样的方式，对用于获取图像信息以及用于获取距离信息的照射源15、行进方向改变部16、第一检测部17、第二检测部18以及行进部20进行控制。
另外，控制部14基于在第一检测部17检测出反射波时在行进部20中使反射波行进到第一检测部17中的行进元件的位置，来更新与发射方向有关的信息。在第一实施方式中，控制部14更新第一关联信息作为与发射方向有关的信息的更新。需要说明的是，如上所述，在发射方向为固定的结构中，控制部14只要更新发射方向即可。以下，对在第一实施方式中的第一关联信息的更新进行详细的说明。
如图10所示，控制部14为了更新与发射方向相关的信息，使行进部20中的规定的位置的像素px切换到第一状态(参考符号“s1”)，并使其他位置的像素px切换到第二状态(参考符号“s2”)。需要说明的是，在图10中，为了简化附图，虽然由5行6列的30个像素px构成行进部20，但像素px的数量并不限定于30个。
需要说明的是，在第一关联信息是发射方向相对于驱动信号的函数，或者是驱动信号相对于发射方向的函数的结构中，规定的位置的像素px可以是至少一个。另外，在第一关联信息是分别与各驱动信号的多个信号值相对应的发射方向，或者是分别与各发射方向相对应的驱动信号的多个信号值的结构中，规定的位置的像素px可以是多个。需要说明的是，规定的位置的像素px的数量越多，更新精度越高。另外，在规定的位置的像素px是多个的结构中，多个像素px可以彼此分离。例如，多个像素px以规定的像素间隔以上的间隔分离。
另外，控制部14将信号值是从基准时间起的经过时间的函数的驱动信号发送至行进方向改变部16。控制部14将连续的电磁波发射信号发送至照射源15。
通过行进方向改变部16根据信号值是经过时间的函数的驱动信号使反射面倾斜，从而发射方向根据经过时间而变化。例如，通过电磁波的反射波以与经过时间对应的规定的轨迹lo来扫描行进部20的像素px。在电磁波的反射波入射到第二状态的像素px的期间，第一检测部17不检测电磁波。另一方面，当电磁波的反射波入射到第一状态的像素px时，第一检测部17检测电磁波。
控制部14基于第一关联信息以及第二关联信息来计算与处于第一状态的规定的位置的像素px相对应的驱动信号的信号值。进一步地，控制部14基于经过时间函数的驱动信号来计算使与处于第一状态的规定的位置的像素px相对应的驱动信号的信号值一致的从基准时间起的推定的经过时间。
控制部14观察从第一检测部17检测反射波的基准时间起的实际的经过时间。当相对于驱动信号的推定的电磁波发射方向与实际的发射方向一致时，反射波入射到处于第一状态的规定的位置的像素px的推定的经过时间与实际的经过时间一致。另一方面，如图11所示，当推定的发射方向与实际的发射方向存在差异时，推定的经过时间(参考虚线)与实际的经过时间(参考实线)之间也产生差异。控制部14使针对每个规定的位置的像素px的推定的经过时间与最近的实际的经过时间组合。
控制部14基于与实际的经过时间组合的推定的经过时间，在实际的经过时间，确定处于第一状态并且反射光入射的像素px。另外，控制部14使用确定的像素px的规定的位置并基于第二关联信息，来计算发射方向。另外，控制部14使用实际的经过时间并基于驱动信号的函数，来计算驱动信号的信号值。控制部14基于计算出的信号值以及发射方向来更新第一关联信息。
例如，第一关联信息是电磁波的发射方向相对于驱动信号的函数的结构中，控制部14基于组合，来更新该函数。控制部14将更新了的函数作为驱动信号以及电磁波的发射方向的最新的关联性，即，作为最新的第一关联信息存储在存储部13中。
另外，例如，第一关联信息是分别与各驱动信号的信号值相对应的发射方向的结构中，控制部14将存储在存储部13中的各组合中的发射方向作为与该发射方向组合的各信号值分别相对应的发射方向，即，作为最新的第一关联信息存储在存储部13中。
