JP2018151223A - 慣性力センサ - Google Patents

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崇宏 篠原
江田 和夫
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Abstract

【課題】外部への電気的信号の取出しを容易にする配線埋め込みガラス基板を提供する。また、小型化した配線埋め込みガラス基板およびこのガラス基板を用いたセンサの提供を目的とする。【解決手段】第1の面と前記第1の面に垂直な第2の面と前記第1の面に対向する第3の面とを有するガラス基板と、前記ガラス基板の内部に埋設される第1の配線と、を備え、前記第1の配線は、前記第1の面に対して垂直に延びる第1の部分と、前記第1の部分に接続され、前記第1の面と平行に延びる第2の部分と、を有し、前記ガラス基板は、前記第2の面に対して後退した凹部を有する構成とする。【選択図】図13

Description

本発明は、車両制御などに用いる慣性力センサに関するものである。
従来、配線を埋め込んだガラス基板用いて配線の引き回しを行う配線埋め込みガラス基板、及びその配線埋め込みガラス基板を用いたセンサが知られている。
なお、この発明に関連する先行技術文献としては、例えば、特許文献1が知られている。
特開2014−131830号公報
しかしながら、上記従来の構成は、配線埋め込みガラス基板の上面からしか電気的な引き出しができないため、センサの配置方向が制限されるという課題があった。
そこで本発明は、センサの配置方向に関する自由度を高めることができる配線埋め込みガラス基板を提供することを目的とする。
上記目的を解決するために本発明は、第1の面と前記第1の面に垂直な第2の面と前記第1の面に対向する第3の面とを有するガラス基板と、前記ガラス基板の内部に埋設される第1の配線と、前記ガラス基板の上に設けられる突起電極と、を備える。ここで、前記第1の配線は、前記第1の面から垂直に延びる第1の部分と、前記第1の部分に接続され、前記第1の面と平行に前記第3の面まで延びる第2の部分と、を有し、前記突起電極は、第2の部分の上に設けられる構成とする。
本発明の配線埋め込みガラス基板は、外部への電気的信号の取出しが容易になるので、センサの配置方向に対する自由度を向上することができるという効果を有する。
実施の形態1の加速度センサの内部の構成示す斜視図 同センサが備える加速度センサ素子の概略構成を示す分解斜視図 第2の基板を拡大した斜視図、 図2のAA線における第1の基板の断面を拡大した図 第2の基板の別の例を示す斜視図 センサ素子の別の例を示す斜視図 加速度センサを上面から見た図 加速度センサ素子の製造工程のうち凹部を形成する工程を示した図 加速度センサ素子の変形例を示す図 加速度センサ素子の別の変形例を示す図 同加速度センサ素子の実装後を示す図 加速度センサ素子の更に別の変形例を示す図 同加速度セン素子サの実装後を示す図 加速度センサ素子の更に別の変形例を示す図 同加速度センサ素子の実装後を示す図 同加速度センサ素子の実装後を示す別の図 同加速度センサ素子の実装後を示す更に別の図
以下図面を参照して、本発明の実施の形態を説明する。図面の記載において同一部分には同一符号を付している。
図1を参照して、本実施の形態に係わる加速度センサ100の概略構成を説明する。
本実施の形態では、センサの一例としての加速度を検出するセンサを説明する。
図1は、加速度センサ100の内部の構成を示す斜視図である。
図1に示すように、パッケージ基板104は外部基板106に実装されている。図1では、パッケージの開口部をふさぐ蓋は、説明を簡単にするため図示していない。
パッケージ基板104の上には、加速度センサ素子101と、加速度センサ素子101からの出力に基づいて各種の演算を行い、物理量を検出する検出回路103と、が搭載される。
リード端子105は、パッケージ基板104から引き出される。パッケージ基板104から引き出されたリード端子105は外部基板106に接続される。
加速度センサ100は、静電容量型の加速度を検出するセンサである。加速度センサ100はMEMS技術で製造される。
図2は、加速度センサ素子101の概略構成を示す分解斜視図である。
