JP2018156705A - 磁気ディスク装置 - Google Patents
磁気ディスク装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2018156705A JP2018156705A JP2017051806A JP2017051806A JP2018156705A JP 2018156705 A JP2018156705 A JP 2018156705A JP 2017051806 A JP2017051806 A JP 2017051806A JP 2017051806 A JP2017051806 A JP 2017051806A JP 2018156705 A JP2018156705 A JP 2018156705A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- vcm
- current
- seek
- voice coil
- temperature
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 claims description 40
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 claims description 22
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 claims description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 description 73
- 230000008569 process Effects 0.000 description 65
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 37
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 31
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 19
- 230000008859 change Effects 0.000 description 11
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 8
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 7
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 5
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 5
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 3
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- NAWXUBYGYWOOIX-SFHVURJKSA-N (2s)-2-[[4-[2-(2,4-diaminoquinazolin-6-yl)ethyl]benzoyl]amino]-4-methylidenepentanedioic acid Chemical compound C1=CC2=NC(N)=NC(N)=C2C=C1CCC1=CC=C(C(=O)N[C@@H](CC(=C)C(O)=O)C(O)=O)C=C1 NAWXUBYGYWOOIX-SFHVURJKSA-N 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/40—Protective measures on heads, e.g. against excessive temperature
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/48—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed
- G11B5/54—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed with provision for moving the head into or out of its operative position or across tracks
- G11B5/55—Track change, selection or acquisition by displacement of the head
- G11B5/5521—Track change, selection or acquisition by displacement of the head across disk tracks
- G11B5/5526—Control therefor; circuits, track configurations or relative disposition of servo-information transducers and servo-information tracks for control thereof
- G11B5/553—Details
- G11B5/5547—"Seek" control and circuits therefor
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B21/00—Head arrangements not specific to the method of recording or reproducing
- G11B21/02—Driving or moving of heads
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/48—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed
- G11B5/54—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed with provision for moving the head into or out of its operative position or across tracks
- G11B5/55—Track change, selection or acquisition by displacement of the head
- G11B5/5521—Track change, selection or acquisition by displacement of the head across disk tracks
- G11B5/5526—Control therefor; circuits, track configurations or relative disposition of servo-information transducers and servo-information tracks for control thereof
- G11B5/553—Details
- G11B5/5534—Initialisation, calibration, e.g. cylinder "set-up"
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/48—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed
- G11B5/54—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed with provision for moving the head into or out of its operative position or across tracks
- G11B5/55—Track change, selection or acquisition by displacement of the head
- G11B5/5521—Track change, selection or acquisition by displacement of the head across disk tracks
- G11B5/5565—Track change, selection or acquisition by displacement of the head across disk tracks system adaptation for compensation of variations of physical parameters, e.g. temperature
Abstract