另外，例如，在第一关联信息是分别与各发射方向相对应的驱动信号的信号值的结构中，控制部14将存储在存储部13中的各组合中的各信号值作为与该各信号值组合的发射方向分别相对应的最新的信号值，即，作为最新的第一关联信息存储在存储部13中。
接下来，使用图12的流程图对在第一实施方式中控制部14执行的第一关联信息的更新处理进行说明。例如，当电磁波检测装置10的输入设备检测到执行第一关联信息的更新处理的操作时，控制部14开始第一关联信息的更新处理。
在步骤S100中，控制部14将行进部20的规定的位置的像素px切换到第一状态。如果控制部14将规定的像素px切换到第一状态，则流程进入步骤S101。
在步骤S101中，控制部14从存储部13读取第一关联信息以及第二关联信息。如果控制部14读取了第一关联信息以及第二关联信息，则流程进入步骤S102。
在步骤S102中，控制部14基于在步骤S101中读取的信号值相对于经过时间的函数以及第一关联信息和第二关联信息，来计算在步骤S100中反射波到达切换为第一状态的规定的像素px的从基准时间起的推定的经过时间。如果控制部14计算出推定的经过时间，则流程进入步骤S103。
在步骤S103中，控制部14将与经过时间对应的函数的驱动信号发送至行进方向改变部16。或者，控制部14将连续的电磁波发射信号发送至照射源15。如果控制部14发送了驱动信号以及电磁波发射信号，则流程进入步骤S104。
在步骤S104中，控制部14驱动第一检测部17。控制部14通过驱动第一检测部17，来获取从检测反射波时的基准时间起的实际的经过时间。如果控制部14获取了实际的经过时间，则流程进入步骤S105。
在步骤S105中，控制部14针对切换到第一状态的各像素px，使最近的实际的经过时间与在步骤S102推定的经过时间组合。如果控制部14组合了经过时间，则流程进入步骤S106。
在步骤S106中，控制部14计算分别与步骤S105中组合的推定的经过时间以及实际的经过时间相对应的发射方向以及驱动信号的信号值。如果控制部14计算出信号值以及发射方向，则流程进入步骤S107。
在步骤S107中，控制部14使用在步骤S106中计算出的信号值以及发射方向的组合，来更新存储在存储部13中的第一关联信息。控制部14在更新第一关联信息之后，结束第一关联信息的更新处理。
像上述这样的结构的第一实施方式的电磁波检测装置10基于在第一检测部17检测所述反射波时使反射波行进到第一检测部17中的像素px的规定的位置，来更新与发射方向有关的信息。通过这样的结构，第一实施方式的电磁波检测装置10能够减小通过驱动信号的各信号值推定的反射面的方向与实际的反射面的方向之间的差异。因此，第一实施方式的电磁波检测装置10能够减小实际的电磁波的发射方向与通过驱动信号的各信号值推定的电磁波的发射方向之间的差异。需要说明的是，这样的结构以及效果也与后述的第二实施方式的电磁波检测装置10相同。
特别地，第一实施方式的电磁波检测装置10基于每个规定的位置的像素px推定的经过时间与最近的实际的经过时间的组合，来确定当第一检测部17检测反射波时使反射波行进到第一检测部17中的像素px的规定的位置。通过这样的结构，在第一实施方式的电磁波检测装置10中，在通过反射波对行进部20进行一次扫描的过程中，能够将多个像素px用于更新与发射方向有关的信息。因此，在使用多个像素px来更新与发射方向有关的信息的结构中，第一实施方式的电磁波检测装置10能够使与用于更新的所有像素px有关的反射波的检测时间缩短。
另外，第一实施方式的电磁波检测装置10能够使配置于行进部20的作用面as的每个像素px在第一状态与第二状态之间切换。通过这样的结构，第一实施方式的电磁波检测装置10能够使前段光学系统19的光轴与在第一状态下电磁波行进的第一方向d1上的第一后段光学系统21的光轴对准，并与在第二状态下电磁波行进的第二方向d2上的第二后段光学系统22的光轴对准。因此，第一实施方式的电磁波检测装置10通过将行进部20的像素px切换为第一状态以及第二状态中的任一状态，从而能够减小第一检测部17以及第二检测部18的光轴的偏差。由此，第一实施方式的电磁波检测装置10能够减小第一检测部17以及第二检测部18中的检测轴的偏差。因此，第一实施方式的电磁波检测装置10能够减小通过第一检测部17以及第二检测部18检测的检测结果中的坐标系的偏差。需要说明的是，这样的结构以及效果也与后述的第二实施方式的电磁波检测装置10相同。