加速度センサ素子101は、第1の基板130と、第2の基板131aと、第3の基板131bと、を積層した構造を有している。別の表現では、第1の基板130が第2の基板131aと第3の基板131bとの間に挟まれた構造を有している。
第1の基板130は、X軸方向の加速度を検出する錘部111と、錘部111を支持部113に支持する梁部112a、梁部112bと、を有している。第1の基板130は、SOI基板などの半導体基板を用いることができる。
第2の基板131aは、固定電極115a、固定電極115cと、固定電極115a、115cのそれぞれから得られる電信号を外部に引き出すための貫通配線114a、114b、114cと、を有している。
第2の基板131aは、ガラスを含む基板を用いることができる。
各固定電極は、例えば、Al−Si膜などの金属薄膜を用いることができる。
第3の基板131bは、パッケージ基板104の上に配置される。第3の基板131bは、ガラスを含む基板を用いることができる。
貫通配線114a、114b、114cは、加速度センサ素子101を横にした際に、電気的取出しを容易にするため、第2の基板131aの端面まで延びている。別の表現では、貫通配線114a、114b、114cは、第2の基板131aの側面からその端部が露出する。
なお、貫通配線の端面には、金属ワイヤ接続するための電極パッドとしての金属メッキで覆われていても良い。
加速度センサ素子101は、錘部111と固定電極115a、115cとの間に、加速度に応じて容量が変化するコンデンサが構成されている。より詳細には、錘部111に加速度が加わると、梁部112a、112bがねじれて、錘部111が変位する。これにより、固定電極115a、115cと錘部111とが対向する面積及び間隔が変化し、コンデンサの静電容量が変化する。加速度センサ素子101は、この静電容量の変化から加速度を検出することができる。
なお、本実施の形態ではX軸方向の加速度を検出する加速度センサ素子101を説明したが、これに限らない。例えば、Y軸方向やZ軸方向の加速度を検出する加速度センサ素子であってもよい。あるいは、X軸、Y軸、Z軸周りの角速度を検出する角速度センサ素子であっても構わない。
図3(a)は、第2の基板131aを拡大した斜視図、図3(b)は、図2のAA線における第2の基板131aの断面を拡大した図、である。
貫通配線114cが有する第1の部分151aが延びる方向を第1の方向(図3のZ軸方向)、貫通配線114cが有する第2の部分151bが延びる方向を第2の方向(図3のX軸方向)、第1の方向と第2の方向とに垂直な方向を第3の方向(図3のY軸方向)とする。
第2の基板131aは、固定電極115a、115cが設けられる面である第1の面141aを有する。別の表現では、第2の基板131aは、錘部111と対向する面である第1の面141aを有する。
第2の基板131aは、第1の面141aと垂直な面である第2の面141bを有する。
貫通配線114a、114b、114cはそれぞれ、第1の部分151aと、第2の部分151bと、を有し、第1の部分151aと第2の部分151bとがT字の形状を構成している。貫通配線の材料は、例えば、シリコンである。
第1の部分151aは、第2の基板131aと垂直に延びる部分である。別の表現では、図3(b)中のZ軸方向に伸び部分である。
第2の部分151bは、第2の基板131aと水平に延びる部分である。別の表現では、図3(b)中のX軸方向に伸び部分である。
貫通配線114cが有する第1の部分151aは、固定電極115cと電気的に接続される。
貫通配線114cが有する第2の部分151bは、第2の面141bまで延びる。別の表現では、貫通配線114cが有する第2の部分151bの端部は、第2の面141bに
対して後退して設けられる。この後退した領域を凹部161cとする。別の表現では、貫通配線114aが有する第2の部分151bは、第1の面141aと反対の面である第3の面141cにおいて、第2の基板131aを分断するように設けられる。
貫通配線114aが有する第1の部分151aは、固定電極115aと電気的に接続される。
貫通配線114aが有する第2の部分151bは、第2の面141bまで延びる。別の表現では。貫通配線114aが有する第2の部分151bの端部は、第2の面141bに対して後退して設けられる。この後退した領域を凹部161aとする。別の表現では、貫通配線114aが有する第2の部分151bは、第1の面141aと反対の面である第3の141cにおいて、第2の基板131aを分断するように設けられる。
