JP2018157274A - 放射線画像撮影装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】動画撮影等を行う際に、生成された放射線画像に対する横引きノイズの影響を低減しつつ、ノイズ検出回路の信号値のオフセット成分の変動の影響も低減することが可能な放射線画像撮影装置を提供する。【解決手段】放射線画像撮影装置1は、先行するフレーム画像の画像データの読み出しに伴いノイズ検出部が出力したデータに基づいてオフセット成分を推定する推定手段と、当該一のフレーム画像の画像データの読み出しに伴いノイズ検出部が出力したデータと、先行するフレーム画像の画像データの読み出しに伴いノイズ検出部が出力したデータに基づいて推定手段が推定したオフセット成分と、に基づいてノイズデータを算出するノイズデータ算出手段と、当該一のフレーム画像の画像データから、当該一のフレーム画像の画像データの読み出しに伴いノイズデータ算出手段が算出したノイズデータを減算する画像補正手段と、を備える。【選択図】図17

Description

本発明は、放射線画像撮影装置に関する。
照射されたX線等の放射線の線量に応じて検出素子で電荷を発生させて電気信号に変換するいわゆる直接型の放射線画像撮影装置や、照射された放射線をシンチレーター等で波長の異なる電磁波(可視光等)に変換した後、フォトダイオード等の光電変換素子で変換した電磁波のエネルギーに応じた電荷を発生させて電気信号に変換するいわゆる間接型の放射線画像撮影装置が種々開発されている。
なお、本発明では、直接型の放射線画像撮影装置における検出素子や、間接型の放射線画像撮影装置における光電変換素子を、併せて放射線検出素子という。
このような放射線画像撮影装置では、例えば図2に示すように、通常、センサー基板4の放射線検出部P(図中の一点鎖線内の領域)上に複数の走査線5と複数の信号線6とが互いに交差するように配設されており、走査線5と信号線6で区画された各小領域rには、それぞれ放射線検出素子7がそれぞれ設けられている。このように、各放射線検出素子7が二次元状(マトリクス状)に配列されている。また、各放射線検出素子7にはそれぞれ、各放射線検出素子7に逆バイアス電圧を印加するためのバイアス線9が接続されており、各バイアス線9は結線10に接続されている。
そして、各放射線検出素子7からの画像データの読み出し処理の際には、図3に示すゲートドライバー15bから走査線5の各ラインL1〜Lxに順次オン電圧が印加され、オン状態とされたスイッチ素子である薄膜トランジスター(Thin Film Transistor。以下TFTという。)8を介して放射線検出素子7から電荷が信号線6に放出され、各読み出し回路17で画像データが読み出される。
ところで、バイアス線9や結線10と信号線6とが交差する部分等には、それらの短絡を防止するために、通常、絶縁層が設けられている。そのため、それらが交差する部分には、バイアス線9や結線10と信号線6とその間の絶縁層でコンデンサー状の構造が形成されている。
上記のようなバイアス線9や結線10と信号線6との交差部分(例えば図2のAの部分参照)は放射線検出部P全体に亘って多数形成されている。そして、結線10やバイアス線9を介して各放射線検出素子7に印加される逆バイアス電圧Vbiasには、図21に示すように、通常、ノイズ(ゆらぎ)が生じている。以下、逆バイアス電圧Vbias等の電圧に生じているノイズを電圧ノイズという。
一方、信号線6には基準電圧V0が印加されており、バイアス線9や結線10と信号線6との交差部分には、その寄生容量のため、信号線6の基準電圧V0とバイアス線9や結線10の逆バイアス電圧Vbiasとの電位差V0−Vbiasに対応する電荷が発生している。そして、上記のように逆バイアス電圧Vbiasに生じる電圧ノイズが寄生容量により電荷的なノイズ(以下、電荷ノイズという。)に変換されるため、バイアス線9や結線10と信号線6との交差部分に生じている電荷には、上記の逆バイアス電圧Vbiasの電圧ノイズに対応する電荷ノイズが生じている。
なお、このような電荷ノイズは、バイアス線9や結線10と信号線6との交差部分(例えば図2のAの部分参照)だけでなく、走査線5と信号線6との交差部分(例えば図2のBの部分参照)に形成される寄生容量に起因して生じる場合もある。
そして、画像データの読み出し処理では、例えば図21の時刻t0の時点で、ゲートドライバー15bからある走査線5にオン電圧が印加されて当該走査線5に接続されている各放射線検出素子7から信号線6に電荷が放出されると、その電荷に、その時点で逆バイアス電圧Vbias(t0)に生じている電圧ノイズに対応する電荷ノイズが重畳されて読み出し回路17に流れ込む。そのため、時刻t0に各放射線検出素子7から読み出された各画像データには、逆バイアス電圧Vbias(t0)に生じている電圧ノイズに対応する電荷ノイズに相当する同じ大きさのノイズデータが重畳されている。
また、上記とは異なる時刻t1にオン電圧が印加された走査線5に接続されている各放射線検出素子7から読み出された各画像データには、上記と同様のノイズデータが重畳されるが、そのノイズデータの大きさは、時刻t0に読み出された画像データに重畳されているノイズデータの大きさとは異なる。また、上記とはさらに異なる時刻t2にオン電圧が印加された走査線5に接続されている各放射線検出素子7から読み出された各画像データにも同様のノイズデータが重畳されるが、そのノイズデータの大きさは、時刻t0、t1に読み出された画像データに重畳されている各ノイズデータの大きさとはそれぞれ異なる。
そのため、このように走査線5ごとに画像データに重畳されるノイズデータの大きさが異なるため、上記のようにして読み出された各画像データに基づいて放射線画像を生成すると、走査線の延長方向(通常、この方向は横方向とされる。)に延びる縞状の模様が現れる。この縞状の模様は、一般に、横引きノイズと呼ばれる。
そして、放射線画像にこのような横引きノイズが現れることを防止するために、例えば下記特許文献1には、上記のようなバイアス線9や結線10の逆バイアス電圧Vbiasに生じている電圧ノイズを電荷ノイズに変換して検出するノイズ検出回路を設けておき、画像データの読み出し処理時に、ゲートドライバー15bから走査線5のラインL1〜Lxにオン電圧順次印加して画像データを読み出す際に、ノイズ検出回路でもそれぞれ同時にノイズデータを読み出して、画像データからノイズデータを減算することで横引きノイズの影響を低減する放射線画像撮影装置が記載されている。
そして、上記の特許文献1のように構成すると、例えば放射線照射装置から放射線画像撮影装置に放射線を1回だけ照射して静止画を撮影する単純撮影(静止画撮影等ともいう。)のような場合には、撮影された静止画から比較的良好に横引きノイズの影響を除去することができることが分かっている。
特開2011−142476号公報
ところで、本発明者らの研究により、上記特許文献1に記載されたように構成された放射線画像撮影装置では、動画撮影を行う際、時間経過に伴って(フレーム画像の撮影を繰り返す度に)、読み出し回路の温度が上昇するとともに、ノイズ検出回路から出力される信号値に含まれるオフセット成分が増加していくことが分かってきた。