另外，第一实施方式的电磁波检测装置10将行进部20中的一部分像素px切换到第一状态，并且将另一部分像素px切换到第二状态。因此，第一实施方式的电磁波检测装置10使第一检测部17检测一部分像素px中的电磁波，同时使第二检测部18检测另一部分像素px中的电磁波。由此，第一实施方式的电磁波检测装置10能够同时获取与不同区域有关的信息。需要说明的是，这样的结构以及效果也与后述的第二实施方式的电磁波检测装置10相同。
另外，第一实施方式的电磁波检测装置10能够将行进部20中的同一像素px在第一状态之后切换到第二状态。在这样的结构中，在行进部20中的像素px为第一状态下第一检测部17能够检测电磁波，在这之后，在该像素px为第二状态下第二检测部18能够检测电磁波。因此，第一实施方式的电磁波检测装置10能够减小行进部20中的同一像素px引起的第一检测部17以及第二检测部18的电磁波的检测时刻的偏差。由此，第一实施方式的电磁波检测装置10能够减小与同一区域有关的信息的获取时刻的偏差。需要说明的是，这样的结构以及效果也与后述的第二实施方式的电磁波检测装置10相同。
另外，第一实施方式的电磁波检测装置10具有照射源15。因此，第一实施方式的电磁波检测装置10通过将电磁波照射到对象ob上，从而使第一检测部17作为有源传感器发挥功能。另外，第一实施方式的电磁波检测装置10能够使第二检测部18作为无源传感器发挥功能。在这样的结构中，第一实施方式的电磁波检测装置10通过将行进部20中的像素px中的至少一个在第一状态之后切换为第二状态，从而能够使有源传感器以及无源传感器两者获取与同一区域相关的信息。另外，在这样的结构中，第一实施方式的电磁波检测装置10通过将行进部20中的一部分像素px切换为第一状态，并且将另一部分像素px切换为第二状态，从而能够划分有源传感器获取信息的区域和无源传感器获取信息的区域。需要说明的是，这样的结构以及效果也与后述的第二实施方式的电磁波检测装置10相同。
另外，第一实施方式的电磁波检测装置10具有行进方向改变部16。通过这样的结构，第一实施方式的电磁波检测装置10能够使用照射源15发射的电磁波来扫描对象ob。即，第一实施方式的电磁波检测装置10使第一检测部17与行进方向改变部16协同作为扫描型有源传感器发挥功能。因此，第一实施方式的电磁波检测装置10由第一检测部17根据一维方向或者二维方向的位置来获取信息。需要说明的是，这样的结构以及效果也与后述的第二实施方式的电磁波检测装置10相同。
接下来，对本公开的第二实施方式的电磁波检测装置进行说明。在第二实施方式中与发射方向有关的信息的更新方法与第一实施方式不同。以下，以与第一实施方式不同的点作为中心对第二实施方式进行说明。需要说明的是，对于具有与第一实施方式相同的结构的部位赋予相同的符号。
第二实施方式的电磁波检测装置10与第一实施方式的电磁波检测装置10同样地，构成为具有照射部11、电磁波检测部12、存储部13、以及控制部14。第二实施方式中的照射部11、电磁波检测部12、以及存储部13的结构与功能与第一实施方式相同。第二实施方式中的控制部14的结构与第一实施方式相同。第二实施方式中的除了控制部14更新与发射方向有关的信息以外的功能与第一实施方式相同。以下，对第二实施方式的控制部14执行的与发射方向有关的信息的更新功能进行详细的说明。
在第二实施方式中，控制部14基于在行进部20中使反射波行进到第一检测部17中的行进元件的位置，来更新与发射方向有关的信息。在第二实施方式中，控制部14更新第一关联信息作为与发射方向有关的信息。需要说明的是，与第一实施方式相似地，在发射方向为固定的结构中，控制部14只要更新发射方向即可。