貫通配線114bが有する第1の部分151aは、第1の基板130と電気的に接続される。
貫通配線114bが有する第2の部分151bは、第2の面141bまで延びる。別の表現では。貫通配線114bが有する第2の部分151bの端部は、第2の面141bに対して後退して設けられる。この後退した領域を凹部161bとする。別の表現では、貫通配線114bが有する第2の部分151bは、第1の面141aと反対の面である第3の面141cにおいて、第2の基板131aを分断するように設けられる。
凹部161a、161b、161cは、第2の基板131aを構成する基板材料(本実施の形態では、基板材料はガラスである。)からなる3つの内面と、貫通配線を構成する配線材料(本実施の形態では、配線材料はシリコン。)からなる1つの内面と、によって囲まれる領域(凹部)である。別の表現では、凹部161a、161b、161cは、第2の基板131aの端面である3つの内面と、貫通配線の端面である1つの内面と、によって囲まれる領域(凹部)である。
第2の基板131aを構成する基板材料(本実施の形態では、基板材料はガラスである。)からなる3つの面と、各貫通配線を構成する配線材料(本実施の形態では、配線材料はシリコン。)からなる1つの面とは、その表面に、例えば金からなる金属層を有していることが好ましい。
これにより、凹部161a、161b、161cを、例えばワイヤボンディングの金属パッドとして用いる際に、凹部161a、161b、161cを構成する4つの内面が全て金属層で覆われる。これにより、第2の基板131aの第2の面141bが上を向くように配置される場合でも、第2の面141bが横を向くように配置される場合でも、常に上面に露出する金属の面が出現するので、第2の面141bが上、横のどちらを向くように配置しても、外部への電気的信号の取出しが容易となる。
更に、第2の基板131aの第2の面141bが上を向くように配置される場合、金属面が凹部161a、161b、161cになっていることで、外部への電気的信号の取り出しを行うワイヤの高さが第2の基板131aの第2の面141bより低くすることが可能となり、パッケージ基板104を小型化することができる。
また、凹部161a、161b、161cを、例えばワイヤボンディングの金属パッドとして用いる際に、凹部161a、161b、161cを構成する4つの内面が全て金属層で覆われているので、ワイヤボンディングの電気的接続信頼性を向上することができる。
また、凹部161a、161b、161cが第2の基板131aを構成する基板材料(本実施の形態では、基板材料はガラスである。)からなる3つの内面と、貫通配線を構成する配線材料(本実施の形態では、配線材料はシリコン。)からなる1つの内面と、によって囲まれる領域(凹部)であると説明したが、これに限らない。例えば、凹部161a、161b、161cが第2の基板131aを構成する基板材料(本実施の形態では、基板材料はガラスである。)からなる4つの内面と、貫通配線を構成する配線材料(本実施の形態では、配線材料はシリコン。)からなる1つの内面と、によって囲まれる領域(凹部)であってもよい。この場合、凹部は四方を囲まれた窪みとなり、実装の際に接合金属や導電性接着剤を流し込むために利用することができる。
ただし、凹部161a、161b、161cが第2の基板131aを構成する基板材料(本実施の形態では、基板材料はガラスである。)からなる3つの内面と、貫通配線を構成する配線材料(本実施の形態では、配線材料はシリコン。)からなる1つの内面と、のみによって囲まれる領域(凹部)である事が好ましい。即ち、これは、凹部は三方を囲まれた窪であることが好ましい。これにより、上述の通り、電気的信号の取出しが容易になる。
また、貫通配線114a、114b、114cは、第2の基板131aの中を互いに平行に延びることが好ましい。これにより、第2の基板131aの対称性を向上できるので、第2の基板131aを用いたセンサの温度特性を改善できる。
また、貫通配線114bは、貫通配線114aと貫通配線114cとの間に挟まれる。
図4は、第2の基板131aの別の例を示す斜視図である。