【課題】磁気ヘッドのシーク中の発熱を低減することが可能な磁気ディスク装置を提供する。【解決手段】VCM抵抗推定部9Aは、ボイスコイルモータ4の飽和状態のVCM電流と、磁気ヘッドの速度に基づいて、ボイスコイルモータ4のVCM抵抗を推定し、VCM温度推定部9Bは、ボイスコイルモータ4のVCM抵抗に基づいて、VCM温度を推定し、シーク制御部9Cは、ボイスコイルモータ4のVCM抵抗およびVCM温度に基づいてシーク制御を行う。【選択図】図1
Description
本発明の実施形態は、一般的に、磁気ディスク装置に関する。
磁気ディスク装置では、磁気ヘッドのシーク中に発熱することがあり、磁気ヘッドの故障の原因となることがあった。
本発明の一つの実施形態は、磁気ヘッドのシーク中の発熱を低減することが可能な磁気ディスク装置を提供することを目的とする。
本発明の一つの実施形態によれば、磁気ディスクと、磁気ヘッドと、ボイスコイルモータと、駆動回路と、VCM抵抗推定部とを備える。磁気ヘッドは、前記磁気ディスクにアクセスする。ボイスコイルモータは、前記磁気ヘッドを前記磁気ディスク上で駆動する。駆動回路は、前記ボイスコイルモータにVCM電流を印加する。VCM抵抗推定部は、飽和状態のVCM電流と、前記磁気ヘッドの速度に基づいて、前記ボイスコイルモータのVCM抵抗を推定する。
以下に添付図面を参照して、実施形態に係る磁気ディスク装置を詳細に説明する。なお、これらの実施形態により本発明が限定されるものではない。
(第1実施形態)
図1(a)は、第1実施形態に係る磁気ディスク上の磁気ヘッドのシーク動作を示す平面図、図1(b)は、第1実施形態に係る磁気ディスク装置の概略構成を示すブロック図である。
図1(a)および図1(b)において、磁気ディスク装置には、磁気ディスク2が設けられ、磁気ディスク2はスピンドル10を介して筐体1に支持されている。
図1(a)は、第1実施形態に係る磁気ディスク上の磁気ヘッドのシーク動作を示す平面図、図1(b)は、第1実施形態に係る磁気ディスク装置の概略構成を示すブロック図である。
図1(a)および図1(b)において、磁気ディスク装置には、磁気ディスク2が設けられ、磁気ディスク2はスピンドル10を介して筐体1に支持されている。
また、磁気ディスク装置には、ヘッドスライダHMが設けられ、ヘッドスライダHMには、磁気ヘッドとしてライトヘッドHWおよびリードヘッドHRが設けられている。ライトヘッドHWおよびリードヘッドHRは、磁気ディスク2に対向するように配置されている。ヘッドスライダHMは、サスペンションSUおよびキャリッジアームKAを介して磁気ディスク2上に保持されている。キャリッジアームKAは、シーク時などにおいてヘッドスライダHMを水平面内でスライドさせることができる。サスペンションSUは、磁気ディスク2が回転している時の空気流による磁気ヘッドの浮上力に対抗する押下力を磁気ヘッドに与えることで、磁気ディスク2上の磁気ヘッドの浮上量を一定に保つことができる。サスペンションSUは、板ばねにて構成することができる。
また、磁気ディスク装置には、キャリッジアームKAを駆動するボイスコイルモータ4が設けられるとともに、スピンドル10を中心として磁気ディスク2を回転させるスピンドルモータ3が設けられている。ボイスコイルモータ4およびスピンドルモータ3は、筐体1に固定されている。
また、磁気ディスク装置には、磁気ディスク装置の動作を制御する制御部5が設けられている。制御部5は、リードヘッドHRにて読み取られたサーボデータに基づいて、磁気ディスク2に対するライトヘッドHWおよびリードヘッドHRの位置を制御することができる。制御部5には、ヘッド制御部6、パワー制御部7、リードライトチャネル8およびハードディスク制御部9が設けられている。
ヘッド制御部6には、ライト電流制御部6Aおよび再生信号検出部6Bが設けられている。パワー制御部7には、スピンドルモータ制御部7Aおよびボイスコイルモータ制御部7Bが設けられている。
ヘッド制御部6は、記録再生時における信号を増幅したり検出したりする。ライト電流制御部6Aは、ライトヘッドHWに流れるライト電流を制御する。再生信号検出部6Bは、リードヘッドHRにて読み出された信号を検出する。
ヘッド制御部6は、記録再生時における信号を増幅したり検出したりする。ライト電流制御部6Aは、ライトヘッドHWに流れるライト電流を制御する。再生信号検出部6Bは、リードヘッドHRにて読み出された信号を検出する。
パワー制御部7は、ボイスコイルモータ4およびスピンドルモータ3を駆動する。スピンドルモータ制御部7Aは、スピンドルモータ3の回転を制御する。ボイスコイルモータ制御部7Bは、ボイスコイルモータ4の駆動を制御する。この時、ボイスコイルモータ制御部7Bは、ボイスコイルモータ4のコイルに流すVCM(Voice Coil Motor)電流を制御することができる。
リードライトチャネル8は、ヘッド制御部6とハードディスク制御部9との間でデータの受け渡しを行う。なお、データは、リードデータ、ライトデータおよびサーボデータを含む。例えば、リードライトチャネル8は、リードヘッドHRにて再生される信号をホストHSで扱われるデータ形式に変換したり、ホストHSから出力されるデータをライトヘッドHWにて記録される信号形式に変換したりする。このような形式変換としては、DA変換、符号化、AD変換、および復号化が含まれる。また、リードライトチャネル8は、リードヘッドHRにて再生された信号のデコード処理を行ったり、ホストHSから出力されるデータをコード変調したりする。
ハードディスク制御部9は、磁気ディスク装置の外部(例えば、ホストHS)からの指令に基づいて記録再生制御を行ったり、外部とリードライトチャネル8との間でデータの受け渡しを行ったりする。ハードディスク制御部9には、VCM抵抗推定部9A、VCM温度推定部9Bおよびシーク制御部9Cが設けられている。なお、VCM抵抗推定部9A、VCM温度推定部9Bおよびシーク制御部9Cはファームウェアにより実現することができる。
VCM抵抗推定部9Aは、ボイスコイルモータ4の飽和状態のVCM電流と、磁気ヘッドの速度に基づいて、ボイスコイルモータ4のVCM抵抗を推定することができる。なお、VCM抵抗は、ボイスコイルモータ4のコイル抵抗である。VCM温度推定部9Bは、ボイスコイルモータ4のVCM抵抗に基づいて、VCM温度を推定することができる。シーク制御部9Cは、ボイスコイルモータ4のVCM抵抗およびVCM温度に基づいてシーク制御を行うことができる。
ハードディスク制御部9には、記録再生制御を行うプロセッサと、ホストHSとリードライトチャネル8との間でデータの受け渡しの制御を行うプロセッサとを、別個に設けるようにしてもよい。記録再生制御およびデータの受け渡しの制御に同一のプロセッサを用いるようにしてもよい。プロセッサとしてはCPUを用いることができる。
また、磁気ディスク装置には、温度センサTNが設けられている。温度センサTNは、筐体1に固定することができる。この時、温度センサTNは筐体温度を測定することができる。温度センサTNは、筐体1の背面側の基板上に実装するようにしてもよい。筐体1の背面側の基板には、制御部5の機能を実現するプロセッサ、メモリおよびASICなどを搭載することができる。
制御部5はホストHSに接続されている。ホストHSとしては、ライトコマンドやリードコマンドなどを磁気ディスク装置に発行するパーソナルコンピュータであってもよいし、サーバなどに接続可能なネットワークであってもよい。すなわち、磁気ディスク装置は、ホストHSの外部記憶装置として用いることができる。磁気ディスク装置は、ホストHSに外付けされていてもよいし、ホストHSに内蔵されていてもよい。
そして、スピンドルモータ3により磁気ディスク2が回転されながら、磁気ヘッドを介して磁気ディスク2から信号が読み出され、再生信号検出部6Bにて検出される。再生信号検出部6Bにて検出された信号は、リードライトチャネル8にてデータ変換された後、ハードディスク制御部9に送られる。そして、ハードディスク制御部9において、再生信号検出部6Bにて検出された信号に含まれるバーストパターンに基づいて磁気ヘッドのトラッキング制御が行われる。
また、再生信号検出部6Bにて検出された信号に含まれるセクタ/シリンダ情報に基づいて磁気ヘッドの復調位置が算出されることで、磁気ヘッドの現在位置が予測され、磁気ヘッドが目標位置に近づくようにシーク制御が行われる。
シーク制御では、磁気ヘッドが現在位置からシーク先に到達できるように、VCM電流のプロファイルを設定することができる。VCM電流のプロファイルの設定には、VCM抵抗推定部9Aで推定されたVCM抵抗を用いることができる。
また、シーク制御では、シーク時の発熱に基づいて、シークモードを切り替えることができる。すなわち、シーク時の発熱によりVCM温度が高い時には、通常シークモードから発熱がより少ない低発熱シークモードに切り替えることができる。低発熱シークモードでは、通常シークモードに比べてVCM電流を減らすことができる。また、シークモードの切替判定に用いられるVCM温度は、VCM温度推定部9Bで推定されたVCM温度を用いることができる。