放射線検出部の画像データは、放射線検出部から出力される信号値から、ノイズ検出回路から出力される信号値を利用して、ノイズ成分を除去することで補正されるので、ノイズ検出回路から出力される信号値のオフセット成分が増加していくということは、後のフレーム画像ほど、補正の際に信号値が余計に差し引かれてしまうことを意味する。
各フレーム画像にこのような補正を行っても、個々のフレーム画像の横引きノイズの影響を除去することは可能である。しかし、各フレーム画像を動画として再生した場合に、後のフレームになるほど見づらくなったり、誤った内容になってきてしまったりする可能性がある。すると、この動画を読影した医師等が、診断を誤ってしまう可能性がある。
本発明は、上記の点を鑑みてなされたものであり、動画撮影等を行う際に、生成された放射線画像に対する横引きノイズの影響を低減しつつ、ノイズ検出回路の信号値のオフセット成分の変動の影響も低減することが可能な放射線画像撮影装置を提供することを目的とする。
前記の問題を解決するために、本発明は、
基板上に二次元状に分布するよう配列され、放射線を受けることで電荷を発生させることが可能な複数の放射線検出素子と、
前記複数の放射線検出素子にそれぞれ逆バイアス電圧を印加する電圧印加部と、
前記複数の放射線検出素子がそれぞれ発生させた電荷に基づいて画像データを読み出すデータ読み出し部と、を備え、
前記放射線検出素子での電荷の発生及び前記データ読み出し部による画像データの読み出しを連続的に繰り返すことにより、複数のフレーム画像を生成する放射線画像撮影装置であって、
前記画像データの読み出しに伴って、前記逆バイアス電圧の電圧ノイズを検出し、当該電圧ノイズに基づくデータを出力するノイズ検出部を備え、
前記データ読み出し部は、
前記複数のフレーム画像のうちの一のフレーム画像に先行するフレーム画像の画像データの読み出しに伴い前記ノイズ検出部が出力した先行するフレーム画像に対応するデータに基づいてオフセット成分を推定する推定手段と、
当該一のフレーム画像の画像データの読み出しに伴い前記ノイズ検出部が出力したデータと、前記先行するフレーム画像の画像データの読み出しに伴い前記ノイズ検出部が出力した先行するフレーム画像に対応するデータに基づいて前記推定手段が推定したオフセット成分と、に基づいてノイズデータを算出するノイズデータ算出手段と、
当該一のフレーム画像の画像データから、当該一のフレーム画像の画像データの読み出しに伴い前記ノイズデータ算出手段が算出したノイズデータを減算して、補正後の画像データを生成する画像補正手段と、を備えることを特徴とする。
本発明によれば、動画撮影等を行う際に、生成された放射線画像に対する横引きノイズの影響を低減しつつ、ノイズ検出回路の信号値のオフセット成分の変動の影響も低減することが可能となる。
本実施形態に係る放射線画像撮影装置の外観を示す斜視図である。 センサー基板の構成例を示す平面図である。 放射線画像撮影装置の等価回路を表すブロック図である。 検出部を構成する1画素分についての等価回路を表すブロック図である。 画像データの読み出し処理の際の(A)電荷リセット用スイッチ、(B)パルス信号、(C)ある走査線、(D)次の走査線での電圧変化を表すタイミングチャートである。 撮影が連携方式で行われる際に各走査線にオン電圧を印加するタイミング等を表すタイミングチャートである。 撮影が非連携方式で行われる際に各走査線にオン電圧を印加するタイミング等を表すタイミングチャートである。 ノイズ検出部の構成例を表す図である。 ノイズ検出部の読み出し回路として信号線が接続されていない読み出し回路を用いることを説明する図である。 図8のノイズ検出部がノイズ検出部31A〜31Cで構成されていることを説明する図である。 読み出された画像データにはノイズデータが含まれていることを表し、補正後の画像データDcを説明する図である。 ノイズ検出部で検出されたデータにはノイズデータのほかにノイズ検出部のオフセット成分が含まれていることを説明する図である。 ノイズ検出部の別の構成例を表す図である。 図13のノイズ検出部では図8のノイズ検出部に比べてノイズ検出部のオフセット成分が1/W倍されることを説明する図である。 図13のノイズ検出部では補正後の画像データからノイズ検出部のオフセット成分の影響が低減されることを説明する図である。 ノイズ検出部のオフセット成分の時間的な変化を表すグラフである。 ノイズ補正処理のフローチャートである。 (A)、(B)放射線画像撮影装置に照射野が狭められた状態で放射線が照射された状態等を表す図である。 (A)放射線の照射野を通る信号線、および(B)照射野の外側を通る信号線に接続されている放射線検出素子から読み出された画像データを表すグラフである。 ノイズ補正処理のフローチャートである。 逆バイアス電圧に生じるノイズ等を表すグラフである。
以下、本発明に係る放射線画像撮影装置の実施の形態について、図面を参照して説明する。
なお、ここでは、可搬型の放射線画像撮影装置を例にして説明するが、本発明は、支持台等と一体的に形成された放射線画像撮影装置に対しても適用可能である。
[放射線画像撮影装置]
図1は本実施形態に係る放射線画像撮影装置1の外観を示す斜視図であり、図2は放射線画像撮影装置が内蔵するセンサー基板4の構成例を表す平面図である。また、図3は放射線画像撮影装置1の等価回路を表すブロック図であり、図4はその1画素分についての等価回路を表すブロック図である。また、図5〜7は放射線画像撮影装置の動作を表すタイミングチャートである。
図1に示すように、放射線画像撮影装置1の筐体2の一方の側面には、電源スイッチ25や切替スイッチ26、コネクター27、インジケーター28等が配置されている。また、筐体2の反対側の側面には、外部と無線方式で通信を行うためのアンテナ29(図3参照)が設けられている。
また、放射線画像撮影装置1は、複数の放射線検出素子7が配列されたセンサー基板4等を筐体2内に収納している。
図2や図3に示すように、本実施形態では、センサー基板4の表面4a上に複数の放射線検出素子7が二次元状に配列されており、複数の放射線検出素子7が配列された領域(図中の破線で囲まれた領域)が放射線検出部Pとされている。本実施形態では、センサー基板4上に複数の走査線5と複数の信号線6とが互いに交差するように配設されており、走査線5と信号線6で区画された各小領域rに、それぞれ放射線検出素子7がそれぞれ設けられている。
また、図2〜図4に示すように、各放射線検出素子7には、バイアス線9が接続されている。そして、本実施形態では、各バイアス線9は結線10に接続されており、例えば図2のAで示した箇所等では、結線10と各信号線6とが図示しない絶縁層を介して交差している。また、各放射線検出素子7には、バイアス線9やそれらの結線10を介してバイアス電源14から逆バイアス電圧Vbiasが印加されるようになっている。すなわち、バイアス線9及びバイアス電源14によって、本発明における電圧印加部が構成されている。
また、各放射線検出素子7では、照射された放射線の線量に応じた電荷が各放射線検出素子7内でそれぞれ発生するようになっている。