図4では図示しないが、図4の貫通配線114a、114b、114cと、図3の貫通配線114a、114b、114cとは、第2の基板131aの中で同じ方向に伸びる。貫通配線114cが有する第1の部分151aが延びる方向を第1の方向(図4のZ軸方向)、貫通配線114cが有する第2の部分151bが延びる方向を第2の方向(図4のX軸方向)、第1の方向と第2の方向とに垂直な方向を第3の方向(図4のY軸方向)とする。この時、貫通配線114bが有する第2の部分の端部の第3の方向の幅(図4中のW2)は、貫通配線114aが有する第2の部分の端部の第3の方向の幅(図4中のW1)よりも大きい。
貫通配線114bが有する第2の部分の端部の第3の方向の幅(図4中のW2)は、貫通配線114cが有する第2の部分の端部の第3の方向の幅(図4中のW3)よりも大きいことが好ましい。これにより、貫通配線114bが有する第2の部分へワイヤボンディングする際に要求されるアライメント精度が緩和される。
貫通配線114aが有する第2の部分の端部の第3の方向の幅(図4中のW1)は、貫通配線114cが有する第2の部分の端部の第3の方向の幅(図4中のW3)と等しいことが好ましい。これにより、第2の基板131aの対称性を向上できるので、第2の基板131aを用いたセンサの温度特性を改善できる。
また、図3で説明した各貫通配線の構造と、図4で説明した各貫通配線の構造とは、組み合わせて用いることができる。
また、各貫通配線の構造は、T字の形状で図示されているが、これに限らない。例えば、各貫通配線の構造は、L字の形でもよいし、T字とL字とを併用してもよい。
図5は、本実施の形態の加速度センサが備えるセンサ素子の別の例を示す斜視図である。
加速度センサ素子201は、第2の基板に、貫通配線114a、114b、114c、114dを有する点で加速度センサ素子101と異なる。その他の構成は加速度センサ素子101と同じである。
貫通配線114aは、第1の固定電極115aに接続する。
貫通配線114cは、第1の固定電極115cに接続する。
貫通配線114b、114dは第1の基板130に接続する。
このように、貫通配線114bと貫通配線114dとを用いて、2箇所で第1の基板130と接続しているので、第1の基板130の電位が安定して取り出される。これにより、第2の基板131aを用いたセンサの信頼性を向上できる。更に、第2の基板131aの対称性を向上できるので、第2の基板131aを用いたセンサの温度特性を改善できる。
図6は、加速度センサ100を上面から見た図である。
加速度センサ素子101は、第2の面141bが上面視で露出するように配置される。
上面視で露出する貫通配線114a、114b、114cの端部には、金属のワイヤが接続されている。
加速度センサ素子101は、金属のワイヤを介して回路基板103に接続されている。
このように、
図7は、加速度センサ100の製造工程のうち、第2の基板131aの凹部161a、161b、161cを形成する工程を示した図である。
工程(a)では、ガラス(基板材料)にシリコン(貫通配線材料)がはめ込まれた基板171の上面にレジストを塗布する。この時、上面から露出する貫通配線の一部にはレジストを設けない。
工程(b)では、基板171がエッチングされる。この時、貫通配線材料のレジストを設けない一部がエッチングされる。これにより、基板171に凹部が形成される。
工程(c)では、基板171の上面にスパッタを用いて金属層を形成する。
工程(d)では、レジストを剥離する。これにより、凹部に形成された金属層以外の金属層が除去される。
工程(e)では、図7の点線に沿って、すなわち、凹部を通る線で、基板171をダイシングする。図7(f)はダイシング後の斜視図である。
以上の工程で、第2の基板131aが形成される。
図8、図9は、本実施の形態の加速度センサ素子の変形例である加速度センサ素子301を示す図である。図8(a)は、加速度センサ素子301が備える第2の基板131aの上面図と正面図、図8(b)は、加速度センサ素子301が備える第1の基板130の上面図と正面図、図8(c)は、第3の基板131bの上面図と正面図である。図9(a)は、加速度センサ素子301の上面図、図9(b)は、加速度センサ素子301の正面図、図9(c)は、加速度センサ素子301の横面図である。
第2の基板131aの第1基板との接合面側に設けられた固定電極115aは、貫通配線114aと電気的に接合される。第2の基板131aの第1基板との接合面側に設けられた固定電極115cは、貫通配線114cと電気的に接合される。