ここで、ボイスコイルモータ4の飽和状態のVCM電流に基づいて、ボイスコイルモータ4のVCM抵抗を推定することにより、ボイスコイルモータ4に印加される電源電圧に基づいて、ボイスコイルモータ4のVCM抵抗を推定することができる。このため、ボイスコイルモータ4の端子間電圧を測定することなく、ボイスコイルモータ4のVCM抵抗を推定することができ、ボイスコイルモータ4への電圧センサの取り付けを不要とすることができる。
また、ボイスコイルモータ4の飽和状態のVCM電流に基づいて、ボイスコイルモータ4のVCM抵抗を推定することにより、温度センサTNで測定された筐体温度に基づいてVCM抵抗の温度依存性を補正する方法に比べて、VCM抵抗の精度を向上させることができる。
また、ボイスコイルモータ4のVCM抵抗に基づいて、VCM温度を推定することにより、VCM温度の測定を不要とすることができる。このため、VCM温度を測定する温度センサを用いることなく、VCM温度を推定することができる。
さらに、シーク時の発熱に基づいて、シークモードを切り替えることにより、VCM温度が異常に上昇するのを防止することができる。このため、ボイスコイルモータ4からの発塵を抑えることができ、磁気ヘッドの故障を防止することができる。
以下、第1実施形態に係る磁気ディスクのVCM抵抗およびVCM温度の推定方法について、数式を用いて詳細に説明する。
以下の説明では、図1(a)の回転運動系を並進運動系に等価変換したモデルを用いる。ここで、アームArmの回転角をθとすると、ボイスコイルモータ4に流れるVCM電流IVCMからアームArmの角加速度θ´´までの関係は、以下の(1)式で与えることができる。
θ´´=Kt/J・IVCM ・・・(1)
ただし、Kt[N・m/A]は電流トルク定数、J[kg・m2]はアームArmの慣性モーメントである。アームArmは、図1(a)のヘッドスライダHM、サスペンションSUおよびキャリッジアームKAを含むことができる。
以下の説明では、図1(a)の回転運動系を並進運動系に等価変換したモデルを用いる。ここで、アームArmの回転角をθとすると、ボイスコイルモータ4に流れるVCM電流IVCMからアームArmの角加速度θ´´までの関係は、以下の(1)式で与えることができる。
θ´´=Kt/J・IVCM ・・・(1)
ただし、Kt[N・m/A]は電流トルク定数、J[kg・m2]はアームArmの慣性モーメントである。アームArmは、図1(a)のヘッドスライダHM、サスペンションSUおよびキャリッジアームKAを含むことができる。
磁気ヘッドが磁気ディスク2の半径方向に並進運動すると近似し、電流トルク定数KtとアームArmの慣性モーメントJに等価的な電流力定数Kf[N/A]と質量m[kg]を考える。この時、電流力定数Kfと質量mは、以下の(2)式および(3)式で与えることができる。
Kf≡Kt/rarm ・・・(2)
m≡J/r2 arm ・・・(3)
ただし、rarmはアーム長で、磁気ヘッドとピボットPV間の距離とした。
Kf≡Kt/rarm ・・・(2)
m≡J/r2 arm ・・・(3)
ただし、rarmはアーム長で、磁気ヘッドとピボットPV間の距離とした。
ボイスコイルモータ4に流れるVCM電流IVCMからアームArmの加速度aまでの関係は、以下の(4)式および(5)式で与えることができる。
a=Kf/m・IVCM=1/kai・IVCM ・・・(4)
kai=m/Kf ・・・(5)
ただし、kaiは加速度−電流換算係数である。
a=Kf/m・IVCM=1/kai・IVCM ・・・(4)
kai=m/Kf ・・・(5)
ただし、kaiは加速度−電流換算係数である。
図2(a)は、図1のボイスコイルモータの電流変化が大きい時の等価回路を模式的に示す図、図2(b)は、図1のボイスコイルモータの電流変化が小さい時の等価回路を模式的に示す図である。
図2(a)において、ボイスコイルモータ4の等価回路は、VCM抵抗RVCMとインダクタンスLVCMの直列回路で表すことができる。この時、ボイスコイルモータ4に電源電圧Vsupが印加され、VCM電流IVCMが流れると、逆起電力BEMF(Back Electro Motive Force)が発生し、アームArmの速度vにより逆起電圧Vbemfが生じる。
図2(a)において、ボイスコイルモータ4の等価回路は、VCM抵抗RVCMとインダクタンスLVCMの直列回路で表すことができる。この時、ボイスコイルモータ4に電源電圧Vsupが印加され、VCM電流IVCMが流れると、逆起電力BEMF(Back Electro Motive Force)が発生し、アームArmの速度vにより逆起電圧Vbemfが生じる。
逆起電圧Vbemfは、以下の(6)式で与えることができる。
Vbemf=Kf・v ・・・(6)
Vbemf=Kf・v ・・・(6)
この時、VCM回路方程式は、以下の(7)式で与えることができる。
Vsup=Vdrop+IVCM・RVCM+LVCM・dIVCM/dt+Vbemf ・・・(7)
ただし、Vdropは、アンプオン抵抗などの回路抵抗による既知の電圧降下である。
Vsup=Vdrop+IVCM・RVCM+LVCM・dIVCM/dt+Vbemf ・・・(7)
ただし、Vdropは、アンプオン抵抗などの回路抵抗による既知の電圧降下である。
一方、ボイスコイルモータ4の電流変化が小さい時は、図2(b)に示すように、インダクタンスLVCMを省略することができる。この等価回路では、飽和加速を想定することができる。
ここで、逆起電圧VbemfとインダクタンスLVCMを考慮しない場合、ボイスコイルモータ4の印加可能最大VCM電圧VVCM_limは、以下の(8)式で与えることができる。
VVCM_lim=Vsup−Vdrop ・・・(8)
(8)式から明らかなように、印加可能最大VCM電圧VVCM_limは、回路抵抗による電圧降下Vdropが固定値であるとすると、ボイスコイルモータ4の電流変化の大小に依存することなく、電源電圧Vsupのみに依存して変化する。
VVCM_lim=Vsup−Vdrop ・・・(8)
(8)式から明らかなように、印加可能最大VCM電圧VVCM_limは、回路抵抗による電圧降下Vdropが固定値であるとすると、ボイスコイルモータ4の電流変化の大小に依存することなく、電源電圧Vsupのみに依存して変化する。
図3(a)は、非飽和加速シーク中のVCM電流の波形を示す図、図3(b)は、飽和加速シーク中のVCM電流の波形を示す図である。
図3(a)および図3(b)において、逆起電圧とインダクタンスLVCMを考慮しない場合、ボイスコイルモータ4の印加可能最大VCM電流IVCM_limは、(8)式を参照することにより、以下の(9)式で与えることができる。
IVCM_lim=(Vsup−Vdrop)/RVCM ・・・(9)
図3(a)および図3(b)において、逆起電圧とインダクタンスLVCMを考慮しない場合、ボイスコイルモータ4の印加可能最大VCM電流IVCM_limは、(8)式を参照することにより、以下の(9)式で与えることができる。
IVCM_lim=(Vsup−Vdrop)/RVCM ・・・(9)
非飽和加速シークでは、印加可能最大VCM電流IVCM_limよりも十分に小さな電流指示値ItgtがVCM電流IVCMとして与えられる。この時、電流指示値Itgtにて指示されたVCM電流IVCMは、印加可能最大VCM電流IVCM_limによる制限を受けない。このため、図3(a)に示すように、電流指示値ItgtとVCM推定電流Iestiは一致する。VCM推定電流Iestiは、磁気ヘッドの推定速度vestiから算出されたVCM電流IVCMである。磁気ヘッドの推定速度vestiは、電流指示値Itgtに対するアームArmの運動をモデル化したオブザーバにより推定することができる。
なお、VCM電流IVCMがボイスコイルモータ4に流れると、実際には逆起電力BEMFがボイスコイルモータ4に働くので、電流指示値Itgtに従ってVCM電流IVCMが立ち上がった後、一定の傾きでVCM電流IVCMが減少する。
飽和加速シークでは、印加可能最大VCM電流IVCM_limよりも十分に大きな電流指示値ItgtがVCM電流IVCMとして与えられる。この時、電流指示値Itgtにて指示されたVCM電流IVCMは、印加可能最大VCM電流IVCM_limによる制限を受ける。このため、図3(b)に示すように、電流指示値Itgt通りにVCM電流IVCMがボイスコイルモータ4に流れず、電流指示値Itgtよりも小さなVCM電流IVCMがボイスコイルモータ4に流れる。
この時、ボイスコイルモータ4に実際に流れるVCM電流IVCMは、印加可能最大VCM電流IVCM_limに一致する。VCM電流IVCMがボイスコイルモータ4に流れると、実際には逆起電力BEMFがボイスコイルモータ4に働くので、VCM電流IVCMが印加可能最大VCM電流IVCM_limまで立ち上がった後、一定の傾きでVCM電流IVCMが減少する。