在第二实施方式中，控制部14与第一实施方式不同，为了更新与发射方向相关的信息，使行进部20中的规定的位置的单一的像素px切换到第一状态，使其他位置的像素px切换到第二状态。
另外，在第二实施方式中，控制部14与第一实施方式同样地，将信号值是从基准时间起的经过时间的函数的驱动信号发送至行进方向改变部16。控制部14将连续的电磁波发射信号发送至照射源15。
在第二实施方式中，控制部14与第一实施方式同样地，观察从第一检测部17检测出反射波的基准时间起的实际的经过时间。在第二实施方式中，控制部14与第一实施方式同样地，使用实际的经过时间，并基于驱动信号的函数，来计算驱动信号的信号值。另外，在第二实施方式中，控制部14与第一实施方式同样地，使用切换为第一状态的像素px的规定的位置，并基于第二关联信息，来计算发射方向。
在第二实施方式中，控制部14与第一实施方式不同，使计算出的驱动信号的信号值以及发射方向组合，存储在存储部13中。在第二实施方式中，在使用多个像素px来更新第一关联信息的结构中，控制部14与第一实施方式不同，将又一其他位置的单一的像素px切换到第一状态，并将其他的像素px切换到第二状态，来计算相对于该其他位置的单一的像素px的驱动信号的信号值以及发射方向。控制部14使该驱动信号的信号值以及发射方向组合，存储在存储部13中。之后，控制部14以与用于更新第一关联信息的像素px的数量相同的次数进行同样的控制，使驱动信号的信号值以及发射方向组合，存储在存储部13中。
控制部14基于组合地存储在存储部13中的驱动信号以及发射方向来更新第一关联信息。需要说明的是，第一关联信息的更新方法与第一实施方式相同。
接下来，使用图13的流程图对在第二实施方式中控制部14执行的第一关联信息的更新处理进行说明。例如，当电磁波检测装置10的输入设备检测到执行第一关联信息的更新处理的操作时，控制部14开始第一关联信息的更新处理。
在步骤S200中，控制部14将行进部20的规定的位置的单一的像素px切换到第一状态。如果控制部14将规定的位置的单一的像素px切换到第一状态，则流程进入步骤S201。
在步骤S201中，控制部14从存储部13读取第二关联信息。如果控制部14读取了第二关联信息，则流程进入步骤S202。
在步骤S202中，控制部14使用在步骤S200中切换为第一状态的单一的像素px的规定的位置，并基于在步骤S201中读取的第二关联信息，来计算发射方向。如果控制部14计算出发射方向，则流程进入步骤S203。
在步骤S203中，控制部14将是经过时间对应的函数的驱动信号发送至行进方向改变部16。另外，控制部14将连续的电磁波发射信号发送至照射源15。如果控制部14发送了驱动信号以及电磁波发射信号，则流程进入步骤S204。
在步骤S204中，控制部14驱动第一检测部17。控制部14通过驱动第一检测部17，来获取从检测反射波时的基准时间起的实际的经过时间。如果控制部14获取了实际的经过时间，则流程进入步骤S205。
在步骤S205中，控制部14使用在步骤S204中获取的实际的经过时间，并基于驱动信号的函数，来计算驱动信号的信号值。如果控制部14计算出驱动信号的信号值，则流程进入步骤S206。
在步骤S206中，控制部14使在步骤S202中计算出的发射方向与在步骤S205中计算出的驱动信号的信号值组合，存储在存储部13中。如果控制部14使存储了计算出的发射方向以及信号值，则流程进入步骤S207。
在步骤S207中，控制部14判别在步骤S206中存储的组合的数量是否在规定的数量以上。当组合不在规定的数量以上时，流程进入步骤S208。当组合在规定的数量以上时，则流程进入步骤S209。
在步骤S208中，控制部14将切换为第一状态的像素px的规定的位置改变到还未切换的位置。如果控制部14改变了规定的位置，则流程返回到步骤S200。