また、各放射線検出素子7は、スイッチ素子としてのTFT8を介して信号線6に接続されている。また、図2に示すように、走査線5や信号線6、結線10等の端部にはパッド11が設けられており、図示しないフレキシブル回路基板等の各配線が各パッド11にそれぞれ接続され、走査線5や信号線6、結線10等が、センサー基板4の裏面側に設けられた図示しない電子部品(バイアス電源14等)に接続されるようになっている。
走査駆動手段15では、配線15cを介して電源回路15aから供給されたオン電圧とオフ電圧がゲートドライバー15bで切り替えられて走査線5の各ラインL1〜Lxに印加される。そして、各TFT8は、走査線5を介してオフ電圧が印加されるとオフ状態になり、放射線検出素子7と信号線6との導通を遮断して、電荷を放射線検出素子7内に蓄積させる。また、走査線5を介してオン電圧が印加されるとオン状態になり、放射線検出素子7内に蓄積された電荷を信号線6に放出させるようになっている。
また、各信号線6は、読み出しIC16に内蔵された各読み出し回路17にそれぞれ接続されている。読み出し回路17は、積分回路18と、相関二重サンプリング(Correlated Double Sampling)回路19と、アナログマルチプレクサー21と、A/D変換器20とで構成されている。なお、図3や図4では、相関二重サンプリング回路19はCDSと表記されている。また、図4中では、アナログマルチプレクサー21は省略されている。
なお、図3には、読み出しIC16が一つだけ備えられたセンサー基板4を例示したが、図9に示したように、読み出しIC16を複数備え、それぞれが異なる電源回路から電力の供給を受けて駆動するようにしてもよい。
本実施形態では、積分回路18は、図4に示したように、オペアンプ18aとコンデンサー18bと電荷リセット用スイッチ18cとが並列に接続されて構成されている。また、積分回路18のオペアンプ18aの反転入力端子には信号線6が接続されており、積分回路18の非反転入力端子には基準電圧V0が印加されるようになっている。そのため、信号線6にはそれぞれ基準電圧V0が印加されるようになっている。
また、積分回路18の電荷リセット用スイッチ18cは、後述する制御部22に接続されており、制御部22によりオン/オフが制御されるようになっている。電荷リセット用スイッチ18cがオフの状態で、TFT8がオン状態とされると、放射線検出素子7から放出された電荷がコンデンサー18bに流入して蓄積され、蓄積された電荷量に応じた電圧値がオペアンプ18aの出力端子から出力されるようになっている。
なお、電荷リセット用スイッチ18cをオン状態とすることで、積分回路18の入力側と出力側とが短絡されてコンデンサー18bに蓄積された電荷が放電されてリセットされる。また、積分回路18は、電源供給部18dから電力が供給されて駆動するようになっている。
撮影後に行われる各放射線検出素子7からの画像データDの読み出し処理(後述する図6や図7参照)の際には、図5(A)〜(D)に示すように、積分回路18の電荷リセット用スイッチ18cがオフされた時点で、制御部22から1回目のパルス信号Sp1が送信されると、相関二重サンプリング回路19は、その時点で積分回路18から出力されている電圧値Vinを保持する。
そして、ゲートドライバー15bから走査線5のラインLnにオン電圧が印加される。そして、TFT8がオン状態になると、TFT8を介して走査線5のラインLnに接続されている放射線検出素子7から信号線6に電荷が放出され、電荷が信号線6を介して読み出し回路17のコンデンサー18bに流れ込み、積分回路18から出力される電圧値が上昇する。
相関二重サンプリング回路19は、制御部22から2回目のパルス信号Sp2が送信されると、その時点で積分回路18から出力されている電圧値Vfiを保持し、それらの差分Vfi−Vinをアナログ値の画像データDとして出力して読み出す。そして、出力された画像データDはアナログマルチプレクサー21を介してA/D変換器20に順次送信され、A/D変換器20でデジタル値の画像データDに順次変換されて記憶部23に順次保存される。すなわち、TFT8、走査線5、信号線6、走査駆動手段15、読み出しIC16、制御手段22等によって、本発明のデータ読み出し部が構成されている。
そして、図5(C)、(D)に示すように、ゲートドライバー15bから走査線5の各ラインL1〜Lxにオン電圧が順次印加されて(図5(C)、(D)では走査線5のラインLnと次のラインLn+1にオン電圧が順次印加されて)、上記の処理が繰り返し行われることで、各放射線検出素子7から画像データDがそれぞれ読み出されるようになっている。
制御部22は、図示しないCPU(Central Processing Unit)やROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)、入出力インターフェース等がバスに接続されたコンピューターや、FPGA(Field Programmable Gate Array)等で構成されている。専用の制御回路で構成されていてもよい。
また、制御部22には、SRAM(Static RAM)やSDRAM(Synchronous DRAM)、NAND型フラッシュメモリー等で構成される記憶部23や内蔵電源24が接続されており、また、前述したアンテナ29やコネクター27を介して外部と無線方式や有線方式で通信を行うための通信部30が接続されている。
そして、制御部22は、走査駆動手段15の動作を制御して放射線検出素子7のリセット処理を行わせたり、走査駆動手段15のゲートドライバー15bから走査線5の各ラインL1〜Lxを介して各TFT8にオフ電圧を印加して電荷蓄積状態に移行させたり、走査駆動手段15や読み出し回路17等の動作を制御して各放射線検出素子7からの画像データDの読み出し処理を行わせる等の制御を行うようになっている。
また、本実施形態では、制御部22は、上記のように、読み出した画像データDを記憶部23に保存する。また、制御部22は、所定のタイミングで、通信部30にアンテナ29やコネクター27を介して画像データDを無線方式や有線方式で図示しない画像処理装置に転送させるようになっている。
ところで、放射線画像撮影装置は、放射線画像撮影装置に対し放射線を照射する図示しない放射線照射装置との間で信号等のやり取りを行って(連携して)撮影を行ういわゆる連携方式のものと、放射線画像撮影装置と放射線照射装置とが信号等のやり取りを行わず(連携せずに)撮影を行ういわゆる非連携方式のものと、に大別される。
本実施形態に係る放射線画像撮影装置1は、制御部22が実行する制御を変更することで、どちらの方式のものとしても構成することが可能である。
放射線画像撮影装置1を連携方式のものとして構成した場合の制御部22は、図6に示すように、放射線が照射される前に、走査駆動手段15のゲートドライバー15b(図3参照)から走査線5の各ラインL1〜Lxにオン電圧を順次印加して放射線検出素子7のリセット処理を行う。
そして、放射線照射装置から放射線を照射する旨を表す信号が送信されてきたら、制御部22は、走査線5の各ラインL1〜Lxにオフ電圧を印加させて、放射線の照射により各放射線検出素子7内で発生した電荷が各放射線検出素子7内にそれぞれ蓄積されるようにする電荷蓄積状態に移行させる。
そして、放射線の照射が終了すると、ゲートドライバー15bから走査線5の各ラインL1〜Lxにオン電圧を順次印加して画像データDの読み出し処理を行う。