印加可能最大VCM電流IVCM_limがボイスコイルモータ4に流れる時は、印加可能最大VCM電圧VVCM_limがボイスコイルモータ4にかかる。この時、ボイスコイルモータ4の端子間電圧は最大になり、ボイスコイルモータ4の端子間電圧を実測することなく、ボイスコイルモータ4の端子間電圧を決めることができる。
ここで、飽和加速シークでは、ボイスコイルモータ4の電流変化が小さく、(7)式のdIVCM/dtは0とみなせるものとする。この時、(7)式のインダクタンスLVCMの項は無視することができ、(6)式および(7)式から、VCM抵抗RVCMは、以下の(10)式で与えることができる。
RVCM=(Vsup−kBL・vesti−Vdrop)/ Iesti ・・・(10)
ただし、kBLは、ボイスコイルモータ4のコイルの磁束密度と磁界中の電線長に起因した係数である。
RVCM=(Vsup−kBL・vesti−Vdrop)/ Iesti ・・・(10)
ただし、kBLは、ボイスコイルモータ4のコイルの磁束密度と磁界中の電線長に起因した係数である。
(10)式において、回路抵抗による電圧降下分Vdropおよび係数kBLは既知である。磁気ヘッドの推定速度vestiおよびVCM推定電流Iestiは、電流指示値Itgtに対するアームArmの運動をモデル化したオブザーバにより推定することができる。このため、電源電圧Vsupを測定することにより、ボイスコイルモータ4の端子間電圧を実測することなく、VCM抵抗RVCMを推定することができる。
図4は、第1実施形態に係る磁気ディスク装置のシーク処理を示すフローチャートである。
図4において、シークが開始されると、加速制御処理を実行する(S1)。加速制御処理では、VCM電流IVCMを正方向に流すことにより、磁気ヘッドをシーク先に向って加速することができる。この加速制御処理では、VCM電流IVCMが飽和状態となる期間と、VCM電流IVCMが非飽和状態となる期間とを含むことができる。
図4において、シークが開始されると、加速制御処理を実行する(S1)。加速制御処理では、VCM電流IVCMを正方向に流すことにより、磁気ヘッドをシーク先に向って加速することができる。この加速制御処理では、VCM電流IVCMが飽和状態となる期間と、VCM電流IVCMが非飽和状態となる期間とを含むことができる。
そして、VCM電流IVCMが飽和状態となる期間では、ボイスコイルモータ4の端子間電圧は最大になる。このため、電源電圧Vsupを測定することにより、(10)式からVCM抵抗RVCMを推定することができる。
次に、定速制御処理および減速制御処理を実行する(S2)。減速制御処理では、VCM電流IVCMを負方向に流すことにより、磁気ヘッドをシーク先に向って減速することができる。なお、ここで言うVCM電流IVCMの正負は、ボイスコイルモータ4のコイルにVCM電流IVCMが流れる向きを表す。定速制御処理では、VCM電流IVCMを0とすることにより、磁気ヘッドの加減速を行うことなく、磁気ヘッドをシーク先に向って定速で移動させることができる。
なお、シーク距離によっては、定速制御処理は省略してもよい。例えば、ロングシークでは、加速制御処理、定速制御処理および減速制御処理を行い、ショートシークでは、加速制御処理および減速制御処理を行うことができる。
次に、シークモード切替処理を実行する(S3)。シークモード切替処理では、シーク時の発熱に基づいて、通常シークモードと低発熱シークモードとを切り替えることができる。
図5は、第1実施形態に係る磁気ディスク装置の飽和加速シークの加速制御中の毎サンプル処理を示すフローチャートである。なお、図5の処理は、図4の加速制御処理(S1)で実行することができる。
図5において、ヘッド位置算出処理を実行する(S11)。ヘッド位置算出処理では、磁気ディスク2に記録されたサーボパターンをリードヘッドHRで読み出す。そして、そのサーボパターンから磁気ヘッドの位置を復調することで、磁気ディスク2上の磁気ヘッドの現在位置pdmを求める。
図5において、ヘッド位置算出処理を実行する(S11)。ヘッド位置算出処理では、磁気ディスク2に記録されたサーボパターンをリードヘッドHRで読み出す。そして、そのサーボパターンから磁気ヘッドの位置を復調することで、磁気ディスク2上の磁気ヘッドの現在位置pdmを求める。
次に、第1の状態推定処理を実行する(S12)。第1の状態推定処理では、オブザーバを用いることにより、磁気ヘッドの推定位置pestiおよび推定速度vestiを求める。
次に、第2の状態推定処理を実行する(S13)。第2の状態推定処理では、磁気ヘッドの推定速度vestiに基づいてVCM推定電流Iestiを求める。具体的には、サンプル間の推定速度vestiの差分から推定加速度aestiを求める。そして、この推定加速度aestiに加速度−電流換算係数kaiを乗じることで、VCM推定電流Iestiを求める。
次に、飽和加速状態検出処理を実行する(S14)。飽和加速状態検出処理では、VCM電流IVCMの飽和状態を検出する。具体的には、VCM推定電流Iestiと電流指示値Itgtを比較し、VCM推定電流Iestiに対して電流指示値Itgtが閾値を超えていた場合には、VCM電流IVCMが飽和状態であると判断することができる。シーク開始から特定のサンプル期間経過した時に、VCM電流IVCMが飽和状態であると判断するようにしてもよい。
次に、電流指示値決定処理を実行する(S15)。電流指示値決定処理では、飽和加速シークの加速制御の電流指示値Itgtを決定する。
次に、電流印加処理を実行する(S16)。電流印加処理では、電流指示値Itgtをモータードライバに設定する。モータードライバは電流指示値Itgtに基づいて、ボイスコイルモータ4のコイルにVCM電流IVCMを印加する。
次に、VCM電流IVCMが飽和状態かどうかを判断する(S17)。VCM電流IVCMが飽和状態の場合は、VCM抵抗推定処理と、第1のVCM温度推定処理を実行する。一方、VCM電流IVCMが飽和状態でない場合には、VCM抵抗推定処理および第1のVCM温度推定処理をスキップする。
次に、VCM抵抗推定処理を実行する(S18)。VCM抵抗推定処理では、式(10)からVCM抵抗RVCMを求める。この時、回路抵抗による電圧降下分Vdropおよび係数kBLは既知の値を用いることができる。推定速度vestiはS12で求めた値を用いることができる。VCM推定電流IestiはS13で求めた値を用いることができる。電源電圧Vsupは実測値を用いることができる。
次に、第1のVCM温度推定処理を実行する(S19)。第1のVCM温度推定処理では、VCM抵抗RVCMからVCM推定温度tVCM1を求める。この時、VCM推定温度tVCM1は、以下の(11)式で与えることができる。
tVCM1=1/α・(RVCM/RVCM0−1) ・・・(11)
ただし、RVCM0は0℃におけるVCM抵抗、αは温度に対するVCM抵抗変化率[Ω/℃]である。
tVCM1=1/α・(RVCM/RVCM0−1) ・・・(11)
ただし、RVCM0は0℃におけるVCM抵抗、αは温度に対するVCM抵抗変化率[Ω/℃]である。
図6(a)は、シークモード切替処理を示すフローチャート、図6(b)は、第1のシークモード切替判定処理を示すフローチャート、図6(c)は、第2のシークモード切替判定処理を示すフローチャートである。なお、図6(a)から図6(c)の処理は、図4のシークモード切替処理(S3)で実行することができる。
図6(a)において、シークの終了時もしくはトラッキング中にシークモード切替処理を実行することができる。ここで、シークモードとして、通常シークモードおよび低発熱シークモードが設けられているものとする。
そして、現在のシークモードが通常シークモードであるか低発熱シークモードであるかが判断される(S21)。
そして、現在のシークモードが通常シークモードであるか低発熱シークモードであるかが判断される(S21)。
通常シークモードの場合は、第1のシークモード切替判定処理において、シークモードを切り替えるかどうかを判定する(S22)。一方、低発熱シークモードの場合は、第2のシークモード切替判定処理において、シークモードを切り替えるかを判定する(S23)。低発熱シークモードでは、例えば、VCM電流IVCMを飽和させたシーク制御を行わず、通常シークモードよりもVCM電流IVCMを低くしたシーク制御を行うことができる。
図6(b)において、第1のシークモード切替判定処理では、通常シークモードから低発熱シークモードに切り替えるかどうかを判定する。
具体的には、VCM推定温度tVCM1が閾温度tVCM_th1を超えているかどうかを判定する(S31)。閾温度tVCM_th1は、ボイスコイルモータ4が何度で発塵するかなどを想定して設定することができる。VCM推定温度tVCM1が閾温度tVCM_th1を超えている場合、通常シークモードから低発熱シークモードに切り替える(S32)。