在步骤S209中，控制部14使用在步骤S206中计算出的信号值以及发射方向的组合，来更新存储在存储部13中的第一关联信息。控制部14在更新第一关联信息之后，结束第一关联信息的更新处理。
像上述这样的结构的第二实施方式的电磁波检测装置10在通过反射波对行进部20进行一次扫描的过程中，将单一的像素px切换到第一方向d1。通过这样的结构，即使在推定的发射方向以及实际的发射方向的差异比较大的情况下，第二实施方式的电磁波检测装置10也能够将检测反射波时使反射波行进到第一检测部17中的像素px的位置以及驱动信号准确地组合。因此，即使在推定的发射方向以及实际的发射方向的差异比较大的情况下，第二实施方式的电磁波检测装置10也能够高精度地减小推定的发射方向以及实际的发射方向的差异。
虽然根据各附图和实施例对本发明进行了说明，但是应该注意的是本领域技术人员很容易基于本公开进行各种变形以及修改。因此，应该注意，这些变形以及修改包括在本发明的范围内。
例如，在第一实施方式以及第二实施方式中，在从照射部11的电磁波的发射方向为固定的结构中，通过像下面这样的变形例的结构，可以更新与发射方向有关的信息。在该变形例中，控制部14连续地发射电磁波，并且依次使行进部20的像素px切换为第一状态。控制部14使用在第一检测部17检测反射波时切换为第一状态的像素px的位置，并基于第二关联信息，来计算发射方向。控制部14使用计算出的发射方向，来更新与存储在存储部13中的发射方向有关的信息。
另外，在第一实施方式以及第二实施方式中，行进部20虽然能够将入射到作用面as上的电磁波的行进方向切换为第一方向d1以及第二方向d2的两个方向，但也可以不向两个方向中的任一方向切换，可以向三个以上的方向切换。
另外，在第一实施方式以及第二实施方式中，行进部20的第一状态以及第二状态可以分别是沿第一方向d1反射入射到作用面as的电磁波的第一反射状态，以及沿第二方向d2反射入射到作用面as的电磁波的第二反射状态，也可以是其他的方式。
例如，第二状态可以是使入射到作用面as的电磁波透过并沿第二方向d2行进的透过状态。进一步具体来说，行进部20在每个像素px中可以包括具有反射电磁波的反射面的开闭器。在这样的结构的行进部20中，通过开闭每个像素px的开闭器，能够使每个像素px切换第一反射状态以及作为第二状态的透过状态。作为这种结构的行进部20能列举出例如包括可开闭的多个开闭器呈阵列状排列的MEMS开闭器的行进部。另外，行进部20能列举出包括能够根据液晶定向在反射电磁波的反射状态与透过电磁波的透过状态之间切换的液晶开闭器的行进部。在这样的结构的行进部20中，通过切换每个像素px的液晶定向，能够使每个像素px切换作为第一状态的反射状态以及作为第二状态的透过状态。
另外，在第一实施方式以及第二实施方式中，电磁波检测装置10具有第一检测部17作为有源传感器的一部分发挥功能，第二检测部18是无源传感器的结构。但是，电磁波检测装置10并不限于这样的结构。例如，电磁波检测装置10即使是第一检测部17以及第二检测部18都是无源传感器的结构，即使都是作为有源传感器的一部分发挥功能的结构，也能获得与第一实施方式相似的效果。
另外，在第一实施方式以及第二实施方式中，电磁波检测装置10虽然构成为包括照射源15、行进方向改变部16、存储部13、控制部14、以及电磁波检测部12，但也可以构成为包括这些中的至少一个。另外，通过电磁波检测装置10至少包括电磁波检测部12，其他的装置包括其他，可以构成电磁波检测系统。
另外，在第一实施方式以及第二实施方式中，电磁波检测装置10是通过由行进方向改变部16扫描从照射源15发射的波束状的电磁波，从而使第一检测部17与行进方向改变部16协同作为扫描型有源传感器发挥功能的结构。但是，电磁波检测装置10并不限于这样的结构。例如，电磁波检测装置10即使是不具有行进方向改变部16，从照射源15发射发射状的电磁波，并不扫描地获取信息的结构，也能获得与第一实施方式以及第二实施方式相似的效果。