一方、放射線画像撮影装置1を非連携方式のものとして構成した場合には、放射線画像撮影装置1は、上記の連携方式の場合のように放射線照射装置から放射線を照射する旨を表す信号を受け取ることができないため、自ら放射線の照射が開始されたことを検出するように構成される。
なお、放射線の照射開始の検出処理については、例えば特開2009−219538号公報や国際公開第2011/135917号、国際公開第2011/152093号等に記載された方法を採用することが可能であり、詳しくは各公報等を参照されたい。
そして、非連携方式の場合の制御部22は、図7に示すように、放射線が照射される前に、ゲートドライバー15bから走査線5の各ラインL1〜Lxにオン電圧を順次印加して放射線検出素子7のリセット処理を行う。
そして、放射線の照射開始を検出すると、走査線5の各ラインL1〜Lxにオフ電圧を印加させて電荷蓄積状態に移行させ、放射線の照射終了後、ゲートドライバー15bから走査線5の各ラインL1〜Lxにオン電圧を順次印加して画像データDの読み出し処理を行う。
このように、本発明は、連携方式と非連携方式のいずれの方式で撮影が行われる場合にも適用可能である。
また、放射線画像撮影装置1では、上記のようにして撮影が行われた後或いは撮影する前に、(ただし放射線画像撮影装置1に放射線が照射されない状態で)図6等に示した画像データDの読み出し処理までの処理シーケンスを繰り返してオフセットデータOの読み出し処理を行うように構成されている。
放射線検出素子7内では放射線検出素子7自身の熱(温度)に起因する熱励起により暗電荷(暗電流等ともいう。)が常時発生しており、画像データDには、暗電荷によるオフセット成分が重畳されている。暗画像データOはその暗電荷によるオフセット成分に相当するデータであり、下記(1)式に従って、画像データDから暗画像データOを減算することで、画像データDをオフセット補正して、放射線の照射により放射線検出素子7内で発生した電荷に起因する真の画像データDを算出することが可能となる。
=D−O …(1)
[ノイズ検出部]
次に、上記放射線画像撮影装置1におけるノイズ検出部の構成等について説明する。図8はノイズ検出部の構成例を表す図である。
本実施形態に係る放射線画像撮影装置1は、ノイズ検出部31を備えている。ノイズ検出部31は、上記のように画像データDの読み出し処理で読み出された画像データDに重畳されているノイズ成分に相当するデータを検出するものである。
なお、ノイズ検出部31は、例えばセンサー基板4(図2参照)の表面4a側や裏面側に設けてもよく、前述したフレキシブル回路基板上に設けることも可能である。なお、下記の図8中の矢印部分の符号は、各配線が接続される接続先を表す。
なお、ノイズ検出部31は、一の放射線検出部Pに対して複数設けられていてもよい。
本実施形態のノイズ検出部31は、図8に示すように、補正信号線31aと、各コンデンサーC1〜C3と、補正信号線31aに接続された読み出し回路17Aと、を備えている。本実施形態では、ノイズ検出部31の読み出し回路17Aとして、前述した各読み出しIC16(図3,4参照)内に形成された読み出し回路17が用いられるようになっている。
そのため、本実施形態の読み出し回路17Aは、画像データDを読み出すための上記の読み出し回路17(図3,4参照)と同様に、積分回路18や相関二重サンプリング回路19等(図8では図示省略)を備えている。そして、上記の信号線6の場合と同様に、補正信号線31aには読み出し回路17A内の積分回路18から基準電圧V0が印加されている。
なお、本実施形態では、ノイズ検出部31の読み出し回路17Aは、例えば図9に示すように信号線6が接続されていない読み出し回路17(例えば読み出しIC16の端部の読み出し回路17)が用いられるようになっており、図示を省略するが、信号線6が接続されていない読み出し回路17にノイズ検出部31の補正信号線31aが接続されるようになっている。
なお、図9では図示を省略したが、補正信号線31aは、例えば、ゲートドライバー15bと、当該ゲートドライバー15bに最も近い信号線6との間に、信号線6と平行に配設される。
また、本実施形態では、ノイズ検出部31の読み出し回路17Aは、他の読み出し回路17による上記の画像データDの読み出し処理と同様の処理を行ってデータd31を検出し、検出されたデータd31がA/D変換器20でデジタル値化されて記憶部23に記憶されるようになっている。
なお、ノイズ検出部31の読み出し回路17Aを、読み出しIC16内の既設の読み出し回路17を用いるように構成する必要はなく、読み出しIC16とは別体の読み出し回路を設けることも可能である。
また、本実施形態では、ノイズ検出部31の読み出し回路17Aが、補正信号線31aの断線を検知する機能を有している。具体的には、冒頭で述べたバイアス電源のゆらぎ幅を監視し、ゆらぎ幅が所定閾値よりも小さくなった場合に断線が生じたと判断する。
なお、上述したように、一の放射線検出部Pに対してノイズ検出部31を複数設ける場合には、各ノイズ検出部31において、補正信号線31aに生じた断線等の異常を検出できるようにし、制御部22が、通常時は、複数のノイズ検出部31のうちの何れかを動作させるとともに、他のノイズ検出部31を動作していない状態とし、動作中のノイズ検出部31が異常を検出した場合に、当該ノイズ検出部31の動作を停止し、他のノイズ検出部31を動作させるよう構成してもよい。このように構成した場合、ノイズ検出部31は、本発明における異常検出手段をなすことになる。
このようにすれば、ノイズ検出部31に異常が生じても、画像データDの補正を正確に行うことができる。
各コンデンサーC1〜C3のうち、第1コンデンサーC1は、図8に示したように、補正信号線31aと結線10(或いはバイアス線9)との間の電位差を電荷に変換するコンデンサーである。また、第3コンデンサーC3は、補正信号線31aと、走査線5に印加されるオフ電圧を走査駆動手段15の電源回路15aからゲートドライバー15bに供給する配線15cとの間の電位差を電荷に変換するコンデンサーである。
また、第2コンデンサーC2は、補正信号線31aと結線10との間の電位差を電荷に変換するコンデンサーである。そして、第2コンデンサーC2は、走査線5の各ラインL1〜Lxごとにそれぞれ設けられており、各第2コンデンサーC2にはそれぞれ、それと補正信号線31aとの接続、非接続を切り替えるスイッチ手段31bが接続されている。
そして、各スイッチ手段31bは、走査線5の各ラインL1〜Lxに印加されるオン電圧やオフ電圧によりオン/オフ状態が切り替わるようになっている。そのため、ある走査線5にオン電圧が印加されると当該走査線5に接続されている各TFT8とスイッチ手段31bとがオン状態になり、当該走査線5にオフ電圧が印加されると当該走査線5に接続されている各TFT8とスイッチ手段31bとがオフ状態になる。
本実施形態では、このようにして、各スイッチ手段31bのオン/オフ状態が、同じ走査線5に接続されているスイッチ素子である各TFT8のオン/オフ状態にあわせて切り替えられるようになっている。そして、本実施形態では、図8に示すように、第2コンデンサーC2とスイッチ素子31bとの組が、走査線5の本数分設けられている。各スイッチ素子31bも例えばTFTで構成することが可能である。