図6(c)において、第2のシークモード切替判定処理では、低発熱シークモードから通常シークモードに切り替えるかどうかを判定する。
具体的には、前回の第1のシークモード切替判定処理で低発熱シークモードと判定してからの経過時間Tintervalを計測する。そして、経過時間Tintervalが設定時間Tinterval_th2を超えたかどうかを判定する(S41)。
経過時間Tintervalが、予め設定した低発熱シークモード時の設定時間Tinterval_th2を超えた場合、低発熱シークモードから通常シークモードに切り替える(S42)。
経過時間Tintervalが、予め設定した低発熱シークモード時の設定時間Tinterval_th2を超えた場合、低発熱シークモードから通常シークモードに切り替える(S42)。
図7は、第1実施形態に係る磁気ディスク装置のシーク処理系のフォアグラウンド側の概略構成を示すブロック図、図8(a)は、第1実施形態に係る磁気ディスク装置のシーク処理系の第1のVCM温度推定に関するバックグラウンド側の概略構成を示すブロック図、図8(b)は、第1実施形態に係る磁気ディスク装置のシーク処理系のシークモード切替に関するバックグラウンド側の概略構成を示すブロック図である。
なお、フォアグラウンド側では、加速シーク中に毎サンプルで実行することができる。バックグラウンド側では、加速シーク中に複数サンプルに渡って実行することができる。
なお、フォアグラウンド側では、加速シーク中に毎サンプルで実行することができる。バックグラウンド側では、加速シーク中に複数サンプルに渡って実行することができる。
図7において、シーク処理系のフォアグラウンド側には、第1の状態推定部12、第2の状態推定部13、飽和検出部14、電流指示値決定部15、電流印加部16および減算器E1〜E3が設けられている。
第2の状態推定部13には、遅延器13A、変換部13Bおよび減算器E4が設けられている。電流印加部16には、定電流駆動回路16Aが設けられている。電流印加部16は、図1(b)のボイスコイルモータ制御部7Bに設けることができる。
図8(a)において、シーク処理系の第1のVCM温度推定に関するバックグラウンド側には、電源電圧測定部17、VCM抵抗推定部18および第1のVCM温度推定部19が設けられている。
図8(b)において、シーク処理系のシークモード切替に関するバックグラウンド側には、シークモード判定部22およびシークモード切替部24が設けられている。
第1の状態推定部12、第2の状態推定部13、飽和検出部14、電流指示値決定部15、VCM抵抗推定部18、第1のVCM温度推定部19、シークモード判定部22、シークモード切替部24および減算器E1〜E4は、図1(b)のハードディスク制御部9に設けることができる。
プラント11は、図1(b)のスピンドルモータ3、磁気ディスク2、磁気ヘッド、ヘッド制御部6およびリードライトチャネル8に対応させることができる。プラント11には、ヘッド位置復調部11Aが設けられている。
そして、図1(b)のハードディスク制御部9において、リード先またはライト先のセクタがホストHSから指定されると、シーク先に到達するための目標位置ptgt、目標速度vtgtおよび目標加速度atgtが設定される。図7において、目標加速度atgtは、電流指示値決定部15に入力される。目標速度vtgtは、減算器E1に入力される。また、減算器E1には、推定速度vestiが第1の状態推定部12から入力される。そして、減算器E1において、目標速度vtgtから推定速度vestiが減算され、目標速度vtgtと推定速度vestiとの差分が電流指示値決定部15に入力される。
目標位置ptgtは、減算器E2に入力される。また、減算器E2には、推定位置pestiが第1の状態推定部12から入力される。そして、減算器E2において、目標位置ptgtから推定位置pestiが減算され、目標位置ptgtと推定位置pestiとの差分が電流指示値決定部15に入力される。
電流指示値決定部15において、目標加速度atgtと、目標速度vtgtと推定速度vestiとの差分と、目標位置ptgtと推定位置pestiとの差分とから、電流指示値Itgtが決定される。電流指示値Itgtは、第1の状態推定部12、飽和検出部14および電流印加部16に入力される。
電流指示値Itgtが電流印加部16に入力されると、電流指示値Itgtに対応したVCM電流IVCMが定電流駆動回路16Aからボイスコイルモータ4のコイルに印加される。この時、プラント11において、磁気ヘッドが磁気ディスク2上をシークすることができる。そして、磁気ディスク2に記録されたサーボパターンがリードヘッドHRを介して読み出される。そして、ヘッド位置復調部11Aにおいて、そのサーボパターンから磁気ヘッドの位置が復調されることで、磁気ヘッドの現在位置pdmが算出される。
磁気ヘッドの現在位置pdmは、減算器E3に入力される。また、減算器E3には、推定位置pestiが第1の状態推定部12から入力される。そして、減算器E3において、現在位置pdmから推定位置pestiが減算されることで推定位置誤差perrが算出され、推定位置誤差perrが第1の状態推定部12にフィードバックされる。
第1の状態推定部12において、電流指示値Itgtおよび推定位置誤差perrに基づいて、磁気ヘッドの推定位置pestiおよび推定速度vestiが算出される。推定位置pestiは、減算器E3に入力される。推定速度vestiは、図7および図8(a)に示すように、減算器E1、第2の状態推定部13およびVCM抵抗推定部18に入力される。
推定速度vestiが第2の状態推定部13に入力されると、遅延器13Aにて1サンプル期間だけ遅延され、減算器E4に入力される。減算器E4において、第1の状態推定部12から入力された推定速度vestiから1サンプル期間だけ遅延された推定速度vestiが減算されることで推定加速度aestiが算出される。そして、変換部13Bにおいて、この推定加速度aestiに加速度−電流換算係数kaiが乗算されることで、VCM推定電流Iestiが算出される。VCM推定電流Iestiは、図7および図8(a)に示すように、飽和検出部14およびVCM抵抗推定部18に入力される。
飽和検出部14において、VCM推定電流Iestiは電流指示値Itgtと比較される。そして、VCM推定電流Iestiに対して電流指示値Itgtが閾値を超えていた場合には、VCM電流IVCMが飽和状態であると判断される。そして、図8(a)に示すように、VCM電流IVCMが飽和状態であることを知らせるフラグf_SatuAccがVCM抵抗推定部18に送られる。
例えば、このフラグf_SatuAccは、シーク開始時にロウレベルに設定することができる。そして、シーク中にVCM電流IVCMが飽和状態であると判断すると、フラグf_SatuAccをハイレベルに移行させ、シーク中はその状態を維持することができる。
図8(a)において、電源電圧測定部17では、電源電圧Vsupが測定され、VCM抵抗推定部18に入力される。そして、VCM抵抗推定部18において、飽和検出部14からフラグf_SatuAccを受け取ると、VCM抵抗RVCMが算出される。VCM抵抗RVCMの算出には、式(10)を用いることができる。VCM抵抗RVCMは、第1のVCM温度推定部19に入力される。
第1のVCM温度推定部19において、第1のVCM温度推定部19からVCM抵抗RVCMが入力されると、VCM推定温度tVCM1が算出される。VCM推定温度tVCM1の算出には、式(11)を用いることができる。VCM推定温度tVCM1は、図8(b)に示すように、シークモード判定部22に入力される。
図8(b)において、シークモード判定部22では、通常シーク20と低発熱シーク21との切り替えを指示するフラグf_skmodeが生成される。そして、シークモード判定部22は、フラグf_skmodeを参照することで、現在のシークモードが通常シークモードか低発熱シークモードかを判断することができる。
シークモード判定部22において、現在のシークモードが通常シークモードである時に、通常シークモードでのシーク動作によって出力されるVCM推定温度tVCM1に基づいて、通常シークモードから低発熱シークモードに切り替えるかどうかが判定される。
また、シークモード判定部22において、現在のシークモードが低発熱シークモードである時に、低発熱シークモードに遷移された時からの経過時間Tintervalに基づいて、低発熱シークモードから通常シークモードに切り替えるかどうかが判定される。
経過時間Tintervalの算出には、低発熱シークモードでのシーク動作によって出力される現時刻Tcurを用いることができる。現時刻Tcurは、サーボセクタでインクリメントされるタイムスタンプであってもよいし、SoC(System On Chip)によるタイムスタンプであってもよい。
この時、経過時間Tintervalは、以下の(12)式で与えることができる。
Tinterval=Tcur−Tin ・・・(12)