需要说明的是，这里，应当注意的是，公开了一种具有执行特定的功能的各种模块和/或单元的系统，示意性地示出了这些模块以及单元以用于简略地说明其功能性，并不一定示出特定的硬件和/或软件。在该意义上，这些模块，单元，其他的组元只要是以实质地执行这里所描述的特定的功能的方式安装的硬件和/或软件即可。不同的组元的各种功能可以是硬件和/或软件任何的组合或分离，并且能够单独使用或者通过任意的组合来使用。另外，包括但不限于这些键盘、显示器、触屏、定点设备等的输入/输出或者I/O设备或者用户接口能够直接或者经由中间的I/O控制器与系统连接。这样，本公开内容的各个方面能够以多个不同的方式实施，这些方式包括在本公开的内容的范围内。
非暂时性机器可读存储介质还能够被配置为包括固态存储器，磁盘以及光盘类别的计算机可读有形载体(介质)。这种介质中存储有用于使处理器执行本发明所公开的技术的程序模块等计算机指令的适当的集合，数据结构。在计算机可读存储介质中包括：具有一个以上布线的电连接、磁盘存储介质、磁带盒、磁带、其他磁性以及光学存储装置(例如，CD(CompactDisk)、镭射盘(注册商标)、DVD(DigitalVersatileDisc)、软盘以及蓝光盘)、便携式计算机磁盘、RAM(RandomAccessMemory)、ROM(ReadOnlyMemory)、EPROM、EEPROM或者快闪存储器等可擦除可编程ROM或者能够存储信息的其他的有形存储介质或者这些的任意组合。存储器能够设置在处理器/处理单元的内部和/或外部。如这里所用，术语“存储器”意指任何类型的长期存储用，短期存储用，易失性，非易失性的其他的存储器，并不限于存储特定种类，存储器数量或存储的介质的类型。
符号的说明
10 电磁波检测装置
11 照射部
12 电磁波检测部
13 存储部
14 控制部
15 照射源
16 行进方向改变部
17 第一检测部
18 第二检测部
19 前段光学系统
20 行进部
21 第一后段光学系统
22 第二后段光学系统
as 作用面
d1 第一方向
d2 第二方向
ob 对象
px、px1、px2 像素。

Claims (14)

1.一种电磁波检测装置，包括：
发射电磁波的照射部；
第一检测部，检测照射于对象的所述电磁波的反射波；
行进部，具有多个行进元件，所述多个行进元件根据照射于所述对象的所述电磁波的照射位置，在使所述反射波向所述第一检测部行进的第一状态和不使所述反射波向所述第一检测部行进的第二状态之间切换；
存储部，存储与所述电磁波的发射方向有关的信息；以及
控制部，基于当所述第一检测部检测出所述反射波时使所述反射波行进到所述第一检测部的所述第一状态的行进元件的位置，来更新与所述发射方向有关的信息，
所述行进部根据所述照射位置，将多个所述行进元件中的一部分行进元件设为所述第一状态，将其他的至少一部分的所述行进元件设为所述第二状态。
2.如权利要求1所述的电磁波检测装置，其特征在于，
所述照射部通过根据驱动信号来改变所述电磁波的发射方向，从而改变照射位置，并将所述电磁波照射到所述对象上，
所述存储部存储将所述驱动信号以及所述发射方向相关联的第一关联信息作为与所述发射方向有关的信息，
所述控制部基于当所述第一检测部检测出所述反射波时使所述反射波行进到所述第一检测部的行进元件的位置，以及基于当所述第一检测部检测出所述反射波时的所述驱动信号，来更新所述第一关联信息作为与所述发射方向有关的信息。
3.如权利要求2所述的电磁波检测装置，其特征在于，
所述存储部包括将所述发射方向与沿该发射方向发射的电磁波的反射波入射的行进元件的位置相关联的第二关联信息，
所述控制部基于所述发射方向和当所述第一检测部检测出所述反射波时的所述驱动信号来更新所述第一关联信息，所述发射方向基于所述第二关联信息以及当所述第一检测部检测出所述反射波时使所述反射波行进到所述第一检测部的行进元件的位置。