なお、図8に示したノイズ検出部31の構成は、実際には、図10に示すように、後述するノイズ検出部31A、31B、31Cを1つにまとめたものであり、ノイズ検出部31A、31B、31Cをそれぞれ個別に設けることも可能であり、それらのうちのいずれか2つを組み合わせるように構成することも可能である。
ノイズ検出部31については、前述した特許文献1に詳述されており、詳しくは同文献を参照されたい。以下、ノイズ検出部31A、31B、31Cのそれぞれについて簡単に説明する。
[ノイズ検出部31A]
ノイズ検出部31Aでは、第1コンデンサーC1にc1×(V0−Vbias)(c1は第1コンデンサーC1の静電容量)の電荷が蓄積されるが、図21に示したように逆バイアス電圧Vbiasには電圧ノイズが生じているため、第1コンデンサーC1に蓄積される電荷にもそれに対応する電荷ノイズが生じている。また、各放射線検出素子7内に蓄積されている電荷にもそれと全く同じ位相で変動する電荷ノイズが生じている。なお、第1コンデンサーC1の静電容量c1は、1つの放射線検出素子7の静電容量と同じになるように設定されている。
そして、画像データDの読み出し処理の際には、図5(B)に示したように、制御部22から、画像データDを読み出す読み出し回路17にも、ノイズ検出部31の読み出し回路17Aにも、それぞれの相関二重サンプリング回路19に第1パルス信号Sp1と第2パルス信号Sp2とがそれぞれ同時に送信される。
そのため、ノイズ検出部31の読み出し回路17Aにより検出されたデータd31には、同じタイミングで読み出し回路17で読み出された画像データDに重畳されている、逆バイアス電圧Vbiasの電圧ノイズに対応する電荷ノイズを表すノイズデータdが含まれている。以下、このノイズデータdを、逆バイアス電圧Vbias(t)の電圧ノイズに起因するノイズデータdnAという。
そして、ノイズ検出部31Aは、このようにして画像データDの読み出し処理で、ゲートドライバー15bから走査線5の各ラインL1〜Lxにオン電圧が順次印加されて画像データDが読み出されるごとに(すなわち走査線5の各ラインL1〜Lxの読み出し処理の際に制御部22から相関二重サンプリング回路19に第1、第2パルス信号Sp1、Sp2が送信されるごとに)ノイズデータdnAを含むデータd31を検出し、検出したデータd31を記憶部23に記憶するように構成される。
[ノイズ検出部31C]
次に、ノイズ検出部31Bの説明の前に、ノイズ検出部31Cについて説明すると、ノイズ検出部31Cは、上記のように、第3コンデンサーC3と、走査駆動手段15において電源回路15aからゲートドライバー15bにオフ電圧Voffを供給している配線15c(或いはオフ電圧が印加されている走査線5でもよい。以下同じ。)と、補正信号線31aと、読み出し回路17Aとで構成されている。
そして、上記の逆バイアス電圧Vbiasと同様に、オフ電圧Voffにも時間的にランダムに電圧ノイズが生じているため、第3コンデンサーC3に蓄積されるc3×(V0−Voff)(c3は第3コンデンサーC3の静電容量)の電荷にもそれに対応する電荷ノイズが生じている。
一方、前述したように、画像データDの読み出し処理の際には、ゲートドライバー15bからオン電圧が印加された走査線5に接続されている放射線検出素子7内に蓄積された電荷が、オン状態とされたTFT8を介して信号線6に放出され、放出された電荷が読み出し回路17に流れ込む。
その際、オン電圧が印加された走査線5以外の数千本の走査線5にはオフ電圧Voffが印加されている。そして、図2に示したように(図中のB参照)、1本の信号線6には、各走査線5との交差部分にそれぞれ寄生容量cが生じているため、各交差部分には、この寄生容量cと信号線6の基準電圧V0およびオフ電圧Voffの電位差V0−Voffとの積として算出される電荷が蓄積されている。そして、上記のようにオフ電圧Voffにも電圧ノイズが生じている。
そのため、第3コンデンサーC3の容量c3を、上記の1本の信号線6と交差する走査線5との各交差部分に形成された寄生容量cの総和Σcと等しくなるように設定すれば、ノイズ検出部31Cの読み出し回路17Aにより検出されたデータd31には、データd31が検出されたのと同じタイミングで読み出された画像データDに重畳されている、オフ電圧Voffの電圧ノイズに対応する電荷ノイズ(各交差部分での電荷ノイズの総和)を表すノイズデータdnCが含まれている。
ノイズ検出部31Cは、このようにして画像データDの読み出し処理で、ゲートドライバー15bから走査線5の各ラインL1〜Lxにオン電圧が順次印加されて画像データDが読み出されるごとに(すなわち走査線5の各ラインL1〜Lxの読み出し処理の際に制御部22から相関二重サンプリング回路19に第1、第2パルス信号Sp1、Sp2が送信されるごとに)ノイズデータdnCを含むデータd31を検出し、検出したデータd31を記憶部23に記憶するように構成される。
[ノイズ検出部31B]
画像データDには、上述したノイズデータdnA、dnCに加え、さらに、放射線検出素子7のリセット処理(図6や図7参照)の際にTFT8に印加される電圧をオン電圧からオフ電圧に切り替えた時点での逆バイアス電圧Vbiasの電圧ノイズと、その後の画像データDの読み出し処理の際にTFT8に印加される電圧をオン電圧からオフ電圧に切り替えた時点での逆バイアス電圧Vbiasの電圧ノイズとの差に対応する電荷ノイズの変動分であるノイズデータdnBも含まれている。
そのノイズデータdnBを含むデータd31を検出するのがノイズ検出部31Bである。ノイズ検出部31Bでは、各第2コンデンサーC2の容量c2は、当該第2コンデンサーC2に接続されているスイッチ手段31bに接続されている走査線5のあるラインLnに接続されている各放射線検出素子7の寄生容量(或いはそれらの平均値)と同じ容量とされている。そして、図6や図7に示したようにしてゲートドライバー15bから走査線5の各ラインL1〜Lxにオン電圧を順次印加する際に、ノイズ検出部31Bの各スイッチ手段31bにも同時にオン電圧を順次印加する。
このように構成すると、図6や図7に示したように、放射線検出素子7のリセット処理時にTFT8やノイズ検出部31Bのスイッチ手段31bに印加された電圧がオン電圧からオフ電圧に切り替わると、その時点で逆バイアス電圧Vbiasに生じている電圧ノイズが第3コンデンサーC3に電荷ノイズとして蓄積される。
そして、画像データDの読み出し処理の際にTFT8やノイズ検出部31Bのスイッチ手段31bにオン電圧が印加され、印加されたオン電圧がオフ電圧に切り替えられてノイズ検出部31Bの読み出し回路17Aでデータd31を検出すると、検出されたデータd31には、結局、前述した画像データDに重畳されているノイズデータdnBが含まれることになる。
本実施形態では、ノイズ検出部31Bは、読み出された画像データDに重畳されている上記のノイズデータdnBを含むデータd31を検出し、検出したデータd31をそれぞれ記憶部23に記憶するように構成される。