ただし、Tinは、低発熱シークモードに遷移した時の時刻である。
この時、経過時間Tintervalは、以下の(12)式で与えることができる。
Tinterval=Tcur−Tin ・・・(12)
ただし、Tinは、低発熱シークモードに遷移した時の時刻である。
そして、シークモード切替部24において、シークモード判定部22から送られたフラグf_skmodeに基づいて、通常シーク20と低発熱シーク21との切替が実行される。
(第2実施形態)
図6(c)の方法では、低発熱シークモードから通常シークモードに切り替えるかどうかを判定するために、低発熱シークモードに遷移された時からの経過時間Tintervalを用いる方法を示した。
図6(c)の方法では、低発熱シークモードから通常シークモードに切り替えるかどうかを判定するために、低発熱シークモードに遷移された時からの経過時間Tintervalを用いる方法を示した。
この第2実施形態では、低発熱シークモードから通常シークモードに切り替えるかどうかを判定するために、低発熱シークモードでのシーク動作によって出力されるVCM推定温度tVCM2を用いる。VCM推定温度tVCM2は、ボイスコイルモータ4へVCM電流を印加させることによる発熱特性と放熱特性に基づいて算出することができる。そして、VCM推定温度tVCM2が所定の温度よりも低くなった場合に低発熱シークモードから通常シークモードに切り替えることができる。
図9は、第2実施形態に係る磁気ディスク装置の第2のVCM温度推定処理の実行時の毎サンプル処理を示すフローチャートである。
図9において、S52の第2のVCM温度推定処理を実行するには、電流指示値Itgtおよび放熱係数γ(deg/sec)が必要である。電流指示値Itgtを求めるため、S52の第2のVCM温度推定処理を実行する前に、図5のS11、S12、S15およびS16を実行する。放熱係数γを求めるため、S52の第2のVCM温度推定処理を実行する前に、放熱係数決定処理を実行する(S51)。
図9において、S52の第2のVCM温度推定処理を実行するには、電流指示値Itgtおよび放熱係数γ(deg/sec)が必要である。電流指示値Itgtを求めるため、S52の第2のVCM温度推定処理を実行する前に、図5のS11、S12、S15およびS16を実行する。放熱係数γを求めるため、S52の第2のVCM温度推定処理を実行する前に、放熱係数決定処理を実行する(S51)。
放熱係数決定処理では、ボイスコイルモータ4の放熱係数γが算出される。放熱係数γは、VCM温度tVCMと筐体温度tbodyに依存する。このため、VCM温度tVCMと筐体温度tbodyのインデックス(i,j)で構成される放熱係数行列データγijを予め持たせてもよいし、数式で算出しても良い。放熱係数行列データγijをキャリブレーションによって求めてもよいし、学習によって更新してもよい。また、放熱係数行列データγijをVCM温度tVCMと筐体温度tbodyの間を指数関数的に減衰していくモデルの値としてもよい。なお、放熱係数γの算出に用いるVCM温度tVCMは、VCM推定温度tVCM2を用いることができる。
次に、第2のVCM温度推定処理を実行する(S52)。第2のVCM温度推定処理では、第1のシークモード切替判定処理(S32)にて低発熱シークモードに切り替えた際に、低発熱シークモードでのシーク動作によって出力されるVCM推定温度tVCM1をVCM基準温度tVCM_baseとする。
VCM基準温度tVCM_baseに対して、VCM電流の印加によるジュール損失に熱抵抗係数β(deg/(W・sec))を乗じた発熱温度変化量と、放熱係数γに経過時間を乗じた放熱温度変化量を考慮することでVCM推定温度tVCM2を逐次求める。この時、VCM推定温度tVCM2は、以下の(13)式で与えることができる。
tVCM2[1]=tVCM_base
tVCM2[n]
=tVCM2[n−1]
+(β・RVCM0(1+α・tVCM2[n−1])Itgt[n]2−γij)Ts ・・・(13)
ただし、nは低発熱シークモードに切り替えてからのサンプル数、Ts(sec)はサーボセクタ間隔時間である。(13)式では、VCM抵抗RVCMの温度変化が考慮されている。
tVCM2[1]=tVCM_base
tVCM2[n]
=tVCM2[n−1]
+(β・RVCM0(1+α・tVCM2[n−1])Itgt[n]2−γij)Ts ・・・(13)
ただし、nは低発熱シークモードに切り替えてからのサンプル数、Ts(sec)はサーボセクタ間隔時間である。(13)式では、VCM抵抗RVCMの温度変化が考慮されている。
なお、(13)式では、低発熱シークモードに遷移してから毎サーボセクタでVCM推定温度tVCM2を求めるが、シーク単位でVCM推定温度tVCM2を更新してもよい。
図10は、第2実施形態に係る磁気ディスク装置の第2のシークモード切替判定処理を示すフローチャートである。
図10において、低発熱シークモード時に第2のシークモード切替判定処理を実行する。第2のシークモード切替判定処理では、低発熱シークモードから通常シークモードに切り替えるかどうかを判定する。
図10において、低発熱シークモード時に第2のシークモード切替判定処理を実行する。第2のシークモード切替判定処理では、低発熱シークモードから通常シークモードに切り替えるかどうかを判定する。
具体的には、VCM推定温度tVCM2が閾温度tVCM_th2よりも小さいかどうかを判定する(S61)。そして、VCM推定温度tVCM2が閾温度tVCM_th2よりも小さい場合、低発熱シークモードから通常シークモードに切り替える(S62)。
図11(a)は、第2実施形態に係る磁気ディスク装置のシーク処理系の第2のVCM温度推定に関するバックグラウンド側の概略構成を示すブロック図、図11(b)は、第2実施形態に係る磁気ディスク装置のシーク処理系のシークモード切替に関するバックグラウンド側の概略構成を示すブロック図である。
このシーク処理系のフォアグラウンド側は、図7と同様の構成を用いることができる。このシーク処理系の第1のVCM温度推定に関するバックグラウンド側は、図8(a)と同様の構成を用いることができる。
図11(a)において、シーク処理系の第2のVCM温度推定に関するバックグラウンド側には、放熱係数決定部54および第2のVCM温度推定部55が設けられている。
図11(b)において、シーク処理系のシークモード切替に関するバックグラウンド側には、シークモード判定部22の代わりにシークモード判定部22´が設けられている。
図11(a)に示すように、放熱係数決定部54には、筐体温度tbodyが入力される。筐体温度tbodyは、図1(b)の温度センサTNで計測することができる。また、放熱係数決定部54には、VCM推定温度tVCM2が第2の状態推定部55から入力される。そして、放熱係数決定部54において、筐体温度tbodyとVCM推定温度tVCM2に基づいて放熱係数γが算出される。
放熱係数γは、第2の状態推定部55に入力される。また、第2の状態推定部55には、電流指示値Itgtが電流指示値決定部15から入力される。なお、非飽和加速シーク時は、電流指示値ItgtとVCM推定電流Iestiはほぼ等しいので、電流指示値Itgtの代わりにVCM推定電流Iestiを用いるようにしてもよい。また、第2の状態推定部55には、VCM推定温度tVCM2がフィードバックされる。そして、第2の状態推定部55において、(13)式を用いることにより、VCM推定温度tVCM2が算出される。
図8(b)において、シークモード判定部22´では、通常シーク20と低発熱シーク21との切り替えを指示するフラグf_skmodeが生成される。そして、シークモード判定部22´は、フラグf_skmodeを参照することで、現在のシークモードが通常シークモードか低発熱シークモードかを判断することができる。
シークモード判定部22´において、現在のシークモードが通常シークモードである時に、通常シークモードでのシーク動作によって出力されるVCM推定温度tVCM1に基づいて、通常シークモードから低発熱シークモードに切り替えるかどうかが判定される。
また、シークモード判定部22´において、現在のシークモードが低発熱シークモードである時に、低発熱シークモードでのシーク動作によって出力されるVCM推定温度tVCM2に基づいて、低発熱シークモードから通常シークモードに切り替えるかどうかが判定される。
この時、低発熱シークモードでのシーク動作によって出力されるVCM推定温度tVCM2はサンプル期間ごとに常に更新することができる。このため、ボイスコイルモータ4の発塵を想定した閾温度よりもVCM温度tVCMが低下すると直ぐに通常シークモードに切り替えることができる。このため、低発熱シークモードから通常シークモードに切り替えるかどうかを判定するために、低発熱シークモードに遷移された時からの経過時間Tintervalを用いる方法に比べて、アクセス性能を向上させることができる。
(第3実施形態)