4.如权利要求2或3所述的电磁波检测装置，其特征在于，
所述控制部更新所述第一关联信息中的所述驱动信号以及所述发射方向的关联性作为所述第一关联信息的更新。
5.如权利要求2或3所述的电磁波检测装置，其特征在于，
所述控制部更新示出所述第一关联信息中的所述驱动信号以及所述发射方向的相关性的函数作为所述第一关联信息的更新。
6.如权利要求2或3所述的电磁波检测装置，其特征在于，
所述第一关联信息是所述驱动信号的多个信号值以及分别与所述多个信号值的每个信号值相对应的所述发射方向，
所述控制部更新所述第一关联信息中的所述驱动信号的多个信号值与所述发射方向之间的对应关系作为所述第一关联信息的更新。
7.如权利要求6所述的电磁波检测装置，其特征在于，
所述控制部更新所述第一关联信息中的所述驱动信号的多个信号值作为所述第一关联信息的更新。
8.如权利要求2或3所述的电磁波检测装置，其特征在于，
所述控制部更新所述第一关联信息中的所述发射方向作为所述第一关联信息的更新。
9.如权利要求2或3所述的电磁波检测装置，其特征在于，
所述照射部具有反射面，所述反射面根据所述驱动信号使发射的电磁波改变方向并反射，从而改变照射位置地照射到所述对象上。
10.如权利要求1所述的电磁波检测装置，其特征在于，
所述照射部通过根据驱动信号来改变所述电磁波的发射方向，从而改变照射位置，并将所述电磁波照射到所述对象上，
与所述发射方向有关的信息包含第一关联信息、第二关联信息及第三关联信息，
所述第一关联信息是将所述驱动信号与对应于该驱动信号的所述电磁波的发射方向相关联的信息，
所述第二关联信息是将所述电磁波的发射方向与所述反射波入射的所述行进元件的位置相关联的信息，
所述第三关联信息是将所述电磁波的发射方向与沿该发射方向发射的所述电磁波的照射区域内的照射位置相关联的信息。
11.如权利要求1所述的电磁波检测装置，其特征在于，
所述控制部将所述多个行进元件中的至少一个行进元件切换到所述第一状态，并将切换到所述第一状态的行进元件的位置视为当所述第一检测部检测出所述反射波时使所述反射波行进到所述第一检测部的行进元件的位置。
12.如权利要求1所述的电磁波检测装置，其特征在于，
还包括第二检测部，所述第二检测部相对于所述行进部配置在第二方向上，检测入射的所述反射波。
13.一种存储有控制程序的非易失性计算机可读存储介质，所述控制程序使装置执行如下过程：
发射电磁波；
由第一检测部检测照射于对象的所述电磁波的反射波；
使多个行进元件根据照射于所述对象的所述电磁波的照射位置，在使所述反射波向所述第一检测部行进的第一状态和不使所述反射波向所述第一检测部行进的第二状态之间切换；
存储与所述电磁波的发射方向有关的信息；
基于当所述第一检测部检测出所述反射波时使所述反射波行进到所述第一检测部的所述第一状态的行进元件的位置，来更新与所述发射方向有关的信息，
根据所述照射位置，将多个所述行进元件中的一部分行进元件设为所述第一状态，将其他的至少一部分的所述行进元件设为所述第二状态。
14.一种电磁波检测系统，包括：
发射电磁波的照射部；
第一检测部，检测照射于对象的所述电磁波的反射波；
行进部，具有多个行进元件，所述多个行进元件根据照射于所述对象的所述电磁波的照射位置，在使所述反射波向所述第一检测部行进的第一状态和不使所述反射波向所述第一检测部行进的第二状态之间切换；
存储部，存储与所述电磁波的发射方向有关的信息；以及
控制部，基于当所述第一检测部检测出所述反射波时使所述反射波行进到所述第一检测部的所述第一状态的行进元件的位置，来更新与所述发射方向有关的信息，
所述行进部根据所述照射位置，将多个所述行进元件中的一部分行进元件设为所述第一状态，将其他的至少一部分的所述行进元件设为所述第二状态。
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