また、図8や図10に示した構成から分かるように、本実施形態では、上記の各ノイズデータdnA、dnB、dnCを同時に含むデータd31が検出される。そして、以下では、それらの合計値(dnA+dnB+dnC)を走査線5の各ラインL1〜Lxごとのノイズデータdとして説明する。しかし、ノイズ検出部31A〜31Cをそれぞれ独立に構成し、ノイズデータdnA〜dnCを含むデータd31をそれぞれ別個に検出するように構成することも可能であることは前述した通りである。
そして、図11に示すように、上記のようにして放射線検出素子7ごとに読み出された画像データDから、同じタイミングでノイズ検出部31で検出されたデータd31に含まれるノイズデータdを、下記(2)式に従ってそれぞれ減算して補正後の画像データDを算出することで、画像データDから前述した横引きノイズの影響を除去することが可能となる。
=D−d …(2)
[読み出し回路自体のオフセット成分について]
しかし、前述した特許文献1にも記載されているように(同文献の第2の実施の形態参照)、ノイズ検出部31の読み出し回路17A(本実施形態では画像データDを読み出す読み出し回路17と同じ。)の性能にもよるが、ノイズ検出部31で検出されるデータd31には、上記のノイズデータd(=dnA+dnB+dnC)のほかに、図12に示すように、ノイズ検出部31の読み出し回路17A自体のオフセット成分dn_roも含まれることがある。
この場合は、ノイズ検出部31の読み出し回路17Aで、上記のノイズデータdと、読み出し回路17Aのオフセット成分dn_roとの合計値がデータd31として検出されることになるため、それらを用いて上記と同様に画像データDを補正すると、補正後の画像データDは下記(3)式の形になる。
=D−d31
∴D=D−(d+dn_ro) …(3)
そして、特許文献1では、ノイズ検出部31の各コンデンサーC1〜C3の静電容量c1〜c3として図8や図10に示したもののW倍(W>1)のものを用いるとともに、図13に示すようにノイズ検出部31の読み出し回路17Aの出力側に乗算器31cを設けて、読み出し回路17Aからの出力値に1/Wを乗算するように構成する。
このように構成すると、図14の中央に示すように、ノイズ検出部31の読み出し回路17Aからは、データd31として、上記のノイズデータdのW倍のノイズデータDと、読み出し回路17Aのオフセット成分dn_ro(これはW倍されない。)との合計値が出力される。そして、データd31が乗算器31cで1/W倍されることで、ノイズデータDが1/W倍(1/W×D)され、読み出し回路17Aのオフセット成分dn_roが1/W倍(1/W×dn_ro)される。そして、ノイズデータDの1/W倍は上記のノイズデータdに等しい。
そのため、上記のように構成することで、図15に示すように、ノイズデータdはそのままで、ノイズ検出部31の読み出し回路17Aのオフセット成分dn_roの画像データDに対する影響を1/Wに低減することが可能となる。そして、Wの値を十分に大きな値に設定すれば、その逆数1/Wが非常に小さくなるため、補正後の画像データDから、ノイズ検出部31の読み出し回路17Aのオフセット成分dn_roの影響を極力排除することができることが特許文献1で記載されている。
[読み出しICごとのオフセット成分について]
しかし、本発明者らの研究により、上記のノイズ検出部31の読み出し回路17Aのオフセット成分dn_ro(以下、簡単にノイズ検出部31のオフセット成分dn_roという。)は、例えば図16に示すように、動画を構成するフレーム画像の撮影が進むにつれて変化(増加)することが分かってきた。また、このことの主な原因が、ノイズ検出部31の読み出し回路17Aの温度が時間経過に伴って(フレーム画像の撮影を繰り返す度に)変化(上昇)するためであることも分かってきた。
この時間経過に伴う信号値のオフセット成分dn_roの変化により、放射線画像撮影装置1を上記のように構成して横引きノイズの影響を除去できたとしても、動画を構成するフレーム画像ごとに減算するオフセット成分が変わってきてしまう。
また、画像データDを読み出すための他の読み出し回路17も、ノイズ検出部31の読み出し回路17Aと同様に、時間経過に伴って温度が変化(上昇)するとともに、オフセット成分dn_roが時間的に変化(上昇)する。しかし、他の読み出し回路17は、ノイズ検出部31の読み出し回路17Aと回路構成が異なるため、その変化はノイズ検出部31のものとは異なる。
また、ノイズ検出部31が複数の読み出しIC16にそれぞれ設けられた場合、そのオフセット成分dn_roの時間的な変化率(増加率;フレーム数や経過時間を横軸、信号値を縦軸としてグラフ化した時の傾き)が異なることも分かっている。
例えば、図9に示したように、放射線検出部Pの左右半分の領域をそれぞれ異なる読み出しIC16に接続した場合、オフセット成分dn_roの信号値は、図16に示したように、後のフレーム画像になるほど左右で開きが出てくるので、動画の再生が進行するにつれて、フレーム画像の右半分と左半分とで段差ムラが生じる可能性がある。
[放射線画像撮影装置の特徴的動作]
次に、本実施形態に係る放射線画像撮影装置1の特徴的動作、すなわち、動画撮影の際に増加する信号値のオフセット成分の影響を低減するための動作について説明する。図17は制御部22が動画撮影時に実行するノイズ補正処理のフローチャートの一例である。また、図18,19は放射線画像の撮影において生じうる横クロストークと呼ばれる現象を説明するための図であり、図20は横クロストークの影響を低減する処理を加えたノイズ補正処理のフローチャートの一例である。
制御部22は、例えば、放射線照射前のオフセット画像取得のための読み出し処理の開始を契機として、図17に示したノイズ補正処理を実行する。
なお、放射線照射装置からの信号の受信等を処理開始の契機としてもよい。
ノイズ補正処理では、まず、読み出されたフレーム画像がパネルで画像取得開始した1枚目のものであるか否かを判定する(ステップS1)。そして、1枚目のフレーム画像である(ステップS1;Yes)と判定した場合には、ノイズ検出部31の信号で横引きノイズを補正する(ステップS2)。具体的には、下記(4)式(上記(2)式)に従って、ある列の走査線5から読み出した画像データDから、当該画像データの読み出しと同じタイミングでノイズ検出部31の読み出し回路17Aが読み出したノイズデータdを減算する。
=D−d …(4)
ステップS2の処理の後、あるいは同時に、オフセット成分の推定を行う(ステップS3)。具体的には、ステップS2で、ノイズ検出部31の読み出し回路17Aが読み出した複数の走査線5(すべての走査線5が好ましい)のデータda1の平均値を算出する。
ここで読み出された各データd31には、上記の逆バイアス電圧Vbiasなどの電圧ノイズに対応するノイズデータdが含まれるが、上記のように所定回数分のデータd31の読み出しIC16ごとの平均値を算出すると、ノイズデータdは互いに相殺される。そのため、この処理で算出された平均値は、ノイズ検出部31のオフセット成分と見なす(であると推定する)ことができる。つまり、制御部22は、本発明における推定手段をなす。以下、この推定したオフセット成分をオフセット成分推定値dn_roAと表記する。
ステップS3の処理の後は、動画撮影が終了したか否かを判定(ステップS4)し、終了した(ステップS4;Yes)と判定した場合には、ノイズ補正処理を終了する。