図6(b)の実施形態では、図5の第1のVCM温度推定処理で算出されたVCM推定温度tVCM1が閾温度tVCM_th1を超えている場合、通常シークモードから低発熱シークモードに切り替える方法について説明した。
図6(b)の実施形態では、図5の第1のVCM温度推定処理で算出されたVCM推定温度tVCM1が閾温度tVCM_th1を超えている場合、通常シークモードから低発熱シークモードに切り替える方法について説明した。
このVCM推定温度tVCM1は、通常シークモード中の飽和状態のVCM電流IVCMに基づいて算出される。このため、通常シークモード中に非飽和加速シークが連続すると、VCM推定温度tVCM1を更新できなくなる。
このため、第3実施形態では、図9の第2のVCM温度推定処理で算出されたVCM推定温度tVCM2が閾温度tVCM_th3を超えている場合、通常シークモードから低発熱シークモードに切り替える。この時、第2のVCM温度推定処理は、通常シークモードおよび低発熱シークモードにかかわらず実行することができる。そして、第2のVCM温度推定処理は、サンプル期間ごとにVCM推定温度tVCM2を更新することができる。
なお、磁気ディスク装置の起動時またはシーク終了時において、飽和加速シーク時のシーク飽和加速区間で図5のVCM抵抗推定処理および第1のVCM温度推定処理を実行することができる。そして、この第1のVCM温度推定処理で求めたVCM推定温度tVCM1を、(13)式のVCM基準温度tVCM_baseとすることができる。
これにより、通常シークモードで非飽和加速シークが連続した時に、VCM推定温度tVCM1が更新できない場合においても、VCM推定温度tVCM2を更新することができる。このため、ボイスコイルモータ4の発塵を想定した閾温度をVCM温度tVCMが超えた場合においても、通常シークモードが継続されるのを防止することができ、ボイスコイルモータ4の発塵を防止することができる。
(第4実施形態)
この第4実施形態は、磁気ディスク装置の起動時において、筐体温度tbodyを図9の第2のVCM温度推定処理で用いるVCM基準温度tVCM_baseとする。そして、第2のVCM温度推定処理を毎サンプル実行する。
この第4実施形態は、磁気ディスク装置の起動時において、筐体温度tbodyを図9の第2のVCM温度推定処理で用いるVCM基準温度tVCM_baseとする。そして、第2のVCM温度推定処理を毎サンプル実行する。
これにより、磁気ディスク装置の起動時から毎サンプルにおいて、VCM推定温度tVCM2を算出することができる。このため、磁気ディスク装置の起動直後から、VCM推定温度tVCM2に基づいて通常シークモードと低発熱シークモードを切り替えることができる。
なお、上述した実施形態では、シーク時の発熱に基づいて、通常シークモードと低発熱シークモードとの2段階に切り替える方法について説明したが、シーク時の発熱に基づいて、3段階以上に切り替えるようにしてもよい。例えば、シークモードとして、通常シークモードと、通常シークモードよりも発熱の少ない中発熱シークモードと、中発熱シークモードよりも発熱の少ない低発熱シークモードとを設けるようにしてもよい。
これにより、シーク時の発熱に基づいてより細やかなシーク制御を行うことができ、シーク中の発熱を低減しつつ、シーク時のパフォーマンスの低下を抑制することができる。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
HW ライトヘッド、HR リードヘッド、HM ヘッドスライダ、SU サスペンション、KA キャリッジアーム、1 筐体、2 磁気ディスク、3 スピンドルモータ、4 ボイスコイルモータ、5 制御部、6 ヘッド制御部、6A ライト電流制御部、6B 再生信号検出部、7 パワー制御部、7A スピンドルモータ制御部、7B ボイスコイルモータ制御部、8 リードライトチャネル、9 ハードディスク制御部、9A VCM抵抗推定部、9B VCM温度推定部、9C シーク制御部、10 スピンドル、HS ホスト
Claims (5)
- 磁気ディスクと、
前記磁気ディスクにアクセスする磁気ヘッドと、
前記磁気ヘッドを前記磁気ディスク上で駆動するボイスコイルモータと、
前記ボイスコイルモータにVCM電流を印加する駆動回路と、
飽和状態のVCM電流と、前記磁気ヘッドの速度に基づいて、前記ボイスコイルモータのVCM抵抗を推定するVCM抵抗推定部とを備える磁気ディスク装置。 - 前記ボイスコイルモータのVCM抵抗に基づいてVCM温度を推定する第1のVCM温度推定部をさらに備える請求項1に記載の磁気ディスク装置。
- 前記第1のVCM温度推定部で推定されたVCM温度に基づいて、通常シークモードと、前記通常シークモードよりも発熱の少ない低発熱シークモードとを切り替えるシークモード切替部をさらに備える請求項2に記載の磁気ディスク装置。
- 前記ボイスコイルモータのVCM温度と、前記ボイスコイルモータが搭載された筐体の温度に基づいて、前記ボイスコイルモータの放熱係数を決定する放熱係数決定部と、
前記ボイスコイルモータに印加される電流の値と、前記放熱係数に基づいて、前記VCM温度を推定する第2のVCM温度推定部とをさらに備える請求項3に記載の磁気ディスク装置。 - 前記通常シークモードは、前記VCM電流が飽和状態となる期間を少なくとも含み、
前記低発熱シークモードは、前記VCM電流が非飽和状態となる期間を含み、前記VCM電流が飽和状態となる期間を含まない請求項1から4のいずれか1項に記載の磁気ディスク装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017051806A JP2018156705A (ja) | 2017-03-16 | 2017-03-16 | 磁気ディスク装置 |
US15/667,933 US10008227B1 (en) | 2017-03-16 | 2017-08-03 | Magnetic disk apparatus |
CN201810043056.3A CN108630234B (zh) | 2017-03-16 | 2018-01-17 | 磁盘装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017051806A JP2018156705A (ja) | 2017-03-16 | 2017-03-16 | 磁気ディスク装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018156705A true JP2018156705A (ja) | 2018-10-04 |
Family
ID=62598897
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017051806A Pending JP2018156705A (ja) | 2017-03-16 | 2017-03-16 | 磁気ディスク装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10008227B1 (ja) |
JP (1) | JP2018156705A (ja) |
CN (1) | CN108630234B (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6717791B2 (ja) * | 2017-09-28 | 2020-07-08 | ファナック株式会社 | パラメータ決定支援装置 |
US10446186B1 (en) * | 2018-09-19 | 2019-10-15 | Seagate Technology Llc | Data storage cartridge with magnetic head-disc interface (HDI) |
US10803892B1 (en) * | 2019-09-27 | 2020-10-13 | Seagate Technology Llc | Voice coil motor saturation detection |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001298986A (ja) | 2000-02-07 | 2001-10-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | モータ制御装置、ディスク装置および加速度検出装置 |
US6876606B2 (en) | 2000-02-07 | 2005-04-05 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Motor control apparatus, disk apparatus and acceleration detection device |
JP2003085902A (ja) | 2001-09-10 | 2003-03-20 | Hitachi Ltd | 磁気ディスク装置 |