第1の電極204aおよび第2の電極204bは、第1基板の凹部206内の絶縁層202aおよび絶縁層202bの直上に設けられる。
第1の電極204aおよび第2の電極204bの表面は、第1の基板130の表面からわずかに突出している高さが好ましい。その突出高さは概ね1.0um以下であることが好ましい。これにより、第1の電極204aおよび第2の電極204bは、第1の基板130と第2の基板131aとの間が接合される時に、より確実に圧接されて、第1の基板130と第2の基板131aとの間の接続の信頼性が向上する。
島部202cは、第1の基板の凹部206内に設けた第1の基板と同材料でできた島形状の部分であり、その直上に設けた第3の電極204cを介して第1の基板130と第2の基板131aの接合後に貫通配線114bと接続される。すなわち貫通配線114bは第1の基板130の電位を供給する。
第3の電極204cの表面は第1の基板の表面からわずかに突出している高さが好ましい。その突出高さは概ね1.0um以下である。第3の電極204cは第1の基板130と第2の基板131aの接合時に圧接されて、より確実に電気的接続がなされる。
ここで、第1の電極204a、第2の電極204b、第3の電極204cは、上面視で三角形を構成するように配置している。これにより、第1の基板130の対称性が向上するので、加速度センサ素子301の温度特性が向上する。
絶縁膜202、電極204は凹部206の中に配置される。第1の基板130の凹部206の外側の部分は第2の基板131aに接続される。
なお、第1の基板130と第2の基板131aとを接続する電極は、図2、図5では省略しているが、その構造は図8の構造と同じである。
凹部361a、凹部361b、凹部361cは、第2の基板131aを構成する基板材料(本実施の形態では、基板材料はガラス)と、貫通配線を構成する配線材料(本実施の形態では、配線材料はシリコン)と、からなる内面とを有する。別の表現では、凹部361a、361b、361cは、第2の基板131aの端面である3つの内面と、貫通配線の端面である1つの内面と、によって囲まれる領域(凹部)である。
電極層374は、第2の基板131aの第3の面141cの少なくとも一部と、凹部361a(凹部361b、凹部361c)の内面の少なくとも一部と、に設けられている。電極層374は、例えば、金で構成される。
凹部361a(凹部361b、凹部361c)の前記第3の面に垂直な方向(図9のZ
軸方向)の幅は、例えば、貫通配線114aの第2の部分(貫通配線114b、貫通配線114c)の前記第3の面に垂直な方向(図9のZ軸方向)の幅よりも、大きい。なお、凹部361a(凹部361b、凹部361c)の前記第3の面に垂直な方向(図9のZ軸方向)の幅は、例えば、貫通配線114aの第2の部分(貫通配線114b、貫通配線114c)の前記第3の面に垂直な方向(図9のZ軸方向)の幅よりも、小さくてもよい。後述する金属ワイヤの接合に必要な面積が凹部361a(凹部361b、凹部361c)の内面にあればよい。
加速度センサ素子301は、第2の基板131aの第3の面141cに、第1の溝部302a、第2の溝部302bを有する。
第1の溝部302aは114aと114bの、第2の溝部302bは114bと114cの概ね中間位置で、深さは凹部361a(凹部361b、凹部361c)より10um以上深く、幅は概ね20um以上で114a〜114cとの隙間が10um以上あることが望ましい。これにより、それぞれの貫通配線114a〜114cを互いに電気的に独立させることができ、114aと114bが一方の加速度検出容量電極となり、114bと114cが他方の加速度検出容量電極となる。
図10は、加速度センサ素子301の実装後を示す図である。図10(a)は加速度センサ素子301を縦に置く場合、図10(b)は加速度センサ素子301を横に置く場合、をそれぞれ示している。
図10に示すように、加速度センサ素子301は、外部基板372に対して縦、横のいずれの方向にも配置しても、金属ワイヤ371引き出すことができる。その結果、外部への電気的信号の取出しが容易になるので、センサの配置方向に対する自由度を向上することができるという効果を有する。
図11は、本実施の形態の加速度センサの更に別の変形例である加速度センサ素子401を示す図である。図11(a)は、加速度センサ素子401の上面図、図11(b)は、加速度センサ素子401の正面図、図11(c)は、加速度センサ素子401の横面図である。