一方、動画撮影が終了していない(ステップS4;No)と判定した場合には、ステップS1の処理に戻る。
ステップ1の処理において、取得したフレーム画像が一枚目のものではない(ステップS1;No)と判定した場合には、n枚目(n=2,3…)以降のフレームのノイズ補正を行う処理に進む。すなわち、n枚目のフレーム画像の画像データDと同じタイミングでノイズ検出部31の読み出し回路17Aが読み出したデータd31から、(n−1枚目の)フレーム画像の処理の際に推定したオフセット成分推定値dn_roAを下記(5)式に従って減算し、ノイズデータdを得る。つまり、制御部22は、本発明におけるノイズデータ算出手段をなす。
時間経過に伴うオフセット成分dn_roの上昇は緩やかであり、nフレーム目とn−1フレーム目とでは値に大きな差は出ないので、一枚前のフレーム画像読み出しの際に得たオフセット成分推定値dn_roAを利用することが可能となる。
=d31−dn_roA …(5)
ステップS5の処理を行った後は、n枚目のフレーム画像の横引きノイズの補正を行う(ステップS6)。具体的には、下記(6)式(上記(2)式)に従って、n枚目のフレーム画像の放射線検出素子7ごとの画像データDから、ステップS5で算出したノイズデータdを減算し、補正後の画像データDを得る。つまり、制御部22は、本発明における画像補正手段をなす。
=D−d …(6)
ステップS6の処理を行った後は、n枚目のフレーム画像におけるオフセット成分dn_roAの推定を行う(ステップS7)。具体的には、n枚目のフレーム画像の画像データDと同じタイミングでノイズ検出部31の読み出し回路17Aが読み出した複数の走査線5(すべての走査線5が好ましい)のデータd31の平均値を算出する。
ステップS7の処理を終えた後は、ステップS4の処理へ進み、ノイズ補正処理の終了又は処理の繰り返しを判断する。
このように、制御部22は、一のフレーム画像のノイズ補正において、一枚前のフレーム画像の画像データDを読み出す際に同じタイミングでノイズ検出部31が出力したデータd31に基づくオフセット成分推定値dn_roAを利用する。このため、動画撮影を行う際、撮影の進行(時間の経過)に伴って読み出しIC16の温度が上昇し、オフセット成分がフレーム画像ごとに変動するという現象が生じても、各フレーム画像の画像データDは、オフセットの増加分が相殺されたノイズデータdによって補正される。よって、後のフレームになるほど、実際の信号値からかい離し、動画が後になるほど見づらいものとなってしまったり、誤った内容のものとなってしまったりするのを防ぐことができる。
ところで、例えば図18(A)に示すように、放射線画像撮影装置1の放射線検出部Pに対して照射野Rが狭められた状態で放射線が照射された場合を考える。この場合、放射線画像撮影装置1に照射された放射線の照射野Rの範囲が走査線5のラインLu〜Lvであったとすると、図18(B)に示すように、例えば放射線の照射野Rを通る信号線6aに接続されている放射線検出素子7から読み出された画像データDは、当然のことながら、図19(A)に示すように、走査線5のラインLu〜Lvの部分でそれ以外の部分よりも大きな値になる。
一方、放射線の照射野Rの外側を通る信号線6b(図18(B)参照)に接続されている放射線検出素子7から読み出された画像データDは、各放射線検出素子7には放射線が照射されていないため同じ値になるように思われるが、実際には、図19(B)に示すように、走査線5のラインLu〜Lvの部分(すなわち照射野Rに対応する部分)でそれ以外の部分よりも値が小さくなる現象が現れることが分かっている。このような現象は横クロストークと呼ばれる。
そのため、ノイズ検出部31でも、上記のラインLu〜Lvを含む走査線5の各ラインL1〜Lxに接続されたスイッチ手段31bがオン/オフ制御されてデータd31が検出された場合、検出されたデータd31にも図19(B)に示した現象と同じ現象が生じる可能性がある。
そして、このような現象が生じた場合、走査線5のラインLu〜Lvを含む複数の走査線5にオン電圧が印加され、ノイズ検出部31の各スイッチ手段31bが順次オン状態とされて検出されたデータd31の平均値を算出しても、互いに相殺されなくなり、ノイズ検出部31のオフセット成分推定値dn_roAを正確に算出できなくなる可能性がある。
このような横クロストークの影響を省くためには、動画撮影時に制御部22が実行するノイズ補正処理のフローを、図20に示したように変更するとよい。具体的には、図19におけるステップS7の処理を、図20においてはステップS8〜S10に置き換える。
すなわち、変更されたノイズ補正処理では、ステップS6の処理が行われた(補正後の画像データDを得た)後、オフセット補正を行う(ステップS8)。具体的には、下記(7)式(上記(1)式)に従って、補正後の画像データDから、暗画像データO(オフセット成分に相当)を減算し、放射線の照射により発生した電荷に起因する真の画像データDを得る。
=D−O …(7)
ステップS8の処理を終えた後は、横クロストークによるデータd31のオフセット変動量dctを推定する(ステップS9)。具体的には、読み出しIC16の読み出し回路17が読み出した各走査線L1〜Lxに対応する複数の画像データDの和又は平均値に、所定の比例係数αを乗算することで、ノイズ検出部31が出力したデータd31の横クロストークによるオフセット変動量dctを算出する。つまり、制御部22は、本発明におけるオフセット変動量算出手段をなす。
ところで、放射線が照射されたことによる真の画像データDの信号値の増加量と、この真の画像データDと同じタイミングでノイズ検出部31の読み出し回路17Aが読み出したデータd31の信号値の減少量との間には比例関係があることが分かっている。そこで、本実施形態の制御部22は、このステップS9の実行中又は開始前にノイズ検出部31が出力したデータd31の横クロストークによるオフセット変動量dctと、画像データDの放射線によって変動する信号値の和または平均値との比の値を、比例係数αとして算出するようになっている。すなわち、制御部22は、本発明における係数算出手段をなす。
オフセット変動量dctを算出したら、ノイズ検出部31の読み出し回路17Aが出力した各走査線5に対応する複数のデータd31を補正する。具体的には、下記(8)式に従って、データd31に、オフセット変動量dctを合算し、横クロストークの影響を除去した補正後のデータd31 を得る。つまり、制御部22は、本発明におけるデータ補正手段をなす。
31 =d31+dct…(8)
ステップS9の処理を終えた後は、補正後のデータd31 に基づいてオフセット成分推定値dn_roAを求める(ステップS10)。具体的には、ステップS8の処理で得られた複数の補正後のデータd31 の平均を算出し、得られた平均値をオフセット成分推定値dn_roAとする。
ステップS10の処理を終えた後は、ステップS4の処理に進む。
このように、制御部22は、一のフレーム画像のノイズ補正において、撮影の際に放射線画像撮影装置1に放射線が照射されたことにより生じた横クロストーク(データd31の信号値の低下)を補正してから次のフレーム画像のノイズ補正に用いるオフセット成分推定値の算出を行う。このため、後のフレームになるほど、実際の信号値からかい離し、動画が後になるほど見づらいものとなってしまったり、誤った内容のものとなってしまったりするのをより確実に防ぐことができる。