US7082009B2 (en) * | 2003-02-19 | 2006-07-25 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Accurate tracking of coil resistance based on current, voltage and angular velocity |
US7009806B2 (en) * | 2003-02-19 | 2006-03-07 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Accurate tracking of coil resistance |
US6917486B2 (en) * | 2003-07-18 | 2005-07-12 | Matsushita Electrical Industrial Co., Ltd. | Direct detection of coil resistance |
US6967811B1 (en) * | 2004-07-02 | 2005-11-22 | Western Digital Technologies, Inc. | Disk drive having first and second seek operating modes for controlling voice coil motor temperature rise |
CN1731524A (zh) * | 2004-08-05 | 2006-02-08 | 南方汇通微硬盘科技有限公司 | 消除读/写头反电动势读数受温度影响的方法 |
KR100699842B1 (ko) * | 2005-05-24 | 2007-03-27 | 삼성전자주식회사 | 온도 변동을 고려한 탐색 서보 제어 방법 및 이를 이용한디스크 드라이브 |
JP2007287290A (ja) * | 2006-04-20 | 2007-11-01 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv | ディスク・ドライブ装置及びそのキャリブレーション方法 |
US7468859B2 (en) * | 2006-05-31 | 2008-12-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Voice coil motor effective resistance determination |
US7436616B2 (en) * | 2006-05-31 | 2008-10-14 | Toshiba Corporation | Current pulsing for unloading |
JP2010049769A (ja) | 2008-08-25 | 2010-03-04 | Toshiba Storage Device Corp | 記憶装置、記憶装置の制御方法、および記憶装置の制御回路 |
CN102714049A (zh) * | 2010-01-18 | 2012-10-03 | 株式会社东芝 | 磁盘装置的斜坡卸载寻道控制装置 |
JP5356346B2 (ja) * | 2010-09-28 | 2013-12-04 | 株式会社東芝 | 磁気ディスク装置、電子機器及びヘッド制御方法 |
CN104700848A (zh) * | 2013-12-10 | 2015-06-10 | 株式会社东芝 | 磁盘装置以及磁头的控制方法 |
US9245540B1 (en) * | 2014-10-29 | 2016-01-26 | Western Digital Technologies, Inc. | Voice coil motor temperature sensing circuit to reduce catastrophic failure due to voice coil motor coil shorting to ground |
CN106230341A (zh) * | 2016-07-20 | 2016-12-14 | 瑞声科技(新加坡)有限公司 | 监控系统及其控制方法 |
-
2017
- 2017-03-16 JP JP2017051806A patent/JP2018156705A/ja active Pending
- 2017-08-03 US US15/667,933 patent/US10008227B1/en active Active
-
2018
- 2018-01-17 CN CN201810043056.3A patent/CN108630234B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN108630234A (zh) | 2018-10-09 |
US10008227B1 (en) | 2018-06-26 |
CN108630234B (zh) | 2020-01-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2543193B2 (ja) | デ―タ記録デイスク・フアイル | |
KR0128040B1 (ko) | 디스크 기록 매체를 이용하는 데이타 저장장치의 디지탈 서보제어장치 및 방법 | |
JP2018156706A (ja) | 磁気ディスク装置 | |
JP4263727B2 (ja) | 低周波外乱補償制御装置とそれを利用したディスクドライブ | |
CN108630234B (zh) | 磁盘装置 | |
JP4411428B2 (ja) | ヘッド位置制御方法、ヘッド位置制御装置およびディスク装置 | |
JP4807496B2 (ja) | ハードディスクドライブのトラック探索制御方法,記録媒体,およびハードディスクドライブ | |
US20080266704A1 (en) | Hard disk drive, method of controlling flying height of magnetic head thereof, and recording medium containing computer program thereon | |
KR100699842B1 (ko) | 온도 변동을 고려한 탐색 서보 제어 방법 및 이를 이용한디스크 드라이브 | |
JP4141700B2 (ja) | ハードディスクドライブの探索サーボ装置及び探索サーボ方法 | |
US7382570B1 (en) | Dynamically controlling seek profile in an acceleration tracking seek controller | |
US10210893B2 (en) | Magnetic disk device and method of setting on-track determination number of magnetic disk device | |
JP4378456B2 (ja) | 磁気ディスク装置 | |
JP2011028811A (ja) | 磁気ディスク装置のロード・アンロード制御方法及び装置 | |
JP5356346B2 (ja) | 磁気ディスク装置、電子機器及びヘッド制御方法 | |
JPH1139814A (ja) | 磁気ディスク装置 | |
US20100259848A1 (en) | Method and circuit for head flying height control, and magnetic storage device | |
CN100367359C (zh) | 盘驱动器的磁道寻道模式中的自适应稳定控制方法和设备 | |
US20090296263A1 (en) | Information storage apparatus | |
US20180061443A1 (en) | Method for correcting a mounting position of a disk device on a rack | |
JP2014110062A (ja) | ディスク記憶装置及びサーボ制御方法 | |
JP3303363B2 (ja) | ヘッド制御方法及びヘッド制御装置 | |
JP4792130B1 (ja) | 磁気ディスク装置、逆起電圧の推定方法及びヘッドの速度制御方法 | |
JP2008192184A (ja) | ヘッド制御装置およびこれを用いたディスク装置 | |
JP2014211928A (ja) | ディスク記憶装置及びサーボ制御方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20170913 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20170914 |