なお、以下の説明では加速度センサ素子401が加速度センサ素子301と異なる点を中心に説明を記載し、重複する説明は省略する。
加速度センサ素子401は、貫通配線414a、貫通配線414b、貫通配線414c、貫通配線414d、を有している。ここで、各貫通配線は柱状の形状であり、各貫通配線は第2の基板131aを貫通する。別の表現では、貫通配線414a、貫通配線414b、貫通配線414c、貫通配線414dは、それぞれ、第1の方向(図9のZ軸方向)に延びる第1の部分151aのみを有する。貫通配線414a、貫通配線414b、貫通配線414c、貫通配線414dのそれぞれが有する第1の部分はその一端が第2の基板131aから露出する。
電極層374は、第2の基板131aの第3の面141cの少なくとも一部と、凹部161aの内面の少なくとも一部と、に設けられている。ここで、電極層374は第3の面141cと凹部161aとの間で連続している。
図12は、加速度センサ素子401の実装後を示す図である。図10(a)は加速度センサ素子401を縦に置く場合、図10(b)は加速度センサ素子401を横に置く場合、をそれぞれ示している。
加速度センサ素子401は、第2の基板131a、第1の溝部302a、第2の溝部302bを有する。
図12に示すように、加速度センサ素子401は、外部基板372に対して縦、横のいずれの方向にも配置しても、金属ワイヤ371引き出すことができる。その結果、外部への電気的信号の取出しが容易になるので、センサの配置方向に対する自由度を向上することができるという効果を有する。
なお、第1の溝部302a、第2の溝部302bは例えば、レーザーやハーフダイシングなどの技術を用いて電極と第2の基板131aとを切削加工することで形成される。
図13は、本実施の形態の加速度センサ素子の更に別の変形例である加速度センサ素子501を示す図である。図13(a)は、加速度センサ素子501の上面図、図13(b)は、加速度センサ素子501の正面図、図13(c)は、加速度センサ素子501の横面図である。なお、以下の説明では加速度センサ素子501が加速度センサ素子101と異なる点を中心に説明を記載し、重複する説明は省略する。
加速度センサ素子501は、第1の基板130と、第2の基板131aと、第3の基板131bと、を積層した構造を有している。別の表現では、第1の基板130が第2の基板131aと第3の基板131bとの間に挟まれた構造を有している。
第1の基板130は、X軸方向の加速度を検出する錘部111と、錘部111を支持部113に支持する梁部112a、梁部112bと、を有している。第1の基板130は、SOI基板などの半導体基板を用いることができる。
第2の基板131aは、固定電極115a、固定電極115cと、固定電極115a、115cのそれぞれから得られる電信号を外部に引き出すための貫通配線114a、114b、114cと、を有している。
第2の基板131aは、ガラスを含む基板を用いることができる。
各固定電極は、例えば、Al−Si膜などの金属薄膜を用いることができる。
第3の基板131bは、パッケージ基板104の上に配置される。第3の基板131bは、ガラスを含む基板を用いることができる。
貫通配線114a、114b、114cは、加速度センサ素子101を横にした際に、電気的取出しを容易にするため、第2の基板131aの端面まで延びている。別の表現では、貫通配線114a、114b、114cは、第2の基板131aの側面からその端部が露出する。
なお、貫通配線の端面には、金属ワイヤ接続するための電極パッドとしての金属メッキで覆われていても良い。
加速度センサ素子501は、錘部111と固定電極115a、115cとの間に、加速度に応じて容量が変化するコンデンサが構成されている。より詳細には、錘部111に加速度が加わると、梁部112a、112bがねじれて、錘部111が変位する。これにより、固定電極115a、115cと錘部111とが対向する面積及び間隔が変化し、コンデンサの静電容量が変化する。加速度センサ素子101は、この静電容量の変化から加速度を検出することができる。
図14は、加速度センサ素子501の実装後を示す図である。図14(a)(b)は加速度センサ素子501を縦に置く場合、図10(c)(d)は加速度センサ素子501を横に置く場合、をそれぞれ示している。