なお、図20に示したノイズ補正処理は、2フレーム目の画像の横クロストークの影響を除去するようになっていないが、ステップS2の処理の後に上述したステップS8〜S10の処理を実行することにより、2フレーム目のフレーム画像から横クロストークの影響を除去するようにしてもよい。
また、上記ノイズ補正処理では、放射線画像撮影装置1に実際に放射線を照射して比例係数αを算出するための数値を得るようにしていたが、バイアス電源14が逆バイアス電圧を変化させることが可能な構成とし、走査線5の各ラインL1〜Lxにオフ電圧を印加した状態で逆バイアス電圧を変更することで、放射線画像撮影装置1に放射線が擬似的に曝射された状態を作り出すようにしてもよい。このようにした場合、バイアス電源14は本発明における電圧変更手段をなすことになる。こうすることによっても、読みだされた画像データDの信号値の増加とデータd31の信号値の減少は生じるので、放射線を用いることなく比例係数αを算出することができる。
なお、図示を省略するが、各読み出しIC16のうち、一部の読み出しIC16に電力を供給する電源回路と、それ以外の読み出しIC16に電力を供給する電源回路とが別の電源回路である場合、一方の電源回路から電力が供給される読み出しIC16に属する読み出し回路17Aを用いたノイズ検出部31で検出されたデータd31等を用いると、他方の電源回路から電力が供給される読み出しIC16に属する読み出し回路17で読み出された画像データDの補正を的確に行うことができない場合がある。
そのため、上記のような場合には、各電源回路から電力が供給される読み出しIC16ごとに、本実施形態に係る画像データDの補正処理を行うように構成することが望ましい。
なお、本発明が上記の実施形態等に限定されず、本発明の趣旨を逸脱しない限り、適宜変更可能であることは言うまでもない。
1 放射線画像撮影装置
2 筐体
4 センサー基板
5,L1-Lx 走査線
6,6a,6b信号線
7 放射線検出素子
8 TFT
9 バイアス線
14 バイアス電源
15 走査駆動手段
15a 電源回路
15b ゲートドライバー
15c 配線
17,17A 読み出し回路
18 積分回路
18a オペアンプ
18b コンデンサー
18c 電荷リセット用スイッチ
18d 電源供給部
19 相関二重サンプリング回路
20 変換器
21 アナログマルチプレクサー
22 制御部
23 記憶部
24 内蔵電源
25 電源スイッチ
26 切替スイッチ
27 コネクター
28 インジケーター
29 アンテナ
30 通信部
31,31A〜31C ノイズ検出部
31a 補正信号線
31b スイッチ手段
31c 乗算器
C1〜C3 コンデンサー
D 画像データ
Dc 補正後の画像データ
31 データ
dn_ro オフセット成分
,d,dnA〜dnC ノイズデータ
P 放射線検出部
Sp1,Sp2 パルス信号

Claims (6)

  1. 基板上に二次元状に分布するよう配列され、放射線を受けることで電荷を発生させることが可能な複数の放射線検出素子と、
    前記複数の放射線検出素子にそれぞれ逆バイアス電圧を印加する電圧印加部と、
    前記複数の放射線検出素子がそれぞれ発生させた電荷に基づいて画像データを読み出すデータ読み出し部と、を備え、
    前記放射線検出素子での電荷の発生及び前記データ読み出し部による画像データの読み出しを連続的に繰り返すことにより、複数のフレーム画像を生成する放射線画像撮影装置であって、
    前記画像データの読み出しに伴って、前記逆バイアス電圧の電圧ノイズを検出し、当該電圧ノイズに基づくデータを出力するノイズ検出部を備え、
    前記データ読み出し部は、
    前記複数のフレーム画像のうちの一のフレーム画像に先行するフレーム画像の画像データの読み出しに伴い前記ノイズ検出部が出力した先行するフレーム画像に対応するデータに基づいてオフセット成分を推定する推定手段と、
    当該一のフレーム画像の画像データの読み出しに伴い前記ノイズ検出部が出力したデータと、前記先行するフレーム画像の画像データの読み出しに伴い前記ノイズ検出部が出力した先行するフレーム画像に対応するデータに基づいて前記推定手段が推定したオフセット成分と、に基づいてノイズデータを算出するノイズデータ算出手段と、
    当該一のフレーム画像の画像データから、当該一のフレーム画像の画像データの読み出しに伴い前記ノイズデータ算出手段が算出したノイズデータを減算して、補正後の画像データを生成する画像補正手段と、を備えることを特徴とする放射線画像撮影装置。
  2. 前記推定手段は、ノイズ検出部が出力した各走査線に対応する複数のデータの信号値の平均値又は中央値を、前記オフセット成分の推定値として算出し、
    前記ノイズデータ算出手段は、前記ノイズ検出部が出力したデータの信号値から、前記推定手段が算出したオフセット成分の推定値を減算して前記ノイズデータを算出することを特徴とする請求項1に記載の放射線画像撮影装置。
  3. 前記制御部は、
    前記読み出しICの読み出し回路が読み出した各走査線に対応する前記放射線検出素子の画像データの和又は平均値に所定の係数を乗算することで、ノイズ検出部が出力したデータの横クロストークによるオフセット変動量を算出するオフセット変動量算出手段と、
    前記オフセット変動量算出手段が算出したオフセット変動量に基づいて、前記ノイズ検出部が出力した各走査線に対応する複数のデータを補正するデータ補正手段と、を備えることを特徴とする請求項1に記載の放射線画像撮影装置。
  4. 前記オフセット変動量算出手段は、放射線を受けた前記放射線検出素子に接続された走査線に対応する画像データの和又は平均値に対する、前記ノイズ検出部が出力したデータの横クロストークによるオフセット変動量の比の値を、前記係数として算出する係数算出手段を備えることを特徴とする請求項3に記載の放射線画像撮影装置。
  5. 逆バイアス電圧を変化させることが可能な電圧変更手段を備え、
    前記オフセット変動量算出手段は、前記電圧変更手段によって逆バイアス電圧が変更された前記放射線検出素子に接続された走査線に対応する画像データの和又は平均値に対する、前記ノイズ検出部が出力したデータの横クロストークによるオフセット変動量の比の値を、前記係数として算出する係数算出手段を備えることを特徴とする請求項3に記載の放射線画像撮影装置。
  6. 前記ノイズ検出部を複数備え、
    各ノイズ検出部は、前記補正信号線に生じた異常を検出することが可能な異常検出手段を備え、
    前記制御部は、
    前記複数のノイズ検出部のうちの何れかを動作させるとともに、他のノイズ検出部を動作していない状態とし、
    動作中の前記ノイズ検出部における前記異常検出手段が異常を検出した場合に、当該ノイズ検出部の動作を停止し、他のノイズ検出部を動作させることを特徴とする請求項1から5のいずれか一項に記載の放射線画像撮影装置。
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