このように、加速度センサ素子501は突起電極503aを備えている。
突起電極503aは、ワイヤボンディング面になるため、幅200um以上、高さ100um以上が必要であり、この突起電極はめっき法で形成されることから、突起電極の材料は銅が挙げられる。また、この突起電極の数は用途や構造によって異なるが、2~5個が必要である。突起電極の位置としては、素子はダイシングによって個片化されることから、ダイシングによる突起電極のダレを抑制するために、図14(a)に示すように、素子の側面と面一にならないように、少し内側への形成が必要である。また、図14(d)に示すように、横置きにした場合は、素子の上方に突起電極が配置され、図15(d)に示すように、素子の下方に突起電極が配置される。表面粗さについては、第1の基板130のダイシング面よりも、突起電極の面の方が表面粗さは小さい。また、図14に示すように、加速度センサ素子は、外部基板に対して縦、横のいずれの方向にも配置しても、金属ワイヤを引き出すことができる。その結果、外部への電気的信号の取出しが容易になるので、センサの配置方向に対する自由度を向上することができるという効果を有する。図12と異なり、突起電極を形成することで、ダイシングとは異なり、表面粗さを小さくすることができることや、ワイヤボンディング面の突起電極の大きさを自由に変更することができるという効果がある。また、図16に示すように、突起電極503bのように、設置面まで延伸させることで、ワイヤボンディング時の衝撃を逃がすことがなくなるので、ワイヤボンディングがしやすいという効果を有する。
図15は、加速度センサ素子501の実装後を示す別の図である。図15(a)(b)は加速度センサ素子501を縦に置く場合、図15(c)(d)は加速度センサ素子501を横に置く場合、をそれぞれ示している。
このように、加速度センサ素子501を実装後する向きは図14の逆向きでもよい。
図16は、加速度センサ素子601の実装後を示す図である。図14(a)(b)は加速度センサ素子501を縦に置く場合、図10(c)(d)は加速度センサ素子501を横に置く場合、をそれぞれ示している。このように、加速度センサ素子601は突起電極503bを備えている。
本発明は、配線埋め込みガラス基板およびこのガラス基板を用いたセンサとして有用である。
100 加速度センサ
101、201、301、401、501、601 加速度センサ素子
104 パッケージ基板
105 リード端子
106 外部基板
111 錘部
113 支持部
112a、112b 梁部
114a、114b、114c、114d 貫通配線
115a、115c 固定電極
130 第1の基板
131a 第2の基板
131b 第3の基板
141a 第1の面
141b 第2の面
141c 第3の面
151a 第1の部分
151b 第2の部分
161a、161b、161c、361a、361b、361c 凹部
171 基板
202a、202b 絶縁層
202c 島部
204a 第1の電極
204b 第2の電極
204c 第3の電極
206 凹部
302a 第1の溝部
302b 第2の溝部
371 金属ワイヤ
372 外部基板
374 電極層
414a、414b、414c、414d 貫通配線
503a、503b 突起電極

Claims (5)

  1. 第1の面と前記第1の面に垂直な第2の面と前記第1の面に対向する第3の面とを有するガラス基板と、
    前記ガラス基板の内部に埋設される第1の配線と、
    前記ガラス基板の上に設けられる突起電極と、を備え、
    前記第1の配線は、
    前記第1の面から垂直に延びる第1の部分と、
    前記第1の部分に接続され、前記第1の面と平行に前記第2の面まで延びる第2の部分と、を有し、
    前記突起電極は、第2の部分の上に設けられる慣性力センサ。
  2. 前記突起電極は前記第2の面から後退して設けられている請求項1の慣性力センサ。
  3. 前記突起電極の表面粗さは前記第2の面の表面粗さより小さい請求項1の慣性力センサ。
  4. 前記突起電極は前記ガラス基板の一端から他端まで設けられる請求項1の慣性力センサ。
  5. 上面視で、前記突起電極の幅は前記第2の部分の幅より大きい請求項1の慣性力センサ。
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